Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11898991B2
Опубликовано: 13-02-2024
Автор(ы): Kazuhiro Itsumi, Noriko Yamamoto, Tomio Ono, Yutaka Nakai
Принадлежит: Toshiba Corp, Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220291173A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US11703479B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US20230054123A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20160003783A1. Автор: Yukitoshi Suzuki,Hidemi Takahashi,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: EP4350342A1. Автор: Takao Koyama,Hideyuki Yamada,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Ultrasonic inspection device, ultrasonic inspection method, and program

Номер патента: US20240036010A1. Автор: Masayuki Kobayashi,Kaoru Sakai,Natsuki SUGAYA,Koutaro Kikukawa. Владелец: Hitachi Power Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US12117418B2. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US20220236232A1. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Power Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection unit

Номер патента: US20240060938A1. Автор: Shinji Wada,Ikuo Ihara,Tomohiro Koyama. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2024-02-22.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: US20240219354A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: EP4397971A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11726066B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CA2647004A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Minoru Tagami,Nobukazu Ido. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-10-04.

Robotic inspection devices for simultaneous surface measurements at multiple orientations

Номер патента: US12061173B2. Автор: CHASE David,José APARICIO,Kevin Y. Low,Juan Roberto Mendoza Mora. Владелец: Gecko Robotics Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190283995A1. Автор: Tomio Ono,Kazuhiro Itsumi,Yasuharu Hosono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Ultrasonic inspection device with linear scanning and ultrasonic inspection method with linear scanning

Номер патента: RU2690063C1. Автор: Сецу ЯМАМОТО,Дзун СЕМБОСИ,Адзуса СУГАВАРА,Кентаро ЦУТИХАСИ,Масару ОЦУКА. Владелец: Тосиба Энерджи Системс Энд Солюшнс Корпорейшн. Дата публикации: 2019-05-30.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220065820A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP3964831A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-09.

Ultrasonic nondestructive inspection device and ultrasonic nondestructive inspection method

Номер патента: KR101251204B1. Автор: 정현조. Владелец: 원광대학교산학협력단. Дата публикации: 2013-04-08.

Inspection devices and related systems and methods

Номер патента: US20190257799A1. Автор: Jeremy D. Palmer,Ronald G. Mellus,Edwin Dean S. Oba. Владелец: Northrop Grumman Innovation Systems LLC. Дата публикации: 2019-08-22.

Ultrasonic Inspective Device for Simultaneous Pulse Echo and Through Transmission Inspection

Номер патента: US20210063357A1. Автор: James C. Kennedy,Jeffry J. Garvey,Roy Martin Gagnon. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-03-04.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection device for detection of foreign substances

Номер патента: RU2529667C1. Автор: Мариус Михаэль ХЕРМАНН,Юрген ХЕРМАНН,Клаас ФРИТШЕ,Альфред ДРЕНГУЙС. Владелец: Кхс Гмбх. Дата публикации: 2014-09-27.

Ultrasonic inspection device and method of ultrasonic inspection

Номер патента: US09714924B2. Автор: Naotada Okada,Tomoko MORIOKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Non-destructive inspection device and method of structural parts of an aircraft

Номер патента: EP4257969A1. Автор: Carlos Miguel Giraldo,Jose Luis SANCHO GUTIERREZ. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SL. Дата публикации: 2023-10-11.

Centralizer for Internal Pipe Inspection Device

Номер патента: CA2128619A1. Автор: Joseph R. Carapezza,Linda T. Ystueta. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-02-03.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US10922805B2. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-02-16.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US20190188844A1. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-06-20.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: US20240314420A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09618563B2. Автор: Tomonori Nakamura,Mitsunori Nishizawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-04-11.

Repair welding inspection device and repair welding inspection method

Номер патента: US12078600B2. Автор: Kazuki HANADA,Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: EP4431922A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: US09838608B2. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Inspection device for scanning and inspecting object being inspected

Номер патента: EP4414695A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Zhiqiang Chen,Ming Chang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Defect inspection device, pattern chip, and defect inspection method

Номер патента: US20190107498A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Yasuhiro Yoshitake,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-04-11.

Inspection device, inspection facility and inspection device failure confirmation method

Номер патента: US20190120772A1. Автор: Yoshihiro Yamagata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US20240151654A1. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Positioning device, hole inspection device, positioning method and hole inspection method

Номер патента: US20200378749A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US11462335B2. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-04.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US20210151209A1. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: MY171995A. Автор: CHAKI Hiroaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-11.

Inspection device, packaging machine, and package inspection method

Номер патента: US11933742B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Moving inspection device, moving inspection method, and method for manufacturing steel material

Номер патента: US12044658B2. Автор: Masaki Kobayashi,Koji Yamashita,Kouyou Miyawaki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: US20240295532A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: EP4425171A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

In-line inspection devices

Номер патента: EP3874261A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

In-line inspection devices

Номер патента: US20210364479A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Acoustic inspection method, acoustic inspection device, and couplant

Номер патента: US11788991B2. Автор: Akiko Hirao,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Object damage inspecting device and inspecting method using the same

Номер патента: US11841329B2. Автор: Chan Jung Kim. Владелец: lndustry University Cooperation Foundation of Pukyong National University. Дата публикации: 2023-12-12.

Graphene-based non-destructive inspection device and related method

Номер патента: SG10201803835YA. Автор: BRELATI Antonio,Del Giudice Rosario,ROMANO Tommaso. Владелец: Leonardo SpA. Дата публикации: 2018-12-28.

Weld inspection device, welding system, and weld inspection method

Номер патента: US20230330784A1. Автор: Satoru Asai,Keiji Kadota,Tetsuo Era,Kazufumi Nomura. Владелец: Daihen Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: US20240085480A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Inspection method and inspecting device

Номер патента: US20240272125A1. Автор: Hiroki Katayama,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: EP4350343A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: CA3207889A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Structure condition inspection device

Номер патента: RU2748789C1. Автор: Александр Николаевич Бирюков,Юрий Александрович Бирюков,Дмитрий Владимирович Бирюков,Евгений Олегович Добрышкин,Николай Александрович Бирюков,Алексей Валентинович Бондарев,Владимир Михайлович Бабенко,Артур Андреевич Пресняков,Матвей Русланович Раздобутько,Елена Юрьевна Тощева,Данил Алекандрович Василец. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулёва" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2021-05-31.

Portable non-destructive inspection device and support casing therefor

Номер патента: US6112593A. Автор: Shigenori Aoki,Shigeru Miwa,Takenori Hiroki,Tohru Miyata,Hajime Mizunoya,Seigo Kikuchi. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2000-09-05.

Magnetic system of scanner-inspection device

Номер патента: RU2680103C2. Автор: Анатолий Аркадиевич Марков. Владелец: Анатолий Аркадиевич Марков. Дата публикации: 2019-02-15.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US20220206049A1. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Surface inspection device, shape correction device, surface inspection method, and shape correction method

Номер патента: US20220390222A1. Автор: Shuichi Tanaka,Noriyuki Sadaoka,Tatsuhiko Kawakami,Chiharu TACHIKAWAME. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Display panel inspection device and display panel inspection method using the same

Номер патента: US20240219424A1. Автор: Dong Hoon Lee,Haewook YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Focus ring inspection device and focus ring inspection method

Номер патента: US20240159590A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee,Dong Mok Lee,Jin Il SUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Liquid crystal display driving device and liquid crystal inspection method using the same

Номер патента: US5757346A. Автор: Hiroaki Mita. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-26.

Electrical characteristic inspection device for semiconductor device and electrical characteristic inspection method for semiconductor device

Номер патента: US11828786B2. Автор: Takaya Noguchi,Yasushi Hisaoka,Sumito Ogata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US11906561B2. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Fracture surface inspection device and fracture surface inspection method for loss evaluation

Номер патента: US11821725B2. Автор: Ryosuke MURAKAMI. Владелец: Yasunaga Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Storage battery inspection device and storage battery inspection method

Номер патента: US11828811B2. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US20150247901A1. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-09-03.

Semiconductor device, and design method, inspection method, and design program therefor

Номер патента: US20050055651A1. Автор: Shinobu Isobe. Владелец: UMC Japan Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-10.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Method of manufacture of a dry-drawing stand for checking of operability of in-line inspection devices at a test pipeline test site

Номер патента: RU2653138C1. Автор: Алексей Анатольевич Крюков,Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть - Диаскан" (АО "Транснефть - Диаскан"). Дата публикации: 2018-05-07.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member

Номер патента: US12031947B2. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Tsuyoshi Kobayashi,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09562944B2. Автор: Tomonori Nakamura,Mitsunori Nishizawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-02-07.

Learning device, inspection device, learning method, and inspection method

Номер патента: US11977033B2. Автор: Hideyuki Arai,Yuya Sugasawa,Hisashi Aikawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection terminal device, inspection device, inspection system, and inspection program

Номер патента: US20210279854A1. Автор: Takahiro Manabe,Yusuke Hirose,Yasutomo Shiomi,Taisuke WASHITANI,Kohsuke TAKAI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Welding quality inspection device and welding quality inspection method

Номер патента: EP4306258A4. Автор: Jae Won Lim,Hak Kyun KIM,Je Jun Lee,Hong Jae MUN. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Non-destructive inspection device and non-destructive inspection method

Номер патента: EP4099009A4. Автор: Osamu Hasegawa,Takashi Shibutani. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

X-ray inspection device and x-ray inspection method

Номер патента: EP4220142A4. Автор: Masaru Ishida. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US9097681B2. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-04.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140054463A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Optical element and optical device, optical element inspecting device and optical device inspecting device, and optical element inspecting method and optical device inspecting method

Номер патента: US20180286036A1. Автор: Koichiro Iwata. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Battery inspection device and battery inspection method

Номер патента: EP3982450A1. Автор: Takahiro Murai. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2022-04-13.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: EP3734641A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: US20200080949A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-03-12.

Briquette inspection device and briquette inspection method

Номер патента: US20140146310A1. Автор: Koji Tsukada,Fumio Yuasa. Владелец: Furukawa Industrial Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

OPTICAL ELEMENT AND OPTICAL DEVICE, OPTICAL ELEMENT INSPECTING DEVICE AND OPTICAL DEVICE INSPECTING DEVICE, AND OPTICAL ELEMENT INSPECTING METHOD AND OPTICAL DEVICE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20180286036A1. Автор: Iwata Koichiro. Владелец: FUJIKURA LTD.. Дата публикации: 2018-10-04.

X-ray inspection system, x-ray inspection device, and x-ray inspection method

Номер патента: EP4027135A1. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Daisuke Kudo. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20180348297A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2018-12-06.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20170123003A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-05-04.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US9588175B2. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-03-07.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20150276865A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2015-10-01.

Welding quality inspection device and welding quality inspection method

Номер патента: EP4306258A1. Автор: Jae Won Lim,Hak Kyun KIM,Je Jun Lee,Hong Jae MUN. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Particles, optical sheet, screen, display device, particle inspection device, particle manufacturing device, particle inspection method, particle manufacturing method, screen inspection method, and screen manufacturing method

Номер патента: EP3361312A1. Автор: Makio KURASHIGE,Shogo Kubota,Kaori NAKATSUGAWA. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2018-08-15.

Inspection system, learning device, learning program, learning method, inspection device, inspection program, and inspection method

Номер патента: WO2021192627A1. Автор: 学 梅田. Владелец: 株式会社Ｌｉｘｉｌ. Дата публикации: 2021-09-30.

Optical information device, optical storage medium, optical storage medium inspection device, and optical storage inspection method

Номер патента: EP1494217A4. Автор: Atsushi Nakamura,Mamoru Shoji,Takashi Ishida,Shin-ichi Kadowaki. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-21.

Screen mask inspection device, solder printing inspection device and screen mask inspection method

Номер патента: JP6952160B1. Автор: 大山　剛,剛 大山,憲彦 坂井田,和義 菊池,孝幸 新山. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Welding quality inspection device and welding quality inspection method

Номер патента: US20240042557A1. Автор: Jae Won Lim,Hak Kyun KIM,Je Jun Lee,Hong Jae MUN. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170176521A1. Автор: Nakamura Tomonori,NISHIZAWA Mitsunori. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20150276865A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2015-10-01.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180348297A1. Автор: Nakamura Tomonori. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2018-12-06.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150369755A1. Автор: Nakamura Tomonori,NISHIZAWA Mitsunori. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: KR101923846B1. Автор: 도모노리 나카무라,미츠노리 니시자와. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2018-11-29.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: KR101679527B1. Автор: 도모노리 나카무라,미츠노리 니시자와. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2016-11-24.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: KR20150112954A. Автор: 도모노리 나카무라,미츠노리 니시자와. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2015-10-07.

Display device inspection device and display device inspection method

Номер патента: JP6890377B2. Автор: 白 濬 金,白 濬 金,重 永 柳,重 永 柳,承 楹 白,承 楹 白,彰 賢 柳,彰 賢 柳,徳 柱 林,徳 柱 林. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-18.

Skin glycation inspection device, skin glycation inspection device system, and skin glycation inspection method

Номер патента: WO2017094188A1. Автор: 益義 山田,曽根原　剛志. Владелец: 株式会社日立製作所. Дата публикации: 2017-06-08.

Optical information device, optical storage medium, optical storage medium inspection device, and optical storage inspection method

Номер патента: EP2278347A2. Автор: Atsushi Nakamura,Mamoru Shoji,Takashi Ishida,Shin-ichi Kadowaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-26.

Cannabis component extraction method, cannabis component inspection device, and cannabis component inspection method

Номер патента: WO2015122484A1. Автор: 亮二 阿部,富士男 斎木. Владелец: ウシオ電機株式会社. Дата публикации: 2015-08-20.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200064274A1. Автор: Uchida Satoshi,WAKIZAKA Yoshikazu,ENJOJI Takaharu,TAKANO Masayo,KATO Eiko. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180149601A1. Автор: Uchida Satoshi,WAKIZAKA Yoshikazu,ENJOJI Takaharu,TAKANO Masayo,KATO Eiko. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

LEARNING DEVICE, INSPECTION DEVICE, LEARNING METHOD, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210233232A1. Автор: Aikawa Hisashi,ARAI Hideyuki,SUGASAWA YUYA. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

Substrate inspection device, substrate processing device, substrate inspection method, and substrate processing method

Номер патента: WO2020044784A1. Автор: 幸治 中川,友宏 松尾. Владелец: 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス. Дата публикации: 2020-03-05.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: US10495580B2. Автор: Satoshi Uchida,Yoshikazu Wakizaka,Eiko Kato,Takaharu Enjoji,Masayo TAKANO. Владелец: Afi Corp. Дата публикации: 2019-12-03.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3361231B1. Автор: Satoshi Uchida,Yoshikazu Wakizaka,Eiko Kato,Takaharu Enjoji,Masayo TAKANO. Владелец: Afi Corp. Дата публикации: 2021-02-17.

Learning device, inspection device, learning method, and inspection method

Номер патента: CN112614086A. Автор: 塩见顺一. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-06.

Inspection device, inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2017169714A1. Автор: 孝明 伊藤. Владелец: 富士フイルム株式会社. Дата публикации: 2017-10-05.

SURFACE PROPERTY INSPECTION DEVICE AND SURFACE PROPERTY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140084910A1. Автор: MAKINO Yoshiyasu. Владелец: SINTOKOGIO, LTD.. Дата публикации: 2014-03-27.

Mother glass inspection device and mother glass inspection method

Номер патента: US20140185040A1. Автор: Yungyu Lin. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-03.

Printed matter inspection device and printed matter inspection method

Номер патента: US20190154590A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-05-23.

Magnetic body inspection device and magnetic body inspection method

Номер патента: US20210215639A1. Автор: Kenji Iijima. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-07-15.

MAGNETIC DISK INSPECTION DEVICE AND MAGNETIC DISK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160216216A1. Автор: Serikawa Shigeru,Ishiguro Takayuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-28.

FOREIGN OBJECT INSPECTION DEVICE AND FOREIGN OBJECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190302035A1. Автор: Kashu Koji. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Foreign object inspection device and foreign object inspection method

Номер патента: US20190304127A1. Автор: Koji Kashu. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Magnetic substance inspection device and magnetic substance inspection method

Номер патента: KR102198678B1. Автор: 겐지 이이지마. Владелец: 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼. Дата публикации: 2021-01-05.

Optical nonuniformity inspection device and optical nonuniformity inspection method

Номер патента: KR19980069996A. Автор: 우에타쿠니오. Владелец: 다이닛뽕스크린세이조오가부시키가이샤. Дата публикации: 1998-10-26.

Nanoprotrusion structure inspection device and nanoprotrusion structure inspection method

Номер патента: JP7191137B2. Автор: 正孝 浅井,詔一 土屋,友紀 佐藤,剛史 浅野,将大 内村,望美 立山. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-12-16.

Wafer surface inspection device and wafer surface inspection method using thereof

Номер патента: KR101403860B1. Автор: 김철호,김형태,김종석,김승택. Владелец: 한국생산기술연구원. Дата публикации: 2014-06-27.

IC lead inspection device and IC lead inspection method

Номер патента: JP2890578B2. Автор: 真人 高山,博 冨谷,秀治 大橋. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1999-05-17.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method

Номер патента: WO2022201910A1. Автор: 豊樹 神▲崎▼,翔太 染谷. Владелец: 株式会社堀場製作所. Дата публикации: 2022-09-29.

Injector nozzle inspection device and injector nozzle inspection method using the same

Номер патента: KR102220019B1. Автор: 오경근,이정근. Владелец: 주식회사 오성엠피. Дата публикации: 2021-02-25.

Repair welding inspection device and repair welding inspection method

Номер патента: US20220120697A1. Автор: Kazuki HANADA,Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-21.

Workpiece visual inspection device and workpiece visual inspection method

Номер патента: CN104101605A. Автор: 茶木启明. Владелец: TOKYO WELLS CO Ltd. Дата публикации: 2014-10-15.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: TW201504618A. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-01.

Workpiece appearance inspection device and workpiece appearance inspection method

Номер патента: CN108955749A. Автор: 小寺克义,后藤翼,鸟海马,鸟海一马. Владелец: TOKYO WELLS CO Ltd. Дата публикации: 2018-12-07.

Agricultural product inspection device and agricultural product inspection method

Номер патента: JP5875186B2. Автор: 和則 二宮,知昭 寺尾,寿一 吉丸,誠児 村中,吉丸　寿一. Владелец: Shibuya Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-02.

Visual spring inspection device and visual spring inspection method

Номер патента: WO2019009465A1. Автор: 문종판. Владелец: 문종판. Дата публикации: 2019-01-10.

Workpiece appearance inspection device and workpiece appearance inspection method

Номер патента: CN108955749B. Автор: 小寺克义,后藤翼,鸟海一马. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-06.

Surface shape inspection device and surface shape inspection method

Номер патента: JP2022129355A. Автор: 由人 堀川,Yoshihito Horikawa,プラベシュ クマル プラダン,Kumar Pradhan Pravesh. Владелец: Rist Inc. Дата публикации: 2022-09-05.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method

Номер патента: US9710731B2. Автор: Hiromi Yamazaki,Kunitaka Asano,Tadahiro Katane,Hirohisa Fukuda. Владелец: Hitachi Information and Control Solutions Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Reticle defect inspection device and reticle defect inspection method

Номер патента: JP2009300426A. Автор: Toshiyuki Watanabe,英雄 土屋,利之 渡辺,Hideo Tsuchiya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-12-24.

Foreign body inspection device and foreign body inspection method

Номер патента: TWI734992B. Автор: 佐野栄一,中村瑞樹. Владелец: 日商Ｆｋ光學研究所股份有限公司. Дата публикации: 2021-08-01.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method for container

Номер патента: WO2018101397A1. Автор: 千代子 高橋,裕宗 中村. Владелец: キリンテクノシステム株式会社. Дата публикации: 2018-06-07.

X-ray inspection device and x-ray inspection method

Номер патента: KR101562680B1. Автор: 요시키 마토바. Владелец: 가부시키가이샤 히타치 하이테크 사이언스. Дата публикации: 2015-10-22.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: EP3637100A4. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-03-24.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION FACILITY AND INSPECTION DEVICE FAILURE CONFIRMATION METHOD

Номер патента: US20190120772A1. Автор: YAMAGATA Yoshihiro. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-04-25.

X-RAY INSPECTING DEVICE, X-RAY THIN FILM INSPECTING METHOD, AND METHOD FOR MEASURING ROCKING CURVE

Номер патента: US20190227005A1. Автор: Takahashi Hideaki,OMOTE Kazuhiko,KAMBE Makoto,Ito Yoshiyasu,Verman Boris,Ogata Kiyoshi,Yoshihara Sei,Motono Hiroshi,Higuchi Akifusa,Umegaki Shiro,Asano Shigematsu,Yamaguchi Ryotaro,Horada Katsutaka,JIANG Licai,Kinefuchi Takao. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-25.

The manufacturing method of optical fiber inspection device, fiber fabrication apparatus, the inspection method of optical fiber and optical fiber

Номер патента: CN108885182A. Автор: 橘久美子,藤井隆志,耕田浩. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2018-11-23.

Substrate inspection device, substrate processing apparatus, substrate inspection method and substrate processing method

Номер патента: TW201923306A. Автор: 松尾友宏,中川幸治. Владелец: 日商斯庫林集團股份有限公司. Дата публикации: 2019-06-16.

Substrate inspection device, substrate processing apparatus, substrate inspection method and substrate processing method

Номер патента: TW201825888A. Автор: 柏山真人,松尾友宏,查爾斯 派克楚斯基,森田彰彥. Владелец: 斯庫林集團股份有限公司. Дата публикации: 2018-07-16.

Substrate inspection device, substrate processing apparatus, substrate inspection method and substrate processing method

Номер патента: TW202009478A. Автор: 松尾友宏,中川幸治. Владелец: 日商斯庫林集團股份有限公司. Дата публикации: 2020-03-01.

X-ray inspecting device, x-ray thin film inspecting method, and method for measuring rocking curve

Номер патента: WO2018012527A1. Автор: 秀明 ▲高▼橋,志朗 梅垣,尾形　潔,亮 神戸,正 吉原,表　和彦,本野　寛,隆男 杵渕,伊藤　義泰,明房 樋口,繁松 淺野,僚太郎 山口,克隆 洞田,リーサイ ジャン,ボリス ヴァーマン. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2018-01-18.

INSPECTION DEVICE, BONDING SYSTEM AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140054463A1. Автор: Tomita Hiroshi,KOGA Shinji,Tamura Takeshi,MIYAHARA Akinori,IWANAGA Shuji. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2014-02-27.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

INSPECTION DEVICE, PACKAGING MACHINE, AND PACKAGE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220050066A1. Автор: Ohyama Tsuyoshi,Ohtani Takamasa,Sakaida Norihiko. Владелец: CKD CORPORATION. Дата публикации: 2022-02-17.

DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN CHIP, AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190107498A1. Автор: Yoshitake Yasuhiro,Honda Toshifumi,Urano Yuta,Shibata Yukihiro,FUKUSHIMA Hideki. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-11.

Inspection device, packaging machine and inspection method of packaging body

Номер патента: TWI729759B. Автор: 大谷剛將,大山剛,坂井田憲彥. Владелец: 日商Ｃｋｄ股份有限公司. Дата публикации: 2021-06-01.

Multifunctional multi-piezo material having piezoelectric properties and mechanoluminescence properties, and multifunctional piezoelectric body, mems device, robot, strain/fatigue/damage diagnosis device, and non-destructive inspection method using same

Номер патента: US20230200253A1. Автор: Ruiping Wang,Chao-Nan Xu. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2023-06-22.

Glass sheet defect detection device, glass sheet manufacturing method, glass sheet, glass sheet quality judging device, and glass sheet inspection method

Номер патента: WO2008072693A1. Автор: Masakazu Iwata,Yasuhiro Nishimura,Hidemi Suizu. Владелец: NIPPON ELECTRIC GLASS CO., LTD.. Дата публикации: 2008-06-19.

Surface characteristic checks device and surface characteristic inspection method

Номер патента: CN103649744B. Автор: 牧野良保. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2016-09-21.

Medicated bag checks device and medicated bag inspection method

Номер патента: CN106290383A. Автор: 金俊昊. Владелец: JVM Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-04.

Blood clotting check device and blood clotting inspection method

Номер патента: CN109642909A. Автор: 细川和也. Владелец: Fujimori Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-16.

Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method

Номер патента: US20100307248A1. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Self-propelled inspection device and equipment inspection system

Номер патента: US20220397908A1. Автор: Kazuo Ono,Yuichi Igarashi,Takehito Ogata,Noriyasu HASEJIMA,Kazuya Murotani,Yuta Esaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-12-15.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-05.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US20200249206A1. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-06.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A3. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-11-25.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

High-speed surface inspection system for reticle pod and high-speed surface inspection method for reticle pod

Номер патента: US20240295504A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Back scattering inspection system and back scattering inspection method

Номер патента: US20210364455A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Yuan Ma,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-25.

Inspection method, classification method, management method, steel material production method, learning model generation method, learning model, inspection device, and steel material production equipment

Номер патента: US20240282098A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection device, plate-like object manufacturing device, inspection method, and plate-like object manufacturing method

Номер патента: AU2019268718B2. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Printed matter inspecting device, printed matter inspecting method, program, and printing apparatus

Номер патента: EP4032706A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

Door inspection system for vehicle and inspection method for the same

Номер патента: US09791381B2. Автор: Jin Cheol Kim,Young Soo Lim,Kang Jae JO,Bum-Hun JUN. Владелец: Dasannewtech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Electron beam inspection equipment and inspection method

Номер патента: EP4403909A1. Автор: Yang Wang,Jie Zeng,Xiaoshan Shi,Guizhen Xin,Yanzhong HAO,Qitao LIU,Taotao GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US09784676B2. Автор: HE Wang,XIANG Liu,Xin Fang,Peng Luo,Jiajia PENG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Drug supply device and drug inspection method in drug supply device

Номер патента: US09776755B2. Автор: Akira Kondo,Hideyuki Takahashi,Takashi Mori. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Visual inspection device, visual inspection method, image generation device, and image generation method

Номер патента: US20240362771A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Shinichi Inoue,Hideaki Onozuka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection method for semiconductor substrate, manufacturing method of semiconductor device and inspection device for semiconductor substrate

Номер патента: US09753082B2. Автор: Yohei Iwahashi,Hidemi Senda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US20160329578A1. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-11-10.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US09742013B2. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Inspection system for apparatus for manufacturing display device and inspection method for apparatus for manufacturing display device

Номер патента: US20230230353A1. Автор: Gihyun LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09778206B2. Автор: Toshifumi Honda,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Visual inspection device and visual inspection method

Номер патента: US20200202512A1. Автор: Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-25.

Substrate foreign matter inspection device and substrate foreign matter inspection method

Номер патента: US20230186458A1. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Kazuyoshi Kikuchi,Naohiro Zaima. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US20210358120A1. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Adhesive inspection device and adhesive inspection method

Номер патента: US20200326176A1. Автор: Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US20220207684A1. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US12094102B2. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection system, control device, and control method

Номер патента: US20190212304A1. Автор: Hideo Adachi,Toshiaki Yamashita,Michitaro SHOZAWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection device of display device and inspection method of display device

Номер патента: US09835565B2. Автор: Wal Jun Kim,Changhyun Ryu,JoongYoung RYU,Seung-Young BAECK,Deok joo LIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Non-destructive inspection device and non-destructive inspection system

Номер патента: US20240272102A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Processing device and inspection apparatus for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: US20240230550A9. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Optical inspection device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240281923A1. Автор: Hyung Jin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Defect detection method and defect detection device and defect observation device provided with same

Номер патента: US09759666B2. Автор: Masahiro Watanabe,Shunichi Matsumoto,Takehiro TACHIZAKI,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Optical inspection device for optical performance test of display device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240319110A1. Автор: HEE YOUNG LEE,Gil Yeong PARK,Min Kyoung JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US12105025B2. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

X-ray inspection device for drone, x-ray inspection device employing drone, and x-ray generator device for drone

Номер патента: US20200209172A1. Автор: BO Wang,Xiaojun Liu,Shuichi Suzuki,Norio Saito,Wenkang Guo. Владелец: Tsukuba Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-02.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240210333A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Jinning Liang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: EP4443142A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: US20240310293A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Inspection device and inspection method for pillar-shaped honeycomb filter

Номер патента: US12117386B2. Автор: Yoshihiro Sato,Yuji Watanabe,Yuichi Tajima,Yohei KAJIURA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Security inspection equipment, security inspection system and security inspection method

Номер патента: EP4459333A1. Автор: LEI Liu,Yuan Ma,Yuanjing Li,Tao Song,Shangmin Sun,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Inspection device for cylindrical bodies

Номер патента: US20210207953A1. Автор: André Witzmann,Robert Witkowski,Armin Eisner. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-07-08.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Substrate inspection device and substrate inspection method using the same

Номер патента: US20240201100A1. Автор: Dongwook Lee,Sung Hune Yoo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Surface property inspection device and method

Номер патента: US09964520B2. Автор: Kazuhiro Ota,Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Automated Photography and Inspection Station

Номер патента: US20240319107A1. Автор: Michael INSALAGO,Juan Guevara. Владелец: M & G Jewelers Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection method and device

Номер патента: US09841387B2. Автор: Hao-Kai CHOU,Chia-Ho YEN,Meng-Kun Lee,Liang-Pin Yu,Chun-Ti Chen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Inspection device and manufacturing method of film-type battery

Номер патента: US20220205939A1. Автор: Satoshi Nakashima. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Ray collimation device and radiation inspection device

Номер патента: GB2625957A. Автор: YIN Wei,Liu Yaohong,Chen Yumei,Guan Weiqiang,LI Weike. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US09541508B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Handheld inspection device and method of inspecting an infrastructure having a structure wall supported into material

Номер патента: CA3175708A1. Автор: Peter Marc CABOT. Владелец: Inversa Systems Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection device for a production machine

Номер патента: US09440758B2. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Inspection method, method for producing composition, and method for verifying composition

Номер патента: US20230266675A1. Автор: Takashi Nakamura,Shinichi Sugiyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

Substrate inspection device and component mounting device

Номер патента: US09511455B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

X-ray inspection device and method for determining degree of consumption of target of x-ray tube in x-ray inspection device

Номер патента: US20190380193A1. Автор: Bunta MATSUHANA,Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US20200033254A1. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US10712257B2. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Defect inspection device, defect inspection method, method for producing separator roll, and separator roll

Номер патента: US20180149602A1. Автор: Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

A borescope inspection device and a method for performing non-destructive testing with the borescope inspection device

Номер патента: WO2024153463A1. Автор: Carlo Giolli,Remo Ribichini,Erica SCRINZI,Luca AMMANNATO,Frederico MANGIAVACCHI. Владелец: Nuovo Pignone Tecnologie - S.r.l.. Дата публикации: 2024-07-25.

Borehole inspection device and system with a self-cleaning system and method for loading explosives in boreholes

Номер патента: US09708902B2. Автор: Jorge Lopez Rodriguez. Владелец: MaxamCorp Holding SL. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection device and molded product processing system

Номер патента: EP4253945A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-10-04.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: WO2018164692A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2018-09-13.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: US20240183793A1. Автор: Hisaji Murata,Yoshinori Satou,Yuya Sugasawa,Jeffry NAINGGOLAN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: US20200103356A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-04-02.

Inspection device and molded-product processing system

Номер патента: US20230281780A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: US20230394643A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: EP3592196A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-01-15.

Tire inspection method and device therefor

Номер патента: US09953409B2. Автор: Hirotaro Tada. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Inspection device of plugged honeycomb structure and inspection method of plugged honeycomb structure

Номер патента: US20100238281A1. Автор: Kensuke Tanaka,Akihiro Mizutani,Takayoshi Akao. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2010-09-23.

Fastener bulb inspection device

Номер патента: EP4382856A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Fastener Bulb Inspection Device

Номер патента: US20240185413A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-06.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Image inspection device and program

Номер патента: US20200068081A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US12078599B2. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Semiconductor inspection device including a counter electrode with adjustable potentials used to obtain images for detection of defects, and inspection method using charged particle beam

Номер патента: US09846133B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-12-19.

Strain inspection device and attaching method thereof

Номер патента: US09841365B2. Автор: Injoong Kim,Joungwook PARK,Hanna NOH,Sungsuu KIM,Gayoung RYU,Youngho CHA. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-12.

Display control device and storage medium

Номер патента: US20210302329A1. Автор: Kazuhiro Ota,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Drug inspection device

Номер патента: US09870611B2. Автор: Koji Ito,Mei Zhang,Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240167964A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Device and method for inspecting a sealing member

Номер патента: US09568303B2. Автор: Wan-Jae JOO. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Nondestructive inspection device using alternating magnetic field, and nondestructive inspection method

Номер патента: US09453817B2. Автор: Kunihiko Nakamura,Gijun Idei. Владелец: Dainichi Machine and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

LIGHT DETECTION AND RANGING (LiDAR)-BASED INSPECTION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20230108333A1. Автор: Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-06.

Six-sided inspection mechanism for part and part appearance packaging inspection device

Номер патента: US20240053276A1. Автор: Xingke Wang. Владелец: Dongguan Jiezhan Precision Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: SG10201804792XA. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: Asm Tech Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2019-01-30.

Laser light source device and inspection device

Номер патента: US09991670B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A3. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230137583A1. Автор: Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device

Номер патента: US09696266B2. Автор: Toshiyasu Suyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-04.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09470640B2. Автор: Atsushi Taniguchi,Yukihiro Shibata,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US09606071B2. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Inspection device

Номер патента: RU2322661C2. Автор: Вольфганг ШОРН,Мартин ВАЙСГЕРБЕР,Карстен БУХВАЛЬД,Ральф ПОЛЬ. Владелец: Кхс Машинен-Унд Анлагенбау Аг. Дата публикации: 2008-04-20.

Method of inspecting covering material, inspection device, method of producing covering material and covering material

Номер патента: RU2665353C1. Автор: Дайсуке ВАТАНАБЕ,Нацуки СИРАСАВА,Хисаси НИСИДА. Владелец: Дай Ниппон Принтинг Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-08-29.

Inspection device with optical watermarks

Номер патента: RU2739522C1. Автор: Бернхард ХОЙФТ,Вольфганг ПОЛЬСТЕР,Микаэль УНГЕР. Владелец: Хойфт Зюстемтехник Гмбх. Дата публикации: 2020-12-25.

Calibrating inspection devices

Номер патента: WO2019135886A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2019-07-11.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US20160011123A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Conveying system for inspection device

Номер патента: GB2626516A. Автор: Huang Qingping,HONG Mingzhi,ZHANG Liguo,Yang Jianxue,Li Guipei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Calibrating Inspection Devices

Номер патента: US20190204239A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Welding inspection device

Номер патента: EP4431920A1. Автор: Junoh LEE,Kyuhun Shim,Gilyoung Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Wire rope inspection method, wire rope inspection system, and wire rope inspection device

Номер патента: US12135311B2. Автор: Hiromichi Tonami. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Component inspection method, component manufacturing method, and component inspection device

Номер патента: US20240344929A1. Автор: Ryuta Ito,Atsuya SAKATA,Taro Tokutake,Hiroshi Makigano. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Exterior inspection device

Номер патента: US20170269003A1. Автор: Yasuhiko Enami,Yo-o HAYASHIDA. Владелец: Purex Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Inspection device, blister packing machine, and method of manufacturing blister pack

Номер патента: EP4194350A1. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-14.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240233106A9. Автор: Byungkyu Son. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240135521A1. Автор: Byungkyu Son. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2024-04-25.

X-ray inspection device

Номер патента: US11147149B2. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-12.

Medication container inspection device

Номер патента: WO2024054113A1. Автор: Joren Ide VAN DER HORST,Jim KIEFT,Joseph Roeland HENDRIKS. Владелец: Luo Automation B.V.. Дата публикации: 2024-03-14.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US12086976B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection device

Номер патента: US20240337609A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda,Shiori IMAIZUMI. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

Image inspection device

Номер патента: US20200072759A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

Image inspection device

Номер патента: EP3617809A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-04.

Inspection device

Номер патента: US20220198792A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

X-ray inspection device

Номер патента: US20200253032A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3691420A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Inspection device for body to be inspected and inspection device of foreign matters in liquid filled in transparent container

Номер патента: US6882422B2. Автор: Hiromi Yamazaki,Tadahiro Katane,Hirohisa Fukuda. Владелец: Hitachi Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2005-04-19.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Matching process device, matching process method, and inspection device employing same

Номер патента: US09619727B2. Автор: Yuichi Abe,Wataru Nagatomo,Hiroyuki Ushiba. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Operator guided inspection device, system, and method

Номер патента: US20220178836A1. Автор: Thomas Alton Bartoshesky,Jonathan Douglas Williams,Robert Fuelep Biro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-09.

Radiation inspection apparatus comprising a radiation inspection device and wheels and radiation inspection method

Номер патента: US11822043B2. Автор: LI ZHANG,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Quanwei Song,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Hejun Zhou,Bing Fu,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

X-ray inspection device

Номер патента: EP4394457A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Method and apparatus for launching and recovering a remote inspection device from a volatile fluid storage tank

Номер патента: US11931612B2. Автор: Jerome Vaganay,Eric Levitt,William O'Halloran,Troy L. STAIRES,Benjamin C. MOORE. Владелец: Phillips 66 Co. Дата публикации: 2024-03-19.

Shutter system and inspection device

Номер патента: EP4224148A1. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2023-08-09.

Defect inspection device

Номер патента: US09683947B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Back-scattering inspection system and back-scattering inspection method

Номер патента: EP3786624A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Yuan Ma,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

Security inspection device

Номер патента: US11747510B2. Автор: Feng Wang,Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Inspection apparatus, inspection method, computer program and recordimg medium

Номер патента: US20190331476A1. Автор: Masakazu Ogasawara,Takanori OCHIAI. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2019-10-31.

Inspection method, classification method, management method, steel material manufacturing method, training model generation method, training model, inspection device, and steel material manufacturing facility

Номер патента: EP4361615A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Pallet inspection device

Номер патента: US12037203B2. Автор: Wataru Kiyokawa. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Kneader internal inspection device

Номер патента: US20170225359A1. Автор: Eiji Takahashi,Hodaka Miura,Toshihide Fukui,Chitaka Manabe. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Robotic inspection device for tank and pipe inspections

Номер патента: US20210131604A1. Автор: Rashid D. Al Hajri,Amer D. Hajri,Fikri A. Suwailah,Kazem H. Al Musabbeh. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2021-05-06.

Self-Propelled Container and/or Vehicle Inspection Device

Номер патента: US20190250302A1. Автор: Jie Zhao,Haibo Qu. Владелец: Beijing Hualixing Sci Tech Development Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Detection device and detection method

Номер патента: US12099020B2. Автор: Sachio Iida,Norihito Mihota. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Inspection device

Номер патента: US20240346818A1. Автор: Shinichi Matsubara,Takafumi Miwa,Yuta Imai,Sayaka KURATA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-10-17.

X-ray inspection device

Номер патента: US09752996B2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Defect inspection device, defect inspection method, and program, and printing device and method of manufacturing printed matter

Номер патента: US20230103391A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Inspection method and inspection device and computer-readable medium

Номер патента: EP3699579A1. Автор: Tao Liu,QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Surface inspection method using mold surface inspection device

Номер патента: US11733685B2. Автор: Sun Kyu Lee,Dae Gweon KOH,Jin Hyuk HONG,Han Ul KIM,Dinuka Ravimal Ranawaka Arachchige. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-08-22.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4297106A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

X-ray inspection device

Номер патента: US20240219324A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Shutter system and inspection device

Номер патента: US12047665B2. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Non-Destructive Inspection Device

Номер патента: US20240295511A1. Автор: Yujiro Ikeda,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Massato TAKAMURA. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2024-09-05.

Guided inspection of an installed component using a handheld inspection device

Номер патента: US09852500B2. Автор: Robert J. Scheuerman,Rick F. Rourke. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2017-12-26.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20240027361A1. Автор: Kazuhide Sato,Masami Makuuchi,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection device

Номер патента: US20240201104A1. Автор: SHINJI Ueyama,MITSUNORI Numata,Kenji Suzuki,Tomoki Onishi,Ingi KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US20170133135A1. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2017-05-11.

Inspection device

Номер патента: US11774374B2. Автор: Takashi Sugata,Ryoji Kodama. Владелец: Nanosystem Solutions Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20240118223A1. Автор: Katsuhiko Kimura,Masaya Yamamoto,Yoshihiro Satou,Ayumi TOMIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Drug Capsule Appearance Inspection Device

Номер патента: US20230236133A1. Автор: Ku Hyun Lee. Владелец: Sltg Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Defect inspection device

Номер патента: US20220092765A1. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Cognex Ireland Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Side surface inspection device of cylindrical battery

Номер патента: US20240345000A1. Автор: Jiwon Kim,Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Property inspection devices, methods, and systems

Номер патента: US09970881B1. Автор: James P. Hillman,Cynthia Blasing,Damien Brunet,Dan D. Cable,Adolfo J. Fernandez,Jeffrey A. Kreth,Shane Osborne,Robert A. Pacheco,Renee Sokolowski. Владелец: United Services Automobile Association USAA. Дата публикации: 2018-05-15.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9151669B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-06.

Analysis device, specimen production device, inspection device, operation method for specimen production device, and operation method for inspection device

Номер патента: EP4306631A1. Автор: Sakiko Narikawa,Megumi Mizuno,Naomi Ishii. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-17.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240073348A1. Автор: Tatsuya Shirasaka. Владелец: Toyo Seikan Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection apparatus, ptp packaging machine, and inspection method

Номер патента: EP3767279A1. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

Analysis Device, Specimen Production Device, Inspection Device, Operation Method for Specimen Production Device, and Operation Method for Inspection Device

Номер патента: US20240183870A1. Автор: Sakiko Narikawa,Megumi Mizuno,Naomi Ishii. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Image alignment method, comparative inspection method, and comparative inspection device for comparative inspections

Номер патента: US20070036422A1. Автор: Shunji Maeda,Kaoru Sakai,Takafumi Okabe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-02-15.

Cigarette filter inspection method, cigarette filter inspection device, and cigarette filter inspection program

Номер патента: EP3726203A1. Автор: Kazumasa Arae,Takuya OTOKAWA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2020-10-21.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190043181A1. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10769777B2. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

Appearance inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11936985B2. Автор: Shingo Hayashi,Daisuke Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240175805A1. Автор: Tatsuya Hirose,Tadashi SUMII,Hidetsugu NOSAKA,Yusuke TSURUI. Владелец: Taikisha Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Nondestructive inspecting device, and nondestructive inspecting method

Номер патента: US20230393082A1. Автор: Kunihiro Fujita,Takaoki TAKANASHI,Yoshie OTAKE,Chihiro Iwamoto. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-12-07.

Inspection route generation device and inspection route generation method

Номер патента: US20240042607A1. Автор: Nobuaki Nakasu,Hiroki Morii,Kaichiro Nishi. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Inspection path generation device and inspection path generation method

Номер патента: EP4261530A1. Автор: Nobuaki Nakasu,Hiroki Morii,Kaichiro Nishi. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2023-10-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20080297779A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-12-04.

Nondestructive inspecting device

Номер патента: US20240183801A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Medicinal agent inspection system, winding device, feed device, and holder

Номер патента: EP2905010A1. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa,Dai SHIMIZUBE,Hirokazu Chihara. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-12.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US11900642B2. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Fluorescent Particles, Inspection Device Using Fluorescent Particles For Visualizing and Inspecting Motion/Movement Of Fluid In Locations Where Fluid Is Present, And Inspection Method Using Fluorescent Particles For Visualizing and Inspecting Motion/Movement Of Fluid In Locations Where Fluid Is Present

Номер патента: US20220089941A1. Автор: Masaaki Horie,Akira Miyahara. Владелец: CENTRAL TECHNO CORP. Дата публикации: 2022-03-24.

Method for inspecting a tank, sluice device and arrangement comprising a tank, a sluice device and an inspection device

Номер патента: AU2022327644A1. Автор: Matthias Grote,Berry KRIJBOLDER. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2024-02-29.

Imaging ellipsometry (IE)-based inspection method and method of fabricating semiconductor device by using IE-based inspection method

Номер патента: US11972960B2. Автор: Myungjun Lee,Jaehwang Jung,Wookrae Kim,Myoungki Ahn. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-30.

Inspection method for semiconductor substrate, manufacturing method of semiconductor device and inspection device for semiconductor substrate

Номер патента: US20160252571A1. Автор: Yohei Iwahashi,Hidemi Senda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-09-01.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US11971364B2. Автор: Shinsuke Suzuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-30.

Cable inspection device and cable inspection method

Номер патента: EP4170330A1. Автор: Kenta Kato,Yuichi Yoshimura,Yoshimasa Ikeda,Takao Hashiguchi,Hirokazu Kitagawa,Yoshie OTAKE,Maki Mizuta. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-04-26.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190277772A1. Автор: Tomohiro Suzuki,Haruhiko Kusunose,Masayasu Nishizawa. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230358668A1. Автор: Chi-Yu Huang. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Method for inspecting a tank, sluice device and arrangement comprising a tank, a sluice device and an inspection device

Номер патента: CA3228620A1. Автор: Matthias Grote,Berry KRIJBOLDER. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2023-02-16.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317065A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240168045A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3734261A1. Автор: Hideaki Takahashi,Naoki Matsushima,Yoshiyasu Ito,Kiyoshi Ogata,Shiro Umegaki,Kazuhiko Omote,Hiroshi Motono,Shigematsu Asano,Sei Yoshihara,Katsutaka Horada,Ryotaro YAMAGUCHI,Akifusa Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Visual inspection device

Номер патента: US20210381990A1. Автор: Claudio SEDAZZARI. Владелец: Opto Engineering SpA. Дата публикации: 2021-12-09.

Automatic food inspection device

Номер патента: EP4406666A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-07-31.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: EP4067884A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Inspection device

Номер патента: US20230288327A1. Автор: Yuichiro Kamino,Hiroaki Minamide,Syusaku Yamamoto,Keisuke Kajikawa,Koji Nawata. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-09-14.

Inspection Device

Номер патента: US20160103187A1. Автор: Kenji Tsubosaka,Tetsuo Noguchi,Hiroo Yoshikawa,Yusuke Itoh. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-04-14.

Allophone inspection device and inspection method thereof

Номер патента: US11636717B2. Автор: Seong-Cheol Kim,Joo Hyun Park,Sung Wook Lee,Byeong-Ho Lee,Wanjei Cho. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US20220050058A1. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2022-02-17.

Pre-viewing inspection method for article and device therefor

Номер патента: US20020021123A1. Автор: Yoichi Kawamorita,Kazuya Tokuda,Kenji Muranaka,Ryozo Fukuda,Shoshin Igarashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-02-21.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: CA3218147A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2022-11-10.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317064A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Defect Inspection Device and Defect Inspection Method

Номер патента: US20220317058A1. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11906440B2. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Device and method for inspecting display

Номер патента: US20190137408A1. Автор: Zhe Liu. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Inspection device and inspection method for boiler furnace water wall tubes

Номер патента: US20110279828A1. Автор: Kai Zhang,Hideaki Murata,Hirotoshi Matsumoto,Keiji Ida. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-11-17.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240118220A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190283910A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Drill hole inspection method, drill hole inspection system and inspection device

Номер патента: US11847774B2. Автор: Tai-Been Chen,Chen-Te Yu,Chia-Chien Pan. Владелец: Der Lih Fuh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Ray inspection device, and method for inspecting target

Номер патента: GB2620536A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Defect inspection device

Номер патента: US20070257695A1. Автор: Henry Huang,Yong Seng Tan. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2007-11-08.

Inspection device for substrate deformation at high temperatures and inspection method for substrate deformation at high temperatures using the same

Номер патента: US20140152980A1. Автор: Dong Yong Kim,Tae Yoon Kim,Suk Jin Ham,Mi Yang KIM,Gyu Seok KIM,Hee Suk CHUNG,Yong Choon PARK. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-05.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240159694A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230036062A1. Автор: Tomohiro Matsuda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Underwater inspection device and filtering method of its attitude sensor

Номер патента: US20200393419A1. Автор: HUI Li,Pengxiang LI. Владелец: Hainan University. Дата публикации: 2020-12-17.

Processing device and inspection apparatus for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: US20240133823A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection Device with Integrated X-ray and Weighing Device

Номер патента: US20240027370A1. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec GmbH. Дата публикации: 2024-01-25.

Electrode assembly alignment inspection device and electrode assembly alignment inspection method using same

Номер патента: EP3627143A1. Автор: Su Taek Jung,Jung Kwan Pyo,Cha Hun Ku,Tai Jin Jung. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2020-03-25.

Sample inspection device for detecting fluorescence of sample

Номер патента: US20230213449A1. Автор: Neon Cheol JUNG,Alexey DAN CHIN YU,Keunchang Cho. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Package readying and inspection apparatus

Номер патента: US5337138A. Автор: Akihiko Takeshita,Tetsuji Masai,Kenichi Inada. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 1994-08-09.

Inspection device and inspection method for sheet layer

Номер патента: EP4067812A1. Автор: Masataka Koyama,Hiroharu Suzuki,Tomohiro Kinoshita,Shogo KOJIMA,Yuki Hanawa,Motohiro NAKAGAMI,Yusaku ISHIDA. Владелец: Kawasaki Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-05.

Inspection device and inspection method for sheet layer

Номер патента: US20230035817A1. Автор: Masataka Koyama,Hiroharu Suzuki,Tomohiro Kinoshita,Shogo KOJIMA,Yuki Hanawa,Motohiro NAKAGAMI,Yusaku ISHIDA. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2023-02-02.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: US20240161287A1. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252620A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A3. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection device

Номер патента: US09568437B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Panel inspection device and inspection method of panel

Номер патента: US8023721B2. Автор: Chih-Chiang Lee,Ching-Chun Chien,Hsien-Chang Kao,Kuo-Chang Teng. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2011-09-20.

Inspection device and method of inspecting inspection target using the same

Номер патента: US20240060903A1. Автор: Byoung-Ju Kim,Hyojin Kim,Sangsu Lee,Jihoon SEO,Myoungchul KIM,Tae-gu Kang,Seungbum Park,Tae-Jun Ahn,Hyoyul Lee,Jeonghwa Ha. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11971367B2. Автор: Yasuyuki Nuriya. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Marking inspection device and marking device for transparent edible objects

Номер патента: US20240053277A1. Автор: Junsuke Yasui,Kousuke OOKITA,Kazuaki MATSUTANI. Владелец: Qualicaps Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A2. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-05-02.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: US20230304947A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9546939B2. Автор: Koji Shiratsuchi,Zhengyong Liu,Rintaro Nagaoka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspection device and article transfer inspection system

Номер патента: EP4365640A1. Автор: Ying Li,Qi Zhang,Yuan Ma,Shangmin Sun,Quanwei Song,Xuejing Yang,Yuan He,Junping Shi,Chunguang ZONG,Yiwei GUO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: EP4206665A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Inspection device

Номер патента: EP4007480A1. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-06-01.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: EP4224150A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Visual inspections device, method of manufacturing and program the same

Номер патента: US20210341394A1. Автор: Hideki Wada. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Inspection device and inspection method

Номер патента: CA3028563C. Автор: Manabu Watanabe,Fumio Sato,Akihiro Matsuzaki,Fujio Terai,Hitoshi Katayama,Yuichiro Gunji. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-10-04.

Inspection device and method for capturing inspection image

Номер патента: US11877063B2. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Biological tissue inspection device and method therefor[

Номер патента: EP3888533A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Min Young Hwangbo. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2021-10-06.

Inspection device, PTP packaging machine and inspection method

Номер патента: US11981469B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200378900A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Particle inspection device and particle inspection method

Номер патента: US20240159686A1. Автор: Toyoki Kanzaki,Shota SOMEYA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection device, packaging sheet manufacturing device, and inspection method

Номер патента: US11994477B2. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection method, inspection device, and plating apparatus including the same

Номер патента: US20190330758A1. Автор: Masaki Tomita. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2019-10-31.

Spectrum-inspection device

Номер патента: US09972651B2. Автор: Wei-Ko Wang. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Semiconductor device inspection method

Номер патента: US20030022401A1. Автор: Minori Noguchi,Yoshimasa Ohshima,Hidetoshi Nishiyama,Akira Hamamatsu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-01-30.

Radiation inspection apparatus and inspection method for object security inspection

Номер патента: CA2774605A1. Автор: MING Chen,Jianmin Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Lan Zhang,Xuewu Wang,Yumin Yi,Jinyu Zhang,Yongming Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-31.

Security inspection device and transfer method therefor

Номер патента: US11933934B2. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Xuping Fan. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US11373292B2. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-06-28.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11796481B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Appearance inspection device and blister packaging machine

Номер патента: US20200182799A1. Автор: Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US20200211169A1. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Inspection device and method for checking an object produced by sintering for defects

Номер патента: US11983862B2. Автор: Sven Crull,Shahrooz Sadeghi Borujeni,Yasin Bayzidi. Владелец: Volkswagen A En Gesellschaft. Дата публикации: 2024-05-14.

Movable inspection device and inspection method

Номер патента: EP4170329A1. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-26.

Container inspection device and inspection method

Номер патента: PH12017501890A1. Автор: Chiyoko TAKAHASHI. Владелец: Kirin Techno System Company Ltd. Дата публикации: 2018-03-05.

Biological tissue inspection device and method therefor

Номер патента: US20190196163A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Min Young Hwangbo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-27.

Biological tissue inspection device and method therefor

Номер патента: US20200348499A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Min Young Hwangbo. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2020-11-05.

Optical inspection method, optical inspection device, and non-transitory computer-readable storage medium storing optical inspection program

Номер патента: US11977022B2. Автор: Hiroshi Ohno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Container inspection device and inspection method

Номер патента: PH12017501890B1. Автор: Chiyoko TAKAHASHI. Владелец: Kirin Techno System Company Ltd. Дата публикации: 2018-03-05.

Automatic optical inspection device and method

Номер патента: US20190293566A1. Автор: WEN Xu,Fan Wang,Hongji Zhou,Pengli Zhang,Hailiang LU,Junwei JIA. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Surface-defect inspection device

Номер патента: US20120147363A1. Автор: Katsuya Suzuki,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Inspecting device

Номер патента: US11852470B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Linear defect inspection device

Номер патента: US20230252619A1. Автор: Jae Hyun Park,Myoung Gon YANG,Kyung Do LEE,Young Woo KO. Владелец: Coss Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: US12036622B2. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspecting device

Номер патента: US20220136816A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2022-05-05.

Surface inspection device

Номер патента: US20090079983A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-03-26.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20100182603A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-07-22.

Optical inspection device

Номер патента: US12092582B2. Автор: Hiroshi Ohno,Takashi Usui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection device for display apparatus

Номер патента: US20240302258A1. Автор: Gabtae Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Foreign matter inspecting device

Номер патента: EP4446730A1. Автор: Masahiro Yamaguchi,Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Control mechanism for transformer in-situ inspection device

Номер патента: US09926052B2. Автор: Gregory A. Cole,Gregory F. Rossano,William Eakins,George Zhang,Daniel T. Lasko. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2018-03-27.

Container inspection device

Номер патента: US09823262B2. Автор: Osamu Yoshida,Chizuka Kai,Kunimitsu Toyoshima. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2017-11-21.

Inspection device for painted surface of vehicle

Номер патента: US09546963B2. Автор: Jinho Seok,Sang Ki Hwang. Владелец: Digital Imaging Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method

Номер патента: CA2807917C. Автор: Hisashi Endo,Akira Nishimizu,Noriyuki Sadaoka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-10-11.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20200292466A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4269991A1. Автор: Nobuyuki Kamihara,Kohei Kawazoe,Yuki Yano,Toshinobu MURAKI,Kiwamu Nakajima,Takayuki Moritake,Yusuke HASHIDA,Kanata FUJII. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-11-01.

Defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection computer program product

Номер патента: US20240020821A1. Автор: Akira Moriya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: EP4321445A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-14.

Optical inspection device for optical performance test of display device and optical inspection method using the same

Номер патента: US12025571B2. Автор: HEE YOUNG LEE,Gil Yeong PARK,Min Kyoung JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: US20010055415A1. Автор: Takeo Nozaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Mounting inspection device

Номер патента: EP3048439A1. Автор: Mikio Nakajima,Mitsutaka Inagaki. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-27.

Inspection device and method

Номер патента: US11852591B2. Автор: Yosuke NARUSE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Inspection area setting method for image inspecting device

Номер патента: US9269134B2. Автор: Yoshihisa Minato,Yukiko Yanagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2016-02-23.

Inspection position identification method, three-dimensional image generation method, and inspection device

Номер патента: US11835475B2. Автор: Yosuke Yamamoto,Takuma Hirayama. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20160216217A1. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-07-28.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US9568439B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US9329136B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-03.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: US20240040230A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Dark-field optical inspection device

Номер патента: US11965834B2. Автор: Mayeul DURAND DE GEVIGNEY. Владелец: Unity Semiconductor SAS. Дата публикации: 2024-04-23.

Thermocycling inspection device and chip holder

Номер патента: US11958052B2. Автор: Hiroshi Mitsutake,Ryoko Aso,Ryuichi Sekizawa. Владелец: METABOSCREEN CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Inspecting device, inspecting method, and program

Номер патента: US20190285554A1. Автор: Yoshinori Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230109456A1. Автор: Takeshi Sakamoto,Iku Sano,Takafumi Ogiwara. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-04-06.

Defect and appearance inspection device for photovoltaic panels

Номер патента: AU2020101507A4. Автор: Yong Wu,Huachao LI. Владелец: Suzhou Ju Neng Image Inspection Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Defect inspection system for specimen and defect inspection method for specimen

Номер патента: US20200151862A1. Автор: Seong-Keun HA. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-14.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US20210318252A1. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2021-10-14.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: US20230334649A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-10-19.

Adhered matter inspection method

Номер патента: US20200193545A1. Автор: Yuichiro Hashimoto,Yasuaki Takada,Masuyuki Sugiyama,Shun KUMANO. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-06-18.

Optical inspection device and optical inspection method

Номер патента: US20240210238A1. Автор: Je Won YOO,In Hyuk Kim,Joo Yeol Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US11428673B2. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-08-30.

Core inspection device, core inspection system, and core inspection method

Номер патента: US11953425B2. Автор: Hiroki Matsuoka,Takashi Hanai. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: US20240011920A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-11.

Defect inspecting device, defect inspecting method, and storage medium

Номер патента: US11830174B2. Автор: Masashi Kurita,Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20190285980A1. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11788973B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20140253911A1. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2014-09-11.

Inspection device

Номер патента: US11977036B2. Автор: Makoto Nakatani,Akihiro Maenaka,Yoshinori TARUMOTO,Hironori TSUTSUMI. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Image inspection device, image forming apparatus, inspection report creating program, and inspection report

Номер патента: US20210104030A1. Автор: Daisuke Genda,Jun Itou,Yasushi Tsue. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-04-08.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: EP4314927A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-07.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: US20180364180A1. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: ASM TECHNOLOGY SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2018-12-20.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: MY184397A. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: ASMPT Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Surface property inspection method and surface property inspection device

Номер патента: EP3489673A1. Автор: Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2019-05-29.

Actuatable visual inspection device

Номер патента: US8836937B2. Автор: Christopher Edward Thompson,Thomas James Batzinger,Matthew Stephen Gutschow. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-16.

An inspection device for detecting surface faults, and an instrument incorporating such a device

Номер патента: CA2120948C. Автор: Ivar Jonsson. Владелец: IP-TEC AB. Дата публикации: 2004-12-07.

Borehole inspection device and system with a self-cleaning system and method for loading explosives in boreholes

Номер патента: CA2823896C. Автор: Jorge Lopez Rodriguez. Владелец: MaxamCorp Holding SL. Дата публикации: 2018-08-07.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: EP4249961A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: CA3199574A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-27.

Defect inspection device and method for inspecting defect

Номер патента: US20240060904A1. Автор: Dae Hong Kim,Jeong Moon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device

Номер патента: US20150355100A1. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-10.

Cell inspection device and cell inspection method

Номер патента: US11906410B2. Автор: Jun Funazaki,Kazutaka Nishikawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Radiation Inspection Device

Номер патента: GB2617981A. Автор: LIU Lei,HU YU,MA Yuan,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,Ji ZHENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Inspection device, ptp packaging machine, and ptp sheet manufacturing method

Номер патента: EP3614127A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-02-26.

Inspection device

Номер патента: US20220198636A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Defect inspection device, defect inspection method, and method for producing separator roll

Номер патента: US20180159102A1. Автор: Yasuyuki Kondo,Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Endoscope fluorescence inspection device

Номер патента: EP3876813A1. Автор: Mark Jackson,Tuan Nguyen,Nicholas G. BROMILEY,Huyen Bui,Joshua J. Korth,Mer Win CHEONG. Владелец: Medivators Inc. Дата публикации: 2021-09-15.

Inspection Device and Inspection Method

Номер патента: US20200273158A1. Автор: Hiroshi Oota. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Container inspection device

Номер патента: NL2032976B1. Автор: Roeland Hendriks Joseph,Ide Van Der Horst Joren,Kieft Jim. Владелец: Luo Automation B V. Дата публикации: 2024-03-21.

Optical inspection device and method

Номер патента: EP3821235A1. Автор: Bertram Adriaan van der Zwan,Sjoerd Oostrom,Bart Gerardus SPEET. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2021-05-19.

Member inspection device and member repairing method

Номер патента: US20190041199A1. Автор: Yoichiro Ara,Yoshihiro Koketsu,Yuuko Ujihara. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Wood material panel pressing device and method for monitoring a wood material panel pressing device

Номер патента: US20200094507A1. Автор: Daniel Sperlich. Владелец: SWISS KRONO Tec AG. Дата публикации: 2020-03-26.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20220301136A1. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Radiation inspection device

Номер патента: US20240069240A1. Автор: Zheng Ji,LEI Liu,Yuan Ma,Yu Hu,Shangmin Sun,Chunguang ZONG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Ultrasound devices and methods for fuel channel inspection

Номер патента: WO2024103152A1. Автор: Raymond TEN GROTENHUIS,Andrew Hong,Yadav VERMA,Andres VILLEGAS. Владелец: Ontario Power Generation Inc.. Дата публикации: 2024-05-23.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US7746464B2. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-29.

X-ray thin film inspection device

Номер патента: US20170299528A1. Автор: Hideaki Takahashi,Yoshiyasu Ito,Kiyoshi Ogata,Muneo Yoshida,Kazuhiko Omote,Hiroshi Motono. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-19.

Surface state inspecting device for inspecting the state of parallel first and second surfaces

Номер патента: US4999511A. Автор: Michio Kohno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1991-03-12.

Pipe inspection device

Номер патента: CA2914772C. Автор: Jakob KESSELBERG. Владелец: VRETMASKIN EL & MEKANIK AB. Дата публикации: 2019-02-26.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: US20240027369A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Tape inspection device and secondary battery manufacturing system having the same

Номер патента: US20220172345A1. Автор: Sang Min Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Display control device and storage medium

Номер патента: US11802842B2. Автор: Kazuhiro Ota,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2023-10-31.

Marking inspection device on transparent edible body and marking device

Номер патента: EP4293345A1. Автор: Junsuke Yasui,Kousuke OOKITA,Kazuaki MATSUTANI. Владелец: Qualicaps Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Electronic label inspection device

Номер патента: US20220205927A1. Автор: LU LIU,Xiaobo Lin,Zhenhua Meng. Владелец: Guangzhou Pulisi Technology Co, Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Imaging device, bump inspection device, and imaging method

Номер патента: US11953314B2. Автор: Takeya Tsukamoto,Takashi Miyasaka,Alexsandr JUK,Alain Ross,Shigeya KIKUTA. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Hub connection for pipeline inspection device

Номер патента: US11892373B2. Автор: Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Inspection device

Номер патента: US10908095B2. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2021-02-02.

Inspection device

Номер патента: US20190219518A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Device and method for defect inspection based on explainable artificial intelligence

Номер патента: US20220300805A1. Автор: Tae Hyun Kim,Jung Kyu Kim. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-22.

Imaging device, bump inspection device, and imaging method

Номер патента: US20200166334A1. Автор: Takeya Tsukamoto,Takashi Miyasaka,Alexsandr JUK,Alain Ross,Shigeya KIKUTA. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2020-05-28.

Ray inspection device and target inspection method

Номер патента: GB2619880A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,LIANG Jinning,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Fluid path inspection device and fluid path inspection method

Номер патента: US20170261396A1. Автор: Takuji Sasaki,Masaki Fujita,Jun Yoshioka,Jun KOGAWA,Toshiki AKAHIRA. Владелец: Takashin Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-14.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170123003A1. Автор: Nakamura Tomonori. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

ROBOT DEVICE, INSPECTION DEVICE, INSPECTION DEVICE OF GENERATOR, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180128879A1. Автор: KUWAHARA Hiroaki,Matsuzaki Akihiro,CHIKAOKA Hideo,IWATA Tomio,TERAI Fujio,GUNJI Yuuichiro. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2018-05-10.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160334459A1. Автор: Nakamura Tomonori,NISHIZAWA Mitsunori. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-17.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150377959A1. Автор: Nakamura Tomonori,NISHIZAWA Mitsunori. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

Inspection device of semiconductor integrated circuit, inspection method of semiconductor integrated circuit, and control program of inspection device of semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20120043983A1. Автор: Toru Kume,Nobuhiro Sawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-02-23.

POSITIONING DEVICE, HOLE INSPECTION DEVICE, POSITIONING METHOD AND HOLE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200378749A1. Автор: Watanabe Masao,NAKAHATA Tatsuo,ONO Ryohei. Владелец: SUBARU CORPORATION. Дата публикации: 2020-12-03.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3141432A4. Автор: Toru Owada,Nobuyoshi Morita,Keisuke Hakuta,Makoto Kayashima. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2018-01-03.

SLEEVE POSITION INSPECTING DEVICE AND SLEEVE POSITION INSPECTING METHOD

Номер патента: US20200025553A1. Автор: Uchiyama Hideaki,TOKURA Kentaro,NAGAMOTO Naoki,KAKEHASHI Takao,IKEHARA Motohiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-23.

FLUID PATH INSPECTION DEVICE AND FLUID PATH INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170261396A1. Автор: Fujita Masaki,Yoshioka Jun,SASAKI Takuji,KOGAWA Jun,AKAHIRA Toshiki. Владелец: TAKASHIN CO., LTD.. Дата публикации: 2017-09-14.

CIRCUIT BOARD INSPECTION DEVICE AND CIRCUIT BOARD INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170315672A1. Автор: TAKAHASHI Tadashi,HIBARINO Toshihisa,HONDA Mutsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-02.

Circuit pattern inspection device and circuit pattern inspection method

Номер патента: KR101013243B1. Автор: 슈우지 야마오까,히로시 하모리,쇼고 이시오까. Владелец: 오에이치티 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2011-02-09.

Motor vehicle inspection device and motor vehicle inspection method

Номер патента: WO2012031814A1. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2012-03-15.

Band distribution inspection device and band distribution inspection method

Номер патента: JP4698136B2. Автор: 泰一 大野,弘幸 松並,浩司 岡田. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2011-06-08.

Circuit pattern inspection device and circuit pattern inspection method

Номер патента: CN1720458A. Автор: 羽森宽,山冈秀嗣,石冈圣悟. Владелец: OHT Inc. Дата публикации: 2006-01-11.

Sleeve position inspection device and sleeve position inspection method

Номер патента: JPWO2018066614A1. Автор: 孝夫 掛橋,直樹 永元,健太郎 戸倉,永元　直樹,基博 池原,英昭 内山. Владелец: Sumitomo Mitsui Construction Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-29.

Metal element inspection device and metal element inspection method

Номер патента: US7578209B2. Автор: Hiroaki Kuroda,Eiichiro Muramatsu. Владелец: JATCO Ltd. Дата публикации: 2009-08-25.

X-ray inspection device and x-ray inspection method

Номер патента: US20060196914A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Hisashi Hasegawa,Tomoyuki Hiramatsu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2006-09-07.

Storage battery inspection device and storage battery inspection method

Номер патента: WO2021024859A1. Автор: 建次郎 木村,勇輝 美馬,章吾 鈴木,木村　憲明. Владелец: 株式会社 Ｉｎｔｅｇｒａｌ Ｇｅｏｍｅｔｒｙ Ｓｃｉｅｎｃｅ. Дата публикации: 2021-02-11.

Optical element inspection device and optical element inspection method

Номер патента: US20030063293A1. Автор: Masashi Kitabayashi,Yuji Takado. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2003-04-03.

Sealed container internal pressure inspection device and internal pressure inspection method

Номер патента: EP2772740B1. Автор: Tetsuya Takatomi,Taichi Ijuin,Norihiko Ozaku. Владелец: Daiwa Can Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-23.

Circuit substrate inspection device and circuit substrate inspection method

Номер патента: TW200530602A. Автор: Satoshi Suzuki,Kiyoshi Kimura,Sugiro Shimoda. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2005-09-16.

Storage battery inspection device and storage battery inspection method

Номер патента: EP4012819A4. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2023-08-30.

Inspection device, and conductive pattern inspection method

Номер патента: TW200643434A. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka,Hiroshi Hamori. Владелец: OHT Inc. Дата публикации: 2006-12-16.

HUMID AIR FORMING DEVICE, INSPECTION DEVICE COMPRISING SAME, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180320913A1. Автор: LEE Ho Jun,KIM Hong Ki,SER Jang Il,Kim Hyo Bin,SHIN Yong Seung. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC.. Дата публикации: 2018-11-08.

Electromagnetic wire coating layer inspection device, electromagnetic wire coating layer inspection method, and electromechanical manufacturing method

Номер патента: CN116325031A. Автор: 李旭涛,高桥贞治,三泽贵浩. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-06-23.

INSULATION INSPECTION DEVICE FOR MOTORS AND INSULATION INSPECTION METHOD FOR MOTORS

Номер патента: US20150247901A1. Автор: Okada Shinichi,Shiota Hiroki,Muto Hirotaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2015-09-03.

Function inspection device of tco and inspection method using the same

Номер патента: KR101879463B1. Автор: 최성호,김종대,김창해,추성춘,이향목,이영목. Владелец: 주식회사 엘지화학. Дата публикации: 2018-07-17.

Multilayer board, electronic device, and multilayer board inspection method

Номер патента: US20220285082A1. Автор: Kiminori Kouno,Koji KAMADA. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-08.

Surface unevenness detection method and device, and magnetic disk inspection method

Номер патента: JP3063022B2. Автор: 順一 堀川,久雄 河合. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2000-07-12.

Semiconductor device, and design method, inspection method, and design program therefor

Номер патента: TWI306657B. Автор: Shinobu Isobe. Владелец: Umc Japan. Дата публикации: 2009-02-21.

Semiconductor device, and design method, inspection method, and design program therefor

Номер патента: TW200414486A. Автор: Shinobu Isobe. Владелец: Umc Japan. Дата публикации: 2004-08-01.

Taic coating device and ground state inspection method

Номер патента: CN104703708B. Автор: 藤原茂树,山崎勇,梅木雅之,川本章洋,浅田康德,永井公好. Владелец: Trinity Industrial Corp. Дата публикации: 2017-03-01.

Electrostatic coating device and ground state inspection method

Номер патента: EP2910310B1. Автор: Akihiro Kawamoto,Kimiyoshi Nagai,Shigeki Fujiwara,Isamu Yamasaki,Yasunori Asada,Masayuki UMEKI. Владелец: Trinity Industrial Corp. Дата публикации: 2018-01-31.

Auto probe device and using the inspecting method forLCD panel using the same

Номер патента: KR101281980B1. Автор: 이은중. Владелец: 엘지디스플레이 주식회사. Дата публикации: 2013-07-03.

Image inspection device, image formation device, image inspection method, and non-transitory recording medium storing a computer readable program

Номер патента: US20200250805A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-06.

Implantable inspecting device, inspecting system, and inspecting method

Номер патента: US20220248991A1. Автор: Chi-Heng Chang,Mei-Ching WANG. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: US20240320811A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: EP4435768A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Board conveyance device and conveyance belt inspection method

Номер патента: US20170285545A1. Автор: Toshihiro Kodama. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-05.

Semiconductor inspection method, semiconductor inspection device and manufacturing method of semiconductor element

Номер патента: US09508611B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Hirotaka Hamamura,Hiroyuki Okino,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: EP4056978A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-09-14.

Aerial optical fiber cable inspection method, aerial optical fiber cable inspection device, and program

Номер патента: US12031858B2. Автор: Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tatsuya Okamoto. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US20210048339A1. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US11709094B2. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240353287A1. Автор: Takuya Iwamoto,Masao Akiyoshi,Kenji Amaya,Norihiko HANA,Masaki Umeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US20220349770A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US12032013B2. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection apparatus

Номер патента: US20230184827A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Shigeru EURA,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US12085481B2. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US09632110B2. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Inspection device and inspection method for speed variator

Номер патента: US11913853B2. Автор: Long-En Chiu. Владелец: Fulian Yuzhan Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20240302419A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

An underfloor wheelset inspection device and a method for probing railway vehicle wheelsets using the underfloor wheelset inspection device

Номер патента: EP4417959A1. Автор: Yu Zhang,Chaoyong PENG,Jianguang GUO,Zhaoyuan Zhang. Владелец: DTEC GmbH. Дата публикации: 2024-08-21.

Wheel fastening inspection method, wheel fastening method, wheel fastening inspection device and wheel fastening device

Номер патента: US09891123B2. Автор: Shinichi Kaneda,Yutaka UNEURA,Yuichi Daito. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Molding thickness inspection device, molding thickness inspection system including the same, and molding thickness inspection method

Номер патента: US20240200931A1. Автор: Chang-Beom Kim,Ji Yeon Son,Hyun Chul KANG,Yong Kwi Lee,Young Seog YOON. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240103196A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200141977A1. Автор: Yuji Ebiike,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Radiation protection device and radiation inspection system

Номер патента: EP4401089A1. Автор: Feng Wang,Wei Huang,Junping Shi. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Motor vehicle inspection device and method for identifying motor vehicles

Номер патента: US09460132B2. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

Image inspection method by polarized compensation for deformation of lens

Номер патента: US7580122B2. Автор: Kuo-Cheng Huang,Chia-Wei Hsu,Ting-Ming Huang,Wen-Hong Wu. Владелец: Instrument Technology Research Center. Дата публикации: 2009-08-25.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20040004729A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20060082791A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection apparatus

Номер патента: EP4148438A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Shigeru EURA,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Inspection device, method for producing multilayer electrode body and inspection method

Номер патента: US12117283B2. Автор: Haruhisa Yagi,Ryuta Abe,Tatsuya Masada. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Security inspection device and control method therefor

Номер патента: AU2019414849A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection device and method of head up display for vehicle

Номер патента: US09573524B2. Автор: Dong Myong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US12135336B2. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Wire harness continuity inspection device, wire harness continuity inspection program, and wire harness continuity inspection method

Номер патента: US09435843B2. Автор: Yasuhiro Mochizuki,Noriaki Sasaki,Kohta Ohishi. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: CA3144218A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-01-14.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: US12130172B2. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-10-29.

Abnormal noise inspection device, abnormal noise inspection method, program, and workpiece manufacturing method

Номер патента: EP3733359A1. Автор: Yuji KOBORI,Makoto TONEGAWA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US20210271206A1. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2021-09-02.

Inspection method for film covered battery

Номер патента: US09917337B2. Автор: Toshihiko Mankyu. Владелец: Automotive Energy Supply Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: EP3895790A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240310427A1. Автор: Masahiro Fukushima,Kouhei Matsumoto,Haruko IWAI. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Leak inspection device, leak inspection method, and leak inspection program

Номер патента: US20150253216A1. Автор: Yasuhiro Sasaki,Masatake Takahashi,Soichiro TAKATA,Shigeki Shinoda,Junichiro Mataga. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Eye Glasses Lens Inspection Device with Interchangeable Lenses

Номер патента: US20230037795A1. Автор: Daryl Squicciarini. Владелец: OptiSource International Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US20220023802A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2022-01-27.

Inspection device, inspection system, intelligent power module, inspection method, and computer program product

Номер патента: US20190219628A1. Автор: Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Conduction inspection device member and conduction inspection device

Номер патента: US20190212365A1. Автор: Masao SASADAIRA,Xiaoge Wang. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection device

Номер патента: US09599659B2. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US20150168267A1. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2015-06-18.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US09638606B2. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Inspection device for wiring of an integrated circuit

Номер патента: US6577151B1. Автор: Ming-Lang Tsai,Chia-Min Chuang,Chen-Ping Su,Chon-Tsai Yang. Владелец: Orient Semiconductor Electronics Ltd. Дата публикации: 2003-06-10.

Internal inspection device for determining a length of a tubular good

Номер патента: AU2021322676B2. Автор: Sebastien Petit,Alastair BRODIE,Lucas Kling E Silva,Nicolas WILBERT,Nestor MEDEIROS. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2024-08-29.

Contact inspection device

Номер патента: US20240248117A1. Автор: Jung Min Lee,Suk Ju Kang,Eun Su Jun,Byungsu KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: CA2623370A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Inspection device for rotating electric machine and inspection system for rotating electric machine

Номер патента: EP4092886A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daisuke Mizuno,Yasuki Hattori,Naoya Kadota,Daichi GOTO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-23.

Inspection device

Номер патента: US09863991B2. Автор: Shinji Matsumoto,Kazuya Yoshimura,Yuhji Yashiro. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Inspection device and method

Номер патента: US12044725B2. Автор: Hiroshi Fukuda,Toru Miura,Yoshiho Maeda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection device for inspecting tft

Номер патента: US20080164902A1. Автор: Tomoyuki Taguchi,Kenichi Imura,Yoshitami Sakaguchi,Yoshinori Mekata,Daiju Nakanao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-10.

Charged Particle Beam Device and Optical Examination Device

Номер патента: US20200161194A1. Автор: Koichi Taniguchi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2020-05-21.

Optical transmission path inspecting system, and optical transmission path inspecting device

Номер патента: US12111224B2. Автор: Toshiyuki Miyamoto,Kenichiro Otsuka,Tetsufumi Tsuzaki,Yoshifumi Hishikawa,Gouichi FUKUMOTO. Владелец: Sumitomo Electric Optifrontier Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: US20090151481A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: TS Tech Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Shape inspection device, processing device, height image processing device

Номер патента: US20240271925A1. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Wafer inspection device

Номер патента: US8638118B2. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-01-28.

Inspection device for sub-element of reticle pod

Номер патента: US20240295461A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351B1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2007-05-02.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351A1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2005-11-02.

Continuity inspection device

Номер патента: US09989577B2. Автор: Miyoshi MABUCHI. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Leak inspection device and leak inspection method

Номер патента: US20210278308A1. Автор: Tetsuya Matsukawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Inspection method and system based on millimetre wave security inspection device, and server

Номер патента: EP4174717A1. Автор: LI ZHANG,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Xiaoyi He,Zhiqiang Chen,Yingkang Jin,Yaning Li,Yihai ZHANG,Mengjiao ZHAO,Xiaoxiao FENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-03.

Inspection device

Номер патента: US20180203041A1. Автор: Toshiyuki Sawada,Satoshi Iwashima. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-19.

Refrigeration material examination device and examination system

Номер патента: EP4403894A1. Автор: Masato Watanabe,Shinya Kojima,Hideji Kawarazaki,Akifumi Miyano,Masahiro Kagimoto,Akihisa Yoshimura. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Rotational torque inspection method for wheel bearing device, and rotational torque inspection device for wheel bearing device

Номер патента: EP4202244A1. Автор: Shun Tamaki. Владелец: NTN Toyo Bearing Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-28.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Inspection device and inspection method using the same

Номер патента: US20240061033A1. Автор: Taejoon KIM,Sangwook Yoo,Junseong Lee,Junghun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Contact inspection device

Номер патента: US09759744B2. Автор: Kentaro Tanaka. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: SE2251043A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-09.

Inspection Device and Inspection Method Using Inspection Device

Номер патента: US20230288493A1. Автор: Atsushi Miyazaki,Keiji Nishimura. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: WO2024052463A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-14.

Semiconductor inspection device

Номер патента: US20170336442A1. Автор: Yuya SAEKI,Misuzu NISHIMURA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-23.

Inspection device for glass substrate

Номер патента: US20130049785A1. Автор: Wen-Da Cheng. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Inspection device of vehicle driver assistance systems

Номер патента: US09545966B2. Автор: Sinkuk Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspection device with vertically moveable assembly

Номер патента: US09535089B2. Автор: Greg Olmstead,Gary Mark Gunderson. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: EP4306972A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-01-17.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US20140125373A1. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Inspection device and inspection method upon construction of coke oven, and coke oven construction method

Номер патента: EP3922700A1. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-12-15.

Minute structure inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP1930732A1. Автор: Naoki c/o TOKYO ELECTRON AT LIMITED IKEUCHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-06-11.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: US20230206422A1. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-29.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US20230341454A1. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: EP4131350A1. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-02-08.

Cover opening inspection device for gearbox spline shaft and secondary sun gear of wind turbine generator system

Номер патента: ZA202309792B. Автор: ZHENG Li,Jianguo Wang,Wenbin Ma,Shibin Li,Fengqi WANG,Lianwu Zhang. Владелец: Huaneng Tongliao Wind Power Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240156293A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Jinning Liang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Planetary gear carrier pack transmission error inspection device

Номер патента: US9664592B2. Автор: Hyun Ku Lee,Jong Gu Do,Tae Hwi Lee. Владелец: PSYLOGIC Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Multiple-transmitting multiple-receiving antenna array arrangement for active millimeter wave security inspection imaging, and human body security inspection device and method

Номер патента: EP3647826A1. Автор: Jian Wu,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Yingkang Jin,Lingbo QIAO,Xuming MA,Yan YOU,Wenguo LUI. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-05-06.

Obstacle sensor inspection device and method

Номер патента: US20230305162A1. Автор: Kenya Sumida. Владелец: Toyota Industries Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10698531B2. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2020-06-30.

Electronic component carrying device and electronic component inspection device

Номер патента: US20180080982A1. Автор: Masami Maeda,Daisuke Kirihara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Multicore cable inspection method and multicore cable inspection device

Номер патента: US11815563B2. Автор: Yohei Shirakawa,Yoshitake Ageishi. Владелец: Proterial Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Rotational torque inspection method for bearing device for vehicle wheel, and rotational torque inspection device for bearing device for vehicle wheel

Номер патента: US20230266199A1. Автор: Shun Tamaki. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Cooling unit, objective lens module, semiconductor inspection device, and semiconductor inspection method

Номер патента: US11841393B2. Автор: Tomonori Nakamura,Hiroyuki Matsuura,Hirotaka Nonaka,Hirotoshi Terada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-12-12.

Cooling unit, objective lens module, semiconductor inspection device, and semiconductor inspection method

Номер патента: US20220091182A1. Автор: Tomonori Nakamura,Hiroyuki Matsuura,Hirotaka Nonaka,Hirotoshi Terada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-03-24.

Cooling unit, objective lens module, semiconductor inspection device, and semiconductor inspection method

Номер патента: EP3904893A1. Автор: Tomonori Nakamura,Hiroyuki Matsuura,Hirotaka Nonaka,Hirotoshi Terada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-11-03.

Device and method for inspecting position of probe, and semiconductor evaluation apparatus

Номер патента: US20170299630A1. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Norihiro Takesako. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180113165A1. Автор: Yoichi Sakamoto,Takayuki Hamada,Nobuyuki Takita. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-04-26.

Checking method and checking system based on millimeter wave security inspection device and server

Номер патента: US20230251399A1. Автор: LI ZHANG,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Xiaoyi He,Zhiqiang Chen,Yingkang Jin,Yaning Li,Yihai ZHANG,Mengjiao ZHAO,Xiaoxiao FENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Security inspection device and transfer method therefor

Номер патента: US11768312B2. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Hui Meng,Chunguang ZONG,Xuping Fan,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Semiconductor sample inspection device and inspection method

Номер патента: US11927626B2. Автор: Toshiki Yamada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-12.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: EP4400873A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Surface profile inspection device

Номер патента: US20120147919A1. Автор: Toshihiko Yoshikawa,Masataka Toda,Masaru HISANAGA. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: EP3771308A1. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2021-01-27.

Portable fault location and inspection device for high voltage equipment based on acoustic wave method

Номер патента: AU2021103450A4. Автор: Yi Jiang,Jinbo Zhang,Jiajia SONG. Владелец: CHANGZHOU CAMPUS OF HOHAI UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-08-12.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: US12017861B2. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: US20240361487A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Optical axis angle inspection device

Номер патента: US09970751B2. Автор: Takayuki Ogawa,Tatsuya Sakai,Yoshitaka Hirai,Akira Sakamoto,Hirotaka Itoh. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Inspection device

Номер патента: US09683915B2. Автор: Yuuki Ogata. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Shape inspection device

Номер патента: US09625353B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Wire harness connectivity inspection device, wire harness connectivity inspection program and wire harness connectivity inspection method

Номер патента: EP2535827A1. Автор: Yasuhiro Mochizuki,Noriaki Sasaki. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2012-12-19.

Door closure inspection device and method for automobile

Номер патента: GB2456117A. Автор: Yasuo Okumura,Koji Fujiwara,Ryo Taniguchi,Takanobu Fujii,Kuniaki Nishimura,Kazuhiko Sumida. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-08.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US11913838B2. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US20210033463A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Load Port and Wafer Inspection Method Using the Same

Номер патента: US20240120222A1. Автор: Tsung-Che Yu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-11.

Inspection device for collector head and inspection method of collector head

Номер патента: US20200049752A1. Автор: Kotaro Nakamura,Kenichi Kitazawa,Hiroaki Shintani,Yuichi AHIKO. Владелец: Koshin Seikosho Ltd. Дата публикации: 2020-02-13.

Inspection device and method for inspecting an adhesive pattern on a substrate

Номер патента: US11801672B2. Автор: Eric Lingier,Alexander Wilhelm. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Inspection device and inspection program

Номер патента: EP4220004A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-08-02.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A3. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

Ball bearing inspection device and inspection method

Номер патента: US20170089807A1. Автор: Daisuke Kondo,Katsuyuki Kawamura,Shinichi Takamura,Taito SHIBUYA,Kentarou KACHI. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2017-03-30.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A2. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Intelligent inspection devices

Номер патента: US20200090410A1. Автор: Junsoo Han,Yonghwan EOM,Cholok Han,Younghun YANG,Junseong JEONG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-03-19.

Fluid visual inspection device

Номер патента: US20110100138A1. Автор: Yao-Sung HOU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-05-05.

Inspection system and inspection device

Номер патента: US20230196875A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Inspection device and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20230228646A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Wire disconnection inspecting device and method

Номер патента: CA2588855C. Автор: Katsumi Takeishi,Kazuyuki Fukamachi,Keita Sekine,John Cheek. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP3875891A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Miniature air gap inspection device

Номер патента: CA2264382C. Автор: Kenneth J. Hatley. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2007-10-09.

Secondary battery inspection method and secondary battery inspection device

Номер патента: CA3141786C. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-20.

Inspection system, and inspection device

Номер патента: AU2023200444A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Secondary cell inspection method and secondary cell inspection device

Номер патента: EP3951409A1. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Secondary cell inspection method and secondary cell inspection device

Номер патента: US20230034016A1. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US20230349950A1. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20210104035A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-08.

Inspection device for display apparatus and inspection method for display apparatus

Номер патента: US20240094246A1. Автор: Daewon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Manufacturing method of semiconductor device, inspection device of semiconductor device, and semiconductor device

Номер патента: US20180277449A1. Автор: Yu Muto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-09-27.

Semiconductor Inspection Device and Probe Unit

Номер патента: US20210263075A1. Автор: Masaaki Komori,Katsuo Oki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-08-26.

Protective relay inspection device

Номер патента: US11892509B2. Автор: Jae-Shik Yoon. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Pressure point inspection device

Номер патента: US20140109683A1. Автор: Hao Jin,Xiaoxin Zhang,Junjie Huang,Jungmao Tsai,Huifang Duan,Bingcheng Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-04-24.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: WO2021005518A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: AZIONARIA COSTRUZIONI MACCHINE AUTOMATICHE A.C.M.A. S.p.A.. Дата публикации: 2021-01-14.

Switch probe and device and system for substrate inspection

Номер патента: US8836362B2. Автор: Tohru Hasegawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-16.

Air-bag inspection device and method

Номер патента: US20180096538A1. Автор: Hiroshi Saito,Hiroshi Miwa,Keiichiro Maekawa,Taisuke YOSHIDA,Takafumi Murakoshi,Masamori Umegae. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-05.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: EP3997427A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2022-05-18.

Battery pack and inspection device therefor

Номер патента: US6639387B2. Автор: Katsunori Kitagawa,Tetsuo Nagahisa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2003-10-28.

Inspection device of display device, method of inspecting mother substrate for display device, and display device

Номер патента: US20160363612A1. Автор: Satoru Tomita,Nobuyuki Ishige. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2016-12-15.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20200096607A1. Автор: Yasuhiro Okuno,Kenichiro Kurai,Kazuyuki Fukamachi,Michiaki Okubo,Kazumori Sakai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Inspection system, inspecting device, and gaming chip

Номер патента: US20230326290A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Inspection device

Номер патента: US20240060762A1. Автор: Daisuke Fukuoka,Takafumi HARAGUCHI. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP4249932A1. Автор: Yorikazu Kashiramoto. Владелец: So Brain Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

PARTICLES, OPTICAL SHEET, SCREEN, DISPLAY DEVICE, PARTICLE INSPECTION DEVICE, PARTICLE MANUFACTURING DEVICE, PARTICLE INSPECTION METHOD, PARTICLE MANUFACTURING METHOD, SCREEN INSPECTION METHOD, AND SCREEN MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180299688A1. Автор: Kurashige Makio,KUBOTA SHOGO,NAKATSUGAWA Kaori. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-18.

MICRONEEDLE ARRAY IMAGING DEVICE, MICRONEEDLE ARRAY IMAGING METHOD, MICRONEEDLE ARRAY INSPECTION DEVICE, AND MICRONEEDLE ARRAY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190188844A1. Автор: MUROOKA Takashi,ONISHI Kazuo. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2019-06-20.

Inspection method, inspection device, inspection equipment and inspection medium for state of indicator lamp

Номер патента: CN111259892B. Автор: 林志伟,张登峰,郑淼,申心兰,蓝立强. Владелец: Fujian Centerm Information Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-04.

Address translation inspection device, central processing device, and address translation inspection method

Номер патента: CN102959526A. Автор: 中出实,户田信一. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2013-03-06.

INSPECTION TERMINAL DEVICE, INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION PROGRAM

Номер патента: US20210279854A1. Автор: Shiomi Yasutomo,HIROSE Yusuke,WASHITANI Taisuke,MANABE Takahiro,TAKAI Kohsuke. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2021-09-09.

Inspection device, inspection program, and inspection method

Номер патента: CN114127728A. Автор: 大竹由也,野口智史. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

Foreign Matter Inspection Device and Foreign Matter Inspection Method

Номер патента: US20130070084A1. Автор: Fukuda Hirohisa,Asano Kunitaka,Katane Tadahiro,Yamazaki Hiromi. Владелец: Hitachi Information & Control Solutions, Ltd.. Дата публикации: 2013-03-21.

DRUG SOLUTION INSPECTION DEVICE AND DRUG SOLUTION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130343620A1. Автор: Okuda Akinobu,OKAMOTO Tamao. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-26.

FOREIGN OBJECT INSPECTION DEVICE AND FOREIGN OBJECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190084013A1. Автор: MITSUE Toyoaki,SAWASAKI Tomio,KANAYAMA Chieko. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-21.

WORK VISUAL INSPECTION DEVICE AND WORK VISUAL INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140307082A1. Автор: CHAKI Hiroaki. Владелец: TOKYO WELD CO., LTD.. Дата публикации: 2014-10-16.

WIRE SHAPE INSPECTING DEVICE AND WIRE SHAPE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20200388046A1. Автор: Amemiya Shigeru. Владелец: SHINKAWA LTD.. Дата публикации: 2020-12-10.

RUNWAY LIGHT INSPECTION DEVICE AND RUNWAY LIGHT INSPECTION METHOD

Номер патента: JP2023040007A. Автор: Norimasa Mizobe,憲政 溝邊. Владелец: Hotalux Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Article appearance inspection device and article appearance inspection method using same

Номер патента: CN109074647B. Автор: 李福女. Владелец: Gaoying Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-03-15.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE, IMAGE INSPECTION METHOD AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20210073966A1. Автор: TESHIMA Katsunori,TSUE Yasushi. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2021-03-11.

Image inspection device, image formation device, image inspection method, and non-transitory recording medium storing a computer readable program

Номер патента: US20200250805A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-06.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200234091A1. Автор: OKI Makoto,ITOU Jun. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200234422A1. Автор: OKI Makoto,Esumi Yoshihiro. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200234456A1. Автор: Mita Mieko. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

Image inspection device, image forming system, image inspection method, and program

Номер патента: CN111464714B. Автор: 大木亮,江角祯宏. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-04-19.

Board conveyance device and conveyance belt inspection method

Номер патента: US20170285545A1. Автор: Toshihiro Kodama. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-05.

Integrated circuit device and peripheral circuit inspection method for integrated circuit device

Номер патента: JP2898230B2. Автор: ビート ロバート. Владелец: ESU JII ESU TOMUSON MAIKUROEREKUTORONIKUSU Ltd. Дата публикации: 1999-05-31.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US09565086B2. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-02-07.

Stereoscopic image inspection device, stereoscopic image processing device, and stereoscopic image inspection method

Номер патента: US09883162B2. Автор: Kentaro Matsumoto,Yuki Kobayashi,Yasunobu Ogura,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US20140177453A1. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2014-06-26.

Attention ability inspection device and attention ability inspection method

Номер патента: US11819330B2. Автор: Hiroshi Kishi,Kentaro Yokoi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Attention ability inspection device and attention ability inspection method

Номер патента: US20220079486A1. Автор: Hiroshi Kishi,Kentaro Yokoi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20240249400A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-25.

Intelligent passenger inspection channel system and intelligent passenger inspection method

Номер патента: US20240203126A1. Автор: Dong Li,LI ZHANG,Dan Yan,Zhiqiang Chen,Hu Tang,Yunda Sun,Yueyi LIU. Владелец: Nuctech Jiangsu Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Detection device, inspection device, magnetic tape cartridge, magnetic tape, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US12073859B2. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

System, apparatus and method for centralized management of security inspection devices via field bus network

Номер патента: US09779054B2. Автор: Hui Ding,Jinyu Zhang,Hu Tang,Fei Fang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Detection device, inspection device, magnetic tape cartridge, magnetic tape, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US20240379120A1. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-11-14.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US8605378B2. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-12-10.

Detection device, inspection device, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US20240233778A9. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Smoking article packaging container inspection device, manufacturing device, and inspection method

Номер патента: EP3831729A1. Автор: Makoto Ueno. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2021-06-09.

Semiconductor inspection device and semiconductor inspection method

Номер патента: US12094138B2. Автор: Kazuhiro Hotta,Takafumi Higuchi,Tomochika Takeshima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Medicine inspection device and medicine packaging system

Номер патента: US09994347B2. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Hiroyuki Yuyama,Dai SHIMIZUBE. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Repair welding system, repair welding method, inspection device, and robot control device

Номер патента: EP3991901A1. Автор: Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN,Toshinari Mohri. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-04.

Inspection device and method of inspection using the same

Номер патента: US20240233111A1. Автор: DooHyoung Lee,Dongha Lee,Juwon LEE,Sanghyung Lim,Kuhwan Chung,Joo Dong Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240346740A1. Автор: Min Kyu Yeo,Sun Woong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Optical inspection device for surface of reticle pod and optical inspection method for surface of reticle pod

Номер патента: US20240295830A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Image inspection device and image forming apparatus using the same

Номер патента: US20240168422A1. Автор: Yu Saito,Masakazu Shirai. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-23.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US11507007B2. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-22.

Defect inspection device for display panel and method for the same

Номер патента: US20150187064A1. Автор: Haibo Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US20220011703A1. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Inspection level setting system, non-transitory computer readable medium storing program, and inspection level setting method

Номер патента: US20240357043A1. Автор: Daisuke Noguchi,Megumi Yamaguchi,Masatake KAWABE,Hiroyoshi NAKAYAMA. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection level setting system, program, and inspection level setting method

Номер патента: EP4451105A1. Автор: Daisuke Noguchi,Megumi Yamaguchi,Masatake KAWABE,Hiroyoshi NAKAYAMA. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-23.

Vulnerability inspection device, vulnerability inspection method, and vulnerability inspection program

Номер патента: US20220261482A1. Автор: Takuya Watanabe,Ayako Hasegawa,Mitsuaki AKIYAMA,Eitaro Shioji. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-08-18.

Image inspection device for inspecting image, image forming apparatus for forming image, and program for inspection device

Номер патента: US12020424B2. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-25.

Utilization of visual auxiliary inspection devices for vehicle servicing system and method

Номер патента: US20060106630A1. Автор: Wang-Ying Lo. Владелец: DRACO PHOTOELECTRON Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-18.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Computer-Implemented Data Structure, Method, Inspection Device, and System for Transferring a Machine Learning Model

Номер патента: US20240273415A1. Автор: Daniel SCHALL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Inspecting device monitoring system

Номер патента: US09465385B2. Автор: Shingo Suzuki,Yosuke Kamioka,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Inspection apparatus, inspection method and program

Номер патента: US12130949B2. Автор: Yoshihide Nakagawa. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Inspection device, method, and computer program for inspection

Номер патента: US20230316490A1. Автор: Kazuhiro Arita,Akihito Ito,Yukiharu Tomita,Yasunori Nakamukai,Takahiko Naitou. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Image inspection device, console, and radiation imaging system

Номер патента: EP4029450A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-20.

Management system for table games, substitute currency for gaming, inspection device, and management system of substitute currency for gaming

Номер патента: US20180350191A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-06.

Visual inspection device

Номер патента: US20200053259A1. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl,Benjamin Oliver Ryan Cabot. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Management system for table games, substitute currency for gaming, inspection device, and management system of substitute currency for gaming

Номер патента: AU2020213356A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Management system for table games, substitute currency for gaming, inspection device, and management system of substitute currency for gaming

Номер патента: AU2022200450A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-17.

Image inspection device

Номер патента: US20210385415A1. Автор: Ying-Nan Chen,Yi-Ning Lee. Владелец: Wen Chin Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US12125243B2. Автор: Kiyotaka Tsuchibuchi,Daigo Hama,Rina Takeuchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-22.

Inspecting device, method for changing threshold, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09544447B2. Автор: Takako SHIJOH. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180197187A1. Автор: Wing Kin Hui,Hoi Ying Chung,Fong Man Hui. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-07-12.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4374217A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4373675A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240300234A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240326405A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-10-03.

Roof inspection devices, methods, and systems

Номер патента: US09706173B1. Автор: James P. Hillman,Cynthia Blasing,Damien Brunet,Dan D. Cable,Adolfo J. Fernandez,Jeffrey A. Kreth,Shane Osborne,Robert A. Pacheco,Renee Sokolowski. Владелец: United Services Automobile Association USAA. Дата публикации: 2017-07-11.

Machine learning model generation device, machine learning model generation method, program, inspection device, inspection method, and printing device

Номер патента: US11820132B2. Автор: Masayuki UKISHIMA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Printed material inspection device, printed material inspection method, program, and printing system

Номер патента: US20240161273A1. Автор: Takashi Matsuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Visual inspection device

Номер патента: US09986212B2. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R. F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Visual inspection device

Номер патента: US09693024B2. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R. F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20220012867A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Inspection device, control method and control apparatus for the same

Номер патента: US20190295241A1. Автор: Yu Gu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A3. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-19.

Inspection method and inspection device

Номер патента: EP2772920A2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-09-03.

Contact inspection device, and contact inspection device and method for magnetic disk device

Номер патента: US7591180B2. Автор: Masaru Nakakita. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-09-22.

Automatic bio-specimen inspection system and inspection method thereof

Номер патента: US11967063B2. Автор: Shu Huang,Shang-Kun Li. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-23.

Contact inspection device, and contact inspection device and method for magnetic disk device

Номер патента: US20070070533A1. Автор: Masaru Nakakita. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220138983A1. Автор: Kentaro Hayashi,Hiromichi Godo. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Wafer containing cassette inspection device and method

Номер патента: US20100074514A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Hideki Mori,Takeki Kogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-03-25.

Visual inspection device

Номер патента: US09736342B2. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Light source device and camera inspection device using same

Номер патента: US20230231088A1. Автор: Ji Hyun Yun. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Inspection method

Номер патента: CA3053331C. Автор: Norbert Miller,Elmar Noll,Manfred Feiter,Stephan Bichmann. Владелец: Scheidt and Bachmann GmbH. Дата публикации: 2024-01-16.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: EP4224261A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2023-08-09.

Image inspection device, image inspection method, and prelearned model generation device

Номер патента: US20230162343A1. Автор: Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Inspection device, inspection method, and medium

Номер патента: US20230297675A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Inspection Device for Inspecting a Building or Structure

Номер патента: US20230073689A1. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2023-03-09.

Image inspection device, printing device including the same, and image inspection method

Номер патента: US20230088442A1. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

Inspection device for inspecting a building or structure

Номер патента: US12002193B2. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2024-06-04.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US20120250175A1. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-10-04.

Image inspection device, console, and radiographic system

Номер патента: US20220198663A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Inspection device and method of inspecting and repairing display panel by using the same

Номер патента: US20230078237A1. Автор: Hyun Min Cho,Sung-Chan Jo,Jong Hyuk KANG,Won Ho Lee,Hyun Deok Im. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-16.

Backdoor inspection device, backdoor inspection method, and computer-readablemedium

Номер патента: US20230229766A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Method, System and Inspection Device for Securely Executing Control Applications

Номер патента: US20240219879A1. Автор: Daniel Schneider,Axel Pfau,Rainer Falk,Stefan Pyka,Christian Peter Feist,Franz Sperl. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-07-04.

Feeder operation inspection device

Номер патента: EP4027762A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-07-13.

Feeder operation inspection device

Номер патента: US20220332514A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Mura inspection device for compressing mura data through dimensionality reduction, operating method, and display system including the same

Номер патента: US20230148119A1. Автор: Se Whan NA,Pil-Seung Heo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-05-11.

Handheld inspection device

Номер патента: EP4281254A1. Автор: Kennet Andersson,Johan RYMAN. Владелец: Bill Andersson Fordonslyftar Ab. Дата публикации: 2023-11-29.

Visual inspection device including a moveable display

Номер патента: US09473749B2. Автор: David A. Selby,Scott Schneider,Matthew J. Mergener,Steven W. Hyma,Corey J. Dickert. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Solder print inspecting device

Номер патента: US09471972B2. Автор: Yosuke Kamioka. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Image inspection device, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20180089818A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program

Номер патента: CA3115746C. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Image inspection device and saving processing method for captured image for inspection based on recoding resolution

Номер патента: US11769243B2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Detection device, inspection device, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US11900969B2. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Detection device, inspection device, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US20240135975A1. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Image inspection device and saving processing method for captured image

Номер патента: EP3886041A1. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

Detection device, inspection device, magnetic tape cartridge, magnetic tape, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US12027185B2. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Driving device and inspection device

Номер патента: AU2022231255A1. Автор: WEI Ren,PENG Wang,Qian Huang,Shuai LIU,Zhen Fu,Minyong GU,Zaifeng LI. Владелец: Beijing Tianma Intelligent Control Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-19.

Image inspection device, image forming apparatus, and image inspection method

Номер патента: EP3787272A1. Автор: Hiroaki Kodaira,Makoto Oki,Yusuke Mimura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-03-03.

Image inspecting device and image forming apparatus incorporating the image inspecting device

Номер патента: US11800037B2. Автор: Satoshi Nakayama,Tatsuya Ishii,Tohru Matsumoto,Kohta AOYAGI,Kimiharu Yamazaki,Ryosuke Ebinuma,Ryoh ISHITSUKA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Pipeline inspection devices and methods

Номер патента: US11732833B2. Автор: Fereydun Tabaian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-22.

Image inspection device and image forming system

Номер патента: US20190220970A1. Автор: Makoto Oki,Yusuke Mimura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-07-18.

Recipe creation device for use in semiconductor measurement device or semiconductor inspection device

Номер патента: US10984143B2. Автор: Yoshihiro Ota,Hiromi Fujita,Toshikazu Kawahara,Shigeki SUKEGAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Inspection device, image forming apparatus, and program for inspection device

Номер патента: US20230281798A1. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-09-07.

Image inspection device, image forming system, and storage medium

Номер патента: US20240012595A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-11.

Backdoor inspection device, user device, system, method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20220277083A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Image sensor inspection device

Номер патента: EP2080061A2. Автор: Walter Parkola,Martin J. Wood. Владелец: Delkin Devices Inc. Дата публикации: 2009-07-22.

Inspection device

Номер патента: US20200204714A1. Автор: Yukio Ichikawa,Munehiro Takayama,Masataka Toda. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Method for inspecting semiconductor and semiconductor inspecting device

Номер патента: EP3958210A1. Автор: Kazuhiro Hotta,Takafumi Higuchi,Tomochika Takeshima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-02-23.

Image sensor inspection device

Номер патента: US20110090491A1. Автор: Walter Parkola,Martin J. Martin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-21.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program product

Номер патента: US20210225112A1. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US20220094811A1. Автор: Yosuke TASHIRO. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-03-24.

Laser processing head, optical fiber inspection device, and optical fiber inspection method

Номер патента: EP3683002A1. Автор: Takayuki Yamashita,Hideaki Yamaguchi,Ryo Ishikawa,Naoya Kato,Kenji Hoshino,Doukei Nagayasu,Shinya Domoto,Kiyotaka Eizumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-22.

Laser processing head, optical fiber inspection device, and optical fiber inspection method

Номер патента: US20200198053A1. Автор: Takayuki Yamashita,Hideaki Yamaguchi,Ryo Ishikawa,Naoya Kato,Kenji Hoshino,Doukei Nagayasu,Shinya Domoto,Kiyotaka Eizumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Laser processing head, optical fiber inspection device, and optical fiber inspection method

Номер патента: EP3683002A4. Автор: Takayuki Yamashita,Hideaki Yamaguchi,Ryo Ishikawa,Naoya Kato,Kenji Hoshino,Doukei Nagayasu,Shinya Domoto,Kiyotaka Eizumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-04.

Laser processing head, optical fiber inspection device, and optical fiber inspection method

Номер патента: EP3683002B1. Автор: Takayuki Yamashita,Hideaki Yamaguchi,Ryo Ishikawa,Naoya Kato,Kenji Hoshino,Doukei Nagayasu,Shinya Domoto,Kiyotaka Eizumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

STEREOSCOPIC IMAGE INSPECTION DEVICE, STEREOSCOPIC IMAGE PROCESSING DEVICE, AND STEREOSCOPIC IMAGE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130258061A1. Автор: Kobayashi Yuki,Maruyama Yuki,Matsumoto Kentaro,OGURA Yasunobu. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-03.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE INSPECTION SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20130301083A1. Автор: Kaneda Kanako. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

Inspection device, inspection system, and inspection method for passenger conveyor

Номер патента: TWI695808B. Автор: 平井敬秀,伊藤寬,橋口拓弥. Владелец: 日商三菱電機大樓技術服務股份有限公司. Дата публикации: 2020-06-11.

LIQUID EJECTION INSPECTION DEVICE AND LIQUID EJECTION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130141484A1. Автор: KUMAGAI Toshio,SUZUKI Toshiyuki,KASAI Tsuneo,SHINKAWA Osamu,HOSOKAWA Yasuhiro,IZUO Seiji. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-06.

ATTENTION ABILITY INSPECTION DEVICE AND ATTENTION ABILITY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220079486A1. Автор: Kishi Hiroshi,YOKOI Kentaro. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-17.

NETWORK-TRANSMISSION INSPECTION DEVICE AND NETWORK-TRANSMISSION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140177453A1. Автор: KANG Fu-Ming. Владелец: Wistron NeWeb Corp.. Дата публикации: 2014-06-26.

LASER PROCESSING HEAD, OPTICAL FIBER INSPECTION DEVICE, AND OPTICAL FIBER INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200198053A1. Автор: Ishikawa Ryo,Yamashita Takayuki,Eizumi Kiyotaka,YAMAGUCHI Hideaki,Nagayasu Doukei,HOSHINO Kenji,KATO Naoya,DOMOTO Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-25.

Step pedal inspection device and step pedal inspection method

Номер патента: CN111196547B. Автор: 渡边隆行,小平法美,大西友治,野濑尊之. Владелец: Hitachi Building Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-13.

Welding Part Inspection Device and Welding Part Inspection Method Using the Same

Номер патента: KR20230058836A. Автор: 손민수,장세화. Владелец: 주식회사 엘지에너지솔루션. Дата публикации: 2023-05-03.

Step tread inspection device and step tread inspection method

Номер патента: JP6934465B2. Автор: 法美 小平,友治 大西,隆行 渡邉,尊之 野瀬. Владелец: Hitachi Building Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-15.

COLOR INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, COLOR INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20190327387A1. Автор: Komatsu Manabu,Nakazawa Masamoto,Hashimoto Hideki,Konno Yoshio. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-24.

Semiconductor device, communication device, and semiconductor device inspecting method

Номер патента: US20050093026A1. Автор: Toshiki Seshita,Yoshitomo Sagae. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2005-05-05.

Semiconductor device, communication device, and semiconductor device inspecting method

Номер патента: US7468543B2. Автор: Toshiki Seshita,Yoshitomo Sagae. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-12-23.

MULTILAYER BOARD, ELECTRONIC DEVICE, AND MULTILAYER BOARD INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220285082A1. Автор: KOUNO Kiminori,KAMADA Koji. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-08.

Pressure sensor mounting structure of terminal crimping device and crimping force inspection method using the same

Номер патента: JP5959005B2. Автор: 祐治 後藤,喜昭 野本,千昭 波多野. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

Drop liquid discharging device and shoot out inspection method

Номер патента: CN102689505B. Автор: 畑尾阳介. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-10-07.

Solid-state imaging device and pixel defect inspection method thereof

Номер патента: JP3912672B2. Автор: 圭司 馬渕,弘樹 佐藤,信男 中村,高志 阿部,智之 梅田,博明 藤田,英一 船津. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2007-05-09.

Photo device detection device and photo device inspection method

Номер патента: JP2014181975A. Автор: Akira Ito,明 伊藤,Hidetoshi Nakanishi,英俊 中西,Masakichi Touchi,政吉 斗内,巌 川山,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2014-09-29.

Submarine device and nuclear reactor inspection method

Номер патента: JP5273975B2. Автор: 広志 山本,岡田　　聡,祐司 細田,亮介 小林,豊 米谷. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2013-08-28.

Optical wavelength multiplexing transmission system, optical wavelength multiplexing device, and backup system inspection method

Номер патента: CN108781115B. Автор: 山本哲也. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-07-27.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240098363A1. Автор: Yosuke Tanaka,Shoji Matsuda,Yasuhiro Okuno,Kotaro Nakamoto,Sukeyuki Shinotsuka,Shunsuke Torigai,Daiki KUREI,Koki Isobe. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Device and method for inspecting containers in a cleaning facility

Номер патента: ZA202300835B. Автор: Jean-Claude Waeldin. Владелец: SIDEL PARTICIPATIONS. Дата публикации: 2024-08-28.

Inspection apparatus, analysis display apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US7729692B2. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Allowance setting system, substrate inspection device, allowance setting method, and substrate inspection method

Номер патента: US12041724B2. Автор: Keiichi Ono,Kazuya Kotani,Mitsutaka Inagaki,Yuta YOKOI. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: US20230278137A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: EP4230339A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Device and method of checking integrity of system for rapid reactivation of gas turbine engine of helicopter

Номер патента: RU2686531C2. Автор: Патрик МАРКОНИ,Камель СЕРГИН,Стефен ЛАНГФОРД,Ромэн ТИРЬЕ,Жан-Мишель БАЗЕ,Жером ИРИГУАЙЕН. Владелец: Сафран Хеликоптер Энджинз. Дата публикации: 2019-04-29.

System for mobile device cradle and tube gripper of non-destructive testing inspection device

Номер патента: US09538677B2. Автор: Kevin Andrew Coombs,Joshua Lynn Scott,Gerard Frederick Beckhusen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-01-03.

Inspection Device, Analysis/Display Device, Inspection Device

Номер патента: US20080191708A1. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Packet receiving method, deep packet inspection device and system

Номер патента: US09578040B2. Автор: Jiancheng GUO,Zhenggang You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Determining a load distribution for data units at a packet inspection device

Номер патента: US09935883B2. Автор: James M. Rolette,Damon E. Fleury. Владелец: Trend Micro Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Inspection device for inspecting the position of trademark on integrated circuit

Номер патента: US20030111724A1. Автор: Ming-Lang Tsai,Chen-Ping Su,Yung-Yuan Lee. Владелец: Orient Semiconductor Electronics Ltd. Дата публикации: 2003-06-19.

Train traffic control inspection device, train traffic control inspection method and program

Номер патента: US09751544B2. Автор: Yasuyuki Suzuki,Kenji Takao,Noritaka Yanai,Toshihiko Niinomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Pest-accumulating device and pest-accumulating method

Номер патента: US09510583B2. Автор: Yoshiki Matsumoto,Tetsuya Kondo,Koh-En Yamauchi,Kohsyo Yamauchi. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2016-12-06.

Traditional chinese medicine inspection device of composite millimeter-wave radar

Номер патента: US20230338109A1. Автор: ZHANG LEI,Yang Jie,Wang Bin,Liu Jia,Liu Baoyan,Wen Tiancai. Владелец: INSTITUTE OF INFORMATION ON TRADITIONAL CHINESE MEDICINE CHINA ACADEMY OF CHINESE MEDICAL SCIENCES. Дата публикации: 2023-10-26.

Portable inspection device

Номер патента: US20230262342A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Portable inspection device

Номер патента: WO2022079690A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Limited. Дата публикации: 2022-04-21.

Cutting position designation device, cutting position designation method, cutting system, and x-ray inspection device

Номер патента: EP4424480A2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Shingo KONDO,Daisuke Kudo,Yunosuke MASAOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Cutting position designation device, cutting position designation method, cutting system, and x-ray inspection device

Номер патента: EP4424480A3. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Shingo KONDO,Daisuke Kudo,Yunosuke MASAOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection device for oral tissues or deposits, and inspection auxiliary member

Номер патента: US20240285171A1. Автор: Michiya Fujiki,Ryutaro ASHIDA,Shota Somekawa,Sayaka MATSUZAWA. Владелец: Shinsei Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: EP4099610A1. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: US12003624B2. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: US20220393864A1. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Intraocular pressure inspection device

Номер патента: US20240130614A1. Автор: Chu-Ming Cheng,Chao-Ting Chen,Shao Hung Huang,Chi-Yuan Kang,Fong Hao Kuo,Yu-Chung TUNG. Владелец: Medimaging Integrated Solution Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Double-skin cryogenic tank equipped with at least one inspection device

Номер патента: US20240093838A1. Автор: Benoit Penven. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2024-03-21.

Automatic inspection device for corrugated paperboard machine, and corrugated paperboard machine

Номер патента: US09452585B2. Автор: Hiroshi Ota,Michio Suzuki. Владелец: Isowa KK. Дата публикации: 2016-09-27.

Inspection method for semiconductor laser device and inspection device for semiconductor laser device

Номер патента: US20220376465A1. Автор: Akio SHIRASAKI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Constitutive device quality determination server, inspection system, inspection system terminal device, and inspection device

Номер патента: US11930599B2. Автор: Hiroshi Murakami,Kazumi Hoshikawa. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Print head inspection method, print head inspection device and a printing device

Номер патента: US20070139461A1. Автор: Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Inspection device for conveyor ducts for aeriform media

Номер патента: WO2004013543A1. Автор: Giuseppe Librizzi. Владелец: Al.P. S.R.L.. Дата публикации: 2004-02-12.

Inspection device

Номер патента: US20200365364A1. Автор: Yasunari Sohda,Noritsugu Takahashi,Hikaru Koyama,Atsuko SHINTANI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-11-19.

Inspection device

Номер патента: US10002740B2. Автор: Takeshi Murakami,Yasushi Toma,Kenji Watanabe,Kenji Terao,Masahiro Hatakeyama,Kenichi Suematsu,Ryo Tajima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-06-19.

Inspection device, inspection method of semiconductor substrate, manufacturing method of semiconductor substrate, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20220336293A1. Автор: Tamio Matsumura,Shunichi Watabe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Cervical inspection device, methods of control thereof, and cervical sampling brush

Номер патента: CA3233156A1. Автор: Mark HELMICH,Gary Badham,Lousie Emma BEN-NATHAN,Alex BLONDECK. Владелец: Lbn Innovations Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Cervical inspection device, methods of control thereof, and cervical sampling brush

Номер патента: EP4412533A1. Автор: Mark HELMICH,Gary Badham,Alex BLONDECK,Louise Emma BEN-NATHAN. Владелец: Lbn Innovations Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Pipeline inspection device

Номер патента: US12053807B2. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Cervical inspection device, methods of control thereof, and cervical sampling brush

Номер патента: AU2022361726A1. Автор: Mark HELMICH,Gary Badham,Alex BLONDECK,Louise Emma BEN-NATHAN. Владелец: Lbn Innovations Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Pipelines inspection device containing centered head

Номер патента: RU2343336C2. Автор: Ив СУЛЯБАЙ,Жоэль БРЭН,Ив СУЛЯБАЙ (FR),Жоэль БРЭН (FR). Владелец: Компани Женераль де Матьер Нюклеэр. Дата публикации: 2009-01-10.

Light distribution inspection device, light distribution inspection method, endoscope system, and storage medium

Номер патента: US20220361731A1. Автор: Yasuo Sasaki,Hiroyuki Kamee. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2022-11-17.

Nozzle inspecting device in fluid discharge apparatus, fluid discharge apparatus, and nozzle inspection method

Номер патента: US8147028B2. Автор: Keigo ITO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-04-03.

Multi-caliber dimensional inspection device for an assembled cartridge

Номер патента: US20180164085A1. Автор: Paolo MANDELLI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-06-14.

Fog and haze removal device and method

Номер патента: NL2029829B1. Автор: Wang XiaoWei,WANG Guangjun,Wang Shusheng,Sun Xiaoquan,Zou Junchen,Ma Changzheng. Владелец: Henan Inst Of Metrology. Дата публикации: 2023-06-13.

Inspection device arrangement for an elevator rope

Номер патента: EP1362001A1. Автор: Vlad Zaharia,Pedro S. Baranda. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2003-11-19.

Device for controlling an inspection device for a wind turbine

Номер патента: CA3055106C. Автор: Johannes Rosen. Владелец: Innogy SE. Дата публикации: 2021-01-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240055223A1. Автор: Chihiro IDA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-15.

Piezoelectric head inspection device and droplet jetting device

Номер патента: US20090244152A1. Автор: Sunao Ishizaki. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-01.

Workpiece inspection apparatus and inspection method

Номер патента: MY127007A. Автор: Kobayashi Kenji,Kikawa Kazuhiro. Владелец: Lintec Corp. Дата публикации: 2006-11-30.

Bridge inspecting device and method

Номер патента: US8830315B2. Автор: Ping-Hung Lin,Shih-Chung Kang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2014-09-09.

System for mobile device cradle and tube gripper of non-destructive testing inspection device

Номер патента: CA2844160A1. Автор: Kevin Andrew Coombs,Joshua Lynn Scott,Gerard Frederick Beckhusen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-13.

Support for transporting containers in a microwave inspection device and a device and method of inspection of containers using the support

Номер патента: EP4200086A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2023-06-28.

Support for transporting containers in a microwave inspection device and a device and method of inspection of containers using the support

Номер патента: WO2022038430A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: G.D S.p.A.. Дата публикации: 2022-02-24.

Light-emitting device, line-of-sight guidance device, non-destructive inspection device and non-destructive inspection method

Номер патента: JP7133850B2. Автор: 幸弘 柴尾. Владелец: Riken Kogyo Inc. Дата публикации: 2022-09-09.

Folding accuracy inspection device and folding accuracy inspection method in box making machine, box making machine, and folding accuracy adjustment method

Номер патента: JP4774350B2. Автор: 弘 佐藤. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Printing and Packaging Machinery Ltd. Дата публикации: 2011-09-14.

Workpiece surface inspection device, surface inspection system, surface inspection method, and program

Номер патента: JP2021139817A. Автор: 将人 柏原,泰三 脇村,Masahito Kashiwabara,Taizo Wakimura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-09-16.

Magnetic powder inspection device and magnetic powder inspection method

Номер патента: JP6893189B2. Автор: 明彦 神鳥,崇子 溝口,神鳥　明彦,法美 小平,友治 大西,馬場　理香,理香 馬場. Владелец: Hitachi Building Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Surface condition inspection device and surface condition inspection method

Номер патента: JP7087533B2. Автор: 達哉 黒木,泉 大根田. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2022-06-21.

Seal state inspection device and seal state inspection method

Номер патента: JP4698406B2. Автор: 滋弘 木下. Владелец: 日本テトラパック株式会社. Дата публикации: 2011-06-08.

Surface defect inspection device and surface defect inspection method

Номер патента: JP2015200603A. Автор: 耕平 栗原,Kohei Kurihara,熊野　晴彦,Haruhiko Kumano,晴彦 熊野,純一 鳥生,Junichi Torio. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2015-11-12.

Gas type inspection device and gas type inspection method of eye joint ferrule-equipped hose

Номер патента: JP2020193926A. Автор: Yuichi Shimizu,修三 金川,Shuzo Kanekawa,雄一 志水. Владелец: Nichirin Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Film thickness inspection device and film thickness inspection method

Номер патента: JP6701660B2. Автор: 弘行 平松,英樹 渡辺,庸男 歳桃,渡辺　英樹,超 唐. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-27.

Color tone inspection device and color tone inspection method

Номер патента: JP6738242B2. Автор: 信夫 今西,一成 大熊. Владелец: KMEW Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Bubble discrimination inspection device and bubble discrimination inspection method

Номер патента: JP5787670B2. Автор: 隆 大月,均 石津. Владелец: Mutual Corp. Дата публикации: 2015-09-30.

Eddy current inspection device and eddy current inspection method

Номер патента: JP5138713B2. Автор: 久 遠藤,亮 西水,弘文 大内,善夫 野中. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2013-02-06.

Soldering condition inspection device and soldering condition inspection method

Номер патента: JP3203397B2. Автор: 大介 永野,理 疋田. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2001-08-27.

Elevator rope tension inspection device and rope tension inspection method

Номер патента: JP5886724B2. Автор: 大輔 浅井,真人 中山,浅井　大輔. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-03-16.

Container opening inspection device and container opening inspection method

Номер патента: JP2019066198A. Автор: Yasuhiro Nishizaki,泰広 西▲崎▼. Владелец: Toyo Glass Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-25.

Gas tank inspection device and gas tank inspection method

Номер патента: JP5708554B2. Автор: 加藤　圭,圭 加藤. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-04-30.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: JP7193493B2. Автор: 善也 三浦. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-12-20.

Semiconductor laser inspection device and semiconductor laser inspection method

Номер патента: JP2022089153A. Автор: Yohei Mikami,洋平 見上,哲宏 深尾,Tetsuhiro Fukao. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-06-15.

Spark plug inspection device and spark plug inspection method

Номер патента: JP6008774B2. Автор: 魚住　由紀夫,由紀夫 魚住. Владелец: Aichi Machine Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-19.

Circuit pattern inspection device and circuit pattern inspection method thereof

Номер патента: KR20100067618A. Автор: 히로시 하모리. Владелец: 오에이치티 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2010-06-21.

Steam trap steam trap inspection device and steam leak inspection method

Номер патента: JP6836454B2. Автор: 康祐 澁谷. Владелец: Tlv Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

External appearance inspecting device and external appearance inspecting method

Номер патента: JPH11101619A. Автор: Toyoichi Nakamura,豊一 中村,Benjamin Sai,ベンジャミン サイ. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1999-04-13.

Semiconductor element inspection device and semiconductor element inspection method

Номер патента: JP2021111748A. Автор: Ryohei Tanuma,良平 田沼,晃一 村田,Koichi Murata,Isao Kamata,功穂 鎌田. Владелец: CENTRAL RESEARCH INSTITUTE OF ELECTRIC POWER INDUSTRY. Дата публикации: 2021-08-02.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method

Номер патента: JP2020020592A. Автор: 一郎 朝倉,Ichiro Asakura. Владелец: Takashima Giken Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-06.

Pattern shape inspection device and pattern shape inspection method

Номер патента: JP3341742B2. Автор: 潤一 矢野. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-11-05.

Container damage inspection device and container damage inspection method

Номер патента: JP2020027067A. Автор: Hiroyuki Tachibana,弘幸 橘,欣也 市村,Kinya Ichimura. Владелец: Mitsui E&S Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Gas tank inspection device and gas tank inspection method

Номер патента: JP5775486B2. Автор: 武史 石川,直彦 神山,石川　武史. Владелец: Iwatani Corp. Дата публикации: 2015-09-09.

Laser-excited ultrasonic generator, laser ultrasonic inspection device, and laser ultrasonic inspection method

Номер патента: JP7039371B2. Автор: 摂 山本,淳 千星,あずさ 菅原,誠 落合,岳志 星,晋一朗 仲村. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-22.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method for vehicular lamp

Номер патента: JP2010043897A. Автор: Yoshimasa Toki,Michihiro Mabe,三千広 間部,芳正 土岐. Владелец: Koito Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2010-02-25.

Film thickness inspection device and film thickness inspection method

Номер патента: JP2017067702A. Автор: Hideki Watanabe,Tsuneo Saito,弘行 平松,英樹 渡辺,Chao Tang,庸男 歳桃,渡辺　英樹,超 唐,Hiroyuki Hiramatsu. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-06.

Joint position inspection device and joint position inspection method

Номер патента: JP2016109469A. Автор: 戸次　浩之,Hiroyuki Totsugi,浩之 戸次. Владелец: Waterworks Technology Development Organization Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-20.

Workpiece appearance inspection device and workpiece appearance inspection method

Номер патента: TWI449897B. Автор: Hiroyuki Mochizuki,Katsuyoshi Kodera,Tasuku Goto. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-21.

Map data inspection device and map data inspection method

Номер патента: TW200639666A. Автор: Yoshikazu Takagi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2006-11-16.

Inspection device for molding and its inspection method

Номер патента: JP2000314610A. Автор: Tetsuo Hiraguchi,哲夫 平口. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2000-11-14.

Appearance inspection device for workpiece and appearance inspection method for workpiece

Номер патента: TW201140035A. Автор: Hiroyuki Mochizuki,Katsuyoshi Kodera,Tasuku Goto. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-16.

Inspecting device of reticle and inspecting method therefor

Номер патента: JPH102865A. Автор: Toru Tanida,徹 谷田. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1998-01-06.

Inspection device, inspection system, and inspection program

Номер патента: JP2022056088A. Автор: 充 荒幡,Mitsuru Arahata. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-04-08.

Inspection device adjustment method and inspection device

Номер патента: JP7156795B2. Автор: 隆二 長谷川,健二 柳詰,亮志 柏木. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2022-10-19.

Glass tube support, glass tube transfer device, and glass tube inspection method

Номер патента: JP6988274B2. Автор: 健治 田村. Владелец: Nippon Electric Glass Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

Semiconductor memory device and pass / fail inspection method thereof

Номер патента: KR19990074594A. Автор: 염진선. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-10-05.

Log sampling system, storage device, and sampled log inspection method

Номер патента: JP2012173388A. Автор: Yusuke Ogaki,雄介 大垣. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-09-10.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC ACTUATOR INSPECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001652A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ736686A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Method of verification of intratubal inspection devices

Номер патента: RU2596243C1. Автор: Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть-Диаскан" (АО "Транснефть-Диаскан"). Дата публикации: 2016-09-10.

Automated photography and inspection station

Номер патента: WO2024197250A1. Автор: Michael INSALAGO,Juan Guevara. Владелец: M & G Jewelers, Inc.. Дата публикации: 2024-09-26.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ735237A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Frequency permit inspection device

Номер патента: RU2565504C1. Автор: Виктор Степанович Дубровин,Алексей Михайлович Зюзин. Владелец: Частное образовательное учреждение дополнительного профессионального образования "Саранский Дом науки и техники Российского Союза научных и инженерных общественных объединений". Дата публикации: 2015-10-20.

Nondestructive inspection device

Номер патента: RU2006856C1. Автор: В.И. Филичкин,А.Г. Таксанц. Владелец: Научно-производственное объединение "Научно-исследовательский и конструкторский институт монтажной технологии". Дата публикации: 1994-01-30.

Long products ultrasonic inspection device

Номер патента: RU2359264C1. Автор: Николай Николаевич Егоров,Сергей Васильевич Титов,Константин Эдуардович Тоом,Игорь Эрнстович Махов. Владелец: Закрытое акционерное общество "СИСТЕМЫ СТАРМАНС". Дата публикации: 2009-06-20.

System of calibration of measuring and vibration inspection device controlled by microprocessor

Номер патента: RU2313773C1. Автор: Николай Геннадьевич Зайцев. Владелец: Открытое акционерное общество "Магистральные нефтепроводы Центральной Сибири". Дата публикации: 2007-12-27.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.