Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Method for inspecting semiconductor and semiconductor inspecting device

Method for inspecting semiconductor and semiconductor inspecting device

Номер патента: EP3958210A1
Опубликовано: 23-02-2022
Автор(ы): Kazuhiro Hotta, Takafumi Higuchi, Tomochika Takeshima
Принадлежит: Hamamatsu Photonics KK
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method and Apparatus for Inspecting Pattern Collapse Defects

Номер патента: US20220138921A1. Автор: Ivan Maleev,Shin-Yee Lu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Method and apparatus for inspecting pattern collapse defects

Номер патента: US20230274413A1. Автор: Ivan Maleev,Shin-Yee Lu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Method and apparatus for inspecting pattern collapse defects

Номер патента: US11989876B2. Автор: Ivan Maleev,Shin-Yee Lu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Machine learning-based generation of rule-based classification recipes for inspection system

Номер патента: EP4268149A1. Автор: Steven P. Floeder,Jeffrey P. ADOLF,Samuel S. Schreiner,Scott P. Daniels. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2023-11-01.

Apparatus and method for image stitching based on artificial intelligence for inspecting wind turbines

Номер патента: EP4328850A3. Автор: Jong Sik Moon,Seung Ho Back,Hyeok Joon Kwon. Владелец: Nearthlab Inc. Дата публикации: 2024-03-27.

Method for inspecting labeling on bounding box by using deep learning model and apparatus using same

Номер патента: US20220366677A1. Автор: Se Yeob Kim. Владелец: Select Star Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

Method and apparatus for inspecting vehicle

Номер патента: US20230342905A1. Автор: Jaesik Min,Minhoe Hur,Chan Jin Kang. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Systems and methods for augmented reality-assisted home inspection

Номер патента: US20240053816A1. Автор: Joseph P. Harr,Nathan L. Tofte,Brian M. Fields,Vicki King,Aaron C. Williams. Владелец: State Farm Mutual Automobile Insurance Co. Дата публикации: 2024-02-15.

Inspection device for vehicle and method for inspecting the vehicle

Номер патента: US20220301148A1. Автор: Jaesik Min,Minhoe Hur. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Learning process device and inspection device

Номер патента: US20220343640A1. Автор: Ken Wada. Владелец: Syntegon Technology KK. Дата публикации: 2022-10-27.

Machine learning model generation device, machine learning model generation method, program, inspection device, inspection method, and printing device

Номер патента: US11820132B2. Автор: Masayuki UKISHIMA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Deep learning methods for wellbore pipe inspection

Номер патента: US11905818B2. Автор: Li Pan,Ahmed Elsayed Fouda,Junwen DAI. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2024-02-20.

System and Method for X-Ray Imaging Spherical Samples for Quality Inspection

Номер патента: US20210164778A1. Автор: Carlos Valenzuela,Guilherme Cardoso,Griffin Lemaster. Владелец: Creative Electron Inc. Дата публикации: 2021-06-03.

Surgical kit inspection systems and methods for inspecting surgical kits having parts of different types

Номер патента: US11908125B2. Автор: Perry J. Simson,Graeme A. Field,Patrick M. Caldwell. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Surgical kit inspection systems and methods for inspecting surgical kits having parts of different types

Номер патента: US20230117419A1. Автор: Perry J. Simson,Graeme A. Field,Patrick M. Caldwell. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Surgical Kit Inspection Systems And Methods For Inspecting Surgical Kits Having Parts Of Different Types

Номер патента: US20240144466A1. Автор: Perry J. Simson,Graeme A. Field,Patrick M. Caldwell. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: WO2019010087A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2019-01-10.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: EP3649463A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-05-13.

Method for inspecting pattern and an apparatus for manufacturing a semiconductor device using the same

Номер патента: US09965851B2. Автор: Seunghune YANG,Kiho Yang,Kaiyuan Chi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-08.

System and method for automated cosmetic inspection of electronic devices

Номер патента: US20190340741A1. Автор: Brian Morris,Clark Humphrey. Владелец: FedEx Supply Chain Logistics and Electronics Inc. Дата публикации: 2019-11-07.

System and method for automated cosmetic inspection

Номер патента: US20140267691A1. Автор: Brian Morris,Clark Humphrey. Владелец: ATC Logistics and Electronics Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

System and method for calibrating inspection of a feature on a part

Номер патента: US20210255155A1. Автор: Mario Blais,Clement Drouin Laberge. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Method and inspection apparatus for inspecting containers provided with closures, and method and closure apparatus for closing containers

Номер патента: US20240308833A1. Автор: Thomas Bock,Anton Niedermeier. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and apparatus for inspecting folding portion of pouch type secondary battery

Номер патента: EP4456269A1. Автор: Jun Hee Jung,Seung Won Choi,Sung Yeop Kim,Seung Hyeon Cheon. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Method for inspecting semiconductor device

Номер патента: WO2006132485A1. Автор: Sang-yoon Lee,Hyun-Min Lee,Il-Nam Kim,Ssang-Gun Lim,Min-Gu Kang. Владелец: Intekplus Co., Ltd.. Дата публикации: 2006-12-14.

System and method for alignment and inspection of ball grid array devices

Номер патента: WO2011056219A1. Автор: Lei Wang,XIAOGUANG WANG. Владелец: Cognex Corporation. Дата публикации: 2011-05-12.

Systems and methods for visual inspection and 3D measurement

Номер патента: US12078574B2. Автор: Xiaotian Zou,Carlo Richard DiRisio,Markus Andreas Rothacker. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Method and device for inspecting the volume and the composition of at least one sample

Номер патента: US09734421B2. Автор: Hans-Peter Schimon,Torsten Matthias,Jens BLECKEN,Markus Wulf. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-15.

Image inspection device for inspecting image, image forming apparatus for forming image, and program for inspection device

Номер патента: US12020424B2. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-25.

Methods for inspection of press-hardening steel surfaces prior to spot-welding for improved welding quality

Номер патента: US20240027421A1. Автор: Hassan GHASSEMI-ARMAKI,Jason M. Brown,Blair E. Carlson,Zhenke Teng. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2024-01-25.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Method and apparatus for inspecting components

Номер патента: EP2176656A1. Автор: Andrew Frank Ferro,Patrick Joseph Howard. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2010-04-21.

Method for deterministic image inspection of printed products of a machine for processing printing substrates

Номер патента: US20210256678A1. Автор: Frank Schumann,Bennet Carstensen,Peter Eisele,Jan Krieger. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2021-08-19.

Method and system for inspection of products

Номер патента: US11733178B2. Автор: Asaf Schlezinger. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-08-22.

Method for inspecting authenticity of a hologram

Номер патента: US20240094675A1. Автор: Hsiang-Chen Wang,Arvind MUKUNDAN,Yu-Ming Tsao. Владелец: NATIONAL CHUNG CHENG UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-03-21.

Method and program for generating trained model for inspecting number of objects

Номер патента: US20240153253A1. Автор: Kunimune Komaike. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Method and apparatus for automatic detection of features in an image and method for training the apparatus

Номер патента: US9367765B2. Автор: Thomas Dollings DUCKETT. Владелец: UNIVERSITY OF LINCOLN. Дата публикации: 2016-06-14.

Method and apparatus for inspecting container closures arranged on containers

Номер патента: US20240076088A1. Автор: Michael Jogsch. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection device and method for a single-dose casing for a substantially transparent container for a substantially transparent liquid

Номер патента: CA2837037A1. Автор: Flavio Este,Lorenzo SPAGNA,Luca NATALI. Владелец: Swisslog Italia SpA. Дата публикации: 2012-12-06.

Inspection position identification method, three-dimensional image generation method, and inspection device

Номер патента: US11835475B2. Автор: Yosuke Yamamoto,Takuma Hirayama. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Method for detecting coordinates, coordinate output device and defect inspection device

Номер патента: US20180276806A1. Автор: Masato Naka. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-09-27.

Method for inspecting product defects, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230386016A1. Автор: Yin-Chung Leung. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

System and method for inspecting workpieces

Номер патента: US20210256673A1. Автор: Mario Blais,Clement Drouin Laberge. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Device for inspecting mask plate, method for inspecting mask plate, and corresponding method for controlling light sources

Номер патента: US20190356835A1. Автор: Xu Liu,Dongwei Li,Chunchieh Huang,De Zhang,Zhiming Lin,Zhiyuan HAO,Xiaolin Xin,Bili Baiyin. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-21.

Systems and methods for auditing image inspection quality

Номер патента: US20240331121A1. Автор: Akira Wakatsuki. Владелец: Woven by Toyota Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Method and system for inspecting a display device

Номер патента: EP3721407A1. Автор: Marcel Peter Hubert Marie Janssen. Владелец: Admesy BV. Дата публикации: 2020-10-14.

Device and method for inspecting an industrial vehicle

Номер патента: EP4288748A1. Автор: Andrea Filippini,Carlo PETRELLI,Daniele PARAZZA,Federico Frontali. Владелец: Kiwitron Srl. Дата публикации: 2023-12-13.

Methods for inspecting pharmaceutical containers for particles and defects

Номер патента: US20240295502A1. Автор: John Watson,Kenneth Wade KELLY,Robert Abrams,Eric S. Holmes,Terry BRASWELL. Владелец: Sio2 Medical Products LLC. Дата публикации: 2024-09-05.

System and method for infrastructure inspection

Номер патента: US20230350066A1. Автор: Carlos José BERNABEU GONZALEZ. Владелец: Arborea Intellbird SL. Дата публикации: 2023-11-02.

System and method for infrastructure inspection

Номер патента: EP4191284A1. Автор: Carlos José BERNABEU GONZALEZ. Владелец: Arborea Intellbird SL. Дата публикации: 2023-06-07.

Metal ratio inspection method, method for producing electrically heating catalyst, and method for producing honeycomb structure

Номер патента: US20230302440A1. Автор: Takashi Noro,Takamichi Sato,Rina Yokoi. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

System and method for automatic inspection of vehicles

Номер патента: US20240230473A9. Автор: Avihu Meir Gamliel,Ori Yakov DANGUR,David GRUN. Владелец: Spinframe Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Method and inspection apparatus for inspecting containers provided with closures, and method and closure apparatus for closing containers

Номер патента: US20240311992A1. Автор: Thomas Bock,Stefan Poeschl,Anton Niedermeier. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-09-19.

Systems and methods for inspecting honeycomb ceramic structures using x-ray ct imaging

Номер патента: EP4327281A1. Автор: Robert John Locker,Patrick Garret CIGNO,Jeffrey Thomas DRAKE,Jerry Lee Hepburn,Corey Thomas JANISCH,David John Worthey. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-02-28.

Method for inspecting hollow glass products of glass product material

Номер патента: EP4244574A1. Автор: Joop Dalstra. Владелец: Centrum Voor Technische Informatica Bv. Дата публикации: 2023-09-20.

A method for inspecting hollow glass products of glass product material

Номер патента: EP4244575A1. Автор: Joop Dalstra. Владелец: Centrum Voor Technische Informatica Bv. Дата публикации: 2023-09-20.

Method for inspecting hollow glass products of glass product material

Номер патента: EP4244576A1. Автор: Joop Dalstra. Владелец: Centrum Voor Technische Informatica Bv. Дата публикации: 2023-09-20.

Method for inspecting the side wall of an object

Номер патента: US20240338805A1. Автор: Marco Casadio,Andrea SAIANI. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-10-10.

Fast density estimation method for defect inspection application

Номер патента: US09846929B2. Автор: Weiwen ZOU. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute ASTRI. Дата публикации: 2017-12-19.

Method and apparatus for inspecting container closures arranged on containers

Номер патента: US20240370988A1. Автор: Stefan Schober,Anton Niedermeier. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-11-07.

Inspection system for inspecting display device, display device for compensating for defective pixel and defective pixel compensation method

Номер патента: US20240362766A1. Автор: Seungho Park,Mingyu Kim,Seyun KIM,Hyungwoo YIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Device and method for inspecting rechargeable battery connection structure

Номер патента: US20090136115A1. Автор: Sakae SOTOOKA,Fusayoshi NOMURA. Владелец: Panasonic EV Energy Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-28.

Object inspection system and method for inspecting an object

Номер патента: US20240214528A1. Автор: Jacob Nathaniel Allen,Zhipeng Liang,Brandon David See,Frank Damacio Luna. Владелец: Inovision Software Solutions Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Method for inspecting for surface defects on a cast part made of single-crystal metal and system for implementing same

Номер патента: US20240310294A1. Автор: Franck Michaud. Владелец: Safran SA. Дата публикации: 2024-09-19.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

System and method for individually inspecting objects in a stream of products and a sorting apparatus comprising such system

Номер патента: US09924105B2. Автор: Dirk Adams,Pieter Op De Beeck. Владелец: Visys NV. Дата публикации: 2018-03-20.

Inspection device for inspecting a building or structure

Номер патента: US12002193B2. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2024-06-04.

Inspection Device for Inspecting a Building or Structure

Номер патента: US20230073689A1. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2023-03-09.

Inspection device, method, and computer program for inspection

Номер патента: US20230316490A1. Автор: Kazuhiro Arita,Akihito Ito,Yukiharu Tomita,Yasunori Nakamukai,Takahiko Naitou. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Machine vision system for inspecting quality of various non-woven materials

Номер патента: EP4449106A1. Автор: David Williams,David Hughes,Harsh Shah,James Brashear,Nicolaie Stelian Vasiu. Владелец: Valco Cincinnati Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Aircraft and method for inspecting equipment in coking plants to detect sources of error

Номер патента: US20240144459A1. Автор: Ronald Kim,Marcel Schulz,Sophie Ruoshan WEI,Uwe Conrads,Philipp Eßer. Владелец: Thyssenkrupp AG. Дата публикации: 2024-05-02.

Apparatus and method for inspecting and repairing dispensed viscous fluid

Номер патента: EP4450172A1. Автор: Seung Won Lee,Jae Hun Kim,Seul Gi Lee,Yoon Sung OH,Min Jeong HONG. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

System and method for inspecting opthalmic lenses

Номер патента: US20170082522A1. Автор: Bee Chuan Tan,Lew Siang Charles Cher. Владелец: Emage Vision Pte Ltd. Дата публикации: 2017-03-23.

Method and device for inspection of a geometry, the device comprising image capturing and shape scanning means

Номер патента: SE1951205A1. Автор: Martin ENGMAN. Владелец: Winteria Ab. Дата публикации: 2020-10-06.

Method and device for inspection of a geometry, the device comprising image capturing and shape scanning means

Номер патента: EP4048979A1. Автор: Martin ENGMAN. Владелец: Winteria Ab. Дата публикации: 2022-08-31.

Method and device for inspection of a geometry, the device comprising image capturing and shape scanning means

Номер патента: US20220364851A1. Автор: Martin ENGMAN. Владелец: Winteria Ab. Дата публикации: 2022-11-17.

Methods for the automated testing of reticle feature geometries

Номер патента: EP1203223A1. Автор: Satyendra S. Sethi,Sudhir G. Subramanya,Clifford Takemoto. Владелец: Philips Semiconductors Inc. Дата публикации: 2002-05-08.

Defect inspection device and method for inspecting defect

Номер патента: US20240060904A1. Автор: Dae Hong Kim,Jeong Moon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Image inspection device and saving processing method for captured image for inspection based on recoding resolution

Номер патента: US11769243B2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Visual navigation inspection and obstacle avoidance method for line inspection robot

Номер патента: US11958197B2. Автор: Fang Li,FAN YANG,Shaochun Jia,Guangmian Fan,Jiaju Xue,Jixian Wu. Владелец: Guangdong Keystar Intelligence Robot Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

System and method for bump height measurement

Номер патента: WO2004044831A1. Автор: Charles Harris,Weerakiat Wahawisan,Gerald Brown,Chuah Sim Hak,Richard Goedeken. Владелец: Semiconductor Technologies & Instruments, Inc.. Дата публикации: 2004-05-27.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

System and method for visual production line inspection of different production items

Номер патента: WO2019211846A1. Автор: Yonatan HYATT,Harel BOREN,Zohar KANTOR,Dan CARMON. Владелец: Inspekto A.M.V. Ltd. Дата публикации: 2019-11-07.

Method for inspecting a coated surface for coating defects

Номер патента: US20230304940A1. Автор: Stefan Silber,Claudia Jansen,Oliver Kroehl,Gaetano Blanda,Philipp ISKEN,Claudia Bramlage,Simon Heeg,Udo GOECKE. Владелец: EVONIK OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2023-09-28.

Method for inspecting a coated surface for coating defects

Номер патента: EP4249899A1. Автор: Stefan Silber,Claudia Jansen,Oliver Kroehl,Gaetano Blanda,Philipp ISKEN,Claudia Bramlage,Simon Heeg,Udo Gocke. Владелец: EVONIK OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2023-09-27.

Method for inspecting a coated surface for coating defects

Номер патента: CA3191600A1. Автор: Stefan Silber,Claudia Jansen,Oliver Kroehl,Gaetano Blanda,Philipp ISKEN,Claudia Bramlage,Simon Heeg,Udo Gocke. Владелец: EVONIK OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2023-09-22.

Systems and methods for inspecting multi-mode asset status in communication-denied environments

Номер патента: EP4396640A1. Автор: Anatoly Belkin,Arnold Sheynman. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

Inspection system for apparatus for manufacturing display device and inspection method for apparatus for manufacturing display device

Номер патента: US20230230353A1. Автор: Gihyun LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Method and device for inspecting images on print products using an image inspection robot

Номер патента: US20190385293A1. Автор: Andreas Fehlner,Ilias Trachanas. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2019-12-19.

METHOD FOR ASSIGNING TERMINAL OF SEMICONDUCTOR PACKAGE, APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR PACKAGE

Номер патента: US20130246993A1. Автор: Suzuki Keisuke. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2013-09-19.

System and method for inspecting a wafer

Номер патента: US09863889B2. Автор: Ajharali Amanullah,Han Cheng Ge. Владелец: Semiconductor Tech and Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Electronic equipment having laser component and capability of inspecting leak of laser and inspecting method for inspecting leak of laser thereof

Номер патента: US20110267429A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Hsu-Hung Chen,Yu-Chi Chung. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2011-11-03.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Apparatus and method for inspecting wafer carriers

Номер патента: US20190067057A1. Автор: Hsu-Shui Liu,Jiun-Rong Pai,Cheng-Kang Hu,Sheng-Hsiang CHUANG,Shau-Wen Kuo. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Systems and methods for inspecting a railroad

Номер патента: AU2020200657A1. Автор: David Ford,Matthew DICK,Zhipeng Liu,Samson YILMA. Владелец: Ensco Inc. Дата публикации: 2020-08-13.

Systems and methods for inspecting a railroad

Номер патента: US20230071611A1. Автор: David Ford,Matthew DICK,Zhipeng Liu,Samson YILMA. Владелец: Ensco Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Apparatus for inspecting display panel and method for inspecting surface of display panel

Номер патента: US20230410286A1. Автор: Ja Eun Lee,Jin Seo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Method and apparatus for inspecting battery tab and storage medium

Номер патента: US20230289948A1. Автор: Zhiyu Wang,Can Chen,Qiangwei Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Method and system for inspecting smoking articles

Номер патента: EP4401582A2. Автор: Giuliano Gamberini,Dalia COPPI,Riccardo VASUMINI. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-07-24.

System and method for inspecting interior of structure

Номер патента: US20200084420A1. Автор: Naofumi Ito. Владелец: JAL Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-12.

System and method for inspecting interior of structure

Номер патента: EP3620392A1. Автор: Naofumi Ito. Владелец: JAL Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-11.

Method and apparatus for inspection of moving parts in rotary system

Номер патента: US20180210189A1. Автор: Andrew Paul Ramsbottom,Gareth Willerton Sykes. Владелец: Keymed Medical and Industrial Equipment Ltd. Дата публикации: 2018-07-26.

Method and apparatus for inspection of moving parts in rotary systems

Номер патента: EP3326020A1. Автор: Andrew Paul Ramsbottom,Gareth Willerton Sykes. Владелец: Keymed Medical and Industrial Equipment Ltd. Дата публикации: 2018-05-30.

Apparatus and method for inspecting skin lesions

Номер патента: CA2988683A1. Автор: Mordechai Teicher,Eyal Bychkov,David Gilad-Gilor. Владелец: Tyto Care Ltd. Дата публикации: 2016-12-15.

Systems and methods for inspection animation

Номер патента: WO2024036076A1. Автор: Michael Martin,Alexander Warren,Michael Nichols. Владелец: SeeScan, Inc.. Дата публикации: 2024-02-15.

Systems and methods for inspection animation

Номер патента: US20240048666A1. Автор: Michael J. Martin,Alexander L. Warren,Michael P. Nichols. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Remote maintenance method for generating maintenance charge information, industrial device, and semiconductor device

Номер патента: US7177715B2. Автор: Masaaki Inaba,Takashi Iizumi,Juntaro Arima,Takeiki Aizono. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-02-13.

Device for inspecting semiconductor equipment air valve for leaking

Номер патента: US20230128369A1. Автор: Sang Hyub Lee. Владелец: Spsglobal Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

System and computer-implemented method for automated generation of ai-enabled inspection reports for cross-border trade

Номер патента: WO2024161337A1. Автор: Rohit Majhi,Azam PASHA. Владелец: Pasha Azam. Дата публикации: 2024-08-08.

System and computer-implemented method for automated generation of ai-enabled inspection reports for cross-border trade

Номер патента: US20240265334A1. Автор: Rohit Majhi,Azam PASHA. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-08.

Devices, systems, and methods for precision data collection & survey-grade infrastructure assessments via a disposable, carbon neutral, & minimally invasive robot

Номер патента: WO2024050332A2. Автор: Volker Heydemann,Declan Kelly,Adam Slifko,Brandon Ingram,Allan DUBEAU,Brian Bannon,Scott Thayer,Trevor SMOUTER,Jeff FULLERTON,Brad SALITRIK,Gavin BAI,Arthur HILLIKER,Ryan KUBALA. Владелец: Edge AI Solutions Inc.. Дата публикации: 2024-03-07.

Devices, systems, and methods for precision data collection & survey-grade infrastructure assessments via a disposable, carbon neutral, & minimally invasive robot

Номер патента: WO2024050332A3. Автор: Volker Heydemann,Declan Kelly,Adam Slifko,Brandon Ingram,Allan DUBEAU,Brian Bannon,Scott Thayer,Trevor SMOUTER,Jeff FULLERTON,Brad SALITRIK,Gavin BAI,Arthur HILLIKER,Ryan KUBALA. Владелец: Edge AI Solutions Inc.. Дата публикации: 2024-04-11.

System and method for vibration inspection of vehicle

Номер патента: US11867587B2. Автор: Hyuk Ko. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

System and method for inspecting display device having input sensor

Номер патента: US20240242645A1. Автор: Jinwoo Park,Il Ho Lee,Yerin Oh,Taejoon KIM,Seungrok LEE,Wankee Jun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Guided inspection of an installed component using a handheld inspection device

Номер патента: US09852500B2. Автор: Robert J. Scheuerman,Rick F. Rourke. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2017-12-26.

System and method for inspecting emotion recognition capability using multisensory information, and system and method for training emotion recognition using multisensory information

Номер патента: US09934426B2. Автор: Jiyoung Kim,Hyun Teak KIM,Ji Woon JEONG,Yeseul CHUN. Владелец: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION. Дата публикации: 2018-04-03.

System and method for inspection of system state during testing

Номер патента: US09747181B2. Автор: Juraj Marko,Dalibor Pospi{hacek over (s)}il. Владелец: Red Hat Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Techniques for inspecting managed workloads deployed in a cloud computing environment

Номер патента: US12061925B1. Автор: Yaniv Shaked,Raaz HERZBERG,Niv Roit BEN DAVID,Yarin MIRAN,Amir Lande BLAU. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Method for inspecting touch-panel electrode substrate

Номер патента: US09846512B2. Автор: Shinji Matsumoto,Takenori Maruyama,Shogo Hayashi,Kazuya Yoshimura,Yuhji Yashiro,Kazutoshi Kida,Tsuyoshi Ohmori,Akira Yasuta. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Techniques for inspecting running virtualizations for cybersecurity risks

Номер патента: US20240289437A1. Автор: Yaniv Shaked,Yinon COSTICA,Ami LUTTWAK,Roy REZNIK,Raaz HERZBERG,Niv Roit BEN DAVID,Daniel Hershko Shemesh,Yarin MIRAN,Amir Lande BLAU. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

A method for inspecting an archive

Номер патента: WO2006027775A2. Автор: Yanki Margalit,Dany Margalit,Galit Alon. Владелец: Aladdin Knowledge Systems Ltd.. Дата публикации: 2006-03-16.

Techniques for inspecting running virtualizations for cybersecurity risks

Номер патента: US12079328B1. Автор: Yaniv Shaked,Yinon COSTICA,Ami LUTTWAK,Roy REZNIK,Raaz HERZBERG,Niv Roit BEN DAVID,Daniel Hershko Shemesh,Yarin MIRAN,Amir Lande BLAU. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Method and assembly for inspecting a plurality of elements of an industrial plant

Номер патента: US20230409017A1. Автор: Adrien RIESGO,Guillaume Pons,Elodie KLIMCZYK. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 2023-12-21.

Method and apparatus for inspecting display device

Номер патента: US11769430B2. Автор: Tae Joon Kim,Jae Woo Choi,Jun Young Ko,Jun Seong LEE,Eun Sol SEO,Yu Jin SIN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Method and apparatus for inspecting display device

Номер патента: US20230092537A1. Автор: Tae Joon Kim,Jae Woo Choi,Jun Young Ko,Jun Seong LEE,Eun Sol SEO,Yu Jin SIN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

Security system and method for software to be input to a closed internal network

Номер патента: US20210319096A1. Автор: Hwan-Kuk BAE. Владелец: Softcamp Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-14.

Enhanced system and method for fully automated reverse logistics platform

Номер патента: US20190335033A1. Автор: George Huang. Владелец: Future Dial Inc. Дата публикации: 2019-10-31.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Systems and methods for detecting attack vectors to application data

Номер патента: EP4414875A1. Автор: Jeffrey Napper,Marcelo Yannuzzi,Hendrikus Bosch,Mirko RACA. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-14.

Systems and Methods for Detecting Attack Vectors to Application Data

Номер патента: US20240273203A1. Автор: Hendrikus G. P. Bosch,Marcelo Yannuzzi,Mirko RACA,Jeffrey M. Napper. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

System and method for entity generation

Номер патента: US09710369B2. Автор: Adam Saleh,Elyezer Mendes Rezende. Владелец: Red Hat Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

System, apparatus and method for centralized management of security inspection devices via field bus network

Номер патента: US09779054B2. Автор: Hui Ding,Jinyu Zhang,Hu Tang,Fei Fang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Ultrasonic diagnosis apparatus and method for presenting items for inspection

Номер патента: US9572547B2. Автор: Tomoaki Chono. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-02-21.

Device having physically unclonable function, method for manufacturing same, and chip using same

Номер патента: US10847477B2. Автор: Dong Wang,Xiao Yan BAO,Tian Hua Dong,Guang Ning Li. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-11-24.

Device having physically unclonable function, method for manufacturing same, and chip using same

Номер патента: US20210035925A1. Автор: Dong Wang,Xiao Yan BAO,Tian Hua Dong,Guang Ning Li. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2021-02-04.

Device and method for inspecting software for vulnerabilities

Номер патента: EP2058747A3. Автор: Eun Young Kim,Eung Ki Park,Young Tae Yun. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2011-11-16.

Inspection device and inspection method using the same

Номер патента: US20240061033A1. Автор: Taejoon KIM,Sangwook Yoo,Junseong Lee,Junghun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Intelligent system and method for inspecting offshore oil and gas pipelines

Номер патента: NL2025790B1. Автор: Li Hui,LI Pengxiang. Владелец: Univ Hainan. Дата публикации: 2023-09-20.

Method for inspecting road surface condition, road surface condition inspection device, and road surface condition inspection system

Номер патента: US20230264696A1. Автор: Yoshinori Watanabe,Atsushi Kodama,Atsushi Sone,Nobuhide Kamata,Yuki Okamoto,Taichi Kawanai,Yosuke Hirate,Sho AMAGAI,Kosuke FUTAGAMI. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

A system and a method for inspection of rotating wind turbine blade

Номер патента: US20240273700A1. Автор: Jānis PUTRĀMS. Владелец: Aerones Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

System and a method for inspection of rotating wind turbine blade

Номер патента: US12073547B1. Автор: Jānis PUTRĀMS. Владелец: Aerones Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

A system and a method for inspection of rotating wind turbine blade

Номер патента: EP4370795A1. Автор: Jānis PUTRĀMS. Владелец: Aerones Engineering Sia. Дата публикации: 2024-05-22.

Method for inspecting a vehicle, and inspection system

Номер патента: US20240265711A1. Автор: Thomas Dieckmann,Janik Ricke. Владелец: ZF CV Systems Global GmbH. Дата публикации: 2024-08-08.

Method for inspecting a vehicle, and inspection system

Номер патента: US12094219B2. Автор: Thomas Dieckmann,Janik Ricke. Владелец: ZF CV Systems Global GmbH. Дата публикации: 2024-09-17.

Method for inspecting items of luggage in order to detect objects

Номер патента: US20240242518A1. Автор: Klaus-Dieter Müller,Geert Heilmann,Seyed Mohammad Razavi,Matthias MÜNSTER. Владелец: Smiths Detection Germany GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

Delayed petroleum coking vessel inspection device and method

Номер патента: US09940702B1. Автор: Richard D. Clark,John David Stratton,Daryl K. Rutt. Владелец: Custom Industrial Automation Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

System and method for inspecting goods in mercantile ports

Номер патента: EP4421702A1. Автор: Giacomo GALLETTO. Владелец: La Spezia Port Service Srl. Дата публикации: 2024-08-28.

Method for inspecting via hole of wafer

Номер патента: US20240264091A1. Автор: Dae Hwan Kim,Jae Yeol Lee,Ho Cheol Shin,Seung Gyun Back. Владелец: GOOIL ENGINEERING Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Apparatus and method for inspecting and repairing dispensed viscous fluid

Номер патента: US20240351061A1. Автор: Seung Won Lee,Jae Hun Kim,Seul Gi Lee,Yoon Sung OH,Min Jeong HONG. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

An inspection compliance system using a handheld device, and related methods for facilitating inspections and maintenance operations

Номер патента: WO2011005513A1. Автор: Albert Ho,Daniar Hussain,Jeffery York,Adam Ierymenko,Christopher Tossing,Marc Siegel. Владелец: KD SECURE LLC. Дата публикации: 2011-01-13.

Method for Testing a Joint

Номер патента: US20210387289A1. Автор: Florian Soldner,Christian Fackler. Владелец: Bayerische Motoren Werke AG. Дата публикации: 2021-12-16.

Inspection system, and inspection device

Номер патента: AU2023200444A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Systems and methods for inspecting and monitoring a pipeline fluid using an inline inspection device having optical computing devices

Номер патента: CA2881058C. Автор: Laurence James Abney,Christopher Michael Jones,Robert P. Freese,Ola Tunheim,James Robert MACLENNAN,Thomas Idland. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2016-10-18.

Resin composition for forming fine patterns, method for fabricating semiconductor device using the composition and semiconductor device fabricated by the method

Номер патента: WO2008018749A1. Автор: Sang Kyun Kim,Tae Ho Kim,Chang Soo Woo,Dong Seon Uh,Sung Jae Lee,Hee Jae Kim,Sang Geun Yun,Yong Sik Yoo. Владелец: CHEIL INDUSTRIES INC.. Дата публикации: 2008-02-14.

Method for writing data in semiconductor storage device and semiconductor storage device

Номер патента: US20120163089A1. Автор: Katsutoshi Saeki. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-28.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Method for inspecting a tank, sluice device and arrangement comprising a tank, a sluice device and an inspection device

Номер патента: AU2022327644A1. Автор: Matthias Grote,Berry KRIJBOLDER. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2024-02-29.

Method for inspecting a tank, sluice device and arrangement comprising a tank, a sluice device and an inspection device

Номер патента: CA3228620A1. Автор: Matthias Grote,Berry KRIJBOLDER. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2023-02-16.

Systems and methods for inspecting and monitoring a pipeline fluid using an inline inspection device having optical computing devices

Номер патента: CA2881058A1. Автор: Laurence James Abney,Christopher Michael Jones,Robert P. Freese,Ola Tunheim,James Robert MACLENNAN,Thomas Idland. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2014-03-20.

Systems and methods for inspecting and monitoring a pipeline fluid using an inline inspection device having optical computing devices

Номер патента: CA2880188A1. Автор: Laurence James Abney,Christopher Michael Jones,Robert P. Freese,Ola Tunheim,James Robert MACLENNAN. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2014-03-20.

Probe block assembly for inspecting display panel, control method thereof and display panel inspection device

Номер патента: KR102154758B1. Автор: 박노선. Владелец: 우리마이크론(주). Дата публикации: 2020-09-10.

Method of inspecting semiconductor integrated circuit and semiconductor integrated circuit

Номер патента: TW371359B. Автор: Hiroshi Akamatsu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1999-10-01.

Method for creating a pattern in a material and semiconductor structure processed therewith

Номер патента: TW200532394A. Автор: Greja Johanna Adriana Maria Verheijden,Wingerden Johannes Van,Pascal Henri Leon Bancken. Владелец: Imec Inter Uni Micro Electr. Дата публикации: 2005-10-01.

Method of inspecting semiconductor integrated circuit and semiconductor integrated circuit

Номер патента: JPH10125742A. Автор: Hiroshi Akamatsu,宏 赤松. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1998-05-15.

Multi-wavelength selection method for overlay measurement, and overlay measurement method and semiconductor device manufacturing method using multi-wavelengths

Номер патента: US20240134290A1. Автор: Jeongjin Lee,Chan Hwang,Seungyoon LEE,Inbeom YIM,Junseong Yoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-25.

POROUS OXIDE SEMICONDUCTOR INCLUDING THREE-DIMENSIONALLY INTERCONNECTED NANOPORES, MESOPORES, AND MACROPORES, METHOD FOR PREPARING THE POROUS OXIDE SEMICONDUCTOR AND GAS SENSOR INCLUDING THE POROUS OXIDE SEMICONDUCTOR AS GAS SENSING MATERIAL

Номер патента: US20180215628A1. Автор: Choi Seung Ho,Lee Jong Heun,Kang Yun Chan,Yoon Jee-uk. Владелец: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION. Дата публикации: 2018-08-02.

Method for effecting a structured polymeric semiconductor, and a light-emitting diode, transistor, photodiode or sensor comprising a structured polymeric semiconductor as obtained by the method.

Номер патента: NL1023125C2. Автор: Albert Jos Jan Marie V Breemen,Hermannus Franciscus Mar Schoo,Peter Tobias Herwig,Kornelis Thijmen Hoekerd. Владелец: Tno. Дата публикации: 2004-10-13.

Method for forming storage node contact structure and semiconductor structure

Номер патента: US11871562B2. Автор: Zhen Zhou,Weiping BAI,Erxuan PING,Lingguo ZHANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Method for forming storage node contact structure and semiconductor structure

Номер патента: US20220208772A1. Автор: Zhen Zhou,Weiping BAI,Erxuan PING,Lingguo ZHANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Method for mesuring temperature of power semiconductor and electronic device thereof

Номер патента: KR102332634B1. Автор: 김슬기. Владелец: 주식회사 현대케피코. Дата публикации: 2021-12-08.

Inspection method of semiconductor device and semiconductor device and Inspection device of semiconductor device

Номер патента: KR100286491B1. Автор: 토모미 모모하라. Владелец: 니시무로 타이죠. Дата публикации: 2001-04-16.

Method for measuring offset voltage of sense amplifier and semiconductor employing the method

Номер патента: US20060092735A1. Автор: Chang-Ho Do,Jin-Seok Son. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-05-04.

Method for writing data in semiconductor storage device and semiconductor storage device

Номер патента: US20120163089A1. Автор: Katsutoshi Saeki. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-28.

RESIN COMPOSITION, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20180164683A1. Автор: Fujiwara Takenori,Tanigaki Yugo. Владелец: Toray Industries, Inc.. Дата публикации: 2018-06-14.

METHOD FOR CONTROLLING A NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY, AND SEMICONDUCTOR STORAGE SYSTEM

Номер патента: US20150255159A1. Автор: TANAKA Yoshiyuki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2015-09-10.

COPOLYMERISATE WITH O-NITROCARBINOLESTER GROUPS AND METHOD FOR THE PRODUCTION OF TWO-LAYER RESISTORS AND SEMICONDUCTOR COMPONENTS

Номер патента: DE3702035A1. Автор: Reinhold Dr Schwalm,Horst Binder. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 1988-08-04.

ANTIREFLECTIVE ORGANIC COATING COMPOSITION, METHOD FOR FORMING PHOTORESIST PATTERNS USING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MADE THEREBY

Номер патента: FR2842533B1. Автор: Jae Chang Jung,Ki Soo Shin. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-11-24.

Method for manufacturing reflective mask blanks, reflective masks and semiconductor devices

Номер патента: JP6861095B2. Автор: 洋平 池邊,勉 笑喜,弘文 小坂井,笑喜　勉,貴弘 尾上. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2021-04-21.

Testing method for semiconductor wafer, semiconductor wafer transport device, and semiconductor wafer testing device

Номер патента: WO2012026036A1. Автор: 敏之 清川. Владелец: 株式会社アドバンテスト. Дата публикации: 2012-03-01.

Interconnect Assembly, and Method for Making Electrical Connections between Flexible Substrate and Semiconductor Device

Номер патента: KR100776469B1. Автор: 엘드리지벤자민. Владелец: 폼팩터, 인크.. Дата публикации: 2007-11-16.

Method for fabricating semiconductor type gas sensor array and semiconductor type gas sensor array

Номер патента: KR100634280B1. Автор: 이정민,김성은,심창현,문병의. Владелец: (주)센스엔센서. Дата публикации: 2006-10-17.

Heat-conducting layer, photosensitive layer, photosensitive composition, method for producing heat-conducting layer, and laminate and semiconductor device

Номер патента: TW201943778A. Автор: 嶋田和人,山下広祐. Владелец: 日商富士軟片股份有限公司. Дата публикации: 2019-11-16.

Circuit and method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US09863999B2. Автор: Masanori Miyata,Takafumi Arakawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Method for inspecting semiconductor device structure

Номер патента: US20190101586A1. Автор: Baohua Niu,Chi-Chun Lin,Chia-Nan Ke. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-04-04.

Method of inspecting covering material, inspection device, method of producing covering material and covering material

Номер патента: RU2665353C1. Автор: Дайсуке ВАТАНАБЕ,Нацуки СИРАСАВА,Хисаси НИСИДА. Владелец: Дай Ниппон Принтинг Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-08-29.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

System and method for inspecting outer appearance

Номер патента: CA3241064A1. Автор: Geun Tae Kim. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

System and method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20010054710A1. Автор: Masahiro Tanaka,Isao Asaka,Shigeru Takada. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Apparatus and method for inspecting semiconductor

Номер патента: US12025652B2. Автор: Min Kim,Mi-Sol YOUN,Kyoung Woon MIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-02.

An underfloor wheelset inspection device and a method for probing railway vehicle wheelsets using the underfloor wheelset inspection device

Номер патента: EP4417959A1. Автор: Yu Zhang,Chaoyong PENG,Jianguang GUO,Zhaoyuan Zhang. Владелец: DTEC GmbH. Дата публикации: 2024-08-21.

Method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20240134217A1. Автор: Akihiko Fujisawa,Masayuki IKARI. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20240231136A9. Автор: Akihiko Fujisawa,Masayuki IKARI. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Portable visual inspection apparatus and method for inspecting article

Номер патента: US12072296B2. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou,Sonny O Osunkwo. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US12032013B2. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Battery cell leak inspection device and battery cell leak inspection method

Номер патента: US11916199B2. Автор: SEUNGJAE LEE,Youngmin Kim,Sukkeun KANG,Kyeongseon YOO. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Apparatus and method for inspecting filled containers and their filling product

Номер патента: US20240280505A1. Автор: Patrick Engelhard,Valentin BECHER,Ines Bradshaw. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection system for inspection of a lateral surface of a three-dimensional test object

Номер патента: US20210190482A1. Автор: Ulf Porth,Bertram Burkhardt,Oliver Habermann. Владелец: Muehlbauer GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-24.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: WO2018164692A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2018-09-13.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: EP3592196A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-01-15.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: US20200103356A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-04-02.

Ultrasound method for inspecting a part

Номер патента: EP4409228A1. Автор: David John Wilson. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-08-07.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US8605378B2. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-12-10.

Method for inspection of closed underground mines using unmanned aerial vehicles

Номер патента: RU2708799C1. Автор: Виктор Сергеевич Игнатчик,Феликс Владимирович Кармазинов,Юрий Анатольевич Курганов,Светлана Юрьевна Игнатчик,Денис Михайлович Иванов,Михаил Давидович Пробирский,Наталия Викторовна Кузнецова,Максим Николаевич Клементьев,Вячеслав Борисович Жеребцов. Владелец: Государственное Унитарное Предприятие "Водоканал Санкт-Петербурга". Дата публикации: 2019-12-11.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Method, inspection unit and computer program product for inspecting an inner surface of a tire, and tire processing assembly comprising the inspection unit

Номер патента: NL2034216B1. Автор: Jozef Anton Elferink Clemens,Dick Frijnts Stefan,Frans Bleij Djorro,Bernardus Broek Hemmeterius. Владелец: VMI Holland BV. Дата публикации: 2024-09-05.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: US12130172B2. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-10-29.

Method for inspecting shaped product, and method for manufacturing shaped product

Номер патента: EP3940374A1. Автор: Takahisa Aoyama,Hayato Tsuda,Yuuki Kuwajima. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Method for inspecting nonaqueous electrolyte secondary battery separator, method for producing nonaqueous electrolyte secondary battery separator, device for inspecting nonaqueous electrolyte secondary battery separator, device for producing nonaqueous electrolyte secondary battery separator, and nonaqueous electrolyte secondary battery separator

Номер патента: US20220013858A1. Автор: Yoshinori Sato,Atsuhiro Takata,Yuki YONEGUCHI,Shun Nakazawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-13.

Exposure apparatus for manufacturing semiconductors and method for inspecting pellicles

Номер патента: US20070035715A1. Автор: Yong-Hoon Lee,Yo-han Ahn,Ok-sun Lee,Hyung-Seok Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-02-15.

Method for inspecting a wafer and apparatus for inspecting a wafer

Номер патента: US20040161866A1. Автор: Hyo-cheon Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-08-19.

Method for inspecting a wafer and apparatus for inspecting a wafer

Номер патента: US6913939B2. Автор: Hyo-cheon Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-07-05.

Method for inspecting a wafer and apparatus for inspecting a wafer

Номер патента: US20050176159A1. Автор: Hyo-cheon Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-08-11.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: CA3144218A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-01-14.

Method, inspection unit and computer program product for inspecting an inner surface of a tire, and tire processing assembly comprising the inspection unit

Номер патента: WO2024175708A1. Автор: Clemens Jozef Anton ELFERINK,Hemmeterius Bernardus Broek,Djorro Frans BLEIJ,Stefan Dick FRIJNTS. Владелец: VMI HOLLAND B.V.. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for inspecting print, apparatus for inspecting print, and printer

Номер патента: US20090174747A1. Автор: Toshimichi Sato. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-09.

Adhering matter inspection equipment and method for inspecting adhering matter

Номер патента: US20110278469A1. Автор: Izumi Waki,Hideo Kashima,Yasuaki Takada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-11-17.

Apparatus for inspecting shoes and method for inspecting shoes using the same

Номер патента: US20230280241A1. Автор: Kyung Hyun Park,Il Min LEE,Mugeon KIM,Eui Su LEE,Da Hye Choi. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-09-07.

Method for inspecting connection bridge in photovoltaic array, and photovoltaic power generation system

Номер патента: AU2021257936A1. Автор: Hui Yan,Wei Li,Lei Wang,Lei Zhang,Yun Hu,Jiapeng ZHU,Yaobang WANG. Владелец: Sunpure Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

Tire building machine and method for inspecting a tire component produced in said tire building machine

Номер патента: EP4433288A1. Автор: Willem Marinus VAN BEEK. Владелец: VMI Holland BV. Дата публикации: 2024-09-25.

Method and system for inspecting an electrically conductive component for a wind turbine blade

Номер патента: WO2024199662A1. Автор: Aparna Chakrapani Sheila-Vadde,Kumar Koyithitta Meethal Manoj,Prasad Thapa,Mamatha VENUGOPAL,Vikas Kaushik. Владелец: LM WIND POWER A/S. Дата публикации: 2024-10-03.

Tire building machine and method for inspecting a tire component produced in said tire building machine

Номер патента: WO2023090999A1. Автор: Willem Marinus VAN BEEK. Владелец: VMI HOLLAND B.V.. Дата публикации: 2023-05-25.

Method for inspecting honeycomb structure

Номер патента: EP2913666A3. Автор: Yosuke Uesaka. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2015-09-23.

Device and method for inspection

Номер патента: US20020163342A1. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-07.

Inspection system for yarn bobbins and method for inspecting yarn bobbins

Номер патента: WO2023143740A1. Автор: Hakan Konukoglu,Gökhan Aydin. Владелец: Sanko Tekstil Isletmeleri Sanayi Ve Ticaret Anonim Sirketi Baspinar Subesi. Дата публикации: 2023-08-03.

Inspection method for inspecting display panel and inspection apparatus

Номер патента: US20210333784A1. Автор: Po-Sung Pan. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Inspection system and methods for inspecting an optical surface of a laser scanner

Номер патента: EP4242644A1. Автор: Fei Cai,Richard Calawa. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-09-13.

Inspection method for inspecting electric characteristics of devices formed on target object

Номер патента: US20110309849A1. Автор: Yasuhito Yamamoto,Isamu Inomata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-12-22.

Method for inspecting refrigerant pipe and refrigerant pipe

Номер патента: US20220107275A1. Автор: Kunihiro Okada,Yuuji Tanaka,Hideo Ohya,Keisuke IMAZU,Shouhei ARAKI,Sayumi HAMA. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

System and method for hole inspection

Номер патента: US12061169B2. Автор: Neil Goldfine,Todd DUNFORD,Stuart Chaplan. Владелец: Jentek Sensors Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Method for efficient dynamic sampling plan generation and accurate probe die loss projection

Номер патента: WO2024213339A1. Автор: Chenxi Lin,Fuming Wang,Zhihuan WANG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-10-17.

Inkjet printing apparatus and method for inspecting inkjet head using same

Номер патента: US12109806B2. Автор: Byung Chul Lee,Myung Soo Huh,Cheol Lae Roh,Heung Cheol JEONG,Do Hun LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Inspection system for inspecting an object and inspection method for same

Номер патента: US09964401B2. Автор: Philippe Lambert,Jean-Daniel Deschenes,Nicolas MARTEL-BRISSON,Sebastien Quirion. Владелец: Polyrix Inc. Дата публикации: 2018-05-08.

System and method for inspecting misalignment between display panel and film patterned retarder

Номер патента: US09897817B2. Автор: Sunghyun BAE,Hyeyoun AN. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Inspection system and methods for inspecting an optical surface of a laser scanner

Номер патента: US12025565B2. Автор: Fei Cai,Richard Calawa. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-07-02.

Particle suspensions used as low-contrast standards for inspection of liquids

Номер патента: EP3019850A1. Автор: Gregory L. Kirk,Francisco Kole,Winfred Tee Chow,Johannes G.M. CHRISTIAANSE. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-05-18.

Measurement tool and methods for euv lithography masks

Номер патента: EP4405754A1. Автор: Yoshihiro Tezuka,Charles Holzwarth,Marieke Ordway. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

Optical system and method for inspection and characterization of liquids in vessels

Номер патента: WO2008140473A3. Автор: Ronald H Micheels,Ranganathan Shashidhar,Karen K Carpenter. Владелец: Karen K Carpenter. Дата публикации: 2008-12-31.

Particle suspensions used as low-contrast standards for inspection of liquids

Номер патента: WO2015006532A1. Автор: Gregory L. Kirk,Francisco Kole,Winfred Tee Chow,Johannes G.M. CHRISTIAANSE. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-01-15.

Apparatus for Inspecting a Display Device and Method for Inspecting the Display Device

Номер патента: US20080088337A1. Автор: Jong-Kun Yoo,Se-Chun Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-04-17.

Parametric and modal work-holding method for automated inspection

Номер патента: EP4436755A1. Автор: Jonathan J. O'hare,Jonathan Dove. Владелец: Hexagon Metrology Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Parametric and modal work-holding method for automated inspection

Номер патента: US12066808B2. Автор: Jonathan J. O'hare,Jonathan Dove. Владелец: Hexagon Metrology Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Method for inspecting core shroud using remote operated vehicle (rov)

Номер патента: US20210125738A1. Автор: William Aaron Morrison,Vincent Carl Vigliano,Edmund S. Mercier. Владелец: GE HITACHI NUCLEAR ENERGY AMERICAS LLC. Дата публикации: 2021-04-29.

Method for inspecting a collection of wooden parts

Номер патента: WO2011155818A1. Автор: Marcel Verweij. Владелец: Multigarant B.V.. Дата публикации: 2011-12-15.

Method for inspecting battery and method for producing battery

Номер патента: US20240204258A1. Автор: Kiwamu Kobayashi,Hideto Mori,Tadashi Teranishi,Toshinori Okura. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Inspection apparatus and method for inspecting a component

Номер патента: US20240077438A1. Автор: Timothy Hanlon,Richard Didomizio,Henning Schroeder,Eric John Telfeyan,Adarsh SHUKLA,Roald Alberto TAGLE BERDAN,Ramkumar Kashyap Oruganti,Walter Vincent Dixon, Iii,Daniel M. Ruscitto,Michael Christopher Andersen,Wayne Lee Lawrence,Jonathan Rutherford Owens,Gregory Donald Crim,Michael Wylie Krauss,André Dziurla,Sven Martin Joachim Larisch,Falk Reinhardt. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-03-07.

Machines and methods for monitoring photovoltaic systems

Номер патента: US12095418B2. Автор: Graham Ryland,John Shepard,Derek CHASE. Владелец: Onsight Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Method and apparatus for inspecting an inductively heatable aerosol-generating article for the presence of a susceptor and a desired article alignment

Номер патента: US12059023B2. Автор: Andreas Loeb,Luca Bosi,Matteo Grosoli. Владелец: PHILIP MORRIS PRODUCTS SA. Дата публикации: 2024-08-13.

Apparatus and method for inspecting navigation safety facilities by using flight vehicle

Номер патента: US11996000B2. Автор: Jin Young Hong,Woo Ram Son,Gyu Jin SON,Hyun Bae YANG,Byong Kwang KIM,Su In SIM. Владелец: Korea Airports Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Device for inspecting surface of electrically conductive part

Номер патента: RU2655050C2. Автор: Люк Анри ШАТЕНЕ. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2018-05-23.

Apparatus for inspecting antenna and method for inspecting antenna

Номер патента: US20230070750A1. Автор: Han Sub Ryu,Byung Jin Choi,Dong Pil PARK. Владелец: Dongwoo Fine Chem Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Inspecting circuit layout for lcd panel and fabricating method for lcd panel

Номер патента: US20080043198A1. Автор: Meng-Chi Liou,Fu-Yuan Shiau,Chih-Yu Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-02-21.

Apparatus and method for inspecting an object

Номер патента: US12111269B2. Автор: Massimo Balducci. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-10-08.

Apparatus and method for inspecting a laminated structure

Номер патента: US09976988B2. Автор: Jeffrey R. Kollgaard,William J. Tapia. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-05-22.

System and method for inspecting and validating flight procedure

Номер патента: US09902503B2. Автор: Tao Chen,WEI SU,Kun Liu,Yachao YU,Gang Wei,Yangting Ou. Владелец: Flight Inspection Center of CAAC. Дата публикации: 2018-02-27.

Interposer for inspecting semiconductor chip

Номер патента: US09829510B2. Автор: Jae Hwan SEO,Woo Yeol SHIN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Method of positioning an anisotropic conductive connector, method of positioning the anisotropic conductive connector and a circuit board for inspection, anisotropic conductive connector, and probe card

Номер патента: US20090015281A1. Автор: Mutsuhiko Yoshioka,Masaya Naoi,Akira Matsuura,Takashi Amemiya,Tomohisa Hoshino,Syuichi Tsukada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-01-15.

Inspection device, plate-like object manufacturing device, inspection method, and plate-like object manufacturing method

Номер патента: AU2019268718B2. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Apparatus for inspecting circuit board and method of inspecting circuit board

Номер патента: US20090153146A1. Автор: Satoshi Suzuki,Kiyoshi Kimura,Sugiro Shimoda,Fujio Hara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2009-06-18.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope

Номер патента: WO2016013930A1. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Nalan LIV HAMARAT. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2016-01-28.

Method for inspecting and for maintaining an automotive vehicle

Номер патента: US11772475B2. Автор: Jacques Rocher,Jean-Luc Boyer. Владелец: Vitesco Technologies GmbH. Дата публикации: 2023-10-03.

Positive electrode for non-aqueous electrolyte secondary battery, method for manufacturing same, and method for inspecting same, and non-aqueous electrolyte secondary battery and method for manufacturing same

Номер патента: EP4235845A1. Автор: Yuta TAKAICHI. Владелец: Maxell Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Method for inspecting optical information recording medium, inspection apparatus, optical information recording medium and recording method

Номер патента: US20110296447A1. Автор: Atsushi Nakamura,Yasumori Hino,Kenji Fujiune. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-12-01.

Method and system for inspecting and measuring installed one-sided fasteners in a structure

Номер патента: EP4425159A1. Автор: Nicholas C. REASONER. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-09-04.

Apparatus for inspecting substrate and method for fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US12105027B2. Автор: Myung Jun Lee,Sung Ho Jang,Jang Ryul Park,Kwang Rak KIM,Soon Yang KWON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Datum transfer apparatus and method for inspecting coated components

Номер патента: US09927220B2. Автор: Randall W. Joyner,James R. Murdock,Thomas H. Rogers,Michael A. Morden,Andrew J. Brinks. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Method for inspecting photoresist pattern

Номер патента: US09921487B2. Автор: Kyung Jae PARK,Wooseok SHIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-20.

Apparatus and method for selectively inspecting component sidewalls

Номер патента: US09816938B2. Автор: Ajharali Amanullah. Владелец: Semiconductor Tech and Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Inspection system and method for leads of semiconductor devices

Номер патента: US5956134A. Автор: Rajiv Roy,Michael D. Glucksman,Weerakiat Wahawisan,Paul Harris Hasten,Charles Kenneth Harris,George Charles Epp. Владелец: Semiconductor Technologies and Instruments Inc. Дата публикации: 1999-09-21.

Method for producing nitride semiconductor laminate, silicon semiconductor product, method for inspecting film quality and method for inspecting semiconductor growth device

Номер патента: US11946874B2. Автор: Fumimasa Horikiri. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

Apparatus, systems, and methods for inspecting tubulars of different sizes

Номер патента: US12031945B1. Автор: Danny Uselton. Владелец: Scan Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Systems and methods for automatic visual inspection of defects in ophthalmic lenses

Номер патента: WO2022066474A1. Автор: Jose Alonso Fernandez,Daniel Crespo Vazquez,Eduardo PASCUAL,Juan Antonio QUIROGA MELLADO,Sergio Sampedro. Владелец: Indizen Optical Technologies S.L.. Дата публикации: 2022-03-31.

Method for inspecting corrosion under insulation

Номер патента: EP2486397A1. Автор: Hidehiko Suetsugu,Toyokazu Tada,Hisakazu Mori,Yuichi Machijima. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2012-08-15.

Method for inspecting a semiconductor element and inspection apparatus for executing the same

Номер патента: US20220018789A1. Автор: Yueh-Heng Lee,Kuo-Ming Tseng. Владелец: V5 Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

System and method for vehicle radar inspection

Номер патента: US11009588B2. Автор: Jihoon Park,Haseung SEONG. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2021-05-18.

Ultrasonic array probe apparatus, system, and method for travelling over holes and off edges of a structure

Номер патента: EP1744156A3. Автор: James C. Kennedy,Clyde T. Uyehara,Mark L. Little. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2010-06-02.

Systems and methods for automatic visual inspection of defects in ophthalmic lenses

Номер патента: EP4217704A1. Автор: Jose Alonso Fernandez,Daniel Crespo Vazquez,Eduardo PASCUAL,Juan Antonio QUIROGA MELLADO,Sergio Sampedro. Владелец: Indizen Optical Technologies SL. Дата публикации: 2023-08-02.

Six-sided inspection mechanism for part and part appearance packaging inspection device

Номер патента: US20240053276A1. Автор: Xingke Wang. Владелец: Dongguan Jiezhan Precision Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Method and system for inspecting and measuring installed one-sided fasteners in a structure

Номер патента: US20240295508A1. Автор: Nicholas C. REASONER. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Inspection method for blanking device for blanking multi charged particle beams

Номер патента: US09880215B2. Автор: Hiroshi Yamashita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

System and method for inspecting assembled condition of alternator

Номер патента: US09869721B2. Автор: Dong Chul Lee,Mun Gu KIM,Yeong Il CHOI,Jung Myoung KIM. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-01-16.

Apparatus and methods for gauging parts

Номер патента: US09835431B1. Автор: LIN Huang,Adam Li,Anthony Freakes,Franklin W Agramonte Andujar,Ivan P Nieves Hernandez,Marcelino Montoya Ruiz,Carlos C Reyes. Владелец: Connecting Products Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

System and method for inspecting containers for target material

Номер патента: EP2227709A2. Автор: Joseph Bendahan,Walter Irving Garms,Mengqian Gu. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-09-15.

Apparatus and method for inspecting ventilation

Номер патента: US20210148777A1. Автор: Seunghyun Hwang,YoungChul KIM,Dongeon KIM. Владелец: DMC Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Method for inspecting contact between mating gears

Номер патента: US20140239194A1. Автор: Lee Holloway,Thomas M. Sep,Holly A. Giangrande,Ryan M. TREVINO. Владелец: American Axle and Manufacturing Inc. Дата публикации: 2014-08-28.

Method for inspecting contact between mating gears

Номер патента: WO2014130227A1. Автор: Lee Holloway,Thomas M. Sep,Holly A. Giangrande,Ryan M. TREVINO. Владелец: AMERICAN AXLE & MANUFACTURING, INC.. Дата публикации: 2014-08-28.

Systems and methods for providing illumination of a specimen for inspection

Номер патента: WO2007027803A2. Автор: Andrew V. Hill. Владелец: KLA-TENCOR TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2007-03-08.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

System and method for inspecting a tubular

Номер патента: GB2626556A. Автор: McNay Graeme,Long David,Stander Jan,Biernacki Szymon. Владелец: Aisus Offshore Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Inspection device with optical watermarks

Номер патента: RU2739522C1. Автор: Бернхард ХОЙФТ,Вольфганг ПОЛЬСТЕР,Микаэль УНГЕР. Владелец: Хойфт Зюстемтехник Гмбх. Дата публикации: 2020-12-25.

Methods and devices for inspection of pipelines

Номер патента: EP3411703A1. Автор: Haraprasad KANNAJOSYULA,Anthony Mactutis,Philip Dewayne BONDURANT. Владелец: Quest Integrated LLC. Дата публикации: 2018-12-12.

Method and apparatus for inspecting containers filled with liquid

Номер патента: US20240208745A1. Автор: Peter Lindner. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-06-27.

Method for inspecting electronic device and electronic device inspection apparatus

Номер патента: US20140139253A1. Автор: Osamu Masuda,Hiroaki Arita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2014-05-22.

Conveying system for inspection device

Номер патента: GB2626516A. Автор: Huang Qingping,HONG Mingzhi,ZHANG Liguo,Yang Jianxue,Li Guipei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Method and measuring device for inspecting photomasks, and euv camera

Номер патента: US20240295828A1. Автор: Ulrich Matejka,Lutz Brekerbohm,Senthil Lakshmanan. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-05.

Method and apparatus for inspecting surfaces

Номер патента: US20240369413A1. Автор: Uwe Sperling. Владелец: BYK Gardner USA Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Semiconductor inspection device and method for inspecting semiconductor sample

Номер патента: US20230273253A1. Автор: Makoto Sakakibara,Satoshi Takada,Yasuhiro Shirasaki,Minami Shouji,Natsuki Tsuno. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Inspection apparatus and method for electrode plate-connected structure for secondary cell

Номер патента: US20020076094A1. Автор: Toshiaki Nakanishi,Yugo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Machine and method for inspecting ferrule of optical connector

Номер патента: WO2003060594A1. Автор: Heui-Jae Pahk,Il-Hwan Lee,Dong-Sung Lee,Hwa-Kyun Lee. Владелец: Hwa-Kyun Lee. Дата публикации: 2003-07-24.

Apparatus and method for inspecting poly-silicon

Номер патента: US7505155B2. Автор: Hyun-Gue Kim,Keun-Ho Jang. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-17.

Method and apparatus for inspecting full containers

Номер патента: US20240280504A1. Автор: Bernhard Heuft,Jorg Nonnen. Владелец: Heuft Systemtechnik GMBH. Дата публикации: 2024-08-22.

System and method for inspecting nuclear fuel pellets

Номер патента: US20230395272A1. Автор: Amaury FAYARD,Axel TELLJOHANN. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 2023-12-07.

Methods for improving processing speed for object inspection

Номер патента: US09880314B2. Автор: Andreas Pfander,Ronald James HUGHES. Владелец: Rapiscan Systems Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US20160329578A1. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-11-10.

Method for inspecting damage in reverse osmosis membrane

Номер патента: US20240159687A1. Автор: Kenji Saito,Hiroo Takabatake,Koji Nakatsuji,Shinya Shimoda. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Nondestructive sensing device and method for inspection and measuring the cleanliness of composite surfaces coupled with methods for removing contaminants and activating the composite surfaces

Номер патента: US11933749B2. Автор: Richard Piner,Doyle T. Motes, III,Marcus Keiser. Владелец: Texas Research International Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Image processing apparatus and method for inspecting defects of enclosures of semiconductor devices

Номер патента: US5568564A. Автор: Takayuki Ozaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1996-10-22.

Method for inspecting, as they pass, eggs placed in containers

Номер патента: US20240264136A1. Автор: Laura TRUBUIL,Devan Lharidon. Владелец: Egg Chick Automated Technologies SAS. Дата публикации: 2024-08-08.

Apparatus and method for viewing and inspecting a circumferential surface area of an object

Номер патента: EP1287340A1. Автор: Yogesh Mehrotra,John Nazarian Pike,Herbert Kaplan. Владелец: Materials Technologies Corp. Дата публикации: 2003-03-05.

Method for inspecting photoresist pattern

Номер патента: US20100297791A1. Автор: Yi-Chung Sheng,Sheng-Yuan Hsueh,Chia-Chen Sun. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2010-11-25.

Device and method for inspecting lithium precipitation in battery cell

Номер патента: US20240280539A1. Автор: Su Hyun Yun,Bum Young JUNG,Hyo Sun An. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Method for slot inspection

Номер патента: WO2020193674A1. Автор: Koen DELAERE. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2020-10-01.

Alignment guide for inspecting a fiber optic end face

Номер патента: US20200379186A1. Автор: Kevin Cassady. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2020-12-03.

Apparatus and associated method for inspecting containers for bulges

Номер патента: EP1036310A1. Автор: Mark F. Zanella, Sr.,Henry M. Dimmick, Sr.. Владелец: AGR International Inc. Дата публикации: 2000-09-20.

Apparatus and associated method for inspecting containers for bulges

Номер патента: WO1999028728A1. Автор: Mark F. Zanella, Sr.,Henry M. Dimmick, Sr.. Владелец: AGR International, Inc.. Дата публикации: 1999-06-10.

Medication container inspection device

Номер патента: WO2024054113A1. Автор: Joren Ide VAN DER HORST,Jim KIEFT,Joseph Roeland HENDRIKS. Владелец: Luo Automation B.V.. Дата публикации: 2024-03-14.

Method for inspection of image sticking

Номер патента: US9164025B2. Автор: Kuan-Ming Lin,Chih-Chun Hsu,Li-Hsin Chang,Min-Ruei Tasi. Владелец: Daxin Materials Corp. Дата публикации: 2015-10-20.

Method and apparatus for inspecting defects

Номер патента: US20050094137A1. Автор: Sang-Mun Chon,Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Joung-soo Kim,Moon-kyung Kim,Sun-Yong Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-05-05.

Alignment guide for inspecting a fiber optic end face

Номер патента: US11585985B2. Автор: Kevin Cassady. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-02-21.

Device and method for transmission inspection of containers having at least one light-emitting diode light source

Номер патента: US20230288343A1. Автор: Laurent Cosneau,Pascal Fillon. Владелец: Tiama SA. Дата публикации: 2023-09-14.

Method for inspecting state of welds in battery

Номер патента: US20240319125A1. Автор: Jung Hoon Lee,Su Taek Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Apparatus and method for inspecting a semiconductor package

Номер патента: US09911666B2. Автор: Ah Kow Chin,Choong Fatt Ho,Soon Wei Wong,Victor Vertoprakhov. Владелец: SAEDGE VISION SOLUTIONS PTE LTD. Дата публикации: 2018-03-06.

Apparatus and method for inspection of an end region supported steering column assembly

Номер патента: US09874529B2. Автор: George Morrison, III,Ty Alan Brown,Timothy Brian Rood. Владелец: NSK Americas Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

System and method for inspecting turbine blades

Номер патента: US09733195B2. Автор: Andrew Joseph Colletti. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-08-15.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

A system and method for inspection of multiple features of patterned objects in the manufacture of electrical circuits

Номер патента: EP4090954A1. Автор: Vered Gatt,Itzhak Saki HAKIM,Chay Goldenberg,Mordehay Amirim. Владелец: Orbotech Ltd. Дата публикации: 2022-11-23.

Inspection method for imprint lithography and apparatus therefor

Номер патента: US20130120729A1. Автор: Roelof Koole. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2013-05-16.

Method for the inspection of an ophthalmic lens for semi-opaque defects

Номер патента: CA3204878A1. Автор: Vladimir DOVGAL,Sandra Kraus. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2022-08-04.

Method for the inspection of an ophthalmic lens for semi-opaque defects

Номер патента: AU2022213545A1. Автор: Vladimir DOVGAL,Sandra Kraus. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Method for the inspection of an ophthalmic lens for semi-opaque defects

Номер патента: EP4285092A1. Автор: Vladimir DOVGAL,Sandra Kraus. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2023-12-06.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: CA2623370A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Method for the inspection of an ophthalmic lens for semi-opaque defects

Номер патента: AU2022213545A9. Автор: Vladimir DOVGAL,Sandra Kraus. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

System and method for inspecting vehicle lidar sensor

Номер патента: US20220283274A1. Автор: Jin Seok Kim,Changmo YANG. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Systems and methods for inspecting and monitoring a pipeline

Номер патента: EP2872879A1. Автор: Laurence James Abney,Christopher Michael Jones,Robert P. Freese,Ola Tunheim,James Robert MACLENNAN,Thomas Idland. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2015-05-20.

Semiconductor devices and methods for inspecting the same

Номер патента: US20080246554A1. Автор: Yoshihiro Notani,Hitoshi Kurusu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2008-10-09.

Method for inspecting a pattern of features on a semiconductor die

Номер патента: US09983154B2. Автор: Sandip Halder,Philippe Leray. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2018-05-29.

Portable small-object holding device and a method for using same

Номер патента: US09915619B2. Автор: Ariel Rosenberg,Adir MUGRABI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-13.

Apparatus and method for inspecting all-solid battery

Номер патента: US09903918B2. Автор: Norihiro Ose. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Apparatus and method for inspecting a laminated structure

Номер патента: US09797867B2. Автор: Jeffrey R. Kollgaard,William J. Tapia. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-10-24.

Apparatuses, systems, and methods for inspecting a component

Номер патента: US09746447B2. Автор: Barry A. Fetzer,Dennis P. Sarr,Michael J. Duncan,Christopher R. Brown. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-08-29.

System and method for conveying and inspecting semiconductor package

Номер патента: US20230343620A1. Автор: Juson Dun Lee KHAW,Yoong Fatt CHIANG,Dennis Yong Sheng ONG,Megat Abdullah BIN MEGAT MOHD AZLAN,Tek Pei KANG,Jerrod Sheng Chun FOO,Kai Wen TEE,Jia Xun TAI,Kek Keong Kim,Yik Loong KOK,Siang Loong ONG,Ker Ming KHOR,Chin Lee YEAP,Chuzen LEE. Владелец: Vitrox Technologies Sdn Bhd. Дата публикации: 2023-10-26.

A system and method for inspection of multiple features of patterned objects in the manufacture of electrical circuits

Номер патента: WO2021161298A1. Автор: Vered Gatt,Itzhak Saki HAKIM,Chay Goldenberg,Mordehay Amirim. Владелец: ORBOTECH LTD.. Дата публикации: 2021-08-19.

Methods and systems for inspecting fastened structures

Номер патента: US20230213484A1. Автор: Samuel R. Goertz,David W. Arnold. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-07-06.

Apparatus and method for making and inspecting pre-fastened articles

Номер патента: EP1483565A1. Автор: Tim G. Dollevoet,Joseph J. Gimenez,Matthew L. Koele,Bradley M. Marohl. Владелец: Kimberly Clark Corp. Дата публикации: 2004-12-08.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Repair welding system, repair welding method, inspection device, and robot control device

Номер патента: EP3991901A1. Автор: Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN,Toshinari Mohri. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-04.

System and method for inspection using white light interferometry

Номер патента: US20040227953A1. Автор: Sanjeev Mathur. Владелец: August Technology Corp. Дата публикации: 2004-11-18.

Method for inspecting textile articles

Номер патента: US20200400561A1. Автор: Wilhelm Bringewatt,Engelbert Heinz. Владелец: Herbert Kannegiesser GmbH and Co. Дата публикации: 2020-12-24.

Methods and systems for inspecting fastened structures

Номер патента: US12055520B2. Автор: Samuel R. Goertz,David W. Arnold. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-08-06.

Method of manufacture of a dry-drawing stand for checking of operability of in-line inspection devices at a test pipeline test site

Номер патента: RU2653138C1. Автор: Алексей Анатольевич Крюков,Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть - Диаскан" (АО "Транснефть - Диаскан"). Дата публикации: 2018-05-07.

Analysis device, specimen production device, inspection device, operation method for specimen production device, and operation method for inspection device

Номер патента: EP4306631A1. Автор: Sakiko Narikawa,Megumi Mizuno,Naomi Ishii. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-17.

Apparatus for inspecting semiconductor device and method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20220065802A1. Автор: Toshihisa Fujiwara,Nobuhito KUGE,Yui FUJIWARA,Chisaki USUI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Analysis Device, Specimen Production Device, Inspection Device, Operation Method for Specimen Production Device, and Operation Method for Inspection Device

Номер патента: US20240183870A1. Автор: Sakiko Narikawa,Megumi Mizuno,Naomi Ishii. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Method for inspecting insulation of a secondary battery

Номер патента: US20220043047A1. Автор: Toshinori Okura. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-02-10.

Method for inspecting and/or handling a component via a robotic arm, and corresponding system and computer-program product

Номер патента: AU2023224434A1. Автор: Giovanni Di Stefano,Nicola LONGO,Simone Panicucci. Владелец: Comau SpA. Дата публикации: 2024-08-01.

Handheld inspection device and method of inspecting an infrastructure having a structure wall supported into material

Номер патента: CA3175708A1. Автор: Peter Marc CABOT. Владелец: Inversa Systems Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Ultrasonic Inspective Device for Simultaneous Pulse Echo and Through Transmission Inspection

Номер патента: US20210063357A1. Автор: James C. Kennedy,Jeffry J. Garvey,Roy Martin Gagnon. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-03-04.

Inspection device, inspection facility and inspection device failure confirmation method

Номер патента: US20190120772A1. Автор: Yoshihiro Yamagata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Method and apparatus for inspection of reactor head components

Номер патента: WO2004109713A9. Автор: Matthew R Jewett,Bradley S Delacroix,Mick D Mayfield,Randall K Lewis. Владелец: Bradley S Delacroix. Дата публикации: 2005-02-10.

Inspection device for inspecting tft

Номер патента: US20080164902A1. Автор: Tomoyuki Taguchi,Kenichi Imura,Yoshitami Sakaguchi,Yoshinori Mekata,Daiju Nakanao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-10.

Method for inspecting and/or handling a component via a robotic arm, and corresponding system and computer-program product

Номер патента: WO2023161801A1. Автор: Giovanni Di Stefano,Nicola LONGO,Simone Panicucci. Владелец: Comau S.p.A.. Дата публикации: 2023-08-31.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

A system and method for inspection

Номер патента: WO2015023231A1. Автор: Ah Kow Chin,Choong Fatt Ho,Soon Wei Wong,Victor Vertoprakhov. Владелец: SAEDGE VISION SOLUTIONS PTE LTD. Дата публикации: 2015-02-19.

Apparatus and methods for scattering-based semiconductor inspection and metrology

Номер патента: US20090050823A1. Автор: Amnon Manassen. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2009-02-26.

Systems and methods for inspecting photomasks

Номер патента: US20230175839A1. Автор: Chabum Lee. Владелец: TEXAS A&M UNIVERSITY SYSTEM. Дата публикации: 2023-06-08.

Apparatus and a method for inspecting a light transmissive optical component

Номер патента: US09970884B1. Автор: Anna Liu,Changli WU,Vladislav NIKITIN. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute ASTRI. Дата публикации: 2018-05-15.

Apparatus and method for inspecting seals of items

Номер патента: US09927372B2. Автор: Heimo Keranen,Karri Niemela. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2018-03-27.

Active device array substrate and method for inspecting the same

Номер патента: US09858877B2. Автор: Ying-Hao Pan. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2018-01-02.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method of semiconductor devices, and manufacturing method of inspected semiconductor devices

Номер патента: US20150123694A1. Автор: Takashi Ushijima,Yosuke Osanai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method of semiconductor devices, and manufacturing method of inspected semiconductor devices

Номер патента: US9379029B2. Автор: Takashi Ushijima,Yosuke Osanai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-06-28.

Apparatus and method for inspection of a film on a substrate

Номер патента: US20200271591A1. Автор: Thomas C. Mohr,James D. Jogerst,Aaron C. HAVENER,Keith B. Rider. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-27.

Apparatus and method for inspection of a film on a substrate

Номер патента: EP3931535A1. Автор: Thomas C. Mohr,James D. Jogerst,Aaron C. HAVENER,Keith B. Rider. Владелец: BWXT NOG Technologies Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Apparatus and method for inspection of a film on a substrate

Номер патента: CA3130839A1. Автор: Thomas C. Mohr,James D. Jogerst,Aaron C. HAVENER,Keith B. Rider. Владелец: BWXT NOG Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-03.

Repair welding inspection device and repair welding inspection method

Номер патента: US12078600B2. Автор: Kazuki HANADA,Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Active device array substrate and method for inspecting the same

Номер патента: US20180096664A1. Автор: Ying-Hao Pan. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2018-04-05.

Deposition apparatus and method for inspecting nozzle using the same

Номер патента: US12085450B2. Автор: Min Woo Kim,Su Hwan Lee,Young Bae KEE,Un Cheol Sung,Byoung Gu AN,Jae Soo HA. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Method and device for inspecting injection-molded parts, in particular pipette tips

Номер патента: US12122082B2. Автор: Jakob Kammerloher. Владелец: HEKUMA GMBH. Дата публикации: 2024-10-22.

Active device array substrate and method for inspecting the same

Номер патента: US09934741B1. Автор: Ying-Hao Pan. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2018-04-03.

Apparatuses, methods, and systems for inspecting a composite end portion of a part

Номер патента: US09933393B2. Автор: Gary Georgeson,Barry Fetzer,William Paul Motzer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-04-03.

Subsurface imaging system and method for inspecting the condition of a structure

Номер патента: US09851440B1. Автор: II Jackie O. Jordan,Nathan L. Tofte,Patrick H. Boyer. Владелец: State Farm Mutual Automobile Insurance Co. Дата публикации: 2017-12-26.

A detector and method for inspecting a sealed nuclear storage container

Номер патента: WO2008039583A3. Автор: Augustine J Caffrey. Владелец: Battelle Energy Alliance Llc. Дата публикации: 2008-12-04.

Ray inspection device, and method for inspecting target

Номер патента: GB2620536A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Test assembly for o-rings and method for inspecting o-rings by means of the assembly itself

Номер патента: EP3058330A1. Автор: Roberto Finazzi. Владелец: UTPVision SRL. Дата публикации: 2016-08-24.

System and method for detecting optical power of dry ophthalmic lenses

Номер патента: US12044592B2. Автор: Sy Hieu Dau,Jia Yaw Tan,Hoang Bao Nguyen. Владелец: EMAGE AI PTE LTD. Дата публикации: 2024-07-23.

Apparatus and method for optical inspecting three or more sides of a component

Номер патента: US20240230552A1. Автор: Ralf Weise,Marco Hug,Katharina SCHMEING,Rudolf Grüter. Владелец: Besi Switzerland AG. Дата публикации: 2024-07-11.

Apparatus and method for inspecting closures

Номер патента: US5714699A. Автор: Keith West,Francisco Ascascibar. Владелец: CarnaudMetalbox Holdings USA Inc. Дата публикации: 1998-02-03.

Apparatus for inspecting fuel vessel, and system and method for identifying crack density of vessel

Номер патента: US20240255469A1. Автор: Kyung Hwan Kim,Yong Joo Cho,Jung Ryul Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Device and method for inspecting welded state for cylindrical secondary battery

Номер патента: US20240310313A1. Автор: Seok jin Kim,Jung Hoon Lee,Min Wook KIM,Ji Hoon Lee,Su Taek Jung,Sang Hyun KOO. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US20170133135A1. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2017-05-11.

Method for inspecting service performance of tunnel lining based on defect characteristics thereof

Номер патента: US11193374B2. Автор: Zhou SUN,Xuezeng LIU,Yunlong SANG. Владелец: Shanghai Tongyan Civil Engineering Technology Corp. Дата публикации: 2021-12-07.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

System and method for inspection by failure mechanism classification and identification in a charged particle system

Номер патента: US20240319123A1. Автор: Antonio Corradi,Hermanus Adrianus Dillen,Pioter Nikolski,Younghoon Song,Achim WOESSNER,Yun A SUNG. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-26.

System and method for inspection by failure mechanism classification and identification in a charged particle system

Номер патента: EP4402540A1. Автор: Antonio Corradi,Hermanus Adrianus Dillen,Pioter Nikolski,Younghoon Song,Achim WOESSNER,Yun A SUNG. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-24.

Materials, structures, and methods for optical and electrical III-nitride semiconductor devices

Номер патента: US09978894B2. Автор: Robbie J. Jorgenson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-22.

Ultrasonic NDT sensor arrangement and method for inspecting surfaces of variable geometry of metal bodies

Номер патента: US09945816B2. Автор: David Thomas Clarke,John Lilburne TURNER. Владелец: Ansaldo Energia IP UK Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Non-transitory computer readable medium storing program for inspecting molded article region, method for inspecting molded article region, and device for inspecting molded article region

Номер патента: US20230280311A1. Автор: Shota NAGATA,Kaori TANIGAMI,Chio MINEO,Chihiro Imanaka. Владелец: Teijin Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Focus ring inspection device and focus ring inspection method

Номер патента: US20240159590A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee,Dong Mok Lee,Jin Il SUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Device and method for inspecting reflective surfaces

Номер патента: US20210396513A1. Автор: CLEMENS Gasser,EDUARD Luttenberger,ALBERT Niel. Владелец: NEXTSENSE GMBH. Дата публикации: 2021-12-23.

Method for leak source location investigation

Номер патента: CA3241429A1. Автор: Wenfeng Peng,Ling-Ying Lin,Brian Michael ZAPPA. Владелец: MOLEX LLC. Дата публикации: 2023-07-27.

Apparatus and method for the non-destructive testing of articles using optical metrology

Номер патента: EP1200797A1. Автор: Steve Carl Jamieson Parker,John Patrick W25A Br.Aerosp.Milit.Aircraft SMITH,Phillip Langley FPC 267 British Aerospace SALTER. Владелец: BAE SYSTEMS plc. Дата публикации: 2002-05-02.

Apparatus and method for inspecting a tubular

Номер патента: EP2130036A1. Автор: Clive Chemo Lam,Yanming Guo. Владелец: National Oilwell Varco LP. Дата публикации: 2009-12-09.

Moving inspection device, moving inspection method, and method for manufacturing steel material

Номер патента: US12044658B2. Автор: Masaki Kobayashi,Koji Yamashita,Kouyou Miyawaki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Non-destructive method for inspecting welded aluminum plate

Номер патента: US11162918B1. Автор: Waheed Sami Abushanab,Essam B. Moustafa. Владелец: KING ABDULAZIZ UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-11-02.

High-speed surface inspection system for reticle pod and high-speed surface inspection method for reticle pod

Номер патента: US20240295504A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: US12123841B2. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2024-10-22.

System and method for inspecting turbomachines

Номер патента: US09810098B2. Автор: Lawrence James Moore,Fredrick Levi Fuller,Jason Michael Boss,Bernard Baran Zabek,Gerald Marco Geraci,Michael Richard Pomykai. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-11-07.

Device and method for inspecting display

Номер патента: US20190137408A1. Автор: Zhe Liu. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Equipment and method for inspecting secondary battery

Номер патента: US11955611B2. Автор: Tae Young Kim,Woo Young Choi,Dong Hyung Lee,Sang Ho Nam. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Method and apparatus for inspecting process solution, and sample preparation apparatus in inspection

Номер патента: US20160061695A1. Автор: Chi-Wen Kuo,Tzu-Sou Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-03-03.

Portable Visual Inspection Apparatus And Method for Inspecting Article

Номер патента: US20220341852A1. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Matthew ORLOWSKI,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Method and apparatus for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20010030553A1. Автор: Tomoaki Aihara. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-10-18.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: EP4350342A1. Автор: Takao Koyama,Hideyuki Yamada,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Display device and method for mature ears of seed and field corn

Номер патента: US5377435A. Автор: Eldon L. Dalton. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-01-03.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Method for inspecting a connection seal between two parts

Номер патента: US09976927B2. Автор: Joel Yvan Marcel Robert Berton,Pascal Cendrier. Владелец: Safran Aircraft Engines SAS. Дата публикации: 2018-05-22.

Inspection device and method for inspecting an adhesive pattern on a substrate

Номер патента: US11801672B2. Автор: Eric Lingier,Alexander Wilhelm. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Apparatus and method for inspecting containers

Номер патента: US20230288344A1. Автор: Stefan Schober,Anton Niedermeier. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2023-09-14.

System and method for measuring a workpiece relative to a common measurement coordinate system

Номер патента: WO2013134672A1. Автор: James Romanelli. Владелец: UNITED TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-09-12.

Method and apparatus for inspecting containers and determining a rotational position of a container closure

Номер патента: US20240201101A1. Автор: Stefan Piana. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-06-20.

Process recipe, method and system for generating same, and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20230221702A1. Автор: Shaowen QIU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317065A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Method for manufacturing semiconductor and method for cleaning wafer substrate

Номер патента: US20170125240A1. Автор: Masayoshi Takahashi,Junichi Iida,Tsunejiro Takahashi,Katsumi TATERA. Владелец: Opt Creation Inc. Дата публикации: 2017-05-04.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: EP4067884A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317064A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Inspection Device

Номер патента: US20160103187A1. Автор: Kenji Tsubosaka,Tetsuo Noguchi,Hiroo Yoshikawa,Yusuke Itoh. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-04-14.

System and Method for Detecting Seal Leaks in a Gas Turbine Engine

Номер патента: US20240264029A1. Автор: Jeremy Gonzalez,Jong Park. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

System and method for detecting seal leaks in a gas turbine engine

Номер патента: EP4411334A1. Автор: Jeremy Gonzalez,Jong Park. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2024-08-07.

Contact inspection device

Номер патента: US09759744B2. Автор: Kentaro Tanaka. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

System for inspecting self-propelled vehicles, including cargoes, passengers and driver in vehicles, method for automatic radioscopic monitoring of moving objects and radiation scanning zone and method of forming shadow image of inspected object

Номер патента: RU2716039C1. Автор: Александр Владимирович Сидоров,Сергей Петрович Новиков,Владимир Витальевич Гребенщиков,Андрей Михайлович Фиалковский. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ИСБ.А" (ООО "ИСБ.А"). Дата публикации: 2020-03-05.

Door closure inspection device and method for automobile

Номер патента: GB2456117A. Автор: Yasuo Okumura,Koji Fujiwara,Ryo Taniguchi,Takanobu Fujii,Kuniaki Nishimura,Kazuhiko Sumida. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-08.

Battery cell leak inspection device and battery cell leak inspection method

Номер патента: US20240162502A1. Автор: SEUNGJAE LEE,Youngmin Kim,Sukkeun KANG,Kyeongseon YOO. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection method, method for producing composition, and method for verifying composition

Номер патента: US20230266675A1. Автор: Takashi Nakamura,Shinichi Sugiyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Apparatus and method for detecting one or more scanning charged particle beams

Номер патента: EP3977502A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Lenard Maarten VOORTMAN. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-04-06.

Shape inspecting device and shape inspecting method

Номер патента: EP3719442A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-10-07.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Polarization inspection device

Номер патента: US09970860B2. Автор: Kodai Murayama,Tomohito NOHNO,Toyoaki Hamaguchi,Soukichi FUNAZAKI. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Can printing apparatus and can inspection device

Номер патента: US09862204B2. Автор: Masayuki Izume. Владелец: Nippon National Seikan Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Systems and methods for inspecting and monitoring a pipeline using an optical computing device to monitor a bypass fluid in a movable inline inspection device

Номер патента: CA2880579C. Автор: Laurence James Abney,Christopher Michael Jones,Robert P. Freese,Ola Tunheim,James Robert MACLENNAN. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Apparatus for inspecting wafer surface, method for inspecting wafer surface, apparatus for judging defective wafer, method for judging defective wafer, and apparatus for processing information on wafer surface

Номер патента: US20040036863A1. Автор: Mitsuo Terada,Tomikazu Tanuki,Yukinori Matsumura,Hirobumi Miwa,Kouzou Matsusita,Kotaro Hori,Kiyoharu Miyakawa,Akira Nisi. Владелец: Komatsu Electronic Metals Co Ltd. Дата публикации: 2004-02-26.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US20230341454A1. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Apparatus and method for inspecting closed containers

Номер патента: US20230341335A1. Автор: Stefan Piana,Anton Niedermeier,Rainer Kwirandt. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2023-10-26.

System and method for inspecting a surface of an aircraft or spacecraft

Номер патента: US20240174380A1. Автор: Robert Alexander Goehlich,Clara HAUSER,Michel BÄDKER. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2024-05-30.

Device for inspecting lateral surface of cylindrical battery

Номер патента: US20240361252A1. Автор: Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US12105025B2. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Deflection means for inspection systems

Номер патента: US09933056B2. Автор: Dominik POMP,Marvin Kiesel. Владелец: iPEK International GmbH. Дата публикации: 2018-04-03.

Inspection device for a machine

Номер патента: US09866090B2. Автор: Christoph Lehmann,Waldemar Kowalski. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-01-09.

Device and method for inspecting position of probe, and semiconductor evaluation apparatus

Номер патента: US20170299630A1. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Norihiro Takesako. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-19.

Method for inspecting pipelines and associated inspection device

Номер патента: US20240003849A1. Автор: Gunnar Brink,Patrik Rosen. Владелец: ROSEN SWISS AG. Дата публикации: 2024-01-04.

Apparatus and method for treating plastic preforms with inspection device

Номер патента: US11999093B2. Автор: Florian Geltinger. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-06-04.

Method for producing a lithography coating film forming-composition

Номер патента: FI20215686A1. Автор: Hiroki Yamaguchi,Suguru Sassa,Takumi Oya. Владелец: Nissan Chemical Corp. Дата публикации: 2022-01-11.

Moisture meter, state diagnosis method for moisture meter, and storage medium

Номер патента: US20230059297A1. Автор: Yoshikazu Nagane,Masahiro Kanno. Владелец: A&D Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Device and method for controlling the stability of a dental implant

Номер патента: US12082985B2. Автор: Guillaume Haiat,Romain Vayron. Владелец: Universite Paris Est Creteil Paris 12. Дата публикации: 2024-09-10.

Door inspection system for vehicle and inspection method for the same

Номер патента: US09791381B2. Автор: Jin Cheol Kim,Young Soo Lim,Kang Jae JO,Bum-Hun JUN. Владелец: Dasannewtech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Borehole inspection device and system with a self-cleaning system and method for loading explosives in boreholes

Номер патента: US09708902B2. Автор: Jorge Lopez Rodriguez. Владелец: MaxamCorp Holding SL. Дата публикации: 2017-07-18.

System for inspection of mine shaft with synchronization of movement and method for controlling synchronization of movement

Номер патента: RU2752055C1. Автор: Вэй Ли,Фань Цзян,Гунбо Чжоу,Чаоцюань ТАН,Хунвэй ТАН,Чжэньчжи ХЭ,Ган ЧЖАН. Владелец: Китайский Университет Горного Дела И Технологии. Дата публикации: 2021-07-22.

Electrode inspection device for battery and method of the same

Номер патента: US8369482B2. Автор: Sang Bum Kim,Jin Gyu Kim,Hee Chan Park,Ik Sung Yoon. Владелец: SK Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-05.

Method for planning an inspection path and for determining areas to be inspected

Номер патента: CA2554641C. Автор: Stephan Wienand,Enis Ersue. Владелец: ISRA Vision Systems AG. Дата публикации: 2009-08-04.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: US20240011920A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-11.

Fiber-reinforced resin material, molded article, method and device for manufacturing fiber-reinforced resin material, and fiber bundle group inspection device

Номер патента: US11951692B2. Автор: Hiroshi Iwata,Nobuyuki Yamamoto,Takayuki Kobayashi,Koichi Akiyama,Ryuichi Ishikawa,Hajime Okutsu. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Inspection method for inspecting corrosion under insulation

Номер патента: EP2362939A1. Автор: Hideo Cho,Toyokazu Tada,Hisakazu Mori,Yuichi Machijima. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2011-09-07.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: EP4314927A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-07.

Apparatus and method for inspecting a substrate in display manufacture and system for processing a substrate

Номер патента: EP4295403A1. Автор: Hou T. Ng,Giorgio Cellere,Valentina Furin,Carlo GALLIANI. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-27.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US20120250175A1. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-10-04.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: CA3218147A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2022-11-10.

Method for producing a lithography coating film forming-composition

Номер патента: FI130927B1. Автор: Hiroki Yamaguchi,Suguru Sassa,Takumi Oya. Владелец: Nissan Chemical Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

Built-in system for inspection, testing and sampling of casted or additive manufactured material

Номер патента: US20240077429A1. Автор: Zakariya Saleh AL-HELAL,Carlos Ernesto ACERO,Nagi Elbashir. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection jig, inspection device, and contact terminal

Номер патента: US20210364553A1. Автор: Norihiro Ota,Sukkwi KIM. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2021-11-25.

Polymer for preparing resist underlayer film, resist underlayer film composition containing the polymer and method for manufacturing semiconductor device using the composition

Номер патента: US09996007B2. Автор: Yu Na Shim,Min Ho Jung,Soo Young Hwang,Jin Su Ham,Kyun Phyo Lee. Владелец: SK Global Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Estimation method, estimation device, and inspection device for variable resistance element, and nonvolatile memory device

Номер патента: US09829521B2. Автор: Takeshi Takagi,Shunsaku Muraoka,Zhiqiang Wei,Takeki Ninomiya. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Apparatus for inspecting objects

Номер патента: RU2390762C2. Автор: Флетчер Л. ЧАПИН,Джон Е. КОЗОЛ. Владелец: ШуэСкан Корпорейшен. Дата публикации: 2010-05-27.

Apparatus for inspecting wafers

Номер патента: US4881863A. Автор: Sidney Braginsky. Владелец: PRIMARY SYSTEMS CORP. Дата публикации: 1989-11-21.

Control unit and control method for radiation source and radiation inspection system and method thereof

Номер патента: MY161628A. Автор: Peng Hua,Zhang Li,LIU Yinong,Chen Zhiqiang,Li Yuanjing,Yang Guang,Zhang Qingjun,Liu Yaohong,LI Junli,Jia Wei,ZHANG Jinyu,Ruan Ming,LIANG Siyuan,DENG Yanli,Xie Yali,Shangmin. Владелец: Univ Tsinghua. Дата публикации: 2017-04-28.

Methods for inspection of a specimen using different inspection parameters

Номер патента: EP2256487A2. Автор: Tao-Yi Fu,Shiow-Hwei Hwang,Paul Frank Marella,Steve R. Lange,Nat Ceglio. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2010-12-01.

Substrate and method for inspection

Номер патента: EP1014096A2. Автор: Michio Horiuchi,Takuya Kazama,Shigetsugu Muramatsu. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2000-06-28.

Method and system for inspection of an inner pod or an outer pod of an euv pod

Номер патента: US20240006210A1. Автор: Lutz Rebstock,Ulrich QUARTI,Tobias FORSTNER. Владелец: Brooks Automation Germany GmbH. Дата публикации: 2024-01-04.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: WO2021005518A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: AZIONARIA COSTRUZIONI MACCHINE AUTOMATICHE A.C.M.A. S.p.A.. Дата публикации: 2021-01-14.

Method and device for inspecting a moving apparatus

Номер патента: WO2024100475A1. Автор: Cong Wang,King Chung Kelvin HO,Tsz Yan Alison SUEN,Yiu Chung LAU,Li Fai LAM,Pak Wa LAI,Nicolas Michel Bernard PERNEY. Владелец: Mtr Corporation Limited. Дата публикации: 2024-05-16.

Radiographic inspection apparatus and method for inspecting target

Номер патента: GB2619858A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,LIANG Jinning,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US7746464B2. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-29.

Fracture surface inspection device and fracture surface inspection method for loss evaluation

Номер патента: US11821725B2. Автор: Ryosuke MURAKAMI. Владелец: Yasunaga Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: EP3997427A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2022-05-18.

Manufacturing inspection/analysis system analyzing device, analyzing device control program, storage medium storing analyzing device control program, and method for manufacturing inspection and analysis

Номер патента: US7873432B2. Автор: Masaru Tanaka,Takeshi Umemoto,Nobuyuki Ohminami. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2011-01-18.

Optical inspection device for surface of reticle pod and optical inspection method for surface of reticle pod

Номер патента: US20240295830A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

A borescope inspection device and a method for performing non-destructive testing with the borescope inspection device

Номер патента: WO2024153463A1. Автор: Carlo Giolli,Remo Ribichini,Erica SCRINZI,Luca AMMANNATO,Frederico MANGIAVACCHI. Владелец: Nuovo Pignone Tecnologie - S.r.l.. Дата публикации: 2024-07-25.

Methods for manufacturing semiconductor structures including isolation layer and semiconductor structures including isolation layer

Номер патента: US12119260B2. Автор: YUAN Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Tetrafluorosilane production process, method for assaying impurities in tetrafluorosilane, and gas based thereon

Номер патента: RU2274603C2. Автор: Масаказу ОКА,Хитоси АТОБЕ,Тораити КАНЕКО. Владелец: Сова Денко К.К.. Дата публикации: 2006-04-20.

Apparatus for inspecting objects using electromagnetic beams, primarily x-rays

Номер патента: RU2523609C2. Автор: КИРСТЕН Эрвин,КРЕМЕР Рудольф,ХЕМП Фред,АУСТ Штефан. Владелец: Смитс Хайманн Гмбх. Дата публикации: 2014-07-20.

Method and apparatus (versions) for inspecting liquid-containing objects

Номер патента: RU2445609C2. Автор: Жикианг ЧЕН,Ли ЖАНГ,Хайфенг ХУ,Йинонг ЛЬЮ,Зиран ЖАО,Юксианг КСИНГ,Юанджинг ЛИ,Ксуеву ВАНГ,Хонгксин ВУ,Ху ТАНГ,Юмин Йи,Джинью ЖАНГ. Владелец: Нуктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2012-03-20.

Method for inspecting axis dislocation of multifiber connector

Номер патента: CA2055311A1. Автор: Motohiro Yamane. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-05-14.

Inspection method and inspection device

Номер патента: EP2772920A2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-09-03.

Method and system for inspection of an inner pod or an outer pod of an euv pod

Номер патента: WO2022106482A1. Автор: Lutz Rebstock,Ulrich QUARTI,Tobias FORSTNER. Владелец: BROOKS AUTOMATION (GERMANY) GMBH. Дата публикации: 2022-05-27.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: SE2251043A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-09.

Methods for inspecting and testing notification appliances in alarm systems

Номер патента: EP2973481A1. Автор: David Dahlstrom,III Joseph PICCOLO. Владелец: Piccolo Joseph Iii. Дата публикации: 2016-01-20.

Method for inspecting shaped product, and method for manufacturing shaped product

Номер патента: US20220018763A1. Автор: Takahisa Aoyama,Hayato Tsuda,Yuuki Kuwajima. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: WO2024052463A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-14.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190283910A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Devices, systems, and methods for the concentration and/or detection of analytes

Номер патента: WO2024097902A1. Автор: Donglei Fan,Jianhe Guo. Владелец: BOARD OF REGENTS, THE UNIVERSITY OF TEXAS SYSTEM. Дата публикации: 2024-05-10.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: US20240085480A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Impact detecting and tracking systems and methods for vehicle crash attenuator systems

Номер патента: US20220005342A1. Автор: Geoffrey B. Maus,Brent M. KULP,Arthur Koroghlian,Bob L. Wielenga. Владелец: Traffix Devices Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Array substrate and manufacturing method for the same

Номер патента: US20180151444A1. Автор: Longqiang Shi. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Field folding optical method for imaging system

Номер патента: US20070008520A1. Автор: Avishay Guetta,Gil Blai,Yoni Cohen,Doron Korngut. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2007-01-11.

Defect inspection device, defect inspection method, method for producing separator roll, and separator roll

Номер патента: US20180149602A1. Автор: Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Intelligent data acquisition system and method for pipelines

Номер патента: US12111007B2. Автор: Shuyong Paul Du. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-08.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Systems and methods for constructing and testing composite photonic structures

Номер патента: US09995690B2. Автор: Abdullah A. AL-SHAHRANI,Enrico Bovero,Abdullah S. Al-Ghamdi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2018-06-12.

Systems and methods for constructing and testing composite photonic structures

Номер патента: US09816941B2. Автор: Abdullah A. AL-SHAHRANI,Enrico Bovero,Abdullah S. Al-Ghamdi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2017-11-14.

System and method for traversing pipes

Номер патента: US09739411B1. Автор: Shaun Azimi,Darby Magruder,Justin Ridley,Anthony Lapp,Jodi Graf,Ross Pettinger. Владелец: National Aeronautics and Space Administration NASA. Дата публикации: 2017-08-22.

Apparatus and method for inspection of surface quality of smooth surfaces

Номер патента: US5090804A. Автор: Andrew K. Wong,Mohamed S. Kamel,John T. King. Владелец: Virtek Vision Intelligence Robotics Technologies Corp. Дата публикации: 1992-02-25.

Connector for measuring electrical resistance, and apparatus and method for measuring electrical resistance of circuit board

Номер патента: EP1903341A1. Автор: Kiyoshi Kimura,Fujio Hara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-03-26.

Method and apparatus for inspecting a workpiece

Номер патента: WO1999000661A1. Автор: Rajiv Roy,Weerakiat Wahawisan,Michael C. Zemek. Владелец: Semiconductor Technologies & Instruments, Inc.. Дата публикации: 1999-01-07.

Method for inspecting an insulator with a library of optic images

Номер патента: US7375829B2. Автор: Jung Ho Kang. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2008-05-20.

Apparatus and method for inspection of surface quality of smooth surfaces

Номер патента: CA1295707C. Автор: John Thomas King,Mohamed Salem Kamel,Andrew Ka-Ching Wong. Владелец: Virtek Vision Intelligence Robotics Technologies Corp. Дата публикации: 1992-02-11.

Apparatus for inspecting display panel and method for inspecting the same

Номер патента: US20020105638A1. Автор: Shigetaka Kobayashi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-08-08.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240159694A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection method for inspecting a condition of an externally invisible component of a device using a borescope

Номер патента: US11976997B2. Автор: Bernd Kriegl,Christian Heinzelmaier. Владелец: MTU Aero Engines AG. Дата публикации: 2024-05-07.

System and method for internal coating of offshore pipeline weld joints with fluorescent anti-corrosion coatings and wet inspection

Номер патента: US11982632B2. Автор: Mana H. Al-Mansour. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-05-14.

Method for inspecting gas leak from fuel cell stack

Номер патента: US20210305603A1. Автор: Hiroshi Sekiguchi,Satoshi Hasegawa,Yusuke OKABE. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Apparatus and method for inspecting and punching a diffusion layer for water electrolysis

Номер патента: US20240091971A1. Автор: Young June Park,Pil Young Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Method For Inspection Of A Target Object, Control System And Inspection System

Номер патента: US20210190478A1. Автор: Andreas Frank,Jacobus Lodevicus Martinus Van Mechelen,Deran Maas. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2021-06-24.

Method and device for inspecting an object

Номер патента: EP4153979A1. Автор: Fiorenzo Parrinello,Fabrizio Pucci,Massimo Balducci. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2023-03-29.

Method for inspecting resist composition, method for producing resist composition, and resist composition

Номер патента: US20240201599A1. Автор: Kei Yamamoto,Tetsuya Shimizu,Satomi Takahashi,Michihiro Shirakawa,Naohiro Tango. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Method and apparatus for inspection of containers

Номер патента: WO2008130450A2. Автор: Antonios Aikaterinidis. Владелец: Antonios Aikaterinidis. Дата публикации: 2008-10-30.

Method and apparatus for inspection of containers

Номер патента: WO2008130450A3. Автор: Antonios Aikaterinidis. Владелец: Antonios Aikaterinidis. Дата публикации: 2009-04-09.

Method for reduction of recovery time of SESAM absorbers

Номер патента: EP2253995B1. Автор: Agata Władysława Jasik,Krzysztof Hejduk,Jan Maksymilian Muszalski. Владелец: Instytut Technologii Elektronowej. Дата публикации: 2012-05-09.

Filtering optimization methods for particle inspection device

Номер патента: WO2007103793A3. Автор: Gil Perlberg,Robert Landon Roach. Владелец: Traceguard Technologies Inc. Дата публикации: 2008-03-06.

Method for in-line determination of film thickness and quality during printing processes for the production of organic electronics

Номер патента: EP2700110A1. Автор: Stergios Logothetidis. Владелец: Aristotle University Of Thessaloniki ELKE Research Committee. Дата публикации: 2014-02-26.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Device for inspection of water pipelines for physical integrity and method

Номер патента: CA2133930C. Автор: Gordon R. Brandly,M. Douglas Maclean,Paul P. Pastushak. Владелец: Pica Pipeline Inspection and Condition Analysis Corp. Дата публикации: 2011-05-10.

Method and apparatus for inspection of components

Номер патента: US6040695A. Автор: Kevin D. Smith,David A. Raulerson,Jay Amos. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2000-03-21.

Method and apparatus for inspecting manufactured products for defects in response to in-situ monitoring

Номер патента: US5896294A. Автор: Wanyee Apple Chow,Ming C. Chen,Yung-Tao Lin,Ying Shiau. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 1999-04-20.

Methods and systems for inspecting aircraft fuselage frames

Номер патента: CA2490059C. Автор: Clifford Bueno,Gregory Alan Mohr,Kenneth Gordon Herd,Michael Robert Hopple,Elizabeth Lockenberg Dixon. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2010-12-07.

Instrument holder and method for inspection of a dynamo-electric machine in a gap between a stator and a rotor and dynamo-electric machine having the instrument holder

Номер патента: US5635780A. Автор: Erich Kohlert,Otto Wirxel. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1997-06-03.

Actuatable visual inspection device

Номер патента: US8836937B2. Автор: Christopher Edward Thompson,Thomas James Batzinger,Matthew Stephen Gutschow. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-16.

Device for inspection of water pipelines and method

Номер патента: CA2245419C. Автор: David E. Russell,Gordon R. Brandly,M. Douglas Maclean,Paul P. Pastushak,James B. Seale,Ad A. Shatat,Jens C.B. Winslow. Владелец: Hydroscope Canada Inc. Дата публикации: 2010-01-05.

Method and apparatus for inspection of rubber product

Номер патента: CA2273833C. Автор: Masamichi Sudo,Morihiro Sudo. Владелец: Daikyo Seiko Ltd. Дата публикации: 2005-02-22.

Device for inspection of water pipelines and method

Номер патента: CA2245419A1. Автор: David E. Russell,Gordon R. Brandly,M. Douglas Maclean,Paul P. Pastushak,James B. Seale,Ad A. Shatat,Jens C.B. Winslow. Владелец: Hydroscope Canada Inc. Дата публикации: 1999-03-30.

Method of and device for inspecting images to detect defects

Номер патента: US6804381B2. Автор: AJAY Kumar,Kwok-Hung Grantham Pang. Владелец: University of Hong Kong HKU. Дата публикации: 2004-10-12.

Semiconductor device having a connection inspecting circuit for inspecting connections of power source terminals and grounding terminals, and inspection method for the same

Номер патента: US7211996B2. Автор: Keiichi Kusumoto. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-01.

Container inspection device

Номер патента: NL2032976B1. Автор: Roeland Hendriks Joseph,Ide Van Der Horst Joren,Kieft Jim. Владелец: Luo Automation B V. Дата публикации: 2024-03-21.

Device and method for inspecting air void at lead film of battery

Номер патента: US11835468B2. Автор: Young Ho Park. Владелец: Tech Dr Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11906440B2. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Ray inspection device and target inspection method

Номер патента: GB2619880A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,LIANG Jinning,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Apparatus, plant and method for inspecting flexible packages

Номер патента: EP4271977A1. Автор: Ferruccio Marino. Владелец: DACHI Srl. Дата публикации: 2023-11-08.

Auto-focus system and methods for die-to-die inspection

Номер патента: EP3025369A1. Автор: Michael J. Wright,Weston L. Sousa,Zhengcheng Lin,Wilfred L. Ghonsalves,Daniel L. Belin. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-06-01.

Auto-focus system and methods for die-to-die inspection

Номер патента: WO2015013445A1. Автор: Michael J. Wright,Weston L. Sousa,Zhengcheng Lin,Wilfred L. Ghonsalves,Daniel L. Belin. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-01-29.

Systems and methods for inspecting a machine

Номер патента: US11923096B2. Автор: Gregory Cole,Biao Zhang,Daniel Lasko,Nolan W. Nicholas,Gregory F. Rossano,Thomas Fuhlbrigge,William Eakins,Harshang Shah,Stefan Rakuff,Luiz CHEIM,Poorvi Patel,Saumya Sharma,Sanguen CHOI,Carlos W. MORATO. Владелец: Hitachi Energy Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Method and device for inspecting an object

Номер патента: US20230251211A1. Автор: Fiorenzo Parrinello,Fabrizio Pucci,Massimo Balducci. Владелец: Sacmi Cooperativa Meccanici Imola Societ A'cooperativa. Дата публикации: 2023-08-10.

Inspection tool and method for nuclear reactor fuel channel assembly

Номер патента: WO2018232508A1. Автор: Kevin DI CARLO,Jason DEADMAN,Robert William JAMIESON,John DROSSIS,Ron ROWE. Владелец: Candu Energy Inc.. Дата публикации: 2018-12-27.

System and method for inspecting components fabricated using a powder metallurgy process

Номер патента: US20240024955A1. Автор: Joseph A. Pecina. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection jig for display panel, inspection system using the same, and method for inspecting the display panel using the same

Номер патента: US20100033191A1. Автор: Sung-Kyu Lee,Ki-Seob Lee,Sang-Rock Yoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-02-11.

Obstacle sensor inspection device and method

Номер патента: US20230305162A1. Автор: Kenya Sumida. Владелец: Toyota Industries Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Inspection system and methods for inspecting an optical surface of a laser scanner

Номер патента: US20230280279A1. Автор: Fei Cai,Richard Calawa. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-09-07.

Method for inspecting an ophthalmic lens using optical coherence tomography

Номер патента: SG11201810799UA. Автор: Thomas Tonn. Владелец: NOVARTIS AG. Дата публикации: 2019-02-27.

Method for modifying high-k dielectric thin film and semiconductor device

Номер патента: US20090302433A1. Автор: Koji Akiyama,Shintaro Aoyama,Kazuyoshi Yamazaki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-12-10.

Method for producing a plurality of semiconductor lasers and semiconductor laser

Номер патента: US20240047935A1. Автор: Sven GERHARD,Lars Nähle. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-02-08.

Method for fabricating array structure of columnar capacitor and semiconductor structure

Номер патента: US20230298899A1. Автор: Jun Xia,Qiang Wan,Kangshu ZHAN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Method for fabricating array structure of columnar capacitor and semiconductor structure

Номер патента: US20230015120A1. Автор: Tao Liu,Jun Xia,Penghui Xu,Sen Li,Qiang Wan,Kangshu ZHAN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-01-19.

Cyclic Deposition Method for Thin Film Formation, Semiconductor Manufacturing Method, and Semiconductor Device

Номер патента: US20150187560A1. Автор: Jeong-Hoon Lee,Hai-Won Kim,Chang-Hun Shin,Seok-Yun Kim. Владелец: Eugene Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Method for fabricating semiconductor chip structures, semiconductor carrier and semiconductor chip structure

Номер патента: US20220359213A1. Автор: Tang-Chin HUNG. Владелец: Panelsemi Corp. Дата публикации: 2022-11-10.

Method for forming alignment keys of semiconductor structure and semiconductor structure having alignment keys

Номер патента: US20240055361A1. Автор: Tsung-Yu Yang,Shan-Shi Huang,Shin-Hung Li,Yuan Yu Chung,Che-Hua CHANG,Ruei Jhe Tsao. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-15.

Method for making isolation region of cis device, and semiconductor device structure

Номер патента: US20220199659A1. Автор: XIAO FAN,Peng Huang,Yuanyuan QUI,Zhenqiang GUO. Владелец: Hua Hong Semiconductor Wuxi Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Method for servering an epitaxially grown semiconductor body, and semiconductor chip

Номер патента: US20210217663A1. Автор: Sven GERHARD,Lars Nähle. Владелец: OSRAM OLED GmbH. Дата публикации: 2021-07-15.

Method for manufacturing semiconductor package using sacrificial layer and semiconductor package manufactured by using thereof

Номер патента: US20240096820A1. Автор: Young Lyong Kim,Hyun Soo Chung,In Hyo HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-21.

Manufacturing method for semiconductor film, photodetector element, image sensor, and semiconductor film

Номер патента: US20220393126A1. Автор: Masahiro Takata,Masashi Ono. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Method for separating epitaxial layers from growth substrates, and semiconductor device using same

Номер патента: US09882085B2. Автор: Ki Bum Nam,Joo Won Choi,A Ram Cha LEE,Yu Dae Han,Jeong Hun HEO,Choong Min Lee,Su Jin Shin. Владелец: Seoul Viosys Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Method for singulating an assemblage into semiconductor chips, and semiconductor chip

Номер патента: US09728459B2. Автор: Mathias Kaempf. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2017-08-08.

Zeolite sol and method for preparing the same, composition for forming porous film, porous film and method for forming the same, interlevel insulator film, and semiconductor device

Номер патента: US20070108593A1. Автор: Tsutomu Ogihara,Masaru Sasago,Fujio Yagihashi,Hideo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-05-17.

Composition for forming porous film, porous film and method for forming the same, interlevel insulator film, and semiconductor device

Номер патента: US20080118737A1. Автор: Tsutomu Ogihara,Masaru Sasago,Fujio Yagihashi,Hideo Nakagawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-05-22.

Method for manufacturing silicon carbide substrate, method for manufacturing semiconductor device, silicon carbide substrate, and semiconductor device

Номер патента: CA2770764A1. Автор: Shin Harada,Takeyoshi Masuda,Keiji Wada,Yasuo Namikawa,Makoto Sasaki,Hiroki Inoue,Taro Nishiguchi,Kyoko Okita,Taku Horii. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2011-12-08.

Method for producing a trench-gate semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: WO2023194244A1. Автор: Wolfgang Amadeus VITALE,Elizabeth BUITRAGO,Marco Bellini. Владелец: Hitachi Energy Switzerland AG. Дата публикации: 2023-10-12.

Group iii nitride semiconductor single crystal, method for producing the same, self-standing substrate, and semiconductor device

Номер патента: US20140070370A1. Автор: Shiro Yamazaki,Miki Moriyama. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-13.

Method for depositing si-containing film, insulator film, and semiconductor device

Номер патента: US20100061915A1. Автор: Yoshitaka Hamada. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-11.

Method for manufacturing oxide film, method for manufacturing semiconductor memory device, semiconductor device, and semiconductor memory device

Номер патента: US20230301089A1. Автор: Akira Takashima,Yusuke Nakajima,Tsunehiro Ino. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Method for manufacturing a semiconductor light-emitting device and semiconductor light-emitting device

Номер патента: US20090090923A1. Автор: Masahiro Murayama. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2009-04-09.

Method for producing a plurality of semiconductor lasers, and semiconductor laser

Номер патента: US20230420908A1. Автор: Sven GERHARD. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2023-12-28.

Method for forming sidewall in fork-shaped structure and semiconductor device with fork-shaped structure

Номер патента: EP4228008A1. Автор: Guangxing Wan,Waisum Wong. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

Method for producing core/shell-type semiconductor nanoparticles, and semiconductor nanoparticle composite

Номер патента: EP4389700A1. Автор: Takeshi Yoshimura,Makoto Kido,Hirokazu Sasaki,Takafumi Moriyama,Yuko Mitsuka,Mako Nakamura. Владелец: Shoei Chemical Inc . Дата публикации: 2024-06-26.

Polycrystalline film, method for forming polycrystalline film, laser crystallization device and semiconductor device

Номер патента: US11791160B2. Автор: Hiroshi Ikenoue,Jun Gotoh,Kaori Saito. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Method for Producing a Plurality of Semiconductor Chips and Semiconductor Chip

Номер патента: US20170309481A1. Автор: Korbinian Perzlmaier,Juergen Off,Tobias Gotschke. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2017-10-26.

Method for singulating an assemblage into semiconductor chips, and semiconductor chip

Номер патента: US20150303112A1. Автор: Mathias Kaempf. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2015-10-22.

Method for singulating an assemblage into semiconductor chips, and semiconductor chip

Номер патента: US20180047628A1. Автор: Mathias Kaempf. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-02-15.

Method for dividing a composite into semiconductor chips, and semiconductor chip

Номер патента: US20160204032A1. Автор: Mathias Kaempf. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2016-07-14.

Method for dividing a composite into semiconductor chips, and semiconductor chip

Номер патента: US9873166B2. Автор: Mathias Kaempf. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-01-23.

Method for manufacturing semiconductor memory device, semiconductor wafer and semiconductor memory device

Номер патента: US20170077107A1. Автор: Tadashi Iguchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Method for manufacturing high-heat-dissipation mixed substrate, and semiconductor structure

Номер патента: US20240079287A1. Автор: Xiaowei Xu,Xianming Chen,Gao HUANG,Benxia Huang,Juchen HUANG,Chaobiao Qin. Владелец: Zhuhai Access Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Method for manufacturing a marked single-crystalline substrate and semiconductor device with marking

Номер патента: US9048244B2. Автор: Thomas Popp. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2015-06-02.

Method for Manufacturing a Marked Single-Crystalline Substrate and Semiconductor Device with Marking

Номер патента: US20150037964A1. Автор: Thomas Popp. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2015-02-05.

Method for producing a plurality of semiconductor chips and semiconductor chip

Номер патента: US20180069147A1. Автор: Stefan Illek,Dominik Scholz,Norwin von Malm,Lutz Hoeppel,Alexander F. Pfeuffer,Isabel OTTO. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-03-08.

Methods for providing gate conductors on semiconductors and semiconductors formed thereby

Номер патента: US20060202239A1. Автор: Steven Holmes,Toshiharu Furukawa,Mark Hakey,David Horak,Charles Koburger. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-09-14.

Method for forming self-aligned double pattern and semiconductor structures

Номер патента: US12100593B2. Автор: Zhongming Liu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Method for forming three-dimensional integrated wiring structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: WO2019041956A1. Автор: Zhenyu Lu,Jun Chen,Siping Hu,Jifeng Zhu. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-03-07.

Method for producing GaN-based compound semiconductor and GaN-based compound semiconductor device

Номер патента: TW493207B. Автор: Shiro Sakai,Tao Wang. Владелец: Nitride Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2002-07-01.

Composition for curable resin, cured product of said composition, production method for said composition and said cured product, and semiconductor device

Номер патента: US20210301076A1. Автор: Yoshinori Nishitani,Masaki Minami,Tatsuki SATO. Владелец: Eneos Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

Methods for reducing vibration of semiconductor manufacturing apparatuses and semiconductor manufacturing apparatuses

Номер патента: US20240247700A1. Автор: Chien Ting Lin,Ker-Hsun LIAO,Wei-Ming Wang,Yi-Chen Ho,Chih Ping Liao,Chi-Hsun Lin,Jie-Ying YANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Method for formation of an ultra-thin film and semiconductor device containing such a film

Номер патента: US20050170531A1. Автор: Bum-Ki Moon. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2005-08-04.

Surgical apparatus and method for using the same

Номер патента: US20080147088A1. Автор: Chieh-Hsiao Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-06-19.

Stack, method for treating substrate material, temporary fixing composition, and semiconductor device

Номер патента: US20160375652A1. Автор: Hiroyuki Ishii,Katsumi Inomata,Torahiko YAMAGUCHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Semiconductor wafer, method for separating the semiconductor wafer, semiconductor chip, and semiconductor package including the semiconductor chip

Номер патента: US20220013418A1. Автор: Hyun Chul Seo. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2022-01-13.

Oxide film reaction surface control agent, method for forming oxide film by using same, and semiconductor substrate and semiconductor device manufactured therefrom

Номер патента: EP4253595A4. Автор: Seung Hyun Lee,Chang Bong Yeon,Jae Sun Jung,Deok Hyun Kim. Владелец: Soulbrain Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Resin composition and method for producing same, molding material, packaging container, and semiconductor container

Номер патента: EP4198080A4. Автор: Shinsuke Miyazawa. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Method of treatment of devices based on semiconductor and dielectric materials

Номер патента: US5997659A. Автор: Michael Lisiansky,Valentina Korchnoy. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-12-07.

Method For Preparing a GaAS Substrate For A Ferromagnetic Semiconductor, Method for Manufacturing One Such Semiconductor, Resulting Substrate and Semiconductor, And Uses Of Said Semiconductor

Номер патента: US20130168702A1. Автор: Barski André,Jamet Matthieu. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-04.

Semiconductor film composition, method for manufacturing semiconductor film composition, method for manufacturing semiconductor member, method for manufacturing processing material for semiconductor, and semiconductor device

Номер патента: IL259347A. Автор: . Владелец: Mitsui Chemicals Inc. Дата публикации: 2018-07-31.

METHOD FOR PREPARING A GaAs SUBSTRATE FOR A FERROMAGNETIC SEMICONDUCTOR, METHOD FOR MANUFACTURING ONE SUCH SEMICONDUCTOR, RESULTING SUBSTRATE AND SEMICONDUCTOR, AND USES OF SAID SEMICONDUCTOR

Номер патента: EP2609638B1. Автор: Matthieu Jamet,Andre Barski. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2014-12-03.

Fabrication methods for nano wire structure of semiconductor and fabrication methods for sensor of the same

Номер патента: KR102041830B1. Автор: 박재홍,김광희,이병주,노길선,형정환. Владелец: 한국과학기술원. Дата публикации: 2019-11-27.

Method for Producing Group III Nitride Semiconductor and Group III Nitride Semiconductor

Номер патента: US20140353804A1. Автор: Hiroshi Amano,Koji Okuno,Naoki Shibata,Takahide Oshio. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-04.

METHOD FOR ETCHING GROUP III-V SEMICONDUCTOR AND APPARATUS FOR ETCHING THE SAME

Номер патента: US20160211145A1. Автор: SAMUKAWA Seiji,GU XUN,Kikuchi Yoshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-21.

METHOD FOR MAKING CONTACT WITH A SEMICONDUCTOR AND CONTACT ARRANGEMENT FOR A SEMICONDUCTOR

Номер патента: US20140299998A1. Автор: Geinitz Eckart,Braun Gerhard,Sueske Erik. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

Composite sulfide powder and method for producing the same, compound semiconductor, and solar cell

Номер патента: JP5476336B2. Автор: 信晴 小柴,臼井　　猛,京介 堂前,英香 渋谷. Владелец: Tanaka Chemical Corp. Дата публикации: 2014-04-23.

Method for growing crystals of nitride semiconductor, and process for manufacture of semiconductor device

Номер патента: WO2010113423A1. Автор: 加藤亮,井上彰,横川俊哉,藤金正樹. Владелец: パナソニック株式会社. Дата публикации: 2010-10-07.

Method for manufacturing copper foil for semiconductor and copper foil for semiconductor using same

Номер патента: WO2023282482A1. Автор: 이종인,이이근,이대인. Владелец: 주식회사 다이브. Дата публикации: 2023-01-12.

Zeolite sol and method for preparing the same, composition for forming porous film, porous film and method for forming the same, interlevel insulator film, and semiconductor device

Номер патента: US20040091419A1. Автор: Tsutomu Ogihara,Masaru Sasago,Fujio Yagihashi,Hideo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-05-13.

Zeolite sol and method for preparing the same, composition for forming porous film, porous film and method for forming the same, interlevel insulator film, and semiconductor device

Номер патента: TW200415217A. Автор: Tsutomu Ogihara,Masaru Sasago,Fujio Yagihashi,Hideo Nakagawa. Владелец: Matsushita Electric Ind Co Ltd. Дата публикации: 2004-08-16.

Organic silica film and method for forming the same, composition for forming insulating film of semiconductor device and method for manufacturing the same, and wiring structure and semiconductor device

Номер патента: JPWO2007088908A1. Автор: 達也 山中,恭志 中川,将宏 秋山,輝一 小久保,洋平 野辺,小久保　輝一,秋山　将宏. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2009-06-25.

Method for forming three-dimensional integrated wiring structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: US20220208677A1. Автор: Zhenyu Lu,Jun Chen,Jifeng Zhu,Si Ping HU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Method for forming three-dimensional integrated wiring structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: US20200381360A1. Автор: Zhenyu Lu,Jun Chen,Jifeng Zhu,Si Ping HU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Method for forming three-dimensional integrated wiring structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: US11791265B2. Автор: Zhenyu Lu,Jun Chen,Jifeng Zhu,Si Ping HU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Method for filling polysilicon gate in semiconductor devices, and semiconductor devices

Номер патента: US20150357340A1. Автор: Chun-Min Cheng,Jung-Yi Guo. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-10.

Method for forming three-dimensional integrated wiring structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: US20190067105A1. Автор: Zhenyu Lu,Jun Chen,Jifeng Zhu,Si Ping HU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Method for forming three-dimensional integrated wiring structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: US20200266147A1. Автор: Zhenyu Lu,Jun Chen,Jifeng Zhu,Si Ping HU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-20.

Method for forming three-dimensional integrated wiring structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: US20200152515A1. Автор: Zhenyu Lu,Jun Chen,Jifeng Zhu,Si Ping HU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-14.

METHOD FOR PRODUCING GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR AND TEMPLATE SUBSTRATE

Номер патента: US20160020285A1. Автор: Ushida Yasuhisa,Okuno Koji,NAKADA Naoyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

P-TYPE OXIDE SEMICONDUCTOR, METHOD FOR FORMING P-TYPE OXIDE SEMICONDUCTOR, AND TRANSISTOR WITH THE P-TYPE OXIDE SEMICONDUCTOR

Номер патента: US20180026104A1. Автор: CHO Kyoung Ik,LEE Su Jae,Hwang Chi-Sun,CHO Sung Haeng,NAM Sooji,PI Jae-Eun. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2018-01-25.

METHOD FOR DEPOSITING A GROUP IV SEMICONDUCTOR AND RELATED SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURES

Номер патента: US20190027583A1. Автор: Tolle John,Margetis Joe. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

METHOD FOR DEPOSITING A GROUP IV SEMICONDUCTOR AND RELATED SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURES

Номер патента: US20190027605A1. Автор: Tolle John,Margetis Joe. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

METHOD FOR MANUFACTURING A CONTACT PAD, METHOD FOR MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR DEVICE USING SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20200035553A1. Автор: Hayakawa Takashi,Tanaka Takashi,Iwashita Mitsuaki,YATSUDA Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-30.

METHOD FOR PRODUCING GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR AND TEMPLATE SUBSTRATE

Номер патента: US20140167222A1. Автор: Ushida Yasuhisa,Okuno Koji,NAKADA Naoyuki. Владелец: TOYODA GOSEI CO., LTD.. Дата публикации: 2014-06-19.

METHOD FOR DEPOSITING A GROUP IV SEMICONDUCTOR AND RELATED SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURES

Номер патента: US20200083375A1. Автор: Tolle John,Margetis Joe. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-12.

METHOD FOR PRODUCING GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR, AND CRUCIBLE THEREFOR

Номер патента: US20160160381A1. Автор: Moriyama Miki,YAMAZAKI Masateru. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

METHOD FOR DEPOSITING A GROUP IV SEMICONDUCTOR AND RELATED SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURES

Номер патента: US20220310825A1. Автор: Tolle John,Margetis Joe. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

Method for Producing Group III Nitride Semiconductor and Group III Nitride Semiconductor

Номер патента: US20140353804A1. Автор: Amano Hiroshi,Shibata Naoki,Okuno Koji,OSHIO Takahide. Владелец: TOYODA GOSEI CO., LTD.. Дата публикации: 2014-12-04.

Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures

Номер патента: US11374112B2. Автор: John Tolle,Joe Margetis. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2022-06-28.

Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures

Номер патента: US10541333B2. Автор: John Tolle,Joe Margetis. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2020-01-21.

Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures

Номер патента: US11004977B2. Автор: John Tolle,Joe Margetis. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2021-05-11.

Method for manufacturing free standing nitride semiconductor and free standing semiconductor wafer using it

Номер патента: KR101034667B1. Автор: 박종철,이상욱,조학동. Владелец: 주식회사 나노케이. Дата публикации: 2011-05-16.

Method for fabricating group ⅲ nitride compound semiconductors and group ⅲ nitride compound semiconductor devices

Номер патента: KR100527075B1. Автор: 마사요시 고이케,유타 데젠,도시오 히라마쓰,세이지 나가이. Владелец: 도요다 고세이 가부시키가이샤. Дата публикации: 2005-11-08.

Method for forming fine patterns of semiconductor devices, and method for forming semiconductor devices using the same, and semiconductor devices formed by using the same

Номер патента: KR102257038B1. Автор: 이철,신석호. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-05-28.

Method for contact less stirring of semiconductor- and metallic melts in heated containers, comprises reducing temperature variations turbulently present in the melt through flow drive effect of a rotating magnetic field

Номер патента: DE102007036944A1. Автор: Ilmars Grants,Gunter Gerbeth. Владелец: Forschungszentrum Dresden Rossendorf eV. Дата публикации: 2009-02-05.

Methods for deposition of low resistivity semiconductors and fabrication of solar cells

Номер патента: CA2093707A1. Автор: Cindy Xing Qiu,Ishiang Shih,Shu Nong Qui. Владелец: Shu Nong Qui. Дата публикации: 1994-10-09.

Method for manufacturing silicon carbide substrate, method for manufacturing semiconductor device, silicon carbide substrate, and semiconductor device

Номер патента: US20110278595A1. Автор: Shin Harada,Yasuo Namikawa,Makoto Sasaki,Hiroki Inoue,Taro Nishiguchi,Kyoko Okita. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2011-11-17.

Method for producing group III nitride semiconductor and template substrate

Номер патента: US8680581B2. Автор: Koji Okuno,Yasuhisa Ushida,Naoyuki Nakada. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-25.

Method for producing integrated semiconductor apparatus, semiconductor and storage unit

Номер патента: CN1409388A. Автор: M·哈默. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2003-04-09.

Composition for curable resin, cured product of said composition, production method for said composition and said cured product, and semiconductor device

Номер патента: US11897998B2. Автор: Yoshinori Nishitani,Masaki Minami,Tatsuki SATO. Владелец: Eneos Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

EPITAXIAL SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING EPITAXIAL SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20130181327A1. Автор: MIYOSHI Makoto,ICHIMURA Mikiya,MAEHARA Sota,TANAKA Mitsuhiro. Владелец: NGK Insulators, Ltd.. Дата публикации: 2013-07-18.

Cyclic Deposition Method for Thin Film Formation, Semiconductor Manufacturing Method, and Semiconductor Device

Номер патента: US20150187560A1. Автор: LEE Jeong-Hoon,KIM Hai-Won,SHIN Chang-Hun,KIM Seok-Yun. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-02.

COMPOSITION FOR CURABLE RESIN, CURED PRODUCT OF SAID COMPOSITION, PRODUCTION METHOD FOR SAID COMPOSITION AND SAID CURED PRODUCT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20210301076A1. Автор: Minami Masaki,NISHITANI Yoshinori,SATO Tatsuki. Владелец: ENEOS CORPORATION. Дата публикации: 2021-09-30.

COMPOSITION FOR CURABLE RESIN, CURED PRODUCT OF SAID COMPOSITION, PRODUCTION METHOD FOR SAID COMPOSITION AND SAID CURED PRODUCT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20200291173A1. Автор: Minami Masaki,NISHITANI Yoshinori,SATO Tatsuki. Владелец: JXTG NIPPON OIL & ENERGY CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-17.

COMPOSITION FOR CURABLE RESIN, CURED PRODUCT OF SAID COMPOSITION, PRODUCTION METHOD FOR SAID COMPOSITION AND SAID CURED PRODUCT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20200308340A1. Автор: Minami Masaki,NISHITANI Yoshinori,SATO Tatsuki. Владелец: JXTG NIPPON OIL & ENERGY CORPORATION. Дата публикации: 2020-10-01.

COMPOSITION FOR CURABLE RESIN, CURED PRODUCT OF SAID COMPOSITION, PRODUCTION METHOD FOR SAID COMPOSITION AND SAID CURED PRODUCT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20200325270A1. Автор: Minami Masaki,NISHITANI Yoshinori,SATO Tatsuki. Владелец: JXTG NIPPON OIL & ENERGY CORPORATION. Дата публикации: 2020-10-15.

Isolation method defining active fins, method for fabricating semiconductor device using the same, and semiconductor device fabricated thereby

Номер патента: KR100763330B1. Автор: 이철,조은석,김근남. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2007-10-04.

Composition for forming porous film, porous film and method for producing the same, interlayer insulating film, and semiconductor device

Номер патента: JP3884699B2. Автор: 不二夫 八木橋,勝 笹子,吉隆 濱田,秀夫 中川. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2007-02-21.

Method for forming metal wiring for semiconductor device and semiconductor device therefore

Номер патента: KR100671558B1. Автор: 김석수. Владелец: 동부일렉트로닉스 주식회사. Дата публикации: 2007-01-19.

Base sheet for semiconductor module, method for manufacturing base sheet for semiconductor module, and semiconductor module

Номер патента: EP1063699A4. Автор: Koichiro Tsuji,Kunitoshi Yamamoto. Владелец: Nissha Printing Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-25.

Etching solution, etching power recovery agent, method for producing semiconductor substrate for solar cell, and semiconductor substrate for solar cell

Номер патента: JPWO2014010471A1. Автор: 行永 横田,斎田　利典,利典 斎田,伸 大八木,義輝 鎌田,照正 米田. Владелец: SETTSU OIL MILL., INC.. Дата публикации: 2016-06-23.

Method for manufacturing adhesive sheet for stealth dicing and semiconductor device

Номер патента: KR102478993B1. Автор: 시게유키 야마시타,코세이 후쿠모토,마사토모 나카무라. Владелец: 린텍 가부시키가이샤. Дата публикации: 2022-12-19.

Solar cell and preparation method therefor, method for processing n-type doped silicon film, and semiconductor device

Номер патента: EP3971998A1. Автор: Wei Shan,Xiaoye CHEN,Junbing Zhang. Владелец: JA Solar Technology Yangzhou Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Composition for forming porous film, porous film and method for forming the same, interlevel insulator film, and semiconductor device

Номер патента: US20040201007A1. Автор: Masaru Sasago,Fujio Yagihashi,Yoshitaka Hamada,Hideo Nakagawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2004-10-14.

Solar cell and preparation method therefor, method for processing n-type doped silicon film, and semiconductor device

Номер патента: US20220238748A1. Автор: Wei Shan,Xiaoye CHEN,Junbing Zhang. Владелец: JA Solar Technology Yangzhou Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Apparatus for stacking semiconductor chips, method for manufacturing semiconductor package using the same and semiconductor package manufactured thereby

Номер патента: US20070018295A1. Автор: Dong-Kuk Kim,Min-Ill Kim,Chang-Cheol Lee,Tae-Hoe Hwang,Jae-young Hong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-01-25.

Composition for cured resin, cured product of said composition, production method for said composition and said cured product, and semiconductor device

Номер патента: TW201925330A. Автор: 西谷佳典,南昌樹,佐藤樹生. Владелец: 日商Ｊｘｔｇ能源股份有限公司. Дата публикации: 2019-07-01.

Epitaxial substrate for semiconductor device, method for manufacturing epitaxial substrate for semiconductor device, and semiconductor device

Номер патента: US20130181327A1. Автор: Mitsuhiro Tanaka,Makoto Miyoshi,Sota Maehara,Mikiya Ichimura. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2013-07-18.

Composition for curable resin, cured product of said composition, production method for said composition and said cured product, and semiconductor device

Номер патента: EP3702390B1. Автор: Yoshinori Nishitani,Masaki Minami,Tatsuki SATO. Владелец: Eneos Corp. Дата публикации: 2023-12-27.

Oxide film reaction surface control agent, method for forming oxide film by using same, and semiconductor substrate and semiconductor device manufactured therefrom

Номер патента: EP4253595A1. Автор: Seung Hyun Lee,Chang Bong Yeon,Jae Sun Jung,Deok Hyun Kim. Владелец: Soulbrain Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Composition for curable resin, cured product of said composition, production method for said composition and said cured product, and semiconductor device

Номер патента: EP3702388B1. Автор: Yoshinori Nishitani,Masaki Minami,Tatsuki SATO. Владелец: Eneos Corp. Дата публикации: 2024-06-12.

Method for manufacturing semiconductor device, substrate treatment method, and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: TW504758B. Автор: Hisashi Nomura,Yoshinori Imai,Tadanori Yoshida,Yushin Takasawa,Hajime Karasawa. Владелец: Hitachi Int Electric Inc. Дата публикации: 2002-10-01.

Method for manufacturing semiconductor device, substrate processing apparatus, and semiconductor device

Номер патента: US20120280369A1. Автор: Tatsuyuki Saito,Katsuhiko Yamamoto,Kazuhiro Yuasa,Yoshiro Hirose,Yuji Takebayashi,Hirohisa Yamazaki,Ryota Sasajima,Hirotaka Hamamura,Shintaro Kogura. Владелец: HITACHI KOKUSAI ELECTRIC INC. Дата публикации: 2012-11-08.

Group iii nitride semiconductor single crystal, method for producing the same, self-standing substrate, and semiconductor device

Номер патента: US20140070370A1. Автор: Shiro Yamazaki,Miki Moriyama. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-13.

Electromagnetic Field Shielding Plate, Method for Manufacturing Same, Electromagnetic Field Shielding Structure, and Semiconductor Manufacturing Environment

Номер патента: US20220007556A1. Автор: Fujita Masashi,Komuro Osamu,Takahashi Masakazu,MIYANO Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-06.

SEMICONDUCTOR WAFER, METHOD FOR SEPARATING THE SEMICONDUCTOR WAFER, SEMICONDUCTOR CHIP, AND SEMICONDUCTOR PACKAGE INCLUDING THE SEMICONDUCTOR CHIP

Номер патента: US20220013418A1. Автор: SEO Hyun Chul. Владелец: SK HYNIX INC.. Дата публикации: 2022-01-13.

METHOD FOR PRODUCING A PLURALITY OF SEMICONDUCTOR CHIPS AND SEMICONDUCTOR CHIP

Номер патента: US20180012801A1. Автор: HUBER Michael,ZINI Lorenzo. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-01-11.

Method for Protecting a Surface of a Substrate and Semiconductor Device

Номер патента: US20170032964A1. Автор: Denifl Guenter,KUECK Daniel,Moennich Roland,Eigler Werner. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-02.

Method for Manufacturing a Marked Single-Crystalline Substrate and Semiconductor Device with Marking

Номер патента: US20150037964A1. Автор: Popp Thomas. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-05.

Thermally Conductive Sheet, Production Method for Thermally Conductive Sheet, Heat Dissipation Member, and Semiconductor Device

Номер патента: US20190035712A1. Автор: Aramaki Keisuke,Kanaya Hiroki,Uchida Shinichi,Uchida Shunsuke,Rishabh Gupta. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-31.

Stack, method for treating substrate material, temporary fixing composition, and semiconductor device

Номер патента: US20160049324A1. Автор: Hiroyuki Ishii,Katsumi Inomata,Youichirou Maruyama,Kousuke Tamura,Keisuke Yajima,Tooru Matsumura,Araki Wakiuchi,Torahiko YAMAGUCHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-02-18.

Method for singulating an assemblage into semiconductor chips, and semiconductor chip

Номер патента: US20180047628A1. Автор: Mathias Kaempf. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-02-15.

SUPPORT DISK FIXING APPARATUS, MANUFACTURING METHOD FOR A SEMICONDUCTOR DEVICE USING THIS APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS

Номер патента: US20140127881A1. Автор: YOSHIDA Taichi. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-05-08.

Thermally Conductive Sheet, Production Method for Thermally Conductive Sheet, Heat Dissipation Member, and Semiconductor Device

Номер патента: US20190055443A1. Автор: Aramaki Keisuke,Nomura Yu,Kanaya Hiroki,Uchida Shinichi,Uchida Shunsuke. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-21.

Method for separating epitaxial layers and growth substrates, and semiconductor device using same

Номер патента: US20150069418A1. Автор: Ki Bum Nam,Joo Won Choi,A Ram Cha LEE,Yu Dae Han,Jeong Hun HEO,Choong Min Lee,Su Jin Shin. Владелец: Seoul Viosys Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-12.

METHOD FOR FORMING THREE-DIMENSIONAL INTEGRATED WIRING STRUCTURE AND SEMICONDUCTOR STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20190067105A1. Автор: CHEN Jun,Lu Zhenyu,Zhu Jifeng,Hu Si Ping. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-02-28.

METHOD FOR FORMING THREE-DIMENSIONAL INTEGRATED WIRING STRUCTURE AND SEMICONDUCTOR STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20190067106A1. Автор: CHEN Jun,Lu Zhenyu,Zhu Jifeng,Hu Si Ping. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-02-28.

METHOD FOR FORMING THREE-DIMENSIONAL INTEGRATED WIRING STRUCTURE AND SEMICONDUCTOR STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20190067196A1. Автор: CHEN Jun,Lu Zhenyu,Zhu Jifeng,Hu Si Ping. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-02-28.

METHOD FOR PRODUCING A PLURALITY OF SEMICONDUCTOR CHIPS AND SEMICONDUCTOR CHIP

Номер патента: US20180069147A1. Автор: Von Malm Norwin,Hoeppel Lutz,Illek Stefan,Scholz Dominik,Pfeuffer Alexander F.,Otto Isabel. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-08.

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, SEMICONDUCTOR WAFER AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE

Номер патента: US20170077107A1. Автор: Iguchi Tadashi. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2017-03-16.

METHOD FOR MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING ELEMENT AND SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING ELEMENT MANUFACTURED THEREBY

Номер патента: US20140183589A1. Автор: KIM Sung Tae,HAN Jae Ho,KIM Je Won,Lee Jong Ho,Chae Seung Wan. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-07-03.

METHOD FOR DIVIDING A COMPOSITE INTO SEMICONDUCTOR CHIPS, AND SEMICONDUCTOR CHIP

Номер патента: US20180117706A1. Автор: KAEMPF Mathias. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

SUBSTRATE WITH SILICON CARBIDE FILM, METHOD FOR PRODUCING SUBSTRATE WITH SILICON CARBIDE FILM, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20160126321A1. Автор: WATANABE Yukimune. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-05.

COMPOSITION OF ETCHANT, METHOD FOR FORMING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20220290049A1. Автор: HUANG Shang-Chen,HSIEH Cheng-Huan. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

METHOD FOR FORMING THREE-DIMENSIONAL INTEGRATED WIRING STRUCTURE AND SEMICONDUCTOR STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20200152515A1. Автор: CHEN Jun,Lu Zhenyu,Zhu Jifeng,Hu Si Ping. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-05-14.

Method for separating epitaxial layers from growth substrates, and semiconductor device using same

Номер патента: US20160172539A1. Автор: Ki Bum Nam,Joo Won Choi,A Ram Cha LEE,Yu Dae Han,Jeong Hun HEO,Choong Min Lee,Su Jin Shin. Владелец: Seoul Viosys Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-16.

JOINTING MATERIAL, FABRICATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE JOINTING MATERIAL, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20190165234A1. Автор: Furusawa Akio,Kitaura Hidetoshi,Hine Kiyohiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-30.

METHOD FOR SERVERING AN EPITAXIALLY GROWN SEMICONDUCTOR BODY, AND SEMICONDUCTOR CHIP

Номер патента: US20210217663A1. Автор: Gerhard Sven,NÄHLE Lars. Владелец: OSRAM OLED GmbH. Дата публикации: 2021-07-15.

METHOD FOR DIVIDING A COMPOSITE INTO SEMICONDUCTOR CHIPS, AND SEMICONDUCTOR CHIP

Номер патента: US20160204032A1. Автор: KAEMPF Mathias. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-14.

THERMALLY CONDUCTIVE SHEET, PRODUCTION METHOD FOR THERMALLY CONDUCTIVE SHEET, HEAT DISSIPATION MEMBER, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20200251402A1. Автор: Aramaki Keisuke,Kanaya Hiroki,Uchida Shinichi,Uchida Shunsuke,Rishabh Gupta. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

GAS SUPPLY METHOD FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS, GAS SUPPLY SYSTEM, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS

Номер патента: US20140361102A1. Автор: OGAWA Hiroyuki,Hatoh Hideyuki. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-11.

METHOD FOR FORMING THREE-DIMENSIONAL INTEGRATED WIRING STRUCTURE AND SEMICONDUCTOR STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20200266147A1. Автор: CHEN Jun,Lu Zhenyu,Zhu Jifeng,Hu Si Ping. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-08-20.

METHOD FOR SINGULATING AN ASSEMBLAGE INTO SEMICONDUCTOR CHIPS, AND SEMICONDUCTOR CHIP

Номер патента: US20150303112A1. Автор: KAEMPF Mathias. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-22.

Method for Producing a Plurality of Semiconductor Chips and Semiconductor Chip

Номер патента: US20170309481A1. Автор: Perzlmaier Korbinian,Off Juergen,Gotschke Tobias. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

Gas supply device, method for controlling gas supply device, load port, and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20180315632A1. Автор: Yasushi Taniyama,Toshimitsu Morihana. Владелец: Sinfonia Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-01.

Method for filling polysilicon gate in semiconductor devices, and semiconductor devices

Номер патента: US20150357340A1. Автор: GUO JUNG-YI,CHENG CHUN-MIN. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-10.

METHOD FOR PACKAGING AT LEAST ONE SEMICONDUCTOR COMPONENT AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20180346327A1. Автор: KRAUSS Andreas,Mingirulli Nicola,Bonasewicz Robert. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

METHOD FOR PRODUCING A PLURALITY OF SEMICONDUCTOR CHIPS AND SEMICONDUCTOR CHIP

Номер патента: US20200350207A1. Автор: Höppel Lutz,SCHWARZ Thomas,Richter Jens,Baumheinrich Thorsten Frank. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

STACK, METHOD FOR TREATING SUBSTRATE MATERIAL, TEMPORARY FIXING COMPOSITION, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20160375652A1. Автор: Ishii Hiroyuki,YAMAGUCHI Torahiko,Inomata Katsumi. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2016-12-29.

Method for forming three-dimensional integrated wiring structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: US20200381360A1. Автор: Zhenyu Lu,Jun Chen,Jifeng Zhu,Si Ping HU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Method for manufacturing oxide dielectric device, and memory and semiconductor device usign the device

Номер патента: EP0957516A1. Автор: Takaaki Suzuki,Toshihide Room 204 Royal Park NABATAME,Kazutoshi 1993-42 Ohaza Fukuda HIGASHIYAMA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-11-17.

Method for forming wiring layer of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: JP3435194B2. Автор: 相忍 李,吉鉉 崔. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-08-11.

Method for manufacturing oxide dielectric device, and memory and semiconductor device usign the device

Номер патента: KR100315264B1. Автор: 스즈키다카아키,나바타메도시히데,히가시야마가즈토시. Владелец: 가나이 쓰도무. Дата публикации: 2001-11-26.

Method for manufacturing air gap-containing semiconductor device and semiconductor device obtained

Номер патента: JP2005522049A. Автор: タウンセンド，ポール，エイチ．，３世,フォレスター，ケネス，エル．. Владелец: ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレイティド. Дата публикации: 2005-07-21.

Method for forming metal wiring in semiconductor device and semiconductor device therefore

Номер патента: KR100591185B1. Автор: 김석수. Владелец: 동부일렉트로닉스 주식회사. Дата публикации: 2006-06-19.

Thermally conductive sheet, production method for thermally conductive sheet, heat dissipation member, and semiconductor device

Номер патента: KR102151931B1. Автор: 유 노무라,게이스케 아라마키,신이치 우치다,슌스케 우치다,šœ스케 우치다,히로키 가나야. Владелец: 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤. Дата публикации: 2020-09-04.

Method for detecting transfer shift of transfer mechanism and semiconductor processing equipment

Номер патента: KR100832925B1. Автор: 와타루 마치야마. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2008-05-27.

Etchant composition, method for forming semiconductor device using the same, and semiconductor device

Номер патента: CN115074131A. Автор: 黄上臻,谢承寰. Владелец: Lee Chang Yung Chemical Industry Corp. Дата публикации: 2022-09-20.

METHOD FOR THE MANUFACTURE OF A SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURED FROM THE KIND

Номер патента: FR2349955A1. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1977-11-25.

METHOD FOR PREVENTING THE CURVATURE OF SEMICONDUCTOR LAYERS AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORMED THEREBY

Номер патента: FR2813144A1. Автор: Dong Ho Ahn,Ho Kyu Kang,Geum Jong Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-02-22.

Methods for forming vias of varying lateral dimensions and semiconductor components and assemblies including same

Номер патента: US20060046471A1. Автор: Kyle Kirby,Warren Farnworth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-02.

Thermally conductive sheet, production method for thermally conductive sheet, heat dissipation member, and semiconductor device

Номер патента: EP3409728A1. Автор: Gupta Rishabh,Shunsuke Uchida,Shinichi Uchida,Hiroki Kanaya,Keisuke Aramaki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2018-12-05.

Electromagnetic field shielding plate, method for manufacturing same, electromagnetic field shielding structure, and semiconductor manufacturing environment

Номер патента: WO2020148796A1. Автор: 修 小室,一郎 宮野,高橋　正和,真志 藤田. Владелец: 株式会社日立ハイテク. Дата публикации: 2020-07-23.

Method for packaging at least one semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: DE102015223399A1. Автор: Andreas Krauss,Nicola Mingirulli,Robert Bonasewicz. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-06-01.

Manufacturing methods for semiconductor devices, power converters, lead frames, and semiconductor devices

Номер патента: JP6787118B2. Автор: 泰 中島,純司 藤野,藤野　純司,中島　泰,悠矢 清水. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-11-18.

Method for manufacturing oxide dielectric device, and memory and semiconductor device usign the device

Номер патента: WO1998008255A1. Автор: Takaaki Suzuki,Toshihide Nabatame,Kazutoshi Higashiyama. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 1998-02-26.

Flexible printed circuit board and method for manufacturing the flexible printed circuit board and semiconductor device

Номер патента: KR100819195B1. Автор: 켄 사카타. Владелец: 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2008-04-07.

Method for forming metal line with oxidation layer and semiconductor device providing with said metal line

Номер патента: KR100664865B1. Автор: 황상일. Владелец: 동부일렉트로닉스 주식회사. Дата публикации: 2007-01-03.

METHOD FOR CONTRACTING SEMICONDUCTOR MATERIAL WITH CONTACT LAYER AND SEMICONDUCTOR COMPONENT OBTAINED

Номер патента: FR2994022A1. Автор: Thomas Suenner. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2014-01-31.

Method for isolating areas of an integrated circuit and semiconductor device with an integrated circuit

Номер патента: DE19840385C2. Автор: Eugene Disimone,Pramjit Singh. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2001-03-08.

Gas supply method for semiconductor manufacturing device, gas supply system and semiconductor manufacturing device

Номер патента: JP2013197183A. Автор: Hiroyuki Ogawa,裕之 小川,Hideyuki Hanefuji,秀幸 羽藤. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2013-09-30.

Metal thin film precursor composition, method for forming thin film by using same, and semiconductor substrate manufactured therefrom

Номер патента: WO2022186644A1. Автор: 정재선,연창봉,남지현. Владелец: 솔브레인 주식회사. Дата публикации: 2022-09-09.

Resin composition and method for producing same, molding material, packaging container, and semiconductor container

Номер патента: WO2022034888A1. Автор: 慎介 宮澤. Владелец: 日本ゼオン株式会社. Дата публикации: 2022-02-17.

Method for mounting semiconductor element to circuit board, and semiconductor device

Номер патента: EP1175138B1. Автор: Hiroyuki Otani,Yoshihiko Yagi. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2005-08-03.

Method for forming isolation area of semiconductor device and semiconductor device thereby

Номер патента: KR100675892B1. Автор: 지연혁,김형균,김재수,은용석. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2007-02-02.

Substrate with silicon carbide film, method for producing substrate with silicon carbide film, and semiconductor device

Номер патента: US9362368B2. Автор: Yukimune Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-06-07.

Method for extending InP semiconductor on silicon substrate and semiconductor device manufactured by same

Номер патента: CN110517948B. Автор: 刘新宇,刘洪刚,常虎东,孙兵,苏永波,丁芃,金智,翟明龙. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2021-12-21.

Single crystal silicon carbide substrate, method for manufacturing single crystal silicon carbide substrate, and semiconductor laser

Номер патента: JP6491784B1. Автор: 久 青木,英昭 竹盛,青木　久,徹 板垣. Владелец: Hitachi Power Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-27.

Method for processing parts in semiconductor reaction chamber and semiconductor reaction chamber

Номер патента: CN114196998A. Автор: 郑旭东,吴凤丽,杨华龙. Владелец: Piotech Inc. Дата публикации: 2022-03-18.

Apparatus and method for producing a single crystal, single crystal and semiconductor wafer

Номер патента: DE102006002682A1. Автор: Laszlo Dipl.-Chem. Dr. Fabry,Gunter Strebel,Hans Dipl.-Phys. Dr. Oelkrug. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2007-08-02.

Method for treating an oxygen-containing semiconductor wafer, and semiconductor component

Номер патента: CN103943672A. Автор: A.莫德,H.-J.舒尔泽,H.斯特拉克. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2014-07-23.

Gas supply method for semiconductor manufacturing apparatus, gas supply system and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: KR102039759B1. Автор: 히로유키 오가와,히데유키 하토. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-11-01.

Electromagnetic field shielding plate, method for manufacturing same, electromagnetic field shielding structure, and semiconductor manufacturing environment

Номер патента: TW202028478A. Автор: 宮野一郎,小室修,高橋正和,藤田志. Владелец: 日商日立全球先端科技股份有限公司. Дата публикации: 2020-08-01.

Thermally conductive sheet, method for producing the same, heat dissipation member, and semiconductor device

Номер патента: TWI670464B. Автор: 金谷紘希,荒卷慶輔,大門正英. Владелец: 日商迪睿合股份有限公司. Дата публикации: 2019-09-01.

Method for detecting transfer shift of transfer mechanism and semiconductor processing equipment

Номер патента: CN1934692A. Автор: 町山弥. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-03-21.

Method for processing the surface of heat sink and semiconductor package using it

Номер патента: KR0180604B1. Автор: 이원균,신원선. Владелец: 암코테크놀로지 아이엔씨.. Дата публикации: 1999-03-20.

Method for producing a plurality of semiconductor chips and semiconductor chip

Номер патента: DE102017125276A1. Автор: Jens Richter,Thomas Schwarz,Lutz Höppel,Thorsten Frank Baumheinrich. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2019-05-02.

Resin composition and method for producing same, molding material, packaging container, and semiconductor container

Номер патента: TW202216884A. Автор: 宮澤慎介. Владелец: 日商日本瑞翁股份有限公司. Дата публикации: 2022-05-01.

The method for crystallising of metal oxide semiconductor layer and semiconductor structure

Номер патента: CN106252203A. Автор: 叶家宏. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2016-12-21.

Thermally conductive sheet, production method for thermally conductive sheet, heat dissipation member, and semiconductor device

Номер патента: KR102245167B1. Автор: 게이스케 아라마키,신이치 우치다,슌스케 우치다,šœ스케 우치다,히로키 가나야,굽타 리샤브. Владелец: 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤. Дата публикации: 2021-04-28.

Method for forming fine particle array on substrate and semiconductor element

Номер патента: WO2005117126A1. Автор: Nozomu Matsukawa,Shigeo Yoshii,Ichiro Yamashita,Michihito Ueda. Владелец: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2005-12-08.

Method for mounting semiconductor element to circuit board, and semiconductor device

Номер патента: TW398045B. Автор: Hiroyuki Otani,Yoshihiko Yagi. Владелец: Matsushita Electric Ind Co Ltd. Дата публикации: 2000-07-11.

Method for improving a quality of dielectric layer and semiconductor device

Номер патента: US6548426B1. Автор: Kazuo Maeda,Setsu Suzuki. Владелец: Canon Marketing Japan Inc. Дата публикации: 2003-04-15.

Method for detecting transfer shift of transfer mechanism and semiconductor processing equipment

Номер патента: CN100440475C. Автор: 町山弥. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-12-03.

Method for forming three-dimensional integrated wiring structure and semiconductor structure thereof

Номер патента: WO2019041890A1. Автор: Zhenyu Lu,Jun Chen,Siping Hu,Jifeng Zhu. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-03-07.

Method for improving a quality of dielectric layer and semiconductor device

Номер патента: EP1081755A3. Автор: Setsu Semiconductor Process Lab. Co. Ltd. Suzuki,Kazuou Semiconductor Process Lab. Co. Ltd. Maeda. Владелец: Canon Marketing Japan Inc. Дата публикации: 2001-11-07.

Method for mounting semiconductor element to circuit board, and semiconductor device

Номер патента: KR100395444B1. Автор: 오타니히로유키,야기요시히코. Владелец: 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2003-08-21.

Method for creating a pattern in a material and semiconductor structure processed therewith

Номер патента: EP1577941A2. Автор: Greja Johanna Adriana Maria Verheijden,Johannes Van Wingerden,Pascal Henri Leon Bancken. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2005-09-21.

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE COMPRISING POROUS SILICON, AND SEMICONDUCTOR SUBSTRATE

Номер патента: FR2977070A1. Автор: Oleg Kononchuk,Christophe Figuet. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2012-12-28.

Method for manufacturing substrate processing device, ceiling heater and semiconductor device

Номер патента: WO2018100850A1. Автор: 周平 西堂,村田　等,哲也 小杉. Владелец: 株式会社日立国際電気. Дата публикации: 2018-06-07.

Metal thin-film precursor composition, method for forming thin film using the same, and semiconductor substrate prepared therefrom

Номер патента: KR20220125188A. Автор: 정재선,연창봉,남지현. Владелец: 솔브레인 주식회사. Дата публикации: 2022-09-14.

Method for forming through-electrode of interposer substrate, and semiconductor package including interposer substrate

Номер патента: WO2014182120A1. Автор: 전인균,조수제. Владелец: 주식회사 옵토레인. Дата публикации: 2014-11-13.

Method for manufacturing trench with thick insulating bottom and semiconductor device thereof

Номер патента: WO2011143836A1. Автор: 苏冠创. Владелец: 香港商莫斯飞特半导体有限公司. Дата публикации: 2011-11-24.

Method for packaging at least one semiconductor component, and semiconductor device

Номер патента: TW201722842A. Автор: 安德烈亞斯 克勞斯,尼可拉 閔吉魯力,羅伯特 波納瑟威克茲. Владелец: 羅伯特博斯奇股份有限公司. Дата публикации: 2017-07-01.

Method for forming sidewall in fork-shaped structure and semiconductor device with fork-shaped structure

Номер патента: EP4228008A4. Автор: Guangxing Wan,Waisum Wong. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Method for manufacturing semiconductor device, resin sealing device, and semiconductor device

Номер патента: TW201241976A. Автор: Masanori Koga. Владелец: Asahi Engineering K K. Дата публикации: 2012-10-16.

Apparatus for manufacturing semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, inspection apparatus for semiconductor device, and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20020158647A1. Автор: Masaaki Sugimoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-10-31.

Nitride semiconductor laminate, method for manufacturing nitride semiconductor laminate, method for manufacturing semiconductor laminate, and method for inspecting semiconductor laminate

Номер патента: US20190148247A1. Автор: Fumimasa Horikiri. Владелец: Sciocs Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-16.

Method for manufacturing semiconductor laser device and method for inspecting semiconductor laser bar

Номер патента: US20090053838A1. Автор: Keiji Ito,Takayuki Kashima,Kouji Makita. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-02-26.

Device and method for inspecting containers in a cleaning facility

Номер патента: ZA202300835B. Автор: Jean-Claude Waeldin. Владелец: SIDEL PARTICIPATIONS. Дата публикации: 2024-08-28.

Method for inspecting semiconductor circuit pattern

Номер патента: WO2001067508A1. Автор: Young Il Jang,Willy Eom. Владелец: Sambon Tlg Co., Ltd.. Дата публикации: 2001-09-13.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Apparatus and method for heating plastics material preforms with inspection of the holding devices

Номер патента: US20240316832A1. Автор: Michael Eifler. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-09-26.

System and method for inspecting poultry slaughter products

Номер патента: US20240276993A1. Автор: Engelbertus Johannes Jacobus TEURLINX,Richard Jozef DE SCHUTTER,Stefan Theodorus Petronella ARTS,Allard Emile Bernardus Martinet. Владелец: Marel Poultry BV. Дата публикации: 2024-08-22.

System and method for inspecting poultry slaughter products

Номер патента: US20240276995A1. Автор: Engelbertus Johannes Jacobus TEURLINX,Richard Jozef DE SCHUTTER,Stefan Theodorus Petronella ARTS,Allard Emile Bernardus Martinet. Владелец: Marel Poultry BV. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection apparatus and method for inspecting a sheet in a press

Номер патента: EP3197615A1. Автор: Stefano Bergami,Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2017-08-02.

Method for Manufacturing Battery, Battery Manufactured by The Method, and Method for Inspecting Battery

Номер патента: US20090233174A1. Автор: Kazuya Okabe,Satoshi Yokota,Takahiro Itagaki,Tomonori Kishimoto,Shuichi Izuchi. Владелец: GS Yuasa Corp. Дата публикации: 2009-09-17.

Method and apparatus for inspecting welding zone, system and method for controlling welding process

Номер патента: RU2312745C2. Автор: Пер ХЕНРИКСОН,Пер ХЕНРИКСОН (SE). Владелец: Вольво Аэро Корпорейшн. Дата публикации: 2007-12-20.

System and method for encrypted disk inspection utilizing disk cloning techniques

Номер патента: US12095912B2. Автор: Yaniv Shaked,Yinon COSTICA,Ami LUTTWAK,Roy REZNIK,Daniel Hershko Shemesh,Yarin MIRAN,Eyal Moscovici. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

System and method for disk inspection utilizing disk cloning techniques

Номер патента: US20240372720A1. Автор: Yinon COSTICA,Ami LUTTWAK,Roy REZNIK,Daniel Hershko Shemesh,Yarin MIRAN. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Systems and methods for preemptive dns resolution

Номер патента: EP2517443A1. Автор: Mark Watson,Lorenzo Vicisano. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-10-31.

Systems and methods for preemptive dns resolution

Номер патента: WO2011084820A1. Автор: Mark Watson,Lorenzo Vicisano. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2011-07-14.

Method for fabricating a semiconductor device and apparatus for inspecting a semiconductor

Номер патента: WO2005086211A1. Автор: Yasunobu Tagusa. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2005-09-15.

System, method and apparatus for providing electromagnetic variable exciter system for inspection of ferrous material

Номер патента: US12129027B1. Автор: Jacob Lahmann. Владелец: Valmont Industries Inc. Дата публикации: 2024-10-29.

Method for preparation of sunflower seeds for extraction of oil

Номер патента: RU2602291C1. Автор: Валентин Витальевич Деревенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кубанский государственный технологический университет" (ФГБОУ ВО "КубГТУ"). Дата публикации: 2016-11-20.

A method for the inspection of bonding patterns of packages for products

Номер патента: EP4144509A1. Автор: Anselmo CICCHITTI. Владелец: Fameccanica Data SpA. Дата публикации: 2023-03-08.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: WO2021233584A1. Автор: Dieter Winkler,Bernd Wöllert,Birgit Schabinger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH. Дата публикации: 2021-11-25.

Transport system for transporting a green tire and method for inspecting a green tire

Номер патента: WO2024215195A1. Автор: Evert Doppenberg,Antonius Willibrordus Joseph Stout. Владелец: VMI HOLLAND B.V.. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection method for a recording head, inspection apparatus for a recording head, and recording apparatus

Номер патента: US20070291069A1. Автор: Makoto Shihoh,Takatsuna Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2007-12-20.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: EP4154291A1. Автор: Dieter Winkler,Bernd Wöllert,Birgit Schabinger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-03-29.

Systems and methods for coating a substrate

Номер патента: US20210195754A1. Автор: Stephane Etienne,Ronny Franken,Michel VAN DE VIJVER,Marc Knippenberg. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Robot device, and method for inspection of components of a belt conveyor

Номер патента: AU2019268743B2. Автор: Ramon Romankevicius Costa,Gustavo Medeiros Freitas,Filipe Augusto Santos Rocha,Marcos Paulo Torre,Gabriel Carvalho Garcia,Fernando Cesar Lizarralde,Alex Fernandes Neves,João Carlos Espiúca Monteiro,André Stanzani Franca,Felipe Ribeiro Da Fonseca. Владелец: Universidade Federal do Rio de Janeiro UFRJ. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for the inspection of bonding patterns of packages for products

Номер патента: US20230077208A1. Автор: Anselmo CICCHITTI. Владелец: Fameccanica Data SpA. Дата публикации: 2023-03-09.

Device for inspecting hollow-body cavity

Номер патента: EP1980199A3. Автор: Masato Tanaka,Tetsuya Nakanishi,Masaaki Hirano,Toshiaki Okuno. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2012-12-19.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: US20190096630A1. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2019-03-28.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: WO2016076718A2. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2016-05-19.

Machine and method for filling cartridges for aerosol-generating devices

Номер патента: US11365018B2. Автор: Luca Federici,Luca Lanzarini,Luca Testoni,Catello Sorrentino,Gabriele NEVA,Massimo CAVAGNI. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2022-06-21.

Machine and method for filling cartridges for aerosol-generating devices

Номер патента: WO2019142040A1. Автор: Luca Federici,Luca Lanzarini,Luca Testoni,Catello Sorrentino,Gabriele NEVA,Massimo CAVAGNI. Владелец: G.D S.p.A.. Дата публикации: 2019-07-25.

Method and apparatus for inspection of compressed data packages

Номер патента: EP2147539A1. Автор: Michael S. Berger,Brian Mortensen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2010-01-27.

Inspection device for inspecting the position of trademark on integrated circuit

Номер патента: US20030111724A1. Автор: Ming-Lang Tsai,Chen-Ping Su,Yung-Yuan Lee. Владелец: Orient Semiconductor Electronics Ltd. Дата публикации: 2003-06-19.

Apparatus and method for inspecting droplet discharge characteristics of ink-jet printer head

Номер патента: WO2008060076A1. Автор: Joon-Hyung Kim. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2008-05-22.

Battery module and method for inspecting the battery module

Номер патента: US20240266625A1. Автор: Osamu Kubota,Hirofumi Takahashi,Yoshitaka WATAHIKI. Владелец: Vehicle Energy Japan Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Method for inspecting a specimen and charged particle multi-beam device

Номер патента: US09922796B1. Автор: Jürgen Frosien,Pieter Kruit. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240098363A1. Автор: Yosuke Tanaka,Shoji Matsuda,Yasuhiro Okuno,Kotaro Nakamoto,Sukeyuki Shinotsuka,Shunsuke Torigai,Daiki KUREI,Koki Isobe. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Retail produce box and method for selling a variety of produce therein

Номер патента: WO2011040976A1. Автор: Thomas I. Corso. Владелец: Corso Thomas I. Дата публикации: 2011-04-07.

Oil-Based Ink Composition For Ink Jet Recording And Method For Inspecting It

Номер патента: US20090030121A1. Автор: Kazuhiko Hara,Yukio Sugita,Mitsuyoshi Tamura,Mitsuteru Yamada,Fumie Yamazaki,Takashi Kozuchi. Владелец: Inctec Inc. Дата публикации: 2009-01-29.

Method and machine for inspecting the packaging of products

Номер патента: EP4434898A1. Автор: Luca Lanzarini,Giampaolo Gianese. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-09-25.

Method and machine for inspecting the packaging of products

Номер патента: US20240317445A1. Автор: Luca Lanzarini,Giampaolo Gianese. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-09-26.

Apparatus for inspection of semiconductor wafers and masks using a low energy electron microscope with two illuminating beams

Номер патента: EP1290430A1. Автор: David L. Adler,Lee Veneklasen,Matthew Marcus. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-03-12.

Apparatus for inspection of semiconductor wafers and masks using a low energy electron microscope with two illuminating beams

Номер патента: EP1290430A4. Автор: David L Adler,Lee Veneklasen,Matthew Marcus. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2007-03-07.

Apparatus for inspection of semiconductor wafers and masks using a low energy electron micoscope with two illuminating beams

Номер патента: WO2001088514A1. Автор: David L. Adler,Lee Veneklasen,Matthew Marcus. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2001-11-22.

Method for inspecting whether a printhead of a printer conforms to a specification

Номер патента: US20060017763A1. Автор: Po-Chin Yang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-26.

Method and system for inspecting and separating batteries

Номер патента: EP4391144A1. Автор: Young Ho Jung,Chan Soo AHN,Yeong Kyun KO,Si Won JEON. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

System and method for high throughput defect inspection in a charged particle system

Номер патента: EP4118675A1. Автор: Long Ma,Zhonghua Dong,Te-Yu Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-18.

Method and device for inspecting and grading fuel elements

Номер патента: RU2261489C2. Автор: Е.А. Филиппов,А.Н. Петров,А.М. Лузин,В.И. Батуев. Владелец: Открытое акционерное общество "Новосибирский завод химконцентратов". Дата публикации: 2005-09-27.

Nitride semiconductor laminate, method for manufacturing nitride semiconductor laminate, method for manufacturing semiconductor laminate, and method for inspecting semiconductor laminate

Номер патента: US11508629B2. Автор: Fumimasa Horikiri. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-22.

Equipment for inspecting wind turbines of an offshore wind farm and associated method

Номер патента: WO2024132902A1. Автор: Jean-Christophe Raboin,Guillaume Clement. Владелец: TOTALENERGIES ONETECH. Дата публикации: 2024-06-27.

Substrate treating apparatus and method for inspecting treatment liquid nozzle

Номер патента: US20190111450A1. Автор: Kwangsup Kim. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-18.

System and method for inspecting a mower

Номер патента: US20060277583A1. Автор: Luis Claudio. Владелец: Sears Brands LLC. Дата публикации: 2006-12-07.

Apparatus and method for inspecting a surface of a sample

Номер патента: EP2864997A1. Автор: Pieter Kruit,Yan Ren,Ali Mohammadi Gheidari. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2015-04-29.

Substrate treating apparatus and method for inspecting treatment liquid nozzle

Номер патента: US10985007B2. Автор: Kwangsup Kim. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Fan clutch system and method for accessing components of the fan clutch system

Номер патента: US20140209427A1. Автор: Craig M. Swanson,Thomas M. Jagger. Владелец: Kit Masters Inc. Дата публикации: 2014-07-31.

Fan clutch system and method for accessing components of the fan clutch system

Номер патента: US09853531B2. Автор: Craig M. Swanson,Thomas M. Jagger. Владелец: Kit Masters Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

Method for preparing water quality profile, method for inspecting separation membrane module, and water treatment apparatus

Номер патента: US12138593B2. Автор: Hiroshi Hamada,Masahide Taniguchi,Kazunori Tomioka. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-11-12.

Method and apparatus for inspecting vanes in a rotary pump

Номер патента: US20020098099A1. Автор: Timothy Henderson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-25.

Method for manufacturing de-powder device for piping, and method for installing same

Номер патента: US12024771B2. Автор: Gi Nam KIM. Владелец: Baron Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Method and apparatus for inspecting vanes in a rotary pump

Номер патента: US20030012671A1. Автор: Timothy Henderson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-16.

System and method for electroforming a component

Номер патента: GB2624539A. Автор: KUO Pei-Hsin,James Nieters Edward. Владелец: Unison Industries LLC. Дата публикации: 2024-05-22.

Apparatus and methods for inspecting and cleaning subsea flex joints

Номер патента: US20200063528A1. Автор: Stuart Douglas PARTRIDGE,Christopher Eric Angel,Eric Lee Harden,Andrew J. Guinn. Владелец: BP Corp North America Inc. Дата публикации: 2020-02-27.

Systems and methods for signal electron detection in an inspection apparatus

Номер патента: US20230298851A1. Автор: Bruno La Fontaine,Chien-Hung Chen,Long Ma,Datong ZHANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-09-21.

Method for producing functional film, apparatus for producing functional film, and method for producing film

Номер патента: US20170179452A1. Автор: Jian Wang,Koichiro Watanabe. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-22.

Refrigerator and controlling method for same

Номер патента: EP4414644A1. Автор: Sunggu Kang,Jin Jeong,Kwanyeol LEE,Bongsu SON,Yongsun SONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-14.

System and method for inspecting height and thermal information

Номер патента: US20240351136A1. Автор: Niall O'DOWD. Владелец: Additive Monitoring Inc dba Phase3d. Дата публикации: 2024-10-24.

Method for manufacturing contact windows with a reduced size for semiconductor devices

Номер патента: RU2767484C1. Автор: Самвел Грантович Тадевосян,Андрей Григорьевич Шелегеда,Михаил Валентинович Хохлов. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Монолит". Дата публикации: 2022-03-17.

Microcomplex for application in photoepilation, method for production thereof and composition therewith

Номер патента: RU2681215C2. Автор: МИГЕЛЬ Игнасио ДЕ,Ромен КИДАНТ. Владелец: Институсио Каталана Де Ресерка И Эстудис Авансатс. Дата публикации: 2019-03-06.

Method for producing calcium sulphide from phosphogypsum

Номер патента: RU2767529C1. Автор: Нина Петровна Шабельская,Олег Александрович Меденников,Марина Николаевна Астахова,Галина Михайловна Чернышёва,Николай Николаевич Чибинёв,Елена Александровна Яковенко. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М.И. Платова". Дата публикации: 2022-03-17.

Systems and methods for harvesting, storing, and implanting hair grafts

Номер патента: CA2790776C. Автор: Clifford A. Oostman, Jr.. Владелец: Restoration Robotics Inc. Дата публикации: 2016-12-13.

Inspection method for semiconductor laser device and inspection device for semiconductor laser device

Номер патента: US20220376465A1. Автор: Akio SHIRASAKI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Integrated semiconductor and transition-metal oxide nanostructures and methods for preparing same

Номер патента: WO2008073529A3. Автор: Rahul Sabu Joseph,Jonathan E Spanier,Stephen S Nonnenmann. Владелец: Stephen S Nonnenmann. Дата публикации: 2008-09-25.

Systems and methods for refurbishment of motor generators

Номер патента: WO2024118669A1. Автор: Nicholas J. BANKUS,Joel S. GALLES,Alexander R.N. READ,Derek L. MIKESELL. Владелец: The United States of America as represented by the Secretary of the Navy. Дата публикации: 2024-06-06.

Multifunctional unmanned aerial vehicle for inspection and cleaning of high-voltage wires

Номер патента: LU501937B1. Автор: YONG Li,JIANG Liu,Yuan Chen,Hao Xu,Bin Jiang,Xi Zhang,Fusheng PAN,Xiaoyue Zhang,Jiajun Huang,Yifei Xu,Yuanjian Yang,Weiwei Ran,Xianhua CHEN,Yuyan Xie,Zhen Ang,Weirang Xu. Владелец: Chongqing Vocational Inst Eng. Дата публикации: 2022-10-26.

Apparatus and method for secondary electron emission microscope

Номер патента: US20030205669A1. Автор: David Walker,David Adler,Fred Babian,Travis Wolfe. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-11-06.

Apparatus and method for secondary electron emission microscope

Номер патента: WO1999023684A9. Автор: David J Walker,David A Adler,Fred Babian,Travis Wolfe. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 1999-08-12.

Apparatus and method for secondary electron emission microscope

Номер патента: WO1999023684A1. Автор: David J. Walker,David A. Adler,Fred Babian,Travis Wolfe. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 1999-05-14.

Apparatus and method for secondary electron emission microscope

Номер патента: EP1029340A1. Автор: David J. Walker,David A. Adler,Fred Babian,Travis Wolfe. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2000-08-23.

Method for controling friction in friction pairs

Номер патента: RU2639745C1. Автор: Сергей Николаевич Григорьев,Александр Александрович Шарц,Аркадий Михайлович Мандель,Вадим Борисович Ошурко,Георгий Игнатьевич Соломахо. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный технологический университет "СТАНКИН" (ФГБОУ ВО "МГТУ "СТАНКИН"). Дата публикации: 2017-12-22.

Apparatus and method for assembling shelving units

Номер патента: EP1965632A1. Автор: Dirk Marinus Poortvliet,W. Struijk,W. Hoekstra,D.J. De Koning. Владелец: ISO GROEP MACHINEBOUW BV. Дата публикации: 2008-09-10.

System and Method for Thin Film Photovoltaic Modules and Back Contact for Thin Solar Cells

Номер патента: US20160027954A1. Автор: Alan E. Delahoy,Ken K. Chin,Zimeng Cheng. Владелец: NEW JERSEY INSTITUTE OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2016-01-28.

Maneuverable pipeline inspection device

Номер патента: AU2021371453A9. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Chip packaging structure and method for preparing the same, and method for packaging semiconductor structure

Номер патента: US20230197666A1. Автор: Zengyan Fan. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Vacuum pressure impregnation method for insulation system

Номер патента: US20220360153A1. Автор: Jan de Swardt. Владелец: Timken Co. Дата публикации: 2022-11-10.

Deformation compensation method for growing thick galium nitride on silicon substrate

Номер патента: US20240263348A1. Автор: Bo Cheng,Christian Huber,Mordechai Kornbluth,Jens Baringhaus,Charles Tuffile. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-08-08.

Devices and method for guaranteeing quality of service per service data flow through the bearer layer

Номер патента: US09872184B2. Автор: Maria Belen PANCORBO MARCOS,Victor Manuel Avila Gonzalez,Ana Maria Lopez Nieto,Jose Javier Pastor Balbas,Guadalupe Sanchez Santiso. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2018-01-16.

Electron beam device, cold field emitter, and method for regeneration of a cold field emitter

Номер патента: US09847208B1. Автор: Pavel Adamec. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-12-19.

Manufacturig method for battery

Номер патента: US09761915B2. Автор: Masatomo Mizuta,Aika Kimura. Владелец: Automotive Energy Supply Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Thermal field emitter tip, electron beam device including a thermal field emitter tip and method for operating an electron beam device

Номер патента: US09697983B1. Автор: Stefan Lanio,Aleksandra Kramer,John Breuer. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-07-04.

METHOD FOR TUNING ELECTRICAL PROPERTIES OF OXIDE SEMICONDUCTORS AND THE DEVELOPMENT OF HIGHLY CONDUCTIVE P-TYPE AND N-TYPE Ga2O3

Номер патента: US20230377903A1. Автор: Farida Selim. Владелец: BOWLING GREEN STATE UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-11-23.

Manufacturing method for semiconductor structure, and semiconductor structure

Номер патента: EP4358140A1. Автор: Yi Tang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Equipment and methods for treating objects

Номер патента: US20190344557A1. Автор: Marian Cofler,Adrian COFLER,Yaakov Levi,Alexander Litvinov,Avi Feinschmidt,Itay Raz. Владелец: Velox PureDigital Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Equipment and methods for treating objects

Номер патента: EP3541587A1. Автор: Marian Cofler,Adrian COFLER,Yaakov Levi,Alexander Litvinov,Avi Feinschmidt,Itay Raz. Владелец: Velox PureDigital Ltd. Дата публикации: 2019-09-25.

Wafer-level packaging method for semiconductor and semiconductor package

Номер патента: US20240258269A1. Автор: Lixin Zhao. Владелец: Galaxycore Shanghai Ltd Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Apparatus and method for mixing fluids, comprising mixing of at least one fluid with a near-critical or super-critical carrier fluid

Номер патента: EP1888214A1. Автор: John L. Fulton. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2008-02-20.

Wafer composite structure and method for making the same, and pattern making system

Номер патента: US20240347471A1. Автор: Wen-Shian Chen. Владелец: Prosemi Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Method for Inspecting UV Illuminance in Multi-Level Bake Furnace for TFT-LCD Manufacturing Process and Pickup Assembly Device for Performing the Method

Номер патента: US20130112887A1. Автор: Wenpin Chiang,Fengming Yin. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-09.

Silicone-based adhesive sheet, multilayer structure including same, and method for producing semiconductor device

Номер патента: PH12020550712A1. Автор: Manabu Sutoh,Nohno TODA. Владелец: Dow Toray Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-26.

Equipment and methods for treating objects

Номер патента: US20220016904A1. Автор: Marian Cofler,Adrian COFLER,Yaakov Levi,Alexander Litvinov,Avi Feinschmidt,Itay Raz. Владелец: Velox PureDigital Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20220246474A1. Автор: Tatsuji Nagaoka,Hiroki Miyake. Владелец: Mirise Technologies Corp. Дата публикации: 2022-08-04.

Arrangement and method for mechanically and electrically contacting a glow wire of a thermal radiation source made of refractory metal for semiconductor and microsystem technology

Номер патента: US12090568B2. Автор: Marco Schossig. Владелец: INFRASOLID GMBH. Дата публикации: 2024-09-17.

Method for producing organic semiconductor film and organic transistor

Номер патента: US09960351B2. Автор: Hiroshi Ohta. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Device and method for determining the presence of middle ear fluid

Номер патента: US09918622B2. Автор: Andrew M. Rollins,Rahul Seth,Matthew R. Ford,Paul R. Krakovitz. Владелец: CLEVELAND CLINIC FOUNDATION. Дата публикации: 2018-03-20.

Nanofiber-based thermoelectric generator module, method for manufacturing the same, and electrospinning apparatus for manufacturing nanofibers therefore

Номер патента: US09806248B2. Автор: Dong Hoon Lee,Sang Sig Kim,Kyoung Ah Cho,Jin Yong Choi. Владелец: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION. Дата публикации: 2017-10-31.

Device and method for determining the presence of middle ear fluid

Номер патента: US09788712B2. Автор: Andrew M. Rollins,Rahul Seth,Matthew R. Ford,Paul K. Krakovitz. Владелец: CLEVELAND CLINIC FOUNDATION. Дата публикации: 2017-10-17.

Plasma etching method, and production method for semiconductor element

Номер патента: US20220068652A1. Автор: Yoshimasa Inamoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

Method for manufacturing semiconductor and semiconductor

Номер патента: US20240194737A1. Автор: Jianfeng Gao,Junfeng Li,Jun Luo,Junjie Li,Na Zhou,Wenwu Wang,Enxu LIU. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2024-06-13.

Polysiloxane, material for semiconductor, and preparation method for semiconductor and solar cell

Номер патента: US20190203071A1. Автор: Wei Song,Ping Li,Takeshi Ikeda,Masaaki Umehara,Guangnan JIN,Fangrong XU,Tsuyoshi KITADA. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2019-07-04.

Method for forming inside nitride spacer for deep trench device dram cell

Номер патента: US20030062557A1. Автор: Arnd Scholz,Prakash Dev. Владелец: Infineon Technologies North America Corp. Дата публикации: 2003-04-03.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240312915A1. Автор: Koichiro Nishizawa. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Stress-induced bandgap-shifted semiconductor photoelectrolytic/photocatalytic/photovoltaic surface and method for making same

Номер патента: US09847439B2. Автор: John M. Guerra. Владелец: Nanoptek Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Method for passivating surfaces, functionalizing inert surfaces, layers and devices including same

Номер патента: US09761443B2. Автор: Jun Hong Park,Andrew C. Kummel. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2017-09-12.

Thin film transistor substrate having metal oxide semiconductor and manufacturing the same

Номер патента: US09748286B2. Автор: Woocheol Jeong,Imkuk KANG,SungKeun Lee,Yongtae SONG,Sungjun YUN. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Apparatus and method for insepecting cream solder printed on a substrate

Номер патента: WO2004012491A1. Автор: Takashi Katsuki,Minoru Murakami,Yuji Otake,Takahiro Fukagawa,Kimiyuki Yamasaki. Владелец: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2004-02-05.

A system and method for inspecting poultry slaughter products

Номер патента: WO2024041805A1. Автор: Engelbertus Johannes Jacobus TEURLINX,Richard Jozef DE SCHUTTER,Stefan Theodorus Petronella ARTS,Allard Emile Bernardus Martinet,Scott Ivan SECHLER SR. Владелец: Marel Poultry B.V.. Дата публикации: 2024-02-29.

Method for inspecting separation membrane module and method for manufacturing separation membrane module

Номер патента: US11872520B2. Автор: Kenji Yajima,Katsuya Shimizu,Takeshi Hagio,Makiko Ichikawa. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Apparatus and method for coating and inspecting objects

Номер патента: WO2008094537B1. Автор: James Patrick Defillipi,Gerald F Snow. Владелец: Nd Ind Inc. Дата публикации: 2008-11-20.

Method for forming a patterned semiconductor film

Номер патента: EP1208612A1. Автор: Jianna Wang,Paul S. Drzaic,Peter Kazlas,Karl Amundson,Gregg Duthaler. Владелец: E Ink Corp. Дата публикации: 2002-05-29.

Group III nitride semiconductor and method for producing same

Номер патента: US10923346B2. Автор: Hiroshi Ono,Akihiko Ishibashi,Kenya Yamashita. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-16.

Method for the preparation of ferroelectric semiconductive coating and apparatus for removing environmental air pollutants using this coating and electric power

Номер патента: US20020039798A1. Автор: Gil Ahn. Владелец: GOLDSTONE HOLDINGS LLC. Дата публикации: 2002-04-04.

Method for forming a capacitor in a semiconductor and a capacitor using the same

Номер патента: US20060292811A1. Автор: Sang Kim. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-28.

Systems and methods for firewall deployment in a transit virtual private cloud network deployed in a cloud computing environment

Номер патента: US12088557B1. Автор: Shanshan Xu,Xiaobo Sherry Wei. Владелец: Aviatrix Systems Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Activation method for silicon substrates comprising at least two aromatic acids

Номер патента: US09960051B2. Автор: Christian Schwarz,Christof Suchentrunk. Владелец: Atotech Deutschland GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-05-01.

System and method for gas-phase passivation of a semiconductor surface

Номер патента: US09911676B2. Автор: Petri Raisanen,Michael E. Givens,Qi Xie,Fu Tang,Xiaoqiang Jiang,Pauline Calka. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2018-03-06.

System and method for gas-phase passivation of a semiconductor surface

Номер патента: US09905492B2. Автор: Petri Raisanen,Michael E. Givens,Qi Xie,Fu Tang. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2018-02-27.

Method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09831101B2. Автор: Shunpei Yamazaki,Junichiro Sakata,Toshinari Sasaki,Hiroki Ohara. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

A system and a method for inspection of rotating wind turbine blade

Номер патента: AU2022343003A1. Автор: Jānis PUTRĀMS. Владелец: Aerones Engineering Sia. Дата публикации: 2024-03-07.

Elevator rope inspection device and method for inspecting an elevator rope

Номер патента: EP3617123A1. Автор: Mitsuru Kato,Hideki Miyazawa,Yusuke Watabe,Yoshiki NOTA. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2020-03-04.

Elevator rope inspection device and method for inspecting an elevator rope

Номер патента: US20200071130A1. Автор: Mitsuru Kato,Hideki Miyazawa,Yusuke Watabe,Yoshiki NOTA. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2020-03-05.

Container treatment system and method for containers

Номер патента: US11964826B2. Автор: Stefan Schober,Wolfgang Hahn. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-04-23.

Heat dissipation device for a converter for a vehicle, power converter, electric axle drive, vehicle and method for producing a heat dissipation device

Номер патента: US20240030094A1. Автор: Thomas Bösch,Manuel Raimann. Владелец: ZF FRIEDRICHSHAFEN AG. Дата публикации: 2024-01-25.

Method for manufacturing semiconductor structure

Номер патента: US10593550B2. Автор: Erhu ZHENG,Jinhe Qi. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-03-17.

Semiconductor and solar wafers and method for processing same

Номер патента: EP2599117A1. Автор: Guoqiang David Zhang,Roland Vandamme. Владелец: SunEdison Inc. Дата публикации: 2013-06-05.

P-Type Group III Nitride Semiconductor and Production Method Thereof

Номер патента: US20080246053A1. Автор: Hitoshi Takeda,Hisayuki Miki. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2008-10-09.

Cavity resonator for reducing phase noise of voltage controlled oscillator and method for fabricating the same

Номер патента: EP1041667A3. Автор: Changyul Cheon,Cimoo Samsung Advanced Institute of Tec. Song,Chungwoo Samsung Advanced Institute of Tec. Kim,Seokjin Samsung Advanced Institute of Tec. Kang,Insang Samsung Advanced Institute of Tec. Song,Yongwoo 123-902 Park Town Samik Apt. Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2001-08-16.

Semiconductor and optoelectronic methods and devices

Номер патента: US09941319B2. Автор: Zvi Or-Bach,Deepak C. Sekar. Владелец: Monolithic 3D Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Semiconductor layered structure, method for producing semiconductor layered structure, and method for producing semiconductor device

Номер патента: US09887310B2. Автор: Takashi Kyono,Kaoru Shibata,Katsushi Akita,Koji Nishizuka,Kei Fujii. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Automotive inspection robotic vehicle, inspection system, and method for inspecting a railway track and/or a railway vehicle

Номер патента: WO2023006184A1. Автор: Maximilian STEGER. Владелец: Servail Gmbh. Дата публикации: 2023-02-02.

Piezoelectric device, inspection method for piezoelectric device, and liquid ejecting head

Номер патента: US9937717B2. Автор: Katsutomo Tsukahara,Eiju Hirai,Motoki Takabe,Yoshihiro HOKARI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

A support, a platform, and a method for inspecting and/or maintaining a tube heat exchanger

Номер патента: EP4012257A1. Автор: Henry YLIRÖNNI,Pekka HURRI,Oliver SARELIN,Juho SAARELA. Владелец: Valmet Technologies Oy. Дата публикации: 2022-06-15.

Apparatus and method for inspecting inkjet print head

Номер патента: US20150165803A1. Автор: Yoshinori Misumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-06-18.

Deep learning methods for wellbore pipe inspection

Номер патента: US11976546B2. Автор: Li Pan,Ahmed Elsayed Fouda,Junwen DAI. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2024-05-07.

Nozzle inspecting device in fluid discharge apparatus, fluid discharge apparatus, and nozzle inspection method

Номер патента: US8147028B2. Автор: Keigo ITO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-04-03.

Method and device for inspecting poultry

Номер патента: WO1998016116A1. Автор: Christiaan Johannes Gerardus Winkelmolen. Владелец: Nutreco International B.V.. Дата публикации: 1998-04-23.

A clamp, a support, a platform, and a method for inspecting and/or maintaining a tube heat exchanger

Номер патента: FI20206261A1. Автор: Henry YLIRÖNNI,Pekka HURRI,Oliver SARELIN,Juho SAARELA. Владелец: Valmet Technologies Oy. Дата публикации: 2022-06-09.

Support, a platform, and a method for inspecting and/or maintaining a tube heat exchanger

Номер патента: FI130455B. Автор: Henry YLIRÖNNI,Pekka HURRI,Oliver SARELIN,Juho SAARELA. Владелец: Valmet Technologies Oy. Дата публикации: 2023-09-07.

Method for carrier concentration determination in semiconductors and device for its implementation

Номер патента: RU2534382C1. Автор: Владимир Георгиевич Литвинов,Александр Антонович Корнилович,Александр Валерьевич Ермачихин,Дмитрий Сергеевич Кусакин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2014-11-27.

Method for creating impedance-related data of mounting board in circuit board inspection device

Номер патента: JP3047115B2. Автор: 英彰 若松. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2000-05-29.

Method for local measuring resistivity of semiconductors and device for implementation of said method

Номер патента: RU1822972C. Автор: Вадим Александрович Шалыгин,Анатолий Вениаминович Штурбин,Ирина Дорофеевна Румянцева,Владимир Сергеевич Антюшин. Владелец: Ленинградский Политехнический Институт Им.М.И.Калинина. Дата публикации: 1993-06-23.

Method for growing zinc oxide based semiconductor and method for manufacturing semiconductor light emitting device

Номер патента: JP5073623B2. Автор: 直史 堀尾,政幸 牧嶋. Владелец: Stanley Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-14.

Method for evaluating electronic component using semiconductor and method for managing electronic component using semiconductor

Номер патента: JP4505634B2. Автор: 忠弘 大見,章伸 寺本,一史 渡辺,浩史 赤堀. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2010-07-21.

METHOD FOR GROWING CRYSTALS OF NITRIDE SEMICONDUCTOR, AND PROCESS FOR MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120021549A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-26.

Method for making embedded PCB for semiconductor and the same

Номер патента: KR100845121B1. Автор: 이석규,이우섭,김남철. Владелец: 세미텍 주식회사. Дата публикации: 2008-07-09.

METHOD FOR DETERMINING TIME TO BEGIN USE OF POLISHING CLOTH FOR SEMICONDUCTOR WAFERS, METHOD FOR POLISHING SEMICONDUCTOR WAFERS USING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR WAFER POLISHING SYSTEM

Номер патента: JP7215412B2. Автор: 忠広 佐藤,浩二 溝脇,武 多久島. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2023-01-31.

METHOD FOR MANUFACTURING SILICON CARBIDE SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, SILICON CARBIDE SUBSTRATE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120126251A1. Автор: Sasaki Makoto,Wada Keiji,Masuda Takeyoshi,Inoue Hiroki,NISHIGUCHI Taro,HARADA Shin,Okita Kyoko,Namikawa Yasuo,Horii Taku. Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2012-05-24.

METHOD FOR APPLYING FILMS OF CONDUCTORS, SEMICONDUCTORS AND DIELECTRICS ON VARIOUS SUBSTANCES

Номер патента: RU2012105410A. Автор: Микаил Гаджимагомедович Вердиев,Шихнаби Шихрагимович Набиев,Николай Андреевич Камнев. Владелец: Николай Андреевич Камнев. Дата публикации: 2013-08-20.

Method for manufacturing group 3 nitride semiconductor and semiconductor device

Номер патента: JP3712770B2. Автор: 正好 小池,勇 赤崎,史郎 山崎,浩 天野,誠二 永井,茂雄 森. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2005-11-02.

Method for forming plating pattern on semiconductor and semiconductor manufactured by the same

Номер патента: KR101186697B1. Автор: 정인호. Владелец: 한국산업기술대학교산학협력단. Дата публикации: 2012-09-27.

Growing method for vapor-phase of compound semiconductor and its device

Номер патента: JPH1154435A. Автор: 直樹 金田,Naoki Kaneda. Владелец: Hitachi Cable Ltd. Дата публикации: 1999-02-26.

Method for Manufacturing Contacts for a Semiconductor Device, and Semiconductor Device Having Such Contacts

Номер патента: US20120056278A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-03-08.

EPITAXIAL SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING EPITAXIAL SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120126293A1. Автор: MIYOSHI Makoto,SUMIYA Shigeaki,ICHIMURA Mikiya,TANAKA Mitsuhiro,KURAOKA Yoshitaka,Sugiyama Tomohiko. Владелец: NGK Insulators, Ltd.. Дата публикации: 2012-05-24.

Method for preventing gas condensation occurring in chamber and semiconductor manufacturing apparatus to which the method is applied

Номер патента: KR19990081135A. Автор: 이병근,엄홍국. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-11-15.

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120319252A1. Автор: Yamazaki Hirohisa. Владелец: HITACHI KOKUSAI ELECTRIC INC.. Дата публикации: 2012-12-20.

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, RESIN SEALING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20130020669A1. Автор: Koga Masanori. Владелец: ASAHI ENGINEERING K. K.. Дата публикации: 2013-01-24.

INSULATION COATING METHOD FOR METAL BASE, INSULATION COATED METAL BASE, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20130052451A1. Автор: Saito Shinji,Miyaji Shinya,Sano Takamichi. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-28.

Epoxy resin, method for producing the same, epoxy resin composition, and semiconductor device

Номер патента: JP4483463B2. Автор: 明広 伊藤,淳人 早川. Владелец: ジャパンエポキシレジン株式会社. Дата публикации: 2010-06-16.

Method for forming gallium nitride based semiconductor film and semiconductor substrate product

Номер патента: JP3894191B2. Автор: 昌紀 上野,陽一 永井. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2007-03-14.

Porphyrin compound and method for producing the same, organic semiconductor film, and semiconductor device

Номер патента: JP4752269B2. Автор: 紀之 川島,明錫 崔. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-08-17.

Methods for forming circuit components within a substrate and semiconductor substrate

Номер патента: CA893924A. Автор: E. Bean Kenneth,D. Queen William. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1972-02-22.

Method for forming low dielectric constant insulator film and semiconductor device using the same

Номер патента: JPH10209148A. Автор: Toshiaki Hasegawa,利昭 長谷川. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1998-08-07.

Method for forming semiconductor structure with super junctions and semiconductor structure

Номер патента: CN103021856A. Автор: 陈宇,万祎,钟树理,朱超群,曾爱平. Владелец: BYD Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-03.

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERNS FORMED ON A SUBSTRATE

Номер патента: US20120002860A1. Автор: Sakai Kaoru,Shibuya Hisae,Maeda Shunji,Nishiyama Hidetoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Apparatus For Inspecting Defect Of Pattern Formed On Semiconductor Device

Номер патента: US20120002861A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120002142A1. Автор: Fujiwara Sayuri,Satoh Eiji,Asaoka Yasushi,Deguchi Kazuhiro,Tanimoto Kazunori,MATSUDA TAKAFUMI,MIKUMO KATSUHIRO. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR INSPECTION OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM, MAGNETIC RECORDING MEDIUM, AND MAGNETIC RECORDING/REPRODUCING DEVICE

Номер патента: US20120002323A1. Автор: Kato Junya,Maruyama Yoshihiko. Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for determining formation parameters during inspection of low-debit non-flowing wells

Номер патента: RU2289021C2. Автор: Николай Петрович Кузнецов,Виктор Иванович Колесов,Алик Каюмович Ягафаров,Борис Александрович Ерка,вцев Игорь Анатольевич Кудр,Игорь Анатольевич Кудрявцев,Олег Валерьевич Нагарев,Константин Александрович Ухалов,Максим Дмитриевич Гаммер. Владелец: Закрытое акционерное общество "Тюменский нефтяной научный центр". Дата публикации: 2006-12-10.

ASSEMBLY AND METHOD FOR DETECTING AND MEASURING THE FOULING RATEOF FLOW HOLES IN A SECONDARY CIRCUIT OF A PRESSURIZED WATER NUCLEAR REACTOR

Номер патента: US20120002775A1. Автор: . Владелец: AREVA NP. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for inspection and biopsy of scrotum organs

Номер патента: RU2580166C1. Автор: Владимир Леонидович Полуэктов,Дмитрий Геннадьевич Макушин,Владимир Владимирович Полуэктов. Владелец: государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Омский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ГБОУ ВПО ОмГМУ Минздрава России). Дата публикации: 2016-04-10.

Method for determination of dielectric parameters of water and its solutions in audio-frequency region with the aid of l-cell

Номер патента: RU2234102C2. Автор: Л.П. Семихина. Владелец: Тюменский государственный университет. Дата публикации: 2004-08-10.

Method for nondestructive check for moisture content in under- package space of integrated circuits

Номер патента: RU2263369C2. Автор: А.В. Андреев,М.И. Горлов,Л.П. Ануфриев,Н.А. Золотарева. Владелец: Воронежский государственный технический университет. Дата публикации: 2005-10-27.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ736686A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Method for producing tinned fruits

Номер патента: RU2351142C1. Автор: Татьяна Григорьевна Причко,Александр Петрович Бойко,Людмила Дмитриевна Чалая,Виталий Афанасьевич Грязев,Циала Владимировна Тутбиридзе. Владелец: Государственное научное учреждение Северо-Кавказский зональный научно-исследовательский институт садоводства и виноградарства Россельхозакадемии. Дата публикации: 2009-04-10.

Method for producing cover hexahedral tubes of low-ductile steel

Номер патента: RU2246363C1. Автор: В.П. Борисов,А.В. Сафьянов,нов А.В. Сафь,А.А. Фёдоров,С.Г. Чикалов,В.И. Тазетдинов,И.И. Вольберг,Л.И. Лапин,И.А. Романцов,С.В. Ненахов,В.А. Головинов,нов М.Р. Хамедз,М.Р. Хамедзянов. Владелец: ОАО "Челябинский трубопрокатный завод". Дата публикации: 2005-02-20.

Method for bit wear determination during well drilling or secondary hole predrilling

Номер патента: RU2298080C2. Автор: Вадим Георгиевич Гераськин,Андрей Александрович Захаров,Владимир Федорович Будников,Виктор Николаевич Горбенко,Валерий Павлович Шумаков,Андрей Валерьевич Шостак,Анатолий Михайлович Черненко,Владимир Александрович Мордовин,Виктор Михайлович Стрельцов,Николай Федорович Сычев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Кубаньгазпром" (ООО "Кубаньгазпром"). Дата публикации: 2007-04-27.

Method for inspecting end-winding retaining rings for interference fit on electrical machine rotor barrel

Номер патента: RU2253176C1. Автор: В.Ю. Аврух,В.Ю. Аврух (RU). Владелец: Аврух Владимир Юрьевич. Дата публикации: 2005-05-27.

Method and apparatus for inspecting an object

Номер патента: MY124668A. Автор: Tan Chin Hiang. Владелец: Mfg Integration Technology Ltd. Дата публикации: 2006-06-30.

FLEXIBLE SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120001173A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001180A1. Автор: Yoshizumi Kensuke,YOKOI Tomokazu. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING OF SAME

Номер патента: US20120001321A1. Автор: IMAMURA Tomomi,Natsuda Tetsuo,Nishijo Yoshinosuke. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

RESIN COMPOSITION FOR ENCAPSULATING SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001350A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR DRIVING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120001878A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND SEMICONDUCTOR DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120002090A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR FORMING SEMICONDUCTOR REGION AND METHOD FOR MANUFACTURING POWER STORAGE DEVICE

Номер патента: US20120003807A1. Автор: SHIMAZU Takashi,FURUNO Makoto. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus and Method for Viewing an Object

Номер патента: US20120004513A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR AUTOMATICALLY SHIFTING A BASE LINE

Номер патента: US20120004890A1. Автор: Chen Po-Tsang. Владелец: INOTERA MEMORIES, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Solar Cell And Method For Manufacturing Solar Cell

Номер патента: US20120000512A1. Автор: HASHIMOTO Masanori,SAITO Kazuya,SHIMIZU Miho. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ISOLATION REGION, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001198A1. Автор: Zhu Huilong,Yin Haizhou,Luo Zhijiong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120001304A1. Автор: . Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Determining an Analyte in a Sample

Номер патента: US20120002207A1. Автор: Lagae Liesbet,De Vlaminck Iwijn,Van Dorpe Pol. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MODULATOR AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120003767A1. Автор: . Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Packaging Electronic Devices and Integrated Circuits

Номер патента: US20120003791A1. Автор: . Владелец: WAFER-LEVEL PACKAGING PORTFOLIO LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

COMPOSITE COMPONENT AND METHOD FOR PRODUCING A COMPOSITE COMPONENT

Номер патента: US20120002372A1. Автор: Hirsch Michele,Guenther Michael. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Photobiocatalyst for producing reduced forms of nicotinamide coenzymes nadh or nadph and photocatalytic method for producing nadh or nadph

Номер патента: RU2416644C1. Автор: Андрей Николаевич Костров,Виктор Андреевич Надточенко,Виталий Викторович Никандров,Янина Владимировна Борисова,Олег Михайлович Саркисов,Алексей Юрьевич Семенов,Галина Викторовна Низова,Инна Анатольевна Пулинец,Ирина Владимировна Алисова. Владелец: Государственное учреждение Научно-исследовательский институт физико-химической биологии имени А.Н. Белозерского Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова (НИИ ФХБ имени А.Н. Белозерского МГУ). Дата публикации: 2011-04-20.

Method for protecting railway signaling and communication equipment

Номер патента: RU2264017C2. Автор: Е.Н. Розенберг,А.Н. Грачёв,А.И. Каменев,Г.А. Новиков,А.Я. Калиниченко,Д.Ю. Кисленко. Владелец: Государственное унитарное предприятие Российский научно-исследовательский и проектно-конструкторский институт информатизации, автоматизации и связи (ВНИИАС МПС России). Дата публикации: 2005-11-10.

Device for inspecting and correcting human functional condition

Номер патента: RU2028078C1. Автор: А.Г. Лазуткин,Л.Н. Гондарева,Н.В. Разумов,Р.Б. Тунгатаров,С.Ю. Горшенин,Б.К. Койчубеков. Владелец: Гондарева Людмила Николаевна. Дата публикации: 1995-02-09.

Coin or medal storage and inspection device

Номер патента: RU2098003C1. Автор: Владимир Ильич Брызгунов,Наталья Николаевна Базекина. Владелец: Наталья Николаевна Базекина. Дата публикации: 1997-12-10.

Method for producing oxide layer on anodes of oxide-semiconductor and electrolytic capacitors

Номер патента: RU2322722C1. Автор: Лев Матвеевич Меринов,Виталий Евгеньевич Александров,Сергей Павлович Прокофьев,Натали Вениаминовна Галашина,Наталия Вениаминовна Галашина. Владелец: Открытое акционерное общество "Завод "Мезон". Дата публикации: 2008-04-20.

Method for binding of diamond single crystal with metal

Номер патента: RU2347651C2. Автор: Владимир Давыдович Бланк,Вячеслав Максимович Прохоров,Рустэм Хамитович Баграмов,Владимир Давыдович Бланк (RU),Рустэм Хамитович Баграмов (RU),В чеслав Максимович Прохоров (RU). Владелец: Федеральное государственное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (ФГУ ТИСНУМ). Дата публикации: 2009-02-27.

NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING ELEMENT, ILLUMINATING DEVICE, LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, METHOD FOR PRODUCING NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING ELEMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING ILLUMINATING DEVICE

Номер патента: US20120002134A1. Автор: Yamada Atsushi,YOKOGAWA Toshiya,Inoue Akira,FUJIKANE Masaki,OYA Mitsuaki,YANO Tadashi. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

System and method for inspecting a wafer

Номер патента: SG185301A1. Автор: AMANULLAH Ajharali,Jing Lin,Kok Weng Wong,Hancheng Ge. Владелец: Semiconductor Tech & Instr Inc. Дата публикации: 2012-11-29.

METHODS FOR TREATING OR PREVENTING IL-1BETA RELATED DISEASES

Номер патента: US20120003226A1. Автор: Scannon Patrick J.,Solinger Alan M.,Bauer Robert J.. Владелец: XOMA TECHNOLOGY LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR PRODUCING A SOLUBLE COCOA PRODUCT FROM COCOA POWDER

Номер патента: US20120003355A1. Автор: . Владелец: BARRY CALLEBAUT AG. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR ASSESSING RISK OF ALZHEIMER'S DISEASE IN A PATIENT

Номер патента: US20120003649A1. Автор: Atwood Craig S.. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR PRODUCING ALPHA-L-ASPARTYL-L-PHENYLALANINE-BETA-ESTER AND METHOD FOR PRODUCING ALPHA-L-ASPARTYL-L-PHENYLALANINE-ALPHA-METHYL ESTER

Номер патента: US20120003692A1. Автор: . Владелец: AJINOMOTO CO., INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR DETERMINING A BREEDING VALUE BASED ON A PLURALITY OF GENETIC MARKERS

Номер патента: US20120004112A1. Автор: Lund Mogens Sandø,Su Guosheng,Guldbrandtsen Bernt. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR THE DIAGNOSIS OF AGE-ASSOCIATED VASCULAR DISORDERS

Номер патента: US20120004133A1. Автор: Lakatta Edward G.,Wang Mingyi,Fu Zongming,Van Eyk Jennifer. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR IDENTIFYING AND COMPOUNDS USEFUL FOR THE DIAGNOSIS AND TREATMENT OF DISEASES INVOLVING INFLAMMATION

Номер патента: US20120004160A1. Автор: Dickson Marion Catherine,Janssen Richard Antonius Jozef,De Groot Anton,Lekkerkerker Annemarie Nicolette,Meldrum Eric Charles,Thompson Nicola,Ray Keith Paul,Boyce Susan Heather. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MEDICAL MATERIAL FOR IN VIVO IMPLANTATION CONTAINING SOFTENING AGENT AND/OR MOISTURIZING AGENT, METHOD FOR CONTROLLING CONTENT OF SOFTENING AGENT AND/OR MOISTURIZING AGENT IN THE MEDICAL MATERIAL, AND METHOD FOR PRODUCING THE MEDICAL MATERIAL FOR IN VIVO IMPLANTATION

Номер патента: US20120004673A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEMS AND METHODS FOR CHARACTERIZING FAULT CLEARING DEVICES

Номер патента: US20120004867A1. Автор: . Владелец: ABB RESEARCH LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for registration of electric energy and system for its realisation

Номер патента: RU2503018C1. Автор: Василий Васильевич Ефанов,Сергей Михайлович Мужичек. Владелец: Сергей Михайлович Мужичек. Дата публикации: 2013-12-27.

Method for registration of electric energy and system for its realisation

Номер патента: RU2503017C1. Автор: Василий Васильевич Ефанов,Сергей Михайлович Мужичек. Владелец: Сергей Михайлович Мужичек. Дата публикации: 2013-12-27.

Device for inspection of macrodefects on internal surface of pipes

Номер патента: RU2531037C1. Автор: Сергей Борисович Попов,Станислав Рафаелевич Абульханов,Николай Львович Казанский. Владелец: Российская академия наук Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт систем обработки изображений РАН (ИСОИ РАН). Дата публикации: 2014-10-20.

Procedure and device for inspection and repair of pipelines

Номер патента: RU2418232C2. Автор: Александр Васильевич Кислов,Юрий Петрович Саламатов. Владелец: ООО "Институт инновационного проектирования". Дата публикации: 2011-05-10.

Device for inspection of density of tissue at endoscope testing

Номер патента: RU2286080C2. Автор: Михаил Эдуардович Соколов,Владимир Михайлович Буданов,Юрий Григорьевич Мартыненко,Алексей Викторович Сурин,Юрий Ливерьевич Перов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ТАКТИЛ" (ООО "ТАКТИЛ"). Дата публикации: 2006-10-27.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.