Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Radiation inspection device

Номер патента: US20240069240A1
Опубликовано: 29-02-2024
Автор(ы): Chunguang ZONG, LEI Liu, Shangmin Sun, Yu Hu, Yuan Ma, Zheng Ji
Принадлежит: Nuctech Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Radiation Inspection Device

Номер патента: GB2617981A. Автор: LIU Lei,HU YU,MA Yuan,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,Ji ZHENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Radiation inspection system

Номер патента: GB2617293A. Автор: LIU Lei,Chen Zhiqiang,HU YU,MA Yuan,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,Ji ZHENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Radiation inspection system

Номер патента: US20240085349A1. Автор: Zheng Ji,LEI Liu,Yuan Ma,Yu Hu,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Chunguang ZONG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device

Номер патента: US09696266B2. Автор: Toshiyasu Suyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-04.

Security inspection device and transfer method therefor

Номер патента: US11933934B2. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Xuping Fan. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Radiation inspection apparatus comprising a radiation inspection device and wheels and radiation inspection method

Номер патента: US11822043B2. Автор: LI ZHANG,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Quanwei Song,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Hejun Zhou,Bing Fu,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Vehicular radiation inspection system

Номер патента: US09448188B2. Автор: Jianmin Li,Yinong Liu,Weifeng Yu,Qingping Huang,Yulan Li,Chunguang ZONG,Hui Gong. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Self-Propelled Container and/or Vehicle Inspection Device

Номер патента: US20190250302A1. Автор: Jie Zhao,Haibo Qu. Владелец: Beijing Hualixing Sci Tech Development Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240210333A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Jinning Liang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

X-ray inspection device

Номер патента: EP4394457A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

X-ray inspection device

Номер патента: US20240219324A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: EP4249961A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: CA3199574A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-27.

Foreign-matter inspection device

Номер патента: US20180321166A1. Автор: Takayuki Tanaka,Takuya Yaegashi. Владелец: Nissin Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-08.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: US20240027369A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

X-ray inspection device

Номер патента: US09752996B2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

X-ray inspection device for drone, x-ray inspection device employing drone, and x-ray generator device for drone

Номер патента: US20200209172A1. Автор: BO Wang,Xiaojun Liu,Shuichi Suzuki,Norio Saito,Wenkang Guo. Владелец: Tsukuba Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-02.

Vehicle battery inspection device

Номер патента: US20230258582A1. Автор: Hideki Sakai,Atsushi Sakurai,Tatsuya Hattori,Yuji Isogai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Vehicular radiation inspection system

Номер патента: MY184310A. Автор: Jianmin Li,Yinong Liu,Weifeng Yu,Qingping Huang,Yulan Li,Chunguang ZONG,Hui Gong. Владелец: Univ Tsinghua. Дата публикации: 2021-03-31.

X-ray inspection device

Номер патента: US20180122526A1. Автор: Koji Omori,Daiki Kataoka. Владелец: Anritsu Infivis Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-03.

Baggage inspection device

Номер патента: US20230080948A1. Автор: Masaki Takahashi,Yoshiyuki Ikemoto,Tetsuo Murakami,Eishi Kawasaki,Yutaka Hasebe,Kiyotaka Uchida,Kazuaki Takayama,Chihaya OGAWA. Владелец: Nippon Signal Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-16.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317065A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US11874236B2. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Conveying system for inspection device

Номер патента: GB2626516A. Автор: Huang Qingping,HONG Mingzhi,ZHANG Liguo,Yang Jianxue,Li Guipei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Security inspection device

Номер патента: US11747510B2. Автор: Feng Wang,Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Virtual barricade for radiation inspection of predefined paths

Номер патента: US20170356861A1. Автор: Jeb Everett BELCHER,Jessica Emily Kelley. Владелец: Georgetown Rail Equipment Co. Дата публикации: 2017-12-14.

Radiation inspection apparatus and radiation inspection method

Номер патента: PL438330A1. Автор: LI ZHANG,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Quanwei Song,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Hejun Zhou,Bing Fu,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech (Beijing) Company Limited. Дата публикации: 2022-09-05.

Handheld inspection device and method of inspecting an infrastructure having a structure wall supported into material

Номер патента: CA3175708A1. Автор: Peter Marc CABOT. Владелец: Inversa Systems Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3734261A1. Автор: Hideaki Takahashi,Naoki Matsushima,Yoshiyasu Ito,Kiyoshi Ogata,Shiro Umegaki,Kazuhiko Omote,Hiroshi Motono,Shigematsu Asano,Sei Yoshihara,Katsutaka Horada,Ryotaro YAMAGUCHI,Akifusa Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

X-ray inspection device

Номер патента: US20210063326A1. Автор: Hideaki Takahashi,Naoki Matsushima,Yoshiyasu Ito,Kiyoshi Ogata,Shiro Umegaki,Kazuhiko Omote,Hiroshi Motono,Shigematsu Asano,Sei Yoshihara,Katsutaka Horada,Ryotaro YAMAGUCHI,Akifusa Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Inspection device for a production machine

Номер патента: US09440758B2. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Inspection device for scanning and inspecting object being inspected

Номер патента: EP4414695A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Zhiqiang Chen,Ming Chang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Ray inspection device, and method for inspecting target

Номер патента: GB2620536A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240159694A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

X-ray inspection device, x-ray inspection method, and method of manufacturing structure

Номер патента: US20180045660A1. Автор: Naoshi Sakaguchi,Hirotomo YASHIMA,Takahiro MICHIMOTO. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-02-15.

Gantry configuration for combined mobile radiation inspection system

Номер патента: US09453935B2. Автор: Qingjun Zhang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Tao Xue,Quanwei Song,Chunguang ZONG,Sheng TANG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Control unit and control method for radiation source and radiation inspection system and method thereof

Номер патента: MY161628A. Автор: Peng Hua,Zhang Li,LIU Yinong,Chen Zhiqiang,Li Yuanjing,Yang Guang,Zhang Qingjun,Liu Yaohong,LI Junli,Jia Wei,ZHANG Jinyu,Ruan Ming,LIANG Siyuan,DENG Yanli,Xie Yali,Shangmin. Владелец: Univ Tsinghua. Дата публикации: 2017-04-28.

Radiation inspection system

Номер патента: EP4206749A1. Автор: Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Hui Meng,Xuping Fan. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Inspection device and article transfer inspection system

Номер патента: EP4365640A1. Автор: Ying Li,Qi Zhang,Yuan Ma,Shangmin Sun,Quanwei Song,Xuejing Yang,Yuan He,Junping Shi,Chunguang ZONG,Yiwei GUO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Ray collimation device and radiation inspection device

Номер патента: GB2625957A. Автор: YIN Wei,Liu Yaohong,Chen Yumei,Guan Weiqiang,LI Weike. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

RADIATION INSPECTION APPARATUS AND RADIATION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220099601A1. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Li Yuanjing,Li Jianmin,HU YU,Zhou Hejun,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,SONG Quanwei,Yu Weifeng,CAO Jinguo,FU Bing. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-31.

Radiation inspection system and radiation inspection method

Номер патента: US20200025968A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Ming Zeng,Quanwei Song,Yigang Yang,Yulan Li,Chunguang ZONG,Qinjian Zhang,Weizhen Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Dual energy detector and radiation inspection system

Номер патента: US20180180746A1. Автор: Qingjun Zhang,Yongqiang Wang,Ziran Zhao,Shuwei Li,Xiang Zou,Bozhen Zhao,Junxiao Wang,Lifeng Sun. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Radiation inspection system and radiation inspection method

Номер патента: EP3816615B1. Автор: LI ZHANG,Ying Li,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Yulan Li,Chunguang ZONG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

Radiation detection device, radiation image acquiring system, radiation inspection system, and radiation detection method

Номер патента: US09594031B2. Автор: Toshihide Sasaki,Junichi Sonoda,Toshiyasu Suyama,Tadashi Maruno,Shinji Takihi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-03-14.

RADIATION DETECTION DEVICE, RADIATION IMAGE ACQUIRING SYSTEM, RADIATION INSPECTION SYSTEM, AND RADIATION DETECTION METHOD

Номер патента: US20170184514A1. Автор: Sasaki Toshihide,Suyama Toshiyasu,MARUNO Tadashi,SONODA Junichi,TAKIHI Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-29.

Radiation detection apparatus, radiation image acquisition system, radiation inspection system, and radiation detection method

Номер патента: JP5559471B2. Автор: 敏康 須山,俊英 佐々木,正 丸野,純一 薗田,真二 瀧日. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-07-23.

Radiation detection device, radiation image acquiring system, radiation inspection system, and radiation detection method

Номер патента: US8964939B2. Автор: Toshihide Sasaki,Junichi Sonoda,Toshiyasu Suyama,Tadashi Maruno,Shinji Takihi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2015-02-24.

Radiation detection device, radiation imaging system, radiation inspection system, and radiation detection method

Номер патента: ES2870993T3. Автор: Toshihide Sasaki,Junichi Sonoda,Toshiyasu Suyama,Tadashi Maruno,Shinji Takihi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-10-28.

RADIATION DETECTION DEVICE, RADIATION RECORDING SYSTEM, RADIATION INSPECTION SYSTEM AND RADIATION DETECTION METHOD

Номер патента: DK3128315T3. Автор: Toshihide Sasaki,Junichi Sonoda,Toshiyasu Suyama,Tadashi Maruno,Shinji Takihi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-06-14.

Radiation detection device, radiation image acquisition system, radiation inspection system, and radiation detection method

Номер патента: WO2010055727A1. Автор: 須山　敏康,俊英 佐々木,純一 薗田,真二 瀧日,丸野　正. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2010-05-20.

Radiation detection device, radiation image acquiring system, radiation inspection system, and radiation detection method

Номер патента: US8223922B2. Автор: Toshihide Sasaki,Junichi Sonoda,Toshiyasu Suyama,Tadashi Maruno,Shinji Takihi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2012-07-17.

System And Method For Radiation Inspection On Moving Object

Номер патента: US20170003415A1. Автор: WANG Shaofeng,Cao Yanfeng,Hu Xiaowei,Yan Xiong. Владелец: Powerscan Company Limited. Дата публикации: 2017-01-05.

Nondestructive inspecting device

Номер патента: US20240183801A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Radiation inspection apparatus and inspection method for object security inspection

Номер патента: CA2774605A1. Автор: MING Chen,Jianmin Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Lan Zhang,Xuewu Wang,Yumin Yi,Jinyu Zhang,Yongming Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-31.

Shielding door for radiation inspection system

Номер патента: GB2431082A. Автор: LI ZHANG,Yuanjing Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Hailin Wang,Wanlong Wu,Bin Sang,Haifeng Hu,Yulan Li,Xilei Luo. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-11.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Inspection method and inspection device and computer-readable medium

Номер патента: EP3699579A1. Автор: Tao Liu,QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252620A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

X-ray inspection device

Номер патента: US20200253032A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3691420A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

X-ray inspection device

Номер патента: US11147149B2. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-12.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: EP4067884A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317064A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Nondestructive inspecting device, and nondestructive inspecting method

Номер патента: US20230393082A1. Автор: Kunihiro Fujita,Takaoki TAKANASHI,Yoshie OTAKE,Chihiro Iwamoto. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-12-07.

Inspection device

Номер патента: EP3800468A1. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Yoichi Yamamoto,Jun Ikeda,Daisuke Kudo,Futoshi Yurugi,Haruhiko Komori,Michihiko TODORI. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-07.

Tube weld X-ray inspection device comprising an X-ray source, an X-ray source support, and an image plate fixing part for fixing an image plate

Номер патента: US11860113B2. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Virtual barricade for radiation inspection of predefined paths

Номер патента: US20170356861A1. Автор: Jeb Everett BELCHER,Jessica Emily Kelley. Владелец: Georgetown Rail Equipment Co. Дата публикации: 2017-12-14.

X-ray inspection device and method for determining degree of consumption of target of x-ray tube in x-ray inspection device

Номер патента: US20190380193A1. Автор: Bunta MATSUHANA,Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240103196A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Inspection Device with Integrated X-ray and Weighing Device

Номер патента: US20240027370A1. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec GmbH. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection device, packaging machine, and package inspection method

Номер патента: US11933742B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Security inspection device and transfer method therefor

Номер патента: US11768312B2. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Hui Meng,Chunguang ZONG,Xuping Fan,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Inspection device

Номер патента: US11977036B2. Автор: Makoto Nakatani,Akihiro Maenaka,Yoshinori TARUMOTO,Hironori TSUTSUMI. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: EP3734641A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Inspection position identification method, three-dimensional image generation method, and inspection device

Номер патента: US11835475B2. Автор: Yosuke Yamamoto,Takuma Hirayama. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: US20200080949A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-03-12.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: US20230304947A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: EP4206665A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Cable inspection device and cable inspection method

Номер патента: EP4170330A1. Автор: Kenta Kato,Yuichi Yoshimura,Yoshimasa Ikeda,Takao Hashiguchi,Hirokazu Kitagawa,Yoshie OTAKE,Maki Mizuta. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-04-26.

X-ray inspection device

Номер патента: EP4224154A1. Автор: Osamu Hirose,Ken IWAKAWA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

X-ray inspection device

Номер патента: US20230243764A1. Автор: Osamu Hirose,Ken IWAKAWA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Radiation detector and radiation inspection apparatus including same

Номер патента: US20240230933A9. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Radiation inspection system and method

Номер патента: US20240312753A1. Автор: Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Radiation detector and radiation inspection device including same

Номер патента: CA3221712A1. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2022-12-22.

Radiation detector and radiation inspection device including same

Номер патента: EP4357819A1. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2024-04-24.

Directional-deviation correction device and method for mobile-type radiation inspection apparatus

Номер патента: GB2610515A. Автор: HU YU,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,MENG Defang,WANG Yongming,GAO Yuxia,RAN Zhansen,Jiang Ruixin,Yu Yanwei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-08.

Radiation inspection system and radiation inspection method

Номер патента: EP3505975B1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Ming Zeng,Quanwei Song,Yigang Yang,Yulan Li,Chunguang ZONG,Qinjian Zhang,Weizhen Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-20.

Radiation detector and radiation inspection apparatus including same

Номер патента: US20240134072A1. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Radiation inspection device for object security inspection and inspection method thereof

Номер патента: EP2482060A4. Автор: MING Chen,Jianmin Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Lan Zhang,Xuewu Wang,Yumin Yi,Jinyu Zhang,Yongming Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-19.

RADIATION DETECTION DEVICE, RADIATION IMAGE ACQUIRING SYSTEM, RADIATION INSPECTION SYSTEM, AND RADIATION DETECTION METHOD

Номер патента: US20150139387A1. Автор: Sasaki Toshihide,Suyama Toshiyasu,MARUNO Tadashi,SONODA Junichi,TAKIHI Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-21.

Control unit and control method for radiation source and radiation inspection system and method thereof

Номер патента: AU2006346221C1. Автор: Wei Jia,LI ZHANG,Qingjun Zhang,Yuanjing Li,Yinong Liu,Guang Yang,Zhiqiang Chen,Hua Peng,Ming Ruan,Junli Li,Shangmin Sun,Yaohong Liu,Yali Xie,Siyuan Liang,Yanli Deng,Jinyu Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-04.

Controller for radiation source and control method thereof, and radiation inspection system and method

Номер патента: WO2008052395A1. Автор: Wei Jia,LI ZHANG,Qingjun Zhang,Yuanjing Li,Yinong Liu,Guang Yang,Zhiqiang Chen,Hua Peng,Ming Ruan,Junli Li,Shangmin Sun,Yaohong Liu,Yali Xie,Siyuan Liang,Yanli Deng,Jinyu Zhang. Владелец: Nuctech Company Limited. Дата публикации: 2008-05-08.

Control unit and control method for radiation source and radiation inspection system and method thereof

Номер патента: AU2006346221A1. Автор: Wei Jia,LI ZHANG,Qingjun Zhang,Yuanjing Li,Yinong Liu,Guang Yang,Zhiqiang Chen,Hua Peng,Ming Ruan,Junli Li,Shangmin Sun,Yaohong Liu,Yali Xie,Siyuan Liang,Yanli Deng,Jinyu Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2008-05-01.

VEHICULAR RADIATION INSPECTION SYSTEM

Номер патента: US20150192531A1. Автор: LIU Yinong,Li Jianmin,Huang Qingping,LI Yulan,ZONG Chunguang,Gong Hui,Yu Weifeng. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-09.

Method of operating a radiation inspection system with a modular conveyor chain

Номер патента: JP6400585B2. Автор: ブリッジャー，ニック,キング，ナイジェル. Владелец: メトラー−トレド・セーフライン・エックス−レイ・リミテッド. Дата публикации: 2018-10-03.

Gantry structure for use in assembled mobile radiation inspection system

Номер патента: EP2871466A4. Автор: Qingjun Zhang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Tao Xue,Quanwei Song,Chunguang ZONG,Sheng TANG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-02.

Inspection device

Номер патента: US20240337609A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda,Shiori IMAIZUMI. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Radiation protection device and radiation inspection system

Номер патента: EP4401089A1. Автор: Feng Wang,Wei Huang,Junping Shi. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Radiation inspection system and method

Номер патента: EP4369052A1. Автор: Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Radiation detector, radiation inspecting device, and method for processing radiation detection signal

Номер патента: US20220155469A1. Автор: Makoto Otake. Владелец: Nihon Kessho Kogaku Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Radiation detector, radiation inspecting device, and method for processing radiation detection signal

Номер патента: EP3822665A1. Автор: Makoto Otake. Владелец: Nihon Kessho Kogaku Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-19.

Non-destructive inspection device and non-destructive inspection system

Номер патента: US20240272102A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Radiation detector, radiation inspecting device, and method for processing radiation detection signal

Номер патента: EP3822665A4. Автор: Makoto Otake. Владелец: Nihon Kessho Koogaku Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-28.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: EP4400873A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Non-Destructive Inspection Device

Номер патента: US20240295511A1. Автор: Yujiro Ikeda,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Massato TAKAMURA. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2024-09-05.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: US20240361487A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Defect inspection device

Номер патента: US20070257695A1. Автор: Henry Huang,Yong Seng Tan. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2007-11-08.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

X-ray thin film inspection device

Номер патента: US20170299528A1. Автор: Hideaki Takahashi,Yoshiyasu Ito,Kiyoshi Ogata,Muneo Yoshida,Kazuhiko Omote,Hiroshi Motono. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11906440B2. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Measurement and inspection device

Номер патента: US10692687B2. Автор: Wen Li,Hiroyuki Takahashi,Shinichi Murakami,Minoru Yamazaki,Hajime Kawano,Yuko Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2020-06-23.

Radiation inspection system and radiation inspection method

Номер патента: US20200025968A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Ming Zeng,Quanwei Song,Yigang Yang,Yulan Li,Chunguang ZONG,Qinjian Zhang,Weizhen Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Dual energy detector and radiation inspection system

Номер патента: US20180180746A1. Автор: Qingjun Zhang,Yongqiang Wang,Ziran Zhao,Shuwei Li,Xiang Zou,Bozhen Zhao,Junxiao Wang,Lifeng Sun. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Structure condition inspection device

Номер патента: RU2748789C1. Автор: Александр Николаевич Бирюков,Юрий Александрович Бирюков,Дмитрий Владимирович Бирюков,Евгений Олегович Добрышкин,Николай Александрович Бирюков,Алексей Валентинович Бондарев,Владимир Михайлович Бабенко,Артур Андреевич Пресняков,Матвей Русланович Раздобутько,Елена Юрьевна Тощева,Данил Алекандрович Василец. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулёва" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2021-05-31.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US20210358120A1. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Inspection device for cylindrical bodies

Номер патента: US20210207953A1. Автор: André Witzmann,Robert Witkowski,Armin Eisner. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-07-08.

Inspection device of display device and inspection method of display device

Номер патента: US09835565B2. Автор: Wal Jun Kim,Changhyun Ryu,JoongYoung RYU,Seung-Young BAECK,Deok joo LIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Inspection device for detection of foreign substances

Номер патента: RU2529667C1. Автор: Мариус Михаэль ХЕРМАНН,Юрген ХЕРМАНН,Клаас ФРИТШЕ,Альфред ДРЕНГУЙС. Владелец: Кхс Гмбх. Дата публикации: 2014-09-27.

Inspection device with optical watermarks

Номер патента: RU2739522C1. Автор: Бернхард ХОЙФТ,Вольфганг ПОЛЬСТЕР,Микаэль УНГЕР. Владелец: Хойфт Зюстемтехник Гмбх. Дата публикации: 2020-12-25.

Inspection device

Номер патента: US20220198792A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Calibrating inspection devices

Номер патента: WO2019135886A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection device, plate-like object manufacturing device, inspection method, and plate-like object manufacturing method

Номер патента: AU2019268718B2. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Calibrating Inspection Devices

Номер патента: US20190204239A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Method of manufacture of a dry-drawing stand for checking of operability of in-line inspection devices at a test pipeline test site

Номер патента: RU2653138C1. Автор: Алексей Анатольевич Крюков,Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть - Диаскан" (АО "Транснефть - Диаскан"). Дата публикации: 2018-05-07.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

Substrate inspection device and component mounting device

Номер патента: US09511455B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240167964A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method

Номер патента: US20100307248A1. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Inspection device, blister packing machine, and method of manufacturing blister pack

Номер патента: EP4194350A1. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-14.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Moving inspection device, moving inspection method, and method for manufacturing steel material

Номер патента: US12044658B2. Автор: Masaki Kobayashi,Koji Yamashita,Kouyou Miyawaki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection device and manufacturing method of film-type battery

Номер патента: US20220205939A1. Автор: Satoshi Nakashima. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: EP4443142A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: US20240310293A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240168045A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230137583A1. Автор: Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Substrate foreign matter inspection device and substrate foreign matter inspection method

Номер патента: US20230186458A1. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Kazuyoshi Kikuchi,Naohiro Zaima. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Automatic food inspection device

Номер патента: EP4406666A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-07-31.

Self-propelled inspection device and equipment inspection system

Номер патента: US20220397908A1. Автор: Kazuo Ono,Yuichi Igarashi,Takehito Ogata,Noriyasu HASEJIMA,Kazuya Murotani,Yuta Esaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-12-15.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US12117418B2. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Laser light source device and inspection device

Номер патента: US09991670B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Semiconductor inspection device including a counter electrode with adjustable potentials used to obtain images for detection of defects, and inspection method using charged particle beam

Номер патента: US09846133B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-12-19.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US09784676B2. Автор: HE Wang,XIANG Liu,Xin Fang,Peng Luo,Jiajia PENG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Inspection device

Номер патента: RU2322661C2. Автор: Вольфганг ШОРН,Мартин ВАЙСГЕРБЕР,Карстен БУХВАЛЬД,Ральф ПОЛЬ. Владелец: Кхс Машинен-Унд Анлагенбау Аг. Дата публикации: 2008-04-20.

Method of inspecting covering material, inspection device, method of producing covering material and covering material

Номер патента: RU2665353C1. Автор: Дайсуке ВАТАНАБЕ,Нацуки СИРАСАВА,Хисаси НИСИДА. Владелец: Дай Ниппон Принтинг Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-08-29.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: CA3218147A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2022-11-10.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: US20240085480A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Method and apparatus for launching and recovering a remote inspection device from a volatile fluid storage tank

Номер патента: US11931612B2. Автор: Jerome Vaganay,Eric Levitt,William O'Halloran,Troy L. STAIRES,Benjamin C. MOORE. Владелец: Phillips 66 Co. Дата публикации: 2024-03-19.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US10922805B2. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-02-16.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US20190188844A1. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-06-20.

Exterior inspection device

Номер патента: US20170269003A1. Автор: Yasuhiko Enami,Yo-o HAYASHIDA. Владелец: Purex Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

LIGHT DETECTION AND RANGING (LiDAR)-BASED INSPECTION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20230108333A1. Автор: Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-06.

Robotic inspection devices for simultaneous surface measurements at multiple orientations

Номер патента: US12061173B2. Автор: CHASE David,José APARICIO,Kevin Y. Low,Juan Roberto Mendoza Mora. Владелец: Gecko Robotics Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

In-line inspection devices

Номер патента: EP3874261A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

In-line inspection devices

Номер патента: US20210364479A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Six-sided inspection mechanism for part and part appearance packaging inspection device

Номер патента: US20240053276A1. Автор: Xingke Wang. Владелец: Dongguan Jiezhan Precision Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

A borescope inspection device and a method for performing non-destructive testing with the borescope inspection device

Номер патента: WO2024153463A1. Автор: Carlo Giolli,Remo Ribichini,Erica SCRINZI,Luca AMMANNATO,Frederico MANGIAVACCHI. Владелец: Nuovo Pignone Tecnologie - S.r.l.. Дата публикации: 2024-07-25.

Optical inspection device for optical performance test of display device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240319110A1. Автор: HEE YOUNG LEE,Gil Yeong PARK,Min Kyoung JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US12105025B2. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Matching process device, matching process method, and inspection device employing same

Номер патента: US09619727B2. Автор: Yuichi Abe,Wataru Nagatomo,Hiroyuki Ushiba. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20240027361A1. Автор: Kazuhide Sato,Masami Makuuchi,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection device and molded-product processing system

Номер патента: US20230281780A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: US20240219354A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: EP4397971A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Inspection device of plugged honeycomb structure and inspection method of plugged honeycomb structure

Номер патента: US20100238281A1. Автор: Kensuke Tanaka,Akihiro Mizutani,Takayoshi Akao. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2010-09-23.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: US20230394643A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Inspection device

Номер патента: US20240201104A1. Автор: SHINJI Ueyama,MITSUNORI Numata,Kenji Suzuki,Tomoki Onishi,Ingi KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Sample inspection device for detecting fluorescence of sample

Номер патента: US20230213449A1. Автор: Neon Cheol JUNG,Alexey DAN CHIN YU,Keunchang Cho. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Fastener bulb inspection device

Номер патента: EP4382856A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Adhesive inspection device and adhesive inspection method

Номер патента: US20200326176A1. Автор: Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US20200033254A1. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US10712257B2. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Inspection device and molded product processing system

Номер патента: EP4253945A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-10-04.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Ultrasonic Inspective Device for Simultaneous Pulse Echo and Through Transmission Inspection

Номер патента: US20210063357A1. Автор: James C. Kennedy,Jeffry J. Garvey,Roy Martin Gagnon. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-03-04.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Operator guided inspection device, system, and method

Номер патента: US20220178836A1. Автор: Thomas Alton Bartoshesky,Jonathan Douglas Williams,Robert Fuelep Biro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-09.

Inspection device, inspection facility and inspection device failure confirmation method

Номер патента: US20190120772A1. Автор: Yoshihiro Yamagata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US20220207684A1. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection device

Номер патента: US11774374B2. Автор: Takashi Sugata,Ryoji Kodama. Владелец: Nanosystem Solutions Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Kneader internal inspection device

Номер патента: US20170225359A1. Автор: Eiji Takahashi,Hodaka Miura,Toshihide Fukui,Chitaka Manabe. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Fastener Bulb Inspection Device

Номер патента: US20240185413A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20240118223A1. Автор: Katsuhiko Kimura,Masaya Yamamoto,Yoshihiro Satou,Ayumi TOMIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Drug Capsule Appearance Inspection Device

Номер патента: US20230236133A1. Автор: Ku Hyun Lee. Владелец: Sltg Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Robotic inspection device for tank and pipe inspections

Номер патента: US20210131604A1. Автор: Rashid D. Al Hajri,Amer D. Hajri,Fikri A. Suwailah,Kazem H. Al Musabbeh. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2021-05-06.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: US20240295532A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: EP4425171A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Printed matter inspecting device, printed matter inspecting method, program, and printing apparatus

Номер патента: EP4032706A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

Inspection device for body to be inspected and inspection device of foreign matters in liquid filled in transparent container

Номер патента: US6882422B2. Автор: Hiromi Yamazaki,Tadahiro Katane,Hirohisa Fukuda. Владелец: Hitachi Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2005-04-19.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-05.

Defect inspection device

Номер патента: US20220092765A1. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Cognex Ireland Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US12094102B2. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Defect inspection device, defect inspection method, method for producing separator roll, and separator roll

Номер патента: US20180149602A1. Автор: Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Side surface inspection device of cylindrical battery

Номер патента: US20240345000A1. Автор: Jiwon Kim,Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Visual inspection device, visual inspection method, image generation device, and image generation method

Номер патента: US20240362771A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Shinichi Inoue,Hideaki Onozuka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection device

Номер патента: US20240346818A1. Автор: Shinichi Matsubara,Takafumi Miwa,Yuta Imai,Sayaka KURATA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-10-17.

Property inspection devices, methods, and systems

Номер патента: US09970881B1. Автор: James P. Hillman,Cynthia Blasing,Damien Brunet,Dan D. Cable,Adolfo J. Fernandez,Jeffrey A. Kreth,Shane Osborne,Robert A. Pacheco,Renee Sokolowski. Владелец: United Services Automobile Association USAA. Дата публикации: 2018-05-15.

Surface property inspection device and method

Номер патента: US09964520B2. Автор: Kazuhiro Ota,Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Drug inspection device

Номер патента: US09870611B2. Автор: Koji Ito,Mei Zhang,Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Strain inspection device and attaching method thereof

Номер патента: US09841365B2. Автор: Injoong Kim,Joungwook PARK,Hanna NOH,Sungsuu KIM,Gayoung RYU,Youngho CHA. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-12.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Borehole inspection device and system with a self-cleaning system and method for loading explosives in boreholes

Номер патента: US09708902B2. Автор: Jorge Lopez Rodriguez. Владелец: MaxamCorp Holding SL. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection device

Номер патента: US09568437B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Surface-defect inspection device

Номер патента: US20120147363A1. Автор: Katsuya Suzuki,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Image inspection device

Номер патента: US20200072759A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

Image inspection device

Номер патента: EP3617809A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-04.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: EP4350342A1. Автор: Takao Koyama,Hideyuki Yamada,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Inspecting device

Номер патента: US11852470B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Linear defect inspection device

Номер патента: US20230252619A1. Автор: Jae Hyun Park,Myoung Gon YANG,Kyung Do LEE,Young Woo KO. Владелец: Coss Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member

Номер патента: US12031947B2. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Tsuyoshi Kobayashi,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Centralizer for Internal Pipe Inspection Device

Номер патента: CA2128619A1. Автор: Joseph R. Carapezza,Linda T. Ystueta. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-02-03.

Visual inspection device

Номер патента: US20210381990A1. Автор: Claudio SEDAZZARI. Владелец: Opto Engineering SpA. Дата публикации: 2021-12-09.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A3. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Visual inspection device and visual inspection method

Номер патента: US20200202512A1. Автор: Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-25.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: US12036622B2. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Medication container inspection device

Номер патента: WO2024054113A1. Автор: Joren Ide VAN DER HORST,Jim KIEFT,Joseph Roeland HENDRIKS. Владелец: Luo Automation B.V.. Дата публикации: 2024-03-14.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Shutter system and inspection device

Номер патента: US12047665B2. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Pallet inspection device

Номер патента: US12037203B2. Автор: Wataru Kiyokawa. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspecting device

Номер патента: US20220136816A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2022-05-05.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11726066B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Surface inspection device

Номер патента: US20090079983A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-03-26.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20100182603A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-07-22.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: US20240183793A1. Автор: Hisaji Murata,Yoshinori Satou,Yuya Sugasawa,Jeffry NAINGGOLAN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection device

Номер патента: US20230288327A1. Автор: Yuichiro Kamino,Hiroaki Minamide,Syusaku Yamamoto,Keisuke Kajikawa,Koji Nawata. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-09-14.

Inspection Device

Номер патента: US20160103187A1. Автор: Kenji Tsubosaka,Tetsuo Noguchi,Hiroo Yoshikawa,Yusuke Itoh. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-04-14.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Defect inspection device, pattern chip, and defect inspection method

Номер патента: US20190107498A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Yasuhiro Yoshitake,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-04-11.

Image inspection device and program

Номер патента: US20200068081A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Repair welding inspection device and repair welding inspection method

Номер патента: US12078600B2. Автор: Kazuki HANADA,Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20160003783A1. Автор: Yukitoshi Suzuki,Hidemi Takahashi,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Shutter system and inspection device

Номер патента: EP4224148A1. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2023-08-09.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Inspection method, classification method, management method, steel material production method, learning model generation method, learning model, inspection device, and steel material production equipment

Номер патента: US20240282098A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Optical inspection device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240281923A1. Автор: Hyung Jin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Substrate inspection device and substrate inspection method using the same

Номер патента: US20240201100A1. Автор: Dongwook Lee,Sung Hune Yoo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Optical inspection device

Номер патента: US12092582B2. Автор: Hiroshi Ohno,Takashi Usui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection device for display apparatus

Номер патента: US20240302258A1. Автор: Gabtae Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: US20240314420A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection device and inspection method for pillar-shaped honeycomb filter

Номер патента: US12117386B2. Автор: Yoshihiro Sato,Yuji Watanabe,Yuichi Tajima,Yohei KAJIURA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Foreign matter inspecting device

Номер патента: EP4446730A1. Автор: Masahiro Yamaguchi,Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: EP4431922A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Spectrum-inspection device

Номер патента: US09972651B2. Автор: Wei-Ko Wang. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Control mechanism for transformer in-situ inspection device

Номер патента: US09926052B2. Автор: Gregory A. Cole,Gregory F. Rossano,William Eakins,George Zhang,Daniel T. Lasko. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2018-03-27.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Guided inspection of an installed component using a handheld inspection device

Номер патента: US09852500B2. Автор: Robert J. Scheuerman,Rick F. Rourke. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2017-12-26.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: US09838608B2. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Container inspection device

Номер патента: US09823262B2. Автор: Osamu Yoshida,Chizuka Kai,Kunimitsu Toyoshima. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2017-11-21.

Ultrasonic inspection device and method of ultrasonic inspection

Номер патента: US09714924B2. Автор: Naotada Okada,Tomoko MORIOKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Defect inspection device

Номер патента: US09683947B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Inspection device for painted surface of vehicle

Номер патента: US09546963B2. Автор: Jinho Seok,Sang Ki Hwang. Владелец: Digital Imaging Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US09541508B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Nondestructive inspection device using alternating magnetic field, and nondestructive inspection method

Номер патента: US09453817B2. Автор: Kunihiko Nakamura,Gijun Idei. Владелец: Dainichi Machine and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Analysis device, specimen production device, inspection device, operation method for specimen production device, and operation method for inspection device

Номер патента: EP4306631A1. Автор: Sakiko Narikawa,Megumi Mizuno,Naomi Ishii. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-17.

Analysis Device, Specimen Production Device, Inspection Device, Operation Method for Specimen Production Device, and Operation Method for Inspection Device

Номер патента: US20240183870A1. Автор: Sakiko Narikawa,Megumi Mizuno,Naomi Ishii. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US11900642B2. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Method for inspecting a tank, sluice device and arrangement comprising a tank, a sluice device and an inspection device

Номер патента: AU2022327644A1. Автор: Matthias Grote,Berry KRIJBOLDER. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2024-02-29.

Method for inspecting a tank, sluice device and arrangement comprising a tank, a sluice device and an inspection device

Номер патента: CA3228620A1. Автор: Matthias Grote,Berry KRIJBOLDER. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2023-02-16.

Method and apparatus of controlling an automatic inspection device

Номер патента: US4070561A. Автор: Nishizawa Shunichi,Igarashi Taenzi,Fujishima Shigeru. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 1978-01-24.

Portable non-destructive inspection device and support casing therefor

Номер патента: US6112593A. Автор: Shigenori Aoki,Shigeru Miwa,Takenori Hiroki,Tohru Miyata,Hajime Mizunoya,Seigo Kikuchi. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2000-09-05.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US11428673B2. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-08-30.

Member inspection device and member repairing method

Номер патента: US20190041199A1. Автор: Yoichiro Ara,Yoshihiro Koketsu,Yuuko Ujihara. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Index selection device, information processing device, information processing system, inspection device, inspection system, index selection method, and index selection program

Номер патента: US20240005477A1. Автор: Koki TACHI. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-04.

Seam inspection device

Номер патента: US10947663B2. Автор: Koji Hiraoka,Kimiko Fujie. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2021-03-16.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: US20240161287A1. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A2. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-05-02.

Underwater inspection device and filtering method of its attitude sensor

Номер патента: US20200393419A1. Автор: HUI Li,Pengxiang LI. Владелец: Hainan University. Дата публикации: 2020-12-17.

Inspection device, ptp packaging machine, and ptp sheet manufacturing method

Номер патента: EP3614127A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-02-26.

Positioning device, hole inspection device, positioning method and hole inspection method

Номер патента: US20200378749A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Seam inspection device

Номер патента: US20190284750A1. Автор: Koji Hiraoka,Kimiko Fujie. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection device, packaging sheet manufacturing device, and inspection method

Номер патента: US11994477B2. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Apparatus and method for treating plastic preforms with inspection device

Номер патента: US11999093B2. Автор: Florian Geltinger. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-06-04.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: EP4321445A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-14.

Inspection device

Номер патента: EP4007480A1. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-06-01.

Visual inspections device, method of manufacturing and program the same

Номер патента: US20210341394A1. Автор: Hideki Wada. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A3. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-06-06.

Device and method of improved measurements by means of inspection device

Номер патента: RU2566605C2. Автор: Гарри А. КРАНЕНДОНК,Лоренс К. МЮРРЭЙ. Владелец: Лайфскен, Инк.. Дата публикации: 2015-10-27.

Method and system for steering an insertion tube of a video inspection device

Номер патента: US9404871B2. Автор: James Jonathan Delmonico. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-08-02.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20200292466A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Inspection device for masks for semiconductor lithography and method

Номер патента: US11867642B2. Автор: Heiko Feldmann,Holger Seitz,Thomas Zeuner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-01-09.

Blister-strip inspection device

Номер патента: US11830180B2. Автор: Gijsbert Olivier Van Schelven. Владелец: Blister Partners Holding Bv. Дата публикации: 2023-11-28.

Inspection device and method for checking an object produced by sintering for defects

Номер патента: US11983862B2. Автор: Sven Crull,Shahrooz Sadeghi Borujeni,Yasin Bayzidi. Владелец: Volkswagen A En Gesellschaft. Дата публикации: 2024-05-14.

Inspection device for masks for semiconductor lithography and method

Номер патента: US20210156809A1. Автор: Heiko Feldmann,Holger Seitz,Thomas Zeuner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2021-05-27.

Endoscope fluorescence inspection device

Номер патента: EP3876813A1. Автор: Mark Jackson,Tuan Nguyen,Nicholas G. BROMILEY,Huyen Bui,Joshua J. Korth,Mer Win CHEONG. Владелец: Medivators Inc. Дата публикации: 2021-09-15.

Blister strip inspection device

Номер патента: CA2984064C. Автор: Gijsbert Olivier Van Schelven. Владелец: Hmgeb Holding BV. Дата публикации: 2023-08-22.

Blister-strip inspection device

Номер патента: US20240087110A1. Автор: Gijsbert Olivier Van Schelven. Владелец: Blister Partners Holding Bv. Дата публикации: 2024-03-14.

Inspection device, PTP packaging machine and calibration method of inspection device

Номер патента: US12007331B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9151669B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-06.

Inspection device for heterogeneous structures

Номер патента: GB2428477A. Автор: David Richard Andrews. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-31.

Mounting inspection device

Номер патента: EP3048439A1. Автор: Mikio Nakajima,Mitsutaka Inagaki. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-27.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US20220236232A1. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Power Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Optical inspection device and method

Номер патента: EP3821235A1. Автор: Bertram Adriaan van der Zwan,Sjoerd Oostrom,Bart Gerardus SPEET. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2021-05-19.

Inspection device, blister packaging machine, and blister sheet manufacturing method

Номер патента: US11808714B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US11373292B2. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-06-28.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: US20240040230A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Appearance inspection device and blister packaging machine

Номер патента: US20200182799A1. Автор: Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US20200211169A1. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Inspection device, PTP packaging machine and inspection method

Номер патента: US11981469B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

Defect inspection device, defect inspection method, and program, and printing device and method of manufacturing printed matter

Номер патента: US20230103391A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Inspection device for determining insertion of connector, and robot device having inspection device

Номер патента: US20210003535A1. Автор: Yoshitake Furuya,Takahide MINE. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2021-01-07.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20190079025A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: US20240230515A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2024-07-11.

Magnetic system of scanner-inspection device

Номер патента: RU2680103C2. Автор: Анатолий Аркадиевич Марков. Владелец: Анатолий Аркадиевич Марков. Дата публикации: 2019-02-15.

Ultrasonic inspection device with linear scanning and ultrasonic inspection method with linear scanning

Номер патента: RU2690063C1. Автор: Сецу ЯМАМОТО,Дзун СЕМБОСИ,Адзуса СУГАВАРА,Кентаро ЦУТИХАСИ,Масару ОЦУКА. Владелец: Тосиба Энерджи Системс Энд Солюшнс Корпорейшн. Дата публикации: 2019-05-30.

Actuatable visual inspection device

Номер патента: US8836937B2. Автор: Christopher Edward Thompson,Thomas James Batzinger,Matthew Stephen Gutschow. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-16.

Pipe inspection device

Номер патента: CA2914772C. Автор: Jakob KESSELBERG. Владелец: VRETMASKIN EL & MEKANIK AB. Дата публикации: 2019-02-26.

Method and apparatus for launching and recovering a remote inspection device from a volatile liquid storage tank

Номер патента: US11925824B2. Автор: Jerome Vaganay,Eric Levitt,William O'Halloran,Troy L. STAIRES,Benjamin C. MOORE. Владелец: Phillips 66 Co. Дата публикации: 2024-03-12.

Imaging device, bump inspection device, and imaging method

Номер патента: US11953314B2. Автор: Takeya Tsukamoto,Takashi Miyasaka,Alexsandr JUK,Alain Ross,Shigeya KIKUTA. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Inspection device, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20190279349A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Hideaki Okano,Takeshi Morino,Masataka Shiratsuchi,Yoshinori Honguh. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-09-12.

Inspection device for tubular good with ultrasonic sensors

Номер патента: WO2024017753A1. Автор: Lucas Kling E Silva,Claudio CAMERINI. Владелец: VALLOUREC OIL AND GAS FRANCE. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Inspection device and inspection method for sheet layer

Номер патента: EP4067812A1. Автор: Masataka Koyama,Hiroharu Suzuki,Tomohiro Kinoshita,Shogo KOJIMA,Yuki Hanawa,Motohiro NAKAGAMI,Yusaku ISHIDA. Владелец: Kawasaki Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-05.

Inspection device and inspection method for sheet layer

Номер патента: US20230035817A1. Автор: Masataka Koyama,Hiroharu Suzuki,Tomohiro Kinoshita,Shogo KOJIMA,Yuki Hanawa,Motohiro NAKAGAMI,Yusaku ISHIDA. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2023-02-02.

Appearance inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11936985B2. Автор: Shingo Hayashi,Daisuke Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: EP4350343A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Marking inspection device and marking device for transparent edible objects

Номер патента: US20240053277A1. Автор: Junsuke Yasui,Kousuke OOKITA,Kazuaki MATSUTANI. Владелец: Qualicaps Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Marking inspection device on transparent edible body and marking device

Номер патента: EP4293345A1. Автор: Junsuke Yasui,Kousuke OOKITA,Kazuaki MATSUTANI. Владелец: Qualicaps Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20240085380A1. Автор: Takao Koyama,Hideyuki Yamada,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Defect and appearance inspection device for photovoltaic panels

Номер патента: AU2020101507A4. Автор: Yong Wu,Huachao LI. Владелец: Suzhou Ju Neng Image Inspection Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US20220050058A1. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2022-02-17.

Imaging device, bump inspection device, and imaging method

Номер патента: US20200166334A1. Автор: Takeya Tsukamoto,Takashi Miyasaka,Alexsandr JUK,Alain Ross,Shigeya KIKUTA. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2020-05-28.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: CA3207889A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Inspection device

Номер патента: US20220198636A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240175805A1. Автор: Tatsuya Hirose,Tadashi SUMII,Hidetsugu NOSAKA,Yusuke TSURUI. Владелец: Taikisha Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230226646A1. Автор: Hyun Soo Kim,Seong-Gyu Hwang,Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO,Hyun Beom JEONG. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Optical inspection device for optical performance test of display device and optical inspection method using the same

Номер патента: US12025571B2. Автор: HEE YOUNG LEE,Gil Yeong PARK,Min Kyoung JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: AU2022270948A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2023-11-23.

Method and apparatus for launching and recovering a remote inspection device while suppressing volatile vapor with foam

Номер патента: US12011626B2. Автор: Jerome Vaganay,Eric Levitt,William O'Halloran,Troy L. STAIRES,Benjamin C. MOORE. Владелец: Phillips 66 Co. Дата публикации: 2024-06-18.

Automotive fuel tank inspection device

Номер патента: US20050162643A1. Автор: Thomas Karpen. Владелец: Everest Vit Inc. Дата публикации: 2005-07-28.

Defect Inspection Device and Defect Inspection Method

Номер патента: US20220317058A1. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Surface state inspecting device for inspecting the state of parallel first and second surfaces

Номер патента: US4999511A. Автор: Michio Kohno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1991-03-12.

Inspection device for loose objects, such as tablets

Номер патента: CA2514315C. Автор: Minne Jorritsma. Владелец: Dijkstra Vereenigde Bedrijven BV. Дата публикации: 2011-09-27.

Borehole inspection device and system with a self-cleaning system and method for loading explosives in boreholes

Номер патента: CA2823896C. Автор: Jorge Lopez Rodriguez. Владелец: MaxamCorp Holding SL. Дата публикации: 2018-08-07.

Allophone inspection device and inspection method thereof

Номер патента: US11636717B2. Автор: Seong-Cheol Kim,Joo Hyun Park,Sung Wook Lee,Byeong-Ho Lee,Wanjei Cho. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Inspection device for tubular good with ultrasonic sensors

Номер патента: EP4310493A1. Автор: Lucas Kling E Silva,Claudio CAMERINI. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2024-01-24.

Handheld fastener removal inspection device

Номер патента: WO2024026299A1. Автор: James Becker,Mervyn Rudgley,William Palleva,Dominick MAMMOLITO. Владелец: Perfect Point EDM. Дата публикации: 2024-02-01.

Core inspection device, core inspection system, and core inspection method

Номер патента: US11953425B2. Автор: Hiroki Matsuoka,Takashi Hanai. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Non-destructive inspection device and method of structural parts of an aircraft

Номер патента: EP4257969A1. Автор: Carlos Miguel Giraldo,Jose Luis SANCHO GUTIERREZ. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SL. Дата публикации: 2023-10-11.

Electronic label inspection device

Номер патента: US20220205927A1. Автор: LU LIU,Xiaobo Lin,Zhenhua Meng. Владелец: Guangzhou Pulisi Technology Co, Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Handheld fastener removal inspection device

Номер патента: US20240027360A1. Автор: James Becker,Mervyn Rudgley,William Palleva,Dominick MAMMOLITO. Владелец: Perfect Point EDM. Дата публикации: 2024-01-25.

Defect inspection device and method for inspecting defect

Номер патента: US20240060904A1. Автор: Dae Hong Kim,Jeong Moon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

EUV mask inspection device using multilayer reflection zone plate

Номер патента: US11898970B2. Автор: Dong Gun Lee. Владелец: Esol Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Electronic component lead inspection device

Номер патента: US6727713B1. Автор: Dong-Sik Jang,Jong-Ju Choi. Владелец: ViewWell Co Inc. Дата публикации: 2004-04-27.

Inspection device and method for capturing inspection image

Номер патента: US11877063B2. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Hub connection for pipeline inspection device

Номер патента: US11892373B2. Автор: Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Tape inspection device and secondary battery manufacturing system having the same

Номер патента: US20220172345A1. Автор: Sang Min Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Inspection device

Номер патента: US20230274408A1. Автор: Naoto Kobayashi. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Biological tissue inspection device and method therefor[

Номер патента: EP3888533A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Min Young Hwangbo. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2021-10-06.

Surface inspection method using mold surface inspection device

Номер патента: US11733685B2. Автор: Sun Kyu Lee,Dae Gweon KOH,Jin Hyuk HONG,Han Ul KIM,Dinuka Ravimal Ranawaka Arachchige. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-08-22.

Inspection area setting method for image inspecting device

Номер патента: US9269134B2. Автор: Yoshihisa Minato,Yukiko Yanagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2016-02-23.

Inspection device

Номер патента: US20150355100A1. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-10.

Graphene-based non-destructive inspection device and related method

Номер патента: SG10201803835YA. Автор: BRELATI Antonio,Del Giudice Rosario,ROMANO Tommaso. Владелец: Leonardo SpA. Дата публикации: 2018-12-28.

Inspection device for substrate deformation at high temperatures and inspection method for substrate deformation at high temperatures using the same

Номер патента: US20140152980A1. Автор: Dong Yong Kim,Tae Yoon Kim,Suk Jin Ham,Mi Yang KIM,Gyu Seok KIM,Hee Suk CHUNG,Yong Choon PARK. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-05.

Can lid inspection device, camera position adjustment method, and camera positioning jig

Номер патента: US11898964B2. Автор: Toshio Kogure. Владелец: Showa Aluminum Can Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection devices and related systems and methods

Номер патента: US20190257799A1. Автор: Jeremy D. Palmer,Ronald G. Mellus,Edwin Dean S. Oba. Владелец: Northrop Grumman Innovation Systems LLC. Дата публикации: 2019-08-22.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US20230054123A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US11703479B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Briquette inspection device and briquette inspection method

Номер патента: US20140146310A1. Автор: Koji Tsukada,Fumio Yuasa. Владелец: Furukawa Industrial Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Ultrasonic inspection device, ultrasonic inspection method, and program

Номер патента: US20240036010A1. Автор: Masayuki Kobayashi,Kaoru Sakai,Natsuki SUGAYA,Koutaro Kikukawa. Владелец: Hitachi Power Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Inspection device for the quality control of rod-shaped articles

Номер патента: US20230393160A1. Автор: Eugenio Navacchia,Ivano Montoleone. Владелец: PHILIP MORRIS PRODUCTS SA. Дата публикации: 2023-12-07.

Image inspection device, image forming apparatus, inspection report creating program, and inspection report

Номер патента: US20210104030A1. Автор: Daisuke Genda,Jun Itou,Yasushi Tsue. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-04-08.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US20200249206A1. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-06.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: EP4035816A1. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-03.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: CA3154156A1. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Water quality inspection device

Номер патента: US20220365057A1. Автор: Doyeon PI. Владелец: Piquant Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240073348A1. Автор: Tatsuya Shirasaka. Владелец: Toyo Seikan Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection device for light-regulating film, and production device for light-regulating film

Номер патента: US9709496B2. Автор: Tsuyoshi Maeda,Daisuke Shinozaki,Yasushi Asaoka,Shohei Katsuta. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Battery inspection device and battery inspection method

Номер патента: EP3982450A1. Автор: Takahiro Murai. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2022-04-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230358668A1. Автор: Chi-Yu Huang. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190283910A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Coating Inspection Device

Номер патента: US20130057849A1. Автор: Shi-Hsien Yeh. Владелец: Nike Inc. Дата публикации: 2013-03-07.

Appearance Inspection Device of Crimp Terminal

Номер патента: US20210088326A1. Автор: Tatsuo Osada. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Appearance inspection device of crimp terminal

Номер патента: US11236994B2. Автор: Tatsuo Osada. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2022-02-01.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: EP4224150A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US20240151654A1. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection device for the inspection of two-dimensionally extending metal objects

Номер патента: US20230122236A1. Автор: Michael Schulte. Владелец: ROSEN SWISS AG. Дата публикации: 2023-04-20.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20240068992A1. Автор: Takao Koyama,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Dark-field inspection device with real time variable function

Номер патента: US20240192133A1. Автор: Tae Hoon Park,Oh Hyung Kwon. Владелец: Nextin Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection device, ptp packaging machine and ptp sheet manufacturing method

Номер патента: US20200047934A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A3. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-11-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20080297779A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-12-04.

Cloth abnormality inspecting device within a sealed container for a loom

Номер патента: US5433253A. Автор: Hiroshi Miyake,Masashi Toda,Hironori Ito,Shigeto Ozaki,Atsuhisa Ando. Владелец: Toyoda Jidoshokki Seisakusho KK. Дата публикации: 1995-07-18.

Atom probe inspection device, field ion microscope, and distortion correction method

Номер патента: US10916405B2. Автор: Takahiro Ikeda,Akira KURAMOTO,Haruko Akutsu. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-02-09.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: US20010055415A1. Автор: Takeo Nozaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Inspection device and inspection method

Номер патента: CA3028563C. Автор: Manabu Watanabe,Fumio Sato,Akihiro Matsuzaki,Fujio Terai,Hitoshi Katayama,Yuichiro Gunji. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-10-04.

Tube weld seam inspection device

Номер патента: CA2083872A1. Автор: Ronald A. Tobar. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-28.

Flat-panel product inspection device

Номер патента: US9880409B2. Автор: Wei Zhao,Hongtao Ma,Jinping Zhou,Guodong Wang,Lizhu YU,Xiaolong TIAN. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Panel inspection device and inspection method of panel

Номер патента: US8023721B2. Автор: Chih-Chiang Lee,Ching-Chun Chien,Hsien-Chang Kao,Kuo-Chang Teng. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2011-09-20.

Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method

Номер патента: CA2807917C. Автор: Hisashi Endo,Akira Nishimizu,Noriyuki Sadaoka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-10-11.

Inspection device

Номер патента: CA2729654C. Автор: Andrew Bond-Thorley. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2016-04-26.

Screw inspection device

Номер патента: US4457622A. Автор: Michio Kato,Hidekazu Hoshino,Hayao Takahashi. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 1984-07-03.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: MY171995A. Автор: CHAKI Hiroaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-11.

Surface inspection device

Номер патента: GB2348492A. Автор: Masao Watanabe,Akiko Okubo. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2000-10-04.

Container inspection device

Номер патента: NL2032976B1. Автор: Roeland Hendriks Joseph,Ide Van Der Horst Joren,Kieft Jim. Владелец: Luo Automation B V. Дата публикации: 2024-03-21.

Component inspection device

Номер патента: US20240070847A1. Автор: Shinji Sugita,Shimpei FUJII,Aoi Mochizuki. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection device for tubular good

Номер патента: EP4310492A1. Автор: Lucas Kling E Silva. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2024-01-24.

Inspection device and method

Номер патента: US11852591B2. Автор: Yosuke NARUSE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Inspection device for tubular good

Номер патента: WO2024017758A1. Автор: Lucas Kling E Silva. Владелец: VALLOUREC OIL AND GAS FRANCE. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection device and processing system

Номер патента: US20230335421A1. Автор: Takeshi Sakamoto,Iku Sano,Takafumi Ogiwara. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-10-19.

Defect inspection device

Номер патента: US20240096667A1. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Fluorescent Particles, Inspection Device Using Fluorescent Particles For Visualizing and Inspecting Motion/Movement Of Fluid In Locations Where Fluid Is Present, And Inspection Method Using Fluorescent Particles For Visualizing and Inspecting Motion/Movement Of Fluid In Locations Where Fluid Is Present

Номер патента: US20220089941A1. Автор: Masaaki Horie,Akira Miyahara. Владелец: CENTRAL TECHNO CORP. Дата публикации: 2022-03-24.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: US20240011920A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-11.

Wire rope inspection device and wire rope inspection system

Номер патента: EP4212868A1. Автор: Yoshio Takami. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11898991B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220291173A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Defect inspecting device, defect inspecting method, and storage medium

Номер патента: US11830174B2. Автор: Masashi Kurita,Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US20170261439A1. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-09-14.

Defect inspection device

Номер патента: US20220084176A1. Автор: Hironobu Tamura. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Defect inspection device

Номер патента: US11790512B2. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Sualab Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Drill hole inspection method, drill hole inspection system and inspection device

Номер патента: US11847774B2. Автор: Tai-Been Chen,Chen-Te Yu,Chia-Chien Pan. Владелец: Der Lih Fuh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Inspection device having a box-like body

Номер патента: EP4224149A1. Автор: Francesco Tosoratti. Владелец: MB Elettronica Srl. Дата публикации: 2023-08-09.

Inspection device

Номер патента: US10908095B2. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2021-02-02.

Film inspection device

Номер патента: US20180100809A1. Автор: Hiroki KITOH. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2018-04-12.

Strength inspection method and strength inspection device

Номер патента: EP3929560A1. Автор: Hiraku Kawasaki. Владелец: IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-29.

Magnetic particle inspection device

Номер патента: US20210080521A1. Автор: Yuki Arai. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190043181A1. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Inspection device

Номер патента: US20190219518A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10769777B2. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20190285980A1. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4297106A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Visual inspection device

Номер патента: US11953449B2. Автор: Claudio SEDAZZARI. Владелец: Opto Engineering SpA. Дата публикации: 2024-04-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11796481B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20160216217A1. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-07-28.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US9568439B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US9329136B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-03.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240133824A1. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Sheet inspection device

Номер патента: US11959863B2. Автор: Yuto Kawashima. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4269991A1. Автор: Nobuyuki Kamihara,Kohei Kawazoe,Yuki Yano,Toshinobu MURAKI,Kiwamu Nakajima,Takayuki Moritake,Yusuke HASHIDA,Kanata FUJII. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-11-01.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11788973B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20220301136A1. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Visual inspection device

Номер патента: US20220349836A1. Автор: Claudio SEDAZZARI. Владелец: Opto Engineering SRS. Дата публикации: 2022-11-03.

Defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection computer program product

Номер патента: US20240020821A1. Автор: Akira Moriya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Inspection device and method of inspecting inspection target using the same

Номер патента: US20240060903A1. Автор: Byoung-Ju Kim,Hyojin Kim,Sangsu Lee,Jihoon SEO,Myoungchul KIM,Tae-gu Kang,Seungbum Park,Tae-Jun Ahn,Hyoyul Lee,Jeonghwa Ha. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11971367B2. Автор: Yasuyuki Nuriya. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Surface inspection device, surface inspection method, and manufacturing method of metal strip

Номер патента: US20230349836A1. Автор: Keisuke Yoshida. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Acoustic inspection method, acoustic inspection device, and couplant

Номер патента: US11788991B2. Автор: Akiko Hirao,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Thermocycling inspection device and chip holder

Номер патента: US11958052B2. Автор: Hiroshi Mitsutake,Ryoko Aso,Ryuichi Sekizawa. Владелец: METABOSCREEN CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Wire rope inspection device and wire rope inspection system

Номер патента: US20230273155A1. Автор: Yoshio Takami. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Inspection device and inspection method for boiler furnace water wall tubes

Номер патента: US20110279828A1. Автор: Kai Zhang,Hideaki Murata,Hirotoshi Matsumoto,Keiji Ida. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-11-17.

Shutter system and inspection device

Номер патента: US20230224568A1. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200378900A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory compu ter readable medium storing inspection program

Номер патента: US11741597B2. Автор: Daigo Hama,Rina Takeuchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-08-29.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US20220172333A1. Автор: Daigo Hama,Rina Takeuchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-06-02.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20140253911A1. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2014-09-11.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member

Номер патента: US20220291174A1. Автор: Akiko Hirao,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Workforce augmenting inspection device

Номер патента: US11754507B2. Автор: Christopher Lee Colaw,Andrew Timothy Modjeski,Spencer Tull Meyer,Alexander McLean Tramm,II Jean-Pierre Njock. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US20240153061A1. Автор: Takuya Ogawa,Keiko Inoue,Shoji Yachida,Toshinori Hosoi,Shigeaki NAMIKI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230036062A1. Автор: Tomohiro Matsuda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspecting device, inspecting method, and program

Номер патента: US20190285554A1. Автор: Yoshinori Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection method, classification method, management method, steel material manufacturing method, training model generation method, training model, inspection device, and steel material manufacturing facility

Номер патента: EP4361615A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Electrode surface inspection device

Номер патента: EP4332554A1. Автор: Tae Young Kim,Seung Gyun Hong,Hongjae KO. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240118220A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230109456A1. Автор: Takeshi Sakamoto,Iku Sano,Takafumi Ogiwara. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-04-06.

Container inspection device and inspection method

Номер патента: PH12017501890A1. Автор: Chiyoko TAKAHASHI. Владелец: Kirin Techno System Company Ltd. Дата публикации: 2018-03-05.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US11462335B2. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-04.

Inspection device

Номер патента: US20190222810A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: EP4314927A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220065820A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP3964831A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-09.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: US20240082944A1. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Particle inspection device and particle inspection method

Номер патента: US20240159686A1. Автор: Toyoki Kanzaki,Shota SOMEYA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Optical foreign matter inspection device

Номер патента: US20240044806A1. Автор: Masami Makuuchi,Hisaaki Kanai. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Inspection device

Номер патента: US20190220999A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190277772A1. Автор: Tomohiro Suzuki,Haruhiko Kusunose,Masayasu Nishizawa. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Defect inspection device, defect inspection method, and method for producing separator roll

Номер патента: US20180159102A1. Автор: Yasuyuki Kondo,Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Inspection device for rotating electric machine and method of inspecting rotating electric machine

Номер патента: US11892510B2. Автор: Masao Akiyoshi,Norihiko HANA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US7746464B2. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-29.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9546939B2. Автор: Koji Shiratsuchi,Zhengyong Liu,Rintaro Nagaoka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspection device

Номер патента: US20190222808A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Workforce Augmenting Inspection Device

Номер патента: US20220317053A1. Автор: Christopher Lee Colaw,Andrew Timothy Modjeski,Spencer Tull Meyer,Alexander McLean Tramm,II Jean-Pierre Njock. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Inspection device

Номер патента: US20190219516A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection Device and Inspection Method

Номер патента: US20200273158A1. Автор: Hiroshi Oota. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190283995A1. Автор: Tomio Ono,Kazuhiro Itsumi,Yasuharu Hosono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: US20230334649A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-10-19.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US20210151209A1. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection unit

Номер патента: US20240060938A1. Автор: Shinji Wada,Ikuo Ihara,Tomohiro Koyama. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2024-02-22.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: US20220320606A1. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A2. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-05.

Inspection device

Номер патента: US20230288326A1. Автор: Yuichiro Kamino,Hiroaki Minamide,Syusaku Yamamoto,Keisuke Kajikawa,Koji Nawata. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-09-14.

Container inspection device and inspection method

Номер патента: PH12017501890B1. Автор: Chiyoko TAKAHASHI. Владелец: Kirin Techno System Company Ltd. Дата публикации: 2018-03-05.

Optical inspection device and optical inspection method

Номер патента: US20240210238A1. Автор: Je Won YOO,In Hyuk Kim,Joo Yeol Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Radiation inspection apparatus and radiation inspection method

Номер патента: AU3434102A. Автор: Ryoichi Sawada. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2002-11-21.

Security inspection device and control method therefor

Номер патента: AU2019414849A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Ray inspection device and target inspection method

Номер патента: GB2619880A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,LIANG Jinning,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Obstacle sensor inspection device and method

Номер патента: US20230305162A1. Автор: Kenya Sumida. Владелец: Toyota Industries Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240156293A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Jinning Liang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Shielding door device for radiation inspection system

Номер патента: US20070075073A1. Автор: LI ZHANG,Yuanjing Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Hailin Wang,Wanlong Wu,Bin Sang,Haifeng Hu,Yulan Li,Xilei Luo. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-05.

Checking method and checking system based on millimeter wave security inspection device and server

Номер патента: US20230251399A1. Автор: LI ZHANG,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Xiaoyi He,Zhiqiang Chen,Yingkang Jin,Yaning Li,Yihai ZHANG,Mengjiao ZHAO,Xiaoxiao FENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Inspection method and system based on millimetre wave security inspection device, and server

Номер патента: EP4174717A1. Автор: LI ZHANG,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Xiaoyi He,Zhiqiang Chen,Yingkang Jin,Yaning Li,Yihai ZHANG,Mengjiao ZHAO,Xiaoxiao FENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-03.

Portable security inspection device based on millimetre wave imaging

Номер патента: US20190293833A1. Автор: Rong Wang,Yanli Liu,Hanjiang Chen,Chunchao QI,Zhihui Feng,Xiaoxiang HOU. Владелец: China Communication Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Scintillator array, and radiation detector and radiation inspecting device employing same

Номер патента: EP4307016A1. Автор: Hiroyasu Kondo,Makoto Hayashi,Kazumitsu Morimoto. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Scintillator array, and radiation detector and radiation inspection apparatus using the same

Номер патента: US20240045083A1. Автор: Hiroyasu Kondo,Makoto Hayashi,Kazumitsu Morimoto. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Conduction inspection device member and conduction inspection device

Номер патента: US20190212365A1. Автор: Masao SASADAIRA,Xiaoge Wang. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US20210271206A1. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2021-09-02.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20040004729A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20060082791A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

An underfloor wheelset inspection device and a method for probing railway vehicle wheelsets using the underfloor wheelset inspection device

Номер патента: EP4417959A1. Автор: Yu Zhang,Chaoyong PENG,Jianguang GUO,Zhaoyuan Zhang. Владелец: DTEC GmbH. Дата публикации: 2024-08-21.

Motor vehicle inspection device and method for identifying motor vehicles

Номер патента: US09460132B2. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

Shape inspection device, processing device, height image processing device

Номер патента: US20240271925A1. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Internal inspection device for determining a length of a tubular good

Номер патента: AU2021322676B2. Автор: Sebastien Petit,Alastair BRODIE,Lucas Kling E Silva,Nicolas WILBERT,Nestor MEDEIROS. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: CA2623370A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Surface inspection device, shape correction device, surface inspection method, and shape correction method

Номер патента: US20220390222A1. Автор: Shuichi Tanaka,Noriyuki Sadaoka,Tatsuhiko Kawakami,Chiharu TACHIKAWAME. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Molding thickness inspection device, molding thickness inspection system including the same, and molding thickness inspection method

Номер патента: US20240200931A1. Автор: Chang-Beom Kim,Ji Yeon Son,Hyun Chul KANG,Yong Kwi Lee,Young Seog YOON. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20240302419A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Optical transmission path inspecting system, and optical transmission path inspecting device

Номер патента: US12111224B2. Автор: Toshiyuki Miyamoto,Kenichiro Otsuka,Tetsufumi Tsuzaki,Yoshifumi Hishikawa,Gouichi FUKUMOTO. Владелец: Sumitomo Electric Optifrontier Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Inspection device, method for producing multilayer electrode body and inspection method

Номер патента: US12117283B2. Автор: Haruhisa Yagi,Ryuta Abe,Tatsuya Masada. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device for rotating electric machine and inspection system for rotating electric machine

Номер патента: EP4092886A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daisuke Mizuno,Yasuki Hattori,Naoya Kadota,Daichi GOTO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-23.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: US20090151481A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: TS Tech Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Planetary gear carrier pack transmission error inspection device

Номер патента: US9664592B2. Автор: Hyun Ku Lee,Jong Gu Do,Tae Hwi Lee. Владелец: PSYLOGIC Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Inspection device for inspecting tft

Номер патента: US20080164902A1. Автор: Tomoyuki Taguchi,Kenichi Imura,Yoshitami Sakaguchi,Yoshinori Mekata,Daiju Nakanao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-10.

Eye Glasses Lens Inspection Device with Interchangeable Lenses

Номер патента: US20230037795A1. Автор: Daryl Squicciarini. Владелец: OptiSource International Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Inspection device

Номер патента: US20180203041A1. Автор: Toshiyuki Sawada,Satoshi Iwashima. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-19.

Wafer inspection device

Номер патента: US8638118B2. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-01-28.

Inspection device for sub-element of reticle pod

Номер патента: US20240295461A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Cover opening inspection device for gearbox spline shaft and secondary sun gear of wind turbine generator system

Номер патента: ZA202309792B. Автор: ZHENG Li,Jianguo Wang,Wenbin Ma,Shibin Li,Fengqi WANG,Lianwu Zhang. Владелец: Huaneng Tongliao Wind Power Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Aerial optical fiber cable inspection method, aerial optical fiber cable inspection device, and program

Номер патента: US12031858B2. Автор: Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tatsuya Okamoto. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US09632110B2. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Inspection device

Номер патента: US09599659B2. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US20220349770A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Abnormal noise inspection device, abnormal noise inspection method, program, and workpiece manufacturing method

Номер патента: EP3733359A1. Автор: Yuji KOBORI,Makoto TONEGAWA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Semiconductor inspection device

Номер патента: US20170336442A1. Автор: Yuya SAEKI,Misuzu NISHIMURA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-23.

Inspection device and inspection method for speed variator

Номер патента: US11913853B2. Автор: Long-En Chiu. Владелец: Fulian Yuzhan Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351B1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2007-05-02.

Surface profile inspection device

Номер патента: US20120147919A1. Автор: Toshihiko Yoshikawa,Masataka Toda,Masaru HISANAGA. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Leak inspection device, leak inspection method, and leak inspection program

Номер патента: US20150253216A1. Автор: Yasuhiro Sasaki,Masatake Takahashi,Soichiro TAKATA,Shigeki Shinoda,Junichiro Mataga. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: EP4056978A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-09-14.

Inspection device for wiring of an integrated circuit

Номер патента: US6577151B1. Автор: Ming-Lang Tsai,Chia-Min Chuang,Chen-Ping Su,Chon-Tsai Yang. Владелец: Orient Semiconductor Electronics Ltd. Дата публикации: 2003-06-10.

Display panel inspection device and display panel inspection method using the same

Номер патента: US20240219424A1. Автор: Dong Hoon Lee,Haewook YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection device, inspection system, intelligent power module, inspection method, and computer program product

Номер патента: US20190219628A1. Автор: Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection device for glass substrate

Номер патента: US20130049785A1. Автор: Wen-Da Cheng. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: EP3771308A1. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2021-01-27.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351A1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2005-11-02.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200141977A1. Автор: Yuji Ebiike,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US20220206049A1. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Contact inspection device

Номер патента: US20240248117A1. Автор: Jung Min Lee,Suk Ju Kang,Eun Su Jun,Byungsu KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Portable fault location and inspection device for high voltage equipment based on acoustic wave method

Номер патента: AU2021103450A4. Автор: Yi Jiang,Jinbo Zhang,Jiajia SONG. Владелец: CHANGZHOU CAMPUS OF HOHAI UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-08-12.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US12085481B2. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240353287A1. Автор: Takuya Iwamoto,Masao Akiyoshi,Kenji Amaya,Norihiko HANA,Masaki Umeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: US12017861B2. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US12135336B2. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Continuity inspection device

Номер патента: US09989577B2. Автор: Miyoshi MABUCHI. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Optical axis angle inspection device

Номер патента: US09970751B2. Автор: Takayuki Ogawa,Tatsuya Sakai,Yoshitaka Hirai,Akira Sakamoto,Hirotaka Itoh. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Inspection device

Номер патента: US09863991B2. Автор: Shinji Matsumoto,Kazuya Yoshimura,Yuhji Yashiro. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Contact inspection device

Номер патента: US09759744B2. Автор: Kentaro Tanaka. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection device

Номер патента: US09683915B2. Автор: Yuuki Ogata. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Shape inspection device

Номер патента: US09625353B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Inspection device and method of head up display for vehicle

Номер патента: US09573524B2. Автор: Dong Myong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Inspection device of vehicle driver assistance systems

Номер патента: US09545966B2. Автор: Sinkuk Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspection device with vertically moveable assembly

Номер патента: US09535089B2. Автор: Greg Olmstead,Gary Mark Gunderson. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Semiconductor inspection method, semiconductor inspection device and manufacturing method of semiconductor element

Номер патента: US09508611B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Hirotaka Hamamura,Hiroyuki Okino,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

Door closure inspection device and method for automobile

Номер патента: GB2456117A. Автор: Yasuo Okumura,Koji Fujiwara,Ryo Taniguchi,Takanobu Fujii,Kuniaki Nishimura,Kazuhiko Sumida. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-08.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20200096607A1. Автор: Yasuhiro Okuno,Kenichiro Kurai,Kazuyuki Fukamachi,Michiaki Okubo,Kazumori Sakai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Container liquid leak inspection device

Номер патента: NZ622023B2. Автор: Toshiya Kobayashi,Toshiaki Iizuka,Takuya Sakurai,Kosuke Tamura. Владелец: SUNTORY HOLDINGS LIMITED. Дата публикации: 2016-03-30.

Electrical characteristic inspection device for semiconductor device and electrical characteristic inspection method for semiconductor device

Номер патента: US11828786B2. Автор: Takaya Noguchi,Yasushi Hisaoka,Sumito Ogata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Inspection device and inspection method using the same

Номер патента: US20240061033A1. Автор: Taejoon KIM,Sangwook Yoo,Junseong Lee,Junghun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Container liquid leak inspection device

Номер патента: NZ622023A. Автор: Toshiya Kobayashi,Toshiaki Iizuka,Takuya Sakurai,Kosuke Tamura. Владелец: Suntory Holdings Ltd. Дата публикации: 2015-12-24.

Electronic component carrying device and electronic component inspection device

Номер патента: US20180080982A1. Автор: Masami Maeda,Daisuke Kirihara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Inspection device of display device, method of inspecting mother substrate for display device, and display device

Номер патента: US20160363612A1. Автор: Satoru Tomita,Nobuyuki Ishige. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2016-12-15.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US11960246B2. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2024-04-16.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: SE2251043A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-09.

Intelligent inspection devices

Номер патента: US20200090410A1. Автор: Junsoo Han,Yonghwan EOM,Cholok Han,Younghun YANG,Junseong JEONG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-03-19.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: WO2024052463A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-14.

Manufacturing method of semiconductor device, inspection device of semiconductor device, and semiconductor device

Номер патента: US20180277449A1. Автор: Yu Muto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-09-27.

Rotatable inspection device for defect detection

Номер патента: WO2020234786A8. Автор: Gilles Santi,Marc Lany,Frederic Monnier,Bernard Revaz,Alain BERTHOUD,Julien HUBLEUR. Владелец: Sensima Inspection Sàrl. Дата публикации: 2021-06-24.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A3. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

Inspection device

Номер патента: US20230314471A1. Автор: Masaki Noguchi. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A2. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: GB2620182A. Автор: Murphy Christopher,CORLEY Gavin,KIERSEY Simon. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180113165A1. Автор: Yoichi Sakamoto,Takayuki Hamada,Nobuyuki Takita. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-04-26.

Inspection system and inspection device

Номер патента: US20230196875A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Internal inspection device for determining a length of a tubular good

Номер патента: US20230280146A1. Автор: Sebastien Petit,Alastair BRODIE,Lucas Kling E Silva,Nicolas WILBERT,Nestor MEDEIROS. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2023-09-07.

Semiconductor sample inspection device and inspection method

Номер патента: US11927626B2. Автор: Toshiki Yamada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-12.

Shape inspection device, processing device, height image processing device using characteristic points in combination with correcetion reference regions to correct height measurements

Номер патента: US12000688B2. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Internal inspection device for determining a length of a tubular good

Номер патента: AU2021322676A1. Автор: Sebastien Petit,Alastair BRODIE,Lucas Kling E Silva,Nicolas WILBERT,Nestor MEDEIROS. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2023-03-02.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20240092353A1. Автор: Masao Nakagawa,Toshimichi Takahashi. Владелец: National Agency For Automobile and Land Transport Technology NALTEC. Дата публикации: 2024-03-21.

Semiconductor Inspection Device and Probe Unit

Номер патента: US20210263075A1. Автор: Masaaki Komori,Katsuo Oki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-08-26.

Minute structure inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP1930732A1. Автор: Naoki c/o TOKYO ELECTRON AT LIMITED IKEUCHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-06-11.

Inspection device for inspecting the dimensions of an object

Номер патента: US5351410A. Автор: Lucien Hainneville. Владелец: Societe Industrielle de Liaisons Electriques SA. Дата публикации: 1994-10-04.

Wiring harness security inspection device

Номер патента: US5365176A. Автор: Doyle E. Miller. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-11-15.

Miniature air gap inspection device

Номер патента: CA2264382C. Автор: Kenneth J. Hatley. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2007-10-09.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: WO2017202535A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2017-11-30.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: EP4306972A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-01-17.

Skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: US20240000374A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Pressure point inspection device

Номер патента: US20140109683A1. Автор: Hao Jin,Xiaoxin Zhang,Junjie Huang,Jungmao Tsai,Huifang Duan,Bingcheng Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-04-24.

Inspection device for collector head and inspection method of collector head

Номер патента: US20200049752A1. Автор: Kotaro Nakamura,Kenichi Kitazawa,Hiroaki Shintani,Yuichi AHIKO. Владелец: Koshin Seikosho Ltd. Дата публикации: 2020-02-13.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: CA3205211A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Fluid pipe inspection device having non-motorized displacement

Номер патента: AU2018356205B2. Автор: Emmanuelle Louise-Alexandrine Baron,Etienne Damerose,Aude Garda,Guillaume Binet,Benoit Collignon. Владелец: Suez International SAS. Дата публикации: 2024-05-02.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: AU2023204075A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Electric connection inspection device, and manufacturing method and electric connection method for semiconductor device

Номер патента: GB2619415A. Автор: Mori Yuki,KONISHI Kumiko,MIKI Hiroshi,SAGAWA Masakazu. Владелец: Hitachi Power Semiconductor Device Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Air-bag inspection device and method

Номер патента: US20180096538A1. Автор: Hiroshi Saito,Hiroshi Miwa,Keiichiro Maekawa,Taisuke YOSHIDA,Takafumi Murakoshi,Masamori Umegae. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-05.

A wireless intelligent remote inspection device for pressurized systems

Номер патента: WO2024018380A1. Автор: Deepali Mittal. Владелец: Deepali Mittal. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection system, and inspection device

Номер патента: AU2023200444A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Rail inspection device

Номер патента: US20230339523A1. Автор: HongJin Kim,Won Young Kim,Bo Seung HWANG,Hyuk Jae Sung,In Kyeong HWANG,Hyungsik UM,Sangjune Bae,Byeong Hyeon Lim. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4298997A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US20140125373A1. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Inspection Device and Inspection Method Using Inspection Device

Номер патента: US20230288493A1. Автор: Atsushi Miyazaki,Keiji Nishimura. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Fluid visual inspection device

Номер патента: US20110100138A1. Автор: Yao-Sung HOU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-05-05.

Pipeline inspection device for heating network of thermal power plant

Номер патента: LU504915B1. Автор: LEI Liu,Hongbo Liu,Yi Miao,Liqun Wang,Jia CUI,Jiahong Gong,Zaixin Cui,Shengxi Zhang,Caiqi Cong. Владелец: Huaneng Power Int Inc Dalian Power Plant. Дата публикации: 2024-02-15.

Leak inspection device and leak inspection method

Номер патента: US20210278308A1. Автор: Tetsuya Matsukawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Charging function inspection device

Номер патента: US20230173943A1. Автор: Hoo Taeg LEE. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Inspection device and method for inspecting an adhesive pattern on a substrate

Номер патента: US11801672B2. Автор: Eric Lingier,Alexander Wilhelm. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Wafer inspection device

Номер патента: US20130147504A1. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-06-13.

Inspection device for cooling plate

Номер патента: US20240019236A1. Автор: Ki Young Kim,Sang Do Lee,Sung Joo Kim,Sung Gye Park,Tae Moon KWON. Владелец: Do Lim Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Optical inspection device

Номер патента: US20070070528A1. Автор: Chien-Fu Chen,Ming-Chich Chung,Ken Yen,Walong Sheu,Yan-Gu Lai,Ace Lin,Chiung-Hui Chen,Hsien-Chung Chiu. Владелец: Micro Digital Automation Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Planetary gear carrier pack transmission error inspection device

Номер патента: US20150192496A1. Автор: Hyun Ku Lee,Jong Gu Do,Tae Hwi Lee. Владелец: PSYLOGIC Inc. Дата публикации: 2015-07-09.

Focus ring inspection device and focus ring inspection method

Номер патента: US20240159590A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee,Dong Mok Lee,Jin Il SUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Water cut-off inspection device for grommet

Номер патента: US6382016B1. Автор: Yoshitsugu Fujita,Yoshihiro Araki,Katsumi Furukawa. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-05-07.

Wafer inspection device

Номер патента: US20070040241A1. Автор: Guenter Schmidt,Albert Kreh,Michael Halama. Владелец: VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH. Дата публикации: 2007-02-22.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20240077387A1. Автор: Toshimichi Takahashi,Keisuke Tada,Morio ONAI. Владелец: Meidensha Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Circuit board inspection device

Номер патента: US20050017743A1. Автор: Koji Adachi,Kaoru Yasukawa,Norikazu Yamada,Tetsuichi Satonaga,Koki Uwatoko,Eigo Nakagawa. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2005-01-27.

Wire disconnection inspecting device and method

Номер патента: CA2588855C. Автор: Katsumi Takeishi,Kazuyuki Fukamachi,Keita Sekine,John Cheek. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-29.

Threaded-hole inspection device

Номер патента: US11035657B2. Автор: Atsushi Sato,Yasuo Sato,Takao Hayashi,Tetsuya Horiuchi,Mamoru Watanabe,Mamoru Hara,Teruyuki MIYASHITA,Kenji MIYAMORI,Koji MIYAMORI. Владелец: DAI-ICHI SOKUHAN WORKS Co. Дата публикации: 2021-06-15.

Battery pack and inspection device therefor

Номер патента: US6639387B2. Автор: Katsunori Kitagawa,Tetsuo Nagahisa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2003-10-28.

Secondary battery inspection method and secondary battery inspection device

Номер патента: CA3141786C. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-20.

Storage battery inspection device and storage battery inspection method

Номер патента: US11828811B2. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US11913838B2. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Semiconductor inspection device and method for inspecting semiconductor sample

Номер патента: US20230273253A1. Автор: Makoto Sakakibara,Satoshi Takada,Yasuhiro Shirasaki,Minami Shouji,Natsuki Tsuno. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Ball bearing inspection device and inspection method

Номер патента: US20170089807A1. Автор: Daisuke Kondo,Katsuyuki Kawamura,Shinichi Takamura,Taito SHIBUYA,Kentarou KACHI. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2017-03-30.

Protective relay inspection device

Номер патента: US11892509B2. Автор: Jae-Shik Yoon. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Inspecting device of display panel and inspecting method of display panel using the same

Номер патента: US20200135073A1. Автор: Hyungjin Lee,Se Yoon Oh,Dae Hong Kim,Sung Hoon Yang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-30.

Tire inspection device with gas sensor leak detection and tire inspection method with gas sensor leak detection

Номер патента: US11874198B2. Автор: Takeshi Kato,Yuichi Doki,Akane IIZUKA. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US20210033463A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Secondary cell inspection method and secondary cell inspection device

Номер патента: EP3951409A1. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Secondary cell inspection method and secondary cell inspection device

Номер патента: US20230034016A1. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US20230349950A1. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP3875891A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20210104035A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-08.

Inspection device

Номер патента: US20230236223A1. Автор: Tomohisa Hoshino. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Inspection device

Номер патента: US20240060762A1. Автор: Daisuke Fukuoka,Takafumi HARAGUCHI. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP4249932A1. Автор: Yorikazu Kashiramoto. Владелец: So Brain Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US11906561B2. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Inspection device for display apparatus and inspection method for display apparatus

Номер патента: US20240094246A1. Автор: Daewon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Vehicle inspection device and article transfer system having the same

Номер патента: US20220058897A1. Автор: Shin Young Cheong,Tae In Kim,Jong Seon JOEN,Hyun Seong MOON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-24.

Insulation inspecting device

Номер патента: US11768234B2. Автор: Noriaki Yamamoto,Yasushi Taniguchi,Haruhisa Yagi,Takahiro Kuhara,Noriyuki Maruyama. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Probe, probe card and contact inspection device

Номер патента: US20180088150A1. Автор: Tomoaki Kuga. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

Semiconductor inspection device and method of inspecting a semiconductor wafer

Номер патента: US20220115252A1. Автор: Noriaki Noji. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Unit Cell Inspecting Device, Electrode Assembly Manufacturing Equipment Including Same, and Electrode Assembly Manufacturing Method

Номер патента: US20240055644A1. Автор: Ha Yong Jung,Jong Myung Lee,Kwan Woo Lee,Hyun Jae PARK. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Die Coater Inspection Device and Method

Номер патента: US20240033774A1. Автор: Myung Han Lee,Jeong Yong Lee,Duck Joong Yun,Do Hyun Lee,Woo Jin An,Eui Seok Sa. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US20150247901A1. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-09-03.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10698531B2. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2020-06-30.

Inspection device and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20230228646A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Wheel blank inspection device

Номер патента: US20190063896A1. Автор: ZHEN Li,Huiying Liu,Dan YAO. Владелец: CITIC Dicastal Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Inspection device and inspection program

Номер патента: EP4220004A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-08-02.

Fracture surface inspection device and fracture surface inspection method for loss evaluation

Номер патента: US11821725B2. Автор: Ryosuke MURAKAMI. Владелец: Yasunaga Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Inspection device

Номер патента: US20230125628A1. Автор: SHINJI Ueyama,Harutaka Sekiya,Tomoki Onishi,Ingi KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-27.

Substrate inspection device

Номер патента: US20190331731A1. Автор: Hiroshi Yamada,Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-10-31.

Charging protocol inspection device and operating method therefor

Номер патента: CA3226710A1. Автор: Yeo Kyung YOON,Yong Jun Kim,Jeong In Yu. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-06-15.

Radiation inspection device, radiation inspection method, and program

Номер патента: WO2023037696A1. Автор: 剛司 野田. Владелец: キヤノン株式会社. Дата публикации: 2023-03-16.

Radiation inspecting apparatus

Номер патента: US09606072B2. Автор: Yoshihiro Ueno,Yusuke TAGAWA,Hiroshi Oohara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Radiation inspection apparatus and radiation inspection method

Номер патента: KR100451537B1. Автор: 사와다료이치. Владелец: 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼. Дата публикации: 2004-10-06.

Radiation detection device, radiation inspection system, and method for adjusting radiation detection device

Номер патента: US20180364370A1. Автор: Tatsuya Onishi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2018-12-20.

RADIATION TUBE AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20150162162A1. Автор: Taniguchi Osamu,Ogura Takao,Takasaki Koichi,Ukiyo Noritaka. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

RADIATION IMAGING APPARATUS, CONTROL METHOD THEREFOR, AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20150204988A1. Автор: Dowaki Kanako. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

A manufacturing method of the guide tube for the radiation inspection device

Номер патента: KR102564258B1. Автор: 김종호,김대건,김용인,김소명,천훈. Владелец: 주식회사 올네이션. Дата публикации: 2023-08-04.

RADIATION INSPECTING APPARATUS

Номер патента: US20160363544A1. Автор: Ueno Yoshihiro,TAGAWA Yusuke,OOHARA Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-15.

Radiation inspection equipment

Номер патента: JP4868034B2. Автор: 康史 市沢,祐彦 大日方. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2012-02-01.

Radiation inspection system and method thereof

Номер патента: KR100435108B1. Автор: 김용원,김형철,주효남. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2004-06-09.

Radiation inspection system

Номер патента: CN115219530A. Автор: 李文军,杨广国,夏国平,赵群礼. Владелец: ANHUI QILOO PHOTOELECTRIC TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-21.

RADIATION DETECTION DEVICE, RADIATION INSPECTION SYSTEM, AND METHOD FOR ADJUSTING RADIATION DETECTION DEVICE

Номер патента: US20190003990A1. Автор: ONISHI Tatsuya. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2019-01-03.

Radiation detection device, radiation inspection system, and method for adjusting radiation detection device

Номер патента: US20190003990A1. Автор: Tatsuya Onishi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-01-03.

Radiation inspection apparatus

Номер патента: US20120221275A1. Автор: Hirohiko Obinata,Kumiko Horikoshi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Radiation inspection system for welds

Номер патента: JP6865519B2. Автор: メイジロン モレナール，マルセル,アンデル ハートウィグセン，マルティン,ノルベルタス ムルデル，ベルナルダス. Владелец: Rontgen Technische Dienst BV. Дата публикации: 2021-04-28.

Semi-auto radiation inspection apparatus of attachable and detachable type

Номер патента: KR101949691B1. Автор: 김봉석,임선,황정훈. Владелец: 전자부품연구원. Дата публикации: 2019-02-20.

Directional-deviation correction device and method for mobile-type radiation inspection apparatus

Номер патента: GB202217586D0. Автор: . Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Transport device and radiation inspection system

Номер патента: WO2021153026A1. Автор: 雄飛 南埜. Владелец: 東芝インフラシステムズ株式会社. Дата публикации: 2021-08-05.

Mobile radiation inspection apparatus and mobile radiation inspection system

Номер патента: EP4206751A1. Автор: Yang Yang,Ying Li,LEI Liu,Dongyu Wang,Shangmin Sun,Quanwei Song,Xuejing Yang,Weifeng Yu,Junping Shi,Hui Meng,Chunguang ZONG,Bicheng Liu,Haojie Chi,Xuping Fan. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

DUAL-MODE RAPIDLY-PASSING TYPE MOVING TARGET RADIATION INSPECTION SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20170090062A1. Автор: Zhang Dan,WANG Shaofeng,Zheng Jianbin,Cao Yanfeng,Yan Xiong,Li Suqi,Feng Zhitao. Владелец: Powerscan Company Limited. Дата публикации: 2017-03-30.

Radiation inspection system

Номер патента: CN107479103B. Автор: 王春雷,刘铮,王少锋,冯志涛,闫雄. Владелец: Jun He Xinda Beijing Science And Technology Ltd. Дата публикации: 2020-01-14.

Scintillator array, method for manufacturing scintillator array, radiation detector, and radiation inspection device

Номер патента: US11762106B2. Автор: Hiroyasu Kondo,Kazumitsu Morimoto. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

SCINTILLATOR, SCINTILLATOR ARRAY, RADIATION DETECTOR, AND RADIATION INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20180252824A1. Автор: Adachi Yoshitaka,FUKUTA Yukihiro,MORIMOTO Kazumitsu. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-06.

Scintillator array, method of manufacturing scintillator array, radiation detector, and radiation inspection device

Номер патента: US20190302284A1. Автор: Hiroyasu Kondo,Makoto Hayashi,Hiroshi Ichikawa,Yoshitaka Adachi,Yukihiro Fukuta. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Scintillator array, method of manufacturing scintillator array, radiation detector, and radiation inspecting device

Номер патента: EP3553792B1. Автор: Hiroyasu Kondo,Makoto Hayashi,Hiroshi Ichikawa,Yoshitaka Adachi,Yukihiro Fukuta. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-17.

Scintilltor array, method for manufacturing scintillator array, radiation detector, and radiation inspection device

Номер патента: EP4053244A1. Автор: Hiroyasu Kondo,Kazumitsu Morimoto. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-07.

Scintillator array, method for manufacturing scintillator array, radiation detector, and radiation inspection device

Номер патента: EP4053244A4. Автор: Hiroyasu Kondo,Kazumitsu Morimoto. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-15.

Scintillator array, method for manufacturing scintillator array, radiation detector, and radiation inspection device

Номер патента: US20230375726A1. Автор: Hiroyasu Kondo,Kazumitsu Morimoto. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Scintillator array, method for manufacturing scintillator array, radiation detector, and radiation inspection device

Номер патента: US11782172B2. Автор: Hiroyasu Kondo,Makoto Hayashi,Kazumitsu Morimoto,Yukihiro Fukuta. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Scintillator array, method for manufacturing scintillator array, radiation detector, and radiation inspection device

Номер патента: US20230417933A1. Автор: Hiroyasu Kondo,Makoto Hayashi,Kazumitsu Morimoto,Yukihiro Fukuta. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Radiation detection apparatus and radiation inspection system equipped with the apparatus

Номер патента: KR20220137712A. Автор: 츠토무 야마카와,스가야 미야시타,준 오오스기,쿄헤이 사카모토,류타로 하야카와. Владелец: 다이아트렌드 코포레이션. Дата публикации: 2022-10-12.

Radiation detection device, and radiation inspection system on which device is mounted

Номер патента: WO2022163837A1. Автор: 勉 山河,清哉 宮下,淳 大杉,龍太郎 早川,恭平 坂本. Владелец: ダイヤトレンド株式会社. Дата публикации: 2022-08-04.

Scintillator, scintillator arrays, radiation detector and radiation inspecting apparatus

Номер патента: CN106796822B. Автор: 森本一光,森本光,齐藤昭久,足达祥卓,丰岛正规,小柳津英二,六反田贵史. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-22.

Gadolinium oxysulfide sintered body, and scintillator, scintillator array, radiation detector, and radiation inspection apparatus including gadolinium oxysulfide sintered body

Номер патента: US20190345383A1. Автор: Toshiaki Katayama,Keiji Yamahara,Koji HAZU. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Scintillator panel, radiation detector using same, line camera and radiation inspection device, and inline inspection method and inspection method using same

Номер патента: EP4191288A4. Автор: Yasuhiro Kobayashi,Takahiro Murai,Nobuyasu Fujioka,Sho Miyao. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-07-31.

Uv radiation inspection tool, uv radiation inspection kit, and uv radiation inspection method

Номер патента: EP4299691A4. Автор: Kimi Ikeda,Daisuke Arioka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

Uv radiation inspection tool, uv radiation inspection kit, and uv radiation inspection method

Номер патента: EP4299691A1. Автор: Kimi Ikeda,Daisuke Arioka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Scintillator panel, radiation detector using same, line camera and radiation inspection device, and inline inspection method and inspection method using same

Номер патента: US20240069220A1. Автор: Yasuhiro Kobayashi,Takahiro Murai,Nobuyasu Fujioka,Sho Miyao. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-02-29.

Radiation imaging apparatus, control method therefor, and radiation inspection apparatus

Номер патента: US09578262B2. Автор: Kanako Dowaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

SCINTILLATOR, RADIATION DETECTION DEVICE, AND RADIATION INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20160073983A1. Автор: HASEGAWA Rei,MIYAZAKI Kazunori. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

Radiation inspection apparatus and radiation inspection method

Номер патента: JP3841358B2. Автор: 啓司 小橋,雄一郎 上野,崇章 石津,健介 雨宮,進一 小嶋. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-11-01.

CERAMIC SCINTILLATOR ARRAY, METHOD FOR MANUFACTURING SAME, RADIATION DETECTOR AND RADIATION INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20180188387A1. Автор: FUKUTA Yukihiro,MORIMOTO Kazumitsu,Saito Akihisa,Kondo Hiroyasu. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-05.

Scintillator and radiation detector, and radiation inspecting device

Номер патента: CN100434933C. Автор: 福田承生,菊山裕久,里永知彦,小池光. Владелец: Stella Chemifa Corp. Дата публикации: 2008-11-19.

Scintillator panel, radiation detector, radiation inspection device, and method for producing scintillator panel

Номер патента: US20230408711A1. Автор: Yasuhiro Kobayashi,Takahiro Tanino,Sho Miyao. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-12-21.

Scintillator panel, radiation detector, radiation inspection device, and method for producing scintillator panel

Номер патента: EP4270062A1. Автор: Yasuhiro Kobayashi,Takahiro Tanino,Sho Miyao. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-11-01.

Radiation imaging apparatus, method for manufacturing the same, and radiation inspection apparatus

Номер патента: US9568617B2. Автор: Tomoaki Ichimura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Radiation inspection apparatus and inspection method thereof

Номер патента: KR100501588B1. Автор: 기따구찌히로시,우메가끼기꾸오,아메미야겐스께,고지마신이찌,오까자끼다까시,우에노유우이찌로오. Владелец: 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼. Дата публикации: 2005-07-18.

Radiation inspection apparatus and inspection method thereof

Номер патента: KR20020096959A. Автор: 기따구찌히로시,우메가끼기꾸오,아메미야겐스께,고지마신이찌,오까자끼다까시,우에노유우이찌로오. Владелец: 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼. Дата публикации: 2002-12-31.

RADIATION IMAGING APPARATUS AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20150001394A1. Автор: YAMAZAKI Takashi,Saito Hidehiko. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

RADIATION IMAGING APPARATUS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20150021486A1. Автор: Nomura Keiichi,Ishida Yohei. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

RADIATION IMAGING APPARATUS, RADIATION INSPECTION APPARATUS, METHOD FOR CORRECTING SIGNAL, AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20140239186A1. Автор: Iwashita Atsushi,Kameshima Toshio,Yagi Tomoyuki,Takenaka Katsuro,Okada Hideyuki,Sato Sho,Sato Eriko,Ryu Takuya. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-08-28.

RADIATION IMAGING APPARATUS, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20160202362A1. Автор: Ichimura Tomoaki. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-14.

RADIATION IMAGING APPARATUS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20140319361A1. Автор: Inoue Masato,ISHII Takamasa,TAKEDA Shinichi,SAWADA Satoru,TAKEI Taiki,Nishibe Kota. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-30.

GADOLINIUM OXYSULFIDE SINTERED BODY, AND SCINTILLATOR, SCINTILLATOR ARRAY, RADIATION DETECTOR, AND RADIATION INSPECTION APPARATUS INCLUDING GADOLINIUM OXYSULFIDE SINTERED BODY

Номер патента: US20190345383A1. Автор: Yamahara Keiji,Katayama Toshiaki,HAZU Koji. Владелец: MITSUBISHI CHEMICAL CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-14.

Radiation detection circuit and radiation inspection apparatus

Номер патента: JP4611106B2. Автор: 謙一 青木. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-01-12.

Radiation imaging apparatus, method of manufacturing the same, and radiation inspection apparatus

Номер патента: CN104124254A. Автор: 石井孝昌,井上正人,竹田慎市,泽田觉,武井大希,西部航太. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-10-29.

Ceramic scintillator and radiation detector and radiation inspection apparatus using the same

Номер патента: JP5022600B2. Автор: 正昭 玉谷,幸洋 福田,博康 大田. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-12.

Radiation detecting unit and radiation inspecting apparatus

Номер патента: WO2007066616A1. Автор: Akihiro Ukita. Владелец: SUMITOMO HEAVY INDUSTRIES, LTD.. Дата публикации: 2007-06-14.

Collimator, radiation detector, and radiation inspection equipment

Номер патента: JP6818592B2. Автор: 徹 田中,田中　徹,修也 南部,裕樹 田代,秀士 中野,彩 渡瀬. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

Radiation detector and radiation inspecting apparatus

Номер патента: KR101104173B1. Автор: 다이조 아마노. Владелец: 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-01-12.

Photon-counting radiation detector and radiation inspection apparatus using the same

Номер патента: CN112585503A. Автор: 平林英明,角岛邦之,佐佐木敦也,佐佐木亮人. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-30.

Ceramic scintillator array and manufacturing method thereof, radiation detector, and radiation inspection apparatus

Номер патента: JPWO2017082337A1. Автор: 幸洋 福田,昭久 斉藤,弘康 近藤,福田　幸洋,一光 森本,斉藤　昭久. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-30.

Solid state scintillator material, solid state scintillator, radiation detector, and radiation inspection apparatus

Номер патента: US8431042B2. Автор: Makoto Hayashi,Takao Sawa,Yukihiro Fukuta. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-30.

Photon counting type radiation detector and radiation inspection equipment using it

Номер патента: JPWO2020085214A1. Автор: 英明 平林,亮人 佐々木,敦也 佐々木,邦之 角嶋. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-16.

Methods and Apparatus for Determining the Position of a Spot of Radiation, Inspection Apparatus, Device Manufacturing Method

Номер патента: US20190049861A1. Автор: Tukker Teunis Willem,NIENHUYS Han-Kwang,LIN Nan,Van Voorst Peter Danny. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-14.

ELECTRIC DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20140361183A1. Автор: Inoue Masato,ISHII Takamasa,TAKEDA Shinichi,SAWADA Satoru,TAKEI Taiki,Nishibe Kota. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-11.

Remote movable radiation inspection equipment of electron accelerator system

Номер патента: KR102435152B1. Автор: 김민수,강희영,오광일,정도진,한기수. Владелец: 동양검사기술주식회사. Дата публикации: 2022-08-22.

Radiation inspection apparatus e.g. positron computerized tomography apparatus, measures time at which peak values of detection signal is equivalent to two threshold values, based on which incidence time of signal is calculated

Номер патента: FR2905767A1. Автор: Kenichi Aoki. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2008-03-14.

Direction correcting apparatus, method thereof and movable radiation inspecting system

Номер патента: US20080197293A1. Автор: Guang Yang,Hua Peng,Haifeng Hu,Shangmin Sun,Zhongrong Yang,Zhijun Li,Xining Xu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-21.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US11507007B2. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-22.

System, apparatus and method for centralized management of security inspection devices via field bus network

Номер патента: US09779054B2. Автор: Hui Ding,Jinyu Zhang,Hu Tang,Fei Fang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Repair welding system, repair welding method, inspection device, and robot control device

Номер патента: EP3991901A1. Автор: Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN,Toshinari Mohri. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-04.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20240249400A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-25.

Medicine inspection device and medicine packaging system

Номер патента: US09994347B2. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Hiroyuki Yuyama,Dai SHIMIZUBE. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Visual inspection device

Номер патента: US09986212B2. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R. F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Visual inspection device

Номер патента: US09693024B2. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R. F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Inspecting device monitoring system

Номер патента: US09465385B2. Автор: Shingo Suzuki,Yosuke Kamioka,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Visual inspection device

Номер патента: US20200053259A1. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl,Benjamin Oliver Ryan Cabot. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US20220011703A1. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4374217A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Image inspection device for inspecting image, image forming apparatus for forming image, and program for inspection device

Номер патента: US12020424B2. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-25.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4373675A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Utilization of visual auxiliary inspection devices for vehicle servicing system and method

Номер патента: US20060106630A1. Автор: Wang-Ying Lo. Владелец: DRACO PHOTOELECTRON Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-18.

Image inspection device, console, and radiation imaging system

Номер патента: EP4029450A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-20.

Smoking article packaging container inspection device, manufacturing device, and inspection method

Номер патента: EP3831729A1. Автор: Makoto Ueno. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240300234A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240326405A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-10-03.

Visual inspection device

Номер патента: US09736342B2. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Roof inspection devices, methods, and systems

Номер патента: US09706173B1. Автор: James P. Hillman,Cynthia Blasing,Damien Brunet,Dan D. Cable,Adolfo J. Fernandez,Jeffrey A. Kreth,Shane Osborne,Robert A. Pacheco,Renee Sokolowski. Владелец: United Services Automobile Association USAA. Дата публикации: 2017-07-11.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Vulnerability inspection device, vulnerability inspection method, and vulnerability inspection program

Номер патента: US20220261482A1. Автор: Takuya Watanabe,Ayako Hasegawa,Mitsuaki AKIYAMA,Eitaro Shioji. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-08-18.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US8605378B2. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-12-10.

Feeder operation inspection device

Номер патента: EP4027762A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-07-13.

Feeder operation inspection device

Номер патента: US20220332514A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Image inspection device and image forming apparatus using the same

Номер патента: US20240168422A1. Автор: Yu Saito,Masakazu Shirai. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-23.

Mura inspection device for compressing mura data through dimensionality reduction, operating method, and display system including the same

Номер патента: US20230148119A1. Автор: Se Whan NA,Pil-Seung Heo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-05-11.

Inspection device, method, and computer program for inspection

Номер патента: US20230316490A1. Автор: Kazuhiro Arita,Akihito Ito,Yukiharu Tomita,Yasunori Nakamukai,Takahiko Naitou. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection device and method of inspection using the same

Номер патента: US20240233111A1. Автор: DooHyoung Lee,Dongha Lee,Juwon LEE,Sanghyung Lim,Kuhwan Chung,Joo Dong Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Image inspection device

Номер патента: US20210385415A1. Автор: Ying-Nan Chen,Yi-Ning Lee. Владелец: Wen Chin Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Image inspection device, console, and radiographic system

Номер патента: US20220198663A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Optical inspection device for surface of reticle pod and optical inspection method for surface of reticle pod

Номер патента: US20240295830A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Computer-Implemented Data Structure, Method, Inspection Device, and System for Transferring a Machine Learning Model

Номер патента: US20240273415A1. Автор: Daniel SCHALL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US12125243B2. Автор: Kiyotaka Tsuchibuchi,Daigo Hama,Rina Takeuchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-22.

Handheld inspection device

Номер патента: EP4281254A1. Автор: Kennet Andersson,Johan RYMAN. Владелец: Bill Andersson Fordonslyftar Ab. Дата публикации: 2023-11-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240346740A1. Автор: Min Kyu Yeo,Sun Woong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Inspecting device, method for changing threshold, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09544447B2. Автор: Takako SHIJOH. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Visual inspection device including a moveable display

Номер патента: US09473749B2. Автор: David A. Selby,Scott Schneider,Matthew J. Mergener,Steven W. Hyma,Corey J. Dickert. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Solder print inspecting device

Номер патента: US09471972B2. Автор: Yosuke Kamioka. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Recipe creation device for use in semiconductor measurement device or semiconductor inspection device

Номер патента: US10984143B2. Автор: Yoshihiro Ota,Hiromi Fujita,Toshikazu Kawahara,Shigeki SUKEGAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Inspection Device for Inspecting a Building or Structure

Номер патента: US20230073689A1. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2023-03-09.

Light source device and camera inspection device using same

Номер патента: US20230231088A1. Автор: Ji Hyun Yun. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Wafer containing cassette inspection device and method

Номер патента: US20100074514A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Hideki Mori,Takeki Kogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-03-25.

Inspection device, control method and control apparatus for the same

Номер патента: US20190295241A1. Автор: Yu Gu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Inspection device for inspecting a building or structure

Номер патента: US12002193B2. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2024-06-04.

Road inspection device for checking vehicle-mounted instrument for correct road tall

Номер патента: RU2210110C2. Автор: Андреас ВИДЛЬ,Рональд БАРКЕР. Владелец: Маннесманн Аг. Дата публикации: 2003-08-10.

Inspection method and inspection device

Номер патента: EP2772920A2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-09-03.

Driving device and inspection device

Номер патента: AU2022231255A1. Автор: WEI Ren,PENG Wang,Qian Huang,Shuai LIU,Zhen Fu,Minyong GU,Zaifeng LI. Владелец: Beijing Tianma Intelligent Control Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-19.

Machine learning model generation device, machine learning model generation method, program, inspection device, inspection method, and printing device

Номер патента: US11820132B2. Автор: Masayuki UKISHIMA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Visual inspection device

Номер патента: CA2717776C. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R.F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20220012867A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220138983A1. Автор: Kentaro Hayashi,Hiromichi Godo. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Pipeline inspection devices and methods

Номер патента: US11732833B2. Автор: Fereydun Tabaian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-22.

Backdoor inspection device, user device, system, method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20220277083A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Image sensor inspection device

Номер патента: EP2080061A2. Автор: Walter Parkola,Martin J. Wood. Владелец: Delkin Devices Inc. Дата публикации: 2009-07-22.

Image sensor inspection device

Номер патента: US20110090491A1. Автор: Walter Parkola,Martin J. Martin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-21.

Image inspection device, computer-readable recording medium storing a program, and image forming device

Номер патента: US11825036B2. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-11-21.

Image inspection device, image formation device, image inspection method, and non-transitory recording medium storing a computer readable program

Номер патента: US20200250805A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-06.

Image inspection device, computer-readable recording medium storing a program, and image forming device

Номер патента: US20240040045A1. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-02-01.

Image inspection device and method

Номер патента: US20190005634A1. Автор: Kuo-Kai HUNG,Chun-Neng Chan,Pin-Cheng Kung. Владелец: Noporvis Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-03.

Printed material inspection device, printed material inspection method, program, and printing system

Номер патента: US20240161273A1. Автор: Takashi Matsuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180197187A1. Автор: Wing Kin Hui,Hoi Ying Chung,Fong Man Hui. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-07-12.

Inspection device of winding appearance of tape and improvement processing method for the same

Номер патента: US20040021096A1. Автор: Nobuyuki Tada,Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-02-05.

Inspection device of winding appearance of tape and improvement processing method for the same

Номер патента: US20050145742A1. Автор: Nobuyuki Tada,Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-07.

Method, System and Inspection Device for Securely Executing Control Applications

Номер патента: US20240219879A1. Автор: Daniel Schneider,Axel Pfau,Rainer Falk,Stefan Pyka,Christian Peter Feist,Franz Sperl. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-07-04.

Liquid crystal display panel inspection device and method for manufacturing same

Номер патента: US5933018A. Автор: Hiroto Komatsu. Владелец: Shin Etsu Polymer Co Ltd. Дата публикации: 1999-08-03.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program

Номер патента: CA3115746C. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Inspection device, image forming apparatus, and program for inspection device

Номер патента: US20220005176A1. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-06.

Inspection device, image forming apparatus, and program for inspection device

Номер патента: US20230281798A1. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-09-07.

Image inspection device, image forming apparatus, and image inspection method

Номер патента: EP3787272A1. Автор: Hiroaki Kodaira,Makoto Oki,Yusuke Mimura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-03-03.

Image inspecting device and image forming apparatus incorporating the image inspecting device

Номер патента: US11800037B2. Автор: Satoshi Nakayama,Tatsuya Ishii,Tohru Matsumoto,Kohta AOYAGI,Kimiharu Yamazaki,Ryosuke Ebinuma,Ryoh ISHITSUKA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Image inspection device, image forming system, and storage medium

Номер патента: US20240012595A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-11.

Photographing apparatus and inspection device

Номер патента: US11985399B2. Автор: SHUANG Wang,Hua Zhang,Haoran Wang,Zhaowei Liu,Jialong Li,Yonglong Li,Yongcan CHEN. Владелец: Sichuan Energy Internet Research Institute EIRI Tsinghua University. Дата публикации: 2024-05-14.

Image inspection device, printing device including the same, and image inspection method

Номер патента: US20230088442A1. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

Backdoor inspection device, method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20220277079A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Inspection device and method of inspecting and repairing display panel by using the same

Номер патента: US20230078237A1. Автор: Hyun Min Cho,Sung-Chan Jo,Jong Hyuk KANG,Won Ho Lee,Hyun Deok Im. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-16.

Image inspection device, image inspection method, and prelearned model generation device

Номер патента: US20230162343A1. Автор: Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Visual inspection device

Номер патента: CA2827321C. Автор: David A. Selby,Scott Schneider,Matthew J. Mergener,Steven W. Hyma,Corey J. Dickert. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-08-25.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program product

Номер патента: US20210225112A1. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US20220092758A1. Автор: Yosuke TASHIRO. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-03-24.

Image inspection device, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20180089818A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Image inspection device and saving processing method for captured image for inspection based on recoding resolution

Номер патента: US11769243B2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Implantable inspecting device, inspecting system, and inspecting method

Номер патента: US20220248991A1. Автор: Chi-Heng Chang,Mei-Ching WANG. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Inspection device, printer, and method to inspect images accurately

Номер патента: US11902476B2. Автор: Hiroto Takahashi. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection device

Номер патента: US20230316484A1. Автор: Toshikazu Karube. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: EP4224261A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2023-08-09.

Inspection device

Номер патента: US20200204714A1. Автор: Yukio Ichikawa,Munehiro Takayama,Masataka Toda. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Vehicle inspection device and vehicle inspection system

Номер патента: US20210092331A1. Автор: Takahiro Iijima,Naoki Kato,Akira Terauchi,Hiroyuki Tomosugi,Kayoko Fukasawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-25.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US20220172400A1. Автор: Kiyotaka Tsuchibuchi,Daigo Hama,Rina Takeuchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-06-02.

Image inspection device and image forming system

Номер патента: US20190220970A1. Автор: Makoto Oki,Yusuke Mimura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection device for inspecting quality of printed images

Номер патента: US11997234B2. Автор: Yosuke TASHIRO. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US20220094811A1. Автор: Yosuke TASHIRO. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-03-24.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A3. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-19.

Image inspection device and saving processing method for captured image

Номер патента: EP3886041A1. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

Submersible inspection device and redundant wireless communicaiton with a base station

Номер патента: US20180157251A1. Автор: Biao Zhang,Daniel Lasko,Gregory A. Cole,Thomas Fuhlbrigge,William Eakins,Harshang Shah,Andrew Salm,Luiz CHEIM,Carlos Morato,Poorvi Patel. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2018-06-07.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US20120250175A1. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-10-04.

Backdoor inspection device, backdoor inspection method, and computer-readablemedium

Номер патента: US20230229766A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Inspection device, method, and computer program for inspection

Номер патента: US20230316501A1. Автор: Kazuhiro Arita,Akihito Ito,Yukiharu Tomita,Yasunori Nakamukai,Takahiko Naitou. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection device, inspection method, and medium

Номер патента: US20230297675A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Inspection Device, Analysis/Display Device, Inspection Device

Номер патента: US20080191708A1. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Traditional chinese medicine inspection device of composite millimeter-wave radar

Номер патента: US20230338109A1. Автор: ZHANG LEI,Yang Jie,Wang Bin,Liu Jia,Liu Baoyan,Wen Tiancai. Владелец: INSTITUTE OF INFORMATION ON TRADITIONAL CHINESE MEDICINE CHINA ACADEMY OF CHINESE MEDICAL SCIENCES. Дата публикации: 2023-10-26.

Determining a load distribution for data units at a packet inspection device

Номер патента: US09935883B2. Автор: James M. Rolette,Damon E. Fleury. Владелец: Trend Micro Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Cutting position designation device, cutting position designation method, cutting system, and x-ray inspection device

Номер патента: EP4424480A2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Shingo KONDO,Daisuke Kudo,Yunosuke MASAOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Cutting position designation device, cutting position designation method, cutting system, and x-ray inspection device

Номер патента: EP4424480A3. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Shingo KONDO,Daisuke Kudo,Yunosuke MASAOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Packet receiving method, deep packet inspection device and system

Номер патента: US09578040B2. Автор: Jiancheng GUO,Zhenggang You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US09565086B2. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-02-07.

System for mobile device cradle and tube gripper of non-destructive testing inspection device

Номер патента: US09538677B2. Автор: Kevin Andrew Coombs,Joshua Lynn Scott,Gerard Frederick Beckhusen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-01-03.

Intraocular pressure inspection device

Номер патента: US20240130614A1. Автор: Chu-Ming Cheng,Chao-Ting Chen,Shao Hung Huang,Chi-Yuan Kang,Fong Hao Kuo,Yu-Chung TUNG. Владелец: Medimaging Integrated Solution Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240098363A1. Автор: Yosuke Tanaka,Shoji Matsuda,Yasuhiro Okuno,Kotaro Nakamoto,Sukeyuki Shinotsuka,Shunsuke Torigai,Daiki KUREI,Koki Isobe. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Portable inspection device

Номер патента: US20230262342A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Portable inspection device

Номер патента: WO2022079690A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Limited. Дата публикации: 2022-04-21.

Double-skin cryogenic tank equipped with at least one inspection device

Номер патента: US20240093838A1. Автор: Benoit Penven. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2024-03-21.

Cervical inspection device, methods of control thereof, and cervical sampling brush

Номер патента: AU2022361726A1. Автор: Mark HELMICH,Gary Badham,Alex BLONDECK,Louise Emma BEN-NATHAN. Владелец: Lbn Innovations Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Cervical inspection device, methods of control thereof, and cervical sampling brush

Номер патента: CA3233156A1. Автор: Mark HELMICH,Gary Badham,Lousie Emma BEN-NATHAN,Alex BLONDECK. Владелец: Lbn Innovations Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Cervical inspection device, methods of control thereof, and cervical sampling brush

Номер патента: EP4412533A1. Автор: Mark HELMICH,Gary Badham,Alex BLONDECK,Louise Emma BEN-NATHAN. Владелец: Lbn Innovations Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Inspection device for inspecting the position of trademark on integrated circuit

Номер патента: US20030111724A1. Автор: Ming-Lang Tsai,Chen-Ping Su,Yung-Yuan Lee. Владелец: Orient Semiconductor Electronics Ltd. Дата публикации: 2003-06-19.

Pipeline inspection device

Номер патента: US12053807B2. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Stereoscopic image inspection device, stereoscopic image processing device, and stereoscopic image inspection method

Номер патента: US09883162B2. Автор: Kentaro Matsumoto,Yuki Kobayashi,Yasunobu Ogura,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Automatic inspection device for corrugated paperboard machine, and corrugated paperboard machine

Номер патента: US09452585B2. Автор: Hiroshi Ota,Michio Suzuki. Владелец: Isowa KK. Дата публикации: 2016-09-27.

Radiation tube and radiation inspection apparatus

Номер патента: US09761406B2. Автор: Osamu Taniguchi,Takao Ogura,Noritaka Ukiyo,Koichi Takasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Multi-caliber dimensional inspection device for an assembled cartridge

Номер патента: US20180164085A1. Автор: Paolo MANDELLI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-06-14.

Allowance setting system, substrate inspection device, allowance setting method, and substrate inspection method

Номер патента: US12041724B2. Автор: Keiichi Ono,Kazuya Kotani,Mitsutaka Inagaki,Yuta YOKOI. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspection device for conveyor ducts for aeriform media

Номер патента: WO2004013543A1. Автор: Giuseppe Librizzi. Владелец: Al.P. S.R.L.. Дата публикации: 2004-02-12.

Inspection device

Номер патента: US20200365364A1. Автор: Yasunari Sohda,Noritsugu Takahashi,Hikaru Koyama,Atsuko SHINTANI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-11-19.

Inspection device

Номер патента: US10002740B2. Автор: Takeshi Murakami,Yasushi Toma,Kenji Watanabe,Kenji Terao,Masahiro Hatakeyama,Kenichi Suematsu,Ryo Tajima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-06-19.

Inspection device for oral tissues or deposits, and inspection auxiliary member

Номер патента: US20240285171A1. Автор: Michiya Fujiki,Ryutaro ASHIDA,Shota Somekawa,Sayaka MATSUZAWA. Владелец: Shinsei Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Train traffic control inspection device, train traffic control inspection method and program

Номер патента: US09751544B2. Автор: Yasuyuki Suzuki,Kenji Takao,Noritaka Yanai,Toshihiko Niinomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Device for controlling an inspection device for a wind turbine

Номер патента: CA3055106C. Автор: Johannes Rosen. Владелец: Innogy SE. Дата публикации: 2021-01-19.

Constitutive device quality determination server, inspection system, inspection system terminal device, and inspection device

Номер патента: US11930599B2. Автор: Hiroshi Murakami,Kazumi Hoshikawa. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: EP4099610A1. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: US12003624B2. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: US20220393864A1. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Improvements in and relating to mount inspecting devices

Номер патента: GB755393A. Автор: . Владелец: British Thomson Houston Co Ltd. Дата публикации: 1956-08-22.

Inspection device arrangement for an elevator rope

Номер патента: EP1362001A1. Автор: Vlad Zaharia,Pedro S. Baranda. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2003-11-19.

Light distribution inspection device, light distribution inspection method, endoscope system, and storage medium

Номер патента: US20220361731A1. Автор: Yasuo Sasaki,Hiroyuki Kamee. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2022-11-17.

Pipelines inspection device containing centered head

Номер патента: RU2343336C2. Автор: Ив СУЛЯБАЙ,Жоэль БРЭН,Ив СУЛЯБАЙ (FR),Жоэль БРЭН (FR). Владелец: Компани Женераль де Матьер Нюклеэр. Дата публикации: 2009-01-10.

Inspection device, inspection method of semiconductor substrate, manufacturing method of semiconductor substrate, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20220336293A1. Автор: Tamio Matsumura,Shunichi Watabe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Bridge inspecting device and method

Номер патента: US8830315B2. Автор: Ping-Hung Lin,Shih-Chung Kang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2014-09-09.

Robotic inspection device

Номер патента: CA2944946A1. Автор: Maurício GALASSI,Ramon Romankevicius Costa,Gustavo Medeiros Freitas,Pal Johan From,Guilherme Pires Sales De Carvalho,Anders Royroy,Peter Wilhelmus Jacques Derks. Владелец: Petroleo Brasileiro SA Petrobras. Дата публикации: 2017-04-14.

System for mobile device cradle and tube gripper of non-destructive testing inspection device

Номер патента: CA2844160A1. Автор: Kevin Andrew Coombs,Joshua Lynn Scott,Gerard Frederick Beckhusen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-13.

Blood inspection device

Номер патента: CA2646721A1. Автор: Masaki Fujiwara,Toshihiro Akiyama,Toshiki Matsumoto,Keisuke Matsumura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-27.

Piezoelectric head inspection device and droplet jetting device

Номер патента: US20090244152A1. Автор: Sunao Ishizaki. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-01.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US20140177453A1. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2014-06-26.

Hosiery inspection device and method

Номер патента: WO2003079756A3. Автор: Michael Faircloth. Владелец: Michael Faircloth. Дата публикации: 2003-11-27.

Hosiery inspection device and method

Номер патента: WO2003079756A2. Автор: Michael Faircloth. Владелец: Sara Lee Corporation. Дата публикации: 2003-10-02.

Airway inspection device

Номер патента: GB2421087A. Автор: Simon Barry,DUNCAN Bradley,Paul Borkowski. Владелец: ROYAL FREE HAMPSTEAD NHS TRUST. Дата публикации: 2006-06-14.

Oral inspection device

Номер патента: US4872838A. Автор: Wade Canter,Kimberly Canter,Shawn Canter,Chip Canter. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-10-10.

Fuel cell assembly and inspection device

Номер патента: CA2657182C. Автор: Kazuhiro Watanabe. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2011-06-21.

Deployment system for an upper bundle steam generator cleaning/inspection device

Номер патента: CA2182509C. Автор: Alan Brightman,Steve Jens,Augustus J. Ashton, Iii,Steven K. Ruggieri,Timothy J. Lovett. Владелец: Foster Miller Inc. Дата публикации: 2001-01-30.

Portable noninvasive inspection device

Номер патента: US20160249809A1. Автор: Mang Ou-Yang,Jeng-Ren Duann,Yung-Jhe Yan,Ting-Wei Huang,Sing-Tsung Li,Jin-Chern Chiou,Yung-Jiun Lin,Chin-Siang Yang,Yao-Fang Hsieh,Ming-Hsui Tsai,Shuen-De Wu,Zheng-Lin He. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2016-09-01.

Pipeline inspection device

Номер патента: EP3555704A1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2019-10-23.

Pipeline inspection device

Номер патента: US20180169719A1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2018-06-21.

Print head inspection method, print head inspection device and a printing device

Номер патента: US20070139461A1. Автор: Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Support for transporting containers in a microwave inspection device and a device and method of inspection of containers using the support

Номер патента: CA3179935A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2022-02-24.

Support for transporting containers in a microwave inspection device and a device and method of inspection of containers using the support

Номер патента: EP4200086A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2023-06-28.

Support for transporting containers in a microwave inspection device and a device and method of inspection of containers using the support

Номер патента: WO2022038430A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: G.D S.p.A.. Дата публикации: 2022-02-24.

Visual inspection device for objects made of soft, flexible, flat material, especially textiles

Номер патента: AU4947893A. Автор: Klaus Mauder. Владелец: Klaus Mauder. Дата публикации: 1994-03-15.

Inkjet head inspection device

Номер патента: US20060066683A1. Автор: Kohzo Hara. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2006-03-30.

Component pre-inspection device for hybrid irregular component insertion robot

Номер патента: US20240075624A1. Автор: Jangseon Hwang,Harkdo Maeng. Владелец: Power Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Component pre-inspection device for hybrid irregular component insertion robot

Номер патента: EP4346347A1. Автор: Jangseon Hwang,Harkdo Maeng. Владелец: Power Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Inspection device for use in a potentially explosive atmosphere

Номер патента: NL2021581B1. Автор: Schreurs Roelof. Владелец: Exrobotics B V. Дата публикации: 2020-05-01.

Inspection device for use in a potentially explosive atmosphere

Номер патента: WO2020050711A1. Автор: Roelof Schreurs. Владелец: Exrobotics B.V.. Дата публикации: 2020-03-12.

Method for creating pipe session layout by data of pipeline position determining intra-tube inspection device

Номер патента: RU2617628C2. Автор: Роман Георгиевич Ивашкин,Денис Олегович Поротиков,Эльдар Фяритович Сафаров,Александр Шотович Домненков. Владелец: Акционерное общество "Транснефть-Диаскан" (АО "Транснефть-Диаскан"). Дата публикации: 2017-04-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240055223A1. Автор: Chihiro IDA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-15.

Inspection device

Номер патента: US11393656B2. Автор: Motoki KADOWAKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-07-19.

Elevator rope inspection device and method for inspecting an elevator rope

Номер патента: EP3617123A1. Автор: Mitsuru Kato,Hideki Miyazawa,Yusuke Watabe,Yoshiki NOTA. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2020-03-04.

Elevator rope inspection device and method for inspecting an elevator rope

Номер патента: US20200071130A1. Автор: Mitsuru Kato,Hideki Miyazawa,Yusuke Watabe,Yoshiki NOTA. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2020-03-05.

Pipeline inspection device

Номер патента: US20210354178A1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Nozzle inspecting device in fluid discharge apparatus, fluid discharge apparatus, and nozzle inspection method

Номер патента: US8147028B2. Автор: Keigo ITO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-04-03.

Inspection device

Номер патента: US20210287875A1. Автор: Motoki KADOWAKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-09-16.

Oil filter inspection device having interchangeable adapters and drive pin assembly having detents

Номер патента: US20080264839A1. Автор: Antonio Suarez. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-30.

Inspection device for conveyor ducts for aeriform media

Номер патента: EP1558878A1. Автор: Giuseppe Librizzi. Владелец: ALP SRL. Дата публикации: 2005-08-03.

RADIATION REINFORCING SCREEN, RADIATION RECEPTOR AND RADIATION INSPECTION DEVICE WITH SUCH A SCREEN

Номер патента: DE69823193D1. Автор: Akihisa Saito,Takeshi Takahara,Eiji Oyaizu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2004-05-19.

Collimater, radiation detection device, and radiation inspection device

Номер патента: US20210045705A1. Автор: Katsuyuki Takagi,Hisashi MORII,Takaharu OKUNOYAMA. Владелец: Anseen Inc. Дата публикации: 2021-02-18.

Collimator, radiation detection device and radiation inspection device

Номер патента: KR102270436B1. Автор: 히사시 모리,타카하루 오쿠노야마,카츠유키 타카기. Владелец: 안씬 가부시키가이샤. Дата публикации: 2021-06-29.

Phosphor sheet for radiation detector, and radiation detector and radiation inspection apparatus using the same

Номер патента: JPWO2004029657A1. Автор: 英二 小柳津,正巳 岡村,岡村　正巳,小柳津　英二. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-01-26.

Direction correcting apparatus, method thereof and movable radiation inspecting system

Номер патента: EP1962056B1. Автор: Guang Yang,Hua Peng,Haifeng Hu,Shangmin Sun,Zhongrong Yang,Zhijun Li,Xining Xu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-03.

Radiation imaging apparatus, method of driving the same, and radiation inspection apparatus

Номер патента: US20150296151A1. Автор: Kazumasa Matsumoto,Kanako Dowaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Radiation imaging apparatus, method of driving the same, and radiation inspection apparatus

Номер патента: US09467631B2. Автор: Kazumasa Matsumoto,Kanako Dowaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Radiation imaging apparatus and radiation inspection apparatus

Номер патента: US09838619B2. Автор: Takashi Yamazaki,Hidehiko Saito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

RADIATION IMAGING APPARATUS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20160172414A1. Автор: Nagano Kazumi,Okada Satoshi,Ishida Yohei,Sasaki Yoshito,Saruta Shoshiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-16.

RADIATION IMAGING APPARATUS, METHOD OF DRIVING THE SAME, AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20150296151A1. Автор: Dowaki Kanako,Matsumoto Kazumasa. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-15.

Radiation inspection device

Номер патента: JP2022136511A. Автор: Teruo Yamamoto,輝夫 山本. Владелец: Toshiba IT and Control Systems Corp. Дата публикации: 2022-09-21.

Radiation inspection apparatus

Номер патента: KR102504339B1. Автор: 주영철. Владелец: 사회복지법인 삼성생명공익재단. Дата публикации: 2023-02-28.

Antiscatter grid and radiation inspection apparatus including the same

Номер патента: KR102387970B1. Автор: 김기현,김정민,윤용수,박혜민. Владелец: 고려대학교 산학협력단. Дата публикации: 2022-04-15.

Radiation inspection apparatus provided with PET imaging apparatus and X-ray CT imaging apparatus

Номер патента: JP4313811B2. Автор: 雄一郎 上野,博司 北口,一磨 横井,一俊 土屋,健介 雨宮,憲史 柳田,進一 小嶋,嵩章 石津. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2009-08-12.

Method for radiation inspection of artificial water bodies

Номер патента: RU2704329C1. Автор: Евгений Владимирович Беспала,Михаил Викторович Антоненко,Алексей Вячеславович Леонов,Даниил Валентинович Жирников,Дмитрий Олегович Чубреев,Антон Вячеславович Буковецкий. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Горно-химический комбинат" (ФГУП "ГХК"). Дата публикации: 2019-10-28.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC ACTUATOR INSPECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001652A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ736686A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Method of verification of intratubal inspection devices

Номер патента: RU2596243C1. Автор: Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть-Диаскан" (АО "Транснефть-Диаскан"). Дата публикации: 2016-09-10.

Frequency permit inspection device

Номер патента: RU2565504C1. Автор: Виктор Степанович Дубровин,Алексей Михайлович Зюзин. Владелец: Частное образовательное учреждение дополнительного профессионального образования "Саранский Дом науки и техники Российского Союза научных и инженерных общественных объединений". Дата публикации: 2015-10-20.

Nondestructive inspection device

Номер патента: RU2006856C1. Автор: В.И. Филичкин,А.Г. Таксанц. Владелец: Научно-производственное объединение "Научно-исследовательский и конструкторский институт монтажной технологии". Дата публикации: 1994-01-30.

System of calibration of measuring and vibration inspection device controlled by microprocessor

Номер патента: RU2313773C1. Автор: Николай Геннадьевич Зайцев. Владелец: Открытое акционерное общество "Магистральные нефтепроводы Центральной Сибири". Дата публикации: 2007-12-27.

Long products ultrasonic inspection device

Номер патента: RU2359264C1. Автор: Николай Николаевич Егоров,Сергей Васильевич Титов,Константин Эдуардович Тоом,Игорь Эрнстович Махов. Владелец: Закрытое акционерное общество "СИСТЕМЫ СТАРМАНС". Дата публикации: 2009-06-20.

Parenchymal organ biopsy and spectroscopic inspection device

Номер патента: RU2529629C1. Автор: Виктор Борисович Лощенов,Александр Александрович Потапов,Антон Григорьевич Гаврилов,Сергей Алексеевич Маряшев,Сергей Алексеевич Горяйнов,Денис Александрович Гольбин,Вадим Юрьевич Жуков,Сергей Александрович Кисарьев,Вячеслав Вячеславович Назаров,Татьяна Александровна Савельева,Марина Николаевна Холодцова,Павел Вячеславович Грачёв,Петр Владимирович Зеленков. Владелец: Закрытое акционерное общество "БИОСПЕК" (ЗАО "БИОСПЕК"). Дата публикации: 2014-09-27.

Display housing for a remote inspection device

Номер патента: CA121250S. Автор: . Владелец: Perceptron Inc. Дата публикации: 2008-10-09.

Inspection device for medical tablet

Номер патента: CA140698S. Автор: . Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-01-24.

Inspection device for medical tablet

Номер патента: CA140699S. Автор: . Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-01-24.

Radiation inspection device, radiation inspection method, and radiation inspection program

Номер патента: JP2008116388A. Автор: Takayuki Murakoshi,貴行 村越,篤司 寺本,Tokuji Teramoto. Владелец: Nagoya Electric Works Co Ltd. Дата публикации: 2008-05-22.

Radiation inspection apparatus, radiation inspection method, and radiation inspection program

Номер патента: JP4926645B2. Автор: 貴行 村越,篤司 寺本. Владелец: Nagoya Electric Works Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-09.

Scintillator array, radiation detector, radiation inspection device, and method of manufacturing scintillator array

Номер патента: JP2023009941A. Автор: 健 栗和田,Takeshi Kuriwada. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2023-01-20.

Radiation inspection device for detecting the part of a subject that has emitted radiation

Номер патента: JP4738933B2. Автор: 謙一 青木. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-08-03.

Radiation detector and radiation inspecting device using thereof

Номер патента: JP2009300307A. Автор: Yoshiyuki Usui,圭 鎌田,善行 薄,Kei Kamata. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-24.

RADIATION DETECTION DEVICE, RADIATION IMAGE ACQUIRING SYSTEM, RADIATION INSPECTION SYSTEM, AND RADIATION DETECTION METHOD

Номер патента: US20130016809A1. Автор: Sasaki Toshihide,Suyama Toshiyasu,MARUNO Tadashi,SONODA Junichi,TAKIHI Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-17.

Radiation detection apparatus, radiation image acquisition system, radiation inspection system, and radiation detection method

Номер патента: JP5981598B2. Автор: 須山　敏康,敏康 須山,俊英 佐々木,正 丸野,純一 薗田,真二 瀧日,丸野　正. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2016-08-31.

RADIATION INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD FOR OBJECT SECURITY INSPECTION

Номер патента: US20120224671A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-09-06.

Improved radiation inspection system

Номер патента: AU2580162A. Автор: JAY P. J. P. M. MITCHELL and MERLE L. RHOTEN ROBERT C. MCMASTER. Владелец: Ohio State University Research Foundation. Дата публикации: 1964-06-25.

SOLID STATE SCINTILLATOR MATERIAL, SOLID STATE SCINTILLATOR, RADIATION DETECTOR, AND RADIATION INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20120145962A1. Автор: HAYASHI Makoto,FUKUTA Yukihiro,SAWA Takao. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-14.

Radiation detector and radiation inspection apparatus

Номер патента: JP4641211B2. Автор: 謙一 青木. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-03-02.

Ceramic scintillator and radiation detector and radiation inspection apparatus using the same

Номер патента: JP4886151B2. Автор: 正昭 玉谷,幸洋 福田,昭久 斉藤,博康 大田. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-02-29.

Solid scintillator material, solid scintillator, radiation detector and radiation inspection apparatus using the same

Номер патента: JP5572049B2. Автор: 誠 林,幸洋 福田,孝雄 沢. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-13.

Control unit and radiation inspection system for radiation source

Номер патента: CN200990716Y. Автор: 杨光,陈志强,张丽,邓艳丽,李君利,张金宇,李元景,刘以农,阮明,彭华,孙尚民,刘耀红,张清军,谢亚丽,贾玮,梁思远. Владелец: Qinghua Tongfang Weishi Tech Co Ltd. Дата публикации: 2007-12-12.

Radiation inspection device

Номер патента: JP2003270350A. Автор: Shinichi Kojima,Hiroshi Kitaguchi,Kazuma Yokoi,Yuichiro Ueno,雄一郎 上野,博司 北口,一磨 横井,健介 雨宮,憲史 柳田,進一 小嶋,Kensuke Amamiya,Norifumi Yanagida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-09-25.

Radiation inspection device

Номер патента: JPH0642200Y2. Автор: 望 渡辺,好道 ▲吉▼田,統 松山,直行 仁科. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 1994-11-02.

Device for radiation inspection of annular weds of pipe lines

Номер патента: SU1711047A1. Автор: Александр Петрович Алексеев,Генрих Федорович Меледин,Виктор Владимирович Бобров,Николай Александрович Бухарев,Леонид Иванович Егунов,Юрий Иванович Скоморохов,Валентин Алексеевич Химикус,Петр Фролович Агафонов. Владелец: Научно-Технический Центр Научно-Технического Творчества Молодежи "Магистраль". Дата публикации: 1992-02-07.

MULTIPLE RADIATION INSPECTION OF OPHTHALMIC LENSES

Номер патента: US20120327396A1. Автор: Sites Peter W.,Cagle Kenneth L.,Edwards Russell J.,Dubin Matt. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-27.

Radiation inspection instrument

Номер патента: JPS6396543A. Автор: Kazufumi Daimatsu,大松　和史. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1988-04-27.

Radiation inspecting method

Номер патента: JPS5657975A. Автор: Toshiaki Ito,Tomio Tsunoda,Yoshio Kitada. Владелец: Nippon Atomic Industry Group Co Ltd. Дата публикации: 1981-05-20.

Radiation inspection equipment

Номер патента: JP3838078B2. Автор: 篤史 北尾. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2006-10-25.

Device for welded joint flaw classification in radiation inspection

Номер патента: SU926533A1. Автор: Владимир Александрович Троицкий,Михаил Игнатьевич Валевич,Владимир Николаевич Довженко,Александр Адольфович Адаменко. Владелец: Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Институт Электросварки Им.Е.О.Патона. Дата публикации: 1982-05-07.

Radiation inspection equipment

Номер патента: JP7018770B2. Автор: 裕 大島,智三 片山. Владелец: Toshiba IT and Control Systems Corp. Дата публикации: 2022-02-14.

Direction deviation correction equipment and method and mobile radiation inspection system

Номер патента: CN102095421B. Автор: 杨光,杨中荣,胡海峰,彭华,孙尚民,栗志军,许西宁. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-28.

Radiation inspection equipment

Номер патента: JP3902048B2. Автор: 延忠 青木,晶子 山口. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-04-04.

Gantry structure used for combined movable radiation inspection system

Номер патента: CN202757895U. Автор: 宋全伟,李元景,张清军,李荐民,薛涛,唐盛,宗春光. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-27.

Method of marking and radiation inspection of objects

Номер патента: RU2003134C1. Автор: Валерий Павлович Ефимов,пидевский Виктор Константинович Л. Владелец: Ефимов Валерий Павлович; Л пидевский Виктор Константинович. Дата публикации: 1993-11-15.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.