Multiple programming of spare memory region for nonvolatile memory
Номер патента: US20090129147A1
Опубликовано: 21-05-2009
Автор(ы): Akira Ogawa, Masaru Yano
Принадлежит: Individual
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 21-05-2009
Автор(ы): Akira Ogawa, Masaru Yano
Принадлежит: Individual
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Nonvolatile memory device and method of detecting defective memory cell block of nonvolatile memory device
Номер патента: US11763901B2. Автор: Wontaeck Jung,Daehan Kim,Myungnam Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-19.