Exposure apparatus, exposure method, and method for producing device
Номер патента: US10025194B2
Опубликовано: 17-07-2018
Автор(ы): Hisashi Nishinaga, Ikuo Hikima, Masahiro Nakagawa, Mitsunori Toyoda, Naonori Kita, Nozomu Emura, Osamu Tanitsu, Tsuneyuki Hagiwara, Yasushi Mizuno
Принадлежит: Nikon Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 17-07-2018
Автор(ы): Hisashi Nishinaga, Ikuo Hikima, Masahiro Nakagawa, Mitsunori Toyoda, Naonori Kita, Nozomu Emura, Osamu Tanitsu, Tsuneyuki Hagiwara, Yasushi Mizuno
Принадлежит: Nikon Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Wafer edge exposure apparatus, wafer edge exposure method and photolithography device
Номер патента: US11822261B2. Автор: Xueyu LIANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-11-21.