Low-temperature plasma-enhanced chemical vapor deposition of silicon-nitrogen-containing films
Номер патента: TWI271803B
Опубликовано: 21-01-2007
Автор(ы): Raymond Joe
Принадлежит: Tokyo Electron Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 21-01-2007
Автор(ы): Raymond Joe
Принадлежит: Tokyo Electron Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Chemical vapor deposition of silicon oxide films using alkylsiloxane oligomers with ozone
Номер патента: EP1204987A4. Автор: ZHENG Yuan,Sanjeev Jain. Владелец: ASML US Inc. Дата публикации: 2002-10-30.