고양된 온도에서의 반도체 소자의 급속테스팅장치및방법
Номер патента: KR100315605B1
Опубликовано: 19-02-2002
Автор(ы): 메르다드엠.모슬레히, 하워드엘.타이겔라
Принадлежит: 윌리엄 비. 켐플러, 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-02-2002
Автор(ы): 메르다드엠.모슬레히, 하워드엘.타이겔라
Принадлежит: 윌리엄 비. 켐플러, 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Handler for testing semiconductor device and method for checking whether semiconductor device remains using the same
Номер патента: US09964588B2. Автор: Jae Hun Jeong,Sung Il KWON. Владелец: Techwing Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.