A wafer with alternation design form and the semiconductor package manufacturing method therefor
Номер патента: KR100479650B1
Опубликовано: 07-04-2005
Автор(ы): 윤수상
Принадлежит: 주식회사 다윈
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 07-04-2005
Автор(ы): 윤수상
Принадлежит: 주식회사 다윈
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Inspecting a wafer using image and design information
Номер патента: US10042974B2. Автор: Menachem Regensburger,Yuri Postolov. Владелец: CAMTEK LTD. Дата публикации: 2018-08-07.