Zig for testing burn-in board

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Burn-in board and burn-in apparatus

Номер патента: US11719741B2. Автор: Kenji Nishi,Hiroaki Takeuchi,Koji Hirashima,Chen-Pi Chang,Wen Yung Wu. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

A process for producing burn-in boards

Номер патента: IES67079B2. Автор: Paul Comerford,Declan Brosnan. Владелец: PARONNE Ltd. Дата публикации: 1996-02-21.

A process for producing burn-in boards

Номер патента: GB2308007A. Автор: Paul Comerford,Declan Brosnan. Владелец: PARONNE Ltd. Дата публикации: 1997-06-11.

Burn in board, system, and method

Номер патента: US20130300444A1. Автор: Kin Sun Wong,Che Chin Wu. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-14.

Burn in board, system, and method

Номер патента: US9140748B2. Автор: Kin Sun Wong,Che Chin Wu. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-22.

Programmable low profile universally selectable burn-in board assembly

Номер патента: US5387861A. Автор: Michael Neiderhofer. Владелец: Incal Tech Inc. Дата публикации: 1995-02-07.

Burn-in board seating

Номер патента: US12007434B2. Автор: Aidan Michael Fawcett. Владелец: Micro Control Co. Дата публикации: 2024-06-11.

Burn in board test device and system

Номер патента: US11959959B2. Автор: Seong Seob SHIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-16.

Burn-in Board

Номер патента: KR100847272B1. Автор: 임병선. Владелец: 주식회사디아이. Дата публикации: 2008-07-18.

Connector protector of burn-in board

Номер патента: KR101462224B1. Автор: 김대현. Владелец: 주식회사디아이. Дата публикации: 2014-11-21.

Burn-in board and burn-in apparatus

Номер патента: KR101494246B1. Автор: 미츠루 후쿠다,요시히토 코바야시. Владелец: 가부시키가이샤 아드반테스트. Дата публикации: 2015-02-17.

Burn-in board and heat sink assembly mounting rack

Номер патента: US6175498B1. Автор: Chad M. Conroy,Mark W. Greenwood. Владелец: Micro Control Co. Дата публикации: 2001-01-16.

ESD bypass and EMI shielding trace design in burn-in board

Номер патента: US5659245A. Автор: Jian-Hsing Lee,King-Ho Ping. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 1997-08-19.

Burn-in board and burn-in apparatus

Номер патента: US11994552B2. Автор: Hiroaki Takeuchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

In-tray burn-in board for testing integrated circuit devices in situ on processing trays

Номер патента: US6476629B1. Автор: Russell S. Bjork. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2002-11-05.

Apparatus for separating package between burn-in boards

Номер патента: KR0124554Y1. Автор: 김강산. Владелец: 김주용. Дата публикации: 1999-02-18.

Burn-in board

Номер патента: KR100934179B1. Автор: 이현주,김재호,이봉섭. Владелец: 알마인드(주). Дата публикации: 2009-12-29.

Burn-in board

Номер патента: KR100934177B1. Автор: 이현주,김재호,이봉섭. Владелец: 알마인드(주). Дата публикации: 2009-12-29.

Burn-in board and burn-in apparatus

Номер патента: US20220334173A1. Автор: Kenji Nishi,Hiroaki Takeuchi,Koji Hirashima,Chen-Pi Chang,Wen Yung Wu. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Test system with rotational test arms for testing semiconductor components

Номер патента: US09638740B2. Автор: Chien-Ming Chen,Herbert Tsai,Chin-Yi Ou Yang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

A process for producing burn-in boards

Номер патента: GB9525154D0. Автор: . Владелец: PARONNE Ltd. Дата публикации: 1996-02-07.

Burn-in board and the method for loading them in a burn-in chamber

Номер патента: KR100680955B1. Автор: 이창렬. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2007-02-08.

Apparatus for testing an integrated circuit in an oven during burn-in

Номер патента: US5966021A. Автор: Victor M. Eliashberg,Kombupalayam M. Prakash. Владелец: Pycon Inc. Дата публикации: 1999-10-12.

Test/burn in socket assembly with improved resistance to thermally induced mechanical stress

Номер патента: US20030027438A1. Автор: Raf Dreesen. Владелец: Xpeqt AG. Дата публикации: 2003-02-06.

Burn-in board test system and burn-in board test method for vehicle

Номер патента: CN111123004A. Автор: 龙伟,曾宪玮. Владелец: Guangzhou Roadpassion Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-08.

Burn-in board cleansing system using electrolysis net

Номер патента: KR100570314B1. Автор: 김진구. Владелец: 선테스트코리아 주식회사. Дата публикации: 2006-04-11.

Shutters for burn-in-board connector openings

Номер патента: US6891132B2. Автор: Harold E. Hamilton,Chad M. Conroy,Brian R. Bloch. Владелец: Micro Control Co. Дата публикации: 2005-05-10.

Burn-in board with adaptable heat sink device

Номер патента: IE980828A1. Автор: James E Johnson,Ronald J. Darcy. Владелец: Reliability Inc. Дата публикации: 1999-04-07.

Method and device for loading device into connector of burn-in board

Номер патента: KR19990076124A. Автор: 염승수. Владелец: 정문술. Дата публикации: 1999-10-15.

Burn-in board tester

Номер патента: KR0140438B1. Автор: 임영규. Владелец: 문정환. Дата публикации: 1998-07-15.

Method and apparatus to provide a burn-in board with increased monitoring capacity

Номер патента: US7038479B1. Автор: Shakeel M. Siddiqui,Vadim Tymofyeyev. Владелец: Pycon Inc. Дата публикации: 2006-05-02.

Shutters for burn-in-board connector openings and a burn-in oven having the same

Номер патента: TWI342942B. Автор: Harold E Hamilton,Chad M Conroy,Brian R Bloch. Владелец: Micro Control Company. Дата публикации: 2011-06-01.

Burn-in board with adaptable heat sink device

Номер патента: CN1274425A. Автор: 詹姆斯·E·约翰逊,罗纳尔多·J·达西. Владелец: Reliability Inc. Дата публикации: 2000-11-22.

Burn-in board, burn-in device and burn-in system (2)

Номер патента: TW201142320A. Автор: Kazuhiko Sato,Takeshi Kumagai,Akimasa Yuzurihara. Владелец: Japan Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-01.

Testing system for evaluating integrated circuits, a testing system, and a method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20020073370A1. Автор: Salman Akram. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-13.

Testing system for evaluating integrated circuits, a burn-in testing system, and a method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20010039065A1. Автор: Salman Akram. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-08.

Burn-in board LIF unloader system and method

Номер патента: US5267395A. Автор: William C. Layer,Arthur T. Jones, Jr.. Владелец: Micron Semiconductor Inc. Дата публикации: 1993-12-07.

Burn-in board loader and unloader

Номер патента: SG92792G. Автор: . Владелец: Reliability Inc. Дата публикации: 1992-12-04.

Burn-in board seating

Номер патента: TW202217339A. Автор: 艾丹 麥克爾 福賽特. Владелец: 美商微控制公司. Дата публикации: 2022-05-01.

Burn-in board seating

Номер патента: US20220120808A1. Автор: Aidan Michael Fawcett. Владелец: Micro Control Co. Дата публикации: 2022-04-21.

Temperature control system for burn-in boards

Номер патента: US20030112025A1. Автор: Harold E. Hamilton,Tom A. Tremmel. Владелец: Micro Control Co. Дата публикации: 2003-06-19.

Apparatus for testing multiple semiconductor dice with increased throughput

Номер патента: US09989587B2. Автор: Kui Kam Lam,Yam Mo Wong,Ka Wai CHAN,Kai Siu LAM. Владелец: ASM TECHNOLOGY SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2018-06-05.

Method and apparatus for testing a semiconductor package having a package on package (pop) design

Номер патента: US20140354324A1. Автор: Yat Fai Leung. Владелец: MARVELL WORLD TRADE LTD. Дата публикации: 2014-12-04.

Socket device for testing semiconductor device

Номер патента: US09494616B2. Автор: Dong Weon Hwang,Jae Baek Hwang,Jae Suk Hwang. Владелец: HICON CO Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Testing devices and method for testing semiconductor devices

Номер патента: US20230366910A1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Method and apparatus for testing a semiconductor package having a package on package (pop) design

Номер патента: WO2014197211A1. Автор: Yat Fai Leung. Владелец: MARVELL WORLD TRADE LTD.. Дата публикации: 2014-12-11.

Method and apparatus for testing a semiconductor package having a package on package (PoP) design

Номер патента: US09423451B2. Автор: Yat Fai Leung. Владелец: MARVELL WORLD TRADE LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Scalable tester for testing multiple devices under test

Номер патента: US12085606B2. Автор: Albert Gaoiran. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-10.

Testing/burn-in apparatus, in-line system using it and test method using that in-line system

Номер патента: JPH11202023A. Автор: Chuseki Mo,柱石 孟. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1999-07-30.

BURN-IN BOARD AND BURN-IN DEVICE

Номер патента: US20200233027A1. Автор: Ito Akihiko,KAWASHIMA Takashi,Takamoto Tomoyuki. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2020-07-23.

Burn-in board for bwrn-in test

Номер патента: KR100305683B1. Автор: 유교선. Владелец: 장대훈. Дата публикации: 2001-11-02.

Burn-in board and burn-in equipment

Номер патента: JP6961632B2. Автор: 敬史 川島,明彦 伊藤,智行 高本. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2021-11-05.

Actively controlled embedded burn-in board thermal heaters

Номер патента: US20080302783A1. Автор: James C. Shipley,Anthony Yeh Chiing Wong,Christopher Wade Ackerman,Hon Lee Kon. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2008-12-11.

Burn-in board, burn-in device and burn-in system

Номер патента: TW201200886A. Автор: Kazuhiko Sato,Takeshi Kumagai,Akimasa Yuzurihara. Владелец: Japan Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-01.

Method and apparatus for testing IC device

Номер патента: US20020026258A1. Автор: Tetsuya Suzuki,Akira Okitsu. Владелец: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2002-02-28.

System for testing integrated circuits

Номер патента: US20050283331A1. Автор: Yih-Min Lin. Владелец: PROGenic Tech Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-22.

Apparatus and Method for Testing Semiconductor Devices

Номер патента: US20240329134A1. Автор: Christian O. Cojocneanu,Lucian Scurtu. Владелец: Testmetrix Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

System and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20190128961A1. Автор: Olivier Heron,Boukary Ouattara. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2019-05-02.

Structure and method for testing stacked CMOS structure

Номер патента: US09568543B2. Автор: Hao Chen,Mill-Jer Wang,Ching-Nen Peng,Hung-Chih Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Apparatus for testing package-on-package semiconductor device and method for testing the same

Номер патента: US09519024B2. Автор: Chien-Ming Chen. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2016-12-13.

Analysis module, integrated circuit, system and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20040064772A1. Автор: Yoav Weizman,Shai Shperber,Ezra Baruch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-01.

Handling system for testing electronic components

Номер патента: US09519007B2. Автор: Chi Wah Cheng,Wang Lung TSE,Chi Kit CHEUNG,Cho Tao CHEUNG. Владелец: ASM TECHNOLOGY SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2016-12-13.

System and method for test structure on a wafer

Номер патента: US09472476B2. Автор: Waisum Wong,Chin Chang Liao,Wang Jian Ping. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Test arrangement and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US12085607B2. Автор: Alessio CIARCIA. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-09-10.

Method and apparatus for testing electronic devices

Номер патента: WO2023147475A3. Автор: Weidong Pan,Hemanth RAMACHANDRAN,Anish DONALD. Владелец: International Controls and Measurements Corporation. Дата публикации: 2023-09-21.

Method and apparatus for testing electronic devices

Номер патента: WO2023147475A9. Автор: Weidong Pan,Hemanth RAMACHANDRAN,Anish DONALD. Владелец: International Controls and Measurements Corporation. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus and Method for Testing Semiconductor Devices

Номер патента: US20200041564A1. Автор: Christian O. Cojocneanu,Lucian Scurtu. Владелец: Testmetrix Inc. Дата публикации: 2020-02-06.

Apparatus for testing semiconductor package

Номер патента: US20240337688A1. Автор: Yun Chan NAM,Dae Hyun Roh. Владелец: TSE Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Test system for testing semiconductor devices

Номер патента: US20240183878A1. Автор: Chih-Ming Chen,Chih-Kang TOH. Владелец: Taiwan Mask Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Apparatus and method for testing processing circuit for joystick buttons

Номер патента: US6522986B1. Автор: Chia-Chin Chu,Wen-Lung Hsu. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2003-02-18.

Methods and apparatus for testing data lines

Номер патента: US20040123204A1. Автор: G. Grimes,Gregory Achilles. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2004-06-24.

Method and apparatus for testing semiconductor device

Номер патента: US12066460B2. Автор: Benfei YE,Zhengpeng ZHU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Automated test platform for testing short circuits

Номер патента: US09720032B2. Автор: David Harris,Wai-Kong Chen. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Test device for testing a flat module

Номер патента: US09632132B2. Автор: Erwin Werner,Martin Gschlossl. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2017-04-25.

Systems and methods for testing a peripheral interfacing with a processor

Номер патента: US09453876B2. Автор: WEI Yao,Ahmad Al-Dahle,Shawn Gettemy. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Circuit for testing functions of a radio-frequency circuit

Номер патента: US20030220078A1. Автор: Dirk Matuszczak. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2003-11-27.

Method for testing a multi-chip system or a single chip and system thereof

Номер патента: US20150048855A1. Автор: Gan Wen. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2015-02-19.

Measurement system and method for testing a device under test

Номер патента: US11762018B2. Автор: Corbett Rowell,Vincent Abadie. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-09-19.

Method and apparatus for testing devices using serially controlled resources

Номер патента: EP2195673A1. Автор: Tommie Edward Berry. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2010-06-16.

Method and apparatus for testing devices using serially controlled resources

Номер патента: WO2009042730A1. Автор: Tommie Edward Berry. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2009-04-02.

Systems and methods for testing RFID straps

Номер патента: US09857413B2. Автор: Ian James Forster,Adrian N. Farr. Владелец: AVERY DENNISON RETAIL INFORMATION SERVICES LLC. Дата публикации: 2018-01-02.

Systems and methods for testing circuitry programmability

Номер патента: US09664740B2. Автор: Ayaskant Shrivastava. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Test equipment for testing a device under test having an antenna

Номер патента: US12099088B2. Автор: Jan Hesselbarth,Jose Moreira. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Automatic test equipment for testing an oscillating crystal and method for operating the same

Номер патента: US09523733B2. Автор: Ralf Sonnhueter,Anton Ecker. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Probe systems and methods for testing a device under test

Номер патента: US20210132145A1. Автор: Kazuki Negishi. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2021-05-06.

Probe systems and methods for testing a device under test

Номер патента: EP4055394A1. Автор: Kazuki Negishi. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2022-09-14.

Test head for testing electrical components

Номер патента: US20080129323A1. Автор: Fillmore L. Vaughan,Daniel G. Metzer. Владелец: SLAUGHTER TEST SYSTEMS Inc. Дата публикации: 2008-06-05.

System for testing performance of device

Номер патента: US20240248133A1. Автор: Sung Chul Moon,Sang Bong Lee,Ho Nam KIM,Taek Seon LEE,Se I Mi CHOI. Владелец: Ateco Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Test arrangement for testing a power electronics controller

Номер патента: US20240255566A1. Автор: Daniel Epping. Владелец: DSPACE GMBH. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for testing bumped die

Номер патента: US20010048153A1. Автор: James Wark. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-12-06.

Method and apparatus for testing bumped die

Номер патента: US20020158655A1. Автор: James Wark. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-31.

Method and apparatus for testing the excitation characteristic of current transformer

Номер патента: US20140156212A1. Автор: Wei Chen,Sen Zhang,Yake Li,Jingfeng ZHAO. Владелец: Ponovo Power Co ltd. Дата публикации: 2014-06-05.

Apparatus and Method for Testing Electromigration in Semiconductor Devices

Номер патента: US20120136468A1. Автор: Yun Wang,Chi-I Lang,Tony P. Chiang. Владелец: Intermolecular Inc. Дата публикации: 2012-05-31.

Method and apparatus for testing interposer dies prior to assembly

Номер патента: US09989572B1. Автор: Raghunandan Chaware,Amitava Majumdar,Ganesh Hariharan. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

Method and device for testing a workpiece

Номер патента: US09739826B2. Автор: Stefan Werner,Michael Konrad. Владелец: KONRAD GMBH. Дата публикации: 2017-08-22.

Method for testing through silicon vias in 3D integrated circuits

Номер патента: US09588174B1. Автор: Raphael Peter ROBERTAZZI. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Method and System for Testing Time Parameters of Adaptor

Номер патента: US20200132755A1. Автор: Chen Tian. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2020-04-30.

Circuit for testing monitoring circuit and operating method thereof

Номер патента: US11698406B2. Автор: Hyunseok Nam,Sangyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-07-11.

Test arrangement for testing a power electronics controller

Номер патента: US20240192265A1. Автор: Philipp Kemper,Daniel Epping. Владелец: DSPACE GMBH. Дата публикации: 2024-06-13.

Methods and Apparatus for Testing Millimeter Wave Devices

Номер патента: US20190025367A1. Автор: Marvin Leroy Vis,Prasanna MADHUSUDHANAN. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-01-24.

End effector attachment for testing electronic touchscreen device

Номер патента: US20180180645A1. Автор: Timothy M. FENTON,Christopher D. Johnson,Joel E. Strader. Владелец: Wal Mart Stores Inc. Дата публикации: 2018-06-28.

Method and apparatus for testing a semiconductor structure having top-side and bottom-side connections

Номер патента: US20070096760A1. Автор: David Patten,Addi Mistry,Edmond Cheng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-05-03.

Apparatus and method for testing a signal path from an injection point

Номер патента: WO2004091105A3. Автор: Cynthia Furse,Chet Lo,You Chung Chung. Владелец: You Chung Chung. Дата публикации: 2006-05-11.

System and method for testing derating performance of a component of an electronic device

Номер патента: US20110015897A1. Автор: Shen-Chun Li,Shou-Kuo Hsu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Methods and apparatus for testing millimeter wave devices

Номер патента: EP3659275A1. Автор: Marvin Leroy Vis,Prasanna MADHUSUDHANAN. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2020-06-03.

Methods and apparatus for testing millimeter wave devices

Номер патента: WO2019022940A1. Автор: Marvin Leroy Vis,Prasanna MADHUSUDHANAN. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2019-01-31.

Apparatus for opening socket of burn-in board

Номер патента: KR101537719B1. Автор: 임정택. Владелец: (주)휴민텍. Дата публикации: 2015-07-20.

electrolysis type burn in board cleaning equipment

Номер патента: KR101591766B1. Автор: 김우경. Владелец: 주식회사 포스텔. Дата публикации: 2016-02-04.

A mobile laboratory for testing photovoltaic (pv) modules

Номер патента: WO2018211427A1. Автор: Mayank SHAH,Satish Pandey,Abhay TILWANKAR. Владелец: Mahindra Susten Pvt. Ltd.. Дата публикации: 2018-11-22.

Method and device for testing an image sensor and motor vehicle

Номер патента: US09681124B2. Автор: Ulrich Seger,Hans-Georg Drotleff,Frank Moesle,Uwe Beutnagel-Buchner,Marc Geese. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-06-13.

System for testing illuminating elements and method for testing illuminating elements

Номер патента: US20120265467A1. Автор: Pei-Ming Chang. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2012-10-18.

Method and apparatus for testing defective portion of semiconductor device

Номер патента: US20050218922A1. Автор: Kohji Kanamori,Junichi Suzuki. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2005-10-06.

Electronic Package Device and Fabrication Method Thereof, Method for Testing Electronic Package Device

Номер патента: US20160056381A1. Автор: Dan Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-25.

Method and device for testing array substrate, and computer readable storage medium

Номер патента: US12107020B2. Автор: Peixin Lin. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Method of testing semiconductor devices and system for testing semiconductor devices

Номер патента: US20180188311A1. Автор: Oh Song Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-07-05.

Test system for testing electrostatic tester and method thereof

Номер патента: US09529069B2. Автор: Hung-Jen Tseng,Gui-Zhen Zhang,Quan-Long Yang. Владелец: Shenzhen Airdrawing Technology Service Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Method for testing transformers and reactors

Номер патента: RU2763033C1. Автор: Илья Николаевич Джус. Владелец: Илья Николаевич Джус. Дата публикации: 2021-12-27.

Intellectual testing system for testing packages

Номер патента: US20020039031A1. Автор: Hung-Tse Chiang. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2002-04-04.

Systems and methods for testing power supplies

Номер патента: US20170343616A1. Автор: Jimmie Paul Partee. Владелец: FedEx Supply Chain Logistics and Electronics Inc. Дата публикации: 2017-11-30.

Method and device for testing test objects for the presence of damage

Номер патента: US20180100829A1. Автор: Gerd Fuhrmann,Klaus Schönhoff,Olaf Kozießa,Holger ZIRNING. Владелец: Intravis Gmbh. Дата публикации: 2018-04-12.

Testing device and method for testing a high or medium-voltage cable

Номер патента: US20240319257A1. Автор: Stefan Baldauf,Joseph KRUIJEN,Christian MATIES. Владелец: B2 ELECTRONIC GMBH. Дата публикации: 2024-09-26.

Systems and methods for testing power supplies

Номер патента: US09753095B2. Автор: Jimmie Paul Partee. Владелец: FedEx Supply Chain Logistics and Electronics Inc. Дата публикации: 2017-09-05.

System and method for testing breakdown voltage/dielectric strength of spark plug insulators

Номер патента: US09735553B1. Автор: Jing Zheng,Matthew B. Below,Corey Eiden. Владелец: FRAM GROUP IP LLC. Дата публикации: 2017-08-15.

Method and device for testing peak performance of motor

Номер патента: US20240241177A1. Автор: Liang Hu,Yu Gong,Jiahao Li. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-18.

Apparatus for testing dielectric breakdown voltage

Номер патента: US09983255B2. Автор: Victor U. Ukwedeh,Zoey M. Henson,Dan Maddex. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-05-29.

Device and method for testing a battery

Номер патента: US20230378553A1. Автор: Martin Sulzbacher. Владелец: HAHN Automation GmbH. Дата публикации: 2023-11-23.

Auxiliary multipolar device for testing electrical instruments

Номер патента: US20240288510A1. Автор: Meliton Angeles Martinez. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-29.

System and method for testing a data packet signal transceiver

Номер патента: US20140269365A1. Автор: Christian Volf Olgaard,Ruizu Wang. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2014-09-18.

Method and apparatus for testing the excitation characteristic of current transformer

Номер патента: US9400304B2. Автор: Wei Chen,Sen Zhang,Yake Li,Jingfeng ZHAO. Владелец: Ponovo Power Co ltd. Дата публикации: 2016-07-26.

2ND level power fault testing apparatus for testing telecommunications equipment

Номер патента: EP1223731B1. Автор: Gary L. Swale. Владелец: Alcatel USA Sourcing Inc. Дата публикации: 2005-08-03.

Method and systems for testing an electrical circuit

Номер патента: US09753073B2. Автор: John Douglas Ewen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-09-05.

Device for testing controlled shunt reactors

Номер патента: RU2665741C1. Автор: Илья Николаевич Джус. Владелец: Илья Николаевич Джус. Дата публикации: 2018-09-04.

Improved test apparatus for testing capacitance

Номер патента: WO2018033709A1. Автор: Sunil R NIRMALE,Manoj MULAJKAR. Владелец: Megger Instruments Ltd. Дата публикации: 2018-02-22.

Hydraulic device for testing electromagnetic compatibility and/or other characteristics of an electric motor

Номер патента: WO2021110914A1. Автор: Shinichiro Nishizawa. Владелец: Tdk Europe GmbH. Дата публикации: 2021-06-10.

Testing circuit for testing universal serial bus

Номер патента: US20240248151A1. Автор: Shih-Min Lin,Yi-Chung Tsai,Te-Ming Kung. Владелец: Asmedia Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

An apparatus and method for testing a socket on a burn-in board using a flex strip probe

Номер патента: TW514729B. Автор: Rafiqul Hussain. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2002-12-21.

An apparatus and method for testing a socket on a burn-in board using a flex strip probe

Номер патента: AU2001270114A1. Автор: Rafiqul Hussain. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2002-01-21.

Apparatus for testing semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20040177302A1. Автор: Teruhiko Funakura,Hisaya Mori,Hisayoshi Hanai. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2004-09-09.

Wafer for testing and a test system

Номер патента: US09684053B2. Автор: Tetsuya Kuitani. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Method and device for testing radio frequency index and wireless index of active antenna system

Номер патента: US09596039B2. Автор: PENG Wang,Boming Wang,Xiangling LI,Xianfeng GUO. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Method for testing a photonic integrated circuit including a device under test

Номер патента: US09453723B1. Автор: Jean-François Carpentier,Patrick Lemaitre. Владелец: STMicroelectronics Crolles 2 SAS. Дата публикации: 2016-09-27.

System for testing antenna performance

Номер патента: US20240241164A1. Автор: Chanwoo LEE,Jungryul Kim,Hyungil Baek,Kyunghyun RYU,Wonjin SEOK. Владелец: Amosense Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Electrical circuit unit and a method for testing the electrical circuit unit via an electrical test interface

Номер патента: US7089469B2. Автор: Carsten Friedrich. Владелец: Alcatel SA. Дата публикации: 2006-08-08.

Device of updating library required by testing program for testing and method thereof

Номер патента: US12026503B2. Автор: Lin Hou. Владелец: Inventec Pudong Technology Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Device for testing loading performance of wheelchair motor

Номер патента: NZ626313B. Автор: SUN ZHUBING,DU SHAN. Владелец: Zhejiang Linix Motor Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-29.

Simulation system and method for testing IDE channels

Номер патента: US20040068685A1. Автор: Ming Yuan,Chia Liu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-08.

System for testing an integrated circuit

Номер патента: US20030028824A1. Автор: Robert Kaiser,Thilo Schaffroth. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2003-02-06.

System for testing an integrated circuit using multiple test modes

Номер патента: US7165198B2. Автор: Robert Kaiser,Thilo Schaffroth. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2007-01-16.

Device for testing electronic components

Номер патента: US09933457B2. Автор: Gerhard Gschwendtberger,Volker LEIKERMOSER. Владелец: Multitest Elektronische Systeme GmbH. Дата публикации: 2018-04-03.

System for testing wireless terminal and method for controlling the same

Номер патента: US20180172747A1. Автор: Wei Yu,Yihong Qi. Владелец: GENERAL TEST SYSTEMS Inc. Дата публикации: 2018-06-21.

Systems and methods for testing many-core processors background

Номер патента: US20210303426A1. Автор: Arjun CHAUDHURI,Zhibin Xiao,Chunsheng Meon LIU. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Method as well as test system for testing a device under test

Номер патента: US12028117B2. Автор: Alexander Roth,Wolfgang Dressel,Florian Ramian. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-02.

Test apparatus for testing a mobile ap

Номер патента: US20230236941A1. Автор: Min Cheol Kim,Sol Lee. Владелец: TSE Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Test circuit, system, and method for testing one or more circuit components arranged upon a common printed circuit board

Номер патента: WO2008014129A3. Автор: Gabriel M Li. Владелец: Gabriel M Li. Дата публикации: 2008-05-08.

Test apparatus and method for testing a circuit unit

Номер патента: US20060202706A1. Автор: Carsten Ohlhoff,Hans-Christoph Ostendorf,Stefan Gollmer. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2006-09-14.

Pre-fabricated movable walk-in chamber for testing secondary cells

Номер патента: SE544904C2. Автор: Sean Stephenson. Владелец: Northvolt AB. Дата публикации: 2022-12-27.

Pre-fabricated movable walk-in chamber for testing secondary cells

Номер патента: WO2023099289A1. Автор: Sean Stephenson. Владелец: Northvolt AB. Дата публикации: 2023-06-08.

Pre-fabricated movable walk-in chamber for testing secondary cells

Номер патента: EP4191264A1. Автор: Sean Stephenson. Владелец: Northvolt AB. Дата публикации: 2023-06-07.

Apparatus and method for testing of stacked die structure

Номер патента: EP2454602A1. Автор: Arifur Rahman,Hong-Tsz Pan,Bang-Thu Nguyen. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2012-05-23.

Apparatus and method for testing of stacked die structure

Номер патента: WO2011008309A1. Автор: Arifur Rahman,Hong-Tsz Pan,Bang-Thu Nguyen. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2011-01-20.

Method and apparatus for testing characteristic of magnetic head

Номер патента: US20090243602A1. Автор: Mutsuo Yoshinami,Masanori Yaguchi,WooSuk Song. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-10-01.

Apparatus and methods for testing patch antennas

Номер патента: US20190296835A1. Автор: John Christopher Deriso. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Method and system for testing memory programming devices

Номер патента: WO1996029649A1. Автор: Jeffrey A. Brehm,Patrick M. Shepard. Владелец: AEHR TEST SYSTEMS. Дата публикации: 1996-09-26.

Device for testing loading performance of wheelchair motor

Номер патента: NZ626313A. Автор: SUN ZHUBING,DU SHAN. Владелец: Zhejiang Linix Motor Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-26.

Methods and apparatus for testing a circuit

Номер патента: US20080218173A1. Автор: Edmundo De la Puente. Владелец: Verigy Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2008-09-11.

Method for testing a latching magnet of a switch and test device for the latching magnet

Номер патента: US09772379B2. Автор: Andreas Fischer,Stefan Widmann. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-09-26.

Method for testing a signal path

Номер патента: US09739845B2. Автор: Michael Wagner,Joachim Ritter,David Muthers,Markus Von Ehr,Thomas KAUTER. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2017-08-22.

Device Retention for Test Socket

Номер патента: US20120235700A1. Автор: Sanjay Iyer. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2012-09-20.

Technique for testing interconnections between electronic components

Номер патента: WO2006115779A1. Автор: Victor Echevarria. Владелец: RAMBUS INC.. Дата публикации: 2006-11-02.

Pre-fabricated movable walk-in chamber for testing secondary cells

Номер патента: US20240255544A1. Автор: Sean Stephenson. Владелец: Northvolt AB. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for testing eye diagram characteristics

Номер патента: US20030097231A1. Автор: Yi-Jen Cheng. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2003-05-22.

Device retention for test socket

Номер патента: US8970241B2. Автор: Sanjay Iyer. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2015-03-03.

Socket for testing of an integrated circuit

Номер патента: EP4407323A1. Автор: Gianluigi Frigerio,Alessandro Copeta. Владелец: Officina Meccanica Di Precisione G3. Дата публикации: 2024-07-31.

Pre-fabricated movable walk-in chamber for testing secondary cells

Номер патента: US20230168276A1. Автор: Sean Stephenson. Владелец: Northvolt AB. Дата публикации: 2023-06-01.

System and method for testing antenna arrays

Номер патента: US20180102856A1. Автор: Hendrik Bartko,Corbett Rowell,Adam Tankielun. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-04-12.

Anechoic chamber for testing a device under test over-the-air, a system, and a method

Номер патента: US20230221359A1. Автор: Heinz Mellein. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-07-13.

Testing apparatus for testing display apparatus and method of testing the same

Номер патента: US09940859B2. Автор: Dae Won Kim,Inho Hwang,Hanki PARK,Chanhyung YOO,Wookjae LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Tester for testing magnetic memory

Номер патента: US09678179B2. Автор: Tatsuya Kishi,Sumio Ikegawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

System and method for test generation with dynamic constraints using static analysis

Номер патента: EP1374103A2. Автор: Amos Noy. Владелец: Verisity Ltd. Дата публикации: 2004-01-02.

An apparatus and a method for testing radio-frequency tags

Номер патента: EP4273739A1. Автор: Jesse Tuominen. Владелец: VOYANTIC OY. Дата публикации: 2023-11-08.

System and method for testing reference voltage circuit

Номер патента: US20190041433A1. Автор: Yeh-Tai Hung,Te-Ming Tseng,Wen-Yi LI. Владелец: Nuvoton Technology Corp. Дата публикации: 2019-02-07.

Test apparatus for testing electronic device

Номер патента: US20190361047A1. Автор: Chien-Ming Chen,Yung-Chih Chen,Meng-Kung Lu. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Channel sharing for testing circuits having non-identical cores

Номер патента: US09915702B2. Автор: YU HUANG,Janusz Rajski,Wu-Tung Cheng,Mark A. Kassab,Jay Babak Jahangiri. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Methods and circuits for testing partial circuit designs

Номер патента: US09581643B1. Автор: Paul R. Schumacher,Graham F. Schelle,Patrick Lysaght,Yi-Hua E. Yang. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Device for testing of high speed dc breakers

Номер патента: EP2619601A1. Автор: Stefaan Jean Louis Volkaert. Владелец: STEVO ELECTRIC bvba. Дата публикации: 2013-07-31.

Device for testing of high speed dc breakers

Номер патента: WO2012037948A1. Автор: Stefaan Jean Louis Volkaert. Владелец: STEVO ELECTRIC bvba. Дата публикации: 2012-03-29.

Test method for testing the behavior of a wind farm in response to an underfrequency event

Номер патента: CA3055462C. Автор: Kai Busker,Wolfgang De Boer,Sönke ENGELKEN. Владелец: Wobben Properties GMBH. Дата публикации: 2023-10-03.

Devices for testing a battery and methods for testing a battery

Номер патента: EP2758773A1. Автор: Rachid Yazami,Kenza Maher. Владелец: NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-07-30.

Method for testing leak tightness testing system

Номер патента: RU2650843C2. Автор: Сильвио ДЕККЕР,Михаэль ДАУЕНХАУЕР. Владелец: Инфикон Гмбх. Дата публикации: 2018-04-17.

Method and device for testing dust suppression systems

Номер патента: RU2721590C1. Автор: Пол Роджер ЛИТТЛИ,Джон СТИРЛАНД. Владелец: Фукс Петролуб Се. Дата публикации: 2020-05-20.

System and method for testing high pressure fluid control products

Номер патента: US20190078962A1. Автор: Mark Alan Irving,Jimmy Carl Robertson. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2019-03-14.

Apparatus and method for testing a plurality of computing devices

Номер патента: US20240193060A1. Автор: Aaron Santangelo,Patrick DAMERON,Nilofar Sayyad. Владелец: Communications Test Design Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Apparatus and method for testing a plurality of computing devices

Номер патента: WO2024123504A1. Автор: Aaron Santangelo,Patrick DAMERON,Nilofar Sayyad. Владелец: Communications Test Design, Inc.. Дата публикации: 2024-06-13.

Apparatus and methods for testing the integrity of containment sumps

Номер патента: US20180372578A1. Автор: Daniel W. Brevard. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-12-27.

Method and device for testing a component part of an aircraft

Номер патента: US09604735B2. Автор: Philipp Helle,Wladimir SCHAMAI. Владелец: AIRBUS SAS. Дата публикации: 2017-03-28.

Test bench for testing aircraft for strength

Номер патента: RU2578512C1. Автор: Виктор Степанович Ермоленко. Владелец: Виктор Степанович Ермоленко. Дата публикации: 2016-03-27.

Apparatus for testing the operation of the aortic valve

Номер патента: RU2763704C1. Автор: Франсиско Хавьер КАРРЕРО ГОМЕС. Владелец: БОГАЦКИ Михаэль. Дата публикации: 2021-12-30.

Integrable system for testing pressure tightness of plastic packaging and method of testing

Номер патента: EP4377658A1. Автор: Andrius TARASOVAS. Владелец: Uab "terekas". Дата публикации: 2024-06-05.

Testing device and method for testing photovoltaic module

Номер патента: US20240192103A1. Автор: Ning Li,Sen Yang,Bo Li,Pengjun XIAO,Jiaxiang Yin. Владелец: Jinko Solar Haining Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Test device and method for testing photovoltaic module

Номер патента: EP4387087A1. Автор: Ning Li,Sen Yang,Bo Li,Pengjun XIAO,Jiaxiang Yin. Владелец: Jinko Solar Haining Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Method for testing micro-thrust of jet propulsion

Номер патента: LU505528B1. Автор: Zhen He,Hui Hao,Xueren Wang,Hongfu Qiang,Zhejun WANG,Chenchao Dai. Владелец: Univ Rocket Force Eng. Дата публикации: 2024-05-16.

Method and system for testing a fibre optic network

Номер патента: WO2024160437A1. Автор: Ian HORSLEY. Владелец: BRITISH TELECOMMUNICATIONS PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2024-08-08.

Apparatus for testing liquefied hydrogen valve

Номер патента: US20240353283A1. Автор: Sang Min Kim,Chang Woo Jung,Ji Won Choi,Hyung Min JUNG. Владелец: Pk Valve & Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Traction force transfer unit for testing device of adhesion of covering coat to substrate

Номер патента: RU2403558C2. Автор: Стефан РЭ. Владелец: Эрбюс Франс. Дата публикации: 2010-11-10.

Method for testing droppers

Номер патента: RU2467294C2. Автор: Ян ХЕММИНГЗ. Владелец: Сарториус Биохит Ликвид Хэндлинг Ой. Дата публикации: 2012-11-20.

Apparatus and method for testing braking performance

Номер патента: US8429959B2. Автор: Hyun Kyu Cho,Gum Gee Lee,Yong Soo JANG. Владелец: Gumyoung General Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-30.

Methods and apparatuses for testing capacitive touch screen films

Номер патента: WO2015095541A1. Автор: Khanh Ngoc Tran. Владелец: Clarus Vision, Inc.. Дата публикации: 2015-06-25.

Apparatus for testing the surface quality of a vessel mouth

Номер патента: US4055985A. Автор: Werner Munz. Владелец: Emhart Zurich SA. Дата публикации: 1977-11-01.

Test bed for testing a real test object in driving operation

Номер патента: US20230304897A1. Автор: Andreas Haas,Rupert Scheucher,Ull THALER,Peter SCHÖGGL,Michael PEINSITT,Franz RABEL. Владелец: AVL List GmbH. Дата публикации: 2023-09-28.

Device for testing an optic

Номер патента: US20130208106A1. Автор: Menno S. De Braak,Albertus J. Dommerholt. Владелец: Dovideq Holding BV. Дата публикации: 2013-08-15.

System and a method for testing a joint communication and sensing, signal

Номер патента: US20230403085A1. Автор: Meik Kottkamp,Timo Mayer,Mikhail Volianskii. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-12-14.

Test equipment for testing an additional center tank (act) system of an aircraft

Номер патента: EP2242708A1. Автор: Jürgen LOHMANN. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2010-10-27.

Device for testing screwdrivers in automatic stations, test method and plant

Номер патента: EP4217698A1. Автор: Carlo Giuseppe TINTI. Владелец: SCS Concept SRL. Дата публикации: 2023-08-02.

Test bench and method for testing the drive train of a wind turbine

Номер патента: US09766158B2. Автор: Carsten Eusterbarkey. Владелец: Senvion GmbH. Дата публикации: 2017-09-19.

Testing device and methods for testing tape seal strength

Номер патента: US09689791B2. Автор: John K. Tynan, Jr.,Nicholas John Carter,II Kenneth Joseph Zanon. Владелец: Intertape Polymer Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Fluid cassette for testing

Номер патента: RU2761479C2. Автор: Дональд Дж. ТОМАС,Хонг ЦАЙ,Роберт Б. КЭРИ. Владелец: Меса Байотек, Инк.. Дата публикации: 2021-12-08.

Procedure for test calibration of working parametres of fan

Номер патента: RU2384754C2. Автор: Удо ЙУНГ,Франк ВАЛЬ,Эрнст КРАФТ. Владелец: Тлт-Турбо Гмбх. Дата публикации: 2010-03-20.

Method for testing the biological activity of aerosol preparations

Номер патента: RU2750933C1. Автор: Олег Петрович Жирнов. Владелец: Олег Петрович Жирнов. Дата публикации: 2021-07-06.

Methods and systems for testing robotic systems in an integrated physical and simulated environment

Номер патента: US12031882B2. Автор: Haruhiko Harry Asada,Kota Weaver. Владелец: Movensys Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Method for testing an inlet-outlet valve

Номер патента: EP4400752A2. Автор: Grzegorz SOWINSKI. Владелец: IOP MARINE AS. Дата публикации: 2024-07-17.

Method and device for testing the quality of a metallic coating

Номер патента: CA2643770A1. Автор: Michael Linnepe,Andreas Birkenstock,Peter Heidbuechel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-13.

Apparatus and method for testing durability of a test specimen

Номер патента: WO2024100676A1. Автор: Krishnamoorthy D,Indraneel ZOPE,LakshmiDurga KOKKI. Владелец: SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE. Дата публикации: 2024-05-16.

Test device for testing high-pressure water tightness function of profiled components

Номер патента: US20200232869A1. Автор: LEI Miao,Jiafu WU. Владелец: Suzhou RS Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-23.

System and method for testing linkages

Номер патента: WO2002082049A3. Автор: William Morris,Kevin B Kochersberger,Gregory J Kacprzynski,Joshua R Eckler. Владелец: Rochester Inst Tech. Дата публикации: 2003-04-10.

System and method for testing linkages

Номер патента: WO2002082049A2. Автор: William Morris,Gregory J. Kacprzynski,Kevin B. Kochersberger,Joshua R. Eckler. Владелец: ROCHESTER INSTITUTE OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2002-10-17.

Test device and method for testing an oxidation potential of an electrolyt

Номер патента: US11579117B2. Автор: Shou-Shan Fan,Jia-Ping Wang,Zhen-Han Fang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-14.

Apparatus and system for testing idle position of servo

Номер патента: US20180188136A1. Автор: Hongbo Zhu,Youjun Xiong,Lifu ZHANG. Владелец: Ubtech Robotics Corp. Дата публикации: 2018-07-05.

A test rig for testing blades for a wind turbine

Номер патента: EP2315940A2. Автор: Stuart Guy. Владелец: Vestas Wind Systems AS. Дата публикации: 2011-05-04.

Zero speed indicating devices and processes for testing same

Номер патента: EP1125106A2. Автор: Theodore Liber,Ralph L. Barnett. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-08-22.

Zero speed indicating devices and processes for testing same

Номер патента: US20020073762A1. Автор: Theodore Liber,Ralph Barnett. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Zero speed indicating devices and processes for testing same

Номер патента: US20050103131A1. Автор: Theordore Liber,Ralph Barnett. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-19.

System and method for testing a light sensor of a portable electronic device

Номер патента: US20110301885A1. Автор: Ryan Jeffrey Du Bois,Ching Yu John Tam,Bridget Bin Wu. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2011-12-08.

Method for testing oral malodor

Номер патента: US20150265183A1. Автор: Paul Joseph Vincenti,Zhigang Hao,Harsh M. Trivedi,Deborah A. Peru,Joe Vazquez,Jessica Monk,Osman Khalid. Владелец: Colgate Palmolive Co. Дата публикации: 2015-09-24.

Test bench for testing turbocharger assemblies

Номер патента: WO2016181345A1. Автор: Luigi Arbore. Владелец: ARMEC S.n.c. di LUIGI ARBORE e C.. Дата публикации: 2016-11-17.

System and method for testing a filter

Номер патента: US12105003B2. Автор: Chi Wen Kuo,Chwen Yu,En Tian LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for testing an inlet-outlet valve

Номер патента: EP4400752A3. Автор: Grzegorz SOWINSKI. Владелец: IOP MARINE AS. Дата публикации: 2024-10-23.

System and method for testing a filter

Номер патента: US20240369465A1. Автор: Chi Wen Kuo,Chwen Yu,En Tian LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Method for testing life of radial-rolling bearing and radial rolling-bearing testing device

Номер патента: US09927324B2. Автор: Masato Yoshida,Ikuo Taguchi. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2018-03-27.

Method for testing oral malodor

Номер патента: US09823236B2. Автор: Ariel Haskel,Paul Joseph Vincenti,Zhigang Hao,Harsh M. Trivedi,Deborah A. Peru,Joe Vazquez,Jessica Monk,Osman Khalid. Владелец: Colgate Palmolive Co. Дата публикации: 2017-11-21.

Device for testing application state of fiber reinforced plastic tape

Номер патента: US09664624B2. Автор: Hisashi Kobayashi,Yoshio Nogami,Hiromichi Sasamoto. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Methods for testing laser shock peening

Номер патента: US09632004B2. Автор: Paul W. Duesler,Paul FILEWICH. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Leak test system and method for testing semi-finished product of speaker

Номер патента: US09632002B2. Автор: Yung-Tai Pan. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

System for testing stress corrosion cracking

Номер патента: US09541485B1. Автор: Rihan Omar Yousef Rihan. Владелец: KUWAIT INSTITUTE FOR SCIENTIFIC RESEARCH. Дата публикации: 2017-01-10.

Method for testing self drying effect of cement-based material

Номер патента: US09470672B2. Автор: Hang Zhang,Yujiang Wang,Jiaping LIU,Jianye Zhang,Ting YAO,Qian Tian. Владелец: Sobute New Materials Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-18.

Microelectromechanical component and method for testing a microelectromechanical component

Номер патента: US09399572B2. Автор: Michael Doelle,Bernd Burchard. Владелец: ELMOS SEMICONDUCTOR SE. Дата публикации: 2016-07-26.

Method and apparatus for preparing a workpiece for testing

Номер патента: WO1996018879A1. Автор: Howard L. Novak. Владелец: Usbi Co.. Дата публикации: 1996-06-20.

Method for testing an oct device and test object

Номер патента: US20240219168A1. Автор: Eva Lankenau. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-04.

Method for testing an injector valve

Номер патента: DK202170565A1. Автор: Sowinski Grzegorz. Владелец: IOP MARINE AS. Дата публикации: 2023-06-21.

Loading pin for testing device for testing flange breaking resistance of a syringe

Номер патента: WO2021044052A1. Автор: Martin Vogt,Hanns-Christian Mahler,Atanas KOULOV,Roman Mathaes. Владелец: LONZA LTD. Дата публикации: 2021-03-11.

Spectrometer system and method for testing of same

Номер патента: CA3130795A1. Автор: Jurgen Gobel,Felix Kerstan. Владелец: Carl Zeiss Spectroscopy GmbH. Дата публикации: 2020-08-27.

System and method for testing mechanical properties

Номер патента: US20190137373A1. Автор: Max Urban Kismarton,Brian Scott Kasperson. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2019-05-09.

Test Cage for Testing a Gap in a Vehicle

Номер патента: US20210302216A1. Автор: Marcus Karel Richardson,William John CONNELL. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-09-30.

Test rig and method for testing vehicle tires

Номер патента: US20240060859A1. Автор: Roland Bösl. Владелец: ZF FRIEDRICHSHAFEN AG. Дата публикации: 2024-02-22.

Method for testing an injector valve

Номер патента: EP4433701A1. Автор: Grzegorz SOWINSKI. Владелец: IOP MARINE AS. Дата публикации: 2024-09-25.

Test stand for testing bogies of rail vehicles

Номер патента: AU2020480363A9. Автор: Hans Borer,Thomas Schertenleib. Владелец: NENCKI AG. Дата публикации: 2024-10-24.

Device for testing vaporizable fluids in a human airway model

Номер патента: US20240319156A1. Автор: Vincent MANNA,Salvatore CARADONNA. Владелец: ROWAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-09-26.

Test apparatus for testing the microbial activity on surfaces

Номер патента: US09957544B2. Автор: Thorsten Steinberg,Norbert Nanko,Karen Lienkamp,Ali Al-Ahmad. Владелец: Universitaetsklinikum Freiburg. Дата публикации: 2018-05-01.

Method for testing a laser device

Номер патента: US09827144B2. Автор: Peter Riedel,Mario Abraham. Владелец: NOVARTIS AG. Дата публикации: 2017-11-28.

Testing device for testing seals having anchoring feet

Номер патента: US09797818B2. Автор: Matthias Stender,Mark Fischer,Oliver Pasemann. Владелец: Daetwyler Sealing Technologies Deutschland GmbH. Дата публикации: 2017-10-24.

Tire testing apparatus and method for testing a tire

Номер патента: US09671313B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-06-06.

Bellows leakage tester and methods for testing bellows

Номер патента: US09459174B1. Автор: Fadzli B. Idris,Ganesen Purushothman. Владелец: WD Media LLC. Дата публикации: 2016-10-04.

Device for holding voice coil motor during tests and test fixture for testing voice coil motor

Номер патента: US09395269B2. Автор: Chang-Wei Kuo. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-19.

Method for producing reference sample from fiber-plastic composite and method for testing

Номер патента: RU2756488C1. Автор: Гельмут ХЁЛЛЕР. Владелец: Фасс Аг. Дата публикации: 2021-09-30.

Method for testing temperature sensors and a testing device

Номер патента: EP2729777A1. Автор: Sebastian Zamani,Fredrik Strååt. Владелец: SCANIA CV AB. Дата публикации: 2014-05-14.

Test system and method for testing

Номер патента: EP2458468B1. Автор: David Long,Paul Hayford,Gerald Jung,Andrew Moulden,Gerhard Löschner. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2015-02-25.

Dummy for Testing the Pressure Comfort of an Office Chair

Номер патента: AU2021101373A4. Автор: Huimin Hu,Linghua RAN,Chaoyi Zhao. Владелец: CHINA NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDIZATION. Дата публикации: 2021-05-13.

A portable device for testing agro-dairy based samples

Номер патента: EP4337938A1. Автор: Sidhant JENA,Rajat Pandya,Sandhyaa Subramanian,Rajashekar Reddy Palvalli. Владелец: Faunatech Solutions Private Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

Method and apparatus for testing materials

Номер патента: US20160025566A1. Автор: Laid Adda. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2016-01-28.

Method and apparatus for testing an operating method

Номер патента: US20200225289A1. Автор: Christel Sarfert,Marcus BOEGE. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-07-16.

System and method for testing fluid seals for leaks

Номер патента: US20130073227A1. Автор: David Levy. Владелец: Petrotechnologies Inc. Дата публикации: 2013-03-21.

Method for testing tires

Номер патента: US8028570B2. Автор: Michael Meinen,Wolfgang Seichter. Владелец: SEICHTER GMBH. Дата публикации: 2011-10-04.

Method for Testing Mobile Electronic Device in Automated Device, and Mobile Electronic Device Test System

Номер патента: US20240155250A1. Автор: Sung Lack CHO,Chang Hwan Ji. Владелец: Mintit Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Method for testing mobile electronic device in automated device, and mobile electronic device test system

Номер патента: EP4325211A1. Автор: Sung Lack CHO,Chang Hwan Ji. Владелец: Mintit Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-21.

A method and apparatus for testing a surgical tool and a method and apparatus for replicating ocular surfaces

Номер патента: GB2624214A. Автор: Dogramaci Mahmut. Владелец: Vr Surgical Consulting Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Method, apparatus and system for testing optical characteristics of display module

Номер патента: US09983061B2. Автор: Xiongjian Zhang. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Device and method for testing a vehicle

Номер патента: US09945758B2. Автор: Axel Wendt. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-04-17.

Method and apparatus for testing materials

Номер патента: US09523606B2. Автор: Laid Adda. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Method for testing a vehicle or a component of a vehicle

Номер патента: US09454857B2. Автор: Felix Pfister. Владелец: AVL List GmbH. Дата публикации: 2016-09-27.

Stand for testing suspension elements of motor vehicles

Номер патента: RU2646701C1. Автор: Олег Савельевич Кочетов. Владелец: Олег Савельевич Кочетов. Дата публикации: 2018-03-06.

Apparatus and Method for Testing Reservoir Drilling Fluids for Drilling Unconsolidated Tar Sands

Номер патента: US20070199368A1. Автор: Michael Freeman. Владелец: MI LLC. Дата публикации: 2007-08-30.

Method for testing a damage tolerance property of a part made of an aluminium alloy

Номер патента: US12031951B2. Автор: Pablo Lorenzino,Nicolas Bayona-Carrillo. Владелец: Constellium Issoire SAS. Дата публикации: 2024-07-09.

Method for testing the fracture toughness of an adhesive joint to be formed

Номер патента: US20160033388A1. Автор: Bernd Raeckers,Lutz Wiese. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2016-02-04.

Test Piece for Testing a Washing Performance of an Industrial Washing Machine

Номер патента: US20230095195A1. Автор: Marcel Boncourt,Philip Schiele,Anton Igel,Daniel Krier. Владелец: ZF FRIEDRICHSHAFEN AG. Дата публикации: 2023-03-30.

Test equipment system and method for testing a component

Номер патента: WO2008092510A1. Автор: Kajsa Karlsson,Diana SIPÖCZ. Владелец: SONY ERICSSON MOBILE COMMUNICATIONS AB. Дата публикации: 2008-08-07.

A gas analysis apparatus and method for testing gas emissions from a manufactured product

Номер патента: WO2014171841A1. Автор: Stephen Young. Владелец: Stephen Young Ip Limited. Дата публикации: 2014-10-23.

Technique for testing the ball dent properties of a sample

Номер патента: WO2023114032A1. Автор: Young Shin Kim,Young-Chul Yang,Soohee Choi. Владелец: Ticona LLC. Дата публикации: 2023-06-22.

Method for testing samples containing prion protein for the possible presence of PrPSc 27-30

Номер патента: NZ527233A. Автор: Markus Moser,Bruno Oesch,Karin Biffiger. Владелец: PRIONICS AG. Дата публикации: 2005-07-29.

Systems and methods for testing MEMS arrays and associated ASICs

Номер патента: US12053330B2. Автор: Jonathan Strode,Rajeev SIVADASAN,Gordon SASAMORI. Владелец: Exo Imaging Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Apparatus for loading and unloading burn-in boards

Номер патента: US5842272A. Автор: James P. Nuxoll. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 1998-12-01.

Automated burn-in board unloader and IC package sorter

Номер патента: US4584764A. Автор: Robert L. Gussman. Владелец: Reliability Inc. Дата публикации: 1986-04-29.

Methods and systems for testing a system

Номер патента: US20240232030A9. Автор: Radoslaw Wójciaczyk. Владелец: Aptiv Technologies Ag. Дата публикации: 2024-07-11.

Deep q-network reinforcement learning for testing case selection and prioritization

Номер патента: US20210064515A1. Автор: JIANWU Xu,Haifeng Chen,Yuchen Bian. Владелец: NEC Laboratories America Inc. Дата публикации: 2021-03-04.

Techniques for testing semiconductor devices

Номер патента: US12079097B2. Автор: Ashish Kumar,Rahul Garg,Shantanu SARANGI,Animesh Khare. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

System, method, and computer program for testing a network service associated with a communications network

Номер патента: US09912573B1. Автор: Evgeny Zemlerub. Владелец: Amdocs Development Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Method and system for generation a valid set of test configurations for test scenarios

Номер патента: US09858175B1. Автор: Girish Raghavan,Thamilchelvi Peterbarnabas,Deepashree Mohan. Владелец: Wipro Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Method for testing a computer program in multiple compositions made up of computer program modules

Номер патента: US20240012741A1. Автор: Markus Dreher,Christopher Huth. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-01-11.

Method and system for testing network device logic

Номер патента: US20070036082A1. Автор: James Hamada,Bradley Sonksen,Aklank Shah. Владелец: QLogic LLC. Дата публикации: 2007-02-15.

Method and System for Testing Assembled Mobile Devices

Номер патента: EP1641154B1. Автор: Winston Mok. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2007-10-31.

Method, device, and computer program product for testing

Номер патента: US20240273010A1. Автор: Yang Wu,CHI Chen,Jing Ye,Nan Wang. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-08-15.

Intelligent concurrent testing for test cycle time reduction

Номер патента: US20240320135A1. Автор: Dinesh Garg,Hemanth Mantri,Rutvij Mehta. Владелец: Harness Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Smart tester application for testing other applications

Номер патента: US09665473B2. Автор: Bidhu Sahoo,Vijay Krishna BS. Владелец: Accenture Global Services Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Using environmental signatures for test scheduling

Номер патента: US09558088B2. Автор: Matthew J. Jarvis,Djihed Afifi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

System and method for test data generation and optimization for data driven testing

Номер патента: US09529699B2. Автор: Sourav Bhattacharya,Anoop Rajan. Владелец: Wipro Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Method and device for testing a thin film transistor

Номер патента: US09472473B2. Автор: Hongjun Yu. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-18.

Method and apparatus for testing intelligent device

Номер патента: RU2629006C2. Автор: Эньсин ХОУ,Яньлу ЧЖАН,Гуани ХАН. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2017-08-24.

Circuit for testing a USB device using a packet to be measured controlled by test signals

Номер патента: US20080082286A1. Автор: Makoto Nagano. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2008-04-03.

Method and System for Testing Websites

Номер патента: US20160371235A9. Автор: Edward F. Miller. Владелец: Software Research Inc. Дата публикации: 2016-12-22.

Method and apparatus for testing web transactions

Номер патента: EP1121644A1. Автор: John R. Meier,Peter J. Welter. Владелец: Freshwater Software Inc. Дата публикации: 2001-08-08.

A system for testing a device comprising a hdmi transmitter

Номер патента: WO2013045427A1. Автор: Christophe Belet,Laurent Claramond,Pertti Ritala. Владелец: ST-Ericsson SA. Дата публикации: 2013-04-04.

Analysis of system test procedures for testing a modular system

Номер патента: US20130132777A1. Автор: Stephan Froehlich,Alexander Urban,Valentin Elefteriu,Jan SCHORMANN,Joern SIMON. Владелец: BRAINLAB AG. Дата публикации: 2013-05-23.

System and method for testing and certifying products

Номер патента: WO2005106732A1. Автор: Kevin Tolly. Владелец: Kevin Tolly. Дата публикации: 2005-11-10.

System and method for testing multiple variants

Номер патента: WO2021121349A1. Автор: Liang Tang,Bo Tan. Владелец: BEIJING DIDI INFINITY TECHNOLOGY AND DEVELOPMENT CO., LTD.. Дата публикации: 2021-06-24.

Methodology for testing a microcontroller chip adapted to control a liquid crystal display

Номер патента: WO1998000725A1. Автор: Rodney Drake,Randy Yach. Владелец: MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED. Дата публикации: 1998-01-08.

System and method for test data management

Номер патента: US20180081955A1. Автор: Ashish Gupta,Prasanta Kumar Mishra,Prakash Hariharan. Владелец: American Express Travel Related Services Co Inc. Дата публикации: 2018-03-22.

Method and apparatus for testing fire alarm initiating devices

Номер патента: WO2015128800A2. Автор: Joseph Piccolo, III,Daniel G. Farley. Владелец: Tyco Fire & Security GmbH. Дата публикации: 2015-09-03.

Testing apparatus and method for testing a semiconductor devices array

Номер патента: US20100156452A1. Автор: Chih Hui YEH. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2010-06-24.

Testing apparatus and method for testing a semiconductor devices array

Номер патента: US8164356B2. Автор: Chih Hui YEH. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2012-04-24.

Method and cluster for testing orchestration

Номер патента: US20240330164A1. Автор: Chih-Kai Hu. Владелец: American Megatrends International LLC. Дата публикации: 2024-10-03.

Systems and methods for testing of medical devices

Номер патента: US20240339209A1. Автор: Julio Castro,Karl A. Ruiter,Robert Edward Whitten,Norman Piatek. Владелец: Pronk Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Computer system and method for testing hardware device based on virtual machine

Номер патента: US09436491B1. Автор: Hann-Huei Chiou. Владелец: Accelstor Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Methods and apparatus for testing software with real-time source data from a projectile

Номер патента: EP2156284A1. Автор: Patric Mcguire,Steven T. Siddens,David A. Lance. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2010-02-24.

Memory device and method for testing memory devices with repairable redundancy

Номер патента: US20060198215A1. Автор: Martin Perner,Volker Kilian. Владелец: Qimonda AG. Дата публикации: 2006-09-07.

Testing unit for testing a surgical robotic system

Номер патента: EP4125680A1. Автор: Joseph STRAK. Владелец: CMR Surgical Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Method and apparatus for testing memory chip, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20230290423A1. Автор: Jing Wang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-14.

System and method for testing artificial memory

Номер патента: US20060005088A1. Автор: Tang He,Xin Zeng. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2006-01-05.

System and method for testing a memory for a memory failure exhibited by a failing memory

Номер патента: US20060107132A1. Автор: Valerie Crump,Brad Van Roosendaal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-05-18.

Method for testing memory device

Номер патента: US7307903B2. Автор: Young Bo Shim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-12-11.

Method and machine for testing a spacer grid of a nuclear fuel assembly

Номер патента: US20230178259A1. Автор: Antoine Duret,Victor Hatman,Eric Bourdais,Charles PINTOS. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 2023-06-08.

Systems and methods for testing, training and instructing autonomous vehicles

Номер патента: US20240296109A1. Автор: Anand BHAT,Sandeep D'Souza,Ragunathan Rajkumar. Владелец: Robocars Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Method and machine for testing a spacer grid of a nuclear fuel assembly

Номер патента: WO2023104731A1. Автор: Antoine Duret,Victor Hatman,Eric Bourdais,Charles PINTOS. Владелец: FRAMATOME. Дата публикации: 2023-06-15.

Method and machine for testing a spacer grid of a nuclear fuel assembly

Номер патента: EP4445391A1. Автор: Antoine Duret,Victor Hatman,Eric Bourdais,Charles PINTOS. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 2024-10-16.

Visually differentiating strings for testing

Номер патента: US09594749B2. Автор: Shiva Kavindpadi Bhuvaneswaran. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2017-03-14.

Test device for testing a liquid crystal display (LCD) unit

Номер патента: US20020153921A1. Автор: Shao- ming Lin. Владелец: Hannstar Display Corp. Дата публикации: 2002-10-24.

Method and Device For Testing

Номер патента: US20210174263A1. Автор: Michael Weyrich,Christof Ebert. Владелец: UNIVERSITAET STUTTGART. Дата публикации: 2021-06-10.

Dram and method for testing the same in the wafer level burn-in test mode

Номер патента: US20130021862A1. Автор: Min-Chung Chou. Владелец: Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Дата публикации: 2013-01-24.

Method and device for testing deep learning model and computer storage medium

Номер патента: US20240242076A1. Автор: Peng Hu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

System and method for testing image capturing function of an electronic device

Номер патента: US20110102576A1. Автор: Qing-Hua Liu,de-gang Liu. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2011-05-05.

Apparatus and Method for Testing Storage Device in Power Interruptions

Номер патента: US20200286575A1. Автор: Po-Chien Chang,Ru-Yi Yang,Po-Wen Hsieh. Владелец: Goke Taiwan Research Laboratory Ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

Systems and methods for testing a software application

Номер патента: US11755466B1. Автор: Yi Liu,Philip Dunn. Владелец: Federal Home Loan Mortgage Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Method and system for testing compatibility of api specifications

Номер патента: US20240256435A1. Автор: Naresh Bhawarlal JAIN,Hari Krishnan P,Joel Cossy ROSARIO. Владелец: Agile Faqs Technology Pvt Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Computer device and method for testing images

Номер патента: US20210055914A1. Автор: Tzong-Yi Lee. Владелец: Triple Win Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-25.

Method and a device for testing electronic memory devices

Номер патента: US20020018376A1. Автор: Giovanni Campardo,Stefano Commodaro,Massimiliano Picca,Patrizia Mongelli. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-02-14.

Method and a device for testing electronic memory devices

Номер патента: US7168016B2. Автор: Giovanni Campardo,Stefano Commodaro,Massimiliano Picca,Patrizia Mongelli. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2007-01-23.

System and method for using an event window for testing an event processing system

Номер патента: US09753825B2. Автор: Ying Xi,Guan Nan He. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Method and apparatus for testing display panel

Номер патента: US09626888B2. Автор: Zhenling Wang,Tai-Jiun Hwang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Systems and methods for testing a software application

Номер патента: US09600405B1. Автор: Yi Liu,Philip Dunn. Владелец: Federal Home Loan Mortgage Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Computer-implemented methods and systems for testing online systems and content

Номер патента: US09442820B2. Автор: Jeffrey T. Wilson. Владелец: AOL Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Systems and methods for testing a software application

Номер патента: US09405667B1. Автор: Yi Liu,Philip Dunn. Владелец: Federal Home Loan Mortgage Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

System for test response diagnosis and assessment

Номер патента: WO2006020249A1. Автор: Pini A. Weinstein. Владелец: Weinstein Pini A. Дата публикации: 2006-02-23.

Method and device for testing memory and method for simulated testing

Номер патента: US20230230629A1. Автор: Dong Liu,Tianhao DIWU,Xikun CHU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-07-20.

Simple method for testing platform independent software

Номер патента: WO2001033360A1. Автор: Michael V. Glik. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2001-05-10.

Systems and methods for anonymizing media files for testing

Номер патента: US20230075976A1. Автор: Victor Cherepanov,Maxim Bykov. Владелец: Meta Platforms Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Method for testing a chip card element

Номер патента: US20230274119A1. Автор: Michael Baldischweiler. Владелец: Giesecke and Devrient Mobile Security GmbH. Дата публикации: 2023-08-31.

Method for testing a chip card element

Номер патента: US11983592B2. Автор: Michael Baldischweiler. Владелец: Giesecke and Devrient Mobile Security GmbH. Дата публикации: 2024-05-14.

Computer card for testing in-vehicle software

Номер патента: EP4047483A1. Автор: Marcin Szelest,Pawe Skruch. Владелец: Aptiv Technologies Ltd. Дата публикации: 2022-08-24.

Method for testing skin texture, method for classifying skin texture and device for testing skin texture

Номер патента: US12056883B2. Автор: JIN Wang,Ximin Cai,HeHuan Xu. Владелец: ArcSoft Corp Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Method and apparatus for testing operation of unmanned vehicle

Номер патента: US20180033221A1. Автор: Hong Zhai. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-01.

Camera testing device and method for testing focusing characteristic of camera

Номер патента: US12075025B2. Автор: Hun Kim,Jong Heon Kim,Woo Young Choi. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Apparatus and Method for Testing an Active Matrix Pixel Display

Номер патента: CA2116856A1. Автор: Larry A. Nelson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-04-01.

Memory device tester and method for testing reduced power states

Номер патента: US20020190708A1. Автор: Matthew Harrington,Van Huynh,Adin Hyslop. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2002-12-19.

Method and device for testing sr cycle as well as method and device for testing ar number

Номер патента: US20220406394A1. Автор: PENG Wang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-12-22.

Memory device tester and method for testing reduced power states

Номер патента: US20020149982A1. Автор: Matthew Harrington,Van Huynh,Adin Hyslop. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2002-10-17.

Memory device tester and method for testing reduced power states

Номер патента: US20020149981A1. Автор: Matthew Harrington,Van Huynh,Adin Hyslop. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2002-10-17.

Memory device tester and method for testing reduced power states

Номер патента: US6914843B2. Автор: Adin E. Hyslop,Matthew R. Harrington,Van C. Huynh. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2005-07-05.

Memory device tester and method for testing reduced power states

Номер патента: US6674677B2. Автор: Adin E. Hyslop,Matthew R. Harrington,Van C. Huynh. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2004-01-06.

Method, apparatus, and system for testing terminal

Номер патента: US12118423B2. Автор: Xiaoyu Huang,Renchi ZHENG,Kunxian SONG,Xiuliang CHEN. Владелец: Shenzhen Zolon Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Techniques for test automation portals for behavior-driven development

Номер патента: US20240362153A1. Автор: Sudeshna Das,Asha Laxmi Sriramdas. Владелец: Wells Fargo Bank NA. Дата публикации: 2024-10-31.

Automatic generation of test layouts for testing a design rule checking tool

Номер патента: US09916412B2. Автор: Alexander Leonidovich Kerre,Mikhail Anatolievich Sotnikov. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

System and method for supporting a sliding window for testing an event processing system

Номер патента: US09892009B2. Автор: Ying Xi,Guan Nan He. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Devices, systems and methods for testing cardiac exercise functions

Номер патента: US09826908B2. Автор: Jiankang Wu. Владелец: Smarthealth Electronics Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Directed random sequence generation method and apparatus for testing software

Номер патента: US09740599B2. Автор: Giles Thomas Hall. Владелец: RANDOMIZE Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Techniques for testing software

Номер патента: US09703694B2. Автор: Guo Xin Zhao,Ying N. Zhang,Su Ning Zhao,Yang L. Li. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Codeless system and tool for testing applications

Номер патента: US09697110B1. Автор: Alexander Arkadyev. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Design-for-test apparatuses and techniques

Номер патента: US09595316B2. Автор: Christophe Chanussot,Vianney Choserot,Loubna Hannati,Nabil Badereddine. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Test virtual volumes for test environments

Номер патента: US09558087B2. Автор: David C. Reed,Max D. Smith,Joel L. Masser. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Method and apparatus for testing browser compatibility

Номер патента: US09465593B2. Автор: Yanghui Fu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Utilizing translation tables for testing processors

Номер патента: US20210248050A1. Автор: Tom Kolan,Hillel Mendelson,Vitali Sokhin,Shay Aviv. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-08-12.

Method for testing a product

Номер патента: US12045156B2. Автор: Joachim Sohns. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-07-23.

System and method for testing graphics card

Номер патента: US8082472B2. Автор: Qing-Hua Liu. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-20.

Methods and apparatuses for test and cancellation of residual image

Номер патента: US20170178553A1. Автор: HAO Zhang,Wei Sun,Haiwei Sun,Lingyun SHI. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-22.

Systems and Methods for Testing Mobile Devices

Номер патента: US20180018249A1. Автор: Wenheng Zhao. Владелец: Silead (cayman) Inc. Дата публикации: 2018-01-18.

Method and system for determining interval time for testing of server, and device and medium

Номер патента: US12056030B2. Автор: Yongfei Sun. Владелец: Suzhou Wave Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Multilayer burn-in board structure with power tower

Номер патента: TW201006322A. Автор: Jia-Hui Liu. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-02-01.

Burn-in board

Номер патента: TW482907B. Автор: Hideaki Kawai,Ichiro Tano. Владелец: Ando Electric. Дата публикации: 2002-04-11.

Burn-in board

Номер патента: TW366426B. Автор: Keizo Kasai,Chikao Funai,Youzou Machida. Владелец: Ando Electric. Дата публикации: 1999-08-11.

Burn-in board for semiconductor package inspection

Номер патента: KR200177272Y1. Автор: 김성호. Владелец: 현대반도체주식회사. Дата публикации: 2000-04-15.

Burn-in board

Номер патента: JPS6428572A. Автор: Shigehiro Azuma. Владелец: Hitachi Yonezawa Electronics Co Ltd. Дата публикации: 1989-01-31.

Unloading apparatus for burn in board

Номер патента: KR200156150Y1. Автор: 이한웅. Владелец: 문정환. Дата публикации: 1999-09-01.

Burn-in board and method for common use thereof

Номер патента: JPH10117050A. Автор: Masuo Takahashi,倍男 高橋. Владелец: Tescon Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-06.

Automatic transfer method of burn-in board by automatic guided vehicle and burn-in test system

Номер патента: JP3307189B2. Автор: 栄司 佐々木. Владелец: 安藤電気株式会社. Дата публикации: 2002-07-24.

Burn-in board

Номер патента: JP3942684B2. Автор: 等 岡嶋. Владелец: ユー・エム・シー・ジャパン株式会社. Дата публикации: 2007-07-11.

Lithium ion battery automated production burn-in board

Номер патента: CN103840215B. Автор: 李斌,王海涛,刘金成,王世峰,王治国,李养德,盛宇. Владелец: Eve Energy Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-16.

Burn-in board for automatically producing lithium ion batteries

Номер патента: CN103840215A. Автор: 李斌,王海涛,刘金成,王世峰,王治国,李养德,盛宇. Владелец: Eve Energy Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-04.

Burn-in board

Номер патента: JP3033542B2. Автор: 恵三 葛西,智加夫 船井,要造 町田. Владелец: 安藤電気株式会社. Дата публикации: 2000-04-17.

Error rate test method and test system for testing a device under test

Номер патента: US20210266243A1. Автор: Meik Kottkamp,Niels Petrovic,Bledar Karajani. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-08-26.

Apparatus and method for testing network cabling in a communication network

Номер патента: US12107751B2. Автор: Wayne S. Hoofnagle,J. David Schell,Jamie M. Martin. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

System for testing taste sensitivity

Номер патента: EP3860432A1. Автор: David Adams. Владелец: Ranvier Health Ltd. Дата публикации: 2021-08-11.

Test device and method for testing photovoltaic module

Номер патента: EP4387088A1. Автор: Ning Li,Sen Yang,Bo Li,Pengjun XIAO,Jiaxiang Yin. Владелец: Jinko Solar Haining Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Testing device and method for testing photovoltaic module

Номер патента: US20240195355A1. Автор: Ning Li,Sen Yang,Bo Li,Pengjun XIAO,Jiaxiang Yin. Владелец: Jinko Solar Haining Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

System and method for testing a video signal generator

Номер патента: US20090046154A1. Автор: Xiao-Lin Gan,Yu-Kuang Ho,Shi-Yuan Tao,Ren-Bo Huang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2009-02-19.

Apparatus for testing a liquid specimen using suction

Номер патента: GB2616214A. Автор: Blackwell Oliver. Владелец: Clinical Design Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Apparatus and method for testing semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20020108080A1. Автор: Shinji Yamada,Teruhiko Funakura,Hisaya Mori. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-08-08.

System for testing ethernet paths and links without impacting non-test traffic

Номер патента: US12047237B2. Автор: Claude Robitaille,Steve Rochon. Владелец: Accedian Networks Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Test system and method for testing multiple devices under test simultaneously

Номер патента: US09949154B2. Автор: Thomas Lutz,Franz Obermayr,Jens VOLKMANN. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-04-17.

System for testing Ethernet paths and links without impacting non-test traffic

Номер патента: US09742579B2. Автор: Claude Robitaille,Steve Rochon. Владелец: Accedian Networks Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Method and apparatus for testing radio frequency index of active antenna system

Номер патента: US09609535B2. Автор: Boming Wang,Xiangling LI,Changjiang Cao,Xiangzi Han. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

System and method for testing and certification of media devices for use within a connected media environment

Номер патента: US09609448B2. Автор: Trevor Bentley. Владелец: SPOTIFY AB. Дата публикации: 2017-03-28.

Test stand and method for testing fluid pumps and fluid injectors

Номер патента: US09528768B2. Автор: Kurt Blank,Dirk Schoenfeld,Karl Kastner,Daniel Strack. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-12-27.

Wireless access point apparatus and method for testing throughput

Номер патента: US09467878B2. Автор: Jae Ho Chung,Sung Sang You,Jae Seon Jang,Yung Ha Ji. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Fixation device for test sheet

Номер патента: RU2674794C2. Автор: Клаус БРУНКЕН. Владелец: Бретье-Аутомацион Гмбх. Дата публикации: 2018-12-13.

An apparatus for testing of breathing systems for divers

Номер патента: WO1994007568A1. Автор: Nils Terje Ottestad. Владелец: Ottestad Breathing Systems A/S. Дата публикации: 1994-04-14.

System for testing base station

Номер патента: US20150365837A1. Автор: Kari Vierimaa,Harri Valasma. Владелец: SAROKAL TEST SYSTEMS OY. Дата публикации: 2015-12-17.

A method for testing an object in a telecommunications system

Номер патента: EP1082846A1. Автор: Mika Kamarainen,Tom Swahn. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2001-03-14.

Method for testing network services

Номер патента: EP3788744A1. Автор: Manuel Martinez,Vilmos Csaba ROTTER,Csaba Szalai,Zsombor KISS. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2021-03-10.

System and method for testing a photovoltaic module

Номер патента: WO2006119068A2. Автор: James J. Poddany. Владелец: First Solar, Inc.. Дата публикации: 2006-11-09.

Method for testing airtightness of battery cells

Номер патента: EP4379903A2. Автор: Wu Ying,Jianhua Fang,Zhangxiang Che. Владелец: Uni Helium Test Technology Shanghai Co ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Method and storage device for testing A V-Chip

Номер патента: US20060279309A1. Автор: Miller Lee,Yih-Chau Lin. Владелец: Hannspree Inc. Дата публикации: 2006-12-14.

Method for testing network services

Номер патента: WO2019210958A1. Автор: Manuel Martinez,Vilmos Csaba ROTTER,Csaba Szalai,Zsombor KISS. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2019-11-07.

Methods and systems for testing bluetooth® classic wireless devices

Номер патента: US20240298197A1. Автор: Kaushik Chakraborty,Darrin Joseph Russell. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Optometry device for testing the eyes of an individual, associated method and computer program product

Номер патента: EP4437935A1. Автор: Helene STARYNKEVITCH. Владелец: Essilor International SAS. Дата публикации: 2024-10-02.

Optometry device for testing the eyes of an individual, associated method and computer program product

Номер патента: WO2024200755A1. Автор: Helene STARYNKEVITCH. Владелец: Essilor International. Дата публикации: 2024-10-03.

System for testing base station

Номер патента: US09629011B2. Автор: Kari Vierimaa,Harri Valasma. Владелец: SAROKAL TEST SYSTEMS OY. Дата публикации: 2017-04-18.

Method and device for testing performance of wireless terminal

Номер патента: US09614627B2. Автор: Wei Yu,Yihong Qi. Владелец: GENERAL TEST SYSTEMS Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Test system for testing a cell broadcasting service (cbs) system

Номер патента: WO2024189062A1. Автор: Vlad Bratu,Ivana Knezevic,Aamir ISHAQUE. Владелец: Sigos GmbH. Дата публикации: 2024-09-19.

Test station for testing wireless electronic devices

Номер патента: US09490920B2. Автор: Jimmie Paul Partee. Владелец: ATC Logistics and Electronics Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

Test apparatus and method for testing IP-based mobile communications terminals

Номер патента: US09485680B2. Автор: Stefan Diebenbusch,Klaus Degner. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-11-01.

Device and system for testing camera in high and low temperature environments

Номер патента: US20240236294A9. Автор: Qingchun Wang,Jeongkeun CHAE. Владелец: Shanghai Yanding Tech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for Testing Networks Using Test Data Flows

Номер патента: US20230111201A1. Автор: Alexander Gogolev,Abdulkadir KARAAGAC. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-04-13.

Testing model for testing fitting of a dental restoration

Номер патента: WO2023152320A1. Автор: Tillmann Steinbrecher. Владелец: Exocad GmbH. Дата публикации: 2023-08-17.

Device for testing analyte in liquid sample

Номер патента: EP4374793A1. Автор: LIANG Hong,Shujiang Wu. Владелец: Hangzhou Biotest Biotech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Method for testing eyes and vision testing system

Номер патента: US20200390324A1. Автор: Stephan Degle. Владелец: OCULUS OPTIKGERAETE GMBH. Дата публикации: 2020-12-17.

Nrdu data path simulation server for testing data throughput capacity in 5g communication network

Номер патента: US20240223462A1. Автор: Argha MUKHERJEE,Varun Pendyala. Владелец: Rakuten Symphony Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Network emulator for testing voip connections

Номер патента: WO2002011413A3. Автор: Henry Houh. Владелец: Empirix Inc. Дата публикации: 2002-10-03.

Method for testing networks using test data flows

Номер патента: EP4164195A1. Автор: Alexander Gogolev,Abdulkadir KARAAGAC. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-04-12.

Method and vision testing system for testing the eyes

Номер патента: US11723533B2. Автор: Andreas Steinmueller. Владелец: OCULUS OPTIKGERAETE GMBH. Дата публикации: 2023-08-15.

Apparatus for testing a liquid specimen

Номер патента: GB2616216A. Автор: Blackwell Oliver. Владелец: Clinical Design Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Apparatus for testing a liquid specimen

Номер патента: WO2022129823A1. Автор: Oliver Blackwell. Владелец: Clinical Design Technologies Limited. Дата публикации: 2022-06-23.

Testing model for testing fitting of a dental restoration

Номер патента: US20230248487A1. Автор: Tillmann Steinbrecher. Владелец: Exocad GmbH. Дата публикации: 2023-08-10.

Apparatus for testing a liquid specimen

Номер патента: US20240293808A1. Автор: Oliver Blackwell. Владелец: Clinical Design Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Device for testing analyte in liquid sample

Номер патента: US20240359173A1. Автор: LIANG Hong,Yang Wang,Shujiang Wu,Junsheng Wu,Qihui Zhao,Xiuying ZENG. Владелец: Hangzhou Biotest Biotech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Device for testing analyte in liquid sample

Номер патента: EP4454757A1. Автор: LIANG Hong,Yang Wang,Shujiang Wu,Junsheng Wu,Qihui Zhao,Xiuying ZENG. Владелец: Hangzhou Biotest Biotech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Method, apparatus and computer program for testing a transceiver device

Номер патента: US09917658B2. Автор: Teck Hu,Thomas Bitzer,Kurt Weese,Henning Martens. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2018-03-13.

Method and system for testing temperature tolerance limit of loudspeaker

Номер патента: US09877127B2. Автор: KANG Ping,Dong Qiu,Xinfeng YANG. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Method for testing a multiple-input and multiple-output device and test system

Номер патента: US09866294B1. Автор: Hendrik Bartko. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-01-09.

Methods, systems, and computer readable media for testing wireless devices in wireless environments

Номер патента: US09743297B1. Автор: Stephen Samuel Jackson. Владелец: IXIA. Дата публикации: 2017-08-22.

Apparatus and method for testing night vision

Номер патента: US09717407B2. Автор: Timo Kratzer,Jesús Miguel Cabeza Guillén. Владелец: CARL ZEISS VISION INTERNATIONAL GMBH. Дата публикации: 2017-08-01.

Systems and methods for testing and managing defensive network devices

Номер патента: WO2014059159A3. Автор: Matthew Cohen,Andrew Tisdale,Dan Kuykendall. Владелец: Nt Objectives, Inc.. Дата публикации: 2014-06-19.

Method for testing the error ratio of a device using a preliminary probability

Номер патента: US20060002460A1. Автор: Thomas Maucksch,Uwe Baeder. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2006-01-05.

Method for testing the error ratio of a device using a preliminary probability

Номер патента: EP1502377A1. Автор: Uwe Bader,Thomas Maucksch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2005-02-02.

Architecture for testing protocols

Номер патента: US20160269270A1. Автор: Stéphane MAAG,Xiaoping CHE. Владелец: Telecom SudParis. Дата публикации: 2016-09-15.

Architecture for testing protocols

Номер патента: US10374932B2. Автор: Stéphane MAAG,Xiaoping CHE. Владелец: Telecom SudParis. Дата публикации: 2019-08-06.

Method for testing a radio frequency (rf) data packet signal transceiver via a wireless signal path

Номер патента: WO2016190944A1. Автор: Christian Olgaard. Владелец: LITEPOINT CORPORATION. Дата публикации: 2016-12-01.

Method and apparatus for testing in a communication network

Номер патента: WO2009132105A3. Автор: John Riley,Deepak Ottur,Louis Mamakos,Steven Douglas Miller. Владелец: VONAGE NETWORK LLC. Дата публикации: 2010-02-25.

Method and apparatus for testing in a communication network

Номер патента: WO2009132105A2. Автор: John Riley,Deepak Ottur,Louis Mamakos,Steven Douglas Miller. Владелец: VONAGE NETWORK LLC. Дата публикации: 2009-10-29.

Method for testing an appliance comprising an audio port, and a respective appliance

Номер патента: US20040148118A1. Автор: Patrick Will,Olivier Horr. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-07-29.

Method for testing a radio frequency (rf) data packet signal transceiver via a wireless signal path

Номер патента: US20160352611A1. Автор: Christian Volf Olgaard. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2016-12-01.

Methods and systems for testing stateful network communications devices

Номер патента: EP1368919A4. Автор: Errol Ginsberg,Clifford L Hannel,Douglas E Schafer,Gerald R Pepper. Владелец: Ixia Communications. Дата публикации: 2007-05-16.

Micro-Ball Grid Array package tape including tap for testing

Номер патента: US20020043390A1. Автор: Yoon-Gyu Song. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-04-18.

Device and method for testing decoking tools

Номер патента: US20100077876A1. Автор: WOLFGANG Paul,Andreas WÜPPER,Kay Simon. Владелец: Ruhrpumpen GmbH. Дата публикации: 2010-04-01.

System and method for testing an agricultural implement

Номер патента: ZA202201978B. Автор: Ben Schlipf,Matthew KLOPFENSTEIN. Владелец: Prec Planting Llc. Дата публикации: 2024-08-28.

HF testing equipment and method for testing D2D-enabled mobile communications terminals

Номер патента: US09949151B2. Автор: Rainer Ohlendorf. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-04-17.

Method and apparatus for testing a wireless device

Номер патента: US09941983B1. Автор: Pirmin Seebacher. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-04-10.

Method for testing a radio frequency (RF) data packet signal transceiver packet error rate

Номер патента: US09780893B2. Автор: Christian Volf Olgaard. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Method and apparatus for testing in a communication network

Номер патента: US09769237B2. Автор: John Riley,Deepak Ottur,Louis Mamakos,Steven Douglas Miller. Владелец: Vonage America LLC. Дата публикации: 2017-09-19.

Finger guide for testing blood glucose and associated methods

Номер патента: US09681834B2. Автор: Marcus Suess. Владелец: Carolyn Consulting LLC. Дата публикации: 2017-06-20.

Test system for testing a system for radiologic treatment

Номер патента: EP4255302A1. Автор: Steffen Seeber,Carlos Murillo. Владелец: Deutsches Krebsforschungszentrum DKFZ. Дата публикации: 2023-10-11.

Apparatus and method for testing infrared functions

Номер патента: US20050167591A1. Автор: Shun-Hsien Chao,H. Wang. Владелец: Inventec Corp. Дата публикации: 2005-08-04.

Method and apparatus for testing the strength of autologous tissue

Номер патента: WO2001080775A3. Автор: David Tompkins,David Hemsley. Владелец: David Hemsley. Дата публикации: 2002-03-21.

Apparatus, system and method for testing a fibre optic network

Номер патента: GB2625380A. Автор: Parkin Neil,Fleming Lauren. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 2024-06-19.

Method for emulating a terminal and test apparatus for testing a telecommunication network

Номер патента: US20020128811A1. Автор: Holger Hoffmann. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2002-09-12.

Apparatus and method for testing infrared functions

Номер патента: US7115867B2. Автор: Hung-Sheng Wang,Shun-Hsien Chao. Владелец: Inventec Corp. Дата публикации: 2006-10-03.

Method for testing a low power radio frequency (rf) data packet signal transceiver

Номер патента: WO2017048558A1. Автор: Fei Peng,Ke Liu,Christian Volf Olgaard,Ruizu Wang. Владелец: LITEPOINT CORPORATION. Дата публикации: 2017-03-23.

Apparatus for testing camera module

Номер патента: US20220116585A1. Автор: Hyunseok Kim,Chanyoung Park,Byoung Dae Lee,Minseog CHOI. Владелец: Ismedia Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Tcp connections resiliency system for testing networks in unstable environments

Номер патента: US20170237638A1. Автор: Marius Pavel NISTOR,Mihail Florin CONSTANTINESCU. Владелец: IXIA. Дата публикации: 2017-08-17.

System and method for testing the chemical content of plastic containers moving along a test line

Номер патента: US20180012749A1. Автор: Quan Shi,Allan S. Tseng. Владелец: Enos Engineering LLC. Дата публикации: 2018-01-11.

Method and apparatus for testing a millimeter wave radio

Номер патента: US20240235592A1. Автор: Ahmet Tekin,Biagio Bisanti,Eric Duvivier,Qixian Shi,Khaled Khalaf. Владелец: Pharrowtech BV. Дата публикации: 2024-07-11.

Apparatus for testing a liquid specimen by wicking the liquid specimen to response portions

Номер патента: US20240198329A1. Автор: Oliver Blackwell. Владелец: Clinical Design Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Systems and methods for testing and analysis of visual acuity and its changes

Номер патента: AU2024216380A1. Автор: Luis Andres LESMES. Владелец: Adaptive Sensory Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

System and method for testing an insert packer assembly

Номер патента: US09845655B2. Автор: Erman Citirik,John Hoefler,James Chris Reed. Владелец: Cameron International Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Blowout preventer test joint assembly for testing variable bore rams, shear rams and annulars

Номер патента: US09771771B2. Автор: Brian Williams,Gregory Lafleur. Владелец: Backoff LLC. Дата публикации: 2017-09-26.

Method for testing a low power radio frequency (RF) data packet signal transceiver

Номер патента: US09749065B2. Автор: Fei Peng,Ke Liu,Christian Volf Olgaard,Ruizu Wang. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

Method and device for testing in a DSL environment

Номер патента: US09742906B2. Автор: Jan Deutscher,Tim Eickelberg,Nils Asmussen. Владелец: Adtran GmbH. Дата публикации: 2017-08-22.

Method for testing tunable wavelength laser device and tunable wavelength laser device

Номер патента: US09653881B2. Автор: Eiichi Banno. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Method and apparatus for testing a tubular annular seal

Номер патента: US09624764B2. Автор: William W. Fleckenstein. Владелец: COLORADO SCHOOL OF MINES. Дата публикации: 2017-04-18.

Apparatus and method for testing portable devices

Номер патента: US09549053B2. Автор: Thirumalarao VOONA. Владелец: CELLCO PARTNERSHIP. Дата публикации: 2017-01-17.

Apparatus and method for testing sound transducers

Номер патента: US09510120B2. Автор: Gerard John. Владелец: Amkor Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Blowout preventer test joint assembly, for testing variable bore rams, shear rams, and annulars

Номер патента: US09506312B2. Автор: Brian Williams,Gregory Lafleur. Владелец: Backoff LLC. Дата публикации: 2016-11-29.

Method for testing differential analog-to-digital converter and system therefor

Номер патента: US09438262B1. Автор: Tao Chen,Douglas A. Garrity,Xiankun Jin. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-09-06.

Frequency transformer for testing transformers

Номер патента: RU2659819C1. Автор: Илья Николаевич Джус. Владелец: Илья Николаевич Джус. Дата публикации: 2018-07-04.

Method for testing semiconductor wafers using temporary sacrificial bond pads

Номер патента: PH12016501263A1. Автор: Howard H Roberts Jr. Владелец: Celerint LLC. Дата публикации: 2016-08-15.

Method and measurement system for testing multiple mobile phones in parallel

Номер патента: US20160353300A1. Автор: Walter Schmitz,Thomas Lutz,Jens VOLKMANN. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-12-01.

Antenna arrays for testing wireless devices

Номер патента: US20190238238A1. Автор: Rajaratnam Thiruvarankan. Владелец: Keysight Technologies Singapore Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2019-08-01.

Method for testing signal-to-noise ratio using a film frame

Номер патента: EP3238464A1. Автор: Andrew J. Doller,David Pravlik. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-11-01.

Method for testing signal-to-noise ratio using a film frame

Номер патента: WO2016106296A1. Автор: Andrew J. Doller,David Pravlik. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-06-30.

Method and Device for Testing A Base Station

Номер патента: US20230021816A1. Автор: Miika NIIRANEN,Imre KASZUK,Jari HAAPALA. Владелец: Siemens Industry Software Oy. Дата публикации: 2023-01-26.

Method for testing an analog-to-digital converter unit having delta-sigma modulation

Номер патента: US20230198545A1. Автор: Rudolf Ritter. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2023-06-22.

Means for testing a signal transmitting circuit

Номер патента: US3594645A. Автор: Clyde E Hallmark. Владелец: Dow Chemical Co. Дата публикации: 1971-07-20.

Antenna arrays for testing wireless devices

Номер патента: US20230370173A1. Автор: Rajaratnam Thiruvarankan. Владелец: Keysight Technologies Singapore Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Burn-in board and burn-in system

Номер патента: SG181207A1. Автор: Hoshino Atsushi,Kimura Shinichi. Владелец: Japan Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-28.

Test burn-in device and test burn-in method

Номер патента: JP3064990B2. Автор: 良 卜部. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-07-12.

Test burn-in tester

Номер патента: JPH10293156A. Автор: Atsushi Kawai,敦之 川合. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 1998-11-04.

Test burn-in apparatus and method therefor

Номер патента: JPH11108988A. Автор: Makoto Urabe,良 卜部. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1999-04-23.

Burn-in board inspection apparatus and burn-in board inspection method

Номер патента: JP2591453B2. Автор: 勝 新井. Владелец: Nippon Electric Co Ltd. Дата публикации: 1997-03-19.

Burn-in board and burn-in system

Номер патента: TW201241453A. Автор: Atsushi Hayashi,Shinichi Kimura,Atsushi Hoshino. Владелец: Japan Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-16.

Burn-in board

Номер патента: TW523100U. Автор: Noty Tseng. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2003-03-01.

Burn-in board and aging test apparatus for integrated circuit

Номер патента: TW568279U. Автор: Chun-jen Huang,Yueh-Lung Lin,Yi-Lung Lin,Ming-Hua Hsia,Yung-Lai Chuan. Владелец: ASE Test Inc. Дата публикации: 2003-12-21.

A process for producing burn-in boards

Номер патента: IE79667B1. Автор: Paul Comerford,Declan Brosnan. Владелец: PARONNE Ltd. Дата публикации: 1998-05-20.

BURN IN BOARD, SYSTEM, AND METHOD

Номер патента: US20130300444A1. Автор: Wong Kin Sun,Wu Che Chin. Владелец: MACRONIX INTERNATIONAL CO., LTD.. Дата публикации: 2013-11-14.

Wafer level burn-in board and method for forming the same

Номер патента: TW557557B. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Shr-Jie Jeng,Noty Tseng,Yau-Rung Li. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2003-10-11.

Burn-in board

Номер патента: JPS6413475A. Автор: Takashi Yamamoto,Mari Nakajima. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-01-18.

Burn-in board

Номер патента: JPH1123650A. Автор: Jiyunichi Kitabuki,順一 北吹. Владелец: Nippon Kokan Ltd. Дата публикации: 1999-01-29.

IC burn-in board device

Номер патента: JP2502939Y2. Автор: 圭市 橋本. Владелец: Nippon Avionics Co Ltd. Дата публикации: 1996-06-26.

Automatically inserting and stripping mechanism for burn-in board

Номер патента: JPH10232261A. Автор: Toshihiro Otsuka,敏紘 大塚,Yasuhiro Higashiya,裕弘 東谷. Владелец: CHUO RIKEN KK. Дата публикации: 1998-09-02.

Removable attaching device, and burn-in board

Номер патента: SG185863A1. Автор: SATO Akifumi,HONOBE Toru. Владелец: Japan Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-28.

Wagon for burn-in board

Номер патента: TW435438U. Автор: Jeng-Lin Li,Ming-Jung Tzeng,Yung-Hua Chiau,Wen-Shiang Jiang. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2001-05-16.

Detachable mounting device and burn-in board

Номер патента: TW201248170A. Автор: Akifumi Sato,Toru Honobe. Владелец: Japan Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-01.

METHODS AND APPARATUS FOR TESTING ISFET ARRAYS

Номер патента: US20120001646A1. Автор: . Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Test equipment for testing aircraft additional center tank system

Номер патента: RU2452668C2. Автор: Юрген ЛОМАНН. Владелец: Эйрбас Оперэйшнз Гмбх. Дата публикации: 2012-06-10.

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ON-LINE SERVICES

Номер патента: US20120004895A1. Автор: . Владелец: Nokia Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Device for testing controlled shunting reactor

Номер патента: RU2592253C1. Автор: Илья Николаевич Джус. Владелец: Илья Николаевич Джус. Дата публикации: 2016-07-20.

Method and apparatus for testing valve control system

Номер патента: RU2461860C2. Автор: Юрген ЛОМАНН. Владелец: Эйрбас Оперэйшнз Гмбх. Дата публикации: 2012-09-20.

An Improved Apparatus for Testing Special Pipes.

Номер патента: GB190706791A. Автор: John Smith,John Beardsell Broadhead. Владелец: Individual. Дата публикации: 1907-07-18.

Device for testing analyte in liquid sample

Номер патента: AU2023210574A1. Автор: LIANG Hong,Yang Wang,Shujiang Wu,Junsheng Wu,Qihui Zhao,Xiuying ZENG. Владелец: Hangzhou Biotest Biotech Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-14.

Set for testing materials for strength at bending

Номер патента: RU2047137C1. Автор: Евгений Васильевич Лодус. Владелец: Евгений Васильевич Лодус. Дата публикации: 1995-10-27.

Set for testing materials for friction

Номер патента: RU2047158C1. Автор: Евгений Васильевич Лодус. Владелец: Евгений Васильевич Лодус. Дата публикации: 1995-10-27.

Device for testing pipes

Номер патента: RU2247957C2. Автор: И.Ю. Хасанов,Р.Х. Хажиев. Владелец: Хасанов Ильмер Юсупович. Дата публикации: 2005-03-10.

Centrifugal set for testing material specimens

Номер патента: RU2047128C1. Автор: Евгений Васильевич Лодус. Владелец: Евгений Васильевич Лодус. Дата публикации: 1995-10-27.

Improvements in Apparatus for Testing Spectacle and other Lenses and Prisms.

Номер патента: GB190411069A. Автор: Fred Hamilton. Владелец: Individual. Дата публикации: 1904-06-30.

Centrifugal set for testing materials

Номер патента: RU2047124C1. Автор: Евгений Васильевич Лодус. Владелец: Евгений Васильевич Лодус. Дата публикации: 1995-10-27.

Imitation model of human hand for testing means of measuring blood pressure and heart rate

Номер патента: RU2405423C1. Автор: Игорь Николаевич Синицын,Робиндар Николаевич Каратаев,Алексей Игорьевич Сойко,Александра Игоревна Хрунина,Фарид Мисбахович Галимов,Оскар Робиндарович Каратаев,Олег Робиндарович Каратаев,Александр Витальевич Овчинников,Гузэль Рафаиловна Стрекалова,Ирина Эдуардовна Мазитова,Игорь Николаевич Синицын (RU),Робиндар Николаевич Каратаев (RU),Алексей Игорьевич Сойко (RU),Фарид Мисбахович Галимов (RU),Оскар Робиндарович Каратаев (RU),Олег Робиндарович Каратаев (RU),Александр Витальевич Овчинников (RU),Гузэль Рафаиловна Стрекалова (RU),Александра Игоревна Хрунина (RU),Ирина Эдуардовна Мазитова (RU). Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Казанский государственный технический университет им. А.Н. Туполева. Дата публикации: 2010-12-10.

Set for testing materials for friction

Номер патента: RU2047166C1. Автор: Евгений Васильевич Лодус. Владелец: Евгений Васильевич Лодус. Дата публикации: 1995-10-27.

Device for testing of inductive electric meters

Номер патента: RU2569178C1. Автор: Олег Фёдорович Меньших. Владелец: Олег Фёдорович Меньших. Дата публикации: 2015-11-20.

Centrifugal set for testing material specimens

Номер патента: RU2047127C1. Автор: Евгений Васильевич Лодус. Владелец: Евгений Васильевич Лодус. Дата публикации: 1995-10-27.

Device for testing inductive electric meters

Номер патента: RU2598772C1. Автор: Олег Фёдорович Меньших. Владелец: Олег Фёдорович Меньших. Дата публикации: 2016-09-27.

Device for testing inductive electric meters

Номер патента: RU2589940C2. Автор: Олег Фёдорович Меньших. Владелец: Олег Фёдорович Меньших. Дата публикации: 2016-07-10.

Improvements in Apparatus for Testing Armature Windings.

Номер патента: GB190820578A. Автор: Victor Patton. Владелец: Individual. Дата публикации: 1908-12-31.