Test access architecture for testing of circuits modules at an intermediate node within an integrated circuit chip.

Test access architecture for testing of circuits modules at an intermediate node within an integrated circuit chip

Номер патента: US5604432A
Опубликовано: 18-02-1997
Автор(ы): Alan Moore, Patrick A. Themins
Принадлежит: Intel Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20130076383A1. Автор: Thomas Wieja,Thomas Braun,Helmut Randoll,Stefan Doehren,Steffen Wirth,Peter Poinstingl,Ralf Kraemer,Christoph Knaupp. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-03-28.

Method and apparatus for test connectivity, communication, and control

Номер патента: US20130232388A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2013-09-05.

Method and apparatus for test connectivity, communication, and control

Номер патента: US20120036407A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2012-02-09.

Method and apparatus for test connectivity, communication, and control

Номер патента: US20110072324A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-03-24.

Method and apparatus for test connectivity, communication, and control

Номер патента: US20140082444A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-03-20.

Method and apparatus for test connectivity, communication, and control

Номер патента: US20150074479A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-03-12.

Method and apparatus for test connectivity, communication, and control

Номер патента: US20070089003A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2007-04-19.

Method and apparatus for test connectivity, communication, and control

Номер патента: US20150331046A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-11-19.

Scan circuitry for testing input and output functional paths of an integrated circuit

Номер патента: US20140143621A1. Автор: Vijay Sharma,Ramesh C. Tekumalla. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2014-05-22.

Test of jtag paths for transmission of discrete data with use of separable printed circuit boards carrying jtag logic circuits

Номер патента: RU2182711C2. Автор: Рэндэлл Моут. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2002-05-20.

Integrated circuit chip testing interface with reduced signal wires

Номер патента: US20230366929A1. Автор: Amitava Majumdar,Albert Shih-Huai Lin,Niravkumar Patel,Jane Wang SOWARDS. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2023-11-16.

Methodology for selectively testing portions of an integrated circuit

Номер патента: US20040210807A1. Автор: Amar Guettaf,James Sweet. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-10-21.

Apparatus and method for testing driver writeability strength on an integrated circuit

Номер патента: US20120112736A1. Автор: Ashish R. Jain,Edgardo F. Klass. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-05-10.

Apparatus and method for testing driver writeability strength on an integrated circuit

Номер патента: US20100308790A1. Автор: Ashish R. Jain,Edgardo F. Klass. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2010-12-09.

System and method for testing state retention circuits

Номер патента: US20080115024A1. Автор: Chung-Hsing Wang,Lee-Chung Lu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2008-05-15.

An integrated circuit for testing using a high-speed input/output interface

Номер патента: EP2721427A1. Автор: George Alan Wiley,Michael Laisne,Geoffrey Shippee,Baris ARSLAN. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2014-04-23.

An integrated circuit for testing using a high-speed input/output interface

Номер патента: WO2012174281A1. Автор: George Alan Wiley,Michael Laisne,Geoffrey Shippee,Baris ARSLAN. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-12-20.

Method, system and device of serializing and de-serializing the delivery of scan test data through chip i/o to reduce the scan test duration of an integrated circuit

Номер патента: US20240027526A1. Автор: Sounil Biswas,Amit Wangoo,Zhanwei Zhong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-25.

Handling of Undesirable Distribution of Unknown Values in Testing of Circuit Using Automated Test Equipment

Номер патента: US20150025819A1. Автор: Rohit Kapur,Parthajit Bhattacharya,Jyotirmoy Saikia,Anshuman Chandra,Subramanian Chebiyam. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2015-01-22.

Integrated circuit chip testing interface with reduced signal wires

Номер патента: US11860228B2. Автор: Amitava Majumdar,Albert Shih-Huai Lin,Niravkumar Patel,Jane Wang SOWARDS. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

System and method for executing functional scanning in an integrated circuit environment

Номер патента: US20120053924A1. Автор: Zhiyuan WANG,Xinli Gu,Hongxia Fang,Zhanglei Wang. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

Tap and linking module for scan access of multiple cores with ieee 1149.1 test access ports

Номер патента: US20130124936A1. Автор: Baher S. Haroun,Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2013-05-16.

Tap and linking module for scan access of multiple cores with ieee 1149.1 test access ports

Номер патента: US20100162061A1. Автор: Baher S. Haroun,Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-06-24.

Tap and linking module for scan access of multiple cores with ieee 1149.1 test access ports

Номер патента: US20140040689A1. Автор: Baher S. Haroun,Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-02-06.

Tap and linking module for scan access of multiple cores with ieee 1149.1 test access ports

Номер патента: US20120304029A1. Автор: Baher S. Haroun,Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2012-11-29.

Tap and linking module for scan access of multiple cores with ieee 1149.1 test access ports

Номер патента: US20140181608A1. Автор: Baher S. Haroun,Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-06-26.

Method and circuit for testing DC parameters of circuit input and output nodes

Номер патента: US6586921B1. Автор: Stephen Kenneth Sunter. Владелец: LogicVision Inc. Дата публикации: 2003-07-01.

Method and circuit for testing dc parameters of circuit input and output nodes

Номер патента: CA2406619A1. Автор: Stephen K. Sunter. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-15.

Method and circuit for testing dc parameters of circuit input and output nodes

Номер патента: AU2001248167A1. Автор: Stephen K. Sunter. Владелец: LogicVision Inc. Дата публикации: 2001-11-20.

Method and apparatus for testing a multi-die integrated circuit device

Номер патента: US20200103464A1. Автор: Michael Fridburg,Erez Menahem,Peter Brokhman. Владелец: Marvell Israel MISL Ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Integrated circuit and method for establishing scan test architecture in integrated circuit

Номер патента: US09535120B2. Автор: Jianguo Ren,Chong Dai,Wen-Hao Hsueh,Fengguo GAO,Shang-Bin HUANG. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Integrated circuit chip and a method for testing the same

Номер патента: US09506986B2. Автор: Christian Zoellin,Wilhelm Haller,Ulrich Krauch,Markus Kaltenbach,Nicolas Maeding. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Test access architecture for stacked memory and logic dies

Номер патента: US09689918B1. Автор: YU HUANG,Jing Ye,Yu Hu,Wu-Tung Cheng,Martin Keim,Ruifeng Guo,Liyang Lai,Etienne Racine,Ronald Press. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Scan compression architecture for highly compressed designs and associated methods

Номер патента: US09606180B2. Автор: Swapnil Bahl,Shray Khullar. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2017-03-28.

Electronic Package and Method for Testing the Same

Номер патента: US20070285103A1. Автор: Shakil Ahmad,Poh Kang,Narang Singh. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2007-12-13.

Electrical test method of an integrated circuit

Номер патента: US20080061810A1. Автор: Francois Tailliet. Владелец: STMICROELECTRONICS SA. Дата публикации: 2008-03-13.

Test scheduling and test access in test compression environment

Номер патента: EP2548037A1. Автор: Tyszer Jerzy,Mrugalski Grzegorz,Janicki Jakub,Nilanjan Mukherjee,Janusz Rajski,Mark A. Kassab. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2013-01-23.

Systems and methods for automatic test pattern generation for integrated circuit technologies

Номер патента: US09726722B1. Автор: Yosef Solt. Владелец: Marvell Israel MISL Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Architecture and method for testing of an integrated circuit device

Номер патента: WO2007024656A9. Автор: Adrian E Ong. Владелец: Inapac Technology Inc. Дата публикации: 2007-04-12.

Electronic circuit and method for testing

Номер патента: WO2003016922A2. Автор: Franciscus G. M. De Jong,Guillaume E. A. Lousberg,Alexander S. Biewenga,Leon M. A. Van De Logt. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2003-02-27.

Architecture and method for testing of an integrated circuit device

Номер патента: WO2007024656A3. Автор: Adrian E Ong. Владелец: Inapac Technology Inc. Дата публикации: 2009-05-22.

Functional frequency testing of integrated circuits

Номер патента: US20060041802A1. Автор: Steven Oakland,Philip Stevens,Anthony Polson,Gary Grise. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-02-23.

Architecture and method for testing of an integrated circuit device

Номер патента: WO2007024656A2. Автор: Adrian E. Ong. Владелец: Inapac Technology, Inc.. Дата публикации: 2007-03-01.

Methodology for testing integrated circuits

Номер патента: WO2015069490A9. Автор: SRIKANTH Srinivasan,Sagar Bhogela,Daisy Cynthia. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2015-07-02.

Methodology for testing integrated circuits

Номер патента: EP3066485A1. Автор: SRIKANTH Srinivasan,Sagar Bhogela,Daisy Cynthia. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2016-09-14.

Apparatus and method for testing of stacked die structure

Номер патента: EP2454602A1. Автор: Arifur Rahman,Hong-Tsz Pan,Bang-Thu Nguyen. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2012-05-23.

Apparatus and method for testing of stacked die structure

Номер патента: WO2011008309A1. Автор: Arifur Rahman,Hong-Tsz Pan,Bang-Thu Nguyen. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2011-01-20.

Integrated circuit (IC) for reconstructing values of flip-flops connected in a scan-chain by using a joint test action group (JTAG) interface, a method of operating the IC, and devices having the IC

Номер патента: US09465073B2. Автор: Bum Ju Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-11.

A test access port (tap) controller system and method to debug internal intermediate scan test faults

Номер патента: WO2002029568A2. Автор: Kenneth Jaramillo,Varaprasda Vajjhala. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-04-11.

Integrated circuit with self-testing circuit

Номер патента: EP1472552A2. Автор: Friedrich Hapke. Владелец: Philips Intellectual Property and Standards GmbH. Дата публикации: 2004-11-03.

Integrated circuit with self-testing circuit

Номер патента: WO2003060534A2. Автор: Friedrich Hapke. Владелец: Philips Intellectual Property & Standards Gmbh. Дата публикации: 2003-07-24.

Packet based integrated circuit testing

Номер патента: US09702935B2. Автор: Lewis Nardini,Alan Hales,Sumant Kale. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-07-11.

Integrated circuit chip and multi-chip system including the same

Номер патента: US09490032B2. Автор: Sang-Jin Byeon. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

A method and device for testing of an integrated circuit

Номер патента: AU7700894A. Автор: Olli Piirainen. Владелец: Nokia Telecommunications Oy. Дата публикации: 1995-05-01.

Determining timing associated with an input or output of an embedded circuit in an integrated circuit for testing

Номер патента: US7493543B1. Автор: Arnold Louie,Vickie Wu. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2009-02-17.

Integrated test circuit, test assembly and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US12055587B2. Автор: Heiko Ahrens,Martin Huch,Tobias Kilian,Daniel Tille. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-08-06.

Reordering or Removal of Test Patterns for Detecting Faults in Integrated Circuit

Номер патента: US20140289579A1. Автор: Rohit Kapur,Parthajit Bhattacharya,Sushovan Podder. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2014-09-25.

Integrated circuit and a method for secure testing

Номер патента: EP1817595A1. Автор: Asaf ASHKENAZI,Yossi Amon,Dimitri Akselrod. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2007-08-15.

Integrated circuit and a method for secure testing

Номер патента: WO2006053586A1. Автор: Asaf ASHKENAZI,Yossi Amon,Dimitri Akselrod. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2006-05-26.

Reordering or removal of test patterns for detecting faults in integrated circuit

Номер патента: US09411014B2. Автор: Rohit Kapur,Parthajit Bhattacharya,Sushovan Podder. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2016-08-09.

Scan compression architecture for highly compressed designs and associated methods

Номер патента: US20170140838A1. Автор: Swapnil Bahl,Shray Khullar. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2017-05-18.

Scan compression architecture for highly compressed designs and associated methods

Номер патента: US20150323593A1. Автор: Swapnil Bahl,Shray Khullar. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2015-11-12.

Serial scan chain control within an integrated circuit

Номер патента: US20090019329A1. Автор: Robert Campbell Aitken,Dipesh Ishwerbhai Patel,Gary Robert Waggoner. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2009-01-15.

Method and apparatus for testing electrical connections on a printed circuit board

Номер патента: EP2344897A2. Автор: Anthony J. Suto. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2011-07-20.

Testing of multi-clock domains

Номер патента: US20130159802A1. Автор: Swapnil Bahl,Akhil Garg. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2013-06-20.

Method and apparatus for testing electrical connections on a printed circuit board

Номер патента: US09638742B2. Автор: Anthony J. Suto. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Test driver for connecting a standard test port integrated circuit chip to a controlling computer

Номер патента: US5228045A. Автор: Wilton R. Chiles. Владелец: NCR Corp. Дата публикации: 1993-07-13.

Testability method for modularized integrated circuits

Номер патента: US6060897A. Автор: Rami Saban,Alon Shacham,Peleg Lior,Yomtov Sidi. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2000-05-09.

Converged test platforms and processes for class and system testing of integrated circuits

Номер патента: US20180252772A1. Автор: JIN Pan,John M. Peterson,David Shia,Pooya Tadayon,Abram M. Detofsky,Evan M. Fledell,Mustapha A. Abdulai,Dinia P. Kitendaugh. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-09-06.

Device and method for testing integrated circuits

Номер патента: EP2030030B1. Автор: Michael Priel,Dan Kuzmin,Ezra Baruch. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2010-11-03.

Device and method for testing integrated circuits

Номер патента: EP2030030A1. Автор: Michael Priel,Dan Kuzmin,Ezra Baruch. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2009-03-04.

Integrated circuit, an apparatus for testing an integrated circuit, a method for testing an integrated circuit and a computer program for implementing this method using magnetic field

Номер патента: US20230099503A1. Автор: Frank Mielke. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-03-30.

Input/output compression and pin reduction in an integrated circuit

Номер патента: WO2008103793A1. Автор: Benjamin Louie,Adam Johnson,Frankie F. Roohparvar,Scott N. Gatzemeier. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2008-08-28.

Method and apparatus for testing a digital rf system

Номер патента: CA2156655C. Автор: Michael S. Heutmaker,Madhuri Jarwala,Duy K. Le. Владелец: AT&T Corp. Дата публикации: 1999-01-26.

Integrated circuit built-in self-test structure

Номер патента: US5130645A. Автор: Paul S. Levy. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1992-07-14.

Apparatus and method for testing circuit board interconnect integrity

Номер патента: US5416409A. Автор: Paul W. Hunter. Владелец: Ministor Peripherals International Ltd. Дата публикации: 1995-05-16.

Method and device for high speed testing of an integrated circuit

Номер патента: US20090129183A1. Автор: Michael Priel. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2009-05-21.

A test access port (tap) controller system and method to debug internal intermediate scan test faults

Номер патента: EP1236053A2. Автор: Kenneth Jaramillo,Varaprasda Vajjhala. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2002-09-04.

Methods for forming area-efficient scan chains in integrated circuits, and integrated circuits embodying the same

Номер патента: US7971170B2. Автор: Bruce Eliot Duewer,Richard Dean Putman. Владелец: Cirrus Logic Inc. Дата публикации: 2011-06-28.

Addressable test access port domain selection circuitry TCK logic gate

Номер патента: US09891284B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-02-13.

Terahertz Plasmonics for Testing Very Large-Scale Integrated Circuits under Bias

Номер патента: US20230393195A1. Автор: Michael Shur,John Suarez,Greg Rupper,Sergey Rudin,Meredith Reed. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 2023-12-07.

Terahertz Plasmonics for Testing Very Large-Scale Integrated Circuits under Bias

Номер патента: US20180238961A1. Автор: Michael Shur,John Suarez,Greg Rupper,Sergey Rudin,Meredith Reed. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 2018-08-23.

Circuit for the generation of a scanning clock in an operational analysis device of the serial type for an integrated circuit

Номер патента: USRE36123E. Автор: Flavio Scarra,Maurizio Gaibotti,Giampiero Trupia. Владелец: SGS Thomson Microelectronics SRL. Дата публикации: 1999-03-02.

Wrapper cell design and built-in self-test architecture for 3DIC test and diagnosis

Номер патента: US12066490B2. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Scan frame based test access mechanisms

Номер патента: US20100095174A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-04-15.

Wrapper Cell Design and Built-In Self-Test Architecture for 3DIC Test and Diagnosis

Номер патента: US20240361385A1. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Multiple input signature testing & diagnosis for embedded blocks in integrated circuits

Номер патента: US6158033A. Автор: Kenneth D. Wagner,Mehran Amerian. Владелец: S3 Inc. Дата публикации: 2000-12-05.

Method and system for testing an integrated circuit featuring scan design

Номер патента: US5485473A. Автор: Rolf Vogt,Manfred Schmidt,Peter Rost,Otto Torreiter,Ulich Diebold,Klaus Wagner-Drebenstedt. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1996-01-16.

Method and apparatus for sensing defects in integrated circuit elements

Номер патента: WO1990002997A1. Автор: Tushar R. Gheewala. Владелец: Cross-Check Technology, Incorporated. Дата публикации: 1990-03-22.

Integrated circuit with self-testing circuit

Номер патента: WO2003060534A3. Автор: Friedrich Hapke. Владелец: Friedrich Hapke. Дата публикации: 2003-11-13.

Automated test pattern generation for testing design redacting reconfigurable hardware

Номер патента: US20240201257A1. Автор: Aritra Dasgupta,Swarup Bhunia,Greg M. Stitt,Naren Vikram Raj Masna. Владелец: University of Florida Research Foundation Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Test access port architecture to facilitate multiple testing modes

Номер патента: US12057183B2. Автор: Michael Richard Spica. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Analog autonomous test bus framework for testing integrated circuits on a printed circuit board

Номер патента: US5581176A. Автор: Nai-Chi Lee. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1996-12-03.

Test circuit using clock gating scheme to hold capture procedure and bypass mode, and integrated circuit including the same

Номер патента: US20230152372A1. Автор: Giha Nam,Sangsoon Im. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-05-18.

Test circuit using clock gating scheme to hold capture procedure and bypass mode, and integrated circuit including the same

Номер патента: US11959965B2. Автор: Giha Nam,Sangsoon Im. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-16.

Method and system thereof for optimization of power consumption of scan chains of an integrated circuit for test

Номер патента: US20130212545A1. Автор: David Allen. Владелец: Atrenta Inc. Дата публикации: 2013-08-15.

AC testing of leakage current in integrated circuits using RC time constant

Номер патента: US20040246017A1. Автор: Tawfik Arabi,Gregory Taylor,Dan Murray,Patrick Elwer,Srirama Pedarla. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-12-09.

Method and apparatus for test time reduction using fractional data packing

Номер патента: US09970987B2. Автор: Mudasir Shafat Kawoosa,Sreenath Narayanan Potty,Vivek Singhal,Rajesh Mittal. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Circuits for and methods of implementing a design for testing and debugging with dual-edge clocking

Номер патента: US09798352B1. Автор: Amitava Majumdar,Balakrishna Jayadev. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Method and apparatus for test time reduction using fractional data packing

Номер патента: US09448284B2. Автор: Mudasir Shafat Kawoosa,Sreenath Narayanan Potty,Vivek Singhal,Rajesh Mittal. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Integrated circuit with reference sub-system for testing and replacement

Номер патента: US11852676B2. Автор: Carlo Caimi,Stefano Antonio Mastrorosa,Massimiliano Pesaturo,Alfredo Lorenzo POLI,Marco DELLA SETA. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2023-12-26.

Integrated circuit, test assembly and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20230079599A1. Автор: Heiko Ahrens,Martin Huch,Tobias Kilian,Daniel Tille. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2023-03-16.

Integrated circuit, test assembly and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US11874325B2. Автор: Heiko Ahrens,Martin Huch,Tobias Kilian,Daniel Tille. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-01-16.

Integrated test circuit, test assembly and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20230138651A1. Автор: Heiko Ahrens,Martin Huch,Tobias Kilian,Daniel Tille. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2023-05-04.

Method of testing a stacked integrated circuit device

Номер патента: US12032021B2. Автор: Stephen Felix,Phillip HORSFIELD. Владелец: Graphcore Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Partial good integrated circuit and method of testing same

Номер патента: US20080010571A1. Автор: Michael Ouellette,Pamela Gillis,Benjamin LYNCH,Carl Barnhart,Leonard Farnsworth,Michael Felske,Thomas St. Pierre,Tad Wilder. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-01-10.

Architecture for system-wide standardized intra-module and inter-module fault testing

Номер патента: US5627842A. Автор: Dilip K. Bhavsar,Joseph H. Brown. Владелец: Digital Equipment Corp. Дата публикации: 1997-05-06.

Method and apparatus for testing integrated circuit

Номер патента: US9805826B2. Автор: Wanggen Zhang,Weiwei Sang. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Method for testing device under test and apparatus using the same

Номер патента: US11320483B2. Автор: Byung Kyu Kim,Byeong Yun KIM. Владелец: Phosphil Inc. Дата публикации: 2022-05-03.

Internally generating patterns for testing in an integrated circuit device

Номер патента: US7313740B2. Автор: Adrian E. Ong. Владелец: Inapac Technology Inc. Дата публикации: 2007-12-25.

Machine-learning-based integrated circuit test case selection

Номер патента: US20240320408A1. Автор: Kumar Raj,Gökçe Sarar,Santanu PATTANAYAK,Tushit Jain,Guillaume SHIPPEE,Rhys BUGGY,Suman Kumar GUNNALA,Vatsal Nimeshkumar THAKKAR. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Discreet placement of radiation sources on integrated circuit devices

Номер патента: US20090236699A1. Автор: Kenneth P. Rodbell,Michael S. Gordon,Nancy C. Labianca. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-09-24.

System for testing an integrated circuit

Номер патента: US20030028824A1. Автор: Robert Kaiser,Thilo Schaffroth. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2003-02-06.

System for testing an integrated circuit using multiple test modes

Номер патента: US7165198B2. Автор: Robert Kaiser,Thilo Schaffroth. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2007-01-16.

Method of processing test patterns for an integrated circuit

Номер патента: EP1382976A1. Автор: Eric Liau. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2004-01-21.

Circuit for testing integrated circuits

Номер патента: US09689924B2. Автор: Jasvir Singh,Anirudha KULKARNI. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2017-06-27.

Circuit for testing integrated circuits

Номер патента: US09632140B2. Автор: Jasvir Singh,Anirudha KULKARNI. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2017-04-25.

Integrated circuit testing system and method

Номер патента: US6964003B2. Автор: Claude Thibeault. Владелец: Socovar SC. Дата публикации: 2005-11-08.

Modelling and testing of an integrated circuit

Номер патента: EP1259165A2. Автор: Patrick Arnould,Frederic Hayem. Владелец: Philips Semiconductors Inc. Дата публикации: 2002-11-27.

System and Method for Generating a Worst Case Current Waveform for Testing of Integrated Circuit Devices

Номер патента: US20090112550A1. Автор: Iwao Takiguchi,Makoto Aikawa,Gilles Gervais,Tetsuji Tamura,Sang H. Dhong,JONATHAN J. DeMENT,Brian K. Flachs. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-04-30.

Modeling and testing of an integrated circuit

Номер патента: WO2001045565A2. Автор: Patrick Arnould,Frederic Hayem. Владелец: Philips Semiconductors, Inc.. Дата публикации: 2001-06-28.

Method for testing through silicon vias in 3D integrated circuits

Номер патента: US09588174B1. Автор: Raphael Peter ROBERTAZZI. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Single-event transient (SET) pulse measuring circuit capable of eliminating impact thereof, and integrated circuit chip

Номер патента: US11828788B2. Автор: Xiaoyu Zhang,Jianjun Chen,Bin Liang,Yaqing Chi,Hengzhou Yuan,Deng Luo. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF DEFENSE TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-11-28.

Apparatus for testing integrated circuit devices and method thereof

Номер патента: US11231454B2. Автор: Eon Seok SUNG,Moo Jong SHIN. Владелец: Upe Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-25.

Detection and Correction of Single Event Upset (SEU) in Integrated Circuit

Номер патента: US20210091754A1. Автор: Younes Lotfi. Владелец: Cobham Colorado Springs Inc. Дата публикации: 2021-03-25.

Adapting the usage configuration of integrated circuit input-output pads

Номер патента: WO2016113530A1. Автор: James Edward Myers,Parameshwarappa Anand Kumar SAVANTH. Владелец: ARM LIMITED. Дата публикации: 2016-07-21.

Test logic method for an integrated circuit device

Номер патента: EP4256356A1. Автор: Ovidiu SIMA. Владелец: EM Microelectronic Marin SA. Дата публикации: 2023-10-11.

Multi-stage algorithmic pattern generator for testing ic chips

Номер патента: WO2001033236A1. Автор: James Vernon Rhodes,Robert Davis Conklin. Владелец: UNISYS CORPORATION. Дата публикации: 2001-05-10.

Systems and methods for non-intrusive testing of signals between circuits

Номер патента: US20050165572A1. Автор: Keith Holt,Jeremy Stover,Andrew Cottrell. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-07-28.

Integrated circuit with improved test capability via reduced pin count

Номер патента: WO2007115218A3. Автор: Srinivas Varadarajan,Michael Laisne,Raghunath R Bhattagiri,Arvid S Sammuli. Владелец: Arvid S Sammuli. Дата публикации: 2007-11-22.

Integrated circuit with improved test capability via reduced pin count

Номер патента: WO2007115196A2. Автор: Srinivas Varadarajan,Michael Laisne,Raghunath R. Bhattagiri,Arvid S. Sammuli. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2007-10-11.

Testable integrated circuit and test method

Номер патента: EP2191285A1. Автор: Laurent Souef,Emmanuel Alie. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2010-06-02.

Analysis module, integrated circuit, system and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20040064772A1. Автор: Yoav Weizman,Shai Shperber,Ezra Baruch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-01.

Method and configuration for testing electronic circuits and integrated circuit chips using a removable overlay layer

Номер патента: US4884122A. Автор: Charles W. Eichelberger,Robert J. Wojnarowski,II Kenneth B. Welles. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1989-11-28.

Functional Testing of an Integrated Circuit Chip

Номер патента: US20160033575A1. Автор: Andrew Brian Thomas Hopkins,Iain Craig Robertson,Michael Jonathan Thyer. Владелец: UltraSoC Technologies Ltd. Дата публикации: 2016-02-04.

Functional testing of an integrated circuit chip

Номер патента: US09632138B2. Автор: Andrew Brian Thomas Hopkins,Iain Craig Robertson,Michael Jonathan Thyer. Владелец: UltraSoC Technologies Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Precision probe positioning for at-speed integrated circuit testing using through silicon in-circuit logic analysis

Номер патента: US20170299653A9. Автор: Michael Bruce,Larry Ross. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-19.

Precision probe positioning for at-speed integrated circuit testing using through silicon in-circuit logic analysis

Номер патента: US20150355274A1. Автор: Michael Bruce,Larry Ross. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-10.

Integrated circuit with improved test capability via reduced pin count

Номер патента: WO2007130764A1. Автор: Srinivas Varadarajan,Michael Laisne,Raghunath R. Bhattagiri,Arvid S. Sammuli. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2007-11-15.

Test mode control circuit for reconfiguring a device pin of an integrated circuit chip

Номер патента: WO2004030034A2. Автор: Colin Price,Colin S. Mcintosh. Владелец: ANALOG DEVICES, INC.. Дата публикации: 2004-04-08.

Method for testing integrated circuit and integrated circuit configured to facilitate performing such a method

Номер патента: US09494646B2. Автор: Divya Pratap,Sung Jin Jo. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-11-15.

Method and system for generating an integrated circuit chip facility waveform from a series of chip snapshots

Номер патента: US20100070232A1. Автор: Christopher Smith,Andreas Koenig,Rolf Fritz,Manfred Walz. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-03-18.

System and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20190128961A1. Автор: Olivier Heron,Boukary Ouattara. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2019-05-02.

Circuit and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20010042233A1. Автор: Daniel Loughmiller. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2001-11-15.

Apparatus for testing integrated circuit

Номер патента: US20080079454A1. Автор: Po Chang Chen. Владелец: Princeton Technology Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

System and method for detecting integrated circuit anomalies

Номер патента: US09606167B2. Автор: Hsiang-Tsung Kung,Dario Vlah. Владелец: Harvard College. Дата публикации: 2017-03-28.

Integrated circuit testing architecture

Номер патента: US09506980B2. Автор: JIN Pan,John M. Peterson,Abram M. Detofsky,Brett D. Grossman,Ronald K. Minemier. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Integrated circuit

Номер патента: US09482718B2. Автор: Clive David BITTLESTONE. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-11-01.

Method and apparatus for testing integrated circuits in a mixed-signal environment

Номер патента: US5968191A. Автор: Carl Wilmer Thatcher,Stig Herman Oresjo,John Elliott McDermid,Kenneth Paul Parker. Владелец: Ford Motor Co. Дата публикации: 1999-10-19.

Method and circuit for testing the reliability of integrated circuit chips

Номер патента: CA1283489C. Автор: Robert W. Shreeve. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1991-04-23.

Tester for integrated circuits on a silicon wafer and integrated circuit

Номер патента: US20160259002A1. Автор: Alexandre Croguennec,Cyrille LAMBERT,Sébastien Bayon. Владелец: Starchip SAS. Дата публикации: 2016-09-08.

Electrical circuit unit and a method for testing the electrical circuit unit via an electrical test interface

Номер патента: US7089469B2. Автор: Carsten Friedrich. Владелец: Alcatel SA. Дата публикации: 2006-08-08.

Integrated circuit, memory device including the integrated circuit, and method of operating the same

Номер патента: US20240310437A1. Автор: Seaeun PARK,Saeeun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-19.

Method for testing comparator and device therefor

Номер патента: US09897649B2. Автор: Stefano Pietri,Chris C. Dao,Juxiang Ren. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

System and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US09588171B2. Автор: Nikolay Ilkov,Winfried Bakalski. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-03-07.

Method of testing an integrated circuit and testing system

Номер патента: US20240094281A1. Автор: Yun-Han Lee,Sandeep Kumar Goel,Ankita Patidar. Владелец: TSMC Nanjing Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

System and method for testing devices sensitive to magnetic fields

Номер патента: US20010042232A1. Автор: Paul V Mullins Jr.,Matthew H. Gaug. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-15.

Integrated circuit and method for testing the integrated circuit

Номер патента: US4975641A. Автор: Shigeki Tanaka,Koji Imura. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 1990-12-04.

System and method for extracting realtime debug signals from an integrated circuit

Номер патента: US5838692A. Автор: Paul G. Tobin. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1998-11-17.

Method and built-in self-test apparatus for testing an integrated circuit which capture failure information for a selected failure

Номер патента: US5912901A. Автор: Michael R. Ouellette,R. Dean Adams,Ronald J. Prilik. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1999-06-15.

Method of testing an integrated circuit and testing system

Номер патента: US11879933B2. Автор: Yun-Han Lee,Sandeep Kumar Goel,Ankita Patidar. Владелец: TSMC Nanjing Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Method and apparatus for testing signal paths between an integrated circuit wafer and a wafer tester

Номер патента: EP1275010A2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Ralph G. Whitten. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2003-01-15.

Zero-pin test solution for integrated circuits

Номер патента: US11041904B2. Автор: Tapan Jyoti Chakraborty,Umesh Srikantiah,Rachana ROUT. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-06-22.

Test circuit, system, and method for testing one or more circuit components arranged upon a common printed circuit board

Номер патента: WO2008014129A3. Автор: Gabriel M Li. Владелец: Gabriel M Li. Дата публикации: 2008-05-08.

Integrated circuit testing interface on automatic test equipment

Номер патента: US9435863B2. Автор: Chun-Chi Chen,Hung-Wei Lai,Tsung-Jun Lee. Владелец: SITRONIX TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2016-09-06.

System and method for testing integrated circuits

Номер патента: CA2564297A1. Автор: Mohamed M. Hafed,Gordon W. Roberts,Antonio H. Chan,Geoffrey D. Duerden,Sebastien Laberge,Bardia Pishdad,Clarence K. L. Tam. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-11-17.

Real-time rule engine for adaptive testing of integrated circuits

Номер патента: US09311201B2. Автор: Matthew S. Grady,David E. Atkinson,Donald L. LaCroix,II David B. Lutton,Bradley D. Pepper,Randolph P. Steel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-04-12.

Converged test platforms and processes for class and system testing of integrated circuits

Номер патента: US10677845B2. Автор: JIN Pan,John M. Peterson,David Shia,Pooya Tadayon,Abram M. Detofsky,Evan M. Fledell,Mustapha A. Abdulai,Dinia P. Kitendaugh. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-06-09.

Integrated circuit and method for diagnosing an integrated circuit

Номер патента: US11953546B2. Автор: Philippe Sirito-Olivier,Etienne Auvray,Tommaso Melis. Владелец: STMicroelectronics Alps SAS. Дата публикации: 2024-04-09.

Method and apparatus for testing devices using serially controlled resources

Номер патента: EP2195673A1. Автор: Tommie Edward Berry. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2010-06-16.

Method and apparatus for testing devices using serially controlled resources

Номер патента: WO2009042730A1. Автор: Tommie Edward Berry. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2009-04-02.

System for and method of improving the yield of integrated circuits

Номер патента: US20240264227A1. Автор: Manoj Sachdev. Владелец: Zinite Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

System for and method of improving the yield of integrated circuits

Номер патента: WO2024165935A1. Автор: Manoj Sachdev. Владелец: Zinite Corporation. Дата публикации: 2024-08-15.

Testing of integrated circuits during at-speed mode of operation

Номер патента: US20200132763A1. Автор: Srivaths Ravi,Khushboo Agarwal,Wilson Pradeep,Rajesh Kumar Tiwari,Raashid Moin Shaikh,Sanjay Krishna Hulical Vijayaraghavachar. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-04-30.

Multiple sweep point testing of circuit devices

Номер патента: US20040059536A1. Автор: Timothy Chang,Donald Stark. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2004-03-25.

Transmitter, integrated circuit, detection section and method for testing integrated circuit

Номер патента: US9991974B2. Автор: Yoshinori Takahashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Transmitter, integrated circuit, detection section and method for testing integrated circuit

Номер патента: US09991974B2. Автор: Yoshinori Takahashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Integrated circuit and method for testing semiconductor devices using the same

Номер патента: US09418760B2. Автор: In-Tae Kim,Woo-Sik JUNG,Weon-Seon LEE,O-Han KWON. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-08-16.

Method, circuit and apparatus for testing crosstalk effect

Номер патента: US11860222B2. Автор: FAN Xu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Disposition of integrated circuits using performance sort ring oscillator and performance path testing

Номер патента: US20130125076A1. Автор: Vikram Iyengar,JinJun Xiong,Jeanne P. Bickford,Peter A. Habitz,David E. Lackey. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-05-16.

Monitoring Functional Testing of an Integrated Circuit Chip

Номер патента: US20150226795A1. Автор: Andrew Brian Thomas Hopkins,Iain Craig Robertson. Владелец: UltraSoC Technologies Ltd. Дата публикации: 2015-08-13.

Integrated circuit tester having pattern generator controlled data bus

Номер патента: EP1149293A4. Автор: John Mark Oonk. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2004-12-29.

A circuit for a sorting unit of a programmed automatic measuring device especially adapted for testing of integrated control circuits

Номер патента: US3593130A. Автор: Helmut Trautmann. Владелец: MOLEKULARELEKTRONIK. Дата публикации: 1971-07-13.

Test module hanger for test fixtures

Номер патента: US5444387A. Автор: Mark A. Swart,Charles J. Johnston,David R. Van Loan. Владелец: Everett Charles Technologies Inc. Дата публикации: 1995-08-22.

Method of detecting an integrated circuit in failure among integrated circuits, apparatus of doing the same, and recording medium storing program for doing the same

Номер патента: US20030093237A1. Автор: Kazuhiro Sakaguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-05-15.

Method and apparatus for testing memory

Номер патента: US09689919B2. Автор: HAO WANG,Yunwu Zhao. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Integral circuit with programmable logic analyser with expanded analysis and tuning capabilities and method

Номер патента: RU2579814C2. Автор: Джеймс Рэй БЕЙЛИ,Кристофер Уилсон КЭЙС,Джеймс Патрик ШАРП. Владелец: Лексмарк Интернэшнл, Инк.. Дата публикации: 2016-04-10.

Test device for testing integrated circuit

Номер патента: US20190120901A1. Автор: Po-Lin Chen,Chun-Yi Kuo,Ying-Yen CHEN. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Semiconductor integrated circuit and test system for testing the same

Номер патента: US7222279B2. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2007-05-22.

Method and an integrated circuit for performing a test

Номер патента: US7650554B2. Автор: Dieter Wendel,Gottfried Goldrian,Otto Andreas Torreiter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-01-19.

Apparatus for testing semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20040177302A1. Автор: Teruhiko Funakura,Hisaya Mori,Hisayoshi Hanai. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2004-09-09.

System for testing internal nodes in receive and transmit FIFO's

Номер патента: US5153509A. Автор: Monte J. Dalrymple,Don Smith,Lois F. Brubaker. Владелец: Zilog Inc. Дата публикации: 1992-10-06.

Test system for integrated circuits with serdes ports

Номер патента: WO2005083622A1. Автор: Gordon Edward Chenoweth,Marc P. Loranger,Steven Robert Payne,James Kaylor Larson,Patricia Renee Justice. Владелец: Credence Systems Corporation. Дата публикации: 2005-09-09.

Method and/or system for testing devices in non-secured environment

Номер патента: US20220196734A1. Автор: Rainer Herberholz,Peter Andrew Rees Williams,Richard Andrew PATERSON,Oded GOLOMBEK,Einat LUKO,Jeffrey Scott BOYER. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2022-06-23.

Halo test method for an optical chip in an integrated circuit

Номер патента: US20200311375A1. Автор: Hua Wang,Zhiyong Zhang,Bin Luo,Kun Yu,Weiwei Deng,Haiying JI. Владелец: Sino IC Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Halo test method for an optical chip in an integrated circuit

Номер патента: US10977469B2. Автор: Hua Wang,Zhiyong Zhang,Bin Luo,Kun Yu,Weiwei Deng,Haiying JI. Владелец: Sino IC Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-13.

Methods and systems for fault injection testing of an integrated circuit hardware design

Номер патента: US12019119B2. Автор: Reinald Cruz,Habeeb Quazi. Владелец: Imagination Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Testing of integrated circuit receivers

Номер патента: US20050251710A1. Автор: Ronald Swartz,Tony Tarango. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-11-10.

Mixed mode integrated circuit, method of providing a controllable test clock signal to a sub-circuitry of the mixed-mode integrated circuit and method of detecting current paths causing violations of electromagnetic compatibility standards in the mixed mode integrated circuit

Номер патента: US20160061891A1. Автор: Patrice Besse,Pascal Kamel Abouda,Celine Hounaïda Abouda. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-03-03.

Integrated circuit facilitating its unit test

Номер патента: US20020162060A1. Автор: Manabu Miura,Makoto Hatakenaka,Atsuo Mangyo. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-10-31.

Integrated circuit testing device with improved reliability

Номер патента: EP1370883A1. Автор: Stephane Briere. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2003-12-17.

Externally induced voltage alterations for integrated circuit analysis

Номер патента: US20020163352A1. Автор: Robert Falk. Владелец: Optometrix Inc. Дата публикации: 2002-11-07.

System and method for controlling at-speed testing of integrated circuits

Номер патента: EP4428551A1. Автор: Chandan GUPTA,Shikhar Makkar,Saumya Pandey. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-09-11.

Method for the characterization and monitoring of integrated circuits

Номер патента: US09568540B2. Автор: Peilin Song,Franco Stellari,Raphael P. Robertazzi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Mixed mode integrated circuit, method of providing a controllable test clock signal to a sub-circuitry of the mixed-mode integrated circuit and method of detecting current paths causing violations of electromagnetic compatibility standards in the mixed mode integrated circuit

Номер патента: US09459317B2. Автор: Patrice Besse,Pascal Kamel Abouda,Celine Hounaïda Abouda. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-10-04.

Method and apparatus for testing printed wiring boards having integrated circuits

Номер патента: US3833853A. Автор: R Milford. Владелец: Honeywell Information Systems Italia SpA. Дата публикации: 1974-09-03.

Circuit, structure and method of testing a semiconductor, such as an integrated circuit

Номер патента: US6111269A. Автор: Nathan Y. Moyal. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2000-08-29.

Integrated circuit test power supply

Номер патента: US5773990A. Автор: Jan B. Wilstrup,Stanley Peter Mros. Владелец: Megatest Corp. Дата публикации: 1998-06-30.

Method for testing power leakage of circuit and processing system using same

Номер патента: US20230075145A1. Автор: Yu-Lan Lo,Meng-Jung Lee. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Leakage testing of integrated circuits using a logarithmic transducer and a voltmeter

Номер патента: US09696376B2. Автор: Ricardo Pablo Mikalo. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

A method and system for processing integrated circuits

Номер патента: US20020003430A1. Автор: Andres Bryant,William Clark,Edward J Nowak,Minh H Tong. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-01-10.

Method and apparatus for testing the timing of integrated circuits

Номер патента: US20010027549A1. Автор: Timothy Cowles. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2001-10-04.

Analogue signal testing system for integrated circuit

Номер патента: US20030132774A1. Автор: Te-Wei Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-17.

Testing system for evaluating integrated circuits, a testing system, and a method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20020073370A1. Автор: Salman Akram. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-13.

Testing system for evaluating integrated circuits, a burn-in testing system, and a method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20010039065A1. Автор: Salman Akram. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-08.

Method and apparatus for testing circuits with an electron beam

Номер патента: GB1277303A. Автор: James Fredric Norton. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1972-06-14.

Method and System for Testing an Integrated Circuit

Номер патента: US20080205173A1. Автор: Martin Versen,Joerg Kliewer,Klaus Nierle. Владелец: Qimonda AG. Дата публикации: 2008-08-28.

Compensating for aging in integrated circuits

Номер патента: US09535473B2. Автор: Michael Frank,Date Jan Willem Noorlag. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Efficient methods and apparatus for margin testing integrated circuits

Номер патента: US20130069678A1. Автор: David Grosch,Marc D. Knox,Erik A. Nelson,Brian C. Noble. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-03-21.

Method and apparatus for testing electronic devices

Номер патента: WO2023147475A3. Автор: Weidong Pan,Hemanth RAMACHANDRAN,Anish DONALD. Владелец: International Controls and Measurements Corporation. Дата публикации: 2023-09-21.

Method and apparatus for testing electronic devices

Номер патента: WO2023147475A9. Автор: Weidong Pan,Hemanth RAMACHANDRAN,Anish DONALD. Владелец: International Controls and Measurements Corporation. Дата публикации: 2024-01-25.

Device for testing of cables

Номер патента: WO2008104505A1. Автор: Per Finander. Владелец: SAAB AB. Дата публикации: 2008-09-04.

Apparatus and method for testing electric conductivity of circuit path ways on circuit board

Номер патента: US6316949B1. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2001-11-13.

Systems for testing a plurality of circuit devices

Номер патента: US6943576B2. Автор: Ki-Myung Seo,Do-Hoon Byun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-09-13.

Apparatus and method for testing contact interruptions of circuit interconnection devices

Номер патента: EP0301084B1. Автор: Daniel Wissell. Владелец: Digital Equipment Corp. Дата публикации: 1994-06-29.

Tester and related method for testing electrical parameters of circuit paths

Номер патента: US20020000824A1. Автор: Pradip Roy,Sundar Chetlur. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2002-01-03.

Systems and methods for testing a plurality of circuit devices

Номер патента: US20030155941A1. Автор: Ki-Myung Seo,Do-Hoon Byun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-08-21.

Method and device for the non-destructive ultrasonic testing of a test piece with flat surfaces at an angle to each other

Номер патента: EP2286213A1. Автор: Dieter Lingenberg,Stephan Dr Falter,Gerald Rosemeyer,Cord Asche. Владелец: GE Sensing and Inspection Technologies GmbH. Дата публикации: 2011-02-23.

Measuring head for testing under points of circuits

Номер патента: FR2571861A1. Автор: Daniel Besneville,Jean Luc Lefebvre. Владелец: Radiotechnique Compelec RTC SA. Дата публикации: 1986-04-18.

Test arrangement and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US12085607B2. Автор: Alessio CIARCIA. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-09-10.

An integrated circuit package, and a method for producing an integrated circuit package having two dies with input and output terminals of integrated circuits of the dies directly addressable for testing of the package

Номер патента: EP1979757A1. Автор: Noel A. Mcnamara. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2008-10-15.

Techniques and circuits for testing a virtual power supply at an integrated circuit device

Номер патента: US09891271B2. Автор: Carl Dietz,Russell Schreiber,Sudha Thiruvengadam,Joel Irby. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2018-02-13.

System and method for test structure on a wafer

Номер патента: US09472476B2. Автор: Waisum Wong,Chin Chang Liao,Wang Jian Ping. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Device for testing an integrated circuit and method for implementing same

Номер патента: US20120001088A1. Автор: Florent Miller,Cecile Weulersse,Thierry Carriere,Patrick Heins,Antonin Bougerol,Samuel Hazo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-01-05.

Balanced conforming force mechanism for integrated circuit package workpress testing systems

Номер патента: EP3701273A1. Автор: Mohsen H. Mardi,David M. Mahoney. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2020-09-02.

Techniques For Testing Input And Output Buffer Circuits Using A Test Bus

Номер патента: US20240319262A1. Автор: Ching Sia LIM,Pai Ho Bong,Sean Woei Voon,Wee Sun Voon. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Device and thermal tester for thermal testing dies of an integrated circuit

Номер патента: WO2023048644A2. Автор: See Jean Chan. Владелец: Aem Singapore Pte. Ltd.. Дата публикации: 2023-03-30.

Methods and systems for testing bonding of a sensor assembly

Номер патента: WO2020132172A1. Автор: Heiko Leppin,Patrick B Gilliland. Владелец: CONTINENTAL AUTOMOTIVE SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2020-06-25.

Methods, systems, and computer readable media for detecting electrical disconnection between integrated circuit chip electrical connections and corresponding electrical contacts on a printed circuit board or chip socket during testing of the chip under environmental conditions

Номер патента: US09442151B2. Автор: Victor Romanov,Evgeni Bassin,Shai Tubul. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2016-09-13.

Test arrangement and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20240085471A1. Автор: Alessio CIARCIA. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-03-14.

Design circuit pattern for test of semiconductor circuit

Номер патента: US6694500B2. Автор: Nobuhito Toyama. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2004-02-17.

Circuit and method for testing insulating material

Номер патента: WO2012116119A1. Автор: Michael J. Campbell,Angelo Pinto,Choh-Fei Yeap,Lavakumar Ranganathan,Homyar C. Mogul,Martin L. Villafana,You-Wen Yau,Rohan V. GUPTE,Weijia QI,Kent J. PINGREY,Carlos P. AGUILAR,Paul J. GIOTTA,Leon Y. LEUNG,Jina M. ANTOSZ,Bhupen M. SHAH,Lawrence A. ELUGBADEBO,Allen A.B. HOGAN. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-08-30.

Test chip used for testing integrated circuit

Номер патента: MY153326A. Автор: WASHIO Kenichi. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2015-01-29.

Method for testing an integrated circuit (IC) device at a testing temperature

Номер патента: US12066483B2. Автор: Genesis Benjamin Carr,Vijian Techanamurthy,Vasantkumar Prabhuda Trambadiya. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Systems and methods for conforming test tooling to integrated circuit device with heater socket

Номер патента: US09804223B2. Автор: Nasser Barabi,Chee Wah Ho,Joven R. Tienzo,Oksana Kryachek,Elena V. Nazarov. Владелец: Essai Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Semiconductor structure for testing of metallization networks on insulative substrates supporting semiconductor chips

Номер патента: US3803483A. Автор: M Mcmahon. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1974-04-09.

Separate test electronics and blower modules in an apparatus for testing an integrated circuit

Номер патента: WO2010129688A1. Автор: Jovan Jovanovic,II Donald P. Richmond,David S. Hendrickson,William D. Barraclough. Владелец: AEHR TEST SYSTEMS. Дата публикации: 2010-11-11.

Architecture and Testing for an Integrated Circuit Package

Номер патента: US20230341463A1. Автор: Md Altaf Hossain,Ankireddy Nalamalpu,Mahesh K. Kumashikar,Kalyana Ravindra Kantipudi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-26.

Constant stress pin tip for testing integrated circuit chips

Номер патента: US09958499B1. Автор: David A. Johnson,John E. Nelson,Jose E. Lopez. Владелец: Johnstech International Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Apparatus for testing circuit packages

Номер патента: US3701021A. Автор: George L Isaac,Richard F Kingsbury,John G Surak. Владелец: Signetics Corp. Дата публикации: 1972-10-24.

Removal of a heat spreader from an integrated circuit package to permit testing of the integrated circuit and other elements of the package

Номер патента: US6117352A. Автор: Kevin Weaver,Steve E. Scott. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2000-09-12.

Testing device for integrated circuit package

Номер патента: US20230228793A1. Автор: Hao Chen,Shao-Chun CHIU,Wen-Feng LIAO,Chun-Hsing Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Integrated circuit package with test circuitry for testing a channel between dies

Номер патента: US20190295953A1. Автор: Jong-Ru Guo,Zuoguo Wu,Zhiguo Qian,Mayue Xie. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Testing device for integrated circuit package

Номер патента: US11994534B2. Автор: Hao Chen,Shao-Chun CHIU,Wen-Feng LIAO,Chun-Hsing Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20020079916A1. Автор: Alexander Kurz,Matthias Eichin. Владелец: Atmel Germany GmbH. Дата публикации: 2002-06-27.

Testing device and method for integrated circuit package

Номер патента: US20230063518A1. Автор: Hao Chen,Shao-Chun CHIU,Wen-Feng LIAO,Chun-Hsing Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Integrated circuit (ic) chip test socket assemblies with spring probes that scrub ic package electrical contact pads

Номер патента: WO2024073421A3. Автор: Jiachun Zhou,Zhixia ZHU. Владелец: SMITHS INTERCONNECT AMERICAS, INC.. Дата публикации: 2024-05-23.

Integrated circuit (ic) chip test socket assemblies with spring probes that scrub ic package electrical contact pads

Номер патента: WO2024073421A2. Автор: Jiachun Zhou,Zhixia ZHU. Владелец: SMITHS INTERCONNECT AMERICAS, INC.. Дата публикации: 2024-04-04.

Testing apparatus for integrated circuit

Номер патента: US20110001506A1. Автор: Masashi Hasegawa,Kenichi Washio. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-06.

Temporary package for at-speed functional test of semiconductor chip

Номер патента: US20100151598A1. Автор: Pooya Tadayon,Eric J. M. Moret. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2010-06-17.

Temporary package for at-speed functional test of semiconductor chip

Номер патента: US7960190B2. Автор: Pooya Tadayon,Eric J. M. Moret. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2011-06-14.

Integrated circuit with antenna in package testing apparatus

Номер патента: US11119139B2. Автор: Wei-Cheng Wang,Shin-tsung CHEN. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-14.

Integrated circuit with antenna in package testing apparatus

Номер патента: US20210011069A1. Автор: Wei-Cheng Wang,Shin-tsung CHEN. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-14.

Device and method for testing a noise immunity characteristic of analog circuits

Номер патента: WO2007091129A1. Автор: Sergey Sofer,Valery Neiman,Yehim - Haim Fefer. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2007-08-16.

Device and method for testing a noise immunity characteristic of analog circuits

Номер патента: US20090134883A1. Автор: Sergey Sofer,Valery Neiman,Yehim-Haim Fefer. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2009-05-28.

Structure and method for testing of PIC with an upturned mirror

Номер патента: US12105141B2. Автор: JING Yang,Suresh Venkatesan,Yong Meng Lee,Lucas Soldano. Владелец: Poet Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Method of electromagnetic tests of an object and system for its implementation

Номер патента: RU2647211C2. Автор: Александр Иванович Горшков,Борис Николаевич Городецкий,Александр Михайлович Вишневский. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации. Дата публикации: 2018-03-14.

Device and thermal tester for thermal testing dies of an integrated circuit

Номер патента: WO2023048644A3. Автор: See Jean Chan. Владелец: Aem Singapore Pte. Ltd.. Дата публикации: 2023-05-11.

Test arrangement for testing a power electronics controller

Номер патента: US20240192265A1. Автор: Philipp Kemper,Daniel Epping. Владелец: DSPACE GMBH. Дата публикации: 2024-06-13.

System for testing integrated circuits

Номер патента: US20050283331A1. Автор: Yih-Min Lin. Владелец: PROGenic Tech Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-22.

Socket for direct electrical connection to an integrated circuit chip

Номер патента: US5342206A. Автор: Dimitry G. Grabbe,Iosif Korsunsky. Владелец: Whitaker LLC. Дата публикации: 1994-08-30.

Probing device for testing integrated circuits

Номер патента: EP3185026A1. Автор: Eric Beyne,Teng Wang,Erik Jan Marinissen. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2017-06-28.

Method and apparatus for testing integrated circuits over a range of temperatures

Номер патента: US20070132471A1. Автор: Gregory Carlson. Владелец: Verigy Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2007-06-14.

Integrated circuit test socket with integrated device picking mechanism

Номер патента: US20230417796A1. Автор: Shailesh R. Nayak,Joe Paul Moolanmoozha,Yalaj Goyal. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-28.

Methods and systems for testing bonding of a sensor assembly

Номер патента: US20200200883A1. Автор: Heiko Leppin,Patrick B Gilliland. Владелец: Continental Automotive Systems Inc. Дата публикации: 2020-06-25.

Integrated Circuit Yield Improvement

Номер патента: US20240275336A1. Автор: Jonathan James Klaren,Yucheng Tong,Parvez H. Daruwalla. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and system for testing conversion losses of terahertz mixers capable of eliminating influence of radio frequency sources

Номер патента: US20230324448A1. Автор: XIANG Zhu,Mo Wang,Jianqin Deng,Fushun NIAN,Wanshun Jiang,Shengzhou Zhang. Владелец: Ceyear Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Integrated Circuit Chip Design Flow Methodology Including Insertion of On-Chip or Scribe Line Wireless Process Monitoring and Feedback Circuitry

Номер патента: US20090239313A1. Автор: Sebastian T. Ventrone,Ezra D.B. Hall,Theodoros Anemikos. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-09-24.

Integrated circuit

Номер патента: US20050218960A1. Автор: Ralf Schneider,Joerg Vollrath,Marcin Gnat,Aurel Campenhausen. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2005-10-06.

Failure position system and method for integrated circuit based on continuous laser source

Номер патента: IE20220219A1. Автор: Han Yang,QIAN CHEN,XIANG Zhu,Rui Chen,Jianwei Han,Ya'nan Liang,Yingqi Ma,Shipeng Shangguan. Владелец: Nat Science Center The Chinese Academy Of Sciences. Дата публикации: 2023-11-08.

Failure position system and method for integrated circuit based on continuous laser source

Номер патента: IE87492B1. Автор: Han Yang,QIAN CHEN,XIANG Zhu,Rui Chen,Jianwei Han,Ya'nan Liang,Yingqi Ma,Shipeng Shangguan. Владелец: Nat Science Center The Chinese Academy Of Sciences. Дата публикации: 2024-03-27.

Crosstalk suppression in wireless testing of semiconductor devices

Номер патента: US09791498B2. Автор: Alberto Pagani. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2017-10-17.

Multiple integrated circuit module which simplifies handling and testing

Номер патента: US5198963A. Автор: Debabrata Gupta,James E. Drye. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1993-03-30.

Method and apparatus for positioning an integrated circuit device in a test fixture

Номер патента: US5376882A. Автор: Douglas S. Johnson. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 1994-12-27.

Apparatus for testing an integrated circuit in an oven during burn-in

Номер патента: US5966021A. Автор: Victor M. Eliashberg,Kombupalayam M. Prakash. Владелец: Pycon Inc. Дата публикации: 1999-10-12.

Base board for testing integrated circuits

Номер патента: US4812755A. Автор: Nakaie Toshiyuki,Oonishi Tethuo. Владелец: Hanwa Electronic Ind Co Ltd. Дата публикации: 1989-03-14.

Low power mode testing in an integrated circuit

Номер патента: US20200284830A1. Автор: KUMAR ABHISHEK,Srikanth Jagannathan,Thomas Henry Luedeke,Venkannababu AMBATI,Mark Shelton CINQUE,Joseph Rollin WRIGHT. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2020-09-10.

Contactor floor that holds an IC package to contactor pins within an IC package testing system with minimized solder flaking

Номер патента: US6229330B1. Автор: Sa-Nguan Boochakorn. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2001-05-08.

Integrated circuit test jig

Номер патента: US5537031A. Автор: David L. Ganapol,Arno G. Marcuse. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1996-07-16.

Socket for testing of an integrated circuit

Номер патента: EP4407323A1. Автор: Gianluigi Frigerio,Alessandro Copeta. Владелец: Officina Meccanica Di Precisione G3. Дата публикации: 2024-07-31.

Universal burn-in socket for testing integrated circuit chip

Номер патента: WO2002004968A3. Автор: Rafiqul Hussain,Phuc Dinh Do,Benjamin G Tubera. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-11-06.

Integrated circuit chip tester with an anti-rotatioin link

Номер патента: PH12016502510B1. Автор: Victor Landa. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2017-04-10.

Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link

Номер патента: EP3158610A1. Автор: Victor Landa. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2017-04-26.

System and method for performing over-the-air (OTA) testing of a device under test (DUT) having an integrated transmitter-antenna assembly using near field and intermediate field measurements

Номер патента: US09800355B1. Автор: Christopher Coleman,Gregory S. Lee. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link

Номер патента: US09425529B2. Автор: Victor Landa. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Power management method of an integrated circuit, and corresponding integrated circuit

Номер патента: US20210367518A1. Автор: Thomas Jouanneau. Владелец: STMicroelectronics Alps SAS. Дата публикации: 2021-11-25.

Data synchronization for a test access port

Номер патента: WO2002048722A3. Автор: Ravi Kolagotla,Ravi P Singh,Charles P Roth,Tien Dinh. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2003-05-15.

Integrated circuit packaging configuration for rapid customized design and unique test capability

Номер патента: WO1988002553A2. Автор: Robert John Wojnarowski,Charles William Eichelberger,Kenneth Brakeley Ii Welles. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 1988-04-07.

Integrated circuit chip with stress compensation circuit

Номер патента: WO2024199882A1. Автор: Marc Ryat. Владелец: LEM INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2024-10-03.

Methods, apparatus, and systems for contacting semiconductor dies that are electrically coupled to test access interface positioned in scribe lines of a wafer

Номер патента: US09632109B2. Автор: Larry John Dibattista,Duncan Packard Gurley. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Integrated circuit chip and die test without cell array

Номер патента: US20240257897A1. Автор: Ji-Hwan Kim,Sang-Muk OH. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Assembly structure for making integrated circuit chip probe cards

Номер патента: US6204674B1. Автор: January Kister,Krzysztof Dabrowiecki. Владелец: Probe Technology Corp. Дата публикации: 2001-03-20.

Integrated circuit, test method for testing integrated circuit, and electronic device

Номер патента: US20210083672A1. Автор: Shinichi Yasuda,Masato Oda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link

Номер патента: MY183259A. Автор: Victor Landa. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2021-02-18.

Semiconductor wafer and method for auto-calibrating integrated circuit chips at wafer level

Номер патента: US20130278305A1. Автор: Heyung Sub Lee,Hyunseok Kim,Su Na CHOI,Cheol Sig Pyo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2013-10-24.

Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link

Номер патента: WO2015195201A1. Автор: Victor Landa. Владелец: XCERRA CORPORATION. Дата публикации: 2015-12-23.

System and method for testing clocking systems in integrated circuits

Номер патента: US20230251310A1. Автор: Abhishek Mahajan,Nikila Krishnamoorthy,Rishabh Kaistha,Varsha Bansal. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-08-10.

Integrated circuit test socket having elastic contact support and methods for use therewith

Номер патента: US20090233463A1. Автор: Michael Beatty,Steven Daigle. Владелец: SigmaTel LLC. Дата публикации: 2009-09-17.

Integrated circuit chip with corrected temperature drift

Номер патента: US09607906B2. Автор: Serge Pontarollo,Philippe Maige. Владелец: STMicroelectronics Grenoble 2 SAS. Дата публикации: 2017-03-28.

Method and apparatus of temperature compensation for integrated circuit chip using on-chip sensor and computation means

Номер патента: WO2005091869A3. Автор: Arne Aas,Gunnar Gangsto. Владелец: Atmel Corp. Дата публикации: 2005-12-01.

Method and apparatus of temperature compensation for integrated circuit chip using on-chip sensor and computation means

Номер патента: WO2005091869A2. Автор: Arne Aas,Gunnar Gangsto. Владелец: ATMEL CORPORATION. Дата публикации: 2005-10-06.

System for testing integrated circuit

Номер патента: US09645195B2. Автор: KUMAR ABHISHEK,Kushal Kamal,Vandana Sapra. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2017-05-09.

Technologies for testing liquid metal array interconnect packages

Номер патента: US20230314503A1. Автор: Karumbu Nathan Meyyappan,Gregorio Roberto Murtagian. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Modular socket of integrated circuit

Номер патента: US20040046583A1. Автор: Wei-Fang Fan,Wann-Chyuan Jou. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-11.

A method and structure for performing integrated circuit wafer testing and assembly

Номер патента: CA2268572A1. Автор: Ralph Dickson Mason. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-10-12.

Error detection within an integrated circuit chip

Номер патента: GB2577120A. Автор: Panesar Gajinder. Владелец: UltraSoC Technologies Ltd. Дата публикации: 2020-03-18.

Integrated circuit chip and semiconductor device including the same

Номер патента: US20190293711A1. Автор: Dong-Uk Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Integrated circuit chip and semiconductor device including the same

Номер патента: US10761132B2. Автор: Dong-Uk Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2020-09-01.

Measuring power consumption of circuit component operating in run mode

Номер патента: US09696353B2. Автор: Ingar Hanssen,Jo Inge Lamo. Владелец: Atmel Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

High density integrated circuit apparatus, test probe and methods of use thereof

Номер патента: US20080100316A1. Автор: George Walker,Keith Fogel,Da-Yuan Shih,Paul Lauro,Brian Beaman,Maurice Norcott. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-05-01.

Integrated circuit testing assembly and method

Номер патента: US5680057A. Автор: Kenneth W. Johnson. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1997-10-21.

Display device of the galvanometric or logometric type, including a control circuit in form of an integrated circuit chip

Номер патента: US4835460A. Автор: Michel Chapotot. Владелец: Jaeger SA. Дата публикации: 1989-05-30.

Integrated-circuit chip interconnection system

Номер патента: US5007841A. Автор: Robert Smolley. Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 1991-04-16.

Integrated circuit structure having a plurality of separable circuits

Номер патента: US3993934A. Автор: Richard C. Stevens,Majid Ghafghaichi,Theodore H. Baker,Daniel Tuman. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1976-11-23.

High density integrated circuit apparatus, test probe and methods of use thereof

Номер патента: US20080123310A1. Автор: George Frederick Walker,Brian Samuel Beaman,Keith Edward Fogel,Paul Alfred Lauro,Da-Yuan Shih,Maurice Heathcote Norcott. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-05-29.

Integrated circuit element and fabricating method thereof, circuit board, display panel and display device

Номер патента: US20180033629A1. Автор: WEI Liu,Xue Dong,Ping Zhang,Rui Xu,Haisheng Wang,Yingming Liu,Changfeng LI,Xueyou CAO,Xiaoliang DING,Lijun Zhao,Pengpeng Wang,Chunwei Wu,Yanling Han,Yuzhen GUO,Yanan Jia. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-01.

Three-dimensional circuitry formed on integrated circuit device using two- dimensional fabrication

Номер патента: WO2008157779A3. Автор: Yong Du,Terrence Caskey,Scott McGrath,Simon J S Mcelrea,Lawrence Douglas Andrews. Владелец: Lawrence Douglas Andrews. Дата публикации: 2009-04-16.

Signal transmission circuit and method, and integrated circuit (ic)

Номер патента: US20210270889A1. Автор: You-Hsien Lin. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-09-02.

Integrated circuit and display device

Номер патента: US11768255B2. Автор: Akira Morita,Shinya Ukai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Signal transmission circuit and method, and integrated circuit (IC)

Номер патента: US11994553B2. Автор: You-Hsien Lin. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Integrated circuit chip and die test without cell array

Номер патента: US12009043B2. Автор: Ji-Hwan Kim,Sang-Muk OH. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Remote mapping of circuit speed variation due to process, voltage and temperature using a network of digital sensors

Номер патента: US20230224365A1. Автор: Osamu Takahashi,Bogdan Tutuianu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-07-13.

Method and apparatus for testing a flip-chip assembly during manufacture

Номер патента: US09870959B1. Автор: Nagesh Vodrahalli. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Method for testing a signal path

Номер патента: US09739845B2. Автор: Michael Wagner,Joachim Ritter,David Muthers,Markus Von Ehr,Thomas KAUTER. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2017-08-22.

Integrated circuit device, safety circuit, safety-critical system and method of manufacturing an integrated circuit device

Номер патента: US09638744B2. Автор: Yuan Gao,Valérie BERNON-ENJALBERT,Philippe Givelin,Guillaume FOUNAUD. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Self test of MEMS accelerometer with ASICS integrated capacitors

Номер патента: US09488693B2. Автор: Ion Opris,Jonathan Adam Kleks,Justin Seng. Владелец: Fairchild Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Method and circuit for integrated circuit body biasing

Номер патента: US10050037B2. Автор: Vincent Huard,Florian Cacho. Владелец: STMicroelectronics Crolles 2 SAS. Дата публикации: 2018-08-14.

Radiation hardened chip level integrated recovery apparatus, methods, and integrated circuits

Номер патента: US09438025B1. Автор: Stephan P. Athan. Владелец: Defense Electronics Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Identifying causes of anomalies observed in an integrated circuit chip

Номер патента: US11816016B2. Автор: Marcin Hlond,Gajinder Panesar. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

System and method for testing clocking systems in integrated circuits

Номер патента: US11879939B2. Автор: Abhishek Mahajan,Nikila Krishnamoorthy,Rishabh Kaistha,Varsha Bansal. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-01-23.

Improved fixture for testing bearing capacity of circuit board

Номер патента: CN105372129A. Автор: 钱培玉. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-03-02.

Integrated circuit heater for reducing stress in the integrated circuit material and chip leads of the integrated circit, and for optimizing performance of devices of the integrated circuit

Номер патента: US20160093549A1. Автор: Edward O. Travis,Mehul D. Shroff,Douglas M. Reber. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-03-31.

Multi-point temperature sensing method for integrated circuit chip and system of the same

Номер патента: US09448122B2. Автор: Chung-Ho Chen,Wen-Yu Su,Chih-Hung Kuo,Chien-Hung Tsai,Guan-Ying Huang,Soon-Jyh Chang,Kuen-Jong Lee,Chia-Min Lin,Lih-Yih Chiou. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2016-09-20.

Sensor and integrated circuit module

Номер патента: US20210063212A1. Автор: Ming-Chih Tsai. Владелец: Nuvoton Technology Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Method for development and testing of automatic control system and mobile stand for testing electronic control system

Номер патента: RU2755027C1. Автор: Юрий Владимирович Трофимов,Наталья Георгиевна Якунина. Владелец: Акционерное общество "ОДК-Климов". Дата публикации: 2021-09-10.

Mobile stand for testing electronic control system and method for development and testing of automatic control system

Номер патента: RU2755027C9. Автор: Юрий Владимирович Трофимов,Наталья Георгиевна Якунина. Владелец: Акционерное общество "ОДК-Климов". Дата публикации: 2021-10-08.

Electrically conductive barriers for integrated circuits

Номер патента: US20170052082A1. Автор: Andrew C. McNeil,Jinbang Tang,Chad S. Dawson. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-02-23.

Electrically conductive barriers for integrated circuits

Номер патента: US09714879B2. Автор: Andrew C. McNeil,Jinbang Tang,Chad S. Dawson. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Fluid cassette for testing

Номер патента: RU2761479C2. Автор: Дональд Дж. ТОМАС,Хонг ЦАЙ,Роберт Б. КЭРИ. Владелец: Меса Байотек, Инк.. Дата публикации: 2021-12-08.

Measurements of an integrated circuit chip and connected chip carrier to estimate height of interconnect

Номер патента: US09897444B2. Автор: Elaine Cyr,Paul F. Fortier,Alexander JANTA-POLCZYNSKI,Dominique L. DEMERS. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Integrated circuit with sensors and manufacturing method

Номер патента: US09606079B2. Автор: Matthias Merz. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2017-03-28.

Method and apparatus for packaging a vehicle sensor and integrated circuit chip

Номер патента: US5714409A. Автор: Mark Andrew Parsons. Владелец: Ford Motor Co. Дата публикации: 1998-02-03.

Method of manufacturing an integrated circuit comprising a pressure sensor

Номер патента: US09481570B2. Автор: Axel Nackaerts,Willem Frederik Adrianus Besling,Klaus Reimann. Владелец: ams International AG. Дата публикации: 2016-11-01.

Transportable containers for testing of hoses, systems and methods

Номер патента: RU2608333C2. Автор: Джонатан Кларк СВИФТ,Ким ХЕНДЕРСОН,Энди ХИЛЛС,Роберт Клиффорд ЭДЛУНД. Владелец: Гейтс Корпорейшн. Дата публикации: 2017-01-17.

Integrated circuit with CO2 sensor, composition and manufacturing method of such an IC

Номер патента: US09683099B2. Автор: Rafael Sablong,Aurelie Humbert,Cornelis Bastiaansen,Dimitri Soccol,Jan KOLIJN,Dirk Gravesteijn,Bjorn Tuerlings. Владелец: ams International AG. Дата публикации: 2017-06-20.

Device, system and method for alignment of an integrated circuit assembly

Номер патента: US09625256B1. Автор: Deepak Goyal,Mario Pacheco,Purushotham Kaushik Muthur Srinath. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Microscope spectrometer for non-destructive testing of photonic integrated circuits

Номер патента: WO2024207099A1. Автор: Mohsen Keshavarz Akhlaghi,Gary Wolfowicz. Владелец: Photonic Inc.. Дата публикации: 2024-10-10.

Process and test device for the testing of windscreen wiper blade end caps

Номер патента: EP2850407A2. Автор: Zoltan Kontz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-03-25.

Process and test device for the testing of windscreen wiper blade end caps

Номер патента: WO2013171524A2. Автор: Zoltan Kontz. Владелец: Kontz Zoltan. Дата публикации: 2013-11-21.

Integrated circuit chip with 2d field-effect transistors and on-chip thin film layer deposition with electrical characterization

Номер патента: WO2023164157A1. Автор: Kiana Aran,Brett Goldsmith,Jeffrey TAULBEE. Владелец: Cardea Bio, Inc.. Дата публикации: 2023-08-31.

Low power integrating circuit for use with a photodetector and optical sensor including such an integrating circuit

Номер патента: EP1476734A1. Автор: James Harold Lauffenburger,Kevin Scott Buescher. Владелец: EM Microelectronic Marin SA. Дата публикации: 2004-11-17.

Low power integrating circuit for use with a photodetector and optical sensor including such an integrating circuit

Номер патента: WO2003069287A1. Автор: James Harold Lauffenburger,Kevin Scott Buescher. Владелец: EM MICROELECTRONIC-MARIN SA. Дата публикации: 2003-08-21.

Monolithic precursor test coupons for testing material properties of metal-injection-molded components and methods and apparatuses for making such coupons

Номер патента: CA3077197A1. Автор: Joseph A. Pecina,Gary M. Backhaus. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2020-11-29.

Apparatuses, test cards and methods for testing photonic integrated circuits, and photonic integrated circuits

Номер патента: WO2023156271A1. Автор: Stefan Richter,Tobias Härter,Heiner Zwickel. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-08-24.

Integrated circuit with sequentially-coupled charge storage and associated techniques

Номер патента: AU2021366690A9. Автор: Todd Rearick,Eric A. G. Webster,Thomas Raymond Thurston. Владелец: Quantum Si Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Integrated circuit with sequentially-coupled charge storage and associated techniques

Номер патента: US12085442B2. Автор: Todd Rearick,Eric A. G. Webster,Thomas Raymond Thurston. Владелец: Quantum Si Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Process and apparatus for testing substances for potential carcinogenicity

Номер патента: US09778277B2. Автор: Thomas Zumstein,Dieter Voegelin,Patrick Iaiza,Tom Kissling. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2017-10-03.

Interposer for hermetic sealing of sensor chips and for their integration with integrated circuit chips

Номер патента: US09617148B2. Автор: MIN Tao,Qing Ma,Johanna M. Swan,Charles A. Gealer,Edward T. ZARBOCK. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Integrated circuit device including means for facilitating connection of antenna lead wires to an integrated circuit die

Номер патента: US5281855A. Автор: Leonard D. Hadden,Glen L. Zirbes. Владелец: Trovan Ltd. Дата публикации: 1994-01-25.

Pressure tester for printhead integrated circuit carrier

Номер патента: US20110232371A1. Автор: Stephen John Sleijpen,Joseph Tharion,Jan Waszczuk,Eric Patrick O'Donnell,William Granger,David Bernardi,Stephen Richard O'Farrell,Jason Mark Thelander. Владелец: SILVERBROOK RESEARCH PTY LTD. Дата публикации: 2011-09-29.

Cloud Architecture for Automated Testing

Номер патента: US20180329788A1. Автор: Patrice Godefroid,William Blum,David MoInar. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2018-11-15.

A functional fabric based test access mechanism for socs

Номер патента: EP2684062A2. Автор: Srinivas Patil,Abhijit Jas. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2014-01-15.

Functional fabric based test access mechanism for socs

Номер патента: US20120233504A1. Автор: Srinivas Patil,Abhijit Jas. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2012-09-13.

A functional fabric based test access mechanism for socs

Номер патента: WO2012121780A2. Автор: Srinivas Patil,Abhijit Jas. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2012-09-13.

Functional fabric based test access mechanism for socs

Номер патента: US20130268808A1. Автор: Srinivas Patil,Abhijit Jas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-10-10.

METHOD OF ATTACHING GALVANIC CONTACTS OF AN IDENTIFICATION DOCUMENT COMPRISING AN INTEGRATED INTEGRATED CIRCUIT MODULE

Номер патента: FR2483102B1. Автор: Werner Obrecht. Владелец: GAO Gesellschaft fuer Automation und Organisation mbH. Дата публикации: 1986-02-14.

System for tree sequence testing of a device and method for tree sequence testing of a device in a test framework architecture

Номер патента: US20120017128A1. Автор: Cristian Tepus. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2012-01-19.

Test Architecture for High Throughput Testing of Pixel Driver Chips for Display Application

Номер патента: US20240105525A1. Автор: Imran Hashim,Lei Wu,Hopil Bae,Xiang Lu,Mahdi Farrokh Baroughi,Hasan Akyol,Baris Posat,John T. Wetherell,Yongjie JIANG,Stanley B. WANG,Xuchun Liu. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Integrated circuit chip and method for testing an integrated circuit chip

Номер патента: US20080238468A1. Автор: Marc Walter,Thomas Vogelsang,Andre Sturm. Владелец: Qimonda North America Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Method and apparatus for sharing clocks between separate integrated circuit chips

Номер патента: US12095463B1. Автор: Hongwei Dai,Xiaofeng Tang,Gongqiong Li. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Routing Messages in an Integrated Circuit Chip Device Using a Crosslinked Tree Structure

Номер патента: US20210051095A1. Автор: Callum Stewart. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2021-02-18.

Routing messages in a integrated circuit chip device

Номер патента: GB2586279A. Автор: Stewart Callum. Владелец: UltraSoC Technologies Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

An integrated circuit chip assembly and a method of mounting an integrated circuit chip to external circuitry

Номер патента: GB2601989A. Автор: Light Roger,KNIGHT Luke,SUMMERLAND David. Владелец: Search For the Next Ltd. Дата публикации: 2022-06-22.

Integrated circuit system having decoupled logical and physical interfaces

Номер патента: US09454484B2. Автор: Bartholomew Blaner,William J. Starke,Charles Marino,Michael S. Siegel,Jeff A. Stuecheli. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-09-27.

Method for integrated circuit layout

Номер патента: EP1089204A3. Автор: Walter Stadler. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2009-06-17.

Integrated circuit chip, information processing device, program module control method, information processing system and method

Номер патента: RU2530353C2. Автор: Хироказу СУГИЯМА. Владелец: Сони Корпорейшн. Дата публикации: 2014-10-10.

Integrated circuit, test structure and method for testing integrated circuits

Номер патента: US20020020854A1. Автор: Ralf Schneider,Norbert Wirth,Bernhard Ruf,Arndt Gruber. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2002-02-21.

Method and apparatus for testing error correction code (ECC) logic and physical memory onboard a manufactured integrated circuit (IC)

Номер патента: US09865362B1. Автор: Steven Lee Gregor,Puneet Arora,Navneet Kaushik,Norman Robert Card. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2018-01-09.

Systems and methods for controlling integrated circuit chip temperature using timing closure-based adaptive frequency scaling

Номер патента: US09552447B2. Автор: Jeanne P. Bickford,Eric A. Foreman,Mark W. Kuemerle,Susan K. Lichtensteiger. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-01-24.

Voltage regulators for an integrated circuit chip

Номер патента: WO2019040510A1. Автор: Thomas J. Gibney,Larry D. Hewitt,Daniel L. Bouvier. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2019-02-28.

Integrated circuit comprising an assembly of an electronic chip, an optical element and a substrate and corresponding manufacturing method

Номер патента: US20240168245A1. Автор: Romain Coffy,Younes BOUTALEB. Владелец: STMicroelectronics Grenoble 2 SAS. Дата публикации: 2024-05-23.

Integrated circuit for controlling operations of display module and first circuit module with shared pin

Номер патента: US20100110066A1. Автор: Yi-Chih Chi,Tsai-Tian Huang. Владелец: Ali Corp. Дата публикации: 2010-05-06.

Method and apparatus for defining signal timing for an integrated circuit device

Номер патента: US20020157072A1. Автор: Satyanarayana Nishtala,Jayarama Shenoy,Tai-Yu Chou,Michael Freda. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2002-10-24.

Method and apparatus for defining signal timing for an integrated circuit device

Номер патента: WO2002086884A2. Автор: Satyanarayana Nishtala,Jayarama Shenoy,Tai-Yu Chou,Michael Freda. Владелец: SUN MICROSYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2002-10-31.

Techniques for bypassing defects in rows of circuits

Номер патента: US09893732B1. Автор: David Lewis. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Modeling localized temperature changes on an integrated circuit chip using thermal potential theory

Номер патента: US20170147726A1. Автор: Frederick G. Anderson,Nicholas T. Schmidt. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-05-25.

Method of bonding integrated circuit chip to display panel, and display apparatus

Номер патента: EP3701775A1. Автор: Hongwei Ma,YoungYik Ko,Xiangdan Dong,Jinsan PARK,Tairong KIM. Владелец: Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-02.

Method and system for direct access memory testing of an integrated circuit

Номер патента: US20050060621A1. Автор: Jonathan Lee,XiaoGang Zhu,Andrew Hwang. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2005-03-17.

Design system of integrated circuit and its design method and program

Номер патента: US20030061585A1. Автор: Sho Matsumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-03-27.

Integrated circuit and method

Номер патента: US12100445B2. Автор: Mei-Chen Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Method for implementing an integrated circuit comprising a random-access memory-in-logic

Номер патента: US12045553B2. Автор: Babak Mohammadi,Hemanth PRABHU. Владелец: Xenergic AB. Дата публикации: 2024-07-23.

Modeling localized temperature changes on an integrated circuit chip using thermal potential theory

Номер патента: US09971859B2. Автор: Frederick G. Anderson,Nicholas T. Schmidt. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Modeling localized temperature changes on an integrated circuit chip using thermal potential theory

Номер патента: US09582621B2. Автор: Frederick G. Anderson,Nicholas T. Schmidt. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Circuits for and methods of reducing duty-cycle distortion in an integrated circuit implementing dual-edge clocking

Номер патента: US09577615B1. Автор: Ilya K. Ganusov,Benjamin S. Devlin. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Reconfigurable switched-capacitor voltage converter circuit, integrated circuit (ic) chip including the circuit and method of switching voltage on chip

Номер патента: US20140152382A1. Автор: Leland Chang,Jae-sun Seo,Robert Montoye. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-06-05.

Method of generating a floorplan for an integrated circuit

Номер патента: WO2004068373A1. Автор: Adrianus W. P. G. G. Vaassen,Erwin Waterlander. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2004-08-12.

Semiconductor device with a variable integrated circuit chip bump pitch

Номер патента: WO2011096800A3. Автор: Petrus Johannes Gerardus Van Lieshout. Владелец: Polymer Vision B.V.. Дата публикации: 2012-04-26.

Prevention of alteration of data stored in secure integrated¹circuit chip memory

Номер патента: IE900004L. Автор: Paul Moroney,William Allen Shumate,Robert C Gilberg. Владелец: David McCoy. Дата публикации: 1990-07-12.

Prevention of alteration of data stored in secure integrated circuit chip memory

Номер патента: IE62794B1. Автор: Paul Moroney,William Allen Shumate,Robert C Gilberg. Владелец: Gen Instrument Corp. Дата публикации: 1995-03-08.

Method for analyzing static analog integrated circuit layout

Номер патента: US12112111B1. Автор: Wei Dong,Gang Fang,Jiadong Gu,Zhenxin Zhao. Владелец: Tessersoft Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Image forming system, integrated circuit chip, and image forming apparatus

Номер патента: US09454717B2. Автор: Naoki Abe. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Housing for accommodating a photonic integrated circuit chip

Номер патента: GB2625806A. Автор: Biele Jake,Ashley Sulway Dominic. Владелец: Light Trace Photonics Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Integrated circuit chip and semiconductor package

Номер патента: US20230282624A1. Автор: Kyoung-Min Lee,Eun-Hee Kim,Bong Wee Yu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Integrated circuit chip and semiconductor memory device

Номер патента: US20130094302A1. Автор: Chang-Ho Do. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2013-04-18.

Integrated circuit chip

Номер патента: US11749319B2. Автор: Ji Hwan Kim,Chang Kwon Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Test access system, method and computer-accessible medium for chips with spare identical cores

Номер патента: US20130332774A1. Автор: Ozgur Sinanoglu. Владелец: New York University NYU. Дата публикации: 2013-12-12.

Method of designing an integrated circuit and computer program product

Номер патента: US09846758B2. Автор: Karl Wimmer,Xavier HOURS,David M. Grochowski,Bernd E. Kastenmeier. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-12-19.

Integrated circuit chip and its impedance calibration method

Номер патента: US09838011B2. Автор: Rifeng Mai. Владелец: Capital Microelectronics Beijing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Computer-implemented method and computer program for generating a layout of a circuit block of an integrated circuit

Номер патента: US09811625B2. Автор: James Edward Myers. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2017-11-07.

Semiconductor package comprising stacked integrated circuit chips having connection terminals and through electrodes symmetrically arranged

Номер патента: US9824954B2. Автор: Takayuki Kamiya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-11-21.

Method and system for mapping an integral into a thread of a parallel architecture

Номер патента: WO2013179073A3. Автор: Balázs OROSZI,Gergely Balázs SOÓS,Adam Rak,György Gábor CSEREY,Gergely Feldhoffer,Tibor Holtzl. Владелец: Furukawa Electric Technológiai Intézet Kft.. Дата публикации: 2014-08-28.

Method and system for mapping an integral into a thread of a parallel architecture

Номер патента: EP2856338A2. Автор: Balázs OROSZI,Gergely Balázs SOÓS,Adam Rak,György Gábor CSEREY,Gergely Feldhoffer,Tibor Holtzl. Владелец: Streamnovation Kft. Дата публикации: 2015-04-08.

Method and system for mapping an integral into a thread of a parallel architecture

Номер патента: WO2013179073A2. Автор: Balázs OROSZI,Gergely Balázs SOÓS,Adam Rak,György Gábor CSEREY,Gergely Feldhoffer,Tibor Holtzl. Владелец: Furukawa Electric Technológiai Intézet Kft.. Дата публикации: 2013-12-05.

Generating integrated circuit placements using neural networks

Номер патента: WO2024129086A1. Автор: Young-Joon Lee,James Laudon,Quoc V. Le,Wenjie Jiang,Sergio Guadarrama Cotado,Anna Darling Goldie,Azalia Mirhoseini,Ebrahim Songhori,Roger David Carpenter,Kuang-Huei Lee,Yuting YUE,Toby James BOYD. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-20.

Method and apparatus for testing integrated circuits for susceptibility to latch-up

Номер патента: EP1839063A1. Автор: Andrea c/o Philips I.P. & Standards SCARPA,Paul H. c/o Philips I.P. & Standards CAPPON,Peter C. c/o Philips I.P. & Szandards DE JONG,Taede c/o Philips I.P. & Standards SMEDES. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2007-10-03.

Method and apparatus for testing integrated circuits for susceptibility to latch-up

Номер патента: WO2005073741A1. Автор: Taede Smedes,Peter C. de Jong,Andrea Scarpa,Paul H. Cappon. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2005-08-11.

Integrated circuit performing fast unbreakable cipher

Номер патента: US20210367760A1. Автор: R Paul Mcgough. Владелец: Qwyit LLC. Дата публикации: 2021-11-25.

Integrated circuit performing fast unbreakable cipher

Номер патента: US11711365B2. Автор: R Paul Mcgough. Владелец: Qwyit LLC. Дата публикации: 2023-07-25.

Physical Unclonable Functions In Integrated Circuit Chip Packaging For Security

Номер патента: AU2019202239A1. Автор: James Paul Drummond,Gary A. Denton,Kelly Ann Killeen,Carl E. Sullivan,Stephen P. BUSH. Владелец: Lexmark International Inc. Дата публикации: 2020-10-15.

Physical unclonable functions in integrated circuit chip packaging for security

Номер патента: CA3038545A1. Автор: James Paul Drummond,Gary A. Denton,Kelly Ann Killeen,Carl E. Sullivan,Stephen P. BUSH. Владелец: Lexmark International Inc. Дата публикации: 2020-09-29.

Generating integrated circuit placements using neural networks

Номер патента: EP4409460A1. Автор: Young-Joon Lee,James Laudon,Quoc V. Le,Wenjie Jiang,Sergio Guadarrama Cotado,Anna Darling Goldie,Azalia Mirhoseini,Ebrahim Songhori,Roger David Carpenter,Kuang-Huei Lee,Yuting YUE,Toby James BOYD. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-08-07.

Semiconductor Device Including a Voltage Regulator and an Integrated Circuit Module

Номер патента: US20240219943A1. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US11748605B2. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Method, apparatus and system for configuring a protocol stack of an integrated circuit chip

Номер патента: US09734116B2. Автор: Robert J. Hayes,Avinash N. Ananthakrishnan,Brent R. Boswell,Bryan L. Spry,Marcus W. Song,Aimee D. Wood,Deepak M. Rangaraj,Adam E. Letendre. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Semiconductor wafer and method for auto-calibrating integrated circuit chips using pll at wafer level

Номер патента: US20130278309A1. Автор: Heyung Sub Lee,Hyunseok Kim,Su Na CHOI,Cheol Sig Pyo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2013-10-24.

Semiconductor wafer and method for auto-calibrating integrated circuit chips using PLL at wafer level

Номер патента: US9030217B2. Автор: Heyung Sub Lee,Hyunseok Kim,Su Na CHOI,Cheol Sig Pyo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2015-05-12.

Integrated circuit system having decoupled logical and physical interfaces

Номер патента: US20140365733A1. Автор: Bartholomew Blaner,William J. Starke,Charles Marino,Michael S. Siegel,Jeff A. Stuecheli. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-12-11.

Identification method of an integrated circuit chip and identfication system of an integrated circuit chip

Номер патента: US20210365651A1. Автор: Chi-Chung Yu,Kai-Hung Lin,Tien-Hung LOU. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Dual tap architecture for enabling secure access for ddr memory test controller

Номер патента: US20200143902A1. Автор: Arvind Jain,Anju GEORGE,Swayam PATTNAIK. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2020-05-07.

Semiconductor device with a variable integrated circuit chip bump pitch

Номер патента: EP2532027A2. Автор: Petrus Johannes Gerardus Van Lieshout. Владелец: Polymer Vision BV. Дата публикации: 2012-12-12.

Semiconductor device with a variable integrated circuit chip bump pitch

Номер патента: WO2011096800A2. Автор: Petrus Johannes Gerardus Van Lieshout. Владелец: Polymer Vision B.V.. Дата публикации: 2011-08-11.

Integrated circuit chip with repeater flops and method for automated design of same

Номер патента: WO2008021489A3. Автор: Bharat Patel,Stuart A Taylor,Victor Ma. Владелец: Victor Ma. Дата публикации: 2008-05-29.

Managed integrated circuit power supply distribution

Номер патента: US20190348361A1. Автор: II John E. Sheets,Kirk D. Peterson,Jeffrey D. Brown,Anthony G. Aipperspach. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Apparatus and method for integrated circuit power management

Номер патента: USRE44025E1. Автор: Jon Shiell,Robert Eisenstadt. Владелец: Jr Shadt Electronics LLC. Дата публикации: 2013-02-19.

Detecting anomalous latent communications in an integrated circuit chip

Номер патента: EP4070198A1. Автор: Marcin Hlond,Gajinder Panesar. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2022-10-12.

Detecting anomalous latent communications in an integrated circuit chip

Номер патента: WO2021110529A1. Автор: Marcin Hlond,Gajinder Panesar. Владелец: ULTRASOC TECHNOLOGIES LTD.. Дата публикации: 2021-06-10.

Integrated circuit memory system with high speed non-volatile memory data transfer capability

Номер патента: US20080192560A1. Автор: Seung Won Lee,Byeong Hoon Lee,Sun Kwon Kim,Ki Hong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-08-14.

Method and a circuit architecture for testing an integrate circuit comprising a programmable, non-volatile memory

Номер патента: US20010015925A1. Автор: Albino Pidutti,Paolo Sandri,Alessandro Camera,Ignazio Bellomo. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2001-08-23.

Efficient calibration of circuits in tiled integrated circuits

Номер патента: US20220206552A1. Автор: Miguel Rodriguez,Stephen Victor Kosonocky,Peter T. Hardman. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Integrated circuit packages having electrical and optical connectivity and methods of making the same

Номер патента: US20240319458A1. Автор: Jin Su Kim,Lars Martin Otfried BRUSBERG,Aramais Robert Zakharian. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Wireless power and wireless communication integrated circuit

Номер патента: US09806767B2. Автор: Ahmadreza Rofougaran,Nambirajan Seshadri,Jeyhan Karaoguz,John Walley,Reinier Van Der Lee. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2017-10-31.

Integrated circuit chip design methods and systems using process window-aware timing analysis

Номер патента: US09619609B1. Автор: Jeanne P. Bickford,Eric A. Foreman,Mark W. Kuemerle,Susan K. Lichtensteiger,Jeffrey G. Hemmett. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-04-11.

Multithreaded scheduling for placement of circuit designs using connectivity and utilization dependencies

Номер патента: US09529957B1. Автор: Xiao Dong,Marvin Tom,Grigor S. Gasparyan. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Integrated circuit chip, display apparatus, and method of fabricating integrated circuit chip

Номер патента: US20210212212A1. Автор: Liqiang Chen. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-08.

Integrated circuit packages having electrical and optical connectivity and methods of making the same

Номер патента: US12032216B2. Автор: Jin Su Kim,Lars Martin Otfried BRUSBERG,Aramais Robert Zakharian. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

Method of deriving an integrated circuit schematic diagram

Номер патента: US20110041110A1. Автор: Edward Keyes,Vyacheslav Zavadsky,Shane Edmonds,Alexei Novikov. Владелец: Semiconductor Insights Inc. Дата публикации: 2011-02-17.

Method of deriving an integrated circuit schematic diagram

Номер патента: WO2009127035A1. Автор: Edward Keyes,Vyacheslav Zavadsky,Shane Edmonds,Alexei Novikov. Владелец: SEMICONDUCTOR INSIGHTS INC.. Дата публикации: 2009-10-22.

Stochastic analysis process optimization for integrated circuit design and manufacture

Номер патента: WO2006063359A3. Автор: Jun Li,Meiling Wang,Hsien-Yen Chiu. Владелец: Anova Solutions Inc. Дата публикации: 2007-04-12.

Identifying and mitigating electromigration failures in signal nets of an integrated circuit chip design

Номер патента: US20150205906A1. Автор: Brian Worth,Jason Chung,Paul S. Zuchowski,Leon J. Sigal,Amol A. Joshi,William J. Livingstone,John E. Barwin, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-07-23.

Integrated circuit design verification with module swapping

Номер патента: WO2023158530A1. Автор: Adam Moshe IZRAELEVITZ,Albert Pengju CHEN. Владелец: SiFive, Inc.. Дата публикации: 2023-08-24.

Method and circuit module package for automated switch actuator insertion

Номер патента: US20030043551A1. Автор: David Roman,John Miranda. Владелец: Amkor Technology Inc. Дата публикации: 2003-03-06.

Method of deriving an integrated circuit schematic diagram

Номер патента: US8347262B2. Автор: Edward Keyes,Vyacheslav Zavadsky,Shane Edmonds,Alexei Novikov. Владелец: Semiconductor Insights Inc. Дата публикации: 2013-01-01.

Skewed placement grid for very large scale integrated circuits

Номер патента: US8341585B2. Автор: Robert P. Masleid. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2012-12-25.

Adjustable timing circuit of an integrated circuit

Номер патента: US20050286338A1. Автор: Frankie Roohparvar,Dean Nobunaga. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2005-12-29.

Chip design method for designing integrated circuit chips with embedded memories

Номер патента: US20030221177A1. Автор: David Morgan,Viswanathan Lakshmanan,Michael Josephides,Tom O'Brien. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2003-11-27.

Skewed placement grid for very large scale integrated circuits

Номер патента: US20120200347A1. Автор: Robert P. Masleid. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2012-08-09.

Apparatuses, methods and systems for virtualizing a reprogrammable universal integrated circuit chip

Номер патента: US12108488B2. Автор: Ismaila Wane. Владелец: Gigsky Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Authentication of integrated circuits

Номер патента: US12099593B2. Автор: Oded GOLOMBEK,Einat LUKO. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2024-09-24.

Methods of design rule checking of circuit designs

Номер патента: US09798852B2. Автор: Lei Yuan,Harry J. Levinson,Jongwook Kye. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Apparatuses, methods and systems for virtualizing a reprogrammable universal integrated circuit chip

Номер патента: US09485252B2. Автор: Ismaila Wane. Владелец: Simless Inc. Дата публикации: 2016-11-01.

Integrated circuit chip customization using backside access

Номер патента: US09431298B2. Автор: Shiqun Gu,Daniel W. Perry. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Integrated circuit chip, method of manufacturing the integrated circuit chip, and integrated circuit package and display apparatus including the integrated circuit chip

Номер патента: US11569206B2. Автор: Sung-Min Kang,Young-Mok Kim,Jun-Gu Kang,Min-hee UH,Seung-hee GO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-01-31.

Integrated circuit chip, method of manufacturing the integrated circuit chip, and integrated circuit package and display apparatus including the integrated circuit chip

Номер патента: US11049846B2. Автор: Sung-Min Kang,Young-Mok Kim,Jun-Gu Kang,Min-hee UH,Seung-hee GO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-29.

Integrated circuit chip, method of manufacturing the integrated circuit chip, and integrated circuit package and display apparatus including the integrated circuit chip

Номер патента: US20200294970A1. Автор: Sung-Min Kang,Young-Mok Kim,Jun-Gu Kang,Min-hee UH,Seung-hee GO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-09-17.

Machine learning-based integrated circuit test case selection for timing analysis

Номер патента: US11928411B2. Автор: Santanu PATTANAYAK,Lindsey Makana KOSTAS,Tushit Jain. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Integrated circuit chip, method of manufacturing the integrated circuit chip, and integrated circuit package and display apparatus including the integrated circuit chip

Номер патента: US20210296287A1. Автор: Sung-Min Kang,Young-Mok Kim,Jun-Gu Kang,Min-hee UH,Seung-hee GO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-09-23.

Machine learning-based integrated circuit test case selection for timing analysis

Номер патента: US20230102185A1. Автор: Santanu PATTANAYAK,Lindsey Makana KOSTAS,Tushit Jain. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-03-30.

Machine learning-based integrated circuit pvt test case selection for timing analysis

Номер патента: WO2023049577A1. Автор: Santanu PATTANAYAK,Lindsey Makana KOSTAS,Tushit Jain. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2023-03-30.

Die-to-Die Interconnect Architecture for Hardware-Agnostic Modeling

Номер патента: US20230042718A1. Автор: Ankireddy Nalamalpu,Atul Maheshwari,Mahesh K. Kumashikar,Lai Guan Tang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-02-09.

Implementation of deep neural networks for testing and quality control in the production of memory devices

Номер патента: US20240202425A1. Автор: Cheng-Chung Chu,Ashish Ghai,Janet George,Daniel J. Linnen. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2024-06-20.

Adjustable timing circuit of an integrated circut

Номер патента: US20050041485A1. Автор: Frankie Roohparvar,Dean Nobunaga. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2005-02-24.

Method and apparatus for performing power routing on a voltage island within an integrated circuit chip

Номер патента: EP1671339A2. Автор: Bing Chen,Erich C. Schanzenbach,Patrick M. Ryan,Scott W. Gould,Mark Kwang-Jen Hsu. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-06-21.

Computing apparatus and method for vector inner product, and integrated circuit chip

Номер патента: US20220366006A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu. Владелец: Anhui Cambricon Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Multiplier, method, integrated circuit chip, and computing device for floating point operation

Номер патента: US20240289092A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu. Владелец: Anhui Cambricon Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Implementation of deep neural networks for testing and quality control in the production of memory devices

Номер патента: US12124247B2. Автор: Fei Zhou,Cheng-Chung Chu,Raghuveer Makala. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2024-10-22.

Apparatus, system and method for a common unified debug architecture for integrated circuits and SoCs

Номер патента: US09632895B2. Автор: Sridhar Valluru,Sankaran M Menon,Ramana Rachakonda,Eyal Dolev,Rajendra S Yavatkar. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Integrated circuit module for a dual-interface smart card

Номер патента: US09390365B2. Автор: Thomas Ziemkus. Владелец: American Banknote Corp. Дата публикации: 2016-07-12.

Electronic equipment having integrated circuit device and temperature sensor

Номер патента: US5477417A. Автор: Akimitsu Ohmori,Morishige Kinjo. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1995-12-19.

Method for connecting integrated-circuit chip to antenna in radio-frequency device for identifying contactless intelligent card

Номер патента: RU2298254C2. Автор: Кристоф АЛОП,Фабьен ЗЮПАНЕК. Владелец: А.С.К. С.А.. Дата публикации: 2007-04-27.

Semiconductor integrated circuit and method of production of same

Номер патента: US7646209B2. Автор: Mitsuhiro Oomori,Tomofumi Arakawa. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2010-01-12.

Method and apparatus for testing pin isolation for an integrated circuit in a low power mode of operation

Номер патента: US5561614A. Автор: Juan G. Revilla,Alfred L. Crouch. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1996-10-01.

Prevention of alteration of data stored in secure integrated circuit chip memory

Номер патента: CA2007468C. Автор: Paul Moroney,William Allen Shumate,Robert C. Gilberg. Владелец: General Instrument Corp. Дата публикации: 1993-04-20.

Integrated circuit allowing for testing and isolation of integrated power management unit

Номер патента: US20130047000A1. Автор: Kerry Thompson,Amar Guettaf,Love Kothari,Veronica Alarcon. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2013-02-21.

Integrated circuit chip protection against physical and/or electrical alterations

Номер патента: WO2016180977A1. Автор: Pascal Aubry,Stephane JULLIAN. Владелец: Nagravision S.A.. Дата публикации: 2016-11-17.

Integrated circuit and method

Номер патента: US20230377641A1. Автор: Mei-Chen Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Integrated circuit chip protection against physical and/or electrical alterations

Номер патента: EP3295379A1. Автор: Pascal Aubry,Stephane JULLIAN. Владелец: Nagravision SA. Дата публикации: 2018-03-21.

Integrated circuit chip with flash memory and identification function

Номер патента: US20060118640A1. Автор: Gordon Yu,Yi-Hua Ho,Hung-Tse Ho,Ching-Lung Wu. Владелец: C One Tech Corp. Дата публикации: 2006-06-08.

An integrated circuit chip for encryption and decryption having a secure mechanism for programming on-chip hardware

Номер патента: WO2006027308A3. Автор: John Li,Camil Fayad,Siegfried Sutter. Владелец: Siegfried Sutter. Дата публикации: 2006-05-11.

Integrated circuit device provided with series-connected TC parallel unit ferroelectric memory and method for testing the same

Номер патента: US7218546B2. Автор: Shinichiro Shiratake,Tadashi Miyakawa,Daisaburo Takashima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-05-15.

Layout of large block synthesis blocks in integrated circuits

Номер патента: US9910948B2. Автор: Harry Barowski,Sourav Saha,Joachim Keinert,Harald D. Folberth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Touch display substrate, integrated circuit chip and display device

Номер патента: US20240281089A1. Автор: Jiandong Guo,Yan Liu,Zhongshan WU,Xiaoyuan Wang. Владелец: Chongqing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Method and apparatus for performing power routing on a voltage island within an integrated circuit chip

Номер патента: US20050120322A1. Автор: Patrick Ryan,Bing Chen,Mark Hsu,Scott Gould,Erich Schanzenbach. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-06-02.

Method and apparatus for performing power routing on a voltage island within an integrated circuit chip

Номер патента: US7234124B2. Автор: Bing Chen,Erich C. Schanzenbach,Patrick M. Ryan,Scott W. Gould,Mark Kwang-Jen Hsu. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2007-06-19.

Method and apparatus for performing power routing on a voltage island within an integrated circuit chip

Номер патента: WO2005036606A2. Автор: Bing Chen,Erich C. Schanzenbach,Patrick M. Ryan,Scott W. Gould,Mark Kwang-Jen Hsu. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2005-04-21.

Integrated circuit structures having dielectric anchor and confined epitaxial source or drain structure

Номер патента: EP4325580A3. Автор: Tahir Ghani,Allen B. Gardiner,Charles H. Wallace,Mohammad Hasan,Leonard P. GULER,Aryan NAVABI-SHIRAZI,Mohit K. HARAN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Layout of large block synthesis blocks in integrated circuits

Номер патента: US10366191B2. Автор: Harry Barowski,Sourav Saha,Joachim Keinert,Harald D. Folberth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-07-30.

Layout of large block synthesis blocks in integrated circuits

Номер патента: US10242140B2. Автор: Harry Barowski,Sourav Saha,Joachim Keinert,Harald D. Folberth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-03-26.

Layout of large block synthesis blocks in integrated circuits

Номер патента: US10417366B2. Автор: Harry Barowski,Sourav Saha,Joachim Keinert,Harald D. Folberth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-09-17.

Layout of large block synthesis blocks in integrated circuits

Номер патента: US10235487B2. Автор: Harry Barowski,Sourav Saha,Joachim Keinert,Harald D. Folberth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-03-19.

Integrated circuit structures having dielectric anchor and confined epitaxial source or drain structure

Номер патента: EP4199044A1. Автор: Tahir Ghani,Allen B. Gardiner,Charles H. Wallace,Mohammad Hasan,Leonard P. GULER,Aryan NAVABI-SHIRAZI,Mohit K. HARAN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-06-21.

Aggressor classification method for analyzing crosstalk of circuit

Номер патента: US20030229869A1. Автор: Jae-Seok Yang,Moon-hyun Yoo,Joon-Ho Choi,Jeong-Taek Kong,Jeong-Yeol Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-12-11.

Power management circuit and method for integrated circuit having multiple power domains

Номер патента: US20210004030A1. Автор: Ching-Hsiang Chang,Chun-Hsiang Lai,Chih-Chieh Yao. Владелец: M31 Technology Corp. Дата публикации: 2021-01-07.

Power management circuit and method for integrated circuit having multiple power domains

Номер патента: US20230135657A1. Автор: Ching-Hsiang Chang,Chun-Hsiang Lai,Chih-Chieh Yao. Владелец: M31 Technology Corporation. Дата публикации: 2023-05-04.

Methods of forming an integrated circuit chip having two types of memory cells

Номер патента: US09935001B2. Автор: Jhon Jhy Liaw. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Clock gating verification during RTL stage of integrated circuit design

Номер патента: US09934342B1. Автор: Lei Ji,Song Huang,Yifeng Liu. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Layout of large block synthesis blocks in integrated circuits

Номер патента: US09928329B2. Автор: Harry Barowski,Sourav Saha,Joachim Keinert,Harald D. Folberth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Layout of large block synthesis blocks in integrated circuits

Номер патента: US09910948B2. Автор: Harry Barowski,Sourav Saha,Joachim Keinert,Harald D. Folberth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Integrated circuits including a MIMCAP device and methods of forming the same for long and controllable reliability lifetime

Номер патента: US09583557B2. Автор: Lili Cheng,Robert Fox,Jeasung Park,Dina H. Triyoso,David Paul Brunco,Sanford Chu. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Integrated circuit chip having two types of memory cells

Номер патента: US09576644B2. Автор: Jhon Jhy Liaw. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Testing of integrated circuit to substrate joints

Номер патента: US09472131B2. Автор: Shafiq M. Jamal,Sang Y. Youn,Mir B. Ghaderi. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2016-10-18.

Integrated circuit design optimization

Номер патента: US09454636B1. Автор: Prasad Subramaniam,Hao Nham,Rakesh Chadha,Ferran Martorell. Владелец: eSilicon Corp. Дата публикации: 2016-09-27.

Methods for forming integrated circuits within substrates

Номер патента: US6329213B1. Автор: Mark E. Tuttle,Rickie C. Lake. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2001-12-11.

Virtual power rail modulation within an integrated circuit

Номер патента: US7737720B2. Автор: David Walter Flynn,Sachin Satish Idgunji,Robert Campbell Aitken. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2010-06-15.

Placement and routing cells on integrated circuit chips

Номер патента: US8732645B2. Автор: Kenneth S. McElvain,Roger P. Ang,Ken R. McElvain. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2014-05-20.

Method and apparatus for testing an integrated circuit device

Номер патента: US6052806A. Автор: Robert Beat. Владелец: STMicroelectronics Ltd Great Britain. Дата публикации: 2000-04-18.

Method for implementing an integrated circuit comprising a random-access memory-in-logic

Номер патента: US20220147683A1. Автор: Babak Mohammadi,Hemanth PRABHU. Владелец: Xenergic AB. Дата публикации: 2022-05-12.

System for optimizing buffers in integrated circuit design timing fixes

Номер патента: US20040261046A1. Автор: Umesh Nair. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2004-12-23.

An integrated circuit chip for encryption and decryption having a secure mechanism for programming on-chip hardware

Номер патента: WO2006027308A2. Автор: John Li,Camil Fayad,Siegfried Sutter. Владелец: Ibm United Kingdom Limited. Дата публикации: 2006-03-16.

Method for implementing an integrated circuit comprising a random-access memory-in-logic

Номер патента: WO2020182998A1. Автор: Babak Mohammadi,Hemanth PRABHU. Владелец: Xenergic AB. Дата публикации: 2020-09-17.

Manufacturing method for wireless communications devices employing potentially different versions of integrated circuits

Номер патента: EP1155583A1. Автор: Ronald D. Boesch. Владелец: Ericsson Inc. Дата публикации: 2001-11-21.

Techniques for pre-silicon testing integrated circuit designs that accommodate power-supply noise and adaptive-clock aware timing

Номер патента: US10929591B2. Автор: Prashant Singh,Wen Yueh,Tezaswi Raja,Vinayak Bhargav SRINATH. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2021-02-23.

Robotically testing accessibility

Номер патента: US20240241819A1. Автор: Utkarsh Raj,Yogi Ahuja,Mardochee Macxis,Ion C. Freeman. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Apparatuses and methods to suppress power supply noise harmonics in integrated circuits

Номер патента: US20140021993A1. Автор: Vivek Singhal,Sumanth Reddy PODDUTUR,Prakash Narayanan. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-01-23.

Design for test architecture for die to die interconnect for three dimensional integrated circuits

Номер патента: US20190096503A1. Автор: Puneet Gupta,Fei Su,Amit Sanghani,Wei Ming Lim,Sreejit Chakravarty,Anubhav Sinha,Rakesh KANDULA,Terrence Huat Hin Tan,Sudheer V BADANA,Adithya B. S.. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Method for detecting a thinning of the semiconductor substrate of an integrated circuit from its back face and corresponding integrated circuit

Номер патента: US09916902B2. Автор: Pascal Fornara,Christian Rivero. Владелец: STMICROELECTRONICS ROUSSET SAS. Дата публикации: 2018-03-13.

Intermediate node determining method and apparatus

Номер патента: US09755927B2. Автор: Hao Wu,Yingtao Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Architecture for end-to-end testing of long-running, multi-stage asynchronous data processing services

Номер патента: US09639444B2. Автор: Carlos Alejandro Arguelles. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Method and apparatus for forming an integrated circuit including a memory structure

Номер патента: US5541850A. Автор: Nels B. Vander Zanden,Mossaddeq Mahmood. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1996-07-30.

Integrated circuit package with laminated backup cell

Номер патента: US5153710A. Автор: Joseph H. McCain. Владелец: SGS Thomson Microelectronics Inc. Дата публикации: 1992-10-06.

Integrated circuit memory having high speed and low power by selectively coupling compensation components to a pulse generator

Номер патента: US5594690A. Автор: Roland D. Rothenberger,Greg T. Sullivan,Kenny Y. Tung. Владелец: Unisys Corp. Дата публикации: 1997-01-14.

Technique for modifying an integrated circuit layout

Номер патента: US5231590A. Автор: Jean P. Meunier,Niraj Kumar. Владелец: Zilog Inc. Дата публикации: 1993-07-27.

Integrated circuit chip

Номер патента: US10748601B2. Автор: Ji-Hwan Kim,Heat-Bit PARK. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2020-08-18.

Integrated circuit chip

Номер патента: US20190198089A1. Автор: Ji-Hwan Kim,Heat-Bit PARK. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2019-06-27.

Methods for engineering integrated circuit design and development

Номер патента: US11748541B2. Автор: Rajeev Srivastava,Bertrand Irissou,John M. Hughes,Lucio Lanza,Mohamed K. Kassem,Michael S. Wishart,Risto Bell,Robert Timothy Edwards,Sherif Eid,Greg P. Shaurette. Владелец: Efabless Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Integrated circuit with 3D partitioning

Номер патента: US11822475B2. Автор: Geert Van Der Plas,Manu Komalan Perumkunnil. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2023-11-21.

Method, apparatus and system for configuring a protocol stack of an integrated circuit chip

Номер патента: US20150269108A1. Автор: Robert J. Hayes,Avinash N. Ananthakrishnan,Brent R. Boswell,Bryan L. Spry,Marcus W. Song,Aimee D. Wood,Deepak M. Rangaraj,Adam E. Letendre. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-09-24.

On-chip circuit and method for testing memory devices

Номер патента: EP1084497A1. Автор: Charles L. Ingalls,Kim M. Pierce. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2001-03-21.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US11748601B2. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Profiling Transactions on an Integrated Circuit Chip

Номер патента: US20170046288A1. Автор: Andrew Brian Thomas Hopkins,Iain Craig Robertson,Michael Jonathan Thyer. Владелец: UltraSoC Technologies Ltd. Дата публикации: 2017-02-16.

Semiconductor integrated circuit and control method for the same

Номер патента: US20140049316A1. Автор: Hiroshi Okano. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-02-20.

An integrated circuit arrangement with feature control

Номер патента: EP1399828A2. Автор: Neal T. Wingen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-03-24.

An integrated circuit arrangement with feature control

Номер патента: WO2002097638A3. Автор: Neal T Wingen. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2003-10-23.

An integrated circuit arrangement with feature control

Номер патента: WO2002097638A2. Автор: Neal T. Wingen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-12-05.

Functional Cells for Automated I/O Timing Characterization of An Integrated Circuit

Номер патента: US20080143381A1. Автор: Chananiel Weinraub. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-06-19.

System for testing fast integrated digital circuits, in particular semiconductor memory modules

Номер патента: US20020010877A1. Автор: Justus Kuhn,Wolfgang Ernst,Jochen Müller,Gunnar Krause,Jens Lüpke,Peter Pöchmüller,Michael Schittenhelm. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2002-01-24.

Apparatus, method and system for providing termination for multiple chips of an integrated circuit package

Номер патента: US20190139592A1. Автор: Ge Chang,James A. McCall,Kuljit S. Bains,George Vergis. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Apparatus, method and system for providing termination for multiple chips of an integrated circuit package

Номер патента: EP2926342A1. Автор: Ge Chang,James A. McCall,Kuljit S. Bains,George Vergis. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2015-10-07.

Detecting anomalous latent communications in an integrated circuit chip

Номер патента: GB2589594A. Автор: Panesar Gajinder,Hlond Marcin. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2021-06-09.

Method to optimize general-purpose input/output interface pad assignments for integrated circuit

Номер патента: US9842181B1. Автор: Kyung Suk Oh,Loke Yip Foo,Wai Ling Lee,Yee Huan Yew,Chee Cheong Tan,Mei See Chin,Chooi Ian Loh,Hui Lee Teng. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

A method for managing a notification procedure between an integrated circuit card operating in a communication device and a provisioning system, corresponding system and integrated circuit card

Номер патента: EP4422226A1. Автор: Paolo Sepe,Alberto MARZAIOLI. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-08-28.

Circuit design implementations in secure partitions of an integrated circuit

Номер патента: US09946826B1. Автор: Herman Schmit,Ting Lu,Dana How,Sean Atsatt. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Memory system topologies including a buffer device and an integrated circuit memory device

Номер патента: US09865329B2. Автор: Ely Tsern,Ian Shaeffer,Craig Hampel. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2018-01-09.

Method to optimize general-purpose input/output interface pad assignments for integrated circuit

Номер патента: US09842181B1. Автор: Kyung Suk Oh,Loke Yip Foo,Wai Ling Lee,Yee Huan Yew,Chee Cheong Tan,Mei See Chin,Chooi Ian Loh,Hui Lee Teng. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Method for controlling an integrated circuit, integrated circuit and computer including an integrated circuit

Номер патента: US09703556B2. Автор: Bertrand Danet,Stéphane Laborie-Fulchic. Владелец: Continental Automotive France SAS. Дата публикации: 2017-07-11.

Memory system topologies including a buffer device and an integrated circuit memory device

Номер патента: US09563583B2. Автор: Ely Tsern,Ian Shaeffer,Craig Hampel. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2017-02-07.

Integrated circuit

Номер патента: US09513659B2. Автор: Ming-Jing Ho,Wen-Tai Wang,Shi-Hao Chen. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Testing and emulation of integrated circuits

Номер патента: US5331571A. Автор: Osamu Matsushima,Kyosuke Sugishita,Alan P. Aronoff,Marc S. Birnkrant,Hisaharu Oba,Katta N. Reddy,Richard I. Olsen,Brent N. Dichter. Владелец: NEC Electronics America Inc. Дата публикации: 1994-07-19.

Integrated circuit with adaptive speed selection

Номер патента: RU2381543C2. Автор: Раджеев ПРАБХАКАРАН,Ягрут В. ПАТЕЛ,Санат КАПУР,Грегори БУЛЛАРД. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2010-02-10.

Integrated circuit package with molded cell

Номер патента: US5196374A. Автор: Michael J. Hundt,Krishnan Kelappan. Владелец: SGS Thomson Microelectronics Inc. Дата публикации: 1993-03-23.

Integrated structure layout and layout of interconnections for an integrated circuit chip

Номер патента: US5734584A. Автор: Kevin R. Iadonato,Le Trong Nguyen. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1998-03-31.

Layout overlap detection with selective flattening in computer implemented integrated circuit design

Номер патента: US6011911A. Автор: Hongbo Tang,Wai-Yan Ho. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2000-01-04.

Merging integrated circuit mask databases formed by different design rules through global mask database edits

Номер патента: US5784292A. Автор: Niraj Kumar. Владелец: Zilog Inc. Дата публикации: 1998-07-21.

Method and apparatus for testing random access memory devices

Номер патента: US6018484A. Автор: James Brady. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2000-01-25.

Semiconductor device including a voltage regulator and an integrated circuit module

Номер патента: US11940822B2. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Method of designing an integrated circuit and computer program product

Номер патента: US20160132628A1. Автор: Karl Wimmer,Xavier HOURS,David M. Grochowski,Bernd E. Kastenmeier. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-05-12.

Integrated circuit chip apparatus

Номер патента: US11900242B2. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Integrated circuit chip apparatus

Номер патента: US11900241B2. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Integrated Circuit Chip with Cores Asymmetrically Oriented With Respect To Each Other

Номер патента: US20220147424A1. Автор: Rahul Gulati,Jasbir Singh Nayyar,Shashank Srinivasa Nuthakki,Arun Shrimali. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2022-05-12.

Integrated Circuit Chip with Cores Asymmetrically Oriented With Respect To Each Other

Номер патента: US20200233758A1. Автор: Rahul Gulati,Jasbir Singh Nayyar,Shashank Srinivasa Nuthakki,Arun Shrimali. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-07-23.

Integrated Circuit Chip with Cores Asymmetrically Oriented With Respect To Each Other

Номер патента: US20230297480A1. Автор: Rahul Gulati,Jasbir Singh Nayyar,Shashank Srinivasa Nuthakki,Arun Shrimali. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Integrated circuit chip with multiple cores

Номер патента: WO2017048967A1. Автор: Rahul Gulati,Jasbir Singh Nayyar,Shashank Srinivasa Nuthakki,Arun Shrimali. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2017-03-23.

Systems and methods for controlling integrated circuit operation with below ground pin voltage

Номер патента: US20110122671A1. Автор: Michael R. May. Владелец: Silicon Laboratories Inc. Дата публикации: 2011-05-26.

Semiconductor Device Including a Voltage Regulator and an Integrated Circuit Module

Номер патента: US20220413527A1. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-12-29.

Integrated circuit, chip, and electronic device

Номер патента: EP4287562A1. Автор: Yu Liang,Jian Zhang,YAN Zhao,Ke Zhang,Nan Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US11983621B2. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Integrated Circuit Chip with Multiple Cores

Номер патента: US20180285218A1. Автор: Rahul Gulati,Jasbir Singh Nayyar,Shashank Srinivasa Nuthakki,Arun Shrimali. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-10-04.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US20210117764A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Integrated circuit chip device

Номер патента: EP3783477A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2021-02-24.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US20210117763A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Integrated circuit chip device

Номер патента: EP3789871A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2021-03-10.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US20200311531A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Integrated circuit chip device

Номер патента: EP3719712A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2020-10-07.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US20210117765A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US20230095610A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US11748603B2. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US11748602B2. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Integrated circuit chip device

Номер патента: US11748604B2. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Method of designing an integrated circuit and computer program product

Номер патента: WO2015011514A1. Автор: Karl Wimmer,Xavier HOURS,David M. Grochowski,Bernd E. Kastenmeier. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2015-01-29.

Fuse circuit for final test trimming of integrated circuit chip

Номер патента: US20130113049A1. Автор: An-Tung Chen,Li-Wen Fang,Chih-Hao Yang. Владелец: RICHTEK TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2013-05-09.

Integrated circuit chip verification method and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4202637A1. Автор: Yan Li. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-28.

Integrated circuit chip apparatus

Номер патента: US20240152741A1. Автор: Yao Zhang,Shaoli Liu,Bingrui WANG,Shuai Hu,Xinkai SONG. Владелец: Cambricon Technologies Corp Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

High accuracy timing model for integrated circuit verification

Номер патента: EP1292906A2. Автор: Jun Li,Hong Zhao,Hsien-Yen Chiu. Владелец: Simplex Solutions Inc. Дата публикации: 2003-03-19.

High accuracy timing model for integrated circuit verification

Номер патента: WO2001088766A3. Автор: Jun Li,Hong Zhao,Hsien-Yen Chiu. Владелец: Simplex Solutions Inc. Дата публикации: 2003-01-09.

Integrated circuit chip to selectively provide tag array functionality or cache array functionality

Номер патента: US20240202120A1. Автор: Julius Mandelblat,Israel Diamand. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Interleaving scheme for increasing operating efficiency during high current events on an integrated circuit

Номер патента: US20190044514A1. Автор: Guang Chen,Jun Pin Tan,Archanna Srinivasan. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-02-07.

Methods and system for an integrated circuit

Номер патента: US20200401552A1. Автор: Tomonori Kamiya,Yukihito Takeda. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2020-12-24.

Method for remote provisioning of software modules in integrated circuit cards, corresponding apparatus and computer program product

Номер патента: US20240214817A1. Автор: Marco ALFARANO,Sofia Massascusa. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2024-06-27.

Securing An Integrated Circuit

Номер патента: US20080043558A1. Автор: Robert Dixon,Phil Paone,Kirk Morrow. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-02-21.

Integrated circuit memory devices having non-volatile memory transistors and methods of fabricating the same

Номер патента: US20020197788A1. Автор: Kazunobu Kuwazawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2002-12-26.

Method and apparatus for configuring an integrated circuit with a requested feature set

Номер патента: WO2017172322A1. Автор: Ivan McLean,Stuart Moskovics,Bryan Campbell,Mark Dragicevich. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2017-10-05.

Systems and methods for implementing a machine perception and dense algorithm integrated circuit and enabling a flowing propagation of data within the integrated circuit

Номер патента: US20210224222A1. Автор: Veerbhan Kheterpal,Nigel Drego,Ananth Durbha,Aman Sikka,Mrinalini Ravichandran,Robert Daniel FIRU. Владелец: Quadric IO Inc. Дата публикации: 2021-07-22.

Systems and methods for implementing a machine perception and dense algorithm integrated circuit and enabling a flowing propagation of data within the integrated circuit

Номер патента: US20220358081A1. Автор: Veerbhan Kheterpal,Nigel Drego,Ananth Durbha,Aman Sikka,Mrinalini Ravichandran,Robert Daniel FIRU. Владелец: Quadric IO Inc. Дата публикации: 2022-11-10.

Integrated circuit with on-board power utilization information

Номер патента: US20050285639A1. Автор: Pieter Vorenkamp,Chun-Ying Chen,Sumant Ranganathan,Neil Kim. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2005-12-29.

Methods and circuits for compensating clock signals having different loads in packaged integrated circuits using phase adjustments

Номер патента: US6175258B1. Автор: Sung-Min Yim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2001-01-16.

Method and apparatus for sharing internal power supplies in integrated circuit devices

Номер патента: EP2643835A1. Автор: Peter Gillingham. Владелец: Mosaid Technologies Inc. Дата публикации: 2013-10-02.

One cycle control continuous conduction mode pfc boost converter integrated circuit with integrated power switch and boost converter

Номер патента: WO2004059414A1. Автор: Jonathan Adams,Ron Brown,Frank Athari. Владелец: INTERNATIONAL RECTIFIER CORPORATION. Дата публикации: 2004-07-15.

One cycle control continuous conduction mode pfc boost converter integrated circuit with integrated power switch and boost converter

Номер патента: EP1576436A1. Автор: Jonathan Adams,Ron Brown,Frank Athari. Владелец: International Rectifier Corp USA. Дата публикации: 2005-09-21.

Through-board decoupling capacitance arrangements for integrated circuit devices

Номер патента: WO2020263422A1. Автор: William Paul Hovis,Garrett Douglas Blankenburg,Andres Felipe Hernandez Mojica,Gregory M. Daly,Rich Tat An. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2020-12-30.

Photonic integrated circuit package

Номер патента: US20170194309A1. Автор: Jiaming Zhang,Fred A. Kish, Jr.,John W. Osenbach,Peter W. Evans,Miguel Iglesias Olmedo,Maria Anagnosti. Владелец: Infinera Corp. Дата публикации: 2017-07-06.

Method for analyzing voltage drop in power distribution across an integrated circuit

Номер патента: WO2007054925A2. Автор: Mark Turner,Brent Buchanan. Владелец: NXP B.V.. Дата публикации: 2007-05-18.

Multi-chip module including integrated circuit with receiver circuitry implementing transmit signal cancellation

Номер патента: US20240296139A1. Автор: Ramin Farjadrad. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Integrated circuit for preventing chip swapping and/or device cloning in a host device

Номер патента: US8650633B2. Автор: Love Kothari,Paul Chou. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2014-02-11.

Method and apparatus for configuring an integrated circuit with a requested feature set

Номер патента: EP3437009A1. Автор: Ivan McLean,Stuart Moskovics,Bryan Campbell,Mark Dragicevich. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-02-06.

Low Cost Testing and Sorting of Integrated Circuits

Номер патента: US20120026817A1. Автор: Roger G. Stewart. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-02-02.

Design method for integrated circuit chips

Номер патента: US20030121014A1. Автор: Junichi Goto. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2003-06-26.

Apparatus, method and computer program product for fast simulation of manufacturing effects during integrated circuit design

Номер патента: SG160271A1. Автор: Laertis Economikos,Ruchir Puri,Hua Xiang,Stephen Edward Greco,Mohammed Fazil Fayaz,Neil Patricia A O. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2010-04-29.

System and method for marketing integrated circuits

Номер патента: US20060010088A1. Автор: Pieter Vorenkamp,Neil Kim. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2006-01-12.

System and method for correcting systematic parametric variations on integrated circuit chips in order to minimize circuit limited yield loss

Номер патента: US20110098838A1. Автор: Jeffrey P. Gambino,Kirk D. Peterson,Jed H. Rankin,John J. Ellis-Monaghan,James A. Culp. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-04-28.

Packaged integrated circuit synchronous memory device with circuits for compensating clock signals having different loads using phase adjustments

Номер патента: US6349070B1. Автор: Sung-Min Yim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-02-19.

Method for testing core network function entity, testing device and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: GB2611829A. Автор: TSAI Yi-Hsueh. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2023-04-19.

Method and apparatus providing optical input/output through the back side of an integrated circuit die

Номер патента: WO1999032910A1. Автор: Mario J. Paniccia,Valluri R. M. Rao. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 1999-07-01.

Integrated circuit system and integrated circuit

Номер патента: US09854531B2. Автор: Kentaro Kawakami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Method and apparatus for secure provisioning of an integrated circuit device

Номер патента: US09729518B1. Автор: Sean R. Atsatt. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Thermal management of an integrated circuit

Номер патента: US09665141B2. Автор: Gaurav Kapoor,Kit-Man Wan,Keith Cox. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Display driver integrated circuit chip

Номер патента: US09659515B2. Автор: Youngjin Cho,HyoJoon AN,Yun ji HUR,YounHo HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-23.

Wireless communicating among vertically arranged integrated circuits (ICs) in a semiconductor package

Номер патента: US09570420B2. Автор: Ahmadreza Rofougaran,Arya Reza Behzad,Sam Ziqun Zhao,Michael BOERS,Jesus Alfonso Castaneda. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Integrated circuit device packages including optical elements

Номер патента: US09541716B2. Автор: Seung-hyuk Chang,Ho-Chul Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

Methods for fabricating integrated circuits using designs of integrated circuits adapted to directed self-assembly fabrication to form via and contact structures

Номер патента: US09305834B1. Автор: Ji xU,Azat Latypov. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-04-05.

Organization for an integrated circuit calculator/controller

Номер патента: US4155118A. Автор: Sylves L. Lamiaux. Владелец: Burroughs Corp. Дата публикации: 1979-05-15.

Physical design automation system and process for designing integrated circuit chips using multiway partitioning with constraints

Номер патента: US5699265A. Автор: Stanislav V. Aleshin,Ranko Scepanovic,Alexander E. Andreev,Alexander S. Podkolzin,James S. Koford,Valeriy B. Kudryavtsev. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 1997-12-16.

Apparatus and method for integrated circuit power management

Номер патента: WO2005024910A3. Автор: Robert Eisenstadt,Jon H Shiell. Владелец: Jon H Shiell. Дата публикации: 2005-05-19.

Capacitance extraction for floating metal in integrated circuit

Номер патента: US20200134129A1. Автор: Ronald D. Rose,David J. Widiger,Harold E. Reindel,Lewis W. Dewey, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Integrated circuit design verification with signal forcing

Номер патента: WO2023158531A1. Автор: Adam Moshe IZRAELEVITZ,Albert Pengju CHEN. Владелец: SiFive, Inc.. Дата публикации: 2023-08-24.

Process implemented in an integrated circuit module, corresponding integrated circuit module, system comprising such a module and corresponding computer program

Номер патента: US11809898B2. Автор: Elder Dos Santos. Владелец: Idemia France SAS. Дата публикации: 2023-11-07.

Integrated circuit apparatus

Номер патента: US7586326B2. Автор: Hisanori Fujisawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-09-08.

Distributed multi-modal power maximizing integrated circuit for solar photovoltaic modules

Номер патента: US20240275174A1. Автор: Mehrdad M. Moslehi. Владелец: Sigmagen Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Distributed multi-modal power maximizing integrated circuit for solar photovoltaic modules

Номер патента: US11901738B2. Автор: Mehrdad M. Moslehi. Владелец: Sigmagen Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Input stage for a sample analog to digital converter, sample analog to digital converter and procedure for testing an analog to digital converter

Номер патента: US12068754B2. Автор: Andreas Fugger,Jaafar Mejri,Florian Renneke. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-08-20.

Inter-Integrated Circuit Slave Interface and Method of Operating an Integrated Integrated Circuit Slave Interface

Номер патента: DE102012222357A1. Автор: Dorde CVEJANOVIC. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2014-06-05.

Input Stage for a Sample Analog to Digital Converter, Sample Analog to Digital Converter and Procedure for Testing an Analog to Digital Converter

Номер патента: US20230045504A1. Автор: Andreas Fugger,Jaafar Mejri,Florian Renneke. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2023-02-09.

Production of integrated circuits comprising different components

Номер патента: EP1982352A1. Автор: Wolfgang Schnitt. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2008-10-22.

Production of integrated circuits comprising different components

Номер патента: WO2007086019A1. Автор: Wolfgang Schnitt. Владелец: NXP B.V.. Дата публикации: 2007-08-02.

Systems and methods for scan test access using bond pad test access circuits

Номер патента: US20050039097A1. Автор: Amar Guettaf. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-02-17.

Integrated-circuit chip with offset external pads and method for fabricating such a chip

Номер патента: US20070228508A1. Автор: LAURENCE Martin,Sebastien Marsanne,Olivier Le Briz,Guiseppe Croce. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2007-10-04.

Integrated circuit device and image processing apparatus

Номер патента: US20150288916A1. Автор: Takaaki Yokoi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-08.

Integrated circuit chip having BS-PDN structure

Номер патента: US11984421B2. Автор: Manho Lee,Eunseok Song,Kyungsuk Oh,Hyuekjae Lee,Hongjoo Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-14.

Integrated circuit chip package

Номер патента: US20020014684A1. Автор: Edward Douglas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-02-07.

Integrated circuit chip with electrostatic discharge protection device

Номер патента: WO2005074027A3. Автор: Wolfgang Schnitt,Hans-Martin Ritter. Владелец: Hans-Martin Ritter. Дата публикации: 2006-12-07.

Method for attaching an integrated circuit chip to a substrate and an integrated circuit chip useful therein

Номер патента: US20010000495A1. Автор: James Lau,Geoffrey Pilkington. Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 2001-04-26.

Integrated circuit chip and package

Номер патента: EP1818988A3. Автор: Bo-Eun Kim,Kyung Oh Kim,Seok Phyo Sangrok Apt. 706-105 Sinjeong Maeul Tchun. Владелец: Integrant Technologies Inc. Дата публикации: 2008-12-31.

Integrated circuit package having stacked integrated circuits and method therefor

Номер патента: WO2005001935A2. Автор: Soochok Kee. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2005-01-06.

Package structure having an integrated waveguide configured to communicate between first and second integrated circuit chips

Номер патента: US09537199B2. Автор: Duixian Liu,Bing Dang,Jean-Olivier Plouchart,Alberto Valdes-Garcia. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Communication cell for an integrated circuit, chip comprising the communication cell, electronic system including the chip, and test apparatus

Номер патента: EP2341626A3. Автор: Roberto Canegallo,Luca Perugini,Roberto Cardu,Mauro SCANDIUZZO,Salvatore Valerio CANI. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2011-08-10.

On chip test architecture for continuous time delta sigma analog-to-digital converter

Номер патента: US20240235573A1. Автор: SHARAD Gupta,Ankur Bal,Abhishek Jain. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-07-11.

On chip test architecture for continuous time delta sigma analog-to-digital converter

Номер патента: US20220345149A1. Автор: SHARAD Gupta,Ankur Bal,Abhishek Jain. Владелец: STMicroelectronics International NV Switzerland. Дата публикации: 2022-10-27.

Transfer molding of integrated circuit packages

Номер патента: US20050275091A1. Автор: Marie-Claude Paquet,Catherine Dufort,Marie-France Boyaud,Real Tetreault. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-12-15.

Carrierless chip package for integrated circuit devices, and methods of making same

Номер патента: US09673121B2. Автор: Lee Choon Kuan,Chong Chin Hui,David J. Corisis. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Protection of wire-bond ball grid array packaged integrated circuit chips

Номер патента: US12033925B2. Автор: Pascal Aubry,Andrew MCLAUCHLAN. Владелец: Nagravision SA. Дата публикации: 2024-07-09.

Integrated circuit package with warpage control using cavity formed in laminated substrate below the integrated circuit die

Номер патента: EP4135022A3. Автор: Roseanne Duca. Владелец: STMicroelectronics Malta Ltd. Дата публикации: 2023-02-22.

Integrated circuit package system with leadframe substrate

Номер патента: SG142329A1. Автор: Cheonhee Lee,Youngnam Choi. Владелец: Stats Chippac Ltd. Дата публикации: 2008-05-28.

An integrated circuit chip assembly and a method of mounting an integrated circuit chip to external circuitry

Номер патента: WO2023194698A1. Автор: David Summerland,Luke Knight. Владелец: Search For the Next Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Bias-controlled deep trench substrate noise isolation integrated circuit device structures

Номер патента: US20110291238A1. Автор: David Goren,Shlomo Shlafman,Rajendran Krishnasamy,Raminderpal Singh,Benny Sheinman,Wayne H. Woods,Phillip Francis Chapman. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-12-01.

Integrated circuit die decoupling system with reduced inductance

Номер патента: US09548288B1. Автор: Jun Zhai,Vidhya Ramachandran,Chonghua ZHONG,Shawn Searles,Huabo Chen,Young Doo Jeon. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Circuits for and methods of controlling power within an integrated circuit

Номер патента: US09438244B2. Автор: Steven P. Young,Brian C. Gaide,Santosh Kumar Sood. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Integrated circuits with a partially-depleted region formed over a bulk silicon substrate and methods for fabricating the same

Номер патента: US20150041910A1. Автор: Jan Hoentschel,Juergen Faul,Stefan Flachowksy. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2015-02-12.

Integrated circuit-based nano-relay

Номер патента: US12088082B2. Автор: Wei Xi,Yang Yu,Peng Li,Xiaobo Li,Hao Yao,Xiangjun Zeng,Tiantian CAI. Владелец: Digital Grid Research Institute China Southern Power Grid. Дата публикации: 2024-09-10.

Voltage-isolated integrated circuit packages with back-side transformers

Номер патента: US20240347473A1. Автор: William P. Taylor. Владелец: Allegro Microsystems Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Assembly of an integrated circuit chip and of a plate

Номер патента: US09941188B2. Автор: Sandrine Lhostis,Louis-Michel Collin,Luc Guy Frechette. Владелец: SOCPRA Sciences et Genie SEC. Дата публикации: 2018-04-10.

Integrated circuits with a partially-depleted region formed over a bulk silicon substrate and methods for fabricating the same

Номер патента: US09917087B2. Автор: Jan Hoentschel,Juergen Faul,Stefan Flachowksy. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Copper structures with intermetallic coating for integrated circuit chips

Номер патента: US09754909B2. Автор: Hunt Hang Jiang. Владелец: Monolithic Power Systems Inc. Дата публикации: 2017-09-05.

Integrated circuit chip packaging

Номер патента: US09713258B2. Автор: Young Hoon Kwark. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Assembly of an integrated circuit chip and of a plate

Номер патента: US09589874B2. Автор: Sandrine Lhostis,Louis-Michel Collin,Luc Guy Frechette. Владелец: SOCPRA Sciences et Genie SEC. Дата публикации: 2017-03-07.

Integrated circuit device with on-board calibration of signal generator circuits, and related methods

Номер патента: US09520888B1. Автор: ASHOK KUMAR,Andrew J. Wright,Ramesh Chettuvetty,Sonal Chandrasekharan,Hiromu Takehara,Tushar Kachhdiya. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Circuit arrangement including an integrated current injecotr

Номер патента: GB1425527A. Автор: . Владелец: Philips Electronic and Associated Industries Ltd. Дата публикации: 1976-02-18.

Multi-chip integrated circuit module

Номер патента: US5432677A. Автор: David Walter,Larry J. Mowatt. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1995-07-11.

Method of adding fabrication monitors to integrated circuit chips

Номер патента: WO2006107356A2. Автор: David P. Vallett,Matthew S. Grady,James W. Adkisson,John M. Cohn,Greg Bazan,Thomas G. Sopchak. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2006-10-12.

Integrated circuit and control method thereof

Номер патента: US9143130B2. Автор: Koji Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-09-22.

Process for Precision Placement of Integrated Circuit Overcoat Material

Номер патента: US20100072610A1. Автор: Rex W. Pirkle,Sean M. Malolepszy. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-03-25.

Process for precision placement of integrated circuit overcoat material

Номер патента: US7884449B2. Автор: Rex W Pirkle,Sean M Malolepszy. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-02-08.

Integrated circuit package having an inductance loop formed from a multi-loop configuration

Номер патента: WO2005022597A3. Автор: Joonbae Park,Kyeongho Lee,Yido Koo,Jeong-Woo Lee,Kang Yoon Lee,Hyungki Huh. Владелец: Hyungki Huh. Дата публикации: 2005-08-04.

Integrated circuit package having an inductance loop formed from a multi-loop configuration

Номер патента: WO2005022597A2. Автор: Joonbae Park,Kyeongho Lee,Yido Koo,Jeong-Woo Lee,Kang Yoon Lee,Hyungki Huh. Владелец: GCT Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2005-03-10.

Integrated circuit package having an inductance loop formed from a multi-loop configuration

Номер патента: EP1665383A2. Автор: Joonbae Park,Kyeongho Lee,Yido Koo,Jeong-Woo Lee,Kang Yoon Lee,Hyungki Huh. Владелец: Gct Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-06-07.

Integrated circuit and control method thereof

Номер патента: US20140266335A1. Автор: Koji Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

Integrated circuit package having an inductance loop formed from a multi-loop configuration

Номер патента: US20050045986A1. Автор: Kang Lee,Joonbae Park,Kyeongho Lee,Yido Koo,Jeong-Woo Lee,Hyungki Huh. Владелец: Gct Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-03-03.

Decoupling capacitor closely coupled with integrated circuit

Номер патента: US20070065983A1. Автор: Robert Vinson,Donald Beck,Gregory Jandzio,Joseph Brief. Владелец: HARRIS CORP. Дата публикации: 2007-03-22.

Bypass techniques to protect noise sensitive circuits within integrated circuit chips

Номер патента: US09960756B1. Автор: Navin Harwalkar. Владелец: Silicon Laboratories Inc. Дата публикации: 2018-05-01.

Electronic device provided with an integrated conductor element and fabrication method

Номер патента: US09754851B2. Автор: Laurent Marechal,David Auchere,Laurent Schwarz,Yvon Imbs. Владелец: STMicroelectronics Alps SAS. Дата публикации: 2017-09-05.

Electronic device provided with an integral conductive wire and method of manufacture

Номер патента: US09748159B2. Автор: Laurent Marechal,David Auchere,Laurent Schwarz,Yvon Imbs. Владелец: STMicroelectronics Alps SAS. Дата публикации: 2017-08-29.

Three dimensional assembly of integrated circuit chips

Номер патента: US5327327A. Автор: Arthur M. Wilson,Randall E. Johnson,Dean L. Frew,Mark A. Kressley,Juanita G. Miller,Philip E. Hecker, Jr.,James Drumm,Rick Elder. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1994-07-05.

Retainer frame assembly for dissipating heat generated on an integrated circuit chip

Номер патента: US5477916A. Автор: Shih-jen Lin. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-12-26.

Circuit module with separate signal and power connectors

Номер патента: US4814857A. Автор: George G. Werbizky. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1989-03-21.

Integrated circuit semiconductor device formed on a wafer

Номер патента: US4721995A. Автор: Tetsu Tanizawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1988-01-26.

Method and apparatus for prioritizing encrypted traffic at an intermediate node in a communications network

Номер патента: US20060172722A1. Автор: Tomas Nylander,Magnus HALLENSTÅL,Jari Vikberg,Lars-Torholm Christensen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-08-03.

Method and system for test head testing of connections of a sonet element

Номер патента: US20030058801A1. Автор: Francois Moore,Carl Reeves,William Sandor. Владелец: Fujitsu Network Communications Inc. Дата публикации: 2003-03-27.

Method and apparatus for prioritizing encrypted traffic at an intermediate node in a communications network

Номер патента: WO2006082488A1. Автор: Tomas Nylander,Magnus HALLENSTÅL,Jari Tapio Vikberg,Lars-Torholm Christensen. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2006-08-10.

Integrated circuit with inductive pickup loop

Номер патента: US20220367571A1. Автор: Alexander Schade,Sergey Miropolskiy. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2022-11-17.

Integrated circuit die having an interference shield

Номер патента: EP1393372A2. Автор: Guruswami M. Sridharan,Kartik M. Sridharan. Владелец: Ashvattha Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-03-03.

Integrated circuit with ribtan interconnects

Номер патента: WO2009158551A2. Автор: Steven Grant Duvall,Pavel I. Lazarev,Pavel Khokhlov. Владелец: Carben Semicon Limited. Дата публикации: 2009-12-30.

Integrated circuit chip package module

Номер патента: US20100181664A1. Автор: Chen-Hsiang Lin,Fang-Ta Tai. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-07-22.

Connected Plane Stiffener Within Integrated Circuit Chip Carrier

Номер патента: US20200035593A1. Автор: Krishna R. Tunga,Anson J. Call,Brian W. Quinlan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Integrated circuit with ribtan interconnects

Номер патента: EP2311113A2. Автор: Steven Grant Duvall,Pavel I. Lazarev,Pavel Khokhlov. Владелец: Carben Semicon Ltd. Дата публикации: 2011-04-20.

Stir device for a base on an integrated circuit chip

Номер патента: US20030124898A1. Автор: Che-Chia Chang. Владелец: Comax Technology Inc. Дата публикации: 2003-07-03.

Integrated circuit die having an electromagnetic interference shield

Номер патента: WO2002067326A9. Автор: Kartik M Sridharan,Guruswami M Sridharan. Владелец: Ashvattha Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-04-01.

Integrated circuit with sensor and method of manufacturing such an integrated circuit

Номер патента: US09941222B2. Автор: Robertus Adrianus Maria Wolters,Roel Daamen,Youri Victorovitch Ponomarev,Rene Theodora Hubertus Rongen. Владелец: ams International AG. Дата публикации: 2018-04-10.

Test method and structure for integrated circuits before complete metalization

Номер патента: US09859177B2. Автор: Toshiaki Kirihata,Balaji Jayaraman,Ramesh Raghavan,Janakiraman VIRARAGHAVAN,Thejas Kempanna,Rajesh R. Tummuru. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Integrated circuit having a filler standard cell

Номер патента: US8063402B2. Автор: Ralph J. Sokel,Glenn O. Workman. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2011-11-22.

Integrated circuit chips, integrated circuit packages including the integrated circuit chips, and display apparatuses including the integrated circuit chips

Номер патента: US20200235091A1. Автор: Woon-bae Kim,Young-Mok Kim,Dae-cheol Seong,Yune-seok CHUNG,Jung-Gu Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-07-23.

Stress-aware design for integrated circuits

Номер патента: EP2721638A1. Автор: Arifur Rahman. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2014-04-23.

Stress-aware design for integrated circuits

Номер патента: WO2012173683A1. Автор: Arifur Rahman. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2012-12-20.

Integrated circuit and method for manufacturing same

Номер патента: EP1523784A2. Автор: Stefan Kern. Владелец: Marconi Communications GmbH. Дата публикации: 2005-04-20.

Integrated circuit and method for manufacturing same

Номер патента: EP1523784B1. Автор: Stefan Kern. Владелец: ERICSSON AB. Дата публикации: 2008-03-12.

Method and device for testing successive approximation register analog-to-digital converters

Номер патента: US20220006467A1. Автор: Ankur Bal,Rupesh Singh,Sri Ram Gupta. Владелец: STMicroelectronics International NV Switzerland. Дата публикации: 2022-01-06.

Ensuring Migratability of Circuits by Masking Portions of the Circuits While Improving Performance of Other Portions of the Circuits

Номер патента: US20080203489A1. Автор: Scott Stiffler,Stephen L. Runyon. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Integrated circuit chip for receiver collecting signals from satellites

Номер патента: US20160036400A1. Автор: Shi-Ming Wu,Meng-Ping Kan. Владелец: Rafael Microelectronics Inc. Дата публикации: 2016-02-04.

DVI link with circuit and method for test

Номер патента: US20070208978A1. Автор: David Warner,Sion Quinlan. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2007-09-06.

Integrated circuit module and method of forming same

Номер патента: US20180122778A1. Автор: Douglas F. Link,Susan Marie JOHANSSON,Sayed Kaysarbin Rahim. Владелец: Starkey Laboratories Inc. Дата публикации: 2018-05-03.

Stress relieved thermal base for integrated circuit packaging

Номер патента: US09917040B1. Автор: Craig J. Rotay. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2018-03-13.

Integrated circuits with copper hillock-detecting structures and methods for detecting copper hillocks using the same

Номер патента: US09881844B2. Автор: Gong Shun Qiang,Wei Shao,Juan Boon Tan,Wanbing YI. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2018-01-30.

Integrated circuit chip for receiver collecting signals from satellites

Номер патента: US09819409B2. Автор: Shi-Ming Wu,Meng-Ping Kan. Владелец: Rafael Microelectronics Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Chamfered corner crackstop for an integrated circuit chip

Номер патента: US09543254B2. Автор: David B. Stone,Mark C. Lamorey. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Integrated circuit chip and fabrication method

Номер патента: US09455239B2. Автор: Laurent-Luc Chapelon,Julien Cuzzocrea. Владелец: STMicroelectronics Crolles 2 SAS. Дата публикации: 2016-09-27.

Integrated circuit chip comprising electronic device and electronic system

Номер патента: US09402331B2. Автор: David Auchere,Yvon Imbs. Владелец: STMicroelectronics Grenoble 2 SAS. Дата публикации: 2016-07-26.

Integrated-circuit module with waveguide transition element

Номер патента: US09356332B2. Автор: Walter Hartner,Ernst Seler,Maciej Wojnowski. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2016-05-31.

Heat dissipative integrated circuit chip package

Номер патента: US4612601A. Автор: Toshihiko Watari. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1986-09-16.

Semiconductor integrated circuit device with electric power generation function

Номер патента: CA3131406A1. Автор: Hiroshi Goto,Minoru Sakata. Владелец: GCE Institute Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Universal digital architecture for transport of client signals of any client payload and format type

Номер патента: EP1756989A1. Автор: Daniel P. Murphy,Drew D. Perkins,Ting-Kuang Chiang,Edward E. Sprague. Владелец: Infinera Corp. Дата публикации: 2007-02-28.

Universal digital framer architecture for transport of client signals of any client payload and format type

Номер патента: CA2571262A1. Автор: Daniel P. Murphy,Drew D. Perkins,Ting-Kuang Chiang,Edward E. Sprague. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-26.

Circuit configuration for protecting an integrated circuit

Номер патента: US4949212A. Автор: Wolfgang Horchler,Michael Lenz,Frank-Lothar Schwertlein. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1990-08-14.

Protection circuit module and aerosol generating device including the same

Номер патента: EP4243641A1. Автор: Seungwon Lee,Sungwook Yoon,Daenam HAN,Seoksu JANG,Yonghwan Kim. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Process for forming an integrated circuit comprising non-volatile memory cells and side transistors of at least two different types, and corresponding ic

Номер патента: US20020000636A1. Автор: Carlo Riva,Cesare Clementi,Gabriella Ghidini. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-03.

Integrated circuit power device with automatic removal of defective devices

Номер патента: WO1991018417A1. Автор: Bantval Jayant Baliga. Владелец: North Carolina State University. Дата публикации: 1991-11-28.

Methods for fabricating an integrated circuit having vertically overlapping short and long channel FinFETs

Номер патента: US09917020B2. Автор: Qing Liu,John H. Zhang. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2018-03-13.

Integrated circuit module having a first die with a power amplifier stacked with a second die and method of making the same

Номер патента: US09583471B2. Автор: Bhavin Shah,Ming Ji,Douglas Andrew Teeter,Mohsen Haji-Rahim,William Kent Braxton. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Integrated circuit chips having field effect transistors with different gate designs

Номер патента: US09425275B2. Автор: Mark S. Rodder,Borna J. Obradovic,Dharmendar Reddy Palle. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Integrated circuit chips mounting and packaging assembly

Номер патента: CA1266725A. Автор: Carl E. Hoge,Timothy P. Patterson. Владелец: Western Digital Corp. Дата публикации: 1990-03-13.

Integrated circuit for vehicle

Номер патента: US5283712A. Автор: Yuichi Itoh,Masaaki Shimizu,Osamu Michihira,Seiji Hirano,Nagahisa Fujita,Tomoji Izumi. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 1994-02-01.

Structure for packaging integrated circuits

Номер патента: US3984739A. Автор: Yoshifumi Mochizuki,Satoshi Kimura,Katsuhiko Komiyama. Владелец: Citizen Watch Co Ltd. Дата публикации: 1976-10-05.

Packaged integrated circuit device

Номер патента: US6008541A. Автор: Sang Wook Park,Hyung Gil Baig. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1999-12-28.

Integrated circuit device having an improved package structure

Номер патента: US5041899A. Автор: Tetsushi Wakabayashi,Souichi Aonuma,Akihiro Oku. Владелец: Fujitsu Vlsi Ltd. Дата публикации: 1991-08-20.

Three-dimensional flexible assembly of integrated circuits

Номер патента: US5646446A. Автор: Earl R. Nicewarner, Jr.,Steven L. Frinak. Владелец: Fairchild Space and Defense Corp. Дата публикации: 1997-07-08.

Integrated circuit module with integral capacitor

Номер патента: US4249196A. Автор: David J. Durney,James A. Lockhart, Jr.. Владелец: Burroughs Corp. Дата публикации: 1981-02-03.

Integrated circuit chip, integrated circuit package and display apparatus including the integrated circuit chip

Номер патента: US20200227359A1. Автор: Woon-bae Kim,Young-Mok Kim,Dae-cheol Seong,Jun-Gu Kang,Yune-seok CHUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-07-16.

Arrangement of bond pads on an integrated circuit chip

Номер патента: US20210167028A1. Автор: Chia-Chi Hsu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-06-03.

Architectures for backside power delivery with stacked integrated circuit devices

Номер патента: US20240213235A1. Автор: Gang Duan,Srinivas PIETAMBARAM,Suddhasattwa NAD,Brandon Marin,Jeremy ECTON. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Integrated circuit for detecting a received signal and circuit configuration

Номер патента: US6674813B2. Автор: Richard Stepp,Hans-Eberhard Kröbel. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2004-01-06.

Integrated circuit devices having contact holes exposing gate electrodes in active regions

Номер патента: US7034365B2. Автор: Myoung-kwan Cho,Jeung-Hwan Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-04-25.

Integrated circuit structures with pre-epitaxial deep via structure

Номер патента: US20230317595A1. Автор: Tahir Ghani,Leonard P. GULER,Chanaka D. Munasinghe,Sukru Yemenicioglu,Makram Abd El Qader. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Integrated circuit including at least one nano-ridge transistor

Номер патента: US20200075750A1. Автор: Robert Langer,Niamh Waldron,Bernardette Kunert. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2020-03-05.

Integrated circuit devices having contact holes exposing gate electrodes in active regions and methods of fabricating the same

Номер патента: US20060141715A1. Автор: Myoung-kwan Cho,Jeung-Hwan Park. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-29.

Sending media data via an intermediate node

Номер патента: EP2304918A1. Автор: YI Cheng,John Mattsson,Mats NÄSLUND,Karl Norrman,Rolf Blom. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2011-04-06.

Network entity for programmably arranging an intermediate node for serving communications between a source node and a target node

Номер патента: US09906382B2. Автор: Yangcheng Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Integrated circuit for remote keyless entry system

Номер патента: US09806405B2. Автор: Juergen Schnabel,Marco Schwarzmueller,Thorsten Fahlbusch. Владелец: Atmel Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Integrated circuit packaging system with support structure and method of manufacture thereof

Номер патента: US09768102B2. Автор: Koo Hong Lee,Sung Soo Kim,Dong Ju Jeon. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Capacitor structure of integrated circuit chip and method of fabricating the same

Номер патента: US09698214B1. Автор: Chi-Cherng Jeng,Chen-Chieh Chiang,Nan-Chi Lu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Power and ground routing of integrated circuit devices with improved IR drop and chip performance

Номер патента: US09698102B2. Автор: Tao Cheng,Ching-Chung Ko,Ling-Wei Ke,Tien-Yueh Liu,Peng-Cheng Kao,Ta-Hsi Chou. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Integrated circuit package having a face-to-face IC chip arrangement

Номер патента: US5438224A. Автор: Marc V. Papageorge,Frank J. Juskey,John R. Thome,Bruce J. Freyman. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1995-08-01.

Method and apparatus for inhibiting electrically induced ink build-up on flexible, integrated circuit connecting leads, for thermal ink jet printer heads

Номер патента: US6081280A. Автор: Bruce David Gibson,Mark Joseph Edwards,John Philip Bolash,Thomas Jon Eade. Владелец: Lexmark International Inc. Дата публикации: 2000-06-27.

Method of connecting an integrated circuit chip to a substrate

Номер патента: US5384952A. Автор: Koji Matsui. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1995-01-31.

Integrated circuit repair using multiple-photon absorption of laser light

Номер патента: US7041514B1. Автор: Rutger B. Vrijen. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2006-05-09.

Integrated circuit package architecture

Номер патента: US20120159779A1. Автор: William Y. Hata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-06-28.

Method for producing an integrated circuit, at least partially transforming an oxide layer into a conductive layer

Номер патента: US20040048473A1. Автор: Matthias Lehr,Wolfram Karcher,Dieter Zeiler. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2004-03-11.

Integrated circuit structures with full-wrap contact structure

Номер патента: US20230317788A1. Автор: Tahir Ghani,Charles H. Wallace,Leonard P. GULER. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Integrated circuit structures with full-wrap contact structure

Номер патента: EP4254480A1. Автор: Tahir Ghani,Charles H. Wallace,Leonard P. GULER. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Integrated circuit structures with deep via structure

Номер патента: US20230299157A1. Автор: Tahir Ghani,Charles H. Wallace,Leonard P. GULER. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Integrated circuit structures with deep via structure

Номер патента: EP4246563A1. Автор: Tahir Ghani,Charles H. Wallace,Leonard P. GULER. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Protection structure for protection from electrostatic discharge and integrated circuit

Номер патента: US20040218335A1. Автор: Nils Jensen. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2004-11-04.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20240304629A1. Автор: Toshio Hino. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Integrated circuit chip including wiring structure

Номер патента: US20220262738A1. Автор: Jangeun Lee,Wandon Kim,Hyunbae Lee,Minjoo Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-08-18.

Apparatus and method to balance the parasitic capacitances between metal tracks on an integrated circuit chip

Номер патента: US20170222615A1. Автор: Ronald R. Gobbi. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2017-08-03.

Apparatus and method to balance the parasitic capacitances between metal tracks on an integrated circuit chip

Номер патента: US09966925B2. Автор: Ronald R. Gobbi. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2018-05-08.

Integrated circuit chip cooling device

Номер патента: US09615443B2. Автор: Philippe Coronel,Stephane Monfray,Sandrine Lhostis,Christophe Maitre,Olga Kokshagina. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2017-04-04.

Power and ground routing of integrated circuit devices with improved IR drop and chip performance

Номер патента: US09379059B2. Автор: Tao Cheng,Ching-Chung Ko,Ling-Wei Ke,Tien-Yueh Liu,Peng-Cheng Kao,Ta-Hsi Chou. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2016-06-28.

Molded integrated circuit package incorporating heat sink

Номер патента: US5065281A. Автор: Scott Simpson,Jorge M. Hernandez. Владелец: Rogers Corp. Дата публикации: 1991-11-12.

Hybrid integrated circuit

Номер патента: US6340839B1. Автор: Shingo Yanagihara,Koki Hirasawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-01-22.

Multiple selectable function integrated circuit module

Номер патента: US8471389B2. Автор: Mou-Shiung Lin. Владелец: Megica Corp. Дата публикации: 2013-06-25.

Integrated circuit packaging process and structure

Номер патента: US4870476A. Автор: Russell V. Solstad. Владелец: VTC Inc. Дата публикации: 1989-09-26.

Method of manufacturing a cooling circuit on an integrated circuit chip using a sacrificial material

Номер патента: US11152281B2. Автор: Perceval Coudrain,Louis-Michel Collin,Luc Frechette,Jean-Philippe Colonna. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-10-19.

Integrated circuit packaging

Номер патента: CA2092371C. Автор: Boris L. Livshits,Kevin E. Harpell. Владелец: Northern Telecom Ltd. Дата публикации: 1999-06-29.

Integrated circuit packaging process

Номер патента: US4689875A. Автор: Russell V. Solstad. Владелец: VTC Inc. Дата публикации: 1987-09-01.

Differential pair geometry for integrated circuit chip packages

Номер патента: US6054758A. Автор: Michael A. Lamson. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2000-04-25.

Circuits for and methods of controlling power within an integrated circuit

Номер патента: US20160118988A1. Автор: Steven P. Young,Brian C. Gaide,Santosh Kumar Sood. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2016-04-28.

Copper structures with intermetallic coating for integrated circuit chips

Номер патента: US20170330853A1. Автор: Hunt Hang Jiang. Владелец: Monolithic Power Systems Inc. Дата публикации: 2017-11-16.

Reducing susceptibility of integrated circuits and sensors to radio frequency interference

Номер патента: WO2020161080A1. Автор: Christian Stockreiter,Richard Jennings,Benjamin Joseph Sheahan SHEAHAN,Robert Allen Helmick,Marko MAGERL. Владелец: ams International AG. Дата публикации: 2020-08-13.

Integrated circuit chip with high area utilization rate

Номер патента: US7078930B2. Автор: Chia-Nan Hong,Tin-Hao Lin. Владелец: Faraday Technology Corp. Дата публикации: 2006-07-18.

Circuits for and methods of controlling power within an integrated circuit

Номер патента: EP3213413A1. Автор: Steven P. Young,Brian C. Gaide,Santosh Kumar Sood. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2017-09-06.

Circuits for and methods of controlling power within an integrated circuit

Номер патента: WO2016069154A1. Автор: Steven P. Young,Brian C. Gaide,Santosh Kumar Sood. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2016-05-06.

Reduction in susceptibility of analog integrated circuits and sensors to radio frequency interference

Номер патента: US11887937B2. Автор: Benjamin Joseph Sheahan,Christian Stockreiter,Richard Jennings,Robert Allen Helmick,Marko MAGERL. Владелец: ams International AG. Дата публикации: 2024-01-30.

Integrated circuit package with leadframe enhancement and method of manufacturing the same

Номер патента: US20050051876A1. Автор: Francis Poh,Rodel Manalac,Hien Tan,Jaime Slat,Roland Cordero. Владелец: United Test and Assembly Center Ltd. Дата публикации: 2005-03-10.

Integrated Circuit Chip With High Area Utilization Rate

Номер патента: US20060071685A1. Автор: Chia-Nan Hong,Tin-Hao Lin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-06.

A high density integrated circuit assembly combining leadframe leads with conductive traces

Номер патента: WO1996008841A1. Автор: Shahram Mostafazadeh,Satya Chillara. Владелец: National Semiconductor Corporation. Дата публикации: 1996-03-21.

Method of manufacturing a redistribution layer, redistribution layer, integrated circuit and method for electrically testing the integrated circuit

Номер патента: US20220384371A1. Автор: Paolo Colpani,Samuele Sciarrillo. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2022-12-01.

Handover for an intermediate node in a wireless communication network

Номер патента: EP2769487A1. Автор: Henrik Asplund,Andreas Nilsson,Fredrik Gunnarsson,Mikael Coldrey. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2014-08-27.

Handover for an intermediate node in a wireless communication network

Номер патента: WO2013056854A1. Автор: Henrik Asplund,Andreas Nilsson,Fredrik Gunnarsson,Mikael Coldrey. Владелец: TELEFONAKTIEBOLAGET L M ERICSSON (PUBL). Дата публикации: 2013-04-25.

Handover for An Intermediate Node In a Wireless Communication Network

Номер патента: MY166909A. Автор: Henrik Asplund,Andreas Nilsson,Fredrik Gunnarsson,Mikael Coldrey. Владелец: Ericsson Telefon Ab L M. Дата публикации: 2018-07-24.

Integrated Circuit with Interpolation to Avoid Harmonic Interference

Номер патента: US20110022875A1. Автор: Ahmadreza (Reza) Rofougaran,Arya Reza Behzad,Mark Gonikberg. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Integrated circuit with interpolation to avoid harmonic interference

Номер патента: US8266468B2. Автор: Ahmadreza (Reza) Rofougaran,Arya Reza Behzad,Mark Gonikberg. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2012-09-11.

Hybrid Architecture for DC-DC Conversion

Номер патента: US20230026364A1. Автор: Santosh Kulkarni. Владелец: Dialog Semiconductor UK Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Alignment of integrated circuit chip stack

Номер патента: US20150024549A1. Автор: Daniel C. Edelstein,Qinghuang Lin,Sri M. Sri-Jayantha,Vijayeshwar D. Khanna,Roy R. Yu,Evan G. Colgan,Robert L. Wisnieff,Peter J. Sorce,Steven A. Cordes,Kenneth Latzko. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-01-22.

Integrated circuit and method for operating the integrated circuit

Номер патента: US20030132792A1. Автор: CHRISTIAN Weis,Stefan Dietrich,Peter Schrögmeier,Pramod Acharya. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2003-07-17.

Integrated circuit structure with back-side contact selectivity

Номер патента: US20240313096A1. Автор: Mauro J. Kobrinsky,Ehren Mannebach,Shaun MILLS,Joseph D’SILVA. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Integrated circuit structure with backside gate connection

Номер патента: US20240332077A1. Автор: Mauro J. Kobrinsky,Ehren Mannebach,Shaun MILLS. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Integrated circuit structure with backside gate connection

Номер патента: EP4439673A1. Автор: Mauro J. Kobrinsky,Ehren Mannebach,Shaun MILLS. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Dns-based multi-environment testing access method and device

Номер патента: CA3138734C. Автор: Quanzhong Wang. Владелец: 10353744 Canada Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Integrated circuit structure with backside contact widening

Номер патента: EP4443515A1. Автор: Mauro J. Kobrinsky,Joseph D'silva,Ehren Mannebach,Shaun MILLS,Makram ADB EI QADER. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-09.

Integrated circuit structure with backside contact widening

Номер патента: US20240332172A1. Автор: Mauro J. Kobrinsky,Ehren Mannebach,Shaun MILLS,Makram Abd El Qader,Joseph D’SILVA. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Integrated circuit structure with backside source or drain contact selectivity

Номер патента: US20240332377A1. Автор: Mauro J. Kobrinsky,Ehren Mannebach,Shaun MILLS. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Socket for integrated circuit component

Номер патента: WO1986003647A1. Автор: Timothy Brian Billman,James Ray Coller,Gary Ray Marpoe, Jr.. Владелец: Amp Incorporated. Дата публикации: 1986-06-19.

Dns-based multi-environment testing access method and device

Номер патента: CA3138734A1. Автор: Quanzhong Wang. Владелец: 10353744 Canada Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

Integrated circuit chip assembled on an interposer

Номер патента: US09780015B2. Автор: Pierre Bar,Olga Kokshagina,Alisee Taluy. Владелец: STMicroelectronics Crolles 2 SAS. Дата публикации: 2017-10-03.

Method and system for intermediate node quality of service negotiations

Номер патента: US09420494B2. Автор: Walter Featherstone,Zheng-Xiang Wang. Владелец: Google Technology Holdings LLC. Дата публикации: 2016-08-16.

Integrated circuit chip assembled on an interposer

Номер патента: US09418954B2. Автор: Pierre Bar,Olga Kokshagina,Alisee Taluy. Владелец: STMicroelectronics Crolles 2 SAS. Дата публикации: 2016-08-16.

Integrated circuit module and method of making same

Номер патента: CA1214537A. Автор: Rollin W. Mettler, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 1986-11-25.

Rf test access for testing antenna in mobile communication device

Номер патента: CA2572175C. Автор: John A. Holmes,Yihong Qi. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2011-09-13.

Compressive bump-and-socket interconnection scheme for integrated circuits

Номер патента: US5329423A. Автор: Kenneth D. Scholz. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1994-07-12.

Remote test access system for ISDN testing

Номер патента: US5027343A. Автор: Wing-Man Chan,Quoc H. Tu,Vithit Chungphaisan. Владелец: Northern Telecom Ltd. Дата публикации: 1991-06-25.

Integrated circuit chip to substrate interconnection

Номер патента: US6163463A. Автор: Robert C. Marrs. Владелец: Amkor Technology Inc. Дата публикации: 2000-12-19.

Power control chip with circuitry that isolates switching elements and bond wires for testing

Номер патента: US5793126A. Автор: Richard L. Gray. Владелец: Elantec Inc. Дата публикации: 1998-08-11.

Integrated circuit design for a personal use wireless communication system utilizing reflection

Номер патента: US5751820A. Автор: Jon C. Taenzer. Владелец: GN Hearing Care Corp. Дата публикации: 1998-05-12.

Semiconductor integrated circuit device with electric power generation function

Номер патента: CA3131377A1. Автор: Hiroshi Goto,Minoru Sakata. Владелец: GCE Institute Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Method and apparatus for measuring packet loss rate via deep packet inspection at an intermediate node in a communication network

Номер патента: WO2021163101A1. Автор: Mehmet Yavuz,Preethi NATARAJAN,Phaneendra Mettu. Владелец: Celona, Inc.. Дата публикации: 2021-08-19.

Remote test access system for isdn testing

Номер патента: CA1335832C. Автор: Wing-Man Chan,Vithit Chungphaisan,Quoc Hung Tu. Владелец: Northern Telecom Ltd. Дата публикации: 1995-06-06.

Module for packaging semiconductor integrated circuit chips on a base substrate

Номер патента: US4866507A. Автор: Perwaiz Nihal,Arthur R. Zingher,Burhan Ozmat,Scott L. Jacobs,Henri D. Schnurmann. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1989-09-12.

Fabrication of integrated circuits incorporating in-process avoidance of circuit-killer particles

Номер патента: US4849804A. Автор: James M. Mader. Владелец: HARRIS CORP. Дата публикации: 1989-07-18.

Integrated circuit chip repair tool

Номер патента: US3735911A. Автор: W C Ward. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1973-05-29.

Destructor integrated circuit chip, interposer electronic device and methods

Номер патента: US7880248B1. Автор: David E. Chubin,Cuong V. Pham,Colleen L. Khalifa. Владелец: Teledyne Technologies Inc. Дата публикации: 2011-02-01.

Electrostatic discharge protected integrated circuit module

Номер патента: CA1186418A. Автор: Allen J. Wright. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1985-04-30.

Integrated circuit chip with a vertical connector

Номер патента: US11854947B2. Автор: Steven Kummerl,Abram M. Castro. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Integrated circuit, chip and electronic device

Номер патента: EP4297086A1. Автор: Yi Zhang,Qiang Wang,Lei Wu,Jianfeng Wu,Binbin Zhang,Yawen ZHANG,Tingzhao Li,Hsianghui CHANG,Zhaoyu Teng. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

On chip test architecture for continuous time delta sigma analog-to-digital converter

Номер патента: US11901919B2. Автор: SHARAD Gupta,Ankur Bal,Abhishek Jain. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-02-13.

Method of attaching an integrated circuit to a chip mounting receptacle in a PCB with a bolster plate

Номер патента: US20040244189A1. Автор: Joseph White. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-09.

Integrated circuit-based nano-relay

Номер патента: US20240178648A1. Автор: Wei Xi,Yang Yu,Peng Li,Xiaobo Li,Hao Yao,Xiangjun Zeng,Tiantian CAI. Владелец: Digital Grid Res Inst China Southern Pwr Grid. Дата публикации: 2024-05-30.

Thermoelectric spot coolers for rf and microwave communication integrated circuits

Номер патента: WO2002049105A3. Автор: Uttam Shyamalindu Ghoshal. Владелец: Ibm Uk. Дата публикации: 2002-12-05.

Thermoelectric spot coolers for rf and microwave communication integrated circuits

Номер патента: EP1342267A2. Автор: Uttam Shyamalindu Ghoshal. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-09-10.

Integrated circuit module with devices interconnected by electromagnetic waves

Номер патента: WO1993012585A1. Автор: Sanjar Ghaem. Владелец: MOTOROLA, INC.. Дата публикации: 1993-06-24.

Output of multibit data for integrated circuits

Номер патента: EP4373214A1. Автор: Stefan Stark,Fabio Romano,Clemens KUCERA. Владелец: Tridonic GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-05-22.

Thermal management solutions for stacked integrated circuit devices

Номер патента: WO2019240898A1. Автор: Feras Eid,Adel Elsherbini,Johanna Swan. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2019-12-19.

Integrated optical detector directly attached to readout integrated circuit

Номер патента: WO2004038964A3. Автор: Imran Sherazi,Stephen J Kovacic. Владелец: Stephen J Kovacic. Дата публикации: 2004-07-29.

Integrated circuit device with stacked interface chiplets

Номер патента: EP4407679A2. Автор: Wolfgang Sauter,Aatreya CHAKRAVARTI,Mark William KUEMERLE,Carlos MACIAN RUIZ,Jr. John Edward GREGORY,Eva Shah HOLMES,Samer Michael AKIKI. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

An integrated channel filter and method of operation

Номер патента: WO2005046055A1. Автор: Nathan R. Belk. Владелец: Microtune (Texas), L.P.. Дата публикации: 2005-05-19.

System and method using self-assembled nano structures in the design and fabrication of an integrated circuit micro-cooler

Номер патента: EP1658634A2. Автор: Carlos Dangelo. Владелец: Nanoconduction Inc. Дата публикации: 2006-05-24.

Circuit board and circuit module

Номер патента: US9118105B2. Автор: Noboru Kato,Jun Sasaki. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-25.

An integrated circuit micro-cooler using self-assembled nano structures

Номер патента: WO2005041256A3. Автор: Carlos Dangelo. Владелец: Nanoconduction Inc. Дата публикации: 2006-04-13.

Integrated circuit device with stacked interface chiplets

Номер патента: US20240258272A1. Автор: Wolfgang Sauter,Aatreya CHAKRAVARTI,Mark William KUEMERLE,Carlos MACIAN RUIZ,Eva Shah HOLMES,Samer Michael AKIKI,John Edward Gregory, JR.. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Reclaiming usable integrated circuit chip area near through-silicon vias

Номер патента: EP2524392A1. Автор: Victor Moroz. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2012-11-21.

Reclaiming usable integrated circuit chip area near through-silicon vias

Номер патента: WO2011087991A1. Автор: Victor Moroz. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2011-07-21.

Reclaiming usable integrated circuit chip area near through-silicon vias

Номер патента: US20110169140A1. Автор: Victor Moroz. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2011-07-14.

Package structure of an integrated circuit

Номер патента: US20020096747A1. Автор: Kuang Fan,Yung Chiu,Fu Huang,C. Chen,Mon Ho,C. Cheng,Nai Yeh. Владелец: Kingpak Technology Inc. Дата публикации: 2002-07-25.

Integrated circuit device and audio system

Номер патента: US8050423B2. Автор: Akira Yamauchi,Hiroyuki Tsurumi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-11-01.

Method and system for stacking integrated circuits

Номер патента: WO2005117117A1. Автор: Ronald J. Jensen,Richard K. Spielberger. Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2005-12-08.

Integrated circuit chip package that does not utilize a leadframe

Номер патента: US20230245992A1. Автор: Jing-en Luan. Владелец: STMICROELECTRONICS PTE LTD. Дата публикации: 2023-08-03.

Integrated circuit device and audio system

Номер патента: US20090010454A1. Автор: Akira Yamauchi,Hiroyuki Tsurumi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2009-01-08.

Thermal management solutions that reduce inductive coupling between stacked integrated circuit devices

Номер патента: WO2020018219A1. Автор: Feras Eid,Adel Elsherbini,Johanna Swan. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2020-01-23.

Integrated circuit structures having self-aligned uniform grid metal gate and trench contact plug for tub gates

Номер патента: US20240312986A1. Автор: Nikhil Mehta,Anand S. Murthy,Leonard P. GULER,Sudipto NASKAR,Dan S. Lavric,Shao Ming Koh. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and system for stacking integrated circuits

Номер патента: EP1756867A1. Автор: Ronald J. Jensen,Richard K. Spielberger. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2007-02-28.

Integrated circuit structures having self-aligned uniform grid metal gate and trench contact plug for tub gates

Номер патента: EP4432339A1. Автор: Nikhil Mehta,Anand S. Murthy,Leonard P. GULER,Sudipto NASKAR,Dan S. Lavric,Shao Ming Koh. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-09-18.

Integrated circuit stack

Номер патента: US09947609B2. Автор: James Hobbs,Kenneth H. Heffner,James L. Tucker,Gary Roosevelt. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Integrated circuit package assembly

Номер патента: US09786635B2. Автор: Hsien-Wei Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

PLL-VCO based integrated circuit aging monitor

Номер патента: US09432031B2. Автор: Yuejun Zhang,Pengjun WANG,Zhidi JIANG,Xuelong Zhang. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2016-08-30.

Means including a spark gap for protecting an integrated circuit from electrical discharge

Номер патента: US3676742A. Автор: Lewis K Russell,James L Banks. Владелец: Signetics Corp. Дата публикации: 1972-07-11.

Integrated circuit package

Номер патента: CA1069220A. Автор: Dimitry G. Grabbe. Владелец: Amp Incorporated. Дата публикации: 1980-01-01.

Integrated digital circuit and a method of manufacturing a digital filter arrangement as an integrated circuit

Номер патента: CA1218423A. Автор: Peter Draheim. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1987-02-24.

A circuit for and method of minimizing power consumption in an integrated circuit device

Номер патента: CA2713142C. Автор: Shankar Lakkapragada,Scott Te-Sheng Lien,Tetse Jang,Iv Jesse H. Jenkins,Mark Men Bon Ng. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2014-05-06.

Compact adapter package providing peripheral to area translation for an integrated circuit chip

Номер патента: US5379191A. Автор: David H. Carey,Barry H. Whalen. Владелец: Microelectronics and Computer Technology Corp. Дата публикации: 1995-01-03.

Metallic testing access for connectors of digital client x-lines

Номер патента: RU2291584C2. Автор: Хуан Томас АРИАС. Владелец: Тайко Электроникс Рейкем, С.А.. Дата публикации: 2007-01-10.

Integrated circuit package

Номер патента: GB1524776A. Автор: . Владелец: AMP Inc. Дата публикации: 1978-09-13.

Programmable device for integrated circuits

Номер патента: US5151611A. Автор: Scott R. Rippey. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1992-09-29.

Vacuum chuck tool for a making a plastic-package ball-grid array integrated circuit, and combination

Номер патента: US5753070A. Автор: Sanjay Dandia. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 1998-05-19.

Integrated circuit chip carrier

Номер патента: US4448306A. Автор: Anthony J. Cook,F. Nihal Sinnadurai,Keith W. Gurnett. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 1984-05-15.

Fabrication and structures of circuit modules with flexible interconnect layers

Номер патента: US5527741A. Автор: Raymond A. Fillion,Bernard Gorowitz,Robert J. Wojnarowski,Herbert S. Cole,Ronald F. Kolc. Владелец: Martin Marietta Corp. Дата публикации: 1996-06-18.

MOS Transistor type integrated circuit for the execution of logical operations on a plurality of data signals

Номер патента: US4453096A. Автор: Claude J. P. F. Le Can,Karel Hart. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1984-06-05.

Network interface device test access with cross-connect feature

Номер патента: US6149458A. Автор: Bassel Hage Daoud. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2000-11-21.

Hermetically sealed ceramic integrated circuit heat dissipating package fabrication method

Номер патента: US5702985A. Автор: Carmen D. Burns. Владелец: Staktek Corp. Дата публикации: 1997-12-30.

Method for bonding integrated circuit chips

Номер патента: CA1290676C. Автор: William Frank Graham,Mel Augustine Lofurno,Byron Christos Sakiadis. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 1991-10-15.

Method of fabricating integrated circuits, providing improved so-called 'saw bow' conductive tracks

Номер патента: WO2002009153A2. Автор: Josef Preishuber-Pfluegl,Ewald Bergler,Reinhard Fetzer,Klepzig Haiko. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-01-31.

Integrated circuit image sensor cell with skimming gate implemented using a vertical gate transistor structure

Номер патента: US20190181180A1. Автор: Francois Roy. Владелец: STMicroelectronics Crolles 2 SAS. Дата публикации: 2019-06-13.

Integrated circuits with embedded layers

Номер патента: GB2621528A. Автор: PATTEN David,KHENKIN Aleksey. Владелец: Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2024-02-14.

Integrated circuit chip and configuration adjustment method for the same

Номер патента: US20200312809A1. Автор: Chung-Chang Lin,Ching-Kuang Wang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2020-10-01.

Integrated circuit chip and configuration adjustment method for the same

Номер патента: US11133280B2. Автор: Chung-Chang Lin,Ching-Kuang Wang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-09-28.

Method for manufacturing a printed circuit board that mounts an integrated circuit device thereon and the printed circuit board

Номер патента: US20080128159A1. Автор: Koji Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2008-06-05.

Isolation of circuit elements using front side deep trench etch

Номер патента: US20210083047A1. Автор: Rajarshi Mukhopadhyay,Dan Carothers,Ricky Jackson,Ben Cook. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2021-03-18.

Integrated circuit structures having germanium-based channels

Номер патента: US20240145549A1. Автор: Tahir Ghani,Jack T. Kavalieros,Anand Murthy,Siddharth Chouksey,Seung Hoon Sung,Ashish Agrawal,Harold Kennel,Glenn Glass. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Power supply integrated circuit for piezoelectric inkjet head

Номер патента: US20120092399A1. Автор: Shih-Chang Chen,Shih-Che Chiu,Tsung-Pat Chou. Владелец: Microjet Technology Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Electronic device comprising an integrated circuit and a capacitance element

Номер патента: WO2006011068A1. Автор: Joop Van Lammeren. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2006-02-02.

An integrated cmos dc-dc converter implementation in low-voltage cmos technology using ldo regulator

Номер патента: WO2009014826A1. Автор: Frank Carr,Hassan Elwan,Ahmed A. Emira. Владелец: NEWPORT MEDIA, INC.. Дата публикации: 2009-01-29.

Method of fabricating integrated circuits, providing improved so-called "saw bow" conductive tracks

Номер патента: EP1360724A2. Автор: Josef Preishuber-Pfluegl,Ewald Bergler,Reinhard Fetzer,Klepzig Haiko. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2003-11-12.

Method of fabricating integrated circuits, providing improved so-called saw bows

Номер патента: US20020016033A1. Автор: Josef Preishuber-Pfluegl,Ewald Bergler,Reinhard Fetzer,Haiko Klepzig. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-02-07.

Method of fabricating integrated circuits, providing improved so-called 'saw bow' conductive tracks

Номер патента: WO2002009153A3. Автор: Josef Preishuber-Pfluegl,Ewald Bergler,Reinhard Fetzer,Klepzig Haiko. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2003-09-04.

Substrates and integrated circuit chip with improved pattern

Номер патента: US20160133587A1. Автор: Sang Young Lee,Ki Chul An,Gyeong Sik MUN. Владелец: Silicon Works Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-12.

Integrated circuit chip

Номер патента: US7138702B2. Автор: Sheng-Yow Chen. Владелец: Airoha Technology Corp. Дата публикации: 2006-11-21.

Process for precision placement of integrated circuit overcoat material

Номер патента: WO2008021860A3. Автор: Rex W Pirkle,Sean M Malolepszy. Владелец: Sean M Malolepszy. Дата публикации: 2008-10-23.

Process for precision placement of integrated circuit overcoat material

Номер патента: WO2008021860A2. Автор: Rex W. Pirkle,Sean M. Malolepszy. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2008-02-21.

Method for manufacturing a printed circuit board that mounts an integrated circuit device thereon and the printed circuit board

Номер патента: US20050133256A1. Автор: Koji Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2005-06-23.

Номер патента: RU2685082C1. Автор: Михаил Александрович Тарасов,Артем Михайлович Чекушкин,Ренат Альбертович Юсупов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. Дата публикации: 2019-04-16.

Номер патента: RU2659304C1. Автор: Евгений Матвеевич Савченко,Владимир Алексеевич Сидоров,Михаил Сергеевич Попов,Михаил Миронович Крымко,Андрей Анатольевич Пронин,Вадим Владимирович Груздов,Александр Дмитриевич Першин. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации. Дата публикации: 2018-06-29.

REPRODUCER, INTEGRATED CIRCUIT, REPRODUCTION METHOD, APPLICATION PROGRAM, RECORDING MEDIUM, RECORDER, AND RECORDING METHOD

Номер патента: US20120002949A1. Автор: Sasaki Taiji,Matsuura Yasuyuki,Kiyosawa Yuta,Matsumoto Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.