Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Anisotropic conductivity connector, conductive paste composition, probe member, wafer inspecting device, and wafer inspecting method

Anisotropic conductivity connector, conductive paste composition, probe member, wafer inspecting device, and wafer inspecting method

Номер патента: AU2003254853A1
Опубликовано: 25-02-2004
Автор(ы): Ryoji Setaka
Принадлежит: JSR Corp

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Anisotropic conductivity connector, conductive paste composition, probe member, wafer inspecting device, and wafer inspecting method

Номер патента: EP1553622A4. Автор: Takeo Hara,Terukazu Kokubo,Koji Seno,Ryoji Setaka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-05-24.

Semiconductor device and methods of manufacture

Номер патента: US20240113056A1. Автор: Chen-Hua Yu,Hsing-Kuo Hsia,Chih-Wei Tseng,Jui Lin Chao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Anisotropic conductive film and display device including same

Номер патента: US20230290751A1. Автор: Joo Nyung Jang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US12038389B2. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20220236198A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20240319109A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20210033541A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Semiconductor device and its manufacturing method and inspection method

Номер патента: JP4610447B2. Автор: 義英 田崎. Владелец: Oki Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-12.

Solid imaging element and production method therefor, radiation imaging device and production method therefor, and inspection method for solid imaging element

Номер патента: EP2416560A4. Автор: Harumichi Mori,Ryuji Kyushima,Kazuki Fujita. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2013-06-05.

Apparatus and methods to pre-stress anisotropic conductive elastomer meterials

Номер патента: EP1396050A4. Автор: Matthew McCarthy,Everett Simons,Christopher Cornell,Roger E Weiss. Владелец: Paricon Technologies Corp. Дата публикации: 2007-11-14.

Apparatus and methods to pre-stress anisotropic conductive elastomer meterials

Номер патента: WO2002103848A3. Автор: Matthew McCarthy,Everett Simons,Christopher Cornell,Roger E Weiss. Владелец: Paricon Technologies Corp. Дата публикации: 2003-03-06.

Apparatus and methods to pre-stress anisotropic conductive elastomer meterials

Номер патента: EP1396050A2. Автор: Matthew McCarthy,Roger E. Weiss,Everett Simons,Christopher Cornell. Владелец: Paricon Technologies Corp. Дата публикации: 2004-03-10.

Method for making an anisotropic conductive coating with conductive inserts

Номер патента: US6453553B1. Автор: Patrice Caillat,Claude Massit. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 2002-09-24.

Electrical connectors using anisotropic conductive films

Номер патента: US5624268A. Автор: Akira Tateishi,Ryu Maeda,Shunsuke Tazai. Владелец: Whitaker LLC. Дата публикации: 1997-04-29.

Electronic device and manufacturing method thereof

Номер патента: US12107202B2. Автор: Yi-Wei Chen,Hsin-Hung Sung. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2024-10-01.

Anisotropic conductive film (acf) for use in testing semiconductor packages

Номер патента: US20200243405A1. Автор: Hyoung Il Kim. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-07-30.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20050082655A1. Автор: Naoto Kusumoto,Hidekazu Takahashi,Hiroki Adachi,Kazuo Nishi,Yuusuke Sugawara,Daiki Yamada,Yoshikazu Hiura. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2005-04-21.

Anisotropic conductive film and manufacturing method thereof

Номер патента: CA2522239C. Автор: Yasuhiro Okuda,Fumihiro Hayashi,Yasuhito Masuda,Tsuyoshi Haga. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2011-01-04.

Semiconductor wafer inspection apparatus and semiconductor wafer inspection method

Номер патента: US09869715B2. Автор: Akira Yamaguchi,Takashi Ishimoto,Takenori Takahashi,Yuji Shigesawa,Takashi Motoyama. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Inspection method for semiconductor substrate, manufacturing method of semiconductor device and inspection device for semiconductor substrate

Номер патента: US09753082B2. Автор: Yohei Iwahashi,Hidemi Senda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US12032013B2. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09618563B2. Автор: Tomonori Nakamura,Mitsunori Nishizawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-04-11.

Semiconductor inspection method, semiconductor inspection device and manufacturing method of semiconductor element

Номер патента: US09508611B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Hirotaka Hamamura,Hiroyuki Okino,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

Wafer inspection apparatus and wafer inspection method using the same

Номер патента: US20180061041A1. Автор: Byeong Hwan Jeon,Tae Joong Kim,Jae Chol JOO,Jun Bum Park,Tae Heung AHN,Soo Ryonng Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-01.

Semiconductor device and method of manufacture

Номер патента: US12100672B2. Автор: Chen-Hua Yu,Jiun Yi Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Semiconductor Device and Method of Manufacture

Номер патента: US20240371791A1. Автор: Chen-Hua Yu,Jiun Yi Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Wafer inspection system, wafer inspection apparatus and prober

Номер патента: US20170234924A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2017-08-17.

Wafer inspection system

Номер патента: US20210190861A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-06-24.

Wafer inspection system, wafer inspection apparatus and prober

Номер патента: US20200064400A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Test head and wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200348358A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200141977A1. Автор: Yuji Ebiike,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Wafer inspection system

Номер патента: US12117485B2. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Wafer inspection method and wafer inspection device

Номер патента: US10416229B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-09-17.

Conductive paste, wiring substrate, light-emitting device,and manufacturing method thereof

Номер патента: US20230420269A1. Автор: Masaaki Katsumata,Atsushi Hosokawa,Eiko Minato. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Conductive paste and method for producing ceramic substrate using the same

Номер патента: US6080335A. Автор: Yoshiki Nakagawa,Kazuhito Ohshita. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2000-06-27.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US20150115991A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US9671459B2. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200168481A1. Автор: Shuji Akiyama,Hiroki Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

Semiconductor structure employing conductive paste on lead frame

Номер патента: US20210305143A1. Автор: Chih-Yen Chen,Francois Hebert,Hsin-Chang Tsai,Chun-Yi Wu,Chia-Ching HUANG,Chih-Jen Hsiao,Wei-Chan Chang. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

Probe member for pogo pin

Номер патента: US09726693B2. Автор: Jae-hak Lee. Владелец: ISC Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Semiconductor device and method of forming the same

Номер патента: US20240021491A1. Автор: Tsung-Fu Tsai,Chen-Hsuan Tsai,Hung-Chih Chen,Chin-Chuan Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Sn—Bi and copper powder conductive paste in through hole of insulating substrate

Номер патента: US11864317B2. Автор: Yosuke Noda,Masaaki Katsumata,Koji Taguchi,Norifumi Sasaoka. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Semiconductor Device and Method

Номер патента: US20190393189A1. Автор: Chen-Hua Yu,Chun Hui Yu,Kuo-Chung Yee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-12-26.

Wafer inspection device

Номер патента: US20070040241A1. Автор: Guenter Schmidt,Albert Kreh,Michael Halama. Владелец: VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH. Дата публикации: 2007-02-22.

Wafer inspection system

Номер патента: US20240019487A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Electrically conductive paste for forming pillars

Номер патента: US20210229172A1. Автор: Yoshiyuki Sano,Makoto Yada,Nobuhiro Sekine,Ryota Yamaguchi. Владелец: DIC Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Semiconductor Devices and Methods of Manufacturing

Номер патента: US20230387100A1. Автор: Shin-puu Jeng,Po-Yao Chuang,Chang-Yi Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Wafer inspection interface and wafer inspection apparatus

Номер патента: US20130147506A1. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2013-06-13.

Wafer inspection interface and wafer inspection apparatus

Номер патента: US09689894B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Assembly formed from conductive paste and insulating paste

Номер патента: US5496619A. Автор: Seiichi Nakatani,Yoshihiro Bessho,Kazuyuki Okano,Kazuhiro Miura,Minehiro Itagaki,Yasuhiko Hakotani,Satoru Yuhaku,Suzushi Kimura. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1996-03-05.

Method for manufacturing conductive pillar using conductive paste

Номер патента: US20210313197A1. Автор: Makoto Yada,Yasuhiro Sente,Ryota Yamaguchi. Владелец: DIC Corp. Дата публикации: 2021-10-07.

Inspection method for semiconductor light-emitting device and manufacturing method for semiconductor light-emitting device

Номер патента: US20140210995A1. Автор: Masatoshi Abe. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2014-07-31.

Device and method for inspection

Номер патента: US20020163342A1. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-07.

Semiconductor integrated circuit device and inspection method for semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US11808807B2. Автор: Kazunori Nemoto,Akira Kotabe,Akeo Satoh. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2023-11-07.

Inspection device, inspection system, intelligent power module, inspection method, and computer program product

Номер патента: US20190219628A1. Автор: Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Anisotropic conductive sheet, anisotropic conductive composite sheet, anisotropic conductive sheet set, electric inspection device and electric inspection method

Номер патента: US11860193B2. Автор: Yoichi Kodama,Daisuke Yamada,Katsunori Nishiura,Taichi Koyama. Владелец: Mitsui Chemicals Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Anisotropic conductive sheet, electrical inspection device and electrical inspection method

Номер патента: US11921132B2. Автор: Daisuke Yamada,Katsunori Nishiura,Taichi Koyama. Владелец: Mitsui Chemicals Inc. Дата публикации: 2024-03-05.

Anisotropic conductive film

Номер патента: US10424538B2. Автор: Seiichiro Shinohara. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2019-09-24.

Wafer inspection method and wafer inspection apparatus

Номер патента: US20160098828A1. Автор: Hirohide Yano,Yusaku Ito,Tomoyuki Yaguchi. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

Wafer inspection method

Номер патента: US12131929B2. Автор: Myoung Hoon WOO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Wafer inspection method and wafer inspection apparatus

Номер патента: US09953407B2. Автор: Hirohide Yano,Yusaku Ito,Tomoyuki Yaguchi. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Load Port and Wafer Inspection Method Using the Same

Номер патента: US20240120222A1. Автор: Tsung-Che Yu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-11.

Packaged multichip module with conductive connectors

Номер патента: US20200020620A1. Автор: Siva Prakash Gurrum,Saumya Gandhi,Manu J. Prakuzhy. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-01-16.

Method for fabricating a semiconductor device using a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20240304501A1. Автор: Ki Hun Kim,Yong Ju Jeon,Jeong-su Ha,Jhong Kwon KIM,Da Young MYOUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Semiconductor device and method of manufacturing a semiconductor device

Номер патента: RU2678509C1. Автор: Акинори САКАКИБАРА. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2019-01-29.

Substrate inspection device and substrate inspection method using the same

Номер патента: US20240201100A1. Автор: Dongwook Lee,Sung Hune Yoo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Semiconductor device and circuit device

Номер патента: US20230291401A1. Автор: Kazuhisa Mori,Toshiyuki Hata. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Method and System for High Speed Height Control of a Substrate Surface Within a Wafer Inspection System

Номер патента: US20150055141A1. Автор: Zhongping Cai,Jingyi Xiong. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-02-26.

Wafer inspection method

Номер патента: US20220208580A1. Автор: Myoung Hoon WOO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Method of inspecting semiconductor wafer, inspection system for performing the same, and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US20200176292A1. Автор: Chihoon Lee,Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sung Yoon Ryu,Souk Kim,Joonseo Song. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-06-04.

Charged Particle Beam Device and Optical Examination Device

Номер патента: US20200161194A1. Автор: Koichi Taniguchi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2020-05-21.

LIGHT DETECTION AND RANGING (LiDAR)-BASED INSPECTION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20230108333A1. Автор: Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-06.

Full-wafer inspection methods having selectable pixel density

Номер патента: NL2017881A. Автор: LEE Byoung-ho,Bouche Eric,M Hawryluk Andrew,m owen David. Владелец: Ultratech Inc. Дата публикации: 2017-06-26.

Method and system for high speed height control of a substrate surface within a wafer inspection system

Номер патента: WO2015027110A1. Автор: Zhongping Cai,Jingyi Xiong. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-02-26.

System and method for bare wafer inspection

Номер патента: US11791127B2. Автор: Wei Fang,Joe Wang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-10-17.

Glass and wafer inspection system and a method of use thereof

Номер патента: US11987884B2. Автор: Youngjin Choi. Владелец: JNK Tech. Дата публикации: 2024-05-21.

Sensor device, force detection device, and robot

Номер патента: US20180252604A1. Автор: Hiroki Kawai,Hideo Miyasaka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-09-06.

Inspection method, method for producing composition, and method for verifying composition

Номер патента: US20230266675A1. Автор: Takashi Nakamura,Shinichi Sugiyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Display device and an inspection method of a display device

Номер патента: EP3866148A1. Автор: Kyun Ho KIM,Bong Im Park,Yong Jin SHIN,Uk Jae JANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-18.

Extending the lifetime of a Deep UV laser in a Wafer Inspection tool

Номер патента: US20110315897A1. Автор: George Kren,Anatoly Romanovsky,Bret Whiteside. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2011-12-29.

Semiconductor inspection device including a counter electrode with adjustable potentials used to obtain images for detection of defects, and inspection method using charged particle beam

Номер патента: US09846133B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-12-19.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09470640B2. Автор: Atsushi Taniguchi,Yukihiro Shibata,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

System and method for generating predictive images for wafer inspection using machine learning

Номер патента: WO2021052918A1. Автор: Scott Anderson Middlebrooks,Maxim PISARENCO,Mark John MASLOW,Marie-Claire VAN LARE,Chrysostomos BATISTAKIS. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-03-25.

Wafer inspection apparatus and system including the same

Номер патента: US11823927B2. Автор: Youngjoo Lee,Taehyun Kim,Jungchul Lee,Sangwoo Bae,Ingi KIM,Kyunghun Han,Seulgi Lee,Minhwan Seo,Myeongock Ko. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-21.

Resin sealing type semiconductor device and method of manufacturing the same, and resin sealing type electronic device

Номер патента: US20100052124A1. Автор: Takeshi Sasaki,Masahiro Shindo. Владелец: Sanyo Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-04.

Dual beam scanning x-ray generator, transmission inspection device, human perspective composite inspection system, and inspection method

Номер патента: WO2019214710A1. Автор: 吴万龙,罗希雷,曹硕,丁富华,蔡斌峰. Владелец: 同方威视技术股份有限公司. Дата публикации: 2019-11-14.

Electro-conductive paste for forming an electrode of a solar cell device, a solar cell device and method for producing the solar cell device

Номер патента: US09461188B2. Автор: Yutaka Nakayama,Masashi Nakayama,Masami Sakuraba,Nobuo Ochiai,Takashi Hinotsu,Wataru Fujimori. Владелец: Kyoto Elex Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-04.

Method of positioning an anisotropic conductive connector, method of positioning the anisotropic conductive connector and a circuit board for inspection, anisotropic conductive connector, and probe card

Номер патента: US20090015281A1. Автор: Mutsuhiko Yoshioka,Masaya Naoi,Akira Matsuura,Takashi Amemiya,Tomohisa Hoshino,Syuichi Tsukada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-01-15.

Anisotropic conductive sheet and electrical inspection method

Номер патента: US20240036102A1. Автор: Yuichi Ito,Daisuke Yamada,Katsunori Nishiura. Владелец: Mitsui Chemicals Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Display device and its pure color screen inspection method

Номер патента: KR102174624B1. Автор: 미안 젱. Владелец: 티씨엘 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드. Дата публикации: 2020-11-06.

Inspection device and manufacturing method of film-type battery

Номер патента: US20220205939A1. Автор: Satoshi Nakashima. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Multiplexing, switching and testing devices and methods using fluid pressure

Номер патента: US09805891B2. Автор: Masud Beroz. Владелец: Componentzee LLC. Дата публикации: 2017-10-31.

Inspection method for blanking device for blanking multi charged particle beams

Номер патента: US09880215B2. Автор: Hiroshi Yamashita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Inspection method for film covered battery

Номер патента: US09917337B2. Автор: Toshihiko Mankyu. Владелец: Automotive Energy Supply Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Display device connected by anisotropic conductive film

Номер патента: US09899122B2. Автор: Hyun Joo Seo. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Display device including anisotropic conductive film and method of manufacturing display device

Номер патента: US11864437B2. Автор: Joo-Nyung Jang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Preparation device and process for anisotropic conductive film (ACF) bonding structure

Номер патента: US11845251B2. Автор: Liang Zheng,ZHENG Xu,Zhengliang XU. Владелец: Jiangsu Telilan Coating Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Preparation device and process for anisotropic conductive film (ACF) bonding structure

Номер патента: US20230256723A1. Автор: Liang Zheng,ZHENG Xu,Zhengliang XU. Владелец: Jiangsu Telilan Coating Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Anisotropic conductive film, bonding structure, and display panel and preparation method thereof

Номер патента: CN105493204A. Автор: 李红,黄维,陈立强. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-13.

Electrical connecting method utilizing an anisotropic conductive film

Номер патента: US5502891A. Автор: Hideo Mori,Masanori Takahashi,Hiroshi Takabayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1996-04-02.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US20160329578A1. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-11-10.

Electron beam inspection equipment and inspection method

Номер патента: EP4403909A1. Автор: Yang Wang,Jie Zeng,Xiaoshan Shi,Guizhen Xin,Yanzhong HAO,Qitao LIU,Taotao GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US09742013B2. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Conductive paste composition, conductive film, and electrically resistant sensor

Номер патента: US20230407112A1. Автор: Hiromu Sato,Akinori Kanetani,Kazusuke Maenaka,Tokuji Yokomatsu,Kasumi MUKAIDA,Katsuyoshi Ohara,Mai Kondo. Владелец: Lion Specialty Chemicals Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Display device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20210274653A1. Автор: Jong Woo Park,Young Tae Choi,Chang Woo BYUN,Shangu KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-02.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: EP4056978A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-09-14.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US20220349770A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US12085481B2. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection device, method for producing multilayer electrode body and inspection method

Номер патента: US12117283B2. Автор: Haruhisa Yagi,Ryuta Abe,Tatsuya Masada. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Laser light source device and inspection device

Номер патента: US09991670B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Conductive paste, method for forming an interconnection and electrical device

Номер патента: US09976042B2. Автор: Alfred A. Zinn,Chee Lip Gan,Byung Hoon Lee,Mei Zhen Ng. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Conductive paste, method for forming an interconnection and electrical device

Номер патента: EP3251129A1. Автор: Alfred A. Zinn,Chee Lip Gan,Byung Hoon Lee,Mei Zhen Ng. Владелец: Lockheed Corp. Дата публикации: 2017-12-06.

Defect inspection device, defect inspection method, method for producing separator roll, and separator roll

Номер патента: US20180149602A1. Автор: Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

Material-strip feeding inspection method and apparatus for stacking machine, and stacking machine, device and medium

Номер патента: EP4407725A1. Автор: Hongyuan LI,Ya Dai,Canbin CHEN,Shiping FENG,Qiuhui ZHENG,Baiquan ZHAO. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Conductive paste, method for forming an interconnection and electrical device

Номер патента: WO2016122412A9. Автор: Alfred A. Zinn,Chee Lip Gan,Byung Hoon Lee,Mei Zhen Ng. Владелец: NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-06-29.

Conductive paste, method for forming an interconnection and electrical device

Номер патента: US20180237644A1. Автор: Alfred A. Zinn,Chee Lip Gan,Byung Hoon Lee,Mei Zhen Ng. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2018-08-23.

Conductive paste, method for forming an interconnection and electrical device

Номер патента: US20180002540A1. Автор: Alfred A. Zinn,Chee Lip Gan,Byung Hoon Lee,Mei Zhen Ng. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2018-01-04.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A3. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: US20230394643A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Inspection Equipment and Inspection Method

Номер патента: US20130187667A1. Автор: Hiroshi Kawaguchi,Minori Noguchi,Masami Makuuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-07-25.

Inspection equipment and inspection method

Номер патента: US9261475B2. Автор: Hiroshi Kawaguchi,Minori Noguchi,Masami Makuuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-02-16.

Solar cell, electronic device, and manufacturing method of solar cell

Номер патента: US09929289B2. Автор: Daisuke Nagano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Solar cell, electronic device, and manufacturing method of solar cell

Номер патента: US20160043246A1. Автор: Daisuke Nagano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-02-11.

Conductive particle, anisotropic conductive film, display device, and method for fabricating the same

Номер патента: US10866613B2. Автор: Qun Li,Xiao Guo,Huan Ni,Xiaolong Xie,Xinxia ZHANG,Fengzhen LV,Chengpeng Yao,Mingguang Li. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-15.

Conductive particle, anisotropic conductive film, display device, and method for fabricating the same

Номер патента: US20200183448A1. Автор: Qun Li,Xiao Guo,Huan Ni,Xiaolong Xie,Xinxia ZHANG,Fengzhen LV,Chengpeng Yao,Mingguang Li. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-11.

Display device using semiconductor light emitting device and method for manufacturing

Номер патента: US09865572B2. Автор: Byungjoon Rhee,Kyoungtae WI,Bongchu Shim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-01-09.

Anisotropic conductive film, method for producing anisotropic conductive film, method for producing connection body, and connection method

Номер патента: US09960139B2. Автор: Kouichi Sato,Yasushi Akutsu. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Display device and manufacturing method thereof

Номер патента: US09564483B2. Автор: Il Hun Seo,Ji Youn Lee,Byoung Ki Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Display device with improved anisotropic conductive film

Номер патента: US09997487B2. Автор: Ji Hoon Kim,Joon Sam Kim,Kyeong Yeol HEO. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Anisotropic conductive film structures

Номер патента: US09653425B2. Автор: Bo Zhang,Kuo-Hua Sung,Sang Ha Kim,Cyrus Y. LIU. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Anisotropic conductive flame and flat panel display using the same, and method for manufacturing the same

Номер патента: US20070052903A1. Автор: Yun Kim,Hee Park,Ho Kang,Jong Hyun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-03-08.

Anisotropic conductive film (ACF) including a relfective layer

Номер патента: US09871177B2. Автор: Rong-Chang Liang,Keren Zhang,Jane Sun. Владелец: Trillion Science Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

Display device and method of manufacturing the same

Номер патента: US10056438B2. Автор: Tomoki Nakamura,Mitsuhide Miyamoto. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2018-08-21.

Display device and method for bonding the same

Номер патента: US12107073B2. Автор: Zhihua Sun,Xibin Shao,Seungmin Lee,Qiujie Su,Feng Qu,Yanping Liao,Yingmeng MIAO. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Alignment method, method for connecting electronic component, method for manufacturing connection body, connection body and anisotropic conductive film

Номер патента: US20190206831A1. Автор: Yasushi Akutsu. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2019-07-04.

Anisotropic conductive film with carbon-based conductive regions and related semiconductor device assemblies and methods

Номер патента: US11881468B2. Автор: Mark E. Tuttle,Eiichi Nakano. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-01-23.

Anisotropic conductive film with carbon-based conductive regions and related semiconductor device assemblies and methods

Номер патента: US20240170435A1. Автор: Mark E. Tuttle,Eiichi Nakano. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Anisotropic conductive film and fabricating method thereof

Номер патента: US20200332155A1. Автор: Hanning YANG. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-22.

Ejection material ejecting device and imprint apparatus

Номер патента: US20200341367A1. Автор: Noriyasu Hasegawa,Masahiro Kuri. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-10-29.

Anisotropically conductive moisture barrier films and electro-optic assemblies containing the same

Номер патента: US20200192176A1. Автор: Darwin Scott Bull. Владелец: E Ink Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Repairing component including micro-led chip and production method thereof, repairing method, method for producing light emitting device, and light emitting device

Номер патента: US20230015183A1. Автор: Takeshi Nishio,Hidetsugu Namiki,Yasumasa Shin,Daiki NODA. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2023-01-19.

Anisotropic conductive film (acf) including a relfective layer

Номер патента: US20160260875A1. Автор: Rong-Chang Liang,Keren Zhang,Jane Sun. Владелец: Trillion Science Inc. Дата публикации: 2016-09-08.

Anisotropically conductive moisture barrier films and electro-optic assemblies containing the same

Номер патента: EP3899640A1. Автор: Darwin Scott Bull. Владелец: E Ink Corp. Дата публикации: 2021-10-27.

Anisotropically conductive moisture barrier films and electro-optic assemblies containing the same

Номер патента: US11782322B2. Автор: Darwin Scott Bull. Владелец: E Ink Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Anisotropic conductive film (acf) including a reflective layer

Номер патента: WO2016140941A1. Автор: Rong-Chang Liang,Keren Zhang,Jane Sun. Владелец: TRILLION SCIENCE, INC.. Дата публикации: 2016-09-09.

Wafer inspection method and grinding and polishing apparatus

Номер патента: US09616544B2. Автор: Hirohide Yano,Yusaku Ito. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

One layered composite cushion sheet for heat-pressing process of LCD drive IC package (TCP) attachment by Anisotropic Conductive Film

Номер патента: KR200466515Y1. Автор: 이만수,김영석,임진효. Владелец: ㈜선경기업. Дата публикации: 2013-04-25.

Method of manufacturing light-emitting device, light-emitting device, and projector

Номер патента: US20150280090A1. Автор: Shuichi Tanaka,Kunihiko Aoyagi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-10-01.

Wafer processing method and wafer processing system

Номер патента: US20130261784A1. Автор: Seiji Fujioka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

Display device and method for manufacturing the same

Номер патента: GB2625176A. Автор: LEE Mingyu,LIM Changtaek,YOON HyunWoo. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Method of manufacturing a light-emitting device by sintering conductive pastes

Номер патента: US9450161B2. Автор: Shuichi Tanaka,Kunihiko Aoyagi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Generating a Wafer Inspection Process Using Bit Failures and Virtual Inspection

Номер патента: US20160163606A1. Автор: George Simon,Poh Boon YONG,Yuezhong DU. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-06-09.

Optical Mode Optimization for Wafer Inspection

Номер патента: US20230367951A1. Автор: Bing-Siang Chao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Optical mode optimization for wafer inspection

Номер патента: US11748551B2. Автор: Bing-Siang Chao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Foreign Matter or Abnormal Unsmoothness Inspection Apparatus and Foreign Matter or Abnormal Unsmoothness Inspection Method

Номер патента: US20100038531A1. Автор: Hideto Yokoi,Kazuhiro Jindai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-02-18.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Display device, method for manufacturing display device, and printed wiring board

Номер патента: US11762436B2. Автор: Mitsuhiro Sugimoto,Hitoshi Tomizawa,Hiroaki Nakaminami,Yohichiroh Sakaki,Atsuji Okada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Anisotropic conductive film, display panel, and manufacturing method thereof

Номер патента: US20210340333A1. Автор: Yuan Mei,Jincheng Li,Haoxu WU. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Display device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20200194906A1. Автор: Byoung Yong Kim,Dae Hyuk Im. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-18.

Anisotropic conductive film and method for manufacturing the same

Номер патента: US09520206B2. Автор: Jung Hyun Lee,Soo Young Ji. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Anisotropic conductive adhesive bond in a piezoelectric micro-electro-mechanical system scanning mirror system

Номер патента: EP3969956A1. Автор: Joseph Michael Luizzi,Michael James Nystrom. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2022-03-23.

Anisotropic conductive adhesive bond in a piezoelectric micro-electro-mechanical system scanning mirror system

Номер патента: US20200363631A1. Автор: Joseph Michael Luizzi,Michael James Nystrom. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2020-11-19.

Conductive paste and method of producing conductive pattern

Номер патента: US09846362B2. Автор: Takuya Nakayama,Kazutaka Kusano,Tsukuru Mizuguchi. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2017-12-19.

Method of forming antenna for radio frequency identification medium employing conductive paste, and method for mounting ic chip onto circuit on substrate

Номер патента: CA2628782A1. Автор: Yasuhiro Endo,Toru Maruyama,Kazunari Kodama,Yasuo Kagami. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-03-30.

Method of forming antenna for radio frequency identification medium employing conductive paste, and method for mounting ic chip onto circuit on substrate

Номер патента: CA2628782C. Автор: Yasuhiro Endo,Toru Maruyama,Kazunari Kodama,Yasuo Kagami. Владелец: Toppan Forms Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-01.

Photosensitive conductive paste for electrode formation and electrode

Номер патента: EP2042007A2. Автор: Atsuhiko Sato. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2009-04-01.

Photosensitive conductive paste, laminated electronic component, and method of manufacturing laminated electronic component

Номер патента: US20210327606A1. Автор: Takashi Suzuki,Masaki Takahashi,Akira Suda,Hidenobu Umeda,Yuya ISHIMA. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2021-10-21.

Electro-Conductive Paste for Forming an Electrode of a Solar Cell Device, a Solar Cell Device and Method for Producing the Solar Cell Device

Номер патента: US20150020880A1. Автор: Nakayama Masashi,Ochiai Nobuo,Hinotsu Takashi,Nakayama Yutaka,Sakuraba Masami,Fujimori Wataru. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

Anisotropic conductive adhesive and method for preparation thereof and an electronic apparatus using said adhesive

Номер патента: US6039896A. Автор: Tetsuya Miyamoto,Masakazu Kawata. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2000-03-21.

Conductive paste, three-dimensional printed circuit, touch sensor, and methods respectively for producing those products

Номер патента: EP3675139A1. Автор: Keiko Taga. Владелец: Toyobo Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-01.

Inspection method, terminal device, and computer readable storage medium

Номер патента: EP4432222A1. Автор: Ping Jiang,Lin Ma,Zhipeng Zhang,Gaofeng Lu,Ziyang SHEN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Photosensitive paste composition, barrier ribs prepared using the composition and plasma display panel comprising the barrier ribs

Номер патента: US20090186187A1. Автор: Jong-Seo Choi,Kwi-Seok Choi,Dong-Hyun Kang,Beom-Wook Lee,Myung-Duk Lim. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-23.

Anisotropic conductive material, electronic device including anisotropic conductive material, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: US09831211B2. Автор: Wonsuk Chang,Kunmo Chu,Chanmoon Chung. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2017-11-28.

Anisotropic conductive film

Номер патента: US20190319003A1. Автор: Takeshi Miyake,Reiji Tsukao,Tatsurou Fukaya. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2019-10-17.

Anisotropic conductive film and connection structure

Номер патента: US09953947B2. Автор: Reiji Tsukao. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Anisotropic conductive film

Номер патента: US20190304943A1. Автор: Kenichi Hirayama,Reiji Tsukao,Koji Ejima. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Method for manufacturing anisotropic conductive film, and anisotropic conductive film

Номер патента: US12014840B2. Автор: Junichi Nishimura. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Anisotropic conductive film

Номер патента: US11794444B2. Автор: Yasushi Akutsu,Reiji Tsukao. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Anisotropic conductive film and manufacturing method thereof

Номер патента: US20190067234A1. Автор: Yasushi Akutsu,Kenichi SARUYAMA. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Stack package using anisotropic conductive film (ACF) and method of making same

Номер патента: US20080026507A1. Автор: Sang-Young Kim,Gil-Beag Kim,Yong-Jin Jung,Jun-Soo Han,Hyun-Ik Hwang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-01-31.

Stack package using anisotropic conductive film (ACF) and method of making same

Номер патента: US7405105B2. Автор: Sang-Young Kim,Gil-Beag Kim,Yong-Jin Jung,Jun-Soo Han,Hyun-Ik Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-07-29.

Joined structure, method for producing the same, and anisotropic conductive film used for the same

Номер патента: US20100085720A1. Автор: Toshiyuki Shudo. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2010-04-08.

Anisotropic conductive film, connection structure and method of producing the same

Номер патента: US09515042B2. Автор: Kouichi Sato,Yasushi Akutsu,Shigeyuki Yoshizawa. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Semiconductor packages including passive devices and methods of forming same

Номер патента: US11848305B2. Автор: Shin-puu Jeng,Shuo-Mao Chen,Po-Yao Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Semiconductor packages including passive devices and methods of forming same

Номер патента: US20240063182A1. Автор: Shin-puu Jeng,Shuo-Mao Chen,Po-Yao Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230253269A1. Автор: Yutaka OOTAKI. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Conductive adhesive layer for semiconductor devices and packages

Номер патента: WO2018125451A1. Автор: Mohit Gupta,Ziv BELMAN,Baruch Schiffmann,Ron Wittenberg,Arnon Hirshberg,Suriyakala Ramalingam,Anna M. Prakash,Boxi LIU,Taylor GAINES,Vladimir MALAMUD. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2018-07-05.

The use of noble metals in the formation of conductive connectors

Номер патента: EP4297084A3. Автор: Ramanan Chebiam,James Clarke,Daniel Bergstrom,Christopher Jezewski,Srijit Mukherjee,Flavio Griggio,Tejaswi Indukuri. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-03-20.

Conductive adhesive layer for semiconductor devices and packages

Номер патента: US20180342463A1. Автор: Mohit Gupta,Ziv BELMAN,Baruch Schiffmann,Ron Wittenberg,Arnon Hirshberg,Suriyakala Ramalingam,Anna M. Prakash,Boxi LIU,Taylor GAINES,Vladimir MALAMUD. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Semiconductor Device and Method of Forming SIP Module Absent Substrate

Номер патента: US20230352316A1. Автор: Kicheol Lee,JiSik MOON,Jieun KWON,BoLee LIM. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

The use of noble metals in the formation of conductive connectors

Номер патента: EP4297084A2. Автор: Ramanan Chebiam,James Clarke,Daniel Bergstrom,Christopher Jezewski,Srijit Mukherjee,Flavio Griggio,Tejaswi Indukuri. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-12-27.

Anisotropic conductive material, connected structure, and production method thereof

Номер патента: US20100103630A1. Автор: Yoshito Tanaka,Jun Yamamoto. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2010-04-29.

Anisotropic conductive material, connected structure, and production method thereof

Номер патента: US8148641B2. Автор: Yoshito Tanaka,Jun Yamamoto. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2012-04-03.

Anisotropic conductive adhesive film and electronic device

Номер патента: US09796884B2. Автор: Wei He,Xinghua Li,Seung Yik Park,Junping Bao. Владелец: Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Anisotropic conductive film and production method of the same

Номер патента: US20170140850A1. Автор: Kumiko Kitamura. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2017-05-18.

Anisotropic conductive adhesive

Номер патента: US09670385B2. Автор: Masaharu Aoki,Akira Ishigami,Shiyuki Kanisawa,Hidetsugu Namiki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Semiconductor device using composition for anisotropic conductive adhesive film or anisotropic conductive adhesive film

Номер патента: US09589696B2. Автор: Jae Sun Han,Hyun Hee Namkung,Dong Seon Uh,Hyun Wook Kim,Jin Young SEO,Kwang Jin Jung. Владелец: Cheil Industries Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Anisotropic conductive film and semiconductor device bonded by the same

Номер патента: US09540549B2. Автор: Young Woo Park,Kyoung Soo Park,Dong Seon Uh,Joon Mo Seo,Nam Ju Kim,Arum Yu,Hyun Min Choi,Kyung Il SUL. Владелец: Cheil Industries Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Anisotropic conductive film including oblique region having lower curing ratio

Номер патента: US09997486B2. Автор: Yasushi Akutsu,Reiji Tsukao. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Anisotropic conductive film

Номер патента: US20190027267A1. Автор: Shinichi Hayashi,Kenji Tokuhisa,Etsuko YAMAGUCHI. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2019-01-24.

Semiconductor device connected by anisotropic conductive film

Номер патента: US09666552B2. Автор: Hyun Joo Seo,Kyoung Hun Shin,Kyu Bong Kim,Young Ju Shin,Woo Jun LIM. Владелец: Cheil Industries Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Light-reflective anisotropic conductive adhesive and light-emitting device

Номер патента: US09548141B2. Автор: Shiyuki Kanisawa,Hideaki Umakoshi,Hidetsugu Namiki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Anisotropic conductive film

Номер патента: US8715833B2. Автор: Yasushi Akutsu,Yasunobu Yamada,Kouichi Miyauchi. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2014-05-06.

Anisotropic conductive film and method of making conductive connection

Номер патента: EP2784141A3. Автор: Takeaki Kawashima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-12-03.

Anisotropic conductive sheet, its production method, connection method and inspection method

Номер патента: CA2628772A1. Автор: Yasuhiro Okuda,Taro Fujita,Akihisa Hosoe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-05-24.

Anisotropic conductive connection structure body

Номер патента: US20190053383A1. Автор: Daisuke Sato,Akifumi Higuchi. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Conductive particle, its manufacturing method and anisotropic conductive adhesive

Номер патента: US20180187052A1. Автор: Huan Ni,Fengzhen LV. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-05.

Semiconductor device connected by anisotropic conductive film

Номер патента: US09865558B2. Автор: Ji Yeon Kim,Jae Sun Han,Young Woo Park,Kyoung Ku Kang,Kyoung Soo Park,Kwang Jin Jung,Ja Young Hwang,Kyoung Hun Shin,Byeong Geun SON,Young Ju Shin. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Semiconductor device connected by anisotropic conductive adhesive film

Номер патента: US09437346B2. Автор: Hyun Joo Seo,Kyoung Hun Shin,Kyu Bong Kim,Do Hyun PARK,Young Ju Shin,Woo Jun LIM. Владелец: Cheil Industries Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Anisotropic conductive adhesive

Номер патента: US09418958B2. Автор: Shiyuki Kanisawa,Hidetsugu Namiki,Genki Katayanagi. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Connecting structure, liquid crystal device, electronic equipment, and anisotropic conductive adhesive agent and a manufacturing method thereof

Номер патента: US6671024B1. Автор: Kenji Uchiyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2003-12-30.

Anisotropic conductive film and connected structure

Номер патента: US11923335B2. Автор: Seiichiro Shinohara. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Anisotropic conductive adhesive film and electronic device

Номер патента: US20140170381A1. Автор: Wei He,Xinghua Li,Seung Yik Park,Junping Bao. Владелец: Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Anisotropic conductive sheet, its production method, connection method and inspection method

Номер патента: US20090115444A1. Автор: Yasuhiro Okuda,Taro Fujita,Akihisa Hosoe. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2009-05-07.

Anisotropic conductive compound

Номер патента: WO2004012300A3. Автор: S Kumar Khanna. Владелец: S Kumar Khanna. Дата публикации: 2004-06-10.

Anisotropic conductive film and connection structure

Номер патента: US20170162529A1. Автор: Yasushi Akutsu,Seiichiro Shinohara. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2017-06-08.

Anisotropically conductive polymeric matrix

Номер патента: CA1273417A. Автор: James G. Berg,Robert S. Reylek. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1990-08-28.

Anisotropic conductive film

Номер патента: US20020130302A1. Автор: Yuji Hotta,Sadahito Misumi,Miho Yamaguchi. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2002-09-19.

Conductive paste composition, preparation method and use thereof, crystalline silicon solar cell

Номер патента: US20240234602A1. Автор: Qijie Guo,Paul Douglas Vernooy. Владелец: Jiangsu Solamet Electronic Materials Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Conductive paste composition, preparation method and use thereof, crystalline silicon solar cell

Номер патента: EP4459638A1. Автор: Qijie Guo,Paul D Vernooy. Владелец: Solamet Electronic Materials Dongguan Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Conductive paste composition, preparation method therefor and application thereof, and crystalline silicon solar cell

Номер патента: EP4456086A1. Автор: Qijie Guo,Paul D Vernooy. Владелец: Solamet Electronic Materials Dongguan Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Electrical interconnections, methods of conducting electricity, and methods of reducing horizontal conductivity within an anisotropic conductive adhesive

Номер патента: US6355504B1. Автор: Tongbi Jiang. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2002-03-12.

Display device connected by anisotropic conductive film

Номер патента: US20160148716A1. Автор: Soon Young Kwon,Hyun Joo Seo,Kyoung Ku Kang,Youn Jo KO,Ie Ju KIM,Se Mi HEO. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-26.

Method of producing anisotropic conductive film and anisotropic conductive film

Номер патента: US11787976B2. Автор: Yasushi Akutsu,Seiichiro Shinohara. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Anisotropic conductive film

Номер патента: US20210305195A1. Автор: Masaki Taniguchi,Reiji Tsukao. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

Conductive paste composition and semiconductor devices made therewith

Номер патента: US09793025B2. Автор: Carmine Torardi,Paul Douglas Vernooy. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2017-10-17.

Conductive paste composition and semiconductor devices made therefrom

Номер патента: US09640675B2. Автор: Yueli Wang,Kenneth Warren Hang,Carmine Torardi,Kurt Richard Mikeska,Paul Douglas Vernooy,Raj G Rajendran. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2017-05-02.

Electrical interconnection comprising anisotropically conductive medium

Номер патента: CA1277781C. Автор: Sungho Jin,Richard Curry Sherwood,Thomas Henry Tiefel,John Joseph Mottine Jr.,Stephen George Seger Jr.. Владелец: American Telephone and Telegraph Co Inc. Дата публикации: 1990-12-11.

Conductive paste for front electrode of semiconductor device and method of manufacturing thereof

Номер патента: US9023253B2. Автор: Xiaoli Liu,Delin Li,Ran Guo. Владелец: Soltrium Technology Ltd. Дата публикации: 2015-05-05.

Conductive paste for front electrode of semiconductor device and method of manufacturing thereof

Номер патента: US20150162481A1. Автор: Xiaoli Liu,Delin Li. Владелец: Soltrium Tech Ltd Shenzhen. Дата публикации: 2015-06-11.

Conductive paste for front electrode of semiconductor device and method of manufacturing thereof

Номер патента: US20150159026A1. Автор: Xiaoli Liu,Delin Li. Владелец: Soltrium Tech Ltd Shenzhen. Дата публикации: 2015-06-11.

Conductive paste compositions

Номер патента: WO2024192552A1. Автор: Jun Hu,Yanfei LI,Linqian Feng,Juanjuan WU. Владелец: Eastman Chemical (China) Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-09-26.

Conductive paste compositions

Номер патента: WO2024192553A1. Автор: Jun Hu,Yanfei LI,Linqian Feng,Juanjuan WU. Владелец: Eastman Chemical (China) Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-09-26.

Conductive paste and electronic device and solar cell including an electrode formed using the conductive paste

Номер патента: WO2013070049A1. Автор: Eun Sung Lee,Sang Soo Jee,Se Yun Kim,Suk Jun Kim,Jeong Na HEO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-05-16.

Conductive paste and electronic device and solar cell including an electrode formed using the conductive paste

Номер патента: US09947809B2. Автор: Eun Sung Lee,Sang Soo Jee,Se Yun Kim,Suk Jun Kim,Jeong Na HEO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-17.

Conductive Paste And Electronic Device And Solar Cell Including An Electrode Formed Using The Same

Номер патента: US20120103409A1. Автор: Eun Sung Lee,Sang Soo Jee,Se Yun Kim,Sang Mock LEE,Do-Hyang Kim,Ka Ram LIM,In Yong SONG. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2012-05-03.

Conductive paste and electronic device and solar cell

Номер патента: US10074752B2. Автор: Eun Sung Lee,Sang Soo Jee,Se Yun Kim,Jin Man PARK,Suk Jun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-09-11.

Electro-conductive pastes comprising an oxide additive

Номер патента: US10636540B2. Автор: Gerd Schulz,Markus König,Matthias HÖRTEIS,Daniel W. Holzmann. Владелец: Heraeus Deutschland GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-04-28.

Conductive paste for bonding and method for its use in manufacturing an electronic device

Номер патента: WO2019089728A1. Автор: Yumi Matsuura. Владелец: E. I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY. Дата публикации: 2019-05-09.

Particles comprising al, si and mg in electro-conductive pastes and solar cell preparation

Номер патента: WO2014161641A1. Автор: Markus König,Matthias HÖRTEIS,Nicole Georg. Владелец: Heraeus Precious Metals GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2014-10-09.

Conductive paste and die bonding method

Номер патента: US09818718B2. Автор: Akira Fujita,Hirohiko Furui,Shigeo Hori. Владелец: Kaken Tech Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Conductive paste used for solar cell electrodes

Номер патента: US09761348B2. Автор: Esther Kim,Kurt Richard Mikeska,Paul Douglas Vernooy,Yusuke Tachibana,Brian J Laughlin. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2017-09-12.

Conductive paste composition for front electrode of solar cell and solar cell using the same

Номер патента: US20180062006A1. Автор: Sung Hyun Kim,Ji Sun Park,Myong Jae Yoo. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2018-03-01.

Conductive paste composition and semiconductor device comprising the same

Номер патента: WO2015160065A1. Автор: Jae Hyung Song,Cheol Hee Kim,Won Il Son,Sang Jin Oh,Jung Geun PARK,Seung Ki Cho. Владелец: DUKSAN HI-METAL CO., LTD.. Дата публикации: 2015-10-22.

Conductive paste composition and semiconductor device comprising the same

Номер патента: WO2015160067A1. Автор: Jae Hyung Song,Cheol Hee Kim,Won Il Son,Sang Jin Oh,Jung Geun PARK,Seung Ki Cho. Владелец: DUKSAN HI-METAL CO., LTD.. Дата публикации: 2015-10-22.

Conductive paste composition and semiconductor device comprising the same

Номер патента: WO2015160066A1. Автор: Jae Hyung Song,Cheol Hee Kim,Won Il Son,Sang Jin Oh,Jung Geun PARK,Seung Ki Cho. Владелец: DUKSAN HI-METAL CO., LTD.. Дата публикации: 2015-10-22.

Conductive paste and method for producing a semiconductor device using the same

Номер патента: US9540275B2. Автор: Hiroshi Yamaguchi,Noriyuki Sakai,Maciej Patelka,Cathy Shaw Trumble,Raymond Dietz. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Conductive paste and method for producing a semiconductor device using the same

Номер патента: WO2015108205A1. Автор: Hiroshi Yamaguchi,Noriyuki Sakai,Maciej Patelka,Cathy Shaw Trumble,Raymond Dietz. Владелец: NAMICS CORPORATION. Дата публикации: 2015-07-23.

Conductive paste and solar cell

Номер патента: EP4407694A2. Автор: HONG Chen,Dongyun LV,Chengfa Liu. Владелец: Trina Solar Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Low LOI tellurium-lithium-silicon-zirconium frit system and conductive paste and application thereof

Номер патента: US11697612B2. Автор: Li Yan,SONG Xu,Rui Tian. Владелец: Jiangsu Riyu Photovoltaic New Material Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-11.

Conductive paste and electronic device and solar cell including an electrode formed using the conductive paste

Номер патента: US20180019350A9. Автор: Eun Sung Lee,Sang Soo Jee,Se Yun Kim,Suk Jun Kim,Jeong Na HEO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-18.

Conductive paste and electronic device and solar cell including an electrode formed using the conductive paste

Номер патента: EP2777049A1. Автор: Eun Sung Lee,Sang Soo Jee,Se Yun Kim,Suk Jun Kim,Jeong Na HEO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-09-17.

Lithium-Tellurium Silicon-Lead Bismuth Multi-component Glass-Oxide-Complex System and Conductive Paste Containing Same

Номер патента: US20230075790A1. Автор: Yongli JIAO. Владелец: Jiangsu Riyu Photovottaic New Material Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Conductive paste and method for producing a semiconductor device using the same

Номер патента: US20160326044A1. Автор: Hiroshi Yamaguchi,Noriyuki Sakai,Maciej Patelka,Cathy Shaw Trumble,Raymond Dietz. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2016-11-10.

Fabrication method of solar cell electrode using a conductive paste that comprises an organic elastomer

Номер патента: WO2016003987A1. Автор: John Donald Summers,Hikaru Uno. Владелец: E. I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY. Дата публикации: 2016-01-07.

Front-side conductive paste for crystalline silicon solar cell, preparation method therefor, and solar cell

Номер патента: US10868201B1. Автор: Yu Li,Xiaoli Liu,Delin Li,Fengzhen Sun. Владелец: Soltrium Advanced Materials Technology Ltd. Дата публикации: 2020-12-15.

Conductive paste and solar cell

Номер патента: AU2024204778A1. Автор: HONG Chen,Dongyun LV,Chengfa Liu. Владелец: Trina Solar Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Conductive paste and solar cell

Номер патента: US20240347650A1. Автор: HONG Chen,Dongyun LV,Chengfa Liu. Владелец: Trina Solar Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Silver thick film paste compositions and their use in conductors for photovoltaic cells

Номер патента: WO2011028305A1. Автор: Roberto Irizarry,Diptarka Majumdar. Владелец: E. I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY. Дата публикации: 2011-03-10.

Copper-containing conductive pastes and electrodes made therefrom

Номер патента: US09951231B2. Автор: Minfang Mu. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2018-04-24.

Conductive paste compound for via hole filling, printed circuit board which uses the conductive paste

Номер патента: US5652042A. Автор: Seiichi Nakatani,Kouji Kawakita,Hideo Akiyama,Tatsuo Ogawa,Masatoshi Suehiro,Kouichi Iwaisako. Владелец: Dowa Mining Co Ltd. Дата публикации: 1997-07-29.

Conductive paste compound for via hole filling, printed circuit board which uses the conductive paste, and method of manufacturing the same

Номер патента: US5977490A. Автор: Seiichi Nakatani,Kouji Kawakita,Hideo Akiyama,Tatsuo Ogawa,Masatoshi Suehiro,Kouichi Iwaisako. Владелец: Dowa Mining Co Ltd. Дата публикации: 1999-11-02.

Solar cell device and manufacturing method therefor

Номер патента: CA2718207C. Автор: Masami Nakamura,Yuji Akimoto,Naoto Shindo,Tadashi Kanasaku. Владелец: Shoei Chemical Inc . Дата публикации: 2014-04-08.

Glass frit, conductive paste and use of the conductive paste

Номер патента: EP3583612A1. Автор: Ming-Yi Hsu,Charles Pan,Li Fu Huang,Panneerselvam Marudhachalam,Yi Hung Hsieh. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2019-12-25.

Conductive paste and glass frit for solar cell electrodes and method of manufacturing thereof

Номер патента: US20140084223A1. Автор: Ran Guo. Владелец: Soltrium Tech Ltd Shenzhen. Дата публикации: 2014-03-27.

Conductive paste and electronic device and solar cell including an electrode formed using the conductive paste

Номер патента: US20120037221A1. Автор: Sang-mock Lee,Eun-sung Lee,Sang-Soo JEE,Se-Yun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-02-16.

Conductive paste and electronic device and solar cell including an electrode formed using the conductive paste

Номер патента: US20130146135A1. Автор: Eun Sung Lee,Sang Soo Jee,Se Yun Kim,Jin Man PARK,Suk Jun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-06-13.

Conductive paste for use in photovoltaic cell and method of producing photovoltaic cell element using the same

Номер патента: US20130203206A1. Автор: Yoshio Miura,Takeshi Nakatani,Kotaro Umeda,Toshihiro Iwaida,Tomoko Yoshimi,Shuhei Katayama. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2013-08-08.

Conductive paste comprising a silicone oil

Номер патента: US20190051774A1. Автор: Han Chang Pan,Markus FIESS,Yu Lin Wang,Chia Chin CHO. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2019-02-14.

Conductive Paste And Electronic Device And Solar Cell

Номер патента: US20140000694A1. Автор: Eun Sung Lee,Sang Soo Jee,Se Yun Kim,Jin Man PARK,Suk Jun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-01-02.

Conductive paste, electrode and solar cell

Номер патента: US20180114872A1. Автор: Tobias Droste,Beatriz CELA GREVEN,Jonathan Charles Shepley Booth,Nicolas NOWAK. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2018-04-26.

Conductive paste, electrode and solar cell

Номер патента: WO2016174390A1. Автор: Tobias Droste,Beatriz CELA GREVEN,Jonathan Charles Shepley Booth,Nicolas NOWAK. Владелец: JOHNSON MATTHEY PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2016-11-03.

Conductive paste, electrode and solar cell

Номер патента: EP3289592A1. Автор: Tobias Droste,Beatriz CELA GREVEN,Jonathan Charles Shepley Booth,Nicolas NOWAK. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2018-03-07.

Conductive paste and solar cell

Номер патента: US09984787B2. Автор: Eun-sung Lee,Sang-Soo JEE,Se-Yun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-29.

Electronic component, conductive paste, and method for manufacturing an electronic component

Номер патента: US09786463B2. Автор: Takashi Naito,Takuya Aoyagi,Shinichi Tachizono,Kei Yoshimura,Yuji Hashiba. Владелец: Hitachi Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Conductive paste, electrode and solar cell

Номер патента: EP3622024A1. Автор: Simon Johnson,Edwin Peter Kennedy Currie,Roland Katzbach,Kirill ARAPOV,Beatriz CELA GREVEN,Jonathan Charles Shepley Booth,Nicolas NOWAK. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2020-03-18.

Conductive paste, electrode and solar cell

Номер патента: WO2018206950A1. Автор: Simon Johnson,Edwin Peter Kennedy Currie,Roland Katzbach,Kirill ARAPOV,Beatriz CELA GREVEN,Jonathan Charles Shepley Booth,Nicolas NOWAK. Владелец: JOHNSON MATTHEY PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2018-11-15.

Conductive paste, method, electrode and solar cell

Номер патента: US20190031557A1. Автор: Tobias Droste,Simon Johnson,Edwin Peter Kennedy Currie,Beatriz CELA GREVEN,Jonathan Charles Shepley Booth. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2019-01-31.

Electrically conductive paste, solar cell electrode, and solar cell

Номер патента: EP4318602A1. Автор: Kenji Kobayashi,Hideo Tanabe,Kazuo Muramatsu. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Silicon-lithium-lead system, conductive paste and preparation method thereof

Номер патента: US11884587B2. Автор: Li Yan,SONG Xu,Rui Tian. Владелец: Jiangsu Riyu Photovoltaic New Material Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-30.

Silicon-lithium-lead System, Conductive Paste and Preparation Method thereof

Номер патента: US20220144689A1. Автор: SONG Xu,Rui Tian. Владелец: Jiangsu Riyu Photovoltaic New Material Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

Conductive paste and solar cell

Номер патента: US20200185548A1. Автор: Noriyuki Sakai,Seiya KONNO. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Front-side conductive paste for crystalline silicon solar cell, preparation method therefor, and solar cell

Номер патента: US20200388714A1. Автор: Yu Li,Xiaoli Liu,Delin Li,Fengzhen Sun. Владелец: Soltrium Advanced Materials Technology Ltd Suzhou. Дата публикации: 2020-12-10.

Electrically conductive paste for front electrode of solar cell and preparation method thereof

Номер патента: US20160260850A1. Автор: Xiaoli Liu,Delin Li. Владелец: Soltrium Advanced Materials Technology Ltd Shenzhen. Дата публикации: 2016-09-08.

Conductive paste, method, electrode and solar cell

Номер патента: WO2017125710A1. Автор: Tobias Droste,Simon Johnson,Edwin Peter Kennedy Currie,Beatriz CELA GREVEN,Jonathan Charles Shepley Booth. Владелец: JOHNSON MATTHEY PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2017-07-27.

Lithium-tellurium silicon-lead bismuth multi-component glass-oxide-complex system and conductive paste containing same

Номер патента: US11728066B2. Автор: Yongli JIAO. Владелец: Jiangsu Riyu Photovoltaic New Material Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-15.

Conductive pastes for solar cells

Номер патента: WO2021240124A1. Автор: Jonathan Booth,Simon Johnson,Patricia Ann SUTTON,Roland Katzbach,Kirill ARAPOV,Beatriz CELA. Владелец: JOHNSON MATTHEY PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2021-12-02.

Conductive Paste For Bonding

Номер патента: US20180102341A1. Автор: Takuya Konno. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2018-04-12.

Conductive paste and method for producing TOPCon solar cell

Номер патента: US12015091B2. Автор: Marwan Dhamrin,Naoya Morishita. Владелец: Toyo Aluminum KK. Дата публикации: 2024-06-18.

Conductive paste for solar cell element surface electrodes and method for manufacturing solar cell element

Номер патента: CA2889645C. Автор: Yoshio Miura,Yuji Akimoto,Kousuke Nishimura,Tadashi Kanasaku. Владелец: Shoei Chemical Inc . Дата публикации: 2021-03-16.

Electrically conductive paste and sintered body

Номер патента: US11710580B2. Автор: Jinting Jiu,Tetsu Takemasa,Junko SEINO. Владелец: Senju Metal Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Conductive paste containing lead-free glass frit

Номер патента: US20160163892A1. Автор: Chih-Hsien Yeh,Po-Yang Shih,Pi-Yu Hsin. Владелец: Giga Solar Materials Corp. Дата публикации: 2016-06-09.

Conductive Paste for Solar Cell and the Method Thereof

Номер патента: US20150115207A1. Автор: Chih-Hsien Yeh,Po-Yang Shih,Da-Yi TSOU,Jen-Ren SHEN,Peng-Sheng TSENG. Владелец: Giga Solar Materials Corp. Дата публикации: 2015-04-30.

Conductive paste for inner electrode and multilayer ceramic electronic component having the same

Номер патента: US20130314840A1. Автор: Jong Han Kim,Joon Hee Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-28.

Conductive paste for solar cell, solar cell and manufacturing method thereof, and solar cell module

Номер патента: US20180315868A1. Автор: Chih-Hsien Yeh,Pi-Yu Hsin,Chung-Chieh Cheng,Yu-Shuo Yang. Владелец: Giga Solar Materials Corp. Дата публикации: 2018-11-01.

Conductive paste containing lead-free glass frit

Номер патента: US20160163891A1. Автор: Chih-Hsien Yeh,Po-Yang Shih,Pi-Yu Hsin. Владелец: Giga Solar Materials Corp. Дата публикации: 2016-06-09.

Conductive paste and grid electrode for silicon solar cells

Номер патента: EP2269195A1. Автор: Hideki Akimoto. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2011-01-05.

Conductive paste for solar cell, solar cell and manufacturing method thereof, and solar cell module

Номер патента: US10923608B2. Автор: Chih-Hsien Yeh,Pi-Yu Hsin,Chung-Chieh Cheng,Yu-Shuo Yang. Владелец: Giga Solar Materials Corp. Дата публикации: 2021-02-16.

Conductive Paste, Method for Producing Same, and Method for Producing Solar Cell

Номер патента: US20190189810A1. Автор: Hiroshi Kamiga,Noriaki Nogami,Kenichi Harigae. Владелец: Dowa Electronics Materials Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-20.

Composite perovskite powder, preparation method thereof, and paste composition for internal electrode having the same

Номер патента: US09842696B2. Автор: Chang Hak Choi,Kwang Hee Nam,Kum Jin PARK,Hyung Joon Jeon,Ki Myoung Yun,Jong Hoon YOO,Sang Min Youn. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Conductive paste

Номер патента: MY161100A. Автор: Kato Takashi,Shindo Naoto,Nakayama Yoshinori. Владелец: Shoei Chemical Ind Co. Дата публикации: 2017-04-14.

Lithium and tellurium-silicate binary glass-oxide-complex system and conductive paste containing such complex system

Номер патента: US11802075B2. Автор: SONG Xu,Rui Tian. Владелец: Jiangsu Riyu Photovoltaic New Material Technology. Дата публикации: 2023-10-31.

Conductive pastes for solar cells

Номер патента: GB2595554A. Автор: Johnson Simon,ARAPOV Kirill,KATZBACH Roland,Booth Jonathan,Cela Beatriz,Ann Sutton Patricia. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2021-12-01.

Conductive paste

Номер патента: US11817398B2. Автор: Masashi Kajita,Noritsuka Mizumura,Masahiro Kitamura,Takayuki Higuchi. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Paste composition and semiconductor device

Номер патента: US20230238348A1. Автор: Yuya NITANAI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Silver paste composition for forming an electrode, and silicon solar cell using same

Номер патента: US09640298B2. Автор: Su-Hee Lee,Soo-Yeon Heo. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Inspection device for article being inspected, spark plug inspection method, and method for manufacturing spark plug

Номер патента: US20140204198A1. Автор: Asako Fujita. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-24.

Inspection device for article being inspected, spark plug inspection method, and method for manufacturing spark plug

Номер патента: US09432635B2. Автор: Asako Fujita. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

INSPECTION DEVICE FOR ARTICLE BEING INSPECTED, SPARK PLUG INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SPARK PLUG

Номер патента: US20140204198A1. Автор: Fujita Asako. Владелец: NGK SPARK PLUG CO., LTD.. Дата публикации: 2014-07-24.

Image display device and method for manufacturing image display device

Номер патента: EP4216293A1. Автор: Hajime Akimoto. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2023-07-26.

Light-emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US09978981B2. Автор: Akihiro Chida. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Light-emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US09444020B2. Автор: Akihiro Chida. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Connection body, method for manufacturing a connecting body and inspection method thereof

Номер патента: US09980375B2. Автор: Reiji Tsukao. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Anisotropic conductive adhesive

Номер патента: US09676066B2. Автор: Masaharu Aoki,Akira Ishigami,Shiyuki Kanisawa,Hidetsugu Namiki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Transferring method, manufacturing method, device and electronic apparatus of micro-led

Номер патента: EP3271953A1. Автор: Quanbo Zou,Zhe Wang. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-01-24.

Anisotropic conductive film and bump, and packaging structure of semiconductor having the same

Номер патента: US20050173785A1. Автор: Seong-Yong Hwang,Ju-Young Yoon,Chun-Ho Song,Weon-Sik Oh,Sung-Lak Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-08-11.

Multilayered anisotropic conductive adhesive for fine pitch

Номер патента: US20060033213A1. Автор: Jin Hwang,Myung Yim. Владелец: Telephus Inc. Дата публикации: 2006-02-16.

Array-type double-side light-emitting device and manufacturing method thereof and double-side display device

Номер патента: US09748211B2. Автор: Yaling Kang. Владелец: Hefei BOE Display Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Anisotropic conductive film, joined structure and method for producing the joined structure

Номер патента: US20120285603A1. Автор: Tomoyuki Ishimatsu. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2012-11-15.

Anisotropic conductive film and production method of the same

Номер патента: US20170107406A1. Автор: Yuta Araki,Tomoyuki Ishimatsu. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2017-04-20.

Anisotropic conductive film and production method of the same

Номер патента: US10442958B2. Автор: Yuta Araki,Tomoyuki Ishimatsu. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2019-10-15.

Display device and method of manufacturing display device

Номер патента: US09660007B2. Автор: Kazuto TSURUOKA. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Kind of light-heat dual curing anisotropic conductive adhesive anisotropic conductive film and their preparation methods

Номер патента: US20140193599A1. Автор: Ren-Liang Xiao,Chang-Hou Zhao,Cheng-Cui Liu,Xian-Fei Wan,Chang-Wu Yang,Hua-Guo Yin. Владелец: SHENZHEN FISHER INDUSTRIAL CO LTD. Дата публикации: 2014-07-10.

Semiconductor device connected by anisotropic conductive film

Номер патента: US09657196B2. Автор: Ji Yeon Kim,Jae Sun Han,Young Woo Park,Kyoung Ku Kang,Kyoung Soo Park,Kwang Jin Jung,Ja Young Hwang,Kyoung Hun Shin,Byeong Geun SON,Young Ju Shin. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Device comprising thermally anisotropic conductive channels and thermally insulating material

Номер патента: WO2024000250A1. Автор: PENG Wang,Hui He,Bohan Yan. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-01-04.

Anisotropic conductive adhesive, light emitting device, and method for producing anisotropic conductive adhesive

Номер патента: US9487678B2. Автор: Masaharu Aoki,Akira Ishigami,Shiyuki Kanisawa,Hideaki Umakoshi,Hidetsugu Namiki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Image display device and method for manufacturing image display device

Номер патента: US20230216015A1. Автор: Hajime Akimoto. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Anisotropic conductive film and bump, and packaging structure of semiconductor having the same

Номер патента: US7528486B2. Автор: Seong-Yong Hwang,Ju-Young Yoon,Chun-Ho Song,Weon-Sik Oh,Sung-Lak Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-05-05.

Display device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240178356A1. Автор: Shih-Hsiung Lin. Владелец: AUO Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

Anisotropic conductive adhesive and connection structure

Номер патента: US20150197672A1. Автор: Akira Ishigami,Shiyuki Kanisawa,Hidetsugu Namiki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2015-07-16.

Semiconductor device connected by anisotropic conductive film

Номер патента: US09490229B2. Автор: Ji Yeon Kim,Kyoung Ku Kang,Kyoung Soo Park,Kwang Jin Jung,Ja Young Hwang,Byeong Geun SON,Young Ju Shin. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

UV-curable anisotropic conductive adhesive

Номер патента: US09777197B2. Автор: S. Kumar Khanna. Владелец: SUNRAY SCIENTIFIC LLC. Дата публикации: 2017-10-03.

Light-emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20200358023A1. Автор: Akihiro Chida. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-12.

Light-emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20180233690A1. Автор: Akihiro Chida. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-16.

Light-emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20170084860A1. Автор: Akihiro Chida. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-23.

Light-emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20200020875A1. Автор: Akihiro Chida. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-16.

Light-emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20160072021A1. Автор: Akihiro Chida. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-10.

Light-emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20220102667A1. Автор: Akihiro Chida. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Anisotropic conductive film, joined structure and method for producing the joined structure

Номер патента: US20100065303A1. Автор: Tomoyuki Ishimatsu. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2010-03-18.

Light-emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240130157A1. Автор: Akihiro Chida. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Semiconductor device connected by anisotropic conductive film

Номер патента: US20140210084A1. Автор: Youn Jo KO,Ie Ju KIM,Hye Su Ki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-07-31.

Glass frit, and conductive paste composition and solar cell comprising the same

Номер патента: US09984784B2. Автор: Won Il Son,Mi-Kyoung Kim,You-Jin Sim,Choong-Hoon Paik. Владелец: Hanwha Chemical Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Light-reflective conductive particle, anisotropic conductive adhesive, and light-emitting device

Номер патента: US20140225144A1. Автор: Shiyuki Kanisawa,Hideaki Umakoshi,Hidetsugu Namiki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2014-08-14.

Light-reflective anisotropic conductive adhesive agent, and light emitting device

Номер патента: US20150069448A1. Автор: Akira Ishigami,Shiyuki Kanisawa,Hideaki Umakoshi,Hidetsugu Namiki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2015-03-12.

Light-reflective anisotropic conductive adhesive agent, and light emitting device

Номер патента: US8916894B2. Автор: Akira Ishigami,Shiyuki Kanisawa,Hideaki Umakoshi,Hidetsugu Namiki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2014-12-23.

Light-reflective anisotropic conductive adhesive agent, and light emitting device

Номер патента: US9260634B2. Автор: Akira Ishigami,Shiyuki Kanisawa,Hideaki Umakoshi,Hidetsugu Namiki. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2016-02-16.

Light-reflective anisotropic conductive adhesive agent, and light emitting device

Номер патента: US20130049054A1. Автор: Akira Ishigami,Shiyuki Kanisawa,Hideaki Umakoshi,Hidetsugu Namiki. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2013-02-28.

Semiconductor device connected by anisotropic conductive film

Номер патента: US20150091192A1. Автор: Ji Yeon Kim,Woo Jung SHIN,Kyoung Ku Kang,Kyoung Soo Park,Kwang Jin Jung,Ja Young Hwang,Young Ju Shin. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-02.

Light-reflective conductive particle, anisotropic conductive adhesive and light-emitting device

Номер патента: US20120175660A1. Автор: Shiyuki Kanisawa,Hideaki Umakoshi,Hidetsugu Namiki. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2012-07-12.

Light-reflective conductive particle, anisotropic conductive adhesive and light-emitting device

Номер патента: US20140103266A1. Автор: Shiyuki Kanisawa,Hideaki Umakoshi,Hidetsugu Namiki. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2014-04-17.

Method and device for simultaneously bonding multiple chips of different heights on a flexible substrate using anisotropic conductive film or paste

Номер патента: EP3312877A3. Автор: Ping Mei,Brent S. Krusor. Владелец: Palo Alto Research Center Inc. Дата публикации: 2018-08-08.

Method of curing an anisotropic conductive compound

Номер патента: US20040016505A1. Автор: S. Khanna. Владелец: Shiva Consulting Inc. Дата публикации: 2004-01-29.

Conductive paste composition and semiconductor devices made therewith

Номер патента: US09761742B2. Автор: Carmine Torardi,Paul Douglas Vernooy. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2017-09-12.

Anisotropic conductive film and method of producing the same

Номер патента: US11784154B2. Автор: Seiichiro Shinohara. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Conductive paste composition and method for manufacturing electrode

Номер патента: US09780236B2. Автор: Kuo-Chan Chiou,Chun-Yi Chiu,Wei-Han HSIAO. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-10-03.

Conductive paste composition and solar cell using the conductive paste composition

Номер патента: US20200199376A1. Автор: Ying-Hua Huang,Hung-Ing Chang,Yu-Ching Pai. Владелец: Pancolour Ink Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Solderable anisotropically conductive composition and method of using same

Номер патента: CA2165674C. Автор: Eckart Mathias. Владелец: National Starch and Chemical Investment Holding Corp. Дата публикации: 2003-04-08.

Conductive paste composition, method for preparing the composition and electrode formed by the composition

Номер патента: US20190115117A1. Автор: Sung Hyun Kim,Ji Sun Park,Myong Jae Yoo. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2019-04-18.

Electronic device and method of manufacturing electronic device

Номер патента: US09526181B2. Автор: Yoshifumi Yoshida,Atsushi KOZUKI,Hideshi Hamada. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Conductive paste composition and semiconductor devices made therewith

Номер патента: US20150155403A1. Автор: Carmine Torardi,Paul Douglas Vernooy. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2015-06-04.

Organic light emitting device and method for manufacturing the same

Номер патента: US09825249B2. Автор: Sang Jun Park,Yongnam KIM,Yeon Keun Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Optoelectronic semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US11990576B2. Автор: Franz Eberhard. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2024-05-21.

Apparatus and method for depositing electronically conductive pasting material

Номер патента: US09666416B2. Автор: Wei D. Wang,John C. Forster,Anantha Subramani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Conductive pastes

Номер патента: RU2509789C2. Автор: Имельда КАСТИЛЬО,Ксуеронг ГАО. Владелец: БАСФ СЕ. Дата публикации: 2014-03-20.

Conductive paste for n-type solar cell, method for manufacturing n-type solar cell and n-type solar cell

Номер патента: WO2021080839A1. Автор: Che-Shih SHIH. Владелец: Dupont Electronics, Inc.. Дата публикации: 2021-04-29.

Semiconductor device and method of individual die bonding followed by simultaneous multiple die thermal compression bonding

Номер патента: US09524958B2. Автор: HunTeak Lee,Joonyoung Choi,YongHee Kang,YoungChul KIM,KeonTaek Kang. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Thermoelectric conversion device and method of manufacturing the same

Номер патента: US10622535B2. Автор: Toshihisa Taniguchi,Keiji Okamoto,Masahiro Asano,Yoshihiko Shiraishi,Norio Gouko,Atusi Sakaida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2020-04-14.

Thermoelectric conversion device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20190252594A1. Автор: Toshihisa Taniguchi,Keiji Okamoto,Masahiro Asano,Yoshihiko Shiraishi,Norio Gouko,Atusi Sakaida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-08-15.

Apparatus and method for depositing electrically conductive pasting material

Номер патента: WO2009073491A3. Автор: Wei D. Wang,John Forster,Anantha Subramani. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2009-09-24.

Electro-conductive paste with characteristic weight loss for high temperature application

Номер патента: US20160013332A1. Автор: Matthias HÖRTEIS,Christian Muschelknautz. Владелец: Heraeus Deutschland GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-01-14.

Conductive paste comprising lubricating oils and semiconductor device

Номер патента: EP3311388A1. Автор: Szilard Csihony,Xuerong Gao,Markus FIESS,Marco Czink. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2018-04-25.

Conductive paste, method for forming wiring, electronic component, and silicon solar cell

Номер патента: US20150136219A1. Автор: HOANG Tri Hai,Junichi Koike. Владелец: Material Concept Inc. Дата публикации: 2015-05-21.

Conductive paste, method for forming wiring, electronic component, and silicon solar cell

Номер патента: US09941420B2. Автор: HOANG Tri Hai,Junichi Koike. Владелец: Material Concept Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Photovoltaic cells with electrodes adapted to house conductive paste

Номер патента: US09899546B2. Автор: Anand J. Reddy. Владелец: Tesla Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Conductive pastes for forming solar cell electrodes

Номер патента: US20130312825A1. Автор: Tetsu Takahashi. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2013-11-28.

Electrode of electronic component part and conductive paste coating device

Номер патента: US6306456B1. Автор: Makoto Fukuda,Tadahiro Nakagawa. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2001-10-23.

Photovoltaic device and a method of manufacturing thereof

Номер патента: US20020026956A1. Автор: Toshihiro Nomura,Masayoshi Maeba,Nobuo Hanehira. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-03-07.

Methods for hardening a conductive paste and making a photovoltaic string and equipment

Номер патента: US20230197881A1. Автор: Jordi Veirman,Vincent BARTH. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2023-06-22.

Conductive paste and method for producing conductive film using same

Номер патента: US20170362455A1. Автор: Daisuke Itoh,Shuji Kaneda,Hidefumi Fujita,Yu Murano. Владелец: Dowa Electronics Materials Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-21.

Conductive paste, method of preparation, and solar cell electrode using the same

Номер патента: US20170051165A1. Автор: Kazuyuki Matsumura,Hideki Sugahara,Hiroto Ohwada,Yoshiteru Sakatume. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-23.

Conductive paste comprising lubricating oils and semiconductor device

Номер патента: PH12017502242A1. Автор: Szilard Csihony,Xuerong Gao,Markus FIESS,Marco Czink. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2018-06-11.

Electrically conductive paste and method of forming circuit

Номер патента: US20010005936A1. Автор: Hitoshi Ushijima. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2001-07-05.

Apparatus for manufacturing semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, inspection apparatus for semiconductor device, and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20020158647A1. Автор: Masaaki Sugimoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-10-31.

Photoelectric conversion device and characteristic inspection method for same

Номер патента: US09509124B2. Автор: Akihiko Yoshikawa,Yoshihiro Ishitani,Kazuhide Kusakabe. Владелец: Chiba University NUC. Дата публикации: 2016-11-29.

Electrically conductive circuit member, method of manufacturing the same and electrically conductive paste

Номер патента: US5234558A. Автор: Susumu Kadokura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1993-08-10.

Process for producing conductive pastes for forming solar cell electrodes

Номер патента: US20170040472A1. Автор: Tetsu Takahashi. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2017-02-09.

Solder paste composition having solder powder, flux and metallic powder

Номер патента: US20100270365A1. Автор: Masaki Nakanishi,Nobuhiro Kinoshita,Hitoshi Sakurai,Kazuki Ikeda,Yoichi Kukimoto. Владелец: Harima Chemical Inc. Дата публикации: 2010-10-28.

Conductive connectors having a ruthenium/aluminum-containing liner and methods of fabricating the same

Номер патента: EP3420584A1. Автор: Mauro J. Kobrinsky,James S. Clarke,Ramanan V. Chebiam,Christopher J. Jezewski,Jasmeet S. Chawla. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-01-02.

Paste composition and preparation method therefor

Номер патента: US11316094B2. Автор: Eun Jung Lee,Su Yeon Lee,Beyong Hwan Ryu,Young Min Choi,Sun Ho JEONG. Владелец: Korea Research Institute of Chemical Technology KRICT. Дата публикации: 2022-04-26.

Sheet-like object defect inspection lighting, sheet-like object defect inspection device and sheet-like object defect inspection method

Номер патента: EP3855172A1. Автор: Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-07-28.

Anisotropic conductive sheet, anisotropic conductive sheet manufacturing method, electrical inspection device, and electrical inspection method

Номер патента: US20230335308A1. Автор: Daisuke Yamada,Katsunori Nishiura. Владелец: Mitsui Chemicals Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Polarized image acquisition device, pattern inspection device, polarized image acquisition method, and pattern inspection method

Номер патента: TWI654486B. Автор: 小川力. Владелец: 日商紐富來科技股份有限公司. Дата публикации: 2019-03-21.

Image processing device, foreign object inspection device, image processing method, and foreign object inspection method

Номер патента: US20190304125A1. Автор: Koji Kashu. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Anisotropic conductive adhesive, method of producing the same, connection structure and producing method thereof

Номер патента: US20130087373A1. Автор: Jun Sakamoto,Misao Konishi. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2013-04-11.

Sheet-like object defect inspection lighting, sheet-like object defect inspection device and sheet-like object defect inspection method

Номер патента: EP3855172A4. Автор: Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2022-06-22.

Anisotropically conductive member and method for producing the same

Номер патента: US20120168218A1. Автор: Atsushi Matsuura,Shinya Suzuki,Akio Uesugi,Yoshinori Hotta,Yusuke Hatanaka,Tadabumi Tomita. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-07-05.

Conductive paste

Номер патента: CA1166873A. Автор: TAKAO Ito,Kenji Ohsawa,Koichiro Tanno,Masayuki Ohsawa,Keiji Kurata. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1984-05-08.

Anisotropic conductive film, anisotropic conductive film production method, connecting method, and bonded structure

Номер патента: US09924599B2. Автор: Tomoyuki Ishimatsu. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Anisotropic conductive film, connection method, and assembly

Номер патента: US09723715B2. Автор: Kazuhisa Aoki,Yasunobu Yamada,Naoya Uesawa. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Anisotropic conductive structure, lens module and electronic device

Номер патента: US20240292545A1. Автор: Fei-Fan Yu. Владелец: Triple Win Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Conductive adhesive, anisotropic conductive film, and electronic device using same

Номер патента: US09701874B2. Автор: Hiroshi Uchida,Yoshitaka Ishibashi. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2017-07-11.

Semiconductor device using composition for anisotropic conductive adhesive film or anisotropic conductive adhesive film

Номер патента: US09534154B2. Автор: Jae Sun Han,Hyun Hee Namkung,Dong Seon Uh,Hyun Wook Kim,Jin Young SEO,Kwang Jin Jung,Kyung Il SUL. Владелец: Cheil Industries Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Anisotropic conductive film, composition for the same, and apparatus including the same

Номер патента: US20140034882A1. Автор: Jin Kyu Kim,Dong Seon Uh,Jang Hyun Cho,Jin Seong Park,Youn Jo KO,Sang Sik Bae. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-02-06.

Manufacturing method of anisotropic conductive film and apparatus thereof

Номер патента: US11735333B2. Автор: Zihao GUO. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-22.

Anisotropic conductive film using polarized conductive particles and method for manufacturing the same

Номер патента: WO2007081098A1. Автор: Il-Rae Cho. Владелец: LS CABLE LTD.. Дата публикации: 2007-07-19.

Anisotropically conductive film

Номер патента: US20030178221A1. Автор: Cindy Chiu,Hsiao Chuang. Владелец: Avery Dennison Corp. Дата публикации: 2003-09-25.

Anisotropically conductive adhesive composition and anisotropically conductive adhesive film formed from it

Номер патента: EP1272586A2. Автор: Hiroaki Yamaguchi,Michiru Hata,Tetsu Kitamura,Yuji Hiroshige. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2003-01-08.

Anisotropic conductive material and process for production thereof, and mounting body and process for production thereof

Номер патента: US20130140085A1. Автор: Shinichi Hayashi,Hiroshi Hamachi. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2013-06-06.

Anisotropic conductive material and process for production thereof, and mounting body and process for production thereof

Номер патента: US9281096B2. Автор: Shinichi Hayashi,Hiroshi Hamachi. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2016-03-08.

Method of making films and coatings having anisotropic conductive pathways therein

Номер патента: US6149857A. Автор: Ciaran B. McArdle,Joseph Burke. Владелец: Henkel Loctite Ireland Ltd. Дата публикации: 2000-11-21.

Stretchable conductive fluoroelastomer paste composition

Номер патента: US20220056283A1. Автор: Yu Teng Liang. Владелец: DuPont Electronics Inc. Дата публикации: 2022-02-24.

Electrical and thermal conductive paste composition and method of reducing percolation threshold and enhancing percolating conductivity using the same

Номер патента: US20160358687A1. Автор: Xinfeng Zhang,Matthew Ming-Fai YUEN. Владелец: Hong Kong University of Science and Technology HKUST. Дата публикации: 2016-12-08.

Anisotropic conductive adhesive

Номер патента: US20120262931A1. Автор: Shiyuki Kanisawa,Hidetsugu Namiki,Genki Katayanagi. Владелец: Sony Chemical and Information Device Corp. Дата публикации: 2012-10-18.

Electrical and thermal conductive paste composition and method of reducing percolation threshold and enhancing percolating conductivity using the same

Номер патента: US09870843B2. Автор: Xinfeng Zhang,Matthew Ming-Fai YUEN. Владелец: Hong Kong University of Science and Technology HKUST. Дата публикации: 2018-01-16.

Flexible electrically conductive pastes and devices made therewith

Номер патента: US20190386403A1. Автор: Hee Hyun Lee,Hoang Vi Tran,Edmund Francis Schieffer, Jr.. Владелец: DuPont Electronics Inc. Дата публикации: 2019-12-19.

Method for fabricating anisotropic conductive substrate

Номер патента: US20050066521A1. Автор: Yeong-Her Wang,An-Hong Liu,Yuan-Ping Tseng,Y. Lee,S. Cheng. Владелец: CHIPNOS TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2005-03-31.

Conductive paste composition

Номер патента: US20160351289A1. Автор: Atsuo Orita. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-01.

Electrically conductive paste composition

Номер патента: US20140126113A1. Автор: Toshiaki Ogiwara. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2014-05-08.

Conductive paste composition

Номер патента: US09530533B2. Автор: Atsuo Orita. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Conductive paste composition for external electrode and multilayer ceramic electronic component including the same

Номер патента: US09343232B2. Автор: Byoung Jin CHUN,Jae Hwan Han,Hyun Hee Gu,Kyung Pyo Hong,Byung Jun JEON. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-17.

Anisotropic conductive elastomer based electrical interconnect with enhanced dynamic range

Номер патента: US20030224633A1. Автор: Roger Weiss. Владелец: Paricon Technologies Corp. Дата публикации: 2003-12-04.

Anisotropic conductive film using solder coated metal conducting particles

Номер патента: KR20180114558A. Автор: 박재형,백경욱. Владелец: 한국과학기술원. Дата публикации: 2018-10-19.

Conductive paste compositions

Номер патента: WO2024192555A1. Автор: Jun Hu,Stacey James Marsh,Yanfei LI,Linqian Feng,Juanjuan WU. Владелец: Eastman Chemical (China) Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-09-26.

Ni alloy particles and method for producing same, and anisotropic conductive film

Номер патента: US20020003227A1. Автор: Koji Sato,Kagehiro Kageyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-10.

Conductive paste and electronic device

Номер патента: US20240312666A1. Автор: Zhongwei REN,Jiameng KANG. Владелец: Beijing Dream Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Multilayer electronic component and conductive paste composition for internal electrode

Номер патента: US09576697B2. Автор: Young Il Lee,Soo Hwan Son,So Yeon SONG. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Stretchable conductive fluoroelastomer paste composition

Номер патента: US11851580B2. Автор: Yu Teng Liang. Владелец: Du Pont China Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Multilayer electronic component and conductive paste composition for internal electrode

Номер патента: US09824791B2. Автор: Young Il Lee,Soo Hwan Son,So Yeon SONG. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Conductive copper paste composition

Номер патента: CA1287557C. Автор: Fumio Nakatani,Kazumasa Eguchi,Shinichi Wakita,Hisatoshi Murakami,Tsunehiko Terada. Владелец: Tatsuta Electric Wire and Cable Co Ltd. Дата публикации: 1991-08-13.

Flexible electrically conductive pastes and devices made therewith

Номер патента: WO2019246100A1. Автор: Hee Hyun Lee,Hoang Vi Tran,Edmund Francis Schieffer Jr. Владелец: Dupont Electronics, Inc.. Дата публикации: 2019-12-26.

Conductive paste composite

Номер патента: US20120103410A1. Автор: Jin Gyeong Park,In Jae Lee,Jun Phill Eom,Soon Gil Kim. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-03.

Conductive paste composition for external electrode and multilayer ceramic electronic component fabricated using the same

Номер патента: US20130329336A1. Автор: Choon Keun Lee,Jae Choon Cho,Hee Sun CHUN. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Electronic device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240244745A1. Автор: Zhongwei REN,Jiameng KANG,Jiangchuan WANG. Владелец: Beijing Dream Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Polyurethane, method for producing polyurethane, electroconductive paste composition, electroconductive wire, and method for producing electroconductive wire

Номер патента: EP4194434A1. Автор: Osamu Watanabe,Koji Hasegawa,Shiori Nonaka. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-14.

Flexible electronic circuit for ultrasound catheters and related devices and methods

Номер патента: WO2022046305A1. Автор: Arthur G. Blanck,Fermin Armando LUPOTTI. Владелец: St. Jude Medical, Cardiology Division, Inc.. Дата публикации: 2022-03-03.

Conductive paste and method for manufacturing multilayer printed wiring board using same

Номер патента: EP1816653A4. Автор: Noriki Hayashi,Hitoshi Takii,Yoshio Oka. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2008-11-05.

Flexible electronic circuit for ultrasound catheters and related devices and methods

Номер патента: US20240268790A1. Автор: Arthur G. Blanck,Fermin Armando LUPOTTI. Владелец: St Jude Medical Cardiology Division Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Lead-free conductive paste composition

Номер патента: US20120168689A1. Автор: Rong-Zhi Chen,Jui-Tung Chang,Shu-Hua Chen,Jye-Long Lee,Chin-Lin Huang,Hung-Shuo CHUNG. Владелец: China Steel Corp. Дата публикации: 2012-07-05.

Conductive paste and ceramic electronic component

Номер патента: US20010015603A1. Автор: Takeshi Miki,Atsuyoshi Maeda. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-23.

Polymer conductive paste for solar cells with heterojunctions

Номер патента: RU2746270C1. Автор: Иван Сергеевич Митченко,Максим Михайлович Власенко,Александра Александровна Булгакова,Нина Ивановна Шалько,Илья Алексеевич Агарков,Алена Геннадиевна Варавина,Антон Андреевич Острый,Мария Александровна Пономаренко. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью «Научное предприятие Монокристалл Пасты». Дата публикации: 2021-04-12.

Liquid metal conductive paste and electronic device

Номер патента: US11776708B2. Автор: Ping Li,Shijin DONG,Zhenlong Men. Владелец: Beijing Dream Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Electrically conductive paste

Номер патента: US20200234843A1. Автор: Kazuyuki Okabe. Владелец: Noritake Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-23.

Carbon-coated metal powder, conductive paste containing carbon-coated metal powder and multilayer electronic component using same, and method for manufacturing carbon-coated metal powder

Номер патента: US09943909B2. Автор: Hideki Tanaka,Yuji Akimoto,Mineto Iwasaki,Akiko Matsuo. Владелец: Shoei Chemical Inc . Дата публикации: 2018-04-17.

Conductive paste and method for manufacturing the same, wiring using the conductive paste and method for manufacturing the same

Номер патента: US09330807B2. Автор: Kazufumi Ogawa,Kazuhiro Soejima. Владелец: EMPIRE TECHNOLOGY DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2016-05-03.

Conductive paste

Номер патента: US6372158B1. Автор: Akira Hashimoto,Masaaki Hayama,Kazuhiro Miura,Takeo Yasuho. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2002-04-16.

Conductive paste and printed circuit board using the same

Номер патента: US20090114425A1. Автор: Jee-Soo Mok,Young-Jin Kim,Je-Gwang Yoo,Chang-Sup Ryu,Seung-Hyun Baik,Eung-Suek Lee,Young-Seok Oh,Jae-Boong CHOI,Dae-Woo Suh,Jun-Oh Hwang. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-07.

Liquid metal microcapsule, conductive paste and preparation method thereof, and electronic device

Номер патента: US20230317311A1. Автор: Zhenlong Men,Zhongwei REN. Владелец: Beijing Dream Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Conductive paste and mixture paste for lithium ion battery positive electrode

Номер патента: US20170141400A1. Автор: Koji Endo,Hideki Hagiwara,Machiko Abe,Atsushi Tsukamoto,Kosuke IWASE,Junji AKAHANE,Yoshinori TOCHINO,Yuta SARUKAWA. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Adhesive conductive paste

Номер патента: US20220275247A1. Автор: Yasuyuki Akai,Takanori KOBATAKE,Tomoya Egawa. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Method for producing conductive paste

Номер патента: EP4243124A1. Автор: Yu Uemura. Владелец: Sanyo Color Works Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Conductive paste, method for producing electronic component, and method for producing laminated ceramic capacitor

Номер патента: MY201078A. Автор: Kaori Nakaie. Владелец: Sumitomo Metal Mining Co. Дата публикации: 2024-02-03.

Electrically conductive paste and electronic element

Номер патента: US20010001481A1. Автор: Hiromasa Takahashi,Kunihiko Hamada,Yukio Sanada,Shinichiro Kuroiwa,Masaki Fujiyama,Aira Otani. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2001-05-24.

Method for preparing low melting point metal particles, conductive paste and method for preparing the same

Номер патента: US12046391B2. Автор: Zhenlong Men,Zhongwei REN,Jiameng KANG. Владелец: Beijing Dream Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Conductive paste, electronic component and method for manufacturing electronic component

Номер патента: US9653211B2. Автор: Yoko OKABE,Toshiki Nagamoto,Yasuhiro Nishisaka,Tetsuya KISUMI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Conductive paste electronic component and method for manufacturing electronic component

Номер патента: US20140347783A1. Автор: Yoko OKABE,Toshiki Nagamoto,Yasuhiro Nishisaka,Tetsuya KISUMI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-27.

Method for preparing low melting point metal particles, conductive paste and method for preparing the same

Номер патента: US20230162882A1. Автор: Zhenlong Men,Zhongwei REN,Jiameng KANG. Владелец: Beijing Dream Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Conductive paste and multilayer ceramic electronic component

Номер патента: US09840433B2. Автор: Tomochika Miyazaki. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Conductive paste

Номер патента: US09783708B2. Автор: Kenji Shimoyama,Tomofumi Watanabe,Miki MATSUI,Takuya Tomura. Владелец: Bando Chemical Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Fluorescent display device with conductive paste having Ag, Sb, and Zn

Номер патента: US5705097A. Автор: Toshinori Suzuki,Kuniaki Kawatsu. Владелец: Futaba Corp. Дата публикации: 1998-01-06.

Conductive Paste and Flexible Printed Wiring Board Produced Using the Conductive Paste

Номер патента: US20070256857A1. Автор: Yoichi Kamikoriyama,Sumikazu Ogata,Kei Anai. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2007-11-08.

Flexible conductive paste and flexible electronic device

Номер патента: US11776709B2. Автор: Shijin DONG,Zhenlong Men. Владелец: Beijing Dream Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Conductive paste for internal electrode of multilayer ceramic electronic component and multilayer ceramic electronic component including the same

Номер патента: US20130003257A1. Автор: Jun Hee Kim,Jong Han Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-03.

Nickel powder dispersion, method of producing nickel power dispersion and method of producing conductive paste

Номер патента: US20020189402A1. Автор: Takayuki Ito,Hideo Takatori. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-19.

Conductive paste, method for manufacturing laminated ceraminc electronic component, and laminated ceramic electronic component

Номер патента: US20030060353A1. Автор: Takeshi Miki,Satoru Noda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-03-27.

Glazing panel having an electrically conductive connector

Номер патента: EP3289638A1. Автор: Shoichi Takeuchi,Naoki Hashimoto,Peter Schnörch,Remi SARKIS,Paul SCHOEBRECHTS. Владелец: AGC Automotive Americas R&D Inc. Дата публикации: 2018-03-07.

Connector having at least one contact-pin inserting port for insertion of a conduction contact pin of a connector conduction-test tool

Номер патента: US20010023147A1. Автор: Haruki Yoshida,Motohisa Kashiyama. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2001-09-20.

Conductive paste for forming external electrode of multilayer ceramic electronic component

Номер патента: MY193375A. Автор: Soichiro ESAKI,Nobuo Nishioka,Hayato TATENO. Владелец: Shoei Chemical Ind Co. Дата публикации: 2022-10-07.

Conductive paste

Номер патента: US6733696B2. Автор: Kimiharu Anao. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-11.

Electrically conductive paste

Номер патента: US9761349B2. Автор: Satoshi Imahashi. Владелец: Toyobo Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Conductive paste

Номер патента: CA3032768C. Автор: Hiroshi Mashima,Hayato TATENO,Junichi Ikuno. Владелец: Shoei Chemical Inc . Дата публикации: 2023-08-29.

Stretchable conductive paste and film

Номер патента: US11932771B2. Автор: Taku Fujino,Toshiaki Ogiwara. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Conductive paste, laminate body, method of bonding copper laminate/copper electrode and conductor

Номер патента: EP4279265A2. Автор: Jinting Jiu,Yoshie Tachibana. Владелец: Senju Metal Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Conductive paste, laminate body, method of bonding copper laminate/copper electrode and conductor

Номер патента: EP4279264A2. Автор: Jinting Jiu,Yoshie Tachibana. Владелец: Senju Metal Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Conductive paste, laminate body, method of bonding copper laminate/copper electrode and conductor

Номер патента: EP4279264A3. Автор: Jinting Jiu,Yoshie Tachibana. Владелец: Senju Metal Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-21.

Conductive paste, laminate body, method of bonding copper laminate/copper electrode and conductor

Номер патента: EP4279265A3. Автор: Jinting Jiu,Yoshie Tachibana. Владелец: Senju Metal Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-21.

Conductive paste

Номер патента: US20150232709A1. Автор: Kenji Shimoyama,Tomofumi Watanabe,Miki MATSUI,Takuya Tomura. Владелец: Bando Chemical Industries Ltd. Дата публикации: 2015-08-20.

Stretchable conductive paste and film

Номер патента: US20230272238A1. Автор: Taku Fujino,Toshiaki Ogiwara. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Conductive paste for external electrode, multilayered ceramic electronic component using the same and fabrication method thereof

Номер патента: US20130063865A1. Автор: Chang Hoon Kim,Sang Hoon Kwon,Hyun Hee Gu,Myung Jun Park,Sung Bum Sohn. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Conductive paste and method of manufacturing electronic component using the same

Номер патента: US20070272912A1. Автор: Satoshi Yamada,Hitoshi Onishi,Akira Sekiguchi. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2007-11-29.

Conductive paste for screen printing

Номер патента: US20130056687A1. Автор: Masanori Kasai,Hideki Etori,Hiroshi Isozumi,Shou Inagaki. Владелец: DIC Corp. Дата публикации: 2013-03-07.

Method for manufacturing electrically-conductive paste

Номер патента: US20230420155A1. Автор: Yu Uemura. Владелец: Sanyo Color Works Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Conductive filler, method for manufacturing conductive filler, and conductive paste

Номер патента: US20170216914A1. Автор: Shigekatsu Ohnishi. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Silver-coated silicone rubber particles, conductive paste containing same, and a conductive film production method using conductive paste

Номер патента: US20190368047A1. Автор: Kazuhiko Yamasaki,Hiroto Akaike. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 2019-12-05.

Conductive paste

Номер патента: US9076572B2. Автор: Chan-Li Hsueh,Chung-Ping Li,Chu-Yun Cheng. Владелец: Chi Mei Corp. Дата публикации: 2015-07-07.

Conductive paste based on nano-hybrid materials

Номер патента: US11773271B2. Автор: Manoj Kumar Ram. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH FLORIDA. Дата публикации: 2023-10-03.

Electrical conductivity connectors

Номер патента: EP1145383A2. Автор: David Horne,Neil Christopher Fletcher. Владелец: APW Electronics Ltd. Дата публикации: 2001-10-17.

Conductive Paste and Wiring Board Using Same

Номер патента: US20090042001A1. Автор: Kenji Miyazaki,Masahiro Yamakawa. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2009-02-12.

Method for manufacturing conductive paste and method for manufacturing multilayer ceramic electronic component

Номер патента: US12087464B2. Автор: Tae Gyun Kwon,Eung Seok Lee. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Modified metal nanoplate and conductive paste comprising the same

Номер патента: US20200181430A1. Автор: HUNG Ming Chang,Shin-Liang Kuo,Shu-Jiuan Huang,Jian-Yi Hang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-06-11.

Conductive paste for electrode formation

Номер патента: US20240321478A1. Автор: Tetsuya Kimura,Yusuke Azuma,Nihiro UTSUMI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Metallic glass, conductive paste, and electronic device

Номер патента: US09870840B2. Автор: Eun Sung Lee,Sang Soo Jee,Se Yun Kim,Jin Man PARK,Suk Jun Kim,Do-Hyang Kim,Keum Hwan PARK. Владелец: Yonsi University University-Industry Foundation (uif). Дата публикации: 2018-01-16.

Conductive paste

Номер патента: US09574091B2. Автор: Yoshiaki Yoshii. Владелец: Namics Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Conductive paste, multilayer ceramic electronic component, and method for manufacturing same

Номер патента: US09401244B2. Автор: Toshihiro Suzuki,Masahito Ishikawa,Naoaki Ogata. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-26.

An electrically conductive connector for a window pane

Номер патента: WO2024017966A1. Автор: Peter Schnörch,Rami CHUKKA. Владелец: AGC Glass Europe. Дата публикации: 2024-01-25.

Glazing panel having an electrically conductive connector

Номер патента: US11387549B2. Автор: Shoichi Takeuchi,Peter SCHNOERCH. Владелец: AGC Glass Europe SA. Дата публикации: 2022-07-12.

Glazing panel having an electrically conductive connector

Номер патента: EP3673538A1. Автор: Shoichi Takeuchi,Peter Schnörch. Владелец: AGC Glass Europe SA. Дата публикации: 2020-07-01.

Glazing panel having an electrically conductive connector

Номер патента: US20210126354A1. Автор: Shoichi Takeuchi,Peter SCHNOERCH. Владелец: AGC Glass Europe SA. Дата публикации: 2021-04-29.

Nickel powder, conductive paste, and multilayer electronic component using same

Номер патента: CA2568811C. Автор: Yuji Akimoto,Kazuro Nagashima,Hidenori Ieda. Владелец: Shoei Chemical Inc . Дата публикации: 2010-11-09.

Conductive paste and ceramic electronic component

Номер патента: US11817266B2. Автор: Kenichi Hamanaka,Kota ZENZAI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Conductive paste and glass article

Номер патента: US20240096518A1. Автор: Seitaro Washizuka. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Conductive paste based on nano-hybrid materials

Номер патента: US20240043695A1. Автор: Manoj Kumar Ram. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH FLORIDA. Дата публикации: 2024-02-08.

Flexible electronic circuit for ultrasound catheters and related devices and methods

Номер патента: EP4167865A1. Автор: Arthur G. Blanck,Fermin Armando LUPOTTI. Владелец: St Jude Medical Cardiology Division Inc. Дата публикации: 2023-04-26.

Conductive paste and conductive film formed using the same

Номер патента: US11970631B2. Автор: Koso Matsuno,Naomichi Ohashi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Conductive paste and multilayer electronic component

Номер патента: US20230343514A1. Автор: Chang Hak Choi,San KYEONG,Ic Seob Kim,Kyung Ryul LEE,Young Soo YI,Kun Ho KOO,Soung Jin Kim,Ho Yeol LEE. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Conductive pastes using bimodal particle size distribution

Номер патента: US10208211B2. Автор: Ka Ming NG. Владелец: CN Innovations Ltd. Дата публикации: 2019-02-19.

Method for manufacturing conductive paste and method for manufacturing multilayer ceramic electronic component

Номер патента: US20230253131A1. Автор: Tae Gyun Kwon,Eung Seok Lee. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Electrically conductive paste

Номер патента: US20230116174A1. Автор: Benno Schmied,Marco Sutter,Ivan Schmalzel,Stanislaus Schmidt. Владелец: CARL FREUDENBERG KG. Дата публикации: 2023-04-13.

Electrically conductive paste

Номер патента: US11776707B2. Автор: Benno Schmied,Marco Sutter,Ivan Schmalzel,Stanislaus Schmidt. Владелец: CARL FREUDENBERG KG. Дата публикации: 2023-10-03.

Electrically conductive paste

Номер патента: CA3163379A1. Автор: Benno Schmied,Marco Sutter,Ivan Schmalzel,Stanislaus Schmidt. Владелец: CARL FREUDENBERG KG. Дата публикации: 2021-09-10.

Flexible electric circuit for ultrasound catheters and related devices and methods

Номер патента: US11986351B2. Автор: Arthur G. Blanck,Fermin Armando LUPOTTI. Владелец: St Jude Medical Cardiology Division Inc. Дата публикации: 2024-05-21.

Method for preparing rice ear-shaped copper particles, rice ear-shaped copper particles prepared thereby, and conductive paste using same

Номер патента: US20190344353A1. Автор: Jong-Hyun Lee,Jun Ho Hwang. Владелец: Foundation for Research and Business of Seoul National University of Science and Technology. Дата публикации: 2019-11-14.

Conductive paste and conductive film formed using the same

Номер патента: US20220403183A1. Автор: Koso Matsuno,Naomichi Ohashi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

Conductive Pastes Using Bimodal Particle Size Distribution

Номер патента: US20170081526A1. Автор: Ka Ming NG. Владелец: CN Innovations Ltd. Дата публикации: 2017-03-23.

Conductive paste

Номер патента: US20240212930A1. Автор: Takashi Ohara,Hideyasu Onishi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Conductive paste

Номер патента: US20240222017A1. Автор: Takashi Ohara,Hideyasu Onishi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Conductive connector attachment for a printed circuit board

Номер патента: US20090181557A1. Автор: Davis-Dang Hoang Nhan,Thomas Michael Ales. Владелец: Kimberly Clark Worldwide Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Copper paste composition and its use in a method for forming copper conductors on substrates

Номер патента: US20160086682A1. Автор: MARC Henry LABRANCHE. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2016-03-24.

Dielectric paste composition, method of forming transparent dielectric layer, transparent dielectric layer, and device including the transparent dielectric layer

Номер патента: US20120167799A1. Автор: Min-Jong Bae,Tae-Won Jeong,Shang-hyeun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-07-05.

Conductive copper paste composition and method of forming metal thin film using the same

Номер патента: US20140023779A1. Автор: Dong Hoon Kim,Kwi Jong Lee,Sung Il Oh. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Copper paste composition and its use in a method for forming copper conductors on substrates

Номер патента: US09934880B2. Автор: MARC Henry LABRANCHE. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2018-04-03.

Carbon nanofiber dispersion liquid, coating composition, and paste composition

Номер патента: US09455061B2. Автор: Masahiro Hagiwara,Osamu Sakaya. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 2016-09-27.

Current conduction connector for the electrical connection of gas bag collision protection installation

Номер патента: US4657326A. Автор: Helmut Bonn,Gregor Zeller. Владелец: Petri AG. Дата публикации: 1987-04-14.

Electrical connection for an AIMD utilizing an anisotropic conductive layer

Номер патента: US12064639B2. Автор: Robert A. Stevenson,Christine A. Frysz,Keith W. Seitz,Marc Gregory Martino,Brian P Hohl. Владелец: Greatbatch Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Method for producing anisotropically conductive elastomer using meltable base layer

Номер патента: US20030077391A1. Автор: Everett Simons. Владелец: Paricon Technologies Corp. Дата публикации: 2003-04-24.

Phenol compound, electroconductive paste composition, method for producing electroconductive paste composition, and electroconductive wiring line and production method therefor

Номер патента: EP4249461A1. Автор: Osamu Watanabe,Koji Hasegawa,Shiori Nonaka. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Electrical connection for an AIMD EMI filter utilizing an anisotropic conductive layer

Номер патента: US10905888B2. Автор: Robert A. Stevenson,Christine A. Frysz,Keith W. Seitz,Marc Gregory Martino,Brian P. Hohl. Владелец: Greatbatch Ltd. Дата публикации: 2021-02-02.

Conductive paste and ceramic substrate manufactured using the same

Номер патента: US09585250B2. Автор: Masahiro Hirano,Minoru Sato,Shigekazu Onozumi,Tomoaki Kawata. Владелец: Tanaka Kikinzoku Kogyo KK. Дата публикации: 2017-02-28.

Electronic device and substrate with lds antennas and manufacturing method thereof

Номер патента: US20180269568A1. Автор: Xuan XU,Ye Xiong,Yuan-Zi Duan. Владелец: Foxconn Interconnect Technology Ltd. Дата публикации: 2018-09-20.

Conductive paste and electronic device

Номер патента: US20230170108A1. Автор: Zhongwei REN,Jiameng KANG. Владелец: Beijing Dream Ink Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Polyurethane, method for producing polyurethane, conductive paste composition, conductive wire, and method for producing conductive wire

Номер патента: US20240287244A1. Автор: Osamu Watanabe,Koji Hasegawa,Shiori Nonaka. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Polyurethane, polyurethane production method, conductive paste composition, conductive wire, and method for producing conductive wire

Номер патента: US12131836B2. Автор: Osamu Watanabe,Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Shiori Nonaka. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Phenol compound, conductive paste composition, method for producing conductive paste composition, conductive wire, and method for producing conductive wire

Номер патента: US20230332008A1. Автор: Osamu Watanabe,Koji Hasegawa,Shiori Nonaka. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-19.

Conductive paste and ceramic substrate manufactured using the same

Номер патента: US20150282309A1. Автор: Masahiro Hirano,Minoru Sato,Shigekazu Onozumi,Tomoaki Kawata. Владелец: Tanaka Kikinzoku Kogyo KK. Дата публикации: 2015-10-01.

Stretchable conductive paste composition

Номер патента: US20190292383A1. Автор: Fei Xiang,Jing Fan. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2019-09-26.

Conductive paste composition, device comprising electrode formed from same, and method for producing conductive paste composition

Номер патента: US20200095370A1. Автор: Daisuke Adachi,Hitoshi Tamai,Masanori Kanematsu. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Conductive paste composition, device comprising electrode formed from same, and method for producing conductive paste composition

Номер патента: US11066509B2. Автор: Daisuke Adachi,Hitoshi Tamai,Masanori Kanematsu. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2021-07-20.

Conductive paste composition

Номер патента: US11739232B2. Автор: Satoru Tomekawa,Takamitsu Arai,Yuta Motohisa,Toyoharu Matsubara,Kimika Gotou. Владелец: Kyoto Elex Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Conductive paste composition

Номер патента: US20220228015A1. Автор: Satoru Tomekawa,Takamitsu Arai,Yuta Motohisa,Toyoharu Matsubara,Kimika Gotou. Владелец: Kyoto Elex Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Conductive paste composition

Номер патента: EP3985074A1. Автор: Satoru Tomekawa,Takamitsu Arai,Yuta Motohisa,Toyoharu Matsubara,Kimika Gotou. Владелец: Kyoto Elex Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-20.

Polyurethane, polyurethane production method, conductive paste composition, conductive wire, and method for producing conductive wire

Номер патента: US20220157484A1. Автор: Osamu Watanabe,Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Shiori Nonaka. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Polyurethane, polyurethane production method, conductive paste composition, conductive wire, and method for producing conductive wire

Номер патента: EP4001336A1. Автор: Osamu Watanabe,Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Shiori Nonaka. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-25.

Platinum containing conductive paste

Номер патента: SG10201403574PA. Автор: Shahbazi Samson,Grabey Steven,Challingsworth Mark. Владелец: Heraeus Precious Metals North America Conshohocken LLC. Дата публикации: 2015-01-29.

Electrode material for plasma display panel, manufacturing method of plasma display panel, plasma display device, and manufacturing method of same

Номер патента: US20050035714A1. Автор: Tomomi Hiraoka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2005-02-17.

Conductive paste for terminal electrodes of monolithic ceramic electronic component, method for making monolithic ceramic electronic component, and monolithic ceramic electronic component

Номер патента: US20040214418A1. Автор: Takeshi Miki,Kunihiko Hamada,Satoru Noda. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2004-10-28.

Conductive paste, manufacturing method thereof, capacitor element and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240266119A1. Автор: Ching Feng Lin,Chieh Lin,Shang-Che Lan,Shuo Yan MA. Владелец: Apaq Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Method of manufacturing ceramic capacitors using conductive paste

Номер патента: US6141846A. Автор: Hisashi Miki. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2000-11-07.

Conductive paste for lithium-ion battery positive electrodes and mixture paste for lithium-ion battery positive electrodes

Номер патента: US10355281B2. Автор: Koji Endo,Hideki Hagiwara,Takanori Ito,Kazuyuki Kuwano,Machiko Abe,Sachio Takeda,Atsuya Kato,Kosuke IWASE,Junji AKAHANE,You KATO. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-16.

Conductive paste

Номер патента: EP3648115A1. Автор: Masahiro Ishii,Shoji Nozato,Akira Nakasuga,Shigekatsu Ohnishi. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-06.

Conductive paste for lithium-ion battery positive electrodes and mixture paste for lithium-ion battery positive electrodes

Номер патента: US20170207461A1. Автор: Koji Endo,Hideki Hagiwara,Takanori Ito,Kazuyuki Kuwano,Machiko Abe,Sachio Takeda,Atsuya Kato,Kosuke IWASE,Junji AKAHANE,You KATO. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-20.

Conductive paste for electrode mixed material layer, slurry for electrode mixed material layer, electrode for electrochemical device, and electrochemical device

Номер патента: US12021215B2. Автор: Yasuhiro ISSHIKI,Kenya Sonobe,Maki MESUDA. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Nickel powder and conductive paste

Номер патента: US20010013263A1. Автор: Takao Hayashi,Yasuhide Yamaguchi. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-16.

Conductive paste and ceramic electronic element using the same

Номер патента: US20020096664A1. Автор: Shinichi Taira,Atsuyoshi Maeda. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2002-07-25.

Conductive paste and method for producing conductive film using same

Номер патента: US09732236B2. Автор: Daisuke Itoh,Shuji Kaneda,Hidefumi Fujita. Владелец: Dowa Electronics Materials Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Conductive paste for external electrode, multilayer ceramic electronic component using the same, and manufacturing method thereof

Номер патента: US09633792B2. Автор: Jin Woo Kim,Chang Hak Choi,Kum Jin PARK,Chi Hwa LEE,Sang Min Youn. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Copper powder and electrically conductive paste, electrically conductive coating, electrically conductive sheet, and antistatic coating using same

Номер патента: US20170145225A1. Автор: Hiroshi Okada,Yu Yamashita. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2017-05-25.

Method for manufacturing magnetic heating element particles, conductive paste, and method for forming conductive film using same

Номер патента: US20230215607A1. Автор: Hongcheol Lee,Jongdeok KIM,Soongil KIM,Jongryeol Kim,HongJung KIM,Minyeol KIM. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2023-07-06.

Conductive paste for external electrode, multilayer ceramic electronic component using the same, and manufacturing method thereof

Номер патента: US20160099110A1. Автор: Jin Woo Kim,Chang Hak Choi,Kum Jin PARK,Chi Hwa LEE,Sang Min Youn. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-07.

Conductive paste including metal portions having different melting points and multilayer ceramic component using the same

Номер патента: US12014878B2. Автор: Jun Ho Yun,Chung Hyeon Ryu,Seung Been KIM,Hyo Kyong SEO,Ye Ji HWANG. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Conductive paste and multilayer ceramic component using the same

Номер патента: US20230055918A1. Автор: Jun Ho Yun,Chung Hyeon Ryu,Seung Been KIM,Hyo Kyong SEO,Ye Ji HWANG. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

High-melting-point oxide light source, conductive paste and exhaust gas filter

Номер патента: US20030107043A1. Автор: Shinichi Ikeda,Hiroshi Bando,Naoki Shirakawa,Yasumoto Tanaka. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2003-06-12.

Integrated microwave filter module with a cover bonded by strips of conductive paste

Номер патента: US6917262B2. Автор: Philippe Poire. Владелец: Alcatel SA. Дата публикации: 2005-07-12.

Photosensitive conductive paste, method for producing multilayer electronic component, and multilayer electronic component

Номер патента: US20240177911A1. Автор: Kenta Kondo. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Method for manufacturing conductive paste and method for manufacturing multilayer ceramic capacitor

Номер патента: US20230098422A1. Автор: Tae Gyun Kwon,Eung Seok Lee,Byung Rok Ahn,So Hyeon HONG. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Conductive paste and solid electrolytic capacitor including the same

Номер патента: US09666376B2. Автор: Akihiro Nomura,Koutarou Mishima. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Paste composition

Номер патента: US20100207077A1. Автор: Eun Sung Lee,Won Cheol Jung,Sang Cheol Park,Jin Young BAE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-08-19.

System and method for cleaning surfaces and components of mask and wafer inspection systems based on the positive column of a glow discharge plasma

Номер патента: EP2834708A1. Автор: Garry Rose,Gildardo DELGADO. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-02-11.

Application device and corresponding application method

Номер патента: US11779952B2. Автор: Sebastian Gries,Bernd Locher. Владелец: Duerr Systems AG. Дата публикации: 2023-10-10.

Application device and corresponding application method

Номер патента: US20240024910A1. Автор: Sebastian Gries,Bernd Locher. Владелец: Duerr Systems AG. Дата публикации: 2024-01-25.

Paste composition, heating element, heating apparatus, and method of manufacturing the paste composition

Номер патента: US10316236B2. Автор: Seyun KIM,Haengdeog Koh,Hajin Kim,Soichiro Mizusaki. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-11.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US20220206049A1. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: US20240085480A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Inspection method of contact failure of semiconductor device and semiconductor device to which inspection method is applied

Номер патента: US20070069757A1. Автор: Yasuo Matsumiya. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-03-29.

IMAGE PROCESSING DEVICE, FOREIGN OBJECT INSPECTION DEVICE, IMAGE PROCESSING METHOD, AND FOREIGN OBJECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190304125A1. Автор: Kashu Koji. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Medical device and method for its production

Номер патента: RU2738794C1. Автор: Марсель ТИЛЕ,Йонатан ЗАЙДЕЛЬ,Зебастиан ПАНКАЛЛА,Забине АХМАНН. Владелец: Ф. Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2020-12-16.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US10922805B2. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-02-16.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US20190188844A1. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-06-20.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US11709094B2. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US20210048339A1. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

Aerial optical fiber cable inspection method, aerial optical fiber cable inspection device, and program

Номер патента: US12031858B2. Автор: Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tatsuya Okamoto. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Inspection system for apparatus for manufacturing display device and inspection method for apparatus for manufacturing display device

Номер патента: US20230230353A1. Автор: Gihyun LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Wearable device and display method

Номер патента: US12143706B2. Автор: Caiyin ZHENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: US09838608B2. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: US20240314420A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: EP4431922A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Device and method for inspecting a sealing member

Номер патента: US09568303B2. Автор: Wan-Jae JOO. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

X-ray inspection device and method for determining degree of consumption of target of x-ray tube in x-ray inspection device

Номер патента: US20190380193A1. Автор: Bunta MATSUHANA,Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US20200033254A1. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US10712257B2. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Image inspection device and program

Номер патента: US20200068081A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Drug inspection device

Номер патента: US09870611B2. Автор: Koji Ito,Mei Zhang,Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Image inspection method with a plurality of cameras

Номер патента: US09892502B2. Автор: Frank Schumann. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2018-02-13.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240233106A9. Автор: Byungkyu Son. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240135521A1. Автор: Byungkyu Son. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2024-04-25.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US20160011123A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US09606071B2. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Inspection device

Номер патента: US20220198792A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Appearance inspection system and appearance inspection method

Номер патента: US20230298151A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Nondestructive inspection device using alternating magnetic field, and nondestructive inspection method

Номер патента: US09453817B2. Автор: Kunihiko Nakamura,Gijun Idei. Владелец: Dainichi Machine and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Liquid crystal display device and production method thereof

Номер патента: US09477123B2. Автор: Kouichi Inoue,Tomokazu Saitou. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2016-10-25.

Liquid crystal display device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20070171347A1. Автор: Futoshi Nakanishi. Владелец: NEC LCD Technologies Ltd. Дата публикации: 2007-07-26.

Display device having an anisotropic conductive film

Номер патента: US20200348736A1. Автор: Jong Yoon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

Electro-optical device and electronic apparatus

Номер патента: US20230314882A1. Автор: Shinsuke Fujikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Method of manufacturing conductive particle, anisotropic conductive adhesive having the same, and method of manufacturing display apparatus using the same

Номер патента: US20120152455A1. Автор: Min-Sok Jang,Kyung-Hwan Ko,Seung-Il Lee,Jin-Wook MOON,Jeong-Geun HAN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-06-21.

Hot-pressing device and process for anisotropic conductive film (ACF) bonding structure

Номер патента: US11850834B2. Автор: Liang Zheng,ZHENG Xu,Zhengliang XU. Владелец: Jiangsu Telilan Coating Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Device for assembling camera module having anisotropic conductive film

Номер патента: US9223145B2. Автор: Fang Ye,Shin-Wen Chen,Yu-Shu Lin,Chien-Liang Chou. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-29.

Device for assembling camera module having anisotropic conductive film

Номер патента: US20140310952A1. Автор: Fang Ye,Shin-Wen Chen,Yu-Shu Lin,Chien-Liang Chou. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-23.

Novel bonding structure for a hard disk drive suspension using anisotropic conductive film

Номер патента: US20040144563A1. Автор: Masashi Shiraishi,Ichiro Yagi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-07-29.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Wafer Inspection Apparatus Using Three-Dimensional Image

Номер патента: US20160261786A1. Автор: Yu-Sin Yang,Woo-Seok Ko,Jeong-Ho Ahn,Yun-Jung Jee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-08.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20240249400A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-25.

Electronic device comprising thermally conductive connector

Номер патента: EP4158444A1. Автор: Hung-Wen Lin,Jen-Chun Chang,Keith Wang,Sin-Shong Wang,Ajit Kumar VALLABHANENI. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-04-05.

Electronic device comprising thermally conductive connector

Номер патента: WO2021242469A1. Автор: Hung-Wen Lin,Jen-Chun Chang,Keith Wang,Sin-Shong Wang,Ajit Kumar VALLABHANENI. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-12-02.

Video quality inspection method and apparatus, computer device and storage medium

Номер патента: EP3876549A1. Автор: Shuting FU. Владелец: OneConnect Smart Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Electronic device comprising a thermally conductive connector comprising graphite

Номер патента: EP4430461A1. Автор: Hung-Wen Lin,Jen-Chun Chang,Sin-Shong Wang,Ajit Kumar VALLABHANENI,Qiang Du,Jorge Luis Rosales. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

Command inspection method and apparatus, computer device, and storage medium

Номер патента: US12124569B2. Автор: Yao Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Electronic device comprising a thermally conductive connector comprising graphite

Номер патента: US20230145773A1. Автор: Hung-Wen Lin,Jen-Chun Chang,Sin-Shong Wang,Ajit Kumar VALLABHANENI,Qiang Du,Jorge Luis Rosales. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-05-11.

Paste composition, insulating film, multilayer interconnection structure, printed-circuit board, image display device, and manufacturing method of paste composition

Номер патента: US20090078458A1. Автор: Mayuka Araumi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-26.

The inspection device of all-solid-state battery and inspection method

Номер патента: CN104204829B. Автор: 尾濑德洋. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-08-24.

Tubular body inner surface inspecting device and tubular body inner surface inspecting method

Номер патента: EP3770548B1. Автор: Hironao Yamaji,Masaki Yamano,Toshio Akagi,Takeo Nakata. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Optical fiber inspection device, optical fiber manufacturing device, optical fiber inspection method, and optical fiber manufacturing method

Номер патента: CN108885182B. Автор: 橘久美子,藤井隆志,耕田浩. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2021-11-30.

Polarized image acquisition device, pattern inspection device, polarized image acquisition method, and pattern inspection method

Номер патента: TWI676085B. Автор: Riki Ogawa,小川力. Владелец: 日商紐富來科技股份有限公司. Дата публикации: 2019-11-01.

Image processing device, foreign object inspection device, image processing method, and foreign object inspection method

Номер патента: US11132785B2. Автор: Koji Kashu. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-28.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US11913838B2. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US20210033463A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Eddy current inspection method, steel pipe inspected by the eddy current inspection method, and eddy current inspection device for carrying out the eddy current inspection method

Номер патента: WO2008126553A1. Автор: Shigetoshi Hyodo,Satoshi Kureishi. Владелец: Sumitomo Metal Industries, Ltd.. Дата публикации: 2008-10-23.

Aerosol-generating article, preparation method, and inspection method

Номер патента: EP4226779A1. Автор: Cheng Liu,XU Wang,Lina GAO. Владелец: Shanghai New Tobacco Products Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

NONDESTRUCTIVE INSPECTION DEVICE USING ALTERNATING MAGNETIC FIELD, AND NONDESTRUCTIVE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140055130A1. Автор: Nakamura Kunihiko,IDEI Gijun. Владелец: DAINICHI Machine and Engineering Co., Ltd.. Дата публикации: 2014-02-27.

Inspection device for transparent substrate end surface and inspection method therefor

Номер патента: WO2004079352A1. Автор: Junichi Matsumoto. Владелец: Mitsuboshi Diamond Industrial Co. Ltd.. Дата публикации: 2004-09-16.

Nondestructive inspection device using alternating magnetic field, and nondestructive inspection method

Номер патента: EP2677311A1. Автор: Kunihiko Nakamura,Gijun Idei. Владелец: Dainichi Machine and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-25.

Meat inspection device, meat inspection system, refrigerator, and meat inspection method

Номер патента: CN114252400A. Автор: 李受娟,金彦庭,孙炯彬. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chung Ang University. Дата публикации: 2022-03-29.

Security inspection device based on image recognition and security inspection method thereof

Номер патента: CN113281814A. Автор: 杨学森,马正宏,余平,胡今珂. Владелец: Chongqing Century Keyi Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-08-20.

Inspection device for transparent substrate end surface and inspection method therefor

Номер патента: CN1784596A. Автор: 松本润一. Владелец: Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-07.

Inspection device for transparent substrate end surface and inspection method therefor

Номер патента: CN1784596B. Автор: 松本润一. Владелец: Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2011-07-06.

Automatic measuring and inspection device for inner diameter of pulley and inspection method thereof

Номер патента: KR101140721B1. Автор: 전규태. Владелец: 탑테크주식회사. Дата публикации: 2012-05-07.

Non-contact non-destructive inspection system, signal processing device, and non-contact non-destructive inspection method

Номер патента: US20220170813A1. Автор: Kazuo Watabe,Hiroshi Ohno,Takashi Usui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

Non-contact non-destructive inspection system, signal processing device and non-contact non-destructive inspection method

Номер патента: JP7183452B2. Автор: 博司 大野,隆 碓井,一雄 渡部. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-05.

Non-contact non-destructive inspection system, signal processing device, and non-contact non-destructive inspection method

Номер патента: CN114364979A. Автор: 渡部一雄,碓井隆,大野博司. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-04-15.

Material testing device, and test piece holder and inspection method used in same

Номер патента: WO2014174574A1. Автор: 田窪　健二,泰範 川口. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2014-10-30.

Non-contact non-destructive inspection system, signal processing device, and non-contact non-destructive inspection method

Номер патента: US11879815B2. Автор: Kazuo Watabe,Hiroshi Ohno,Takashi Usui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Fine pitch anisotropic conductive adhesive

Номер патента: EP1093503A1. Автор: Glen Connell,Peter B. Hogerton,Barry S. Carpenter,Hiroaki H. Yamaguchi. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 2001-04-25.

Anisotropic conductive film

Номер патента: US20140027169A1. Автор: Lung-Hai Wu,Chen-Kuan Kuo,Chien-Huang HUANG. Владелец: BenQ Materials Corp. Дата публикации: 2014-01-30.

Anisotropic conductive adhesive, display panel, and display device

Номер патента: US11970645B2. Автор: Yicheng Chen,Chi HU. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Gallium-containing anisotropically conductive film

Номер патента: US20180352654A1. Автор: Andrew L. Fassler. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2018-12-06.

Deformable device and corresponding method

Номер патента: RU2605937C2. Автор: Дэррил КОТТОН,Самиул Мд ХАКУЕ,Пирс ЭНДРЮ. Владелец: Нокиа Текнолоджиз Ой. Дата публикации: 2016-12-27.

Anisotropic conductive treads for electrical connections in soft electronics

Номер патента: US20190257015A1. Автор: Cindy Harnett. Владелец: University of Louisville Research Foundation ULRF. Дата публикации: 2019-08-22.

Surface modified amine curing agent, and one-component type epoxy resin composition and anisotropic conductive adhesive having the same

Номер патента: WO2009014353A2. Автор: Seong-Jun Park,Joon-hee Kim,Yong-Gyun Cho,No-Hyung Park,Mun-Seop Song,Chul-Hwan Lim. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2009-01-29.

Electrically conductive paste composition and method of curing same

Номер патента: CA2026206A1. Автор: Yuji Masui,Hidekazu Ishimura,Masahiko Otsuka. Владелец: Individual. Дата публикации: 1990-07-31.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240098363A1. Автор: Yosuke Tanaka,Shoji Matsuda,Yasuhiro Okuno,Kotaro Nakamoto,Sukeyuki Shinotsuka,Shunsuke Torigai,Daiki KUREI,Koki Isobe. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US09565086B2. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-02-07.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Stereoscopic image inspection device, stereoscopic image processing device, and stereoscopic image inspection method

Номер патента: US09883162B2. Автор: Kentaro Matsumoto,Yuki Kobayashi,Yasunobu Ogura,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Conductive paste, method for forming conductive pattern, and object with printed conductive pattern

Номер патента: US09464198B2. Автор: Yoshinori Katayama,Tsutomu Kanno,Yasuhiro Sente,Tomoko Okamoto. Владелец: DIC Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Conductive pastes with organometallic modifiers

Номер патента: RU2499810C2. Автор: Имельда КАСТИЛЬО,Ксуеронг ГАО. Владелец: БАСФ СЕ. Дата публикации: 2013-11-27.

Manufacturing method of wiring board, and conductive paste used therein

Номер патента: US6514364B2. Автор: Yoshihisa Takase,Eiji Kawamoto,Masaaki Hayama,Kazuhiro Miura,Yuji Yagi. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2003-02-04.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Devices and systems for controlling electrostatic discharge on electronic devices

Номер патента: US20190357340A1. Автор: Donald Siu. Владелец: Panasonic Avionics Corp. Дата публикации: 2019-11-21.

Allowance setting system, substrate inspection device, allowance setting method, and substrate inspection method

Номер патента: US12041724B2. Автор: Keiichi Ono,Kazuya Kotani,Mitsutaka Inagaki,Yuta YOKOI. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Packet receiving method, deep packet inspection device and system

Номер патента: US09578040B2. Автор: Jiancheng GUO,Zhenggang You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Conductive paste

Номер патента: CA1143933A. Автор: TAKAO Ito,Masayuki Osawa,Shimetomo Fueki,Kenji Ohsawa,Keiji Kurata. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1983-04-05.

Conducting connector assembly

Номер патента: RU2556837C2. Автор: Кевин О`Брайн ГОУ,Нейтан Майкл КЕЛЛИ,Джон Томас ЭКСТЕЛЛ,Джеймс Патрик ИРВИН,Дэвид Уиллиан МИНТИЭР,Диего А. ВЕЛАСКО. Владелец: Дзе Боинг Компани. Дата публикации: 2015-07-20.

Inspection apparatus, analysis display apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US7729692B2. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Network inspection method, network device and network management device

Номер патента: EP4440069A1. Автор: Qin Wu,Xiaoping Ma,Xiaopeng Qin,Qiufang MA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

System for mobile device cradle and tube gripper of non-destructive testing inspection device

Номер патента: US09538677B2. Автор: Kevin Andrew Coombs,Joshua Lynn Scott,Gerard Frederick Beckhusen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-01-03.

Network Inspection Method, Network Device, and Network Management Device

Номер патента: US20240348522A1. Автор: Qin Wu,Xiaoping Ma,Xiaopeng Qin,Qiufang MA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Lighting Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120313128A1. Автор: Hisao Ikeda,Kohei Yokoyama,Shinichi HIRASA. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-13.

Inspection Device, Analysis/Display Device, Inspection Device

Номер патента: US20080191708A1. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Defect inspection method and defect inspection device of gray tone mask, and defect inspection method and defect inspection device of photomask

Номер патента: TWI223061B. Автор: Katsuhiko Nakanishi. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2004-11-01.

Defect inspection method and defect inspection device of gray tone mask, and defect inspection method and defect inspection device of photomask

Номер патента: TW200403431A. Автор: Katsuhiko Nakanishi. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2004-03-01.

IMAGE PROCESSING DEVICE, FOREIGN OBJECT INSPECTION DEVICE, IMAGE PROCESSING METHOD, AND FOREIGN OBJECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190304086A1. Автор: Kashu Koji. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Reference image creation device, pattern inspection device, reference image creation method, and pattern inspection method

Номер патента: JP4235634B2. Автор: 伸之 原部. Владелец: アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社. Дата публикации: 2009-03-11.

Address conversion inspection device, central processing unit, and address conversion inspection method

Номер патента: JP5579003B2. Автор: 実 中出,信一 戸田. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-08-27.

Electromagnetic field analysis method for anisotropic conductive material

Номер патента: US09805149B2. Автор: Hiroyuki Tsubata. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Electromagnetic field analysis method for anisotropic conductive material

Номер патента: US20170284964A1. Автор: Hiroyuki Tsubata. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2017-10-05.

Wafer inspection device

Номер патента: US8638118B2. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-01-28.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection apparatus

Номер патента: US20230184827A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Shigeru EURA,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20240302419A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US09632110B2. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Wafer inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230105201A1. Автор: Tsun-I Wang,I-Shih Tseng,Min-Hung Chang,Tzu-Tu CHAO. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-04-06.

Wafer inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US11841381B2. Автор: Tsun-I Wang,I-Shih Tseng,Min-Hung Chang,Tzu-Tu CHAO. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Wafer inspection system

Номер патента: US20240219447A1. Автор: Wei-Chih Chen,Yi-Yen Lin,Shen-Hao TSAI. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Display panel inspection device and display panel inspection method using the same

Номер патента: US20240219424A1. Автор: Dong Hoon Lee,Haewook YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Method of measuring thermal resistance between a housing of a semiconductor device and a cooling radiator

Номер патента: RU2686859C1. Автор: Павел Владимирович Сорокин,Алексей Иванович Солдатов,Андрей Алексеевич Солдатов,Мария Алексеевна Костина,Юлия Викторовна Шульгина,Иван Михайлович Васильев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет". Дата публикации: 2019-05-06.

Wafer inspection method

Номер патента: US20170322236A1. Автор: Yuichi Ozawa,Tetsuo Yoshida,Yasuhito Iguchi,Junzo Koshio. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-09.

Wafer inspection device

Номер патента: US20130147504A1. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-06-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Method for determining set value of pressure for inspection in wafer inspection apparatus

Номер патента: US09689916B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Inspection device and method

Номер патента: US12044725B2. Автор: Hiroshi Fukuda,Toru Miura,Yoshiho Maeda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Substrate inspection device and component mounting device

Номер патента: US09511455B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection apparatus

Номер патента: EP4148438A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Shigeru EURA,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

Systems and methods for calibrating a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200088829A1. Автор: Douglas Michael Baney. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2020-03-19.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240310427A1. Автор: Masahiro Fukushima,Kouhei Matsumoto,Haruko IWAI. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US12135336B2. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Wire harness continuity inspection device, wire harness continuity inspection program, and wire harness continuity inspection method

Номер патента: US09435843B2. Автор: Yasuhiro Mochizuki,Noriaki Sasaki,Kohta Ohishi. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Inspection system and inspection method of bare circuit board

Номер патента: US20240310428A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Chun-Hsien Chien,Hsuan-Yu Lai,Yu-Chung Hsieh. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US09581641B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Wafer inspection system and annular seat thereof

Номер патента: US20230251303A1. Автор: Yi-Hsuan Cheng,Hung-I Lin,Po-Han Peng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Wafer inspection system

Номер патента: US11656271B2. Автор: Yi-Hsuan Cheng,Hung-I Lin,Po-Han Peng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-05-23.

Wafer inspection system

Номер патента: US20220299564A1. Автор: Yi-Hsuan Cheng,Hung-I Lin,Po-Han Peng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Semiconductor device and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20240230751A9. Автор: Yoshiaki Tanaka,Kouji Nakajima. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Semiconductor device and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20240133944A1. Автор: Yoshiaki Tanaka,Kouji Nakajima. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Wire rope inspection method, wire rope inspection system, and wire rope inspection device

Номер патента: US12135311B2. Автор: Hiromichi Tonami. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Current sensor inspection system and current sensor inspection method

Номер патента: US09638721B2. Автор: Hisashi Nishimura,Toshikazu Suzuki. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Probe member for inspection, and manufacturing method therefor

Номер патента: US20240319228A1. Автор: Jung Gyun BAEK. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-26.

Liquid crystal display driving device and liquid crystal inspection method using the same

Номер патента: US5757346A. Автор: Hiroaki Mita. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-26.

Determination of anisotropic conduction characteristics

Номер патента: US09488609B2. Автор: Shahriar Khosravani. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-11-08.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Optical inspection method and optical inspection system

Номер патента: US20110075139A1. Автор: Masayuki Ochi,Hideki Soeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-03-31.

High-speed surface inspection system for reticle pod and high-speed surface inspection method for reticle pod

Номер патента: US20240295504A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Inspection method, classification method, management method, steel material production method, learning model generation method, learning model, inspection device, and steel material production equipment

Номер патента: US20240282098A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection device, plate-like object manufacturing device, inspection method, and plate-like object manufacturing method

Номер патента: AU2019268718B2. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Back scattering inspection system and back scattering inspection method

Номер патента: US20210364455A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Yuan Ma,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-25.

Force sensing compositions, devices and methods

Номер патента: CA2763067A1. Автор: Luis Paulo Felipe Chibante. Владелец: UNIVERSITY OF NEW BRUNSWICK. Дата публикации: 2010-11-25.

Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method

Номер патента: US20100307248A1. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Printed matter inspecting device, printed matter inspecting method, program, and printing apparatus

Номер патента: EP4032706A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Inspection device of display device and inspection method of display device

Номер патента: US09835565B2. Автор: Wal Jun Kim,Changhyun Ryu,JoongYoung RYU,Seung-Young BAECK,Deok joo LIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Door inspection system for vehicle and inspection method for the same

Номер патента: US09791381B2. Автор: Jin Cheol Kim,Young Soo Lim,Kang Jae JO,Bum-Hun JUN. Владелец: Dasannewtech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US09784676B2. Автор: HE Wang,XIANG Liu,Xin Fang,Peng Luo,Jiajia PENG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09778206B2. Автор: Toshifumi Honda,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Drug supply device and drug inspection method in drug supply device

Номер патента: US09776755B2. Автор: Akira Kondo,Hideyuki Takahashi,Takashi Mori. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection device and inspection method for speed variator

Номер патента: US11913853B2. Автор: Long-En Chiu. Владелец: Fulian Yuzhan Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Visual inspection device and visual inspection method

Номер патента: US20200202512A1. Автор: Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-25.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Substrate foreign matter inspection device and substrate foreign matter inspection method

Номер патента: US20230186458A1. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Kazuyoshi Kikuchi,Naohiro Zaima. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Visual inspection device, visual inspection method, image generation device, and image generation method

Номер патента: US20240362771A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Shinichi Inoue,Hideaki Onozuka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Wheel fastening inspection method, wheel fastening method, wheel fastening inspection device and wheel fastening device

Номер патента: US09891123B2. Автор: Shinichi Kaneda,Yutaka UNEURA,Yuichi Daito. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Adhesive inspection device and adhesive inspection method

Номер патента: US20200326176A1. Автор: Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11726066B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Optical inspection device for optical performance test of display device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240319110A1. Автор: HEE YOUNG LEE,Gil Yeong PARK,Min Kyoung JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US12117418B2. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US20220207684A1. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Repair welding inspection device and repair welding inspection method

Номер патента: US12078600B2. Автор: Kazuki HANADA,Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20160003783A1. Автор: Yukitoshi Suzuki,Hidemi Takahashi,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US12094102B2. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection device and inspection method for pillar-shaped honeycomb filter

Номер патента: US12117386B2. Автор: Yoshihiro Sato,Yuji Watanabe,Yuichi Tajima,Yohei KAJIURA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240353287A1. Автор: Takuya Iwamoto,Masao Akiyoshi,Kenji Amaya,Norihiko HANA,Masaki Umeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Processing device and inspection apparatus for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: US20240230550A9. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

X-ray inspection device for drone, x-ray inspection device employing drone, and x-ray generator device for drone

Номер патента: US20200209172A1. Автор: BO Wang,Xiaojun Liu,Shuichi Suzuki,Norio Saito,Wenkang Guo. Владелец: Tsukuba Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-02.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US20210358120A1. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Image inspection method by polarized compensation for deformation of lens

Номер патента: US7580122B2. Автор: Kuo-Cheng Huang,Chia-Wei Hsu,Ting-Ming Huang,Wen-Hong Wu. Владелец: Instrument Technology Research Center. Дата публикации: 2009-08-25.

Non-destructive inspection device and non-destructive inspection system

Номер патента: US20240272102A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Moving inspection device, moving inspection method, and method for manufacturing steel material

Номер патента: US12044658B2. Автор: Masaki Kobayashi,Koji Yamashita,Kouyou Miyawaki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection device for cylindrical bodies

Номер патента: US20210207953A1. Автор: André Witzmann,Robert Witkowski,Armin Eisner. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-07-08.

Optical inspection device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240281923A1. Автор: Hyung Jin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Radiation protection device and radiation inspection system

Номер патента: EP4401089A1. Автор: Feng Wang,Wei Huang,Junping Shi. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

An underfloor wheelset inspection device and a method for probing railway vehicle wheelsets using the underfloor wheelset inspection device

Номер патента: EP4417959A1. Автор: Yu Zhang,Chaoyong PENG,Jianguang GUO,Zhaoyuan Zhang. Владелец: DTEC GmbH. Дата публикации: 2024-08-21.

Ray collimation device and radiation inspection device

Номер патента: GB2625957A. Автор: YIN Wei,Liu Yaohong,Chen Yumei,Guan Weiqiang,LI Weike. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Defect detection method and defect detection device and defect observation device provided with same

Номер патента: US09759666B2. Автор: Masahiro Watanabe,Shunichi Matsumoto,Takehiro TACHIZAKI,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US09541508B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Method for automatic semiconductor wafer inspection

Номер патента: US5129009A. Автор: Christopher J. Lebeau. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1992-07-07.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240167964A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Surface inspection device, shape correction device, surface inspection method, and shape correction method

Номер патента: US20220390222A1. Автор: Shuichi Tanaka,Noriyuki Sadaoka,Tatsuhiko Kawakami,Chiharu TACHIKAWAME. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US20210271206A1. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2021-09-02.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: WO2018164692A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2018-09-13.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Inspection system, control device, and control method

Номер патента: US20190212304A1. Автор: Hideo Adachi,Toshiaki Yamashita,Michitaro SHOZAWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: EP3592196A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-01-15.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: US20200103356A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-04-02.

Method and system for visualization of semiconductor wafer inspection data acquired in a photovoltaic cell production process

Номер патента: US8989478B2. Автор: Robert J. Salter. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-03-24.

Wafer inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US11852465B2. Автор: Chia-Chi Tsai,I-Ching Li,Shang-Chi WANG,Miao-Pei Chen,Han-Zong Wu. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Wafer inspection system method

Номер патента: US20230334648A1. Автор: Chia-Lin Tsai,Hung-Ru Li,Wun-Ye Ku. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240210333A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Jinning Liang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Security inspection device and control method therefor

Номер патента: AU2019414849A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240103196A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Handheld inspection device and method of inspecting an infrastructure having a structure wall supported into material

Номер патента: CA3175708A1. Автор: Peter Marc CABOT. Владелец: Inversa Systems Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Variable Polarization Wafer Inspection

Номер патента: US20130265577A1. Автор: Grace Hsiu-Ling Chen,Xianzhao Peng,Mark Shi Wang. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2013-10-10.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

System and method for analyzing a light beam of a wafer inspection tool or an exposure tool

Номер патента: US20080056557A1. Автор: Richard L. Guldi,J.E. Patrick Gagnon,Chris Dale Atkinson. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-03-06.

Self-propelled inspection device and equipment inspection system

Номер патента: US20220397908A1. Автор: Kazuo Ono,Yuichi Igarashi,Takehito Ogata,Noriyasu HASEJIMA,Kazuya Murotani,Yuta Esaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-12-15.

Molding thickness inspection device, molding thickness inspection system including the same, and molding thickness inspection method

Номер патента: US20240200931A1. Автор: Chang-Beom Kim,Ji Yeon Son,Hyun Chul KANG,Yong Kwi Lee,Young Seog YOON. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

A borescope inspection device and a method for performing non-destructive testing with the borescope inspection device

Номер патента: WO2024153463A1. Автор: Carlo Giolli,Remo Ribichini,Erica SCRINZI,Luca AMMANNATO,Frederico MANGIAVACCHI. Владелец: Nuovo Pignone Tecnologie - S.r.l.. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Detection device and detection method

Номер патента: US12099020B2. Автор: Sachio Iida,Norihito Mihota. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Surface property inspection device and method

Номер патента: US09964520B2. Автор: Kazuhiro Ota,Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US12105025B2. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Inspection method and device

Номер патента: US09841387B2. Автор: Hao-Kai CHOU,Chia-Ho YEN,Meng-Kun Lee,Liang-Pin Yu,Chun-Ti Chen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Borehole inspection device and system with a self-cleaning system and method for loading explosives in boreholes

Номер патента: US09708902B2. Автор: Jorge Lopez Rodriguez. Владелец: MaxamCorp Holding SL. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Inspection device and method of head up display for vehicle

Номер патента: US09573524B2. Автор: Dong Myong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Adapter piece quality inspection method and apparatus, adapter piece production method, adapter piece production device, and medium

Номер патента: EP4428488A1. Автор: Zhongyang Wang,Zhongbao HUANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Motor vehicle inspection device and method for identifying motor vehicles

Номер патента: US09460132B2. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

Scratch filter for wafer inspection

Номер патента: US09442077B2. Автор: Lisheng Gao,Junqing Huang,Grace Hsiu-Ling Chen,Huan JIN. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Inspection system, extraction device, and inspection method

Номер патента: US20230367015A1. Автор: Akira Tsuji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-05.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20040004729A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20060082791A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: EP4443142A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: US20240310293A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Tire inspection method and device therefor

Номер патента: US09953409B2. Автор: Hirotaro Tada. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Strain inspection device and attaching method thereof

Номер патента: US09841365B2. Автор: Injoong Kim,Joungwook PARK,Hanna NOH,Sungsuu KIM,Gayoung RYU,Youngho CHA. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-12.

Ultrasonic inspection device and method of ultrasonic inspection

Номер патента: US09714924B2. Автор: Naotada Okada,Tomoko MORIOKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Inspection device for a production machine

Номер патента: US09440758B2. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Confocal wafer inspection method and apparatus using fly lens arrangement

Номер патента: US6867406B1. Автор: Bin-Ming Benjamin Tsai,Scott A. Young,Tao-Yi Fu,Christopher R. Fairley. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2005-03-15.

Confocal wafer inspection method and apparatus

Номер патента: US20050156098A1. Автор: Scott Young,Tao-Yi Fu,Bin-Ming Tsai,Christopher Fairley. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-07-21.

Wafer inspecting method and device

Номер патента: US20080285021A1. Автор: Kazuma Sekiya. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2008-11-20.

Inspection device and molded-product processing system

Номер патента: US20230281780A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Quality inspection method for polyurethane samples, electronic nose device and storage medium

Номер патента: EP3775876A1. Автор: Hong Zhu,Irene Li. Владелец: Covestro Intellectual Property GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-02-17.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Abnormal noise inspection device, abnormal noise inspection method, program, and workpiece manufacturing method

Номер патента: EP3733359A1. Автор: Yuji KOBORI,Makoto TONEGAWA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Fastener bulb inspection device

Номер патента: EP4382856A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: EP3895790A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US20220023802A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2022-01-27.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection device and molded product processing system

Номер патента: EP4253945A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-10-04.

Inspection method and inspecting device

Номер патента: US20240272125A1. Автор: Hiroki Katayama,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Refrigeration material examination device and examination system

Номер патента: EP4403894A1. Автор: Masato Watanabe,Shinya Kojima,Hideji Kawarazaki,Akifumi Miyano,Masahiro Kagimoto,Akihisa Yoshimura. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Eye Glasses Lens Inspection Device with Interchangeable Lenses

Номер патента: US20230037795A1. Автор: Daryl Squicciarini. Владелец: OptiSource International Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Fastener Bulb Inspection Device

Номер патента: US20240185413A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-06.

Display control device and storage medium

Номер патента: US20210302329A1. Автор: Kazuhiro Ota,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: CA3144218A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-01-14.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: US12130172B2. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-10-29.

Security inspection equipment, security inspection system and security inspection method

Номер патента: EP4459333A1. Автор: LEI Liu,Yuan Ma,Yuanjing Li,Tao Song,Shangmin Sun,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Determining a configuration for an optical element positioned in a collection aperture during wafer inspection

Номер патента: US09709510B2. Автор: Grace Chen,Pavel Kolchin,Robert Danen,Mikhail Haurylau,Junwei WEI,Dan Kapp. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device

Номер патента: US09696266B2. Автор: Toshiyasu Suyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-04.

Variable polarization wafer inspection

Номер патента: IL235046B. Автор: . Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-05-31.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: US20240219354A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: EP4397971A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Inspection device of plugged honeycomb structure and inspection method of plugged honeycomb structure

Номер патента: US20100238281A1. Автор: Kensuke Tanaka,Akihiro Mizutani,Takayoshi Akao. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2010-09-23.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: US20240295532A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: EP4425171A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Inspection system and inspection method

Номер патента: AU2022244737A1. Автор: Shotaro Maeda,Takashi Namikawa,Naomi Yoshimura,Shogo Kawai,Aoi GOTO,Wakana TAKANO,Ryuichiro OTO,Mirei KANETAKE,Shiho WATANABE. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Component inspection method, component manufacturing method, and component inspection device

Номер патента: US20240344929A1. Автор: Ryuta Ito,Atsuya SAKATA,Taro Tokutake,Hiroshi Makigano. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection apparatus and inspection method for coke oven construction, and coke oven construction method

Номер патента: US12106467B2. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Optical inspection method, optical inspection program, processing device, and optical inspection apparatus

Номер патента: EP4249897A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Takahiro Kamikawa,Hiroya Kano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-27.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member

Номер патента: US12031947B2. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Tsuyoshi Kobayashi,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Movable ray inspection system and ray inspection method for a container

Номер патента: US20180172604A1. Автор: LI ZHANG,Ying Li,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Quanwei Song,Yulan Li,Chunguang ZONG,Hejun Zhou. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-21.

Leak inspection device, leak inspection method, and leak inspection program

Номер патента: US20150253216A1. Автор: Yasuhiro Sasaki,Masatake Takahashi,Soichiro TAKATA,Shigeki Shinoda,Junichiro Mataga. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: US20240183793A1. Автор: Hisaji Murata,Yoshinori Satou,Yuya Sugasawa,Jeffry NAINGGOLAN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Defect inspection device, pattern chip, and defect inspection method

Номер патента: US20190107498A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Yasuhiro Yoshitake,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-04-11.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CA2647004A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Minoru Tagami,Nobukazu Ido. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-10-04.

Cushioning device inspection system, a sampling device for inspection of a cushioning device and a cushioning device inspection method

Номер патента: US10023896B2. Автор: David Woolfson,Duncan Bain. Владелец: Pneuma Pure Holdings Ltd. Дата публикации: 2018-07-17.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US12086976B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US20150168267A1. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2015-06-18.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US12078599B2. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240361257A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US09638606B2. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Method of manufacture of a dry-drawing stand for checking of operability of in-line inspection devices at a test pipeline test site

Номер патента: RU2653138C1. Автор: Алексей Анатольевич Крюков,Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть - Диаскан" (АО "Транснефть - Диаскан"). Дата публикации: 2018-05-07.

Structure condition inspection device

Номер патента: RU2748789C1. Автор: Александр Николаевич Бирюков,Юрий Александрович Бирюков,Дмитрий Владимирович Бирюков,Евгений Олегович Добрышкин,Николай Александрович Бирюков,Алексей Валентинович Бондарев,Владимир Михайлович Бабенко,Артур Андреевич Пресняков,Матвей Русланович Раздобутько,Елена Юрьевна Тощева,Данил Алекандрович Василец. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулёва" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2021-05-31.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

Inspection device for detection of foreign substances

Номер патента: RU2529667C1. Автор: Мариус Михаэль ХЕРМАНН,Юрген ХЕРМАНН,Клаас ФРИТШЕ,Альфред ДРЕНГУЙС. Владелец: Кхс Гмбх. Дата публикации: 2014-09-27.

Inspection device with optical watermarks

Номер патента: RU2739522C1. Автор: Бернхард ХОЙФТ,Вольфганг ПОЛЬСТЕР,Микаэль УНГЕР. Владелец: Хойфт Зюстемтехник Гмбх. Дата публикации: 2020-12-25.

Rotational torque inspection method for wheel bearing device, and rotational torque inspection device for wheel bearing device

Номер патента: EP4202244A1. Автор: Shun Tamaki. Владелец: NTN Toyo Bearing Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-28.

Defect inspection device, defect inspection method, and program, and printing device and method of manufacturing printed matter

Номер патента: US20230103391A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US20230089064A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-03-23.

Calibrating inspection devices

Номер патента: WO2019135886A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2019-07-11.

Calibrating Inspection Devices

Номер патента: US20190204239A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Wafer edge polishing apparatus and wafer edge polishing inspecting method using it

Номер патента: KR102170429B1. Автор: 김영훈. Владелец: 에스케이실트론 주식회사. Дата публикации: 2020-10-28.

Passive matrix display device and method of making the same

Номер патента: US20160033845A1. Автор: Richard I. Mccartney. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-04.

Passive matrix display device and method of making the same

Номер патента: US09804471B2. Автор: Richard I. Mccartney. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Anisotropic conductive dielectric layer for electrophoretic display

Номер патента: US20200201133A1. Автор: Yu Li,LEI Liu,Hui Du,HongMei Zang,Craig Lin,Peter B. Laxton. Владелец: E Ink California LLC. Дата публикации: 2020-06-25.

Touch sensing panel including anisotropic conductive adhesive and manufacturing method thereof

Номер патента: KR101229419B1. Автор: 이병수. Владелец: (주)멜파스. Дата публикации: 2013-02-05.

Liquid crystal display device and method for manufacturing liquid crystal display device

Номер патента: US20120229749A1. Автор: Yukinobu Nakata,Jun Nishimura,Yoshihito Hara. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2012-09-13.

Detection device, inspection device, magnetic tape cartridge, magnetic tape, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US12073859B2. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Detection device, inspection device, magnetic tape cartridge, magnetic tape, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US20240379120A1. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-11-14.

Detection device, inspection device, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US20240233778A9. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Semiconductor inspection device and semiconductor inspection method

Номер патента: US12094138B2. Автор: Kazuhiro Hotta,Takafumi Higuchi,Tomochika Takeshima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-17.

Actuator mounting section of disk drive suspension, method of applying electrically conductive paste, and paste application device

Номер патента: US20130321958A1. Автор: Hiroshi Ono,Haruyuki Yamamoto,Yoichi Ikeji,Tsuyoshi Amemiya. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-05.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US8605378B2. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-12-10.

Smoking article packaging container inspection device, manufacturing device, and inspection method

Номер патента: EP3831729A1. Автор: Makoto Ueno. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240346740A1. Автор: Min Kyu Yeo,Sun Woong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

System, apparatus and method for centralized management of security inspection devices via field bus network

Номер патента: US09779054B2. Автор: Hui Ding,Jinyu Zhang,Hu Tang,Fei Fang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Repair welding system, repair welding method, inspection device, and robot control device

Номер патента: EP3991901A1. Автор: Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN,Toshinari Mohri. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-04.

Intelligent passenger inspection channel system and intelligent passenger inspection method

Номер патента: US20240203126A1. Автор: Dong Li,LI ZHANG,Dan Yan,Zhiqiang Chen,Hu Tang,Yunda Sun,Yueyi LIU. Владелец: Nuctech Jiangsu Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Image inspection device and image forming apparatus using the same

Номер патента: US20240168422A1. Автор: Yu Saito,Masakazu Shirai. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-23.

Defect inspection device for display panel and method for the same

Номер патента: US20150187064A1. Автор: Haibo Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Inspection device and method of inspection using the same

Номер патента: US20240233111A1. Автор: DooHyoung Lee,Dongha Lee,Juwon LEE,Sanghyung Lim,Kuhwan Chung,Joo Dong Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Management system for table games, substitute currency for gaming, inspection device, and management system of substitute currency for gaming

Номер патента: AU2020213356A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Management system for table games, substitute currency for gaming, inspection device, and management system of substitute currency for gaming

Номер патента: US20180350191A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-06.

Management system for table games, substitute currency for gaming, inspection device, and management system of substitute currency for gaming

Номер патента: AU2022200450A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-17.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US11507007B2. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-22.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: US20240320811A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: EP4435768A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

A display processing device, a data transmission method, and an image data inspection method

Номер патента: EP4439543A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Display processing device, a data transmission method, and an image data inspection method

Номер патента: US20240330106A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Medicine inspection device and medicine packaging system

Номер патента: US09994347B2. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Hiroyuki Yuyama,Dai SHIMIZUBE. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US20220011703A1. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Optical inspection device for surface of reticle pod and optical inspection method for surface of reticle pod

Номер патента: US20240295830A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Computer-Implemented Data Structure, Method, Inspection Device, and System for Transferring a Machine Learning Model

Номер патента: US20240273415A1. Автор: Daniel SCHALL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Display panel, display device and inspection method

Номер патента: US09773440B2. Автор: Huasheng Yan. Владелец: Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method

Номер патента: US09495910B2. Автор: Rajeev Rohatgi. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2016-11-15.

Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method

Номер патента: US09443469B2. Автор: Rajeev Rohatgi. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2016-09-13.

Wafer inspection system

Номер патента: US20230334647A1. Автор: Chia-Lin Tsai,Hung-Ru Li,Wun-Ye Ku. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Improved risk based inspection method

Номер патента: US20230196224A1. Автор: Stephen Morton. Владелец: Single Buoy Moorings Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Improved risk based inspection method

Номер патента: WO2021214707A1. Автор: Stephen Morton. Владелец: SINGLE BUOY MOORINGS INC.. Дата публикации: 2021-10-28.

Vulnerability inspection device, vulnerability inspection method, and vulnerability inspection program

Номер патента: US20220261482A1. Автор: Takuya Watanabe,Ayako Hasegawa,Mitsuaki AKIYAMA,Eitaro Shioji. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-08-18.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Liquid transport device and method for manufacturing liquid transport device

Номер патента: US7427126B2. Автор: Hiroto Sugahara. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2008-09-23.

Anisotropic conductive film and method and composition for making the same

Номер патента: US20230357580A1. Автор: Khang Trong Nguyen,Thuat Tran Nguyen. Владелец: Mk High Technology Joint Stock Co. Дата публикации: 2023-11-09.

Film for anisotropic conductivity and electronic circuits and devices using the film

Номер патента: WO2007021070A1. Автор: Jong Hwa Lee,Hyun Young Kim,Jeong Ku Kang,Jung Sik Choi,Ki Sung Jung. Владелец: CHEIL INDUSTRIES INC.. Дата публикации: 2007-02-22.

Anisotropic conductive adhesives for thermo-compression bonding containing solder conductive particles and flux additives and method of connecting electronic parts using the same

Номер патента: US11732162B2. Автор: Jae Hyeong PARK,KyoungWook Paik. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2023-08-22.

Anisotropic conductive adhesives for thermo-compression bonding containing solder conductive particles and flux additives and method of connecting electronic parts using the same

Номер патента: US20210261829A1. Автор: Jae Hyeong PARK,KyoungWook Paik. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2021-08-26.

Heat-conducting paste for connection of heat-stressed devices and parts

Номер патента: RU2767031C1. Автор: Андрей Васильевич Борисенко,Руслан Олегович Мамедов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ПАСТЕР" (ООО "ПАСТЕР"). Дата публикации: 2022-03-16.

Method and device for processing pressed part from material with anisotropic conductivity

Номер патента: RU2644493C1. Автор: Владислав Павлович Смоленцев,Олег Николаевич Кириллов,Сергей Степанович Юхневич. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный космический научно-производственный центр имени М.В. Хруничева" (ФГУП "ГКНПЦ им. М.В. Хруничева"). Дата публикации: 2018-02-12.

Polymer composite heat-conducting paste with nanofiber modifier

Номер патента: RU2757253C2. Автор: Валерий Михайлович Кисеев,Роман Александрович Шишкин,Олег Владимирович Сажин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина". Дата публикации: 2021-10-12.

Super-branched olefin fluid medium based heat-conducting paste

Номер патента: RU2672247C2. Автор: Юньфэн ЯН,Хуню ЧЭНЬ,Брэд К. БЕЙЛИ,Мохамед ЭССЕГХИР,Со Чун ХАН. Владелец: Дау Глоубл Текнолоджиз Ллк. Дата публикации: 2018-11-13.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Dielectric heat-conducting paste and method for production thereof

Номер патента: RU2771023C1. Автор: Сергей Александрович Алексеев,Александр Дмитриевич Савчук,Сергей Юрьевич Грязнов,Владимир Дмитриевич Ивин,Александр Викторович Казак,Денис Сергеевич Будкин. Владелец: Акционерное общество "Научно-Исследовательский Технологический Институт "Авангард". Дата публикации: 2022-04-25.

Illuminating device and manufacturing method thereof

Номер патента: US09488356B2. Автор: JIN Hu,Xiaoyu Chen,Junhua ZENG,Hui GUI. Владелец: OSRAM GMBH. Дата публикации: 2016-11-08.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: US20230278137A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: EP4230339A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Electronic vaporization device and vaporizer thereof

Номер патента: CA3206634A1. Автор: Guoliang Ou. Владелец: Shenzhen Verdewell Technology Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Device and method of checking integrity of system for rapid reactivation of gas turbine engine of helicopter

Номер патента: RU2686531C2. Автор: Патрик МАРКОНИ,Камель СЕРГИН,Стефен ЛАНГФОРД,Ромэн ТИРЬЕ,Жан-Мишель БАЗЕ,Жером ИРИГУАЙЕН. Владелец: Сафран Хеликоптер Энджинз. Дата публикации: 2019-04-29.

Conductive ink or conductive paste, and method for producing the same

Номер патента: US20240199905A1. Автор: Kazuyuki Kuwano,Daiki KUBOYAMA,Jyunya Murai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Thermally conductive paste

Номер патента: US20230141794A1. Автор: Hiroshi Kobayashi,Tatsuo Kibe,Satoshi Kashiwaya. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2023-05-11.

Pest-accumulating device and pest-accumulating method

Номер патента: US09510583B2. Автор: Yoshiki Matsumoto,Tetsuya Kondo,Koh-En Yamauchi,Kohsyo Yamauchi. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2016-12-06.

Epoxy conductive paste and preparation method and application thereof

Номер патента: US12006447B2. Автор: Delin Li,Wen Shi,Fengzhen Sun. Владелец: Soltrium Advanced Materials Technology Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Device and method for inspecting containers in a cleaning facility

Номер патента: ZA202300835B. Автор: Jean-Claude Waeldin. Владелец: SIDEL PARTICIPATIONS. Дата публикации: 2024-08-28.

Machine posture inspection method and machine posture inspection system

Номер патента: US20240342910A1. Автор: Ting-Jen Yeh,Ting-yun FANG. Владелец: Point Robotics Medtech Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Binding compound for the roll applied paste composition

Номер патента: RU2316568C2. Автор: Хайнц-Петер ХОФФМАНН,Клаус НАЙТЦЕР,Бернхард ШЕТТМЕР. Владелец: Хенкель КГАА. Дата публикации: 2008-02-10.

Tooth paste composition

Номер патента: RU2686753C2. Автор: Такаюки ИТАКУРА,Риэ ТАКАМАЦУ,Марико ОБУКИ,Римико ТАКИКАВА. Владелец: Кабусики Кайся Санги. Дата публикации: 2019-04-30.

Solid paste composition for cooking and method for producing same

Номер патента: EP4331383A2. Автор: Makoto Suzuki. Владелец: Mizkan Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Solid paste composition for cooking and method for producing same

Номер патента: CA3152935C. Автор: Takuya Nakayama,Makoto Suzuki,Yasushi Ogasawara,Kiyoshi Endo,Junichiro Ihara,Yusuke TANGE,Naruhiro Hibi,Yukiko KAWAMURA. Владелец: Mizkan Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Cement paste composition

Номер патента: US20240199484A1. Автор: Sagheer A. ONAIZI,Amin Ali Ali AL-FAKIH,Waleed Ahmed Yaslam AL-AWSH,Mohammed Ali AL-OSTA,Monther Qassim Ahmed AL-KOSHAB. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2024-06-20.

Diphasic tooth-paste composition

Номер патента: RU2351307C1. Автор: Эванжелиа С. АРВАНИТИДОУ,Майкл ПРЕНСАЙП,Кимберли ПАНАЛИГАН,Джеймс Р. БРАУН,Небойса МИЛАНОВИЧ,Линх ФРУДЖ,Сьюзан ХЕРЛЕС. Владелец: КОЛГЕЙТ-ПАЛМОЛИВ КОМПАНИ. Дата публикации: 2009-04-10.

Gel paste composition and cosmetic using the gel paste composition

Номер патента: US20160262991A1. Автор: Emi Akabane,Chihiro Hayakawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-15.

Paste composition and method for preparing the same

Номер патента: US5236496A. Автор: Mutsumi Shibuya,Satomi Ishii. Владелец: Showa Yakuhin Kako Co Ltd. Дата публикации: 1993-08-17.

Train traffic control inspection device, train traffic control inspection method and program

Номер патента: US09751544B2. Автор: Yasuyuki Suzuki,Kenji Takao,Noritaka Yanai,Toshihiko Niinomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Traditional chinese medicine inspection device of composite millimeter-wave radar

Номер патента: US20230338109A1. Автор: ZHANG LEI,Yang Jie,Wang Bin,Liu Jia,Liu Baoyan,Wen Tiancai. Владелец: INSTITUTE OF INFORMATION ON TRADITIONAL CHINESE MEDICINE CHINA ACADEMY OF CHINESE MEDICAL SCIENCES. Дата публикации: 2023-10-26.

Solid paste composition for cooking and method for producing same

Номер патента: PH12021550359A1. Автор: Makoto Suzuki. Владелец: Mizkan Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-25.

Enamel paste compositions, enamel coated products, and methods of manufacturing the same

Номер патента: EP4229014A1. Автор: Jonathan Booth,Patricia Ann SUTTON,Simon BARTOLOMEY. Владелец: Fenzi AGT Netherlands BV. Дата публикации: 2023-08-23.

Paste composition, biodegradable injectable paste, and method for producing same

Номер патента: AU2023229689A1. Автор: Seul Gi Lee,Mi Ran CHO,Hye Ri Lee. Владелец: GENEWEL CO Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

METAL PASTE COMPOSITION FOR FORMING ELECTRODE AND SILVER-CARBON COMPOSITE ELECTRODE AND SILICON SOLAR CELL USING THE SAME

Номер патента: US20120000523A1. Автор: KIM Sang-Ho,PARK Jong-Wuk,Kim So-Won. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Inspection method of doppler current velocity meter

Номер патента: RU2562001C1. Автор: Дмитрий Леонтьевич Гуральник,Федор Борисович Овчинников,Константин Евгеньевич Кассациер. Владелец: Закрытое акционерное общество "Ассоциация предприятий морского приборостроения". Дата публикации: 2015-09-10.

Semiconductor device and manufacturing method thereof, and inspection method thereof

Номер патента: JP2005353676A. Автор: Masashi Miura,真史 三浦. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2005-12-22.

Inspection device of medicine in housing body, and inspection method of medicine in housing body

Номер патента: JPH1033638A. Автор: Kazuki Doi,和樹 土井. Владелец: Takazono Sangyo Co Ltd. Дата публикации: 1998-02-10.

Particle beam inspection device, particle beam inspection container, particle beam inspection method

Номер патента: JP7154845B2. Автор: 尚実 豊原,伸一 蓑原,寛 平田,義史 長本,義章 下野,和久 榊原,弘昭 五東. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-10-18.

Foreign matter inspection device, foreign matter inspection program, foreign matter inspection method

Номер патента: JP5591849B2. Автор: 一則 和久井. Владелец: 株式会社 日立産業制御ソリューションズ. Дата публикации: 2014-09-17.

Simulation sample for partial discharge measuring device and partial discharge measuring device inspection method

Номер патента: JP2015169470A. Автор: Takuya Tomizawa,竜也 浅木,Tatsuya Asaki,拓也 富澤. Владелец: Mitsubishi Cable Industries Ltd. Дата публикации: 2015-09-28.

Mask inspection device, drawing method, and wafer exposure method

Номер патента: JP2012078554A. Автор: 晋二 国谷,豊 小寺,Shinji Kuniya,Yutaka Kodera. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000518A1. Автор: Tokioka Hidetada,ORITA Tae,YAMARIN Hiroya. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor substrates including input/output redistribution using wire bonds and anisotropically conductive film, and assemblies including same

Номер патента: SG141241A1. Автор: Edmund Koon Tian Lua,Nam Yin Leng. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2008-04-28.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method of Forming Compliant Stress Relief Buffer Around Large Array WLCSP

Номер патента: US20120001325A1. Автор: Shim Il Kwon,Chow Seng Guan,Lin Yaojian. Владелец: STATS CHIPPAC, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROPHORETIC DISPLAY DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20120002268A1. Автор: UCHIDA Masami. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Electricity-conductive paste used for connection of the metallic and the carbon-containing materials

Номер патента: RU2312936C1. Автор: Евгений Сергеевич Горланов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Эксперт-Ал" (ООО "Эксперт-Ал"). Дата публикации: 2007-12-20.

ELECTROMAGNETIC ACTUATOR INSPECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001652A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THEREFOR

Номер патента: US20120001244A1. Автор: Yamazaki Shunpei,KOYAMA Jun,MURAKAMI Satoshi,Tanaka Yukio,KITAKADO Hidehito. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ736686A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Method of verification of intratubal inspection devices

Номер патента: RU2596243C1. Автор: Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть-Диаскан" (АО "Транснефть-Диаскан"). Дата публикации: 2016-09-10.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ735237A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Teeth treatment composition (options), calcium source providing composition, dental paste composition, and a method for treating teeth with fluorine

Номер патента: RU2264208C2. Автор: Патрик Клинтон ВЕРНЕТТ,Али Реза БАШЕЙ. Владелец: Спешиалти Минералз (Мичиган) Инк.. Дата публикации: 2005-11-20.

Fluid conducting connector assembly

Номер патента: CA2041126C. Автор: Sol R. Rubin,Joseph R. Villoni. Владелец: Brasscraft Manufacturing Co. Дата публикации: 1994-08-30.

Using of grass decoctions as water medium in producing of tooth-paste and tooth-paste composition

Номер патента: RU2306922C2. Автор: Гульнара Закуановна Ахметова,Марина Егоровна Ерёмина,Людмила Леонидовна Ильина. Владелец: Открытое акционерное общество Концерн "КАЛИНА". Дата публикации: 2007-09-27.

Current-conductive paste

Номер патента: RU2007765C1. Автор: И.К. Ежовский,Т.Ф. Александрович. Владелец: Витебское производственное объединение "Монолит". Дата публикации: 1994-02-15.

Frequency permit inspection device

Номер патента: RU2565504C1. Автор: Виктор Степанович Дубровин,Алексей Михайлович Зюзин. Владелец: Частное образовательное учреждение дополнительного профессионального образования "Саранский Дом науки и техники Российского Союза научных и инженерных общественных объединений". Дата публикации: 2015-10-20.

Tooth paste composition

Номер патента: RU2238716C1. Автор: Тамара Викторовна Шраменок,Людмила Михайловна Чекунова. Владелец: Закрытое акционерное общество "Модум". Дата публикации: 2004-10-27.

Dental paste composition

Номер патента: RU2240777C1. Автор: Тамара Викторовна Шраменок,Людмила Михайловна Чекунова. Владелец: Закрытое акционерное общество "Модум". Дата публикации: 2004-11-27.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.