• Главная
  • LIST INSERTION IN TEST SEGMENTS WITH NON-NATURALLY ALIGNED DATA BOUNDARIES

LIST INSERTION IN TEST SEGMENTS WITH NON-NATURALLY ALIGNED DATA BOUNDARIES

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

LIST INSERTION IN TEST SEGMENTS WITH NON-NATURALLY ALIGNED DATA BOUNDARIES

Номер патента: US20190287639A1. Автор: Kapoor Shakti,Dusanapudi Manoj,Wu Nelson. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-19.

Replicating test case data into a cache with non-naturally aligned data boundaries

Номер патента: US09959183B2. Автор: Shakti Kapoor,Manoj Dusanapudi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Replicating test case data into a cache with non-naturally aligned data boundaries

Номер патента: US09959182B2. Автор: Shakti Kapoor,Manoj Dusanapudi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Wafer burn-in test circuit and a method thereof

Номер патента: US5790465A. Автор: Soo-In Cho,Jae-Gu Roh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1998-08-04.

REPLICATING TEST CASE DATA INTO A CACHE WITH NON-NATURALLY ALIGNED DATA BOUNDARIES

Номер патента: US20180157567A1. Автор: Kapoor Shakti,Dusanapudi Manoj. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-07.

Replicating test case data into a cache with non-naturally aligned data boundaries

Номер патента: US9542290B1. Автор: Shakti Kapoor,Manoj Dusanapudi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Built-in test circuit and method

Номер патента: US20130201776A1. Автор: Yen-Huei Chen,Hung-jen Liao,Tzu-Kuei LIN,Fang Jao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-08-08.

Semiconductor memory device involving built-in test circuit and the testing method

Номер патента: KR930009543B1. Автор: 고오노 도오루. Владелец: 세끼사와 요시. Дата публикации: 1993-10-06.

Semiconductor memory device having improved wafer burn-in test scheme

Номер патента: TW419587B. Автор: Jong-Ryeul Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2001-01-21.

Built-in test circuit and method

Номер патента: US20130201776A1. Автор: Yen-Huei Chen,Hung-jen Liao,Tzu-Kuei LIN,Fang Jao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-08-08.

Dram and method for testing the same in the wafer level burn-in test mode

Номер патента: US20130021862A1. Автор: Min-Chung Chou. Владелец: Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Дата публикации: 2013-01-24.

Wafer burn-in test and wafer test circuit

Номер патента: US20030210589A1. Автор: Ha Min Sung. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-11-13.

Semiconductor memory device having wafer burn-in test mode

Номер патента: US20090116322A1. Автор: Hi-Hyun Han,Jee-Yul Kim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-05-07.

Burn-in test apparatus

Номер патента: US20080291761A1. Автор: Sang Kwon Lee,Bong Seok Han. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2008-11-27.

Burn-in test apparatus

Номер патента: US8041531B2. Автор: Sang Kwon Lee,Bong Seok Han. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2011-10-18.

Burn-in test circuit for semiconductor memory device

Номер патента: US5452253A. Автор: Young-Keun Choi. Владелец: Goldstar Electron Co Ltd. Дата публикации: 1995-09-19.

Burn-in circuit and burn-in test method

Номер патента: US5467356A. Автор: Yun-Ho Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1995-11-14.

Wafer burn-in test circuit and semiconductor memory including the same

Номер патента: US20180120374A1. Автор: Young Jae Choi. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-05-03.

Semiconductor memory device having burn-in test function

Номер патента: US5119337A. Автор: Mitsuru Shimizu,Shozo Saito,Syuso Fujii. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1992-06-02.

Semiconductor memory devices including burn-in test circuits

Номер патента: US20100246300A1. Автор: Jong-Hyun Choi,Sang-Seok Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-09-30.

Wafer burn-in test circuit for a semiconductor memory device

Номер патента: US5986917A. Автор: Yun-sang Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1999-11-16.

Parallel test board used in testing semiconductor memory devices

Номер патента: US20020125879A1. Автор: Chang-Ho Lee,Man-Heung Lee,Sang-Chul Yun,Si-Don Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-09-12.

Apparatus and method for reducing test resources in testing DRAMS

Номер патента: US20040233738A1. Автор: David Brown,Jerry McBride,Chris Cooper,Scott Gatzemeier,Siang Giam,Scott Ayres. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-11-25.

Built-in test circuit of semiconductor apparatus

Номер патента: US09721626B2. Автор: Tae Jin Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-08-01.

Memory integrated circuit with redundancy and improved addressing in test mode

Номер патента: US5247481A. Автор: Bertrand Conan. Владелец: SGS Thomson Microelectronics SA. Дата публикации: 1993-09-21.

Built-in test circuit of semiconductor apparatus

Номер патента: US20160131697A1. Автор: Tae Jin Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-05-12.

Test circuit for a semiconductor memory device and method for burn-in test

Номер патента: US6055199A. Автор: Takashi Kono,Mikio Asakura,Kiyohiro Furutani,Kei Hamade. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2000-04-25.

Burn-in test input circuit of a semiconductor memory device and burn-in test method therefor

Номер патента: DE69326654D1. Автор: Yun-Ho Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1999-11-11.

Semiconductor device generating a test voltage for a wafer burn-in test and method thereof

Номер патента: US20070165470A1. Автор: Hi-choon Lee,Jin-hyung Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-07-19.

Built in test controller with a downloadable testing program

Номер патента: US20090282303A1. Автор: Alexandre Andreev,Anatoli A. Bolotov. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2009-11-12.

Mcu testing method using built-in test program

Номер патента: KR0179919B1. Автор: 박동철. Владелец: 문정환. Дата публикации: 1999-05-15.

Tuning alignment data memory device for tuning circuits tunable to selectable frequencies

Номер патента: US4742564A. Автор: Dumont Daniel. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1988-05-03.

Wafer burn-in test circuit and semiconductor memory including the same

Номер патента: US20180120374A1. Автор: Young Jae Choi. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-05-03.

Nonvolatile Logic Array with Built-In Test Result Signal

Номер патента: US20140211572A1. Автор: Steven Craig Bartling,Sudhanshu Khanna. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-07-31.

Nonvolatile Logic Array with Built-In Test Drivers

Номер патента: US20140211576A1. Автор: Bartling Steven Craig,Khanna Sudhanshu. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2014-07-31.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF WAFER BURN-IN TEST FOR THE SAME

Номер патента: US20150155054A1. Автор: LEE Hyun-Sung,PARK Kee-Teok. Владелец: SK HYNIX INC.. Дата публикации: 2015-06-04.

WAFER BURN-IN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20190293712A1. Автор: Choi Young Jae. Владелец: SK HYNIX INC.. Дата публикации: 2019-09-26.

Disc player and burn-in test method for disc player

Номер патента: US20140169148A1. Автор: Ya-Guo Wang,Chun-Ching Chen. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

System and method for cooling a semiconductor light source bar during burn-in testing

Номер патента: US8503493B1. Автор: Ryuji Fujii,Quan Bao Wang,Chun Fei Cheung. Владелец: SAE Magnetics HK Ltd. Дата публикации: 2013-08-06.

Multi-core cache coherency built-in test

Номер патента: US09812221B1. Автор: David J. Radack,Lloyd F. Aquino,John L. Hagen,Todd E. Miller. Владелец: ROCKWELL COLLINS INC. Дата публикации: 2017-11-07.

Mechanism for automatically aligning data signals and strobe signals on a source synchronous bus

Номер патента: US09557765B2. Автор: James R. Lundberg,Vanessa S. Canac. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Localized onboard socket heating elements for burn-in test boards

Номер патента: WO2023149913A1. Автор: Tony Leong,Athipat Ratanavarinchai. Владелец: WESTERN DIGITAL TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2023-08-10.

Burn-in test device and test method using interposer

Номер патента: US20190170814A1. Автор: Joosung Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Burn-in-test device

Номер патента: TW440853B. Автор: Frank Weber,Jens Lüpke,Joseph Sillup. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2001-06-16.

Tester channel multiplexing in test equipment

Номер патента: US12136958B2. Автор: Yi Chen,FENG Ru,Yangyang Zhang,Mengda Wang. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-05.

BUILT-IN TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR APPARATUS

Номер патента: US20160131697A1. Автор: KANG Tae Jin. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-12.

REPLICATING TEST CASE DATA INTO A CACHE WITH NON-NATURALLY ALIGNED DATA BOUNDARIES

Номер патента: US20170220438A1. Автор: Kapoor Shakti,Dusanapudi Manoj. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

REPLICATING TEST CASE DATA INTO A CACHE WITH NON-NATURALLY ALIGNED DATA BOUNDARIES

Номер патента: US20170220442A1. Автор: Kapoor Shakti,Dusanapudi Manoj. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

REPLICATING TEST CODE AND TEST DATA INTO A CACHE WITH NON-NATURALLY ALIGNED DATA BOUNDARIES

Номер патента: US20170329688A1. Автор: Kapoor Shakti,Dusanapudi Manoj. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

Method for performing burn-in test

Номер патента: US20120139566A1. Автор: Koji Shimazawa,Masaaki Kaneko,Takashi Honda,Tsuguki Noma,Yoshito NISHIOKA,Yoichi Mugino. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2012-06-07.

DISC PLAYER AND BURN-IN TEST METHOD FOR DISC PLAYER

Номер патента: US20140169148A1. Автор: WANG YA-GUO,CHEN CHUN-CHING. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-19.

Coupling and centering system, particularly for aligning printed circuits in testing procedures

Номер патента: EP1151308B1. Автор: Michele De Rossi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-12.

Coupling and centering system, particularly for aligning printed circuits in testing procedures

Номер патента: AU2670000A. Автор: Michele De Rossi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-08-29.

Coupling and centering system, particularly for aligning printed circuits in testing procedures

Номер патента: EP1151308A1. Автор: Michele De Rossi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-07.

System and methods for semiconductor burn-in test

Номер патента: EP3465238A1. Автор: Ballson Gopal,Jessie KILLION. Владелец: Kes Systems Inc. Дата публикации: 2019-04-10.

Built-in test for satellite digital payload verification

Номер патента: US09720042B2. Автор: Robert Conder Chiu,Robert Emerson Bolton,Payman Behboudikha,Philip Stewart Jaque. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-08-01.

Burn-in test system and method

Номер патента: US09714977B2. Автор: Dae Kyoung Kim,Woo Sik Jung. Владелец: UniTest Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Heat spreaders for use in semiconductor device testing, such as burn-in testing

Номер патента: US12078672B2. Автор: Xiaopeng Qu,Amy R. Griffin,Wesley J. Orme. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Built in test circuit for transient voltage suppressor devices

Номер патента: US09671453B2. Автор: James Quigley,Gary L. Hess. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Apparatuses including test segment circuits and methods for testing the same

Номер патента: US20180364303A1. Автор: Bin Liu,Nathaniel J. Meier,Kevin G. Werhane. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-12-20.

Hybrid IC with circuit for burn-in test

Номер патента: US6157202A. Автор: Toshiya Nakano. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2000-12-05.

Aircraft systems with built in tests

Номер патента: US20220191121A1. Автор: John Terence Barker. Владелец: BE Aerospace Inc. Дата публикации: 2022-06-16.

Data boundary aware base station assisted position location method

Номер патента: CA2342987C. Автор: Gilbert C. Sih,Inyup Kang,Quizhen Zou. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2009-07-07.

Improvements in testing of electrical spurs, including light switches, isolators and joint boxes

Номер патента: GB2622827A. Автор: Clark Andrew. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-03.

Probe head comprising pogo pins for wafer-level burn-in test

Номер патента: EP4382920A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microtest SpA. Дата публикации: 2024-06-12.

Watchdog built in test (bit) circuit for fast system readiness

Номер патента: US20200225285A1. Автор: Ashish Vijay,Sesh Mohan Rao,Rajeeva Gopala Krishna. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2020-07-16.

Wafer-level burn-in testing of integrated circuits

Номер патента: US5047711A. Автор: William H. Smith,Chau-Shiong Chen. Владелец: Silicon Connections Corp. Дата публикации: 1991-09-10.

Method for generation, placement, and routing of test structures in test chips

Номер патента: US7581202B2. Автор: Julia Perez. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2009-08-25.

Testing system for evaluating integrated circuits, a burn-in testing system, and a method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20010039065A1. Автор: Salman Akram. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-08.

Application of graphitic carbon nitride in testing concentration of hexavalent chromium and l-cysteine

Номер патента: LU504175B1. Автор: Ying Tian. Владелец: Univ Jiliang China. Дата публикации: 2023-11-10.

Method and device to eliminate parasitic reflections in testing translucent hollow objects

Номер патента: RU2429466C2. Автор: Гийом БАТЕЛЕТ. Владелец: Тиама. Дата публикации: 2011-09-20.

Monitored burn-in test system and monitored burn-in test method of microcomputers

Номер патента: EP1136832A2. Автор: Kazuyoshi Ajiro. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-09-26.

Control system including built in test equipment for harness interface testing

Номер патента: CA1121002A. Автор: Robert J. Bollard. Владелец: Bendix Corp. Дата публикации: 1982-03-30.

Printhead Apparatus, Printer System and Method of Printhead Built-In Test

Номер патента: US20130293623A1. Автор: Adam L. Ghozeil,Eric T. Martin. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2013-11-07.

Data boundary deriving system and method

Номер патента: US20230385699A1. Автор: Min Sang Kim,Hong Gyu RYU,Dae Gun LIM. Владелец: Simplatform Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Burn-in test method for a semiconductor chip and burn-in test apparatus therefor

Номер патента: US20020050813A1. Автор: Shigehisa Yamamoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-02.

Burn-in testing apparatus

Номер патента: US20120326740A1. Автор: Li-Hsun Chen,Chi-Ren Chen,Chiang-Cheng FAN. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2012-12-27.

Burn-in testing apparatus

Номер патента: US8779788B2. Автор: Li-Hsun Chen,Chi-Ren Chen,Chiang-Cheng FAN. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2014-07-15.

Image recognition in test systems

Номер патента: US20240125682A1. Автор: David L. Dingmann. Владелец: TA Instruments Waters LLC. Дата публикации: 2024-04-18.

Printhead apparatus, printer system and method of printhead built-in test

Номер патента: EP2668041A1. Автор: Adam L. Ghozeil,Eric T. Martin. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2013-12-04.

Fixture for burn-in testing of semiconductor wafers

Номер патента: US5461328A. Автор: Brian Higgins,Kevin M. Devereaux,Mark Bunn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 1995-10-24.

Time scheduler particularly useful in tests

Номер патента: US5796681A. Автор: Ehud Aronzo. Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-08-18.

Fixture for burn-in testing of semiconductor wafers, and a semiconductor wafer

Номер патента: US5424651A. Автор: Robert S. Green,Larren G. Weber. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-06-13.

Test system for the determination of substances in test fluids and process for the preparation thereof

Номер патента: US3694163A. Автор: Robert Thomas Sherelis. Владелец: Miles Laboratories Inc. Дата публикации: 1972-09-26.

Display panel and burn-in test method of the display panel

Номер патента: US20240168081A1. Автор: Jida HOU. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Semiconductor device and burn-in test method thereof

Номер патента: US20210123972A1. Автор: Koji Suzuki,Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

High-pressure burn-in test apparatus

Номер патента: US20210356506A1. Автор: Yi-Ming Hung. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-11-18.

High-pressure burn-in test apparatus

Номер патента: US11385275B2. Автор: Yi-Ming Hung. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-07-12.

Methods and apparatus for aligning data

Номер патента: US20070006009A1. Автор: Scott Clark,Kerry Imming,Ibrahim Ouda. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2007-01-04.

Sequential Burn-In Test Mechanism

Номер патента: US20140062515A1. Автор: Victor Zia,Arman Vassighi. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2014-03-06.

Critical capacitor built in test

Номер патента: US09383400B2. Автор: Douglas Robert Sitch,Michael Durston. Владелец: Silicon Sensing Systems Ltd. Дата публикации: 2016-07-05.

Probe apparatus having burn-in test function

Номер патента: US5568054A. Автор: Shinji Iino,Itaru Iida. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1996-10-22.

Digital control system including built in test equipment

Номер патента: CA1100642A. Автор: David A. Tawfik,Donald J. Porawski,Robert J. Bollard. Владелец: Bendix Corp. Дата публикации: 1981-05-05.

Burn-in station for performing burn-in testing of electronic devices

Номер патента: EP4286862A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microtest SpA. Дата публикации: 2023-12-06.

Fixture identification in test systems

Номер патента: US11846610B2. Автор: David L. Dingmann. Владелец: TA Instruments Waters LLC. Дата публикации: 2023-12-19.

Clutter rejecting built in test for assignment-based aesa systems

Номер патента: US20190199455A1. Автор: Larisa Angelique Natalya Stephan,David W. Tang,David O. Lahti. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2019-06-27.

Switching power supply burn in test circuit

Номер патента: US20180196109A1. Автор: Gang Zheng,Shu Zou. Владелец: Dongguan Guanjia Electronic Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-12.

Automated loading/unloading of devices for burn-in testing

Номер патента: US20080169832A1. Автор: Wan Yen TEOH,Paiboon SUBPANYADEE,Kurt Joseph PEREZ,Chai Soon TEO,Swee Hin ONG. Владелец: ONG Swee HIN. Дата публикации: 2008-07-17.

Automated loading/unloading of devices for burn-in testing

Номер патента: US20070159198A1. Автор: Wan Yen TEOH,Paiboon SUBPANYADEE,Kurt Joseph PEREZ,Chai Soon TEO,Swee Hin ONG. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2007-07-12.

Fixture identification in test systems

Номер патента: WO2021150436A1. Автор: David L. Dingmann. Владелец: Ta Instruments-Waters Llc. Дата публикации: 2021-07-29.

Fixture identification in test systems

Номер патента: EP4094062A1. Автор: David L. Dingmann. Владелец: TA Instruments Waters LLC. Дата публикации: 2022-11-30.

Fixture identification in test systems

Номер патента: US20210224587A1. Автор: David L. Dingmann. Владелец: TA Instruments Waters LLC. Дата публикации: 2021-07-22.

Clutter rejecting built in test for assignment-based aesa systems

Номер патента: WO2019125585A1. Автор: Larisa Angelique Natalya Stephan,David W. Tang,David O. Lahti. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2019-06-27.

Probe head for wafer-level burn-in test (WLBI) and probe card comprising said probe head

Номер патента: US20240183882A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microsoft SpA. Дата публикации: 2024-06-06.

Voice command and audio output to obtain built-in test equipment data

Номер патента: EP4266307A1. Автор: Sumit Pandey. Владелец: Goodrich Aerospace Services Pvt Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Built-in test injection for current sensing circuit

Номер патента: US20140021971A1. Автор: William E. Villano,Robert D. Klapatch. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Voice command and audio output to obtain built-in test equipment data

Номер патента: US20230343334A1. Автор: Sumit Pandey. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Small-form-factor fiber optic transceiver module having built-in test capability and method

Номер патента: US7484899B2. Автор: Eric Y Chan,Dennis G Koshinz,Yuing Huang. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2009-02-03.

Burn-in test socket apparatus

Номер патента: US5865639A. Автор: Masahiro Fuchigami,Salvatore P. Rizzo. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1999-02-02.

Burn-in test system for projection device

Номер патента: US20090055128A1. Автор: Jian-Sheng Zhou. Владелец: Premier Image Technology China Ltd. Дата публикации: 2009-02-26.

Burn-in testing of circuits

Номер патента: US20180335471A1. Автор: Human Boluki,Rex Kho,Markus Schuemmer. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-11-22.

Page error insertion in virtual machines

Номер патента: RU2659472C2. Автор: Андрей-Влад ЛУЦАС. Владелец: БИТДЕФЕНДЕР АйПиАр МЕНЕДЖМЕНТ ЛТД. Дата публикации: 2018-07-02.

Inertial gps navigation system using injected alignment data for the inertial system

Номер патента: CA2537961C. Автор: Jason Hamilton,Michael Bobye,Thomas John Ford. Владелец: Novatel Inc. Дата публикации: 2012-08-28.

Method and apparatus for generating image alignment data

Номер патента: WO2014206722A1. Автор: Ian Brown,Timor Kadir,Mark Gooding. Владелец: MIRADA MEDICAL LIMITED. Дата публикации: 2014-12-31.

Method and apparatus for generating image alignment data

Номер патента: US10453203B2. Автор: Ian Brown,Timor Kadir,Mark Gooding. Владелец: Mirada Medical Ltd. Дата публикации: 2019-10-22.

System and method for initiating bulk inserts in a distributed database

Номер патента: US20210182279A1. Автор: Hans-Joerg Leu,Srinivas GAJJALAKONDA. Владелец: SAP SE. Дата публикации: 2021-06-17.

Adaptive text-to-speech synthesis for dynamic advertising insertion in podcasts and broadcasts

Номер патента: US12106330B1. Автор: Benjamin Richardson,Alberto Betella. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-01.

Cartridge capable of being inserted in an apparatus main body of an image forming apparatus

Номер патента: US09996052B2. Автор: Hiroki Shimizu,Kazuki Matsumoto,Osamu Anan. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Semantic segmentation with soft cross-entropy loss

Номер патента: WO2020099957A1. Автор: Tamaki Kojima. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2020-05-22.

Systems and methods for preventing chip fraud by inserts in chip pocket

Номер патента: US12039391B2. Автор: Daniel Herrington,Stephen Schneider,Tyler Maiman. Владелец: Capital One Services LLC. Дата публикации: 2024-07-16.

Generation of metadata from graphical inlays inserted in video frames

Номер патента: EP3923189A1. Автор: Philippe Schmouker,Sylvain Thiebaud,Patrick Morvan. Владелец: InterDigital CE Patent Holdings SAS. Дата публикации: 2021-12-15.

Microwave system for locating inserts in biological tissue

Номер патента: GB2434872A. Автор: Christopher Paul Hancock,John Bishop. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-08-08.

Process and apparatus for determining an optimal energy insertion in coagulating systems

Номер патента: US5426054A. Автор: Ulf Weber,Peter Popp. Владелец: Haake Medingen GmbH. Дата публикации: 1995-06-20.

Tunnel-based service insertion in public cloud environments

Номер патента: US20230171193A1. Автор: Mukesh Hira,Rahul Jain,Jayant JAIN,Pierluigi Rolando,Kantesh Mundaragi. Владелец: VMware LLC. Дата публикации: 2023-06-01.

Road segments with multi-modal traffic patterns

Номер патента: US9851205B2. Автор: James Fowe. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2017-12-26.

Medical image segmentation with a multi-task neural network system

Номер патента: WO2018015080A1. Автор: Michael Kelm,Olivier Pauly. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2018-01-25.

Road segments with multi-modal traffic patterns

Номер патента: US10401173B2. Автор: James Fowe. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2019-09-03.

Systems and methods for preventing chip fraud by inserts in chip pocket

Номер патента: US20230342580A1. Автор: Daniel Herrington,Stephen Schneider,Tyler Maiman. Владелец: Capital One Services LLC. Дата публикации: 2023-10-26.

Method for classifying a data segment with regard to its further processing

Номер патента: US20160203210A1. Автор: Herbert Leuwer,Stefan Kreuz. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-07-14.

Method for classifying a data segment with regard to its further processing

Номер патента: US10042917B2. Автор: Herbert Leuwer,Stefan Kreuz. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-08-07.

Universal tags with non-natural nucleobases

Номер патента: US20160304951A1. Автор: James Hnatyszyn,Thomas Battersby,Toumy Guettouche. Владелец: Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Дата публикации: 2016-10-20.

Universal Tags with Non-natural Nucleobases

Номер патента: US20140377755A1. Автор: James Hnatyszyn,Thomas Battersby,Toumy Guettouche. Владелец: Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Дата публикации: 2014-12-25.

Universal tags with non-natural nucleobases

Номер патента: US09719137B2. Автор: James Hnatyszyn,Thomas Battersby,Toumy Guettouche. Владелец: Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Дата публикации: 2017-08-01.

Polypeptide-antigen conjugates with non-natural amino acids

Номер патента: US11998599B2. Автор: Jeffery FAIRMAN,Wei Chan,Jon H. Heinrichs. Владелец: Vaxcyte Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Method of treating pulmonary disease states with non-naturally occuring amphipathic peptides

Номер патента: US5744445A. Автор: Jesse M. Jaynes,Gordon R. Julian. Владелец: Demeter Biotechnologies Ltd. Дата публикации: 1998-04-28.

Polypeptides with non-natural primary signalling motifs

Номер патента: AU1155201A. Автор: Helene Margaret Finney,Alastair David Griffiths Lawson. Владелец: Celltech Chiroscience Ltd. Дата публикации: 2001-05-14.

Lamp switch natural light control method with non-natural light interference resistance

Номер патента: CN102300360B. Автор: 吴广毅,相少艾. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-10-16.

Artificial Stone With Non-Natural Mineral As Main Material And Its Preparation Method

Номер патента: US20200115281A1. Автор: Li Yong. Владелец: Sinostone (Guangdong) Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-04-16.

Universal Tags with Non-natural Nucleobases

Номер патента: US20140377755A1. Автор: Hnatyszyn James,Battersby Thomas,GUETTOUCHE Toumy. Владелец: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS INC.. Дата публикации: 2014-12-25.

UNIVERSAL TAGS WITH NON-NATURAL NUCLEOBASES

Номер патента: US20160304951A1. Автор: Hnatyszyn James,Battersby Thomas,GUETTOUCHE Toumy. Владелец: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS INC.. Дата публикации: 2016-10-20.

Polypeptide-Antigen Conjugates with Non-Natural Amino Acids

Номер патента: US20180333484A1. Автор: Jon Heinrichs,Wei Chan,Jeff Fairman. Владелец: Sutrovax Inc. Дата публикации: 2018-11-22.

Nucleosides With Non-Natural Bases as Anti-Viral Agents

Номер патента: US20100279974A1. Автор: Gilles Gosselin,Claire Pierra,Richard Storer,Jean-Francois Griffon. Владелец: Universite de Montpellier II. Дата публикации: 2010-11-04.

Artificial stone with non-natural mineral as main material and its preparation method

Номер патента: US11124454B2. Автор: YONG Li. Владелец: Sinostone Guangdong Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-21.

Compositions containing peptides with non-natural amino acids and methods of use

Номер патента: WO2007100874A3. Автор: Dmitri Ptchelintsev. Владелец: Dmitri Ptchelintsev. Дата публикации: 2008-10-16.

Compositions and method with non-naturally occurring prostaglandins treatment alopecia

Номер патента: CN101897700A. Автор: R·S·扬奎斯特,M·A·德隆,J·M·姆西维尔. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2010-12-01.

Compositions containing peptides with non-natural amino acids and methods of use.

Номер патента: MX2008011011A. Автор: Dmitri S Ptchelintsev. Владелец: Avon Prod Inc. Дата публикации: 2009-03-03.

Polypeptide-antigen conjugates with non-natural amino acids

Номер патента: WO2018126229A9. Автор: Jeffery FAIRMAN,Jon Heinrichs,Wei Chan. Владелец: SUTROVAX, INC.. Дата публикации: 2019-07-25.

Data boundary identification

Номер патента: US09690668B2. Автор: Prashant Parikh,Chandra Reddy,Pratap Karonde. Владелец: CA Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Burn-in testing method and device with temperature control

Номер патента: EP1295138A2. Автор: Boon Hee Wee. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-03-26.

Generating test patterns used in testing semiconductor integrated circuit

Номер патента: US7225377B2. Автор: Takahiro Yamaguchi,Masahiro Ishida. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-05-29.

Test handler and circulation method of test trays in test handler

Номер патента: US09958498B2. Автор: Yun-Sung Na,Young-Ho Kweon,Jong Ki Noh. Владелец: Techwing Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Anisotropic conductive film (acf) for use in testing semiconductor packages

Номер патента: US20200243405A1. Автор: Hyoung Il Kim. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-07-30.

Method for populating spanner databases in test environments

Номер патента: WO2023122082A1. Автор: Carlos Arguelles,Srinath Badrinath,Danhao Guo,Everett Maus. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-06-29.

Generating test patterns used in testing semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20060031732A1. Автор: Takahiro Yamaguchi,Masahiro Ishida. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-02-09.

Method and apparatus for generating test patterns used in testing semiconductor integrated ciruit

Номер патента: US20020035708A1. Автор: Takahiro Yamaguchi,Masahiro Ishida. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-03-21.

Adapter for use in testing an energy meter

Номер патента: WO2024145120A1. Автор: Matthew Eric Kraus,Jr. Frank J. Boudreau. Владелец: Landis+Gyr Technology, Inc.. Дата публикации: 2024-07-04.

Arrangement and method for conveying electronic device in testing system

Номер патента: US20190369159A1. Автор: Mika Puttonen. Владелец: JOT Automation Oy. Дата публикации: 2019-12-05.

Method for populating spanner databases in test environments

Номер патента: EP4453729A1. Автор: Carlos Arguelles,Srinath Badrinath,Danhao Guo,Everett Maus. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-10-30.

Circuit and method for testing RF device and RF device with built-in testing circuit

Номер патента: US09964586B2. Автор: Rong-Fa Kuo,Ming-Chih PENG. Владелец: Alpha Networks Inc. Дата публикации: 2018-05-08.

Scheme for masking output of scan chains in test circuit

Номер патента: US09588179B2. Автор: Rohit Kapur,Jyotirmoy Saikia. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Method and system for identifying potential contaminants in test plates

Номер патента: US11776694B2. Автор: William Lee,Ruomu JIANG,Magnus Isaksson,Shishi LUO. Владелец: Helix Inc USA. Дата публикации: 2023-10-03.

Apparatus for burn-in test

Номер патента: US09366721B2. Автор: Siow Khiang Teoh. Владелец: Pentamaster Instrumentation Sdn Bhd. Дата публикации: 2016-06-14.

System and Method for Time-aligning Data Transmission to a Mobile Receiver

Номер патента: US20240184664A1. Автор: Gary W. Grube,Timothy W. Markison. Владелец: Pure Storage Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

Method for assessing mitochondrial function in tissue or organ other than kidney in test subject

Номер патента: US20240060996A1. Автор: Hiroyuki Ohba,Hideo Tsukada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-22.

Urinary biomarker for use in test for prostate cancer

Номер патента: US09575053B2. Автор: Takahiro Inoue,Kenji Nakayama,Osamu Ogawa,Kazuharu Shimizu,Jun Utsumi. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2017-02-21.

Pressure seal with built in testing system

Номер патента: EP3931543A1. Автор: David Sirda Shanks,John Henry MCKAY. Владелец: Expro North Sea Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

Pressure seal with built in testing system

Номер патента: CA3130874A1. Автор: David Sirda Shanks,John Henry MCKAY. Владелец: Expro North Sea Ltd. Дата публикации: 2020-09-03.

Pressure seal with built in testing system

Номер патента: WO2020174232A1. Автор: David Sirda Shanks,John Henry MCKAY. Владелец: Expro North Sea Limited. Дата публикации: 2020-09-03.

Optical transceiver built-in test (bit)

Номер патента: EP2564147A1. Автор: Eric C. Fest,Nicholas D. Trail,Jim R. Hicks,James P. Mills. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2013-03-06.

Systems and methods for built in test equipment for a brake control system

Номер патента: US09715770B2. Автор: Eric Daniel Cahill. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Scheme for masking output of scan chains in test circuit

Номер патента: US09417287B2. Автор: Rohit Kapur,Parthajit Bhattacharya,Jyotirmoy Saikia,Anshuman Chandra,Subramanian B. Chebiyam. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2016-08-16.

METHODS, APPARATUS AND SYSTEMS TO ENFORCE DATA BOUNDARIES THROUGH THE USE OF BOUNDARY LABELS

Номер патента: US20210157848A1. Автор: Smith Ned M.,Doshi Kshitij,Guim Bernat Francesc. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-27.

Test structure and method for performing burn-in testing of a semiconductor product wafer

Номер патента: US5707881A. Автор: Thomas Francis Lum. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1998-01-13.

Scheme for Masking Output of Scan Chains in Test Circuit

Номер патента: US20140372822A1. Автор: Rohit Kapur,Jyotirmoy Saikia. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2014-12-18.

Sealing and testing segmented tools

Номер патента: US09523431B2. Автор: Kenneth M. Dull. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-12-20.

Improvements in testing devices for large structural parts, especially aircraft wings

Номер патента: GB929837A. Автор: . Владелец: Losenhausenwerk Duesseldorfer Maschinenbau AG. Дата публикации: 1963-06-26.

Method for preventing bias in test answer scoring

Номер патента: US5716213A. Автор: William L. Bramlett, Jr.,Jay V. Clark,Judith Moyer. Владелец: National Computer Systems Inc. Дата публикации: 1998-02-10.

Improvements in testing apparatus for electric circuits

Номер патента: GB747739A. Автор: . Владелец: STANLEY GENT. Дата публикации: 1956-04-11.

Apparatus for use in testing the strength of materials

Номер патента: GB1310530A. Автор: . Владелец: Craig W D. Дата публикации: 1973-03-21.

Transient voltage suppression protection circuit including built in testing

Номер патента: US20140306714A1. Автор: Gary L. Hess,James Quigley, Jr.. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2014-10-16.

Built-in testing in modular system-on-chip device

Номер патента: EP4231152A1. Автор: Xiongzhi NING,Steffen DOLLING,Yuyi Tang. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Test reagent, and method for measuring analyte in test sample using same

Номер патента: US20120107957A1. Автор: Masayuki Iizuka,Mayumi Kano. Владелец: Denka Seiken Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-03.

Method for populating spanner databases in test environments

Номер патента: US12007881B2. Автор: Carlos Arguelles,Srinath Badrinath,Danhao Guo,Everett Maus. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-11.

Magnetically aligning test strips in test meter

Номер патента: US20150285758A1. Автор: Brian Guthrie,Allan Macrae,Scott Sloss,Ruth Hunter. Владелец: LifeScan Scotland Ltd. Дата публикации: 2015-10-08.

Wireless Circuitry with Time Aligned Data Streams

Номер патента: US20240248509A1. Автор: Stephan Henzler,Alexander Klinkan. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Output voltage glitch reduction in test systems

Номер патента: WO2021173635A1. Автор: Michael E. Harrell,Anthony Eric Turvey,Stefano I D'Aquino,Jennifer W. Pierdomenico. Владелец: ANALOG DEVICES, INC.. Дата публикации: 2021-09-02.

Method for burn-in test and measurement program for burn-in test

Номер патента: TWI278630B. Автор: Suguru Sasaki. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2007-04-11.

Method and apparatus for generating test patterns used in testing semiconductor integrated circuit

Номер патента: TW513580B. Автор: Takahiro Yamaguchi,Masahiro Ishida. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-12-11.

System and method for aligning data frames in time

Номер патента: US20080288543A1. Автор: Paul Barnett. Владелец: Hyperformix Inc. Дата публикации: 2008-11-20.

On-chip built-in test and operational qualification

Номер патента: US09897648B2. Автор: Charles Phillip MCCLAY,Wu-Chun Chou,Michael Eugene Davis. Владелец: Cosemi Technologies Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

System and method for aligning data frames in time

Номер патента: US09424268B2. Автор: Paul Barnett. Владелец: CA Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Improvements in Appliances for use in Testing Steel and the like.

Номер патента: GB190915008A. Автор: Bartlett Wrangham Winder. Владелец: Individual. Дата публикации: 1910-06-28.

Improvements in or relating to apparatus for use in testing electric lamps, fuses, sparking plugs, and induction coils

Номер патента: GB162428A. Автор: . Владелец: WILLIAM SAMUEL WOLFF. Дата публикации: 1921-05-05.

Programmable integrated circuit having built in test circuit

Номер патента: US7786749B1. Автор: Tsung-Lu Syu,Wilson Kaming Yee. Владелец: Silicon Storage Technology Inc. Дата публикации: 2010-08-31.

Humidity and sulfur concentration in test chamber

Номер патента: US10048239B2. Автор: Prabjit Singh. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-08-14.

Humidity and sulfur concentration in test chamber

Номер патента: US9927411B2. Автор: Prabjit Singh. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Device for illuminating components of transparent material in testing for irregularities

Номер патента: US4822165A. Автор: Harald Schmalfuss,Friedel Sinsel,Reinhold Bolz. Владелец: Battelle Institut Ev. Дата публикации: 1989-04-18.

Built in test (bit) for transformer rectifier unit (tru) backfeed interlock

Номер патента: US20230251329A1. Автор: Jeffrey D. Myroth,Jordan K. Vanevenhoven. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Built in test for transformer rectifier unit backfeed interlock

Номер патента: EP4224661A2. Автор: Jeffrey D. Myroth,Jordan K. Vanevenhoven. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2023-08-09.

Compliant contact plate for use in testing integrated circuits

Номер патента: MY163629A. Автор: Joel N Erdman. Владелец: Johnstech Int Corporation. Дата публикации: 2017-10-13.

Urinary biomarker for use in test for prostate cancer

Номер патента: US20150065373A1. Автор: Takahiro Inoue,Kenji Nakayama,Osamu Ogawa,Kazuharu Shimizu,Jun Utsumi. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2015-03-05.

Built in test for transformer rectifier unit backfeed interlock

Номер патента: EP4224661A3. Автор: Jeffrey D. Myroth,Jordan K. Vanevenhoven. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2023-08-23.

Method for assessing mitochondrial function in tissue or organ other than kidney in test subject

Номер патента: EP4253954A1. Автор: Hiroyuki Ohba,Hideo Tsukada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-10-04.

Data boundary manager for addressable advertising

Номер патента: WO2013154990A9. Автор: Nickolas James Heudecker,Jeffrey Sherwin,John Raymond Mick, Jr.. Владелец: This Technology, Llc. Дата публикации: 2013-12-05.

A testing system for use in testing of wireless power transfer and an associated testing device and method

Номер патента: US20210208205A1. Автор: Laurens Swaans. Владелец: NOK9 IP AB. Дата публикации: 2021-07-08.

Test Handler and Circulation Method of Test Trays in Test Handler

Номер патента: US20150247895A1. Автор: NA Yun-Sung,Kweon Young-Ho,Noh Jong Ki. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-03.

Surface Treated Metal Material For Burn-In Test Socket, Connector For Burn-In Test Socket And Burn-In Test Socket Using The Same

Номер патента: US20190234994A1. Автор: Endo Satoru. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-01.

Test Scheduling and Test Access in Test Compression Environment

Номер патента: US20150285854A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Mukherjee Nilanjan,Kassab Mark A.,Mrugalski Grzegorz,Janicki Jakub,Jerzy Tyszer. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

Built-in test scheme for a jitter tolerance test of a clock and data recovery unit

Номер патента: CA2179235C. Автор: Brian Donald Gerson,Kamal Dalmia,Andre Ivanov,Curtis Lapadat. Владелец: PMC Sierra Ltd. Дата публикации: 2000-03-28.

Test handler and circulation method of test trays in test handler

Номер патента: KR102058443B1. Автор: 권영호,나윤성,노종기. Владелец: (주)테크윙. Дата публикации: 2020-02-07.

Test board for burn-in test and PC base test

Номер патента: KR100408984B1. Автор: 이국상,맹주석. Владелец: 맹주석. Дата публикации: 2003-12-06.

Apparatus for testing lighting in testing part of flat panel display testing unit and method thereby

Номер патента: KR100576947B1. Автор: 김태수. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2006-05-10.

Differential charge amplifier with built-in testing for rotation rate sensor

Номер патента: EP1335185A1. Автор: Thad W. Smith. Владелец: BEI Technologies Inc. Дата публикации: 2003-08-13.

Test socket for use in testing device under test

Номер патента: TW202027346A. Автор: 鄭永倍. Владелец: 韓商Isc股份有限公司. Дата публикации: 2020-07-16.

Symbolic execution in testing software

Номер патента: WO2024046516A1. Автор: René Christoph KIRSCH,Stefanie Muroya LEI,Michael Starzinger. Владелец: Ceské vysoké ucení technické v Praze. Дата публикации: 2024-03-07.

A method for measuring deformations in test specimens

Номер патента: EP1719972B1. Автор: Matthew Krever,Daniel Olsen,Randy-David B. Grishaber. Владелец: Cordis Corp. Дата публикации: 2009-03-18.

Infra-red sensor assemblies with built-in test equipment

Номер патента: EP3958017A2. Автор: Thirunavukkarasu Ramalingam,Rajkumar Sengodan. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2022-02-23.

Data boundary manager for addressable advertising

Номер патента: EP2837201A1. Автор: Nickolas James Heudecker,Jeffrey Sherwin,John Raymond Mick Jr.. Владелец: This Technology Inc. Дата публикации: 2015-02-18.

Test head assembly for use in testing protective masks

Номер патента: US20120073359A1. Автор: Eric Hanson,Gilbert Olvera,Colin Gordon Hodge,Gary Warren McCurdy. Владелец: HAMILTON ASSOCIATES Inc. Дата публикации: 2012-03-29.

SEMICONDUCTOR COMPONENT BURN-IN TEST MODULE AND BURN-IN TEST EQUIPMENT

Номер патента: US20220043052A1. Автор: Tsai Chia-Hung,Wu Kuo-Jung,Wang Yi-Ting,LIANG Hsing-Yueh,LIAO Po-Wei. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-10.

Heat spreaders for use in semiconductor device testing, such as burn-in testing

Номер патента: US20210055342A1. Автор: Xiaopeng Qu,Amy R. Griffin,Wesley J. Orme. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-02-25.

HEAT SPREADERS FOR USE IN SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING, SUCH AS BURN-IN TESTING

Номер патента: US20210055343A1. Автор: Chun Hyunsuk,Qu Xiaopeng,Griffin Amy R.. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING RF DEVICE AND RF DEVICE WITH BUILT-IN TESTING CIRCUIT

Номер патента: US20160061875A1. Автор: KUO Rong-Fa,PENG Ming-Chih. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

DIMINUTION OF TEST TEMPLATES IN TEST SUITES

Номер патента: US20210124676A1. Автор: Ziv Avi,Koyfman Anatoly,Gal Raviv,Ackerman Samuel Solomon. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-29.

TEST DEVICE WITH A BUILT-IN TEST ANTENNA

Номер патента: US20190113556A1. Автор: KAO Ho-Chu. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING RF DEVICE AND RF DEVICE WITH BUILT-IN TESTING CIRCUIT

Номер патента: US20180128871A1. Автор: PENG Ming-Chih,KUO Rong- Fa. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

HEAT SPREADERS FOR USE IN SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING, SUCH AS BURN-IN TESTING

Номер патента: US20220291280A1. Автор: Qu Xiaopeng,Griffin Amy R.,Orme Wesley J.. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

MAGNETICALLY ALIGNING TEST STRIPS IN TEST METER

Номер патента: US20150285758A1. Автор: MacRae Allan,Sloss Scott,GUTHRIE Brian,Hunter Ruth. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

DATA BOUNDARY IDENTIFICATION FOR IDENTIFYING VARIABLE SIZE DATA CHUNKS

Номер патента: US20170277599A1. Автор: Parikh Prashant,Reddy Chandra,Karonde Pratap Meghshyam. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-28.

AUTOMATED HANDLING OF DIFFERENT FORM FACTOR DEVICES UNDER TEST IN TEST CELL

Номер патента: US20180313890A1. Автор: Wolff Roland. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-01.

Coded cuvette for use in testing apparatus

Номер патента: US5098661A. Автор: John A. Froehlich,Eric S. Anderson. Владелец: Medical Laboratory Automation Inc. Дата публикации: 1992-03-24.

Method and apparatus to permit adjustable code/data boundary in a nonvolatile memory

Номер патента: KR100493732B1. Автор: 시데보라엘.,하스번로버트엔.. Владелец: 인텔 코오퍼레이션. Дата публикации: 2005-06-07.

Test board having contact rubber and Burn-in test socket using the same

Номер патента: KR101683018B1. Автор: 박성규,전진국. Владелец: 주식회사 오킨스전자. Дата публикации: 2016-12-07.

Method and apparatus to permit adjustable code/data boundary in a nonvolatile memory

Номер патента: US6401160B1. Автор: Deborah L. See,Robert N. Hasbun. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2002-06-04.

A new or improved device for use in testing brakes of vehicles

Номер патента: GB663813A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1951-12-27.

Power supply method, power supply device and testing jig in testing display screen

Номер патента: CN105652114A. Автор: 靳勇. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2016-06-08.

Diminution of test templates in test suites

Номер патента: US11023366B2. Автор: Raviv Gal,Avi Ziv,Samuel Solomon Ackerman,Anatoly Koyfman. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-06-01.

TFT LCD source driver with built in test circuit and method for testing the same

Номер патента: TWI285358B. Автор: Dar-Chang Juang,Lin-Chien Chen. Владелец: Sunplus Technology Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-11.

Chuck for use in testing of semiconductor pellets

Номер патента: US4327325A. Автор: Joseph P. Pudlosky. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1982-04-27.

Data boundary aware base station assisted position location

Номер патента: US6323805B1. Автор: Gilbert C. Sih,Qiuzhen Zou,Inyup Kang. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2001-11-27.

Improvements in testing machine

Номер патента: GB158054A. Автор: . Владелец: HENRY LYON SCOTT. Дата публикации: 1921-01-24.

Heat spreaders for use in semiconductor device testing, such as burn-in testing

Номер патента: US11372043B2. Автор: Xiaopeng Qu,Amy R. Griffin,Wesley J. Orme. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2022-06-28.

Method for automatic detection of faults in test parts by means of an X-ray test system

Номер патента: EP1717573A2. Автор: Frank Herold,Klaus Dr. Bavendiek. Владелец: Yxlon International X Ray GmbH. Дата публикации: 2006-11-02.

Data boundary aware base station assisted position location

Номер патента: US7949351B2. Автор: Gilbert C. Sih,Qiuzhen Zou,Inyup Kang. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2011-05-24.

Method and system for creating a mercury halide standard for use in testing a mercury analyzer system

Номер патента: CA2513385C. Автор: Stephen B. Mandel,Scott M. Shields. Владелец: Spectra Gases Inc. Дата публикации: 2011-10-04.

A System and Method for Deriving Data Boundary

Номер патента: KR102433598B1. Автор: 김민상,임대근,류홍규. Владелец: (주)심플랫폼. Дата публикации: 2022-08-18.

Test point quantitative selection method and device in testing design

Номер патента: CN105842607A. Автор: 姚国平,闫俊锋,侯文魁,张秩铭. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-08-10.

Current measuring module in test-apparatus for testing power semiconductor module

Номер патента: KR101100512B1. Автор: 김태완,장태은. Владелец: 엘에스산전 주식회사. Дата публикации: 2011-12-29.

Apparatus for testing shear stress in test bore hole

Номер патента: KR200445417Y1. Автор: 김윤성. Владелец: 김윤성. Дата публикации: 2009-07-28.

Parallel Test Board Used in Testing for Semiconductor Memory Devices

Номер патента: KR100389804B1. Автор: 이창호,윤상철,최시돈,이만흥. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2003-07-02.

Improvements in testing plants for internal combustion engines

Номер патента: GB338697A. Автор: . Владелец: MAURICE FARMAN. Дата публикации: 1930-11-27.

Improved device for use in testing concentricity of parts

Номер патента: GB826035A. Автор: . Владелец: ALBERT BULLOUGH. Дата публикации: 1959-12-23.

Driving assistance system and test method in test field based on driving assistance system

Номер патента: CN114624032A. Автор: 董云,关明义. Владелец: Beijing Bbk Test Systems Co ltd. Дата публикации: 2022-06-14.

Data boundary manager for addressable advertising

Номер патента: CA2870107A1. Автор: Nickolas James Heudecker,Jeffrey Sherwin,John Raymond Mick, Jr.. Владелец: This Technology Inc. Дата публикации: 2013-10-17.

Simulation method for automobile braking test in test yard

Номер патента: CN113074950A. Автор: 刘斌,李楠,钱卫,黄如波. Владелец: Pan Asia Technical Automotive Center Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-06.

Contact for use in testing integrated circuits

Номер патента: CA2588313C. Автор: Jeffrey C. Sherry. Владелец: Johnstech International Corp. Дата публикации: 2016-03-29.

Test handler and method of transferring devices in test handler

Номер патента: KR100941672B1. Автор: 김태훈,이종한,나윤성. Владелец: (주)테크윙. Дата публикации: 2010-02-12.

Parallel Test Board Used in Testing for Semiconductor Memory Devices

Номер патента: KR20020090426A. Автор: 이창호,윤상철,최시돈,이만흥. Владелец: 삼성전자 주식회사. Дата публикации: 2002-12-05.

Method and device of testing a plurality of modules in test circuit

Номер патента: CN105629148A. Автор: 董菲,李海龙,龚书,王柳笛,吕寅鹏. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-06-01.

Test reagent, and method for measuring analyte in test sample using same

Номер патента: EP2418486A4. Автор: Masayuki Iizuka,Mayumi Kano. Владелец: Denka Seiken Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-31.

On-chip built-in test and operational qualification

Номер патента: US20160291086A1. Автор: Charles Phillip MCCLAY,Wu-Chun Chou,Michael Eugene Davis. Владелец: Tyco Electronics Corp. Дата публикации: 2016-10-06.

On-chip built-in test and operational qualification

Номер патента: WO2016161262A1. Автор: Charles Phillip MCCLAY,Wu-Chun Chou,Michael Eugene Davis. Владелец: TYCO ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-06.

On-chip built-in test and operational qualification

Номер патента: EP3278123A1. Автор: Charles Phillip MCCLAY,Wu-Chun Chou,Michael Eugene Davis. Владелец: Cosemi Technologies Inc. Дата публикации: 2018-02-07.

Improvements in or relating to test leads for use with multimeters in testing the current amplification factor of transistors

Номер патента: HK35879A. Автор: . Владелец: Sanwa Instr Works Ltd. Дата публикации: 1979-06-15.

Method and apparatus for processing and aligning data point clouds

Номер патента: US09424672B2. Автор: Xin Chen,Alexandri Gregor ZAVODNY. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2016-08-23.

DYNAMIC GENERATION OF TEST SEGMENTS

Номер патента: US20130311164A1. Автор: Hershkovitz Oz Dov,Katz Yoav Avraham. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-11-21.

Sealing and Testing Segmented Tools

Номер патента: US20170074749A1. Автор: Dull Kenneth M.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

Methods and Devices for Testing Segmented Electronic Assemblies

Номер патента: US20150137845A1. Автор: Chris Olson. Владелец: Peregrine Semiconductor Corp. Дата публикации: 2015-05-21.

Sealing and Testing Segmented Tools

Номер патента: US20140353916A1. Автор: Dull Kenneth M.. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

APPARATUSES INCLUDING TEST SEGMENT CIRCUITS HAVING LATCH CIRCUITS FOR TESTING A SEMICONDUCTOR DIE

Номер патента: US20190271739A1. Автор: LIU BIN,Meier Nathaniel J.,Werhane Kevin G.. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-05.

APPARATUSES INCLUDING TEST SEGMENT CIRCUITS AND METHODS FOR TESTING THE SAME

Номер патента: US20180364303A1. Автор: LIU BIN,Meier Nathaniel J.,Werhane Kevin G.. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2018-12-20.

Test segment for researching explosion failure of annular fuel cladding

Номер патента: CN110299217B. Автор: 苏光辉,田文喜,秋穗正,张程,巫英伟. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2020-08-28.

Improvement in testing instruments for brewers and distillers

Номер патента: US109168A. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1870-11-15.

Semiconductor device structures for burn-in testing and methods thereof

Номер патента: US20190064257A1. Автор: Mark E. Tuttle. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

Hi-Fix board clamping apparatus for use in test handler

Номер патента: TW200811975A. Автор: Dong-Han Kim,Jae-gyun Shim,Yun-Sung Na,Tae-Hung Ku,In-Gu Jeon. Владелец: Techwing Co Ltd. Дата публикации: 2008-03-01.

Connecting device for burn-in test equipment

Номер патента: TW200922016A. Автор: Chul-Sub Lee,Oh-Hyeon Kwon. Владелец: TYCO ELECTRONICS AMP KOREA LTD. Дата публикации: 2009-05-16.

Improvements in testing of electrical spurs, including light switches, isolators and joint boxes

Номер патента: GB202214260D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-11-16.

Method and apparatus for adjusting pitch of buffer tray in test handler

Номер патента: TW200910499A. Автор: Jin-Hwan Lee. Владелец: Secron Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-01.

Method and apparatus for wireless communication in test, measurement, control, and communication systems

Номер патента: US20130321160A1. Автор: Nikolaos I. Komninos. Владелец: Radiaulics Inc. Дата публикации: 2013-12-05.

Method and apparatus for transferring semiconductor devices in test handler

Номер патента: TW200910500A. Автор: Jin-Hwan Lee. Владелец: Secron Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-01.

Burn-in testing apparatus and method

Номер патента: TWI351768B. Автор: Gordon B Kuenster,Christopher A Lopez,Brian J Denheyer. Владелец: Wells CTI LLC. Дата публикации: 2011-11-01.

Method and device for detecting the partial pressure of gases in body fluids using a built-in test electrode.

Номер патента: CH617083A5. Автор: Stefan Kunke. Владелец: Draegerwerk Ag. Дата публикации: 1980-05-14.

Hi-fix board clamping apparatus for use in test handler

Номер патента: US8919755B2. Автор: Dong Han Kim,Yun Sung Na,In Gu Jeon,Tae Hung Ku,Jae Gyun Shim. Владелец: Techwing Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-30.

A fitting for use in testing a fluid pipeline

Номер патента: GB2264563B. Автор: Peter Godfrey. Владелец: WRIGHT ENGINEERING Co. Дата публикации: 1995-03-15.

Systems and methods for arc fault detection built-in-test

Номер патента: EP3736584B1. Автор: John A. Dickey. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Method of detecting shikimic acid in aqueous solution and in test sample

Номер патента: IL144946A. Автор: . Владелец: Syngenta Ltd. Дата публикации: 2007-03-08.

Critical capacitor built in test

Номер патента: GB201407286D0. Автор: . Владелец: Silicon Sensing Systems Ltd. Дата публикации: 2014-06-11.

Scheme for data entry insertion in a sparsely populated data structure

Номер патента: US20240272811A1. Автор: Leon Zlotnik,Brian Toronyi. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Fail safe built in test equipment

Номер патента: CA985421A. Автор: Martin W. Feintuch,Allen S. Silver. Владелец: Bendix Corp. Дата публикации: 1976-03-09.

A loading probe for use in testing transducers

Номер патента: GB9211723D0. Автор: . Владелец: GEC Ferranti Defence Systems Ltd. Дата публикации: 1992-07-15.

Arrangement and method for conveying electronic device in testing system

Номер патента: IL267001A. Автор: Mika Puttonen. Владелец: Mika Puttonen. Дата публикации: 2019-08-29.

Method and apparatus for processing signals in testing currency items

Номер патента: AU2003253140A1. Автор: Gaston Baudat,Fatiha Anouar. Владелец: Mars Inc. Дата публикации: 2004-01-06.

Isotopically-labeled solvents and the use of same in testing E-cigarettes

Номер патента: US09885702B1. Автор: Raymond H. Farmen,Christine Kafonek. Владелец: Celerion Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Built-in test circuits for transient voltage protection devices

Номер патента: US09711960B2. Автор: Kenneth D. Milkie. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Isotopically-labeled solvents and the use of same in testing e-cigarettes

Номер патента: US09645134B1. Автор: Raymond H. Farmen,Christine Kafonek. Владелец: Celerion Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Aligning data of continuous material flow in digital manufacturing transformation

Номер патента: US11714097B2. Автор: Niels Andersen,Douglas C. Lawson. Владелец: Thinkiq Inc. Дата публикации: 2023-08-01.

Method and system for character insertion in a character string

Номер патента: WO2017148833A1. Автор: Joël COUELIER,Laëtitia DESVAGES-COUSIN. Владелец: Myscript. Дата публикации: 2017-09-08.

Flip-flop insertion in a circuit design

Номер патента: US20040153984A1. Автор: Nataraj Akkiraju. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-08-05.

Sorted insertion in databases

Номер патента: US20200104394A1. Автор: Michael Zayats,Aslam Khan. Владелец: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP. Дата публикации: 2020-04-02.

Database insertions in a stream database environment

Номер патента: US09514159B2. Автор: John M. Santosuosso,Eric L. Barsness. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

METHOD AND APPARATUS FOR WIRELESS COMMUNICATION IN TEST, MEASUREMENT, CONTROL, AND COMMUNICATION SYSTEMS

Номер патента: US20130321160A1. Автор: Komninos Nikolaos I.. Владелец: Radiaulics, Inc.. Дата публикации: 2013-12-05.

Sequential Burn-In Test Mechanism

Номер патента: US20140062515A1. Автор: Vassighi Arman,Zia Victor. Владелец: . Дата публикации: 2014-03-06.

METHODS AND KITS FOR DETECTING HEMOGLOBIN IN TEST SAMPLES

Номер патента: US20140072996A1. Автор: Adamczyk Maciej,Brashear Roy Jeffrey,Mattingly Phillip G.. Владелец: ABBOTT LABORATORIES. Дата публикации: 2014-03-13.

ROLE-ORIENTED TESTBED ENVIRONMENTS FOR USE IN TEST AUTOMATION

Номер патента: US20160004623A1. Автор: CORFIELD Gavin M.. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-07.

INFRA-RED SENSOR ASSEMBLIES WITH BUILT-IN TEST EQUIPMENT

Номер патента: US20220035012A1. Автор: Sengodan Rajkumar,Ramalingam Thirunavukkarasu. Владелец: GOODRICH CORPORATION. Дата публикации: 2022-02-03.

COAXIAL STRUCTURE FOR TRANSMISSION OF SIGNALS IN TEST EQUIPMENT

Номер патента: US20160018442A1. Автор: Sinsheimer Roger Allen,Lewinnek David Walter,Valiente Luis Antonio. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

SWITCHING LOSS MEASUREMENT AND PLOT IN TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT

Номер патента: US20150032393A1. Автор: SRI KRISHNA N H,PATRO GAJENDRA KUMAR,BAL ABHINAV,M N GURUSHIDDAPPA. Владелец: TEKTRONIX, INC.. Дата публикации: 2015-01-29.

BUILT-IN TESTING OF AN ARC FAULT/TRANSIENT DETECTOR

Номер патента: US20160041222A1. Автор: Handy Peter James. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-11.

NUMERICAL CONTROLLER FOR CONTROLLING STROKE IN TEST OPERATION NEAR STROKE LIMIT

Номер патента: US20170045881A1. Автор: OGINO Hideo. Владелец: FANUC Corporation. Дата публикации: 2017-02-16.

SYSTEM AND METHOD TO AUTOMATE VALIDATING MEDIA REDIRECTION IN TESTING PROCESS

Номер патента: US20180052881A1. Автор: Rajaiah Arunprasad,Arumugham Ramachandran,Manickavelu Vinothkumar. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

ENHANCED TEACHING METHOD AND SECURITY PROTOCOL IN TESTING STUDENTS

Номер патента: US20190057472A1. Автор: Ross Peter. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-21.

Distinguishing Public and Private Code in Testing Environments

Номер патента: US20180060224A1. Автор: Tamir Shavro. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2018-03-01.

URINARY BIOMARKER FOR USE IN TEST FOR PROSTATE CANCER

Номер патента: US20150065373A1. Автор: INOUE Takahiro,Nakayama Kenji,UTSUMI Jun,Ogawa Osamu,Shimizu Kazuharu. Владелец: KYOTO UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-03-05.

DATABASE ANONYMIZATION FOR USE IN TESTING DATABASE-CENTRIC APPLICATIONS

Номер патента: US20140143239A1. Автор: Grechanik Mark,Xie Qing,Fu Chen. Владелец: Accenture Global Services Limited. Дата публикации: 2014-05-22.

SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURES FOR BURN-IN TESTING AND METHODS THEREOF

Номер патента: US20190064257A1. Автор: Tuttle Mark E.. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

AUTOMATICALLY EXECUTING STATELESS TRANSACTIONS WITH DATA DEPENDENCY IN TEST CASES

Номер патента: US20190065349A1. Автор: Patel Ashish,Sharma Tuhin Kanti,Bartoli Michael,Tammariello Christopher. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

HUMIDITY AND SULFUR CONCENTRATION IN TEST CHAMBER

Номер патента: US20170067817A1. Автор: SINGH Prabjit. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-09.

HUMIDITY AND SULFUR CONCENTRATION IN TEST CHAMBER

Номер патента: US20170067867A1. Автор: SINGH Prabjit. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-09.

ROLE-ORIENTED TESTBED ENVIRONMENTS FOR USE IN TEST AUTOMATION

Номер патента: US20140164841A1. Автор: CORFIELD Gavin M.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-12.

Role-oriented testbed environments for use in test automation

Номер патента: US20140164842A1. Автор: Gavin M. CORFIELD. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-06-12.

Apparatus for Burn-In Test

Номер патента: US20160091559A1. Автор: Teoh Siow Khiang. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-31.

Built in test circuit for transient voltage suppressor devices

Номер патента: US20160097803A1. Автор: James Quigley,Gary L. Hess. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

PRESSURE SEAL WITH BUILT IN TESTING SYSTEM

Номер патента: US20220170812A1. Автор: Shanks David Sirda,McKay John Henry. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-02.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND BURN-IN TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20210123972A1. Автор: Suzuki Koji,TANIMURA Masaaki. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-29.

MEMS VIBRATING BEAM ACCELEROMETER WITH BUILT-IN TEST ACTUATORS

Номер патента: US20220178963A1. Автор: Reinke John. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-09.

Scheme for Masking Output of Scan Chains in Test Circuit

Номер патента: US20170131354A1. Автор: Rohit Kapur,Jyotirmoy Saikia. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2017-05-11.

System Level Health Monitoring in Test Systems

Номер патента: US20190137566A1. Автор: Ormston Jesse D.. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-09.

SYSTEMS AND METHODS FOR BUILT IN TEST EQUIPMENT FOR A BRAKE CONTROL SYSTEM

Номер патента: US20160148445A1. Автор: Cahill Eric Daniel. Владелец: GOODRICH CORPORATION. Дата публикации: 2016-05-26.

METHODS FOR USE IN TESTING GAS TURBINE FILTERS

Номер патента: US20150159553A1. Автор: Bryant Paul Sherwood,Hiner Stephen David,Marchetti Giorgio,KIPPEL Brad Aaron. Владелец: BHA Altair, LLC. Дата публикации: 2015-06-11.

HUMIDITY AND SULFUR CONCENTRATION IN TEST CHAMBER

Номер патента: US20180172654A1. Автор: SINGH Prabjit. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-21.

RF RECEIVER WITH BUILT-IN TEST CAPABILITIES

Номер патента: US20180172801A1. Автор: Kropfitsch Michael,KREBELDER Georg,SCHRATTENECKER Jochen O.,FRANK Oliver,KOLLMANN Helmut,SAILER Thomas,Starzer Florian. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-21.

SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURES FOR BURN-IN TESTING AND METHODS THEREOF

Номер патента: US20190170811A1. Автор: Tuttle Mark E.. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-06.

System and method for focusing guided waves beyond curves in test structures

Номер патента: US20140278193A1. Автор: Luke Breon,Michael J. Quarry. Владелец: Electric Power Research Institute Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

FIXTURE IDENTIFICATION IN TEST SYSTEMS

Номер патента: US20210224587A1. Автор: Dingmann David L.. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-22.

SWITCHING POWER SUPPLY BURN IN TEST CIRCUIT

Номер патента: US20180196109A1. Автор: Zheng Gang,ZOU Shu. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-12.

BUILT-IN TEST STRUCTURE FOR A RECEIVER

Номер патента: US20160216317A1. Автор: Chen Minhan,Arcudia Kenneth Luis,Pandita Bupesh. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-28.

APPARATUS TO DETECT TARGET COMPONENTS IN TEST SAMPLES

Номер патента: US20200200747A1. Автор: Wilson David,Mittal Neha,CHAND Rohit,RAJABZADEH Amin,SRINIVASAN Seshasai. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-25.

SYSTEM AND METHODS FOR SEMICONDUCTOR BURN-IN TEST

Номер патента: US20190204378A1. Автор: Gopal Ballson,Killion Jesse. Владелец: KES SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2019-07-04.

TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSION PROTECTION CIRCUIT INCLUDING BUILT IN TESTING

Номер патента: US20140306714A1. Автор: JR. James,Quigley,Hess Gary L.. Владелец: HAMILTON SUNDSTRAND CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-16.

SYSTEMS AND METHODS FOR TEMPERATURE CORRECTION IN TEST STRIPS FOR ENZYME DETECTION

Номер патента: US20160223543A1. Автор: Moskowitz Keith. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-04.

DEVICE FOR OPTICALLY MEASURING FLUORESCENCE OF NUCLEIC ACIDS IN TEST SAMPLES AND USE OF THE DEVICE

Номер патента: US20150233828A1. Автор: Courtney James. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

Scheme for Masking Output of Scan Chains in Test Circuit

Номер патента: US20140317463A1. Автор: Kapur Rohit,Chebiyam Subramanian B.,Chandra Anshuman,Saikia Jyotirmoy,Bhattacharya Parthajit. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-23.

CRITICAL CAPACITOR BUILT IN TEST

Номер патента: US20140320155A1. Автор: Durston Michael,Sitch Douglas Robert. Владелец: SILICON SENSING SYSTEMS LIMITED. Дата публикации: 2014-10-30.

SYSTEMS AND METHODS FOR BUILT IN TEST EQUIPMENT FOR A BRAKE CONTROL SYSTEM

Номер патента: US20150243113A1. Автор: Cahill Eric Daniel. Владелец: GOODRICH CORPORATION. Дата публикации: 2015-08-27.

WATCHDOG BUILT IN TEST (BIT) CIRCUIT FOR FAST SYSTEM READINESS

Номер патента: US20200225285A1. Автор: Vijay Ashish,Rao Sesh Mohan,Krishna Rajeeva Gopala. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-16.

IDENTIFYING FALSE POSITIVES IN TEST CASE FAILURES USING COMBINATORICS

Номер патента: US20210263840A1. Автор: Blue Dale E.,Hicks Andrew C. M.,RAWLINS RYAN THOMAS,MO BRIAN. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

ANISOTROPIC CONDUCTIVE FILM (ACF) FOR USE IN TESTING SEMICONDUCTOR PACKAGES

Номер патента: US20200243405A1. Автор: Kim Hyoung Il. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

Embedded instruction sets for use in testing and error simulation of computing programs

Номер патента: US20150286557A1. Автор: Xiangtao You,Erwin Tsaur,Xiao-dong Zhao. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2015-10-08.

Scheme for Masking Output of Scan Chains in Test Circuit

Номер патента: US20140372822A1. Автор: Kapur Rohit,Saikia Jyotirmoy. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-18.

On-chip built-in test and operational qualification

Номер патента: US20160291086A1. Автор: Charles Phillip MCCLAY,Wu-Chun Chou,Michael Eugene Davis. Владелец: Tyco Electronics Corp. Дата публикации: 2016-10-06.

BAT BREAK-IN TESTING METHOD AND ASSOCIATED APPARATUS

Номер патента: US20160296813A1. Автор: Brandt Richard A.. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-13.

CLOSED LOOP CONTROL AND BUILT-IN TEST UTILIZING REDUCED ORDER MODEL

Номер патента: US20170293710A1. Автор: Ho Tony,Haggerty Nathan. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-12.

AUTOMATICALLY EXECUTING STATELESS TRANSACTIONS WITH DATA DEPENDENCY IN TEST CASES

Номер патента: US20190294533A1. Автор: Patel Ashish,Sharma Tuhin Kanti,Bartoli Michael,Tammariello Christopher. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

Distributed Control Modules with Built-In Tests and Control-Preserving Fault Responses

Номер патента: US20200309852A1. Автор: LU Manxue,Carpenter R. Sheldon,DeJager John Lawrence. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

BURN-IN TEST SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20160334462A1. Автор: KIM Dae Kyoung,JUNG Woo Sik. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-17.

BUILT-IN TEST FOR SATELLITE DIGITAL PAYLOAD VERIFICATION

Номер патента: US20150339205A1. Автор: Chiu Robert Conder,Bolton Robert Emerson,Behboudikha Payman,Jaque Philip Stewart. Владелец: The Boeing Company. Дата публикации: 2015-11-26.

IMPERSONATION IN TEST AUTOMATION

Номер патента: US20180322037A1. Автор: Kohlmeier Sebastian,Mahmood Khalid,Luke James S.,Thazhathekalam Krishnan,Muralidhar Anjali,Gandhi Akshay. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-08.

Scheme for Masking Output of Scan Chains in Test Circuit

Номер патента: US20160341795A1. Автор: Kapur Rohit,Chebiyam Subramanian B.,Chandra Anshuman,Saikia Jyotirmoy,Bhattacharya Parthajit. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-24.

BURN-IN TESTING OF CIRCUITS

Номер патента: US20180335471A1. Автор: Kho Rex,Schuemmer Markus,Boluki Human. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-22.

SYSTEM AND METHOD FOR VOLTAGE REGULATOR SELF-BURN-IN TEST

Номер патента: US20180348309A1. Автор: OU YANG Kuang-Hua,HSU Kuo-Chan,SHIH Yun-Teng. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

SYSTEM AND METHOD FOR GAS REUSE IN TESTING OF HAZARDOUS GAS DETECTING INSTRUMENTS

Номер патента: US20200355659A1. Автор: SPECTOR Jacob Thomas,McEwen Shane Lee,NILSSON Andrew,PRESS Chris. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-12.

BURN-IN TESTING OF INDIVIDUALLY PERSONALIZED SEMICONDUCTOR DEVICE CONFIGURATION

Номер патента: US20170370988A1. Автор: Motika Franco,You Soungbum. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-28.

FREQUENCY-BASED BUILT-IN-TEST FOR DISCRETE OUTPUTS

Номер патента: US20200355739A1. Автор: Wilson Michael A.,Peterson Kevin C.. Владелец: HAMILTON SUNDSTRAND CORPORATION. Дата публикации: 2020-11-12.

SYSTEMS AND METHODS FOR CURRENT SENSE RESISTOR BUILT-IN-TEST

Номер патента: US20200355775A1. Автор: Dickey John A.. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-12.

SYSTEMS AND METHODS FOR ARC FAULT DETECTION BUILT-IN-TEST

Номер патента: US20200358281A1. Автор: Dickey John A.. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-12.

BUILT IN TEST OF REMOTE ISOLATION

Номер патента: US20180372790A1. Автор: James Joseph A.,Soekmadji Henry. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

Arrangement and method for conveying electronic device in testing system

Номер патента: US20190369159A1. Автор: Puttonen Mika. Владелец: JOT Automation Oy. Дата публикации: 2019-12-05.

SYSTEM AND METHOD OF AUTOMATED BURN-IN TESTING ON INTEGRATED CIRCUIT DEVICES

Номер патента: US20200379033A1. Автор: Chang Sunny Lai-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-03.

METHOD AND APPARATUS FOR RF BUILT-IN TEST SYSTEM

Номер патента: US20220365133A1. Автор: Kuo Wei-Min,BONTHRON Andrew John,NOVOZHILOV Viktor Yevgenyevich,NGUYEN Phuoc Thanh,NILSSON Michael Terry. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-17.

Scheme for use in testing software for computer entertainment systems

Номер патента: WO2007047057A3. Автор: Jie Xu. Владелец: Sony Comp Entertainment Us. Дата публикации: 2009-04-30.

Scheme for use in testing software for computer entertainment systems

Номер патента: WO2007047057A2. Автор: Jie Xu. Владелец: Sony Computer Entertainment America Inc.. Дата публикации: 2007-04-26.

Contextual-based virtual data boundaries

Номер патента: CA2867171C. Автор: David G. Lawrence,David A. Whelan,Gregory M. Gutt,Michael L. O'Connor,Arun Ayyagari,Rachel Schmalzried. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-11-22.

Built-in test for an overvoltage protection circuit

Номер патента: US20120187969A1. Автор: Gary L. Hess. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2012-07-26.

Bat break-in testing method and associated apparatus

Номер патента: US09868039B2. Автор: Richard A. Brandt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-01-16.

Apparatus and method for use in testing wireless devices

Номер патента: US20060229018A1. Автор: Fanny Mlinarsky,Charles Wright,Raymond Cronin. Владелец: Azimuth Systems Inc. Дата публикации: 2006-10-12.

Apparatus for use in testing for the presence of a given voltage with respect to ground on a pipeline

Номер патента: US3676567A. Автор: Frank R Zinn. Владелец: BINGHAM AND TAYLOR. Дата публикации: 1972-07-11.

Temporary interconnect for use in testing a semiconductor package

Номер патента: US20200235018A1. Автор: Yi Xu,Hyoung Il Kim,Florence Pon. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-07-23.

Built-in test signal attenuation circuit

Номер патента: US6880114B2. Автор: Daniel N. Harres. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2005-04-12.

System and method for built in test for optical sensors

Номер патента: US20200413036A1. Автор: Shahar HANIA. Владелец: RAIL VISION LTD. Дата публикации: 2020-12-31.

System and method for built in test for optical sensors

Номер патента: EP3759909A1. Автор: Shahar HANIA. Владелец: RAIL VISION LTD. Дата публикации: 2021-01-06.

Steering system for use in test driving of an autonomous vehicle and disengagement method

Номер патента: US20240343293A1. Автор: Roland Kohari. Владелец: Aimotive Kft. Дата публикации: 2024-10-17.

Method for detection of herpes virus in tested sample

Номер патента: RU2470999C2. Автор: Нурия МАНХОН,Мария Л. ВИЛЬЯЭРМОСА. Владелец: Хеномика С.А.У.. Дата публикации: 2012-12-27.

Built-in test for dynamic raster video output

Номер патента: CA2188444C. Автор: Larry J. Thomas,Steven A. Schauer. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 2005-08-02.

Array built in test

Номер патента: US5038146A. Автор: Toshikazu Tsukii,Mark M. Doherty,Joseph A. Troychak. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 1991-08-06.

System and method for aligning data between local and remote sources thereof

Номер патента: CA2443094C. Автор: Tony J. Lee,Jeffrey L. Hawbaker. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2011-11-22.

System and method for aligning data between local and remote sources thereof

Номер патента: EP1374470A1. Автор: Tony J. Lee,Jeffrey L. Hawbaker. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2004-01-02.

Aligning data transfer to optimize connections established for transmission over a wireless network

Номер патента: CA2798523C. Автор: Michael Luna,Mikko Tervahauta. Владелец: Seven Networks Inc. Дата публикации: 2015-02-24.

Radiation detector with built-in test capability

Номер патента: US4544843A. Автор: Mark T. Kern,Robert A. Bell,Max J. Riedl. Владелец: Santa Barbara Research Center. Дата публикации: 1985-10-01.

Shared transient voltage suppressor having built-in-test capability for solid state power controllers

Номер патента: US20170163030A1. Автор: John A. Dickey. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2017-06-08.

Steering system for use in test driving of an autonomous vehicle and disengagement method

Номер патента: EP4367002A1. Автор: Roland Kohari. Владелец: Aimotive Kft. Дата публикации: 2024-05-15.

Replacement unit for insert in hair care device with turning

Номер патента: RU2672952C1. Автор: Эдуар МЕССАЖЕ. Владелец: Л'Ореаль. Дата публикации: 2018-11-21.

Method and system for collecting alignment data from coated chips or wafers

Номер патента: US20090251698A1. Автор: Claudius Feger,Nancy C. Labianca,Steven E. Steen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-10-08.

Methods and apparatus to correlate a demographic segment with a fixed device

Номер патента: US12088679B2. Автор: Arun Ramaswamy,Jan Besehanic,Jean-Pierre Abello. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2024-09-10.

Vehicle tire and antislip stud inserted in vehicle tire

Номер патента: RU2623320C2. Автор: Микко Лиуккула. Владелец: Нокиан Ренкаат Оий. Дата публикации: 2017-06-23.

In-line valve for insertion in a pressurized fluid flow line

Номер патента: GB2300244B. Автор: Joseph R Martin. Владелец: Jomar International Ltd. Дата публикации: 1997-06-18.

Plunger arrangement for retaining glass/screen inserts in frames

Номер патента: US5681067A. Автор: Robert James MacIntyre. Владелец: Metal Industries Inc. Дата публикации: 1997-10-28.

Abrasion resistant inserts in centrifugal well pump stages

Номер патента: WO2018186942A1. Автор: ZHENG YE,Ignacio Martinez. Владелец: Baker Hughes, a GE company, LLC. Дата публикации: 2018-10-11.

Dual lip product applicator having a cosmetic bullet insert in a handle component

Номер патента: US20200337440A1. Автор: Kristilynn Marie Kwong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-10-29.

In-line valve for insertion in a pressurized fluid flow line

Номер патента: GB9603021D0. Автор: . Владелец: Jomar International Ltd. Дата публикации: 1996-04-10.

Manufacturing assembly and method of locating a face insert in a golf club head

Номер патента: US09415281B2. Автор: Robert Maple,Alan C. Bettencourt. Владелец: Callaway Golf Co. Дата публикации: 2016-08-16.

Comb or multiple comb filter inserted in the cigarette or applicable to devices for smoke or to sources of polluting flows

Номер патента: WO2000060961A1. Автор: Romano Murri. Владелец: Romano Murri. Дата публикации: 2000-10-19.

Massager to be inserted in the back of a massage chair or the like, provided with improved vertical massage

Номер патента: EP1008335A3. Автор: Egidio Marcantoni. Владелец: CIAR SpA. Дата публикации: 2002-08-21.

Filter cartridge for insertion in a filter housing of a fluid filter

Номер патента: US20240307800A1. Автор: Jens Bachmann,Marvin Michael Lee,Julian Niehoff,Mark VON LUETZAU. Владелец: Hengst SE and Co KG. Дата публикации: 2024-09-19.

Headset jack and method for detecting whether headset is inserted in position

Номер патента: US09820030B2. Автор: Wei Mei,Haodong LIU,Shunji ZHU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Disposable dental floss segment with rolled paper handle ends

Номер патента: US09717574B2. Автор: Scott Amron. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-01.

Method and apparatus for automatically associating media segments with broadcast media streams

Номер патента: US09681160B2. Автор: John P. McIntire,Michael Downing. Владелец: Tout Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Arrangement for locating cutting insert in holder

Номер патента: US3815195A. Автор: Creery J Mc. Владелец: Kennametal Inc. Дата публикации: 1974-06-11.

Intelligent segment with concrete embedded with gas/liquid-filled steel pipes

Номер патента: US20230313681A1. Автор: Yi Shen,Jiantao Li,Zhiguo YAN,Hehua ZHU,Tongsheng YU. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-10-05.

Controlling access to a portable medium inserted in an image processing apparatus

Номер патента: US20060092434A1. Автор: Toshinobu Koakutsu. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-04.

Method for Producing A Hammer Lock, Method for Engaging a Hammer Lock and Hammer Lock to be Inserted in a Gun

Номер патента: US20090077854A1. Автор: W. Thomas Mcclellan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-26.

Liner arrangement for inserting in a pipe structure, and method for relining a pipe structure

Номер патента: US20240255091A1. Автор: Jesper Stockfors. Владелец: Repiper AB. Дата публикации: 2024-08-01.

Apparatus for insertion in a tank and method thereof

Номер патента: US09433982B2. Автор: Gerald P. Zink. Владелец: StoneAge Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Clamp with independent resilient clamping cogs for clamping insert in holder

Номер патента: RU2556193C2. Автор: Джил ХЕЧТ,Данни ЧЕН. Владелец: Искар Лтд.. Дата публикации: 2015-07-10.

Refiner plate segment with triangular inlet zone

Номер патента: RU2447944C2. Автор: Люк ДЖИНГРАС. Владелец: Андритц Инк.. Дата публикации: 2012-04-20.

Improvements in or relating to securing an insert in sheet material

Номер патента: GB943393A. Автор: Edward Charles Mcgee,Douglas Wadford Wadding Ton. Владелец: Belling and Lee Ltd. Дата публикации: 1963-12-04.

Cast refiner plate segment with blunt edges and corners for safe handling

Номер патента: RU2656808C2. Автор: Люк ДЖИНГРАС,Ив РЭЙМОНД. Владелец: Андритц Инк.. Дата публикации: 2018-06-06.

A clamping chuck for tool inserts, in particular for screw drivers

Номер патента: CA2131179A1. Автор: Ewald Hornung. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-09-08.

Placing an insert in a container

Номер патента: GB2218080A. Автор: Edward Roger Costello,Peter Frank Kershaw. Владелец: MCLENNON J L Ltd. Дата публикации: 1989-11-08.

Method of installing a metallic threaded insert in a composite/rubber panel

Номер патента: US5380382A. Автор: Stanley J. Izdebski. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1995-01-10.

Pressing device for keeping a detail inserted in a hole

Номер патента: CA1194533A. Автор: Ragnar Sterte. Владелец: IVAR ERICSON AB. Дата публикации: 1985-10-01.

Device for holding a cutting insert in the pocket of a tool holder

Номер патента: CA1044455A. Автор: Kenneth L. Niebauer,James W. Heaton. Владелец: Kennametal Inc. Дата публикации: 1978-12-19.

Device for releasing active ingredient, insertable in a system of parenteral administering the ingredient

Номер патента: CA1195658A. Автор: Leo Geller. Владелец: Alza Corp. Дата публикации: 1985-10-22.

Improvements in or relating to the manufacture of elongated inserts in a thermoplastic sheet material

Номер патента: GB1146714A. Автор: . Владелец: Svenska Cellulosa AB. Дата публикации: 1969-03-26.

Gas purifier for insertion in chimneys

Номер патента: GB1426103A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1976-02-25.

Retaining an insert in an electrical connector

Номер патента: CA1293782C. Автор: David Otis Gallusser,Stephen Punako,Warren Reed Williams, Jr.. Владелец: Amphenol Corp. Дата публикации: 1991-12-31.

Improvements in or relating to spacers for steel inserts in reinforced concrete

Номер патента: GB773769A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1957-05-01.

Apparatus for, and a method of, placing an insert in a container

Номер патента: CA2095071A1. Автор: Derek C. Lockington. Владелец: Guinness Brewing Worldwide Ltd. Дата публикации: 1993-10-30.

Retaining device for fastening an appliance insert in a base panel

Номер патента: US5653550A. Автор: Bernd Mutz,Gerd Ruttnauer. Владелец: A Raymond GmbH and Co KG. Дата публикации: 1997-08-05.

Inflatable prosthesis insertable in adjustable brassiere

Номер патента: CA2212611C. Автор: Sui-Mu Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-13.

Fluid mixing device inserted in or combined with a reactor

Номер патента: CA2626481C. Автор: Andrea Bartolini,Luca Basini,Alessandra Guarinoni,Nicola Onorati,Antonio Bennardo. Владелец: Eni Spa. Дата публикации: 2014-03-11.

Placing an insert in a beverage can

Номер патента: GB2266508A. Автор: Derek C Lockington. Владелец: Guinness Brewing Worldwide Ltd. Дата публикации: 1993-11-03.

Improvements in or relating to metal tubular bellows units for insertion in pipelines or ducts

Номер патента: GB839594A. Автор: Herbert Harris. Владелец: Babcock and Wilcox Ltd. Дата публикации: 1960-06-29.

Method of cryogenically hardening an insert in an article

Номер патента: US4336077A. Автор: J. Michael Leach,Walter L. Harvey. Владелец: Caterpillar Tractor Co. Дата публикации: 1982-06-22.

Cup adapter inserted in automobile's cup holder

Номер патента: US20060118688A1. Автор: Byung Kong. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2006-06-08.

Plug for inserting in holes or recesses in manhole covers, access hatches etc.

Номер патента: GB2381286A. Автор: Marie Graham. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-04-30.

Improvements in or relating to securing inserts in sheet material

Номер патента: GB949811A. Автор: Edward Charles Mcgee,Douglas Wadford Waddington. Владелец: Belling and Lee Ltd. Дата публикации: 1964-02-19.

An article to be inserted in a body cavity having electrically connected electrode materials

Номер патента: EP2281589A3. Автор: Per MØLLER,Anette Alsted Rasmussen. Владелец: Impactcare Aps. Дата публикации: 2011-08-31.

Centralized service insertion in an active-active logical service router (sr) cluster

Номер патента: US20240031290A1. Автор: BO Lin,Yong Wang,Xinhua Hong,Xinyu He,Dongping Chen. Владелец: VMware LLC. Дата публикации: 2024-01-25.

Methods and apparatus to correlate a demographic segment with a fixed device

Номер патента: US20230083900A1. Автор: Arun Ramaswamy,Jan Besehanic,Jean-Pierre Abello. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2023-03-16.

Methods and apparatus to correlate a demographic segment with a fixed device

Номер патента: WO2016064747A1. Автор: Arun Ramaswamy,Jan Besehanic,Jean-Pierre Abello. Владелец: The Nielsen Company (US), LLC. Дата публикации: 2016-04-28.

Method for controlling weft insertion in air jet type loom

Номер патента: US20040011419A1. Автор: Mutsuo Fujitani. Владелец: Tsudakoma Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-22.

Abrasion resistant inserts in centrifugal well pump stages

Номер патента: EP3607207A1. Автор: ZHENG YE,Ignacio Martinez. Владелец: Baker Hughes a GE Co LLC. Дата публикации: 2020-02-12.

A method for inserting in capsules and protecting substances to be mixed in a solvent before use

Номер патента: WO2012153216A1. Автор: Vanni Benedetti. Владелец: BIODUE S.P.A.. Дата публикации: 2012-11-15.

Methods and apparatus to correlate a demographic segment with a fixed device

Номер патента: US20200195736A1. Автор: Arun Ramaswamy,Jan Besehanic,Jean-Pierre Abello. Владелец: Citibank NA. Дата публикации: 2020-06-18.

Device for inserting in a machine tool and machine tool

Номер патента: IN2014KN01119A. Автор: Robert Jung. Владелец: DECKEL MAHO PFRONTEN GMBH. Дата публикации: 2015-10-16.

Refiner plate cast segment with blunted edges and angles for safe handling

Номер патента: RU2702167C2. Автор: Люк ДЖИНГРАС,Ив РЭЙМОНД. Владелец: Андритц Инк.. Дата публикации: 2019-10-04.

Detachable cutting tool segment with resilient clamping and cutting tool therefor

Номер патента: RU2655487C2. Автор: Джил ХЕЧТ. Владелец: Искар Лтд.. Дата публикации: 2018-05-28.

Medical tube to be inserted in body cavity

Номер патента: US4799474A. Автор: Yasuhiro Ueda. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1989-01-24.

Filler plug for coil insert in concrete slab or panel

Номер патента: CA1082483A. Автор: Richard C. Mess. Владелец: Dayton Sure Grip and Shore Co. Дата публикации: 1980-07-29.

Gas supply device including a plurality of gas flasks inserted in a pressurized gas container

Номер патента: CA1223529A. Автор: Peter A. Neukomm. Владелец: Pewa Technic Ag. Дата публикации: 1987-06-30.

A wind turbine rotor blade assembly with a ring insert in the blade root

Номер патента: CA2830128A1. Автор: Frederic Bussieres,Mats Goldberg. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-04-30.

Method of site-specific insertion in zymomonas mobilis

Номер патента: CA2304927C. Автор: Min Zhang,Yat-Chen Chou. Владелец: Alliance for Sustainable Energy LLC. Дата публикации: 2010-07-27.

Device for transmission of sound with selective filtering for insertion in the outer auditory canal

Номер патента: US5832094A. Автор: Francois Le Her. Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-11-03.

Liner arrangement for inserting in a pipe structure, and method for relining a pipe structure

Номер патента: AU2022278446A1. Автор: Jesper Stockfors. Владелец: Repiper AB. Дата публикации: 2023-11-16.

Forced insertion device for objects in general to be inserted in a predifined seat

Номер патента: EP4253021A1. Автор: Federico Cavalieri. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-04.

Liner arrangement for inserting in a pipe structure, and method for relining a pipe structure

Номер патента: CA3218111A1. Автор: Jesper Stockfors. Владелец: Repiper AB. Дата публикации: 2022-11-24.

Liner arrangement for inserting in a pipe structure, and method for relining a pipe structure

Номер патента: EP4341598A1. Автор: Jesper Stockfors. Владелец: Repiper AB. Дата публикации: 2024-03-27.

Method to control weft yarn insertion in a loom

Номер патента: WO1998005812A1. Автор: Marco Covelli. Владелец: Nuova Roj Electrotex S.R.L.. Дата публикации: 1998-02-12.

Method of and apparatus for placing an insert in a container

Номер патента: AU6608190A. Автор: Edward Roger Costello,Peter Frank Kershaw. Владелец: MCLENNON J L Ltd. Дата публикации: 1991-05-31.

Method of and apparatus for placing an insert in a container

Номер патента: IE903758A1. Автор: Edward Roger Costello,Peter Frank Kershaw. Владелец: Guinness Brewing Worldwide. Дата публикации: 1991-05-08.

Diode for use in testing semiconductor packages

Номер патента: US20200212009A1. Автор: Yi Xu,Hyoung Il Kim,Florence Pon. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Built-in testing signal wireless communication apparatus and testing method thereof

Номер патента: US7937050B2. Автор: Tzung-Ming Chen. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2011-05-03.

Self-aligning data connectivity for charger

Номер патента: US09601929B2. Автор: Taussif Khan,Robert Falkenthal. Владелец: CELLCO PARTNERSHIP. Дата публикации: 2017-03-21.

Metrology test structures in test dies

Номер патента: US20140061641A1. Автор: Anthony K. Stamper. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-03-06.

Chip packaging process including simplification and mergence of burn-in test and high temperature test

Номер патента: TW200917400A. Автор: Wen-Jeng Fan,Li-Chih Fang. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2009-04-16.

Built-in testing signal wireless communication apparatus and testing method thereof

Номер патента: US20070238422A1. Автор: Tzung-Ming Chen. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2007-10-11.

Built-in test signal attenuation circuit

Номер патента: US20030145267A1. Автор: Daniel Harres. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2003-07-31.

Methods for reducing test-retest variability in tests of visual fields

Номер патента: US20120182523A1. Автор: Harry J. Wyatt. Владелец: Research Foundation of State University of New York. Дата публикации: 2012-07-19.

DATA BOUNDARY MANAGER FOR ADDRESSABLE ADVERTISING

Номер патента: US20130276026A1. Автор: Sherwin Jeffrey,Heudecker Nickolas James,Mick,JR. John Raymond. Владелец: This Technology, Inc.. Дата публикации: 2013-10-17.

DATA BOUNDARY DETERMINING METHOD, INDICATION INFORMATION SENDING METHOD, AND APPARATUSES THEREOF

Номер патента: US20150063344A1. Автор: Zheng Xiaoxiao,CHEN Jun,MA Xueli,Xu Wenying. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

Test pattern and method of monitoring changes in test pattern characteristics

Номер патента: US20150070512A1. Автор: Corley Ferrand D.E.. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-12.

MAGNETICALLY ALIGNING TEST STRIPS IN TEST METER

Номер патента: US20150072365A1. Автор: MacRae Allan,Sloss Scott,GUTHRIE Brian,Hunter Ruth. Владелец: Cilag GmbH International. Дата публикации: 2015-03-12.

Burn-in test jig for semiconductor device and burn-in test method

Номер патента: JP3189812B2. Автор: 洋 松岡. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-07-16.

A kind of moistureproof edible mushroom test tube in test tube termination

Номер патента: CN107858277A. Автор: 王沼翔. Владелец: Zoucheng Zou Edible Fungus Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-30.

IMPROVEMENTS IN TESTING PIPE TEST VALVES

Номер патента: ES501056A0. Автор: . Владелец: Halliburton Co. Дата публикации: 1982-06-16.

Apparatus for use in testing an internal combustion engine ignition system

Номер патента: US4333054A. Автор: Michael J. Walker. Владелец: Lucas Industries Ltd. Дата публикации: 1982-06-01.

Autobrake and decel control built-in test equipment

Номер патента: GB2533250A. Автор: Cahill Eric,P Metzger Richard Jr. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2016-06-15.

Mutual inductor volt-ampere characteristic testing device with built-in testing wire

Номер патента: CN218886139U. Автор: 黄明宇. Владелец: Wuhan Liandian Investment Power Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-04-18.

Test instrument and method for processing crosstalk pulse response in test instrument

Номер патента: JP3165652B2. Автор: ジェフリー・エス・ボットマン. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2001-05-14.

Cooling fan module of power supply used in burn in test equipment

Номер патента: KR101463607B1. Автор: 한강룡. Владелец: 주식회사 다온시스. Дата публикации: 2014-12-05.

Stable, chromogenic test reagent and its use in tests for diagnosis of coagulation

Номер патента: EP1684071A2. Автор: Thilo Dr. Henckel. Владелец: Dade Behring Marburg GmbH. Дата публикации: 2006-07-26.

A built in testing signal wireless communication apparatus and testing method thereof

Номер патента: TWI316810B. Автор: Tzung Ming Chen. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2009-11-01.

Electronic sweep programmer circuit for supplying coil current in testing a piston assembly

Номер патента: US3603906A. Автор: Vernon G H Naylor. Владелец: Simmonds Precision Products Inc. Дата публикации: 1971-09-07.

Chip packaging process including simplification and mergence of burn-in test and high temperature test

Номер патента: TWI339871B. Автор: Wen Jeng Fan,Li Chih Fang. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2011-04-01.

Shut-off valve for use in testing pipe lines in petrol pump installations

Номер патента: GB9326359D0. Автор: . Владелец: W&J Risbridger Ltd. Дата публикации: 1994-02-23.

Filo a stilo nervato per l'uso in teste da stampa a matrice per calcolatori

Номер патента: IT1127735B. Автор: Boyd E Slade,Peter H Wolf. Владелец: Dataproducts Corp. Дата публикации: 1986-05-21.

Jitter compensation and generation in testing communication devices

Номер патента: EP1897263A2. Автор: FANG Xu. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2008-03-12.

Means for shaking milk in testing-bottles.

Номер патента: US747870A. Автор: Daniel Drawbaugh. Владелец: Individual. Дата публикации: 1903-12-22.

Improvement in testing oil-wells

Номер патента: US46124A. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1865-01-31.

Catheter articulation segment with alternating cuts

Номер патента: WO2005076820A2. Автор: David J. Lentz,Richard J. Koerner. Владелец: Cryocor, Inc.. Дата публикации: 2005-08-25.

Assembly for retaining a cutting insert in a pocket of a tool holder

Номер патента: WO2007098043A3. Автор: Joseph V Nelson,James R Kasperik,Timothy G Friedline. Владелец: Timothy G Friedline. Дата публикации: 2008-11-13.

Improvement in testing-plugs

Номер патента: US144881A. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1873-11-25.

Skin profiling and its use in testing cosmetics

Номер патента: EP2563220A2. Автор: Stephen George Edward Barker,Colin Hopper. Владелец: AME HEALTH LTD. Дата публикации: 2013-03-06.

Filo a stilo nervato per l'uso in teste da stampa a matrice per calcolatori.

Номер патента: IT7928080A0. Автор: Boyd E Slade,Peter H Wolf. Владелец: Dataproducts Corp. Дата публикации: 1979-12-17.

Jitter compensation and generation in testing communication devices

Номер патента: US20070002964A1. Автор: FANG Xu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-04.

Breakaway Boom Segment With Perforated Outer Walls

Номер патента: US20160316738A1. Автор: Brian J. Pilney,Brian A. Schad. Владелец: CNH INDUSTRIAL AMERICA LLC. Дата публикации: 2016-11-03.

Device for use in testing reaction time

Номер патента: US3334424A. Автор: Pond John Brown. Владелец: Individual. Дата публикации: 1967-08-08.

Improvement in test-gages

Номер патента: US186770A. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1877-01-30.

Manometer for use in testing spinal region and related method

Номер патента: EP2773261A1. Автор: Neil Godara,Mirvise NAJAFE. Владелец: Kimberly Clark Inc. Дата публикации: 2014-09-10.

Needle assembly having slidable collar to control radial engagement of sleeve segments with injection pen threads

Номер патента: US09623195B2. Автор: Barry Peter Liversidge. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-18.

Mixing segments with different sizes for segment routing

Номер патента: US12021742B2. Автор: Huaimo Chen. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Random gap insertion in an optical ring network

Номер патента: EP2553941A1. Автор: Shane O'Neill,Tom Farell. Владелец: Intune Networks Ltd. Дата публикации: 2013-02-06.

Random gap insertion in an optical ring network

Номер патента: WO2011120978A1. Автор: Shane O'Neill,Tom Farell. Владелец: INTUNE NETWORKS LIMITED. Дата публикации: 2011-10-06.

Facility for mounting of apparatus inserts in a trunking section

Номер патента: EP1508191A1. Автор: Sture Dahl,Bo Erland Strand S. Владелец: Thorsman and Co AB. Дата публикации: 2005-02-23.

Systems and methods of providing content segments with transition elements

Номер патента: US12041321B2. Автор: Vikram Makam Gupta,Srikanth Channapragada. Владелец: Rovi Guides Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Clutch plate with cushion segments with dual engagement characteristics

Номер патента: US20160369851A1. Автор: Phong Lu. Владелец: Schaeffler Technologies AG and Co KG. Дата публикации: 2016-12-22.

Apparatus for installing inserts in doors

Номер патента: US3811666A. Автор: J Rogers. Владелец: Individual. Дата публикации: 1974-05-21.

Improvements in or in connection with Screws for Inserting in the Teeth in Dentistry.

Номер патента: GB189513918A. Автор: Alfred Bowman-Smith. Владелец: Individual. Дата публикации: 1896-01-04.

Turbine shroud segments with angular locating feature

Номер патента: CA3161449A1. Автор: Guy Lefebvre,Jocelyn BISSON. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2022-12-11.

Method for determining the sizeof tubular pipe to be inserted in a borehole

Номер патента: EP1936111B1. Автор: Peter Fitzgerald. Владелец: Prad Research And Development Nv. Дата публикации: 2009-05-13.

Refiner segment with varying depth profile

Номер патента: SE1850942A1. Автор: Thommy Lindblom. Владелец: Valmet Oy. Дата публикации: 2020-01-26.

Insert and package formed of an insert in a sleeve

Номер патента: US12084236B2. Автор: Marcus Dehlin. Владелец: Stora Enso Ab. Дата публикации: 2024-09-10.

Method and system for inserting local channel insertion in a multi-terminal system

Номер патента: US09992525B1. Автор: Richard B. Tatem. Владелец: DirecTV Group Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

Clutch plate with cushion segments with dual engagement characteristics

Номер патента: US09739317B2. Автор: Phong Lu. Владелец: Schaeffler Technologies AG and Co KG. Дата публикации: 2017-08-22.

Wireless access point cell ID insertion in frame header

Номер патента: US09521696B2. Автор: Raul Hernan Etkin,Sung-Ju Lee,Jung Gun Lee. Владелец: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP. Дата публикации: 2016-12-13.

Tool cassette for insertion in a cassette seat and tool having a cassette seat for a tool cassette of this type

Номер патента: US09481043B2. Автор: Peter Karl Mergenthaler. Владелец: Kennametal Inc. Дата публикации: 2016-11-01.

Connector having projections for positioning a circuit board to be inserted in the connector

Номер патента: US09478880B2. Автор: Yohei Yokoyama. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Skin Profiling and Its Use in Testing Cosmetics

Номер патента: US20130095041A1. Автор: BARKER STEPHEN GEORGE EDWARD,Hopper Colin. Владелец: AME HEALTH LTD. Дата публикации: 2013-04-18.

SYSTEMS AND METHODS FOR BUILT IN TEST EQUIPMENT FOR A BRAKE CONTROL SYSTEM

Номер патента: US20130145833A1. Автор: Cahill Eric D.. Владелец: GOODRICH CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-13.

Power supply built-in testing

Номер патента: US20130289922A1. Автор: Gary L. Hess,Kirk A. Lillestolen. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2013-10-31.

Printhead Apparatus, Printer System and Method of Printhead Built-In Test

Номер патента: US20130293623A1. Автор: Martin Eric T.,Ghozeil Adam L.. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURE WITH MAGNETIC ELEMENT IN TESTING REGION

Номер патента: US20210057293A1. Автор: Lii Mirng-Ji,Wang Mill-Jer,Lai Chi-Chang,Chiu Tang-Jung,TSAI Chia-Heng,LIAO Weii. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSION PROTECTION CIRCUIT INCLUDING BUILT IN TESTING AND ENABLE - DISABLE FUNCTIONALITY

Номер патента: US20190061974A1. Автор: Hess Gary L.,Eberts Christopher Charles. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

METHOD FOR DETERMINING WHETHER OR NOT ALL OF PYTHIUMS CONTAINED IN TEST SAMPLE ARE NON-PHYTOPATHOGENIC

Номер патента: US20190112631A1. Автор: URIU Yoshitsugu. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR HAVING BUILT-IN-TEST CAPABILITY FOR SOLID STATE POWER CONTROLLERS

Номер патента: US20170155244A1. Автор: Dickey John A.,Swenson Josh C.,Kilroy Donald G.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-01.

SHARED TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR HAVING BUILT-IN-TEST CAPABILITY FOR SOLID STATE POWER CONTROLLERS

Номер патента: US20170163030A1. Автор: Dickey John A.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-08.

CLUTTER REJECTING BUILT IN TEST FOR ASSIGNMENT-BASED AESA SYSTEMS

Номер патента: US20190199455A1. Автор: Stephan Larisa Angelique Natalya,Tang David W.,Lahti David O.. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2019-06-27.

DIODE FOR USE IN TESTING SEMICONDUCTOR PACKAGES

Номер патента: US20200212009A1. Автор: Xu Yi,Kim Hyoung Il,Pon Florence. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-02.

TEMPORARY INTERCONNECT FOR USE IN TESTING A SEMICONDUCTOR PACKAGE

Номер патента: US20200235018A1. Автор: Xu Yi,Kim Hyoung Il,Pon Florence. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-23.

COMMUNICATION CIRCUIT SUPPORTING BUILT-IN TEST (BIT) IN A WIRELESS DISTRIBUTION SYSTEM (WDS)

Номер патента: US20190268255A1. Автор: Saig Maor,Kazav Ohad. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-29.

SCENARIO COVERAGE IN TEST GENERATION

Номер патента: US20170289008A1. Автор: Lau Rich J.. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-05.

Method of mapping distribution of physical parameters of a reference used in tests employing electromagnetic radiation

Номер патента: US20170311906A1. Автор: Binkowski Marcin. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-02.

BUILT-IN TEST CIRCUITS FOR TRANSIENT VOLTAGE PROTECTION DEVICES

Номер патента: US20160322807A1. Автор: Milkie Kenneth D.. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-03.

SYSTEM AND METHOD FOR BUILT IN TEST FOR OPTICAL SENSORS

Номер патента: US20200413036A1. Автор: HANIA Shahar. Владелец: RAIL VISION LTD.. Дата публикации: 2020-12-31.

Universal Tags With Non-Natural Nucleobases

Номер патента: US20120142004A1. Автор: Hnatyszyn James,Battersby Thomas,GUETTOUCHE Toumy. Владелец: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS INC.. Дата публикации: 2012-06-07.

Burn-in test method for integrated microcircuits

Номер патента: RU2554660C1. Автор: . Владелец: Максимов Владимир Алексеевич. Дата публикации: 2015-06-27.

Shelf used in testing equipment

Номер патента: CA134340S. Автор: . Владелец: Esco Technologies Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2010-09-30.

Burn-in socket and test method for burn-in test

Номер патента: KR980012184A. Автор: 김영대,정문채,서정우. Владелец: 김광호. Дата публикации: 1998-04-30.

An Improved Helical Spring for Insertion in the Linings of Hats and for other like purposes.

Номер патента: GB190501621A. Автор: Hans Thust. Владелец: Individual. Дата публикации: 1905-10-19.

Beverage holder and bottle insert in combination

Номер патента: CA141851S. Автор: . Владелец: Scott Robert Jensen. Дата публикации: 2012-08-16.

Coil of flexible material with inserts in outer wall

Номер патента: CA1071171A. Автор: Ronald E. Zajac,James W. Newman. Владелец: Windings Inc. Дата публикации: 1980-02-05.

Conductive metal inserts in rotor of dynamoelectric machine

Номер патента: CA1302473C. Автор: Manoj Ramprasad Shah. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1992-06-02.

Flexible Sheet for Insertion in a Borehole

Номер патента: AU201717414S. Автор: . Владелец: Total Blasthole Solutions Pty Ltd. Дата публикации: 2018-01-08.

Metin bazlı protokoller için test sistemi

Номер патента: TR201609762A2. Автор: Yeldan Ümi̇t,Özlem Takci Hatke. Владелец: Netas Telekomuenikasyon Anonim Sirketi. Дата публикации: 2017-01-23.

Improvements in Testing Machines.

Номер патента: GB190421041A. Автор: Albany Francis Petch,Charles William Speirs. Владелец: Individual. Дата публикации: 1905-08-03.

Improvements in Testing Ropes for Winding Hauling and like Purposes or the Strands or Wires therefor.

Номер патента: GB190622207A. Автор: John Alfred Vaughan,William Martin Epton. Владелец: Individual. Дата публикации: 1907-10-03.

Improvements in testing apparatus and methods of testing

Номер патента: AU2767367A. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1969-04-03.

Improvements in testing apparatus and methods of testing

Номер патента: AU413784B2. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1969-04-03.

Improvements in Apparatus for Use in Testing Eggs.

Номер патента: GB190207450A. Автор: Charles Edward Hearson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1903-01-29.

Coupling device for use in testing board and testing machine

Номер патента: TWI344009B. Автор: . Владелец: Hon Tech Inc. Дата публикации: 2011-06-21.

Method for increasing sensibility of ames test in testing water- soluble compounds

Номер патента: BG36867A1. Автор: Balanski. Владелец: Balanski. Дата публикации: 1985-02-15.

Coupling device for use in testing board and testing machine

Номер патента: TW200918920A. Автор: Ren-Tsung Su. Владелец: Hon Tech Inc. Дата публикации: 2009-05-01.

A New or Improved Method of and Improvements in or connected with Means for use in Testing Wooden Casks.

Номер патента: GB190727046A. Автор: Peter Green,Edward Lindsay Walker. Владелец: Individual. Дата публикации: 1908-09-17.

TEST REAGENT, AND METHOD FOR MEASURING ANALYTE IN TEST SAMPLE USING SAME

Номер патента: US20120107957A1. Автор: Kano Mayumi,Iizuka Masayuki. Владелец: DENKA SEIKEN CO., LTD.. Дата публикации: 2012-05-03.

DRAM AND METHOD FOR TESTING THE SAME IN THE WAFER LEVEL BURN-IN TEST MODE

Номер патента: US20130021862A1. Автор: Chou Min-Chung. Владелец: Elite Semiconductor Memory Technology Inc.. Дата публикации: 2013-01-24.

SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING TEST CIRCUIT AND BURN-IN TEST METHOD

Номер патента: US20130107649A1. Автор: CHO JIn Hee. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2013-05-02.

DATA BOUNDARY MANAGER FOR ADDRESSABLE ADVERTISING

Номер патента: US20130276025A1. Автор: Sherwin Jeffrey,Heudecker Nickolas James,Mick,JR. John Raymond. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-17.

METROLOGY TEST STRUCTURES IN TEST DIES

Номер патента: US20140061641A1. Автор: Stamper Anthony K.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-03-06.

Burn-in test method and burn-in test device

Номер патента: JPH11142471A. Автор: Hideki Kano,秀樹 狩野. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1999-05-28.

Instruction readout circuit used in test processor of semiconductor integrated circuit test equipment

Номер патента: JP2842930B2. Автор: 浩永 山下. Владелец: ADOBANTESUTO KK. Дата публикации: 1999-01-06.

Method for testing communication protocol in testing equipment and device thereof

Номер патента: CN101534221A. Автор: 刘芳,焦文华. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2009-09-16.

Concrete specimen for tensile testing in testing machine

Номер патента: SU759899A1. Автор: Gamlet S Kemoklidze. Владелец: Inst Str Mek Sejsmostojkosti A. Дата публикации: 1980-08-30.

Arrangement for towing testing of ship model in test tank

Номер патента: SU1008070A2. Автор: Сергей Константинович Ерохин. Владелец: Предприятие П/Я В-8662. Дата публикации: 1983-03-30.

Method and device for measuring deformation of test piece or body to be inspected in testing device

Номер патента: JPH01167635A. Автор: Shingo Matsuoka,新吾 松岡. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1989-07-03.

Method and apparatus for discriminating suitability of test in test of exhaust gas from automobile

Номер патента: JPS5251602A. Автор: Satoshi Nakajima. Владелец: Banzai Ltd. Дата публикации: 1977-04-25.

Push-in test device and push-in test method

Номер патента: JP7019435B2. Автор: 光平 岡本,一良 安原. Владелец: Shinko Denshi Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Testing device for use in testing a chip

Номер патента: TW200949968A. Автор: Ming-Da Xie. Владелец: Hon Tech Inc. Дата публикации: 2009-12-01.

Test machine applicable in testing rust removing water spray

Номер патента: TW201000227A. Автор: yao-nan Zhang,Song-Hui Su,qi-min Liao,Yao-Tong Wang. Владелец: China Steel Corp. Дата публикации: 2010-01-01.

Variable section test segment of air cooling heat radiator test system

Номер патента: CN103808486A. Автор: 陈红,张洪军,李桂萍. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2014-05-21.

Dispositivo per il recupero del gioco in teste per alesare e sfacciare a comando automatico

Номер патента: IT9021097A1. Автор: Luigi Zecchetto. Владелец: Riello Macchine Utensili Spa. Дата публикации: 1992-01-27.

Method and apparatus thereof for burn-in testing of a static random access memory

Номер патента: TW514929B. Автор: Shih-Huang Huang,Jui-Lung Chen. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2002-12-21.

Burn-in test system

Номер патента: TW201145792A. Автор: wen-nian Zhang. Владелец: Zhang Ya Dong. Дата публикации: 2011-12-16.

Device and method facilitating to place ICs having different specifications in testing socket

Номер патента: TW200609511A. Автор: Jian-Tsuen Jou. Владелец: MOTECH TAIWAN AUTOMATIC CORP. Дата публикации: 2006-03-16.

Common change kit in test handler for bga packages

Номер патента: TW200634966A. Автор: Ming-Yen Wu,Pao-Chen Lin,Chen-Shan Lee. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2006-10-01.

An answering aid device applied in test

Номер патента: TWI222043B. Автор: Kuo-Ching Chang. Владелец: Idealist Information Co Ltd. Дата публикации: 2004-10-11.

An rf probe for use in testing circuitry

Номер патента: GB9715531D0. Автор: . Владелец: Marconi Instruments Ltd. Дата публикации: 1997-10-01.

Improved means for use in testing the load distribution of railway waggons

Номер патента: AU896332A. Автор: Des Fountain Sampson Andrew. Владелец: Individual. Дата публикации: 1933-08-17.

Improvements in testing roller mills

Номер патента: CA16950A. Автор: William D. Gray. Владелец: Individual. Дата публикации: 1883-06-16.

Improved wedge grips for use in testing machines

Номер патента: AU211291B2. Автор: Benjamin Hinde Philip. Владелец: W&T Avery Ltd. Дата публикации: 1956-10-11.

Improved wedge grips for use in testing machines

Номер патента: AU1724256A. Автор: Benjamin Hinde Philip. Владелец: W&T Avery Ltd. Дата публикации: 1956-10-11.

Elevator for blood dish in test substance dropping device

Номер патента: JPS5364594A. Автор: Yasunobu Tsukioka. Владелец: Individual. Дата публикации: 1978-06-09.

Movable turntable for use in testing the steering of automobiles

Номер патента: AU737146A. Автор: . Владелец: JACOB JOHN TURNBULL. Дата публикации: 1947-10-02.

An electrical assembly for use in testing the circuitry of printed circuit boards

Номер патента: AU5805860A. Автор: William H. Flanagan, Jr. Владелец: United Carr Fastener Corp. Дата публикации: 1960-09-08.

Improvements in test circuit arrangements for automatic telephone systems

Номер патента: AU1466714A. Автор: . Владелец: WESTERN ELECTRIC CO Ltd. Дата публикации: 1915-05-25.

Improvements in 'test cireuits for telephone exdiange systems

Номер патента: AU1237314A. Автор: . Владелец: Western Electric Compa Ni Ltd. Дата публикации: 1914-03-07.

Improvements in testing extensible material

Номер патента: AU1521633A. Автор: Simpson Edward. Владелец: Dunlop Rubber Co Ltd. Дата публикации: 1934-11-29.

A device for use in testing springs

Номер патента: AU340154A. Автор: Garfield Ritchie Lyle. Владелец: Individual. Дата публикации: 1956-03-29.

Improvements in testing arrangements for wideband telecommunication systems

Номер патента: AU165933B2. Автор: . Владелец: British Telecommunications Research Ltd. Дата публикации: 1952-07-17.

An Improved Plug or Stopper for Use in Testing the Efficiency of Drain and other Pipes.

Номер патента: GB189503868A. Автор: William Standing. Владелец: Individual. Дата публикации: 1896-01-04.

Device and method facilitating to place ICs having different specifications in testing socket

Номер патента: TW200609512A. Автор: Wen-Guo Qiu. Владелец: MOTECH TAIWAN AUTOMATIC CORP. Дата публикации: 2006-03-16.

Device and method facilitating to place ICs having different specifications in testing socket

Номер патента: TWI286603B. Автор: Jian-Tsuen Jou. Владелец: Prov Technology Corp. Дата публикации: 2007-09-11.

Wafer scale burn-in testing

Номер патента: SG72830A1. Автор: Chee Cheong Wong,Shun Shen Peter Wang. Владелец: Institution Of Microelectronic. Дата публикации: 2000-05-23.

Additional type memory built-in test structure and method

Номер патента: TW522404B. Автор: Guo-Hung Shr. Владелец: Faraday Tech Corp. Дата публикации: 2003-03-01.

Device for bearings clamping with covers in testing machine

Номер патента: CS490289A2. Автор: Jiri Ing Cs Rathusky. Владелец: Zkl Vu Pro Valiva Loziska Stat. Дата публикации: 1991-06-11.

Device for bearings clamping with covers in testing machine

Номер патента: CS490389A2. Автор: Jiri Ing Cs Rathusky. Владелец: Zkl Vu Pro Valiva Loziska Stat. Дата публикации: 1991-06-11.

Device and method facilitating to place ICs having different specifications in testing socket

Номер патента: TWI286604B. Автор: Wen-Guo Qiu. Владелец: Prov Technology Corp. Дата публикации: 2007-09-11.

Transporting device for use in testing machine of electronic elements

Номер патента: TW200836209A. Автор: Xi-Yi Lin. Владелец: Hon Tech Inc. Дата публикации: 2008-09-01.

Method and apparatus for the measurement of crack propagation in test panels and the like

Номер патента: CA610229A. Автор: D. W. White Brian. Владелец: Canadair Inc. Дата публикации: 1960-12-06.

Movable turntable for use in testing the steering of automobiles

Номер патента: AU131407B2. Автор: . Владелец: JACOB JOHN TURNBULL. Дата публикации: 1947-10-02.

Improvements in apparatus for use in testing gyroscopic instruments

Номер патента: AU1314844A. Автор: Henry James Thomas Albert. Владелец: Field Aircraft Instruments & Equipment Ltd. Дата публикации: 1947-04-24.

Improvements in testing extensible threads

Номер патента: AU1521933A. Автор: . Владелец: Dunlop Rubber Co Ltd. Дата публикации: 1934-11-29.

The continuous tunnel-type burn-in test equipment

Номер патента: TW392269B. Автор: Shau-Wen Lau. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2000-06-01.

Improvements in apparatus for use in testing gyroscopic instruments

Номер патента: AU123983B2. Автор: Henry James Thomas Albert. Владелец: Field Aircraft Instruments & Equipment Ltd. Дата публикации: 1947-04-24.

Improvements in Test Indicators for Fire Alarm Telegraphs.

Номер патента: GB190023733A. Автор: Leonidas Gorham Woolley. Владелец: Individual. Дата публикации: 1901-04-27.

Liquid scintillation spectrometer for determining radioactivity levels in test samples

Номер патента: USD224069S. Автор: Frederick W. Thompson. Владелец: . Дата публикации: 1972-06-27.

A fitting for use in testing a fluid pipeline

Номер патента: GB9203767D0. Автор: . Владелец: WRIGHT ENGINEERING Co STR. Дата публикации: 1992-04-08.

Wedge grips for use in testing machines

Номер патента: CA580400A. Автор: B. Hinde Philip. Владелец: W&T Avery Ltd. Дата публикации: 1959-07-28.

Burn-in testing device

Номер патента: TW200819719A. Автор: Kun-Yu Wu,Zhou-Jian Cong,Chun-Fang Lin,wen-bo Hu. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2008-05-01.

Measuring head for use in testing magnetic compound steel/rubber ropes

Номер патента: PL296787A1. Автор: Roman Martyna,Waldemar Poturalski. Владелец: Waldemar Poturalski. Дата публикации: 1994-05-30.

Car plug-in test device

Номер патента: CA74958S. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-10-13.

Wafer level burn-in testing method

Номер патента: TW478085B. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Noty Tseng. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-03-01.

Improvements in testing the inflation of pneumatic tyres on aircraft

Номер патента: AU548442A. Автор: Raymond Fletcher Henry. Владелец: Dunlop Rubber Australia Ltd. Дата публикации: 1943-05-13.

SYSTEM FOR CALIBRATION OF DUAL POLARIZATION RADAR WITH BUILT-IN TEST COUPLERS

Номер патента: US20120007770A1. Автор: Walker William H.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-12.

DATABASE ANONYMIZATION FOR USE IN TESTING DATABASE-CENTRIC APPLICATIONS

Номер патента: US20120036135A1. Автор: Grechanik Mark,Xie Qing,Fu Chen. Владелец: ACCENTURE GLOBAL SERVICES GMBH. Дата публикации: 2012-02-09.

BATTERY PACK BURN-IN TEST SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20120126820A1. Автор: Tan Eng Soon Dave,Hung Shih-Fa,Tan Chit Tee. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-24.

METHOD OF BURN-IN TESTING FOR THERMALLY ASSISTED HEAD

Номер патента: US20120147717A1. Автор: SHIMAZAWA Koji,TANAKA Kosuke,HONDA Takashi,NAGAI Yoshiteru,FUJII Ryuji,NOMA Tsuguki,Mitsuzawa Hosei. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-14.

BUILT-IN TEST FOR AN OVERVOLTAGE PROTECTION CIRCUIT

Номер патента: US20120187969A1. Автор: Hess Gary L.. Владелец: HAMILTON SUNDSTRAND CORPORATION. Дата публикации: 2012-07-26.

METHOD OF DETECTING OR QUANTITATING ENDOGENOUS WHEAT DNA AND METHOD OF DETERMINING CONTAMINATION RATE OF GENETICALLY MODIFIED WHEAT IN TEST SAMPLE

Номер патента: US20120214161A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-08-23.

AUTOMATED LOADING/UNLOADING OF DEVICES FOR BURN-IN TESTING

Номер патента: US20120268148A1. Автор: TEOH Wan Yen,SUBPANYADEE Paiboon,PEREZ Kurt Joseph,TEO Chai Soon,ONG Swee HIN. Владелец: . Дата публикации: 2012-10-25.

METHOD FOR PERFORMING BURN-IN TEST

Номер патента: US20120269047A1. Автор: . Владелец: TDK Corporation. Дата публикации: 2012-10-25.

METHODS AND KITS FOR DETECTING HEMOGLOBIN IN TEST SAMPLES

Номер патента: US20120270258A1. Автор: . Владелец: ABBOTT LABORATORIES. Дата публикации: 2012-10-25.

Compliant Contact Plate For Use In Testing Integrated Circuits

Номер патента: US20120282799A1. Автор: . Владелец: Johnstech International Corporation. Дата публикации: 2012-11-08.

SEMICONDUCTOR DEVICE ON WHICH WAFER-LEVEL BURN-IN TEST IS PERFORMED AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120307581A1. Автор: Kodama Takuyo. Владелец: ELPIDA MEMORY, INC.. Дата публикации: 2012-12-06.

BURN-IN TESTING APPARATUS

Номер патента: US20120326740A1. Автор: . Владелец: CHROMA ATE INC.. Дата публикации: 2012-12-27.

USE OF CHAMBER HEIGHT TO AFFECT CALIBRATION CODE IN TEST STRIP MANUFACTURING

Номер патента: US20130047415A1. Автор: MORRIS David,WHITEHEAD Neil. Владелец: LifeScan Scotland Ltd.. Дата публикации: 2013-02-28.

METHOD OF BURN-IN TEST OF EEPROM OR FLASH MEMORIES

Номер патента: US20130064015A1. Автор: Tailliet François. Владелец: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS. Дата публикации: 2013-03-14.

Manometer for Use in Testing Spinal Region and Related Method

Номер патента: US20130109999A1. Автор: Godara Neil,Najafe Mirvise. Владелец: Kimberly-Clerk, Inc.. Дата публикации: 2013-05-02.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF PERFORMING BURN-IN TEST ON THE SAME

Номер патента: US20130148405A1. Автор: Kang Sang-beom,LEE Joon-hyung. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-13.

SYSTEM AND METHOD FOR REDUCING REACTIVE CURRENT IN POWER CONVERTER BURN-IN TESTS

Номер патента: US20130258732A1. Автор: Smith David,Zhu Huibin,Wilmer David Scott. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2013-10-03.

BUILT-IN TEST INJECTION FOR CURRENT SENSING CIRCUIT

Номер патента: US20140021971A1. Автор: Villano William E.,Klapatch Robert D.. Владелец: HAMILTON SUNDSTRAND CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-23.