Circuits for performing parallel write test in a semiconductor memory device
Номер патента: GB9013159D0
Опубликовано: 01-08-1990
Автор(ы):
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Опубликовано: 01-08-1990
Автор(ы):
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Semiconductor memory device and its testing method
Номер патента: US20030058730A1. Автор: Katsushige Hayashi,Takanobu Suzuki,Tamaki Tsuruda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-03-27.