Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Detecting defects of semiconductor manufacturing assemblies

Detecting defects of semiconductor manufacturing assemblies

Номер патента: US20240162065A1
Опубликовано: 16-05-2024
Автор(ы): Chih-Yang Chang, Shannon WANG, Yao-Hung Yang
Принадлежит: Applied Materials Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Detecting defects of semiconductor manufacturing assemblies

Номер патента: WO2024107370A1. Автор: Chih-Yang Chang,Yao-Hung Yang,Shannon WANG. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-05-23.

System and method for controlling semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20210343561A1. Автор: Feng-Ju Tsai,Shyue-Ru Doong. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Dynamic dispatching method for semiconductor manufacturing system

Номер патента: US12131928B2. Автор: Li Li,Peng Yi,Jie Chen,Yiguang Hong,Min Meng,Kuo-Yi Lin,Qingyun YU,Jinlong LEI,Xiouxian LI. Владелец: TONG JI UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-10-29.

Method and priority system for inventory management in semiconductor manufacturing

Номер патента: US09618929B2. Автор: Philip Yu,Robert Hood,Philip HUNTER,Masreth SIDDIQUI,Maria GONCHOROFF,Andy BROGAN. Владелец: WaferTech LLC. Дата публикации: 2017-04-11.

Semiconductor manufacturing process control method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US12040240B2. Автор: yu-han Wang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Real-time health monitoring of semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20200192325A1. Автор: Scott Baldwin,Hossein SADEGHI. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Real-time health monitoring of semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: WO2020123570A1. Автор: Scott Baldwin,Hossein SADEGHI. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2020-06-18.

Versatile semiconductor manufacturing controller with statistically repeatable response times

Номер патента: EP1880336A2. Автор: Leonid Rozenboim,David Michael Gosch. Владелец: MKS Instruments Inc. Дата публикации: 2008-01-23.

Semiconductor manufacturing system

Номер патента: US20190171198A1. Автор: Chih-Cheng Lu,Yi-Chun Chiu,Chun-Kai Huang,Chun-Chung Chen,Chen-Tsu Fu,Sheng-Fu Tsai. Владелец: Foxsemicon Integrated Technology Inc. Дата публикации: 2019-06-06.

Semiconductor manufacturing apparatus and processing method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20230170235A1. Автор: Hiromichi Fujii,Takashi KUNIEDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Methods and apparatus to detect defects during semiconductor chip fabrication and/or to debug semiconductor chips after fabrication

Номер патента: US20240219894A1. Автор: Santosh Tripathi,Tuyen Tran. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Autonomous mobile robot and semiconductor manufacturing equipment including the same

Номер патента: US20240152131A1. Автор: Sang Ok Park,Seungchan Lee,Hoyoung Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Yield rate prediction method, yield rate prediction system and model training device of semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20220076146A1. Автор: Shih-Fang Hong. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Data processing method and system for detection of deterioration of semiconductor process kits

Номер патента: US12055498B2. Автор: Feng-Min Shen,Chyuan-Ruey LIN,Hung-Chia SU. Владелец: Top Technology Platform Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Monitoring and control of a semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20240219899A1. Автор: Jukka-Pekka Salmenkaita,Eero Hiltunen,Kalle YLÄ-JARKKO,Rasmus Heikkilä,Antti Liski. Владелец: Elisa Oyj. Дата публикации: 2024-07-04.

Method, computer system and apparatus for recipe generation for automated inspection of semiconductor devices

Номер патента: US09739720B2. Автор: Koen De Wel,Cedric Carette. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Gas saver for semiconductor manufacturing

Номер патента: WO2008020715A1. Автор: Jong-Ha Park. Владелец: Jong-Ha Park. Дата публикации: 2008-02-21.

Temperature controller for semiconductor manufacturing equipment, method for calculating PID constants in semiconductor manufacturing, and method for operating temperature controller for semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US09484231B2. Автор: Kazuhiro Mimura. Владелец: Kelk Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Temperature control system and temperature control method for semiconductor manufacturing device

Номер патента: US20240192712A1. Автор: Minsu Lee,Jonghwa Kim,Hyeonjun Yun,Sangsu Yeh,Jooyeop Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US10741421B2. Автор: Yukinobu Miyamoto,Takanori FUKUSUMI. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-11.

Substrate processing method, thermal processing apparatus, and semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20240186161A1. Автор: Sung Kyu Park,Sung Yong Lee,Myung Hwan Oh. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Method of Dispositioning and Control of a Semiconductor Manufacturing Process

Номер патента: US20240258066A1. Автор: Michael E. Adel,Chris Mack. Владелец: Fractilia LLC. Дата публикации: 2024-08-01.

Leak measurement system, semiconductor manufacturing system, and leak measurement method

Номер патента: US20210104422A1. Автор: Yuta KUNITAKE. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-04-08.

Power supply system for semiconductor manufacturing system group

Номер патента: US20240222969A1. Автор: Naoki Matsumoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Process recipe, method and system for generating same, and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20230221702A1. Автор: Shaowen QIU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

A non-invasive system and method for diagnosing potential malfunctions of semiconductor equipment components

Номер патента: EP1192421A4. Автор: Roger L Bottemfield. Владелец: SIGNALYSIS LLC. Дата публикации: 2006-04-19.

A non-invasive system and method for diagnosing potential malfunctions of semiconductor equipment components

Номер патента: EP1192421A1. Автор: Roger L. Bottemfield. Владелец: SIGNALYSIS LLC. Дата публикации: 2002-04-03.

A non-invasive system and method for diagnosing potential malfunctions of semiconductor equipment components

Номер патента: WO2000047953A1. Автор: Roger L. Bottemfield. Владелец: Signalysis, L.L.C.. Дата публикации: 2000-08-17.

A non-invasive system and method for diagnosing potential malfunctions of semiconductor equipment components

Номер патента: AU3225300A. Автор: Roger L. Bottemfield. Владелец: SIGNALYSIS LLC. Дата публикации: 2000-08-29.

Method and apparatus for non-destructive detection of defects in the interior of semiconductor material

Номер патента: US20110061465A1. Автор: Klaus Kraemer. Владелец: Institut fuer Akustomikroskopie Dr Kraemer GmbH. Дата публикации: 2011-03-17.

Inspection of defects on the circumference of semiconductor wafers

Номер патента: US20010053557A1. Автор: Keun-Hyung Park. Владелец: Selight Co Ltd. Дата публикации: 2001-12-20.

The statistic analysis of fault detection and classification in semiconductor manufacturing

Номер патента: WO2007052949A1. Автор: Jae Keun Lee,Heung Seob Koo. Владелец: Isemicon, Inc. Дата публикации: 2007-05-10.

Diagnostic device, semiconductor manufacturing equipment system, semiconductor equipment manufacturing system, and diagnostic method

Номер патента: US20240321608A1. Автор: Masahiro Sumiya,Ryoji ASAKURA,Pushe ZHAO. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Semiconductor manufacturing equipment and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US12074072B2. Автор: Hiroshi Tanaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Apparatus and method monitoring semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20240128102A1. Автор: Akinori Okubo,Hyungjin Kim,Sangmin Lee,Sungho Jang,Wondon Joo,Minhwan Seo,Sinyong Lee,Sangjoon Hong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-18.

Control of semiconductor manufacturing equipment in mixed reality environments

Номер патента: US20240192653A1. Автор: Chung-Ho Huang,Rainer UNTERGUGGENBERGER,Christopher Thorgrimsson,Henry T. Chan,Terrence George BERNIER. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

Performance predictors for semiconductor-manufacturing processes

Номер патента: WO2021154747A1. Автор: Saravanapriyan Sriraman,Michal Danek,Sanjay Gopinath,Lee J. Brogan,Benjamin Allen Haskell,David G. Cohen,Kapil Umesh Sawlani,Ravi Vellanki,Sassan Roham. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2021-08-05.

Method of semiconductor manufacturing apparatus and non-transitory computer-readable storage medium storing a program of causing computer to execute design method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US10890899B2. Автор: Ryuichiro Mitani,Akihiko Ogawa,Mitsunori Sugiyama. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Design method of semiconductor manufacturing apparatus and non-transitory computer-readable storage medium storing a program of causing computer to execute design method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20190171193A1. Автор: Ryuichiro Mitani,Akihiko Ogawa,Mitsunori Sugiyama. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Machine learning model for semiconductor manufacturing processes

Номер патента: US20240332092A1. Автор: Zhiqiang Huang,Roger Alan Lindley,Li Ming Tan,Olivia Fatma KOENTJORO,Joanna Kejun LOH. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Machine learning model for semiconductor manufacturing processes

Номер патента: WO2024205774A1. Автор: Zhiqiang Huang,Roger Alan Lindley,Li Ming Tan,Olivia Fatma KOENTJORO,Joanna Kejun LOH. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-03.

Performance management of semiconductor substrate tools

Номер патента: US20240295829A1. Автор: Xin Song. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Run-to-run control utilizing virtual metrology in semiconductor manufacturing

Номер патента: US09299623B2. Автор: Emmanuel Yashchin,Yada Zhu,Jingrui He,Robert J. Baseman. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-03-29.

Packaging methods of semiconductor devices

Номер патента: US20230047166A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Packaging methods of semiconductor devices

Номер патента: EP3878004A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-15.

Packaging methods of semiconductor devices

Номер патента: US20210265400A1. Автор: Peiyan CAO,Yurun LIU. Владелец: Shenzhen Xpectvision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-26.

Method for feeding gases for use in semiconductor manufacturing

Номер патента: US6360762B2. Автор: Nobukazu Ikeda,Naoya Masuda,Hirofumi Kitayama,Yoichi Kurono. Владелец: Fujikin Inc. Дата публикации: 2002-03-26.

Detecting defects in a semiconductor specimen

Номер патента: US20200380662A1. Автор: Eyal Neistein,Elad Cohen,Lior Katz,Yuri FEIGIN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-12-03.

Method and system for detecting defects on a substrate

Номер патента: WO2017147275A1. Автор: Premchandra M. Shankar,Ashok VARADARAJAN. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-31.

Method for detecting defects in semiconductor device

Номер патента: US11854913B2. Автор: Hong-Seng Shue,Victor Chiang Liang,Yang-Che CHEN,Chen-hua Lin,Huang-Wen Tseng,Chwen-Ming Liu,Wei-Yu Chou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Detecting defects on specimens

Номер патента: US20240054632A1. Автор: Li Yu,Wei Si,Xiaochun Li,Prashant Verma,Sangbong Park. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-02-15.

Detecting defects on specimens

Номер патента: WO2024035493A1. Автор: Li Yu,Xiaochun Li,Prashant Verma,Wilson Wei SI,Sean Sangbong PARK. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-02-15.

Semiconductor manufacturing facility and teaching method of semiconductor manufacturing facility

Номер патента: US20230206426A1. Автор: Seung Won Kim,Ji Soo Park,Jun Cheol PARK,Yong Hun Sim. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Method and System for Wafer Level Testing of Semiconductor Chips

Номер патента: US20120013359A1. Автор: Zhaojun SHAO. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2012-01-19.

Method for forming thermal oxide film of semiconductor substrate

Номер патента: EP4160657A1. Автор: Tatsuo Abe,Tsuyoshi Ohtsuki. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Method of measuring breakdown voltage of semiconductor element and method of manufacturing semiconductor element

Номер патента: US20160064292A1. Автор: Mitsuhiko Sakai,Susumu Yoshimoto. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2016-03-03.

Device for supplying liquid for semiconductor manufacturing

Номер патента: EP4401114A1. Автор: Hideaki Iino. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Method for using acoustic waves for purging filters in semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US09480938B2. Автор: Guy Jacobson. Владелец: WaferTech LLC. Дата публикации: 2016-11-01.

Pick and placement of semiconductor chips based on nozzleless self-focusing acoustic droplet ejector

Номер патента: US20210366744A1. Автор: Eun Sok Kim,Yongkui TANG. Владелец: University of Southern California USC. Дата публикации: 2021-11-25.

Semiconductor manufacturing apparatus for photolithographic process

Номер патента: US6576873B1. Автор: Jin-Young Choi,Kun-Woo Nam,Young-Koo Yeo. Владелец: Dns Korea Co Ltd. Дата публикации: 2003-06-10.

Semiconductor manufacturing chemical compound monitoring process

Номер патента: US20240192040A1. Автор: Gido Van Der Star,Tom van Kesteren,Panagiota Arnou,Mehmet Orhan Tas. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2024-06-13.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20220108904A1. Автор: Junji Tokunaga. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-04-07.

Semiconductor manufacturing apparatus and method

Номер патента: US20030077912A1. Автор: Ken Matsumoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-04-24.

Detecting defects on a wafer using defect-specific and multi-channel information

Номер патента: US09552636B2. Автор: David W. Shortt,Lisheng Gao,Kenong Wu,Grace Hsiu-Ling Chen. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Method for detecting defects of glass substrates

Номер патента: US20180136095A1. Автор: Seung Kim,Cheol Min Park,Woo Jin Cho,Seung Ho Kim,Jeong Woo Park,Hyun Joon Oh,Hee Kyun SHIN,Hoi Kwan Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-17.

Manufacturing method and inspection method of semiconductor device

Номер патента: US20230074595A1. Автор: Masayuki Miyazaki,Tomohiro Mimura,Taketo Tsuji,Kensuke HATA,Makoto TERAKAWA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Method for detecting defect in pattern

Номер патента: US09542740B2. Автор: Ki-Hyun Kim,Dmitry VENGERTSEV,Seung-hune Yang,Kai-Yuan CHI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

A high-voltage reset mems microphone network and method of detecting defects thereof

Номер патента: EP3192278A1. Автор: Matthew Zeleznik. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-07-19.

High-voltage reset mems microphone network and method of detecting defects thereof

Номер патента: US20170355594A1. Автор: Matthew A. Zeleznik. Владелец: Akustica Inc. Дата публикации: 2017-12-14.

Systems and methods for detecting defects on a wafer

Номер патента: US09880107B2. Автор: Lu Chen,Tao Luo,James A. Smith,Mohan Mahadevan,Richard Wallingford,Lisheng Gao,Jason Kirkwood,Junqing (Jenny) Huang. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

High-voltage reset MEMS microphone network and method of detecting defects thereof

Номер патента: US09743203B2. Автор: Matthew A. Zeleznik. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-08-22.

Methods for detecting defects in a single crystal silicon structure

Номер патента: US20240255438A1. Автор: Armando Giannattasio,Maria Porrini,Fabrizio Nicolini,Silvana Zampieri,Moreno Lorenzino Morici. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Methods for detecting defects in a single crystal silicon structure

Номер патента: WO2024160838A1. Автор: Armando Giannattasio,Maria Porrini,Fabrizio Nicolini,Silvana Zampieri,Moreno Lorenzino Morici. Владелец: GlobalWafers Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-08-08.

A method for detecting defects in thin film layers

Номер патента: EP3847686A1. Автор: Anthony O'hara,Daniel Drysdale. Владелец: Memsstar Ltd. Дата публикации: 2021-07-14.

Method for detecting defects in thin film layers

Номер патента: US11740185B2. Автор: Anthony O'hara,Daniel Drysdale. Владелец: Memsstar Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Method for detecting defect in semiconductor fabrication process

Номер патента: US20210356870A1. Автор: Yuan-Ku Lan. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-11-18.

Method for detecting defect in semiconductor fabrication process

Номер патента: US11988970B2. Автор: Yuan-Ku Lan. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-21.

Apparatus of inspecting resistive defects of semiconductor devices and inspecting method using the same

Номер патента: US20160084901A1. Автор: Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Mi-Ra PARK,Sang-Kil Lee,Yong-Deok Jeong,Na-Kyoung LEE,Dae-Jin SUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-03-24.

Apparatus and method for detecting defects arising as a result of integrated circuit processing

Номер патента: US5712571A. Автор: Geoff O'Donoghue. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 1998-01-27.

Method of fabricating specimen for analyzing defects of semiconductor device

Номер патента: US5840205A. Автор: Doo-Jin Park,Jeong-Hoi Koo. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-11-24.

Social network service for semiconductor manufacturing equipment and users

Номер патента: US09871759B2. Автор: David J. Hemker,Chung Ho Huang,Chad R. Weetman,Henry T. Chan. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Detecting defects on a wafer

Номер патента: WO2010093733A3. Автор: Tao Luo,Yong Zhang,Richard Wallingford,Lisheng Gao,Junqing Huang,Stephanie Chen. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2010-10-28.

Image processing apparatus and method for inspecting defects of enclosures of semiconductor devices

Номер патента: US5568564A. Автор: Takayuki Ozaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1996-10-22.

Semiconductor manufacturing inspection system

Номер патента: US20210097670A1. Автор: Motoki Iinuma. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-01.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240071795A1. Автор: Motoki Iinuma. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Manufacturing method and program of semiconductor device

Номер патента: US20180217203A1. Автор: Tomoaki Tamura,Yoshiyuki Nakamura,Kouichi KUMAKI. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Signal transmission method of semiconductor integrated circuit for transmitting signal to a plurality of stacked semiconductor chips

Номер патента: US09680460B2. Автор: Chun-Seok Jeong. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Systems and methods for evaluating the reliability of semiconductor die packages

Номер патента: EP4281998A1. Автор: David W. Price,Robert J. Rathert,Chet V. Lenox,Oreste Donzella. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

Social Network Service for Semiconductor Manufacturing Equipment and Users

Номер патента: US20170078238A1. Автор: David J. Hemker,Chung Ho Huang,Chad R. Weetman,Henry T. Chan. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Systems and methods for non-destructive inspection of semiconductor devices using reflective x-ray microscope tomographic imaging

Номер патента: US20230417687A1. Автор: Shogo Tomita,Michiaki Sano,Tatsuya Hinoue. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2023-12-28.

Testing of semiconductor devices and devices, and designs thereof

Номер патента: US09945899B2. Автор: Stefano Aresu,Michael Roehner. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-04-17.

Two-step interconnect testing of semiconductor dies

Номер патента: US09678142B2. Автор: Erik Jan Marinissen,Julien Ryckaert,Dimitri Linten. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2017-06-13.

Systems and methods for measuring physical characteristics of semiconductor device elements using structured light

Номер патента: US20150059957A1. Автор: Zhijie Wang,Deepak Sood,Thomas J. Colosimo, JR.,David A. Rauth,Shu-Guo Tang. Владелец: Kulicke and Soffa Industries Inc. Дата публикации: 2015-03-05.

Systems and methods for measuring physical characteristics of semiconductor device elements using structured light

Номер патента: US20180038806A1. Автор: Zhijie Wang,Deepak Sood,Thomas J. Colosimo, JR.,David A. Rauth,Shu-Guo Tang. Владелец: Kulicke and Soffa Industries Inc. Дата публикации: 2018-02-08.

Systems and methods for measuring physical characteristics of semiconductor device elements using structured light

Номер патента: US09810641B2. Автор: Zhijie Wang,Deepak Sood,Thomas J. Colosimo, JR.,David A. Rauth,Shu-Guo Tang. Владелец: Kulicke and Soffa Industries Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Manufacturing method of semiconductor substrative and method and apparatus for inspecting defects of patterns on an object to be inspected

Номер патента: US5774222A. Автор: Minoru Yoshida,Hitoshi Kubota,Shunji Maeda,Yasuhiko Nakayama,Kenji Oka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-06-30.

System and method for managing semiconductor manufacturing defects

Номер патента: US09880892B2. Автор: Baozhen Li,Jeanne P. S. Bickford,Nazmul Habib,Pascal A. Nsame. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Optical Diagnostics of Semiconductor Process Using Hyperspectral Imaging

Номер патента: US20200372629A1. Автор: Yan Chen,Xinkang Tian. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Optical Diagnostics of Semiconductor Process Using Hyperspectral Imaging

Номер патента: US20200373210A1. Автор: Yan Chen,Xinkang Tian. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Fabrication method of semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20070207559A1. Автор: Akio Hasebe,Yasunori Narizuka,Teruo Shoji,Yasuhiro Motoyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-06.

Method and apparatus for mapping of semiconductor materials

Номер патента: WO1994022027A1. Автор: Ian Christopher Mayes,John Stuart Roberts,Richard Charles Tozer,Ian Leslie Freeston,Anthony Charles Gorvin,François Jean DJAMDJI,Stephen Richard Blight. Владелец: Bio-Rad Microscience Limited. Дата публикации: 1994-09-29.

Analysis method, storage medium, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20230118297A1. Автор: Yusuke Shimizu. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-20.

Quartz member for semiconductor manufacturing equipment and method for metal analysis in quartz member

Номер патента: EP1261761A1. Автор: Yoshinori Tokyo Electron Limited MARUMO,Kaname Tokyo Electron Limited SUZUKI,Teruyuki Tokyo Electron Limited HAYASHI,Takashi Tokyo Electron Tohoku Limited TANAHASHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2002-12-04.

3d volume inspection of semiconductor wafers with increased accuracy

Номер патента: US20240331179A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Chuong Huynh,Alex Buxbaum,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-10-03.

Method of 3d volume inspection of semiconductor wafers with increased throughput

Номер патента: US20240328970A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Alex Buxbaum,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-10-03.

Method of 3d volume inspection of semiconductor wafers with increased throughput

Номер патента: EP4453658A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Alex Buxbaum,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-10-30.

Method to detect wafer arcing in semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20130245969A1. Автор: Michael Johnson,Tony Davis,Kommisetti SUBRAHMANYAM,Scott Singlevich. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2013-09-19.

Method to detect wafer arcing in semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US09508612B2. Автор: Michael Johnson,Tony Davis,Kommisetti SUBRAHMANYAM,Scott Singlevich. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Prediction of semiconductor device performance

Номер патента: EP4211726A1. Автор: Vladimir Bulovic,Anthony T. TROUPE,Brandon T. MOTES,Dane William DEQUILETTES. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2023-07-19.

Prediction Of Semiconductor Device Performance

Номер патента: US20230268236A1. Автор: Vladimir Bulovic,Anthony T. TROUPE,Brandon T. MOTES,Dane William DEQUILETTES. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2023-08-24.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20180202945A1. Автор: Naoto Kanzaki,Kotaro Horikoshi,Toru Shinaki. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-07-19.

Non-contact measurement of the dopant content of semiconductor layers

Номер патента: EP2567217A1. Автор: Kenneth Cadien,E. Michael Heaven,Gordon Matthew Deans,Stephen Warren Blaine. Владелец: Aurora Control Technologies Inc. Дата публикации: 2013-03-13.

Temporary package for at-speed functional test of semiconductor chip

Номер патента: US20100151598A1. Автор: Pooya Tadayon,Eric J. M. Moret. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2010-06-17.

Temporary package for at-speed functional test of semiconductor chip

Номер патента: US7960190B2. Автор: Pooya Tadayon,Eric J. M. Moret. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2011-06-14.

Semiconductor manufacturing apparatus and wafer processing method

Номер патента: US20060292714A1. Автор: Seok-Bae Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-12-28.

Method of generating quality affecting factor for semiconductor manufacturing process and generating system for the same

Номер патента: US10254333B2. Автор: Sehoon Kim,Chanhun PARK,SeungLi Kim,Bokyoung KANG,Ji-Youn KWON,Gilhan KIM,Byonghun CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-04-09.

Methods of sensing temperature of an electronic device workpiece and methods of semiconductor processing

Номер патента: US20020034832A1. Автор: Salman Akram,David R. Hembree. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-21.

Method of measuring misregistration of semiconductor devices

Номер патента: EP3942600A1. Автор: Roie VOLKOVICH,Ido Dolev. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2022-01-26.

Method of measuring misregistration of semiconductor devices

Номер патента: US20200271596A1. Автор: Roie VOLKOVICH,Ido Dolev. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Method of measuring misregistration of semiconductor devices

Номер патента: US20210149314A1. Автор: Roie VOLKOVICH,Ido Dolev. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Burn-in apparatus and method which individually controls the temperature of a plurality of semiconductor devices

Номер патента: US5414370A. Автор: Tatsuya Hashinaga,Masanori Nishiguchi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 1995-05-09.

Fabrication of semiconductor modules with ceramic substrates and detection of residual glass

Номер патента: CA1182591A. Автор: Howard A. Froot. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1985-02-12.

Test element group, method of testing electrical characteristics of semiconductor elements, and fabricating method thereof

Номер патента: US9893131B2. Автор: Shuai ZHANG,Yucheng CHAN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

System and method for z-pat defect-guided statistical outlier detection of semiconductor reliability failures

Номер патента: EP4323783A1. Автор: David W. Price,Robert J. Rathert,Chet V. Lenox,Oreste Donzella,John Charles Robinson. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-02-21.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240312820A1. Автор: Yoshio Mizuta. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20230343651A1. Автор: Yuan-Chi Pai,Wen Yi Tan,Dian Han Liu. Владелец: United Semiconductor Xiamen Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20030217460A1. Автор: Shinichi Nishiura. Владелец: Shinkawa Ltd. Дата публикации: 2003-11-27.

System for holding an object in a semiconductor manufacturing process, lithographic apparatus provided with said system and method

Номер патента: EP4220302A1. Автор: Marcus Adrianus Van De Kerkhof,Sjoerd Nicolaas Lambertus Donders,Paul VAN DONGEN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-08-02.

Method and apparatus for detecting defects of fuel cell membrane-electrode assembly

Номер патента: US09653743B2. Автор: Hyun Seung Lee,Byung Ki Ahn,Tae Won Lim,Sung Keun Lee,Yong Sun Park,Sang Yeoul Ahn. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-05-16.

Method and apparatus for detecting defect of insulating coating of battery electrode plate, and computer device

Номер патента: EP4383398A1. Автор: Wen Chang,Jun Hu,Dajun NI,Baiquan ZHAO,Xianfeng XIE. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Apparatus and method for detecting defect of battery pack

Номер патента: US11789089B2. Автор: Young-Joong Kim,Jin-Hyun Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Apparatus and method for detecting defect in battery pack

Номер патента: EP3926354A1. Автор: Young-Joong Kim,Jin-Hyun Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2021-12-22.

Apparatus and method for detecting defect in battery pack

Номер патента: EP3982142A1. Автор: Kyoung-Choon MIN. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2022-04-13.

Apparatus and method for detecting defect of battery pack

Номер патента: US11828812B2. Автор: Kyoung-Choon MIN. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Utilising UAVs for detecting defects in solar panel arrays

Номер патента: AU2017212024A1. Автор: William John HITCHCOCK. Владелец: Above Surveying Ltd. Дата публикации: 2018-08-02.

Method and device for adapting temperatures of semiconductor components

Номер патента: US20230228810A1. Автор: Michael Maercker,Jonathan WINKLER,Jan Homoth,Sebastian Strache,Karl Oberdieck,Manuel Riefer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2023-07-20.

Method and apparatus for wafer-level testing of semiconductor lasers

Номер патента: US20020109520A1. Автор: David Heald,Legardo REYES. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-15.

Burn-in board including strip socket with integrated heating for high volume burn-in of semiconductor devices

Номер патента: US11913989B2. Автор: Joseph Rascon,Aaron Moreno,Alberto Aguilera. Владелец: Microchip Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-27.

Systems and methods for modeling a manufacturing assembly line

Номер патента: US20210302278A1. Автор: Yang Wang,Stanley KLEINIKKINK,Nicholas WILLISON,Masoud KHERADMANDI,Stephen Bacso,Nick Foisy,Mehdi SADEGHZADEH,Bo Yuan Chang. Владелец: ATS Automation Tooling Systems Inc. Дата публикации: 2021-09-30.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20140232998A1. Автор: Koutarou Sho. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Wafer edge protective-film-forming composition for semiconductor manufacturing

Номер патента: EP4398035A1. Автор: Rikimaru Sakamoto,Satoshi Takeda,Takahiro Kishioka,Hayato Hattori,Shunsuke MORIYA. Владелец: Nissan Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Preparation method for leads of semiconductor structure, and semiconductor structure

Номер патента: US12040269B2. Автор: Chung Yen Chou. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20110042588A1. Автор: Sung Jin Lee,Satoshi Takahashi,George Barbastathis,Jose Antonio Dominguez-Caballero. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-02-24.

Semiconductor manufacturing device and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20230326753A1. Автор: Satoshi Nagai,Hirofumi Sato. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Semiconductor manufacturing apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240251496A1. Автор: Jinhong Park,Dohyung Kim,Insung Kim,Jungchul Lee,Seongchul HONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-25.

Method for reducing mismatch of semiconductor element patterns

Номер патента: US20220199408A1. Автор: Yu-Jen Liu,Wei-Cheng Hung,Hung-Kang Lien. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Apparatus and method for neutron transmutation doping of semiconductor wafers

Номер патента: US20200005957A1. Автор: Hans-Joachim Schulze,Werner Schustereder,Markus Bina. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2020-01-02.

Method for reducing mismatch of semiconductor element patterns

Номер патента: US11417532B2. Автор: Yu-Jen Liu,Wei-Cheng Hung,Hung-Kang Lien. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-08-16.

Form and fabrication of semiconductor-superconductor nanowires and quantum devices based thereon

Номер патента: US10692010B2. Автор: Peter KROGSTRUP JEPPESEN,Chetan Nayak,Roman Lutchyn,Torsten Karzig,Georg Wolfgang WINKLER,Charles Masamed MARCUS,Saulius Vaitiekėnas,Bernard VAN HECK,Michael Hartley Freedman. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2020-06-23.

Form and fabrication of semiconductor-superconductor nanowires and quantum devices based thereon

Номер патента: EP3824414A1. Автор: Chetan Nayak,Roman Lutchyn,Torsten Karzig,Peter Krogstrup,Georg Wolfgang WINKLER,Saulius Vaitiekėnas,Bernard VAN HECK,Michael Hartley Freedman,Charlie MARCUS. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2021-05-26.

Form and fabrication of semiconductor-superconductor nanowires and quantum devices based thereon

Номер патента: US20200027971A1. Автор: Peter KROGSTRUP JEPPESEN,Chetan Nayak,Roman Lutchyn,Torsten Karzig,Georg Wolfgang WINKLER,Charles Masamed MARCUS,Saulius Vaitiekėnas,Bernard VAN HECK,Michael Hartley Freedman. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2020-01-23.

Form and fabrication of semiconductor-superconductor nanowires and quantum devices based thereon

Номер патента: WO2020018260A1. Автор: Chetan Nayak,Roman Lutchyn,Torsten Karzig,Peter Krogstrup,Georg Wolfgang WINKLER,Saulius Vaitiekėnas,Bernard VAN HECK,Michael Hartley Freedman,Charlie MARCUS. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2020-01-23.

Form and fabrication of semiconductor-superconductor nanowires and quantum devices based thereon

Номер патента: EP3807824A1. Автор: Peter KROGSTRUP JEPPESEN,Chetan Nayak,Roman Lutchyn,Torsten Karzig,Georg Wolfgang WINKLER,Charles Masamed MARCUS,Saulius Vaitiekėnas,Bernard VAN HECK,Michael Hartley Freedman. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2021-04-21.

Form and fabrication of semiconductor-superconductor nanowires and quantum devices based thereon

Номер патента: WO2020018259A1. Автор: Peter KROGSTRUP JEPPESEN,Chetan Nayak,Roman Lutchyn,Torsten Karzig,Georg Wolfgang WINKLER,Charles Masamed MARCUS,Saulius Vaitiekėnas,Bernard VAN HECK,Michael Hartley Freedman. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2020-01-23.

Process for the automatic adjustment of semiconductor wafers

Номер патента: US4090068A. Автор: Dietrich Widmann,Johann Binder. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1978-05-16.

Method for detecting defects of TFT array substrate

Номер патента: US09804465B2. Автор: Kecheng Xie,Ri Hong. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Semiconductor device and method of manufacturing the same and semiconductor manufacturing device

Номер патента: US8815652B2. Автор: Fumihiko Inoue,Kentaro Sera. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-08-26.

Process controller for semiconductor manufacturing

Номер патента: US20060025935A1. Автор: Young-Cheng Chen,You-Wei Shen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2006-02-02.

System, method and computer program product for detecting defects in a fabricated target component using consistent modulation for the target and reference components

Номер патента: WO2017192908A1. Автор: Allen Park,Martin Plihal. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2017-11-09.

System, method and computer program product for detecting defects in a fabricated target component using consistent modulation for the target and reference components

Номер патента: US09940705B2. Автор: Allen Park,Martin Plihal. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

System and method for detecting defects on a wafer and related non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20230411224A1. Автор: Xiaomeng Chen,Chien-Huei Chen,Shih-Chang Wang,Feng-Ju Chang,Hsiu-Hui Huang,Yen-Fong Chan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Method for evaluating stability of semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20190229024A1. Автор: Yu-Cheng Tung,En-Chiuan Liou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Method and system for detecting defective material surrounding flash memory cells

Номер патента: US6765827B1. Автор: JIANG LI,Lee Cleveland,Ming Kwan. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2004-07-20.

Integrated circuit, semiconductor device, and method of designing layout of semiconductor device

Номер патента: US20240371830A1. Автор: Hyunchul Hwang,Chanhee Park,Byung-Su Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-11-07.

System and method for laser assisted bonding of semiconductor die

Номер патента: US09916989B2. Автор: Min Ho Kim,Tae Ho Yoon,Dong Soo Ryu,Yang Gyoo Jung,Youn Seok Song,Choong Hoe Kim. Владелец: Amkor Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Semiconductor manufacturing process prediction method and semiconductor manufacturing process prediction device

Номер патента: US20230238262A1. Автор: Ming-Wei Chen,Chia-Wei Chen,Ching-Pei Lin,Chung-Yi Chiu,Hsiao-Ying Yang,Te-Hsuan Chen,Wen-Shan Huang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Method of determining a correction for at least one control parameter in a semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20240310738A1. Автор: Roy Werkman,Sarathi ROY. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-19.

Semiconductor device having a plurality of semiconductor layers covering an emission layer

Номер патента: US12009309B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Method and system for enhancing yield of semiconductor integrated circuit devices using systematic fault rate of hole

Номер патента: US7703055B2. Автор: Choel-hwyi Bae,Sang-Deok Kwon,Min-Geon Cho,Gwang-hyeon Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-04-20.

Methods and apparatus for characterizing a semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20240231233A9. Автор: Niek Willem KLEIN KOERKAMP,Marc Hauptmann,Aliasghar Keyvani Janbahan,Jingchao WANG. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-11.

Automated root cause analysis for defect detection during fabrication processes of semiconductor structures

Номер патента: US12045969B2. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Christian Wojek,Eugen Foca,Ramani Pichumani,Joaquin CORREA,Abhilash SRIKANTHA. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-07-23.

Root cause analysis for fabrication processes of semiconductor structures

Номер патента: US20210097673A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Christian Wojek,Eugen Foca,Ramani Pichumani,Joaquin CORREA,Abhilash SRIKANTHA. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2021-04-01.

Method for determining a control parameter for an apparatus utilized in a semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20210132508A1. Автор: Chenxi Lin,Cyrus Emil TABERY,Hakki Ergün Cekli,Hendreik Celine VAN GORP Simon. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-05-06.

Methods of Forming Integrated Assemblies Having Conductive Material Along Sidewall Surfaces of Semiconductor Pillars

Номер патента: US20240365538A1. Автор: Hong Li,Sanh D. Tang,Ramaswamy Ishwar Venkatanarayanan,Erica L. Poelstra. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Methods of forming integrated assemblies having conductive material along sidewall surfaces of semiconductor pillars

Номер патента: US12069852B2. Автор: Hong Li,Sanh D. Tang,Ramaswamy Ishwar Venkatanarayanan,Erica L. Poelstra. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Semiconductor device including a plurality of semiconductor chips and a plurality of through-line groups

Номер патента: US7745919B2. Автор: Hiroaki Ikeda,Kayoko Shibata. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2010-06-29.

Semiconductor memory device including a laminated body with a plurality of semiconductor layers

Номер патента: US11335698B2. Автор: Yasuhiro Shimura. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-05-17.

Semiconductor memory device including a laminated body with a plurality of semiconductor layers

Номер патента: US10886297B2. Автор: Yasuhiro Shimura. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-01-05.

Semiconductor chip and method of producing a plurality of semiconductor chips

Номер патента: WO2023174849A1. Автор: Fredrik PRINCE,Laura KREINER. Владелец: Ams-Osram International Gmbh. Дата публикации: 2023-09-21.

System and method for laser assisted bonding of semiconductor die

Номер патента: US20170301560A1. Автор: Min Ho Kim,Tae Ho Yoon,Dong Soo Ryu,Yang Gyoo Jung,Youn Seok Song,Choong Hoe Kim. Владелец: Amkor Technology Inc. Дата публикации: 2017-10-19.

System and method for laser assisted bonding of semiconductor die

Номер патента: US20180204740A1. Автор: Min Ho Kim,Tae Ho Yoon,Dong Soo Ryu,Yang Gyoo Jung,Youn Seok Song,Choong Hoe Kim. Владелец: Amkor Technology Inc. Дата публикации: 2018-07-19.

Method for evaluating placement of semiconductor devices

Номер патента: US11854916B2. Автор: Wooshik MYUNG. Владелец: MakinaRocks Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Method of dispositioning and control of a semiconductor manufacturing process

Номер патента: WO2024178198A1. Автор: Michael E. Adel,Chris Mack. Владелец: FRACTILIA, LLC. Дата публикации: 2024-08-29.

Light source arrangement having a plurality of semiconductor laser light sources

Номер патента: US9822935B2. Автор: Martin Daniels. Владелец: OSRAM GMBH. Дата публикации: 2017-11-21.

Systems and methods for optimizing operation at a manufacturing assembly line

Номер патента: EP4398167A1. Автор: Albert Kleinikkink,Stanley Wellington KLEINIKKINK,Graham Knap,Anton DOLGOVYKH. Владелец: ATS Automation Tooling Systems Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

Systems and methods for optimizing operation at a manufacturing assembly line

Номер патента: US20240231327A1. Автор: Albert Kleinikkink,Stanley Wellington KLEINIKKINK,Graham Knap,Anton DOLGOVYKH. Владелец: ATS Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for determining root causes of events of a semiconductor manufacturing process and for monitoring a semiconductor manufacturing process

Номер патента: EP3657281A1. Автор: Si-Han Zeng,Chang-Wei Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-05-27.

System and method for scheduling manufacturing jobs for a semiconductor manufacturing tool

Номер патента: US20050203654A1. Автор: Hui-Tang Liu,Ko-Pin Chang,Jui-An Shih. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2005-09-15.

Method and system for detecting defects of transparent substrate

Номер патента: EP2430431A1. Автор: Yuan Zheng,Dazhi Chen,Jean-Philippe Schweitzer,Xiaofeng Lin. Владелец: Compagnie de Saint Gobain SA. Дата публикации: 2012-03-21.

Method to detect defects in food in real-time mode

Номер патента: RU2509356C2. Автор: Вилфред М. Джр. БУРГ,Энрике МИШЕЛ. Владелец: Фрито-Лэй Норт Америка, Инк.. Дата публикации: 2014-03-10.

Calibration of dynamic digital imaging system for detecting defects in production flow

Номер патента: RU2636263C2. Автор: Уэнделл Бажема Рик,Марселлин Бург Уилфред,Фаган Скотт,Ланж Сончай,Брэдли Кервин,Рэй Уоррен Дэвид. Владелец: Фрито-Лэй Норт Америка, Инк.. Дата публикации: 2017-11-21.

Method and system for detecting defects in cellular transmission equipment

Номер патента: WO2001081933A3. Автор: Richard Fischer,Bert Downs. Владелец: Bert Downs. Дата публикации: 2002-03-21.

System and method for detecting a defect of a substrate

Номер патента: US20110310244A1. Автор: Feng Guo,Jean-Philippe Schweitzer,Xiaofeng Guo,Huifen Li,Xiaofeng Lin. Владелец: Saint Gobain Glass France SAS. Дата публикации: 2011-12-22.

Method and apparatus for processing signals of semiconductor detector

Номер патента: US09835739B2. Автор: Wei Zhang,Jun Li,Yuanjing Li,Lan Zhang,Yulan Li,Yingshuai DU,Jianqiang Fu,Xuming MA. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Facility for detecting defects by acoustic analysis of aircraft turbomachine

Номер патента: RU2617242C2. Автор: Жером Анри Ноэль ЛАКАЙ. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2017-04-24.

Method and system for detecting defects in cellular transmission equipment

Номер патента: WO2001081933A2. Автор: Richard Fischer,Bert Downs. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2001-11-01.

Combined spectroscopic reflectometry and pattern recognition based measurements of semiconductor structures

Номер патента: WO2024220227A1. Автор: David Y. Wang,Shankar Krishnan. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-10-24.

Combined Spectroscopic Reflectometry And Pattern Recognition Based Measurements Of Semiconductor Structures

Номер патента: US20240353321A1. Автор: David Y. Wang,Shankar Krishnan. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Information displaying method and computer program product for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240231313A1. Автор: Masayuki Fujiki,Kosei Takeuchi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Holder manufacturing method for loading substrate of semiconductor manufacturing device, batch type boat having holder, loading/unloading method of semiconductor substrate using the same, and semiconductor manufacturing device having the same

Номер патента: US20060239799A1. Автор: Byoung Lee,Taek Jang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-26.

Methods for reducing vibration of semiconductor manufacturing apparatuses and semiconductor manufacturing apparatuses

Номер патента: US20240247700A1. Автор: Chien Ting Lin,Ker-Hsun LIAO,Wei-Ming Wang,Yi-Chen Ho,Chih Ping Liao,Chi-Hsun Lin,Jie-Ying YANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Semiconductor manufacturing apparatus and method for controlling operation of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240203768A1. Автор: Kazuma Ideguchi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20210296143A1. Автор: Satoshi Nakaoka,Shinsuke MURAKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Semiconductor manufacturing apparatus, carrier jig, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20230290666A1. Автор: Keita Yamamoto. Владелец: Fasford Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Transferring device of semiconductor manufacturing and method of cleaning transferring chamber of the transferring device

Номер патента: US20200203198A1. Автор: Dea-Jin Kim. Владелец: Xia Tai Xin Semiconductor Qing Dao Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Device for heat treatment of semiconductor plates

Номер патента: RU2185682C2. Автор: Марио ГЕЦЦО,Тимоти Дитрих ПЕЙДЖ,Томас Берт ГОРЧИЦА,Рольф Сверре БЕРГМАН,Химансу Бачубхай ВАКИЛ,Чарльз Сэмюель ХЮ,Сет Дэвид СИЛВЕРСТЕЙН. Владелец: Дженерал Электрик Компани. Дата публикации: 2002-07-20.

Gas tube, gas supply system and manufacturing method of semiconductor device using the same

Номер патента: US12037687B2. Автор: Cheng-Yi Huang,Shou-Wen Kuo,Yi-Shiung Chen,Chih-shen Yang,Po-Wen Chai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Semiconductor manufacturing method and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20020173057A1. Автор: Toshiyuki Makita. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2002-11-21.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus involving thickness measurements

Номер патента: US11424168B2. Автор: Kazuaki Mikami,Kazunori Kanada,Haruhiko Minamitake. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-08-23.

Semiconductor manufacturing method, semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor device

Номер патента: US20190296001A1. Автор: Masatoshi Fukuda,Tetsuya Kurosawa,Toshihiko Ohda. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20210384087A1. Автор: Kazuaki Mikami,Kazunori Kanada,Haruhiko Minamitake. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20180105936A1. Автор: Hajime Nagano. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-04-19.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US11749667B2. Автор: Masatoshi Fukuda,Tetsuya Kurosawa,Toshihiko Ohda. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20210242191A1. Автор: Masatoshi Fukuda,Tetsuya Kurosawa,Toshihiko Ohda. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US11862484B2. Автор: Yoshihiro Ogawa,Masahiro Kiyotoshi,Tatsuhiko Koide. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US11024619B2. Автор: Masatoshi Fukuda,Tetsuya Kurosawa,Toshihiko Ohda. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-06-01.

Control device and control method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20170263512A1. Автор: Tsutomu Miki,Kenichi Otsuka,Syunichi Ono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-09-14.

Driving apparatus of semiconductor manufacturing equipment and driving method of semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20210211074A1. Автор: Junbeom LEE. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-08.

Power generation system, management device, and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20190003342A1. Автор: Hideo Ishizu,Naotoshi YAMAMINE. Владелец: Kokusai Electric Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: WO2008084887A1. Автор: Ik-Han Eom,Seung-Dong Kang,Gee-Pyo Kang. Владелец: Gee-Pyo Kang. Дата публикации: 2008-07-17.

Method of forming semiconductor plates doped on one side, particularly solar semiconductor plates, and manipulation system for loading process tray with batches of semiconductor plates

Номер патента: RU2411608C1. Автор: Штефан ЙОНАС,Лутц РЕДМАНН. Владелец: Йонас Унд Редманн Аутомационстехник Гмбх. Дата публикации: 2011-02-10.

Device for separation of composite structure from substrate on basis of semiconductor film (options)

Номер патента: RU2683808C1. Автор: Евгений Александрович Емельянов,Михаил Альбертович Путято,Валерий Владимирович Преображенский,Михаил Олегович Петрушков,Борис Рэмович Семягин,Дмитрий Федорович Феклин,Андрей Васильевич Васев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук (ИФП СО РАН). Дата публикации: 2019-04-02.

Tank scheduling optimization for replicated chemical in a semiconductor manufacturing wet bench

Номер патента: US20050177267A1. Автор: Yu-Ling Chang,Chen Hsiung,Hui-Tang Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2005-08-11.

Airflow management for particle abatement in semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20080292432A1. Автор: James S. Castantini,Tent-Chao D. Tao,Erin M. Madden,Donald N. Polner. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-11-27.

Wet processing apparatus, wet processing method and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20040262265A1. Автор: Kazunori Nemoto,Norio Suzuki,Michimasa Funabashi,Hiroyuki Mima,Masakatsu Kuwabara. Владелец: Trecenti Technologies Inc. Дата публикации: 2004-12-30.

Production managing system of semiconductor device

Номер патента: US20040167656A1. Автор: Keizo Yamada,Yousuke Itagaki,Takeo Ushiki,Tohru Tsujide. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-26.

Production managing system of semiconductor device

Номер патента: US6711453B2. Автор: Keizo Yamada,Yousuke Itagaki,Takeo Ushiki,Tohru Tsujide. Владелец: Fab Solutions Inc. Дата публикации: 2004-03-23.

Heating jacket for semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20230298908A1. Автор: BoGeun Kim,Joonghoon LEE,Changhoon Kwak,Daewoo Hwangbo,Kyungnam Kang,Youngju Ro. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-21.

Sacrificial carrier dicing of semiconductor wafers

Номер патента: US09484239B2. Автор: David J. Russell,Douglas O. Powell,Richard S. Graf,David J. West. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Sacrificial carrier dicing of semiconductor wafers

Номер патента: US09478453B2. Автор: David J. Russell,Douglas O. Powell,Richard S. Graf,David J. West. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Buffer station for thermal control of semiconductor substrates transferred therethrough and method of transferring semiconductor substrates

Номер патента: US09673071B2. Автор: Keith Freeman Wood,Matthew Jonathon Rodnick. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Semiconductor manufacturing system, controller, semiconductor manufacturing system control method, and processing liquid collection method

Номер патента: US7853347B2. Автор: Atsushi Osada,Tetsu Tomine. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-12-14.

Component carrier for semiconductor manufacturing and component transport system using same

Номер патента: US20230411196A1. Автор: Jae Won Shin. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Method for manufacturing semiconductor device, semiconductor manufacturing apparatus, and wafer lift pin-hole cleaning jig

Номер патента: US09721910B2. Автор: Yohei Hamaguchi. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Mechanisms for cleaning load ports of semiconductor process tools

Номер патента: US09691640B2. Автор: HUNG-WEN Chen,Ching-Fa Chen,Mei-Wei Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Semiconductor manufacturing apparatuses comprising bonding heads

Номер патента: US09508577B2. Автор: YOSHIAKI Yukimori,MASATO Kajinami,Sang-Yoon Kim,Hui-Jae KIM,Jae Bong Shin,Byung Joon Lee,Byeong Kap CHOI,Seung Dae Seok,Byeong-kuk Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

Semiconductor manufacturing method and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240258115A1. Автор: Yoshihide Yamaguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11935775B2. Автор: Satoshi Usui,Satoshi Nagai,Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing a semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240258134A1. Автор: Masayuki Nishiyama,Naoki Yoshimatsu,Rei YONEYAMA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Ceramic heater for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: EP4435836A1. Автор: Bo Sung Kim,Yun Ho Kim,Joo Hwan Kim,Hwan Young Park. Владелец: KSM Component Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Method for manufacturing semiconductor package structure and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US12100686B2. Автор: Yun Di HONG. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Semiconductor manufacturing method and associated semiconductor manufacturing system

Номер патента: US09704820B1. Автор: Ping-Yin Liu,Xin-Hua Huang,Chia-Shiung Tsai,Yung-Lung Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Apparatus and method for repairing defect of semiconductor

Номер патента: US20230178334A1. Автор: Chi-Wen Chen,Chun-Huai Li. Владелец: Naidun Tech Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Manufacturing method of semiconductor package

Номер патента: US11769685B2. Автор: Cheng-Chi Wang,Yeong-E Chen,Wen-Hsiang Liao,Hung-Sheng CHOU,Cheng-En CHENG. Владелец: Innolux Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Manufacturing method of semiconductor apparatus

Номер патента: US20220344149A1. Автор: Michiya KITANO. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20220293450A1. Автор: Yuji Setta. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US12027380B2. Автор: Katsuhiro Sato,Tomohiko Sugita,Hiroaki ASHIDATE. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Semiconductor manufacturing method and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20220301870A1. Автор: Atsushi Fukumoto,Fumiki Aiso. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20230197473A1. Автор: Yusuke Yadani. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240145277A1. Автор: Hideki Wakabayashi,Yosuke Nagasawa,Tensei SATO. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240071789A1. Автор: Takanobu Ono,Shoma Omura. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20230253233A1. Автор: Kazuo Fujimura,Shinji Nunotani. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240266194A1. Автор: Ken Sakamoto,Keitaro Ichikawa. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Jig, semiconductor manufacturing apparatus, and method of operating semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240282618A1. Автор: Kentaku ARAI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Chemical supply device for use in semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20240274443A1. Автор: Tae Hwa LIM,Myeong Mun KIM. Владелец: Rc Tech Co ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Composite structure and semiconductor manufacturing apparatus including composite structure

Номер патента: US12112924B2. Автор: Hiroaki Ashizawa,Ryoto TAKIZAWA. Владелец: TOTO LTD. Дата публикации: 2024-10-08.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09966248B2. Автор: Takahiro Onishi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Removal device for semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US09957611B2. Автор: Hirokazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Semiconductor manufacturing device and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09824905B2. Автор: Takeshi Watanabe,Takashi Imoto,Soichi Homma,Yuusuke Takano,Katsunori Shibuya. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09793102B2. Автор: Kazuyuki Miura,Kensuke Takahashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09761415B2. Автор: Osamu Miyagawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Semiconductor manufacturing device and method of manufacturing semiconductor chip

Номер патента: US09633888B2. Автор: Kenji Yamazaki,Eitoku Sonoda,Hirokazu Matsuzaki,Tomoki Umezawa,Takeshi MINAMIRU,Saori NISHIZAKI,Tatsumi INOMOTO. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09478416B1. Автор: Atsushi Fukumoto,Hajime Nagano,Fumiki Aiso,Takeshi SHUNDO. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Semiconductor manufacturing device and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09458535B2. Автор: Takeshi Watanabe,Takashi Imoto,Soichi Homma,Yuusuke Takano,Katsunori Shibuya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Support jig of quartz glass for receiving wafer-like substrates of semiconductor material

Номер патента: US20050224429A1. Автор: Jürgen Weber,Armin Maul,Thorsten Herbert,Roland Stock. Владелец: Heraeus Quarzglas GmbH and Co KG. Дата публикации: 2005-10-13.

Apparatus for cutting tie bars of semiconductor packages

Номер патента: US6065381A. Автор: Jong-won Kim,Young-jin Choi,Jun-young Ko,Po-seong Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2000-05-23.

Sacrificial Carrier Dicing of Semiconductor Wafers

Номер патента: US20160079117A1. Автор: David J. Russell,Douglas O. Powell,Richard S. Graf,David J. West. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Sacrificial Carrier Dicing of Semiconductor Wafers

Номер патента: US20160079111A1. Автор: David J. Russell,Douglas O. Powell,Richard S. Graf,David J. West. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Assembly jig set and manufacturing method of semiconductor module

Номер патента: US11355373B2. Автор: Takeshi Yokoyama,Masaki Maruyama,Kazunaga Onishi. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-07.

Assembly jig set and manufacturing method of semiconductor module

Номер патента: US11935774B2. Автор: Takeshi Yokoyama,Masaki Maruyama,Kazunaga Onishi. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Assembly jig set and manufacturing method of semiconductor module

Номер патента: US20200335375A1. Автор: Takeshi Yokoyama,Masaki Maruyama,Kazunaga Onishi. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-22.

Method and apparatus for surface texturing of semiconductor substrate

Номер патента: WO2019223805A1. Автор: Wolfgang Jooss,Peter Fath,Ihor Melnyk,Jan JUNG-KOENIG,Andreas TEPPPE,Sukumar MADUGULA. Владелец: RCT SOLUTIONS GmbH. Дата публикации: 2019-11-28.

Heater for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20200118858A1. Автор: Kazuhiro Nobori,Keita Yamana,Kengo Torii. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2020-04-16.

Gate valve apparatus and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20230317480A1. Автор: Masahiro DOGOME. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Semiconductor manufacturing apparatus, wafer conveying apparatus and wafer conveying method

Номер патента: US20190067066A1. Автор: Takayuki Matsui,Ryota Fujitsuka,Fumiki Aiso,Tomohisa Iino,Kensei Takahashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240018657A1. Автор: Tae Yong Kim,Sang Yub Ie,Phil Ouk NAM,Jae Hyun YANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-18.

Semiconductor manufacturing device and method of using the same

Номер патента: US20230093400A1. Автор: Keiji Nakagawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Semiconductor manufacturing device, wafer conveyance system, wafer conveyance method, and non-transitory computer readable medium for wafer conveyance sytem

Номер патента: US20230274963A1. Автор: Teppei Kita. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Member for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20230298861A1. Автор: Seiya Inoue,Tomoki Nagae,Tatsuya Kuno,Yusuke Ogiso,Takuya YOTO. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Heater for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20190244847A1. Автор: Kazuhiro Nobori,Keita Yamana,Kengo Torii. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2019-08-08.

Member for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20230290622A1. Автор: Hiroshi Takebayashi,Seiya Inoue,Tatsuya Kuno. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Rotational flow generator, piping system, semiconductor manufacturing apparatus, and heat exchanger

Номер патента: US12038023B2. Автор: Toyohiko Shindo. Владелец: Contamination Control services Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: WO2009028753A1. Автор: Taek-Yong Jang,Young-Ho Lee,Byung-Il Lee,Seung Beom Baek. Владелец: Terasemicon Corporation. Дата публикации: 2009-03-05.

Semiconductor manufacturing apparatus, wafer conveying apparatus and wafer conveying method

Номер патента: US20190348314A1. Автор: Takayuki Matsui,Ryota Fujitsuka,Fumiki Aiso,Tomohisa Iino,Kensei Takahashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Apparatus for integrated monitoring of wafers and for process control in semiconductor manufacturing and a method for use thereof

Номер патента: US20020179841A1. Автор: Moshe Finarov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-05.

Multi-chamber semiconductor manufacturing system

Номер патента: US20230274958A1. Автор: Chih-Yuan Chan,Yi-Ting Lai,Hsueh-Hsien Wu. Владелец: Syskey Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20230290669A1. Автор: Makoto Kubo,Masaharu Takizawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Semiconductor device and method of manufacturing the same and semiconductor manufacturing device

Номер патента: US20080316790A1. Автор: Fumihiko Inoue,Kentaro Sera. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2008-12-25.

Method and apparatus for optimizing thermal management system performance using full-chip thermal analysis of semiconductor chip designs

Номер патента: EP1920645A2. Автор: Rajit Chandra. Владелец: Gradient Design Automation Inc. Дата публикации: 2008-05-14.

Semiconductor manufacturing apparatus and control system and control method therefor

Номер патента: US20110130861A1. Автор: Kazuhiro Watanabe,Kazuhiro Miwa,Akito Mifune. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-02.

Method and system for synchronizing all clock sources of semiconductor devices

Номер патента: US7210052B2. Автор: De-Wei Lee,Wu-Han Yang. Владелец: BenQ Corp. Дата публикации: 2007-04-24.

Fingerprinting of semiconductor die arrangements

Номер патента: EP3891720A1. Автор: Steffen Fries,Rainer Falk,Hans Aschauer,Christian Peter Feist,Hermann Seuschek,Thomas Zeschg,Aliza Maftun. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2021-10-13.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20110107968A1. Автор: Young Ho Lee,Byung Il Lee,Taek Yong Jang,Seung Beom Baek. Владелец: Tera Semicon Corp. Дата публикации: 2011-05-12.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: WO2009025410A1. Автор: Taek-Yong Jang,Young-Ho Lee,Byung-Il Lee,Seung Beom Baek. Владелец: Terasemicon Corporation. Дата публикации: 2009-02-26.

Method of measuring parameters of semiconductor structures

Номер патента: RU2622600C2. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Александр Владимирович Скрипаль,Денис Викторович Пономарев,Екатерина Викторовна Латышева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2017-06-16.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US09735325B2. Автор: Mitsuyoshi Endo. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Shift control method in manufacture of semiconductor device

Номер патента: US20220077108A1. Автор: Chih-Wei Wu,Ying-Ching Shih,Hsien-Ju Tsou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-03-10.

Temporary bonding laminates for used in manufacture of semiconductor devices and method for manufacturing semiconductor devices

Номер патента: US20160013088A1. Автор: Kazuhiro Fujimaki,Ichiro Koyama,Yu Iwai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Temporary bonding laminates for use in manufacture of semiconductor devices and method for manufacturing semiconductor devices

Номер патента: US09966295B2. Автор: Kazuhiro Fujimaki,Ichiro Koyama,Yu Iwai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Carrier, method for coating a carrier, and method for the simultaneous double-side material-removing machining of semiconductor wafers

Номер патента: SG152121A1. Автор: Georg Pietsch,Michael Kerstan. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2009-05-29.

Temporary bonding laminates for use in manufacture of semiconductor devices

Номер патента: US09716025B2. Автор: Ichiro Koyama,Masafumi Yoshida,Yu Iwai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Carrier, method for coating a carrier, and method for the simultaneous double-side material-removing machining of semiconductor wafers

Номер патента: US09539695B2. Автор: Georg Pietsch,Michael Kerstan,Heiko aus dem Spring. Владелец: PETER WOLTERS GmbH. Дата публикации: 2017-01-10.

Method and apparatus for manufacturing semiconductor manufacturing parts by using jig

Номер патента: US20200111661A1. Автор: Ki Won Kim. Владелец: Tokai Carbon Korea Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-09.

Mass transfer of semiconductor die using transfer elements

Номер патента: US20230402310A1. Автор: Robert Wilcox,Joseph G. Sokol,David Suich,Colin Blakely,Michael Check,Andre Pertuit. Владелец: Creeled Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Temporary bonding laminates for used in manufacture of semiconductor devices

Номер патента: US09716024B2. Автор: Ichiro Koyama,Yu Iwai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US09418885B2. Автор: Jung Hyun Kim,Chang Geun Ahn,Ki Bum Sung,Jo Young Lee,Mhan Joong Kim. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20190088624A1. Автор: Tetsuya Kurosawa,Takanobu Ono. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

Semiconductor package including a plurality of semiconductor chips

Номер патента: US20230420403A1. Автор: Jungmin Ko,Taehyeong Kim,Hyeonjun Song,Youngwoo LIM,Dongki Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-12-28.

Method for producing a semiconductor device by consecutively sinter-bonding a plurality of semiconductor chips to a substrate upon application of pressure and heat and corresponding semiconductor device

Номер патента: EP4047641A3. Автор: Tomoaki Ichikawa,Ryota Mita,Mayu Sato. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2023-10-11.

Semiconductor package, manufacturing method of semiconductor device and semiconductor package

Номер патента: US20210057259A1. Автор: Ching-Hua Hsieh,Chih-Wei Lin,Sheng-Chieh Yang,Shing-Chao Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-02-25.

Semiconductor device and method of manufacturing same, and management system of semiconductor device

Номер патента: US20130234339A1. Автор: Kazuyuki Higashi,Yoshiaki Sugizaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-09-12.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160079491A1. Автор: Mitsuyoshi Endo. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Method and device for depositing an epitaxial layer on a substrate wafer made of semiconductor material

Номер патента: US20230178398A1. Автор: Thomas Stettner,Hannes Hecht,Walter Edmaier,Korbinian LICHTENEGGER. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2023-06-08.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20190214288A1. Автор: Cheng-Chi Wang,Chin-Lung Ting,Chia-Chieh FAN,Ming-Tsang Wu. Владелец: Innolux Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20170040189A1. Автор: Takashi Watanabe,Jun Takayasu,Takayuki Nakayama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-02-09.

Semiconductor Manufacturing Device, Push-up Unit, and Method of Manufacturing Semiconductor Device

Номер патента: US20240312825A1. Автор: Akira Saito,Yuta ONO,Takumi SASSA. Владелец: Fasford Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240355664A1. Автор: Masaki Ueno,Kinya Yamashita,Yasushi Takaki,Dai Kitano. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Gas flow substrate supports, processing chambers, and related methods and apparatus, for semiconductor manufacturing

Номер патента: US20240363390A1. Автор: Hui Chen,Shawn Thomas,Xinning Luan. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Gas flow substrate supports, processing chambers, and related methods and apparatus, for semiconductor manufacturing

Номер патента: WO2024226125A1. Автор: Hui Chen,Shawn Thomas,Xinning Luan. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-31.

Method for determining a centred position of a semiconductor substrate in an annealing furnace, device for the heat treatment of semiconductor substrates and method for calibrating such a device

Номер патента: SG168466A1. Автор: William Palmer,Cédric ANGELLIER. Владелец: Soitec Silicon On Insulator. Дата публикации: 2011-02-28.

Semiconductor chip, method for producing a plurality of semiconductor chips and method for producing an electronic or optoelectronic device and electronic or optoelectronic device

Номер патента: US20170365736A1. Автор: Bernd Barchmann,Andreas Ploessl,Fabian Eigenmann. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2017-12-21.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US11721560B2. Автор: Cheng-Chi Wang,Chin-Lung Ting,Chia-Chieh FAN,Ming-Tsang Wu. Владелец: Innolux Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Method and device for the integration of semiconductor wafers

Номер патента: MY197514A. Автор: OSTHOLT Roman,Ambrosius Norbert. Владелец: LPKF LASER & ELECTRONICS AG. Дата публикации: 2023-06-19.

Method and device for the integration of semiconductor wafers

Номер патента: US20200266152A1. Автор: Norbert Ambrosius,Roman Ostholt. Владелец: LPKF Laser and Electronics AG. Дата публикации: 2020-08-20.

Separation of Semiconductor Devices from a Wafer Carrier

Номер патента: US20130084658A1. Автор: Adolf Koller,Mathias Vaupel,Stefan Martens,Sebastian Bernrieder. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2013-04-04.

Heater for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20220005722A1. Автор: Kazuhiro Nobori,Keita Yamana,Kengo Torii. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2022-01-06.

Semiconductor manufacturing apparatus and method

Номер патента: US20150004789A1. Автор: Kenji Matsuzaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-01-01.

Conductive electrostatic chuck lift pin, electrostatic chuck comprising the same, and semiconductor manufacturing method using the same

Номер патента: US20230282507A1. Автор: Joon Ho Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-07.

Aluminum nitride sintered body, method of making the same, and semiconductor manufacturing equipment component using aluminum nitride sintered body

Номер патента: US20210017087A1. Автор: Noriyuki NARUSE. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Method and device for detecting defects on tires when manufacturing tires

Номер патента: RU2640673C1. Автор: Валериано БАЛЛАРДИНИ,Фабио РЕГОЛИ,Стефано МОНТИ. Владелец: ПИРЕЛЛИ ТАЙР С.П.А.. Дата публикации: 2018-01-11.

Thermography-based method for detecting defects in seals with conductive inner-seals

Номер патента: US09791395B2. Автор: Eran Sinbar,Yoav Weinstein. Владелец: DIR Technologies (detection Ir) Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Circuit and method of detecting defective word line of semiconductor memory device

Номер патента: KR0172439B1. Автор: 김병철,한진만. Владелец: 김광호. Дата публикации: 1999-03-30.

Method and device for detecting defects on the tire surface

Номер патента: RU2657648C1. Автор: Винченцо БОФФА,Валериано БАЛЛАРДИНИ,Фабио РЕГОЛИ,ПЬОВАН Алессандро ГИДОТТИ,СТЕФАНО Луиджи ДИ. Владелец: ПИРЕЛЛИ ТАЙР С.П.А.. Дата публикации: 2018-06-14.

Method of manufacture of semiconductor structures

Номер патента: RU2654819C1. Автор: Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "ДАГЕСТАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ". Дата публикации: 2018-05-22.

Method of detecting defects in honeycomb structural body

Номер патента: US09709457B2. Автор: Kazuo Matsubara,Tomio Sugiyama,Kouji Hori,Hiromi Inada,Yasushi Miyamura. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Method and a device for detecting defects in a packaging material

Номер патента: US09759687B2. Автор: Hans Hallstadius,Philippe Langois. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2017-09-12.

Apparatus for detecting defects of reflective element

Номер патента: US20240103026A1. Автор: Hong-I Tsai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-28.

Semiconductor manufacturing apparatus, semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20230069666A1. Автор: Takayuki Ito. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US09920427B2. Автор: Ryota Fujitsuka,Hajime Nagano,Motoki Fujii,Fumiki Aiso. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Semiconductor manufacturing method using two-stage annealing

Номер патента: US20040248351A1. Автор: Takayuki Ito,Kyoichi Suguro. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2004-12-09.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160047046A1. Автор: Takayuki Matsui,Hajime Nagano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-02-18.

Air filtering device and cleaning system of semiconductor manufacturing apparatus with the same

Номер патента: US20090025565A1. Автор: Ji-Young Kim,Joo-Young Kim,Yo-han Ahn,Dong-Seok Ham,Chang-Min Cho,Hyung-Seok Choi,Ju-A Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-01-29.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US09920425B2. Автор: Takayuki Matsui,Hajime Nagano. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Manufacturing Method of Semiconductor Device

Номер патента: US20080138995A1. Автор: Mitsuhiro Omura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-06-12.

Semiconductor manufacturing apparatus and cleaning method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240191348A1. Автор: Takashi Hattori,Yosuke Kurosaki,Masaki Yamada,Aki Takei. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20110045615A1. Автор: Mitsuhiro Omura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-02-24.

Plasma processing method of semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20110250758A1. Автор: Ki-sang Kim,Jong-Bum Kim,In-Joong Kim,Hyun-Su JUN,Seung-Heong Lee,Min-Woung Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-10-13.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20190071771A1. Автор: Fumiki Aiso,Tomohisa Iino,Kensei Takahashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-03-07.

System for detecting defects in wall coatings and method of making said system

Номер патента: RU2413192C2. Автор: Ласло ВАРГА,Ласло КАЛАФСКИ,Имре ТОТ. Владелец: Х. Вилс Аг. Дата публикации: 2011-02-27.

Method of detecting defects in pneumatic tire in non-destructive manner

Номер патента: CA1319992C. Автор: Naotaka Tsuji. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 1993-07-06.

Method of semiconductor manufacturing using hard mask, method for forming pattern, and semiconductor structure

Номер патента: US20230086464A1. Автор: Meng-Cheng Chen. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-03-23.

Cleaning method of semiconductor manufacturing process

Номер патента: US20130014779A1. Автор: Teng-Chun Tsai,Yi-Wei Chen,Kuo-Chih Lai,Shu-Min HUANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2013-01-17.

Method for depositing titanium nitride films for semiconductor manufacturing

Номер патента: US20080274616A1. Автор: Toshio Hasegawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-11-06.

Cleaning composition and cleaning method for component of semiconductor manufacturing process chamber

Номер патента: US20220135916A1. Автор: Yasuo Suzuki,Isao Hirano. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160222514A1. Автор: Ryota Fujitsuka,Hajime Nagano,Motoki Fujii,Fumiki Aiso. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-04.

Composite pattern for monitoring various defects of semiconductor device

Номер патента: US20060145152A1. Автор: Jung Kang. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-06.

Semiconductor element, manufacturing method of semiconductor item, and matrix of light-emitting diodes, which is obtained by using such manufacturing method

Номер патента: RU2416135C2. Автор: Такао ЙОНЕХАРА,Кендзи ЯМАГАТА,Йосинобу СЕКИГУТИ,Кодзиро НИСИ. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2011-04-10.

Method and apparatus for reproducing component of semiconductor manufacturing apparatus, and reproduced component

Номер патента: US20170345624A1. Автор: Ki Won Kim,Won Pyo HONG,Hyeong Uk Roh,Jong Sung Yun. Владелец: Tokai Carbon Korea Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-30.

Vertical structure of semiconductor devices using nanotubes and method of making them

Номер патента: RU2342315C2. Автор: Тошихару ФУРУКАВА,Марк Чарлз ХЕЙКИ,Стивен Джон ХОЛМС,Дейвид Вацлав ХОРАК,Чарлз Уилль м КОУБУРГЕР III,Чарлз Уилльям КОУБУРГЕР III. Владелец: Интернэшнл Бизнес Машинз Корпорейшн. Дата публикации: 2008-12-27.

Methods for Forming a Plurality of Semiconductor Devices on a Plurality of Semiconductor Wafers

Номер патента: US20160359014A1. Автор: Jochen Hilsenbeck,Jens Peter Konrath. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2016-12-08.

Methods for Forming a Plurality of Semiconductor Devices on a Plurality of Semiconductor Wafers

Номер патента: US20180122918A1. Автор: Jochen Hilsenbeck,Jens Peter Konrath. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-05-03.

Methods for forming a plurality of semiconductor devices on a plurality of semiconductor wafers

Номер патента: US09859396B2. Автор: Jochen Hilsenbeck,Jens Peter Konrath. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-01-02.

Semiconductor device with encapsulant deposited along sides and surface edge of semiconductor die in embedded WLCSP

Номер патента: US12094729B2. Автор: Yaojian Lin,Pandi C. Marimuthu,Heinz-Peter Wirtz,Seung Wook Yoon. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Semiconductor device and method of depositing encapsulant along sides and surface edge of semiconductor die in embedded WLCSP

Номер патента: US09496195B2. Автор: Yaojian Lin,Pandi C. Marimuthu,Heinz-Peter Wirtz,Seung Wook Yoon. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Device for liquid chemical etching of semiconductor products

Номер патента: RU2746672C1. Автор: Юлия Валерьевна Сухорослова,Денис Сергеевич Веселов,Юрий Александрович Воронов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (НИЯУ МИФИ). Дата публикации: 2021-04-19.

Electron cyclotron resonance -plasma source to process semiconductor structures, method to process semiconductor structures, process of manufacture of semiconductor devices and integrated circuits ( variants ), semiconductor device or integrated circuit ( variants )

Номер патента: RU2216818C1. Автор: Ю.С. Четверов,В.А. Тулин,С.Ю. Шаповал,ков В.Е. Земл,В.Е. Земляков,В.Л. Гуртовой. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ЭпиЛаб". Дата публикации: 2003-11-20.

Removal of semiconductor growth defects

Номер патента: US09842741B2. Автор: Soon-Cheon Seo,Linus Jang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Methods of fabricating semiconductor structures or devices using layers of semiconductor material having selected or controlled lattice parameters

Номер патента: US09793360B2. Автор: Chantal Arena. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2017-10-17.

Removal of semiconductor growth defects

Номер патента: US09496257B2. Автор: Soon-Cheon Seo,Linus Jang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-11-15.

Method of manufacture of semiconductor structures

Номер патента: RU2680606C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2019-02-25.

Method of forming wiring on a plurality of semiconductor devices from a single metal plate, and a semiconductor construction assembly formed by the method

Номер патента: US8067274B2. Автор: Takeshi Wakabayashi,Ichiro Mihara. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-29.

Methods of forming a plurality of semiconductor layers using trench arrays

Номер патента: WO2001063654A2. Автор: Robert F. Davis,Kevin J. Linthicum,Thomas Gehrke. Владелец: North Carolina State University. Дата публикации: 2001-08-30.

Shift control method in manufacture of semiconductor device

Номер патента: US20240379617A1. Автор: Chih-Wei Wu,Ying-Ching Shih,Hsien-Ju Tsou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-11-14.

Reactor for plasma-chemical treatment of semiconductor structures

Номер патента: RU2753823C1. Автор: Илья Александрович Иванов,Павел Евгеньевич Афонин,Владимир Миронович Долгополов,Павел Александрович Иракин,Константин Владимирович Логунов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения". Дата публикации: 2021-08-23.

Thermosetting resin composition (versions), construction of attachment of semiconductor device and method of manufacture of semiconductor device with use of thermosetting resin composition

Номер патента: RU2195474C2. Автор: Марк КОНАРСКИЙ,Збигнев А. ЩЕПАНЯК. Владелец: Локтайт Корпорейшн. Дата публикации: 2002-12-27.

Reactor for plasma processing of semiconductor structures

Номер патента: RU2670249C1. Автор: Владимир Борисович Павлов,Александр Кириллович Петров,Наталья Борисовна Гусева,Вадим Александрович Сологуб,Александр Арменакович Айрапетов,Вадим Васильевич Одиноков,Георгий Яковлевич Павлов,Александр Михайлович Никонов,Михаил Георгиевич Бирюков,Константин Викторович Вавилин,Елена Александровна Кралькина,Полина Алексеевна Неклюдова,Елена Владимировна Карпенкова. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения". Дата публикации: 2018-10-19.

Vertical structure of semiconductor device and method of formation thereof

Номер патента: RU2338683C2. Автор: Тошихару ФУРУКАВА,Марк Чарлз ХЕЙКИ,Стивен Джон ХОЛМС,Дейвид Вацлав ХОРАК,Питер МИТЧЕЛЛ,Ларри Алан НЕСБИТ. Владелец: Интернэшнл Бизнес Машинз Корпорейшн. Дата публикации: 2008-11-20.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20240071916A1. Автор: Shuai Guo. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Method for forming thermal oxide film of semiconductor substrate

Номер патента: EP4148769A1. Автор: Tatsuo Abe,Tsuyoshi Ohtsuki. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-15.

Protection of semiconductor-oxide-containing gate dielectric during replacement gate formation

Номер патента: US20160351687A1. Автор: Ravikumar Ramachandran,Gregory Costrini,Richard S. Wise,Reinaldo A. Vega. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-12-01.

Method of semiconductor arrangement formation

Номер патента: US09773889B2. Автор: Clement Hsingjen Wann,Chih-Hsin Ko,Cheng-Hsien Wu,Wei-Chieh Chen,Shu-Han Chen,Hao-Hsiung Lin,You-Ru Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Self-limiting selective epitaxy process for preventing merger of semiconductor fins

Номер патента: US09752251B2. Автор: Kevin K. Chan,Annie Levesque,Yue Ke,Eric C. Harley. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Selective removal of semiconductor fins

Номер патента: US09613954B2. Автор: Kangguo Cheng,Ali Khakifirooz,Veeraraghavan S. Basker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

EMI shielding method of semiconductor packages

Номер патента: US09583447B2. Автор: Hee-Dong LEE,Bok-Woo HAN. Владелец: Genesem Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Protection of semiconductor-oxide-containing gate dielectric during replacement gate formation

Номер патента: US09431395B2. Автор: Ravikumar Ramachandran,Gregory Costrini,Richard S. Wise,Reinaldo A. Vega. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Semiconductor device and method of forming B-stage conductive polymer over contact pads of semiconductor die in Fo-WLCSP

Номер патента: US09418941B2. Автор: Byung Tai Do,Reza A. Pagaila. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Cleaning composition and cleaning method for component of semiconductor manufacturing process chamber

Номер патента: US11981880B2. Автор: Yasuo Suzuki,Isao Hirano. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Protection of semiconductor-oxide-containing gate dielectric during replacement gate formation

Номер патента: US9577068B2. Автор: Ravikumar Ramachandran,Gregory Costrini,Richard S. Wise,Reinaldo A. Vega. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

mask sheet for assembly of semiconductor device and assembling method of semiconductor device

Номер патента: MY138636A. Автор: Toshihiro NAKAJIMA,Yuichi Moriya,Katsuji Nakaba. Владелец: Tomoegawa Paper Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-31.

Glass and melt solder for the passivation of semiconductor components

Номер патента: US11634356B2. Автор: Sabine Pichler-Wilhelm,Martin Letz,Linda Johanna Bartelt,Martun Hovhannisyan,Julia Gold,Antonio Trizzino. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2023-04-25.

Process for collectively fabricating a plurality of semiconductor structures

Номер патента: US11876073B2. Автор: David Sotta. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2024-01-16.

Forming method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20230282537A1. Автор: Huiwen TANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Shift control method in manufacture of semiconductor device

Номер патента: US12148733B2. Автор: Chih-Wei Wu,Ying-Ching Shih,Hsien-Ju Tsou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Dynamic random access memory cell employing trenches located between lengthwise edges of semiconductor fins

Номер патента: US20150145010A1. Автор: Ravikumar Ramachandran,Herbert L. Ho,Reinaldo A. Vega. Владелец: International Business Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

Shielding elements for packages of semiconductor devices

Номер патента: US20230056509A1. Автор: Ranjan Rajoo,Venkata Narayana Rao Vanukuru. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2023-02-23.

Dynamic random access memory cell employing trenches located between lengthwise edges of semiconductor fins

Номер патента: US09337200B2. Автор: Ravikumar Ramachandran,Herbert L. Ho,Reinaldo A. Vega. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-05-10.

Electrode structure of rear electrode of semiconductor substrate, method of its obtaining and sputtered target for use in production of electrode structure

Номер патента: RU2718134C1. Автор: Тецуя КАТО,Йохей МИЗУНО,Тихару ИСИКУРА. Владелец: Танака Кикинзоку Когио К.К.. Дата публикации: 2020-03-30.

Manufacturing method of functional element of semiconductor device

Номер патента: RU2727557C1. Автор: Сергей Арсеньевич Кукушкин,Андрей Викторович Осипов,Николай Александрович Феоктистов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-технический центр "Новые технологии". Дата публикации: 2020-07-22.

Manufacturing method of semiconductor structure

Номер патента: RU2629655C2. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2017-08-30.

Using at least one binary compound of group element 15, 13/15 of semiconductor layer and binary compounds of element of group 15

Номер патента: RU2705365C2. Автор: Карстен ФОН-ХЕНИШ,Керстин ФОЛЬЦ,Вольфганг ШТОЛЬЦ,Эдуард ШТЕРЦЕР,Андреас БАЙЕР,Доминик КАЙПЕР,Беньямин РИНГЛЕР. Владелец: Филиппс-Универзитет Марбург. Дата публикации: 2019-11-07.

Method of semiconductor device manufacturing

Номер патента: RU2629657C2. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2017-08-30.

Manufacturing method of semiconductor structure

Номер патента: RU2644627C2. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2018-02-13.

Method for production of semiconductor device

Номер патента: RU2751982C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова» (КБГУ). Дата публикации: 2021-07-21.

Contact via structures of semiconductor devices

Номер патента: US20230395425A1. Автор: Yung Fu Chong,Rui Tze TOH,Fangyue Liu. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2023-12-07.

Method which can form contact holes in wafer of semiconductor

Номер патента: US20130316470A1. Автор: Jun Zhou. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2013-11-28.

Tableted epoxy resin composition for encapsulation of semiconductor device and semiconductor device encapsulated using the same

Номер патента: US20200199351A1. Автор: Sang Kyun Kim,Sang Jin Kim,Dong Hwan Lee,Young Joon Lee,Tae Shin Eom,Yong Han CHO. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Method for forming thin films of semiconductor devices

Номер патента: US20030124760A1. Автор: Seok Lee,Sung Joo. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-07-03.

Carbon ribbon to be covered with a thin layer made of semiconductor material and method for depositing a layer of this type

Номер патента: US20090302425A1. Автор: Christian Belouet. Владелец: SOLARFORCE. Дата публикации: 2009-12-10.

Contact via structures of semiconductor devices

Номер патента: US11776844B2. Автор: Yung Fu Chong,Rui Tze TOH,Fangyue Liu. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2023-10-03.

Methods Utilizing Microwave Radiation During Formation Of Semiconductor Constructions

Номер патента: US20100062562A1. Автор: Ming Zhang,John Smythe,Bhaskar Srinivasan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-03-11.

Substrate structure, semiconductor package device, and manufacturing method of semiconductor package

Номер патента: US09723717B2. Автор: Hwee-Seng Jimmy Chew,Shoa-Siong Raymond Lim. Владелец: ADVANPACK SOLUTIONS PTE LTD. Дата публикации: 2017-08-01.

Method for filling gaps of semiconductor device and semiconductor device formed by the same

Номер патента: US09685319B2. Автор: Yu-Ren Wang,Yi-Hui Lin,Ping-Wei Huang,Keng-Jen Lin. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Method for thermal process in packaging assembly of semiconductor

Номер патента: US09673061B2. Автор: Shun-Ping Huang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-06-06.

Methods of fabricating isolation regions of semiconductor devices and structures thereof

Номер патента: US09653543B2. Автор: Roland Hampp,Armin Tilke,Marcus Culmsee,Chris Stapelmann,Bee Kim Hong. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-05-16.

Process for the treatment of semiconductor wafers in a fluid

Номер патента: AU7887598A. Автор: Robert Roger Matthews. Владелец: Legacy Systems Inc. Дата публикации: 1998-10-01.

Enhanced electromigration performance of copper lines in metallization systems of semiconductor devices by surface alloying

Номер патента: SG175862A1. Автор: Axel Preusse,Frank Feustel,Tobias Letz. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2011-12-29.

Method of wafer dicing and manufacturing method of semiconductor devices using the same

Номер патента: US20240290658A1. Автор: Jimin Kim,Youngchul KWON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for depositing silicon nitride layer of semiconductor device

Номер патента: US20050118814A1. Автор: Hyung Kim,Sung Jung,Yong Eun. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-02.

Method for forming word line of semiconductor device

Номер патента: US20040082155A1. Автор: Won Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-29.

Local electrochemical deplating of alignment mark regions of semiconductor wafers

Номер патента: US20030159935A1. Автор: Chen-Ming Huang,Sen-Shan Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2003-08-28.

Manufacturing method of semiconductor structure

Номер патента: US12120867B2. Автор: Jingwen Lu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Method of making a plurality of semiconductor devices

Номер патента: US09859184B2. Автор: Hans-Martin Ritter,Frank Burmeister. Владелец: Nexperia BV. Дата публикации: 2018-01-02.

Gas injection system with precursor for planar deprocessing of semiconductor devices using a focused ion beam

Номер патента: US09761467B2. Автор: Chad Rue,Clive D. Chandler. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-09-12.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor device manufacturing method using the same

Номер патента: US09564298B2. Автор: Ik-Soo Kim,Myoung-woon Kim,Su-Ho Lee,Ju-Hee Lee,Jae-Beom Park,Won-hyuk Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-07.

Temporary adhesive for production of semiconductor device, and adhesive support and production method of semiconductor device using the same

Номер патента: US09505953B2. Автор: Kazuhiro Fujimaki,Ichiro Koyama,Yu Iwai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20180274092A1. Автор: Masayuki Kitamura,Atsuko Sakata,Satoshi Wakatsuki. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-09-27.

Semiconductor manufacturing using artificial intelligence

Номер патента: US20210090859A1. Автор: Imran Ahmed Bhutta. Владелец: Reno Technologies Inc. Дата публикации: 2021-03-25.

Method of manufacturing semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US09779978B2. Автор: Junichi Wada,Masayuki Kitamura,Atsuko Sakata,Takeshi Ishizaki,Satoshi Wakatsuki,Shinya Okuda,Kei Watanabe,Daisuke Ikeno,Hirotaka Ogihara. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09754781B2. Автор: Hidekazu Hayashi,Shinya Okuda,Kei Watanabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Process for controlling the thickness of a thin layer of semiconductor material and semiconductor substrate

Номер патента: US3844858A. Автор: K Bean. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1974-10-29.

Apparatuses and methods for coupling a plurality of semiconductor devices

Номер патента: US20240063188A1. Автор: Timothy M. Hollis,Matthew B. Leslie,Roy E. Greeff. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Semiconductor Device and Method for Producing a Plurality of Semiconductor Devices

Номер патента: US20170338384A1. Автор: Thomas Schwarz,Frank Singer. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2017-11-23.

Apparatuses and methods for coupling a plurality of semiconductor devices

Номер патента: US11837580B2. Автор: Timothy M. Hollis,Matthew B. Leslie,Roy E. Greeff. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Removal of semiconductor growth defects

Номер патента: US20170076954A1. Автор: Soon-Cheon Seo,Linus Jang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Removal of semiconductor growth defects

Номер патента: US20150380405A1. Автор: Soon-Cheon Seo,Linus Jang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-12-31.

Manufacturing method of semiconductor element, semiconductor layer support structure, and semiconductor substrate

Номер патента: EP4362066A1. Автор: Takahito Suzuki,Kenichi Tanigawa,Yutaka Kitajima,Hiroto Kawada,Toru Kosaka,Yusuke Nakai,Shinya Jumonji,Genichirou MATSUO. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Processing method of semiconductor substrate and processed semiconductor substrate product

Номер патента: US20140038389A1. Автор: Hirotaka Kobayashi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-02-06.

Method for producing a plurality of semiconductor chips and semiconductor chip

Номер патента: US20180069147A1. Автор: Stefan Illek,Dominik Scholz,Norwin von Malm,Lutz Hoeppel,Alexander F. Pfeuffer,Isabel OTTO. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-03-08.

Manufacturing method of semiconductor element, semiconductor layer support structure, and semiconductor substrate

Номер патента: US20240145631A1. Автор: Takahito Suzuki,Kenichi Tanigawa,Yutaka Kitajima,Hiroto Kawada,Toru Kosaka,Yusuke Nakai,Shinya Jumonji,Genichirou MATSUO. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Method for synthesis of semiconductor quantum dots

Номер патента: RU2381304C1. Автор: Максим Сергеевич Вакштейн,Роман Владимирович Новичков,Екатерина Леонидовна Нодова,Алексей Олегович Маняшин,Ирина Ивановна Тараскина. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт прикладной акустики". Дата публикации: 2010-02-10.

Treatment of semiconductor surfaces and mixture used in process

Номер патента: RU2329298C2. Автор: Марк БЁРНЕР,Гернод КИЛИАН,Рудольф РАЙН,Луци АРНОЛЬД,Луция АРНОЛЬД,Михаэль ШУСТЕР,Александер ЛЕОПОЛЬД. Владелец: Басф Акциенгезельшафт. Дата публикации: 2008-07-20.

Device for chemical separation of semiconductor plates to crystals

Номер патента: RU2664882C1. Автор: Николай Алексеевич Дюжев,Евгений Эдуардович Гусев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники". Дата публикации: 2018-08-23.

Method of semiconductor device manufacturing

Номер патента: RU2626075C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Асламбек Идрисович Хасанов,Арслан Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет" (ФГБОУ ВО "Чеченский государственный университет"). Дата публикации: 2017-07-21.

Manufacturing method of semiconductor devices

Номер патента: US4143178A. Автор: Nobuhisa Kubota,Nozomu Harada. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1979-03-06.

Process for producing a large number of semiconductor chips from a semiconductor wafer

Номер патента: US20020016047A1. Автор: Toshiyuki Tateishi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-02-07.

Device over patterned buried porous layer of semiconductor material

Номер патента: US20240006524A1. Автор: Qizhi Liu,Mark D. Levy,Jeonghyun Hwang. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Method of forming wiring on a plurality of semiconductor devices from a single metal plate, and a semiconductor construction assembly formed by the method

Номер патента: US20100019383A1. Автор: Takeshi Wakabayashi,Ichiro Mihara. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-28.

Monolithic array of semiconductor devices, template wafer, method of manufacturing a template wafer, and method of manufacturing an array of semiconductor devices

Номер патента: WO2024062256A1. Автор: Tongtong ZHU. Владелец: Poro Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Monolithic Integration of Semiconductor Materials

Номер патента: US20180025911A1. Автор: Amey Mahadev Walke,Nadine Collaert,Rita Rooyackers. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2018-01-25.

Method for Producing a Plurality of Semiconductor Chips and Semiconductor Chip

Номер патента: US20170309481A1. Автор: Korbinian Perzlmaier,Juergen Off,Tobias Gotschke. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2017-10-26.

Filling material for three-dimensional mounting of semiconductor element

Номер патента: US20160237201A1. Автор: Hiroki Tanaka,Katsuhiro NAKAGUCHI. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2016-08-18.

A method for patterning layers of semiconductor devices

Номер патента: WO2002015231A2. Автор: Steffen Schneider,Virinder Grewal,Lars Paschedag,Ricky Mc Gowan. Владелец: Semiconductor 300 Gmbh & Co. Kg. Дата публикации: 2002-02-21.

Method of forming fine island patterns of semiconductor devices

Номер патента: US20190074182A1. Автор: Shing-Yih Shih,Chiang-Lin Shih. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2019-03-07.

Method for reducing the range in resistivities of semiconductor crystalline sheets grown in a multi-lane furnace

Номер патента: WO2012071341A2. Автор: Weidong Huang,Scott Reitsma,Christine Richardson,Brian D. Kernan,Gary J. Tarnowski. Владелец: EVERGREEN SOLAR, INC.. Дата публикации: 2012-05-31.

Epitaxy susceptor, epitaxy growth apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240191393A1. Автор: Gongbai Cao,Shuai Pan. Владелец: Zing Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US9558936B2. Автор: Hajime Nagano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Component of quartz glass for use in semiconductor manufacture and method for producing the same

Номер патента: EP2061726A2. Автор: Tatsuhiro Sato,Juergen Weber,Achim Hofmann,Ralf Schneider,Christian Gebauer. Владелец: Shin Etsu Quartz Products Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-27.

Component of quartz glass for use in semiconductor manufacture and method for producing the same

Номер патента: WO2008031742A2. Автор: Tatsuhiro Sato,Juergen Weber,Achim Hofmann,Ralf Schneider,Christian Gebauer. Владелец: SHIN-ETSU QUARTZ PRODUCTS CO., LTD.. Дата публикации: 2008-03-20.

Semiconductor manufacturing apparatus, method of manufacturing semiconductor device and method of film formation

Номер патента: US20230091037A1. Автор: Fumiki Aiso. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20230054378A1. Автор: Tetsuya Kurosawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20160284533A1. Автор: Hajime Nagano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-29.

Component of quartz glass for use in semiconductor manufacture and method for producing the same

Номер патента: EP2061726B1. Автор: Tatsuhiro Sato,Juergen Weber,Achim Hofmann,Ralf Schneider,Christian Gebauer. Владелец: Shin Etsu Quartz Products Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-10.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20160233135A1. Автор: Masao Ishikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-11.

Reaction tube, semiconductor manufacturing apparatus therewith, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20240271283A1. Автор: Jeonghyeon Lee,Sangyub IE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Capacitors of semiconductor device capable of operating in high frequency operation environment

Номер патента: US20230420487A1. Автор: Jaeho Lee,Jooho Lee,Younggeun Park,Boeun PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-12-28.

Semiconductor manufacturing system and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20160358762A1. Автор: Seiichi Omoto,Kazuaki Nakajima,Takayuki Beppu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-08.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09899278B2. Автор: Masao Ishikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Semiconductor manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US09892929B2. Автор: Yumi Tanaka. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Semiconductor manufacturing device and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09856562B2. Автор: Hajime Fujikura. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Epitaxial structure of semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US09748386B2. Автор: Chun-Jen Chen,Neng-Hui Yang,Yu-Shu Lin,I-Cheng Hu,Tien-I Wu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

Semiconductor manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US09741739B2. Автор: Shunsuke Hazue. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US09734993B2. Автор: Atsushi Kobayashi,Kazuyuki Miura,Akira Yasumuro. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Semiconductor manufacturing system and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09695512B2. Автор: Kazuhiro Matsuo,Fumiki Aiso. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US09633862B2. Автор: Atsushi Kubota,Takashi Ohashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Methods for temporary bussing of semiconductor package substrates

Номер патента: US09449890B1. Автор: Kurt Raymond Raab,Johnnie Quan,August Joseph Miller, Jr.,Jeffery Alan Miks. Владелец: Amkor Technology Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

PROCESS FOR MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICES COMPRISING CHEMICAL MECHANICAL POLISHING OF ELEMENTAL GERMANIUM AND/OR Si1-x Gex MATERIAL IN PRESENCE OF CMP (CHEMICAL MECHANICAL POLISHING) COMPOSITION COMPRISING A SPECIFIC ORGANIC COMPOUND

Номер патента: RU2605941C2. Автор: Бастиан Мартен НОЛЛЕР,Южуо ЛИ,Беттина ДРЕШЕР,Кристоф ЖИЛЛО. Владелец: БАСФ СЕ. Дата публикации: 2016-12-27.

Method for the production of semiconductor devices with an integral heatsink and of related semiconductor equipment

Номер патента: US3973320A. Автор: Giovanni Greco,Maurizio Tomassini. Владелец: Individual. Дата публикации: 1976-08-10.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20230290640A1. Автор: HUI Wang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-14.

Semiconductor structures in a wide gate pitch region of semiconductor devices

Номер патента: US20210111261A1. Автор: Haiting Wang,Judson Robert Holt,Jiehui SHU,Sipeng Gu. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2021-04-15.

Temporary adhesive for production of semiconductor device, and adhesive support and production method of semiconductor device using the same

Номер патента: US20150284603A1. Автор: Atsushi Nakamura,Kazuhiro Fujimaki,Ichiro Koyama,Yu Iwai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-10-08.

Selective removal of semiconductor fins

Номер патента: US20170178960A1. Автор: Kangguo Cheng,Ali Khakifirooz,Veeraraghavan S. Basker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-22.

Manufacturing method of semiconductor package including laser processing

Номер патента: US10529635B2. Автор: Kazuhiko Kitano,Minoru Kai,Hisakazu MARUTANI. Владелец: J Devices Corp. Дата публикации: 2020-01-07.

Method for singulating a group of semiconductor packages and comprising a plastic molded body

Номер патента: SG152166A1. Автор: Ralf Schmidt,Ludger Muellers. Владелец: BAASEL CARL LASERTECH. Дата публикации: 2009-05-29.

Methods for protecting gate stacks during fabrication of semiconductor devices and semiconductor devices fabricated from such methods

Номер патента: US20110121397A1. Автор: Rohit Pal,Frank Bin YANG,Michael Hargrove. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2011-05-26.

Configuration and fabrication of semiconductor structure using empty and filled wells

Номер патента: WO2010110893A8. Автор: Sandeep R. Bahl,Constantin Bulucea,Jeng-Jiun Yang,Prasad Chaparala,William D. French,Donald M. Archer,D. Courtney Parker. Владелец: National Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2011-08-11.

Configuration and fabrication of semiconductor structure using empty and filled wells

Номер патента: US20130126970A1. Автор: Sandeep Bahl,Constantin Bulucea,David Courtney Parker,William French,Jeng-Jiun Yang,Prasad Chaparala,Donald Archer. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2013-05-23.

Configuration and fabrication of semiconductor structure using empty and filled wells

Номер патента: WO2010110893A1. Автор: Sandeep R. Bahl,Jeng-Jiun Yang,Prasad Chaparala,William D. French,Donald M. Archer,D. Courtney Parker. Владелец: National Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2010-09-30.

Configuration and fabrication of semiconductor structure using empty and filled wells

Номер патента: EP2412027A1. Автор: Sandeep R. Bahl,Constantin Bulucea,Jeng-Jiun Yang,Prasad Chaparala,William D. French,Donald M. Archer,D. Courtney Parker. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2012-02-01.

Temporary adhesive for production of semiconductor device, and adhesive support and production method of semiconductor device using the same

Номер патента: US20160075922A1. Автор: Atsushi Nakamura,Kazuhiro Fujimaki,Ichiro Koyama,Yu Iwai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20240072112A1. Автор: Tonghui Wang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Semiconductor apparatus, power module, and manufacturing method of semiconductor apparatus

Номер патента: US11848298B2. Автор: Yoshinori Yokoyama,Yuji Sato,Yosuke Nakata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Manufacturing methods of semiconductor substrates

Номер патента: US20140357063A1. Автор: Chong-Ming Lee,Chung-Hua Lee. Владелец: Greencore Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-04.

Interlayer design for epitaxial growth of semiconductor layers

Номер патента: US20150187572A1. Автор: Erol Girt,Mariana Rodica Munteanu. Владелец: Zetta Research and Development LLC AQT Series . Дата публикации: 2015-07-02.

Method for reducing the range in resistivities of semiconductor crystalline sheets grown in a multi-lane furnace

Номер патента: EP2643847A2. Автор: Weidong Huang,Scott Reitsma,Christine Richardson,Brian D. Kernan,Gary J. Tarnowski. Владелец: Evergreen Solar Inc. Дата публикации: 2013-10-02.

Fabrication method of semiconductor device

Номер патента: US20070087521A1. Автор: Osamu Fujita. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2007-04-19.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20120225498A1. Автор: Kiyotaka Miyano,Tomonori Aoyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-09-06.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20070259507A1. Автор: Satoshi Matsuda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-11-08.

Capacitors of semiconductor device capable of operating in high frequency operation environment

Номер патента: US11791372B2. Автор: Jaeho Lee,Jooho Lee,Younggeun Park,Boeun PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-17.

Formation of semiconductor structures employing selective removal of fins

Номер патента: US09722024B1. Автор: Ruilong Xie,Min Gyu Sung,Catherine B. Labelle. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-08-01.

Laminar structure of semiconductor and manufacturing method thereof

Номер патента: US09620461B2. Автор: Wen-Ching Hsu,Chia-Wen KO,Chiou-Mei LUO. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Vertical integration scheme and circuit elements architecture for area scaling of semiconductor devices

Номер патента: US20230046755A1. Автор: Tahir Ghani,Patrick Morrow,Ranjith Kumar,Rishabh Mehandru,Stephen M. Cea,Cory E. Weber,Seiyon Kim. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-02-16.

Crystallization processing of semiconductor film regions on a substrate, and devices made therewith

Номер патента: CA2256699C. Автор: James S. Im. Владелец: Columbia University in the City of New York. Дата публикации: 2003-02-25.

Fabrication process of semiconductor package and semiconductor package

Номер патента: US5976912A. Автор: Fumio Inoue,Hiroshi Nomura,Naoki Fukutomi,Yoshiaki Tsubomatsu,Toshio Yamazaki,Shinsuke Hagiwara,Noriyuki Taguchi,Hirohito Ohhata. Владелец: Hitachi Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1999-11-02.

Production of semiconductor integrated-circuit devices

Номер патента: US3770520A. Автор: H Ikeda,Y Kabaya. Владелец: KYODO DENSHI GIJUTSU KENKYUSHO. Дата публикации: 1973-11-06.

Method of using process-parameter prognostic system for predicting shape of semiconductor structure

Номер патента: US20110320027A1. Автор: Yong-Jin Kim,Kye-Hyun Baek,Yoon-Jae Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-12-29.

Glass and melt solder for the passivation of semiconductor components

Номер патента: US11926565B2. Автор: Sabine Pichler-Wilhelm,Martin Letz,Linda Johanna Bartelt,Martun Hovhannisyan,Julia Gold,Antonio Trizzino. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2024-03-12.

Fabrication method of semiconductor device

Номер патента: US20090111221A1. Автор: Shiann-Tsong Tsai. Владелец: UTAC Taiwan Corp. Дата публикации: 2009-04-30.

Glass and melt solder for the passivation of semiconductor components

Номер патента: US20210284569A1. Автор: Sabine Pichler-Wilhelm,Martin Letz,Linda Johanna Bartelt,Martun Hovhannisyan,Julia Gold,Antonio Trizzino. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-09-16.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20230361187A1. Автор: Zhaohong LV. Владелец: Changxin Jidian Beijing Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Glass and melt solder for the passivation of semiconductor components

Номер патента: US20230219839A1. Автор: Sabine Pichler-Wilhelm,Martin Letz,Linda Johanna Bartelt,Martun Hovhannisyan,Julia Gold,Antonio Trizzino. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2023-07-13.

Production of semiconductor material and devices using oblique angle etched templates

Номер патента: EP2136390A3. Автор: Wang Nang Wang. Владелец: Nanogan Ltd. Дата публикации: 2010-12-29.

Method for forming metal wire of semiconductor device

Номер патента: US5780356A. Автор: Jeong Tae Kim. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-07-14.

Fabrication of semiconductor devices using phosphosilicate glasses

Номер патента: CA2014934C. Автор: Shobha Singh,George J. Zydzik,Debra Anne Fleming,David Wilfred Johnson, Jr.,Legrand G. Vanuitert. Владелец: American Telephone and Telegraph Co Inc. Дата публикации: 1993-05-25.

Cleaning solution of semiconductor substrate

Номер патента: US5302311A. Автор: Yasuo Sugihara,Kazushige Tanaka,Michiya Kawakami. Владелец: Mitsubishi Gas Chemical Co Inc. Дата публикации: 1994-04-12.

Mid-processing removal of semiconductor fins during fabrication of integrated circuit structures

Номер патента: WO2019055041A1. Автор: Anurag Jain,Szuya S. LIAO,Mehmet O. BAYKAN. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2019-03-21.

Mid-processing removal of semiconductor fins during fabrication of integrated circuit structures

Номер патента: US11887860B2. Автор: Anurag Jain,Szuya S. LIAO,Mehmet O. BAYKAN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-01-30.

Mid-processing removal of semiconductor fins during fabrication of integrated circuit structures

Номер патента: US20200227267A1. Автор: Anurag Jain,Szuya S. LIAO,Mehmet O. BAYKAN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-07-16.

Methods utilizing microwave radiation during formation of semiconductor constructions

Номер патента: US8283203B2. Автор: Ming Zhang,John Smythe,Bhaskar Srinivasan. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2012-10-09.

Methods Utilizing Microwave Radiation During Formation Of Semiconductor Constructions

Номер патента: US20110237042A1. Автор: Ming Zhang,John Smythe,Bhaskar Srinivasan. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2011-09-29.

Methods utilizing microwave radiation during formation of semiconductor constructions

Номер патента: US8455299B2. Автор: Ming Zhang,John Smythe,Bhaskar Srinivasan. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2013-06-04.

Devices and methods of vertical integrations of semiconductor chips, magnetic chips, and lead frames

Номер патента: US11973029B2. Автор: Jerry Zhijun Zhai. Владелец: Suzhou Qing Xin Fang Electronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Mid-processing removal of semiconductor fins during fabrication of integrated circuit structures

Номер патента: US20230343599A1. Автор: Anurag Jain,Szuya S. LIAO,Mehmet O. BAYKAN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Methods utilizing microwave radiation during formation of semiconductor constructions

Номер патента: EP2324490A2. Автор: Ming Zhang,John Smythe,Bhaskar Srinivasan. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2011-05-25.

Methods utilizing microwave radiation during formation of semiconductor constructions

Номер патента: WO2010030484A2. Автор: Ming Zhang,John Smythe,Bhaskar Srinivasan. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2010-03-18.

Devices and methods of vertical integrations of semiconductor chips, magnetic chips, and lead frames

Номер патента: US20200227349A1. Автор: Jerry Zhijun Zhai. Владелец: Suzhou Qing Xin Fang Electronics Tecnology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-16.

Devices and methods of vertical integrations of semiconductor chips, magnetic chips, and lead frames

Номер патента: US20220157715A1. Автор: Jerry Zhijun Zhai. Владелец: Suzhou Qing Xin Fang Electronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Methods for deposition of semiconductor material

Номер патента: EP1702355A1. Автор: Gurtej S. Sandhu,Cem Basceri,Eric R. Blomiley,Nirmal Ramaswamy. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2006-09-20.

Modified material deposition sequence for reduced detect densities in semiconductor manufacturing

Номер патента: US20010002278A1. Автор: Dennis C. Swartz,Jeff Watts,Lan Vu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-05-31.

Apparatus processing a gate portion in a semiconductor manufacturing apparatus, which remove a gate correspondence portion from a semiconductor package connected to a lead frame, and a resin burr deposited on a lead portion associated with the semiconductor package

Номер патента: US6528757B2. Автор: Takehiko Takahashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-03-04.

Porogen Bonded Gap Filling Material in Semiconductor Manufacturing

Номер патента: US20160379874A1. Автор: Ching-Yu Chang,Tien-I Bao,Hai-Ching Chen,Bo-Jiun Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-29.

Semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20210384067A1. Автор: Zhan Ying,Qiang Zhang,Yiming Zhu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-12-09.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20080166822A1. Автор: Kenji Yoneda,Masahiko Niwayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-10.

Method for monitoring the operational state of a surface inspection system for detecting defects on the surface of semiconductor wafers

Номер патента: US09835567B2. Автор: Frank Laube. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2017-12-05.

Apparatus and method for monitoring defects of a tape material on production lines

Номер патента: RU2757557C1. Автор: Сиддхартх ЛОХИА. Владелец: Лохиа Корп Лимитед. Дата публикации: 2021-10-18.

Ai-based system and method of detecting defect of material considering kind and distribution of real defect

Номер патента: US20240296611A1. Автор: Jin Ha Jeong,Hea Yun Lee,Hyun Ji Lee,Moon Soo Ra. Владелец: Lightvision Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Method for identifying and confirming detected defects of asynchronous electric motors

Номер патента: RU2657048C1. Автор: Игорь Григорьевич Ткаченко,Сергей Геннадьевич Шабля,Сергей Вячеславович Твардиевич,Александр Анатольевич Шатохин,Вадим Георгиевич Гераськин,Алексей Андреевич Кислун,Сергей Николаевич Шабров,Виталий Леонидович Кораблёв,Геннадий Николаевич Носач,Александр Владимирович Пучков,Виктор Михайлович Еланский. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Газпром Трансгаз Краснодар". Дата публикации: 2018-06-08.

Method of detecting defects of main pipelines by the method of acoustic tomography

Номер патента: RU2681424C1. Автор: Владимир Николаевич Якимов,Виталий Иванович Батищев,Сергей Васильевич Сусарев,Николай Геннадьевич Губанов. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный технический университет". Дата публикации: 2019-03-06.

Method and device for detecting defects in material distribution in transparent containers

Номер патента: RU2601256C2. Автор: Гийом БАТЛЕ,Марк ЛЕКОНТ. Владелец: Эм Эс Си Энд Эс Джи Си Си. Дата публикации: 2016-10-27.

Method and device for detecting defect of display panel

Номер патента: US09978296B2. Автор: Zhengxin ZHANG,Shuai Xu,Jingshan MA. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Detection of defects embedded in noise for inspection in semiconductor manufacturing

Номер патента: US09916653B2. Автор: Jason Z. Lin. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Equipment for detecting defects of pipelines

Номер патента: RU2655982C1. Автор: Сергей Алексеевич Егурцов,Юрий Владимирович Иванов,Юрий Анатольевич Горяев,Татьяна Владимировна Скрынник,Виктор Аркадьевич Середенок,Сергей Анатольевич Коколев. Владелец: Публичное акционерное общество "Газпром". Дата публикации: 2018-05-30.

Illumination device and method of detecting defects on surface of container mouth

Номер патента: RU2397477C2. Автор: Оливье КОЛЛЕ,Оливье КОЛЛЕ (FR). Владелец: Тиама. Дата публикации: 2010-08-20.

Apparatus, system and method for detecting defects of metallic lids

Номер патента: EP2496933A1. Автор: Massimo Balducci. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2012-09-12.

Apparatus and method for detecting defect of press panel

Номер патента: US09846144B2. Автор: Liu Zhenyi,Chan Woo Jeong,Seul Ki Rom Kim,Franklin BIEN,Jae Ryeon HWANG,ByungHun Kim,Hyon Gi YOO,Nguyen Ngoc Quang. Владелец: UNIST Academy Industry Research Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Method For Monitoring The Operational State Of A Surface Inspection System For Detecting Defects On The Surface Of Semiconductor Wafers

Номер патента: US20160041107A1. Автор: Frank Laube. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2016-02-11.

Anti-fuse circuit of semiconductor device and methods of testing internal circuit block thereof

Номер патента: US20130215696A1. Автор: Ahn Choi,Kyung-Rak Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-08-22.

Magnetic flaw detector for detecting defects in welds

Номер патента: RU2587695C1. Автор: Александр Александрович Краснов,Сергей Федорович Гурин,Вячеслав Викторович Орлов,Вадим Вячеславович Кузнецов. Владелец: Акционерное общество "Транснефть-Диаскан" (АО "Транснефть-Диаскан"). Дата публикации: 2016-06-20.

Device for detecting defects on the end surface of cylindrical products

Номер патента: RU2645436C1. Автор: Геннадий Викторович Фадеев,Андрей Евгеньевич Казикин,Юрий Геннадиевич Краснов,Илья Николаевич Дыбо,Сергей Валентинович Цветков. Владелец: Публичное акционерное общество "Машиностроительный завод". Дата публикации: 2018-02-21.

Method for detecting defects in a component, method for training a machine learning system, computer program product, computer-readable medium, and system for detecting defects in a component

Номер патента: US20230258574A1. Автор: Uwe Schulze,Frank Seidel,Marius BONHAGE,Lars Aschermann,Matthias LÜTKE,Philipp Döbber. Владелец: MTU Aero Engines AG. Дата публикации: 2023-08-17.

Apparatus and methods for detecting defects in vertical memory

Номер патента: US09612209B2. Автор: Steven R. Lange. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Method and apparatus for detecting defects in the surface of curved articles

Номер патента: US20240183791A1. Автор: Ulf JACOBSEN. Владелец: Nordischer Maschinenbau Rud Baader GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-06.

Systems and methods for detecting defects in ceramic filter bodies

Номер патента: EP2331943A1. Автор: Leon R. Zoeller Iii. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2011-06-15.

Method and device for detecting defects and method and device for observing defects

Номер патента: US09683946B2. Автор: TAKETO UENO,Hideki Nakayama,Toshifumi Honda,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Detecting defects on a wafer using defect-specific information

Номер патента: US09721337B2. Автор: Lisheng Gao,Kenong Wu,Meng-Che Wu. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Device for detecting defect in steel cord

Номер патента: US20240085375A1. Автор: Kai Zhang,Wuchang Qi,Mingfeng SUN,Xiaofeng Sun,Pengtong WANG,Rongxin SONG. Владелец: Weihai Hualing Opto Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Apparatus, system and method for detecting defects of metallic lids

Номер патента: US20120268733A1. Автор: Massimo Balducci. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-10-25.

Detecting defects in array regions on specimens

Номер патента: WO2024158589A1. Автор: Xiaochun Li,Siqing NIE,Weifeng ZHOU,Chunwei Song,Chaoqing Wang. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-08-02.

Method of detecting defects of pipeline and tie-ins into pipeline and device for its implementation

Номер патента: RU2742631C2. Автор: Василий Владимирович Попов,Лилия Халитовна Фаизова,Игорь Александрович Рыбин,Андрей Сергеевич Алёшин,Максим Валерьевич Алексеев. Владелец: Максим Валерьевич Алексеев. Дата публикации: 2021-02-09.

Apparatus for detecting defect of steel wire cord fabric

Номер патента: EP4279912A1. Автор: Kai Zhang,Wuchang Qi,Mingfeng SUN,Xiaofeng Sun,Pengtong WANG,Rongxin SONG. Владелец: Weihai Hualing Opto Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Method and system for detecting defects in an insulation panel

Номер патента: WO2020147061A1. Автор: Chunlei Zheng,Liqiang LI,Jianwu GAO,Huilin GAO. Владелец: Covestro Deutschland AG. Дата публикации: 2020-07-23.

Detecting defects in array regions on specimens

Номер патента: US20240255448A1. Автор: Xiaochun Li,Siqing NIE,Weifeng ZHOU,Chunwei Song,Chaoqing Wang. Владелец: Corporation Kla. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for optically detecting defects in specular webs

Номер патента: US3778631A. Автор: H Edwards,H Allinger. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1973-12-11.

Method of detecting defects in TFT-arrays and a TFT-array testing system incorporating the same

Номер патента: US20040232940A1. Автор: Kyo Chung. Владелец: Yieldboost Tech Inc. Дата публикации: 2004-11-25.

Method of detecting defects in an object based on active thermography and a system thereof

Номер патента: US09897561B2. Автор: Dmitry ISAKOV,Khee Aik Christopher Lee. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2018-02-20.

Method for detecting defects on wafers, system for detecting defects on wafers

Номер патента: US20240112323A1. Автор: Chin-Chun Huang,Kai Ping Huang,Wen Yi Tan,Qingrong CHEN,Yu Peng Hong. Владелец: United Semiconductor Xiamen Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

System for detecting defects on an object

Номер патента: RU2645443C2. Автор: Валерио ГЕРЕЗ,Вильям БЕНЗЕ. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2018-02-21.

Method of detecting defect location using multi-surface specular reflection

Номер патента: US09921169B2. Автор: Steven W. Meeks,Rusmin Kudinar,Ronny Soetarman,Hung P. Nguyen. Владелец: Zeta Instruments Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Method for detecting defects in a long-dimensional ferromagnetic object

Номер патента: RU2672978C1. Автор: Иван Васильевич Брякин,Игорь Викторович Бочкарев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кыргызско-Российский Славянский Университет (КРСУ). Дата публикации: 2018-11-21.

Method and apparatus for detecting defects or deterioration in the sidewalls of can bodies

Номер патента: AU2021265043A1. Автор: Daniel Egerton,Michael Halstead,Damien Andrew BAILEY. Владелец: CROWN PACKAGING TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2022-11-03.

Method and apparatus for detecting defects or deterioration in the sidewalls of can bodies

Номер патента: EP4142959A1. Автор: Daniel Egerton,Michael Halstead,Damien Andrew BAILEY. Владелец: CROWN PACKAGING TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-03-08.

Method and apparatus for detecting defects or deterioration in the sidewalls of can bodies

Номер патента: WO2021219431A1. Автор: Daniel Egerton,Michael Halstead,Damien Andrew BAILEY. Владелец: Crown Packaging Manufacturing Uk Limited. Дата публикации: 2021-11-04.

Device and method for detecting defects during sealing of a package comprising a foil

Номер патента: US09976842B2. Автор: Cédric Daniel Kathleen Philippe BRAVO. Владелец: QIPACK BVBA. Дата публикации: 2018-05-22.

Detecting defects on wafers based on 2D scatter plots of values determined for output generated using different optics modes

Номер патента: US09619876B2. Автор: Lisheng Gao,Junqing Huang. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Methods and apparatus for detecting defects in an object of interest

Номер патента: US09594061B2. Автор: John K. Hartman,Lee H Pearson. Владелец: Orbital ATK Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Method and device for detecting defects of turbine structural member

Номер патента: RU2360241C2. Автор: ЛАНКЕН ШУЛЬЦ Михель КЛОССЕН-ФОН,Михель ОФЕЙС. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2009-06-27.

Magnetic sensor array and apparatus for detecting defect using the magnetic sensor array

Номер патента: EP2084524A1. Автор: Ji-Seong Hwang,Jin-Yi Lee,Jong-Woo Jun. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chosun National University. Дата публикации: 2009-08-05.

Method of detecting defects in separation membrane element and apparatus for detecting defects in separation membrane element

Номер патента: US20210178332A1. Автор: Chong Kyu Shin,Hyungjoon JEON,Byoungsoo Lee,Ja Min HONG. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Method of detecting defects in separation membrane element and apparatus for detecting defects in separation membrane element

Номер патента: US11992810B2. Автор: Chong Kyu Shin,Hyungjoon JEON,Byoungsoo Lee,Ja Min HONG. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Apparatus, system and method for detecting defects of metallic lids

Номер патента: WO2011055397A4. Автор: Massimo Balducci. Владелец: Sacmi Cooperativa Meccanici Imola- Societa' Cooperativa. Дата публикации: 2011-06-30.

Method for detecting defects in product and computer device

Номер патента: US12045970B2. Автор: Wei-Chun Wang,Chin-Pin Kuo. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

An ultrasonic device for detecting defects or other irregularities in a test object

Номер патента: WO2005064326A1. Автор: Martin Bolander,Staffan Sandberg,Donald Coaster. Владелец: WESDYNE TRC AB. Дата публикации: 2005-07-14.

An ultrasonic device for detecting defects or other irregularities in a test object

Номер патента: EP1700111A1. Автор: Martin Bolander,Staffan Sandberg,Donald Coaster. Владелец: WESDYNE TRC AB. Дата публикации: 2006-09-13.

Method of detecting defects in rails

Номер патента: RU2668941C1. Автор: Анатолий Аркадиевич Марков. Владелец: Открытое акционерное общество "Радиоавионика". Дата публикации: 2018-10-05.

Apparatus and methods for detecting defects in vertical memory

Номер патента: WO2014081902A1. Автор: Steven R. Lange. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-30.

In-situ vacuum reaction system for dynamically detecting defects

Номер патента: US20230051210A1. Автор: Fan Dong,Ye HE,Qin REN,Jianping Sheng,Yanjuan SUN. Владелец: Yangtze River Delta Research Institute of UESTC Huzhou. Дата публикации: 2023-02-16.

System for detecting defects on an object

Номер патента: US09976967B2. Автор: Valerio Gerez,William Bense. Владелец: SNECMA SAS. Дата публикации: 2018-05-22.

Method and apparatus for detecting defects in a pattern

Номер патента: US4601577A. Автор: Etsuji Suzuki,Yukihiro Gotou. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1986-07-22.

Method and device for detecting defects of a strand-like product

Номер патента: US20240068939A1. Автор: Armin Holle,Kolja Tobias Schuh,Harold Sikora. Владелец: Sikora AG. Дата публикации: 2024-02-29.

Apparatus, system and method for detecting defects in building structures

Номер патента: CA2695270C. Автор: Gregory P. Jaman,Gamal K. Mustapha,Jason G. Teetaert,Ryan RAMCHANDAR,Alistair C. Burrows,Stephen Liao,Geoffrey Chen,Chris Buzunis. Владелец: SMT Research Ltd Canada. Дата публикации: 2018-02-27.

Method and system for detecting defects of wafer by wafer sort

Номер патента: US9869712B2. Автор: Kuang-Chao Chen,Tuung Luoh,I-Jen Huang,Ling-Wuu Yang,Ta-Hone Yang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Method of reviewing detected defects

Номер патента: US20060038986A1. Автор: Yuji Takagi,Toshifumi Honda,Hirohito Okuda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-02-23.

Device and method for detecting defects of high-voltage cable cross-bonded grounding system

Номер патента: US20240110997A1. Автор: Wei Zhang,Jie Chen,XIAO Tan,Jianjun Liu,Rong Sun,Qiang Huang,Jinggang Yang,Jingying Cao,Chenying Li,Libin HU. Владелец: Electric Power Research Institute of State Grid Jiangsu Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Method for detecting defect of metal plate

Номер патента: US10620163B2. Автор: SHEN Wang,Wei Zhao,Yu Zhang,Songling Huang,Xiaochun SONG,Gongtian SHEN,Junming LIN,Yihua KANG. Владелец: Eddysun Xiamen Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

Method and device for detecting defect of electrode assembly, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240094137A1. Автор: Xi Wang,Zhiyu Wang,Guannan JIANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Method and device for detecting defects in rail head

Номер патента: RU2400743C2. Автор: Питер БЕСТЕБРЁРТЬЕ. Владелец: Сонимекс Б.В.. Дата публикации: 2010-09-27.

Method and apparatus for detecting defective portion on inner surface ofpipe

Номер патента: CA1290421C. Автор: Koji Ishihara,Yuji Matoba,Toshio Koshihara,Kimio Takehara,Rokurou Misawa,Yuzo Sagawa. Владелец: NKK Corp. Дата публикации: 1991-10-08.

Method for detecting defects in measurement means of biochemical analysis apparatuses

Номер патента: US5151755A. Автор: Shunichi Seto. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1992-09-29.

Apparatus for detecting defects in patterns

Номер патента: US4209257A. Автор: Daikichi Awamura,Yasushi Uchiyama. Владелец: NIPPON JIDOSEIGYO Ltd. Дата публикации: 1980-06-24.

Detecting defects using focus compensation

Номер патента: WO2007061562A1. Автор: Lewis S. Damer,James M. Kopchinski. Владелец: EASTMAN KODAK COMPANY. Дата публикации: 2007-05-31.

Apparatus and method for detecting defect using deep learning-based surface inspection

Номер патента: US20240177297A1. Автор: Donghyun Kim,Jaemin Lee,Seungho Lee,Jongdeok KIM,Changhong LEE. Владелец: University Industry Cooperation Foundation of Pusan National University. Дата публикации: 2024-05-30.

Method for detecting defects which originate from chemical solution and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US7862965B2. Автор: Yuji Kobayashi,Hisako Aoyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-01-04.

Method for detecting defects which originate from chemical solution and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20080014535A1. Автор: Yuji Kobayashi,Hisako Aoyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-01-17.

Method of detecting defects in tft-arrays and a tft-array testing system incorporating the same

Номер патента: WO2006004625A1. Автор: Kyo Young Chung. Владелец: Yieldboost Tech, Inc.. Дата публикации: 2006-01-12.

An apparatus for detecting defects in an object and method thereof

Номер патента: MY202103A. Автор: Teow Wee TEO,Mahdavipour Zeinab. Владелец: Tt Vision Tech Sdn Bhd. Дата публикации: 2024-04-03.

Apparatus and method for detecting defects in a metallic surface

Номер патента: GB2492210A. Автор: Robert Northern. Владелец: Sarclad Ltd. Дата публикации: 2012-12-26.

Plant for processing products including a unit for detecting defective products

Номер патента: US11970298B2. Автор: Massimo Franzaroli. Владелец: Pulsar SRL. Дата публикации: 2024-04-30.

Method and apparatus for detecting defects

Номер патента: US20120194809A1. Автор: Hiroyuki Nakano,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata,Yuta Urano,Akira Hamamatsu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-08-02.

Assembly for detecting defects on a motor vehicle bodywork

Номер патента: US11965836B2. Автор: Gabriel TISSANDIER,Cédric BERNARD,Alexandre PERRET-MEYER. Владелец: Proov Station. Дата публикации: 2024-04-23.

Method of detecting defects in TFT-arrays and a TFT-array testing system incorporating the same

Номер патента: US7042244B2. Автор: Kyo Young Chung. Владелец: Yieldboost Tech Inc. Дата публикации: 2006-05-09.

High-productivity porous semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US09869031B2. Автор: Takao Yonehara,Mehrdad M. Moslehi,Somnath Nag,Karl-Josef Kramer,Subramanian Tamilmani,George D. Kamian. Владелец: Ob Realty LLC. Дата публикации: 2018-01-16.

Inspection system for detecting defects in regular patterns

Номер патента: US4349880A. Автор: Peter D. Southgate,John P. Beltz. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1982-09-14.

Apparatus and method for detecting defects and dust on a patterned surface

Номер патента: US4598997A. Автор: Heinrich Auderset,Edgar F. Steigmeier. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1986-07-08.

System and method for detecting defects in a light-management film

Номер патента: US7199386B2. Автор: Kevin George Harding,Kevin Patrick Capaldo,Robert Tait,Mark Cheverton. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2007-04-03.

Methods and apparatus for detecting defects in an object of interest

Номер патента: US20150226705A1. Автор: Lee H. Pearson,John K. Hartman. Владелец: Alliant Techsystems Inc. Дата публикации: 2015-08-13.

Method and apparatus for detecting defects or deterioration in the sidewalls of can bodies

Номер патента: US20230333058A1. Автор: Daniel Egerton,Michael Halstead,Damien Andrew BAILEY. Владелец: CROWN PACKAGING TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-10-19.

Method for detecting defects in a material and a system for accomplishing the same

Номер патента: US20020131631A1. Автор: Hui Ma,Catherine Vartuli,Erik Houge,Mike Antonell,Pam Cavanagh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-19.

Method and apparatus for detecting defects in freeform fabrication

Номер патента: WO2013098054A1. Автор: Ulric Ljungblad. Владелец: ARCAM AB. Дата публикации: 2013-07-04.

Device for detecting defects removed from fibrous material using optical inspection

Номер патента: US5598266A. Автор: Georges Cornuejols. Владелец: Centre de Cooperation Internationalel en Recherche Agronomique pour le Development CIRAD. Дата публикации: 1997-01-28.

Method and apparatus for detecting defects in freeform fabrication

Номер патента: EP2797730A1. Автор: Ulric Ljungblad. Владелец: ARCAM AB. Дата публикации: 2014-11-05.

Inspection system for detecting defects in regular patterns

Номер патента: US4292672A. Автор: Peter D. Southgate. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1981-09-29.

Test method of semiconductor device and semiconductor test apparatus

Номер патента: US20140133254A1. Автор: Zhiliang Xia,Sung Hee Lee,Chiho Kim,Nara KIM,Dae Sin KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-05-15.

Apparatus for scanning a flat surface to detect defects

Номер патента: US4812664A. Автор: Peter G. Borden. Владелец: HIGH YIELD Technology. Дата публикации: 1989-03-14.

X-ray phase imaging apparatus and method of detecting defect of material containing fibers

Номер патента: US20190025232A1. Автор: Satoshi Sano,Naoki Morimoto,Akira Horiba,Taro SHIRAI,Takahiro DOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-01-24.

System and method for controlling the temperature of an ultrasonic wheel which is used for detecting defects in a rail

Номер патента: WO2024057072A1. Автор: Karsten Dilz,Stefan Damm. Владелец: GOLDSCHMIDT HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-03-21.

Method and apparatus for detecting defects in the surface of curved articles

Номер патента: DK202330310A1. Автор: JACOBSEN Ulf. Владелец: Nordischer Maschinenbau. Дата публикации: 2023-12-07.

Apparatus for detecting defects, particularly in castings

Номер патента: US4829823A. Автор: Jacob Michel. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-05-16.

Apparatus for and method of detecting defects in a rail joint bar

Номер патента: CA2732971C. Автор: Jason M. Kahn,Jeff Wigh. Владелец: Herzog Services Inc. Дата публикации: 2016-01-26.

Apparatus for detecting defects by optical scanning

Номер патента: GB1327523A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1973-08-22.

Method of and apparatus for detecting defects

Номер патента: CA3020945C. Автор: Jeffrey B. Wigh,Richard L. Ebersold,Troy L. Elbert,Timothy J. Coolman. Владелец: Herzog Services Inc. Дата публикации: 2022-03-08.

Method of and apparatus for detecting defects

Номер патента: CA3020963C. Автор: Jeffrey B. Wigh,Richard L. Ebersold,Troy L. Elbert,Timothy J. Coolman. Владелец: Herzog Services Inc. Дата публикации: 2020-07-07.

Semiconductor manufacturing-and-inspection system, and semiconductor device

Номер патента: US20020067182A1. Автор: Osamu Hashimoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-06-06.

Method of measuring transient thermal characteristics of semiconductor products

Номер патента: RU2639989C2. Автор: Вячеслав Андреевич Сергеев,Ярослав Геннадьевич Тетенькин. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2017-12-25.

Method for fabricating stack structure of semiconductor packages

Номер патента: US8420521B2. Автор: Han-Ping Pu,Cheng-Hsu Hsiao,Ho-Yi Tsai,Fang-Lin Tsai. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-16.

Method for controlling parameter using a process of semiconductor production

Номер патента: WO2002082529A1. Автор: Man-Bong Lee. Владелец: Jiwoo Techniques Korea. Дата публикации: 2002-10-17.

Housing of semiconductor device from metal matrix composite and method of its manufacturing

Номер патента: RU2724289C1. Автор: Вадим Минхатович Миннебаев,Алексей Алексеевич Золотарев,Лариса Владимировна Чумакова. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Пульсар". Дата публикации: 2020-06-22.

High-productivity porous semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: MY165969A. Автор: Takao Yonehara,Mehrdad M Moslehi,George Kamian,Somnath Nag,Karl-Josef Kramer,Subbu Tamilmani. Владелец: Solexel Inc. Дата публикации: 2018-05-18.

Systems and methods for high precision optical characterization of carrier transport properties in semiconductor manufacturing

Номер патента: US11940488B2. Автор: II William W. Chism. Владелец: Xcalipr Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Semiconductor device having a plurality of semiconductor elements interconnected by a redistribution layer

Номер патента: US20020050639A1. Автор: Yoshitaka Aiba,Toshio Hamano,Mitsutaka Sato. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2002-05-02.

Method for fabricating stack structure of semiconductor packages

Номер патента: US20110070697A1. Автор: Han-Ping Pu,Cheng-Hsu Hsiao,Ho-Yi Tsai,Fang-Lin Tsai. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-24.

Manufacturing method and manufacturing apparatus of semiconductor device

Номер патента: US8445359B2. Автор: Shunpei Yamazaki,Koichiro Tanaka. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-21.

Method and apparatus for manufacturing a semiconductor device including a plurality of semiconductor chips connected with bumps

Номер патента: US20170069551A1. Автор: Hiroshi Watabe,Naoyuki Komuta,Shinya Fukayama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-09.

Method of wafer-scale integration of semiconductor devices and semiconductor device

Номер патента: US09608035B2. Автор: Franz Schrank,Cathal Cassidy,Joerg Siegert. Владелец: ams AG. Дата публикации: 2017-03-28.

Method for automated monitoring of thermal resistances of semiconductor devices

Номер патента: RU2698512C1. Автор: Леонид Алексеевич Потапов,Игорь Юрьевич Бутарев,Алексей Николаевич Школин. Владелец: ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "Брянский государственный технический университет". Дата публикации: 2019-08-28.

Cooling device for cooling of semiconductor crystal

Номер патента: RU2521785C2. Автор: Барт-Хендрик ХЕЙСМАН,Николя МИНЬО,Хендрик Й. ЭГГИНК,М. ЛАСАНСЕ Клеменс Й.. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2014-07-10.

Method of manufacture of semiconductor structure containing a p-n junction under porous silicon film for implementation of a photoelectric converter

Номер патента: RU2662254C1. Автор: Николай Николаевич Мельник,Вадим Викторович Трегулов. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный университет имени С.А. Есенина". Дата публикации: 2018-07-25.

Apparatuses and methods for coupling a plurality of semiconductor devices

Номер патента: US20240290752A1. Автор: Timothy M. Hollis,Matthew B. Leslie,Roy E. Greeff. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Multi terminal capacitor within input output path of semiconductor package interconnect

Номер патента: US20180053717A1. Автор: Charles L. Arvin,Jean Audet,Charles L. REYNOLDS,Brian R. Sundlof,Brian W. Quinlan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-02-22.

Multi terminal capacitor within input output path of semiconductor package interconnect

Номер патента: US09899313B2. Автор: Charles L. Arvin,Jean Audet,Charles L. REYNOLDS,Brian R. Sundlof,Brian W. Quinlan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Local thinning of semiconductor fins

Номер патента: US09431523B2. Автор: Kangguo Cheng,Carl J. Radens,Ramachandra Divakaruni. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Method of separating surface layer of semiconductor chip (versions)

Номер патента: RU2459691C2. Автор: Юрий Георгиевич Шретер,Юрий Тоомасович Ребане,Алексей Владимирович Миронов. Владелец: Алексей Владимирович Миронов. Дата публикации: 2012-08-27.

Network of semiconductor structures with fused insulator coating

Номер патента: US09722147B2. Автор: Juanita N. Kurtin,Weiwen Zhao,Benjamin Daniel Mangum,Kari N. Haley. Владелец: Pacific Light Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Method for wavelength compensation in semiconductor manufacturing

Номер патента: EP1142035A1. Автор: Eskil Bendz,Lennart Lundqvist. Владелец: Northlight Optronics AB. Дата публикации: 2001-10-10.

Fused quartz member for use in semiconductor manufacture

Номер патента: US4911896A. Автор: Peter P. Bihuniak,Gordon E. Dogunke,Robert D. Shelley. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1990-03-27.

Air management system and method for chemical containment and contamination reduction in a semiconductor manufacturing facility

Номер патента: WO2001064314A1. Автор: W. Karl Olander,Bruce Walker. Владелец: ADVANCED TECHNOLOGY MATERIALS, INC.. Дата публикации: 2001-09-07.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US12046630B2. Автор: Tao Liu,Jun Xia,Penghui Xu,Sen Li,Qiang Wan,Kangshu ZHAN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Method for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program product and ultrasound microscope

Номер патента: US20180113096A1. Автор: Helmut APPEL. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-04-26.

Configuration for testing a multiplicity of semiconductor chips

Номер патента: US20010005144A1. Автор: Dominique Savignac,Robert Feurle. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-28.

Stacked assembly of semiconductor packages with fastening lead-cut ends of leadframe

Номер патента: US20090127678A1. Автор: Wen-Jeng Fan. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2009-05-21.

Method of semiconductor device fabrication

Номер патента: WO1999025016A1. Автор: Paul A. Jerred. Владелец: Zetex PLC. Дата публикации: 1999-05-20.

Multi-stacked structures of semiconductor packages

Номер патента: US09564417B2. Автор: Jong-Yun Yun,Do-il Kong,Cheol Kwon,Sung-chul Hur,Jae-Bum Byun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-07.

Apparatus of measuring characteristics of semiconductor devices

Номер патента: US20070216435A1. Автор: Yasuhiko Iguchi. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-09-20.

Method for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program product and ultrasound microscope

Номер патента: US10677760B2. Автор: Helmut APPEL. Владелец: OSRAM OLED GmbH. Дата публикации: 2020-06-09.

Fabrication method of semiconductor device with capacitor

Номер патента: US20030100156A1. Автор: Kiyoshi Mori. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-05-29.

Fabrication method of semiconductor device with capacitor

Номер патента: US6624020B2. Автор: Kiyoshi Mori. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-09-23.

Composite material, process of its production, panel of semiconductor device emitting heat, semiconductor device ( variants ), dielectric panel and electrostatic absorbing facility

Номер патента: RU2198949C2. Автор: Казутака ОКАМОТО,Йасуо КОНДО,Теруйоси АБЕ,Йасухиса АОНО,Дзунйа КАНЕДА,Риуити САИТО,Йосихико КОИКЕ. Владелец: Хитачи, Лтд.. Дата публикации: 2003-02-20.

Predicting Failure Parameters of Semiconductor Devices Subjected to Stress Conditions

Номер патента: US20220065919A1. Автор: Moinuddin Ahmed,John N. Hryn,Christopher Stankus. Владелец: UChicago Argonne LLC. Дата публикации: 2022-03-03.

Measurement of lateral diffusion of implanted ions in doped well region of semiconductor devices

Номер патента: US20140011304A1. Автор: YIN Long,Kai Wang,Hunglin Chen,Qiliang Ni,Rongwei FAN. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2014-01-09.

On-wafer burn-in of semiconductor devices using thermal rollover

Номер патента: US20040119486A1. Автор: Charlie WANG,Hong Hou,Wenlin Luo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-24.

Package Structure of Semiconductor and Wafer-level Formation Thereof

Номер патента: US20060216859A1. Автор: Kuo-Pin Yang,Wei-Min Hsiao. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2006-09-28.

Visual identification of semiconductor dies

Номер патента: US20170243831A1. Автор: Stephanie Watts Butler,Venkataramanan Kalyanaraman,Kenneth Michael BUTLER,Kalyan Chakravarthy Cherukuri,Hubert Joseph Payne,Yazdi Dinshaw Contractor. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-08-24.

Manufacturing method of semiconductor package structure

Номер патента: US12080670B2. Автор: Che-Wei Hsu. Владелец: Phoenix Pioneer Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Visual identification of semiconductor dies

Номер патента: US09899332B2. Автор: Stephanie Watts Butler,Venkataramanan Kalyanaraman,Kenneth Michael BUTLER,Kalyan Chakravarthy Cherukuri,Hubert Joseph Payne,Yazdi Dinshaw Contractor. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

System and method for automating integration of semiconductor work in process updates

Номер патента: WO2005008741A2. Автор: Sabhapathi N. Annamaneni,Sarangkumar S. Bhavsar. Владелец: eSilicon Corporation. Дата публикации: 2005-01-27.

Method for local removal of semiconductor wires

Номер патента: US20220336694A1. Автор: Wei Sin Tan,Pierre Tchoulfian,Pamela Rueda Fonseca. Владелец: Aledia. Дата публикации: 2022-10-20.

Method for local removal of semiconductor wires

Номер патента: EP3987579A1. Автор: Wei Sin Tan,Pierre Tchoulfian,Pamela Rueda Fonseca. Владелец: Aledia. Дата публикации: 2022-04-27.

Methods for manufacturing a plurality of semiconductor structures and system in package

Номер патента: US20230262957A1. Автор: Lin Ma,Wenliang Chen. Владелец: AP Memory Technology Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Methods for manufacturing a plurality of semiconductor structures and system in package

Номер патента: US12048142B2. Автор: Lin Ma,Wenliang Chen. Владелец: AP Memory Technology Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Local patterning and metallization of semiconductor structures using a laser beam

Номер патента: US20240250201A1. Автор: Taeseok Kim,Pei Hsuan LU,Benjamin I. Hsia. Владелец: Maxeon Solar Pte Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Methods and systems for data driven parameterization and measurement of semiconductor structures

Номер патента: WO2023101917A3. Автор: Stilian Ivanov Pandev,Arvind Jayaraman,Proteek Chandan Roy,Hyowon Park,Sungchul Yoo,Antonio GELLINEAU. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2023-08-03.

Method of minimizing placement-related defects in the placement of semiconductor chips and other microelectronic components

Номер патента: WO2001050519A3. Автор: Peter Borgesen. Владелец: Universal Instruments Corp. Дата публикации: 2001-12-06.

Moving and programming multiple arrays of semiconductors

Номер патента: WO1994029085A1. Автор: Edwin W. Resler,Vincent L. Tong,W. Scott Bogden,Russel C. Swanson. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 1994-12-22.

Structure of semiconductor element and its manufacturing process

Номер патента: US20050121780A1. Автор: Tsukasa Yajima. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-09.

Aggregation of semiconductor devices and the method thereof

Номер патента: US09881907B2. Автор: Chun-Chang Chen,Hsu-Cheng Lin,Ching-Yi Chiu,Pei-Shan Fang. Владелец: Epistar Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Systems and methods for determining and adjusting a level of parallelism related to bonding of semiconductor elements

Номер патента: US09425163B2. Автор: Michael P. Schmidt-Lange,Matthew B. Wasserman,Christopher W. Braun. Владелец: Kulicke and Soffa Industries Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Technologies for plasma oxidation protection during hybrid bonding of semiconductor devices

Номер патента: US12125818B2. Автор: Jack Rogers,Satohiko Hoshino,Nathan Antonovich. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Array of semiconductor light-emitting elements and method of making said element

Номер патента: RU2469435C1. Автор: Кендзи ХИРУМА,Синдзиро ХАРА,Дзунити МОТОХИСА,Такаси ФУКУИ. Владелец: Нэшнл Юниверсити Корпорейшн Хоккайдо Юниверсити. Дата публикации: 2012-12-10.

Semiconductor inspection apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20060139042A1. Автор: Susumu Kasukabe. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2006-06-29.

Method for comparative evaluation of batches of semiconductor articles by reliability

Номер патента: RU2702962C1. Автор: Митрофан Иванович Горлов,Алексей Владимирович Арсентьев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2019-10-14.

Calibration of semiconductor gas sensors and device to this end

Номер патента: RU2523089C2. Автор: Юрий Михайлович Киселев,Андрей Владимирович Соколов,Евгений Сергеевич Харламочкин,Михаил Викторович Евстигнеев,Сергей Леонидович Попов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Дельта" (ОАО "НПП"Дельта"). Дата публикации: 2014-07-20.

Method for production of semiconductor instruments

Номер патента: RU2066079C1. Автор: В.Н. Царев,В.В. Морозов,В.Л. Сандеров,М.П. Еремеев. Владелец: Сандеров Вильям Лазаревич. Дата публикации: 1996-08-27.

Illumination apparatus having a plurality of semiconductor light-emitting devices

Номер патента: US20080055901A1. Автор: Akiko Saito,Masahiro Izumi,Tomohiro Sanpei,Shinji Nogi. Владелец: Toshiba Lighting and Technology Corp. Дата публикации: 2008-03-06.

Device and method for programming multiple arrays of semiconductor devices

Номер патента: US5466117A. Автор: Edwin W. Resler,Vincent L. Tong,Russell C. Swanson,W. Scott Bogden. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 1995-11-14.

A method and a device for monitoring the connections of semiconductors of a power module

Номер патента: EP3705900A1. Автор: Stefan Mollov,Jeffrey Ewanchuk,Julio BRANDELERO. Владелец: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe BV Netherlands. Дата публикации: 2020-09-09.

Connection system of semiconductor packages

Номер патента: US20200144243A1. Автор: Han Kim,Hyung Joon Kim,Yun Tae Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-05-07.

Connection system of semiconductor packages

Номер патента: US20190043847A1. Автор: Han Kim,Hyung Joon Kim,Yun Tae Lee. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Methods for scribing of semiconductor devices with improved sidewall passivation

Номер патента: WO2012057823A3. Автор: Marc Christophersen,Bernard F. Phlips,Vitaliy Fadeyev,Hartmut F.W. Sadrozinski. Владелец: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORNIA, SANTA CRUZ. Дата публикации: 2012-08-30.

Semiconductor light-emitting element, protective film of semiconductor light-emitting element, and method for fabricating same

Номер патента: US20130037850A1. Автор: Hisao Kawasaki,Toshihiko Nishimori,Hidetaka Kafuku. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2013-02-14.

Apparatuses and methods for coupling a plurality of semiconductor devices

Номер патента: US11984428B2. Автор: Timothy M. Hollis,Matthew B. Leslie,Roy E. Greeff. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-14.

Apparatuses and methods for coupling a plurality of semiconductor devices

Номер патента: US20210280557A1. Автор: Timothy M. Hollis,Matthew B. Leslie,Roy E. Greeff. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-09-09.

Method and apparatus for wafer level testing of semiconductor using sacrificial on die power and ground metalization

Номер патента: US20030042483A1. Автор: Kevin Devereaux. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-03-06.

Semiconductor manufacturing device and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20240272245A1. Автор: SHINJI Ueyama,Kenji Suzuki,Ken Ozawa. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Computer controlled curve tracer for extracting small and large signal parameters of semiconductor devices

Номер патента: US20030025520A1. Автор: Robert Fox,Steven Schein. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-02-06.

Solder clad lead frame for assembly of semiconductor devices and method

Номер патента: US20020066945A1. Автор: Chee Chew. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2002-06-06.

Systems, apparatus, and methods for monitoring plate temperature for semiconductor manufacturing

Номер патента: US20240337537A1. Автор: TAO Sheng,Ashur J. Atanos,Zhepeng Cong,NIMROD SMITH. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Systems, apparatus, and methods for monitoring plate temperature for semiconductor manufacturing

Номер патента: WO2024215376A1. Автор: TAO Sheng,Ashur J. Atanos,Zhepeng Cong,NIMROD SMITH. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-17.

Method of measuring thermal impedance of semiconductor diodes using amplitude-pulse modulation of the grapping capacity

Номер патента: RU2630191C1. Автор: Виталий Иванович Смирнов,Андрей Анатольевич Гавриков,Антон Михайлович Шорин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2017-09-05.

Method for determining the electrical resistivity of semiconductors using infrared optics

Номер патента: RU2750427C1. Автор: Иван Александрович Каплунов,Сергей Андреевич Третьяков,Александра Ивановна Иванова,Сергей Вячеславович Молчанов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный университет". Дата публикации: 2021-06-28.

Method and device of preventing delamination of semiconductor layers

Номер патента: US20100276788A1. Автор: Ajay Jain. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2010-11-04.

Electronic device having a stack of semiconductor chips and method for the production thereof

Номер патента: US6894381B2. Автор: Jochen Thomas,Wolfgang Hetzel,Anton Legen. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2005-05-17.

Connection system of semiconductor packages

Номер патента: US20190043835A1. Автор: Han Kim,Hyung Joon Kim,Yun Tae Lee. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Semiconductor device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20090072416A1. Автор: Tsutomu Sano. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-03-19.

Heat dissipation structure of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20200058573A1. Автор: Yi Pei,Chuanjia WU. Владелец: Dynax Semiconductor Inc. Дата публикации: 2020-02-20.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20220271032A1. Автор: Po-Yu YANG,Yu-Wen Hung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Manufacturing method and measurement method of semiconductor structure, and semiconductor structure

Номер патента: US20220352040A1. Автор: Fangfang Wang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-11-03.

Apparatus for measuring sheet resistivity of semiconductor materials and diffused layers

Номер патента: US3970923A. Автор: George Reed Clark,Kenneth Charles Winkleblack. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1976-07-20.

Structure of semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20070267697A1. Автор: Chen-Pang Kung,Huai-Yuan Tseng,Ming-Hsien Lee,Horng-Chih Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2007-11-22.

Structure of semiconductor device

Номер патента: US12148723B2. Автор: Ming-Tse Lin,Chien En Hsu,Zhirui Sheng,Hui-Ling Chen,Chung-hsing Kuo,Chun-Ting Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Copper base lead material for leads of semiconductor devices

Номер патента: US4750029A. Автор: Rensei Futatsuka,Tadao Sakakibara,Shunichi Chiba. Владелец: Mitsubishi Shindoh Co Ltd. Дата публикации: 1988-06-07.

Methods for the continuous deposition of semiconductor thin films

Номер патента: CA2105464A1. Автор: Cindy Xing Qiu,Ishiang Shih,Shaolin Shi. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-03-03.

Solder ribbon with embedded mesh for improved reliability of semiconductor die to substrate attachment

Номер патента: US20190030653A1. Автор: Craig Merritt,Seth Homer. Владелец: Indium Corp. Дата публикации: 2019-01-31.

Multi-Stacked Structures of Semiconductor Packages

Номер патента: US20160086917A1. Автор: Jong-Yun Yun,Cheol Kwon,Sung-chul Hur,Jae-Bum Byun,Do-II Kong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-03-24.

Manufacturing method of semiconductor structure and semiconductor structure

Номер патента: US20220352305A1. Автор: Tao Liu,Jun Xia,Penghui Xu,Sen Li,Qiang Wan,Kangshu ZHAN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-11-03.

Method for the treatment of semiconductor material

Номер патента: US5820688A. Автор: Friedrich Steudten,Franz Koppl,Matthäus Schantz. Владелец: Wacker Chemie AG. Дата публикации: 1998-10-13.

High accuracy inspection method and apparatus of semiconductor integrated circuits

Номер патента: US5512842A. Автор: Tomoyuki Kida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1996-04-30.

Plurality of semiconductor elements mounted on common base

Номер патента: US3820153A. Автор: F Quinn. Владелец: Zyrotron Ind Inc. Дата публикации: 1974-06-25.

Configuration and Fabrication of Semiconductor Structure in Which Source and Drain Extensions of Field-effect Transistor Are Defined with Different Dopants

Номер патента: US20120184077A1. Автор: Sandeep R. Bahl,Constantin Bulucea,William D. French. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-07-19.

Layout of semiconductor structure, semiconductor device and method of forming the same

Номер патента: US20190172831A1. Автор: Feng-Yi Chang,Yu-Cheng Tung,Fu-Che Lee. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-06.

Manufacturing method of semiconductor package structure

Номер патента: US20240006365A1. Автор: Che-Wei Hsu. Владелец: Phoenix Pioneer Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Configuration and fabrication of semiconductor structure in which source and drain extensions of field-effect transistor are defined with different dopants

Номер патента: EP2412013A1. Автор: Sandeep R. Bahl,Constantin Bulucea,William D. French. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2012-02-01.

Visual identification of semiconductor dies

Номер патента: US20180130754A1. Автор: Stephanie Watts Butler,Venkataramanan Kalyanaraman,Kenneth Michael BUTLER,Kalyan Chakravarthy Cherukuri,Hubert Joseph Payne,Yazdi Dinshaw Contractor. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-05-10.

On-wafer burn-in of semiconductor devices using thermal rollover

Номер патента: US20040002175A1. Автор: Charlie WANG,Hong Hou,Wenlin Luo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-01-01.

Semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20240234362A9. Автор: Cheolan KWON,Jingyu MOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Testing method for semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US20160202293A1. Автор: Yusuke Nakajima. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2016-07-14.

Testing method for semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US9733273B2. Автор: Yusuke Nakajima. Владелец: Renesas Semiconductor Package and Test Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Semiconductor-manufacturing apparatus member and plug

Номер патента: US12040160B2. Автор: Masaki Ishikawa,Yasuho AOKI. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20080248652A1. Автор: Keiichirou Takehara. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2008-10-09.

Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US11859286B2. Автор: Hiroshi Kubota,Yuya Matsubara. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Method for producing a multiplicity of semiconductor laser chips, and semiconductor laser chip

Номер патента: US20240364073A1. Автор: Norwin von Malm,Martin Rudolf Behringer. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-10-31.

Method for producing a plurality of semiconductor lasers and semiconductor laser

Номер патента: US20240047935A1. Автор: Sven GERHARD,Lars Nähle. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-02-08.

Apparatus and method for the treatment of semiconductor substrates

Номер патента: WO2009150226A2. Автор: Andreas Tikovsky. Владелец: INTEGA GmbH. Дата публикации: 2009-12-17.

Apparatus and method for the treatment of semiconductor substrates

Номер патента: WO2009150226A3. Автор: Andreas Tikovsky. Владелец: INTEGA GmbH. Дата публикации: 2010-02-04.

Method, system and apparatus for hybrid optical and electrical pumping of semiconductor lasers and leds for improved reliability at high temperatures

Номер патента: US20150333477A1. Автор: Duane Louderback. Владелец: Zephyr Photonics Inc. Дата публикации: 2015-11-19.

Charge storage device including mixture of semiconductor particles and insulator particles

Номер патента: US20170084925A1. Автор: Shigeo Yoshii,Haruhiko Habuta,Norihito Fujinoki. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-23.

Plasma-resistant glass, chamber interior parts for semiconductor manufacturing process, and methods for manufacturing same

Номер патента: US20240274410A1. Автор: Kyungmin Lee,Dae Gun Kim,Hye Won SEOK,Hye In Na,Mun Ki Lee. Владелец: Hansol Iones Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Method, system and apparatus for hybrid optical and electrical pumping of semiconductor lasers and LEDs for improved reliability at high temperatures

Номер патента: US09728936B2. Автор: Duane Louderback. Владелец: Zephyr Photonics Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Composite ceramic body, and component member for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20130299749A1. Автор: Mitsuyoshi Nagano,Kouta TSUTSUMI,Ryou MATSUO. Владелец: Nippon Tungsten Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-14.

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US12068138B2. Автор: Higenyi Ismail WAMUSANGO. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Method for producing a plurality of semiconductor lasers, and semiconductor laser

Номер патента: US20230420908A1. Автор: Sven GERHARD. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2023-12-28.

Semiconductor manufacturing apparatus and method for cleaning off deposit in chamber of same

Номер патента: US12051572B2. Автор: Wulin HUANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20170253973A1. Автор: Shinya Taguchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-09-07.

Member having plasma-resistance for semiconductor manufacturing apparatus and method for producing the same

Номер патента: US20060159946A1. Автор: Yuji Aso,Masakatsu Kiyohara,Hironori Hatono,Junichi Iwasawa,Naoya Terada. Владелец: TOTO LTD. Дата публикации: 2006-07-20.

Method and apparatus for determining defect detection sensitivity data, control method of defect detection apparatus, and method and apparatus for detecting defect of semiconductor devices

Номер патента: US20040151362A1. Автор: Akira Hamaguchi,Takamitsu Nagai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-05.

Semiconductor memory device detecting defect, and operating method thereof

Номер патента: US12100463B2. Автор: Sangwan Nam,KeeHo JUNG,Bongkil Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-24.

Non-volatile memory device for detecting defects of bit lines and word lines

Номер патента: EP4181143A3. Автор: Sangwan Nam,Junyoung Ko,Heewon Kim,Youse Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-07-26.

Non-volatile memory device for detecting defects of bit lines and word lines

Номер патента: US12131798B2. Автор: Sangwan Nam,Junyoung Ko,Heewon Kim,Youse Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-29.

Augmented reality visualization of detected defects

Номер патента: US20240282068A1. Автор: Waruna Seneviratne,John Tomblin,Tharaka Nandakumara. Владелец: Wichita State University. Дата публикации: 2024-08-22.

Device for detecting defects on forming surface of cylindrical products

Номер патента: RU2638179C1. Автор: Геннадий Викторович Фадеев,Андрей Евгеньевич Казикин,Ольга Юрьевна Корочкина,Наталия Юрьевна Лычагина,Юрий Геннадиевич Краснов. Владелец: Публичное акционерное общество "Машиностроительный завод". Дата публикации: 2017-12-12.

Defective cell repairing circuit and method of semiconductor memory device

Номер патента: US5657280A. Автор: Choong-Sun Shin,Yong-Sik Seok. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1997-08-12.

Display panel for display device and method for detecting defects of signal lines for display devices

Номер патента: US09583033B2. Автор: Du-Hwan Oh,Soon-Il YUN. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Detecting defects on specimens

Номер патента: WO2024186510A1. Автор: Xiaochun Li,Siqing NIE,Weifeng ZHOU,Sangbong Park,Chunwei Song. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-09-12.

Method for detecting defects in images, apparatus applying method, and non-transitory computer-readable storage medium applying method

Номер патента: US20220230291A1. Автор: Wei-Chun Wang,Chin-Pin Kuo. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Device and method for detecting defects in self-capacitive touch panel

Номер патента: US20180173335A1. Автор: Chao Wang,Qiang Gong. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-21.

System and method for detecting defects in an image

Номер патента: US20180225816A1. Автор: Douglas R. Taylor,Stuart Schweid. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2018-08-09.

Detecting defects on specimens

Номер патента: US20240296545A1. Автор: Xiaochun Li,Siqing NIE,Weifeng ZHOU,Sangbong Park,Chunwei Song. Владелец: Corporation Kla. Дата публикации: 2024-09-05.

Method for detecting defects during laser additive manufacturing, data processing device, computer program and storage medium for implementing the method

Номер патента: US20230390824A1. Автор: Andre Chandelle,Guillaume REDOULES. Владелец: ARIANEGROUP SAS. Дата публикации: 2023-12-07.

Method for detecting defects in multi-scale images and computing device utilizing method

Номер патента: US12039015B2. Автор: Shih-Chao Chien,Chin-Pin Kuo,Tung-Tso Tsai. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Detecting defects in wind turbine blades

Номер патента: WO2024160958A1. Автор: Younkoo Jeong,Vamshi Kommareddy,Prasad Thapa,Biswajit Medhi,Valerio CROVASCE,Nagithimmaiah KULLEGOWDANAPALYA LINGAPA. Владелец: LM WIND POWER A/S. Дата публикации: 2024-08-08.

Detecting defects in tubular structures

Номер патента: US12024993B2. Автор: Josselin Kherroubi,Jean-Luc Le Calvez,Thomas Berard,Mikhail Lemarenko,Ram Sunder Kalyanraman,Salma Benslimane,Kamaljeet Singh. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

System and method for detecting defects

Номер патента: US20230230226A1. Автор: Oh Hun Kwon,Ji Seong JEONG,Seung Eun YU,Hyuck Joon KWON,Chang Hun KO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-07-20.

Method of detecting defects in TFT-arrays and a TFT-array testing system incorporating the same

Номер патента: US20040150760A1. Автор: Kyo Chung. Владелец: Yieldboost Tech Inc. Дата публикации: 2004-08-05.

Detecting defects in tubular structures

Номер патента: AU2022400673A1. Автор: Josselin Kherroubi,Jean-Luc Le Calvez,Thomas Berard,Mikhail Lemarenko,Ram Sunder Kalyanraman,Salma Benslimane,Kamaljeet Singh. Владелец: Schlumberger Technology Bv. Дата публикации: 2024-06-13.

Method for detecting defect in products and electronic device using method

Номер патента: US12125193B2. Автор: Chin-Pin Kuo,Tung-Tso Tsai,Tzu-Chen Lin,I-Hua Chen. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Detecting defects in tubular structures

Номер патента: EP4441330A1. Автор: Josselin Kherroubi,Jean-Luc Le Calvez,Thomas Berard,Mikhail Lemarenko,Ram Sunder Kalyanraman,Salma Benslimane,Kamaljeet Singh. Владелец: Services Petroliers Schlumberger SA. Дата публикации: 2024-10-09.

Methods and systems of detecting defects of wafer

Номер патента: US20240061345A1. Автор: Sungwook Hwang,Kibum LEE,Taesoo SHIN,Seulgi OK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-22.

Semiconductor memory device detecting defect, and operating method thereof

Номер патента: US20230121078A1. Автор: Sangwan Nam,KeeHo JUNG,Bongkil Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-20.

Method for setting of semiconductor manufacturing parameter and computing device for executing the method

Номер патента: US20220277189A1. Автор: Hyun Chul Choi,Rock Hyun Baek,Jun Sik Yoon,Hyeok YUN. Владелец: POSTECH Research and Business Development Foundation. Дата публикации: 2022-09-01.

Method and device for detecting defect, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240202893A1. Автор: Hong Wang,Yaoping Wang,Meijuan ZHANG,Dong Chai,Wangqiang HE. Владелец: Beijing Zhongxiangying Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Method and system for detecting defective pixels and screen imperfections of a mobile device

Номер патента: US09805458B2. Автор: Sean PARSONS,John J. McGrath,Leo D. Parsons,Gerald J. Parsons,Nidhin Davis,Michael P. Parsons,Mohammad R. Paknejad,Andrew Sieben,Marc Aurel Kamsu Tennou. Владелец: Communications Test Design Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Systems and methods for detecting defects in medical devices

Номер патента: US20200405134A1. Автор: Salmaan Hameed,Stephen Budill,Michael S. Humason. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-12-31.

Method for detecting defects in a 3d printer

Номер патента: EP4016442A1. Автор: Hamid Jahangir. Владелец: Siemens Energy Global GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-06-22.

Method for detecting defect in image and device for detecting defect in image

Номер патента: US20240029423A1. Автор: Cheng-Feng Wang,Yen-Yi Lin,Li-Che Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus and method for detecting defect signals

Номер патента: US20050180282A1. Автор: Yi-Lin Lai,Shih-Lung Ouyang,Jay Hu. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2005-08-18.

Method for detecting defect of images and electronic device

Номер патента: US20230419653A1. Автор: Shih-Chao Chien,Chin-Pin Kuo. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Image reconstruction method for detecting defects of solar panels on warehouse ceiling

Номер патента: NL2035822A. Автор: Wang Pengfei,Deng Xiaochuan,Zou Zhenxing,Li Senchang. Владелец: Y2T Tech Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-29.

Method and system for communicating semiconductor manufacturing information to customers

Номер патента: US20050240454A1. Автор: Wendy Chang,Jung-Yi Tsai,Chui-Chung Chiu,Hui-Jye Hshieh,Tu Shao Chi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2005-10-27.

Methods and systems for detecting defects in a reticle design pattern

Номер патента: US8213704B2. Автор: Ingrid B. Peterson,Ed Yum. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2012-07-03.

Apparatus and method for detecting defective fuel rods

Номер патента: CA1091339A. Автор: William E. Lawrie,Robert E. Womack,Alfred A. Jester,Heiko F. Forch. Владелец: Babcock Brown Boveri Reaktor GmbH. Дата публикации: 1980-12-09.

Machine-learning framework for detecting defects or conditions of railcar systems

Номер патента: US20240070834A1. Автор: WEI Liu,Mahbod Amouie,Gongli Duan,Ilya A. Lavrik,Evan T. Gebhardt,Myles Grayson Akin,Tianchen Wang,Mayuresh Manoj Sardesai. Владелец: Norfolk Southern Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Systems and methods for detecting defects in powder manufactured components

Номер патента: US20240119579A1. Автор: Robert W. Grube,Dominic N. Nwoke,Scott H. Fife,Christopher H. Rees. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-04-11.

A method of detecting defects in a structure and a method of estimating repair material quantity requirements

Номер патента: GB2620478A. Автор: Alexander Coombs Rhys,Robert Cramman John,Cramman Mark. Владелец: Cc Informatics Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Method for detecting defects in a 3d printer

Номер патента: US20230419470A1. Автор: Hamid Jahangir. Владелец: Siemens Energy Global GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-12-28.

Method for detecting defects in a 3d printer

Номер патента: EP4226314A1. Автор: Hamid Jahangir. Владелец: Siemens Energy Global GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-08-16.

Method of semiconductor beta-voltaic cells manufacturing based on nickel-63 radionuclide

Номер патента: RU2715735C1. Автор: Сергей Михайлович Миронов,Владислав Яковлевич Панченко,Валерий Александрович Фирсов,Антон Валерьевич Лабозин,Алексей Борисович Дьячков,Михаил Алексеевич Поликарпов,Алексей Анатольевич Горкунов,Глеб Олегович Цветков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт". Дата публикации: 2020-03-03.

Test methods of semiconductor devices and semiconductor systems used therein

Номер патента: US20180068743A1. Автор: Sang Gu JO. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-03-08.

Semiconductor memory, test method of semiconductor memory and system

Номер патента: US20090040850A1. Автор: Kaoru Mori,Toshikazu Nakamura,Jun Ohno,Masaki Okuda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-02-12.

Management system and management method of semiconductor exposure apparatuses

Номер патента: US6801825B2. Автор: Norihiko Utsunomiya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2004-10-05.

Method and apparatus for parallel processing of semiconductor chip designs

Номер патента: US20090217227A1. Автор: Ruchir Puri,Louise H. Trevillyan,Michael W. Dotson,Anthony DeGroff Drumm,Dazhuang J. Ma. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-08-27.

Methods and apparatus for automated design of semiconductor photonic devices

Номер патента: US20160171149A1. Автор: Luca Alloatti. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-06-16.

Method and apparatus for parallel processing of semiconductor chip designs

Номер патента: US8020134B2. Автор: Ruchir Puri,Louise H. Trevillyan,Michael W. Dotson,Anthony DeGroff Drumm,Dazhuang J. Ma. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-09-13.

Method implemented in a computer for the numerical simulation of semiconductor devices containing tunnel junctions

Номер патента: US20130275095A1. Автор: Mathieu Baudrit,Carlos Algora Del Valle,Ignacio Rey-Stolle Prado,Ivan Garcia Vara,Pilar Esplnet Gonzalez. Владелец: UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID. Дата публикации: 2013-10-17.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US20220107694A1. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US11599206B2. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-03-07.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US20210096664A1. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Design method of semiconductor integrated circuit device, a program, and the support method of measurement evaluation

Номер патента: US20070079263A1. Автор: Yasuyoshi Noguchi,Kei Mohara. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2007-04-05.

Light transmission device and method for semiconductor manufacturing process

Номер патента: US09891529B2. Автор: Yan-Ping LI. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US20200064935A1. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US20180164907A1. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-06-14.

Converter and conversion method for converting click position of display into light pen simulated signal for semiconductor manufacturing machine

Номер патента: US10866653B2. Автор: Ming-Sze CHEN,Chin-Shen HSIEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-15.

Method for manufacturing photomask and semiconductor manufacturing method thereof

Номер патента: US20190354006A1. Автор: Chi-Ming Tsai,Chi-Ta Lu,Wei-Chung HU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-11-21.

Method and apparatus for automated validation of semiconductor process recipes

Номер патента: WO2012030930A2. Автор: Charles Hardy,Roger Alan Lindley. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2012-03-08.

Method of predicting characteristics of semiconductor device and computing device performing the same

Номер патента: US20230053696A1. Автор: Seyoung Park,Jonghyun Lee,Sola Woo,Gwangnae GIL. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-02-23.

Method for estimating the early failure rate of semiconductor devices

Номер патента: US20060107094A1. Автор: Thomas Anderson,John Carulli. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-05-18.

Method for planning a semiconductor manufacturing process based on users' demands using a fuzzy system and a genetic algorithm model

Номер патента: US8170964B2. Автор: TSUNG-WEI Lin,Yi Feng Lee,Chun Chi Chen,Yun-Zong Tian,Wei Jun Chen. Владелец: Inotera Memories Inc. Дата публикации: 2012-05-01.

Method and system for characterizing integrated circuit design in target semiconductor manufacturing process

Номер патента: WO2014053191A1. Автор: Petr Dobrovolny,Phillip Christie. Владелец: IMEC. Дата публикации: 2014-04-10.

Methods, apparatus, and articles of manufacture to group design stages in design space optimization of semiconductor design for tool agnostic design flows

Номер патента: US20240330559A1. Автор: Narendra Nimmagadda,Raghavendra Vasappanavara,Srinivasa R Stg,Fadi Aboud. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Method of designing patterns of semiconductor devices in consideration of pattern density

Номер патента: US09557637B2. Автор: Suk-joo Lee,Joong-Won JEON,Ji-Youn SONG,Mun-Su SHIN,Seong-Yul PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-31.

System and method for discovering unknown problematic patterns in chip design layout for semiconductor manufacturing

Номер патента: US09547745B1. Автор: Shauh-Teh Juang,Jason Zse-Cherng Lin. Владелец: DMO Systems Ltd Taiwan. Дата публикации: 2017-01-17.

Projection exposure apparatus for microlithography for the production of semiconductor components

Номер патента: US09513562B2. Автор: Armin Schoeppach,Juergen Huber,Juergen Fischer,Norbert Muehlberger,Armin Werber,Matthias Orth,Thorsten Rassel. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2016-12-06.

Method and apparatus for full-chip thermal analysis of semiconductor chip designs

Номер патента: US7194711B2. Автор: Rajit Chandra. Владелец: Gradient Design Automation Inc. Дата публикации: 2007-03-20.

Methods and apparatus for automated design of semiconductor photonic devices

Номер патента: US20190311086A1. Автор: Luca Alloatti. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2019-10-10.

Storage cover of spent heat-manufacturing assemblies from vver-1000 type reactors

Номер патента: RU2679007C1. Автор: Данил Игоревич Бендасов,Андрей Александрович Чермных,Николай Сергеевич Родыгин,Лев Ливерьевич Белинский,Егор Вячеславович Пипков,Алексей Александрович Сыросев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Производственное объединение "Маяк". Дата публикации: 2019-02-05.

Method for performing double clustering to evaluate placement of semiconductor devices

Номер патента: US12008297B1. Автор: Seungju KIM,Wooshik MYUNG,Jiyoon LIM,Wonjun Yoo. Владелец: MakinaRocks Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Methods and systems for detecting defects in serial link transceivers

Номер патента: US7706472B2. Автор: Pieter Vorenkamp. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2010-04-27.

Methods and systems for detecting defects in serial link transceivers

Номер патента: US20090074110A1. Автор: Pieter Vorenkamp. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2009-03-19.

Method for non-destructive diagnostics of defects of a plated hole of a printed-circuit board

Номер патента: RU2761863C1. Автор: Вячеслав Андреевич Сергеев,Азат Маратович Низаметдинов,Максим Юрьевич Сальников. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. Дата публикации: 2021-12-13.

Method for detecting defective printing nozzles in an inkjet printing machine

Номер патента: US20190248153A1. Автор: Martin Mayer,Steffen Neeb,Andreas Henn,Jan Krieger,Roland Stenzel,Hans Koehler,Johannes Muehl,Frank Muth,Nicklar Raymond Norrick,Mina Abosetta. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2019-08-15.

Systems and methods for detecting defective camera arrays and optic arrays

Номер патента: US10334241B2. Автор: Kartik Venkataraman,Jacques Duparre,Dan Lelescu,Andrew Kenneth John MCMAHON,Gabriel Molina. Владелец: Fotonation Ireland Ltd. Дата публикации: 2019-06-25.

Driving apparatus of semiconductor manufacturing equipment and driving method of semiconductor manufacturing equipment

Номер патента: US12143051B2. Автор: Junbeom LEE. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Method and system for operating a discharge lamp such as to detect defective operation of the lamp

Номер патента: US20090134878A1. Автор: Jozef Petrus Emanuel De Krijger,Engbert Bernard Gerard Nijhof,Marcel Johannes Maria Bucks,Jozef Alma Lodewijk Mari Ghijselen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2009-05-28.

Method of detecting defects in image sensor, tester for the method, and control signal generator for the method

Номер патента: US20100097477A1. Автор: Kwang-Hee Lee,Ji-Hoon Jung,Jun-taek Lee,Byung-hyun Yim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-04-22.

Electronic circuit for the switching-off of semiconductor switches in the event of critical currents

Номер патента: US20240297498A1. Автор: Stefan Hofinger,Stefan Hagenauer. Владелец: Lisa Draexlmaier GmbH. Дата публикации: 2024-09-05.

Semiconductor manufacturing apparatus, gas supplying method using the same, and semiconductor manufacturing method using the same

Номер патента: US20240124979A1. Автор: Suji Gim,Hanhim Kang,Chan Kyu LIM,Yoonbon Koo,Jongkoo Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-18.

Circuit arrangement for controlling a plurality of semiconductor switches connected in parallel

Номер патента: US12113518B2. Автор: Calin Purcarea,Tobias Richter,Daniel Schweiker,Tim Bruckhaus,Matthias Boesing. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-10-08.

Method for installation of wire conductors on bonding pads of semiconductor apparatuses

Номер патента: RU2751605C1. Автор: Александр Владимирович Подувальцев,Вячеслав Геннадьевич Сизов,Алексей Александрович Подувальцев. Владелец: Алексей Александрович Подувальцев. Дата публикации: 2021-07-15.

Method and device for reducing voltage loads of semiconductor components of an inverter

Номер патента: US20230231400A1. Автор: Stephan SCHWAIGER,Marco Graf,Sebastian Strache,Karl Oberdieck,Hadiuzzaman Syed,Manuel Horvath. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2023-07-20.

Method and device for reducing voltage loads of semiconductor components of an inverter

Номер патента: US12027901B2. Автор: Stephan SCHWAIGER,Marco Graf,Sebastian Strache,Karl Oberdieck,Hadiuzzaman Syed,Manuel Horvath. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-07-02.

Control of semiconductor devices

Номер патента: US11831311B2. Автор: John Paul Lesso,John Laurence Pennock. Владелец: Cirrus Logic Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Control of semiconductor devices

Номер патента: WO2021014146A1. Автор: John Paul Lesso,John Laurence Pennock. Владелец: Cirrus Logic International Semiconductor Limited. Дата публикации: 2021-01-28.

Control of semiconductor devices

Номер патента: US20220085814A1. Автор: John Paul Lesso,John Laurence Pennock. Владелец: Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2022-03-17.

Technique for high-resolution surface energy assisted patterning of semiconductor layer of electronic device

Номер патента: WO2005112146A1. Автор: Henning Sirringhaus,Timothy Allan Von Werne,Catherine Mary Ramsdale. Владелец: PLASTIC LOGIC LIMITED. Дата публикации: 2005-11-24.

Alternating voltage amplifier circuit having a plurality of semiconductor amplifier elements operated in a grounded gate or grounded base configuration

Номер патента: US4342968A. Автор: Gerhard Ritter. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1982-08-03.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20230380147A1. Автор: Shuai Guo. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Control of semiconductor devices

Номер патента: GB2600049A. Автор: Laurence Pennock John,Paul Lesso John. Владелец: Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2022-04-20.

Communication monitoring method and apparatus of semiconductor devices

Номер патента: US20050265242A1. Автор: Hsuan-Hsuan Wu,Tsang-Nan Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-01.

Screening method of detecting defective states at schizophrenia

Номер патента: RU2648342C1. Автор: Александр Иванович Краюшкин,Назим Яшарович Оруджев,Елизавета Анатольевна Ванюшина,Артем Владимирович Кожанов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Волгоградский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации ФГБОУ ВО ВолгГМУ МЗ РФ. Дата публикации: 2018-03-23.

A jam detecting device, a method for detecting defective packages in a filling machine, a folding unit for producing packages of pourable food products in a filling machine, and a filling machine

Номер патента: US20190152639A1. Автор: Vartan Vartanians. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2019-05-23.

The use of artificial intelligence to detect defects in trains and method to use

Номер патента: WO2024196402A1. Автор: Dan Smythe,Jeffrey Neccial. Владелец: Dan Smythe. Дата публикации: 2024-09-26.

Device and method for detecting defect in cardboard sheet, and cardboard box manufacturing machine

Номер патента: EP4364935A1. Автор: Shuichi Takemoto,Mitsuhiro Nadachi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Method for detecting defects in the needles of an automatic knitting machine, and corresponding system and computer program

Номер патента: WO2024141563A1. Автор: Francisco Javier PLANTÀ TORRALBA,Arcadi Castanyer Caballe,José Maria Dalmau Terradas,Alberto Dangla Viñas,Víctor Llamas Martínez,Josep Maria Serres Serres,Carlos Pérez Sáez. Владелец: Canmartex Catgrup, S.L.. Дата публикации: 2024-07-04.

Method for detecting defects in the needles of an automatic knitting machine, and corresponding system and computer program

Номер патента: EP4394100A1. Автор: Francisco Javier PLANTÀ TORRALBA,Arcadi Castanyer Caballe,José Maria Dalmau Terradas,Alberto Dangla Viñas,Víctor Llamas Martínez,Josep Maria Serres Serres,Carlos Pérez Sáez. Владелец: Canmartex Catgrup SL. Дата публикации: 2024-07-03.

Method for detecting defects in the sinkers of an automatic knitting machine, and corresponding system and computer program

Номер патента: EP4414490A1. Автор: Francisco Javier PLANTÀ TORRALBA,Arcadi Castanyer Caballe,Víctor Llamas Martínez,Josep Maria Serres Serres,Enric Marti Casas,Jorge Gallofre Piquer. Владелец: Canmartex Catgrup SL. Дата публикации: 2024-08-14.

Cleaning method of semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20070074738A1. Автор: Takayuki Furusawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-04-05.

Method for detecting defects in the sinkers of an automatic knitting machine, and corresponding system and computer program

Номер патента: WO2024170507A1. Автор: Francisco Javier PLANTÀ TORRALBA,Arcadi Castanyer Caballe,Víctor Llamas Martínez,Josep Maria Serres Serres,Enric Marti Casas,Jorge Gallofre Piquer. Владелец: Canmartex Catgrup, S.L.. Дата публикации: 2024-08-22.

System and method for automatically detecting defective thermal printhead elements

Номер патента: CA1241567A. Автор: Ralf M. Brooks,Brian P. Connell,Arvindkumar C. Vyas. Владелец: NCR Canada Ltd. Дата публикации: 1988-09-06.

Method and apparatus for detecting defects in oilfield tubulars

Номер патента: WO2009074884A3. Автор: Dietmar J. Neidhardt. Владелец: Neidhardt Dietmar J. Дата публикации: 2009-11-26.

Use of artificial intelligence to detect defects in trains and method to use

Номер патента: US11891098B1. Автор: Dan Smythe,Jeffrey Neccial. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-06.

Vision system and software detecting defects in real-time during additive manufacturing.

Номер патента: GB2623964A. Автор: Achouri Anas. Владелец: Donaa Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Device for detecting defective sieves in milling processes

Номер патента: EP2027938A2. Автор: Jose Luis Lopez Barreiro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-02-25.

Highly reflective metallic alloys for components of semiconductor processing equipment, and related methods

Номер патента: US20240295048A1. Автор: Tetsuya Ishikawa,Ala Moradian,Shawn Thanhson Le,Amir H. Tavakoli. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Apparatus and method for detecting defects in an article

Номер патента: US5165551A. Автор: Robert J. Frost. Владелец: Automation Assoc Inc. Дата публикации: 1992-11-24.

Method and apparatus for detecting defects in oilfield tubulars

Номер патента: WO2009074884A2. Автор: Dietmar J. Neidhardt. Владелец: Neidhardt Dietmar J. Дата публикации: 2009-06-18.

Method and device for detecting defects during sealing of a package comprising a film

Номер патента: WO2023175497A1. Автор: Alex De Bruyn,Denis Vanderstraeten,Peter Nijs,Olivier Georis. Владелец: Engilico Engineering Solutions Nv. Дата публикации: 2023-09-21.

Cleaning of semiconductor process equipment chamber parts using organic solvents

Номер патента: US20020066466A1. Автор: Samantha Tan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-06.

Byproduct collecting apparatus of semiconductor apparatus

Номер патента: EP2013897A1. Автор: Tae-Woo Kim,Che-Hoo Cho,Jung-Eui Hong,In-Mun Hwang. Владелец: Milaebo Co Ltd. Дата публикации: 2009-01-14.

Method of semiconductor phototransformer manufacturing

Номер патента: RU2349002C1. Автор: Владимир Иванович Поляков,Виталий Викторович Заддэ,Дмитрий Семенович Стребков,ков Владимир Иванович Пол. Владелец: Российская Академия Сельскохозяйственных наук Государственное научное учреждение Всероссийский научно-исследовательский институт электрификации сельского хозяйства (ГНУ ВИЭСХ). Дата публикации: 2009-03-10.

Method to produce epitaxial filiform nanocrystals of semiconductors of permanent diameter

Номер патента: RU2456230C2. Автор: Валерий Александрович Небольсин,Александр Игоревич Дунаев,Максим Алексеевич Завалишин,Герман Александрович Сладких,Александр Федорович Татаренков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2012-07-20.

Console device for horizontal contactless driving of semiconductor plates in diffusion furnace

Номер патента: RU2684335C2. Автор: Геннадий Васильевич Перов. Владелец: Акционерное Общество "Новосибирский Завод Полупроводниковых Приборов С Окб" (Ао "Нзпп С Окб"). Дата публикации: 2019-04-08.

Ignition system in combustion chamber of gas turbine engine, comprising spark plug of semiconductor type, combustion chamber, comprising such spark plug and gas turbine engine

Номер патента: RU2501963C2. Автор: Дени Жан Морис САНДЕЛИ. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2013-12-20.

Method for fabrication of semiconductor photoelectric generator

Номер патента: RU2265915C1. Автор: Д.С. Стребков,В.В. Заддэ,О.В. Шеповалова. Владелец: Государственное научное учреждение Всероссийский научно-исследовательский институт электрификации сельского хозяйства (ГНУ ВИЭСХ). Дата публикации: 2005-12-10.

Dioxaborines as organic n-semiconductors, process for the production of semiconductors utilizing dioxaborines, and semiconductor component, field effect transistor, and diode having a dioxaborine

Номер патента: US20030234396A1. Автор: Günter Schmid,Lisa Davis,Marcus Halik. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-25.

Method for independent control of sizes of semiconductor quantum dots a3b5

Номер патента: RU2766832C1. Автор: Максим Сергеевич Солодовник,Наталия Евгеньевна Черненко,Сергей Вячеславович Балакирев,Михаил Михайлович Еременко. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южный федеральный университет". Дата публикации: 2022-03-16.

Photosensibile on the basis of semiconductor quantum points and chlorine e6

Номер патента: RU2629390C2. Автор: Александр Васильевич Баранов,Юлия Александровна Громова,Владимир Григорьевич Маслов,Анна Олеговна Орлова,Анатолий Валентинович Фёдоров,Юрий Кузьмич Гунько,Анастасия Константиновна Вишератина. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики" (Университет ИТМО). Дата публикации: 2017-08-29.

Temporary mechanical stabilization of semiconductor cavities

Номер патента: US20180086632A1. Автор: Joachim Mahler,Alfred Sigl,Daniel Porwol,Dominic Maier. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-03-29.

Temporary mechanical stabilization of semiconductor cavities

Номер патента: US09988262B2. Автор: Joachim Mahler,Alfred Sigl,Daniel Porwol,Dominic Maier. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-06-05.

Apparatus and process for producing a crystal of semiconductor material

Номер патента: US09828693B2. Автор: Georg Brenninger,Georg Raming. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2017-11-28.

Effluent gas stream treatment system having utility for oxidation treatment of semiconductor manufacturing effluent gases

Номер патента: US6322756B1. Автор: Jose I. Arno,Mark Holst,Kent Carpenter,Scott Lane. Владелец: Advanced Technology Materials Inc. Дата публикации: 2001-11-27.

Effluent gas stream treatment system having utility for oxidation treatment of semiconductor manufacturing effluent gases

Номер патента: US5955037A. Автор: Mark Holst,Kent Carpenter,Scott Lane,Prakash V. Arya. Владелец: ATMI Ecosys Corp. Дата публикации: 1999-09-21.

Apparatus and process for the abatement of semiconductor manufacturing effluents containing fluorine gas

Номер патента: WO2001078873A1. Автор: Jose I. Arno. Владелец: ADVANCED TECHNOLOGY MATERIALS, INC.. Дата публикации: 2001-10-25.

Method and apparatus for producing single crystals composed of semiconductor material

Номер патента: US09422636B2. Автор: Joerg Fischer,Helge Riemann,Matthias Renner,Nikolai V. Abrosimov. Владелец: Forschungsverbund Berlin FVB eV. Дата публикации: 2016-08-23.

A distributed algae manufacturing assembly

Номер патента: WO2023010153A1. Автор: Rohan Gillespie. Владелец: SOUTHERN GREEN GAS LIMITED. Дата публикации: 2023-02-09.

Aluminum member for semiconductor manufacturing apparatuses, and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240287700A1. Автор: Junji Nunomura. Владелец: UACJ Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Manufacturing assembly and method of locating a face insert in a golf club head

Номер патента: US09415281B2. Автор: Robert Maple,Alan C. Bettencourt. Владелец: Callaway Golf Co. Дата публикации: 2016-08-16.

Method of manufacturing assembly profile for bearing designs

Номер патента: RU2677733C2. Автор: Тагир Альмирович Зиннуров. Владелец: Тагир Альмирович Зиннуров. Дата публикации: 2019-01-21.

Self-adjusting system, snow-removal vehicle including such a system, kit for assembling the same, and corresponding methods of manufacturing, assembling and operating associated thereto

Номер патента: US20240229394A9. Автор: Rejean Pronovost,Benoit Belleville,Maxime Bordeleau. Владелец: Les Machineries Pronovostinc. Дата публикации: 2024-07-11.

Method of making multi-element photodetector crystal based on mis-structure of semiconductor compounds

Номер патента: RU2441299C1. Автор: Наталья Александровна Валишева,Наталья Рэмовна Вицина,Николай Борисович Кузьмин. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН (ИФП СО РАН). Дата публикации: 2012-01-27.

Reaction chamber for an epitaxial reactor of semiconductor material with non-uniform longitudinal section and reactor

Номер патента: EP3880863A1. Автор: Maurilio Meschia,Silvio PRETI,Francesco COREA. Владелец: LPE SpA. Дата публикации: 2021-09-22.

Controlled process for the preparation of semiconductor particles

Номер патента: WO2019092704A1. Автор: Uri Banin,Nir WAISKOPF,Jiajia NING. Владелец: YISSUM RESEARCH DEVELOPMENT COMPANY OF THE HEBREW UNIVERSITY OF JERUSALEM LTD. Дата публикации: 2019-05-16.

Mold element support device for a manufacturing assembly for preform elements and/or precast elements and/or prepackaged elements, manufacturing assembly, and manufacturing system

Номер патента: WO2024132379A1. Автор: Mogens Nielsen. Владелец: Siemens Gamesa Renewable Energy A/S. Дата публикации: 2024-06-27.

Mold element support device for a manufacturing assembly for preform elements and/or precast elements and/or prepackaged elements, manufacturing assembly, and manufacturing system

Номер патента: WO2024132383A1. Автор: Mogens Nielsen. Владелец: Siemens Gamesa Renewable Energy A/S. Дата публикации: 2024-06-27.

Method of cleaning semiconductor manufacturing apparatus, semiconductor manufacturing apparatus, and management system

Номер патента: US20110232686A1. Автор: Takashi Nakao,Kenichiro TORATANI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-09-29.

Device and method for pulling a single crystal of semiconductor material

Номер патента: US12116694B2. Автор: Rolf Schmid,Helmut Bergmann,Werner Joedecke. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2024-10-15.

Method for epitaxial growth from the vapour phase of semiconductor materials

Номер патента: CA1296241C. Автор: Peter Michael Frijlink. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1992-02-25.

Method and apparatus for the production of hollow members of any length of semiconductor material

Номер патента: US3748169A. Автор: W Keller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1973-07-24.

Apparatus and method for treating a wafer of semiconductor material

Номер патента: WO1994001597A1. Автор: Guy Jean Jacques Brasseur. Владелец: Cobrain N.V.. Дата публикации: 1994-01-20.

Moving disks made of semiconductor nanocrystallite embedded glass

Номер патента: US5308804A. Автор: Huai-Chuan Lee. Владелец: Lee Huai Chuan. Дата публикации: 1994-05-03.

Chemical vapor deposition method for the thin film of semiconductor

Номер патента: CA1268688A. Автор: Seiji Kojima,Hiroshi Kikuchi,Masakiyo Ikeda,Yuzo Kashiwayanagi. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 1990-05-08.

Coated aluminum material for semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20080118412A1. Автор: Seiji Okura. Владелец: ASM Japan KK. Дата публикации: 2008-05-22.

Gas recycling systems, substrate processing systems, and related apparatus and methods for semiconductor manufacturing

Номер патента: US20240175126A1. Автор: Shu-Kwan LAU,Mukhles SOWWAN. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Treatment device for semiconductor manufacturing exhaust gas

Номер патента: US20240082782A1. Автор: Hiroshi Imamura. Владелец: Kanken Techno Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Plate assemblies, process kits, and processing chambers for semiconductor manufacturing

Номер патента: US20240254624A1. Автор: Ala Moradian,Manjunath Subbanna. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Plate assemblies, process kits, and processing chambers for semiconductor manufacturing

Номер патента: WO2024158601A1. Автор: Ala Moradian,Manjunath Subbanna. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-08-02.

Gas recycling systems, substrate processing systems, and related apparatus and methods for semiconductor manufacturing

Номер патента: WO2024118117A1. Автор: Shu-Kwan LAU,Mukhles SOWWAN. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-06-06.

Inert gas recovery from a semiconductor manufacturing tool

Номер патента: GB2588908A. Автор: Condon Neil. Владелец: Edwards Ltd. Дата публикации: 2021-05-19.

Method for detecting defects of interconnects in semiconductor manufacturing process

Номер патента: TW513771B. Автор: Huai-Ren Shiu,Ming-Chiun Jou. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2002-12-11.

Method and Apparatus For Inspecting Defect Of Pattern Formed On Semiconductor Device

Номер патента: US20120002861A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method to detect defects of rolling surface of railway vehicles in motion

Номер патента: RU2480711C2. Автор: Сергей Алексеевич Бехер,Людмила Николаевна Степанова,Антон Сергеевич Кочетков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный университет путей сообщения" (СГУПС). Дата публикации: 2013-04-27.

Device to detect defects in insulators

Номер патента: RU2503076C1. Автор: Татьяна Анатольевна Несенюк. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский государственный университет путей сообщения" (УрГУПС). Дата публикации: 2013-12-27.

Method and apparatus for detecting defects on video signals

Номер патента: RU2535449C2. Автор: Владимир Иванович Марчук,Вячеслав Владимирович Воронин,Владимир Александрович Франц,Николай Валерьевич Гапон,Роман Алексеевич Сизякин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС"). Дата публикации: 2014-12-10.

Method of detecting defects of pipelines

Номер патента: RU2301941C1. Автор: Мудаир Хайевич Валеев,Андрей Анатольевич Лаптев,мов Ильгиз Ихсанович Галл,Ильгиз Ихсанович Галлямов,мов Азат Ильгизович Галл,Азат Ильгизович Галлямов,Руслан Фаридович Надршин. Владелец: Открытое акционерное общество "Татнефть" им. В.Д. Шашина. Дата публикации: 2007-06-27.

Method for detecting defects in pipelines

Номер патента: RU2439551C1. Автор: Павел Григорьевич Бродский,Виктор Сергеевич Аносов,Василий Алексеевич Воронин,Владимир Васильевич Чернявец,Сергей Павлович Тарасов,Валерий Павлович Леньков,Леонид Павлович Переяслов,Сергей Яковлевич Суконкин,Владимир Иванович Димитров,Сергей Александрович Садков,Алексей Славович Амирагов,Евгений Евгеньевич Павлюченко,Сергей Борисович Курсин,Сергей Петрович Алексеев,Евгений Иванович Руденко,Александр Дмитриевич Никитин,Сергей Владимирович Яценко,Николай Николаевич Куценко. Владелец: Открытое акционерное общество "Газпром". Дата публикации: 2012-01-10.

Device for detection of defects of small linear sizes

Номер патента: RU2564823C1. Автор: Алексей Владимирович Ишков,Сергей Федорович Дмитриев,Владимир Николаевич Маликов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Алтайский государственный университет". Дата публикации: 2015-10-10.

Method of detecting defects in structure of components

Номер патента: RU2398225C1. Автор: Леонид Васильевич Винокуров,Валерий Александрович Акимов,Сергей Алексеевич Качанов,Леонид Васильевич Винокуров (RU),Валерий Александрович Акимов (RU),Сергей Алексеевич Качанов (RU). Владелец: Федеральное государственное учреждение "Всероссийский научно-исследовательский институт по проблемам гражданской обороны и чрезвычайных ситуаций" (Федеральный центр науки и высоких технологий) (ФГУ ВНИИ ГОЧС (ФЦ)). Дата публикации: 2010-08-27.

Method of detecting defects in joints between polymer coating and metal tubes

Номер патента: RU2457480C2. Автор: Александр Викторович Сальников,Александр Сергеевич Кузьбожев,Руслан Викторович Агиней,Николай Денисович Цхадая,Ирина Анатольевна Меркурьева,Иван Николаевич Андронов,Надежда Семеновна Вишневская,Гульнара Гуссейновна Кримчеева. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ухтинский государственный технический университет" (УГТУ). Дата публикации: 2012-07-27.

Method of detecting defects in pipelines

Номер патента: RU2474812C1. Автор: Василий Андреевич Кандаев,Ксения Васильевна Авдеева. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Омский государственный университет путей сообщения. Дата публикации: 2013-02-10.

Manufacturing Method of Semiconductor Film, Manufacturing Method of Semiconductor Device, and Manufacturing Method of Photoelectric Conversion Device

Номер патента: US20120003787A1. Автор: TANAKA Tetsuhiro,KATO Erika. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for detecting defects in digital blocks

Номер патента: RU2255369C1. Автор: О.А. Данилов,А.С. Ребров,С.А. Скачков,Ю.И. Есин. Владелец: Военный университет войсковой противовоздушной обороны Вооруженных Сил Российской Федерации. Дата публикации: 2005-06-27.

Method of detecting defects in flexible structure

Номер патента: RU2303774C1. Автор: Александр Леонидович Михайлов,Виктор Николаевич Вернигор,Сергей В чеславович Крюков,Сергей Вячеславович Крюков. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Сатурн". Дата публикации: 2007-07-27.

Method of detecting defects in adhesive joints and apparatus for realising said method

Номер патента: RU2451289C2. Автор: Ирина Владимировна Мурзаева,Владимир Юрьевич Дружинин,Александр Евгеньевич Калеганов,Алексей Викторович Кривов,Евгений Алексеевич Бычков,Риваль Раимович Хакимьянов,Валерий Викторович Луптаков,Ирина Владимировна Мурзаева (RU),Владимир Юрьевич Дружинин (RU),Александр Евгеньевич Калеганов (RU),Алексей Викторович Кривов (RU),Евгений Алексеевич Бычков (RU),Риваль Раимович Хакимьянов (RU),Валерий Викторович Луптаков (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "АВТОВАЗ". Дата публикации: 2012-05-20.

Test Structure for Controlling the Incorporation of Semiconductor Alloys in Transistors Comprising High-K Metal Gate Electrode Structures

Номер патента: US20120001174A1. Автор: Kronholz Stephan,Wiatr Maciej,Giedigkeit Rainer. Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method to determine electroconductivity and thickness of semiconductor plates or nanometer semiconductor layers in structures "semiconductor layer - semiconductor substrate"

Номер патента: RU2517200C2. Автор: Сергей Аполлонович Никитов,Дмитрий Александрович Усанов,Александр Владимирович Скрипаль,Денис Викторович Пономарев. Владелец: Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Саратовский Государственный Университет Имени Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2014-05-27.

Carrier for dump transfer of semiconductor wafers

Номер патента: RU2357322C1. Автор: Галина Валериановна Скорова,Татьяна Кузьминична Взнуздаева,Татьяна Ильинична Комарова,Ольга Ивановна Каретникова. Владелец: Ольга Ивановна Каретникова. Дата публикации: 2009-05-27.

Method for oriented modification of semiconductor device structures using pulse electromagnetic field

Номер патента: RU2545077C1. Автор: Владимир Константинович Киселев,Максим Михайлович Венедиктов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие федеральный научно-производственный центр "Научно-исследовательский институт измерительных систем им. Ю.Е. Седакова". Дата публикации: 2015-03-27.

Method for stabilisation of electric parameters of semiconductor devices sealed in plastic

Номер патента: RU2484550C1. Автор: Вадим Леонидович Романов. Владелец: Открытое акционерное общество "ОКБ-Планета" (ОАО "ОКБ-Планета"). Дата публикации: 2013-06-10.

Device to remove heat from crystal of semiconductor integrated circuit

Номер патента: RU2440641C1. Автор: Дмитрий Павлович Шматов,Игорь Геннадьевич Дроздов,Валерий Александрович Небольсин,Андрей Юрьевич Савинков,Дмитрий Альбертович Коновалов,Николай Николаевич Кожухов,Сергей Викторович Дахин. Владелец: Закрытое акционерное общество "Кодофон". Дата публикации: 2012-01-20.

Manufacturing method of semiconductor heterostructure

Номер патента: RU2570099C1. Автор: Александр Евгеньевич Обручников,Михаил Петрович Духновский,Анатолий Николаевич Бажинов,Юрий Петрович Пёхов,Юрий Андреевич Яцюк. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина" (АО "НПП "Исток" им. Шокина"). Дата публикации: 2015-12-10.

Method to modify surfaces of metals or heterogeneous structures of semiconductors

Номер патента: RU2502153C2. Автор: Владимир Константинович Киселев,Александр Николаевич Качемцев,Владимир Дмитриевич Скупов,Сергей Леонидович Торохов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие федеральный научно-производственный центр "Научно-исследовательский институт измерительных систем им. Ю.Е. Седакова". Дата публикации: 2013-12-20.

Cassette for group transportation of semiconductor plates

Номер патента: RU2485622C1. Автор: Алексей Владимирович Чернов,Александр Михайлович Куликов,Ольга Борисовна Пименова,Евгения Григорьевна Балашова,Николай Андреевич Мишенин,Евгений Абрамович Фролов,Наталия Борисовна Сорокина,Елена Леонидовна Доможирова. Владелец: Елена Леонидовна Доможирова. Дата публикации: 2013-06-20.

Method for enhancing radiation stability of semiconductor devices

Номер патента: RU2308785C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Хасан Нахович Шаваев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова (КБГУ). Дата публикации: 2007-10-20.

Method of controlled influence on biological objects with electromagnetic irradiation of semiconductor injection generator (versions)

Номер патента: RU2491971C1. Автор: Андрей Николаевич Кузнецов,Владимир Дмитриевич Степаненко,Кирилл Владимирович Степаненко. Владелец: Кирилл Владимирович Степаненко. Дата публикации: 2013-09-10.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: RU2581418C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова". Дата публикации: 2016-04-20.

Multifunction device to analyse physical-and-chemical properties of semiconductors, dielectrics and insulating materials

Номер патента: RU2348045C1. Автор: Виктор Михайлович Тимохин. Владелец: ФГОУ ВПО "Морская государственная академия имени адмирала Ф.Ф. Ушакова". Дата публикации: 2009-02-27.

Cassette for group transportation of semiconductor plates

Номер патента: RU2485623C1. Автор: Алексей Владимирович Чернов,Александр Михайлович Куликов,Ольга Борисовна Пименова,Евгения Григорьевна Балашова,Николай Андреевич Мишенин,Евгений Абрамович Фролов,Наталия Борисовна Сорокина,Елена Леонидовна Доможирова. Владелец: Елена Леонидовна Доможирова. Дата публикации: 2013-06-20.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: RU2567118C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2015-11-10.

Production of semiconductor microwave devices

Номер патента: RU2546856C2. Автор: Геннадий Андреевич Блинов,Константин Владимирович Пелевин. Владелец: Закрытое акционерное общество "НИИМП-Т". Дата публикации: 2015-04-10.

Device for recording of imperfectness coefficient of semiconductor products voltage-current characteristics

Номер патента: RU2332678C2. Автор: Митрофан Иванович Горлов,Александр Петрович Жарких,Валерий Александрович Небольсин,Анатолий Антонович Щетинин,Николай Николаевич Козьяков,ков Николай Николаевич Козь. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2008-08-27.

Method of forming contact to drain region of semiconductor device

Номер патента: RU2534439C2. Автор: Тагир Абдурашидович Исмаилов,Айшат Расуловна Шахмаева,Патимат Расуловна Захарова. Владелец: Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту). Дата публикации: 2014-11-27.

Method of semiconductor instrument manufacture

Номер патента: RU2340038C2. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2008-11-27.

Method to form epitaxial films of cobalt on surface of semiconductor substrates

Номер патента: RU2465670C1. Автор: Юрий Павлович Иванов,Людмила Алексеевна Чеботкевич,Андрей Вадимович Зотов,Александр Вячеславович Давыденко,Алексей Игоревич Ильин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный федеральный университет". Дата публикации: 2012-10-27.

Method of heat removal from heat dissipating electronic components on basis of use of semiconductor lasers

Номер патента: RU2562742C2. Автор: Тагир Абдурашидович Исмаилов,Хаджимурат Магомедович Гаджиев,Татьяна Алексеевна Челушкина,Тимур Декартович Нежведилов. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дагестанский государственный технический университет". Дата публикации: 2015-09-10.

Method of determining duration of plasma-chemical etching of surface of semiconductor plates for submicron technology

Номер патента: RU2535228C1. Автор: Степан Степанович Волков,Михаил Юрьевич Тимашев,Дмитрий Владимирович Суворов,Геннадий Владимирович Гололобов,Алевтина Анатольевна Аристархова,Николай Николаевич Бисярин,Юрий Евгеньевич Дмитревский,Татьяна Ивановна Китаева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2014-12-10.

Method for comparative assessment of reliability of batches of semiconductor articles

Номер патента: RU2538032C2. Автор: Дмитрий Юрьевич Смирнов,Митрофан Иванович Горлов,Дмитрий Михайлович Жуков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2015-01-10.

System of functional testing cards of semiconductor memory

Номер патента: RU2524858C2. Автор: Денис Анатольевич Строганов,Григорий Владимирович Шишкин,Алескандр Владимирович Руткевич. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "Цифровые решения". Дата публикации: 2014-08-10.

Method of forming epitaxial copper nanostructures on surface of semiconductor substrates

Номер патента: RU2522844C1. Автор: Людмила Алексеевна Чеботкевич,Алексей Вячеславович Огнев,Александр Сергеевич Самардак,Константин Сергеевич Ермаков. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный федеральный университет". Дата публикации: 2014-07-20.

Module of semiconductor element and method of its manufacturing

Номер патента: RU2458431C2. Автор: Кендзи ФУДЗИВАРА,Синити КОБАЯСИ,Кодзи НАКАНО,Даиси УЕНО,Таро ВАДА,Масахиро ФУНАЯМА,Йосикацу КУРОДА,Юити КОНДО,Теруо ТАКЕСИТА,Кодзи НАКАНО (JP),Даиси УЕНО (JP),Таро ВАДА (JP),Масахиро ФУНАЯМА (JP),Йосикацу КУРОДА (JP),Юити КОНДО (JP),Синити КОБАЯСИ (JP),Кендзи ФУДЗИВАРА (JP),Теруо ТАКЕСИТА (JP). Владелец: Мицубиси Хэви Индастриз, Лтд.. Дата публикации: 2012-08-10.

Method for generation of semiconductor- insulator structure

Номер патента: RU2125323C1. Автор: В.И. Машанов,С.И. Романов,Б.И. Фомин,В.В. Кириенко,Л.В. Соколов,М.А. Ламин. Владелец: Институт физики полупроводников СО РАН. Дата публикации: 1999-01-20.

Method for lead-free resistance-reactance soldering of semiconductor chip to package

Номер патента: RU2313156C1. Автор: Виктор Васильевич Зенин,Александр Владимирович Рягузов,Дмитрий Игоревич Бокарев,Александр Николаевич Кастрюлев,Ольга Владимировна Хишко,Виктор Васильевич Зенин (RU),гузов Александр Владимирович Р (RU),Дмитрий Игоревич Бокарев (RU),Александр Николаевич Кастрюлев (RU),Ольга Владимировна Хишко (RU). Владелец: ОАО "Воронежский завод полупроводниковых приборов-Сборка". Дата публикации: 2007-12-20.

Process of gettering treatment of semiconductor plates

Номер патента: RU2224330C2. Автор: В.А. Якунин,М.А. Эстерзон,О.П. Сахарова. Владелец: Открытое акционерное общество "Экспериментальный научно-исследовательский институт металлорежущих станков". Дата публикации: 2004-02-20.

Holder for group transportation of semiconductor plates

Номер патента: RU2408953C1. Автор: Татьяна Владимировна Липина,Евгений Александрович Взнуздаев,Елена Федоровна Ершова,Светлана Григорьевна Зырянова,Вячеслав Алексеевич Колесников,Галина Ильинична Корнеева,Ольга Николаевна Корнеева,Марина Александровна Кислякова,Евгений Александрович Взнуздаев (RU),Елена Федоровна Ершова (RU),Светлана Григорьевна Зырянова (RU),Вячеслав Алексеевич Колесников (RU),Галина Ильинична Корнеева (RU),Ольга Николаевна Корнеева (RU),Марина Александровна Кислякова (RU),Татьяна Владимировна Липина (RU). Владелец: Марина Александровна Кислякова. Дата публикации: 2011-01-10.

Method of doping of semiconductor wafers

Номер патента: RU2111575C1. Автор: В.К. Попов,В.М. Белоусов,Ю.И. Прохоров,Ю.В. Шленов,М.М. Якункин. Владелец: Московский государственный институт электроники и математики. Дата публикации: 1998-05-20.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: RU2522182C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2014-07-10.

Housing of semiconductor device

Номер патента: RU2477544C1. Автор: Владимир Андреевич Кожевников,Тамара Ивановна Бражникова,Олег Васильевич Марченко,Олег Николаевич Пахомов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт электронной техники" (ОАО "НИИЭТ"). Дата публикации: 2013-03-10.

Holder for group diffusion treatment of semiconductor plates

Номер патента: RU2408949C1. Автор: Татьяна Владимировна Липина,Евгений Александрович Взнуздаев,Елена Федоровна Ершова,Светлана Григорьевна Зырянова,Вячеслав Алексеевич Колесников,Галина Ильинична Корнеева,Ольга Николаевна Корнеева,Марина Александровна Кислякова. Владелец: Марина Александровна Кислякова. Дата публикации: 2011-01-10.

Method for manufacturing of semiconductor temperature-sensitive resistor

Номер патента: RU2084032C1. Автор: В.А. Крячков,С.Е. Хряпенков,Н.Г. Санжарлинский,М.И. Самойлович. Владелец: Товарищество с ограниченной ответственностью - Фирма "БРОНКС". Дата публикации: 1997-07-10.

Method of forming ordered structures on surface of semiconductor substrates

Номер патента: RU2593633C1. Автор: Людмила Алексеевна Чеботкевич,Алексей Вячеславович Огнев,Александр Сергеевич Самардак,Константин Сергеевич Ермаков. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Дальневосточный федеральный университет". Дата публикации: 2016-08-10.

Manufacturing method of semiconductor structure

Номер патента: RU2556765C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2015-07-20.

Process of production of semiconductor material for selective detector of nitrogen oxides

Номер патента: RU2143677C1. Автор: Г.А. Китаев,Н.В. Маркова,В.Ф. Марков,Л.Н. Маскаева,С.Н. Уймин. Владелец: НПП "Политехник". Дата публикации: 1999-12-27.

Process of manufacture of semiconductor device

Номер патента: RU2031483C1. Автор: Г.И. Айзенштат,К.В. Содатенко,Г.И. Шамова. Владелец: Научно-исследовательский институт полупроводниковых приборов. Дата публикации: 1995-03-20.

Process of manufacture of semiconductor structures based on compounds aiii bv by method of liquid-phase epitaxy

Номер патента: RU2031477C1. Автор: И.Н. Арсентьев,Л.С. Вавилова. Владелец: Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН. Дата публикации: 1995-03-20.

Process of doping of semiconductors

Номер патента: RU2008742C1. Автор: В.В. Рыков,А.В. Кабешов,Т.С. Рыкова,А.С. Акашкин. Владелец: Рыков Вениамин Васильевич. Дата публикации: 1994-02-28.

Cassette for storing a plurality of semiconductor wafers

Номер патента: MY137395A. Автор: Masatoshi Nanjo. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2009-01-30.

Method for Production of Semiconductor Diamond

Номер патента: GEP19991653B. Автор: George Kharadze,Raphael Kucherov,Guram Karumidze,Revaz Salukvadze,Vakhtang Dundua. Владелец: Vakhtang Dundua. Дата публикации: 1999-06-14.

Method to determine electroconductivity and energy of activation of admixture centres of semiconductor layers

Номер патента: RU2516238C2. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Александр Эдуардович Постельга. Владелец: Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Саратовский Государственный Университет Имени Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2014-05-20.

Method to measure thermal junction-to-case resistance of semiconductor instrument and device for its realisation

Номер патента: RU2529761C1. Автор: Алексей Александрович Мальцев,Иван Алексеевич Мальцев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н. Туполева-КАИ" (КНИТУ-КАИ). Дата публикации: 2014-09-27.

Method for manufacturing of semiconductor device

Номер патента: RU2368031C1. Автор: Александр Владимирович Петров,Юрий Владимирович Колковский,Виктор Григорьевич Ральченко,Виталий Иванович Конов,Владимир Алексеевич Сидоров,Александр Андреевич Арендаренко,Валентин Николаевич Данилин,Андрей Георгиевич Васильев,Татьяна Александровна Жукова. Владелец: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-Производственное Предприятие "Пульсар". Дата публикации: 2009-09-20.

Method for contactless definition of quantised hall resistance of semiconductors

Номер патента: RU2368982C2. Автор: Александр Антонович Корнилович. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Новосибирский государственный технический университет. Дата публикации: 2009-09-27.

Method for manufacturing of semiconductor device

Номер патента: RU2431904C2. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдула Гасанович Мустафаев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2011-10-20.

Method for formation of semiconductor device alloyed areas

Номер патента: RU2476955C2. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова". Дата публикации: 2013-02-27.

Method for determination of conductivity and thickness of semiconductor layers

Номер патента: RU2439541C1. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Александр Эдуардович Постельга. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2012-01-10.

Method of cleaning and obtaining porous surface of semiconductor plates

Номер патента: RU2507630C1. Автор: Максим Александрович Зарезов,Антон Викторович Мантузов,Галина Филипповна Потапова,Вячеслав Александрович Панчугин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью научно-производственное предприятие "Солвэй". Дата публикации: 2014-02-20.

Method for gettering treatment of semiconductor structures

Номер патента: RU2281582C2. Автор: Валентин Константинович Смолин,Владимир Дмитриевич Скупов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Министерство Российской Федерации по Атомной Энергии. Дата публикации: 2006-08-10.

Method for comparative assessment of reliability of batches of semiconductor articles

Номер патента: RU2511617C2. Автор: Митрофан Иванович Горлов,Дмитрий Михайлович Жуков,Денис Александрович Денисов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2014-04-10.

Method for manufacture of semiconductor instrument

Номер патента: RU2356125C2. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2009-05-20.

Method of defining electrophysical parametres of semiconductors

Номер патента: RU2330300C2. Автор: Владимир Николаевич Подшивалов,Виктор Владимирович Макеев. Владелец: Владимир Николаевич Подшивалов. Дата публикации: 2008-07-27.

Method of determining presence of disordered phase in crystals of semiconductors

Номер патента: RU2019891C1. Автор: Д.Л. Федоров,Ю.А. Власов. Владелец: Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН. Дата публикации: 1994-09-15.

Process of protection of surface of semiconductor devices with lead-silicate glassy coat

Номер патента: RU2046452C1. Автор: А.А. Левин,Г.А. Браже,Е.В. Прокопьева,Е.Е. Начаркина. Владелец: Завод "Искра". Дата публикации: 1995-10-20.

Gear for packing of semiconductor devices with unidirectional leads located in one plane between belts

Номер патента: RU2028030C1. Автор: А.Д. Кузьмин. Владелец: Кузьмин Анатолий Дмитриевич. Дата публикации: 1995-01-27.

Method for manufacture of semiconductor paths for thermoelectric module and thermoelectric module itself

Номер патента: RU2515128C1. Автор: Валерий Иванович Гришин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ВИННЕР". Дата публикации: 2014-05-10.

Method of making structures on basis of semiconductor monocrystals and organic molecules

Номер патента: RU2504430C1. Автор: Анвар Саматович Баймуратов,Александр Васильевич Баранов,Михаил Александрович Баранов,Кирилл Вадимович Богданов,Андрей Викторович Вениаминов,Галина Николаевна Виноградова,Юлия Александровна Громова,Марина Сергеевна Губанова,Виктор Валерьевич Захаров,Михаил Юрьевич Леонов,Александр Петрович Литвин,Владимир Григорьевич Маслов,Мария Викторовна Мухина,Анна Олеговна Орлова,Пётр Сергеевич Парфёнов,Владимир Анатольевич Полищук,Елена Владимировна Ушакова,Анатолий Валентинович Фёдоров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики". Дата публикации: 2014-01-20.

Method of measuring thermal impedance of semiconductor diodes

Номер патента: RU2402783C1. Автор: Виталий Иванович Смирнов,Вячеслав Андреевич Сергеев,Виктор Васильевич Юдин,Андрей Анатольевич Гавриков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2010-10-27.

Method of cleaning surface of semiconductor plates

Номер патента: RU2495512C2. Автор: Максим Александрович Зарезов,Валерий Михайлович Рыков. Владелец: Валерий Михайлович Рыков. Дата публикации: 2013-10-10.

Manufacturing method of semiconductor structure

Номер патента: RU2418343C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2011-05-10.

Device for washing and drying of semiconductor wafers

Номер патента: RU2460593C1. Автор: Валерий Николаевич Комаров. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО "НИИПМ"). Дата публикации: 2012-09-10.

Method for plasmochemical etching of semiconductor and insulating materials

Номер патента: RU2316845C1. Автор: Юрий Владимирович Федоров,Евгений Германович Шустин,Николай Васильевич Исаев. Владелец: ИНСТИТУТ РАДИОТЕХНИКИ И ЭЛЕКТРОНИКИ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК (ИРЭ РАН). Дата публикации: 2008-02-10.

Fabrication of semiconductor structure

Номер патента: RU2539789C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2015-01-27.

Method for reliability separation of semiconductor products

Номер патента: RU2309418C2. Автор: Дмитрий Юрьевич Смирнов,Митрофан Иванович Горлов,Дмитрий Леонидович Ануфриев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2007-10-27.

Method to treat surface of semiconductor plates and regeneration of etching solutions

Номер патента: RU2486287C2. Автор: Антон Викторович Мантузов,Галина Филипповна Потапова,Владимир Леонидович Клочихин. Владелец: Владимир Леонидович Клочихин. Дата публикации: 2013-06-27.

Method for estimating electrical heterogeneity of semiconductor surface

Номер патента: RU2266588C1. Автор: А.Н. Алейников,Н.М. Алейников,Г.Д. Алейников. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный университет". Дата публикации: 2005-12-20.

Method for detection of semiconductor devices placed in rooms for unsanctioned recording of speech and visual information

Номер патента: RU2257012C1. Автор: В.Н. Световидов,В.И. Романов,П.П. Пастухов. Владелец: Пастухов Павел Петрович. Дата публикации: 2005-07-20.

Method for comparative assessment of reliability of semiconductor products in plastic enclosures

Номер патента: RU2464583C2. Автор: Митрофан Иванович Горлов,Мария Александровна Мешкова,Роман Михайлович Тихонов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2012-10-20.

Method of determination of profile of concentration of current carriers in semiconductor structures with usage of semiconductor-electrolyte contact

Номер патента: RU2054748C1. Автор: Геннадий Яковлевич Колбасов,Тамара Павловна Колмакова,Владимир Иосифович Пильдон,Татьяна Александровна Таранец. Владелец: Тамара Павловна Колмакова. Дата публикации: 1996-02-20.

Process of manufacture of semiconductor detector of ionizing particles

Номер патента: RU2035807C1. Автор: Анатолий Николаевич Ивакин,Игорь Степанович Суровцев,Игорь Иванович Евсеев,Виктор Юрьевич Циганков,Александр Иванович Заикин. Владелец: Александр Иванович Заикин. Дата публикации: 1995-05-20.

Method of growing epitaxial layers of semiconductor crystals of group three nitrides on layered crystalline structure

Номер патента: RU2543215C2. Автор: Юрий Георгиевич Шретер,Юрий Тоомасович Ребане,Алексей Владимирович Миронов. Владелец: Алексей Владимирович Миронов. Дата публикации: 2015-02-27.

Device for chemical separation of semiconductor plates into chips

Номер патента: RU2022406C1. Автор: Ю.З. Чертков,В.И. Гринчевская. Владелец: Производственное объединение "ТОР". Дата публикации: 1994-10-30.

Method for passivation and protection of resonator end faces of semiconductor lasers

Номер патента: RU2421856C1. Автор: Сергей Олегович Слипченко,Илья Сергеевич Тарасов,Никита Александрович Пихтин,Татьяна Андреевна Налет,Сергей Олегович Слипченко (RU),Илья Сергеевич Тарасов (RU),Никита Александрович Пихтин (RU),Татьяна Андреевна Налет (RU). Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Эльфолюм". Дата публикации: 2011-06-20.

Device for noncontact measurement of specific resistance of semiconductor materials

Номер патента: RU2420749C1. Автор: Алексей Валентинович Алексеев,Виктор Сергеевич Белоусов,Михаил Михайлович Беляков,Геннадий Леонидович Горский. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ". Дата публикации: 2011-06-10.

Device for automated control of semiconductor elements of bridge rectifier

Номер патента: RU2506625C1. Автор: Александр Игоревич Литвинов,Владимир Евгеньевич Кузнецов,Роман Викторович Морозов. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "ВОЕННАЯ АКАДЕМИЯ СВЯЗИ имени Маршала Советского Союза С.М. Буденного" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2014-02-10.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: RU2428764C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев (RU),Гасан Абакарович Мустафаев (RU),Арслан Гасанович Мустафаев (RU). Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2011-09-10.

Mode of separation of semiconductor products according to their reliability

Номер патента: RU2292052C1. Автор: Дмитрий Юрьевич Смирнов,Митрофан Иванович Горлов,Дмитрий Леонидович Ануфриев,Дмитрий Юрьевич Смирнов (RU),Митрофан Иванович Горлов (RU),Дмитрий Леонидович Ануфриев (RU). Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2007-01-20.

Method of semiconductor article classification by reliability

Номер патента: RU2515372C2. Автор: Дмитрий Юрьевич Смирнов,Митрофан Иванович Горлов,Владимир Андреевич Терехов,Екатерина Александровна Золотарева. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2014-05-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.