• Главная
  • A photoresist copolymer, a photoresist composition, their preparing methods and a photoresist pattern forming method

A photoresist copolymer, a photoresist composition, their preparing methods and a photoresist pattern forming method

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method and photoresist using a photoresist copolymer

Номер патента: US6143463A. Автор: Jae Chang Jung,Cheol Kyu Bok,Ki Ho Baik. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 2000-11-07.

Method and photoresist using a photoresist copolymer

Номер патента: GB9727095D0. Автор: . Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-02-25.

Polymer mixture for a photoresist composition

Номер патента: GB2336591A. Автор: Sang-jun Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1999-10-27.

Reflection-inhibiting resinn used in process for forming photoresist pattern

Номер патента: US20030018150A1. Автор: Hyeong Kim,Sung Eun Hong,Jae Jung,Min Jung,Ki Baik. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-01-23.

Photosensitive compound and photoresist composition including the same

Номер патента: US20090081587A1. Автор: Jae-Woo Lee,Jae-Hyun Kim,Min-Ja Yoo,Young-Bae Lim,Jun-Gyeong Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-26.

Photoresist polymer and photoresist composition including the same

Номер патента: US20230194987A1. Автор: Hyunwoo Kim,Juhyeon Park,Hyunji SONG,Sumin KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Alkylsulfonium salts and photoresist compositions containing the same

Номер патента: US5635332A. Автор: Shigeyuki Iwasa,Etsuo Hasegawa,Katsumi Maeda,Kaichiro Nakano. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1997-06-03.

Polymer for photoresist, photoresist composition containing the same, and preparation method thereof

Номер патента: MY118218A. Автор: Sang-jun Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-09-30.

Fine pattern forming method and stamper

Номер патента: US20090017266A1. Автор: Kyosuke Deguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-01-15.

Photosensitive polymer compound and photoresist composition containing the same

Номер патента: GB2316085A. Автор: Sang-jun Choi,Young-bum Koh,Chun-Geun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1998-02-18.

Photoresist polymer and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20060022297A1. Автор: Min Son. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-02-02.

Materials for photoresist, photoresist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20080081281A1. Автор: Daiju Shiono,Kyoko Kojima,Hideo Hada. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2008-04-03.

Materials for photoresist, photoresist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US7910284B2. Автор: Daiju Shiono,Kyoko Kojima,Hideo Hada. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-22.

Polymer for photoresist, photoresist composition containing the same, and preparation method thereof

Номер патента: TW460747B. Автор: Sang-jun Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2001-10-21.

Josephson junction preparation method and production line device

Номер патента: EP4301119A1. Автор: Dengfeng Li,Wenlong Zhang,Kunliang BU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US11971659B2. Автор: Ching-Yu Chang,Chin-Hsiang Lin,Chun-Chih Ho. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20230393464A1. Автор: Ching-Yu Chang,Li-Po YANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Photoresist compositions comprising acetals and ketals as solvents

Номер патента: WO2003085455A3. Автор: Joseph E Oberlander,Douglas McKenzie,Stanley F Wanat,Robert R Plass. Владелец: Clariant Int Ltd. Дата публикации: 2004-05-21.

Photoresist composition and photoresist film using the same

Номер патента: US20200033727A1. Автор: Min Young Lim,Yongsik AHN,Yongmi KIM. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2020-01-30.

Photoresist compositions

Номер патента: US20030180657A1. Автор: James Cameron,James Thackeray,Gary Teng. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2003-09-25.

Composition for forming fine resist pattern and pattern forming method using same

Номер патента: US09448485B2. Автор: Masahiro Ishii,Takashi Sekito,Tetsuo Okayasu. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2016-09-20.

Photoresist compositions and method of preparing the same

Номер патента: US9657123B2. Автор: JI Li,Yungjui LEE. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Pattern-forming method

Номер патента: US20140255854A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-09-11.

Nanocomposite photoresist composition for imaging thick films

Номер патента: WO2006109185A2. Автор: Mark Neisser,Ping-Hung Lu,Chunwei Chen,Hong Zhuang. Владелец: AZ ELECTRONIC MATERIALS USA CORP.. Дата публикации: 2006-10-19.

Nanocomposite photoresist composition for imaging thick films

Номер патента: WO2006109185A3. Автор: Mark Neisser,Ping-Hung Lu,Chunwei Chen,Hong Zhuang. Владелец: Az Electronic Materials Usa. Дата публикации: 2007-04-12.

Polymerizable oligomer and photoresist composition comprising the same

Номер патента: US20160137758A1. Автор: LIN Li,Wenwen SUN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-19.

Polymerizable oligomer and photoresist composition comprising the same

Номер патента: US09512242B2. Автор: LIN Li,Wenwen SUN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Organic anti-reflective coating composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US20050014094A1. Автор: Sam Kim,Geun Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-01-20.

Nanocomposite photoresist composition for imaging thick films

Номер патента: MY140476A. Автор: LU Ping-Hung,CHEN Chunwei,ZHUANG Hong,Mark Neisser. Владелец: Az Electronic Materials Usa. Дата публикации: 2009-12-31.

Monomers, photoresist resins, photoresist resin compositions, and pattern forming method

Номер патента: US20200089115A1. Автор: Kazuhiro Uehara,Takashi Maruyama,Akira Eguchi. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Photoresist composition comprising a copolymer having a di-t-butyl fumarate

Номер патента: US5346803A. Автор: James V. Crivello,Sang-Yeon Shim. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1994-09-13.

Photoresist compositions and pattern formation methods

Номер патента: US11940730B2. Автор: Mingqi Li,Mitsuru Haga. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2024-03-26.

Photoresist polymer and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20050026070A1. Автор: Sang Lee,Jae Kim,Jung Kim,Geun Lee,Ki Shin,Cheol Bok,Seung Moon,Jae Kang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-02-03.

Negative-acting chemically amplified photoresist composition

Номер патента: EP1297386A1. Автор: Ping-Hung Lu,Ralph R. Dammel,Pingyong Xu. Владелец: Clariant Finance BVI Ltd. Дата публикации: 2003-04-02.

Photoresist composition

Номер патента: US6861199B2. Автор: Geun Su Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-03-01.

Process for preparing stable photoresist compositions

Номер патента: US7741429B2. Автор: William Richard Russell,John Anthony Schultz. Владелец: DuPont Electronic Polymers LP. Дата публикации: 2010-06-22.

Photoresist composition

Номер патента: US20130316287A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-11-28.

Polymers blends and their use in photoresist compositions for microlithography

Номер патента: WO2002044811A3. Автор: Larry L Berger,Frank L Schadt Iii. Владелец: Frank L Schadt Iii. Дата публикации: 2004-09-23.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20230324796A1. Автор: Ching-Yu Chang,Wei-Han Lai,Li-Po YANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Stabilized photoresist composition

Номер патента: US3776736A. Автор: E Davidson. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1973-12-04.

Diazo-resin, photoresist composition and method of preparing same

Номер патента: US20160334704A1. Автор: Jianguo Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-17.

Pattern-forming method and composition

Номер патента: US09921474B2. Автор: Kanako FUKAMI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Pattern forming method

Номер патента: US20160060410A1. Автор: Hitoshi Kubota,Katsutoshi Kobayashi,Yusuke KASAHARA,Ayako KAWANISHI,Hiroki YONEMITSU. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-03-03.

Resist methods and materials for uv and electron-beam lithography with reduced outgassing

Номер патента: WO2002031598A3. Автор: Theodore H Fedynyshyn. Владелец: Massachusetts Inst Technology. Дата публикации: 2002-09-19.

Photoresist composition

Номер патента: US3690890A. Автор: Akio Iwaki,Hiroyoshi Yamaguchi,Hirosi Tokura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 1972-09-12.

Positive-acting photoresist composition

Номер патента: US4247616A. Автор: John P. Vikesland,Richard M. Presley. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1981-01-27.

Photoresist material comprising an o-quinone diazide photosensitizer, an alkali soluble polymer and a rosinous material

Номер патента: CA1115586A. Автор: Michael J. Oddi. Владелец: Shipley Co Inc. Дата публикации: 1982-01-05.

Pattern formation methods and photoresist pattern overcoat compositions

Номер патента: US11796916B2. Автор: Cong Liu,Irvinder Kaur,Xisen Hou. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2023-10-24.

Pattern formation methods and photoresist pattern overcoat compositions

Номер патента: US20180314155A1. Автор: Cong Liu,Irvinder Kaur,Xisen Hou. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2018-11-01.

Photothermographic material and image forming method

Номер патента: US20060035178A1. Автор: Takayoshi Mori. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-16.

Photoresist composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20130089817A1. Автор: Hiromitsu Nakashima,Masafumi Yoshida,Hiromu Miyata. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-04-11.

Method and apparatus for printing patterns on substrates

Номер патента: US20020118345A1. Автор: Oz Cabiri,Hai Benron. Владелец: Kodak IL Ltd. Дата публикации: 2002-08-29.

Method of ion implantation through a photoresist mask

Номер патента: CA1043667A. Автор: San-Mei Ku,Claude Johnson (Jr.),Edward S. Pan,Harold V. Lillja. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1978-12-05.

Fractionation of resins using a static mixer and a liquid-liquid centrifuge

Номер патента: EP1326906A2. Автор: ZHONG Xiang,M. Dalil Rahman,Stanley F. Wanat. Владелец: Clariant Finance BVI Ltd. Дата публикации: 2003-07-16.

Fractionation of resins using a static mixer and a liquid-liquid centrifuge.

Номер патента: MY117790A. Автор: ZHONG Xiang,Stanley F Wanat,Dalil M Rahman. Владелец: Clariant Int Ltd. Дата публикации: 2004-08-30.

Pattern forming method and resist laminate for organic solvent development

Номер патента: US20210200098A1. Автор: Michihiro Shirakawa,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Pattern forming method using resist underlayer film

Номер патента: US09793131B2. Автор: Shigeo Kimura,Hiroto Ogata,Yuki Usui,Tomoya Ohashi. Владелец: Nissan Chemical Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Photoresist composition, compound and process of producing photoresist pattern

Номер патента: US09563123B2. Автор: Koji Ichikawa,Shingo Fujita,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Photoresist composition, resist pattern-forming method, acid diffusion control agent, and compound

Номер патента: US09557641B2. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Semiconductor photoresist composition and method of forming patterns using the composition

Номер патента: US20240134273A1. Автор: Young Keun Kim,Dong Wan RYU,Kyungsoo MOON. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Photoresist composition and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US09575408B2. Автор: Koji Ichikawa,Mitsuyoshi OCHIAI. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Photoresist pattern trimming compositions and methods

Номер патента: US09696629B2. Автор: Cong Liu,Irvinder Kaur,Kevin ROWELL. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2017-07-04.

Undercoating layer material for lithography and wiring forming method using the same

Номер патента: US20050112383A1. Автор: Takeshi Tanaka,Yoshio Hagiwara. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2005-05-26.

Photoresist composition, compound, and production method thereof

Номер патента: US09477149B2. Автор: Norihiko Ikeda,Hayato Namai,Takanori Kawakami. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Photoresist composition and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US20160195809A1. Автор: Koji Ichikawa,Mitsuyoshi OCHIAI. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-07.

Salt compound, and quencher and photoresist composition comprising same

Номер патента: EP4450486A1. Автор: Jeong Sik Kim,Jaehyun Kim,Hyung Kun Lee,Myoung Hyun HUR,Min Ja Yoo. Владелец: Dongjin Semichem Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Photoacid generator and photoresist composition including the same

Номер патента: US20230130998A1. Автор: Hyunwoo Kim,Yechan KIM,Jicheol PARK,Honggu IM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-27.

Photoresist composition

Номер патента: US20240255845A1. Автор: Tsunehiro Nishi,Jiyoung Park,Wonjoon SON,Seungyeol Baek,Chawon KOH. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Photoresist compositions

Номер патента: US20210380612A1. Автор: Tsunehiro Nishi,Seung Han,Kunwoo BAEK,Jaehyun Kim,Moonil Jung,Mijeong Song,Chawon KOH. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

A composition for coating over a photoresist pattern

Номер патента: EP2598589A1. Автор: MENG Li,Jian Yin,Hengpeng Wu,Yi Cao,Sung-Eun Hong,Dongkwan Lee,Margareta Paunescu. Владелец: AZ Electronic Materials USA Corp. Дата публикации: 2013-06-05.

Underlayer film-forming composition and pattern forming process

Номер патента: US09620363B2. Автор: Tsutomu Ogihara,Jun Hatakeyama,Daisuke Kori. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Graft pattern forming method and conductive pattern forming method

Номер патента: MY142216A. Автор: Koichi Kawamura,Yasuaki Matsushita. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-15.

Compound and photoresist composition containing the same

Номер патента: US8475999B2. Автор: Mitsuhiro Hata,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2013-07-02.

Salt and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20100304294A1. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA,Masako Sugihara. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-02.

Pattern forming method capable of minimizing deviation of an inversion pattern

Номер патента: US09887099B2. Автор: Hiroyuki Nagai. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Electroforming mold manufacturing method and photomask

Номер патента: EP4317535A1. Автор: Yousuke SASAKI. Владелец: Citizen Watch Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Apparatus for coating a semiconductor wafer with a photoresist

Номер патента: US6019843A. Автор: Sung-il Kim,Sung-hyeon Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2000-02-01.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20190258168A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Michihiro Shirakawa,Tadashi OOMATSU. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Photoresist composition and method of manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US20230408918A1. Автор: Chien-Chih Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Composition for pattern formation, pattern-forming method, and block copolymer

Номер патента: US09738746B2. Автор: Tomoki Nagai,Hiroyuki Komatsu,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Photocurable composition for imprints, pattern forming method, and method for manufacturing device

Номер патента: US20170285468A1. Автор: Hirotaka Kitagawa,Yuichiro Goto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-10-05.

Method for film formation, and pattern-forming method

Номер патента: US09958781B2. Автор: Naoya Nosaka,Yoshio Takimoto,Tsubasa Abe,Yuushi Matsumura,Goji Wakamatsu. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Pattern-forming method

Номер патента: US09487868B2. Автор: Kaori Sakai,Tomoki Nagai,Hiroyuki Komatsu,Takehiko Naruoka,Shinya Minegishi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Method and apparatus for template surface treatment, and pattern forming method

Номер патента: CN102208335A. Автор: 林秀和,伊藤信一,河村嘉久,小林克稔,富田宽. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-10-05.

Method and apparatus for template surface treatment, and pattern forming method

Номер патента: CN102208335B. Автор: 林秀和,伊藤信一,河村嘉久,小林克稔,富田宽. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-09-18.

PHOTORESIST COMPOSITION, OPTICAL FILM THEREOF, AND PREPARING METHOD OF THE OPTICAL FILM

Номер патента: US20220276556A1. Автор: Huang Hao Lun,Wu Yi Sheng. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-01.

Substrate bonding method and laminated body production method

Номер патента: US20210283893A1. Автор: Tomoyuki Ando,Ryuma Mizusawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-16.

Porous membrane apparatus, method, and applications

Номер патента: US09821309B2. Автор: Mandy B. ESCH. Владелец: CORNELL UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-11-21.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20240295822A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Satoru Murayama,Tetsuya Shimizu. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Photoresist stripping solution and a method of stripping photoresists using the same

Номер патента: US20070004933A1. Автор: Shigeru Yokoi,Kazumasa Wakiya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-04.

Photoresist stripping solution and a method of stripping photoresists using the same

Номер патента: US20080241758A1. Автор: Shigeru Yokoi,Kazumasa Wakiya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-02.

Pattern forming method and phase shift mask manufacturing method

Номер патента: US20070187361A1. Автор: Hideki Suda. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2007-08-16.

Modified repair solution, preparation method thereof, and method for repairing color resist

Номер патента: US20210126111A1. Автор: Can PENG. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-29.

Modified repair solution, preparation method thereof, and method for repairing color resist

Номер патента: US11271093B2. Автор: Can PENG. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-08.

Pattern forming method

Номер патента: US09891526B2. Автор: Toru Kimura,Yoshio Takimoto,Kazunori Takanashi,Shunsuke Kurita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Plasma etching method and method for manufacturing semiconductor element

Номер патента: US20240038546A1. Автор: Kazuma Matsui,Yuki Oka. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2024-02-01.

Photoresist stripper and a method of removing a photoresist

Номер патента: MY130894A. Автор: Takashi Takeda,Akio Arano. Владелец: Az Electronic Materials Japan. Дата публикации: 2007-07-31.

Photoresist composition and method for forming a metal pattern

Номер патента: US20140183162A1. Автор: Hoon Kang,Jae-Sung Kim,Ki-hyun Cho,Dong-Min Kim,Eun Jeagal,Seung-Ki Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-03.

Photoresist composition and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20170199456A1. Автор: Jin Park,Hyun Woo Kim,Jin Kyu Han. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-13.

Photoresist composition and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US09740102B2. Автор: Koji Ichikawa,Shingo Fujita,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US11934101B2. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Photoresist under-layer and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20230384679A1. Автор: Ching-Yu Chang,Chin-Hsiang Lin,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20230384670A1. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Method and system for manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US20240295810A1. Автор: Yao-Hwan Kao,Wei-Han Huang,Hao Yuan Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Photoresist, developer, and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20200073238A1. Автор: Ching-Yu Chang,Chin-Hsiang Lin,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-03-05.

Chip preparation method and system, and chip

Номер патента: US20240334843A1. Автор: Dengfeng Li,Shengyu ZHANG,Shuoming AN,Wenlong Zhang,Maochun DAI,Jingjing HU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Photoresist and manufacturing method of photoresist patterns

Номер патента: US20200150536A1. Автор: Ming Liu,Yueping Zuo,Chunyang WANG,Fei Fang,Qiuhua Meng. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-14.

Photoresist composition

Номер патента: US09726975B2. Автор: Xuelan WANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Photoresist composition having a high heat resistance

Номер патента: US20040253541A1. Автор: Jin-Ho Ju,Dong-Ki Lee,Sung-Chul Kang,You-Kyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-12-16.

Photoresist composition having a high heat resistance

Номер патента: US7144662B2. Автор: Jin-Ho Ju,Dong-Ki Lee,Sung-Chul Kang,You-Kyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-12-05.

Photoresist composition having a high heat resistance

Номер патента: WO2003034151A1. Автор: Jin-Ho Ju,Dong-Ki Lee,Sung-Chul Kang,You-Kyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2003-04-24.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20170329228A1. Автор: Hiromitsu Nakashima,Tomohiko Sakurai,Sousuke OOSAWA,Kousuke TERAYAMA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-11-16.

Pattern forming method and developer

Номер патента: US20200401043A1. Автор: Makoto Shimizu,Ryo Kawajiri,Noboru Ootsuka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-12-24.

Polymer dye and method for preparing the same, photoresist composition and display device

Номер патента: US09581903B2. Автор: Wei Deng,Xiaoxiong TIAN,Zhuo Zhang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Photoresist composition and use thereof

Номер патента: US20240280901A1. Автор: Dongxu Yang,XIAN Peng,Ping Gao,Xiangang Luo,Zeyu ZHAO,Changtao WANG,Kaixin SU. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2024-08-22.

Photoresist composition for deep ultraviolet lithography

Номер патента: US20070172762A1. Автор: Ralph Dammel,Raj Sakamuri,Francis Houlihan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-26.

Method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20240077802A1. Автор: Ching-Yu Chang,Yu-Chung Su,Tsung-Han Ko. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Photoresist composition and process of producing photoresist pattern

Номер патента: US10168616B2. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-01.

Photoacid generators in photoresist compositions for microlithography

Номер патента: WO2002039186A3. Автор: Viacheslav Alexandrovic Petrov,Iii Frank L Schadt. Владелец: Iii Frank L Schadt. Дата публикации: 2002-11-21.

Photoresist polymers and photoresist compositions

Номер патента: US09810982B2. Автор: Jin Park,Jin-Kyu Han,Hyun-Woo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-11-07.

Photoresist composition and method of manufacturing black matrix using the same

Номер патента: US09746767B2. Автор: Hyun-seok Kim,Jae Hyuk Chang,Ki Beom Lee,Hi Kuk Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Photoresist composition

Номер патента: US09507259B2. Автор: Mingqi Li,Shintaro Yamada,Cong Liu,Cheng-Bai Xu,Emad Aqad,Ching-Lung Chen,Joseph Mattia. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2016-11-29.

Photoresist polymers and photoresist compositions

Номер патента: US20170184966A1. Автор: Jin Park,Jin-Kyu Han,Hyun-Woo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-29.

Photoacid generators in photoresist compositions for microlithography

Номер патента: EP1332406A2. Автор: Viacheslav Alexandrovich Petrov,Iii Frank L. Schadt. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2003-08-06.

Electric/magnetic field guided acid profile control in a photoresist layer

Номер патента: US09366966B2. Автор: Peng XIE,Ludovic Godet. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2016-06-14.

Method and system for manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US12019370B2. Автор: Yao-Hwan Kao,Wei-Han Huang,Hao Yuan Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Method for structuring a photoresist layer

Номер патента: US20020160317A1. Автор: Michael Sebald,Ernst-Christian Richter. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2002-10-31.

Metallic photoresist patterning and defect improvement

Номер патента: US20230393475A1. Автор: Chien-Chih Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Photoresist composition for multi-micro nozzle head coater

Номер патента: US20040144753A1. Автор: Jin-Ho Ju,Dong-Ki Lee,Sung-Chul Kang,Hyo-Youl Kim,You-Kyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-07-29.

Photoresist composition

Номер патента: US20240168374A1. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Photoresist composition with novel solvent

Номер патента: US20230341773A1. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Multilayer elements containing photoresist compositions and their use in microlithography

Номер патента: WO2002044815A3. Автор: Larry L Berger,Frank L Schadt Iii. Владелец: Frank L Schadt Iii. Дата публикации: 2003-08-14.

Method and device for curing at least in part a photoresist applied to a substrate.

Номер патента: NL2014642A. Автор: Fakhr Omar,Toennies Dietrich. Владелец: SUSS MICROTEC LITHOGRAPHY GMBH. Дата публикации: 2016-10-19.

Methods and systems for reducing bubbles in layers of photoresist material

Номер патента: US20140370439A1. Автор: Kurt Hollis,Michael Van Tassel. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2014-12-18.

Manufacturing method of semiconductor device, reticle correcting method, and reticle pattern data correcting method

Номер патента: US20070218673A1. Автор: Hiroko Nakamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-20.

Pattern forming method, template manufacturing method, and photomask manufacturing method

Номер патента: US20220091499A1. Автор: Yoshinori Kagawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Backplane unit and its manufacturing method and display device

Номер патента: US20210318617A1. Автор: Wei Huang. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-14.

Methods and compositions for improved patterning of photoresist

Номер патента: US20230146910A1. Автор: Ching-Yu Chang,Ya-Lun CHEN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Semiconductor device manufacturing method and pattern forming method

Номер патента: US09685331B1. Автор: Yusuke KASAHARA,Ayako KAWANISHI,Hiroki YONEMITSU. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Photoresist composition

Номер патента: GB2314846A. Автор: Jae Chang Jung,Cha Won Koh. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-14.

Photoresist composition and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US20220197139A1. Автор: Ji Eun Kim,Jae Hee SIM,Chung Hyeon BAN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2022-06-23.

Pattern forming method and template manufacturing method

Номер патента: US20210088906A1. Автор: Hideaki Sakurai,Noriko Sakurai,Takeharu Motokawa,Ryu Komatsu. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Lateral diffusion confirming pattern and a method of measuring a lateral diffusion

Номер патента: US5853925A. Автор: Hoon Huh. Владелец: LG Semicon Co Ltd. Дата публикации: 1998-12-29.

Methods of forming a photoresist-comprising pattern on a substrate

Номер патента: WO2010024988A3. Автор: Anton Devilliers,Hongbin Zhu,Alex Schrinsky,Zishu Zhang. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2010-04-29.

Pattern forming method, template manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20230420291A1. Автор: Masatoshi Terayama. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Resist pattern-forming method, and radiation-sensitive composition and production method thereof

Номер патента: US20200333707A1. Автор: Ken Maruyama,Miki TAMADA,Sousuke OOSAWA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Pattern forming method and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US09897918B2. Автор: Shinichi Ito,Hirokazu Kato,Tomoyuki Takeishi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Pattern forming method and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US09601331B2. Автор: Shinichi Ito,Hirokazu Kato,Tomoyuki Takeishi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Pattern forming method and device

Номер патента: US20190176376A1. Автор: Akihiro Ishikawa,Michiru Kuromiya. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-13.

Pattern forming method and manufacturing method for semiconductor device

Номер патента: US09627218B2. Автор: Kazunori HORIGUCHI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Processing method and manufacturing method for optical component

Номер патента: US8574469B2. Автор: Yoshihisa Usami. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-11-05.

Pattern forming method and pattern forming apparatus

Номер патента: US20140300018A1. Автор: Ikuo Yoneda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-10-09.

Pattern forming method and pattern forming apparatus

Номер патента: US20160318234A1. Автор: Ikuo Yoneda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-11-03.

Method of constructing a hologram on a photoresist detector

Номер патента: US4343874A. Автор: Kenneth A. Haines. Владелец: Eidetic Images Inc. Дата публикации: 1982-08-10.

Method for forming photoresist pattern

Номер патента: US6132939A. Автор: Katsuyoshi Ina. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2000-10-17.

Pattern forming method

Номер патента: US9437477B1. Автор: Makoto Aida. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Resist pattern-forming method and substrate-treating method

Номер патента: US20200218161A1. Автор: Ryuichi Serizawa,Tomoaki Seko,Nozomi SATOU,Yuusuke OOTSUBO,Tomoya TAJI,Souta NISHIMURA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Imprint apparatus, imprint method, and device manufacturing method

Номер патента: US09645514B2. Автор: Hironori Maeda,Ken Minoda,Kazuhiko Mishima,Seiya Miura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Mask element for selective sandblasting and a method

Номер патента: US4587186A. Автор: Shohei Nakamura,Yoshimasa Tuji. Владелец: Asahi Kasei Kogyo KK. Дата публикации: 1986-05-06.

Pattern forming method

Номер патента: US20170068162A1. Автор: Yusuke KASAHARA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-09.

Pattern forming method, combined processing apparatus, and recording medium

Номер патента: US20230089980A1. Автор: Noriko Sakurai,Kosuke TAKAI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Lithography apparatus, pattern forming method, and method for manufacturing product

Номер патента: US20170075229A1. Автор: Masanori Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-16.

Pattern forming method

Номер патента: US09696628B2. Автор: Hideki Kanai,Yusuke KASAHARA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Pattern forming method

Номер патента: US20100021850A1. Автор: Hiroko Nakamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-01-28.

Lacquer Pattern Production Method, Lacquer Pattern Formed By Using The Method, And Lacquer Pattern Display Method

Номер патента: US20110154701A1. Автор: Kazuko Ohori. Владелец: DUCO CO Ltd. Дата публикации: 2011-06-30.

Pattern-forming method

Номер патента: US09847232B1. Автор: Kristin Schmidt,Chi-chun Liu,Hitoshi Osaki. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Pattern forming method

Номер патента: US20170184958A1. Автор: Koji Matsuo,Daisuke Kawamura,Masanobu Baba,Taishi ISHIKURA,Tatsuro SHINOZAKI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Positive resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US7338744B2. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinji Tarutani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-03-04.

Chemical liquid, chemical liquid storage body, and pattern forming method

Номер патента: US20190346764A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Gap filling composition and pattern forming method using composition containing polymer

Номер патента: US20200319556A1. Автор: Tatsuro Nagahara,Xiaowei Wang. Владелец: AZ Electronic Materials SARL. Дата публикации: 2020-10-08.

Imprint pattern forming method

Номер патента: US8444889B2. Автор: Ikuo Yoneda,Ryoichi Inanami,Hiroshi Tokue. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-05-21.

Photosensitive resin composition, pattern forming method, cured film, laminate, and device

Номер патента: US12078929B2. Автор: Toshihide Aoshima,Kenta Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Pattern forming method

Номер патента: US20140231380A1. Автор: Yuriko Seino,Hiroki YONEMITSU. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Pattern forming method

Номер патента: US09880464B2. Автор: Koji Matsuo,Daisuke Kawamura,Masanobu Baba,Taishi ISHIKURA,Tatsuro SHINOZAKI. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Lithography pattern forming method using self-organizing block copolymer

Номер патента: US09816004B2. Автор: Yusuke KASAHARA,Ayako KAWANISHI,Hiroki YONEMITSU. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Photoresist patterning process

Номер патента: US12085858B2. Автор: Srinivas D. Nemani,Huixiong Dai,Mangesh Ashok BANGAR,Ellie Y. Yieh,Steven Hiloong WELCH. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Photoresist removal method and photoresist removal device

Номер патента: US20230069533A1. Автор: Ning Xi,Wen Gu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Method and apparatus for dimension measurement of a pattern formed by lithographic exposure tools

Номер патента: TW578247B. Автор: Ilya Grodnensky,Eric R Johnson,Steve Slonaker. Владелец: Nikon Prec Inc. Дата публикации: 2004-03-01.

Method and apparatus of fabricating liquid crystal display device

Номер патента: US20070004108A1. Автор: Oh Kwon,Soon Yoo,Seung Nam,Heung Cho. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2007-01-04.

Etching pattern forming method in semiconductor manufacturing process

Номер патента: US12094719B2. Автор: Seung Hyun Lee,Su Jin Lee,Seung Hun Lee,Gi Hong Kim. Владелец: Youngchang Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Photolithography methods and structures that reduce stochastic defects

Номер патента: US20200004155A1. Автор: Yongan Xu,Lei Sun,Yong Liang,Craig D. Higgins. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2020-01-02.

Pattern forming method using contrast enhanced material

Номер патента: US4849323A. Автор: Kazufumi Ogawa,Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-18.

Method of forming photoresist pattern and projection exposure apparatus

Номер патента: US20230185201A1. Автор: Kanyu Cao. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-06-15.

Polyether compound, method for preparing same and photoresist composition

Номер патента: US09541833B2. Автор: Xuelan WANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Method for forming a photoresist pattern on a semiconductor substrate

Номер патента: US20030232283A1. Автор: Ming-Chuan Wang,Chen-Cheng Yung,Chang-Hao Yang. Владелец: SILICON INTEGRATED SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2003-12-18.

Method of creating an image in a photoresist laminate

Номер патента: EP2225611A1. Автор: Mark Sheldon,John Ganjei,Steven Abbott,Daniel J. Hart. Владелец: MacDermid Inc. Дата публикации: 2010-09-08.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150050600A9. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-19.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20170322492A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-11-09.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20140134544A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-05-15.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160320705A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-11-03.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160097978A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150160556A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-06-11.

Pattern-forming method

Номер патента: US09971247B2. Автор: Tomoki Nagai,Akihiro Oshima,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka,Seiji Nagahara,Seiichi Tagawa. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2018-05-15.

New 2-alkylthio-4,6-diamino-s-triazines and their preparation and herbicidal methods and preparations using them

Номер патента: IL31848A0. Автор: . Владелец: Agripat Sa. Дата публикации: 1969-05-28.

Ox40-targeted antibody, and preparation method therefor and application thereof

Номер патента: US20230295324A1. Автор: Jian Wang,Lei Shi,Bing Huang,Xingxing JIA. Владелец: Harbour Biomed Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Pattern-forming method

Номер патента: WO2013061601A1. Автор: Hiroki Nakagawa,Kentaro Harada,Hayato Namai,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-05-02.

Formation method and photoresist composition for phosphor screens of color picture tubes

Номер патента: US4954418A. Автор: Norio Koike. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1990-09-04.

Positive photoresist composition

Номер патента: US6773858B2. Автор: Tomoyoshi Furihata,Kyoko Soga,Hideto Kato. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2004-08-10.

Process of forming a negative pattern in a photoresist layer

Номер патента: CA1275846C. Автор: Bruno Roland,August Vrancken. Владелец: U C B ELECTRONICS SA. Дата публикации: 1990-11-06.

Method and apparatus for imaging with fiber optic arrays on non-flat surfaces

Номер патента: US20020192602A1. Автор: Derek Harris,Leo Kriksunov,John Mattson. Владелец: BMC Industries Inc. Дата публикации: 2002-12-19.

Method and apparatus for imaging with fiber optic arrays on non-flat surfaces

Номер патента: WO2002103455A3. Автор: Leo B Kriksunov,Derek Harris,John Mattson. Владелец: Bmc Ind Inc. Дата публикации: 2003-11-20.

Method and apparatus for imaging with fiber optic arrays on non-flat surfaces

Номер патента: WO2002103455A2. Автор: Leo B. Kriksunov,Derek Harris,John Mattson. Владелец: Bmc Industries, Inc.. Дата публикации: 2002-12-27.

Method of forming photoresist pattern and method of manufacturing perpendicular magnetic recording head

Номер патента: US8021829B2. Автор: Akifumi Kamijima. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2011-09-20.

Method of forming photoresist pattern and method of manufacturing perpendicular magnetic recording head

Номер патента: US20070155188A1. Автор: Akifumi Kamijima. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2007-07-05.

Photoresist pattern trimming methods

Номер патента: US09583344B2. Автор: Cheng-Bai Xu. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2017-02-28.

Method for inspecting photoresist pattern

Номер патента: US20100297791A1. Автор: Yi-Chung Sheng,Sheng-Yuan Hsueh,Chia-Chen Sun. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2010-11-25.

Photoresist pattern trimming methods

Номер патента: US09996008B2. Автор: Cheng-Bai Xu. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Chip preparation method and system, and chip

Номер патента: EP4395168A1. Автор: Dengfeng Li,Shengyu ZHANG,Shuoming AN,Wenlong Zhang,Maochun DAI,Jingjing HU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Patterns forming method

Номер патента: US09929019B2. Автор: Kuo-Yao Chou. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Method and device for patterning thick layers

Номер патента: US20200135841A1. Автор: Byron Lovell Williams,Jeffrey Alan West,John Britton Robbins. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-04-30.

Photoresist composition and color filter manufacturing method

Номер патента: US09880465B2. Автор: Yueyan Zhang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Method and apparatus for forming patterned photoresist layer

Номер патента: US20050181571A1. Автор: Jack Lin,Calvin Wu,George Huang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2005-08-18.

Process of forming a photoresist pattern and apparatus for correcting the pattern

Номер патента: US4623607A. Автор: Kozo Hosogai. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 1986-11-18.

Photoresist pattern trimming methods

Номер патента: US20170045822A1. Автор: Cheng-Bai Xu. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2017-02-16.

Method and apparatus for forming patterned photoresist layer

Номер патента: US20050250225A1. Автор: Jack Lin,Calvin Wu,George Huang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-11-10.

Multiple pass write method and reticle

Номер патента: US20030031941A1. Автор: Eugene DeLaRosa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-02-13.

Ashing apparatus, ashing methods, and methods for manufacturing semiconductor devices

Номер патента: US20030073322A1. Автор: Takumi Shibata. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2003-04-17.

Multiple pass write method and reticle

Номер патента: US20020071998A1. Автор: Eugene DeLaRosa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-13.

Method of manufacturing semiconductor device and photoresist composition

Номер патента: US20240288769A1. Автор: Ching-Yu Chang,Tzu-Yang Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Photoresist coating failure sensing methods and detection devices

Номер патента: US20040266012A1. Автор: Ook Kim. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-12-30.

Method and tool of lithography

Номер патента: US09651870B2. Автор: Tsung-Pao Chen,Sheng-Min CHUANG,Teng-Kuei CHUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Method for forming a photoresist pattern and apparatus applicable therewith

Номер патента: US4935334A. Автор: Ulrich C. Boettiger,Bernhard Hafner. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1990-06-19.

Method for forming a photoresist pattern and apparatus applicable therewith

Номер патента: US5111240A. Автор: Ulrich C. Boettiger,Bernhard Hafner. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1992-05-05.

Method and apparatus for diffractive transfer of a mask grating

Номер патента: EP1430348A2. Автор: Per Eld Ibsen,Poul-Erik Hansen. Владелец: Ibsen Photonics AS. Дата публикации: 2004-06-23.

Method and evaporating solution for rinsing a developed photoresist layer

Номер патента: EP1368824A1. Автор: Carl P. Babcock. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-12-10.

Process for coating a photoresist composition onto a substrate

Номер патента: WO1990011837A1. Автор: Ivan S. Daraktchiev. Владелец: Olin Hunt Specialty Products Inc.. Дата публикации: 1990-10-18.

Method and evaporating solution for rinsing a developed photoresist layer

Номер патента: WO2002073677A1. Автор: Carl P. Babcock. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2002-09-19.

Forming method of etching mask, control program and program storage medium

Номер патента: WO2009054131A1. Автор: Eiichi Nishimura,Koichi Yatsuda. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2009-04-30.

Exposure method, mask data producing method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US8142960B2. Автор: Satoshi Nagai,Kazuya Fukuhara. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-03-27.

Optical method and apparatus for quickly realizing precise calibration of lithography system

Номер патента: US20240345488A1. Автор: Yayi Wei,Dandan Han. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2024-10-17.

Optical proximity correction method and method of fabricating a semiconductor device using the same

Номер патента: US11921419B2. Автор: Bong-Soo Kang,Sooyong Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-05.

Overlay measuring pattern, photomask, and overlay measuring method and apparatus

Номер патента: US20030203288A1. Автор: Tetsuya Kitagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-10-30.

Pattern forming apparatus

Номер патента: US4480910A. Автор: Yoshio Kawamura,Sumio Hosaka,Masamoto Akeyama,Shinji Kuniyoshi,Akihiro Takanashi,Tatsuo Harada,Yataro Kondo,Toshiei Kurosaki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-11-06.

Pattern forming apparatus

Номер патента: CA1159160A. Автор: Yoshio Kawamura,Sumio Hosaka,Masamoto Akeyama,Shinji Kuniyoshi,Akihiro Takanashi,Tatsuo Harada,Yataro Kondo,Toshiei Kurosaki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1983-12-20.

Method and system for manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US20230369060A1. Автор: Yao-Hwan Kao,Ching-Hai Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Method of providing planarity of a photoresist

Номер патента: US6541347B2. Автор: Hui Min Mao,Tzu Ching Tsai,Han Chih Lin. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2003-04-01.

Patterns forming method

Номер патента: US20170294317A1. Автор: Kuo-Yao Chou. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-10-12.

Method and apparatus of wafer print simulation using hybrid model with mask optical images

Номер патента: WO2004079632A3. Автор: Linyong Pang. Владелец: Numerical Tech Inc. Дата публикации: 2004-10-21.

Methods for detecting the endpoint of a photoresist stripping process

Номер патента: US20020148811A1. Автор: Tuqiang Ni,Wenli Collision. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-17.

Method of controlling removal of photoresist in openings of a photoresist mask

Номер патента: US20050032004A1. Автор: Arkady Nikitin,Dmitriy Yeremin. Владелец: General Phosphorix LLC. Дата публикации: 2005-02-10.

Resist pattern forming method and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20230082514A1. Автор: Kentaro Matsunaga,Satomi Abe,Issui Aiba. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Semiconductor device manufacturing method and resist pattern forming method

Номер патента: US9437637B2. Автор: MASAHIKO KONDO,Nobutaka Ukigaya,Koji Hara,Satoshi Yoshizaki,Atsushi Kanome. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Photoresist characteristics analysis method and characteristics analysis device

Номер патента: EP4071461A1. Автор: Akira Watanabe,Tadashi Okuno,Takeji Ueda. Владелец: Femto Deployments Inc. Дата публикации: 2022-10-12.

Photoresist characteristics analysis method and characteristics analysis device

Номер патента: US20240102927A1. Автор: Akira Watanabe,Tadashi Okuno,Takeji Ueda. Владелец: Femto Deployments Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Photolithography method and system based on high step slope

Номер патента: US9939724B2. Автор: Jiale SU. Владелец: CSMC Technologies Fab1 Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Photolithography method and system based on high step slope

Номер патента: US20150227048A1. Автор: Jiale SU. Владелец: CSMC Technologies Fab1 Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-13.

Method of designing an exposure mask, exposure method, pattern forming method and device manufacturing method

Номер патента: EP1642171B1. Автор: Takako Yamaguchi,Yasuhisa Inao. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-15.

Exposure pattern forming method and exposure pattern

Номер патента: US20050174557A1. Автор: Kazuhisa Ogawa,Hidetoshi Ohnuma. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-08-11.

Method of forming a photoresist layer

Номер патента: US09875892B2. Автор: Chih-Chien Wang,Hung-Chang Hsieh,Chun-Wei Chang,Wang-Pen Mo. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Photoresist coating method and apparatus for performing same

Номер патента: US20060278160A1. Автор: Yu-Huang Su,Shih-Jen Chen,Chen-Nan Chou. Владелец: Quanta Display Inc. Дата публикации: 2006-12-14.

Method and apparatus for reducing color conflicts during trim generation for phase shifters

Номер патента: US20020164533A1. Автор: Shao-Po Wu,Seonghun Cho. Владелец: Numerical Technologies Inc. Дата публикации: 2002-11-07.

Method and Apparatus of Patterning a Semiconductor Device

Номер патента: US20200064740A1. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Method and apparatus for detecting the endpoint of a photoresist stripping process

Номер патента: EP1247295A2. Автор: Tuqiang Ni,Wenli Collison. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2002-10-09.

Method and apparatus for producing rectangular contact holes utilizing side lobe formation

Номер патента: EP1150164A3. Автор: Uwe Paul Schroeder. Владелец: Infineon Technologies North America Corp. Дата публикации: 2003-10-08.

Photolithography method and system based on high step slope

Номер патента: US20180188652A1. Автор: Jiale SU. Владелец: CSMC Technologies Fab1 Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-05.

Plate pattern forming method and its inspecting method

Номер патента: US20020006562A1. Автор: Satoshi Akutagawa,Koujiro Suzuki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2002-01-17.

Scanning wedge method for determining characteristics of a photoresist

Номер патента: US4618233A. Автор: Walter G. Hertlein. Владелец: Shipley Co Inc. Дата публикации: 1986-10-21.

Exposure pattern forming method and exposure pattern

Номер патента: US20050204330A1. Автор: Kazuhisa Ogawa,Hidetoshi Ohnuma. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-09-15.

Method for controlling a process for patterning a feature in a photoresist

Номер патента: US6248485B1. Автор: John David Cuthbert. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2001-06-19.

Method and apparatus for scanning exposure having thickness measurements of a film surface

Номер патента: US5744814A. Автор: Takayuki Uchiyama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1998-04-28.

Method and master for making a color selection mask for a color cathode ray tube

Номер патента: CA1074171A. Автор: Howard G. Lange. Владелец: Zenith Radio Corp. Дата публикации: 1980-03-25.

Method and apparatus of patterning a semiconductor device

Номер патента: US11762296B2. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Method and mask for enhancing the resolution of patterning 2-row holes

Номер патента: WO2012138557A2. Автор: Chun-Ming Wang,Masaaki Higashitani,Chenche Huang. Владелец: SANDISK TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2012-10-11.

Method and mask for enhancing the resolution of patterning 2-row holes

Номер патента: US20120258387A1. Автор: Chun-Ming Wang,Masaaki Higashitani,Chenche Huang. Владелец: SanDisk Corp. Дата публикации: 2012-10-11.

Method of improving planarity of a photoresist

Номер патента: US20020048895A1. Автор: Han Lin,Hui Mao,Tzu Tsai. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2002-04-25.

Overlay measuring pattern, photomask, and overlay measuring method and apparatus

Номер патента: US20010036582A1. Автор: Tetsuya Kitagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-01.

Method of laminating a photoresist sheet to a substrate

Номер патента: EP1307784A2. Автор: Bret Walczynski. Владелец: Chromaline Corp. Дата публикации: 2003-05-07.

Method of laminating a photoresist sheet to a substrate

Номер патента: WO2002012960A2. Автор: Bret Walczynski. Владелец: The Chromaline Corporation. Дата публикации: 2002-02-14.

Digital ultraviolet lithography method and apparatus

Номер патента: US20240210837A1. Автор: Han Wang,Aping Zhang,Zuoqin DING,Taige LI. Владелец: Hong Kong Polytechnic University HKPU. Дата публикации: 2024-06-27.

Method of forming a photoresist layer

Номер патента: US20150243500A1. Автор: Chih-Chien Wang,Hung-Chang Hsieh,Chun-Wei Chang,Wang-Pen Mo. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-08-27.

Method and apparatus of wafer print simulation using hybrid model with mask optical images

Номер патента: WO2004079632A2. Автор: Linyong Pang. Владелец: Numerical Technologies Inc.. Дата публикации: 2004-09-16.

Method of improving astigmatism of a photoresist layer

Номер патента: US20020160314A1. Автор: Shun-Li Lin,Wei-Hua Hsu. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2002-10-31.

System for exposure of ultra-violet light to a photoresist developer solution

Номер патента: US20240210835A1. Автор: Joseph Bloxham. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Semiconductor device and a method for producing semiconductor device

Номер патента: US8778779B2. Автор: Mitsufumi Naoe. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2014-07-15.

Pattern forming method for forming a pattern

Номер патента: US10317797B2. Автор: Takehiro Seshimo,Kenichi Oyama,Hidetami Yaegashi,Yoshitaka Komuro,Katsumi Ohmori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-06-11.

Exposure method and tool

Номер патента: EP1894062A1. Автор: Neil Sykes,Richard Allott. Владелец: Exitech Ltd. Дата публикации: 2008-03-05.

Methods and apparatus for forming dual polarized images

Номер патента: US20180314061A1. Автор: W. Dennis Slafer,Christine Higgins. Владелец: MicroContinuum Inc. Дата публикации: 2018-11-01.

Method and apparatus for performing a double shift print on a substrate

Номер патента: US6163368A. Автор: Bernie B. Hu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2000-12-19.

Method and/or system for coating a substrate

Номер патента: US20200164402A1. Автор: Gary Hillman,Victoria Rocha. Владелец: Service Support Specialties Inc. Дата публикации: 2020-05-28.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device manufacturing system

Номер патента: US20050196706A1. Автор: Kouichi Nagai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2005-09-08.

Simulation method and semiconductor device fabrication method

Номер патента: US20070198965A1. Автор: Hiroki Futatsuya. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-08-23.

Method of predicting photoresist patterns defined by photomask patterns

Номер патента: US20090138236A1. Автор: Shih-Lung Tsai. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-28.

Method and apparatus for measuring dimension of photomask pattern

Номер патента: US20070201044A1. Автор: Takeshi Yamane. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-08-30.

Method and apparatus for making an adhesive cleaning sheet

Номер патента: WO2006023278A1. Автор: Ronald E. Bergsten,Kim C. Sachs,Thomas E. Haskett,Randy L. Moseng. Владелец: 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY. Дата публикации: 2006-03-02.

Pattern transfer method and pattern transfer apparatus

Номер патента: US20070212488A1. Автор: Kenichi Murooka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-13.

Electroless plating method and ceramic substrate

Номер патента: US09949374B2. Автор: Hiromi Yamanaka,Shiro Sekino,Yohei Takemoto,Yuta Kaihatsu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Pattern forming method

Номер патента: US09659816B2. Автор: Koji Asakawa,Atsushi Hieno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Pattern layout and the forming method thereof

Номер патента: US20240040764A1. Автор: Yifei Yan. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Methods of detecting printing defects on photoresist patterns

Номер патента: US20200142297A1. Автор: Jun Taek Park. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2020-05-07.

Methods of detecting printing defects on photoresist patterns

Номер патента: US20200409256A1. Автор: Jun Taek Park. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2020-12-31.

Processing method and system for color film substrate

Номер патента: US20210018785A1. Автор: Huailiang He. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Method and system for metastasis diagnosis and prognosis

Номер патента: US20200393439A1. Автор: Mohammad ABDOLAHAD,Mahsa Faramarzpour Darzini,Mohammad Saeid Nik Shoar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-12-17.

Methods of detecting printing defects on photoresist patterns

Номер патента: US11187976B2. Автор: Jun Taek Park. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2021-11-30.

Image Forming Apparatus, Image Forming Method, and Image Forming Program

Номер патента: US20210405564A1. Автор: Kazuya Kitamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-12-30.

Powder pasting device, image forming apparatus, powder pasting method, and image forming method

Номер патента: US20200192239A1. Автор: Atsuto Hirai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-06-18.

Substrate processing method and control apparatus

Номер патента: US09798317B2. Автор: Katsuhiko Komori,Yuichi Takenaga. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Pattern forming method, method for manufacturing color filter, and color filter manufactured thereby

Номер патента: US09352520B2. Автор: Yasuo Sugishima,Mitsuji Yoshibayashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Color resist material, filter, and preparation method thereof

Номер патента: US11732137B2. Автор: Hsiaohsien Chen,Lin Al. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-22.

Color resist material, filter, and preparation method thereof

Номер патента: US20220119643A1. Автор: Hsiaohsien Chen,Lin Ai. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-21.

Light-mediated method and apparatus for the regional analysis of biologic material

Номер патента: US6159681A. Автор: John A. Zebala. Владелец: Syntrix Biochip Inc. Дата публикации: 2000-12-12.

Method for measuring the concentration of a photoresist in a stripping liquid

Номер патента: US9797828B2. Автор: LI Wang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Image forming method and apparatus and mobile terminal

Номер патента: US20210294471A1. Автор: Chu-Hsin CHENG. Владелец: Sony Mobile Communications Inc. Дата публикации: 2021-09-23.

Compounds, method for their preparing, methods of treatment

Номер патента: RU2296121C2. Автор: Милан Радое УСКОКОВИЦ. Владелец: Ф.Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2007-03-27.

Bis(fluorosulfonyl)imide salts and preparation method thereof

Номер патента: US20240228283A9. Автор: Byeong-Ki Kim,Olivier Buisine,Yeon-Joon Kim. Владелец: SOLVAY SA. Дата публикации: 2024-07-11.

N-type double-sided solar cell preparation method

Номер патента: EP4365964A1. Автор: Qian Yao,Guoqiang Xing,Wenzhou XU. Владелец: Tongwei Solar Meishan Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Method and apparatus for exposing photoresist by using an electron beam and controlling its voltage and charge

Номер патента: CA1226075A. Автор: Arnold Reisman. Владелец: MCNC. Дата публикации: 1987-08-25.

Preparation method for amphiphilic nanosheet

Номер патента: US20240270884A1. Автор: Jian Zhang,Gang Wu,Xinliang Li,Yinan Xu,Ming DUAN,Yuhan Wu,Shenwen FANG,Mengyuan NIE. Владелец: SOUTHWEST PETROLEUM UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-15.

Preparation method for amphiphilic nanosheet

Номер патента: US12098225B2. Автор: Jian Zhang,Gang Wu,Xinliang Li,Yinan Xu,Ming DUAN,Yuhan Wu,Shenwen FANG,Mengyuan NIE. Владелец: SOUTHWEST PETROLEUM UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-09-24.

Polyolefins and method for their preparing

Номер патента: RU2243976C2. Автор: Фернан ГОТИ. Владелец: Солвей (Сосьете Аноним). Дата публикации: 2005-01-10.

4-methoxy-2,6-diamino-s-triazines,their preparation,and herbicidal methods and preparations using them

Номер патента: IL31847A. Автор: . Владелец: Agripat Sa. Дата публикации: 1972-05-30.

New 4-methoxy-2,6-diamino-s-triazines,their preparation,and herbicidal methods and preparations using them

Номер патента: IL31847A0. Автор: . Владелец: Agripat Sa. Дата публикации: 1969-05-28.

Preparation method of mogroside and processing device therefor

Номер патента: US20240180224A1. Автор: Jian Wei,Xiaoyan Liang,Wude Mao,Rongjun TANG,Haiyuan LIN. Владелец: Guilin Sanleng Biotech Co ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Reduced titanium dioxide and preparing method of the same

Номер патента: US10195586B2. Автор: Youngmin Kim,Hyoyoung Lee,Luyang Wang. Владелец: SUNGKYUNKWAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-02-05.

A kind of preparation method of catalyst and a kind of preparation method of monoethanolamine

Номер патента: CN105536858B. Автор: 杨振,宫飞祥. Владелец: Shaanxi Yanchang Petroleum Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Corrosion-resistant nickel alloy, preparation method therefor and use thereof

Номер патента: US11866806B2. Автор: Wenchao Ma,Sixuan ZENG,Terrence Wenga. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-01-09.

Corrosion-resistant nickel alloy, preparation method therefor and use thereof

Номер патента: US20230212715A1. Автор: Wenchao Ma,Sixuan ZENG,Terrence Wenga. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-07-06.

Novel chitosan-containing liquid compositions and methods for their preparation and use

Номер патента: EP1100344A1. Автор: Nicholas Hardinge-Lyme. Владелец: e-nutriceuticals Inc. Дата публикации: 2001-05-23.

Novel chitosan-containing liquid compositions and methods for their preparation and use

Номер патента: AU5324999A. Автор: Nicholas Hardinge-Lyme. Владелец: e-nutriceuticals Inc. Дата публикации: 2000-02-21.

Alkyl ether substituted cyclotrisiloxanes and preparation method thereof

Номер патента: US20190315780A1. Автор: Barry C. Arkles,Jonathan D. GOFF. Владелец: Gelest Technologies Inc. Дата публикации: 2019-10-17.

Pattern forming method, device, and device manufacturing method

Номер патента: US09455074B2. Автор: Nobuhiro Hayakawa,daisuke Uematsu,Yuri Saito,Kentarou Mori,Ryouma Nakayama. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Surface member forming method and surface member

Номер патента: RU2296674C2. Автор: Раймо ТИККА. Владелец: Тикка-Систем Ой. Дата публикации: 2007-04-10.

Starch-based fluffy particle, preparation method and use thereof

Номер патента: AU2021385100B2. Автор: Aijun Guo,Jianjin WANG,Shunqing Tang. Владелец: Honest Medical China Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Surface forming method for electronic component

Номер патента: US20160027453A1. Автор: Jian Hui Huang,Hong Tao Ma,Natsuo Nishijima,Huan Chao Liang. Владелец: SAE Magnetics HK Ltd. Дата публикации: 2016-01-28.

Display device including a COA substrate having a photoresist plug on an ITO film

Номер патента: US09726956B2. Автор: Yue Wu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Preparation method and system for josephson junction

Номер патента: EP4329464A1. Автор: Dengfeng Li,Wenlong Zhang,Maochun DAI,Kunliang BU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

Biological test chip and a manufacturing method thereof

Номер патента: US20100219073A1. Автор: Chiu-Hui LIN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-09-02.

Methods and systems for determining a dose-to-clear of a photoresist

Номер патента: US9275449B2. Автор: Lei Sun,II Obert Reeves Wood. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-03-01.

Method and apparatus for exposing optical disk master

Номер патента: US20030058755A1. Автор: Eiichi Ito,Shinya Abe,Shuji Sato,Morio Tomiyama,Masahiko Tsukuda. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2003-03-27.

Method and system for preparing josephson junction

Номер патента: US20230422634A1. Автор: Dengfeng Li,Wenlong Zhang,Maochun DAI,Kunliang BU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Methods and systems for determining a dose-to-clear of a photoresist

Номер патента: US20150023583A1. Автор: Lei Sun,Obert Reeves Wood, III. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2015-01-22.

Method and system for metastasis diagnosis and prognosis

Номер патента: WO2022043740A1. Автор: Mohammad ABDOLAHAD,Mahsa Faramarzpour Darzini,Mohammad Saeid Nik Shoar. Владелец: Mahsa Faramarzpour Darzini. Дата публикации: 2022-03-03.

Method for detecting distance deviations to a photoresist surface in an optical printer

Номер патента: US4498775A. Автор: Lawrence K. White. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1985-02-12.

Pattern forming method, mold and data processing method

Номер патента: US8722535B2. Автор: Masafumi Asano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-05-13.

Method and system for providing a bottom arc layer that can act as a write gap or seed layer for a write head

Номер патента: US20010022704A1. Автор: Liubo Hong. Владелец: Read Rite Corp. Дата публикации: 2001-09-20.

Microbead analysis method and microbead analyzer

Номер патента: US20110136263A1. Автор: Takuya Kishimoto,Noriyuki Kishii,Mari Ichimura,Kazumine Ito,Naohisa Sakamoto,Kenzo Machida. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-06-09.

Pattern forming method

Номер патента: US20150079794A1. Автор: Hiroki Tanaka,Naoko Kihara,Ryosuke Yamamoto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-19.

Image forming method and device

Номер патента: RU2713859C1. Автор: Вэй ГО. Владелец: Алибаба Груп Холдинг Лимитед. Дата публикации: 2020-02-07.

Preparation method, apparatus, and device for coplanar waveguide structure, and superconducting device

Номер патента: US12095134B2. Автор: Chengchun Tang. Владелец: Alibaba China Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Benzazepine ketone compounds as glycogen phosphorylase inhibitor, preparation method therefor, and medical uses

Номер патента: US09868735B2. Автор: Liying Zhang. Владелец: Chengde Medical University. Дата публикации: 2018-01-16.

Epothilone Compounds, Preparation Method and Use Thereof

Номер патента: US20120322838A1. Автор: LI TANG,Rongguo Qiu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-12-20.

Crystal forms of an antitumor agent and their preparation methods

Номер патента: US11111267B2. Автор: Xianchang Gong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-07.

Crystal forms of an antitumor agent and their preparation methods

Номер патента: US20210047362A1. Автор: Xianchang Gong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-02-18.

Lung-targeting nanobodies against pulmonary surfactant protein A and their preparation

Номер патента: US09908934B2. Автор: Huiping Li,Shanmei Wang. Владелец: Tongji University School Of Medicine. Дата публикации: 2018-03-06.

Preparation method, apparatus, and device for coplanar waveguide structure, and superconducting device

Номер патента: US20220285819A1. Автор: Chengchun Tang. Владелец: Alibaba China Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-08.

Anti-obesity microbiota compositions and preparation methods and uses thereof

Номер патента: US20190076485A1. Автор: Cheng-Yuan KAO,Jhen-Wei RUAN. Владелец: National Health Research Institutes. Дата публикации: 2019-03-14.

Anti-obesity microbiota compositions and preparation methods and uses thereof

Номер патента: EP3442546A1. Автор: Cheng-Yuan KAO,Jhen-Wei RUAN. Владелец: Kao Cheng Yuan. Дата публикации: 2019-02-20.

Pentacyclic triterpenoid compound with modified structure and preparation method and use thereof

Номер патента: US09725482B2. Автор: Honglin Wang. Владелец: Suzhou Botany Biomedical Co ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Indole compound, and preparation method therefor and use thereof

Номер патента: EP4397653A1. Автор: Yao Ma,Xiaokai Wang,Xiaoqiang Xu,Xianbin ZHONG. Владелец: Shenzen 01 Life Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Phenoxy(or phenylthio)-cyclohexane(or cyclopentane)carboxylic acid derivatives and their preparation

Номер патента: IL46790A. Автор: . Владелец: Sparamedica Ag. Дата публикации: 1976-05-31.

Vascularized islet and preparation method thereof

Номер патента: US20240228974A9. Автор: Zhuangzhuang YANG,Deling Kong,Hongmeng MA. Владелец: Nankai University. Дата публикации: 2024-07-11.

Vascularized islet and preparation method thereof

Номер патента: US20240132850A1. Автор: Zhuangzhuang YANG,Deling Kong,Hongmeng MA. Владелец: Nankai University. Дата публикации: 2024-04-25.

Preparation method for wear-resistant super-hydrophobic coating on surface of sampling needle

Номер патента: EP4088829A1. Автор: Lidong SUN,Kaiqi ZHAO. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2022-11-16.

Bis(silylpropyl)arenes and their preparation methods

Номер патента: US5523444A. Автор: Il N. Jung,Mi-Yeon Suk,Bong W. Lee,Sang K. Park. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 1996-06-04.

Metal pattern forming method

Номер патента: US20090087570A1. Автор: Seiichi Inoue,Yasuhiko Maeda,Ken Kawata. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

Surface treatment method and casting roll manufactured by the same

Номер патента: US20170129004A1. Автор: Sung Jin Park,Man Jin HA,Suk Kyun HWANG. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-11.

Method and apparatus to treat semiconductor substrate

Номер патента: US20200058487A1. Автор: Chung-Hao Chang,Chitong Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Cold Forming Method for Forming Power Pins and Power Pin Formed Thereof

Номер патента: US20160336675A1. Автор: Manzhi Zhou,Guangdong Song. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-11-17.

Cold forming method for forming power pins and power pin formed thereof

Номер патента: US09634419B2. Автор: Manzhi Zhou,Guangdong Song. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-25.

Quantum bit assembly, quantum bit assembly preparation method, chip, and device

Номер патента: EP4191693A1. Автор: HUI Wang,Chenji ZOU,Yarui ZHENG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-07.

Method and apparatus for stretching polymer film and solution film-forming method

Номер патента: KR101566202B1. Автор: 켄타로 타니무라. Владелец: 후지필름 가부시키가이샤. Дата публикации: 2015-11-05.

Forming method and the teeth portion component manufactured according to the forming method

Номер патента: CN104582874B. Автор: S.吕施,L.韦特劳. Владелец: VOLKSWAGEN AG. Дата публикации: 2017-08-11.

Field effect transistor, preparation method thereof, and electronic circuit

Номер патента: US20240213322A1. Автор: Hui Sun,Hongsheng YI,Biao Gao,Haolin Hu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Forming method for floating contact hole, and semiconductor device

Номер патента: EP4401119A1. Автор: Song Zhang,Wenming Zhu,Qun Liu,Yaohui ZHOU,Dejin Wang. Владелец: CSMC Technologies Fab2 Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Forming method for floating contact hole, and semiconductor device

Номер патента: US20240290846A1. Автор: Song Zhang,Wenming Zhu,Qun Liu,Yaohui ZHOU,Dejin Wang. Владелец: CSMC Technologies Fab2 Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Conductor pattern forming method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US09466485B2. Автор: Keita Torii. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Apparatus for hard baking photoresist pattern

Номер патента: US20020030046A1. Автор: Se-Jin Jang. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 2002-03-14.

Preparation method of poly-silicon TFT array substrate and array substrate thereof

Номер патента: US09653496B2. Автор: Jing NIU,Zhijun LV,Fangzhen Zhang,Shuang Sun. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Plasma etching method and plasma etching apparatus

Номер патента: US20160268140A1. Автор: Shunichi Mikami. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-09-15.

Hole pattern forming method and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20090093120A1. Автор: Toshiyuki Hirota. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2009-04-09.

Methods and Structures Involving Terminal Connections

Номер патента: US20120168210A1. Автор: Terence B. Hook,Vidhya Ramachandran. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-07-05.

Methods and apparatus for alignment marks

Номер патента: US09899334B1. Автор: Fuchao Wang,Dongping Zhang,Billy Alan WOFFORD,Prakash Dalpatbhai Dev,Dina Rodriguez. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Complementary thin film transistor driving back plate and preparing method thereof, and display device

Номер патента: US09647014B2. Автор: Gang Wang,Xiaodi LIU. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Preparation method of patterned film, display substrate and display device

Номер патента: US09445506B2. Автор: LIN Li,SHAN CHANG,Chen Tang,Yangyang Xin. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Plasma etching method and plasma etching apparatus

Номер патента: US09524876B2. Автор: Masanobu Honda,Toru Hisamatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Improved methods and apparatus for controlled partial ashing in a variable-gap plasma processing chamber

Номер патента: WO1998042014A1. Автор: David M. Bullock. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 1998-09-24.

Substrate preparation method for a mems fabrication process

Номер патента: US20080053954A1. Автор: Kia Silverbrook. Владелец: SILVERBROOK RESEARCH PTY LTD. Дата публикации: 2008-03-06.

Plasma etching method and plasma etching apparatus

Номер патента: US20150206715A1. Автор: Takayuki Ishii,Ryoichi Yoshida,Ken Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-07-23.

Preparation method for power diode

Номер патента: US09502534B2. Автор: Shengrong Zhong,Dongfei Zhou,Xiaoshe Deng,Genyi Wang. Владелец: CSMC Technologies Fab1 Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Method and apparatus for producing grating, and DFB solid-state dye laser based on the grating

Номер патента: US20080165820A1. Автор: Makoto Fukuda. Владелец: Minebea Co Ltd. Дата публикации: 2008-07-10.

Method and system for making and cleaning semiconductor device

Номер патента: US8673764B1. Автор: Zhugen Yuan. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Corp. Дата публикации: 2014-03-18.

Tea composition comprising cyclocarya paliurus and preparation method and uses thereof

Номер патента: US20170173101A1. Автор: Xia Zheng,Zhen Luo,Chung Wah MA,Xiaolei Guo. Владелец: Infinitus China Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-22.

A method of manufacturing a silicon bipolar junction transistor, and a bjt

Номер патента: EP4398310A1. Автор: Patrick SEBEL,Jay Paul John,James Albert Kirchgessner. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-07-10.

Method of manufacturing a silicon bipolar junction transistor, and a bjt

Номер патента: US20240234552A1. Автор: Patrick SEBEL,Jay Paul John,James Albert Kirchgessner. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-07-11.

Pattern forming method and semiconductor device manufacturing method using the same

Номер патента: US09941285B2. Автор: Jae-Houb CHUN,Jeong-Sub LIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Semiconductor device and a method of manufacturing the same

Номер патента: US09899316B2. Автор: Katsuhiko Hotta,Kyoko Sasahara. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Method and compositions for hardening photoresist in etching processes

Номер патента: US20040079727A1. Автор: Chris Lee,Yousun Taylor,Wendy Nguyen. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2004-04-29.

Photoresist removal method and patterning process utilizing the same

Номер патента: US20130210237A1. Автор: Yuan-Chi Pai,Hung-Yi Wu,Yu-Wei Cheng,Chang-Mao Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

Pattern forming method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20220084833A1. Автор: Hironobu Sato,Yoshihiro Naka. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Pattern forming method and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11024510B2. Автор: Tsubasa IMAMURA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-06-01.

Selective Etching Method and Method for Forming an Isolation Structure of a Memory Device

Номер патента: US20100167494A1. Автор: Dae Jin Park. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2010-07-01.

Methods for fabricating capacitor structures using a photoresist layer

Номер патента: US5879984A. Автор: Jong-Jin Lee,Yun-Seung Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1999-03-09.

Image forming apparatus, image forming method, pattern forming method and recording medium

Номер патента: US8628165B2. Автор: Takayuki Ito. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-14.

Cover for a Photoresist Container

Номер патента: US20100078434A1. Автор: Te-San Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-04-01.

Tablets for resolution and method for their preparing

Номер патента: RU2321389C2. Автор: ФЕРРАН Хавьер СЕГАДО. Владелец: Вита Сьентифика, С.Л.. Дата публикации: 2008-04-10.

Plasma etching method and plasma etching apparatus

Номер патента: US20150332929A1. Автор: Masanobu Honda,Toru Hisamatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-11-19.

Complementary silicon-insulator-semiconductor field effect transis tor integrated circuit and a method for its manufacture

Номер патента: GB1363581A. Автор: . Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1974-08-14.

Device for removing a stopper of a photoresist bottle

Номер патента: US20100071513A1. Автор: Ming Chou Wang. Владелец: Inotera Memories Inc. Дата публикации: 2010-03-25.

Method and apparatus to fabricate an on-chip decoupling capacitor

Номер патента: US20040061197A1. Автор: Christopher Thomas,Bruce Block. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-04-01.

Method and apparatus for providing interconnection between metallization layers on semiconductors devices

Номер патента: US4963510A. Автор: Bobby A. Roane. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1990-10-16.

Pesticidal compositions, their preparation and their use

Номер патента: IE48020B1. Автор: . Владелец: Shell Int Research. Дата публикации: 1984-09-05.

Stable polyphenol-based solution compositions, and methods and systems for their preparation

Номер патента: CA2619193A1. Автор: John E. Kulesza. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-31.

Pattern forming method, electronic wiring substrate, and optical device

Номер патента: US09596758B2. Автор: Takeichi Tatsuta. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Suspension microstructure and a fabrication method for the same

Номер патента: US20090243084A1. Автор: Siew-Seong Tan. Владелец: MEMSMART Semiconductor Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Semiconductor device manufacturing method and design support apparatus

Номер патента: US20100190327A1. Автор: Yuji Setta. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2010-07-29.

Pattern forming method, semiconductor device manufacturing apparatus and storage medium

Номер патента: US20090176374A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-07-09.

Metal pattern forming method

Номер патента: US20230028779A1. Автор: Kenji Ichikawa,Eijiro Iwase. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-01-26.

Substrate processing method and substrate processing device

Номер патента: EP4421850A1. Автор: Takayoshi Tanaka,Tomoya Tanaka,Masayuki Otsuji,Akihisa Iwasaki,Ryuta Tsukahara. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Semiconductor device having hard mask structure and fine pattern and forming method thereof

Номер патента: US09437444B2. Автор: Sung-Kwon Lee,Ho-Jin Jung,Jun-Hyeub Sun,Chun-Hee Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Substrate treating method and substrate treating apparatus

Номер патента: US11133175B2. Автор: Yuta Sasaki,Yosuke Hanawa,Dai Ueda. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-28.

A chewable tablet with calcium and vitamin D and preparation method thereof

Номер патента: AU2021104464A4. Автор: Yue Wu. Владелец: Super Foods New Zealand Ltd. Дата публикации: 2021-09-16.

Etching Method and Apparatus

Номер патента: US20130072013A1. Автор: Ying Zhang,Chien-An Chen,Shih-Hung Chen,Ying Xiao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-03-21.

New thrombin inhibitors, their preparing and applying

Номер патента: RU2262508C2. Автор: Давид ГУСТАФССОН,Ян-Эрик НЮСТРЁМ. Владелец: Астразенека Аб. Дата публикации: 2005-10-20.

Improved method and means forthe colouring of plastics in patterned form

Номер патента: AU246945B2. Автор: Enterprises Limited Photostatic. Владелец: Individual. Дата публикации: 1960-10-13.

Improved method and means forthe colouring of plastics in patterned form

Номер патента: AU4768959A. Автор: Enterprises Limited Photostatic. Владелец: Individual. Дата публикации: 1960-10-13.

Method and equipment used for data processing in pattern forming device

Номер патента: JPS6381571A. Автор: Kunihiko Tsuboi,坪井 邦彦. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1988-04-12.

Slot forming method and method of supporting earth retaining body in slot forming method

Номер патента: JP3154962B2. Автор: 孝夫 種田. Владелец: 北日本建材リース株式会社. Дата публикации: 2001-04-09.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003590A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR REPAIRING FLAT PANEL DISPLAY

Номер патента: US20120002155A1. Автор: . Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2012-01-05.

The polymorph forms of 4-anilinoquinazoline derivatives, the preparation methods and uses thereof

Номер патента: US20120004249A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND IMAGE FORMING METHOD

Номер патента: US20120002982A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND IMAGE FORMING METHOD

Номер патента: US20120002990A1. Автор: TAKEUCHI Toshifumi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM USING THE SAME AND PATTERN FORMING METHOD

Номер патента: US20120003586A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

LOCAL EXPOSURE APPARATUS, LOCAL EXPOSURE METHOD AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120002183A1. Автор: Tanaka Shigeki,Matsumura Yuki,Ota Yoshiharu,MORIYAMA Shigeru. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERNS FORMED ON A SUBSTRATE

Номер патента: US20120002860A1. Автор: Sakai Kaoru,Shibuya Hisae,Maeda Shunji,Nishiyama Hidetoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Apparatus For Inspecting Defect Of Pattern Formed On Semiconductor Device

Номер патента: US20120002861A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CRYSTALLINE CERIUM OXIDE AND PREPARATION METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120000137A1. Автор: CHOI Sang-Soon,CHO Seung-Beom,HA Hyun-Chul,KWAK Ick-Soon,CHO Jun-Yeon. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURE METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001344A1. Автор: IDANI Naoki,TAKESAKO Satoshi. Владелец: FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

FEATURE POINT GENERATION SYSTEM, FEATURE POINT GENERATION METHOD, AND FEATURE POINT GENERATION PROGRAM

Номер патента: US20120002867A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MODIFIED SODIUM-MONTMORILLONITE, PREPARATION METHOD AND USES THEREOF

Номер патента: US20120003328A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING METHOD

Номер патента: US20120003580A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

SAMPLE PREPARATION FOR IN SITU NUCLEIC ACID ANALYSIS, METHODS AND COMPOSITIONS THEREFOR

Номер патента: US20120003656A1. Автор: . Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS TO ADD SPECIFIC DATA TO IMAGE, AND IMAGE FORMING METHOD OF ADDING THE SPECIFIC DATA TO THE IMAGE

Номер патента: US20120002224A1. Автор: KIMOTO Taizo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Preparation method of waffles (versions)

Номер патента: RU2391007C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2010-06-10.

Preparation method of waffles (versions)

Номер патента: RU2391005C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2010-06-10.

Preparation method of waffles (versions)

Номер патента: RU2391006C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2010-06-10.

Method and apparatus for contour mapping with moire patterns

Номер патента: CA1042244A. Автор: Gordon D. Heuser,Rolla J. Pennell. Владелец: Individual. Дата публикации: 1978-11-14.

A chewable tablet with calcium and vitamin D and preparation method thereof

Номер патента: NZ778421A. Автор: Wu Yue. Владелец: Super Foods New Zealand Limited. Дата публикации: 2021-07-30.

Diabetic waffles preparation method (versions)

Номер патента: RU2391010C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2010-06-10.