• Главная
  • Reliability screening of ferroelectric memories in integrated circuits

Reliability screening of ferroelectric memories in integrated circuits

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Reliability Screening of Ferroelectric Memories in Integrated Circuits

Номер патента: US20150357050A1. Автор: John A. Rodriguez,Richard Bailey. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-12-10.

Screening for data retention loss in ferroelectric memories

Номер патента: US09842662B2. Автор: John A. Rodriguez,Richard A. Bailey,Carl Z. Zhou. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Screening for Data Retention Loss in Ferroelectric Memories

Номер патента: US20180102184A1. Автор: John A. Rodriguez,Richard A. Bailey,Carl Z. Zhou. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-04-12.

Process monitoring for ferroelectric memory devices with in-line retention test

Номер патента: US20060146588A1. Автор: Richard Bailey,John Rodriguez. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-07-06.

Process monitoring for ferroelectric memory devices with in-line retention test

Номер патента: US7149137B2. Автор: John Anthony Rodriguez,Richard Allen Bailey. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-12-12.

Screening for later life stuck bits in ferroelectric memories

Номер патента: US09552880B2. Автор: John A. Rodriguez,Richard A. Bailey,Carl Z. Zhou. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-01-24.

Circuit and method for testing a ferroelectric memory device

Номер патента: EP1333446A3. Автор: David C. McClure. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2004-08-18.

Memory system and semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20060239061A1. Автор: Shunichi Iwanari. Владелец: McDermott Will and Emery LLP. Дата публикации: 2006-10-26.

Memory system and semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20070279960A1. Автор: Shunichi Iwanari. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-12-06.

Memory system and semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20090016093A1. Автор: Shunichi Iwanari. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2009-01-15.

Setting of Reference Voltage for Data Sensing in Ferroelectric Memories

Номер патента: US20160240238A1. Автор: Keith A. Remack,John A. Rodriguez,Carl Z. Zhou. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-08-18.

Setting of reference voltage for data sensing in ferroelectric memories

Номер патента: US09767879B2. Автор: Keith A. Remack,John A. Rodriguez,Carl Z. Zhou. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Memory system and semiconductor integrated circuit

Номер патента: US7697315B2. Автор: Shunichi Iwanari. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-04-13.

Ferroelectric memory

Номер патента: US20020024839A1. Автор: Yoshitaka Mano. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2002-02-28.

Setting of reference voltage for data sensing in ferroelectric memories

Номер патента: US20170345478A1. Автор: Keith A. Remack,John A. Rodriguez,Carl Z. Zhou. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-11-30.

Ferroelectric memory and method of testing the same

Номер патента: US20040179385A1. Автор: Ryu Ogiwara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-09-16.

Cross-point ferroelectric memory that reduces the effects of bit line to word line shorts

Номер патента: US20060002178A1. Автор: Richard Womack. Владелец: Thin Film Electronics ASA. Дата публикации: 2006-01-05.

Array power supply-based screening of static random access memory cells for bias temperature instability

Номер патента: US09805788B2. Автор: Xiaowei Deng,Wah Kit Loh. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Array power supply-based screening of static random access memory cells for bias temperature instability

Номер патента: US09576643B2. Автор: Xiaowei Deng,Wah Kit Loh. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Array power supply-based screening of static random access memory cells for bias temperature instability

Номер патента: US09466356B2. Автор: Xiaowei Deng,Wah Kit Loh. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Array power supply-based screening of static random access memory cells for bias temperature instability

Номер патента: US09455021B2. Автор: Xiaowei Deng,Wah Kit Loh. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Ferroelectric memory and a test method thereof

Номер патента: US20030063488A1. Автор: Masanori Kasai. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2003-04-03.

Semiconductor integrated circuit and test system for testing the same

Номер патента: US7222279B2. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2007-05-22.

Apparatus and method for controlling erasing data in ferroelectric memory cells

Номер патента: US20190287602A1. Автор: Yasushi Matsubara,Kiyotake Sakurai. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-09-19.

Operation methods of ferroelectric memory

Номер патента: US20210142838A1. Автор: Feng Pan. Владелец: Wuxi Petabyte Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Ferroelectric memory plate power reduction

Номер патента: US20200211613A1. Автор: David L. Pinney,Adam S. El-Mansouri. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-02.

Operation methods of ferroelectric memory

Номер патента: WO2021093263A1. Автор: Feng Pan. Владелец: Wuxi Petabyte Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2021-05-20.

Three-dimensional ferroelectric memory devices

Номер патента: WO2020034809A1. Автор: Qian Tao,Zhenyu Lu,Feng Pan,Yushi Hu. Владелец: Wuxi Petabyte Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-02-20.

Three-dimensional ferroelectric memory devices

Номер патента: EP3827432A1. Автор: Qian Tao,Zhenyu Lu,Feng Pan,Yushi Hu. Владелец: Wuxi Petabyte Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-02.

Ferroelectric memory expansion for firmware updates

Номер патента: US20190087171A1. Автор: Ralf Brederlow,Peter Wongeun Chung,Oscar Miguel Guillen-Hernandez. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-03-21.

Ferroelectric memory plate power reduction

Номер патента: US20210312967A1. Автор: David L. Pinney,Adam S. El-Mansouri. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-10-07.

Ferroelectric memory expansion for firmware updates

Номер патента: US10545752B2. Автор: Ralf Brederlow,Peter Wongeun Chung,Oscar Miguel Guillen-Hernandez. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-01-28.

Ferroelectric memory cell access

Номер патента: US12062389B2. Автор: Umberto Di Vincenzo. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Charge extraction from ferroelectric memory cell

Номер патента: US20190096466A1. Автор: Daniele Vimercati. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-03-28.

Charge extraction from ferroelectric memory cell

Номер патента: US20190096467A1. Автор: Daniele Vimercati. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-03-28.

Method of manufacture of ferroelectric memory

Номер патента: US20030203511A1. Автор: Kinya Ashikaga. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2003-10-30.

Ferroelectric memories based on arrays of autonomous memory bits

Номер патента: WO2011156525A2. Автор: Joseph Tate Evans. Владелец: Radiant Technologies, Inc.. Дата публикации: 2011-12-15.

Systems and methods for reading ferroelectric memories

Номер патента: US20140085962A1. Автор: David Eric Schwartz. Владелец: Palo Alto Research Center Inc. Дата публикации: 2014-03-27.

Ferroelectric memory device

Номер патента: US9190136B2. Автор: Naoharu Shinozaki,Keizo Morita,Tomohisa Hirayama. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2015-11-17.

Ferroelectric memory and electronic apparatus

Номер патента: US20020154554A1. Автор: Setsuya Iwashita,Hiromu Miyazawa,Takamitsu Higuchi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2002-10-24.

Method and related circuit for accessing locations of a ferroelectric memory

Номер патента: US20040015643A1. Автор: Salvatore Torrisi,Nicolas Demange,Giampiero Sberno. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2004-01-22.

Ferroelectric memory devices having expanded plate lines

Номер патента: US20080025065A1. Автор: Hyun-Ho Kim,Kyu-Mann Lee,Dong-Jin Jung,Ki-nam Kim,Sang-don Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-01-31.

Ferroelectric memory devices having expanded plate lines

Номер патента: US20050035384A1. Автор: Hyun-Ho Kim,Kyu-Mann Lee,Dong-Jin Jung,Ki-nam Kim,Sang-don Nam. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-02-17.

Ferroelectric memory

Номер патента: US7139187B2. Автор: Hideaki Suzuki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-11-21.

Ferroelectric memory devices with reduced edge defects and methods for forming the same

Номер патента: US11839087B2. Автор: Yushi Hu. Владелец: Wuxi Petabyte Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Nonvolatile ferroelectric memory device

Номер патента: US20060139986A1. Автор: Hee Kang,Jin Ahn. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-06-29.

Nonvolatile ferroelectric memory device

Номер патента: US7164594B2. Автор: Hee Bok Kang,Jin Hong Ahn. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-01-16.

Column select circuit of ferroelectric memory

Номер патента: US20040208045A1. Автор: Shinichiro Shiratake. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-10-21.

Writing to ferroelectric memory devices

Номер патента: US20050231996A1. Автор: Craig Salling. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2005-10-20.

Method for mitigating imprint in a ferroelectric memory

Номер патента: EP2237280A3. Автор: Craig Taylor,Shan Sun,Fan Chu. Владелец: Ramtron International Corp. Дата публикации: 2010-11-17.

Reference voltage generating circuit of nonvolatile ferroelectric memory device

Номер патента: US20030026154A1. Автор: Hee Kang,Duck Kim,Hun Kye,Je Park. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-02-06.

Wake-up of ferroelectric thin films for probe storage

Номер патента: SG130122A1. Автор: Joachim Walter Ahner,Martin Gerard Forrester,Andreas Karl Roelofs. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2007-03-20.

Circuit and method for specifying performance parameters in integrated circuits

Номер патента: WO1999044752A3. Автор: Troy A Manning. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 1999-10-21.

Circuit and method for specifying performance parameters in integrated circuits

Номер патента: EP1060027A2. Автор: Troy A. Manning. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2000-12-20.

Circuit and method for specifying performance parameters in integrated circuits

Номер патента: US20010002461A1. Автор: Troy Manning. Владелец: Manning Troy A.. Дата публикации: 2001-05-31.

Method for writing and reading a ferroelectric memory

Номер патента: US20010005326A1. Автор: Georg Braun. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2001-06-28.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US6937498B2. Автор: Shinichiro Shiratake. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2005-08-30.

Signal skew correction in integrated circuit memory devices

Номер патента: US20240055068A1. Автор: Panduka Wijetunga,Srinivas Satish Babu Bamdhamravuri. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2024-02-15.

Signal skew correction in integrated circuit memory devices

Номер патента: EP4264298A1. Автор: Panduka Wijetunga,Srinivas Satish Babu Bamdhamravuri. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2023-10-25.

Half density ferroelectric memory and operation

Номер патента: US20200388317A1. Автор: Scott J. Derner,Charles L. Ingalls. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2020-12-10.

Half density ferroelectric memory and operation

Номер патента: US20190333564A1. Автор: Scott J. Derner,Charles L. Ingalls. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-10-31.

Half density ferroelectric memory and operation

Номер патента: US20170358338A1. Автор: Scott J. Derner,Charles L. Ingalls. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-14.

Half density ferroelectric memory and operation

Номер патента: US09892776B2. Автор: Scott J. Derner,Charles L. Ingalls. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-02-13.

Self-referencing ferroelectric memory

Номер патента: EP1119861A1. Автор: David A. Kamp. Владелец: Celis Semiconductor Corp. Дата публикации: 2001-08-01.

Processing system with a ferroelectric memory

Номер патента: US5424976A. Автор: Roger Cuppens. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1995-06-13.

Non-volatile ferroelectric memory cells with multilevel operation

Номер патента: EP3143650A1. Автор: Ji Hoon Park,Ihab N. Odeh,Husam N. Alshareef,Mohd A. KHAN. Владелец: SABIC Global Technologies BV. Дата публикации: 2017-03-22.

Non-volatile ferroelectric memory cells with multilevel operation

Номер патента: US20170249983A1. Автор: Ji Hoon Park,Ihab N. Odeh,Husam N. Alshareef,Mohd A. KHAN. Владелец: SABIC Global Technologies BV. Дата публикации: 2017-08-31.

Ferroelectric memory cell apparatuses and methods of operating ferroelectric memory cells

Номер патента: US09767880B1. Автор: Eric Carman. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Method for writing and reading a ferroelectric memory

Номер патента: US6327173B2. Автор: Georg Braun. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2001-12-04.

Memory configuration including a plurality of resistive ferroelectric memory cells

Номер патента: US20010033516A1. Автор: Kurt Hoffmann,Oskar Kowarik. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2001-10-25.

Circuit and method for asynchronously accessing a ferroelectric memory device

Номер патента: EP1225594A3. Автор: David C. McClure. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2003-12-03.

Method for operating a ferroelectric memory configuration and a ferroelectric memory configuration

Номер патента: US6538913B2. Автор: Thomas Rohr,Heinz Hönigschmid. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2003-03-25.

Ferroelectric memory cell with shunted ferroelectric capacitor and method of making same

Номер патента: EP1016088A1. Автор: David A. Kamp. Владелец: CELIS SEMICONDUCTER Corp. Дата публикации: 2000-07-05.

Methods and apparatus for detecting memory bit corruption on an integrated circuit

Номер патента: US09582349B1. Автор: David Lewis,Herman Henry Schmit. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Methods and circuits for disrupting integrated circuit function

Номер патента: US20140201579A1. Автор: Igor Arsovski,Sebastian T. Ventrone. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

EMBEDDED MEMORY IN THREE-DIMENSIONAL INTEGRATED CIRCUIT

Номер патента: US20190304978A1. Автор: Wang Yih. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Two-stage signaling for voltage driver coordination in integrated circuit memory devices

Номер патента: US20210118492A1. Автор: Mingdong Cui,Nathan Joseph Sirocka. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-04-22.

Reduced power consumption in integrated circuits with fuse controlled redundant circuits

Номер патента: WO2005017913A1. Автор: Wolfgang Hokenmaier. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2005-02-24.

Semiconductor integrated circuit with bist circuit

Номер патента: US09443611B2. Автор: Kenichi Anzou,Chikako Tokunaga. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Redundant rows in integrated circuit memories

Номер патента: CA1215471A. Автор: Kalyanasundaram Venkateswaran. Владелец: Fairchild Camera and Instrument Corp. Дата публикации: 1986-12-16.

Testing embedded memory in an integrated circuit

Номер патента: US20060059386A1. Автор: WEI Han,Loren McLaury. Владелец: Lattice Semiconductor Corp. Дата публикации: 2006-03-16.

Method and BIST architecture for fast memory testing in platform-based integrated circuit

Номер патента: US20060156088A1. Автор: Anatoli Bolotov,Alexander Andreev,Raoko Scepanovic. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-07-13.

Integrated circuit including programmable circuit

Номер патента: CA2010122A1. Автор: Makoto Sakamoto. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 1990-12-21.

Memory test circuit, semiconductor integrated circuit and memory test method

Номер патента: US8289792B2. Автор: Kazuya KUDOU. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-10-16.

Semiconductor integrated circuit and method for controlling the same

Номер патента: US7716545B2. Автор: Masaaki Shimooka. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-05-11.

Semiconductor Integrated Circuit with Bist Circuit

Номер патента: US20140245087A1. Автор: Kenichi Anzou,Chikako Tokunaga. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-28.

Semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20030011004A1. Автор: Kenji Kamei,Shinsuke Anzai,Yasumichi Mori. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-16.

Integrated circuit

Номер патента: US20050218960A1. Автор: Ralf Schneider,Joerg Vollrath,Marcin Gnat,Aurel Campenhausen. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2005-10-06.

Semiconductor integrated circuit

Номер патента: US6661692B2. Автор: Kenji Kamei,Shinsuke Anzai,Yasumichi Mori. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2003-12-09.

Testing circuit for semiconductor integrated circuit and testing method using the same

Номер патента: US10083759B2. Автор: Hiroyuki Nakamura. Владелец: MegaChips Corp. Дата публикации: 2018-09-25.

Integrated circuit comprising a test circuit, related method and computer-program product

Номер патента: EP4425196A1. Автор: Mario Barone,Gianluca TORTORA. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-09-04.

Integrated circuit and storage device including integrated circuit

Номер патента: US09897650B2. Автор: Hyunjin Kim,Jangwoo Lee,ChaeHoon KIM,Jeongdon Ihm,Daehoon Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Semiconductor integrated circuit device having delay circuit

Номер патента: US09755626B2. Автор: Jae Hoon Cha,Sung Yub Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-09-05.

Integrated circuit structure and memory

Номер патента: EP3923285A1. Автор: Liang Zhang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-12-15.

Integrated circuit device including an sram portion having end power select circuits

Номер патента: US20240203489A1. Автор: Darryl G. Walker. Владелец: Mavagail Technology LLC. Дата публикации: 2024-06-20.

Semiconductor integrated circuit device, redundancy system, and redundancy method thereof

Номер патента: US20090072886A1. Автор: Atsushi Suzuki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-19.

Securing An Integrated Circuit

Номер патента: US20080043558A1. Автор: Robert Dixon,Phil Paone,Kirk Morrow. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-02-21.

Semiconductor integrated circuit device incorporating a data memory testing circuit

Номер патента: US20050276113A1. Автор: Atsushi Nakayama,Toshimasa Namekawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-15.

Multilevel ferroelectric memory cell for an integrated circuit

Номер патента: US09830969B2. Автор: Stefan Slesazeck,Halid MULAOSMANOVIC. Владелец: NaMLab GmbH. Дата публикации: 2017-11-28.

Ferroelectric memory device and operation method thereof

Номер патента: US11765907B2. Автор: Masaharu Kobayashi,Toshiro Hiramoto,Fei MO. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2023-09-19.

Ferroelectric memory devices and operating methods thereof

Номер патента: US8385098B2. Автор: Jai-Kwang Shin,Ki-ha Hong,Jeong-Seob Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-02-26.

Ferroelectric memory and formation method therefor, and electronic device

Номер патента: EP4339950A1. Автор: Zhengbo Wang,Weiliang JING,Kailiang HUANG,Junxiao FENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

1s-1t ferroelectric memory

Номер патента: US20220130443A1. Автор: Abhishek A. Sharma,Brian S. Doyle,Ravi Pillarisetty,Elijah V. KARPOV,Prashant Majhi. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2022-04-28.

Ferroelectric memory device with multi-level bit cell

Номер патента: EP4421849A1. Автор: Zhixing ZHAO,Dominik M. KLEIMAIER,Stefan Duenkel. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

Ferroelectric memory device with multi-level bit cell

Номер патента: US20240284680A1. Автор: Zhixing ZHAO,Dominik M. KLEIMAIER,Stefan Duenkel. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Methods for forming ferroelectric memory devices

Номер патента: US20210035994A1. Автор: Zhenyu Lu. Владелец: Wuxi Petabyte Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Ferroelectric memory and forming method thereof, and electronic device

Номер патента: US20240172450A1. Автор: Zhengbo Wang,Weiliang JING,Kailiang HUANG,Junxiao FENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Ferroelectric memory devices and methods for forming the same

Номер патента: EP3966864A1. Автор: Zhenyu Lu. Владелец: Wuxi Petabyte Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-16.

Ferroelectric memories,and method of activating the same

Номер патента: US3820088A. Автор: R Thomas,A Hadni. Владелец: Agence National de Valorisation de la Recherche ANVAR. Дата публикации: 1974-06-25.

Method and apparatus for sharing internal power supplies in integrated circuit devices

Номер патента: EP2643835A1. Автор: Peter Gillingham. Владелец: Mosaid Technologies Inc. Дата публикации: 2013-10-02.

1s-1t ferroelectric memory

Номер патента: US20200234750A1. Автор: Abhishek A. Sharma,Brian S. Doyle,Ravi Pillarisetty,Elijah V. KARPOV,Prashant Majhi. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-07-23.

State visibility and manipulation in integrated circuits

Номер патента: US20170103157A1. Автор: Michael Hutton,Sean Atsatt. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-04-13.

Command signal management in integrated circuit devices

Номер патента: US20160005467A1. Автор: Nicholas Hendrickson. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2016-01-07.

State visibility and manipulation in integrated circuits

Номер патента: US09697318B2. Автор: Michael Hutton,Sean Atsatt. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

System and method for managing secure memories in integrated circuits

Номер патента: US12124347B2. Автор: Neha Srivastava,Gautam TIKOO,Harshit Saxena. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Content addressable memory in integrated circuit

Номер патента: US09583190B2. Автор: Marc Miller,Jimmy Lee Reaves. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Buffering systems for accessing multiple layers of memory in integrated circuits

Номер патента: US9715910B2. Автор: Robert Norman. Владелец: III Holdings 1 LLC. Дата публикации: 2017-07-25.

Combined memories in integrated circuits

Номер патента: US8347254B2. Автор: Robert Norman. Владелец: Unity Semiconductor Corp. Дата публикации: 2013-01-01.

Combined memories in integrated circuits

Номер патента: US20080109775A1. Автор: Robert Norman. Владелец: Unity Semiconductor Corp. Дата публикации: 2008-05-08.

Voltage control integrated circuit devices

Номер патента: US20150029806A1. Автор: Liang Qiao,Xinwei Guo. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2015-01-29.

Voltage control integrated circuit devices

Номер патента: US09659602B2. Автор: Liang Qiao,Xinwei Guo. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Prevention of alteration of data stored in secure integrated¹circuit chip memory

Номер патента: IE900004L. Автор: Paul Moroney,William Allen Shumate,Robert C Gilberg. Владелец: David McCoy. Дата публикации: 1990-07-12.

Prevention of alteration of data stored in secure integrated circuit chip memory

Номер патента: IE62794B1. Автор: Paul Moroney,William Allen Shumate,Robert C Gilberg. Владелец: Gen Instrument Corp. Дата публикации: 1995-03-08.

Method for implementing an integrated circuit comprising a random-access memory-in-logic

Номер патента: US12045553B2. Автор: Babak Mohammadi,Hemanth PRABHU. Владелец: Xenergic AB. Дата публикации: 2024-07-23.

Using interrupted through-silicon-vias in integrated circuits adapted for stacking

Номер патента: US09780073B2. Автор: Peter B. Gillingham. Владелец: Conversant Intellectual Property Management Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

State visibility and manipulation in integrated circuits

Номер патента: US20170262563A1. Автор: Michael Hutton,Sean Atsatt. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-09-14.

Threshold voltage variation compensation in integrated circuits

Номер патента: US20230326493A1. Автор: Shang-Chi Yang,Hui-Yao Kao. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Threshold voltage variation compensation in integrated circuits

Номер патента: US11942179B2. Автор: Shang-Chi Yang,Hui-Yao Kao. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

System and method for managing secure memories in integrated circuits

Номер патента: US20240160545A1. Автор: Neha Srivastava,Gautam TIKOO,Harshit Saxena. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-05-16.

System and method for managing secure memories in integrated circuits

Номер патента: EP4372596A1. Автор: Neha Srivastava,Gautam TIKOO,Harshit Saxena. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-05-22.

Integrated circuit devices having memory and methods of implementing memory in an integrated circuit device

Номер патента: WO2014138479A1. Автор: Ephrem C. Wu. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2014-09-12.

Method and apparatus for mapping design memories to integrated circuit layout

Номер патента: US20070113212A1. Автор: Ranko Scepanovic,Andrey Nikitin,Alexandre Andreev,Ilya Neznanov. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2007-05-17.

Save-restore in integrated circuits

Номер патента: US20200379649A1. Автор: Indu Prathapan,Puneet Sabbarwal. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-12-03.

Save-restore in integrated circuits

Номер патента: EP3903192A1. Автор: Indu Prathapan,Puneet Sabbarwal. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2021-11-03.

Save-restore in integrated circuits

Номер патента: US20200210072A1. Автор: Indu Prathapan,Puneet Sabbarwal. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-07-02.

Save-restore in integrated circuits

Номер патента: US11537309B2. Автор: Indu Prathapan,Puneet Sabbarwal. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2022-12-27.

Save-restore in integrated circuits

Номер патента: WO2020139676A1. Автор: Indu Prathapan,Puneet Sabbarwal. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2020-07-02.

Integration of high value capacitor with ferroelectric memory

Номер патента: US5608246A. Автор: Dennis R. Wilson,Michael W. Yeager. Владелец: Ramtron International Corp. Дата публикации: 1997-03-04.

Cross-point array of ferroelectric field effect transistors and method of making the same

Номер патента: US20210217775A1. Автор: Yanli Zhang,Fei Zhou,Johann Alsmeier. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2021-07-15.

Cross-point array of ferroelectric field effect transistors and method of making the same

Номер патента: WO2021141612A1. Автор: Yanli Zhang,Fei Zhou,Johann Alsmeier. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2021-07-15.

Integrated circuits having memory with flexible input-output circuits

Номер патента: US11979152B2. Автор: Chee Hak Teh,Chang Kian TAN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20010046156A1. Автор: Koichiro Ishibashi,Masayuki Miyazaki,Goichi Ono. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-11-29.

Programmable word length and self-testing memory in a gate array with bidirectional symmetry

Номер патента: CA1242276A. Автор: Joseph L. Angleton,Jeffery L. Gutgsell. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1988-09-20.

Method for implementing an integrated circuit comprising a random-access memory-in-logic

Номер патента: US20220147683A1. Автор: Babak Mohammadi,Hemanth PRABHU. Владелец: Xenergic AB. Дата публикации: 2022-05-12.

Method for implementing an integrated circuit comprising a random-access memory-in-logic

Номер патента: WO2020182998A1. Автор: Babak Mohammadi,Hemanth PRABHU. Владелец: Xenergic AB. Дата публикации: 2020-09-17.

Semiconductor integrated circuit, phase locked loop (PLL) circuit, and system

Номер патента: US12040806B2. Автор: Masatomo Eimitsu. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Integrated circuit chip and semiconductor device including the same

Номер патента: US10761132B2. Автор: Dong-Uk Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2020-09-01.

Semiconductor memory integrated circuit

Номер патента: US20080198684A1. Автор: Tatsuya Sakamoto. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2008-08-21.

Circuit for and method of enabling the transfer of data by an integrated circuit

Номер патента: WO2013081683A1. Автор: Sanjay A. KULKARNI. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2013-06-06.

Semiconductor integrated circuit, dll circuit, and duty cycle correction circuit

Номер патента: US20190081631A1. Автор: Masashi Nakata. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Integrated circuit

Номер патента: US20230126057A1. Автор: Toshiaki DOZAKA. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Integrated circuits to control access to multiple layers of memory in a solid state drive

Номер патента: US7961510B2. Автор: Robert Norman. Владелец: Unity Semiconductor Corp. Дата публикации: 2011-06-14.

A method of managing memory in an integrated circuit card and corresponding integrated circuit card

Номер патента: EP4261693A1. Автор: Amedeo Veneroso,Carlo Cimino. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2023-10-18.

Integrated circuit, test method for testing integrated circuit, and electronic device

Номер патента: US20210083672A1. Автор: Shinichi Yasuda,Masato Oda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Integrated circuit and an operation method thereof

Номер патента: US12034297B2. Автор: Kai Zhou,Lei Pan,Ya-Qi Ma,Zhang-Ying YAN. Владелец: TSMC Nanjing Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Methods and system for an integrated circuit

Номер патента: US20200401552A1. Автор: Tomonori Kamiya,Yukihito Takeda. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2020-12-24.

Integrated circuit integration of t-coils at interfaces to communication links

Номер патента: US20240235188A9. Автор: Patrick Isakanian,Darius VALAEE,Srivatsan Thiruvengadam. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20020176292A1. Автор: Kozaburo Kurita,Shuichi Miyaoka,Masatoshi Hasegawa,Hiroshi Akasaki,Yuji Yokoyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-11-28.

Integrated circuit chip and semiconductor device including the same

Номер патента: US20190293711A1. Автор: Dong-Uk Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Method and system for powering an integrated circuit

Номер патента: US7446559B2. Автор: Emmanuel Alie. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2008-11-04.

Semiconductor integrated circuit apparatus

Номер патента: US20100194455A1. Автор: Hidekichi Shimura. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-08-05.

Photodiode integrated circuit having multiple gain states

Номер патента: US20060170504A1. Автор: Sang Kim,Jung Gong,Hyeon Hwang,Kyoung Kwon. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-03.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20050102446A1. Автор: Kiyotake Togo. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-05-12.

Semiconductor integrated circuit, radio frequency identification transponder, and non-cotact IC card

Номер патента: US20030183699A1. Автор: Shoichi Masui. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-10-02.

Apparatus and method for flexible visibility in integrated circuits with minimal package impact

Номер патента: US20080170506A1. Автор: William Milton Hurley. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-07-17.

Path-based congestion reduction in integrated circuit routing

Номер патента: US20160012172A1. Автор: Sourav Saha,Sven Peyer,Harald Folberth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Method of Achieving Dense-Pitch Interconnect Patterning in Integrated Circuits

Номер патента: US20090101983A1. Автор: James Walter Blatchford,Steven Lee Prins. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-04-23.

System for providing large rc time constants in integrated circuits

Номер патента: US20100052734A1. Автор: Zhihao Lao,Llchong Zon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-03-04.

Systems and/or methods for anomaly detection and characterization in integrated circuits

Номер патента: CA3137069A1. Автор: Jason Dickens. Владелец: GRAMMATECH Inc. Дата публикации: 2021-01-07.

Systems and/or methods for anomaly detection and characterization in integrated circuits

Номер патента: WO2021002914A2. Автор: Jason Dickens. Владелец: Grammatech, Inc.. Дата публикации: 2021-01-07.

Systems and/or methods for anomaly detection and characterization in integrated circuits

Номер патента: CA3137069C. Автор: Jason Dickens. Владелец: GRAMMATECH Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Apparatus and method for determining process width variations in integrated circuits

Номер патента: US20020060577A1. Автор: Malcolm Smith,John Carelli. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-23.

Techniques for integrating thermal via structures in integrated circuits

Номер патента: US09659835B1. Автор: Jeffrey P. Gambino,Richard S. Graf,Sundeep Mandal. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Method and device for loading data in integrated- circuit card

Номер патента: RU2223546C2. Автор: Рудольф Риттер,Эрик ЛАУПЕР. Владелец: Свисском Мобиле Аг. Дата публикации: 2004-02-10.

Continuous global representation of local data using effective areas in integrated circuit layouts

Номер патента: US20210256189A1. Автор: Ralph Iverson. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2021-08-19.

Reduction of metal fill insertion time in integrated circuit design process

Номер патента: US20140149953A1. Автор: Fulvio Pugliese,Goran Davidovic,Rupert Kleeberger,Juergen Inderst. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2014-05-29.

Circuits And Methods For Controlling Debugging Firmware In Integrated Circuit Devices

Номер патента: US20220318022A1. Автор: Sen Li. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Circuit design visibility in integrated circuit devices

Номер патента: US20240303406A1. Автор: Yi Peng,Brandon Lewis Gordon. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Method of Protecting Sensitive Data in Integrated Circuit and Integrated Circuit Utilizing Same

Номер патента: US20210173793A1. Автор: Alan Maciel Carr. Владелец: Realtek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2021-06-10.

Connection propagation for inter-logical block connections in integrated circuits

Номер патента: US09929733B1. Автор: Yang Du,Jing Xie,Kambiz Samadi,Pratyush Kamal. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Integrated circuit device and signal processing method in integrated circuit device

Номер патента: US09779055B2. Автор: Joon-Ho Lee. Владелец: Samsung SDS Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Emulation of synchronous pipeline registers in integrated circuits with asynchronous interconnection resources

Номер патента: US09665670B1. Автор: Bruce B. Pedersen. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-05-30.

Apparatus and method for measuring characteristics of dynamic electrical signals in integrated circuits

Номер патента: US20040139406A1. Автор: Steven Kasapi. Владелец: Optonics Inc. Дата публикации: 2004-07-15.

Protecting hidden content in integrated circuits

Номер патента: US09811690B2. Автор: Alfred L. Crouch,John C. Potter,Jennifer L. Dworak,Adam Zygmontowicz. Владелец: SOUTHERN METHODIST UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-11-07.

Apparatus and methods for leakage current reduction in integrated circuits

Номер патента: US09698780B2. Автор: Christophe Vincent Antoine Laurent. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Detection and Correction of Single Event Upset (SEU) in Integrated Circuit

Номер патента: US20210091754A1. Автор: Younes Lotfi. Владелец: Cobham Colorado Springs Inc. Дата публикации: 2021-03-25.

Device and method for monitoring functional saffety in integrated circuits (ics)

Номер патента: US20210303379A1. Автор: Radha Krishna Moorthy Sadhu. Владелец: Wipro Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Managing Stray Light Absorption in Integrated Photonics Devices

Номер патента: US20210167230A1. Автор: Francois Pelletier,Yves Painchaud,Sean Sebastian O'Keefe,Christine Latrasse. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2021-06-03.

Method to protect program in integrated circuit

Номер патента: US20240211551A1. Автор: David Vigilant,Jean-Roch Coulon,Jerome VASSEUR. Владелец: THALES DIS FRANCE SAS. Дата публикации: 2024-06-27.

Marketing Strategy Processing Method of EDA Tools in the Integrated Circuit Design Industry and System Thereof

Номер патента: NL2032048A. Автор: Chang Chao. Владелец: Chang Chao. Дата публикации: 2023-11-07.

Marketing Strategy Processing Method of EDA Tools in the Integrated Circuit Design Industry and System Thereof

Номер патента: NL2032048B1. Автор: Chang Chao. Владелец: Chang Chao. Дата публикации: 2023-12-08.

Channel less floor-planning in integrated circuits

Номер патента: EP4232936A1. Автор: Madan Krishnappa,Venugopal Sanaka,Vinod Kumar Lakshmipathi,Babu Suriamoorthy,Pavan Kumar Patibanda. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-08-30.

Method to protect program in integrated circuit

Номер патента: EP4327216A1. Автор: David Vigilant,Jean Roch Coulon,Jerome VASSEUR. Владелец: THALES DIS FRANCE SAS. Дата публикации: 2024-02-28.

AC testing of leakage current in integrated circuits using RC time constant

Номер патента: US20040246017A1. Автор: Tawfik Arabi,Gregory Taylor,Dan Murray,Patrick Elwer,Srirama Pedarla. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-12-09.

Layout of large block synthesis blocks in integrated circuits

Номер патента: US9910948B2. Автор: Harry Barowski,Sourav Saha,Joachim Keinert,Harald D. Folberth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Method to protect program in integrated circuit

Номер патента: WO2022223490A1. Автор: David Vigilant,Jean Roch Coulon,Jerome VASSEUR. Владелец: THALES DIS FRANCE SAS. Дата публикации: 2022-10-27.

Functional circuit block harvesting in integrated circuits

Номер патента: US12061855B2. Автор: Lior Zimet,Peter A. Lisherness. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Defect detection system for cavity in integrated circuit

Номер патента: US20240280632A1. Автор: Zhuojie Wu,Yunyao JIANG. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Integrated circuit dynamic capacitance matching method, simulation equipment, and storage medium

Номер патента: US20240311539A1. Автор: Zhoujie Wu,Zhong Guan. Владелец: Zhuhai Chipoly Technology Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Protecting hidden content in integrated circuits

Номер патента: US09818000B2. Автор: Jennifer L. Dworak. Владелец: SOUTHERN METHODIST UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-11-14.

Integrated Circuit Layouts with Fill Feature Shapes

Номер патента: US20220277128A1. Автор: Ming-Yi Lin,Yen-Sen Wang,Yu-Cheng Yeh. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-09-01.

Method of making a high planarity, low CTE base for semiconductor reliability screening

Номер патента: US6046060A. Автор: John J. Budnaitis. Владелец: WL Gore and Associates Inc. Дата публикации: 2000-04-04.

Optical mode coupler in integrated photonics

Номер патента: EP4390481A1. Автор: Ruizhi Shi,Alexandre Horth,Jiabao Zheng. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2024-06-26.

Optical mode coupler in integrated photonics

Номер патента: US20240210620A1. Автор: Ruizhi Shi,Alexandre Horth,Jiabao Zheng. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2024-06-27.

Programmable circuits for correcting scan-test circuitry defects in integrated circuit designs

Номер патента: US09618579B2. Автор: Kanad Chakraborty. Владелец: Lattice Semiconductor Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Compensating for aging in integrated circuits

Номер патента: US09535473B2. Автор: Michael Frank,Date Jan Willem Noorlag. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

System for optimizing buffers in integrated circuit design timing fixes

Номер патента: US20040261046A1. Автор: Umesh Nair. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2004-12-23.

Relatively unique ID in integrated circuit

Номер патента: US20040181303A1. Автор: Simon Walmsley. Владелец: SILVERBROOK RESEARCH PTY LTD. Дата публикации: 2004-09-16.

Characterization of spatial correlation in integrated circuit development

Номер патента: US20200257769A1. Автор: Ning Lu. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-08-13.

Techniques for reducing uneven aging in integrated circuits

Номер патента: US11799485B2. Автор: Herman Schmit. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Reordering or Removal of Test Patterns for Detecting Faults in Integrated Circuit

Номер патента: US20140289579A1. Автор: Rohit Kapur,Parthajit Bhattacharya,Sushovan Podder. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2014-09-25.

System and method for testing clocking systems in integrated circuits

Номер патента: US20230251310A1. Автор: Abhishek Mahajan,Nikila Krishnamoorthy,Rishabh Kaistha,Varsha Bansal. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-08-10.

Abstraction for Arrays in Integrated Circuit Models

Номер патента: US20130036391A1. Автор: Steven M. German. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Methods and systems for cross-probing in integrated circuit design

Номер патента: WO2005119442A2. Автор: Mark A. Coiley. Владелец: Tera Systems, Inc.. Дата публикации: 2005-12-15.

Integrated circuit defect diagnosis using machine learning

Номер патента: US20210042644A1. Автор: Ronald D. BLANTON,Soumya Mittal. Владелец: CARNEGIE MELLON UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-02-11.

Method of leakage optimization in integrated circuit design

Номер патента: US7448009B2. Автор: Shrikrishna Pundoor. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-11-04.

Power reduction by stage in integrated circuit

Номер патента: US20040217805A1. Автор: Sebastian Ventrone,Kenneth Goodnow,Douglas Stout,John Cohn,Scott Gould. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-11-04.

Security in integrated circuits

Номер патента: US20240265100A1. Автор: Frode Pedersen. Владелец: NORDIC SEMICONDUCTOR ASA. Дата публикации: 2024-08-08.

Testing multiple levels in integrated circuit technology development

Номер патента: US6875560B1. Автор: Paul J. Steffan,Shivananda S. Shetty,Jeffrey P. Erhardt. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-04-05.

Layout of interconnect lines in integrated circuits

Номер патента: US09904754B2. Автор: Tobias Werner,Silke Penth,Gerhard Hellner,Iris M. Leefken. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Layout of interconnect lines in integrated circuits

Номер патента: US09898571B2. Автор: Tobias Werner,Silke Penth,Gerhard Hellner,Iris M. Leefken. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Reordering or removal of test patterns for detecting faults in integrated circuit

Номер патента: US09411014B2. Автор: Rohit Kapur,Parthajit Bhattacharya,Sushovan Podder. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2016-08-09.

Multiple input signature testing & diagnosis for embedded blocks in integrated circuits

Номер патента: US6158033A. Автор: Kenneth D. Wagner,Mehran Amerian. Владелец: S3 Inc. Дата публикации: 2000-12-05.

Arrangements for biasing the substrates of integrated circuits

Номер патента: GB1372679A. Автор: . Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 1974-11-06.

Integrated circuit device having a switched routing network

Номер патента: US5898677A. Автор: Carlos Dangelo,Richard Deeley. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 1999-04-27.

Integrated circuit for achieving pattern recognition

Номер патента: US5262632A. Автор: William O. Camp, Jr.. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1993-11-16.

Circuits And Methods For Accessing Signals In Integrated Circuits

Номер патента: US20220077856A1. Автор: Yi Peng,Mahesh A. Iyer,Krishna Nagar,Brandon Gordon. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Long range corrections in integrated circuit layout designs

Номер патента: US7234130B2. Автор: Nicolas B. Cobb,James Word,Yuri Granik. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2007-06-19.

Retroreflective integrated circuit sealed product

Номер патента: MY141672A. Автор: Ikuo Mimura. Владелец: Nippon Carbide Kogyo Kk. Дата публикации: 2010-05-31.

Integrated circuit enclosed retroreflective product

Номер патента: CA2455305C. Автор: Ikuo Mimura. Владелец: Nippon Carbide Industries Co Inc. Дата публикации: 2013-02-19.

Learning-based analyzer for mitigating latch-up in integrated circuits

Номер патента: US11853683B2. Автор: Patrice M. Parris,David R. Gifford,Bernd Lienhard. Владелец: Silicon Space Tech Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Secure feature and key management in integrated circuits

Номер патента: US20230388290A1. Автор: Paul Carl Kocher,Andrew John LEISERSON,Benjamin Chen-Min Jun. Владелец: Cryptography Research Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

Boundary assertion-based power recovery in integrated circuit design

Номер патента: US20200089828A1. Автор: Alexander J. Suess,Cindy S. Washburn. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Method and apparatus for sensing defects in integrated circuit elements

Номер патента: WO1990002997A1. Автор: Tushar R. Gheewala. Владелец: Cross-Check Technology, Incorporated. Дата публикации: 1990-03-22.

Systems and/or methods for anomaly detection and characterization in integrated circuits

Номер патента: US20200326373A1. Автор: Jason Alvin DICKENS. Владелец: GRAMMATECH Inc. Дата публикации: 2020-10-15.

Techniques For Reducing Uneven Aging In Integrated Circuits

Номер патента: US20190097635A1. Автор: Herman Schmit. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Method and apparatus for isolating defects in an integrated circuit near field scanning photon emission microscopy

Номер патента: US5981967A. Автор: Zhouxing Luo. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1999-11-09.

High accuracy timing model for integrated circuit verification

Номер патента: EP1292906A2. Автор: Jun Li,Hong Zhao,Hsien-Yen Chiu. Владелец: Simplex Solutions Inc. Дата публикации: 2003-03-19.

High accuracy timing model for integrated circuit verification

Номер патента: WO2001088766A3. Автор: Jun Li,Hong Zhao,Hsien-Yen Chiu. Владелец: Simplex Solutions Inc. Дата публикации: 2003-01-09.

Circuit design visibility in integrated circuit devices

Номер патента: US12014129B2. Автор: Yi Peng,Brandon Lewis Gordon. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Sub-circuit pattern recognition in integrated circuit design

Номер патента: US20100131908A1. Автор: Sandeep Shylaja Krishnan. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-05-27.

System and method for managing faults in integrated circuits

Номер патента: US11797373B2. Автор: Neha Srivastava,Ankur Behl. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-10-24.

Using linked-lists to create feature rich finite-state machines in integrated circuits

Номер патента: US20180314221A1. Автор: Navdeep Singh Dhanjal,Shengbing Zhou. Владелец: Analog Devices Global ULC. Дата публикации: 2018-11-01.

Reducing capacitive interference in integrated circuits

Номер патента: US20020157073A1. Автор: Suresh Krishnamoorthy. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2002-10-24.

Detection and Correction of Single Event Upset (SEU) in Integrated Circuit

Номер патента: US20220209753A1. Автор: Younes Lotfi. Владелец: CAES Colorado Springs LLC. Дата публикации: 2022-06-30.

Detection and correction of single event upset (SEU) in integrated circuit

Номер патента: US11283431B2. Автор: Younes Lotfi. Владелец: Cobham Colorado Springs Inc. Дата публикации: 2022-03-22.

Apparatus and methods for leakage current reduction in integrated circuits

Номер патента: US20180367142A1. Автор: Christophe Vincent Antoine Laurent. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-12-20.

Apparatus and methods for leakage current reduction in integrated circuits

Номер патента: WO2015038466A1. Автор: Christophe Vincent Antoine Laurent. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2015-03-19.

Method and apparatus for determining electro-migration in integrated circuit designs

Номер патента: US7752582B2. Автор: Palkesh Jain,Ajoy Mandal. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-07-06.

Optical measurements of fine line parameters in integrated circuit processes

Номер патента: US4408884A. Автор: Heinrich Meier,William E. Ham,Hans P. Kleinknecht. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1983-10-11.

Dummy fill for integrated circuits

Номер патента: US20030228714A1. Автор: David White,Taber Smith,Vikas Mehrotra. Владелец: Praesagus Inc. Дата публикации: 2003-12-11.

Idle phase prediction for integrated circuits

Номер патента: EP2936274A1. Автор: Michael J. Schulte,Yasuko ECKERT,Srilatha Manne,William L. Bircher,Mahdu S.S. Govindan. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2015-10-28.

Execution of tasks in integrated circuits

Номер патента: WO2019092441A1. Автор: Ville MERIÖ. Владелец: Samuels, Adrian James. Дата публикации: 2019-05-16.

System and method for managing memory errors in integrated circuits

Номер патента: EP4239480A1. Автор: NIKHIL Sharma,Arvind Kaushik,Rushank Patel. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-09-06.

Functional Circuit Block Harvesting in Integrated Circuits

Номер патента: US20240104280A1. Автор: Lior Zimet,Peter A. Lisherness. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

System and method for managing memory errors in integrated circuits

Номер патента: US20230280909A1. Автор: NIKHIL Sharma,Arvind Kaushik,Rushank Patel. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-09-07.

Thermal Management in Integrated Circuit Using Phononic Bandgap Structure

Номер патента: US20190122947A1. Автор: Daniel Lee Revier,Benjamin Stassen Cook. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-04-25.

Thermal management in integrated circuit using phononic bandgap structure

Номер патента: WO2019084166A1. Автор: Daniel Lee Revier,Benjamin Stassen Cook. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2019-05-02.

AC testing of leakage current in integrated circuits using RC time constant

Номер патента: US6967496B2. Автор: Gregory F. Taylor,Dan Murray,Tawfik R. Arabi,Srirama Pedaria,Patrick Elwer. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-11-22.

Adaptive Frequency Control in Integrated Circuits

Номер патента: US20230280816A1. Автор: Derek James Basehore,Nick Sanders. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-09-07.

Functional circuit block harvesting in integrated circuit

Номер патента: WO2024064263A1. Автор: Lior Zimet,Peter A. Lisherness. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2024-03-28.

Tracking taint propagation in integrated circuit design

Номер патента: WO2023244780A1. Автор: Arturo Salz. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2023-12-21.

Stress effect model optimization in integrated circuit spice model

Номер патента: US20140149954A1. Автор: Hua Xiang YIN. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2014-05-29.

Multiplex addressing of ferroelectric liquid crystal displays

Номер патента: US6127996A. Автор: John C. Jones,Jonathan R. Hughes,Marie H. Anderson. Владелец: UK Secretary of State for Defence. Дата публикации: 2000-10-03.

Active bypass for inhibiting high-frequency supply voltage variations in integrated circuits

Номер патента: US5049764A. Автор: Robert G. Meyer. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1991-09-17.

Method and System for Routing of Integrated Circuit Design

Номер патента: US20080301618A1. Автор: Lukas Daellenbach. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-12-04.

Module for preventing instability in integrated circuit testers

Номер патента: US5006794A. Автор: Laszlo V. Gal,James E. Judy, Jr.,Kenneth C. Prentiss. Владелец: Unisys Corp. Дата публикации: 1991-04-09.

Data Compression in Integrated Device Network

Номер патента: US20230037575A1. Автор: Michael Wu,Martin Langhammer,Nihat Engin Tunali. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-02-09.

Data compression in integrated device network

Номер патента: EP4345637A1. Автор: Michael Wu,Martin Langhammer,Kenneth Daxer,Nihat Engin Tunali. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-04-03.

Imaging of integrated circuit interconnects

Номер патента: US6541286B1. Автор: Minh Quoc Tran,Joffre F. Bernard. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-04-01.

Layout of interconnect lines in integrated circuits

Номер патента: US20170228489A1. Автор: Tobias Werner,Silke Penth,Gerhard Hellner,Iris M. Leefken. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-10.

Security in integrated circuits

Номер патента: WO2022248493A1. Автор: Frode Pedersen. Владелец: NORDIC SEMICONDUCTOR ASA. Дата публикации: 2022-12-01.

Timing driven routing in integrated circuit design

Номер патента: US20120284683A1. Автор: YING Zhou,ZHUO Li,Charles Jay Alpert,Stephen Thomas Quay. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-11-08.

System and method for testing clocking systems in integrated circuits

Номер патента: US11879939B2. Автор: Abhishek Mahajan,Nikila Krishnamoorthy,Rishabh Kaistha,Varsha Bansal. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-01-23.

Visualizing sensitivity information in integrated circuit design

Номер патента: US20130158953A1. Автор: Sani Richard Nassif,Anne Elizabeth Gattiker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-06-20.

Custom compute cores in integrated circuit devices

Номер патента: US11829311B2. Автор: Gavin L Huggins. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Visualizing sensitivity information in integrated circuit design

Номер патента: US8914272B2. Автор: Sani Richard Nassif,Anne Elizabeth Gattiker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-12-16.

Machine-learning driven prediction in integrated circuit design

Номер патента: WO2021050434A1. Автор: Siddhartha Nath,Vishal Khandelwal,Ravi Mamidi,Sudipto Kundu. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2021-03-18.

Systems and methods for creating block constraints in integrated circuit designs

Номер патента: US20170286587A1. Автор: Ilan Cohen,Alon Dvir,Uzi Magini,Inbar Neeman. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2017-10-05.

Methods and systems for cross-probing in integrated circuit design

Номер патента: WO2005119442A3. Автор: Mark A Coiley. Владелец: Tera Systems Inc. Дата публикации: 2006-12-21.

Machine-learning driven prediction in integrated circuit design

Номер патента: US20210073456A1. Автор: Siddhartha Nath,Vishal Khandelwal,Ravi Mamidi,Sudipto Kundu. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2021-03-11.

Testing of security systems in integrated circuits

Номер патента: EP4372591A1. Автор: Neha Srivastava,Gautam TIKOO. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-05-22.

Dynamic frequency boosting exploiting path delay variability in integrated circuits

Номер патента: WO2018007839A1. Автор: Nikolaos ZOMPAKIS. Владелец: Zompakis Nikolaos. Дата публикации: 2018-01-11.

Custom compute cores in integrated circuit devices

Номер патента: US20240095202A1. Автор: Gavin L. Huggins. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Custom compute cores in integrated circuit devices

Номер патента: US20220083487A1. Автор: Gavin L. Huggins. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2022-03-17.

System and methods for generating unclonable security keys in integrated circuits

Номер патента: EP2524334A2. Автор: James Plusquellic,Dhura Acharyya,Ryan L. Helinski. Владелец: STC UNM. Дата публикации: 2012-11-21.

Testing of security systems in integrated circuits

Номер патента: US20240160745A1. Автор: Neha Srivastava,Gautam TIKOO. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-05-16.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20150097593A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-04-09.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7733110B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-06-08.

Circuit layer for a card with integrated circuit

Номер патента: RU2725617C2. Автор: Финн Нильсен. Владелец: Кардлаб Апс. Дата публикации: 2020-07-03.

Methods and Systems for Achieving System-Level Counterfeit Protection in Integrated Chips

Номер патента: US20160072632A1. Автор: Ronald DeShawn Blanton. Владелец: CARNEGIE MELLON UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-03-10.

Integrated circuit including back side conductive lines for clock signals

Номер патента: US20210344346A1. Автор: Kam-Tou SIO,Jiun-Wei Lu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Integrated circuit with self-testing circuit

Номер патента: EP1472552A2. Автор: Friedrich Hapke. Владелец: Philips Intellectual Property and Standards GmbH. Дата публикации: 2004-11-03.

Manufacturing method for wireless communications devices employing potentially different versions of integrated circuits

Номер патента: EP1155583A1. Автор: Ronald D. Boesch. Владелец: Ericsson Inc. Дата публикации: 2001-11-21.

Integrated circuit device, electro optical device and electronic apparatus

Номер патента: US8462143B2. Автор: Akira Morita. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-06-11.

An integrated circuit arrangement with feature control

Номер патента: EP1399828A2. Автор: Neal T. Wingen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-03-24.

An integrated circuit arrangement with feature control

Номер патента: WO2002097638A3. Автор: Neal T Wingen. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2003-10-23.

An integrated circuit arrangement with feature control

Номер патента: WO2002097638A2. Автор: Neal T. Wingen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-12-05.

Integrated circuit with logic circuitry and multiple concealing circuits

Номер патента: US20130111224A1. Автор: Kiran Kumar Gunnam,Jay Scott Fuller. Владелец: Certicom Corp. Дата публикации: 2013-05-02.

Integrated circuit structure, display module, and inspection method thereof

Номер патента: US20180188572A1. Автор: Neng-Yi Lin,Chien-Chih Liu. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2018-07-05.

Monitoring physical operating parameters of an integrated circuit

Номер патента: US7928882B2. Автор: Marcel Pelgrom,Violeta Petrescu,Hendricus J M Veendrick. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2011-04-19.

Failure prediction circuit and method, and semiconductor integrated circuit

Номер патента: US7908538B2. Автор: Masayuki Mizuno,Koichi Nose,Toru Nakura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2011-03-15.

Image Enhancement using Integrated Circuit Devices having Analog Inference Capability

Номер патента: US20240267646A1. Автор: Poorna Kale. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Test logic method for an integrated circuit device

Номер патента: EP4256356A1. Автор: Ovidiu SIMA. Владелец: EM Microelectronic Marin SA. Дата публикации: 2023-10-11.

RFID device having nonvolatile ferroelectric memory device

Номер патента: US20070018821A1. Автор: Hee Kang,Jin Ahn. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-01-25.

Semiconductor integrated circuit and power supply control method therefor

Номер патента: US20160077563A1. Автор: Noboru Sakimura,Ayuka Tada,Ryusuke Nebashi,Yukihide Tsuji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Power supply semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20220075004A1. Автор: Kohei Sakurai,Shinichiro Maki. Владелец: Mitsumi Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-10.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20100100783A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-04-22.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20090063920A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-03-05.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20080136438A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-06-12.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20090063919A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-03-05.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20100095176A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-04-15.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20070257694A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2007-11-08.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20100100784A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-04-22.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20060017453A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-26.

Process of making an integrated circuit using parallel scan paths

Номер патента: US20020039804A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-04.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20040084747A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-05-06.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20090058448A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-03-05.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20020196045A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-26.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20140245090A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-08-28.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7863913B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-01-04.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7852100B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-12-14.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7876112B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-01-25.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7629808B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-12-08.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7659741B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-02-09.

Design system of integrated circuit and its design method and program

Номер патента: US20030061585A1. Автор: Sho Matsumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-03-27.

Daisy-chain spi integrated circuit and operation method thereof

Номер патента: EP4198756A1. Автор: Chi-Cheng Lin,Shan-Chieh Wen,Ming-Huai Weng,Guei-Lan Lin,Che-Hao Chiang. Владелец: Himax Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-06-21.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20140122950A1. Автор: Naoki Ito,Yuuki Asada. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2014-05-01.

Stacked display driver integrated circuit and display device including the same

Номер патента: US12094405B2. Автор: Changju Lee,Kyoungmin Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-17.

Systems And Methods For Generating Redacted Circuit Designs For Integrated Circuits

Номер патента: US20240311537A1. Автор: Nij Dorairaj,David Kehlet,Shuanghong SUN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Interface bridge between integrated circuit die

Номер патента: US12135667B2. Автор: Keith Duwel,David W. Mendel,Jeffrey Erik Schulz,Dinesh D. Patil,Gary Brian Wallichs,Jakob Raymond Jones. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Integrated circuit chip with stress compensation circuit

Номер патента: WO2024199882A1. Автор: Marc Ryat. Владелец: LEM INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2024-10-03.

Circuit design implementations in secure partitions of an integrated circuit

Номер патента: US09946826B1. Автор: Herman Schmit,Ting Lu,Dana How,Sean Atsatt. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Techniques for clock rate changes during data rate changes in an integrated circuit (IC)

Номер патента: US09891653B2. Автор: Keith Duwel,Gary Wallichs,Ru Yin Ng. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Integrated circuit including parametric analog elements

Номер патента: US09858367B1. Автор: Antonio Visconti,David LeHoty. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Integrated circuit calibration system using general purpose processors

Номер патента: US09778312B1. Автор: Edwin Yew Fatt Kok,Wai Tat Wong,Wilfred Wee Kee King,Tee Wee Tan. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

High sensitivity digital voltage droop monitor for integrated circuits

Номер патента: US09772375B2. Автор: Vijay Srinivasan,Sebastian Turullols,Changku Hwang. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Efficient integrated circuits configuration data management

Номер патента: US09740809B2. Автор: Junaid Asim Khan,Scott James Brissenden. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Systems and methods for automatic test pattern generation for integrated circuit technologies

Номер патента: US09726722B1. Автор: Yosef Solt. Владелец: Marvell Israel MISL Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Method for providing an on-chip variation determination and integrated circuit utilizing the same

Номер патента: US09664737B2. Автор: Yipin WU,Heng-Meng LIU,Kok-Tiong TEE. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Integrated circuit arrangement, method and system for use in a safety-critical application

Номер патента: US09647449B2. Автор: Markus Zannoth. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-05-09.

Donor cores to improve integrated circuit yield

Номер патента: US09612988B2. Автор: Gerald K. Bartley,William P. Hovis,Darryl J. Becker,Philip R. Germann. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Semiconductor integrated circuit for regulator

Номер патента: US09606556B2. Автор: Yoichi Takano,Katsuhiro Yokoyama. Владелец: Mitsumi Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US09494640B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Image forming system, integrated circuit chip, and image forming apparatus

Номер патента: US09454717B2. Автор: Naoki Abe. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Radiation hardened chip level integrated recovery apparatus, methods, and integrated circuits

Номер патента: US09438025B1. Автор: Stephan P. Athan. Владелец: Defense Electronics Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Touch panel control circuit and semiconductor integrated circuit using the same

Номер патента: US09437169B2. Автор: Takayuki Noto,Akihito Akai. Владелец: Synpatics Japan Gk. Дата публикации: 2016-09-06.

Voltage regulation circuit for integrated circuits of chip- carrying cards

Номер патента: RU2247465C1. Автор: Уве ВЕДЕР. Владелец: Инфинеон Текнолоджиз Аг. Дата публикации: 2005-02-27.

Methodology for testing integrated circuits

Номер патента: WO2015069490A9. Автор: SRIKANTH Srinivasan,Sagar Bhogela,Daisy Cynthia. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2015-07-02.

Methodology for testing integrated circuits

Номер патента: EP3066485A1. Автор: SRIKANTH Srinivasan,Sagar Bhogela,Daisy Cynthia. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2016-09-14.

Integrated circuit and method for fabricating an integrated circuit

Номер патента: US20040245618A1. Автор: Albrecht Mayer. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2004-12-09.

Programmable integrated circuit having different types of configuration memory

Номер патента: EP3170261A1. Автор: James Karp. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2017-05-24.

Programmable integrated circuit having different types of configuration memory

Номер патента: WO2016010808A1. Автор: James Karp. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2016-01-21.

Adapting the usage configuration of integrated circuit input-output pads

Номер патента: WO2016113530A1. Автор: James Edward Myers,Parameshwarappa Anand Kumar SAVANTH. Владелец: ARM LIMITED. Дата публикации: 2016-07-21.

Through-silicon via detecting circuit, method and integrated circuit having the same

Номер патента: US20210215755A1. Автор: You-Hsien Lin. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-07-15.

Heterogeneous integrated circuit for short wavelengths

Номер патента: US20220270977A1. Автор: Daniel N. Carothers. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-08-25.

GNSS and INS integrated navigation positioning method and system thereof

Номер патента: US12019170B1. Автор: Kun Wang,Ying Xu,Yuqing Feng,Jinjie Sun. Владелец: SHANDONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-06-25.

Amplifier circuit, integrating circuit, and light-detection device

Номер патента: US20130038393A1. Автор: Shinya Ito,Haruhiro Funakoshi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2013-02-14.

Semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20100207662A1. Автор: Mitsuhiro Yamamoto. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

Image Enhancement using Integrated Circuit Devices having Analog Inference Capability

Номер патента: US20240089622A1. Автор: Poorna Kale. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Test logic method for an integrated circuit device

Номер патента: US20230384363A1. Автор: Ovidiu SIMA. Владелец: EM Microelectronic Marin SA. Дата публикации: 2023-11-30.

Integrated circuit with self-testing circuit

Номер патента: WO2003060534A2. Автор: Friedrich Hapke. Владелец: Philips Intellectual Property & Standards Gmbh. Дата публикации: 2003-07-24.

Circuit for detecting pin-to-pin leaks of an integrated circuit package

Номер патента: WO2021242334A1. Автор: Dat Tran,Loc Tu,Kirubakaran Periyannan,Nyi Nyi Thein. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2021-12-02.

Integrated circuit tester having pattern generator controlled data bus

Номер патента: EP1149293A4. Автор: John Mark Oonk. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2004-12-29.

Determining timing associated with an input or output of an embedded circuit in an integrated circuit for testing

Номер патента: US7493543B1. Автор: Arnold Louie,Vickie Wu. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2009-02-17.

Semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20060066378A1. Автор: Tadahiro Shimizu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-30.

Image enhancement using integrated circuit devices having analog inference capability

Номер патента: US11979674B2. Автор: Poorna Kale. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-07.

Semiconductor Integrated Circuit

Номер патента: US20090102531A1. Автор: Hideo Ito,Kazutero Nanba. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-04-23.

Integrated circuit device and electronic instrument

Номер патента: US20120120049A1. Автор: Takashi Kumagai,Kanji Natori. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-05-17.

Integrated circuit to waveguide transitional structures and related sensor assemblies

Номер патента: WO2024005880A1. Автор: Scott B. Doyle. Владелец: Veoneer US, LLC. Дата публикации: 2024-01-04.

High speed pin driver integrated circuit architecture for commercial automatic test equipment applications

Номер патента: WO2000039928A1. Автор: Lloyd F. Linder. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2000-07-06.

Method of generating a floorplan for an integrated circuit

Номер патента: WO2004068373A1. Автор: Adrianus W. P. G. G. Vaassen,Erwin Waterlander. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2004-08-12.

System and method for transferring thermal energy from integrated circuits

Номер патента: US11744039B2. Автор: Adrian Albert Van Wijk,Nikolas Lyman Henderson Radosevic. Владелец: JDi Design Inc. Дата публикации: 2023-08-29.

Test mode control circuit for reconfiguring a device pin of an integrated circuit chip

Номер патента: WO2004030034A2. Автор: Colin Price,Colin S. Mcintosh. Владелец: ANALOG DEVICES, INC.. Дата публикации: 2004-04-08.

Method, circuit and integrated circuit for detecting resonance frequency

Номер патента: US20140354261A1. Автор: Lei Huang,NA Meng. Владелец: Fairchild Semiconductor Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Method and system for providing interactive testing of integrated circuits

Номер патента: US20050204237A1. Автор: Peilin Song,Franco Motika,Todd Burdine. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-09-15.

Semiconductor integrated circuit device and IC card using the same

Номер патента: US8301915B2. Автор: Kazuki Watanabe,Nobuaki Yoneya. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-10-30.

A method for controlling transaction exchanges between two integrated circuits

Номер патента: EP2729863A1. Автор: Abdelaziz Goulahsen,Bipin Balakrishnan. Владелец: ERICSSON MODEMS SA. Дата публикации: 2014-05-14.

Integrated circuits having cascode transistor

Номер патента: US9170596B2. Автор: Yvonne Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-10-27.

Integrated circuits having cascode transistor

Номер патента: US20140285255A1. Автор: Yvonne Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Integrated circuit with leakage control and method for leakage control

Номер патента: EP1690102A1. Автор: Petri Vaisanen,Teppo Hemia,Pasi Kolinummi. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2006-08-16.

Digital signal transition counters for digital integrated circuits

Номер патента: US20180088645A1. Автор: Young H. Cho,Siddharth S. Bhargav,Andrew Goodney. Владелец: University of Southern California USC. Дата публикации: 2018-03-29.

Ferroelectric memory devices including patterned conductive layers

Номер патента: US6359295B2. Автор: Mi-Hyang Lee,Dong-Jin Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-03-19.

Ferroelectric memory and its manufacturing method

Номер патента: US20070284637A1. Автор: Shinichi Fukada. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-12-13.

Three-dimensional ferroelectric memory

Номер патента: US11296117B2. Автор: Jan Van Houdt. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2022-04-05.

Three-dimensional ferroelectric memory

Номер патента: US20210175254A1. Автор: Jan Van Houdt. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2021-06-10.

Ferroelectric memory and its manufacturing method

Номер патента: US7977720B2. Автор: Shinichi Fukada. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-07-12.

Multi-level ferroelectric memory device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09954000B2. Автор: Se Hun Kang,Deok Sin Kil. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Three-dimensional ferroelectric memory device

Номер патента: US20240224534A1. Автор: Woo Cheol LEE. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Method of making a self-aligned ferroelectric memory transistor

Номер патента: US20030071292A1. Автор: Tingkai Li,Sheng Hsu,Fengyan Zhang. Владелец: SHENG LABORATORIES OF AMERICA Inc. Дата публикации: 2003-04-17.

Ferroelectric memory to prevent penetration of hydrogen into a ferroelectric layer of the ferroelectric memory

Номер патента: US7514735B2. Автор: Shinichi Fukada. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2009-04-07.

Ferroelectric memory devices with reduced edge leakage and methods for forming the same

Номер патента: US20220005829A1. Автор: Yushi Hu. Владелец: Wuxi Petabyte Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-06.

3d ferroelectric memory device

Номер патента: EP4304315A1. Автор: Seunggeol NAM,Jinseong Heo,Hyunjae Lee,Taehwan MOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-10.

3d ferroelectric memory device

Номер патента: US20240008289A1. Автор: Seunggeol NAM,Jinseong Heo,Hyunjae Lee,Taehwan MOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-04.

Three-dimensional ferroelectric memory device

Номер патента: EP4304316A1. Автор: Seunggeol NAM,Jinseong Heo,Hyunjae Lee,Taehwan MOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-10.

Three-dimensional ferroelectric memory device

Номер патента: US20240015983A1. Автор: Seunggeol NAM,Jinseong Heo,Hyunjae Lee,Taehwan MOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-11.

3d ferroelectric memory device

Номер патента: US20240172448A1. Автор: Seunggeol NAM,Jinseong Heo,Hyunjae Lee,Dukhyun CHOE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-23.

Heat dissipation in integrated circuits

Номер патента: US20070064398A1. Автор: Cynthia Lee,Sidhartha Sen. Владелец: Agere Systems LLC. Дата публикации: 2007-03-22.

Controlling warping in integrated circuit devices

Номер патента: US20110250742A1. Автор: John W. Osenbach,Weidong Xie,Thomas H. Shilling. Владелец: Agere Systems LLC. Дата публикации: 2011-10-13.

Method and apparatus for indicating directionality in integrated circuit manufacturing

Номер патента: US20070194392A1. Автор: Mehul Shroff,Edward Travis,Donald Smeltzer,Traci Smith. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-08-23.

Smoke-free esd protection structure used in integrated circuit devices

Номер патента: US20120007138A1. Автор: James Nguyen. Владелец: Monolithic Power Systems Inc. Дата публикации: 2012-01-12.

Vertical bit data paths for integrated circuits

Номер патента: US20230317729A1. Автор: Hai Li,Chia-Ching Lin,Ian Alexander Young,Julien Sebot,Dmitri Evgenievich Nikonov,Punyashloka Debashis. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

High-speed low-power integrated circuit interconnects

Номер патента: WO2007137947A3. Автор: Satyajit Dutta,Zhibin Cheng,Peter Klim. Владелец: Peter Klim. Дата публикации: 2008-02-28.

High-speed low-power integrated circuit interconnects

Номер патента: WO2007137947A2. Автор: Satyajit Dutta,Zhibin Cheng,Peter Klim. Владелец: Ibm United Kingdom Limited. Дата публикации: 2007-12-06.

High-speed low-power integrated circuit interconnects

Номер патента: EP2022172A2. Автор: Satyajit Dutta,Zhibin Cheng,Peter Klim. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-02-11.

Reducing leakage currents in integrated circuits

Номер патента: US20020158665A1. Автор: Vivek De,Yibin Ye,James Tschanz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-31.

Programmable stream switches and functional safety circuits in integrated circuits

Номер патента: US20240195418A1. Автор: Karl Henrik Goran Bilski. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Capacitors in integrated circuits

Номер патента: EP1016132A1. Автор: Hans Norström,Stefan Nygren. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2000-07-05.

Efficient power management method in integrated circuit through a nanotube structure

Номер патента: US8017512B2. Автор: Jonathan Byrn. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2011-09-13.

Efficient power management method in integrated circuit through a nanotube structure

Номер патента: US20110039398A1. Автор: Jonathan Byrn. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2011-02-17.

Super via integration in integrated circuits

Номер патента: WO2021080695A1. Автор: John Jianhong ZHU,Jun Chen,Giridhar Nallapati,Junjing Bao. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-04-29.

Super via integration in integrated circuits

Номер патента: EP4049309A1. Автор: John Jianhong ZHU,Jun Chen,Giridhar Nallapati,Junjing Bao. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-08-31.

Self-aligned trench isolation in integrated circuits

Номер патента: US09437470B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Lei Xue,Rinji Sugino,Ching-Huang Lu,Simon Siu-Sing Chan. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Biasing device for low parasitic capacitance in integrated circuit applications

Номер патента: US20060237820A1. Автор: Chun-Ying Chen. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2006-10-26.

Fusible link configuration in integrated circuits

Номер патента: US20010019167A1. Автор: HELMUT Fischer,Jochen Müller. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2001-09-06.

Variable rotational assignment of interconnect levels in integrated circuit fabrication

Номер патента: US20050079654A1. Автор: Thaddeus Gabara,Tarek Jomaa. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2005-04-14.

Localized anneal of ferroelectric dielectric

Номер патента: US20240074207A1. Автор: Takashi Ando,Hiroyuki Miyazoe,Guy M. Cohen,Nanbo Gong. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Localized anneal of ferroelectric dielectric

Номер патента: WO2024041048A1. Автор: Takashi Ando,Hiroyuki Miyazoe,Guy M. Cohen,Nanbo Gong. Владелец: Ibm (China) Co., Limited. Дата публикации: 2024-02-29.

Active interconnects and control points in integrated circuits

Номер патента: US20060238217A1. Автор: R. Williams,Duncan Stewart,Philip Kuekes,Frederick Perner,Greg Snider. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-26.

Vertical dmos device in integrated circuit

Номер патента: WO2007081573A2. Автор: Robert Paul Haase. Владелец: INTERNATIONAL RECTIFIER CORPORATION. Дата публикации: 2007-07-19.

Assemblies used for embedding integrated circuit assemblies, and their uses and method of fabrication thereof

Номер патента: EP4315414A2. Автор: Jayna Sheats. Владелец: Terecircuits Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Fabrication of phase change memory cell in integrated circuit

Номер патента: US20200295261A1. Автор: Chih-Chao Yang,Baozhen Li,Barry Linder,Andrew Tae Kim. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Assemblies used for embedding integrated circuit assemblies, and their uses and method of fabrication thereof

Номер патента: WO2022212492A3. Автор: Jayna Sheats. Владелец: Terecircuits Corporation. Дата публикации: 2022-11-10.

Middle-of-line shielded gate for integrated circuits

Номер патента: EP3692575A1. Автор: YE Lu,Bin Yang,Periannan Chidambaram,Lixin Ge,Junjing Bao. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2020-08-12.

Middle-of-line shielded gate for integrated circuits

Номер патента: WO2019070346A1. Автор: YE Lu,Bin Yang,Periannan Chidambaram,Lixin Ge,Junjing Bao. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2019-04-11.

Gate-All-Around Field-Effect Transistors In Integrated Circuits

Номер патента: US20220384456A1. Автор: Jhon Jhy Liaw. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-12-01.

Method for containing a silicided gate within a sidewall spacer in integrated circuit technology

Номер патента: US20100219486A1. Автор: Kelley Kyle Higgins,Ibrahim Khan Burki. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2010-09-02.

Bottom-up curing of dielectric films in integrated circuits

Номер патента: US20200388488A1. Автор: Oleg Gluschenkov,Hosadurga Shobha,Devika Sil,Yasir Sulehria. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Structure and method for determining a defect in integrated circuit manufacturing process

Номер патента: US9035674B2. Автор: HONG Xiao,Jack Y. Jau,CHANG CHUN YEH. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2015-05-19.

Square etch profiles in heterogenous materials of integrated circuit devices

Номер патента: US20240113194A1. Автор: Krishna GANESAN,Kilhyun Bang,Mekha George,Seda Cekli. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Gate-All-Around Field-Effect Transistors In Integrated Circuits

Номер патента: US20240276697A1. Автор: Jhon Jhy Liaw. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Fixture and method for uniform electroless metal deposition on integrated circuit bond pads

Номер патента: US20010047944A1. Автор: Gonzalo Amador,Roger Stierman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2001-12-06.

Device contact sizing in integrated circuit structures

Номер патента: EP3886176A1. Автор: Guillaume Bouche,Sean T. MA,Andy Chih-Hung Wei. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-09-29.

Methods of forming fine patterns in integrated circuit devices

Номер патента: US20100096719A1. Автор: Young-Ho Lee,Jae-Hwang Sim,Jae-Kwan Park,Sang-Yong Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-04-22.

Energy harvesting in integrated circuit packages

Номер патента: US20130134544A1. Автор: Henry L. Sanchez. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-05-30.

Optical interconnects in integrated circuits

Номер патента: US20040217373A1. Автор: Jianping Xu,Tanay Karnik. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-11-04.

Metallization in integrated circuits

Номер патента: US20230352311A1. Автор: Frances Ooi. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-11-02.

Digitally adjustable amplifier for integrated circuit

Номер патента: US7135916B2. Автор: Albrecht Schmidt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-11-14.

Methods and apparatus to mitigate electromigration in integrated circuit packages

Номер патента: US20240332134A1. Автор: Gang Duan,Liang He,Jung Kyu HAN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Microfluidic cooling in integrated circuit device

Номер патента: US20240312869A1. Автор: Telesphor Kamgaing,Min Suet LIM,Tongyan Zhai. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Power line layout in integrated circuits

Номер патента: US09935052B1. Автор: Hui Liu,Arifur Rahman,Kyung Suk Oh,Kaushik Chanda,Karthik Chandrasekar. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Using inter-tier vias in integrated circuits

Номер патента: US09929149B2. Автор: Gregory Munson Yeric,Robert Campbell Aitken,Saurabh Pijuskumar Sinha,Brian Tracy CLINE,Kyungwook Chang. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2018-03-27.

Deposition of titanium nanolaminates for use in integrated circuit fabrication

Номер патента: US09540729B1. Автор: Hidemi Suemori,Viljami J. Pore,Seiji Okura. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2017-01-10.

Process for deposition of titanium oxynitride for use in integrated circuit fabrication

Номер патента: US09523148B1. Автор: Hidemi Suemori,Viljami J. Pore,Seiji Okura. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2016-12-20.

Etch stop layer in integrated circuits

Номер патента: US09437484B2. Автор: Chun Che Lin,Shiu-Ko Jangjian,Tsung-Hsuan Hong,Chih-Nan Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Seed layer processes for MOCVD of ferroelectric thin films on high-k gate oxides

Номер патента: US20030109069A1. Автор: Tingkai Li,Sheng Hsu. Владелец: Sharp Laboratories of America Inc. Дата публикации: 2003-06-12.

Method and device using titanium doped aluminum oxide for passivation of ferroelectric materials

Номер патента: US20040056276A1. Автор: HONG Ying,Sheng Hsu,Fengyan Zhang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-25.

Direct writing of refractory metal lines for use in integrated circuit devices

Номер патента: CA1249071A. Автор: Christopher P. Yakymyshyn,Yung S. Liu. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1989-01-17.

Electrostatic discharge protection in integrated circuits, systems and methods

Номер патента: US5591992A. Автор: Jerald G. Leach. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1997-01-07.

Misted deposition method of fabricating integrated circuits

Номер патента: US5888583A. Автор: Carlos A. Paz de Araujo,Larry D. McMillan,Tommy L. Roberts. Владелец: Symetrix Corp. Дата публикации: 1999-03-30.

High-ratio-accuracy capacitor geometries for integrated circuits

Номер патента: CA1121915A. Автор: Michael F. Tompsett,Donald L. Fraser, Jr.. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1982-04-13.

Noise reduction in integrated circuits and circuit assemblies

Номер патента: WO1996037978A1. Автор: Jean-Yves Michel,Alan G. Corry,Graham Y. Mostyn. Владелец: MICROUNITY SYSTEMS ENGINEERING, INC.. Дата публикации: 1996-11-28.

Method for preparing a thin layer of ferroelectric material

Номер патента: US20240072753A1. Автор: Morgane Logiou,Alexis Drouin,Isabelle Huyet. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2024-02-29.

Use of hard masks during etching of openings in integrated circuits for high etch selectivity

Номер патента: US6054384A. Автор: Fei Wang,Susan Chen. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2000-04-25.

Fabrication of interlayer conductive paths in integrated circuits

Номер патента: CA1286795C. Автор: Glenn H. Chapman,Terry O. Herndon. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1991-07-23.

Structure to enable higher current density in integrated circuit resistor

Номер патента: US20190139861A1. Автор: Archana Venugopal,Dhishan Kande. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-05-09.

Fault detection in integrated circuits

Номер патента: US20230100245A1. Автор: Kadaba Lakshmikumar,Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-30.

Deep trench isolation for reducing soft errors in integrated circuits

Номер патента: US20020130384A1. Автор: Thomas Aton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-19.

Image cancelling mixer circuit on an integrated circuit chip

Номер патента: CA2065283C. Автор: Carl R. Battjes,Don H. Atherly. Владелец: Seiko Corp. Дата публикации: 2001-07-10.

Calibrated biasing of sleep transistor in integrated circuits

Номер патента: US20190044512A1. Автор: Charles Augustine,Muhammad Khellah,Suyoung BANG,Pascal MEINERZHAGEN,Minki Cho. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-02-07.

High-current/low cost read-in integrated circuit

Номер патента: US20110073877A1. Автор: Mark Alan Massie. Владелец: Nova Research Inc. Дата публикации: 2011-03-31.

Deep silicon via as a drain sinker in integrated vertical DMOS transistor

Номер патента: US09728632B2. Автор: Zachary K. Lee,Sharon Levin,Shye Shapira. Владелец: Tower Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Binary germanium-silicon interconnect and electrode structure for integrated circuits

Номер патента: CA1183968A. Автор: William I. Lehrer,Bruce E. Deal. Владелец: Fairchild Camera and Instrument Corp. Дата публикации: 1985-03-12.

Method of fabricating a shallow-trench isolation structure in integrated circuit

Номер патента: US5960299A. Автор: Water Lur,Shih-Wei Sun,Tri-Rung Yew. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 1999-09-28.

Dynamic isolation of conductivity modulation states in integrated circuits

Номер патента: US4224083A. Автор: Michael W. Cresswell. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1980-09-23.

Method for fabricating minute openings in integrated circuits

Номер патента: CA1048331A. Автор: Ingrid E. Magdo,Steven Magdo. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1979-02-13.

Integrated circuit arrangement for a telephone subscriber station

Номер патента: US3955053A. Автор: Peter Picard. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1976-05-04.

Multiplexer structures for use in making controllable interconnections in integrated circuits.

Номер патента: US5486775A. Автор: Kerry Veenstra. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 1996-01-23.

Integrated circuit insulators and related methods

Номер патента: US20070141832A1. Автор: Paul Farrar. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2007-06-21.

Signal routing in integrated circuit packaging

Номер патента: US11810850B2. Автор: Jin Young Kim,Zhonghua Wu. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-11-07.

Buried Trench Isolation in Integrated Circuits

Номер патента: US20150262838A1. Автор: Simon Chan,Lei Xue,Rinji Sugino,Ching-Huang Lu. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2015-09-17.

Techniques for attenuating resonance induced impedance in integrated circuits

Номер патента: US20120176185A1. Автор: Hong Shi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-07-12.

Method for the mitigation of hot spots in integrated circuits chip

Номер патента: EP1750303A3. Автор: Shih-Chia Chang,Poh-Seng Lee. Владелец: Delphi Technologies Inc. Дата публикации: 2010-03-10.

Apparatus and methods for bonding pad redistribution layers in integrated circuits

Номер патента: US20240096826A1. Автор: Fumiaki TOYAMA,Yuji TOTOKI,Guangyuan Li. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2024-03-21.

Signal routing in integrated circuit packaging

Номер патента: US20240105581A1. Автор: Jin Young Kim,Zhonghua Wu. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-03-28.

Buried Trench Isolation in Integrated Circuits

Номер патента: US20160211321A1. Автор: Lei Xue,Rinji Sugino,Ching-Huang Lu,Simon Siu-Sing Chan. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-07-21.

Thermocompression bonding in integrated circuit packaging

Номер патента: CA2024012A1. Автор: Sung K. Kang,Michael J. Palmer,Timothy C. Reiley,Robert D. Topa. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1991-02-26.

Integrated circuit frequency divider having low power consumption

Номер патента: US3715604A. Автор: W Rapshys. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1973-02-06.

Integrated circuit alignment marks distributed throughout a surface metal line

Номер патента: US5936311A. Автор: Kenneth Watrobski,Ken H. Faulk. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 1999-08-10.

Embedded ferroelectric memory in high-k first technology

Номер патента: US11751400B2. Автор: Wei Cheng Wu,Pai Chi Chou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Integrated circuit including ferroelectric memory cells and methods for manufacturing

Номер патента: US20180233573A1. Автор: James Lin,Francesco Anthony Annetta. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-08-16.

Electrical isolation in integrated circuits

Номер патента: US5422507A. Автор: Frank Wanlass. Владелец: Standard Microsystems LLC. Дата публикации: 1995-06-06.

Integrated circuit resistors

Номер патента: GB2182488A. Автор: Roger Leslie Baker. Владелец: STC PLC. Дата публикации: 1987-05-13.

Process for forming vias on integrated circuits

Номер патента: CA1249072A. Автор: Michael E. Thomas,Robert L. Brown. Владелец: Fairchild Semiconductor Corp. Дата публикации: 1989-01-17.

On-chip variance detection for integrated circuit devices

Номер патента: US5517107A. Автор: Kevin M. Ovens,Alan S. Bass,Jay A. Maxey. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1996-05-14.

Lead frame having non-conductive tie-bar for use in integrated circuit packages

Номер патента: US4768077A. Автор: Jeremy D. Scherer. Владелец: Aegis Inc. Дата публикации: 1988-08-30.

Method for optimising transistor performance in integrated circuits

Номер патента: US20060186478A1. Автор: Peter Hughes,Trevor Monk,Shannon Morton. Владелец: Icera LLC. Дата публикации: 2006-08-24.

Integrated circuits having stepped dielectric regions

Номер патента: US4676869A. Автор: Kuo-Hua Lee,Samuel E. Polanco. Владелец: AMERICAN TELEPHONE AND TELEGRAPH Co AT&T BELL LABORATORIES. Дата публикации: 1987-06-30.

Reduction of electromagnetic interference in integrated circuit device packages

Номер патента: US20020190389A1. Автор: Steven Koenck. Владелец: INTERMAC TECHNOLOGIES Corp. Дата публикации: 2002-12-19.

Method for making interconnects and diffusion barriers in integrated circuits

Номер патента: US20020094673A1. Автор: Valery Dubin. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Integrated circuits having stepped dielectric regions

Номер патента: USRE33622E. Автор: Kuo-Hua Lee,Samuel E. Polanco. Владелец: AT&T Bell Laboratories Inc. Дата публикации: 1991-06-25.

Films doped with carbon for use in integrated circuit technology

Номер патента: US20040164336A1. Автор: John Moore,Ronald Weimer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2004-08-26.

Lead frame coated with aluminum as a packaging material in integrated circuits

Номер патента: US4605533A. Автор: Yoshikazu Hashimoto,Kazunao Kudoh. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 1986-08-12.

Etch stop layer in integrated circuits

Номер патента: US11942419B2. Автор: Chun Che Lin,Shiu-Ko Jangjian,Tsung-Hsuan Hong,Chih-Nan Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Magnetic structures in integrated circuit packages

Номер патента: EP3803969A1. Автор: YING Wang,Chong Zhang,Yikang Deng,Andrew James Brown,Lauren Ashley Link. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-04-14.

Cavity structures in integrated circuit package supports

Номер патента: US20200066543A1. Автор: Cheng Xu,Ji Yong Park,Rahul Jain,Junnan Zhao,Kyu Oh Lee,Sai Vadlamani. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

Ferroelectric gate dielectrics in integrated circuits

Номер патента: US20200235221A1. Автор: Abhishek A. Sharma,Brian S. Doyle,Ravi Pillarisetty,Elijah V. KARPOV,Prashant Majhi. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-07-23.

Magnetic structures in integrated circuit package supports

Номер патента: US11830809B2. Автор: Cheng Xu,YING Wang,Kaladhar Radhakrishnan,Junnan Zhao,Yikang Deng,Andrew James Brown. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

System for controlling leakage current in integrated circuits

Номер патента: US20230361772A1. Автор: Alvin Leng Sun Loke,Sanjay Kumar Wadhwa,Saurabh Goyal,Divya Tripathi,Manish Kumar Upadhyay. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-11-09.

Thermal management in integrated circuit packages

Номер патента: US11830787B2. Автор: Feras Eid,Aleksandar Aleksov,Telesphor Kamgaing,Johanna M. Swan,Georgios Dogiamis. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Ratioed capacitances in integrated circuits

Номер патента: US5204546A. Автор: Kenneth W. Moulding. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1993-04-20.

Gate spacing in integrated circuit structures

Номер патента: US20210305244A1. Автор: Guillaume Bouche,Sean T. MA,Andy Chih-Hung Wei. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

Thermal improvement for hotspots on dies in integrated circuit packages

Номер патента: US20150200149A1. Автор: Rezaur Rahman Khan,Sam Ziqun Zhao. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2015-07-16.

Diffusion barrier for copper lines in integrated circuits

Номер патента: EP1507289A3. Автор: Stephan Grunow,Satyavolu S. Papa Rao,Noel M. Russell. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2005-03-23.

Isolation in integrated circuit devices

Номер патента: US20200126980A1. Автор: Sang-Won Park,Leonard C. Pipes,Dennis G. Hanken,Sishir Bhowmick. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-04-23.

Device contacts in integrated circuit structures

Номер патента: US11973121B2. Автор: Guillaume Bouche,Sean T. MA,Andy Chih-Hung Wei,Piyush Mohan Sinha,Mwilwa Tambwe. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Source/drain regions in integrated circuit structures

Номер патента: US20240162289A1. Автор: Guillaume Bouche,Sean T. MA,Andy Chih-Hung Wei. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Source/drain regions in integrated circuit structures

Номер патента: US11916106B2. Автор: Guillaume Bouche,Sean T. MA,Andy Chih-Hung Wei. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-02-27.

Thermal management in integrated circuit packages

Номер патента: US11784108B2. Автор: Feras Eid,Aleksandar Aleksov,Telesphor Kamgaing,Johanna M. Swan,Georgios Dogiamis. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Heatsink for ring type integrated circuits

Номер патента: US20240105549A1. Автор: Hua Yang,Kai Cao,Vic Hong Chia,Yongguo Chen,Paul TON. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Magnetic structures in integrated circuit packages

Номер патента: US20190371744A1. Автор: YING Wang,Chong Zhang,Yikang Deng,Andrew James Brown,Lauren Ashley Link. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-12-05.

Gate-all-around field-effect transistors in integrated circuits

Номер патента: US11968819B2. Автор: Jhon Jhy Liaw. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Methods and circuitry for reducing intermodulation in integrated transceivers

Номер патента: US20030078022A1. Автор: Yijun Cai. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2003-04-24.

Gate-All-Around Field Effect Transistors In Integrated Circuits

Номер патента: US20210202498A1. Автор: Jhon Jhy Liaw. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-07-01.

System and method for controlling the drive strength of output drivers in integrated circuit devices

Номер патента: US20070103124A1. Автор: John Heightley. Владелец: United Memories Inc. Дата публикации: 2007-05-10.

Gradient-doped sacrificial layers in integrated circuit structures

Номер патента: WO2022108655A1. Автор: Willy Rachmady. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2022-05-27.

Fabrication of phase change memory cell in integrated circuit

Номер патента: US20210020836A1. Автор: Chih-Chao Yang,Baozhen Li,Barry Linder,Andrew Tae Kim. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-01-21.

Heat removal in integrated circuits with transistors and double-sided metal interconnects

Номер патента: US20230395456A1. Автор: Telesphor Kamgaing,Jean-Pierre Njante. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Thermal management in integrated circuit packages

Номер патента: US12007170B2. Автор: Feras Eid,Aleksandar Aleksov,Telesphor Kamgaing,Johanna M. Swan,Georgios Dogiamis. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

System for controlling leakage current in integrated circuits

Номер патента: EP4273930A1. Автор: Alvin Leng Sun Loke,Sanjay Kumar Wadhwa,Saurabh Goyal,Divya Tripathi,Manish Kumar Upadhyay. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-11-08.

Source/drain regions in integrated circuit structures

Номер патента: US20220344459A1. Автор: Guillaume Bouche,Sean T. MA,Andy Chih-Hung Wei. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2022-10-27.

Source/drain regions in integrated circuit structures

Номер патента: US20210305365A1. Автор: Guillaume Bouche,Sean T. MA,Andy Chih-Hung Wei. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

Heatsink for ring type integrated circuits

Номер патента: WO2024073430A1. Автор: Hua Yang,Kai Cao,Vic Hong Chia,Yongguo Chen,Paul TON. Владелец: CISCO TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2024-04-04.

Thermal management in integrated circuit packages

Номер патента: US20240030098A1. Автор: Feras Eid,Aleksandar Aleksov,Telesphor Kamgaing,Johanna M. Swan,Georgios Dogiamis. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Vertical dmos device in integrated circuit

Номер патента: WO2007081573B1. Автор: Robert Paul Haase. Владелец: Robert Paul Haase. Дата публикации: 2008-08-14.

Methods and circuitry for reducing intermodulation in integrated transceivers

Номер патента: EP1304805A3. Автор: Yijun Cai. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2003-06-18.

Reconfigurable semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20120223737A1. Автор: Toshirou Kitaoka. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-09-06.

Reconfigurable semiconductor integrated circuit

Номер патента: US8299815B2. Автор: Toshirou Kitaoka. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-10-30.

Preparation of ferroelectric ceramic compositions

Номер патента: US3699044A. Автор: Robert G Dosch,William M O'neill. Владелец: US Atomic Energy Commission (AEC). Дата публикации: 1972-10-17.

Semiconductor integrated circuit device and method of detecting delay error in the same

Номер патента: US20040113670A1. Автор: Minari Arai. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2004-06-17.

Ferroelectric memory

Номер патента: US20020135068A1. Автор: Toshiyuki Honda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-26.

Thermal treatment for reducing transistor performance variation in ferroelectric memories

Номер патента: US09548377B2. Автор: Kemal Tamer San,Kezhakkedath R. Udayakumar. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

PLL-VCO based integrated circuit aging monitor

Номер патента: US09432031B2. Автор: Yuejun Zhang,Pengjun WANG,Zhidi JIANG,Xuelong Zhang. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2016-08-30.

Method and device for permanent connection of integrated circuit to substrate

Номер патента: RU2381592C2. Автор: Уве АУГСТ. Владелец: Муэлбауэр Аг. Дата публикации: 2010-02-10.

Thermoelectric spot coolers for rf and microwave communication integrated circuits

Номер патента: WO2002049105A3. Автор: Uttam Shyamalindu Ghoshal. Владелец: Ibm Uk. Дата публикации: 2002-12-05.

Integrated circuit for driving semiconductor device and power converter

Номер патента: EP1594164A4. Автор: Yoshimasa Takahashi,Masahiro Iwamura,Mutsuhiro Mori,Masashi Yura,Naoki Sakurai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2010-08-25.

Integrated circuit device of remote control type for driving a D.C. motor

Номер патента: US5218276A. Автор: Hee-Chol Yeom,Tae-Seop Shim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1993-06-08.

Integrated circuit package having stacked integrated circuits and method therefor

Номер патента: WO2005001935A2. Автор: Soochok Kee. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2005-01-06.

Package structure of an integrated circuit

Номер патента: US20020096747A1. Автор: Kuang Fan,Yung Chiu,Fu Huang,C. Chen,Mon Ho,C. Cheng,Nai Yeh. Владелец: Kingpak Technology Inc. Дата публикации: 2002-07-25.

Semiconductor integrated circuit device having pulse generating circuits

Номер патента: US8143924B2. Автор: Hiroyasu Yoshizawa,Toshio Shinomiya,Satoshi Hanazawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2012-03-27.

Integrated circuits

Номер патента: EP2119010A1. Автор: Klaus Melakari,Marko Winblad,Pasi Kolinummi. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2009-11-18.

Integrated circuit device and image processing apparatus

Номер патента: US20150288916A1. Автор: Takaaki Yokoi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-08.

Freeze And Clear Logic Circuits And Methods For Integrated Circuits

Номер патента: US20220216873A1. Автор: Jeffrey Chromczak,Sadegh Yazdanshenas. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2022-07-07.

A ferroelectric memory circuit and method for its fabrication

Номер патента: EP1346367A1. Автор: Lichun Chen,Nicklas Johansson. Владелец: Thin Film Electronics ASA. Дата публикации: 2003-09-24.

A ferroelectric memory circuit and method for its fabrication

Номер патента: EP1346367B1. Автор: Lichun Chen,Nicklas Johansson. Владелец: Thin Film Electronics ASA. Дата публикации: 2005-03-09.

Semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20200286882A1. Автор: Takanori Kohama. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

Method and system for stacking integrated circuits

Номер патента: WO2005117117A1. Автор: Ronald J. Jensen,Richard K. Spielberger. Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2005-12-08.

Integrated circuit and method of designing integrated circuit

Номер патента: US20020031850A1. Автор: Tsutomu Takabayashi,Shizuo Morizane. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-03-14.

High frequency semiconductor integrated circuit capable of switching between characteristics

Номер патента: US20020186089A1. Автор: Ko Kanaya,Shin Chaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-12-12.

Television tuner using integrated circuit

Номер патента: US20050110908A1. Автор: Masaki Yamamoto. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2005-05-26.

Electrostatic protection circuit with impedance matching for radio frequency integrated circuits

Номер патента: US20070264957A1. Автор: John Leete. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2007-11-15.

Semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20240283440A1. Автор: Kang Min Lee,Young Jin Yoon,Sang Min Jun,Kwang Kyung Lee,Seung Cheol Bae,Sun Byeong Yoon. Владелец: Integrated Silicon Solution Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Driving circuit, integrated circuit, and liquid discharge apparatus

Номер патента: US20200164636A1. Автор: Tetsuo Takagi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-05-28.

Method and system for stacking integrated circuits

Номер патента: EP1756867A1. Автор: Ronald J. Jensen,Richard K. Spielberger. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2007-02-28.

Integrated circuit device and liquid droplet ejection device

Номер патента: US10940686B2. Автор: Takashi Nakajima,Kazuhiro Adachi,Katsumi Okina. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-03-09.

Integrated circuit stack

Номер патента: US09947609B2. Автор: James Hobbs,Kenneth H. Heffner,James L. Tucker,Gary Roosevelt. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Liquid ejecting apparatus, drive circuit, and integrated circuit

Номер патента: US09849670B2. Автор: Tomokazu Yamada. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Coupling-type single-pole double-throw switch adapted for radio frequency integrated circuit

Номер патента: US12143102B2. Автор: Yonggang Mao. Владелец: Xian Keruisheng Innovative Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Integrated circuit package assembly

Номер патента: US09786635B2. Автор: Hsien-Wei Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Integrated circuit with continuously adaptive equalization circuitry

Номер патента: US09705708B1. Автор: Jihong Ren,Wenyi Jin. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Integrated circuit with low phase noise clock distribution network

Номер патента: US09531356B1. Автор: Peter L. Delos,Brandon R. Davis,Steven M. Fireman. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Protection circuit and input circuit suitable for integrated circuit

Номер патента: US09401603B2. Автор: Chieh-Wei He. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-26.

Semiconductor integrated circuit device with electric power generation function

Номер патента: CA3131406A1. Автор: Hiroshi Goto,Minoru Sakata. Владелец: GCE Institute Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Thermoelectric spot coolers for rf and microwave communication integrated circuits

Номер патента: EP1342267A2. Автор: Uttam Shyamalindu Ghoshal. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-09-10.

Liquid Discharging Apparatus And Integrated Circuit Device

Номер патента: US20220097362A1. Автор: Tomoko Hara,Kazuhito Fujisawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-03-31.

Integrated circuit layout and integrated circuit layout method for filter

Номер патента: US20230187426A1. Автор: Chia-Wei Yu,Chao-Yang Chen,Yung-Tai Chen,Sheng-Yang Ho. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Integrated circuit and control method thereof

Номер патента: US9143130B2. Автор: Koji Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-09-22.

Semiconductor integrated circuit and broadcast receiver

Номер патента: US20110188608A1. Автор: Yasuo Oba. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-08-04.

Packaged integrated circuit devices

Номер патента: EP1751793A2. Автор: Jian Chen,Appolonius Jacobus Van Der Wiel. Владелец: Melexis NV. Дата публикации: 2007-02-14.

Physically unclonable function for an integrated circuit

Номер патента: WO2024142056A1. Автор: Eyal Fayneh,Evelyn Landman,Yahel DAVID,Nir SEVER,Boaz Katz,Shelley LAN. Владелец: Proteantecs Ltd.. Дата публикации: 2024-07-04.

Semiconductor integrated circuit device with a stable operating internal circuit

Номер патента: US6140865A. Автор: Yasunori Kawamura. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2000-10-31.

System for accelerated screening of digital images

Номер патента: WO2014160306A1. Автор: Patrick Flaherty,Mitchell Bogart,Vasile DORMAN. Владелец: Rampage Systems Inc.. Дата публикации: 2014-10-02.

Driving circuit, integrated circuit, and liquid discharge apparatus

Номер патента: US20200164633A1. Автор: Tetsuo Takagi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-05-28.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US7888769B2. Автор: Masaki Kondo,Mitsutoshi Nakamura,Ryo Fukuda,Yohji Watanabe. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-02-15.

Method and apparatus for integrated circuit protection

Номер патента: EP1616380A1. Автор: Bernardus H. Krabbenborg. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2006-01-18.

Method and apparatus for integrated circuit protection

Номер патента: WO2004091067A1. Автор: Bernardus H. Krabbenborg. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2004-10-21.

Semiconductor integrated circuit, method of controlling semiconductor integrated circuit, and circuit system

Номер патента: US20240097687A1. Автор: Kiyohito Sato. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Surge protection in semiconductor integrated circuit and semiconductor memory device

Номер патента: US20230198251A1. Автор: Tomohiko Takeuchi. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Circuit for providing resistance to single event upset to pulse width modulator integrated circuit

Номер патента: EP1568131A2. Автор: Steve Baker. Владелец: International Rectifier Corp USA. Дата публикации: 2005-08-31.

Circuit for providing resistance to single event upset to pulse width modulator integrated circuit

Номер патента: US20040130368A1. Автор: Steve Baker. Владелец: International Rectifier Corp USA. Дата публикации: 2004-07-08.

Circuit for providing resistance to single event upset to pulse width modulator integrated circuit

Номер патента: WO2004047289A3. Автор: Steve Baker. Владелец: Steve Baker. Дата публикации: 2005-05-26.

Circuit for providing resistance to single event upset to pulse width modulator integrated circuit

Номер патента: WO2004047289A2. Автор: Steve Baker. Владелец: INTERNATIONAL RECTIFIER CORPORATION. Дата публикации: 2004-06-03.

Thermal management solutions for stacked integrated circuit devices

Номер патента: WO2019240898A1. Автор: Feras Eid,Adel Elsherbini,Johanna Swan. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2019-12-19.

Integrated circuit package architecture

Номер патента: US20120159779A1. Автор: William Y. Hata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-06-28.

Integrated circuit chip package

Номер патента: US20020014684A1. Автор: Edward Douglas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-02-07.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20050040869A1. Автор: Satoshi Ueno,Shinichiro Wada,Shinya Kajiyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-02-24.

Semiconductor integrated circuit, transmitter, and semiconductor device

Номер патента: US20240106348A1. Автор: Toshihiro Yagi. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Integrated circuit and control method thereof

Номер патента: US20140266335A1. Автор: Koji Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

Semiconductor integrated circuit device with enhanced resistance to electrostatic breakdown

Номер патента: US20060061926A1. Автор: Noriaki Hiraga. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2006-03-23.

Addressing for integrated circuits

Номер патента: EP4380071A3. Автор: Mustafa SAYGINER. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2024-07-31.

Inverter unit, integrated circuit chip, and vehicle drive apparatus

Номер патента: US20130113412A1. Автор: Hitoshi Sumida,Akinobu Teramoto,Toshio Naka,Ken-ichi Nonaka. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-09.

Methods and devices for packaging integrated circuits

Номер патента: US20140291782A1. Автор: Yiyi Ma,Kim-yong Goh,Wei Zhen Goh. Владелец: STMICROELECTRONICS PTE LTD. Дата публикации: 2014-10-02.

Cooling package structure applied to integrated circuit and method of assembly thereof

Номер патента: US20230317555A1. Автор: Li Yuan,Jiang Zhi,ZHOU JIE,Xiao Yangyang. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Semiconductor integrated circuit, electronic device, solid-state imaging apparatus, and imaging apparatus

Номер патента: US11362131B2. Автор: Yoshiharu Kudoh. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2022-06-14.

Integrated circuit chip with electrostatic discharge protection device

Номер патента: WO2005074027A3. Автор: Wolfgang Schnitt,Hans-Martin Ritter. Владелец: Hans-Martin Ritter. Дата публикации: 2006-12-07.

Semiconductor integrated circuit and semiconductor integrated circuit manufacturing method

Номер патента: US20060202230A1. Автор: Hidekichi Shimura. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-09-14.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US5134455A. Автор: Shigeo Ohshima,Katsuji Tokonami. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1992-07-28.

Integrated circuit package structure with conductive stair structure

Номер патента: US20240258220A1. Автор: Chien-Chung Wang,Hsih-Yang Chiu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Integrated circuit and electronic device

Номер патента: US20170272078A1. Автор: Masato Oda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-09-21.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20070278580A1. Автор: Masaki Kondo,Mitsutoshi Nakamura,Ryo Fukuda,Yohji Watanabe. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-12-06.

Integrated circuit with intra-chip and extra-chip rf communication

Номер патента: US20130029598A1. Автор: Ahmadreza (Reza) Rofougaran. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2013-01-31.

Circuit configuration for protecting an integrated circuit

Номер патента: US4949212A. Автор: Wolfgang Horchler,Michael Lenz,Frank-Lothar Schwertlein. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1990-08-14.

Electronic circuit apparatus and integrated circuit device

Номер патента: US20040080341A1. Автор: Teruo Hirayama,Naoto Sasaki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2004-04-29.

Ferroelectric memory element and electronic apparatus

Номер патента: US20020154532A1. Автор: Setsuya Iwashita,Hiromu Miyazawa,Takamitsu Higuchi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2002-10-24.

Signal processing semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20020079958A1. Автор: Kazuaki Hori,Yoshiyasu Tashiro,Nobuhiro Kasa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-06-27.

Signal processing semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20030060183A1. Автор: Kazuaki Hori,Yoshiyasu Tashiro,Nobuhiro Kasa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-03-27.

Electrical pin used in integrated circuit test sockets

Номер патента: CA134434S. Автор: . Владелец: Johnstech International Corp. Дата публикации: 2011-03-01.

Power control of an integrated circuit memory

Номер патента: US20120002499A1. Автор: Chong Yew Keong,Kinkade Martin Jay,Yeung Gus. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE MANAGEMENT DEVICE, IMAGE MANAGEMENT METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND INTEGRATED CIRCUIT

Номер патента: US20120002881A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE CODING APPARATUS, IMAGE CODING METHOD, PROGRAM, AND INTEGRATED CIRCUIT

Номер патента: US20120002022A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR ALIGNMENT OF INTEGRATED CIRCUITS

Номер патента: US20120001340A1. Автор: . Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

FREQUENCY SPECIFIC CLOSED LOOP FEEDBACK CONTROL OF INTEGRATED CIRCUITS

Номер патента: US20120001651A1. Автор: Burr James B.,Koniaris Kleanthes G.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Systems and Methods for Minimizing Static Leakage of an Integrated Circuit

Номер патента: US20120001684A1. Автор: Caplan Randy J.,Schwake Steven J.. Владелец: MOSAID TECHNOLOGIES INCORPORATED. Дата публикации: 2012-01-05.

INTEGRATED CIRCUIT WAFER DICING METHOD

Номер патента: US20120003817A1. Автор: Lin Ching-San,Wu Kun-Tai,Wang Chih-Chao. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE

Номер патента: US20120001696A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Packaging Electronic Devices and Integrated Circuits

Номер патента: US20120003791A1. Автор: . Владелец: WAFER-LEVEL PACKAGING PORTFOLIO LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING AN INTEGRATED CIRCUIT DEVICE

Номер патента: US20120003806A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

3d integrated circuit package and method of fabrication thereof

Номер патента: SG172704A1. Автор: Subhash Gupta,Sangki Hong. Владелец: Tezzaron Semiconductor S Pte Ltd. Дата публикации: 2011-07-28.