Reliability screening of ferroelectric memories in integrated circuits
Номер патента: US09607717B2
Опубликовано: 28-03-2017
Автор(ы): John A. Rodriguez, Richard Bailey
Принадлежит: Texas Instruments Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 28-03-2017
Автор(ы): John A. Rodriguez, Richard Bailey
Принадлежит: Texas Instruments Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Reliability Screening of Ferroelectric Memories in Integrated Circuits
Номер патента: US20150357050A1. Автор: John A. Rodriguez,Richard Bailey. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-12-10.