Semiconductor memory systems using regression analysis and read methods thereof
Номер патента: US09552887B2
Опубликовано: 24-01-2017
Автор(ы): Changkyu Seol, Hong Rak Son, Jun Jin Kong, Kwanghoon Kim
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 24-01-2017
Автор(ы): Changkyu Seol, Hong Rak Son, Jun Jin Kong, Kwanghoon Kim
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
NAND flash memory and reading method thereof
Номер патента: US09564236B2. Автор: Katsutoshi Suito. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2017-02-07.