Semiconductor device to improve reliability of read operation for memory cells
Номер патента: US09543031B2
Опубликовано: 10-01-2017
Автор(ы): Woo Hyun Kim
Принадлежит: SK hynix Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 10-01-2017
Автор(ы): Woo Hyun Kim
Принадлежит: SK hynix Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Methods of enhancing speed of reading data from memory device
Номер патента: US20210280258A1. Автор: Li Xiang,Ke Liang. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-09.