Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Film thickness sensor with porous blower

Номер патента: US09470504B2
Опубликовано: 18-10-2016
Автор(ы): Martin Backmann
Принадлежит: Windmoeller and Hoelscher KG
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Film thickness sensor having a porous blower

Номер патента: CN101322007A. Автор: M·巴克曼. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 2008-12-10.

Film thickness sensor having a porous blower

Номер патента: CN101322007B. Автор: M·巴克曼. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 2013-04-10.

Film thickness sensor having a porous blower

Номер патента: EP1943478A1. Автор: Martin Backmann. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 2008-07-16.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method and recording medium

Номер патента: JP5259287B2. Автор: 崎 裕一郎 山,好 元 介 三,野 修 長,子 尚 史 金,田 哲 朗 松. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-08-07.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US09879971B2. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US20170074633A1. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

Lubrication film thickness measuring system and method

Номер патента: CA1304129C. Автор: Dennis W. Smith. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Film thickness measurement device and method

Номер патента: CA2630129C. Автор: Yoshiyuki Saito,Takehito Yagi,Tsuyoshi Terauchi,Hidetoshi Takimoto. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2011-01-11.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US20170074633A1. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

Fluid film thickness sensor

Номер патента: GB1471196A. Автор: . Владелец: Multigraphics Inc. Дата публикации: 1977-04-21.

Linear sensor with concentric slider and housing

Номер патента: CA2033686A1. Автор: James A. Hansen. Владелец: Borg Warner Automotive Inc. Дата публикации: 1991-09-06.

Microwave paint thickness sensor

Номер патента: US20090140751A1. Автор: Jimmy S. Takeuchi,Patrick Anderson,Milton Perque,Edward G. Sergoyan. Владелец: Boeing North American Inc. Дата публикации: 2009-06-04.

Fiber Bragg grating displacement sensor with positive and negative bidirectional measurement and free from vibration

Номер патента: US11796310B1. Автор: Li Xiong,Wanhuan Zhou,Yongxing Guo. Владелец: UNIVERSITY OF MACAU. Дата публикации: 2023-10-24.

FILM THICKNESS SENSOR WITH POROUS BLOWER

Номер патента: US20130099803A1. Автор: Backmann Martin. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-25.

Capacitive film thickness sensor

Номер патента: DE50004988D1. Автор: Markus Stein,Stefan Konermann. Владелец: Plast Control Geraetebau GmbH. Дата публикации: 2004-02-12.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Contactless film thickness measuring device for plastic film blowing machine

Номер патента: EP3964347A1. Автор: Jui-Chien Yang. Владелец: Nano Trend Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-03-09.

Method of producing a model for estimating film thickness of workpiece, method of estimating film thickness of workpiece using such a model, and computer readable storage medium storing program for causing computer to perform the methods

Номер патента: US20220316863A1. Автор: Akira Nakamura,Keita Yagi,Nachiketa Chauhan,Rohit KAWDE. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Halfway cutter changing method for large-area microstructure cutting based on in-situation film thickness measurement

Номер патента: US20200023441A1. Автор: Li Jiao,Jia Zhou,Zhiqiang Liang,Zhibing Liu,Lijing Xie,Xibin Wang,Tianfeng ZHOU,Benshuai RUAN,Longlong TANG,Pei YA N. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2020-01-23.

Methods and systems for blown film thickness measurement

Номер патента: US12123700B2. Автор: Christopher J. Rother,David L. Hofeldt,Jay M. Krieger,Paul C. Thomas,Thomas J. STREY,Gregory J. McGill. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2024-10-22.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method, and film forming system and film forming method

Номер патента: US11939665B2. Автор: Naoyuki Suzuki,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,Tamaki Takeyama,Hiroaki Chihaya,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Device for measuring ink film thickness

Номер патента: US4149802A. Автор: Peter Schramm,Alfred Dorn,Klaus Wolf,Gunther Schniggenfittig,Edgar F. Schoneberger. Владелец: Roland Offsetmaschinenfabrik Faber and Schleicher AG. Дата публикации: 1979-04-17.

Film-thickness measuring method and film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20230204342A1. Автор: Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2023-06-29.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method and wafer polishing system measuring a film thickness in conjunction with a liquid tank

Номер патента: US5657123A. Автор: Osamu Endo,Katsumi Mogi. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 1997-08-12.

Method of detecting abnormality in measuring of film thickness of workpiece, optical film-thickness measuring apparatus, and storage medium storing program

Номер патента: US20240102791A1. Автор: Akira Nakamura. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Optical film-thickness measuring apparatus and polishing apparatus

Номер патента: US11951588B2. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Yoshikazu Kato. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Estimation apparatus for water film thickness on road surface

Номер патента: EP4378786A1. Автор: Naoki Morita,Yusuke Maeda,Kazuma TOKUDA. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Estimation apparatus for water film thickness on road surface

Номер патента: US20240175679A1. Автор: Naoki Morita,Yusuke Maeda,Kazuma TOKUDA. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Thickness sensor for conductive features

Номер патента: US20210125881A1. Автор: Kei-Wei Chen,Ying-Lang Wang,Chih Hung Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-04-29.

Interdigitated capacitive proximity sensor with varied space electrode structure

Номер патента: US10027322B2. Автор: Liang Li,Bin Wu,Nan Li,Cunfu He,Jingpin Jiao. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-07-17.

FILM THICKNESS MEASUREMENT APPARATUS AND FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Kurokawa Masaaki,SHIOTANI Shigetoshi,Yasui Jun,Kenmotsu Keiichi. Владелец: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.. Дата публикации: 2014-07-10.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: TW200935508A. Автор: FUJITA Takashi,YOKOYAMA Toshiyuki,Kitade Keita. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-16.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: TWI389191B. Автор: FUJITA Takashi,YOKOYAMA Toshiyuki,Kitade Keita. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-11.

Measuring method in real time mode of film thickness of coating not containing chrome on surface of strip steel

Номер патента: RU2498215C1. Автор: Чжичен ВАН,Чуньго ЛВ,Юнцян ЛУ. Владелец: Баошань Айрон Энд Стил Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-11-10.

Film thickness sensor and manufacturing method thereof

Номер патента: US20160252347A1. Автор: Ang Xiao. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-01.

Film thickness measurement method, film thickness measurement device, and film formation system

Номер патента: US12018928B2. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Use of full-size matrix image sensor for measurement of film thickness in real time on film making equipment

Номер патента: RU2717384C2. Автор: Пол С. БОНИНО,Роберт П. ГЕРЛОСКИ,Джейсон М. ЛЕФЕВР. Владелец: Зирокс Корпорейшн. Дата публикации: 2020-03-23.

Film Thickness Measurement Device and Method

Номер патента: US20240044637A1. Автор: Soichi Oka,Azusa Ishii,Yurina Tanaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: US09846028B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-12-19.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US8988668B2. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-03-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

Method for calculating film thickness of grain boundary oxide layer, method for determining platability, method for producing plated steel sheet, and apparatus for calculating film thickness

Номер патента: EP4407063A1. Автор: Kazushi Hayashi,Masanori Kobayashi,Koji Sasaki,Masahiro Inui,Koki Fukushima. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Deposition system and film thickness monitoring device thereof

Номер патента: US7321129B2. Автор: Sean Chang,Shing-Dar Tang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2008-01-22.

Method and apparatus for film thickness measurement

Номер патента: US20050220267A1. Автор: Akihiro Himeda,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2005-10-06.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US09841272B2. Автор: Hideyuki Aikyo,Hideyuki Ohtake,Jun Takayanagi,Atsuo Nabeshima,Yasunari Fujisawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Body to be plated, method of determining plated film thickness, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US7875468B2. Автор: Yoshiharu Kaneda. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-01-25.

Body to be plated, method of determining plated film thickness, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20090309200A1. Автор: Yoshiharu Kaneda. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-12-17.

Use of a full width array imaging sensor to measure real time film thicknesses on film manufacturing equipment

Номер патента: US09702689B2. Автор: Jason M. LeFevre,Robert P. Herloski,Paul S. Bonino. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Method and system for monitoring the film thickness of a lubricant within a lubricated bearing

Номер патента: US20230251075A1. Автор: Robert Jan Meijer,Pieter Martin Lugt,Jude Asuelimen Osara,Pramod Shetty. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2023-08-10.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Abnormality detection method for preset spectrum data for use in measuring film thickness, and optical film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20240255440A1. Автор: Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, AND FILM FORMATION SYSTEM

Номер патента: US20230011226A1. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-01-12.

Wavelength determining apparatus, method and program for thin film thickness monitoring light

Номер патента: US20070223008A1. Автор: Takahiro Itoh,You Mimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-27.

Device for measuring frictional force and film thickness of lubricating oil film in different surface velocity directions

Номер патента: US11768149B2. Автор: Feng Guo,Jianjun Zhang,Chenglong LIU,Jiahao Zhang,Qinglun CHE,Hewei LU,Zhaogang JING. Владелец: QINGDAO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-09-26.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US8885173B2. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-11-11.

Film thickness measuring apparatus employing microprojector of spectral reflection measurement

Номер патента: US4673294A. Автор: Nobuo Adachi,Yoshihiro Mochida,Ichiro Shirahama. Владелец: Orc Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1987-06-16.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US20240125589A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kazuya Iguchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-18.

Thin film thickness monitor

Номер патента: US4355903A. Автор: John R. Sandercock. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1982-10-26.

Device and Method for Detecting Film Thickness

Номер патента: US20200318941A1. Автор: LI Jiang,Mingfeng SUN,Yonghui LIN,Xiumei QI. Владелец: Weihai Hualing Opto Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Optical film thickness measurement method, film formation method, and semiconductor laser fabrication method

Номер патента: US5724145A. Автор: Takeo Kaneko,Katsumi Mori,Takayuki Kondo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1998-03-03.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20180045506A1. Автор: Katsuichi Kitagawa,Masafumi Otsuki. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Ultrasonic method and system for simultaneously measuring lubrication film thickness and liner wear of sliding bearing

Номер патента: US20230273158A1. Автор: PENG Zheng,Tonghai WU,Yaguo LEI,Junyi CAO,Wenzhuo ZHAO,Pan DOU,Yaping JIA. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2023-08-31.

Plating apparatus and film thickness measuring method for substrate

Номер патента: US11906299B2. Автор: Masaki Tomita,Masaya Seki,Shao Hua CHANG. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Method of measuring film thickness

Номер патента: US20200363192A1. Автор: Tatsuji Nagaoka,Hiroyuki Nishinaka,Masahiro Yoshimoto. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2020-11-19.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US20220307818A1. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-09-29.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US11867497B2. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US11092429B2. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-17.

Method and apparatus for film thickness measurement

Номер патента: EP1559993A3. Автор: Akihiro Himeda,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-03-12.

Deposition system and film thickness monitoring device thereof

Номер патента: US20060033057A1. Автор: Sean Chang,Shing-Dar Tang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2006-02-16.

Film thickness measuring device with signal averaging to compensate for roller eccentricity

Номер патента: US4748331A. Автор: Yoshiaki Ida,Toshishige Nagao,Masayuki Ariki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1988-05-31.

Optical film thickness measuring device and thin film forming apparatus using the optical film thickness measuring device

Номер патента: US20140016139A1. Автор: Kenji Ozawa,Yousong Jiang,Kyokuyo Sai. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-16.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US20190025045A1. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-24.

Radiometer for determining oil film thickness

Номер патента: US5672007A. Автор: Elliott R. Brown,Gregory G. Hogan,Gerald M. Daniels. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1997-09-30.

Dielectric film thickness monitoring and control system and method

Номер патента: US3612692A. Автор: Robert W Kruppa,Ernest S Ward. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1971-10-12.

Development of film thickness measuring device with configuration of ball-on-cup for simulating artificial joint lubrication

Номер патента: NL2029676B1. Автор: Guo Feng,LI Xinming,YANG Shuyan,Song Luping. Владелец: Univ Qingdao Technology. Дата публикации: 2022-10-21.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: EP4343274A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-27.

Methods and apparatus for thin metal film thickness measurement

Номер патента: US8128278B2. Автор: Yehiel Gotkis,Mikhail Korolik. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2012-03-06.

Film thickness gauge

Номер патента: GB2112518A. Автор: Toshiyuki Koga. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1983-07-20.

Optical film thickness monitor

Номер патента: US3744916A. Автор: P Bey,R Patten. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1973-07-10.

Protective film thickness measuring method

Номер патента: US11892282B2. Автор: Kunimitsu Takahashi,Nobuyasu Kitahara,Hiroto Yoshida,Joel Koerwer,Kuo Wei Wu,Naoki Murazawa. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Method for measuring epitaxial film thickness of multilayer epitaxial wafer

Номер патента: US6025596A. Автор: Toshio Abe,Hiroshi Shirai,Kenji Akai,Katsuyuki Iwata,Chikara Tojima. Владелец: Toshiba Ceramics Co Ltd. Дата публикации: 2000-02-15.

Method and apparatus for increasing signal to noise ratio in a photoacoustic film thickness measurement system

Номер патента: EP1417450A4. Автор: Christopher Morath,Robert J Stoner. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2009-06-10.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: US20210140758A1. Автор: Shiro Kawaguchi,Kazuya Nakajima. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Measurement of film thickness by inelastic electron scattering

Номер патента: AU5759400A. Автор: Robert Linder,Sergey Borodyansky,Charles E. Bryson Iii,Dmitri Ki Yachko,Leonid A. Vasilyev. Владелец: Surface Interface Inc. Дата публикации: 2001-01-30.

Method for measuring film thickness distribution of wafer with thin films

Номер патента: US11965730B2. Автор: Philippe Gastaldo,Susumu Kuwabara,Kevin QUINQUINET. Владелец: Unity Semiconductor SAS. Дата публикации: 2024-04-23.

System and method for measuring substrate and film thickness distribution

Номер патента: SG11201906425RA. Автор: Dengpeng Chen,Andrew Zeng. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-08-27.

Measurement of film thickness by inelastic electron scattering

Номер патента: EP1192416A1. Автор: Robert Linder,Charles E. Bryson, III,Sergey Borodyansky,Dmitri Ki Yachko,Leonid A. Vasilyev. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2002-04-03.

Method of determining when a critical film thickness will be reached in a grease-lubricated seal

Номер патента: EP2734755A1. Автор: Pieter BAART,Piet Lugt,Marco VAN ZOELEN. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2014-05-28.

Method of determining when a critical film thickness will be reached in a grease-lubricated seal

Номер патента: WO2013011086A1. Автор: Pieter BAART,Piet Lugt,Marco VAN ZOELEN. Владелец: AKTIEBOLAGET SKF. Дата публикации: 2013-01-24.

Fluorescent x-ray film thickness gauge for very small areas

Номер патента: CA1195438A. Автор: Hiroshi Ishijima,Toshiyuki Koga. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-10-15.

Cake thickness sensor

Номер патента: RU2624657C1. Автор: Алексей Владимирович Хорват. Владелец: Алексей Владимирович Хорват. Дата публикации: 2017-07-05.

Sensor with addressable depth range and/or field of view and computing device with such sensor

Номер патента: US20240200933A1. Автор: Dmitri Iazikov,Christopher Kocot,Anna Tatarczak. Владелец: II VI Delaware Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Sensor with addressable depth range and/or field of view and computing device with such sensor

Номер патента: EP4386432A1. Автор: Dmitri Iazikov,Christopher Kocot,Anna Tatarczak. Владелец: II VI Delaware Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

Device for precision calibration of fiber-optic sensors with bragg grating

Номер патента: RU2728725C1. Автор: Юрий Александрович Старков,Игорь Леонидович Дробот,Владимир Игоревич Дудковский,Алла Михайловна Либо,Анатолий Викторович Ямцов,Андрей Валентинович Крашенинников,Виктор Титович Терешин,Игорь Михайлович Низов,Анатолий Михайлович Шанаурин. Владелец: Некоммерческая организация "Фонд развития цифровых технологий". Дата публикации: 2020-07-30.

Tilt sensor with power saving mechanism

Номер патента: US8120764B2. Автор: Chung-Ping Feng,Peng-Yu Chen. Владелец: Edison Opto Corp. Дата публикации: 2012-02-21.

Tilt sensor with power saving mechanism

Номер патента: US20110235026A1. Автор: Chung-Ping Feng,Peng-Yu Chen. Владелец: Edison Opto Corp. Дата публикации: 2011-09-29.

Method and apparatus for calibrating a noncontact gauging sensor with respect to an external coordinate system

Номер патента: US6128585A. Автор: Dale R. Greer. Владелец: Perceptron Inc. Дата публикации: 2000-10-03.

Optical sensor with collision protection for a measurement machine

Номер патента: CA2735210C. Автор: Thomas Jensen,Frank Saupe,Benjamin Vullioud. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2013-10-22.

Optical distance sensor with closed-loop exposure control and corresponding method

Номер патента: US20230243637A1. Автор: Lars TOBESCHAT,Steffen PRUSSEIT. Владелец: Micro Epsilon Optronic GmbH. Дата публикации: 2023-08-03.

Cmp apparatus and method for estimating film thickness

Номер патента: US20190157170A1. Автор: Hsun-Chung KUANG,Sheng-Chau Chen,Yu-Min Chen,Chin-Wei Liang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-05-23.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: SE1951544A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2021-06-21.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: CA3165249A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2021-06-24.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: EP4077801A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2022-10-26.

Paste transfer unit, electronic component mounting device, and transferred film thickness measuring method

Номер патента: US9285204B2. Автор: Masanori Ikeda,Masahiro Taniguchi,Michinori Tomomatsu,Satoshi Furuichi,Yousuke Hassaku. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-15.

Capacitive acceleration sensor with a bending elastic beam and preparation method thereof

Номер патента: US09625487B2. Автор: Xiaofeng Zhou,Yuelin Wang,Lufeng Che. Владелец: Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology of CAS. Дата публикации: 2017-04-18.

Sensors with integrated protection circuit

Номер патента: RU2766538C2. Автор: Лиза КВОК,Кеван САМИИ,Сююй ЦАЙ,Боян БОЯНОВ,Трейси Хелен ФУН,Лянлян ЦЯН,Хай ТРАН. Владелец: Иллюмина, Инк.. Дата публикации: 2022-03-15.

Optical waveguide with nano-channel and optofluidic sensor with such an optical waveguide

Номер патента: RU2654924C2. Автор: Аластэр МАНЬЯЛЬДО,Эльза ЖАРДИНЬЕ,Лоран КУСТОН,Жан-Эмманюэль БРОКЕН,Давиде БУЧЧИ,Фабрис КАНТО. Владелец: Комиссариат А Л' Энержи Атомик Э Оз Энержи Альтернатив. Дата публикации: 2018-05-23.

Sensor with chamber

Номер патента: US11618670B2. Автор: Ting-Chuan Lee,Chun-Jung Tsai,Chun-Hsien Tsai,Yu-Hsuan Liao,Chia-Pin Huang,Yu-Fen Tzeng. Владелец: Ainos Inc. Дата публикации: 2023-04-04.

Spin-valve sensor with pinning layers comprising multiple antiferromagnetic films

Номер патента: US20030128482A1. Автор: Tsann Lin,Daniele Mauri. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-07-10.

Capacitive acceleration sensor with an H-shaped beam and preparation method thereof

Номер патента: US09476906B2. Автор: Xiaofeng Zhou,Bin Xiong,Yuelin Wang,Lufeng Che. Владелец: Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology of CAS. Дата публикации: 2016-10-25.

Vibration sensor with monitoring function and vibration signal monitoring method thereof

Номер патента: US20200200593A1. Автор: Chao-Ta Huang,Yu-Wen Hsu,Li-Tao Teng. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-06-25.

Magnet holder and stroke sensor with the magnet holder

Номер патента: US12007256B2. Автор: Stefano RIZZI. Владелец: Knorr Bremse Systeme fuer Nutzfahrzeuge GmbH. Дата публикации: 2024-06-11.

Current-perpendicular-to-plane (cpp) read sensor with multiple ferromagnetic sense layers

Номер патента: US20090244791A1. Автор: Tsann Lin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-10-01.

TFT-based sensor with multiple sensing modalities

Номер патента: US09863910B1. Автор: Chan-Long Shieh,Donald E. Ackley. Владелец: CBRITE Inc. Дата публикации: 2018-01-09.

Method of producing a gas sensor with a nanostructure with a super-developed surface and a gas sensor based thereon

Номер патента: RU2687869C1. Автор: Игорь Александрович Аверин,Андрей Андреевич Карманов,Игорь Александрович Пронин,Надежда Дмитриевна Якушова,Антон Алексеевич Бобков,Вячеслав Сергеевич Мошников. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Пензенский государственный университет" (ФГБОУ ВО "ПГУ"). Дата публикации: 2019-05-16.

Optical sensor with a plasmon structure for determining low-concentration chemicals and a method for production thereof

Номер патента: RU2720075C1. Автор: Андрей Юрьевич Зюбин,Карина Игоревна Матвеева,Илья Геннадьевич Самусев,Максим Викторович Демин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Балтийский федеральный университет имени Иммануила Канта" (БФУ им. И. Канта). Дата публикации: 2020-04-23.

Acoustic emission sensors with built-in acoustic generators

Номер патента: RU2751557C2. Автор: Брет Энтони ДАМЕ,Пол Ричард КЕЛЛИ,Кёртис М. НИКОЛАУС,Ричард Аллен НОРДСТРОМ. Владелец: ФИШЕР КОНТРОЛЗ ИНТЕРНЕШНЕЛ ЛЛС. Дата публикации: 2021-07-14.

Magnetic field sensor with perpendicular to layer sensitivity, comprising a giant magnetorisistance material or a spin tunnel junction

Номер патента: EP1042684A1. Автор: Reinder Coehoorn,Kars-Michiel H. Lenssen,Pascal J. H. Bloemen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2000-10-11.

Sensor with a membrane electrode, a counterelectrode, and at least one spring

Номер патента: EP3705861A1. Автор: Stefan Barzen. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2020-09-09.

Flexible hydrogen sensor with ultra-high sensitivity and wide range and fabrication method therefor

Номер патента: US11774425B1. Автор: Jian Chen,Min Han,Qiang Ren,Aidong Li,Jiabin FANG. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-10-03.

Sensor with chamber

Номер патента: US20210316985A1. Автор: Ting-Chuan Lee,Chun-Jung Tsai,Chun-Hsien Tsai,Yu-Hsuan Liao,Chia-Pin Huang,Yu-Fen Tzeng. Владелец: Ai Nose Corp. Дата публикации: 2021-10-14.

Flexible hydrogen sensor with ultra-high sensitivity and wide range and fabrication method therefor

Номер патента: US20230304980A1. Автор: Jian Chen,Min Han,Qiang Ren,Aidong Li,Jiabin FANG. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-09-28.

Hybrid large-area pressure sensor with capacitive sensor and resistive sensor integrated thereinto

Номер патента: US12025522B2. Автор: Ji Won Oh,Jae Kyung Kwak,Hwan Il PARK,Jeong Min Han. Владелец: Morethings Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Film thickness evaluation apparatus and film thickness evaluation method

Номер патента: JPWO2010013628A1. Автор: 誠嗣 平家,富博 橋詰. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2012-01-12.

Film thickness measuring method and film thickness measuring apparatus

Номер патента: JP3953821B2. Автор: 恵三 山田,洋輔 板垣,健雄 牛木. Владелец: ファブソリューション株式会社. Дата публикации: 2007-08-08.

Apparatus and method for measurement of film thickness using improved fast fourier transformation

Номер патента: AU2003245067A1. Автор: Sang-Jun Kim,Sang-Youl Kim. Владелец: Ellipso Tech Co Ltd. Дата публикации: 2004-08-10.

Film thickness measurement

Номер патента: GB8304594D0. Автор: . Владелец: BOC Group Ltd. Дата публикации: 1983-03-23.

Calculation method for local film stress measurements using local film thickness values

Номер патента: US09625823B1. Автор: Leonid Poslavsky,Torsten R. Kaack,Yu Tay. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method and substrate polishing device

Номер патента: US20240353344A1. Автор: Keita Yagi,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Taro Takahashi,Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Film thickness measurement method, epitaxial wafer production process and epitaxial wafer

Номер патента: US20090305021A1. Автор: Kazuhiro Ohkubo. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2009-12-10.

Method and smart device to determine the substrate optical constant and the film thickness of absorbing-film-absorbing-substrate systems in an absorbing medium using a closed-form formula and reflection ellipsometry

Номер патента: US20070024851A1. Автор: Yasser Zaghloul,Mervat Zaghloul,A R Zaghloul. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-02-01.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: CA1086870A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1980-09-30.

Universal self-contained wireless meter-switch of controllers and sensors with digital and analogue outputs

Номер патента: RU2694789C1. Автор: Михаил Сергеевич Горбунов,Алексей Владимирович Голдобин,Виктор Александрович Машицкий. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "РосСпецМонтажАвтоматика". Дата публикации: 2019-07-16.

Pressure sensor with mineral-insulated cable

Номер патента: RU2636272C2. Автор: Марк Стефен ШУМАХЕР,Дэвид Эндрю БРОДЕН. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2017-11-21.

Device for transmitting signals from a multicomponent vibration sensor with built-in electronics

Номер патента: RU2688257C1. Автор: Игорь Иосифович Радчик,Олег Борисович Скворцов,Сергей Олегович Арестов,Татьяна Павловна Фокина,Сергей Георгиевич Гуляев,Наталья Юрьевна Батенина,Диана Мугудиновна Алиева. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-Технический Центр "Завод Балансировочных Машин". Дата публикации: 2019-05-21.

Infrared sensor with switched sensitive element

Номер патента: RU2649040C1. Автор: Алексей Евгеньевич Тимофеев,Ренат Закирович Хафизов,Валерий Алексеевич Федирко,Евгений Александрович Фетисов,Никита Иванович Кураедов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники". Дата публикации: 2018-03-29.

Wim sensor with electro-acoustic transducers

Номер патента: RU2750091C1. Автор: Дамиан ШНАЙДЕР. Владелец: Кистлер Холдинг Аг. Дата публикации: 2021-06-22.

Gas-sensitive layer for determining formaldehyde in air, sensor with gas-sensitive layer and detector for determining formaldehyde

Номер патента: RU2723161C1. Автор: Александр Михайлович Гаськов,Марина Николаевна Румянцева,Алеся Андреевна Осипова,Абулкосим Фирузджонович Насриддинов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова" (МГУ). Дата публикации: 2020-06-09.

Excessive and absolute pressure sensor with protection against high overload pressure

Номер патента: RU2606255C1. Автор: Лариса Александровна Мирошникова. Владелец: Лариса Александровна Мирошникова. Дата публикации: 2017-01-10.

High-voltage sensor with electrodes overlapping electrodes along axis

Номер патента: RU2567404C2. Автор: Клаус БОНЕРТ,Норберт КОХ,Ян ЧИЗЕВСКИЙ,Штефан ВИЛЬДЕРМУТ,Сержио Винченцо МАРЧЕЗЕ. Владелец: АББ Рисерч ЛТД. Дата публикации: 2015-11-10.

Ultrasonic sensor with wide field of view, and manufacturing method of such ultrasonic sensor

Номер патента: RU2533336C2. Автор: Эндрю Л. РОБИНСОН. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2014-11-20.

Fiber optic current sensor with spun fiber and temperature compensation

Номер патента: RU2627021C2. Автор: Сюнь ГУ,Клаус БОНЕРТ,Андреас ФРАНК,Георг МЮЛЛЕР. Владелец: АББ Рисерч ЛТД. Дата публикации: 2017-08-02.

Pressure sensor with a communicating passage in a straight line

Номер патента: US11852552B2. Автор: Hyun Seok YUN. Владелец: Korea Electric Terminal Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Sensor with electrostatic pendular accelerometer and method of controlling such sensor

Номер патента: RU2647983C2. Автор: Рафаэль БРИССОН,Венсан РАГО. Владелец: Сажем Дефанс Секюрите. Дата публикации: 2018-03-21.

Star sensor with increased frequency of updating information on orientation

Номер патента: RU2583349C2. Автор: Александр Сергеевич Забиякин,Александр Иванович Бакланов,Максим Владимирович Клюшников,Алевтина Викторовна Верховцева. Владелец: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Государственный научно-производственный ракетно-космический центр "ЦСКБ-Прогресс" (ФГУП "ГНПРКЦ "ЦСКБ-Прогресс"). Дата публикации: 2016-05-10.

Pulse sensor with seal device

Номер патента: RU2444737C2. Автор: Хорст ПЛАНКЕНХОРН,Андреа БУССЕ. Владелец: Континенталь Аутомотиве Гмбх. Дата публикации: 2012-03-10.

Removable magnetostrictive sensor with automatic calibration

Номер патента: RU2650714C1. Автор: Кевин М. ХЕЙНС,Эрик МУР,Джеймс М. БЕРРИ. Владелец: Мэгнетрол Интернэшнл, Инкорпорейтед. Дата публикации: 2018-04-17.

Sensor with its housing

Номер патента: RU2561765C2. Автор: ШОЛЬЦЕН Хольгер,ГМЕЛИН Кристоф,ФОЛЛЕРТ Йенс,ЭЛЛЬМЕР Маркус. Владелец: Роберт Бош Гмбх. Дата публикации: 2015-09-10.

Method (embodiments) and system for estimating pressure of exhaust gases using oxygen sensor with alternating voltage

Номер патента: RU2717188C2. Автор: Гопичандра СУРНИЛЛА,Ричард Е. СОЛТИС,Дэниэл А. МАКЛЕД,Майкл МАККУИЛЛЕН. Владелец: ФОРД ГЛОБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЛЛК. Дата публикации: 2020-03-18.

Protecting element for sensor, corresponding sensor with cellular element and vechicle

Номер патента: RU2398201C2. Автор: Рольф БРЮКК,Кайт АЛЬТХЁФЕР. Владелец: Эмитек Гезельшафт Фюр Эмиссионстехнологи Мбх. Дата публикации: 2010-08-27.

Pressure sensor with external heater

Номер патента: RU2358249C2. Автор: Фред С. СИТТЛЕР,Кристина А. НОРД,Джон МакИНТАЙР,Уэсли И. САНД. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2009-06-10.

Sensor with a vibrating member in a cavity with integrated anomaly detection

Номер патента: US09423292B2. Автор: Regis Quer,Yann Planchette,Jean-Michel Muguet. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2016-08-23.

Resistance measuring circuit for sensor with galvanic isolation

Номер патента: RU2350003C2. Автор: Кари-Матти ЛААКСО,Андреас БЕРТС,Кари-Матти ЛААКСО (FI),Андреас БЕРТС (FI). Владелец: Абб Ой. Дата публикации: 2009-03-20.

Gas sensor with bandpass filters and appropriate gas sensor system

Номер патента: RU2493554C2. Автор: Енс Меллер ЕНСЕН,Томин СТОЛЬБЕРГ-РОР,Арун КРИСХНА,Ларс МУНХ,Райнер БУХНЕР,Хенрик Гедде МООС. Владелец: Данфосс Икса А/С. Дата публикации: 2013-09-20.

Inertial angular velocity sensor with deviation compensation

Номер патента: RU2483278C2. Автор: Венсан РАГО. Владелец: Сажем Дефанс Секюрите. Дата публикации: 2013-05-27.

Heat flow sensor with increased heat exchange

Номер патента: RU2757064C1. Автор: Джейсон Х. РАД. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2021-10-11.

System and method for linking a seismic sensor with ground

Номер патента: RU2662048C1. Автор: Абделькрим ТАЛААЛУТ,Тьери БРИЗАР. Владелец: Тоталь Са. Дата публикации: 2018-07-23.

Vibration sensor with an aligning element and method for aligning the oscillation properties of two prongs

Номер патента: US20240060818A1. Автор: Holger Gruhler. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2024-02-22.

Method of distributed temperature sensing during thermal tumour ablation using a fiber optic temperature sensor with a linearly chirped bragg grating

Номер патента: US20190113395A1. Автор: Daniele Tosi,Nurlan Sabitovich Zhakin,Sanzhar Botabekovich Korganbayev. Владелец: Private Institution "nazarbayev University Research And Innovation System". Дата публикации: 2019-04-18.

Radiation sensor with anti-glare protection

Номер патента: RU2760103C2. Автор: Жан-Жак ИОН,Себастьен БЕККЕР,Альбделькадер АЛЬЯН,Дени ПЕЛЕН. Владелец: Коммиссариат А Л`Энержи Атомик Э О Энержи Альтернатив. Дата публикации: 2021-11-22.

Temperature sensor with leads

Номер патента: US20090316752A1. Автор: Shiro Tsuji,Masahiko Kawase. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-24.

Using IR Sensor With Beam Splitter to Obtain Depth

Номер патента: US20210185247A1. Автор: Joseph Wise. Владелец: Sony Pictures Entertainment Inc. Дата публикации: 2021-06-17.

Image sensors with embedded wells for accommodating light emitters

Номер патента: US20210327948A1. Автор: YIN Qian,Ming Zhang,Chia-Jung Liu,Alireza Bonakdar,Wu-Zang Yang,Chia-Ying Liu. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2021-10-21.

Sensor in particular a turning angle or torque sensor with a support for the stator against rotation

Номер патента: US20230417611A1. Автор: Manfred Bartscht. Владелец: Hella GmbH and Co KGaA. Дата публикации: 2023-12-28.

Matrix pressure sensor with neural network, and calibration method

Номер патента: US20230026597A1. Автор: Franck Vial,Saifeddine Aloui,Adrien BARDET. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2023-01-26.

Using IR sensor with beam splitter to obtain depth

Номер патента: US11716521B2. Автор: Joseph Wise. Владелец: Sony Pictures Entertainment Inc. Дата публикации: 2023-08-01.

Fluxgate sensor with racetrack core

Номер патента: WO2000049422A1. Автор: Pavel Ripka. Владелец: Ceské vysoké ucení technické v Praze. Дата публикации: 2000-08-24.

Hall sensor with magnetic flux concentrator

Номер патента: US20240329164A1. Автор: Dok Won Lee,Charles Parkhurst,Keith Ryan Green,Fanping Sui. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Battery sensor with addressing mode and detection mode capability

Номер патента: US09743159B2. Автор: Hung-Chun Chien,Hung-Ming Hsieh,Yung-Hao Peng. Владелец: Cyber Power Systems Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Hall effect sensor with graphene detection layer

Номер патента: US09714988B2. Автор: Stefan Kolb,Alfons Dehe,Guenther Ruhl,Markus Eckinger. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-07-25.

Filling level sensor with several thermoelements and method for measuring the filling level

Номер патента: US09459131B2. Автор: Thomas Niemann. Владелец: Hella KGaA Huek and Co. Дата публикации: 2016-10-04.

Sensor with failure threshold

Номер патента: US20040129989A1. Автор: Sarah Zerbini,Angelo Merassi,Biagio De Masi,Guido Spinola Durante. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2004-07-08.

Method for diagnostics of moisture sensor with use of heater from condensate

Номер патента: RU2638222C2. Автор: Росс Дикстра ПЁРСИФУЛЛ,Имад Хассан МАККИ,Панкадж КУМАР,Йонг-Вха КИМ,Майкл Джеймс УХРИХ,Тимоти Джозеф КЛАРК. Владелец: ФОРД ГЛОУБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2017-12-12.

Electromagnetic device, as well as vibration-type sensor with said electromagnetic device

Номер патента: RU2465557C1. Автор: Эннио БИТТО,Герхард ЭКЕРТ,Дитер МУНДШИН. Владелец: Эндресс + Хаузер Флоутек Аг. Дата публикации: 2012-10-27.

System for installing ground-based seismic sensors with pairs of adjacent multicomponent seismic sensors at an average distance of at least twenty meters

Номер патента: RU2737846C2. Автор: Али Озбек,АЛЛУШ Нихед ЭЛЬ. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2020-12-03.

Compact temperature sensor with enhanced connection of leads

Номер патента: RU2324154C2. Автор: Дирк Уилли БАУШКЕ,Хиеп Хуу НГУЙЕН. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2008-05-10.

Preparation method of limiting current type oxygen sensor with dense diffusion layer

Номер патента: LU500727B1. Автор: Ye Han,Xiangnan WANG. Владелец: Univ Shandong Science & Tech. Дата публикации: 2022-04-12.

Baby bottle sensor with content volume sensing and content deduction logic

Номер патента: US20210212901A1. Автор: Zak Wood. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-15.

High-temperature three-dimensional hall sensor with real-time working temperature monitoring function and manufacturing method therefor

Номер патента: US20220413068A1. Автор: HUI Zhang,Huolin HUANG. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2022-12-29.

Proximity sensor with a sliced integration time sensing mechanism and sensing method thereof

Номер патента: US11039521B1. Автор: Yi-Jung Huang,Chih-Ning Chen,Jing-Min Chen. Владелец: Anpec Electronics Corp. Дата публикации: 2021-06-15.

Sensor with a dynamic data range

Номер патента: US20240137799A1. Автор: Jan Hayek,Dorde CVEJANOVIC. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-04-25.

Sensor with a dynamic data range

Номер патента: US20240236754A9. Автор: Jan Hayek,Dorde CVEJANOVIC. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-07-11.

Silicon pressure sensor with decreased pressure equalization between measured pressure and reference chamber

Номер патента: US20060179951A1. Автор: Pirmin Rombach,Karen Birkelund,Christoffer Greisen. Владелец: Danfoss AS. Дата публикации: 2006-08-17.

Multicore fiber crosstalk sensor with matched effective index

Номер патента: US20210063208A1. Автор: Ming-Jun Li. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2021-03-04.

Electrostatic charge sensor with high impedance contact pads

Номер патента: US12130319B2. Автор: Massimo Orio. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2024-10-29.

Forward looking light sensor with a rounded aperture, and an optimal thickness and radius for the aperture

Номер патента: US09939636B2. Автор: Paul Fredrick Luther Weindorf. Владелец: Visteon Global Technologies Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Systems and methods for magnetic field sensors with self-test

Номер патента: US09851416B2. Автор: Andrea Foletto,P. Karl Scheller,Devon Fernandez,James E. Burgess,Kristann L. Moody,Steven E. SNYDER. Владелец: Allegro Microsystems Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

Integrated pressure sensor with double measuring scale, pressure measuring device including the integrated pressure sensor, braking system, and method of measuring a pressure using the integrated pressure sensor

Номер патента: US09804047B2. Автор: Bruno Murari,Domenico Giusti,Alberto Pagani,Marco Ferrera,Daniele Caltabiano. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2017-10-31.

Sensor with a scaffold having changeable conformations

Номер патента: US09758545B2. Автор: Katharina Fromm,Christian Bochet. Владелец: Universite de Fribourg. Дата публикации: 2017-09-12.

pH sensor with substrate or bonding layer configured to maintain piezoresistance of the ISFET die

Номер патента: US09664641B2. Автор: Paul S. Fechner,Donald Horkheimer,David S. Willits. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Chemical sensor with multiple sensor cells

Номер патента: US09508823B2. Автор: Felix Mayer,Markus Graf,Lukas Bürgi. Владелец: SENSIRION AG. Дата публикации: 2016-11-29.

Sensor with magnetic blocks unevenly distributed in housing

Номер патента: US09423274B2. Автор: Qiang Huang. Владелец: Chengdu Kind Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-23.

Micro-optoelectromechanical angular velocity sensor with annular resonator

Номер патента: RU2702703C1. Автор: Владимир Игоревич Бусурин,Кирилл Андреевич Коробков,Максим Александрович Жеглов,Роман Павлович Булычев,Наинг Вин Йин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет)". Дата публикации: 2019-10-09.

Method of determining location parameters of location objects in radar sensors with frequency manipulation of continuous radiation of radio waves and a device for its realizing

Номер патента: RU2695799C1. Автор: Владислав Яковлевич Носков,Кирилл Александрович Игнатков. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина". Дата публикации: 2019-07-29.

Optical sensor with multilayered plasmon structure for improved detection of chemical groups through sers

Номер патента: RU2361193C2. Автор: Владимир ПОПОНИН. Владелец: Вп Холдинг, Ллс. Дата публикации: 2009-07-10.

Low-frequency foldable pendulum with high coefficient of mechanical quality and seismic sensor with said pendulum

Номер патента: RU2518587C2. Автор: Джерардо ДЖОРДАНО,Фабрицио БАРОНЕ. Владелец: Университа` Дельи Студи Ди Салермо. Дата публикации: 2014-06-10.

Differential pressure sensor with support on tension section

Номер патента: RU2601610C2. Автор: Александр Васильевич Дегтярев. Владелец: Александр Васильевич Дегтярев. Дата публикации: 2016-11-10.

Sensor with the inertial type primary microelectronic measuring transducer

Номер патента: RU2658565C2. Автор: Игорь Иосифович Радчик,Олег Борисович Скворцов,Андрей Евгеньевич Сушко,Сергей Олегович Арестов,Лариса Александровна Гвоздева,Андрей Николаевич Зенин,Татьяна Павловна Фокина,Алла Михайловна Шамардина. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-Технический Центр "Завод Балансировочных Машин". Дата публикации: 2018-06-21.

Electrochemical sensors with carrier field

Номер патента: RU2587501C2. Автор: Гэрри ЧЕЙМБЕРС,Рональд С. ШАТЕЛЬЕ,Аластэр М. ХОДЖЕС. Владелец: Цилаг Гмбх Интернэшнл. Дата публикации: 2016-06-20.

Wim sensor with a sensor unit

Номер патента: RU2755937C2. Автор: Ким ПФЛУГЕР. Владелец: Кистлер Холдинг Аг. Дата публикации: 2021-09-23.

Differential pressure sensor with measurement of line pressure

Номер патента: RU2538363C2. Автор: Джон П. ШУЛЬТЕ,Дэвид Дж. ТАЙСОН,Эндрю Дж. КЛОСИНСКИ. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2015-01-10.

Method for increasing noise resistance of radar sensors with frequency selection

Номер патента: RU2756789C2. Автор: Владислав Яковлевич Носков,Кирилл Александрович Игнатков,Сергей Николаевич Шабунин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина". Дата публикации: 2021-10-05.

Microcontroller measuring converter for resistive and capacitive sensors with transmission of conversion result over radio channel

Номер патента: RU2603937C1. Автор: Алексей Николаевич Хабаров,Александр Витальевич Вострухин,Сергей Геннадьевич Ламанов. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Донской государственный технический университет" (ДГТУ). Дата публикации: 2016-12-10.

Sensor with adjustable pressure responsive detection and control

Номер патента: CA1090158A. Автор: Tommy L. Gray. Владелец: Span Instruments Inc. Дата публикации: 1980-11-25.

Infrared sensor with switch

Номер патента: US11895385B2. Автор: Enwang Liao,Yaofeng He,Junnan Liao,Junyun LIAO,Haifu ZOU. Владелец: DONGGUAN BONTECK HARDWARE Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Pressure sensor with reduced measurement error

Номер патента: US11703409B2. Автор: Thomas Weber,Stefan Schweiger. Владелец: SICK AG. Дата публикации: 2023-07-18.

Assembly of microcantilever-based sensors with enhanced deflections

Номер патента: US20120174268A1. Автор: Kambiz Vafai,Abdul Rahlm A. Khaled. Владелец: Kambix Innovations LLC. Дата публикации: 2012-07-05.

Magnetic sensor with reduced coercive force indicator (options)

Номер патента: RU2746309C1. Автор: Эрван Филипп Мари Гапиан,Евгений Викторович Данилкин. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Крокус Наноэлектроника" (Ооо "Крокус Наноэлектроника"). Дата публикации: 2021-04-12.

Technological transmitting sensor with wireless communication channel

Номер патента: RU2293951C2. Автор: Роберт К. ХЕДТКЕ. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2007-02-20.

Humidity sensor with multiple electrode layers separated by a porous monolithic ceramic dielectric structure

Номер патента: US4017820A. Автор: Bernd Ross. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 1977-04-12.

Method of starting, stopping and operating gas sensor with built-in heater

Номер патента: CA2485605C. Автор: Takashi Sasaki,Hiroyuki Abe,Akihiro Suzuki,Tsuyoshi Eguchi. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2012-08-28.

Snap-in force sensor with bellows

Номер патента: CA1199387A. Автор: Eugenio Espiritu Santo,Kenneth D. Baxter,Gary R. Bluem. Владелец: Deere and Co. Дата публикации: 1986-01-14.

Fluid pressure sensor with temperature indicator

Номер патента: CA1249047A. Автор: William N. Gilmore, Jr.,William H. Leaver. Владелец: Borg Warner Automotive Inc. Дата публикации: 1989-01-17.

Flow sensor with adjustable sensitivity

Номер патента: CA1257486A. Автор: Arlon D. Kompelien. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 1989-07-18.

Flow sensor with metal film resistor

Номер патента: EP2085754A2. Автор: Noriyuki Sakuma. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2009-08-05.

Radiation sensor with synchronous reset

Номер патента: US20040195510A1. Автор: William Carr,Lijun Jiang. Владелец: Multispectral Imaging Inc. Дата публикации: 2004-10-07.

Impulse sensor with mechanical preamplification and noise cancellation

Номер патента: CA1319026C. Автор: Hyok S. Lew. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-06-15.

Pressure sensor with integrated structure

Номер патента: EP1634046A1. Автор: Renato c/o Olivetti I-JET S.p.A. CONTA,Paolo c/o Olivetti I-Jet S.P.A. BELLINI. Владелец: Telecom Italia SpA. Дата публикации: 2006-03-15.

Magnetoresistive sensor with compensating coil

Номер патента: US20190346514A1. Автор: James Geza Deak. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Linear magnetic position sensor with improved linearity of the output characteristic curve

Номер патента: EP2021738A1. Автор: Marco Wolf. Владелец: Tyco Electronics AMP GMBH. Дата публикации: 2009-02-11.

Vibratory sensor with electronic balancing

Номер патента: GB2616713A. Автор: Hans Gnerlich Markus. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2023-09-20.

Sensor with mechanical compensation frequency anisotropy

Номер патента: US11946743B2. Автор: Alain Jeanroy,Philippe Onfroy. Владелец: Safran Electronics and Defense SAS. Дата публикации: 2024-04-02.

Complementary metal-oxide-semiconductor temperature sensor with wide-range sensing capability and high energy-efficiency

Номер патента: US20230392991A1. Автор: BO Wang. Владелец: Qatar Foundation for Education Science and Community Development. Дата публикации: 2023-12-07.

Thermal management system for sensors with electronic and/or optical components

Номер патента: EP4356159A1. Автор: Álvaro Miguel DO CÉU GRAMAXO OLIVEIRA SAMPAIO,António José VILELA PONTES,André Manuel CARDOSO LIMA,João André MORAIS GOMES DOS SANTOS,Bruno DELDUQUE BRAVO LOPES,João Guilherme BARROS CUNHA NUNES,Pedro Miguel CERQUEIRA CORREIA. Владелец: Bosch Car Multimedia Portugal SA. Дата публикации: 2024-04-24.

Coriolis flow sensor with resiliently suspended balancing mass

Номер патента: EP2199756B1. Автор: Hernes Jacobs,Jan Marinus Zwikker,Marcel Ronald Katerberg,Jan Wouter Van De Geest. Владелец: Berkin BV. Дата публикации: 2011-08-31.

Autonomous electronic device with matrix module of level measurement lidar sensors with wireless data transmission

Номер патента: EP4343285A1. Автор: Óscar Alberto PAVON HAASS,Gabriel Alberto PORQUERAS ALONSO. Владелец: Retail Tools SL. Дата публикации: 2024-03-27.

Vibration sensor with integrated temperature detection

Номер патента: US20180130939A1. Автор: Volker ALLGAIER,Dominik Fehrenbach. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2018-05-10.

Molecular sensor with four-conversion detection signal for acid-base environment and application thereof

Номер патента: NL2030168A. Автор: WANG Qian,Wang Zhigang,Chen Yuting,SHA Sha,Song Yulan,Liu Aizhen,Xin Bingwei,Leng Mingjie,Huo Yunzhen,Shang Shubo. Владелец: Univ Dezhou. Дата публикации: 2023-04-04.

Molecular sensor with four-conversion detection signal for acid-base environment and application thereof

Номер патента: NL2030168B1. Автор: WANG Qian,Wang Zhigang,Chen Yuting,SHA Sha,Song Yulan,Liu Aizhen,Xin Bingwei,Leng Mingjie,Huo Yunzhen,Shang Shubo. Владелец: Univ Dezhou. Дата публикации: 2023-04-13.

Sensor with mobile sensitive component working in mixed vibration and pendular mode, and methods of controlling such sensor

Номер патента: RU2632264C1. Автор: Ален ЖАНРОЙ. Владелец: Сажем Дефанс Секюрите. Дата публикации: 2017-10-03.

Permanently installed linear grid of ultrasonic sensors with dry contacts

Номер патента: RU2525718C2. Автор: Джон Дж. НАЙХОЛЬТ,Гэри Н. ЛЭНГЛУИС. Владелец: Бп Корпорейшн Норт Америка Инк.. Дата публикации: 2014-08-20.

Analyte sensor with embossed cell and method of manufacture

Номер патента: RU2625769C2. Автор: Адриан ПЕТИТ,Саймон Эндрю ГЕКТОР. Владелец: Эббот Дайабитиз Кэр, Инк.. Дата публикации: 2017-07-18.

Flux sensor with magnetic core

Номер патента: RU2646592C2. Автор: Джим ПЕК. Владелец: Зе Боинг Компани. Дата публикации: 2018-03-06.

Flow sensor with moving magnet

Номер патента: RU2505787C2. Автор: Грегори Ричард ХЕЛЛЕР,Виктор Генри КВИТТНЕР. Владелец: Дзе Кока-Кола Компани. Дата публикации: 2014-01-27.

Sensor with glass seal

Номер патента: US5739414A. Автор: Nancy Jean Paulus,Richard William Duce,Sara Ann Touse-Shunkwiler,Robert Gregory Fournier. Владелец: Motors Liquidation Co. Дата публикации: 1998-04-14.

Fiber optic rotation sensor with extended dynamic range

Номер патента: CA1227659A. Автор: Herve C. Lefevre. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 1987-10-06.

Ambit light sensor with function of IR sensing

Номер патента: US8558177B2. Автор: Yu-Hsien Chen,Jin-Wei Chang,Jen-Yao Hsu,Hong-Xian Wang. Владелец: Maxchip Electronics Corp. Дата публикации: 2013-10-15.

Silicon pressure sensor with decreased pressure equalization between measured pressure and reference chamber

Номер патента: EP1601942A1. Автор: Pirmin Rombach,Karen Birkelund,Christoffer Greisen. Владелец: Danfoss AS. Дата публикации: 2005-12-07.

High-temperature three-dimensional hall sensor with real-time working temperature monitoring function and manufacturing method therefor

Номер патента: US11828820B2. Автор: HUI Zhang,Huolin HUANG. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2023-11-28.

Image sensor with distance sensing function and operating method thereof

Номер патента: US20200351462A1. Автор: Teng-Chien Yu,Jia-Shyang Wang,Ping-Hung Yin. Владелец: Guangzhou Tyrafos Semiconductor Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

Gas sensor with improved sensitivity and gas sensor component

Номер патента: US11898979B2. Автор: Matthias König. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Tunnel magneto-resistive (TMR) sensor with perpendicular magnetic tunneling junction (p-MTJ) structures

Номер патента: US11791083B2. Автор: Kazutaka Yamane,Vinayak Bharat Naik,Hemant M. Dixit,Eng-Huat TOH. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2023-10-17.

Ph sensor with automatic water storage and replenishment

Номер патента: US20210356425A1. Автор: CHENG Chen,Xiliang Zhang,Chengxuan LU,Shengkang ZONG,Mengyao NI. Владелец: Jiangsu University. Дата публикации: 2021-11-18.

Resonant pressure sensor with improved linearity

Номер патента: US11815420B2. Автор: Takashi Yoshida,Makoto Noro,Atsushi Yumoto,Shigeto IWAI. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Sensor with compensation circuit

Номер патента: US20200300897A1. Автор: Hung-Wei Chen,Po-Yin Chao,Shui-Chu Lee. Владелец: Hycon Technology Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Electrostatic charge sensor with high impedance contact pads

Номер патента: US20230168290A1. Автор: Massimo Orio. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2023-06-01.

Image sensor with passivation layer for dark current reduction

Номер патента: US11848345B2. Автор: JHY-JYI SZE,Kuan-Chieh Huang,Yi-Shin Chu,Hsiang-Lin Chen,Yin-Kai Liao,Sin-Yi Jiang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Light sensor with dark current elimination having duo switch-capacitor circuits and a reverse capacitor

Номер патента: US11703385B1. Автор: Chih-Wei Lin,Wen-Sheng Lin,Sheng-Cheng LEE,Yueh-Hung Ho,Chen-Hua Hsi. Владелец: Luxsentek Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Optical proximity sensor with digital calibration circuit and digital calibration method thereof

Номер патента: US20210081072A1. Автор: Jing-Min Chen. Владелец: Anpec Electronics Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Optical proximity sensor with digital calibration circuit and digital calibration method thereof

Номер патента: US11009996B2. Автор: Jing-Min Chen. Владелец: Anpec Electronics Corp. Дата публикации: 2021-05-18.

Random access sensor with individually addressable transistors

Номер патента: US11758257B2. Автор: Bruno Gili,Rafael Dominguez Castro,Jose Angel Segovia De La Torre,Ana GONZALEZ MARQUEZ,Jesus Ruiz Amaya,Charles Adams Schneider, JR.,Brian Klembara. Владелец: Perkinelmer US LLC. Дата публикации: 2023-09-12.

Wireless particulate solid material flow sensor with internal battery

Номер патента: US10502606B2. Автор: Jose Roberto Do Amaral Assy,Alexandre Leite Rosa,Rodrigo Tadeu de Oliveira Ladeira,Silvio de Lacerda,Ivanildo Batista Do Nascimento,Gustavo Baldon Torquato. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-12-10.

Motion sensor with sigma-delta analog-to-digital converter having resistive continuous-time digital-to-analog converter feedback for improved bias instability

Номер патента: US11881874B2. Автор: Gabriele Pelli. Владелец: InvenSense Inc. Дата публикации: 2024-01-23.

Image sensor with passivation layer for dark current reduction

Номер патента: US20230387159A1. Автор: JHY-JYI SZE,Kuan-Chieh Huang,Yi-Shin Chu,Hsiang-Lin Chen,Yin-Kai Liao,Sin-Yi Jiang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Vertical hall effect sensor with offset reduction

Номер патента: WO2014159358A1. Автор: Thomas Rocznik. Владелец: Robert Bosch Tool Corporation. Дата публикации: 2014-10-02.

Lidar sensor with adjustable optic

Номер патента: US20240085558A1. Автор: Mark Allen Itzler,Ryan Thomas Davis. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Radar sensor with spherical sensor housing

Номер патента: US20230296422A1. Автор: Robert Laun. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2023-09-21.

Magnetoresistance sensor with biased free layer for improved stability of magnetic performance

Номер патента: US20240107892A1. Автор: Savas Gider,Jason Janesky,Jodi M. Iwata-Harms. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Electrostatic charge sensor with high impedance contact pads

Номер патента: US20230288467A1. Автор: Massimo Orio. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2023-09-14.

Magnetoresistive sensor with harmonic widened linear range

Номер патента: EP4089428A1. Автор: James Geza Deak,Zhimin Zhou. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-16.

Differential pressure sensor with rfid tag

Номер патента: US20210215562A1. Автор: Laurence Singleton,Ray Freeman,Henry Prescher,Patrick Mende,Alex Boellaard. Владелец: Smartrac Investment BV. Дата публикации: 2021-07-15.

Gas sensor with improved sensitivity and gas sensor component

Номер патента: US20240118229A1. Автор: Matthias König. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Proximity sensor with a sliced integration time sensing mechanism and sensing method thereof

Номер патента: US20210185784A1. Автор: Yi-Jung Huang,Chih-Ning Chen,Jing-Min Chen. Владелец: Anpec Electronics Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Vibratory sensor with electronic balancing

Номер патента: US11994390B2. Автор: Markus Hans Gnerlich. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Sensor with magnetic blocks unevenly distributed in housing

Номер патента: US20150204694A1. Автор: Qiang Huang. Владелец: Chengdu Kind Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-23.

Dual/multiple-energy x-ray sensor with separation between pixels and active circuitry

Номер патента: US20170115406A1. Автор: Linbo Yang,Chinlee Wang,Hsin-fu Tseng,Shizu Li,Nguyen Phuoc Luu. Владелец: Xscan Imaging Inc. Дата публикации: 2017-04-27.

Touch sensor with enhanced and small-scale sensitivity and method for making same

Номер патента: US20200133413A1. Автор: Yu-Ju Chen. Владелец: General Interface Solution Ltd. Дата публикации: 2020-04-30.

Vertical hall effect sensor with offset reduction

Номер патента: EP2972439A1. Автор: Thomas Rocznik. Владелец: Robert Bosch Tool Corp. Дата публикации: 2016-01-20.

Improved saw-sensor with thin piezoelectric layer and osmotic sensor device including the same

Номер патента: WO2024105113A1. Автор: Michael Huth. Владелец: JOHANN WOLFGANG GOETHE-UNIVERSITAT FRANKFURT AM MAIN. Дата публикации: 2024-05-23.

Gas sensors with high specificity and poison resistance

Номер патента: WO2000047991A1. Автор: David Edward Williams,Peter Mcgeehin,Jane Patricia Blake,Khalid Shukri. Владелец: Capteur Sensors And Analysers Limited. Дата публикации: 2000-08-17.

Method for correcting film thickness measurement value, film thickness corrector, and eddy current detector

Номер патента: TWI655999B. Автор: 多田光男,澁江宏明,高橋太郎,中村顕,廣尾康正,太田裕志. Владелец: 日商荏原製作所股份有限公司. Дата публикации: 2019-04-11.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: EP3909717B1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Film-thickness measuring apparatus, film-thickness measuring method, and polishing apparatus having the film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20150017880A1. Автор: Yoichi Kobayashi,Toshikazu Nomura,Katsuhide Watanabe,Takeshi Iizumi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2015-01-15.

Liquid film thickness measurement method and film production method

Номер патента: EP3805694B1. Автор: Kenta Nakajima,Nobuhiro Naito. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-10-18.

Film thickness sensor

Номер патента: KR102341835B1. Автор: 아츠시 이토. Владелец: 가부시키가이샤 아루박. Дата публикации: 2021-12-21.

FILM THICKNESS SIGNAL PROCESSING APPARATUS, POLISHING APPARATUS, FILM THICKNESS SIGNAL PROCESSING METHOD, AND POLISHING METHOD

Номер патента: US20180001437A1. Автор: NAKAMURA Akira. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-04.

FILM THICKNESS MEASURING METHOD, FILM THICKNESS MEASURING APPARATUS, POLISHING METHOD, AND POLISHING APPARATUS

Номер патента: US20180130667A1. Автор: KIMBA Toshifumi. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

FILM THICKNESS MONITORING METHOD, FILM THICKNESS MONITORING DEVICE, AND POLISHING APPARATUS

Номер патента: US20140220862A1. Автор: Koike Toru. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2014-08-07.

METHOD OF CORRECTING FILM THICKNESS MEASUREMENT VALUE, FILM THICKNESS CORRECTOR AND EDDY CURRENT SENSOR

Номер патента: US20150262893A1. Автор: Ota Hiroshi,NAKAMURA Akira,Takahashi Taro,TADA Mitsuo,HIROO Yasumasa,Shibue Hiroaki. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-17.

Film thickness measuring method, film thickness measuring apparatus, polishing method and polishing apparatus

Номер патента: KR102283692B1. Автор: 도시후미 김바. Владелец: 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼. Дата публикации: 2021-08-02.

Method for measuring varnish film thickness of printed article and varnish film thickness measurement device

Номер патента: EP3517299A4. Автор: Hiromitsu Numauchi. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2020-05-27.

The varnish film thickness measuring method and varnish film thickness measurement device of printed matter

Номер патента: CN109789698A. Автор: 沼内裕光. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2019-05-21.

Substrate film thickness measurement method, substrate film thickness measurement apparatus and substrate processing apparatus

Номер патента: US20040223166A1. Автор: Toshifumi Kimba,Shunsuke Nakai. Владелец: Shunsuke Nakai. Дата публикации: 2004-11-11.

Substrate film thickness measurement method, substrate film thickness measurement apparatus and substrate processing apparatus

Номер патента: US7428064B2. Автор: Toshifumi Kimba,Shunsuke Nakai. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2008-09-23.

Film thickness analysis method, film thickness analysis device, and storage medium

Номер патента: TW202236117A. Автор: 田所真任,靏田豊久. Владелец: 日商東京威力科創股份有限公司. Дата публикации: 2022-09-16.

Substrate film thickness measuring method, substrate film thickness measuring apparatus, substrate processing method, and substrate processing apparatus

Номер патента: JP3854056B2. Автор: 俊輔 中井,利文 金馬. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2006-12-06.

Film thickness signal processing device, polishing device, film thickness signal processing method, and polishing method

Номер патента: TWI723169B. Автор: 中村顕. Владелец: 日商荏原製作所股份有限公司. Дата публикации: 2021-04-01.

Method for creating film thickness estimation model, film thickness estimation method, and storage medium

Номер патента: CN115147690A. Автор: 中村显,八木圭太,纳齐格塔·查汗,卡维德·罗赫特. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2022-10-04.

Film-thickness measuring method and film-thickness measuring apparatus

Номер патента: KR20230098023A. Автор: 요이치 시오카와,마사키 기노시타. Владелец: 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼. Дата публикации: 2023-07-03.

Method and device for forecasting/detecting polishing end point and method and device for monitoring real-time film thickness

Номер патента: TW200912253A. Автор: Takashi Fujita,Toshiyuki Yokoyama,Keita Kitade. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-16.

Application apparatus and method of measuring film thickness

Номер патента: EP3564619B1. Автор: Hiroaki Ohba. Владелец: NTN Toyo Bearing Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Membrane thickness measured method and film thickness measuring apparatus

Номер патента: CN109253700A. Автор: 近藤孝司,冈田奈雄登,荒牧裕胜,岩本胜哉. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-01-22.

Method and device for controlling the film thickness profile in film blowing systems

Номер патента: DE10047836A1. Автор: Franz Mahler,Christian Baier,Bernd Bayer. Владелец: Hosokawa Alpine AG. Дата публикации: 2002-04-11.

Liquid film thickness measuring method, measuring device, and film manufacturing method

Номер патента: JP7255481B2. Автор: 健太 中島,展寛 内藤. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-04-11.

Coating film state analysis device and film thickness measurement device

Номер патента: WO2018185891A1. Автор: 皓之 栢場. Владелец: 株式会社ニコン. Дата публикации: 2018-10-11.

Liquid film thickness measuring method, measuring device, and film manufacturing method

Номер патента: JPWO2019230632A1. Автор: 健太 中島,展寛 内藤. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-04-22.

Method for manufacturing semiconductor device, film thickness measurement method, and temperature measurement method

Номер патента: US20240290666A1. Автор: Makoto Moriyama,Takaki Hashimoto,Tsubasa IMAMURA,Ai Furubayashi. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Film thickness measurement

Номер патента: US20120088026A1. Автор: John Stephen Massa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-04-12.

Improved film thickness measurement

Номер патента: EP2445650A1. Автор: John Stephen Massa. Владелец: Pilkington Group Ltd. Дата публикации: 2012-05-02.

Method and apparatus for measuring thin film thickness using x-ray

Номер патента: US09644956B2. Автор: Shi Surk KIM,Sang Bong Lee,Seong Uk LEE,Joo Hye Kim. Владелец: Nano CMS Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Non-contact system for measuring film thickness

Номер патента: EP1058843A1. Автор: Haiming Wang,Mehrdad Nikoonahad,Shing Lee. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2000-12-13.

Film-forming device, method for measuring film thickness of organic film, and film thickness sensor for organic film

Номер патента: KR20160127078A. Автор: 아츠시 이토,요시카즈 코바야시,마사토 후카오. Владелец: 가부시키가이샤 아루박. Дата публикации: 2016-11-02.

Film thickness measurement device

Номер патента: US20150316369A1. Автор: Hidekazu Sakagami,Chiaki Yamawaki,Norikazu Hohshi,Narumi Harada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2015-11-05.

Method and apparatus for measuring tear film thickness using optical interference

Номер патента: EP3714769A1. Автор: Cao Bin,Wang Zhenguo,Mei Song,Chan Kinpui,KIM JongSik,Mao Zaixing. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-09-30.

Method and apparatus for measuring tear film thickness using optical interference

Номер патента: US20200309510A1. Автор: ZAIXING Mao,Song Mei,Bin Cao,Zhenguo Wang,Kinpui Chan,Jongsik Kim. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-10-01.

Film thickness measurement device

Номер патента: US20150219450A1. Автор: Hidekazu Sakagami,Chiaki Yamawaki,Norikazu Hohshi,Narumi Harada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Thin film forming apparatus, film thickness measuring method and film thickness sensor

Номер патента: WO2009038085A1. Автор: Toru Kimura,Masato Fukao. Владелец: ULVAC, INC.. Дата публикации: 2009-03-26.

System for measuring film thickness

Номер патента: US4956558A. Автор: Timothy J. Peters,Charles R. Batishko,Leslie J. Kirihara,Donald E. Rasmussen. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 1990-09-11.

Thin film thickness and optimal focus measuring using reflectivity

Номер патента: US5982496A. Автор: David H. Ziger. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1999-11-09.

System and method for simultaneously measuring lubricant thickness and degradation, thin film thickness and wear, and surface roughness

Номер патента: US6031615A. Автор: Steven W. Meeks,Rusmin Kudinar,Ronny Soetarman. Владелец: Candela Instruments Inc. Дата публикации: 2000-02-29.

Infrared multilayer film thickness measuring method and apparatus

Номер патента: US4243882A. Автор: Naoyuki Shiratori,Akitaka Yasujima,Shingo Ishikawa. Владелец: Asahi Dow Ltd. Дата публикации: 1981-01-06.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: US12062583B2. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Optical film thickness meter and thin film forming apparatus provided with optical film thickness meter

Номер патента: TW201109617A. Автор: you-song Jiang,Kyokuyo Sai,Yohei Hinata,Yoshiyuki Otaki. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-16.

Method and apparatus for performing film thickness measurements using white light scanning interferometry

Номер патента: US20120218560A1. Автор: Ki-Nam JOO. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Method for manufacturing semiconductor device, film thickness measurement method, temperature measurement method, and temperature measurement substrate

Номер патента: EP4435834A1. Автор: Makoto Moriyama,Takaki Hashimoto,Tsubasa IMAMURA,Ai Furubayashi. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Method for in-line determination of film thickness and quality during printing processes for the production of organic electronics

Номер патента: EP2700110A1. Автор: Stergios Logothetidis. Владелец: Aristotle University Of Thessaloniki ELKE Research Committee. Дата публикации: 2014-02-26.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20210080250A1. Автор: Ohtsuka Kenichi. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2021-03-18.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: KR20200105475A. Автор: 겐이치 오츠카. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2020-09-07.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TW201930818A. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2019-08-01.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: WO2019138614A1. Автор: 賢一 大塚. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2019-07-18.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TWI766116B. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2022-06-01.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method, film thickness measuring program, and recording medium for recording film thickness measuring program

Номер патента: JP6487579B1. Автор: 賢一 大塚. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-03-20.

Blown film thickness gauge

Номер патента: US3988582A. Автор: Randall W. Harman. Владелец: NUCLEONIC DATA SYSTEMS Inc. Дата публикации: 1976-10-26.

Etching apparatus and etching method and detecting apparatus of film thickness

Номер патента: US20210225674A1. Автор: Hiroyuki Minemura,Soichiro Eto,Tatehito Usui. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-07-22.

Secure semiconductor wafer inspection utilizing film thickness

Номер патента: US20220228995A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Spectrometric method for analysis of film thickness and composition on a patterned sample

Номер патента: WO1999031483A1. Автор: Peter R. Solomon,Peter A. Rosenthal. Владелец: On-Line Technologies, Inc.. Дата публикации: 1999-06-24.

Secure semiconductor wafer inspection utilizing film thickness

Номер патента: US20210148834A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Film thickness monitoring device sensor, film thickness monitoring device including the same, and method for manufacturing film thickness monitoring device sensor

Номер патента: JPWO2016140321A1. Автор: 敦 伊藤,伊藤　敦. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2017-04-27.

Device and method for measuring oxide film thickness

Номер патента: US11761752B2. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Masahiro Inui,Ryota Nakanishi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Oxide film thickness measurement device and method

Номер патента: US11852458B2. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Masahiro Inui,Ryota Nakanishi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method, as well as film formation system and film formation method

Номер патента: JP2021144022A. Автор: Naoyuki Suzuki,一修 小野,正人 品田,直行 鈴木,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,環 竹山,Tamaki Takeyama,Kazunao Ono,宏昭 千早,Hiroaki Chihaya,アインシュタイン ノエル アバラ,アインシュタイン ノエル アバラ. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-09-24.

Film thickness measurement method, film thickness measurement system, light reflection film manufacturing method and light reflection film manufacturing system

Номер патента: JP7092146B2. Автор: 亨 森藤,美佳 本田,治加 増田. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-06-28.

Optical film thickness controlling method, optical film thickness controlling apparatus, dielectric multilayer film manufacturing apparatus, and dielectric multilayer film manufactured using the same controlling apparatus or manufacturing apparatus

Номер патента: US20080011229A1. Автор: Haruo Takahashi,Takafumi Matsumoto,Kouichi Hanzawa. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2008-01-17.

Film thickness control device, film thickness control method, and film formation device

Номер патента: KR102035143B1. Автор: 아츠시 이토,요시카즈 코바야시,지로 엔도. Владелец: 가부시키가이샤 아루박. Дата публикации: 2019-10-22.

USING THE FULL FORMAT MATRIX IMAGE SENSOR FOR MEASURING FILM THICKNESS IN REAL TIME ON FILM MANUFACTURING EQUIPMENT

Номер патента: RU2016122191A. Автор: Пол С. БОНИНО,Роберт П. ГЕРЛОСКИ,Джейсон М. ЛЕФЕВР. Владелец: Зирокс Корпорейшн. Дата публикации: 2017-12-11.

Apparatus for measuring thin film thickness and deposition apparatus for manufacturing thin film and method for measuring thin film thickness

Номер патента: KR102003730B1. Автор: 임정은,김승균,박기성,신오철,박장훈. Владелец: 케이맥(주). Дата публикации: 2019-10-01.

REMOTE THREE-WAY METHOD FOR MEASURING THICKNESS FILM THICKNESS

Номер патента: RU2005134709A. Автор: Валентин Иванович Козинцев,Ольга Алексеевна Смирнова,Михаил Леонидович Белов,Виктор Александрович Городничев,Юрий Викторович Федотов,Михаил Леонидович Белов (RU),Виктор Александрович Городничев (RU),Валентин Иванович Козинцев (RU),Ольга Алексеевна Смирнова (RU),Юрий Викторович Федотов (RU). Владелец: Научно-Исследовательский Институт Радиоэлектроники и лазерной техники (НИИ РЛ) Московского Государственного Технического Университета им. Н.Э. Баумана (RU). Дата публикации: 2007-05-20.

Film thickness measuring device, film forming system, and film thickness measuring method

Номер патента: US20220260362A1. Автор: Yusuke Kikuchi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-08-18.

Film thickness measuring apparatus and method

Номер патента: US4129781A. Автор: Walter M. Doyle. Владелец: Doyle W. Дата публикации: 1978-12-12.

Optical film thickness meter and thin film forming apparatus provided with optical film thickness meter

Номер патента: CN102472611B. Автор: 姜友松,佐井旭阳,日向阳平,大泷芳幸. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-17.

Optical film thickness measuring device and thin film forming apparatus using the optical film thickness measuring device

Номер патента: KR101264578B1. Автор: 유송 지앙,교쿠요 사이,겐지 오자와. Владелец: 신크론 컴퍼니 리미티드. Дата публикации: 2013-05-14.

An optical film thickness measuring apparatus, and a film forming apparatus using an optical film thickness measuring apparatus

Номер патента: TWI437204B. Автор: Kenji Ozawa,Yousong Jiang,Kyokuyo Sai. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-11.

OPTICAL FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND THIN FILM FORMING APPARATUS USING THE OPTICAL FILM THICKNESS MEASURING DEVICE

Номер патента: US20140016139A1. Автор: Sai Kyokuyo,Jiang Yousong,Ozawa Kenji. Владелец: SHINCRON CO., LTD.. Дата публикации: 2014-01-16.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: US4162528A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1979-07-24.

Wet film thickness gauge

Номер патента: US4776099A. Автор: Maynard R. Euverard. Владелец: PAUL N GARDNER CO Inc. Дата публикации: 1988-10-11.

Optical film thickness meter and thin film forming apparatus provided with optical film thickness meter

Номер патента: HK1168417A1. Автор: 姜友松,日向陽平,佐井旭陽,大瀧芳幸. Владелец: 株式會社新柯隆. Дата публикации: 2012-12-28.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: WO2022191969A1. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Isreal Ltd.. Дата публикации: 2022-09-15.

FILM THICKNESS SENSOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20160252347A1. Автор: Xiao Ang. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-01.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20140022564A1. Автор: YAMAMOTO Takeshi,YAMADA Takeo,KAWAI Shingo. Владелец: NIRECO CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-23.

FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND FILM THICKNESS MEASURING DEVICE

Номер патента: US20190017807A1. Автор: Kondo Koji,OKADA Naoto,ARAMAKI Hirokatsu,IWAMOTO Katsuya. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-01-17.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180045506A1. Автор: KITAGAWA Katsuichi,OTSUKI Masafumi. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-15.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20160069673A1. Автор: NABESHIMA Atsuo,TAKAYANAGI Jun,OHTAKE Hideyuki,AIKYO Hideyuki,FUJISAWA Yasunari. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2016-03-10.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: US20210140758A1. Автор: Shiro Kawaguchi,Kazuya Nakajima. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

FILM THICKNESS MONITORING METHOD, FILM THICKNESS MONITORING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS

Номер патента: US20140238605A1. Автор: MIKAMI Toru. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2014-08-28.

FILM THICKNESS MEASURING SYSTEM AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20210293531A1. Автор: UMEHARA Yasutoshi. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-23.

FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND FILM THICKNESS MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20180274904A1. Автор: MIURA Masanori,TAKAYANAGI Jun. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2018-09-27.

Film Thickness Control System, Film Thickness Control Method, Evaporation Device and Evaporation Method

Номер патента: US20170298501A1. Автор: SUN JUNMIN,CHEN Liqiang,FU Wenyue. Владелец: BOE Technology Group Co., Ltd.. Дата публикации: 2017-10-19.

FILM THICKNESS MEASUREMENT APPARATUS, FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, AND NON-TRANSITORY COMPUTER STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20150324970A1. Автор: Nishiyama Tadashi,IWANAGA Shuji,KATOU Kanzou. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-12.

FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD AND FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20160349038A1. Автор: Ohtsuka Kenichi,Nakano Tetsuhisa. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-01.

Electromagnetic valve control circuit, film thickness gauge control method and film thickness gauge

Номер патента: CN111380495B. Автор: 廖良生,赵平,胡淳,武启飞,赵鹏鹏,冯敏强. Владелец: Jiangsu Jicui Institute of Organic Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-28.

Method for controlling film thickness by crystal oscillation type film thickness monitor

Номер патента: KR20150135082A. Автор: 야스노부 고바야시. Владелец: 캐논 톡키 가부시키가이샤. Дата публикации: 2015-12-02.

THIN FILM THICKNESS GAUGING METHOD USING CsI(Tl) SCINTILATOR, INTEGRATED THIN FILM THICKNESS GAUGE AND METHOD FOR THE GAUGE

Номер патента: KR100497715B1. Автор: 박세환,문병수,홍석붕,김용균,김정복,한상효,이우교,정종은. Владелец: 한국원자력연구소. Дата публикации: 2005-06-28.

Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth

Номер патента: CA2522838A1. Автор: Scott Grimshaw. Владелец: Cold Springs R&D, Inc.. Дата публикации: 2004-11-04.

ROENTGENFLUORESCENCE RADIATION FILM THICKNESS GAUGE, AND METHOD FOR MEASURING A FILM THICKNESS.

Номер патента: NL187871B. Автор: . Владелец: Seiko Instr & Electronics. Дата публикации: 1991-09-02.

Oxide film thickness measuring method and oxide film thickness measuring apparatus

Номер патента: JP4846741B2. Автор: 泰光 近藤,昇 長谷川,弘二 平野. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2011-12-28.

Film thickness measuring device and method for measuring film thickness

Номер патента: TWI454654B. Автор: Tadayoshi Fujimori,Yoshimi Sawamura. Владелец: Otsuka Denshi Kk. Дата публикации: 2014-10-01.

Film thickness measuring method and film thickness measuring device

Номер патента: CN108981624B. Автор: 刘公才. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-24.

Film thickness measurement apparatus, film thickness measurement method, and non-transitory computer storage medium

Номер патента: US9355442B2. Автор: Tadashi Nishiyama,Shuji Iwanaga,Kanzou KATOU. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-05-31.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: JP4427654B2. Автор: 裕也 武田,倫弘 梅田,秀昭 長崎. Владелец: Tokyo University of Agriculture and Technology NUC. Дата публикации: 2010-03-10.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US8736851B2. Автор: Takeshi Yamamoto,Takeo Yamada,Shingo Kawai. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2014-05-27.

Film thickness sample and preparation method of film thickness sample

Номер патента: CN111024017B. Автор: 马春雷,赵琳,许晓青,梁法国,韩志国,冯亚南,李锁印. Владелец: CETC 13 Research Institute. Дата публикации: 2021-10-15.

Film thickness measuring apparatus using interference and method of measuring film thickness using interference

Номер патента: CN102414537B. Автор: 浦岛毅吏,追风宽岁. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-04.

Thin layer film`s e.g. mold oil film, thickness measuring device for e.g. substrate, has comparison unit comparing X fluorescence signal value with standard values to deduce thickness of thin layer from number of detected X photons

Номер патента: FR2895792A1. Автор: Samuel Legoupil,Dominique Chambellan,Guillaume Sannie,Patrick Brisset,Gregory Schwendenman. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 2007-07-06.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: TW201118334A. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-06-01.

Film thickness measuring method and film thickness measuring apparatus

Номер патента: JP3782629B2. Автор: 俊輔 中井,利文 金馬. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2006-06-07.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: WO2022244309A1. Автор: 賢一 大塚,邦彦 土屋,諭 荒野. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2022-11-24.

Film thickness measuring method and film thickness measuring apparatus

Номер патента: JP5875087B2. Автор: 学 鈴木,泰成 燈明,鈴木　学. Владелец: Toyota Motor East Japan Inc. Дата публикации: 2016-03-02.

Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth

Номер патента: WO2004094936A3. Автор: Scott Grimshaw. Владелец: Scott Grimshaw. Дата публикации: 2005-09-29.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: TW201530091A. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2015-08-01.

System and method for measuring substrate and film thickness distribution

Номер патента: WO2018148303A1. Автор: Dengpeng Chen,Andrew Zeng. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2018-08-16.

System and method for measuring substrate and film thickness distribution

Номер патента: EP3551964A1. Автор: Dengpeng Chen,Andrew Zeng. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-10-16.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: EP4067843A4. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-12-20.

Systems and methods for predicting film thickness of individual layers using virtual metrology

Номер патента: US11862520B2. Автор: Raman K. Nurani,Bharath Ram Sundar,Utkarsha Avinash Dhanwate,Ramakrishnan S. Hariharan,Suresh Bharatharajan Kudallur,Vishwath Ram Amarnath. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Film thickness monitor

Номер патента: WO2013090631A2. Автор: Mei Sun,Earl Jensen,Kevin O'Brien,Farhat Quli. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

METHOD FOR FILM THICKNESS CONTROL DURING ITS APPLICATION BY DEPOSITION IN A VACUUM CAMERA

Номер патента: RU2006136761A. Автор: Ирина Павловна Корнева,Константин Петрович Корнев,Ирина Павловна Корнева (RU),Константин Петрович Корнев (RU). Владелец: ФГОУ ВПО Российский государственный университет имени Иммануила Канта (РГУ им. И. Канта) (RU). Дата публикации: 2008-04-27.

Thin film thickness measurement using multichannel infrared sensor

Номер патента: CA2563777C. Автор: Steve Axelrod,Igor N. Germanenko. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2012-03-20.

Method for evaluating film thickness of oxide film and method for producing silicon substrate with oxide film

Номер патента: WO2023079919A1. Автор: 正彬 大関,達夫 阿部,剛 大槻,健作 五十嵐,康太 藤井. Владелец: 信越半導体株式会社. Дата публикации: 2023-05-11.

Method and apparatus for measuring film thickness, in particular a photoresist film on a semiconductor substrate

Номер патента: NO20010910L. Автор: Ofer Du-Nour. Владелец: Tevet Process Control Technolo. Дата публикации: 2001-04-27.

Apparatus for measuring film thickness

Номер патента: GB2077426A. Автор: . Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 1981-12-16.

Method and apparatus for measuring tear film thickness using optical interference

Номер патента: EP3714769B1. Автор: KIM JongSik,ZAIXING Mao,Song Mei,Bin Cao,Zhenguo Wang,Kinpui Chan. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

System and method for measuring substrate and film thickness distribution

Номер патента: EP3551964A4. Автор: Dengpeng Chen,Andrew Zeng. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-05-27.

Method of determining when a critical film thickness will be reached in a grease-lubricated seal

Номер патента: EP2734755B1. Автор: Pieter BAART,Piet Lugt,Marco VAN ZOELEN. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2015-09-16.

Film thickness measuring apparatus for composite type covered pipe

Номер патента: JPS57182110A. Автор: Hajime Umehara,Atsushi Kozonoe,Masachika Akiba. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1982-11-09.

Film thickness unevenness inspection device and method

Номер патента: TW201237398A. Автор: Yasufumi Koyama,Hiromitsu Wada,Hisayoshi Tajima,Masashi Mizuhara,Naoyoshi Hamakawa. Владелец: Toray Eng Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-16.

Film thickness gauge utilizing infrared ray

Номер патента: JPS56168501A. Автор: Takafumi Fumoto,Mutsuo Sawaguchi. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 1981-12-24.

THICKNESS CHANGE MONITOR WAFER FOR IN SITU FILM THICKNESS MONITORING

Номер патента: US20140253928A1. Автор: "OBrien Kevin",Jensen Earl. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-11.

DEVICE FOR COINCIDENCE OF THE AXIS OF A MEASUREMENT PROBE WITH A NORMAL ON THE SURFACE OF A PART TO BE TESTED AND APPLICATION TO MEASUREMENTS OF THICK FILM THICKNESSES

Номер патента: FR2496957B1. Автор: Claude Cavy,Marie Louise Rolland. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1987-07-31.

REAL-TIME TEMPERATURE, OPTICAL BAND GAP, FILM THICKNESS, AND SURFACE ROUGHNESS MEASUREMENT FOR THIN FILMS APPLIED TO TRANSPARENT SUBSTRATES

Номер патента: US20130321805A1. Автор: Taylor,Barlett Darryl,Wissman Barry D.,II Charles A. Владелец: K-SPACE ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2013-12-05.

DEVICE FOR MEASURING FRICTIONAL FORCE AND FILM THICKNESS OF LUBRICATING OIL FILM IN DIFFERENT SURFACE VELOCITY DIRECTIONS

Номер патента: US20220050045A1. Автор: Zhang Jianjun,Guo Feng,LIU CHENGLONG,ZHANG Jiahao,LU Hewei,CHE Qinglun,JING Zhaogang. Владелец: QINGDAO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2022-02-17.

Thin-film thickness measurer and thin-film depositing apparatus including the same

Номер патента: US20170097226A1. Автор: Jintae Kim,Jaeyoung Park,Jongwook Kim,Jeonggeun Yoo,Jihoon SEO,Panmok Son,Donggyu Yang,Yongjoon Mook,Kyoungho YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-06.

USE OF A FULL WIDTH ARRAY IMAGING SENSOR TO MEASURE REAL TIME FILM THICKNESSES ON FILM MANUFACTURING EQUIPMENT

Номер патента: US20170241771A1. Автор: LeFEVRE JASON M.,Bonino Paul S.,Herloski Robert P.. Владелец: XEROX CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-24.

Use of a full width array imaging sensor to measure real time film thicknesses on film manufacturing equipment

Номер патента: US20160370174A1. Автор: Jason M. LeFevre,Robert P. Herloski,Paul S. Bonino. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2016-12-22.

Simultaneous measurement of component ratio and film thickness of two-component alloy film

Номер патента: JPS6184511A. Автор: Hirokiyo Yamanaka,宏青 山中. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1986-04-30.

Method for measuring film thickness and composition of alloy film

Номер патента: JPH0610660B2. Автор: 忠廣 安部. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 1994-02-09.

Deposition film film thickness distribution measuring system

Номер патента: CN104613911B. Автор: 张建华,张志林,蒋雪茵. Владелец: UNIVERSITY OF SHANGHAI FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-03-06.

Thin film thickness control deposition system for improving thin film uniformity

Номер патента: KR101097593B1. Автор: 황인호,최재수,양호식,김선혁. Владелец: 주식회사 선익시스템. Дата публикации: 2011-12-22.

Method for measuring film thickness distribution of wafer having thin film

Номер патента: KR101656436B1. Автор: 스스무 쿠와바라. Владелец: 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤. Дата публикации: 2016-09-09.

Film thickness monitoring device of optical film forming device

Номер патента: JPS5972010A. Автор: Akihiko Toku,昭彦 悳. Владелец: Nihon Shinku Gijutsu KK. Дата публикации: 1984-04-23.

Method for monitoring film thickness of amorphous carbon film

Номер патента: CN110243331B. Автор: 陈东华,王莎莎,张富伟,袁智琦. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-01.

Film thickness measuring method, apparatus thereof, and manufacturing system for thin-film device

Номер патента: CN101568796B. Автор: 津村阳一郎,川添浩平,坂井智嗣,饭田政巳. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2013-03-27.

Film thickness monitoring device in optical film forming apparatus

Номер патента: JPS5973709A. Автор: Akihiko Toku,昭彦 悳. Владелец: Nihon Shinku Gijutsu KK. Дата публикации: 1984-04-26.

Apparatus for depositing film and methdod for measureing film thickness

Номер патента: KR100974041B1. Автор: 박영호,김종운,최승철,이재승,최주호,김선혁. Владелец: 주식회사 선익시스템. Дата публикации: 2010-08-05.

Film-thickness measurement method and apparatus therefor, and thin-film device fabrication system

Номер патента: US20100177326A1. Автор: Masami Iida,Satoshi Sakai,Yoichiro Tsumura,Kohei Kawazoe. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2010-07-15.

Device for measuring film thickness and device for forming film

Номер патента: WO2013186879A1. Автор: 友松 姜,旭陽 佐井,陽平 日向,芳幸 大瀧. Владелец: 株式会社シンクロン. Дата публикации: 2013-12-19.

Method for measuring film thickness of magnetic body on polymer film

Номер патента: JPS61250509A. Автор: Hiroao Yamanaka,宏青 山中. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1986-11-07.

A kind of film thickness monitoring method of optical thin film

Номер патента: CN107726987A. Автор: 鲁进,程瑶,王先全,居本祥,庄秋慧,米曾真. Владелец: Chongqing University of Technology. Дата публикации: 2018-02-23.

The detection method of bearing roller surface melanism film film thickness

Номер патента: CN109297420A. Автор: 刘学,刘华军,吴欢,郭玉飞,姚艳书,董玉雪,刘兆红. Владелец: Wafangdian Bearing Group National Bearing Engineering Technology Research Center Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-01.

A kind of capacitor film film thickness detecting device

Номер патента: CN106500609A. Автор: 高文明. Владелец: Tongling Copper Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-15.

Film thickness measuring apparatus and film forming apparatus

Номер патента: JPWO2013186879A1. Автор: 友松 姜,旭陽 佐井,陽平 日向,芳幸 大瀧. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-01.

Process control method and film thickness obtaining method of organic solderability preservative film

Номер патента: CN108180846B. Автор: 陈黎阳,乔书晓,郭耀强. Владелец: Yixing Silicon Valley Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-17.

LED light source device, film thickness measuring device and thin film deposition device

Номер патента: KR101693397B1. Автор: 에키슈 나가에,미츠히로 미야우치,교쿠요 사이,요헤이 히나타,요시유키 오타키. Владелец: 신크론 컴퍼니 리미티드. Дата публикации: 2017-01-06.

Optical measurement system, multilayer film manufacturing apparatus, and optical measurement method capable of measuring the film thickness of each layer at a higher speed in a manufacturing process in which a plurality of layers is sequentially laminated

Номер патента: TW202146841A. Автор: 山崎雄介,岡本宗大. Владелец: 日商大塚電子股份有限公司. Дата публикации: 2021-12-16.

Method for measuring film thickness of thin film laminate

Номер патента: JP5095422B2. Автор: 明男 米山,和浩 上田. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2012-12-12.

Real-time temperature, optical band gap, film thickness, and surface roughness measurement for thin films applied to transparent substrates

Номер патента: WO2012006611A2. Автор: Barry D. Wissman,Darryl Barlett,Charles A. Ii Taylor. Владелец: K-SPACE ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2012-01-12.

Film thickness measuring device and film forming device

Номер патента: TWI489080B. Автор: Yousong Jiang,Kyokuyo Sai,Yohei Hinata,Yoshiyuki Otaki. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-21.

Thin film thickness measurement method and apparatus

Номер патента: CA2591885C. Автор: Frank M. Haran,Ted W. Jasinski. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2013-04-23.

Device for measuring friction force and film thickness of lubricating oil film under surface speed difference

Номер патента: CN111780972A. Автор: 郭峰,张建军,车清论,张家豪,鹿贺伟,荆兆刚. Владелец: QINGDAO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2020-10-16.

Film thickness measuring method and measuring apparatus for organic thin film for use in organic electroluminescence device

Номер патента: EP1348945A1. Автор: Hiroyuki Okada,Shigeki Naka,Hiroyoshi Onnagawa,Miki Shibata,Tadahiro Echigo. Владелец: Toyama University. Дата публикации: 2003-10-01.

Method for measuring value of film thickness distribution of wafer having thin film

Номер патента: EP2579302B1. Автор: Susumu Kuwabara. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-11.

Thin film thickness measuring method and apparatus, and mehtod and apparatus for manufacturing a thin film device using the same

Номер патента: US20040070773A1. Автор: Hirofumi Tsuchiyama,Yukio Kenbo,Shunji Maeda,Minori Noguchi,Takenori Hirose,Takanori Minomiya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-15.

Use of a full width array imaging sensor to measure real time film thicknesses on film manufacturing equipment

Номер патента: US9976845B2. Автор: Jason M. LeFevre,Robert P. Herloski,Paul S. Bonino. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Film thickness measuring method, its apparatus, and manufacturing system for thin-film device

Номер патента: WO2008114471A1. Автор: Masami Iida,Satoshi Sakai,Yoichiro Tsumura,Kohei Kawazoe. Владелец: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.. Дата публикации: 2008-09-25.

Method for measuring film thickness distribution of wafer having thin film

Номер патента: EP4040106A4. Автор: Philippe Gastaldo,Susumu Kuwabara,Kevin QUINQUINET. Владелец: Unity Semiconductor SAS. Дата публикации: 2023-11-15.

Method and apparatus for performing film thickness measurements using white light scanning interferometry

Номер патента: US20120218560A1. Автор: Ki-Nam JOO. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: EP4077801A4. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2024-01-10.

Gas sensor with porous protection layers

Номер патента: US09476863B2. Автор: Masaki Mizutani,Toru Iwano,Masaki Onkawa,Shun Sakuma,Tatsuhiko MURAOKA,Shigehiro OHTSUKA. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Adjustment of sensor sensitivity by controlling copolymer film thickness through a controlled drying step

Номер патента: US09763605B2. Автор: Huanfen Yao,Zenghe Liu. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2017-09-19.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE, POLISHING APPARATUS, FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND POLISHING METHOD

Номер патента: US20180016676A1. Автор: NAKAMURA Akira. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-18.

Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth

Номер патента: US7275436B2. Автор: Scott F Grimshaw. Владелец: Tangidyne Corp. Дата публикации: 2007-10-02.

Gas sensing with porous scattering material

Номер патента: US12019017B2. Автор: Hisashi Masui,Oleg Borisovich Shchekin,Franklin Chiang. Владелец: LUMILEDS LLC. Дата публикации: 2024-06-25.

Electrostatic pressure sensor with porous dielectric diaphragm

Номер патента: EP2153191A1. Автор: Swapan Chakraborty. Владелец: Rosemount Inc. Дата публикации: 2010-02-17.

Method for determining lifetime of crystal oscillator, film thickness measuring apparatus, film forming method, film forming apparatus, and method for manufacturing electronic device

Номер патента: CN109596959B. Автор: 小林康信. Владелец: Canon Tokki Corp. Дата публикации: 2021-03-30.

Method for determining life of quartz oscillator, film thickness measuring device, film forming method, film forming device, and electronic device manufacturing method

Номер патента: JP6641649B2. Автор: 康信 小林. Владелец: Canon Tokki Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Method of determining life of crystal quartz oscilator, apparatus of measuring film thickness, film forming method, film forming apparatus and manufacturing method of electronic device

Номер патента: KR101870581B1. Автор: 야스노부 고바야시. Владелец: 캐논 톡키 가부시키가이샤. Дата публикации: 2018-06-22.

Biosensor with porous wicking layer

Номер патента: US20210222223A1. Автор: Paul Dastoor. Владелец: LIFE SCIENCE BIOSENSOR DIAGNOSTICS PTY LTD. Дата публикации: 2021-07-22.

Magnetoresistive (mr) sensor with mr enhancing layer

Номер патента: MY115680A. Автор: Wen Yaung Lee,Daniel Mauri. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2003-08-30.

Magnetoresistive (mr) sensor with mr enhancing layer

Номер патента: IE80856B1. Автор: Daniele Mauri,Wen Yaung Lee. Владелец: Ibm. Дата публикации: 1999-04-21.

Arrangement for determining density of liquid has two sound measurement volumes with liquid layers of first and second thickness; second film thickness is 2 to 10 times as great as first

Номер патента: DE10032743A1. Автор: Helmut Heimel,Hans Leopold,Hans Stabinger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-04-12.

Method and system for registering a 3D sensor with an autonomous manipulator

Номер патента: US12125242B2. Автор: G. Neil Haven,Fansheng Meng. Владелец: Liberty Robotics Inc. Дата публикации: 2024-10-22.

Control of film growth using auger electron spectroscopy for measuring film thickness and chemical composition

Номер патента: WO2003067234A3. Автор: Alexander Kadyshevitch,Avi Simon. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2004-01-22.

Differential capacitive sensor for in-situ film thickness and dielectric constant measurement

Номер патента: US20240002999A1. Автор: Yaoling Pan,Leonard M. Tedeschi,Patrick Tae. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Differential capacitive sensors for in-situ film thickness and dielectric constant measurement

Номер патента: US11781214B2. Автор: Yaoling Pan,Leonard M. Tedeschi,Patrick Tae. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-10-10.

Methods for in vivo drug delivery with porous nanostructures

Номер патента: US09555114B2. Автор: Boyce E. Collins,Michael J. Sailor,Keiki-Pua S. Dancil,Guarav Abbi. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2017-01-31.

Gas sensing with porous scattering material

Номер патента: WO2021158993A1. Автор: Hisashi Masui,Oleg Borisovich Shchekin,Franklin Chiang. Владелец: LUMILEDS LLC. Дата публикации: 2021-08-12.

Biosensor with porous wicking layer

Номер патента: PH12020551960A1. Автор: Paul Dastoor. Владелец: LIFE SCIENCE BIOSENSOR DIAGNOSTICS PTY LTD. Дата публикации: 2021-09-20.

Biosensor with porous wicking layer

Номер патента: AU2022202983A1. Автор: Paul Dastoor. Владелец: LIFE SCIENCE BIOSENSOR DIAGNOSTICS PTY LTD. Дата публикации: 2022-05-26.

Biosensor with porous wicking layer

Номер патента: EP3794340A1. Автор: Paul Dastoor. Владелец: LIFE SCIENCE BIOSENSOR DIAGNOSTICS PTY LTD. Дата публикации: 2021-03-24.

Biosensor with porous wicking layer

Номер патента: AU2022202983B2. Автор: Paul Dastoor. Владелец: LIFE SCIENCE BIOSENSOR DIAGNOSTICS PTY LTD. Дата публикации: 2024-05-09.

Biosensor with porous wicking layer

Номер патента: WO2019218011A1. Автор: Paul Dastoor. Владелец: LIFE SCIENCE BIOSENSOR DIAGNOSTICS PTY LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

Method for determining film thickness by white light interferometry

Номер патента: RU2634328C1. Автор: Виктор Владимирович Сысоев,Илья Викторович КИСЕЛЕВ,Егор Ильич Киселев,Екатерина Владимировна Ушакова,Илья Викторович Беляев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А." (СГТУ имени Гагарина Ю.А.). Дата публикации: 2017-10-25.

Semiconductor film thickness prediction using machine-learning

Номер патента: US20240185058A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Nojan Motamedi,Kiran L. Shrestha. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

Semiconductor film thickness prediction using machine-learning

Номер патента: WO2024123635A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Nojan Motamedi,Kiran L. Shrestha. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-06-13.

Method for estimating remaining film thickness distribution, method for designing patterning mask using the method for estimating remaining film thickness distribution, and method for manufacturing semiconductor devices by using patterning mask designed by using the method for estimating remaining film thickness distribution

Номер патента: US20040019871A1. Автор: Takeshi Morita. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-29.

Method for estimating remaining film thickness distribution, method for designing patterning mask using the method for estimating remaining film thickness distribution, and method for manufacturing semiconductor devices by using patterning mask designed by using the method for estimating remaining film thickness distribution

Номер патента: US6905966B2. Автор: Takeshi Morita. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-14.

Optical disk with a uniform film thickness by having different angles of inclination for the side surfaces of grooves

Номер патента: US6108297A. Автор: Masahiro Furuta,Teruyuki Ohta. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2000-08-22.

Architecture of image sensor with application of one or more devices with floating gate

Номер патента: RU2418383C2. Автор: Фань ХЭ,Карл Л. ШУРБОФФ. Владелец: Моторола Инк.. Дата публикации: 2011-05-10.

Mobile electronic device with capacitance sensor with restricted visibility isolation areas, and appropriate method

Номер патента: RU2428746C1. Автор: Чжимин ЧЖУАН,Дэвид Майкл ЭМИГ. Владелец: МОТОРОЛА, ИНК.. Дата публикации: 2011-09-10.

Signal transmission system from sensors with analogue output for the two-wireless communication line

Номер патента: RU2646311C1. Автор: Игорь Иосифович Радчик,Олег Борисович Скворцов,Сергей Олегович Арестов,Вера Борисовна Скворцова,Тамара Васильевна Балицкая,Лариса Александровна Гвоздева,Татьяна Павловна Фокина. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-Технический Центр Завод Балансировочных машин". Дата публикации: 2018-03-02.

Method and device for creating an improved color image with a sensor with a color filter

Номер патента: US09552624B2. Автор: Jorg Kunze. Владелец: BASLER AG. Дата публикации: 2017-01-24.

Combining installed audio-visual sensors with ad-hoc mobile audio-visual sensors for smart meeting rooms

Номер патента: US09912909B2. Автор: Samuel Thomas,Stanley Chen,Kenneth W. Church,Vaibhava Goel,Lidia L. Mangu,Etienne Marcheret,Bhuvana Ramabhadran,Laurence P. Sansone,Abhinav Sethy. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Dual-mode image sensor with a signal-separating color filter array, and method for same

Номер патента: US09570491B2. Автор: Jin Li,Qian Yin,Dyson Hsinchih Tai. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Method and Processing Unit for Processing Sensor Data of Several Different Sensors with an Artificial Neural Network in a Vehicle

Номер патента: US20230009766A1. Автор: Francesco Ferroni. Владелец: Argo AI GmbH. Дата публикации: 2023-01-12.

Cmos image sensors with integrated rram-based crossbar array circuits

Номер патента: US20210168321A1. Автор: Ning Ge,Wenbo Yin. Владелец: Tetramem Inc. Дата публикации: 2021-06-03.

Method and device for automated association of sensors with entities

Номер патента: US11170634B2. Автор: Vijay Kumar M,Abhishek Amalkumar HALDAR. Владелец: Wipro Ltd. Дата публикации: 2021-11-09.

Keyset fingerprint sensor with backlight

Номер патента: US09939920B2. Автор: Filipp DEMENSCHONOK,Timothy Francis PIER. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2018-04-10.

Method and system for implementing dynamic ground sharing in an image sensor with pipeline architecture

Номер патента: US09712774B1. Автор: Tianjia Sun,Qingfei Chen,Chun-Ming Tang,Jingyi Liu. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Image sensor with scaler and image scaling method thereof

Номер патента: US09706079B2. Автор: Hyun-Joo Ahn. Владелец: Intellectual Ventures II LLC. Дата публикации: 2017-07-11.

Ultrasonic touch sensor with display monitor

Номер патента: RU2644058C2. Автор: Джон К. ШНАЙДЕР,Джек К. КИТЧЕНС. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2018-02-07.

Image sensors with improved negative pump voltage settling, and circuitry for the same

Номер патента: US12034368B1. Автор: ZHENG Yang,DONG Yang,Zhenfu Tian. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

Multi-Pass Imaging Using Image Sensors with Variably Biased Channel-Stop Contacts

Номер патента: US20190288028A1. Автор: Stephen Biellak,Jehn-Huar Chern,Tzi-Cheng Lai. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Multiple Image Sensors with Varied Optical Properties to Detect Fiducial Marker Patterns for Validating Credentials

Номер патента: US20240311596A1. Автор: Mark Fiala. Владелец: Millennium Three Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Touch sensor with electrically isolated touch regions

Номер патента: US09971444B2. Автор: Alan M. Kuefler,Allen C. Hunt. Владелец: ROCKWELL COLLINS INC. Дата публикации: 2018-05-15.

CMOS image sensors with feature extraction

Номер патента: US09936132B2. Автор: Euisik Yoon,Jaehyuk Choi. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 2018-04-03.

Capacitive touch sensor with polarity normalization

Номер патента: US09798432B2. Автор: Pedro Luis Fernandes Marques,Miguel Angelo Magalhaes Fonseca,Jose Miguel Fernandes Peixoto De Oliveira,António Augusto Babo de Carvalho. Владелец: Displax SA. Дата публикации: 2017-10-24.

Thermal fire sensor with fire extinguishing function

Номер патента: RU2639115C1. Автор: Андрей Владимирович Кулемин,Иван Трофимович Лосицкий,Яков Григорьевич Буртаков. Владелец: Яков Григорьевич Буртаков. Дата публикации: 2017-12-19.

Finger-mounted input sensors with frequently used data items associated with ergonomically favourable contact conditions

Номер патента: GB2456942A. Автор: Brent Michael Baier,Leslie Howard Messmer. Владелец: Iron Will Creations Inc. Дата публикации: 2009-08-05.

Optical fingerprint sensor with spoof detection and associated method

Номер патента: US11842563B2. Автор: Paul Wickboldt,Shih-Hsin Hsu,Jau-Jan Deng. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Dual-Mode Image Sensor With A Signal-Separating Color Filter Array, And Method For Same

Номер патента: US20160104735A1. Автор: Jin Li,Qian Yin,Dyson Hsinchih Tai. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2016-04-14.

CMOS image sensors with integrated RRAM-based crossbar array circuits

Номер патента: US11539906B2. Автор: Ning Ge,Wenbo Yin. Владелец: Tetramem Inc. Дата публикации: 2022-12-27.

Keyset Fingerprint Sensor with Backlight

Номер патента: US20170255275A1. Автор: Filipp DEMENSCHONOK,Timothy Francis PIER. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2017-09-07.

Keyset fingerprint sensor with backlight

Номер патента: WO2017151422A1. Автор: Filipp DEMENSCHONOK,Timothy Francis PIER. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2017-09-08.

Keyset fingerprint sensor with backlight

Номер патента: EP3423922A1. Автор: Filipp DEMENSCHONOK,Timothy Francis PIER. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2019-01-09.

Resistive force sensor with capacitive discrimination

Номер патента: US9654104B2. Автор: Fletcher R. Rothkopf,Stephen P. Zadesky. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Integrated circuit temperature sensor with a programmable offset

Номер патента: US5519354A. Автор: Jonathan M. Audy. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 1996-05-21.

Smoke sensor with test switch and method of operation thereof

Номер патента: US11776386B2. Автор: Kim Bouchard,Meagen Wyganowski. Владелец: Johnson Controls Tyco IP Holdings LLP. Дата публикации: 2023-10-03.

Touch sensor with fingerprint sensor

Номер патента: US11837008B2. Автор: Jang-Ung PARK,Jun Hyung Kim,Sang Yoon Ji. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2023-12-05.

Capacitive touch sensor with polarity normalization

Номер патента: US20160282986A1. Автор: Pedro Luis Fernandes Marques,Miguel Angelo Magalhaes Fonseca,Jose Miguel Fernandes Peixoto De Oliveira,António Augusto Babo de Carvalho. Владелец: Displax SA. Дата публикации: 2016-09-29.

Magnetic sensors with effectively shaped side shields

Номер патента: US20190221232A1. Автор: Quang Le,Jui-Lung Li,Xiaoyong Liu,Yongchul Ahn,Hongquan Jiang. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2019-07-18.

Film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: WO2022005916A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2022-01-06.

The manufacturing device of film thickness unevenness film and the manufacturing method of film thickness unevenness film

Номер патента: CN105829061B. Автор: 秋田励纪. Владелец: MGC Filsheet Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-05.

System using film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US11847776B2. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-19.

System using film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US20240062364A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US11836913B2. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Member with porous layer and coating liquid for forming porous layer

Номер патента: US12077467B2. Автор: Shuhei Yamamoto,Shun Ouchi,Tomonari Nakayama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Carrier with porous vacuum coating

Номер патента: WO2007054229B1. Автор: Hilmar Weinert. Владелец: Hilmar Weinert. Дата публикации: 2007-08-02.

Method of controlling film thickness distribution and method of manufacturing display apparatus using the method

Номер патента: US09931838B2. Автор: Minsoo Kim,Jongwon Kim,Dongjun Lee,Seungdon Lee,Hyunjin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Applying apparatus and method of controlling film thickness for enabling uniform thickness

Номер патента: TW546719B. Автор: Takashi Shimane. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2003-08-11.

Plastic optical component having a reflection prevention film and mechanism for making reflection prevention film thickness uniform

Номер патента: AU7238798A. Автор: Masaaki Yoshihara,Hitoshi Kamura,Hajime Kamiya. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 1998-12-08.

Chiral polymer microspheres with porous structures and manufacturing method thereof

Номер патента: US11214737B2. Автор: Ang Li,Nicholas L. Abbott,Jiawei Lu. Владелец: Jiangsu Jitri Smart Liquid Crystal Sci and Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-04.

Chiral polymer microspheres with porous structures and manufacturing method thereof

Номер патента: WO2020063447A1. Автор: Ang Li,Nicholas L. Abbott,Jiawei Lu. Владелец: Smart Liquid Crystal Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-04-02.

Chiral polymer microspheres with porous structures and manufacturing method thereof

Номер патента: US20210309916A1. Автор: Ang Li,Nicholas L. Abbott,Jiawei Lu. Владелец: Jiangsu Jitri Smart Liquid Crystal Sci and Tech Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-07.

Heat exchanger configuration with porous layer

Номер патента: US11946702B2. Автор: Pavel Hejzlar,James M. Vollmer,Mei He,Joon Hyung Choi,Samuel J. Miller,Daniel Eichel,Mathieu G. Martin. Владелец: TerraPower LLC. Дата публикации: 2024-04-02.

Member with porous layer and coating liquid for forming porous layer

Номер патента: EP3974875A3. Автор: Shuhei Yamamoto,Shun Ouchi,Tomonari Nakayama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-08-10.

Member with porous layer and coating liquid for forming porous layer

Номер патента: EP3974875A2. Автор: Shuhei Yamamoto,Shun Ouchi,Tomonari Nakayama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-03-30.

Polishing apparatus, polishing method and method for outputting visualization information of film thickness distribution on substrate

Номер патента: US12083646B2. Автор: Taro Takahashi,Toshiki Miyakawa,Hiroaki Shibue. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Electronic component mounting machine including a film thickness gauge

Номер патента: US09961818B2. Автор: Yoshinori Nagata. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Film thickness signal processing apparatus, polishing apparatus, film thickness signal processing method, and polishing method

Номер патента: US09555517B2. Автор: Akira Nakamura,Hidetaka Nakao,Taro Takahashi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Light intensity adjustment method for optical film thickness measuring device and polishing apparatus

Номер патента: US20240207997A1. Автор: Masaki Kinoshita. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Method of cleaning an optical film-thickness measuring system

Номер патента: US11919048B2. Автор: Nobuyuki Takahashi,Toru Maruyama,Taichi Yokoyama,Zhongxin WEN. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

High-rate filter with porous filtering medium and method of its blowback

Номер патента: RU2499629C1. Автор: Дзин Нак ЧОИ. Владелец: Мирэклуотер Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-11-27.

Microfluidic devices with porous membranes for molecular sieving, metering, and separations

Номер патента: EP1545777A1. Автор: Andrew Berlin,Narayanan Sundararajan,Mineo Yamakawa,Selena Chan. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-06-29.

Microfluidic devices with porous membranes for molecular sieving, metering, and separations

Номер патента: WO2004026476A1. Автор: Andrew Berlin,Narayanan Sundararajan,Mineo Yamakawa,Selena Chan. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2004-04-01.

Filling empty building brick with porous material

Номер патента: RU2641154C2. Автор: Паскаль ДЕЛЬ-ГАЛЛО,Николя РИШЕ,Себастьен ГУДАЛЛЬ. Владелец: Л'Эр Ликид, Сосьете Аноним Пур Л'Этюд Э Л'Эксплуатасьон Де Проседе Жорж Клод. Дата публикации: 2018-01-16.

Porous Substrate with Porous Nano-Particles Structure and Production Method Thereof

Номер патента: US20210062427A1. Автор: Wei-Hung Chiang,Yi-Jui Yeh. Владелец: National Taiwan University of Science and Technology NTUST. Дата публикации: 2021-03-04.

Porous substrate with porous nano-particles structure and production method thereof

Номер патента: US11624155B2. Автор: Wei-Hung Chiang,Yi-Jui Yeh. Владелец: National Taiwan University of Science and Technology NTUST. Дата публикации: 2023-04-11.

Bone prosthesis with porous coating

Номер патента: CA1227002A. Автор: Robert V. Kenna. Владелец: Pfizer Hospital Products Group Inc. Дата публикации: 1987-09-22.

Composite structure with porous metal

Номер патента: US20180354228A1. Автор: Wen-Zhen Li,hong-ying Fu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-13.

Containing vanadate filter with porous walls for selective catalytic recovery

Номер патента: RU2647848C2. Автор: Ральф ДОТЦЕЛЬ,Райнер ЛЕППЕЛЬТ,Йорг МЮНХ,Канесхалингам АРУЛРАДЖ,Александра Тсейми ГУДВИН,Гудмунд СМЕЛЬДЕР. Владелец: Джонсон Мэтти Паблик Лимитед Компани. Дата публикации: 2018-03-21.

Producing thermoplastic articles, particularly with porous walls

Номер патента: CA1198864A. Автор: Manfred A.A. Lupke. Владелец: Individual. Дата публикации: 1986-01-07.

Rocket engine with porous structure

Номер патента: US20230399999A1. Автор: Thomas NAGY-ZAMBO. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-14.

Foodstuffs shell with porous outer layer

Номер патента: RU2363575C2. Автор: Бернхард ФЕРОН,Штефани ШТАЛЬБЕРГ,Ульрих ДЕЛИУС,Михель ШМИДТ. Владелец: Калле Гмбх. Дата публикации: 2009-08-10.

Method of producing metallurgical billets with porous structure and device for its implementation

Номер патента: RU2605720C1. Автор: Андрей Витальевич Елисеев,Цоло Вълков Рашев. Владелец: Цоло Вълков Рашев. Дата публикации: 2016-12-27.

Method of preparing polyester elastomer meltblown nonwoven fabric membrane with porous and high bonding strength

Номер патента: US20210372018A1. Автор: Yu-Chuan Lin,Yao-Hung Kuo,Shu-Hui Huang,Sheng-Jen Lin,Yun-Chin Kuo,Jian-Fan CHEN. Владелец: Taiwan Textile Federation ROC. Дата публикации: 2021-12-02.

Control method of sensor with series-connected electric heaters of two spaced sensitive parts thereof

Номер патента: RU2739991C1. Автор: Александр Георгиевич Семёнов. Владелец: Александр Георгиевич Семёнов. Дата публикации: 2020-12-30.

Tire pressure monitoring system (TPMS) sensor with easily removable and replaceable battery

Номер патента: US12011954B2. Автор: Christian Haesemeyer. Владелец: Astra Sensor Technologies Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Modular tire pressure monitoring system (TPMS) sensor with easily removable and replaceable battery

Номер патента: US12011955B2. Автор: Christian Haesemeyer. Владелец: Astra Sensor Technologies Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Modular tire pressure monitoring system (tpms) sensor with easily removable and replaceable battery

Номер патента: US20240140145A1. Автор: Christian Haesemeyer. Владелец: Astra Sensor Technologies Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Tire pressure monitoring system (tpms) sensor with easily removable and replaceable battery

Номер патента: EP4330059A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: Astra Sensor Technologies Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Modular tire pressure monitoring system (tpms) sensor with easily removable and replaceable battery

Номер патента: US20240270028A1. Автор: Christian Haesemeyer. Владелец: Astra Sensor Technologies Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Tire pressure monitoring system (TPMS) sensor with easily removable and replaceable battery

Номер патента: US11738607B1. Автор: Christian Haesemeyer. Владелец: Astra Sensor Technologies Corp. Дата публикации: 2023-08-29.

Tire pressure monitoring system (tpms) sensor with easily removable and replaceable battery

Номер патента: WO2024015718A1. Автор: Christian Haesemeyer. Владелец: Astra Sensor Technologies Corp.. Дата публикации: 2024-01-18.

Tire pressure monitoring system (tpms) sensor with easily removable and replaceable battery

Номер патента: US20240017576A1. Автор: Christian Haesemeyer. Владелец: Astra Sensor Technologies Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Securely pairing a vehicle-mounted wireless sensor with a central device

Номер патента: US20230256780A1. Автор: Mark Duffy,Samuel K. Strahan,Samuel D. Houston. Владелец: Sensata Technologies Inc. Дата публикации: 2023-08-17.

Ultrasonic sensors with gas outlet holes for degassing of molten metals

Номер патента: RU2696163C1. Автор: Виктор Ф. РИНДКВИСТ. Владелец: САУСВАЙР КОМПАНИ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2019-07-31.

Adjusting the gas concentration in the washing machine by using transmitter or pressure sensor with automatic plc software

Номер патента: WO2023140821A1. Автор: Ali Yagcilar. Владелец: Gökhan Çimen. Дата публикации: 2023-07-27.

Arrangement Structure of Sensors With Respect to Seat

Номер патента: MY198183A. Автор: Koji Onuma,Hiromi Taniguchi,Soichiro Kamei. Владелец: TS Tech Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

System for controlling pixel array sensor with independently controlled sub pixels

Номер патента: US20180027191A2. Автор: Yoav GRAUER. Владелец: Brightway Vision Ltd. Дата публикации: 2018-01-25.

System for controlling pixel array sensor with independently controlled sub pixels

Номер патента: EP3085076A1. Автор: Yoav GRAUER. Владелец: Brightway Vision Ltd. Дата публикации: 2016-10-26.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US20160249799A1. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2016-09-01.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US09993151B2. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US09668647B2. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Systems and methods for predicting film thickness using virtual metrology

Номер патента: US20240249052A1. Автор: Ramachandran Subramanian,Bharath SUNDAR,Raman K. Nurani,Debkalpo Das,Bibhavendra Singh. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US20180279871A1. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2018-10-04.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US20190150728A1. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2019-05-23.

Chemically amplified positive photoresist composition for thick film, thick-film photoresist laminated product, manufacturing method for thick-film resist pattern, and manufacturing method for connection terminal

Номер патента: US20060141389A1. Автор: Toshiki Okui,Koichi Misumi. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-29.

Chemically amplified positive photoresist composition for thick film, thick-film photoresist laminated product, manufacturing method for thick-film resist pattern, and manufacturing method for connection terminal

Номер патента: US20060141388A1. Автор: Toshiki Okui,Koichi Misumi. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-29.

Chemically amplified positive photoresist composition for thick film, thick-film photoresist laminated product, manufacturing method for thick-film resist pattern, and manufacturing method for connection terminal

Номер патента: US7081327B2. Автор: Toshiki Okui,Koichi Misumi. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-25.

Conformal film thickness determination using angled geometric features and vertices tracking

Номер патента: US11876023B2. Автор: Christopher J. Penny,Marc A. Bergendahl,Jean Wynne,Jonathan Fry,Christopher J. Waskiewicz,James John Demarest. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Systems and methods for predicting film thickness using virtual metrology

Номер патента: US11989495B2. Автор: Ramachandran Subramanian,Bharath SUNDAR,Debkalpo Das,Raman K Nurani,Bibhavendra Singh. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-05-21.

Positive photoresist composition for forming thick resist film, thick resist laminate and method for forming resist pattern

Номер патента: TWI349164B. Автор: Masahiro Masujima,Toshihiro Yamaguchi,Hiroshi Shimbori,Sachiko Yoshizawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2011-09-21.

RESIST COMPOSITION FOR FORMING THICK-FILM RESIST FILM, THICK-FILM RESIST LAMINATE, AND RESIST PATTERN FORMING METHOD

Номер патента: US20210263412A1. Автор: JO Eun-Sol,OHNO Yoshiaki,YU Dae-cheol. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

SYSTEM AND METHOD FOR DYNAMICALLY DETERMINING REFRIGERANT FILM THICKNESS AND DYNAMICALLY CONTROLLING REFRIGERANT FILM THICKNESS AT ROLLING-ELEMENT BEARING OF AN OIL FREE CHILLER

Номер патента: US20220082315A1. Автор: Johnson Jay H.. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-17.

SYSTEM AND METHOD FOR DYNAMICALLY DETERMINING REFRIGERANT FILM THICKNESS AND DYNAMICALLY CONTROLLING REFRIGERANT FILM THICKNESS AT ROLLING-ELEMENT BEARING OF AN OIL FREE CHILLER

Номер патента: US20170176076A1. Автор: Johnson Jay H.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

SYSTEM AND METHOD FOR DYNAMICALLY DETERMINING REFRIGERANT FILM THICKNESS AND DYNAMICALLY CONTROLLING REFRIGERANT FILM THICKNESS AT ROLLING-ELEMENT BEARING OF AN OIL FREE CHILLER

Номер патента: US20190293334A1. Автор: Johnson Jay H.. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

Manufacture of semiconductor device, film thickness optimization device and film thickness optimization method

Номер патента: JPH1174176A. Автор: 学 冨田,Koji Komoritani,浩司 籠谷,Manabu Tomita. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1999-03-16.

Thickness compensation by modulation of number of deposition cycles as a function of chamber accumulation for wafer to wafer film thickness matching

Номер патента: US20190085448A1. Автор: Richard Phillips,Chloe Baldasseroni,Nishanth Manjunath. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

Film thickness regulator and manufacturing method thereof, film thickness regulating method and evaporation apparatus

Номер патента: US09930787B2. Автор: Zhongyuan Sun,Xiaohu Li. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Disk hub for retaining and rotating magnetic recording media during film thickness measurement

Номер патента: US20240203452A1. Автор: QI Sun,David William Oswald. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Thickness compensation by modulation of number of deposition cycles as a function of chamber accumulation for wafer to wafer film thickness matching

Номер патента: US20190085448A1. Автор: Richard Phillips,Chloe Baldasseroni,Nishanth Manjunath. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

THICKNESS COMPENSATION BY MODULATION OF NUMBER OF DEPOSITION CYCLES AS A FUNCTION OF CHAMBER ACCUMULATION FOR WAFER TO WAFER FILM THICKNESS MATCHING

Номер патента: US20200299838A1. Автор: Phillips Richard,Baldasseroni Chloe,Manjunath Nishanth. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-24.

Positive resist composition for forming thick resist film, thick resist laminate, and resist pattern forming method

Номер патента: JP4937594B2. Автор: 博 新堀,正宏 増島,敏弘 山口,佐智子 吉澤. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-23.

Thickness compensation by modulation of number of deposition cycles as a function of chamber accumulation for wafer to wafer film thickness matching

Номер патента: SG11202002269QA. Автор: Richard Phillips,Chloe Baldasseroni,Nishanth Manjunath. Владелец: Lam Res Corp. Дата публикации: 2020-04-29.

Apparatus and method for improving film thickness uniformity

Номер патента: US20210043483A1. Автор: Xiaoxu KANG,Xiaolan ZHONG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-11.

FULL-EYE ILLUMINATION OCULAR SURFACE IMAGING OF AN OCULAR TEAR FILM FOR DETERMINING TEAR FILM THICKNESS AND/OR PROVIDING OCULAR TOPOGRAPHY

Номер патента: US20190150728A1. Автор: Korb Donald R.,Grenon Stephen M.. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-23.

FULL-EYE ILLUMINATION OCULAR SURFACE IMAGING OF AN OCULAR TEAR FILM FOR DETERMINING TEAR FILM THICKNESS AND/OR PROVIDING OCULAR TOPOGRAPHY

Номер патента: US20160249799A1. Автор: Korb Donald R.,Grenon Stephen M.. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-01.

FULL-EYE ILLUMINATION OCULAR SURFACE IMAGING OF AN OCULAR TEAR FILM FOR DETERMINING TEAR FILM THICKNESS AND/OR PROVIDING OCULAR TOPOGRAPHY

Номер патента: US20170265740A1. Автор: Korb Donald R.,Grenon Stephen M.. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

FULL-EYE ILLUMINATION OCULAR SURFACE IMAGING OF AN OCULAR TEAR FILM FOR DETERMINING TEAR FILM THICKNESS AND/OR PROVIDING OCULAR TOPOGRAPHY

Номер патента: US20180279871A1. Автор: Korb Donald R.,Grenon Stephen M.. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-04.

Preparation of film thickness distributed film

Номер патента: JPS6375707A. Автор: Toshihiro Suzuki,敏弘 鈴木,Yasuyuki Todokoro,泰之 外處. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1988-04-06.

Mfg. printing plates using stacked copying templates - holds film support template edges apart in stack for film thickness

Номер патента: DE3937556A1. Автор: Des Erfinders Auf Nennung Verzicht. Владелец: Krause Biagosch GmbH. Дата публикации: 1991-05-16.

Magnetic head with an electrode film including different film thicknesses

Номер патента: US7848055B2. Автор: Atsushi Yamaguchi,Kiyoshi Noguchi,Masashi Sano,Shingo Miyata. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Method of making solar cell/module with porous silica antireflective coating

Номер патента: EP1949449A1. Автор: Thomas J. Taylor,Nathan P. Mellott. Владелец: Guardian Industries Corp. Дата публикации: 2008-07-30.

Electro optic display device with porous sub-layer and method

Номер патента: US5689319A. Автор: Teunis J. Vink,Willem Walrave. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1997-11-18.

Method of manufacturing semiconductor apparatus including measuring a film thickness of an SOG film

Номер патента: US11037840B2. Автор: Yuji Kawasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-06-15.

Apparatus and method for improving film thickness uniformity

Номер патента: US11769679B2. Автор: Xiaoxu KANG,Xiaolan ZHONG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

An electron beam evaporator with prolonged inter-maintenance periods and greater film thickness monitoring stability

Номер патента: GB201117595D0. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2011-11-23.

Method and apparatus for film thickness adjustment

Номер патента: US20090236312A1. Автор: Sergey Mishin. Владелец: Advanced Modular System Inc. Дата публикации: 2009-09-24.

System and method for controlling film thickness, and film deposition system and method using same

Номер патента: EP4222291A1. Автор: Andrew Campbell,Paul Clarke,Mike Miller,Erik Smith,Timothy Brenner,Jonathan Boulanger,David PITTS,Craig Reynolds. Владелец: Angstrom Engineering Inc. Дата публикации: 2023-08-09.

System and method for controlling film thickness, and film deposition system and method using same

Номер патента: CA3188407A1. Автор: Andrew Campbell,Paul Clarke,Mike Miller,Erik Smith,Timothy Brenner,Jonathan Boulanger,David PITTS,Craig Reynolds. Владелец: Angstrom Engineering Inc. Дата публикации: 2022-04-07.

Test pattern group and a method of measuring an insulation film thickness utilizing the same

Номер патента: US5801538A. Автор: Oh Jung Kwon. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-09-01.

Film thickness uniformity improvement using edge ring and bias electrode geometry

Номер патента: US20220028656A1. Автор: WEI Liu,JACOB Abraham,Kin Pong Lo,Theresa Kramer Guarini,Malcolm J. Bevan,Vladimir Nagorny,Bernard L. Hwang,Swayambhu Prasad BEHERA. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-01-27.

Film thickness uniformity improvement using edge ring and bias electrode geometry

Номер патента: EP4189723A1. Автор: WEI Liu,JACOB Abraham,Kin Pong Lo,Theresa Kramer Guarini,Malcolm J. Bevan,Vladimir Nagorny,Bernard L. Hwang,Swayambhu Prasad BEHERA. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-06-07.

Axis determination apparatus, film-thickness measurement apparatus, deposition apparatus, axis determination method, and film-thickness measurement method

Номер патента: US20020071129A1. Автор: Kai Chen,Shizuo Nakamura,Fumihiko Omura,Akihito Minamitsu. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2002-06-13.

Semiconductor device having electrode film in which film thickness of periphery is thinner than film thickness of center

Номер патента: US20090057836A1. Автор: Tadahiro Okazaki. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2009-03-05.

Process for electrophoretic film deposition achieving increased film thickness

Номер патента: CA1212352A. Автор: Rene J. Al,John W. Krise, Jr.. Владелец: Dresser Industries Inc. Дата публикации: 1986-10-07.

Devices for measuring and controlling fluid film thickness of a hydrostatic or hydrodynamic bearing

Номер патента: EP2113055A1. Автор: Johan Larsson,Anna Lind. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2009-11-04.

Semiconductor device with porous decoupling feature and method for fabricating the same

Номер патента: US20210375881A1. Автор: Tse-Yao Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2021-12-02.

Industrial fabric with porous surface plasticised by specified value

Номер патента: RU2488655C2. Автор: Фрэнсис Л. ДЭВЕНПОРТ,Леннарт ОЛСОН. Владелец: Олбани Интернешнл Корп.. Дата публикации: 2013-07-27.

Fibrous nonwoven fabric with porous structure

Номер патента: RU2603592C1. Автор: ХюнБюм КИМ,ЧуХюн ЛИ,ХюнВоо ПХАРК,СонДэ РОХ,СоЁн СОН,СунСу А. КИМ,Се ЦЗИХУА. Владелец: Кимберли-Кларк Ворлдвайд, Инк.. Дата публикации: 2016-11-27.

Battery plates covered with porous thermoplastic resin

Номер патента: CA1102409A. Автор: Tsutomu Iwaki,Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1981-06-02.

Battery with porous material and fabrication method thereof

Номер патента: EP1803179A1. Автор: Ki Bang Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-04.

Composite prosthetic device with porous polymeric coating

Номер патента: CA1057902A. Автор: Barry W. Sauer. Владелец: Glasrock Products Inc. Дата публикации: 1979-07-10.

Solid polymer electrolyte fuel cell system with porous plate evaporative cooling

Номер патента: CA1309127C. Автор: Harold Russell Kunz. Владелец: International Fuel Cells Corp. Дата публикации: 1992-10-20.

Contact target sensor with self-destroying device

Номер патента: RU2634945C1. Автор: Владимир Викторович Черниченко. Владелец: Владимир Викторович Черниченко. Дата публикации: 2017-11-08.

Monolithic three-chamber pneumatic sensor with integrated throttle channels for continuous non-invasive measurement of arterial pressure

Номер патента: RU2675066C1. Автор: Василий Викторович Бонч-Бруевич,Валерий Васильевич Дементиенко,Александр Степанович Бугаев,Вячеслав Евгеньевич Анциперов,Геннадий Константинович Мансуров. Владелец: Акционерное Общество "Нейроком". Дата публикации: 2018-12-14.

Pressure sensor with integral low energy consumption temperature transmitter

Номер патента: RU2730890C1. Автор: Михаил Викторович Басов. Владелец: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Всероссийский Научно-Исследовательский Институт Автоматики Им.Н.Л.Духова" (Фгуп "Внииа"). Дата публикации: 2020-08-26.

Solid-state image sensor with reduced image blur and colour blending

Номер патента: RU2444150C1. Автор: Тору КОИЗУМИ,Соудзи КОУНО. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2012-02-27.

Muscle thickness sensor

Номер патента: US20090227903A1. Автор: Steve Carkner,Allison Oldfield. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-09-10.

Image Sensors with Color, Panchromatic and Infrared Pixels

Номер патента: US20210021790A1. Автор: Tripurari Singh,Mritunjay Singh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-01-21.

Image sensors with adjustable pixel density and pixel density adjustment methods thereof

Номер патента: US20170229499A1. Автор: Lin Du. Владелец: Beijing Zhigu Ruituo Technology Services Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Image sensors with adjustable pixel density and pixel density adjustment methods thereof

Номер патента: WO2016019810A1. Автор: Lin Du. Владелец: BEIJING ZHIGU RUI TUO TECH CO., LTD.. Дата публикации: 2016-02-11.

Microcontroller pulse sensor with transmission of information on radio channel

Номер патента: RU2646131C1. Автор: Александр Витальевич Вострухин,Евгений Данилович Лоскутов,Наталья Владимировна Гривенная. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Донской государственный технический университет"(ДГТУ). Дата публикации: 2018-03-01.

Image sensors with controlled air gaps

Номер патента: US20220013563A1. Автор: Nathan Wayne CHAPMAN,Brian Anthony VAARTSTRA,Amanda Thuy Trang VU. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2022-01-13.

Time delay integration image sensor with detection of travelling errors

Номер патента: US09967490B2. Автор: Frederic Mayer,Bertrand DE MONTE. Владелец: e2v Semiconductors SAS. Дата публикации: 2018-05-08.

Image sensors with improved surface planarity

Номер патента: US09847359B2. Автор: Ulrich Boettiger,Swarnal Borthakur,Richard Mauritzson,Aaron BELSHER. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2017-12-19.

Image sensors with backside trench structures

Номер патента: US09748298B2. Автор: Sergey Velichko,Victor Lenchenkov. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2017-08-29.

Replaceable panel structure and socket, switch and humidity sensor with replaceable panel

Номер патента: US09564745B1. Автор: Wei Gao,LiDong Ni. Владелец: Wenzhou MTLC Electrical Appliances Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Backside illuminated image sensor with three-dimensional transistor structure and forming method thereof

Номер патента: US20200135777A1. Автор: Wenqiang Li,Jie Li,Yonggang Wang,Lixin Zhao. Владелец: Galaxycore Shanghai Ltd Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Image sensors with stress adjusting layers

Номер патента: US11769780B2. Автор: Ying-Hao Chen,Yun-Wei Cheng,Kuo-Cheng Lee,Feng-Chien Hsieh. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Molecular sensor with double fluorescence detection signals for acid environment and application thereof

Номер патента: NL2030169A. Автор: Wu Ping,Wang Fang,Feng Jun,Jia Chunxiao,ZHOU Lianwen,Gao Yanyan,Shen Qingjun,Mao Shufei,Hua Xiaoying. Владелец: Univ Dezhou. Дата публикации: 2023-03-31.

Complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) image sensor with silicon and silicon germanium

Номер патента: US09859325B2. Автор: JHY-JYI SZE,Yueh-Chuan Lee,Chia-Chan Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Light fixture including adjustable motion sensor with rectangular coverage pattern

Номер патента: US09726359B1. Автор: Bradford Brian Jensen,Kim Irwin McCavit. Владелец: Hkc-Us LLC. Дата публикации: 2017-08-08.

Image sensor with 3D stack structure

Номер патента: US09484375B2. Автор: Kyung Su BYUN. Владелец: Siliconfile Technologies Inc. Дата публикации: 2016-11-01.

Image sensing device including image sensor with high dynamic range

Номер патента: US20070080283A1. Автор: Jin Kim,Seung Lee,Jong Won,Yong Ha,Hak Lee,Heung Kim,Ui Yi,Woo Kwon,Seung Cha,Tae Shin. Владелец: C Est Image Inc. Дата публикации: 2007-04-12.

Sensor with lux off function and method for switching off

Номер патента: US20150366034A1. Автор: Yabing CHENG. Владелец: Hytronik Electronics Co ltd. Дата публикации: 2015-12-17.

Method for making image sensor with reduced etching damage

Номер патента: EP1746657A3. Автор: Howard E. Rhodes. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2009-10-07.

Image sensing device including image sensor with high dynamic range

Номер патента: US20060097130A1. Автор: Jin Kim,Seung Lee,Jong Won,Yong Ha,Hak Lee,Heung Kim,Woo Kwon,Seung Cha,Tae Shin,Ui Yl. Владелец: C Est Image Inc. Дата публикации: 2006-05-11.

Image sensors with a tunable floating diffusion structure

Номер патента: US20240250110A1. Автор: Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Devis CONTARATO,Abbas Haddadi. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Image sensor with pixel wiring to reflect light

Номер патента: WO2008110940A4. Автор: Hiok Nam Tay. Владелец: Hiok Nam Tay. Дата публикации: 2009-12-10.

CMOS image sensor with asymmetric well structure of source follower

Номер патента: US20060157746A1. Автор: Hee-Jeong Hong. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2006-07-20.

Cmos image sensor with asymmetric well structure of source follower

Номер патента: US20110086458A1. Автор: Hee-Jeong Hong. Владелец: Crosstek Capital LLC. Дата публикации: 2011-04-14.

Image sensor with image receiver and automatic image switching

Номер патента: US20240339465A1. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Image sensor with image receiver and automatic image combining

Номер патента: US20240340508A1. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Image sensor with image receiver and automatic image switching

Номер патента: US12119357B2. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Image sensor with image receiver and automatic image combining

Номер патента: US12096100B2. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Image sensor with non-local readout circuit and optoelectronic device comprising said image sensor

Номер патента: US09955100B2. Автор: Gerasimos KONSTANTATOS,Frank KOPPENS,Stijn Goossens,Juan JoséPiqueras. Владелец: Institut de Ciencies Fotoniques ICFO. Дата публикации: 2018-04-24.

Occupancy sensor with dimmer feature and night light and method of lighting control using the same

Номер патента: US09820357B2. Автор: Thomas J. Batko,Christopher C. Primous. Владелец: Hubbell Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Frontside illuminated (FSI) image sensor with a reflector

Номер патента: US09812482B2. Автор: Dun-Nian Yaung,Jen-Cheng Liu,Tzu-Hsuan Hsu,Jeng-Shyan Lin,Hsun-Ying Huang,Min-Feng KAO. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Backside illuminated (BSI) image sensor with a reflector

Номер патента: US09761623B2. Автор: Yueh-Chuan Lee,Chia-Chan Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Streaking-free cmos image sensor with on-gate dual-electrode pass transistor

Номер патента: US20220139977A1. Автор: Yu Zhang,Jing Gao,Jiangtao Xu,Kaiming Nie. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-05-05.

CMOS image sensor with peninsular ground contracts and method of manufacturing the same

Номер патента: US09653511B2. Автор: Gang Chen,Duli Mao,Dyson Hsinchin Tai. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Image sensors with photoelectric films

Номер патента: US09601538B2. Автор: Gennadiy Agranov,Jaroslav Hynecek. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2017-03-21.

Image sensors with voltage-biased trench isolation structures

Номер патента: US09584744B2. Автор: Victor Lenchenkov,Hamid Soleimani. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2017-02-28.

Sensor with LUX off function and method for switching off

Номер патента: US09538611B2. Автор: Yabing CHENG. Владелец: Hytronik Electronics Co ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

An improved light sensor with increased dynamic range

Номер патента: WO2000051344A1. Автор: Roy T. Trevino,Dung C. Nguyen,E. Ray Hirt. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2000-08-31.

Image sensors with a tunable floating diffusion structure

Номер патента: WO2024158603A1. Автор: Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Devis CONTARATO,Abbas Haddadi. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-08-02.

Biomolecular sensor with a microelectronic generator of an electromagnetic wave

Номер патента: RU2749698C1. Автор: Елена Николаевна Величко,Олег Юрьевич Цыбин. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого" (ФГАОУ ВО "СПбПУ"). Дата публикации: 2021-06-16.

Magnetic current sensor with a film concentrator

Номер патента: RU2656237C2. Автор: Роберт Дмитриевич Тихонов. Владелец: Роберт Дмитриевич Тихонов. Дата публикации: 2018-06-04.

Patient-worn wireless physiological sensor with pairing functionality

Номер патента: US11825536B2. Автор: Ammar Al-Ali. Владелец: Masimo Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Digital image system and method for combining sensing and image processing on sensor with two-color photo-detector

Номер патента: US20030128409A1. Автор: Izhak Baharav,Dietrich Vook. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-10.

Patient-worn wireless physiological sensor with pairing functionality

Номер патента: US20240129969A1. Автор: Ammar Al-Ali. Владелец: Masimo Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Cmos image sensor with 3d monolithic osfet and femim

Номер патента: US20240047485A1. Автор: Shou-Zen Chang,Ming-Han Liao,Min-Cheng Chen,Shang-Shiun Chuang. Владелец: Powerchip Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Method (versions) and system for engine control based on assessment of air-fuel ratio by means of oxygen sensor with variable voltage

Номер патента: RU2717476C2. Автор: Гопичандра СУРНИЛЛА,Ричард Е. СОЛТИС,Дэниэл А. МАКЛЕД,Кеннет Джон БЕР. Владелец: ФОРД ГЛОБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЛЛК. Дата публикации: 2020-03-23.

Image sensor with a high absorption layer

Номер патента: US11830892B2. Автор: Yu-Lung Yeh,Chien-Chang Huang,Chien Nan Tu,Ming-Chi Wu,Ji Heng Jiang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Proximity sensor with integrated control features and method of operation thereof

Номер патента: WO2021104676A1. Автор: Shane Morse Rowell. Владелец: Eaton Intelligent Power Limited. Дата публикации: 2021-06-03.

Image sensor with a high absorption layer

Номер патента: US20230387150A1. Автор: Yu-Lung Yeh,Chien-Chang Huang,Chien Nan Tu,Ming-Chi Wu,Ji Heng Jiang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Backside-Illuminated Color Image Sensors With Crosstalk-Suppressing Color Filter Array

Номер патента: US20180076247A1. Автор: Chih-Wei Hsiung,Boyang Zhang,Wu-Zang Yang,Chia-Ying Liu,Chun-Yung Ai,Chin-Poh Pang. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2018-03-15.

Piezoelectric speaker, piezoelectric audio device employing piezoelectric speaker, and sensor with alert device attached

Номер патента: CA2748252C. Автор: Akihiro Nishikawa,Minoru Fukushima,Kosaku Kitada,Osamu Akasaka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-05-27.

Image sensor with double charge transfer for large dynamic range and method of reading

Номер патента: CA2746019C. Автор: Jacques Leconte. Владелец: e2v Semiconductors SAS. Дата публикации: 2017-08-29.

CMOS image sensor with different pixel sizes for different colors

Номер патента: US6137100A. Автор: Eric R. Fossum,Michael Kaplinsky. Владелец: Photobit Corp. Дата публикации: 2000-10-24.

Image sensor with inter-pixel isolation

Номер патента: GB2460010A. Автор: Hiok Nam Tay. Владелец: Candela Microsystems Inc. Дата публикации: 2009-11-18.

Flexible sensor with bulge enhancing contact

Номер патента: US6112107A. Автор: Don Hannula. Владелец: Nellcor Puritan Bennett LLC. Дата публикации: 2000-08-29.

Image sensor with inter-pixel isolation

Номер патента: US20090039400A1. Автор: Hiok Nam Tay. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-02-12.

Active pixel sensor with noise cancellation

Номер патента: US20020036700A1. Автор: Richard Merrill. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-28.

Occupancy sensor with dimmer feature and night light and method of lighting control using the same

Номер патента: US9357620B2. Автор: Thomas J. Batko,Christopher C. Primous. Владелец: Hubbell Inc. Дата публикации: 2016-05-31.

Tamper-respondent sensors with random three-dimensional security patterns

Номер патента: US20230068967A1. Автор: John Torok,Jason T. Wertz,John S. Werner,Arkadiy O. Tsfasman,Noah Singer,Budy Notohardjono. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Image sensor with image receiver and automatic image switching

Номер патента: US20210111207A1. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2021-04-15.

CMOS image sensor with LED flickering reduction and low color cross-talk

Номер патента: US11810928B2. Автор: Duli Mao,Alireza Bonakdar,Chengming Liu,Bill Phan,Zhiqiang Lin,Seong Yeol Mun,Yuanliang Liu. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Image sensor with image receiver and automatic image switching

Номер патента: US20220181367A1. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2022-06-09.

Image sensor with image receiver and automatic image switching

Номер патента: US11843006B2. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2023-12-12.

Fabricating tamper-respondent sensors with random three-dimensional security patterns

Номер патента: US11877390B2. Автор: John Torok,Jason T. Wertz,John S. Werner,Arkadiy O. Tsfasman,Noah Singer,Budy Notohardjono. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Image pixels having ir sensors with reduced exposure to visible light

Номер патента: US20230230989A1. Автор: Swarnal Borthakur,Andrew Eugene PERKINS. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2023-07-20.

Image sensor with a plurality of super-pixels

Номер патента: US11979673B2. Автор: Thomas Finateu,Christoph Posch,Daniel Matolin. Владелец: Prophesee SA. Дата публикации: 2024-05-07.

Image sensor with image receiver and automatic image combining

Номер патента: US20230353847A1. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Image sensor with image receiver and automatic image switching

Номер патента: US20240072076A1. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Image sensor with image receiver and automatic image combining

Номер патента: US11765447B2. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Image sensor with image receiver and automatic image combining

Номер патента: US11418692B2. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2022-08-16.

Image sensor with image receiver and automatic image combining

Номер патента: US20200236264A1. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2020-07-23.

Shallow semiconductor sensor with fluorescent molecule layer that eliminates optical and electronic crosstalk

Номер патента: WO2007142789A2. Автор: Russell W. Gruhlke,Thomas E. Dungan,Mark D. Crook. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2007-12-13.

Image sensor with image receiver and automatic image combining

Номер патента: US20210243345A1. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Image sensor with image receiver and automatic image combining

Номер патента: US20220294952A1. Автор: Zhaojian Li,Jiangtao Pang. Владелец: Cista System Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Integrated paint quality control system for painting process for motor vehicle bodies has film thickness sensor system to measure paint thickness on body, and control system to receive information about film thickness

Номер патента: DE10136328A1. Автор: Dimitar P Filev,Steve A Weiner,Thomas P Larsson. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2002-05-29.

Method of controlling the film thickness at a blown film extruder installation

Номер патента: CA1163066A. Автор: Gerd Klinge,Gerhard Winkler,Hartmut Upmeier. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 1984-03-06.

Method of controlling the film thickness of flat films produced in flat film extruder installations

Номер патента: US4426239A. Автор: Hartmut Upmeier. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 1984-01-17.

Adjustable wet film thickness applicator capable of forming films of uniform thickness & non-uniform thickness

Номер патента: GB8818347D0. Автор: . Владелец: GARDNER PAUL N Inc. Дата публикации: 1988-09-07.

Method and apparatus for determining a thickness distribution system of a doubly flattened film web, method for adjusting the film thickness profile of a doubled flattened film web, use of a method of adjusting a film thickness profile, and blown film equipment for producing a doubly flattened film web

Номер патента: DE102016012469A1. Автор: Christoph Lettowsky,Paul Walach,Holger Schumacher. Владелец: Reifenhaeuser GmbH and Co KG Maschinenenfabrik. Дата публикации: 2018-04-19.

Methods for measurement and control of ink concentration and film thickness

Номер патента: CA2605449C. Автор: Danny Rich. Владелец: Sun Chemical Corp. Дата публикации: 2013-10-08.

System and method for refilling cosmetic packaging with porous applicator

Номер патента: WO2024226146A1. Автор: William Bickford,Jason FYFE,Wenzhen Cheng. Владелец: L'oreal. Дата публикации: 2024-10-31.

FILM THICKNESS SIGNAL PROCESSING APPARATUS, POLISHING APPARATUS, FILM THICKNESS SIGNAL PROCESSING METHOD, AND POLISHING METHOD

Номер патента: US20160074987A1. Автор: NAKAMURA Akira,Takahashi Taro,Nakao Hidetaka. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

METHOD FOR MEASURING VARNISH FILM THICKNESS OF PRINTED ARTICLE AND VARNISH FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190232639A1. Автор: NUMAUCHI Hiromitsu. Владелец: KOMORI CORPORATION. Дата публикации: 2019-08-01.

Three or more layer polyolefin film: inner adhesive layer has a thickness of less than 10 percent of total film thickness

Номер патента: NZ216126A. Автор: J R Purdy. Владелец: Ici Plc. Дата публикации: 1988-08-30.

Film thickness signal processing apparatus, grinding device, film thickness signal processing method and grinding method

Номер патента: CN105428229B. Автор: 高桥太郎,中村显,中尾秀高. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2019-03-01.

Ceramic honeycomb bodies having multimodal pore size distribution from walls with porous surface structure formed in situ during extrusion

Номер патента: WO2024118416A1. Автор: Monika Backhaus-Ricoult,Linda Kay Bohart. Владелец: CORNING INCORPORATED. Дата публикации: 2024-06-06.

Heat exchanger with porous material

Номер патента: US11698230B2. Автор: Ling Chen,Matthew Lambrech,Joseph M. Daly,Andrew Skok,Kazim NAQVI,Dennis FARRENKOPF,Allen ADRIANI. Владелец: Fuelcell Energy Inc. Дата публикации: 2023-07-11.

Method of making catheters with porous structure for carrying additional agents

Номер патента: US20060062896A1. Автор: Matt Pursley. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-23.

Rotor Blade Tracking Wedge with Porous Elements

Номер патента: US20230331377A1. Автор: Michael J. Mcnulty,Robert T. Loftus. Владелец: Haymatt LLC. Дата публикации: 2023-10-19.

Air separation unit heat exchanger with porous boiling surface coatings

Номер патента: US20180299035A1. Автор: Zigui Lu,Joseph M. CORPUS,Maulik R. Shelat,Sang Muk KWARK,Jonathan A. Lane,David P. Potempa. Владелец: Praxair Technology Inc. Дата публикации: 2018-10-18.

Implant with porous outer cortical layer

Номер патента: US12115072B2. Автор: Aaron Noble,Jaing Qian. Владелец: Poriferous LLC. Дата публикации: 2024-10-15.

Method of controlling the film thickness of flat films produced in flat film extruder installations

Номер патента: GB2070290B. Автор: . Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 1984-02-08.

Synthetic resin film, method of uniforming the film thickness upon molding of such film and apparatus therefor

Номер патента: EP0423386A1. Автор: Jitsumi Shinmoto. Владелец: Tomi Machinery Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1991-04-24.

PROCEDURE FOR THE ADJUSTMENT OF THE FILM THICKNESS ON FLAT FILMS PRODUCED IN EXTRUSION PLANTS FOR FLAT FILMS

Номер патента: IT1135012B. Автор: Hartmut Upmeier. Владелец: Windmoeller & Hoelscher. Дата публикации: 1986-08-20.

Process and device for controlling the film thickness of stretched tubular film produced in the film blowing process

Номер патента: DE102022000351A1. Автор: Bernd Bayer,Georg Scharpf,Hans-Peter Schüle. Владелец: Hosokawa Alpine AG. Дата публикации: 2023-08-03.

Apparatus for supporting substrate, apparatus for measuring surface potential, apparatus for measuring film thickness, and apparatus for inspecting substrate

Номер патента: US7869062B2. Автор: Takamasa Sakai,Yoshiyuki Nakazawa. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-11.

Apparatus for supporting substrate, apparatus for measuring surface potential, apparatus for measuring film thickness, and apparatus for inspecting substrate

Номер патента: US20080174637A1. Автор: Takamasa Sakai,Yoshiyuki Nakazawa. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2008-07-24.

Aircraft components with porous portion and methods of making

Номер патента: US09903275B2. Автор: Alain Bouthillier,Orlando Scalzo,Marc Campomanes. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Electrowetting coalescence device with porous layers

Номер патента: US11819782B2. Автор: George Chase,Ashish BANDEKAR,Ashish GADHAVE. Владелец: UNIVERSITY OF AKRON. Дата публикации: 2023-11-21.

Transport the transport section and packing machine of the small film section of film thickness

Номер патента: CN207943224U. Автор: 尤尔根·维纳,赫尔伯特·斯宾徳勒,彼得·科赫,汉斯·鲁伯尔,安德烈亚斯·哥特迈耶,彼得·海达赫. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2018-10-09.

Film forming device including a mold and a film thickness adjusting portion that has a plurality of adjusting units, a cooling device, and a clogging member

Номер патента: TW201836819A. Автор: 宏,中野勝之. Владелец: 日商住友重機械摩登股份有限公司. Дата публикации: 2018-10-16.

Film Laminating System and Film Thickness ControI Method thereof

Номер патента: KR100613699B1. Автор: 신기재. Владелец: 신기재. Дата публикации: 2006-08-21.

Film extrusion apparatus having improved film thickness control means

Номер патента: US3096543A. Автор: Henry A Konopacke,John C Cunnigham. Владелец: Olin Corp. Дата публикации: 1963-07-09.

Method for adjusting incoming film thickness uniformity such that variations across the film after polishing minimized

Номер патента: US6546306B1. Автор: Scott Bushman,William Jarrett Campbell. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-04-08.

Process of controlling the film thickness of blow-formed and axially and preferably biaxially stretched tubular films

Номер патента: CA2030843A1. Автор: Werner Feistkorn,Klaus-Peter Voss. Владелец: Windmoller & Holscher. Дата публикации: 1991-06-14.

Edge positioner for flexible film - with curved mutually parallel guide surfaces spaced at max film thickness or more

Номер патента: FR2221940A6. Автор: . Владелец: Centre National dEtudes Spatiales CNES. Дата публикации: 1974-10-11.

Method for controlling the film thickness on a blown film extruder

Номер патента: DE3014989C2. Автор: Hartmut 4540 Lengerich Upmeier. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 1991-01-24.

Polyimide film thickness control mechanism and polyimide film production equipment

Номер патента: CN113001851A. Автор: 杨子健,李永强,徐伟伟,杨骥,徐凡,吴魁,王飞鹏,刘顺成,何渝霜,李献宝,申子嘉,高正荣. Владелец: Yangzhou Suwei New Material Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-22.

Electrostatic chuck with porous plug

Номер патента: WO2023150006A1. Автор: Arvinder CHADHA,Tomoaki KOHZU. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-08-10.

Electrostatic chuck with porous plug

Номер патента: US20230241731A1. Автор: Arvinder CHADHA,Tomoaki KOHZU. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-08-03.

Filter element with porous nickel-based alloy substrate and metal oxide membrane

Номер патента: WO2002026366A9. Автор: James A Gill. Владелец: Graver Technologies Inc. Дата публикации: 2003-03-27.

Filter element with porous nickel-based alloy substrate and metal oxide membrane

Номер патента: WO2002026366A3. Автор: James A Gill. Владелец: Graver Technologies Inc. Дата публикации: 2002-05-30.

Filter element with porous nickel-based alloy substrate and metal oxide membrane

Номер патента: WO2002026366A2. Автор: James A. Gill. Владелец: Graver Technologies, Inc.. Дата публикации: 2002-04-04.

Electroswing adsorption cell with porous electrodes for separation of gas components

Номер патента: WO2024196528A2. Автор: Bhooshan C. Popere. Владелец: Verdox, Inc.. Дата публикации: 2024-09-26.

Electroswing adsorption cell with porous electrodes for separation of gas components

Номер патента: WO2024196528A3. Автор: Bhooshan C. Popere. Владелец: Verdox, Inc.. Дата публикации: 2024-10-31.

Pressure release device for housings with flameproof encapsulation with porous body having interference fit

Номер патента: US09492694B2. Автор: Ulrich Mann,Bernd Limbacher,Helmut Würz. Владелец: R Stahl Schaltgeraete GmbH. Дата публикации: 2016-11-15.

Polishing pad with porous interface and solid core, and related apparatus and methods

Номер патента: US09463551B2. Автор: Robert Vacassy,George Fotou. Владелец: Cabot Microelectronics Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Medical device with porous surface and method for producing same

Номер патента: US09353235B1. Автор: Wei-Hsiang Chang,Stephen Lee Laffoon,Christopher S. D. Lee,David Lee Safranski. Владелец: Vertera Inc. Дата публикации: 2016-05-31.

Touch fastener with porous metal containing layer

Номер патента: CA2239777C. Автор: Samuel W. Pollard,Donald L. Banfield,Peter E. Leach,Carol A. Watts,Lawrence E. Lacombe. Владелец: Velcro Industries BV. Дата публикации: 2005-07-12.

Method for constructing porous micro-nano structure, and material with porous micro-nano structure

Номер патента: US11851771B1. Автор: Wei Meng,Xinghua Wu,Guohuang TAN,Minghao XIAO. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-12-26.

Method of making hypersonic leading-edge heat pipe with porous wick

Номер патента: US11840332B1. Автор: Tobias A. Schaedler,Jacob M. Hundley,Mark R. O'masta,Christopher S Roper,Tiffany Stewart. Владелец: HRL LABORATORIES LLC. Дата публикации: 2023-12-12.

Honeycomb body with porous material

Номер патента: EP3847142A1. Автор: CAI Liu,Jianguo Wang,Dale Robert Powers,Huiqing Wu,Xinfeng XING. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2021-07-14.

Method for constructing porous micro-nano structure, and material with porous micro-nano structure

Номер патента: US20230407450A1. Автор: Wei Meng,Xinghua Wu,Guohuang TAN,Minghao XIAO. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-12-21.

Filter apparatus with porous ceramic plates

Номер патента: EP2632564A2. Автор: Keith L House,Michael T Gallagher,Steven B Ogunwumi,Patrick D Tepesch. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2013-09-04.

Environmental barrier coating with porous bond coat layer

Номер патента: US11821327B2. Автор: Xia Tang,James T. Beals,Zhongfen DING,Richard Wesley Jackson,Michael R. Kracum. Владелец: RTX Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Heat exchanger with porous material

Номер патента: US20220034597A1. Автор: Ling Chen,Matthew Lambrech,Joseph M. Daly,Andrew Skok,Kazim NAQVI,Dennis FARRENKOPF,Allen ADRIANI. Владелец: Fuelcell Energy Inc. Дата публикации: 2022-02-03.

Heat exchanger configuration with porous layer

Номер патента: EP4314687A1. Автор: Pavel Hejzlar,James M. Vollmer,Mei He,Joon Hyung Choi,Samuel J. Miller,Daniel Eichel,Mathieu G. Martin. Владелец: TerraPower LLC. Дата публикации: 2024-02-07.

Heat exchanger configuration with porous layer

Номер патента: CA3214275A1. Автор: Pavel Hejzlar,James M. Vollmer,Mei He,Joon Hyung Choi,Samuel J. Miller,Daniel Eichel,Mathieu G. Martin. Владелец: TerraPower LLC. Дата публикации: 2022-09-29.

Heat exchanger configuration with porous layer

Номер патента: AU2021436228A1. Автор: Pavel Hejzlar,James M. Vollmer,Mei He,Joon Hyung Choi,Samuel J. Miller,Daniel Eichel,Mathieu G. Martin. Владелец: TerraPower LLC. Дата публикации: 2023-09-07.

Dental material container with porous flow through applicator

Номер патента: US6585511B2. Автор: William B. Dragan,John J. Discko. Владелец: Centrix Inc. Дата публикации: 2003-07-01.

Canister with porous plastic ends

Номер патента: US5824140A. Автор: Lora L. Berger. Владелец: Multisorb Technologies Inc. Дата публикации: 1998-10-20.

Bone prosthesis with porous coating

Номер патента: US4834756A. Автор: Robert V. Kenna. Владелец: Pfizer Hospital Products Group Inc. Дата публикации: 1989-05-30.

Prosthetic device with porous matrix and method of manufacture

Номер патента: US5201766A. Автор: Frederick S. Georgette. Владелец: Smith and Nephew Richards Inc. Дата публикации: 1993-04-13.

Environmental barrier coating with porous bond coat layer

Номер патента: EP3838872A1. Автор: Xia Tang,James T. Beals,Zhongfen DING,Richard Wesley Jackson,Michael R. Kracum. Владелец: Raytheon Technologies Corp. Дата публикации: 2021-06-23.

Environmental barrier coating with porous bond coat layer

Номер патента: US20210189904A1. Автор: Xia Tang,James T. Beals,Zhongfen DING,Richard Wesley Jackson,Michael R. Kracum. Владелец: Raytheon Technologies Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Implant with porous outer cortical layer

Номер патента: EP3185916A1. Автор: Aaron Noble. Владелец: Poriferous LLC. Дата публикации: 2017-07-05.

Plastics sheet thermoforming tool with porous and non-porous parts of different thermal conductivity

Номер патента: NZ203013A. Автор: F Kovacs,L W Bullock,J Vlahek. Владелец: Grace W R Ltd Au. Дата публикации: 1986-05-09.

Membranes filled with porous hollow particles

Номер патента: EP2155369A1. Автор: Johan Martens,Katrien Vanherck,Alexander Aerts,Stellana Aldea,Ivo Vakelecom. Владелец: Katholieke Universiteit Leuven. Дата публикации: 2010-02-24.

Increased dielectric film thickness reflector in a temperature compensated surface acoustic wave resonator

Номер патента: US20240267028A1. Автор: Satoru Ikeuchi,Joji Fujiwara. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Film thickness metrology

Номер патента: US09831136B2. Автор: Carlos Strocchia-Rivera. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Axial aligner, film thickness measuring apparatus, film forming apparatus, method for axial alignment and method for measuring film thickness

Номер патента: TW523445B. Автор: Kai Chen,Shizuo Nakamura,Fumihiko Omura,Akihito Minamitsu. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2003-03-11.

Hybrid thin film/thick film solid oxide fuel cell and method of manufacturing the same

Номер патента: EP1380065A1. Автор: Daniel A. Kearl. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 2004-01-14.

Golf club head with grooves shallower than scorelines and surface film thickness

Номер патента: US09937389B2. Автор: Wataru Ban,Tomonori Kitagawa. Владелец: Bridgestone Sports Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Film thickness prediction program, recording medium, film thickness prediction apparatus, and film thickness prediction method

Номер патента: JP5087864B2. Автор: 大輔 福田. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-12-05.

Film thickness predicting program, recording medium, film thickness predicting apparatus, and film thickness predicting method

Номер патента: US20070300194A1. Автор: Daisuke Fukuda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-12-27.

Semiconductor device with porous layer and method for fabricating the same

Номер патента: US20240371684A1. Автор: Tse-Yao Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Semiconductor device with porous layer and method for fabricating the same

Номер патента: US20240371683A1. Автор: Tse-Yao Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Variable cycle and time RF activation method for film thickness matching in a multi-station deposition system

Номер патента: US12077859B2. Автор: Adrien Lavoie,Jun Qian,Ishtak Karim,Purushottam Kumar,Kiyong Cho,Jaswinder Guliani. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

System and method for refilling cosmetic packaging with porous applicator

Номер патента: US20240358139A1. Автор: William Bickford,Jason FYFE,Wenzhen Cheng. Владелец: LOreal SA. Дата публикации: 2024-10-31.

FILM THICKNESS REGULATOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, FILM THICKNESS REGULATING METHOD AND EVAPORATION APPARATUS

Номер патента: US20170037507A1. Автор: SUN Zhongyuan,LI Xiaohu. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-09.

FILM THICKNESS MONITORING METHOD, FILM THICKNESS MONITORING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS

Номер патента: US20140224425A1. Автор: MIKAMI Toru. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2014-08-14.

Film thickness insensitive inverse thick film two-dimensional hybrid perovskite solar cell and preparation method thereof

Номер патента: CN110224065B. Автор: 吴刚,陈红征,连小梅,陈杰焕. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2021-01-01.

Measuring device for film thickness of thick film hybrid ic or the like

Номер патента: JPS57118106A. Автор: Hiroshi Makihira,Yoshisada Oshida,Yukio Uto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1982-07-22.

Film thickness measuring method and film thickness measuring apparatus

Номер патента: JP6426529B2. Автор: 良 石橋,英哉 安齋. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2018-11-21.

Eddy current magnetic field detection type pattern for measuring film thickness and method of measuring film thickness of the same

Номер патента: JP2003240504A. Автор: Masatake Azuma,Masaaki Kurokawa,政秋 黒川,正剛 東. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2003-08-27.

Led with porous diffusing reflector

Номер патента: EP2132790A1. Автор: John Epler,Michael Krames,Hanmin Zhao. Владелец: Philips Lumileds Lighing Co LLC. Дата публикации: 2009-12-16.

Heater assembly with porous body

Номер патента: WO2024200748A1. Автор: Ross Peter Jones,Jerome Christian Courbat,Leander Dittmann. Владелец: PHILIP MORRIS PRODUCTS S.A.. Дата публикации: 2024-10-03.

A wall tile with porous composite

Номер патента: WO2023170666A1. Автор: Rohit Mayur Patole,Mayur Suhas Patole,Kashinath Nimba Patil. Владелец: Mayur Suhas Patole. Дата публикации: 2023-09-14.

Method of making aerosol-generating article with porous body and aerosol-forming substrate

Номер патента: US20240314894A1. Автор: Michel Thorens. Владелец: Altria Client Services LLC. Дата публикации: 2024-09-19.

Catheter with irrigated tip electrode with porous substrate and high density surface micro-electrodes

Номер патента: US12064169B2. Автор: Assaf Govari,Christopher Thomas Beeckler,Athanassios Papaioannou. Владелец: Biosense Webster Israel Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Hydrogel implants with porous materials and methods

Номер патента: US09907663B2. Автор: Letitia TUDOR,Timothy J. Patrick,Carribeth B. Ramey,Michael A. Axelrod. Владелец: Cartiva Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Solid particle receiver with porous structure for flow regulation and enhancement of heat transfer

Номер патента: US09732986B2. Автор: Dennis Sadowski,Hany Al-Ansary,Abdelrahman EL-LEATHY,Zeyad AL-SUHAIBANI,Saeed AL-ZAHRANI,Sheldon JETER,Said ABDEL-KHALIK,Matthew GOLOB. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-08-15.

Partition design and molding method for acetabular cup prosthesis with porous surface

Номер патента: US12053385B2. Автор: Dongdong Li,Yuanyuan Li,Dongxu Chen. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-08-06.

Method for solving film thickness abnormity in graphite boat film coating process and graphite boat film coating process method

Номер патента: CN111218673A. Автор: 庄艳,黄国平,李菁楠,杜敬良,金礼发. Владелец: CECEP Solar Energy Technology Zhenjiang Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-02.

Silicon-on-insulator ULSI devices with multiple silicon film thickness

Номер патента: TWI240304B. Автор: Yee-Chia Yeo,Chenming Hu,Fu-Liang Yang,Carlos H Diaz,Hao-Yu Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2005-09-21.

Silicon-on-insulator ulsi devices with multiple silicon film thickness

Номер патента: TW200418093A. Автор: Yee-Chia Yeo,Chenming Hu,Fu-Liang Yang,Carlos H Diaz,Hao-Yu Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2004-09-16.

Film thickness uniformity improvement using edge ring and bias electrode geometry

Номер патента: EP4189723A4. Автор: WEI Liu,JACOB Abraham,Kin Pong Lo,Theresa Kramer Guarini,Vladimir Nagorny,Bernard L Hwang,Malcolm J Bevan,Swayambhu Prasad BEHERA. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

Display device having a thin electrode that has a uniform film thickness

Номер патента: US12150331B2. Автор: Hisayuki Utsumi,Youhei Nakanishi,Masayuki Kanehiro,Shota Okamoto,Hiroki Imabayashi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Energy storage devices formed with porous silicon

Номер патента: US09466662B2. Автор: Donald S. Gardner,Larry E. Mosley. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

FULL-EYE ILLUMINATION OCULAR SURFACE IMAGING OF AN OCULAR TEAR FILM FOR DETERMINING TEAR FILM THICKNESS AND/OR PROVIDING OCULAR TOPOGRAPHY

Номер патента: US20140104574A1. Автор: Korb Donald R.,Grenon Stephen M.. Владелец: TearScience, Inc.. Дата публикации: 2014-04-17.

FULL-EYE ILLUMINATION OCULAR SURFACE IMAGING OF AN OCULAR TEAR FILM FOR DETERMINING TEAR FILM THICKNESS AND/OR PROVIDING OCULAR TOPOGRAPHY

Номер патента: US20150138505A1. Автор: Korb Donald R.,Grenon Stephen M.. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-21.

Film thickness adjusting optimization method used in CVD (chemical vapor deposition) film forming process

Номер патента: CN104404479A. Автор: 王艾,林伟华,翟立君. Владелец: Beijing Sevenstar Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-11.

Method of production of porous molded article with porous edges for obtaining aqueous binding system

Номер патента: RU2233854C2. Автор: Бернхард ШЕТТМЕР,Вернер ХАЛЛЕР,Сандра ВИТТ. Владелец: Хенкель Коммандитгезелльшафт Ауф Акциен. Дата публикации: 2004-08-10.

Modeling method and system and film thickness adjustment for cvd film-forming process

Номер патента: WO2015165300A1. Автор: Dong Xu,Ai WANG. Владелец: Beijing Sevenstar Electronic Co., Ltd.. Дата публикации: 2015-11-05.

Quartz crystal oscillator film thickness instrument and film coating control method thereof

Номер патента: CN111621764A. Автор: 游龙,赵家乐. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2020-09-04.

Method of forming circuit interconnection, circuit board, and circuit interconnection film having film thickness larger than width thereof

Номер патента: US20110180313A1. Автор: Tomoyuki Kamakura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-07-28.

Electrophoretic film coating for achieving increase of film thickness

Номер патента: JPS59185800A. Автор: レネ・ジヤン・アル,ジヨン・ウイリアム・クリ−ズ・ジユニア−. Владелец: Dresser Industries Inc. Дата публикации: 1984-10-22.

Thin film thickness detection method using CD checkpoint

Номер патента: KR970077404A. Автор: 장성우. Владелец: 서두칠. Дата публикации: 1997-12-12.

Thin Film Thickness Control Method in Semiconductor Thin Film Process

Номер патента: KR100292030B1. Автор: 장영철,조봉수,전경식. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2001-08-07.

Method of forming circuit interconnection, circuit board, and circuit interconnection film having film thickness larger than width thereof

Номер патента: CN102137548A. Автор: 镰仓知之. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-07-27.

Method of manufacturing semiconductor device, substrate processing device, recording media capable of suppressing non-uniformity of the film thickness of the film formed and stacked in the up and down direction

Номер патента: TW201921496A. Автор: 高木康祐,中村吉延,南政克,奧田和幸,竹林雄二,加我友紀直. Владелец: 日商國際電氣股份有限公司. Дата публикации: 2019-06-01.

Hybrid thin film/thick film solid oxide fuel cell and method of manufacturing the same

Номер патента: CA2444417A1. Автор: Daniel A. Kearl. Владелец: Daniel A. Kearl. Дата публикации: 2002-10-31.

Solid state imaging apparatus with transistors having different gate insulating film thickness and manufacturing method for the same

Номер патента: US20020088975A1. Автор: Masayuki Furumiya. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-11.

Bone Implant with Porous Membrane and Method for Preparation Thereof

Номер патента: US20230364309A1. Автор: Yuzhong Liu. Владелец: Beijing Huayu Chuangxin Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Semiconductor device with porous dielectric structure

Номер патента: US20210249507A1. Автор: Chih-Tsung WU. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2021-08-12.

Cassette for electrolyzer with porous electrolyte plate

Номер патента: WO2023111051A3. Автор: Helge Nielsen. Владелец: Danfoss A/S. Дата публикации: 2023-11-02.

Hydrogel implants with porous materials and methods

Номер патента: US20230338152A1. Автор: Letitia TUDOR,Timothy J. Patrick,Carribeth B. Ramey,Michael A. Axelrod. Владелец: Cartiva Inc. Дата публикации: 2023-10-26.

Swellable metal packer with porous external sleeve

Номер патента: MY197796A. Автор: Stephen Michael Greci,Michael Linley Fripp,Abdel Hamid R Abeidoh. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2023-07-14.

Drainage devices with porous plugs

Номер патента: WO2024209463A1. Автор: Brian Berkowitz,Lior Heller. Владелец: Health Corporation Next To Shamir Medical Center (Assaf Harofeh) (R.A.). Дата публикации: 2024-10-10.

Cassette for electrolyzer with porous electrolyte plate

Номер патента: EP4448846A2. Автор: Helge Nielsen. Владелец: Danfoss AS. Дата публикации: 2024-10-23.

Electrode assembly with porous structure and secondary battery including the same

Номер патента: US09899708B2. Автор: Young Joon Shin,Soo Young Kim,Hyo Seok Park. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Semiconductor packages and other circuit modules with porous and non-porous stabilizing layers

Номер патента: US09799626B2. Автор: Rajesh Katkar,Cyprian Uzoh. Владелец: Invensas LLC. Дата публикации: 2017-10-24.

Implant with porous sleeve including anti-rotation features

Номер патента: US09433480B2. Автор: Steven Pelote. Владелец: Zimmer Dental Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

LED with porous diffusing reflector

Номер патента: US7601989B2. Автор: Michael R. Krames,John E. Epler,Hanmin Zhao. Владелец: Philips Lumileds Lighing Co LLC. Дата публикации: 2009-10-13.

Pacing lead with porous electrode for stable low threshold high impedance pacing

Номер патента: US5991667A. Автор: Frederick Feith. Владелец: Vitatron Medical BV. Дата публикации: 1999-11-23.

Orthopedic surgical implant device with porous material and fluid channels for cleaning the porous material

Номер патента: US11850158B2. Автор: Sergii Poltaretskyi,Vincent Abel Maurice Simoes,Florence Delphine Muriel MAILLE. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Orthopedic surgical implant device with porous material and fluid channels for cleaning the porous material

Номер патента: US20240173143A1. Автор: Sergii Poltaretskyi,Vincent Abel Maurice Simoes,Florence Delphine Muriel MAILLE. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

Method of treating subterranean formations with porous ceramic particulate materials

Номер патента: US20040040708A1. Автор: Harold Brannon,Allan Rickards,Christopher Stephenson,D.V. Gupta. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-04.

Method of treating subterranean formations with porous ceramic particulate materials

Номер патента: GB2408279A. Автор: Harold Dean Brannon,Allan Ray Rickards,Christopher John Stephenson,Satyanarayana D V Gupta. Владелец: BJ Services Co USA. Дата публикации: 2005-05-25.

Method of treating subterranean formations with porous particulate materials

Номер патента: US7861780B2. Автор: Harold Dean Brannon,Allan Ray Rickards,D. V. Satyanarayana Gupta,Christopher John Stephenson. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 2011-01-04.

Tobacco smoke filter for smoking device with porous mass of active particulate

Номер патента: US20110162667A1. Автор: Peter Burke,Julia Hufen,Ramesh Srinivasan,Meinhard Gusik,Luis Jimenez,Raymond Robertson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-07-07.

Method of treating subterranean formations with porous ceramic particulate materials

Номер патента: CA2497276C. Автор: Harold Dean Brannon,Allan Ray Rickards,Gino F. Di Lullo Arias,Christopher John Stephenson,Satyanarayana D.V. Gupta,James Philip Rae. Владелец: BJ Services Co USA. Дата публикации: 2010-11-02.

Electrostatic chuck with porous regions

Номер патента: EP1316110A2. Автор: Ramesh Divakar. Владелец: Saint Gobain Ceramics and Plastics Inc. Дата публикации: 2003-06-04.

Method and apparatus for electrolytic reduction of fine-particle alumina with porous-cathode cells

Номер патента: US5498320A. Автор: John S. Rendall. Владелец: Solv-Ex Corp. Дата публикации: 1996-03-12.

Method of treating subterranean formations with porous ceramic particulate materials

Номер патента: CA2497276A1. Автор: Harold Dean Brannon,Allan Ray Rickards,Gino F. Di Lullo Arias,Christopher John Stephenson,Satyanarayana D.V. Gupta,James Philip Rae. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-18.

Orthopedic implant with porous structure having varying coefficient of friction with bone

Номер патента: US20240041605A1. Автор: Christopher G. Sidebotham,Gregory T. Van Der Meulen,Christopher Preucil. Владелец: Biomedtrix LLC. Дата публикации: 2024-02-08.

Patellofemoral implant with porous ingrowth material and method of manufacturing same

Номер патента: US20200179122A1. Автор: Gregory C. Stalcup,Steven Dietzel. Владелец: Smed TA TD LLC. Дата публикации: 2020-06-11.

Solid particle receiver with porous structure for flow regulation and enhancement of heat transfer

Номер патента: US11971197B2. Автор: Dennis Sadowski,Hany Al-Ansary,Abdelrahman EL-LEATHY,Zeyad AL-SUHAIBANI,Saeed AL-ZAHRANI,Sheldon JETER,Said ABDEL-KHALIK,Matthew GOLOB. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-04-30.

Intramedullary support with porous metal splines

Номер патента: CA2885819C. Автор: Scott A. Armacost,Mary J. Mccombs-Stearns. Владелец: Wright Medical Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Bearing isolator with porous seal

Номер патента: CA2621075C. Автор: Elizabeth Chitren. Владелец: GARLOCK SEALING TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2014-08-05.

Composite separator including porous substrate with porous layer including polyacrylic acid metal salt binder and inorganic particles, lithium battery including the same, and method of preparing the same

Номер патента: US11862812B2. Автор: Byungmin LEE,Minho CHO,Kyoseon KOO,Esul JUNG. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Engine component with porous section

Номер патента: WO2018034791A1. Автор: Ronald Scott Bunker. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2018-02-22.

Strained semiconductor-on-insulator by si:c combined with porous process

Номер патента: WO2009056478A3. Автор: Devendra Sadana,Alexander Reznicek,Stephen Bedell,Souza Joel De. Владелец: Souza Joel De. Дата публикации: 2009-07-23.

Partition design and molding method for acetabular cup prosthesis with porous surface

Номер патента: US20240207054A1. Автор: Dongdong Li,Yuanyuan Li,Dongxu Chen. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-06-27.

Semiconductor device with porous dielectric layers and method for fabricating the same

Номер патента: US20240030133A1. Автор: Tse-Yao Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Aldehyde abatement with porous amine functional resins

Номер патента: US20140121288A1. Автор: Sudhakar Balijepalli,Alvin M. Maurice,Paul Doll. Владелец: Rohm and Haas Co. Дата публикации: 2014-05-01.

Fastening means and method for the use with porous materials

Номер патента: WO1986002130A1. Автор: Heinrich Maresch. Владелец: Heinrich Maresch. Дата публикации: 1986-04-10.

Composite with porous swelling copolymer for bone fixation

Номер патента: WO2023168314A9. Автор: Giuseppe R. Palmese,Sorin Siegler. Владелец: DREXEL UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-02-22.

Contact structures with porous networks for solder connections, and methods of fabricating same

Номер патента: US09888584B2. Автор: HONG Shen,Liang Wang,Cyprian Emeka Uzoh,Rajesh Katkar. Владелец: Invensas LLC. Дата публикации: 2018-02-06.

Flame arrester with porous sleeve

Номер патента: US09731155B2. Автор: Brian Riordan. Владелец: EMPYREUS SOLUTIONS LLC. Дата публикации: 2017-08-15.

Absorber with plate exchanger with porous distribution element

Номер патента: US09574803B2. Автор: Francois Boudehenn,Joel Wyttenbach,Philippe Papillon,Helene Demasles. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2017-02-21.

Method of controlling silicon oxide film thickness

Номер патента: US20120252228A1. Автор: Yuanchang Zhang. Владелец: Natcore Technology Inc. Дата публикации: 2012-10-04.

Remote four-wave method for measurement of thin film thickness

Номер патента: RU2359220C1. Автор: Валентин Иванович Козинцев,Ольга Алексеевна Смирнова,Михаил Леонидович Белов,Виктор Александрович Городничев,Юрий Викторович Федотов. Владелец: ООО "НИИ Радиоэлектроники и лазерной техники". Дата публикации: 2009-06-20.

Optical method to measure instantaneous field of transparent film thickness

Номер патента: RU2506537C2. Автор: Владимир Генриевич Меледин,Игорь Владимирович Наумов,Виталий Владиславович Рахманов,Сергей Владимирович Двойнишников,Иван Константинович Кабардин,Иван Алексеевич Елисеев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе Сибирского отделения Российской академии наук (ИТ СО РАН). Дата публикации: 2014-02-10.

Device for non-destructive measurement of dielectric and semiconductor film thickness

Номер патента: RU2411448C1. Автор: Алексей Сергеевич Иванов,Александр Борисович Федорцов,Юрий Валентинович Чуркин,Василий Владимирович Манухов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Северо-западный государственный заочный технический университет (СЗТУ). Дата публикации: 2011-02-10.

Film thickness measuring device

Номер патента: RU2016376C1. Автор: Д.А. Усанов,В.С. Панченко,В.Д. Тупикин,В.В. Писарев. Владелец: Центральный научно-исследовательский институт измерительной аппаратуры. Дата публикации: 1994-07-15.

Dry soy product with porous structure and method of obtaining such product

Номер патента: RU2272508C2. Автор: Римма Васильевна Комолых,Олег Митрофанович Комолых,Василий Олегович Комолых. Владелец: Государственное научное учреждение Дальневосточный научно-исследовательский институт сельского хозяйства. Дата публикации: 2006-03-27.

Structure of fence with porous heat insulation

Номер патента: RU2145994C1. Автор: В.Н. Селиванов,Н.П. Селиванов,В.В. Гурьев,В.И. Ресин,В.В. Руденко,Б.В. Гусев,В.Г. Петров-Денисов. Владелец: Селиванов Вадим Николаевич. Дата публикации: 2000-02-27.

Thermal performance enhancement of multi-pass solar collector filled with porous media for drying of crops

Номер патента: MY175003A. Автор: W Kareem M,Habib Khairul,A Sulaiman S,I Gilani S. Владелец: Institute Of Tech Petronas Sdn Bhd. Дата публикации: 2020-06-01.

Method for producing polymer films with porous gradient structure

Номер патента: RU2567907C1. Автор: Евгений Николаевич Каблов,Вячеслав Михайлович Бузник,Глеб Юрьевич Юрков,Владимир Игоревич Грязнов,Мария Анатольевна Смульская. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" (ФГУП "ВИАМ"). Дата публикации: 2015-11-10.

Production of electrodes with porous nickel coating for alkaline water electrolytic cells

Номер патента: RU2534014C1. Автор: Николай Васильевич Кулешов,Владимир Николаевич Кулешов,Елена Яновна Удрис. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МЭИ" (ФГБОУ ВПО "НИУ "МЭИ"). Дата публикации: 2014-11-27.

Method of manufacturing of cathode plate of tantalum capacitor with porous anode

Номер патента: RU2538492C1. Автор: Александр Викторович Степанов,Александр Владимирович Ермаков,Михаил Степанович Игумнов,Сергей Владимирович Никифоров,Егор Виленович Терентьев,Владимир Сергеевич Конышев,Виктор Петрович Лебедев,Сергей Петрович Старостин,Сергей Анатольевич Ковин. Владелец: Сергей Анатольевич Ковин. Дата публикации: 2015-01-10.

Semiconductor light-emitting device with porous buffer layer

Номер патента: RU2402837C1. Автор: Дмитрий Александрович Закгейм,Дмитрий Александрович Закгейм (RU). Владелец: Закрытое акционерное общество "ЭПИ-ЦЕНТР". Дата публикации: 2010-10-27.

SELF-ENCODING SENSOR WITH MICROSPHERES

Номер патента: US20120004120A1. Автор: Dickinson Todd A.,Walt David R.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MULTI-APERTURE VISUAL SENSOR WITH HYPERACUITY

Номер патента: US20120001058A1. Автор: Barrett Steven F.,Luke Geoffrey P.,Wright Cameron H.G.. Владелец: UNIVERSITY OF WYOMING. Дата публикации: 2012-01-05.

CHEMICALLY SENSITIVE SENSOR WITH LIGHTLY DOPED DRAINS

Номер патента: US20120001235A1. Автор: Fife Keith. Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Microelectronic pressure sensor with overload-protected sensitive element

Номер патента: RU2564376C1. Автор: Владимир Сергеевич Суханов,Наталья Леонтьевна Данилова,Владимир Валентинович Панков. Владелец: Федеральное Государственное Бюджетное Учреждение "Научно-Производственный Комплекс "Технологический Центр" Миэт". Дата публикации: 2015-09-27.

HIGH DYNAMIC RANGE IMAGE SENSOR WITH IN PIXEL MEMORY

Номер патента: US20120001060A1. Автор: He Xinping. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Angular acceleration sensor with liquid rotor

Номер патента: RU2594035C2. Автор: Сергей Геннадьевич Жевакин,Сергей Владимирович Дятлов. Владелец: Акционерное общество "Арзамасский приборостроительный завод имени П.И. Пландина" (АО "АПЗ"). Дата публикации: 2016-08-10.

Method to adjust resistance strain gauge sensors with bridge measurement circuit using multiplicative temperature error with account of positive non-linearity of temperature characteristic of sensor output signal

Номер патента: RU2528242C2. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Денис Александрович Солуянов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2014-09-10.

Method for compensating for temperature error of sensor with vibrating element

Номер патента: RU2322652C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Михаил Юрьевич Сорокин. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2008-04-20.

Mode of tuning of resistive-strain sensors with a bridge measuring circuit according to an additive temperature error

Номер патента: RU2298147C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Евгений Владимирович Тихоненков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2007-04-27.

Method of stabilization of elastic element of pressure sensor with tensoresistors

Номер патента: RU2566538C1. Автор: Анатолий Иванович Ворожбитов,Евгений Владимирович Песков,Игорь Николаевич Чебурахин,Сергей Александрович Гурин. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений". Дата публикации: 2015-10-27.

Method of making a tensoresistor pressure sensor with high time and temperature stability based on thin-film nano- and micro-electromechanical system

Номер патента: RU2594677C1. Автор: Валерий Анатольевич Васильев,Евгений Михайлович Белозубов,Нина Евгеньевна Белозубова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пензенский государственный университет" (ФГБОУ ВПО "Пензенский государственный университет"). Дата публикации: 2016-08-20.

Method to tune strain-gauge sensors with bridge measurement circuit by multiplicative temperature error with account of positive non-linearity of temperature characteristic of output signal of sensor

Номер патента: RU2506534C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Денис Александрович Солуянов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2014-02-10.

Indirect method to tune strain gauge sensors with bridge measurement circuit by multiplicative temperature error with account of non-linearity of temperature characteristic of output signal of sensor

Номер патента: RU2569923C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Денис Александрович Солуянов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2015-12-10.

Method to manufacture vacuum sensor with 3d porous nanostructure and vacuum sensor on its basis

Номер патента: RU2555499C1. Автор: Игорь Александрович Аверин,Светлана Евгеньевна Игошина,Андрей Андреевич Карманов,Игорь Александрович Пронин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пензенский государственный университет" (ФГБОУ ВПО "Пензенский государственный университет"). Дата публикации: 2015-07-10.

Measuring method of pressure difference with sensor with frequency-modulated output signal and sensor for method's implementation

Номер патента: RU2548582C1. Автор: Николай Павлович Меткин,Антон Владимирович Бардин,Олег Михайлович Филонов,Павел Александрович Окин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения". Дата публикации: 2015-04-20.

Indirect method of adjusting tensoresistor metal-film sensors with bridge measurement circuit on additive temperature error taking into account nonlinearity of sensor initial offset temperature characteristic

Номер патента: RU2408838C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Лев Николаевич Винокуров,Марат Шавкатович Багаутдинов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2011-01-10.

Method of manufacturing of sensitive element of gas sensors with carbon nanotubes

Номер патента: RU2528032C2. Автор: Наталья Николаевна Кошелева,Станислав Иванович Рембеза,Тамара Витальевна Свистова,Екатерина Станиславовна Рембеза. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет". Дата публикации: 2014-09-10.

Photoelectric method of measuring linear displacements of small-size objects in sensors with multi-element radiation receivers and device realising said method

Номер патента: RU2508524C2. Автор: Виктор Петрович Солдатов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет геодезии и картографии" (МИИГАиК). Дата публикации: 2014-02-27.

Method of temperature error compensation for sensor with vibration element

Номер патента: RU2331856C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Михаил Юрьевич Сорокин. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2008-08-20.

Ultrasensitive intelligent magnetoimpedance sensor with expanded range of working temperatures

Номер патента: RU2563600C1. Автор: Лариса Владимировна Панина,Александр Тимофеевич Морченко,Николай Анатольевич Юданов,Владимир Григорьевич Костишин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС". Дата публикации: 2015-09-20.

Indirect method of adjustment of strain sensors with bridge measuring circuit as per multiplicative temperature error considering negative non-linearity of temperature characteristic of output sensor signal

Номер патента: RU2539818C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Денис Александрович Солуянов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2015-01-27.

Method of making vacuum sensor with preset-sensitivity nanostructure and vacuum sensor built there around

Номер патента: RU2505885C1. Автор: Валерий Анатольевич Васильев,Игорь Александрович Аверин,Андрей Андреевич Карманов,Римма Михайловна Печерская,Игорь Александрович Пронин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пензенский государственный университет" (ПГУ). Дата публикации: 2014-01-27.

Method to tune strain-gauge sensors with bridge measurement circuit by multiplicative temperature error with account of positive non-linearity of temperature characteristic of output signal of sensor

Номер патента: RU2507476C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Денис Александрович Солуянов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2014-02-20.

Method to manufacture vacuum sensor with nanostructure higher sensitivity and vacuum sensor on its basis

Номер патента: RU2506659C2. Автор: Валерий Анатольевич Васильев,Игорь Александрович Аверин,Андрей Андреевич Карманов,Римма Михайловна Печерская,Игорь Александрович Пронин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пензенский государственный университет" (ПГУ). Дата публикации: 2014-02-10.

Mode of compensation of multiplicative temperature error of sensor with vibratory element (variants)

Номер патента: RU2323422C2. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Михаил Юрьевич Сорокин,Иван Петрович Ефимов,Владимир Андреевич Тихоненков (RU),Михаил Юрьевич Сорокин (RU),Иван Петрович Ефимов (RU). Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2008-04-27.

Pyrometric fire hazard coordinate sensor with cylindrical lenses

Номер патента: RU2459269C1. Автор: Сергей Александрович Терентьев,Андрей Николаевич Павлов,Евгений Викторович Сыпин,Евгений Сергеевич Повернов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова" (АлтГТУ). Дата публикации: 2012-08-20.

Method of generating interrogation signal for saw sensor with reflecting structures

Номер патента: RU2488921C1. Автор: Георгий Владимирович Анцев,Сергей Владимирович Богословский,Геннадий Анатольевич Сапожников,Иван Георгиевич Анцев. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Радар ммс". Дата публикации: 2013-07-27.

Coating used for severe environments and sensors with such coating

Номер патента: RU2359266C2. Автор: Джеффри Си АНДЛЕ,Рейчл Б. ХАСКЕЛ,Джохн Х. БРАДСХАВ. Владелец: Делавер Капитал Форматион, Инк.. Дата публикации: 2009-06-20.

Detecting element of physical quantity sensor with reflecting structures

Номер патента: RU2393444C1. Автор: Владимир Сергеевич Богословский,Владимир Сергеевич Богословский (RU). Владелец: Владимир Сергеевич Богословский. Дата публикации: 2010-06-27.

Method of correcting measurement results using tensometric bridge sensor with instrumentation amplifier

Номер патента: RU2469344C1. Автор: Юрий Николаевич Петроченко,Андрей Яковлевич Стерлин,Валерий Владимирович Синдинский,Владимир Иванович Быков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России). Дата публикации: 2012-12-10.

Temperature infrared sensor with reading circuit

Номер патента: RU2339011C2. Автор: Владимир Михайлович Малышев,Владимир Михайлович Малышев (RU). Владелец: Общество с ограниченной ответственностью ООО "Юник Ай Сиз". Дата публикации: 2008-11-20.

Method of adjusting tensoresistor sensors with bridge measurement circuit on multiplicative temperature error taking into account nonlinearity of sensor output signal temperature characteristic

Номер патента: RU2401982C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Лев Николаевич Винокуров. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2010-10-20.

Universal dc sensor with uncoupling and low-voltage power supply

Номер патента: RU2540941C2. Автор: Павел Васильевич Михеев,Вадим Николаевич Школьный,Екатерина Павловна Кузуб. Владелец: Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2015-02-10.

Indirect method to tune strain gauge sensors with bridge measurement circuit by multiplicative temperature error with account of non-linearity of temperature characteristic of output signal of sensor

Номер патента: RU2569924C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Денис Александрович Солуянов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2015-12-10.

Method to select valid information and to identify failures of accelerometers and angular speed sensors with six meters in each tract of platformless inertial navigation system of aircraft

Номер патента: RU2573442C1. Автор: Ефим Леонидович Межирицкий,Сергей Васильевич Казаков,Андрей Александрович Маслов,Валерий Давидович Дишель,Юрий Вадимович Трунов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственный центр автоматики и приборостроения имени академика Н.А. Пилюгина" (ФГУП "НПЦАП"). Дата публикации: 2016-01-20.

Pressure sensor with thin-film tensoresistor nano- and micro-electromechanical system

Номер патента: RU2399031C1. Автор: Валерий Анатольевич Васильев,Евгений Михайлович Белозубов,Павел Сергеевич Чернов. Владелец: Павел Сергеевич Чернов. Дата публикации: 2010-09-10.

Adjustment of resistive-strain metal-film sensors with bridge metering circuit by additive temperature error with consideration of non-linear temperature characteristic of sensor initial unbalance

Номер патента: RU2406970C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Лев Николаевич Винокуров,Марат Шавкатович Багаутдинов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2010-12-20.

Method to manufacture vacuum sensor with nanostructure and vacuum sensor on its basis

Номер патента: RU2485465C1. Автор: Валерий Анатольевич Васильев,Игорь Александрович Аверин,Андрей Андреевич Карманов,Римма Михайловна Печерская,Игорь Александрович Пронин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пензенский государственный университет" (ПГУ). Дата публикации: 2013-06-20.

Pressure sensor with digital outlet

Номер патента: RU2582305C1. Автор: Александр Иванович Фесенко,Владимир Михайлович Строев,Ильия Александрович Суконин,Александр Вячеславович Рябов. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2016-04-20.

Substituded mode of tuning of resistive-strain sensors with a bridge measuring circuit on a multiplicative temperature error

Номер патента: RU2302611C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Евгений Владимирович Тихоненков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2007-07-10.

Method for compensating temperature error of a sensor with vibrating element

Номер патента: RU2318193C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Михаил Юрьевич Сорокин. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2008-02-27.

Pressure sensor with vibration-resistant nano- and micro-electromechanical system

Номер патента: RU2432556C1. Автор: Валерий Анатольевич Васильев,Евгений Михайлович Белозубов,Нина Евгеньевна Белозубова. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пензенский государственный университет" (ПГУ). Дата публикации: 2011-10-27.

Method to measure difference of pressures by sensor with frequency modulated output signal and sensor for realisation of method

Номер патента: RU2548404C1. Автор: Николай Павлович Меткин,Антон Владимирович Бардин,Олег Михайлович Филонов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения". Дата публикации: 2015-04-20.

Pressure sensor with normalised or digital output

Номер патента: RU2564378C1. Автор: Владимир Сергеевич Суханов,Наталья Леонтьевна Данилова,Владимир Валентинович Панков,Дмитрий Валентинович Гусев,Роман Сергеевич Литвиненко. Владелец: Федеральное Государственное Бюджетное Учреждение "Научно-Производственный Комплекс "Технологический Центр" Миэт". Дата публикации: 2015-09-27.

Multichannel data acquisition device for sensors with two-wire interface (versions)

Номер патента: RU2401419C2. Автор: Игорь Иосифович Радчик,Олег Борисович Скворцов,Вячеслав Михайлович Тараканов,Илья Алексеевич Маханько,Виктор Валерьевич Шарко,Виктор Михайлович Терехин. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Диамех 2000". Дата публикации: 2010-10-10.

Mode of compensation of additive temperature error of the sensor with a vibrating element

Номер патента: RU2315269C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Михаил Юрьевич Сорокин. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2008-01-20.

Tensoresistive pressure sensor with thin-film nano- and micro-electromechanical system

Номер патента: RU2463570C1. Автор: Евгений Михайлович Белозубов,Валентина Николаевна Вологина,Нина Евгеньевна Белозубова,Наталья Анатольевна Козлова,Евгений Михайлович Белозубов (RU),Нина Евгеньевна Белозубова (RU),Валентина Николаевна Вологина (RU),Наталья Анатольевна Козлова (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений". Дата публикации: 2012-10-10.

Angular velocity sensor with triple modulation of useful signal based on modulation gyroscope with induction modulation metre

Номер патента: RU2389031C1. Автор: Алексей Гурьевич Андреев,Владимир Сергеевич Ермаков,Юрий Алексеевич Середа,Иван Иванович Нестеров,Валерий Константинович Струк,Александр Григорьевич Максимов,Алексей Юрьевич Чудинов. Владелец: Открытое акционерное общество "Пермская научно-производственная приборостроительная компания". Дата публикации: 2010-05-10.

Method to tune strain-gauge sensors with bridge measurement circuit by multiplicative temperature error with account of positive non-linearity of temperature characteristic of output signal of sensor

Номер патента: RU2507475C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Денис Александрович Солуянов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2014-02-20.

Enclosure for wireless siren sensor with strobe light

Номер патента: CA162738S. Автор: . Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2016-06-27.

Method for controlling signal parameters of fibre-optic interferometric phase sensor with adjustable optical radiation source

Номер патента: RU2595320C1. Автор: Игорь Касьянович Мешковский,Георгий Петрович Мирошниченко,Михаил Викторович Мехреньгин,Михаил Юрьевич Плотников. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики". Дата публикации: 2016-08-27.

Method of correcting measurement results using tensometric bridge sensor with instrumentation amplifier

Номер патента: RU2469340C1. Автор: Андрей Яковлевич Стерлин,Игорь Игоревич Клементьев,Владимир Иванович Быков. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е.Жуковского (ФГУП "ЦАГИ"). Дата публикации: 2012-12-10.

Semiconductor pressure sensor with slanted resistors

Номер патента: CA1170077A. Автор: Ronald E. Brown,William D. Higdon,Lamonte R. Edison. Владелец: Motors Liquidation Co. Дата публикации: 1984-07-03.

Motion sensor with microphone

Номер патента: CA152616S. Автор: . Владелец: Microsoft Corp. Дата публикации: 2014-03-31.

Method of temperature adjustment of resistive-strain pressure sensor with measuring bridge circuit

Номер патента: RU2259537C1. Автор: В.А. Тихоненков,Е.В. Тихоненков,В.А. Тихоненков (RU),Е.В. Тихоненков (RU). Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2005-08-27.

Method of adjusting tensoresistor sensors with bridge measurement circuit based on multiplicative temperature error taking into account nonlinearity of temperature characteristic of sensor output signal

Номер патента: RU2443973C1. Автор: Владимир Андреевич Тихоненков,Лев Николаевич Винокуров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2012-02-27.

Method testing parameters of film coat in process of change of film thickness on backing and device for its implementation

Номер патента: RU2087861C1. Автор: А.М. Баранов,В.В. Слепцов,И.Ф. Михайлов,В.И. Пинегин,И.Н. Бабенко. Владелец: Товарищество с ограниченной ответственностью "Фрактал". Дата публикации: 1997-08-20.

Film thickness measuring method and film thickness sensor using the method

Номер патента: JP3823745B2. Автор: 雅裕 黒川. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2006-09-20.

Film thickness measuring method and film thickness sensor using the method

Номер патента: JP3852556B2. Автор: 雅裕 黒川,和美 土道. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2006-11-29.

Method for detecting deviation of correspondence between actuator and thickness sensor, film thickness control method, apparatus and program in film manufacturing apparatus

Номер патента: JP4571345B2. Автор: 春彦 牧,芳宏 橋本,浩司 浦瀬,徳和 安友. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2010-10-27.

Optical recording medium, optical recording medium film thickness measuring method, film thickness controlling method, manufacturing method, film thickness measuring apparatus, and film thickness controlling apparatus

Номер патента: JP4171674B2. Автор: 滋行 風呂本,善宏 野田,秀治 竹島. Владелец: Mitsubishi Chemical Media Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-22.

Film thickness distribution predicting method, film thickness distribution predicting device, film thickness determining method, and film thickness determining and predicting device

Номер патента: JP2010236065A. Автор: Shoji Takahashi,尚司 高橋. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-10-21.

Chemical amplification type positive photoresist composition for thick film, thick film photoresist laminate, method for producing thick film resist pattern, and method for producing connection terminal

Номер патента: JP4318944B2. Автор: 浩一 三隅,俊樹 奥井. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-26.

Chemical amplification type positive photoresist composition for thick film, thick film photoresist laminate, method for producing thick film resist pattern, and method for producing connection terminal

Номер патента: JP4318945B2. Автор: 浩一 三隅,俊樹 奥井,宏二 斎藤. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-26.

Ink film thickness control method, ink film thickness control device and ink film thickness control program

Номер патента: JP6531571B2. Автор: 昌哉 濱原,展久 熊本. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2019-06-19.

Chemical amplification type positive photoresist composition for thick film, thick film photoresist laminate, method for producing thick film resist pattern, and method for producing connection terminal

Номер патента: JP4318946B2. Автор: 浩一 三隅,俊樹 奥井. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-26.

Chemical amplification type positive photoresist composition for thick film, thick film photoresist laminate, method for producing thick film resist pattern, and method for producing connection terminal

Номер патента: JP4267356B2. Автор: 浩一 三隅,俊樹 奥井. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-27.

OPTICAL FILM THICKNESS METER AND THIN FILM FORMING APPARATUS PROVIDED WITH OPTICAL FILM THICKNESS METER

Номер патента: US20120105872A1. Автор: Hinata Yohei,Sai Kyokuyo,Otaki Yoshiyuki,Jiang Yousong. Владелец: SHINCRON CO., LTD.. Дата публикации: 2012-05-03.

Metal film film-thickness measuring system and method of measuring film-thickness by adopting system

Номер патента: CN104390580A. Автор: 黄仁东. Владелец: Shanghai Huahong Group Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-04.

OPTICAL METHOD FOR MEASURING INSTANT FILM THICKNESS THICKNESS

Номер патента: RU2012103214A. Автор: Владимир Генриевич Меледин,Игорь Владимирович Наумов,Виталий Владиславович Рахманов,Сергей Владимирович Двойнишников,Иван Константинович Кабардин,Иван Алексеевич Елисеев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе Сибирского отделения Российской академии наук (ИТ СО РАН). Дата публикации: 2013-08-10.

Measurement method for film thickness of light transmission film and film thickness measuring device

Номер патента: JP2000314612A. Автор: Koji Kondo,Susumu Moriya,進 守屋,孝司 近藤. Владелец: Kawatetsu Techno Research Corp. Дата публикации: 2000-11-14.

Method of reduction of liquid film thickness along reaction tube in thin-film reactor

Номер патента: PL235403A2. Автор: Wojciech Spisak. Владелец: Wyzsza Szkola Inzynierska. Дата публикации: 1983-01-17.

Film thickness monitor for thin film forming equipment

Номер патента: JPS5279952A. Автор: Akihiko Toku. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 1977-07-05.

Liquid film thickness sensor

Номер патента: SU723382A1. Автор: Олег Константинович Безюков,Борис Константинович Смирнов,Никтополион Вениаминович Попов. Владелец: Ленинградский Ордена Ленина Политехнический Институт Им. М.И.Калинина. Дата публикации: 1980-03-25.

Film thickness sensor

Номер патента: SU462979A1. Автор: Виктор Демьянович Олешкевич,Анатолий Степанович Буйлин,Анатолий Петрович Фомин. Владелец: Предприятие П/Я А-3987. Дата публикации: 1975-03-05.

Implement method for water film thickness sensor based on bilinear interpolation algorithm

Номер патента: CN102645186B. Автор: 韩磊,刘红,黄庆安,殷刚毅. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-05-07.

Dielectric film thickness sensor

Номер патента: JPS5952702A. Автор: 満 石川,Mitsuru Ishikawa,Osamu Ishihara,理 石原. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1984-03-27.

FILM THICKNESS MEASURING APPARATUS USING INTERFERENCE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD USING INTERFERENCE

Номер патента: US20120044501A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-02-23.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120218561A1. Автор: . Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2012-08-30.

There is the film thickness monitoring device of adjustable-angle film thickness monitoring probe

Номер патента: CN205774789U. Автор: 吴萍,龙汝磊,李刚正,孙英会. Владелец: Optorun Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-07.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: JP5782353B2. Автор: 武司 野田,信一 市薗,野田　武司. Владелец: Takaoka Toko Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-24.

Film thickness meter and film thickness measuring method

Номер патента: JP3801980B2. Автор: 旭陽 佐井,陽平 日向. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-26.

Thin film thickness measuring method and thin film thickness measuring apparatus

Номер патента: JP4759772B2. Автор: 弘 久保田,明良 中田,信博 新庄,隆史 羽山,雅典 江口,創 相川,敏夫 藤井. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-31.

Film thickness inspection device and film thickness inspection method

Номер патента: JP6701660B2. Автор: 弘行 平松,英樹 渡辺,庸男 歳桃,渡辺　英樹,超 唐. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-27.

Thin film thickness measuring apparatus and thin film thickness measuring method

Номер патента: JP4049458B2. Автор: 慎一郎 税所. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2008-02-20.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: JP6917039B2. Автор: 泰弘 渡辺,孝 中嶋,渡辺　泰弘,中嶋　孝. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-11.

Film thickness meter and film thickness measuring method

Номер патента: JP3935068B2. Автор: 旭陽 佐井,陽平 日向. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-20.

Film thickness monitoring method and film thickness monitoring device

Номер патента: JP7217822B1. Автор: 敦 伊藤. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2023-02-03.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: JP5871242B2. Автор: 秀明 山口,良浩 西村,允 鳥澤,誠治 森下. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2016-03-01.

Endless belt film thickness measuring method and film thickness measuring apparatus

Номер патента: JP4870273B2. Автор: 肇 大谷,基明 東辻. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2012-02-08.

Film thickness measuring method and film thickness measuring apparatus

Номер патента: JP4912687B2. Автор: 光弘 友田. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-11.

Pattern modeling method, film thickness measuring method, process state determining method, film thickness measuring apparatus, process state determining apparatus, polishing apparatus, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: JP4487375B2. Автор: 嘉次郎 潮. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-06-23.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: JP7064465B2. Автор: 孝司 近藤. Владелец: JFE Techno Research Corp. Дата публикации: 2022-05-10.

Film thickness monitoring apparatus and film thickness monitoring method

Номер патента: JP3737442B2. Автор: 克幸 落合,俊郎 小野,誠太郎 松尾,勝 嶋田,好人 神,聰 田澤. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2006-01-18.

Film thickness measurement value correction method and film thickness corrector

Номер патента: JP2015172536A. Автор: Akira Nakamura,Yasumasa Hiroo,Hiroshi Ota,康正 廣尾,顕 中村,宏明 澁江,Hiroaki Shibue,太田　裕志,裕志 太田. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2015-10-01.

Film thickness calculation method for grain boundary oxide layer, plating property determination method, manufacturing method for plated sheet steel, and film thickness calculation device

Номер патента: JP2023075027A. Автор: Kazushi Hayashi,和志 林,Koji Sasaki,Masayoshi Kobayashi,Masahiro Inui,康二 佐々木,正宜 小林,Hiroki Fukushima,浩樹 福島,昌広 乾. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-05-30.

Film thickness inspection device and film thickness inspection method

Номер патента: JP2017067702A. Автор: Hideki Watanabe,Tsuneo Saito,弘行 平松,英樹 渡辺,Chao Tang,庸男 歳桃,渡辺　英樹,超 唐,Hiroyuki Hiramatsu. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-06.

Method for measuring film thickness and measuring apparatus for film thickness gauge

Номер патента: JPH10300412A. Автор: Yasuhiro Kotani,Kenji Kajiwara,Tokio Kenmochi,冨紀夫 劔持,健治 梶原,靖広 小谷. Владелец: Sanko Electronic Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 1998-11-13.

Method and apparatus for measuring refractive index of transparent film and method and apparatus for measuring film thickness of transparent film

Номер патента: JP5057848B2. Автор: 克一 北川. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-24.

Nondestructive testing method for every layer thin film thickness of SAW device with multilayer film structure

Номер патента: CN1272602C. Автор: 吴小国,马靖,杨保和,陈希明. Владелец: Tianjin University of Technology. Дата публикации: 2006-08-30.

Method for manufacturing film of inclined film thickness, and film deposition apparatus

Номер патента: JP2006037151A. Автор: Susumu Abe,進 阿部. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2006-02-09.

Optical thin film forming apparatus equipped with film thickness measuring device and optical thin film forming method

Номер патента: JP4547489B2. Автор: 清 細川,修 白井,和弘 高木,敏夫 笠原,義昭 野村. Владелец: 株式会社昭和真空. Дата публикации: 2010-09-22.

Apparatus and method for detecting film thickness in polishing machine

Номер патента: TWI235692B. Автор: Chun-Hsien Sheng. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2005-07-11.

Device for measuring film thickness

Номер патента: CA580098A. Автор: L. Shinn Dalton. Владелец: Crown Zellerbach Corp. Дата публикации: 1959-07-21.

Method for adjusting the precision of the film thickness measuring machine

Номер патента: TW451385B. Автор: Ting-Yen Yang,Guan-Jiun Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2001-08-21.

High precision film thickness measuring machine

Номер патента: TW452075U. Автор: Jie-Jing Lin. Владелец: Lin Jie Jing. Дата публикации: 2001-08-21.

Controller for paint film thickness in continuous painting line

Номер патента: JPS57102266A. Автор: Masao Tanabe,Yoshiyasu Terasaka. Владелец: Chugai Ro Co Ltd. Дата публикации: 1982-06-25.

Measuring thin film thickness

Номер патента: GB202407938D0. Автор: . Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2024-07-17.

MEasuring thin film thickness

Номер патента: GB202407936D0. Автор: . Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2024-07-17.

Coating method for making film thickness of 3D articles desired to be coated be evenly distributed

Номер патента: TW200530419A. Автор: Rong-Zhong Shi. Владелец: Gen Coating Technologies Corp. Дата публикации: 2005-09-16.

Film thickness gauge

Номер патента: USD176626S. Автор: Ervin J. Michalak. Владелец: . Дата публикации: 1956-01-10.

Measuring method and measuring apparatus of film thickness

Номер патента: JPS55149004A. Автор: Shigemi Furubiki. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1980-11-20.

A detecting window for detecting film thickness in polishing machine

Номер патента: TW200532787A. Автор: Chun-Hsien Sheng. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2005-10-01.

Film thickness examining method

Номер патента: JPS526973A. Автор: Hisayasu Matsuo,Yasukado Ozawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1977-01-19.

Film thickness measuring probe

Номер патента: AU4599464A. Автор: Joseph Johnson Gregory. Владелец: Unisearch Ltd. Дата публикации: 1966-12-22.

Non-contact wet or dry film thickness measuring device using eddy current and ultrasonic sensors

Номер патента: AU8002991A. Автор: Allan Frohm Falcoff,Norman Marion West. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 1992-12-21.

Coating method for making film thickness of 3D articles desired to be coated be evenly distributed

Номер патента: TWI264476B. Автор: Rung-Jung Shr. Владелец: Gen Coating Technologies Corp. Дата публикации: 2006-10-21.

Method and means for measuring ink film thickness

Номер патента: CA632519A. Автор: N. Adams Dolor,R. Bradford John. Владелец: Harris Intertype Corp. Дата публикации: 1961-12-12.

A detecting window for detecting film thickness in polishing machine

Номер патента: TWI228771B. Автор: Chun-Hsien Sheng. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2005-03-01.

Online measurement of thin film thickness in chemical mechanical polishing method

Номер патента: TW393372B. Автор: Jiun-Shian Li,Jin-Shiang Jang,Guei-Chang Tsai,Yang Yun-Liang Ou. Владелец: Mosel Vitelic Inc. Дата публикации: 2000-06-11.

Method of measuring film thickness and microwave measuring unit

Номер патента: TWI227319B. Автор: Bar-Long Deng,Kuang-Cheng Fan. Владелец: Compal Electronics Inc. Дата публикации: 2005-02-01.

Method of measuring film thickness and microwave measuring unit

Номер патента: TW200427965A. Автор: Bar-Long Denq,Kuang-Cheng Fan. Владелец: Compal Electronics Inc. Дата публикации: 2004-12-16.

Coated film thickness measuring device

Номер патента: JPS5559301A. Автор: Nikoraebuichi Naumenko Nikorai,Nikoraebuichi Zatsuepi Nikorai,Fuomichi Shiruyuku Buikutoru,Ibuanobuichi Maruko Ibuan,Arekusandorobuichi Buarentein,Mihiyairobuichi Anisuk Buareri,Buraj. Владелец: Otdel Fiz Nerazrusha Kontr. Дата публикации: 1980-05-02.

A kind of the point automatic adjusting method and thicknesses of layers measuring device of film thickness measuring instrument

Номер патента: CN109751961A. Автор: 张林峰. Владелец: Chengdu CEC Panda Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-14.

Film thickness standard for calibration checking and calibration of thickness gauges

Номер патента: SU1307225A1. Автор: Рейн Антсович Лаанеотс. Владелец: Таллинский Политехнический Институт. Дата публикации: 1987-04-30.

Thickness control method by crystal oscillation type film thickness monitor

Номер патента: JP6263441B2. Автор: 康信 小林. Владелец: Canon Tokki Corp. Дата публикации: 2018-01-17.

METHOD OF CVD-DEPOSITING A FILM HAVING A SUBSTANTIALLY UNIFORM FILM THICKNESS

Номер патента: US20120015105A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-19.

COMPOUND SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING INSULATION FILM WITH DIFFERENT FILM THICKNESSES BENEATH ELECTRODES

Номер патента: US20120126287A1. Автор: . Владелец: Sanken Electric Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-05-24.

LAMINATED STRUCTURE FOR MEASURING REFLECTED LIGHT INTENSITY, DEVICE CONTAINING LAMINATED STRUCTURE FOR MEASURING REFLECTED LIGHT INTENSITY, AND METHOD FOR MEASURING FILM THICKNESS AND/OR MASS AND/OR VISCOSITY OF THIN FILM

Номер патента: US20130063717A1. Автор: KAWASAKI Takayoshi,Okahata Yoshio. Владелец: TOKYO INSTITUTE TECHNOLOGY. Дата публикации: 2013-03-14.

Film Thickness, Refractive Index, and Extinction Coefficient Determination for Film Curve Creation and Defect Sizing in Real Time

Номер патента: US20140125978A1. Автор: Haller Kurt,Feiler David. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-08.

Film thickness measuring method of garmet films

Номер патента: JPS5380250A. Автор: Hiroshi Inoue,Iesada Hirai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1978-07-15.

Method and apparatus for controlling film thickness distribution in optical thin film manufacturing apparatus

Номер патента: JP4483159B2. Автор: 清 細川,修 白井,和弘 高木,達士 石上,敏夫 笠原,陽彦 熱海. Владелец: 株式会社昭和真空. Дата публикации: 2010-06-16.

Method for producing radiation-sensitive composition and method for controlling film thickness of resist film

Номер патента: JP5392098B2. Автор: 大輔 清水,将功 菅野,友厚 青木,公将 寺山,美智子 馬場. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

Measuring method for film thickness of thin film

Номер патента: JPS5660309A. Автор: Koichi Matsuumi. Владелец: Nippon Electric Co Ltd. Дата публикации: 1981-05-25.

Method for measuring film thickness of multilayer thin film, method for manufacturing optical information recording medium using the method, and apparatus for manufacturing optical information recording medium

Номер патента: JP3732894B2. Автор: 鋭二 大野,信夫 赤平,哲也 秋山. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2006-01-11.

Method of forming silicide film, forming device therefor and method of controlling film thickness

Номер патента: JP2004228324A. Автор: Ryuji Eto,竜二 江藤. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2004-08-12.

Method and apparatus for controlling film thickness of chemical conversion treatment film

Номер патента: JPS6240383A. Автор: Yoshiyuki Kawaguchi,Koji Ando,Akiyoshi Yamauchi,Masayuki Oishi,Fumio Yurube,山内　昭良,安藤　功司,大石　公志,川口　善行,由留部　文雄. Владелец: Sumitomo Metal Industries Ltd. Дата публикации: 1987-02-21.

Wet film thickness detection system applied to wet film coating equipment

Номер патента: CN214234809U. Автор: 叶超,马长生,蔡正兴. Владелец: Changzhou Aoruike Precision Measurement System Co ltd. Дата публикации: 2021-09-21.

Optical method for monitoring nano-crystal film surface structure and film thickness

Номер патента: CN100482573C. Автор: 黄呈加. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2009-04-29.

Plunger pump flow distribution pair oil film testing device with film thickness feedback control function

Номер патента: CN214470603U. Автор: 王俊杰,底本辉. Владелец: Henan University of Science and Technology. Дата публикации: 2021-10-22.

Film-thickness precise control device of film blowing machine

Номер патента: CN102166819A. Автор: 王光华,刘子明,文国强,程联芳. Владелец: HUBEI HENGTAI RUBBER CO Ltd. Дата публикации: 2011-08-31.

Film thickness distribution evaluating method of metal thin-films

Номер патента: JPS5428649A. Автор: Shinichi Sato,Hisao Yakushiji,Hirotsugu Harada,Hidenobu Ishikura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1979-03-03.

Measurment for film thickness of thin film

Номер патента: JPS62131532A. Автор: Koichi Higuchi,樋口　孝一. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1987-06-13.

Film thickness measuring instrument for optical thin film

Номер патента: JPS6242006A. Автор: Minoru Yamamoto,Tadashi Hattori,Yoshiki Ueno,稔 山元,正 服部,上野　祥樹. Владелец: Nippon Soken Inc. Дата публикации: 1987-02-24.

Method for measuring film thickness of multi-layer thin film, and method and device for manufacturing optical information recording medium

Номер патента: JPH10253324A. Автор: Nobuo Akahira,Eiji Ono,Tetsuya Akiyama,鋭二 大野,信夫 赤平,哲也 秋山. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1998-09-25.

Crucible device, control method of the crucible device, film thickness measuring device and thin film deposition apparatus

Номер патента: CN102808167A. Автор: 鲁俊瑞. Владелец: LIG ADP CO Ltd. Дата публикации: 2012-12-05.

Method for rapid detection of SiO2 film thickness and film compact

Номер патента: CN104865178A. Автор: 王丹,傅强,朱磊,李加海,金艳芳,胡超川. Владелец: ANHUI LUMITO ELECTRONIC MATERIALS Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-26.

Method of measuring film thickness during film deposition

Номер патента: SU1746214A1. Автор: Владимир Никифорович Антонюк,Елина Иосифовна Пищаль. Владелец: Производственное Объединение "Завод "Арсенал". Дата публикации: 1992-07-07.

Film thickness control method for semiconductor film substance

Номер патента: JPS52117549A. Автор: Akira Noma. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-10-03.

Manufacturing method of film thickness changing thin film

Номер патента: JP3794472B2. Автор: 隆志 才田,俊海 小湊,亮一 笠原,久晃 岡崎. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2006-07-05.

Optically controlling method of film thickness of multilayered film

Номер патента: JPS62227102A. Автор: Hirotaka Nakano,博隆 中野,Tomoko Kitazawa,倫子 北沢. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1987-10-06.

Measurement and display method for film thickness reflectivity of optical coated film

Номер патента: CN101017211A. Автор: 孙龙,菊池和夫,赵升林. Владелец: Henan Costar Group Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-15.

Film thickness evaluating apparatus of insulation film

Номер патента: JPS55149047A. Автор: Sunao Nishioka. Владелец: CHO LSI GIJUTSU KENKYU KUMIAI. Дата публикации: 1980-11-20.

Method of treating subterranean formations with porous ceramic particulate materials

Номер патента: CA2713734C. Автор: Harold Dean Brannon,Allan Ray Rickards,Gino F. Di Lullo Arias,Christopher John Stephenson,Satyanarayana D. V. Gupta,James Philip Rae. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 2013-12-17.

Method of treating subterranean formations with porous ceramic particulate materials

Номер патента: CA2713734A1. Автор: Harold Dean Brannon,Allan Ray Rickards,Gino F. Di Lullo Arias,Christopher John Stephenson,Satyanarayana D. V. Gupta,James Philip Rae. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-18.

Smoke filters for smoking devices with porous masses having a carbon particle loading and an encapsulated pressure drop

Номер патента: CA2813575C. Автор: Peter Burke,Julia Hufen,Ramesh Srinivasan,Meinhard Gusik,Luis Jimenez,Raymond Robertson. Владелец: Celanese Acetate LLC. Дата публикации: 2016-06-21.

FILM THICKNESS MEASUREMENT

Номер патента: US20120088026A1. Автор: Massa John Stephen. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-12.

Charged Particle Beam Apparatus and Film Thickness Measurement Method

Номер патента: US20120187292A1. Автор: Tomimatsu Satoshi,Agemura Toshihide,Nanri Terutaka,Onishi Tsuyoshi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-07-26.

METHOD AND APPARATUS FOR PERFORMING FILM THICKNESS MEASUREMENTS USING WHITE LIGHT SCANNING INTERFEROMETRY

Номер патента: US20120191412A1. Автор: . Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2012-07-26.

FILM-THICKNESS MEASURING DEVICE AND CALIBRATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20120222464A1. Автор: He Chengming,Ko Chih-sheng. Владелец: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO. ltd. Дата публикации: 2012-09-06.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.