• Главная
  • Methods of atomic layer deposition using titanium-based precursors

Methods of atomic layer deposition using titanium-based precursors

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Healing method of defect using atomic layer deposition

Номер патента: KR20150011989A. Автор: 이한보람,김관표. Владелец: 인천대학교 산학협력단. Дата публикации: 2015-02-03.

Device and method of atomic-layer deposition of coating on substrate surface

Номер патента: RU2704875C2. Автор: Тимо МАЛИНЕН. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2019-10-31.

Methods for preparing thin fillms by atomic layer deposition using hydrazines

Номер патента: WO2011115878A4. Автор: Paul Williams,Simon Rushworth. Владелец: SIGMA-ALDRICH CO. LLC. Дата публикации: 2011-12-08.

Atomic layer deposition method of metal (ii), (0), or (iv) containing film layer

Номер патента: EP4034689A1. Автор: James. D PARISH,Andrew. L JOHNSON. Владелец: University of Bath. Дата публикации: 2022-08-03.

Atomic layer deposition method of metal (ii), (0), or (iv) containing film layer

Номер патента: US20220356576A1. Автор: Andrew L. Johnson,James D. PARISH. Владелец: University of Bath. Дата публикации: 2022-11-10.

Atomic layer deposition method of metal (II), (0), or (IV) containing film layer

Номер патента: GB2587401A9. Автор: D Parish James,L Johnson Andrew. Владелец: University of Bath. Дата публикации: 2024-01-17.

Atomic layer deposition using tin-based or germanium-based precursors

Номер патента: US20240287677A1. Автор: Jean-Sebastien Materne Lehn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Atomic layer deposition using tin-based or germanium-based precursors

Номер патента: WO2024173112A1. Автор: Jean-Sebastien Materne Lehn. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2024-08-22.

Improved methods for atomic layer deposition

Номер патента: WO2008010941A3. Автор: Ce Ma,Qing Min Wang,Graham McFarlane,Patrick J Helly. Владелец: Patrick J Helly. Дата публикации: 2008-07-31.

Methods of vapor deposition of ruthenium using an oxygen-free co-reactant

Номер патента: US11976352B2. Автор: Jacob Woodruff,Guo Liu,Ravindra Kanjolia. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2024-05-07.

Corrosion resistant film on a chamber component and methods of depositing thereof

Номер патента: US20240003003A1. Автор: LEI Zhou,Mark J. Saly,Steven D. Marcus,Lisa J. Enman. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Corrosion resistant film on a chamber component and methods of depositing thereof

Номер патента: US11932938B2. Автор: LEI Zhou,Mark J. Saly,Steven D. Marcus,Lisa J. Enman. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

Methods of area-selective atomic layer deposition

Номер патента: US20200354834A1. Автор: Rudy J. Wojtecki,Gregory M. Wallraff,Ekmini A. De Silva,Noel Arellano. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-11-12.

High-k dielectric films and methods of producing using titanium-based -diketonate precursors

Номер патента: EP2281073A1. Автор: Peter Nicholas Heys,Paul Raymond Chalker. Владелец: Sigma Aldrich Co LLC. Дата публикации: 2011-02-09.

Method of depositing an atomic layer

Номер патента: US09556520B2. Автор: In-Kyo Kim,Myung-Soo Huh,Suk-Won Jung,Choel-Min JANG,Sung-Hun KEY. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

Method and device for deposition of atomic layers

Номер патента: RU2600047C2. Автор: Свен ЛИНДФОРС. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2016-10-20.

High-k dielectric films and methods of producing using titanium-based precursors

Номер патента: IL209379A0. Автор: . Владелец: Sigma Aldrich Co. Дата публикации: 2011-01-31.

METHODS OF AREA-SELECTIVE ATOMIC LAYER DEPOSITION

Номер патента: US20200354834A1. Автор: Wojtecki Rudy J.,De Silva Ekmini A.,Wallraff Gregory M.,Arellano Noel. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-12.

Method of depositing atomic layer

Номер патента: US20240102160A1. Автор: Hyunjun AHN,Byounghoon Ji,Kyoungwoo Hong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Coating on particles by atomic layer deposition

Номер патента: RU2728343C1. Автор: Марко Пудас. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2020-07-29.

Coating fabric substrate by deposition of atomic layers

Номер патента: RU2600462C2. Автор: Свен ЛИНДФОРС. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2016-10-20.

Large scale system for atomic layer deposition

Номер патента: WO2024163509A1. Автор: Andrew BROERMAN,James RAGONESI,Brian Evanko. Владелец: Forge Nano Inc.. Дата публикации: 2024-08-08.

Oxygen radical enhanced atomic-layer deposition using ozone plasma

Номер патента: US09583337B2. Автор: Arthur W. Zafiropoulo. Владелец: Ultratech Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Method and device for atomic layer deposition

Номер патента: RU2702669C2. Автор: Тимо МАЛИНЕН,Юхана КОСТАМО,Вэй-Минь ЛИ,Теро ПИЛЬВИ. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2019-10-09.

Method of Fabricating a Uniformly Aligned Planar Array of Nanowires Using Atomic Layer Deposition

Номер патента: US20150132489A1. Автор: Steven Howard Snyder. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-05-14.

Method of forming very reactive metal layers by a high vacuum plasma enhanced atomic layer deposition system

Номер патента: US09828673B2. Автор: Feng Niu,Peter Chow. Владелец: Svt Associates Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Method of forming very reactive metal layers by a high vacuum plasma enhanced atomic layer deposition system

Номер патента: US20160083842A1. Автор: Feng Niu,Peter Chow. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-03-24.

Antimicrobial nanolaminates using vapor deposited methods such as atomic layer deposition

Номер патента: EP4395800A1. Автор: Prerna Goradia,Neil Amit GORADIA. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-10.

Atomic layer deposition with in-situ sputtering

Номер патента: WO2024050252A1. Автор: Pulkit Agarwal,Gengwei Jiang,Pei-Chi Liu,Jonathan Grant BAKER. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2024-03-07.

Atomic layer deposition encapsulation for acoustic wave devices

Номер патента: US20120091855A1. Автор: Merrill Albert Hatcher, JR.,John Robert Siomkos,Jayanti Jaganatha Rao. Владелец: RF Micro Devices Inc. Дата публикации: 2012-04-19.

Method of depositing ammonia free and chlorine free conformal silicon nitride film

Номер патента: US09589790B2. Автор: Jon Henri,Dennis M. Hausmann,James S. Sims,Shane Tang. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Methods of forming ruthenium-containing films by atomic layer deposition

Номер патента: EP2291548A1. Автор: Ravi Kanjolia,Neil Boag,Rajesh Odedra,Jeff Anthis. Владелец: Sigma Aldrich Co LLC. Дата публикации: 2011-03-09.

Method of forming conformal barrier layers for protection of thermoelectric materials

Номер патента: EP2643494A1. Автор: Charles A. Paulson. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2013-10-02.

Method of forming conformal barrier layers for protection of thermoelectric materials

Номер патента: WO2012071173A1. Автор: Charles A. Paulson. Владелец: CORNING INCORPORATED. Дата публикации: 2012-05-31.

Advanced precursors for selective atomic layer deposition using self-assembled monolayers

Номер патента: US20220136106A1. Автор: Stacey F. Bent,Il-Kwon Oh. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2022-05-05.

Binary and ternary metal chalcogenide materials and method of making the same

Номер патента: EP2130942A3. Автор: Liu Yang,Manchao Xiao. Владелец: Air Products and Chemicals Inc. Дата публикации: 2012-12-05.

Selective deposition using hydrophobic precursors

Номер патента: US12080548B2. Автор: Antti Niskanen,Eva Tois,Hidemi Suemori,Suvi P. Haukka,Raija H. MATERO,Elina Färm. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2024-09-03.

Nitride film formed by plasma-enhanced and thermal atomic layer deposition process

Номер патента: US09865455B1. Автор: James Samuel Sims,Kathryn Merced Kelchner. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Method of patterning a mesoporous nano particulate layer

Номер патента: EP2193220A1. Автор: Julie Baker. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2010-06-09.

Method of patterning a mesoporous nano particulate layer

Номер патента: US8324008B2. Автор: Julie Baker. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2012-12-04.

Method of patterning a mesoporous nano particulate layer

Номер патента: WO2009040499A1. Автор: Julie Baker. Владелец: EASTMAN KODAK COMPANY. Дата публикации: 2009-04-02.

Molybdenum (IV) amide precursors and use thereof in atomic layer deposition

Номер патента: US09802220B2. Автор: Peter Nicholas Heys,Rajesh Odedra,Sarah Louise Hindley. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2017-10-31.

Methods of controlling film deposition using atomic layer deposition

Номер патента: US20080305561A1. Автор: Shrinivas Govindarajan. Владелец: Qimonda North America Corp. Дата публикации: 2008-12-11.

Atomic layer deposition method of forming an oxide comprising layer on a substrate

Номер патента: US20060003102A1. Автор: Demetrius Sarigiannis,Shuang Meng,Garo Derderian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-05.

Method of manufacturing semiconductor structure

Номер патента: US11942320B2. Автор: Kun Zhao. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Method of manufacturing semiconductor structure

Номер патента: US20230059262A1. Автор: Kun Zhao. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-02-23.

An apparatus for atomic layer deposition

Номер патента: EP3414357A1. Автор: Mikko SÖDERLUND,Pekka Soininen,Paavo Timonen. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2018-12-19.

Atomic layer deposition on optical structures

Номер патента: US20230212739A1. Автор: Ludovic Godet,Rutger MEYER TIMMERMAN THIJSSEN,Jinrui GUO. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Atomic layer deposition apparatus

Номер патента: FI20195590A1. Автор: Pekka Soininen,Pekka J Soininen,Hulda AMINOFF,Ville MIIKKULAINEN. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2020-12-29.

Method for tuning a deposition rate during an atomic layer deposition process

Номер патента: US20140248772A1. Автор: Jiang Lu,Mei Chang,Paul Ma,Joseph F. Aubuchon. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2014-09-04.

Method for atomic layer deposition

Номер патента: US09605344B2. Автор: C. Jeffrey Brinker,Joseph L. Cecchi,Ying-Bing JIANG,Yaqin Fu. Владелец: STC UNM. Дата публикации: 2017-03-28.

Methods for increasing growth rate during atomic layer deposition of thin films

Номер патента: US09428842B2. Автор: Viljami Pore. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2016-08-30.

Atomic layer deposition method of depositing an oxide on a substrate

Номер патента: US20060257584A1. Автор: Shuang Meng,Danny Dynka,Garo Derderian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-11-16.

Antimicrobial nanolaminates using vapor deposited methods such as atomic layer deposition

Номер патента: WO2023031951A1. Автор: Prerna Goradia,Neil Amit GORADIA. Владелец: Prerna Goradia. Дата публикации: 2023-03-09.

Methods for depositing carbon conducting films by atomic layer deposition

Номер патента: US20240124977A1. Автор: Jean-Sebastien Materne Lehn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Plasma atomic layer deposition

Номер патента: US12077864B2. Автор: Harm C. M. Knoops,Koen de Peuter,Wilhelmus M. M. Kessels. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2024-09-03.

Plasma atomic layer deposition

Номер патента: US09637823B2. Автор: Harm C. M. Knoops,Koen de Peuter,Wilhelmus M. M. Kessels. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2017-05-02.

Metamaterial and method for forming a metamaterial using atomic layer deposition

Номер патента: EP2971229A1. Автор: Ando Feyh,Gary Yama,Gary O'brien,Fabian Purkl,John Provine. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-01-20.

Barrier film and method of manufacturing the same

Номер патента: US8828528B2. Автор: Hiroaki Ono,Takahiro Kawana,Andrew Chakchung Yu. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-09-09.

Atomic layer deposition apparatus for powders

Номер патента: US12031208B2. Автор: Jing-Cheng Lin,Jung-Hua Chang,Chia-Cheng Ku. Владелец: Sky Tech Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

Copper(I) complexes and processes for deposition of copper films by atomic layer deposition

Номер патента: US20080075958A1. Автор: Kyung-ho Park. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-03-27.

An atomic layer deposition reaction chamber and an atomic layer deposition reactor

Номер патента: US20240344197A1. Автор: Pekka Soininen,Markus Bosund,Pasi MERILÄINEN,Esko Karppanen. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2024-10-17.

Apparatus and method for making atomic layer deposition on fine powders

Номер патента: US09951419B2. Автор: Ying-Bing JIANG,Hongxia Zhang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-04-24.

Atomic layer deposition apparatus and process

Номер патента: US09695510B2. Автор: Gilbert Bruce Rayner, JR.. Владелец: Kurt J Lesker Co. Дата публикации: 2017-07-04.

Atomic-layer deposition method using compound gas jet

Номер патента: US09528184B2. Автор: Kam Chuen Ng,Ronald Steven Cok,Kurt D. Sieber. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2016-12-27.

Atomic layer deposition apparatus

Номер патента: US09499908B2. Автор: Kam Chuen Ng,Ronald Steven Cok,Kurt D. Sieber. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2016-11-22.

Atomic-layer deposition method using compound gas jet

Номер патента: US20160237564A1. Автор: Kam Chuen Ng,Ronald Steven Cok,Kurt D. Sieber. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2016-08-18.

Atomic-layer deposition apparatus

Номер патента: US09976216B2. Автор: Kam Chuen Ng,Ronald Steven Cok,Kurt D. Sieber. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2018-05-22.

Atomic-layer deposition apparatus using compound gas jet

Номер патента: US09506147B2. Автор: Kam Chuen Ng,Ronald Steven Cok,Kurt D. Sieber. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2016-11-29.

Methods for forming a boron nitride film by a plasma enhanced atomic layer deposition process

Номер патента: US20230272527A1. Автор: Atsuki Fukazawa. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2023-08-31.

Atomic layer deposition of metal phosphates and lithium silicates

Номер патента: US9765431B2. Автор: Mikko Ritala,Markku Leskelä,Timo Hatanpää,Jani Hämäläinen,Jani Holopainen. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2017-09-19.

Atomic layer deposition coatings on razor components

Номер патента: US09327416B2. Автор: Neville Sonnenberg,John Madeira. Владелец: Gillette Co LLC. Дата публикации: 2016-05-03.

Atomic layer deposition (ald) device

Номер патента: RU2752059C1. Автор: Марко Пудас,Тимо МАЛИНЕН,Никлас ХОЛМ,Юхана КОСТАМО. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2021-07-22.

High voltage, low pressure plasma enhanced atomic layer deposition

Номер патента: US11935759B2. Автор: Eric R. Dickey. Владелец: Lotus Applied Technology LLC. Дата публикации: 2024-03-19.

High voltage, low pressure plasma enhanced atomic layer deposition

Номер патента: WO2020223737A3. Автор: Eric R. Dickey. Владелец: Lotus Applied Technology, LLC. Дата публикации: 2021-02-11.

Method for atomic layer deposition

Номер патента: US9506144B2. Автор: Hsin-Yi Lee,Ching-Shun Ku. Владелец: NATIONAL SYNCHROTRON RADIATION RESEARCH CENTER. Дата публикации: 2016-11-29.

Loss prevention during atomic layer deposition

Номер патента: US20230154754A1. Автор: Jason Alexander VARNELL,Joseph R. Abel,Douglas Walter Agnew. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2023-05-18.

Method for tuning a deposition rate during an atomic layer deposition process

Номер патента: WO2010132172A2. Автор: Jiang Lu,Mei Chang,Joseph F. Aubuchon,Paul F. Ma. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2010-11-18.

Plasma atomic layer deposition

Номер патента: US10480078B2. Автор: Harm C. M. Knoops,Koen de Peuter,Wilhelmus M. M. Kessels. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2019-11-19.

Plasma atomic layer deposition

Номер патента: US10072337B2. Автор: Harm C. M. Knoops,Koen de Peuter,Wilhelmus M. M. Kessels. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2018-09-11.

An atomic layer deposition apparatus

Номер патента: FI20195591A1. Автор: Pekka Soininen,Pekka J Soininen,Hulda AMINOFF,Ville MIIKKULAINEN. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2020-12-29.

An atomic layer deposition apparatus

Номер патента: WO2020260770A1. Автор: Pekka Soininen,Pekka J. Soininen,Hulda AMINOFF,Ville MIIKKULAINEN. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2020-12-30.

Atomic layer deposition method for metal thin films

Номер патента: US20240060180A1. Автор: Shintaro Higashi,Naoyuki Takezawa,Fumikazu Mizutani. Владелец: Kojundo Kagaku Kenkyusho KK. Дата публикации: 2024-02-22.

Roll to roll atomic layer deposition apparatus

Номер патента: US20230304153A1. Автор: Jihyun Seo. Владелец: Beilab Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Plasma atomic layer deposition

Номер патента: US20170356087A1. Автор: Koen de Peuter,Harm C.M. Knoops,Wilhelmus M.M. Kessels. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2017-12-14.

Plasma atomic layer deposition

Номер патента: US20200208268A1. Автор: Koen de Peuter,Harm C.M. Knoops,Wilhelmus M.M. Kessels. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2020-07-02.

Plasma atomic layer deposition

Номер патента: US20180363143A1. Автор: Koen de Peuter,Harm C.M. Knoops,Wilhelmus M.M. Kessels. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2018-12-20.

Apparatus and method for atomic layer deposition (ald)

Номер патента: EP3959355A1. Автор: Pekka Soininen,Matti Malila. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2022-03-02.

Apparatus and method for atomic layer deposition (ALD)

Номер патента: US11970773B2. Автор: Pekka Soininen,Matti Malila. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2024-04-30.

Apparatus and method for atomic layer deposition (ald)

Номер патента: US20220275512A1. Автор: Pekka Soininen,Matti Malila. Владелец: Hervannan Sauna Oy. Дата публикации: 2022-09-01.

Atomic layer deposition carousel with continuous rotation and methods of use

Номер патента: US09631277B2. Автор: Joseph Yudovsky. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Atomic layer deposition equipment and process method

Номер патента: US20220178022A1. Автор: Jing-Cheng Lin,Ta-Hao Kuo. Владелец: Sky Tech Inc. Дата публикации: 2022-06-09.

Atomic layer deposition apparatus

Номер патента: US20130178070A1. Автор: Ki-Hyun Kim,Ki-Vin Im,Hoon-Sang Choi,Moon-hyeong Han. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-07-11.

An atomic layer deposition apparatus and an arrangement

Номер патента: US20240337019A1. Автор: Pekka Soininen,Matti Malila,Markus Bosund,Pasi MERILÄINEN,Olli-Pekka Suhonen. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2024-10-10.

Atomic layer deposition powder coating

Номер патента: EP2347031A2. Автор: Christophe Detavernier,Davy Deduytsche,Johan Haemers. Владелец: Universiteit Gent. Дата публикации: 2011-07-27.

Method of loading the substrate into aso reactor

Номер патента: RU2620230C2. Автор: Юхана КОСТАМО,Вяйнё КИЛЬПИ,Вэй-Минь ЛИ. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2017-05-23.

An atomic layer deposition apparatus and an arrangement

Номер патента: EP4384651A1. Автор: Pekka Soininen,Matti Malila,Markus Bosund,Pasi MERILÄINEN,Olli-Pekka Suhonen. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2024-06-19.

An atomic layer deposition apparatus and an arrangement

Номер патента: WO2023017214A1. Автор: Pekka Soininen,Matti Malila,Markus Bosund,Pasi MERILÄINEN,Olli-Pekka Suhonen,Mikko TYNI. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2023-02-16.

An atomic layer deposition apparatus and an arrangement

Номер патента: FI130544B. Автор: Pekka Soininen,Matti Malila,Markus Bosund,Pasi MERILÄINEN. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2023-11-08.

Method for growth of atomic layer ribbons and nanoribbons of transition metal dichalcogenides

Номер патента: US12060642B2. Автор: Xufan Li,Avetik R. Harutyunyan. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Method of depositing thin film

Номер патента: US09689072B2. Автор: Seung Woo Choi,Dong Seok Kang,Hyung Wook NOH. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2017-06-27.

Atomic layer deposition of protective coatings for semiconductor process chamber components

Номер патента: US12104246B2. Автор: Jennifer Y. Sun,David Fenwick. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Method of producing thin-film

Номер патента: US20240018654A1. Автор: Akihiro Nishida,Tomoharu Yoshino,Masako HATASE,Yoshiki OOE,Chiaki MITSUI. Владелец: Adeka Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Methods of making nanopowders, nanoceramic materials and nanoceramic components

Номер патента: US20220234959A1. Автор: Xiaowei Wu,Guodong Zhan,Jennifer Y. Sun,Xiao Ming He. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-07-28.

Methods for forming semiconductor materials by atomic layer deposition using halide precursors

Номер патента: US20130295708A1. Автор: Christiaan J. Werkhoven. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2013-11-07.

Atomic layer deposition of lithium boron comprising nanocomposite solid electrolytes

Номер патента: US11946139B2. Автор: Anil U. Mane,Jeffrey W. Elam,Devika Choudhury. Владелец: UChicago Argonne LLC. Дата публикации: 2024-04-02.

Systems and methods for forming semiconductor materials by atomic layer deposition

Номер патента: US20120083101A1. Автор: Christiaan J. Werkhoven. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2012-04-05.

Systems for forming semiconductor materials by atomic layer deposition

Номер патента: US20120118233A1. Автор: Christiaan J. Werkhoven. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2012-05-17.

METHOD OF PLASMA ENHANCED ATOMIC LAYER DEPOSITION OF TaC AND TaCN FILMS HAVING GOOD ADHESION TO COPPER

Номер патента: WO2007111780A3. Автор: Tadahiro Ishizaka. Владелец: Tadahiro Ishizaka. Дата публикации: 2008-01-17.

Method of forming an atomic layer thin film out of the liquid phase

Номер патента: WO2007117909A1. Автор: Michael Goldstein. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2007-10-18.

Film deposition using tantalum precursors

Номер патента: US09721787B2. Автор: David Thompson,Jeffrey W. Anthis. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-08-01.

Method of forming a layer of material using an atomic layer deposition process

Номер патента: WO2007146537B1. Автор: Neal Rueger,John Smythe. Владелец: John Smythe. Дата публикации: 2008-12-18.

Method of forming a layer of material using an atomic layer deposition process

Номер патента: EP2027304A2. Автор: Neal Rueger,John Smythe. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2009-02-25.

Electron microscopy specimen and method of fabrication

Номер патента: US09721751B2. Автор: Timothy Stephen English. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2017-08-01.

Method of preparing corrosion resistant coatings

Номер патента: EP2938758A1. Автор: Väino SAMMELSELG,Lauri AARIK,Maido MERISALU. Владелец: Tartu Ülikool (University Of Tartu). Дата публикации: 2015-11-04.

Method of preparing corrosion resistant coatings

Номер патента: US09834849B2. Автор: Väino SAMMELSELG,Lauri AARIK,Maido MERISALU. Владелец: Tartu Ülikool (University Of Tartu). Дата публикации: 2017-12-05.

Nitrogen-containing ligands and their use in atomic layer deposition methods

Номер патента: US09580799B2. Автор: David Thompson,Jeffrey W. Anthis. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Layer deposition method and layer deposition apparatus

Номер патента: US20240030024A1. Автор: HyungSuk Jung,Hanjin Lim,Intak Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-25.

Method of making an electron stripper foil

Номер патента: US20200352019A1. Автор: Thomas Eriksson,Yong Liang,George Theodore Dalakos,Vasile Neculaes. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2020-11-05.

Pellicle membrane and method of forming the same

Номер патента: US20230408904A1. Автор: Hsin-Chang Lee,Pei-Cheng Hsu,Huan-Ling Lee,Wei-Hao Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Method of plasma enhanced atomic layer deposition of tac and tacn films having good adhesion to copper

Номер патента: TWI367957B. Автор: Tadahiro Ishizaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-07-11.

Thermal atomic layer deposition of ternary gallium oxide thin films

Номер патента: US20230167548A1. Автор: Adam Hock,Michael James Foody. Владелец: Illinois Institute of Technology. Дата публикации: 2023-06-01.

High conductivity graphene-metal composite and methods of manufacture

Номер патента: US09945027B2. Автор: James J. Farquhar,Choon Ming SEAH. Владелец: Fourte International Sdn Bhd. Дата публикации: 2018-04-17.

Electron microscopy specimen and method of fabrication

Номер патента: US20170069457A1. Автор: Timothy Stephen English. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2017-03-09.

Multi-layer plasma resistant coating by atomic layer deposition

Номер патента: US12002657B2. Автор: Xiaowei Wu,Guodong Zhan,Jennifer Y. Sun,David Fenwick. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Method of preparing corrosion resistant coatings

Номер патента: WO2014102758A1. Автор: Väino SAMMELSELG,Lauri AARIK,Maido MERISALU. Владелец: University of Tartu. Дата публикации: 2014-07-03.

Method of forming an atomic layer thin film out of the liquid phase

Номер патента: US20070235876A1. Автор: Michael Goldstein. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2007-10-11.

Method of processing films prior to chemical vapor deposition using electron beam processing

Номер патента: US6204201B1. Автор: Matthew Ross. Владелец: Electron Vision Corp. Дата публикации: 2001-03-20.

Method of processing films prior to chemical vapor deposition using electron beam processing

Номер патента: US6548899B2. Автор: Matthew Ross. Владелец: Electron Vision Corp. Дата публикации: 2003-04-15.

Method of processing films prior to chemical vapor deposition using electron beam processing

Номер патента: AU5331700A. Автор: Matthew Ross. Владелец: Electron Vision Corp. Дата публикации: 2001-01-02.

Two-step atomic layer deposition of copper layers

Номер патента: EP1558783A2. Автор: Yoshihide Senzaki. Владелец: Aviza Technology Inc. Дата публикации: 2005-08-03.

Methods of fabricating interconnects for semiconductor components

Номер патента: US7410898B2. Автор: Shuang Meng,Garo J. Derderian,Kyle K. Kirby. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2008-08-12.

Methods of fabricating interconnects for semiconductor components

Номер патента: US20050186777A1. Автор: Kyle Kirby,Shuang Meng,Garo Derderian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-08-25.

Methods of fabricating interconnects for semiconductor components

Номер патента: SG131950A1. Автор: Shuang Meng,Kyle K Kirby,Garo J Derderian. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2007-05-28.

Methods of forming and using materials containing silicon and nitrogen

Номер патента: US09978937B2. Автор: Eugene P. Marsh. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Methods of Forming and Using Materials Containing Silicon and Nitrogen

Номер патента: US20180254413A1. Автор: Eugene P. Marsh. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-09-06.

Methods of Forming and Using Materials Containing Silicon and Nitrogen

Номер патента: US20160254447A1. Автор: Eugene P. Marsh. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2016-09-01.

Self-limiting chemical vapor deposition and atomic layer deposition methods

Номер патента: US09607920B2. Автор: Mary EDMONDS,Andrew C. Kummel,Atif M. NOORI. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Plasma-enhanced atomic layer deposition of conductive material over dielectric layers

Номер патента: WO2010088015A2. Автор: Dong Li,Steven Marcus,Robert B. Milligan. Владелец: ASM AMERICA, INC.. Дата публикации: 2010-08-05.

Plasma-enhanced atomic layer deposition of conductive material over dielectric layers

Номер патента: US20140008803A1. Автор: Dong Li,Steven Marcus,Robert B. Milligan. Владелец: ASM America Inc. Дата публикации: 2014-01-09.

Plasma-enhanced atomic layer deposition of conductive material over dielectric layers

Номер патента: US09466574B2. Автор: Dong Li,Steven Marcus,Robert B. Milligan. Владелец: ASM America Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Method of manufacturing substrate for epitaxy

Номер патента: US20170162378A1. Автор: Ying-Ru Shih,Wen-Ching Hsu,Miin-Jang Chen,Huan-Yu Shih,Yuan-Chuan CHUANG. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-08.

Capacitor, method of manufacturing capacitor, capacitor manufacturing apparatus, and semiconductor memory device

Номер патента: US20090045485A1. Автор: Toshiyuki Hirota. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2009-02-19.

Aluminum-Containing Layers and Methods of Forming the Same

Номер патента: US20200090986A1. Автор: Ding-I Liu,Kai-Shiung Hsu,Jhy-nan Lin,Mu-Min Hung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Atomic layer deposition of p-type oxide semiconductor thin films

Номер патента: EP3241234A1. Автор: Kenji Nomura,John Hyunchul Hong. Владелец: SnapTrack Inc. Дата публикации: 2017-11-08.

Atomic layer deposition of p-type oxide semiconductor thin films

Номер патента: US20160190290A1. Автор: Kenji Nomura,John Hyunchul Hong. Владелец: Qualcomm Mems Technologies Inc. Дата публикации: 2016-06-30.

Atomic layer deposition of P-type oxide semiconductor thin films

Номер патента: US09685542B2. Автор: Kenji Nomura,John Hyunchul Hong. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Methods of atomic-layer deposition of hafnium oxide/erbium oxide bi-layer as advanced gate dielectrics

Номер патента: US20140291776A1. Автор: Jinhong Tong. Владелец: Intermolecular Inc. Дата публикации: 2014-10-02.

Deposited material and method of formation

Номер патента: US09818885B2. Автор: Cheng-Yuan Tsai,Yao-Wen Chang,Hsing-Lien Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Deposited material and method of formation

Номер патента: US09524868B2. Автор: Cheng-Yuan Tsai,Yao-Wen Chang,Hsing-Lien Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Atomic layer deposition of films using spatially separated injector chamber

Номер патента: US09698009B2. Автор: Tatsuya E. Sato,Eran NEWMAN. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Atomic layer deposition for manufacturing whetlerite carbons

Номер патента: US20230364579A1. Автор: Christopher Vizcaino,Richard Mackay,James A. Hern. Владелец: Molecular Products Inc. Дата публикации: 2023-11-16.

Methods of forming a stack of multiple deposited semiconductor layers

Номер патента: EP3649670A1. Автор: LONG Lin,Chentsau Ying,Xinhai Han,Liyan Miao. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-05-13.

Atomic layer deposition for manufacturing whetlerite carbons

Номер патента: WO2024072491A9. Автор: Christopher Vizcaino,Richard Mackay,James HERN. Владелец: Molecular Products Inc.. Дата публикации: 2024-04-25.

Atomic layer deposition for manufacturing whetlerite carbons

Номер патента: WO2024072491A3. Автор: Christopher Vizcaino,Richard Mackay,James HERN. Владелец: Molecular Products Inc.. Дата публикации: 2024-07-18.

Atomic layer deposition for manufacturing whetlerite carbons

Номер патента: WO2024072491A2. Автор: Christopher Vizcaino,Richard Mackay,James HERN. Владелец: Molecular Products Inc.. Дата публикации: 2024-04-04.

Method of manufacturing semiconductor device by plasma treatment and heat treatment, and semiconductor device

Номер патента: US09966447B2. Автор: Junya Nishii. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Methods of fabricating interconnects for semiconductor components

Номер патента: US20050186790A1. Автор: Kyle Kirby,Shuang Meng,Garo Derderian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-08-25.

Methods of fabricating interconnects for semiconductor components

Номер патента: US20050186770A1. Автор: Kyle Kirby,Shuang Meng,Garo Derderian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-08-25.

Methods of fabricating interconnects for semiconductor components

Номер патента: US20070141835A1. Автор: Kyle Kirby,Shuang Meng,Garo Derderian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-06-21.

Methods of fabricating interconnects for semiconductor components

Номер патента: EP1719168A1. Автор: Shuang Meng,Garo J. Derderian,Kyle K. Kirby. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2006-11-08.

Methods of fabricating interconnects for semiconductor components

Номер патента: SG131951A1. Автор: Shuang Meng,Kyle K Kirby,Garo J Derderian. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2007-05-28.

Methods of fabricating interconnects for semiconductor components

Номер патента: WO2005083778A1. Автор: Shuang Meng,Garo J. Derderian,Kyle K. Kirby. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2005-09-09.

Plasma assisted atomic layer deposition titanium oxide for patterning applications

Номер патента: US09673041B2. Автор: Shankar Swaminathan,Frank L. Pasquale,Adrien Lavoie. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Mask and Reticle Protection with Atomic Layer Deposition (ALD)

Номер патента: US20220197131A1. Автор: Birol Kuyel. Владелец: Nano Master Inc. Дата публикации: 2022-06-23.

Method of depositing silicon film and film deposition apparatus

Номер патента: US12080552B2. Автор: Hiroyuki Hayashi,Daisuke Suzuki,Yoshihiro Takezawa,Tatsuya Miyahara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Method of depositing a pre-etch protective layer

Номер патента: US11915940B2. Автор: JIAO Yang,Heng Wang,Jon C. Farr,Alfredo Granados,Zhi Gang Wang,Rui Zhe Ren. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-02-27.

Ultrathin atomic layer deposition film accuracy thickness control

Номер патента: US20230298884A1. Автор: Hu Kang,Adrien Lavoie,Jun Qian,Purushottam Kumar,Seiji Matsuyama. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Atomic layer deposition equipment and process method

Номер патента: US20220119946A1. Автор: Jing-Cheng Lin,Ching-Liang Yi,Yun-Chi Hsu,Hsin-Yu Yao. Владелец: Sky Tech Inc. Дата публикации: 2022-04-21.

Erosion resistant metal oxide coatings deposited by atomic layer deposition

Номер патента: US20230286867A1. Автор: Xiaowei Wu,Michael R. Rice,Jennifer Y. Sun. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-09-14.

Fiber having integral weak interface coating, method of making and composite incorporating the fiber

Номер патента: US20230304194A1. Автор: Neal Magdefrau,Paul Sheedy,Wayde R. Schmidt. Владелец: RTX Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Textile including fibers deposited with material using atomic layer deposition for increased rigidity and strength

Номер патента: US20130023172A1. Автор: Sang In LEE. Владелец: Synos Technology Inc. Дата публикации: 2013-01-24.

Atomic layer deposition passivation for via

Номер патента: US20170368823A1. Автор: Zhizhang Chen,Mohammed Saad Shaarawi,Roberto A Pugliese, Jr.. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2017-12-28.

Atomic layer deposition passivation for via

Номер патента: EP3231007A1. Автор: Zhizhang Chen,Mohammed Saad Shaarawi,Jr. Roberto A. Pugliese. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2017-10-18.

Atomic layer deposition of metal films

Номер патента: US11970776B2. Автор: Patrick A. Van Cleemput,Seshasayee Varadarajan,Joshua Collins,Hanna Bamnolker,Griffin John Kennedy. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Area-Selective Atomic Layer Deposition Of Passivation Layers

Номер патента: US20220130659A1. Автор: Yong Wang,John Sudijono,Doreen Wei Ying Yong,Andrea Leoncini. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-04-28.

Atomic layer deposition apparatus

Номер патента: US20190019657A1. Автор: Keisuke Washio,Masao Nakata. Владелец: Japan Steel Works Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

Method of manufacturing compound thin-film photovoltaic cell

Номер патента: US20160197217A1. Автор: Akihiko Asano. Владелец: Solar Frontier KK. Дата публикации: 2016-07-07.

Method of manufacturing compound thin-film photovoltaic cell

Номер патента: US09472698B2. Автор: Akihiko Asano. Владелец: Solar Frontier KK. Дата публикации: 2016-10-18.

Coincident surface modifications and methods of preparation thereof

Номер патента: EP3814132A1. Автор: David C. Walther,Lance R. BROCKWAY. Владелец: Nelumbo Inc. Дата публикации: 2021-05-05.

Atomic layer deposition of silicon carbon nitride based materials

Номер патента: US09837263B2. Автор: Viljami Pore. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2017-12-05.

Laser-Assisted Atomic Layer Deposition of 2D Metal Chalcogenide Films

Номер патента: US20180216232A1. Автор: Ganesh Sundaram. Владелец: Ultratech Inc. Дата публикации: 2018-08-02.

Passivation of silicon dioxide defects for atomic layer deposition

Номер патента: US11993844B2. Автор: Steven Wolf,Andrew Kummel,Michael Breeden,Ashay Anurag. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2024-05-28.

Substrate web coating by atomic layers deposition

Номер патента: RU2605408C2. Автор: Свен ЛИНДФОРС. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2016-12-20.

Tungsten nitride atomic layer deposition processes

Номер патента: US7745329B2. Автор: Ming Li,Lee Luo,Shulin Wang,Aihua Chen,Ulrich Kroemer. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2010-06-29.

Atomic layer deposition and etching of transition metal dichalcogenide thin films

Номер патента: US20230250534A1. Автор: Mikko Ritala,Markku Leskelä,Jani Hämäläinen. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2023-08-10.

High selectivity atomic layer deposition process

Номер патента: US11993845B2. Автор: Srinivas D. Nemani,Jong Choi,Keith Tatseun WONG,Andrew C. Kummel,Christopher AHLES. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Atomic layer deposition of copper using surface-activating agents

Номер патента: WO2006033731A2. Автор: Jeffrey Scott Thompson. Владелец: E.I. DUPONT DE NEMOURS AND COMPANY. Дата публикации: 2006-03-30.

Atomic layer deposition with plasma source

Номер патента: US09868131B2. Автор: Sven Lindfors,Vaino Kilpi,Juhana Kostamo,Wei-Min Li,Timo Malinen. Владелец: Picosun Oy. Дата публикации: 2018-01-16.

Methods of selectively forming a material using parylene coating

Номер патента: US8945305B2. Автор: Eugene P. Marsh. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2015-02-03.

Coated drug compositions and methods of preparing the same

Номер патента: EP3958846A1. Автор: Fei Wang,Pravin K. Narwankar,Jonathan Frankel,Colin C. Neikirk. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-03-02.

Coated drug compositions and methods of preparing the same

Номер патента: WO2020219942A1. Автор: Fei Wang,Pravin K. Narwankar,Jonathan Frankel,Colin C. Neikirk. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2020-10-29.

Method of manufacturing heating/cooling coil with nanometer silver coating layer

Номер патента: US20060134346A1. Автор: O-Kab Kwon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-22.

Method for manufacturing aluminum metal interconnection layer by atomic layer deposition method

Номер патента: US6143659A. Автор: Hyeun-seog Leem. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2000-11-07.

Deposited Material and Method of Formation

Номер патента: US20160155642A1. Автор: Cheng-Yuan Tsai,Yao-Wen Chang,Hsing-Lien Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-06-02.

Atomic layer deposition of p-type oxide semiconductor thin films

Номер патента: WO2016109118A1. Автор: Kenji Nomura,John Hyunchul Hong. Владелец: QUALCOMM MEMS Technologies, Inc.. Дата публикации: 2016-07-07.

Method of plating an automotive exhaust pipe

Номер патента: US20230417357A1. Автор: Cory Pehrsson. Владелец: Dynalfex Products. Дата публикации: 2023-12-28.

Apparatus and concept for minimizing parasitic chemical vapor deposition during atomic layer deposition

Номер патента: EP1238421A4. Автор: Ofer Sneh,Carl Galewski. Владелец: Genus Inc. Дата публикации: 2006-06-21.

Method of depositing a film

Номер патента: US20140179104A1. Автор: Hiroko Sasaki,Hiroaki Ikegawa,Kentaro Oshimo,Masato Koakutsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-06-26.

Atomic layer deposition of high k metal oxides

Номер патента: EP1535319A2. Автор: Sang-In Lee,Yoshihide Senzaki,Sang-Kyoo Lee. Владелец: Integrated Process Systems Ltd. Дата публикации: 2005-06-01.

Atomic layer deposition of high k metal oxides

Номер патента: EP1535319A4. Автор: Sang-In Lee,Yoshihide Senzaki,Sang-Kyoo Lee. Владелец: Integrated Process Systems Ltd. Дата публикации: 2008-05-28.

Continuous process incorporating atomic layer etching

Номер патента: US09627221B1. Автор: Masaru Zaitsu,Hideaki Fukuda,Atsuki Fukazawa. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2017-04-18.

Atomic layer deposition apparatus and methods of fabricating semiconductor devices using the same

Номер патента: US11352698B2. Автор: Sangyub IE,Gukhyon Yon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-06-07.

An atomic layer deposition apparatus

Номер патента: EP4314380A1. Автор: Jonas Andersson,Pekka Soininen,Johannes Wesslin. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2024-02-07.

Atomic layer deposition of films using spatially separated injector chamber

Номер патента: WO2016118573A1. Автор: Tatsuya E. Sato,Eran NEWMAN. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2016-07-28.

An atomic layer deposition apparatus

Номер патента: WO2022207978A1. Автор: Jonas Andersson,Pekka Soininen,Johannes Wesslin. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2022-10-06.

Atomic layer deposition apparatus

Номер патента: US20240018652A1. Автор: Jonas Andersson,Pekka Soininen,Johannes Wesslin. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2024-01-18.

Hi-k dielectric layer deposition methods

Номер патента: US20060270247A1. Автор: Kenneth Stein,Douglas Coolbaugh,Ebenezer Eshun,Kunal Vaed. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-11-30.

Atomic layer deposition of silicon carbon nitride based materials

Номер патента: US20180082838A1. Автор: Viljami Pore. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2018-03-22.

Atomic layer deposition of silicon carbon nitride based materials

Номер патента: US20160307751A1. Автор: Viljami Pore. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2016-10-20.

Methods of forming capacitor constructions

Номер патента: US20070134934A1. Автор: Gurtej Sandhu,Cem Basceri. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-06-14.

Atomic layer deposition apparatus

Номер патента: US11926896B2. Автор: Jonas Andersson,Pekka Soininen,Johannes Wesslin. Владелец: BENEQ OY. Дата публикации: 2024-03-12.

Transmission electron microscopy supports and methods of making

Номер патента: US09646803B2. Автор: David A. Kidwell. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2017-05-09.

Method of for bonding noble metal structure with a dielectric layer using an adhesive layer

Номер патента: US12027190B1. Автор: Xiaoyue Huang. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2024-07-02.

Electron-enhanced atomic layer deposition (ee-ald) methods and devices prepared by same

Номер патента: US20240240317A1. Автор: Steven George,Zachary Sobell. Владелец: University of Colorado. Дата публикации: 2024-07-18.

Method of simultaneous silicidation on source and drain of NMOS and PMOS transistors

Номер патента: US12062579B2. Автор: Xuebin Li. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Transmission Electron Microscopy Supports and Methods of Making

Номер патента: US20160329187A1. Автор: David A. Kidwell. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2016-11-10.

Ultraviolet radiation activated atomic layer deposition

Номер патента: US20210225644A1. Автор: Christine Y. OUYANG,Ziwei Fang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Method of forming metal film

Номер патента: US09828694B2. Автор: Masaya Oda,Toshimi Hitora. Владелец: Flosfia Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Method of Filling Gaps with Carbon and Nitrogen Doped Film

Номер патента: US20220122834A1. Автор: Chung-Chi Ko,Wan-Yi Kao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-04-21.

Atomic layer deposition with nitridation and oxidation

Номер патента: US20070059945A1. Автор: Nima Mohklesi. Владелец: SanDisk Corp. Дата публикации: 2007-03-15.

Method of Filling Gaps with Carbon and Nitrogen Doped Film

Номер патента: US20230360907A1. Автор: Chung-Chi Ko,Wan-Yi Kao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Thin-film forming raw material used in atomic layer deposition method, and method of producing thin-film

Номер патента: US20230349039A1. Автор: Masako HATASE,Chiaki MITSUI. Владелец: Adeka Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Atomic layer deposition of copper using a reducing gas and non-fluorinated copper precursors

Номер патента: WO2003044242A3. Автор: Ling Chen,Mei Chang. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2003-09-18.

Multilayer hydrophilic coating and methods of making the same

Номер патента: US20210094069A1. Автор: Steven Poteet,Barbara M. Peyton,Iwona WROBEL. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2021-04-01.

Multi-layer borophene and method of synthesizing same

Номер патента: US20240150185A1. Автор: Mark C. Hersam,Xiaolong LIU. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2024-05-09.

Atomic layer junction oxide and preparing method thereof

Номер патента: US9786801B2. Автор: Jaichan Lee,Bongwook CHUNG. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2017-10-10.

Atomic layer junction oxide and preparing method thereof

Номер патента: US20170033246A1. Автор: Jaichan Lee,Bongwook CHUNG. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2017-02-02.

Laminate body, gas barrier film, and method of manufacturing the same

Номер патента: US09574266B2. Автор: Toshiaki Yoshihara,Mitsuru Kano,Masato Kon,Jin Sato. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Method of fabricating a uniformly aligned planar array of nanowires using atomic layer deposition

Номер патента: US9702059B2. Автор: Steven Howard Snyder. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Crystalline strontium titanate and methods of forming the same

Номер патента: US09816203B2. Автор: Tom E. Blomberg. Владелец: ASM International NV. Дата публикации: 2017-11-14.

Janus membranes via atomic layer deposition

Номер патента: US12012559B2. Автор: Seth B. Darling,Ruben WALDMAN,Hao-Cheng Yang. Владелец: UChicago Argonne LLC. Дата публикации: 2024-06-18.

Components with an atomic layer deposition coating and methods of producing the same

Номер патента: EP3245315A1. Автор: Kevin Killeen,Elizabeth Carr. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2017-11-22.

Precursors suitable for high temperature atomic layer deposition of silicon-containing films

Номер патента: US09957165B2. Автор: Mark Saly. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-05-01.

Precursors suitable for high temperature atomic layer deposition of silicon-containing films

Номер патента: US09802828B2. Автор: Mark Saly. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Materials and methods for corrosion inhibition of atomically thin materials

Номер патента: US20190367743A1. Автор: Ju Li,Cong SU,Zongyou Yin. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2019-12-05.

Coated microfluidic devices and methods of making

Номер патента: US8834966B2. Автор: Wilhelm T. S. Huck,Martin Fischlechner,Wolfgang Andreas Bauer. Владелец: CAMBRIDGE ENTERPRISE LTD. Дата публикации: 2014-09-16.

Dispersoid reinforced alloy powder and method of making

Номер патента: US09833835B2. Автор: Iver E. Anderson,Robert L. Terpstra. Владелец: Iowa State University Research Foundation ISURF. Дата публикации: 2017-12-05.

Dispersoid reinforced alloy powder and method of making

Номер патента: US09782827B2. Автор: Iver E. Anderson,Robert L. Terpstra. Владелец: Iowa State University Research Foundation ISURF. Дата публикации: 2017-10-10.

Coated microfluidic devices and methods of making

Номер патента: US09707557B2. Автор: Wilhelm T. S. Huck,Martin Fischlechner,Wolfgang Andreas Bauer. Владелец: CAMBRIDGE ENTERPRISE LTD. Дата публикации: 2017-07-18.

Method of manufacturing fluorine-containing compound

Номер патента: WO2024226893A1. Автор: Gen EGASHIRA,Kazuya ICHINOSE,Keigo Higashida. Владелец: CHEMOURS-MITSUI FLUOROPRODUCTS CO., LTD.. Дата публикации: 2024-10-31.

Ceramic electronic device and manufacturing method of the same

Номер патента: US20220392708A1. Автор: Yoshiki Iwazaki,Minoru Ryu. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2022-12-08.

Method of making diamond product and diamond product

Номер патента: US20020064496A1. Автор: Takahiro Imai,Yoshiki Nishibayashi,Yutaka Ando,Kiichi Meguro. Владелец: Japan Fine Ceramics Center. Дата публикации: 2002-05-30.

Aligned crystalline semiconducting film on a glass substrate and methods of making

Номер патента: WO2008048628A2. Автор: Alp T. Findikoglu. Владелец: Los Alamos National Security, LLC. Дата публикации: 2008-04-24.

Atomic layer deposition using multilayers

Номер патента: US20040221798A1. Автор: Arthur Sherman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-11-11.

Semiconductor device and method of manufacturing the same by using atomic layer deposition

Номер патента: US20060267081A1. Автор: Jun-Seuck Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-11-30.

Methods for coating a substrate with magnesium fluoride via atomic layer deposition

Номер патента: US20240247368A1. Автор: Hoon Kim,Jue Wang,Ming-Huang Huang. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Method for atomic layer etching

Номер патента: US09881807B2. Автор: Alok Ranjan,Mingmei Wang,Sonam SHERPA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Methods of forming graphene by graphite exfoliation

Номер патента: US09309124B2. Автор: Kian Ping Loh,Junzhong Wang. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2016-04-12.

Method of increasing the thickness of colloidal nanosheets and materials consisting of said nanosheets

Номер патента: US09670062B2. Автор: Benoît MAHLER. Владелец: NEXDOT. Дата публикации: 2017-06-06.

Method of regulating nickel concentration in lead-free solder containing nickel

Номер патента: US20100307292A1. Автор: Tetsuro Nishimura. Владелец: Nihon Superior Sha Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Microelectronic contact structure, and method of making same.

Номер патента: US20010002340A1. Автор: Gary Grube,Benjamin Eldridge,Igor Khandros,Gaetan Mathieu. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2001-05-31.

Jet printing ink and method of ink jet printing

Номер патента: US20050219339A1. Автор: Toshiki Taguchi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2005-10-06.

Plasmonic interface and method of manufacturing thereof

Номер патента: US20150055924A1. Автор: Christopher Fred Keimel,Juan Jose Becerra,John Brian Hewgley. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2015-02-26.

Preparation method of titanium alloy powders

Номер патента: US20240253122A1. Автор: Yi Xu,Hui Chen,Chengyang Zhang,Siyi HE. Владелец: Southwest Jiaotong University. Дата публикации: 2024-08-01.

Preparation method of titanium alloy powders

Номер патента: US12083602B2. Автор: Yi Xu,Hui Chen,Chengyang Zhang,Siyi HE. Владелец: Southwest Jiaotong University. Дата публикации: 2024-09-10.

Plasmonic interface and method of manufacturing thereof

Номер патента: US09465160B2. Автор: Christopher Fred Keimel,Juan Jose Becerra,John Brian Hewgley. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-10-11.

Novel polymers, uses and methods of manufacture thereof

Номер патента: US20090082542A1. Автор: Yu Shao,Jie Zhang,Julien Gautrot,Xiao-Xia Zhu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-26.

High Optical Transmission Amphiphobic Surfaces; and Methods of Forming Them

Номер патента: US20240199478A1. Автор: Manish Tiwari,Vikaramjeet SINGH. Владелец: UCL BUSINESS LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

High optical transmission amphiphobic surfaces; and methods of forming them

Номер патента: EP4301711A1. Автор: Manish Tiwari,Vikaramjeet SINGH. Владелец: UCL BUSINESS LTD. Дата публикации: 2024-01-10.

Method of homolytic and heterolytic cleavage in molecules of gases and liquids

Номер патента: WO2024009192A2. Автор: Gennadiy Chernov. Владелец: Dereroy & Co., A.S.. Дата публикации: 2024-01-11.

Precursors Suitable For High Temperature Atomic Layer Deposition Of Silicon-Containing Films

Номер патента: US20160099146A1. Автор: Mark Saly. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2016-04-07.

Precursors Suitable For High Temperature Atomic Layer Deposition Of Silicon-Containing Films

Номер патента: US20180057362A1. Автор: Mark Saly. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-03-01.

Method of homolytic and heterolytic cleavage in molecules of gases and liquids

Номер патента: WO2024009192A3. Автор: Gennadiy Chernov. Владелец: Dereroy & Co., A.S.. Дата публикации: 2024-02-29.

Method of preparing gelatin microcarriers

Номер патента: WO1990013625A1. Автор: Kim Jacobsen. Владелец: Danochemo A/S. Дата публикации: 1990-11-15.

Method of producing mercaptans by enzymatic hydrogenolysis of disulphides

Номер патента: RU2709486C1. Автор: Жорж ФРЕМИ,Арно МАССЛЕН. Владелец: Аркема Франс. Дата публикации: 2019-12-18.

Method of applying atomic layer deposition coatings onto porous non-ceramic substrates

Номер патента: US8859040B2. Автор: Bill H. Dodge. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2014-10-14.

Atomic layer deposited tantalum containing adhesion layer

Номер патента: US7601637B2. Автор: Steven W. Johnston,Kerry Spurgin,Brennan L. Peterson. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2009-10-13.

Transfuse roller tracking in selective layer deposition based additive manufacturing

Номер патента: US11975492B2. Автор: Andrew Rice. Владелец: Evolve Additive Solutions Inc. Дата публикации: 2024-05-07.

Pressure and mechanical sensors using titanium-based superelastic alloy

Номер патента: US7437939B1. Автор: Swapan Chakraborty,David A. Broden. Владелец: Rosemount Inc. Дата публикации: 2008-10-21.

METHOD OF PLASMA-ENHANCED ATOMIC LAYER ETCHING

Номер патента: US20160211147A1. Автор: Fukazawa Atsuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-21.

Methods of atomic layer deposition of hafnium oxide as gate dielectrics

Номер патента: WO2013177557A3. Автор: Jinhong Tong. Владелец: Intermolecular, Inc. Дата публикации: 2014-01-16.

Atomic layer deposited dielectric layers

Номер патента: EP1599899A2. Автор: Leonard Forbes,Kie Y. Ahn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2005-11-30.

Method of forming dielectric film and capacitor manufacturing method using the same

Номер патента: US20070173028A1. Автор: Kenji Komeda. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2007-07-26.

Method of forming contact metal

Номер патента: US09711402B1. Автор: Yu-Kai Chen,Chun-Hsien Huang,Wei-Jung Lin,Hong-Mao Lee,Hsien-Lung Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Method of making a resistive random access memory

Номер патента: US09520562B2. Автор: Qi Xie,Jan Willem Maes,Suvi Haukka,Jacob Woodruff,Tom Blomberg,Marko Tuominen,Robin Roelofs. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2016-12-13.

Atomic layer deposition epitaxial silicon growth for tft flash memory cell

Номер патента: US20130200384A1. Автор: Fumitake Mieno. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2013-08-08.

Method of forming a gate structure using a dual step polysilicon deposition procedure

Номер патента: US20050095766A1. Автор: Shih-l Yang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-05.

Method of atomic layer etching using functional group-containing fluorocarbon

Номер патента: US09735024B2. Автор: Masaru Zaitsu. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2017-08-15.

Methods of forming rutile titanium dioxide

Номер патента: US20140065301A1. Автор: Chris Carlson,Vishwanath Bhat,Tsai-Yu Huang,Vassil Antonov. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2014-03-06.

Method of producing a radiation-emitting component and radiation-emitting component

Номер патента: US20200287091A1. Автор: Andreas RÜCKERL. Владелец: OSRAM OLED GmbH. Дата публикации: 2020-09-10.

Method of producing a radiation-emitting component and radiation-emitting component

Номер патента: US11075323B2. Автор: Andreas RÜCKERL. Владелец: OSRAM OLED GmbH. Дата публикации: 2021-07-27.

Post polish anneal of atomic layer deposition barrier layers

Номер патента: US20070004230A1. Автор: SRIDHAR Balakrishnan,Kevin O'Brien,Steven Johnston. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2007-01-04.

Vertical FET with selective atomic layer deposition gate

Номер патента: US09761694B2. Автор: Chen Zhang,Kangguo Cheng,Xin Miao,Wenyu Xu. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Methods of atomic layer deposition of hafnium oxide as gate dielectrics

Номер патента: WO2013177557A2. Автор: Jinhong Tong. Владелец: Intermolecular, Inc. Дата публикации: 2013-11-28.

Manufacturing method of a strain gauge sensor

Номер патента: CA3187700A1. Автор: Jerome Polesel,Stephanie Girod,Raoul Joly,Patrick Grysan. Владелец: Luxembourg Institute of Science and Technology LIST. Дата публикации: 2022-02-03.

Manufacturing method of a strain gauge sensor

Номер патента: EP4189349A1. Автор: Jerome Polesel,Stephanie Girod,Raoul Joly,Patrick Grysan. Владелец: Luxembourg Institute of Science and Technology LIST. Дата публикации: 2023-06-07.

Manufacturing method of a strain gauge sensor

Номер патента: WO2022023482A1. Автор: Jerome Polesel. Владелец: Luxembourg Institute of Science and Technology (LIST). Дата публикации: 2022-02-03.

Surface modified sofc cathode particles and methods of making same

Номер патента: US20170018782A1. Автор: Jeffrey F. Roeder,Peter C. Van Buskirk,Anthony F. Zeberoff. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-19.

Method of and device for cleaning exhaust gases of internal combustion engine

Номер патента: RU2270051C2. Автор: Геран СУНДХОЛЬМ. Владелец: Мариофф Корпорейшн Ой. Дата публикации: 2006-02-20.

Method of Fabricating a Semiconductor Device

Номер патента: US20150031195A1. Автор: Jihoon Kim,Eun Tae Kim,Jin Ho Oh,Jongmyeong Lee,Heesook Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-01-29.

New marking and method of its implementation

Номер патента: RU2405878C2. Автор: Туомас МУСТОНЕН,Теппо ЗАЛЬБЕРГ,Тимо КАЛЛИО. Владелец: М-реал ОИЙ. Дата публикации: 2010-12-10.

Method and system for generation of atomic spin orientation

Номер патента: US12044756B2. Автор: Witold Chalupczak,Rafal Gartman,Patrick Bevington. Владелец: NPL Management Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Method of making a resistive random access memory device

Номер патента: US09472757B2. Автор: Qi Xie,Jan Willem Maes,Suvi Haukka,Jacob Woodruff,Tom Blomberg,Marko Tuominen,Robin Roelofs. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2016-10-18.

Apparatus and methods for manipulation of atomic beams

Номер патента: WO2007034174A3. Автор: Ole Steuernagel. Владелец: Ole Steuernagel. Дата публикации: 2007-08-02.

Apparatus and methods for manipulation of atomic beams

Номер патента: WO2007034174A2. Автор: Ole Steuernagel. Владелец: University of Hertfordshire. Дата публикации: 2007-03-29.

Semiconductor processing method of making a hemispherical grain (HSG) polysilicon layer

Номер патента: US20010009808A1. Автор: Randhir Thakur,Er-Xang Ping. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-07-26.

Method of atomizing a fluid composition

Номер патента: EP3999241A1. Автор: Dana Paul Gruenbacher,Stephan Gary Bush,Chisomaga Ugochi Nwachukwu,Linda Michelle VISSING. Владелец: Procter and Gamble Co. Дата публикации: 2022-05-25.

Method of manufacturing a light emitting device

Номер патента: EP3662517A1. Автор: Daniel B. Roitman,Hisashi Masui,Ken T. Shimizu. Владелец: LUMILEDS LLC. Дата публикации: 2020-06-10.

Efficient merging of atomic operations at computing devices

Номер патента: US20180300846A1. Автор: Balaji Vembu,Joydeep Ray,Altug Koker,Abhishek R. Appu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

SOFC interconnect barriers and methods of making same using masks

Номер патента: US10541429B2. Автор: Jeffrey F. Roeder,Peter C. Van Buskirk. Владелец: Sonata Scientific LLC. Дата публикации: 2020-01-21.

Efficient merging of atomic operations at computing devices

Номер патента: US20190347759A1. Автор: Balaji Vembu,Joydeep Ray,Altug Koker,Abhishek R. Appu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Efficient merging of atomic operations at computing devices

Номер патента: US20210065329A1. Автор: Balaji Vembu,Joydeep Ray,Altug Koker,Abhishek R. Appu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Atomic layer deposition of filtration media

Номер патента: WO2024206872A1. Автор: Davis B. MORAVEC,David D. Lauer. Владелец: Donaldson Company, Inc.. Дата публикации: 2024-10-03.

Atomic layer deposition of filtration media

Номер патента: US20240325990A1. Автор: Davis B. MORAVEC,David D. Lauer. Владелец: Donaldson Co Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Performing atomic layer etching using a silane-based chemistry

Номер патента: WO2024211411A1. Автор: James Sims,Ryan James GASVODA. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2024-10-10.

Method of atomizing a fluid composition

Номер патента: US12121637B2. Автор: Stephan Gary Bush,Bruce David Gibson,Judith Ann Hollingshead,Chisomaga Ugochi Nwachukwu. Владелец: Procter and Gamble Co. Дата публикации: 2024-10-22.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09917092B2. Автор: Wensheng Wang,Hideki Ito,Youichi Okita. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2018-03-13.

Devices and methods of forming SADP on SRAM and SAQP on logic

Номер патента: US09761452B1. Автор: Jinping Liu,Daniel Jaeger,Jiehui SHU,Garo Jacques DERDERIAN,Haifeng Sheng. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Method of forming a patterned metal layer

Номер патента: US20030091937A1. Автор: Stephen Burgess,James O'sullivan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-15.

Case, method of manufacturing case, and electronic device

Номер патента: US09699926B2. Автор: Won-Tae Kim,Jong-Chul Choi,Chang-Youn Hwang,Hak-Ju Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Method of reducing contact resistance of a metal

Номер патента: US20140035143A1. Автор: Hung-Wen Su,Ya-Lien Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-02-06.

Manufacturing method of array substrate, array substrate and display device

Номер патента: US11749693B2. Автор: En-Tsung Cho,Yuming XIA,Lidan YE. Владелец: Beihai HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Method of designing an alignment mark

Номер патента: WO2021052695A1. Автор: Hua Li,Jigang Ma. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-03-25.

Composite materials and methods of making and use thereof

Номер патента: WO2023235245A1. Автор: Chih-Hao Chang,I-Te Chen,Vijay Anirudh PREMNATH. Владелец: BOARD OF REGENTS, THE UNIVERSITY OF TEXAS SYSTEM. Дата публикации: 2023-12-07.

Method of three-dimensional atomic imaging

Номер патента: WO1992012527A1. Автор: David S. Y. Tong. Владелец: Board Of Regents Of The University Of Wisconsin System. Дата публикации: 1992-07-23.

Composite electrode and method of manufacture thereof

Номер патента: EP2567421A1. Автор: Thomas Harvey,Timothy George Ryan. Владелец: Epigem Ltd. Дата публикации: 2013-03-13.

Organic light emitting device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09548471B2. Автор: Chang Nam Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

Memory cells and methods of forming memory cells

Номер патента: US09508931B2. Автор: Qian Tao,Scott E. Sills,Shuichiro Yasuda,Noel Rocklein,Durai Vishal Nirmal Ramaswamy. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Method of implantation for fragilization of substrates

Номер патента: US09425081B2. Автор: Nadia Ben Mohamed,Carole David,Camille Rigal. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2016-08-23.

V. p. rodionov's method of hydrodynamic surface cleaning

Номер патента: RU2635232C1. Автор: Виктор Петрович Родионов. Владелец: Виктор Петрович Родионов. Дата публикации: 2017-11-09.

Atomic layer deposition in acoustic wave resonators

Номер патента: WO2023091813A1. Автор: Douglas CARLSON,Rathnait LONG. Владелец: MACOM Technology Solutions Holdings, Inc.. Дата публикации: 2023-05-25.

Epitaxial wafer and a method of manufacturing thereof

Номер патента: WO2014086742A1. Автор: Norbert Werner,Peter Storck,Martin Vorderwestner,Peter Tolchinsky,Irwin Yablok. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2014-06-12.

Transition metal dry etch by atomic layer removal of oxide layers for device fabrication

Номер патента: EP3311398A1. Автор: Patricio E. Romero,John J. Plombon. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-04-25.

Epitaxial wafer and a method of manufacturing thereof

Номер патента: EP2959500A1. Автор: Norbert Werner,Peter Storck,Martin Vorderwestner,Peter Tolchinsky,Irwin Yablok. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2015-12-30.

Conductive bridge memory system and method of manufacture thereof

Номер патента: US20160104836A1. Автор: Eugene Marsh,Tim Quick. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-04-14.

Method of making an integrally gated carbon nanotube field ionizer device

Номер патента: US20090224225A1. Автор: Jonathan L. Shaw,David S.Y. Hsu. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2009-09-10.

Liquid discharge head and method of manufacturing liquid discharge head

Номер патента: US20190291437A1. Автор: Yuichi Ito,Yasuo Kato,Toru Kakiuchi. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Method of manufacturing a TFT array panel for a LCD

Номер патента: US20050048407A1. Автор: Chi-shen Lee,Cheng-Chung Chen,Yung-Fu Wu,Chi-Lin Chen. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2005-03-03.

Method of making an electrochemical cell

Номер патента: US20210043956A1. Автор: Michael Paul HUMBERT,Tianli Zhu. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Manufacturing method of touch display panel

Номер патента: US09568759B2. Автор: Peng Du,Cong Wang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Method of making 3d object

Номер патента: RU2459704C2. Автор: Йохен ФИЛИППИ. Владелец: Эос Гмбх Электро Оптикал Системз. Дата публикации: 2012-08-27.

Conductive bridge memory system and method of manufacture thereof

Номер патента: US20150090947A1. Автор: Eugene Marsh,Tim Quick. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-04-02.

Electrochemical analyzer for measuring the concentration of atoms or molecules in a fluid and method of making same

Номер патента: WO1988008132A1. Автор: Ilan Riess. Владелец: Frantztech Ltd.. Дата публикации: 1988-10-20.

Method of manufacturing thin film capacitor and thin film capacitor

Номер патента: US20130071555A1. Автор: Yoshihiko Yano,Yasunobu Oikawa. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2013-03-21.

Epitaxial wafer and a method of manufacturing thereof

Номер патента: US9691632B2. Автор: Norbert Werner,Peter Storck,Martin Vorderwestner,Peter Tolchinsky,Irwin Yablok. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

System and method of generating tem sadp image with high discernment

Номер патента: US20240234082A1. Автор: Jin Ha Jeong,Hea Yun Lee,Hyun Ji Lee,Moon Soo Ra. Владелец: Lightvision Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Epitaxial wafer and a method of manufacturing thereof

Номер патента: US20150303071A1. Автор: Norbert Werner,Peter Storck,Martin Vorderwestner,Peter Tolchinsky,Irwin Yablok. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2015-10-22.

Method of manufacturing a vibrating structure gyroscope

Номер патента: AU1872000A. Автор: Ian Sturland,Kevin Townsend,Christopher Paul Fell. Владелец: BAE SYSTEMS plc. Дата публикации: 2000-07-31.

Atomic layer deposition on 3d nand structures

Номер патента: US20240266177A1. Автор: YU PAN,Juwen Gao,Xiaolan Ba,Ruopeng DENG,Tianhua YU. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Wet atomic layer etching method and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240321805A1. Автор: Wooyoung Kim,Minwoo Rhee,Kyeongbin LIM,Bumki Moon,Seungho Hahn. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-26.

Method of fabricating transient semiconductor based on single-wall nanotube

Номер патента: US09564319B2. Автор: Sung-Hun Jin. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of INU. Дата публикации: 2017-02-07.

Conductive bridge memory system and method of manufacture thereof

Номер патента: US09406879B2. Автор: Eugene Marsh,Tim Quick. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

Method of forming MIS capacitor

Номер патента: US7029985B2. Автор: Garo J. Derderian,Cem Basceri. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2006-04-18.

Surface relief grating and method of making the same

Номер патента: US20230057283A1. Автор: Jay Patel,Vivek Gupta,Nihar Mohanty,Topalian Topalian. Владелец: Facebook Technologies LLC. Дата публикации: 2023-02-23.

Method of manufacturing a light emitting device

Номер патента: US10411171B2. Автор: Daniel B. Roitman,Hisashi Masui,Ken T. Shimizu. Владелец: LUMILEDS LLC. Дата публикации: 2019-09-10.

Anode and method for forming a zinc metal anode using molecular layer deposition

Номер патента: CA3123894A1. Автор: Jian Liu,Huibing He. Владелец: University of British Columbia. Дата публикации: 2021-09-16.

Method of making a self-aligned ferroelectric memory transistor

Номер патента: US20030071292A1. Автор: Tingkai Li,Sheng Hsu,Fengyan Zhang. Владелец: SHENG LABORATORIES OF AMERICA Inc. Дата публикации: 2003-04-17.

Low resistance monosilicide electrode for phase change memory and methods of making the same

Номер патента: US20210391006A1. Автор: Takuya Futase. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2021-12-16.

Method of manufacturing X-ray exposure mask

Номер патента: US5364717A. Автор: Yasuyuki Miyamoto,Kazuhito Furuya. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 1994-11-15.

Method of making a load resistor of a static random access memory on a semiconductor wafer

Номер патента: US6046080A. Автор: Yi-Tyng Wu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2000-04-04.

Method of manufacturing thin film capacitor and thin film capacitor

Номер патента: US20130071554A1. Автор: Yoshihiko Yano,Yasunobu Oikawa. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2013-03-21.

Method of manufacturing an impregnated structure for abrading

Номер патента: US20150113881A1. Автор: Michel De Reynal. Владелец: Varel Europe Sas. Дата публикации: 2015-04-30.

Cu seed layer deposition for ULSI metalization

Номер патента: US20020113038A1. Автор: Ching-Han Jan,Jih-Wen Wang,Fon-Shan Huang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2002-08-22.

Method of manufacturing an impregnated structure for abrading

Номер патента: US09731404B2. Автор: Michel De Reynal. Владелец: Varel Europe Sas. Дата публикации: 2017-08-15.

Devices and methods of improving device performance through gate cut last process

Номер патента: US09679985B1. Автор: Xusheng Wu,Haigou Huang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Method of manufacturing optical member

Номер патента: US20240061159A1. Автор: Takaaki Tada. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Method of addressing dissimilar etch rates

Номер патента: US20200328090A1. Автор: Ian FLADER. Владелец: InvenSense Inc. Дата публикации: 2020-10-15.

Semiconductor structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US20220216141A1. Автор: Tung-Jiun Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-07-07.

Method of manufacturing a piece of interior equipment of an automotive vehicle

Номер патента: US09902128B2. Автор: Daniel BAUDET,Xavier Bathelier,Denise MEDINA. Владелец: Faurecia Automotive Industrie SAS. Дата публикации: 2018-02-27.

Integrated circuit devices and methods of manufacturing the same

Номер патента: US09779996B2. Автор: Weon-Hong Kim,Soo-Jung Choi,Moon-Kyun Song,Dong-Su Yoo,Min-Joo Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20220059683A1. Автор: Yasunori Tateno,Fuminori Mitsuhashi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2022-02-24.

Method of manufacturing circuit board

Номер патента: US20200178400A1. Автор: Hsin-Chi Hu. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2020-06-04.

Method of Integrating a MOSFET with a Capacitor

Номер патента: US20110059593A1. Автор: Jun Lu,Hamza Yilmaz,Anup Bhalla,Yan Xun Xue. Владелец: ALPHA AND OMEGA SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2011-03-10.

Prelithiated anode, lithium-ion battery containing same, and method of producing same

Номер патента: WO2023019275A3. Автор: Aruna Zhamu,Bor Z. Jang,Hui He. Владелец: Global Graphene Group, Inc.. Дата публикации: 2023-04-06.

Flexible inorganic microled display device and method of manufacturing thereof

Номер патента: US20230238476A1. Автор: Subramanian S. Iyer,Goutham EZHILARASU. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2023-07-27.

Nozzle plate for inkjet head and method of manufacturing the nozzle plate

Номер патента: US20080007594A1. Автор: Young-nam Kwon,Jae-Chang Lee,Tae-Woon Cha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-01-10.

Prelithiated anode, lithium-ion battery containing same, and method of producing same

Номер патента: WO2023019275A2. Автор: Aruna Zhamu,Bor Z. Jang,Hui He. Владелец: Global Graphene Group, Inc.. Дата публикации: 2023-02-16.

Atomic layer deposition bonding layer for joining two semiconductor devices

Номер патента: US12094849B2. Автор: Chyi-Tsong Ni,Kuang-Wei Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Robust polymer electrolytes with tunable properties via molecular layer deposition

Номер патента: WO2024173554A1. Автор: Xiangbo Meng. Владелец: BOARD OF TRUSTEES OF THE UNIVERSITY OF ARKANSAS. Дата публикации: 2024-08-22.

Method of forming a buffer layer in a solar cell, and a solar cell formed by the method

Номер патента: US09825197B2. Автор: Shih-Wei Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240072142A1. Автор: Yunsang Kim,Hae-Won Choi,Thomas Jongwan Kwon. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Metal gates and methods of forming thereby

Номер патента: US12046519B2. Автор: Cheng-Lung Hung,Hsin-Yi Lee,Chi On Chui. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20220013466A1. Автор: Hitoshi Sumida,Masaharu Yamaji,Hideaki Itoh,Taichi KARINO. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-13.

Method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11776924B2. Автор: Ching-Hung Chang,Chiang-Lin Shih,Hsih-Yang Chiu,Pei-Jhen WU. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Utilizing atomic layer deposition for programmable device

Номер патента: US20030098461A1. Автор: Tyler Lowrey,Charles Dennison. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-29.

Atomic Layer-Based Surface Treatments for Infrared Detectors

Номер патента: US20230129191A1. Автор: Harold Frank GREER,Cory J. Hill. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2023-04-27.

Metal Gates and Methods of Forming Thereby

Номер патента: US20240347392A1. Автор: Cheng-Lung Hung,Hsin-Yi Lee,Chi On Chui. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Manufacturing method of semiconductor integrated circuit

Номер патента: US7592272B2. Автор: Osamu Tonomura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2009-09-22.

Thin film coatings on transparent substrates and methods of making and using thereof

Номер патента: US11774637B1. Автор: Hulya Demiryont. Владелец: Eclipse Energy Systems Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Semiconductor light emitting element and method of manufacturing semiconductor light emitting element

Номер патента: US20140209921A1. Автор: Hisao Sato,Katsuki Kusunoki. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-31.

Method of formation for quantum dots array using tilted substrate

Номер патента: US20020168835A1. Автор: Tae Kim,Eun Kim,Yong Park,Hyo Kim. Владелец: Korea Institute of Science and Technology KIST. Дата публикации: 2002-11-14.

Capacitor having a tantalum lower electrode and method of forming the same

Номер патента: US20030006447A1. Автор: Derryl Allman. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2003-01-09.

High-pass radiation shield and method of radiation protection

Номер патента: US12040101B2. Автор: Valiallah Saba. Владелец: Salamatgostar Partomoj Co. Дата публикации: 2024-07-16.

Mercury detecting paper and method of using the same

Номер патента: US09995724B2. Автор: Iqbal M. I. Ismail,Liyakat Hamid Mujawar,Mohammad Soror El-Shahawi. Владелец: KING ABDULAZIZ UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-06-12.

Integrated circuit and method of manufacturing the same

Номер патента: US09978764B2. Автор: Simon Jeannot,Raul Andres Bianchi,Sebastien Lagrasta,Fausto Piazza. Владелец: STMicroelectronics Crolles 2 SAS. Дата публикации: 2018-05-22.

Method of fabricating a P type nitride semiconductor layer doped with carbon

Номер патента: US09705287B2. Автор: Hideo Kawanishi. Владелец: Seoul Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Method of forming a catalyst with an atomic layer of platinum atoms

Номер патента: US09610566B2. Автор: Keiichi Kaneko,Minhua Shao,Michael Paul HUMBERT. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Manufacturing method of a strain gauge sensor

Номер патента: US20230292620A1. Автор: Jerome Polesel,Stephanie Girod,Raoul Joly,Patrick Grysan. Владелец: Luxembourg Institute of Science and Technology LIST. Дата публикации: 2023-09-14.

Molecular layer deposition liner for 3d nand

Номер патента: WO2023023252A1. Автор: Abhijit Basu Mallick,Susmit Singha Roy,Zeqing Shen,Bhaskar Jyoti Bhuyan. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-02-23.

Coated substrate and method of making same

Номер патента: US20090072713A1. Автор: Matthew Stainer,Paul Anthony Sant. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2009-03-19.

Method of manufacturing semiconductor package

Номер патента: US20220059497A1. Автор: Shing-Yih Shih. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Method of fabricating optical waveguide devices with smooth and flat dielectric interfaces

Номер патента: SG125098A1. Автор: KANG Joon Mo,Desmond R Lim,My The Doan. Владелец: Agency Science Tech & Res. Дата публикации: 2006-09-29.

A method of creating and concentrating high velocity alpha particles having two captured electrons

Номер патента: WO2000065603A1. Автор: Jerome Drexler. Владелец: Jerome Drexler. Дата публикации: 2000-11-02.

A method of creating and concentrating high velocity alpha particles having two captured electrons

Номер патента: WO2000065603A8. Автор: Jerome Drexler. Владелец: Jerome Drexler. Дата публикации: 2001-03-15.

Method of manufacturing silicon carbide semiconductor device

Номер патента: US7989231B2. Автор: Yuuichi Takeuchi,Atsuya Akiba. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2011-08-02.

Method of preparing active areas

Номер патента: US12094724B2. Автор: Ying-Cheng Chuang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Hydrogen activated atomic layer etching

Номер патента: US09779956B1. Автор: Xin Zhang,Gerardo Delgadino,Daniel Le,Alan Jensen. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Wet scrubber nozzle system and method of use for cleaning a process gas

Номер патента: US09700837B2. Автор: Dennis James Laslo. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2017-07-11.

Method of fabricating acoustic resonator with planarization layer

Номер патента: US09680439B2. Автор: Stefan Bader,Phil Nikkel,Robert Thalhammer. Владелец: Avago Technologies General IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Depolarizers and methods of making thereof

Номер патента: US09599834B2. Автор: Lichao Zhang,Sam Rubin,Cary Zhang. Владелец: Thorlabs Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Treated Cellulosic Materials and Methods of Making the Same

Номер патента: US20230347547A1. Автор: Mark D. Losego,Shawn Alan GREGORY,Shannon K. Yee. Владелец: Georgia Tech Research Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Atomic layer deposition on 3D NAND structures

Номер патента: US11972952B2. Автор: YU PAN,Juwen Gao,Xiaolan Ba,Ruopeng DENG,Tianhua YU. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Mim capacitor with metal nitride electrode materials and method of formation

Номер патента: WO2003079417A2. Автор: Cem Basceri,Thomas M. Graettinger. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2003-09-25.

Method of forming metal silicide

Номер патента: US20050176227A1. Автор: Shau-Lin Shue,Chih-Wei Chang,Chii-Ming Wu,Mei-Yun Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2005-08-11.

Hydrophobized gas diffusion layers and method of making the same

Номер патента: US20150024300A1. Автор: Trung Van Nguyen,Xuhai Wang. Владелец: University of Kansas. Дата публикации: 2015-01-22.

Method of manufacture of contact plug and interconnection layer of semiconductor device

Номер патента: US7615485B2. Автор: Yasuhiko Matsunaga,Hiroyuki Kutsukake,Shoichi Miyazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2009-11-10.

Method of manufacture of contact plug and interconnection layer of semiconductor device

Номер патента: US20110018046A1. Автор: Yasuhiko Matsunaga,Hiroyuki Kutsukake,Shoichi Miyazaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-01-27.

Low stress tungsten layer deposition

Номер патента: WO2024167549A1. Автор: Yang Li,Jallepally Ravi,Kai Wu,Mehran Behdjat,Xi CEN. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-08-15.

Low stress tungsten layer deposition

Номер патента: US20240266215A1. Автор: Yang Li,Jallepally Ravi,Kai Wu,Mehran Behdjat,Xi CEN. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Magnetic material and method of manufacturing the same

Номер патента: US20150332818A1. Автор: Hideo Sato,Shunsuke Fukami,Hideo Ohno,Shoji Ikeda,Michihiko Yamanouchi. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2015-11-19.

Molecular layer deposition contact landing protection for 3D NAND

Номер патента: US11756785B2. Автор: Abhijit Basu Mallick,Susmit Singha Roy,Zeqing Shen,Bhaskar Jyoti Bhuyan. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-09-12.

Method of forming single crystal silicon thin film using sequential lateral solidification (SLS)

Номер патента: US20050176189A1. Автор: Se-Young Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-08-11.

Dynamic random access memory and method of manufacturing the same

Номер патента: US20220271042A1. Автор: Yi-Sheng Cheng,Chien-Chang Cheng. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Method of manufacturing silicon carbide seminconductor device

Номер патента: US20100233832A1. Автор: Yuuichi Takeuchi,Atsuya Akiba. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2010-09-16.

Methods of fabricating a multianalyte detection device and devices thereof

Номер патента: US20240319135A1. Автор: Narendra Kumar,Kenneth S. Burch,Michael GEIWITZ,Matthew CATALANO. Владелец: Boston College. Дата публикации: 2024-09-26.

Hydrophobized gas diffusion layers and method of making the same

Номер патента: US09825315B2. Автор: Trung Van Nguyen,Xuhai Wang. Владелец: University of Kansas. Дата публикации: 2017-11-21.

Method of refurbishing rotogravure cylinders, rotogravure cylinders and their use

Номер патента: US09539844B2. Автор: Ioannis Ioannou. Владелец: Paramount International Services Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Mim capacitor with metal nitride electrode materials and method of formation

Номер патента: WO2003079417A3. Автор: Cem Basceri,Thomas M Graettinger. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2003-12-18.

Method of manufacturing electronic device and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20050029593A1. Автор: Osamu Ohara,Manabu Kudo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2005-02-10.

Methods of Forming Interconnect Structures in Semiconductor Fabrication

Номер патента: US20210375756A1. Автор: Ming-Han Lee,Shau-Lin Shue. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-12-02.

Organic EL panel and method of forming the same

Номер патента: US20050285514A1. Автор: Toshinao Yuki,Kunihiko Shirahata. Владелец: Tohoku Pioneer Corp. Дата публикации: 2005-12-29.

Semiconductor on insulator structure comprising a plasma nitride layer and method of manufacture thereof

Номер патента: US20240258156A1. Автор: Sasha Joseph KWESKIN. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor devices and methods of manufacturing thereof

Номер патента: US20240304667A1. Автор: Huang-Lin Chao,Hsiang-Pi Chang,Shen-Yang LEE. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Lateral gallium oxide transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240321971A1. Автор: Tai Young Kang,Sin Su Kyoung,Yu Sup JUNG. Владелец: POWER CUBESEMI Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Epitaxial wafer and method of manufacturing the same

Номер патента: US09991386B2. Автор: Toshiaki Ono,Yumi Hoshino. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Method of depositing tantalum oxide layer

Номер патента: KR100454758B1. Автор: 박문수,김명규. Владелец: 주성엔지니어링(주). Дата публикации: 2004-11-05.

Method of forming isolation structure

Номер патента: US20200075397A1. Автор: Yi-Wei Chen,Yu-Cheng Tung,Wei-Hsin Liu,Chia-Lung Chang,Po-Chun Chen,Hsuan-Tung Chu. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-05.

Method and system for generation of atomic spin orientation

Номер патента: US20240085501A1. Автор: Witold Chalupczak,Rafal Gartman,Patrick Bevington. Владелец: NPL Management Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Method and system for generation of atomic spin orientation

Номер патента: EP4022334A1. Автор: Witold Chalupczak,Rafal Gartman,Patrick Bevington. Владелец: NPL Management Ltd. Дата публикации: 2022-07-06.

Method and system for generation of atomic spin orientation

Номер патента: WO2021069880A1. Автор: Witold Chalupczak,Rafal Gartman,Patrick Bevington. Владелец: Npl Management Limited. Дата публикации: 2021-04-15.

APPARATUS AND METHOD FOR ATOMIC LAYER DEPOSITION

Номер патента: US20120003396A1. Автор: . Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurweten schappelijk onderzoek TNO. Дата публикации: 2012-01-05.

GATE STRUCTURES AND METHOD OF FABRICATING SAME

Номер патента: US20120001266A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

STAMPER, METHOD OF MANUFACTURING THE STAMPER, AND MAGNETIC RECORDING MEDIUM MANUFACTURING METHOD USING THE STAMPER

Номер патента: US20120000885A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001247A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE & METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001249A1. Автор: Alsmeier Johann,Samachisa George. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001250A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003808A1. Автор: Lee Sang-yun. Владелец: BESANG INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING CRYSTALLINE SILICON SOLAR CELLS USING EPITAXIAL DEPOSITION

Номер патента: US20120000511A1. Автор: . Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003805A1. Автор: Lee Tae-Jung,PARK MYOUNG-KYU,Bang Kee-In. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Field emission electrode, method of manufacturing the same, and field emission device comprising the same

Номер патента: US20120003895A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRODE STRUCTURE, METHOD OF FABRICATING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE ELECTRODE STRUCTURE

Номер патента: US20120001267A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Methods of manufacturing semiconductor devices with Si and SiGe epitaxial layers

Номер патента: US20120003799A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120003828A1. Автор: Chang Sung-Il,Choe Byeong-In,KANG Changseok. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THEREOF

Номер патента: US20120001246A1. Автор: . Владелец: Micron Technology Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING AN INTEGRATED CIRCUIT DEVICE

Номер патента: US20120003806A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Methods of Forming Nonvolatile Memory Devices Using Nonselective and Selective Etching Techniques to Define Vertically Stacked Word Lines

Номер патента: US20120003831A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

RRAM structure and method of making the same

Номер патента: US20120001141A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE AND FABRICATION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003761A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Antireflective Coatings for Via Fill and Photolithography Applications and Methods of Preparation Thereof

Номер патента: US20120001135A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MEMORY CELL THAT EMPLOYS A SELECTIVELY FABRICATED CARBON NANO-TUBE REVERSIBLE RESISTANCE-SWITCHING ELEMENT AND METHODS OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001150A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

VIOLET LASER EXCITABLE DYES AND THEIR METHOD OF USE

Номер патента: US20120004397A1. Автор: . Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD OF ILLUMINATING INTERFEROMETRIC MODULATORS USING BACKLIGHTING

Номер патента: US20120001962A1. Автор: Tung Ming-Hau,Chui Clarence. Владелец: QUALCOMM MEMS Technologies, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

DRIVING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120002132A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS OF FORMING NANOSCALE FLOATING GATE

Номер патента: US20120001248A1. Автор: Sandhu Gurtej S.,Ramaswamy D.V. Nirmal. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001257A1. Автор: MURAKAWA Kouichi. Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE WHICH A PLURALITY OF TYPES OF TRANSISTORS ARE MOUNTED

Номер патента: US20120001265A1. Автор: . Владелец: FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of Manufacturing Vertical Pin Diodes

Номер патента: US20120001305A1. Автор: Peroni Marco,Pantellini Alessio. Владелец: SELEX SISTEMI INTEGRATI S.P.A.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF REDUCING EROSION OF A METAL CAP LAYER DURING VIA PATTERNING IN SEMICONDUCTOR DEVICES

Номер патента: US20120003832A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Methods of Preparing Non-Alcohol Bioactive Esential Oil Mouth Rinses

Номер патента: US20120003162A1. Автор: Mordas Carolyn J.,Queiroz Daniel R.,Tsai Patrick B.. Владелец: McNeil-PPC, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS OF ARC DETECTION AND SUPPRESSION DURING RF SPUTTERING OF A THIN FILM ON A SUBSTRATE

Номер патента: US20120000765A1. Автор: Halloran Sean Timothy. Владелец: PRIMESTAR SOLAR, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC LIGHT-EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001182A1. Автор: Choi Jong-Hyun,Lee Dae-Woo. Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Nanostructured Mn-Al Permanent Magnets And Methods of Producing Same

Номер патента: US20120003114A1. Автор: Zeng Qi,Baker Ian. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING AN ELECTROCHEMICAL DEVICE USING ULTRAFAST PULSED LASER DEPOSITION

Номер патента: US20120003395A1. Автор: CHE Yong,HU Zhendong. Владелец: IMRA AMERICA, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FORMING STRAINED EPITAXIAL CARBON-DOPED SILICON FILMS

Номер патента: US20120003825A1. Автор: Dip Anthony. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001300A1. Автор: Ito Takayuki,ISHIDA Tatsuya,Yoshino Kenichi,Naito Tatsuya. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.