Semiconductor integrated circuit and test control method thereof
Номер патента: US9310430B2
Опубликовано: 12-04-2016
Автор(ы): Hong-Sok Choi
Принадлежит: Hynix Semiconductor Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 12-04-2016
Автор(ы): Hong-Sok Choi
Принадлежит: Hynix Semiconductor Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Semiconductor integrated circuit
Номер патента: US20040059959A1. Автор: Kazumasa Ozawa. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2004-03-25.