Semiconductor integrated circuit, semiconductor system, and electric source voltage control method
Номер патента: US20180212691A1
Опубликовано: 26-07-2018
Автор(ы): Hideaki Kobayashi
Принадлежит: NEC Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 26-07-2018
Автор(ы): Hideaki Kobayashi
Принадлежит: NEC Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Integrated circuit I/O integrity and degradation monitoring
Номер патента: US11762789B2. Автор: Eyal Fayneh,Evelyn Landman,Shai Cohen,Inbar Weintrob,Guy REDLER. Владелец: Proteantecs Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.