Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • CRITICAL DIMENSION AND PATTERN RECOGNITION STRUCTURES FOR DEVICES MANUFACTURED USING DOUBLE PATTERNING TECHNIQUES

CRITICAL DIMENSION AND PATTERN RECOGNITION STRUCTURES FOR DEVICES MANUFACTURED USING DOUBLE PATTERNING TECHNIQUES

Номер патента: US20150050811A1
Опубликовано: 19-02-2015
Автор(ы): Chauhan Vikrant, Chen Tong Qing, Kelling Mark, Labelle Catherine, Mehta Sohan, Srivastava Ravi
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method for directed self-assembly and pattern curing

Номер патента: US09478435B2. Автор: Nihar Mohanty. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Method for fabricating semiconductor device capable of decreasing critical dimension in peripheral region

Номер патента: US7179749B2. Автор: Kyung-Won Lee,Ki-Won Nam. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-02-20.

Protecting, oxidizing, and etching of material lines for use in increasing or decreasing critical dimensions of hard mask lines

Номер патента: US09799514B1. Автор: Min-Hwa Chi,Hui Zang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Protecting, oxidizing, and etching of material lines for use in increasing or decreasing critical dimensions of hard mask lines

Номер патента: US20170294308A1. Автор: Min-Hwa Chi,Hui Zang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-10-12.

Methods of forming integrated circuits and multiple critical dimension self-aligned double patterning processes

Номер патента: US09431264B2. Автор: Linus Jang,Ryan Ryoung Han Kim,Young Joon MOON. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Forming contact holes with controlled local critical dimension uniformity

Номер патента: US20220181152A1. Автор: Junling Sun,Angelique RALEY,Andrew Metz,Katie Lutker-Lee. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-06-09.

Forming contact holes with controlled local critical dimension uniformity

Номер патента: US11978631B2. Автор: Junling Sun,Angelique RALEY,Andrew Metz,Katie Lutker-Lee. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Methods of forming features having differing pitch spacing and critical dimensions

Номер патента: US09449835B2. Автор: Ryan Ryoung-Han Kim,Linus Jang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Method and system for controlling profile of critical dimension

Номер патента: US11908754B2. Автор: Jun Shimada,Chih-Teng Liao,Chen-Fon CHANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Integrated circuit fabrication critical dimension control using self-limiting resist etch

Номер патента: US6121155A. Автор: Qi Xiang,Scott Bell,Chih-Yuh Yang. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2000-09-19.

Method of controlling critical dimensions of vias in a metallization system of a semiconductor device during silicon-ARC etch

Номер патента: US8492279B2. Автор: Johann Steinmetz,Mohammed Radwan. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2013-07-23.

Wet etch process and method to provide uniform etching of material formed within features having different critical dimension (cd)

Номер патента: WO2024058863A1. Автор: Shan Hu,Henan ZHANG,Sangita Kumari,Peter D'ELIA. Владелец: Tokyo Electron U.S. Holdings, Inc.. Дата публикации: 2024-03-21.

System and method for critical dimension reduction and pitch reduction

Номер патента: MY139835A. Автор: Robert Charatan. Владелец: Lam Res Corp. Дата публикации: 2009-10-30.

Wet etch process and method to provide uniform etching of material formed within features having different critical dimension (CD)

Номер патента: US12100599B2. Автор: Shan Hu,Henan ZHANG,Sangita Kumari,Peter Delia. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Ion implantation for improved contact hole critical dimension uniformity

Номер патента: US09735013B2. Автор: John Hautala,Tristan Y. Ma,Maureen K. Petterson,Boya Cui. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Method of forming offset spacer manufacturing for critical dimension precision

Номер патента: US6900104B1. Автор: Yuan-Hung Chiu,Ryan Chia-Jen Chen,Fang-Cheng Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2005-05-31.

Ion implantation for improved contact hole critical dimension uniformity

Номер патента: US20170178911A1. Автор: John Hautala,Tristan Y. Ma,Maureen K. Petterson,Boya Cui. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-06-22.

Method For Improving Etch Rate And Critical Dimension Uniformity When Etching High Aspect Ratio Features Within A Hard Mask Layer

Номер патента: US20230343598A1. Автор: Yun Han,Kai-Hung YU,Shihsheng Chang,Andrew Metz,Eric Chih-Fang Liu,Minjoon PARK. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Wet etch process and method to provide uniform etching of material formed within features having different critical dimension (cd)

Номер патента: US20240087908A1. Автор: Shan Hu,Henan ZHANG,Sangita Kumari,Peter Delia. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Sidewall image transfer process with multiple critical dimensions

Номер патента: WO2013052169A1. Автор: Sudharshanan RAGHUNATHAN,Allen H. Gabor,Sean D. Burns,Ryan O. Jung,Sivananda Kanakasabapathy,Erin Catherine MCLELLAN. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-04-11.

Semiconductor device manufacturing methods

Номер патента: US09768031B2. Автор: Cheng-Hsiung Tsai,Chung-Ju Lee,Tsung-Min Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Method for forming self-aligned double pattern and semiconductor structures

Номер патента: US12100593B2. Автор: Zhongming Liu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Method for processing three-dimensional (3d) silicon-based transfer structure based on photosensitive composite, and device manufactured thereby

Номер патента: US20240321588A1. Автор: Liang Zhou,Ziqi Zhang,Chengrui Zhang,Junfa MAO. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-09-26.

Display device manufacturing apparatus and method

Номер патента: US20190341277A1. Автор: Juhee Lee,Myungsoo Huh,TaeJong Kim,Haeyoung YOO,Jaekyu Park,Hyunwoo Joo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-07.

Method for forming self-aligned double pattern, and semiconductor structure

Номер патента: EP4181172A1. Автор: Zhongming Liu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-05-17.

Line-end cutting method for fin structures of FinFETs formed by double patterning technology

Номер патента: US09536987B2. Автор: Ming Li,Chunyan Yi. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Self-aligned double patterning with spacer-merge region

Номер патента: US11749529B2. Автор: ZHENG Xu,Kafai Lai,Rasit Onur Topaloglu,Dongbing Shao. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Self-aligned double patterning with spacer-merge region

Номер патента: US20210272806A1. Автор: ZHENG Xu,Kafai Lai,Rasit Onur Topaloglu,Dongbing Shao. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20160071739A1. Автор: Tsubasa IMAMURA,Keisuke Kikutani. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-03-10.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US09887093B1. Автор: Mitsuhiro Omura. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Method of fabricating semiconductor structure with improved critical dimension control

Номер патента: US09653345B1. Автор: En-Chiuan Liou,Yu-Ting Hung,Che-Yi Lin,Chia-Hsun Tseng,Shin-Feng Su,Shang-Nan Chou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Self-aligning process method and self-aligning process apparatus for reducing critical dimension variation of sic trench gate mosfet structure

Номер патента: US20230326992A1. Автор: Sang Woo Kim,Min Seok Jang,Ho Jun Lee,Jee Hun Jeong,O Gyun Seok. Владелец: University Industry Cooperation Foundation of Pusan National University. Дата публикации: 2023-10-12.

Processing method for producing photomask with double patterns and storage medium thereof

Номер патента: US20200152474A1. Автор: Chien-Chin Huang,Shih-Min Tseng. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2020-05-14.

Processing method for producing photomask with double patterns and storage medium thereof

Номер патента: US10957555B2. Автор: Chien-Chin Huang,Shih-Min Tseng. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2021-03-23.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2680989C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Асламбек Идрисович Хасанов,Руслан Азаевич Кутуев,Арслан Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет". Дата публикации: 2019-03-01.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2688864C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2019-05-22.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2688863C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2019-05-22.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device manufacturing apparatus

Номер патента: US8101507B2. Автор: Shigeru Tahara,Ryuichi Asako,Gousuke Shiraishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-01-24.

Semiconductor device manufacturing apparatus

Номер патента: US20120132365A1. Автор: Shigeru Tahara,Ryuichi Asako,Gousuke Shiraishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-05-31.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US8124492B2. Автор: Hitoshi Itoh,Hiroshi Sato,Kenji Matsumoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-02-28.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US8314004B2. Автор: Hitoshi Itoh,Hiroshi Sato,Kenji Matsumoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-11-20.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20120122289A1. Автор: Hitoshi Itoh,Hiroshi Sato,Kenji Matsumoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-05-17.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20100233865A1. Автор: Hitoshi Itoh,Hiroshi Sato,Kenji Matsumoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-09-16.

Metal fill optimization for self-aligned double patterning

Номер патента: US09735029B1. Автор: Lawrence A. Clevenger,Myung-Hee Na,Albert M. Chu,Ximeng Guan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2717149C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2020-03-18.

Method of self-aligned double patterning

Номер патента: US10734284B2. Автор: Chieh-Te Chen,Feng-Yi Chang,Fu-Che Lee,Ying-Chih Lin,Gang-Yi Lin,Yi-Ching Chang. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-04.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20100216300A1. Автор: Tadahiro Ohmi,Toshihisa Nozawa,Akinobu Teramoto,Takaaki Matsuoka,Hirokazu Ueda. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2010-08-26.

Tin oxide thin film spacers in semiconductor device manufacturing

Номер патента: US12051589B2. Автор: Bart J. van Schravendijk,David Charles Smith,Richard Wise,Arpan Pravin Mahorowala,Patrick A van Cleemput. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Self-aligned double patterning (sadp) method

Номер патента: US20200098580A1. Автор: Jui-Yu Pan,Kuo-Chyuan Tzeng,Lee-Chuan Tseng,Ying-Hua Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Double-pattern gate formation processing with critical dimension control

Номер патента: US20140220767A1. Автор: Xiang Hu. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2014-08-07.

Method for establishing mapping relation in STI etch and controlling critical dimension of STI

Номер патента: US09666472B2. Автор: JIN Xu,Xusheng Zhang,Yu Ren,Yukun LV,Qiyan Feng. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-05-30.

Method for improving critical dimension variability by implanting argon or silicon ions into a patterned mask

Номер патента: US09613813B2. Автор: Todd Henry,Steven Robert Sherman. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Method for using disposable hard mask for gate critical dimension control

Номер патента: US5670423A. Автор: Chue-San Yoo. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 1997-09-23.

Spacer double patterning that prints multiple CD in front-end-of-line

Номер патента: US8450833B2. Автор: Ryoung-han Kim. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2013-05-28.

Conductive feature with non-uniform critical dimension and method of manufacturing the same

Номер патента: US11935816B2. Автор: Shing-Yih Shih,Jheng-Ting JHONG. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Semiconductor device with reduced critical dimensions

Номер патента: US12009212B2. Автор: Kuo-Hui Su. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Method for establishing mapping relation in sti etch and controlling critical dimension of sti

Номер патента: US20170025304A1. Автор: JIN Xu,Xusheng Zhang,Yu Ren,Yukun LV,Qiyan Feng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-26.

Process for forming photoresist mask over integrated circuit structures with critical dimension control

Номер патента: US5902704A. Автор: Philippe Schoenborn,John Haywood. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 1999-05-11.

Double patterning lithography techniques

Номер патента: US20140017899A1. Автор: Matthew L. Tingey,Charles H. Wallace,Swaminathan Sivakumar,Nadia M. Rahhal-Orabi,Chanaka D. Munasinghe. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2014-01-16.

Methods to reduce the critical dimension of semiconductor devices

Номер патента: US7807575B2. Автор: Baosuo Zhou. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2010-10-05.

Methods for adjusting critical dimension uniformity in an etch process

Номер патента: SG153011A1. Автор: Changhun Lee,Guowen Ding,Teh-Tien Su. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2009-06-29.

Double patterning techniques for forming a deep trench isolation structure

Номер патента: US20220285203A1. Автор: Yu-Wen Chen,Ching-Sen Kuo,Feng-Jia Shiu,Chun-Wei Chang,Wei-Chao Chiu,Yong-Jin LIOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-09-08.

Method and structure to enable dual channel fin critical dimension control

Номер патента: US09768075B1. Автор: Kangguo Cheng,John R. Sporre,Marc A. Bergendahl,Sean TEEHAN. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Process for variable fin pitch and critical dimension

Номер патента: US20180330994A1. Автор: Hui Zang,Jinping Liu. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-11-15.

Process for variable fin pitch and critical dimension

Номер патента: US10192786B2. Автор: Hui Zang,Jinping Liu. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2019-01-29.

Gate cut critical dimension shrink and active gate defect healing using selective deposition

Номер патента: US20200135575A1. Автор: Marc Bergendahl,Andrew Greene,Yann Mignot,Ekmini A. De Silva,Gangadhara Raja MUTHINTI,Alex Joseph Varghese,Dallas Lea,Matthew T. Shoudy. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Method and structure to enable dual channel fin critical dimension control

Номер патента: US20170365525A1. Автор: Kangguo Cheng,John R. Sporre,Marc A. Bergendahl,Sean TEEHAN. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Critical dimensions variance compensation

Номер патента: US20180197796A1. Автор: Tristan MA,Motoya Okazaki,Morgan D. Evans,Kevin Anglin,Johannes M. van Meer. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-07-12.

Methods of forming semiconductor devices to include single body interconnection patterns using fine patterning techniques, and semiconductor device so formed

Номер патента: US09590034B2. Автор: Chul Lee,Seok-ho Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-07.

Semiconductor device manufacturing method and pattern forming method

Номер патента: US09685331B1. Автор: Yusuke KASAHARA,Ayako KAWANISHI,Hiroki YONEMITSU. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Double patterning techniques for forming a deep trench isolation structure

Номер патента: US20230402315A1. Автор: Yu-Wen Chen,Ching-Sen Kuo,Feng-Jia Shiu,Chun-Wei Chang,Wei-Chao Chiu,Yong-Jin LIOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Double patterning method

Номер патента: US20140024215A1. Автор: Ying Zhang,Kangguo Cheng,Bruce B. Doris,Ali Khakifirooz. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Double patterning method

Номер патента: US9431266B2. Автор: Ying Zhang,Kangguo Cheng,Bruce B. Doris,Ali Khakifirooz. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Double patterning method

Номер патента: US20150056809A1. Автор: Ying Zhang,Kangguo Cheng,Bruce B. Doris,Ali Khakifirooz. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-02-26.

Using a same mask for direct print and self-aligned double patterning of nanosheets

Номер патента: US12080559B2. Автор: Eric Miller,Daniel James Dechene,Stuart Sieg. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Double patterning method of manufacturing select gates and word lines

Номер патента: US20240081056A1. Автор: Zih-Song Wang,Yi-Yeh Chuang,Li-Ta Chen,Shun-Yu Gao. Владелец: Powerchip Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Method of forming pattern, method of manufacturing semiconductor device, and pattern-forming material

Номер патента: US20210296116A1. Автор: Koji Asakawa,Shinobu Sugimura,Norikatsu Sasao. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Nor flash device manufacturing method

Номер патента: US20140154878A1. Автор: Yawei Chen,Zhihon Jian. Владелец: CSMC Technologies Fab2 Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-05.

Double Patterning Method Of Forming Semiconductor Active Areas And Isolation Regions

Номер патента: US20150206788A1. Автор: Chien-Sheng Su,Jeng-Wei Wang. Владелец: Silicon Storage Technology Inc. Дата публикации: 2015-07-23.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor wafer

Номер патента: US20170186725A1. Автор: Takehiro Oura,Yuichi Ota,Kohei Yoshida,Kentaro Kita. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Composition for forming organic film, method for forming organic film, and patterning process

Номер патента: EP4451062A2. Автор: Yasuyuki Yamamoto,Daisuke Kori,Tomohiro Imata. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Composition for forming organic film, method for forming organic film, and patterning process

Номер патента: EP4451062A3. Автор: Yasuyuki Yamamoto,Daisuke Kori,Tomohiro Imata. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Composition For Forming Organic Film, Method For Forming Organic Film, And Patterning Process

Номер патента: US20240355632A1. Автор: Yasuyuki Yamamoto,Daisuke Kori,Tomohiro Imata. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor wafer

Номер патента: US09786630B2. Автор: Takehiro Oura,Yuichi Ota,Kohei Yoshida,Kentaro Kita. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Metal spacer self aligned double patterning with airgap integration

Номер патента: US20200135537A1. Автор: Hsueh-Chung Chen,Cornelius Brown Peethala,Lawrence A. Clevenger,James Kelly,Yann Mignot. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Thin film resistor mismatch improvement using a self-aligned double pattern (sadp) technique

Номер патента: US20240113156A1. Автор: ABBAS Ali,Sameer Prakash Pendharkar,Scott William Jessen,Steven Lee Prins,Gregory Boyd SHINN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-04-04.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20200303221A1. Автор: Kazuyuki Fukuyama,Masaru Hatano. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Semiconductor Device Manufacturing Method

Номер патента: US20170077396A1. Автор: Mitsuru Yamazaki,Koji Yamashita. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US11756793B2. Автор: Yohei Ishii,Kathryn Maier,Medhat Khalil. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Semiconductor Device Manufacturing Methods and Methods of Forming Insulating Material Layers

Номер патента: US20130043512A1. Автор: Neng-Kuo Chen,Sey-Ping Sun,Clement Hsingjen Wann,Gin-Chen Huang,Tsai-fu Hsiao,Ching-Hong Jiang,Hongfa Luan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-02-21.

Contact forming method, semiconductor device manufacturing method, and semiconductor device

Номер патента: US20110073922A1. Автор: Tadahiro Ohmi,Hiroaki Tanaka,Akinobu Teramoto,Tatsunori Isogai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-03-31.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US09893211B2. Автор: Takashi Yoshimura,Yuichi Onozawa,Hiroshi TAKISHITA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Pattern forming method and pattern forming apparatus, exposure method and exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: JPWO2007142350A1. Автор: 茂 蛭川,壮一 大和,大和　壮一. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-10-29.

Virtual metrology systems and methods for using feedforward critical dimension data to predict other critical dimensions of a wafer

Номер патента: US20180211891A1. Автор: Ramanapathy Veerasingam. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2018-07-26.

Method for shrinking critical dimension

Номер патента: US20020055252A1. Автор: Ching-Yu Chang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2002-05-09.

EPI T-GATE STRUCTURE FOR CoSi2 EXTENDIBILITY

Номер патента: WO2007136884A3. Автор: Dharmesh Jawarani,Mark D Hall,Mehul D Shroff,Edward O Travis. Владелец: Edward O Travis. Дата публикации: 2008-11-06.

EPI T-GATE STRUCTURE FOR CoSi2 EXTENDIBILITY

Номер патента: WO2007136884A2. Автор: Edward O. Travis,Dharmesh Jawarani,Mehul D. Shroff,Mark D. Hall. Владелец: Freescale Semiconductor Inc.. Дата публикации: 2007-11-29.

Wiring structure with conductive features having different critical dimensions, and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240047354A1. Автор: Min-Chung Cheng. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Wiring structure with conductive features having different critical dimensions, and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240047355A1. Автор: Min-Chung Cheng. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Silylation method for reducing critical dimension loss and resist loss

Номер патента: US6107177A. Автор: Zhijian Lu,Wayne Moreau. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2000-08-22.

Method and apparatus for control of critical dimension using feedback etch control

Номер патента: EP1275144A1. Автор: Anthony J. Toprac,John R. Behnke,Matthew Purdy,Douglas Bonser,James H. Hussey, Jr.. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-01-15.

Method and apparatus for calibrating sub-nanometer critical dimension using pitch offset

Номер патента: SG144790A1. Автор: Shinn-Sheng Yu,Tsai-Sheng Gau,Chih-Ming Ke,Yu-Hsi Wang,Kuo-Chen Huang,Jacky Huang Te-Chih Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2008-08-28.

Post Development Treatment Method and Material For Shrinking Critical Dimension of Photoresist Layer

Номер патента: US20170219925A1. Автор: Ching-Yu Chang,Siao-Shan Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Global landmark method for critical dimension uniformity reconstruction

Номер патента: WO2012046233A3. Автор: Vladimir Dmitriev,Ofir Sharoni. Владелец: CARL ZEISS SMS LTD.. Дата публикации: 2012-07-05.

Global landmark method for critical dimension uniformity reconstruction

Номер патента: WO2012046233A2. Автор: Vladimir Dmitriev,Ofir Sharoni. Владелец: CARL ZEISS SMS LTD.. Дата публикации: 2012-04-12.

Shallow trench isolation (sti) structure for cmos image sensor

Номер патента: US20210225924A1. Автор: Seong Yeol Mun. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2021-07-22.

Critical dimension inspection method and semiconductor device manufacturing method using the same

Номер патента: US20240045342A1. Автор: Woo Jin Jung,Sang-Ho Yun,Su Bin KONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-08.

Critical Dimension (CD) Uniformity of Photoresist Island Patterns Using Alternating Phase Shifting Mask

Номер патента: US20200142313A1. Автор: Jesmin Haq,Tom Zhong,Zhongjian Teng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-05-07.

Determination of semiconductor chamber operating parameters for the optimization of critical dimension uniformity

Номер патента: US9466466B1. Автор: RYAN Martin,Qinghua Zhong,Ganesh Upadhyaya. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Semiconductor device having controlled final metal critical dimension

Номер патента: US20140273389A1. Автор: Nam Sung Kim,Baofu ZHU,Bingwu Liu. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

Micro-fluidic channels having various critical dimensions

Номер патента: US20200402889A1. Автор: Kamal K. Sikka,Fee Li LIE,Joshua M. Rubin,Ravi K. Bonam,Iqbal Rashid Saraf. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-12-24.

Critical dimension (CD) uniformity of photoresist island patterns using alternating phase shifting mask

Номер патента: US10831104B2. Автор: Jesmin Haq,Tom Zhong,Zhongjian Teng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-11-10.

Critical dimension reduction and roughness control

Номер патента: WO2006130319A3. Автор: Robert Charatan,Sangheon Lee,S M Reza Sadjadi,Dae-Han Choi,Jisoo Kim,Peter Cirigliano,Zhisong Huang. Владелец: Zhisong Huang. Дата публикации: 2009-04-16.

Critical dimension variation correction in extreme ultraviolet lithography

Номер патента: IL239577B. Автор: Sergey Oshemkov,Vladimir Kruglyakov,Frederik Blumrich,Yuval PERETS. Владелец: Yuval PERETS. Дата публикации: 2020-10-29.

Techniques for uniformizing photoresist thickness and critical dimension of underlying features through aerosol application of photoresist

Номер патента: US5554486A. Автор: Mario Garza. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 1996-09-10.

Multiple critical dimension power rail

Номер патента: US20230411292A1. Автор: Tao Li,Ruilong Xie,Kisik Choi,Liqiao QIN. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Multiple critical dimension power rail

Номер патента: WO2023241932A1. Автор: Tao Li,Ruilong Xie,Kisik Choi,Liqiao QIN. Владелец: Ibm United Kingdom Limited. Дата публикации: 2023-12-21.

웨이퍼의 다른 cd (critical dimension) 를 예측하기 위해 피드포워드 cd 데이터를 사용하는 가상 계측 시스템들 및 방법들

Номер патента: KR20180087145A. Автор: 라마나파시 비라싱암. Владелец: 램 리써치 코포레이션. Дата публикации: 2018-08-01.

Interconnects having spacers for improved top via critical dimension and overlay tolerance

Номер патента: US11961759B2. Автор: Lawrence A. Clevenger,Brent A. Anderson,Christopher J. Penny,Kisik Choi,Nicholas Anthony Lanzillo,Robert Robison. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Method of manufacturing fan-out packaging device and fan-out packaging device manufactured thereby

Номер патента: US20240347433A1. Автор: Sehat Sutardja. Владелец: Silicon Box Pte Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Lithography system and method for device manufacture

Номер патента: WO2002093254A3. Автор: David A Markle,Dan Meisburger. Владелец: Ultratech Stepper Inc. Дата публикации: 2009-06-11.

Methods and Apparatus for Semiconductor Memory Devices Manufacturable Using Bulk CMOS Process Manufacturing

Номер патента: US20080315268A1. Автор: Yiming Zhu. Владелец: GigaDevice Semiconductor Beijing Inc. Дата публикации: 2008-12-25.

Lithography system and method for device manufacture

Номер патента: WO2002093254A1. Автор: David A Markle,Dan Meisburger. Владелец: Ultratech Stepper Inc. Дата публикации: 2002-11-21.

Dummy Gate Structure for Semiconductor Devices

Номер патента: US20160005814A1. Автор: Shih-Chi Fu,Chien-Chih Chou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Dummy gate structure for semiconductor devices

Номер патента: US09627475B2. Автор: Shih-Chi Fu,Chien-Chih Chou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Pattern formation method, pattern formation apparatus, exposure method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090135399A1. Автор: Soichi Owa,Shigeru Hirukawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-05-28.

Method for forming a resist under layer film and patterning process

Номер патента: US20140335692A1. Автор: Tsutomu Ogihara,Toshihiko Fujii,Seiichiro Tachibana,Daisuke Kori,Shiori Nonaka. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-13.

Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method with high-voltage isolation capacitor

Номер патента: US20240063111A1. Автор: Jong Yeul Jeong,Kang Sup Shin,Jeong Ho SHEEN,Sang Geun KOO. Владелец: Key Foundry Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Method and structure for double lining for shallow trench isolation

Номер патента: US20070087519A1. Автор: Liu Chi-Kang,XIN Wang,Ze Li. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2007-04-19.

Integrated circuit device manufacturing method

Номер патента: US20240361546A1. Автор: Hui Yu Lee,Yu-Hao Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Schottky barrier structure for silicon carbide (SiC) power devices

Номер патента: US09960247B2. Автор: Ruigang Li,Zheng Zuo,Bochao Huang,Da Teng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-01.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: SG128586A1. Автор: Dirk-Jan Bijvoet. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2007-01-30.

Interconnect structure for multi-thickness semiconductor device

Номер патента: US20240332065A1. Автор: Kuo-Ming Wu,Yi-Min Chen,Dah-Chuen Ho,Ying-De Chen,Yao-Hong You. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Alignment Target Contrast in a Lithographic Double Patterning Process

Номер патента: US20140192333A1. Автор: Mircea Dusa,Manfred Gawein Tenner,Harry Sewell,Richard Johannes Franciscus Van Haren,Maya Angelova Doytcheva. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2014-07-10.

Methods for forming and etching structures for patterning processes

Номер патента: US20200058503A1. Автор: Rajinder Dhindsa,Vinay Shankar VIDYARTHI. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-02-20.

Forming a fin using double trench epitaxy

Номер патента: US09923084B2. Автор: Shogo Mochizuki,Pouya Hashemi,Alexander Reznicek,Veeraraghavan S. Basker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Method of forming a temporary test structure for device fabrication

Номер патента: US09735071B2. Автор: Charles L. Arvin,Gary W. Maier,Brian Michael Erwin. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Forming a Fin using double trench epitaxy

Номер патента: US09653582B2. Автор: Shogo Mochizuki,Pouya Hashemi,Alexander Reznicek,Veeraraghavan S. Basker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Forming a fin using double trench epitaxy

Номер патента: US09583599B2. Автор: Shogo Mochizuki,Pouya Hashemi,Alexander Reznicek,Veeraraghavan S. Basker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2688866C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2019-05-22.

Method for double patterning a thin film

Номер патента: US20080076075A1. Автор: Sandra L. Hyland,Shannon W. Dunn. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-03-27.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2745589C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: федеральное государственное бюджетно образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2021-03-29.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2688851C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2019-05-22.

Method of manufacturing nitrogen-face nitride semiconductor and nitrogen-face nitride semiconductor device manufactured using the same

Номер патента: US20240153766A1. Автор: Min Ho Kim,Ok Hyun Nam,Uiho Choi. Владелец: Tech University Of Korea Industry Academic Cooperation Foundation. Дата публикации: 2024-05-09.

Method of forming a temporary test structure for device fabrication

Номер патента: US09899280B2. Автор: Charles L. Arvin,Gary W. Maier,Brian Michael Erwin. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Method for manufacturing assembly of flexible display device and assembly of flexible display device manufactured with same

Номер патента: US09634146B2. Автор: Guoren HU. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2709603C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Асламбек Идрисович Хасанов,Руслан Азаевич Кутуев,Арслан Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет". Дата публикации: 2019-12-18.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2719622C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Асламбек Идрисович Хасанов,Руслан Азаевич Кутуев,Арслан Гасанович Мустафаев,Зелимхан Лечиевич Хазбулатов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет". Дата публикации: 2020-04-21.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2726904C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Асламбек Идрисович Хасанов,Руслан Азаевич Кутуев,Арслан Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет". Дата публикации: 2020-07-16.

Method of semiconductor device manufacturing

Номер патента: RU2629657C2. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2017-08-30.

Dummy Gate Structure for Semiconductor Devices

Номер патента: US20130175660A1. Автор: Shih-Chi Fu,Chien-Chih Chou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-07-11.

Hybrid panel method of manufacturing electronic devices and electronic devices manufactured thereby

Номер патента: US20240274445A1. Автор: Andre Cardoso,Suresh Jayaraman,Bora Baloglu,Ronald Huemoeller,Fernando Teixeira,Luís ALVES,Eoin O'Toole,Marta Sa Santos,Jose Moreira da Silva,Jose Luis Silva. Владелец: Amkor Technology Portugal SA. Дата публикации: 2024-08-15.

Electronic device manufacturing aqueous solution, method for manufacturing resist pattern and method for manufacturing device

Номер патента: US20240294855A1. Автор: Kazuma Yamamoto,Hiroshi Yanagita,Tomoyasu YASHIMA,Maki Ishii. Владелец: Merck Electronics Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20170301541A1. Автор: Jaehong Park,Jeoungwoo KIM,Wangyu LEE,Hoseung JEON,Junghwan HYUNG. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2017-10-19.

Eccentric via structures for stress reduction

Номер патента: US12094828B2. Автор: Shin-puu Jeng,Chia-Hsiang Lin,Po-Yao Lin,Shu-Shen Yeh,Chia-Kuei Hsu,Che-Chia Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Passivation of metal structures for harsh environments

Номер патента: WO2024188852A1. Автор: Roy Knechtel,Sophia Dempwolf. Владелец: X-FAB Global Services GmbH. Дата публикации: 2024-09-19.

Eccentric via structures for stress reduction

Номер патента: US20240363543A1. Автор: Shin-puu Jeng,Chia-Hsiang Lin,Po-Yao Lin,Shu-Shen Yeh,Chia-Kuei Hsu,Che-Chia Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US09899216B2. Автор: Jaehong Park,Jeoungwoo KIM,Wangyu LEE,Hoseung JEON,Junghwan HYUNG. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2018-02-20.

Image sensor devices, methods of manufacture thereof, and semiconductor device manufacturing methods

Номер патента: US09748304B2. Автор: Szu-Ying Chen,Dun-Nian Yaung,Jen-Cheng Liu,Jeng-Shyan Lin,Shu-Ting Tsai,U-Ting CHEN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Lithography apparatus, a device manufacturing method, a method of manufacturing an attenuator

Номер патента: US09594304B2. Автор: Arno Jan Bleeker,Martinus Hendricus Henricus Hoeks. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-03-14.

Semiconductor device manufacturing apparatus and operating method thereof

Номер патента: US7556711B2. Автор: Hidenori Miyoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-07-07.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US20220293581A1. Автор: Hideo Numata. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Semiconductor device manufacturing apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20060289297A1. Автор: Hidenori Miyoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-12-28.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device manufacturing apparatus

Номер патента: US20150235850A1. Автор: Hidetami Yaegashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-20.

Systems and methods for providing maintenance access to electronic device manufacturing tools

Номер патента: US20210183676A1. Автор: Michael R. Rice,Jeffrey C. Hudgens,Juan Carlos Rocha-Alvarez. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-06-17.

Semiconductor device manufacturing method, semiconductor device, semiconductor device manufacturing apparatus and storage medium

Номер патента: US20140103529A1. Автор: Kenji Matsumoto,Atsushi Gomi,Tatsuo Hatano,Tatsufumi Hamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-04-17.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20190221430A1. Автор: Fu Hai Liu. Владелец: Semconductor Manufacturing International (shanghai) Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20040097074A1. Автор: So Suzuki. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-20.

Double patterning interconnect integration scheme with sav

Номер патента: US20210118732A1. Автор: Chih-Chao Yang,Terry A. Spooner,Shyng-Tsong Chen,Koichi Motoyama. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-04-22.

Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US09741587B2. Автор: Yoshikazu Takahashi,Tsunehiro Nakajima,Norihiro NASHIDA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Electronic device manufacturing system

Номер патента: US09717147B2. Автор: Jeffrey C. Hudgens,Michael Robert Rice. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Low-cost semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US09691893B2. Автор: Francois Hebert,Ju Ho Kim,Seong Min Cho,Yu Shin RYU,Yon Sup PANG. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device manufacturing apparatus

Номер патента: US09679770B2. Автор: Hidetami Yaegashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Method of forming through-hole in silicon substrate, method of forming electrical connection element penetrating silicon substrate and semiconductor device manufactured thereby

Номер патента: US09633930B2. Автор: Jaegab LEE,Daekyun JEONG. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Kookmin University. Дата публикации: 2017-04-25.

Fluid handling structure, a lithographic apparatus and a device manufacturing method

Номер патента: US09588437B2. Автор: Michel Riepen,Henricus Jozef Castelijns,Nicolaas Ten Kate,Rogier Hendrikus Magdalena Cortie,Jim Vincent OVERKAMP,Niek Jacobus Johannes Roset,Cornelius Maria Rops. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-03-07.

Fluid handling structure including gas supply and gas recovery openings, a lithographic apparatus and a device manufacturing method

Номер патента: US09442390B2. Автор: Michel Riepen,Rogier Hendrikus Magdalena Cortie,Cornelius Maria Rops. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-09-13.

Bilayer rdl structure for bump count reduction

Номер патента: US20230395486A1. Автор: Dian-Hau Chen,Tsung-Chieh Hsiao,Liang-Wei WANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Self-aligned double patterning with mandrel manipulation

Номер патента: US20240162090A1. Автор: David Pritchard,Elizabeth Strehlow,Hongru Ren,James Mazza,Romain Feuillette. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2723981C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2020-06-18.

Method of semiconductor device manufacturing

Номер патента: RU2621372C2. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2017-06-02.

Method of semiconductor device manufacturing

Номер патента: RU2626075C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Асламбек Идрисович Хасанов,Арслан Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет" (ФГБОУ ВО "Чеченский государственный университет"). Дата публикации: 2017-07-21.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20120077341A1. Автор: Masamichi Suzuki,Atsuhiro Kinoshita,Hirotaka Nishino,Yoshifumi Nishi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Semiconductor device manufacturing method and design support apparatus

Номер патента: US20100190327A1. Автор: Yuji Setta. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2010-07-29.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20230282475A1. Автор: Hyun-Ji SONG,Hoon Han,Byung Keun Hwang,Jae Woon Kim,Younghun Sung,Youn Joung CHO,Eun Hyea Ko,Jeong Ho MUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US8466518B2. Автор: Tomoyuki Kirimura. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2013-06-18.

Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20120038000A1. Автор: Tomoyuki Kirimura. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2012-02-16.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US9899301B2. Автор: Katsuhito Kamachi,Hideaki Tamimoto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20180019189A1. Автор: Katsuhito Kamachi,Hideaki Tamimoto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-01-18.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US9806007B2. Автор: Katsuhito Kamachi,Hideaki Tamimoto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Fluid handling structure, immersion lithographic apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20170176867A1. Автор: Daan Daniel Johannes Antonius Van Sommeren,Bruno Jean François Frackowiak,Arend KOOLMA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-06-22.

Fluid handling structure, immersion lithographic apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: EP3172623A1. Автор: Daan Daniel Johannes Antonius Van Sommeren,Bruno Jean François Frackowiak,Arend KOOLMA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-31.

Method and apparatus for sweeping overflowed resin on semiconductor device manufacturing process

Номер патента: US6116487A. Автор: Nobuhiro Nagamoto. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2000-09-12.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20230282510A1. Автор: Kazuhiro Takahata. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Method of Introducing Strain Into Channel and Device Manufactured by Using the Method

Номер патента: US20120181634A1. Автор: Huaxiang Yin,Qiuxia Xu,Dapeng Chen. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-07-19.

Mini-environment pod device, an exposure apparatus and a device manufacturing method using the same

Номер патента: US20070175838A1. Автор: Mitsuji Marumo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2007-08-02.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US20120199946A1. Автор: Satoshi Kageyama. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2012-08-09.

Ion implantation method and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US7785994B2. Автор: Hideki Okai. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-08-31.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20120190186A1. Автор: Fuminobu NAKASHIMA. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-07-26.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20190181039A1. Автор: Tatsuya Yamaguchi,Koichi Yatsuda,Yannick Feurprier,Jean-Francois De Marneffe,Frederic LAZZARINO,Khashayar Babaei Gavan. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-06-13.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20210118727A1. Автор: Tatsuya Yamaguchi,Koichi Yatsuda,Yannick Feurprier,Jean-Francois De Marneffe,Frederic LAZZARINO,Khashayar Babaei Gavan. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20020127869A1. Автор: Taizo Oku,Junichi Aoki,Youichi Yamamoto,Takashi Koromokawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-12.

Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20020013066A1. Автор: Kazuo Maeda,Taizo Oku,Junichi Aoki,Youichi Yamamoto,Takashi Koromokawa. Владелец: Canon Marketing Japan Inc. Дата публикации: 2002-01-31.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US20180102310A1. Автор: Toshitsugu Ishii,Hidekazu Iwasaki,Jun MATSUHASHI,Naohiro Makihira. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-04-12.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20060281248A1. Автор: Yukinobu Hikosaka,Hirotoshi Tachibana. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-12-14.

Semiconductor device manufacturing method, and semiconductor device

Номер патента: US20160149056A1. Автор: Tatsuo Shimizu,Takashi Shinohe,Teruyuki Ohashi,Johji Nishio,Kazuto Takao,Ryosuke llJIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-05-26.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20180082893A1. Автор: Masayuki Kitamura,Hisashi Okuchi,Yasuhito Yoshimizu,Fuyuma ITO,Yuya Akeboshi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US8062973B2. Автор: Kazuhiko Nakamura,Koji Matsuo,Takaharu Itani. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-11-22.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20100190336A1. Автор: Kazuhiko Nakamura,Koji Matsuo,Takaharu Itani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-07-29.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US9013048B2. Автор: Norio Kainuma. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-04-21.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US20140339713A1. Автор: Norio Kainuma. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-11-20.

Device manufacturing method

Номер патента: US20090239356A1. Автор: Takafumi YAO,Meoung-Whan Cho. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-09-24.

Buffer layers for device isolation of devices grown on silicon

Номер патента: US20090218596A1. Автор: Mohamad A. Shaheen,Peter G. Tolchinsky,Mantu K. Hudait,Loren A. Chow,Dmitri Loubychev,Joel M. Fastenau,Amy W. K. Liu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-09-03.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US20020024095A1. Автор: Katsuomi Shiozawa,Yasuyoshi Itoh,Syuichi Ueno. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-02-28.

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Semiconductor device manufacturing method, x-ray diffraction device and semiconductor pattern transfer system

Номер патента: US20240231234A1. Автор: Yasuhiro Matsuo. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20240313083A1. Автор: Tatsuo Shimizu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Semiconductor device manufacturing method, curable resin composition for temporary fixation material, film for temporary fixation material, and laminated film for temporary fixation material

Номер патента: US12084599B2. Автор: Takashi Kawamori,Yoshihito Inaba,Emi Miyazawa,Tsuyoshi Hayasaka,Shinichiro SUKATA,Keisuke NISHIDO. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor device manufacture method

Номер патента: US09991159B2. Автор: Masayuki Kitamura,Hisashi Okuchi,Yasuhito Yoshimizu,Fuyuma ITO,Yuya Akeboshi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US09966311B2. Автор: Shingo Masuko. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Semiconductor device manufacturing apparatus having plurality of gas exhausting pipes and gas sensors

Номер патента: US09951422B2. Автор: Sukjin CHUNG,Jongcheol Lee,Jaechul Shin,Geunkyu CHOI,MinHwa Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-24.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US09922858B2. Автор: Tsunehiro Nakajima,Masaaki TACHIOKA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Semiconductor device manufacturing method, semiconductor device, and wire bonding apparatus

Номер патента: US09887174B2. Автор: Naoki Sekine. Владелец: Shinkawa Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Substrate and patterning device for use in metrology, metrology method and device manufacturing method

Номер патента: US09331022B2. Автор: Patrick Warnaar,Hendrik Jan Hidde SMILDE,Michael Kubis,Maurits van der Schaar,Kaustuve Bhattacharyya. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-05-03.

Substrate and patterning device for use in metrology, metrology method and device manufacturing method

Номер патента: WO2012126684A1. Автор: Patrick Warnaar,Michael Kubis,Maurits van der Schaar,Hendrik Smilde,Kaustuve Bhattacharyya. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2012-09-27.

Pattern recognition and metrology structure for an x-initiative layout design

Номер патента: WO2005022269A3. Автор: Bharath Rangarajan,Bhanwar Singh,Khoi A Phan. Владелец: Khoi A Phan. Дата публикации: 2005-04-21.

Pattern recognition and metrology structure for an x-initiative layout design

Номер патента: WO2005022269A2. Автор: Bharath Rangarajan,Bhanwar Singh,Khoi A. Phan. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2005-03-10.

Predicting and controlling critical dimension issues and pattern defectivity in wafers using interferometry

Номер патента: US09558545B2. Автор: Jaydeep Sinha,Pradeep Vukkadala,Sathish Veeraraghavan,Soham Dey. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Method and structure for calibrating scatterometry-based metrology tool used to measure dimensions of features on a semiconductor device

Номер патента: GB2406215A. Автор: Homi E Nariman. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-03-23.

Region of interest and pattern of interest generation for critical dimension measurement

Номер патента: WO2019173655A1. Автор: Arpit YATI,Jagdish Chandra Saraswatula,Hari Sriraman PATHANGI. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-12.

Critical dimension prediction system and operation method thereof

Номер патента: US20240332093A1. Автор: In Seok Park,Younghoon Sohn,Souk Kim,Jaehyung Ahn,Wan-Sik Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-03.

Control method and system for critical dimension (cd)

Номер патента: US20230063001A1. Автор: Zhimin Wu,Junjun Zhang,Fufang CHAO. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Wafer metrology pattern integrating both overlay and critical dimension features for SEM or AFM measurements

Номер патента: US5701013A. Автор: Thomas Chang,Liang-Choo Hsia. Владелец: Mosel Vitelic Inc. Дата публикации: 1997-12-23.

Critical dimension error analysis method

Номер патента: US20220399237A1. Автор: Chen Li,Yan Yan,Pengfei Wang,Lingyi Guo,Tao Zhou,Liren Li,Hao Fu,Jiebin DUAN,Xueru YU,HongXia SUN,Xiucui WANG,Bowen XU. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-15.

Method of forming core and periphery gates including two critical masking steps to form a hard mask in a core region that includes a critical dimension less than achievable at a resolution limit of lithography

Номер патента: US6780708B1. Автор: Yu Sun,Hiroyuki Kinoshita,Cyrus Tabery,Basab Banerjee,Christopher M. Foster,John R. Behnke. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2004-08-24.

Critical dimension measurement system and method of measuring critical dimensions using same

Номер патента: US20190094684A1. Автор: Won Joo Park,Hyung Joo Lee,Seuk Hwan Choi,Song Seok Nam,Yoon Taek Han. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-03-28.

Critical dimension measurement system and method of measuring critical dimensions using same

Номер патента: US20210055648A1. Автор: Won Joo Park,Hyung Joo Lee,Seuk Hwan Choi,Yoon Taek Han,Dong Seok Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-02-25.

Spacer double patterning for lithography operations

Номер патента: US8278156B2. Автор: Christophe Pierrat. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2012-10-02.

Method for circuit design on a spherical semiconductor having critical dimensions

Номер патента: WO2001022301A1. Автор: Nobuo Takeda,Yasunaga Suzuki,Eiji Matsunaga. Владелец: Ball Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2001-03-29.

Method and System for Improving Accuracy of Critical Dimension Metrology

Номер патента: US20080204730A1. Автор: Shinn-Sheng Yu,Tsai-Sheng Gau,Chih-Ming Ke,Jacky Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2008-08-28.

Optical critical dimension target design

Номер патента: US09824176B2. Автор: Jiangtao Hu,Zhuan Liu,Bingqing Li. Владелец: Nanometrics Inc. Дата публикации: 2017-11-21.

Optical critical dimension target design

Номер патента: US20170024509A1. Автор: Jiangtao Hu,Zhuan Liu,Bingqing Li. Владелец: Nanometrics Inc. Дата публикации: 2017-01-26.

Resist Material And Patterning Process

Номер патента: US20240027903A1. Автор: Jun Hatakeyama,Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Method and system for controlling critical dimension and roughness in resist features

Номер патента: US20130135598A1. Автор: Ludovic Godet,Patrick M. Martin,Joseph C. Olson,Christopher J. Leavitt. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2013-05-30.

Methods and systems for controlling critical dimensions in track lithography tools

Номер патента: US20090275149A1. Автор: Nikolaos Bekiaris,Timothy Michaelson. Владелец: Screen Semiconductor Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-05.

Critical dimension for trench and vias

Номер патента: US20090108257A1. Автор: HAI Cong,Yelehanka Ramachandramurthy Pradeep,Liang Choo Hsia,Chun Hui Low,Yan San Li. Владелец: Chartered Semiconductor Manufacturing Pte Ltd. Дата публикации: 2009-04-30.

Critical dimension for trench and vias

Номер патента: SG152190A1. Автор: Cong Hai,HSIA Liang Choo,Yelehanka Ramachandramurthy Pradeep,Li Yan San,Low Chun Hui. Владелец: Chartered Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2009-05-29.

Techniques and systems for model-based critical dimension measurements

Номер патента: US09875534B2. Автор: Abdurrahman Sezginer,Balaji Ganapathy,Yanwei Liu,Eric Vella. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Monitoring structure for critical dimension of lithography process

Номер патента: US20210166983A1. Автор: Meng-Hsien Tsai,Li-Chien Wang,Cheng-Hsiang Liu. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2021-06-03.

Structure for decreasing minimum feature size in an integrated circuit

Номер патента: US20070052059A1. Автор: Lee Jacobson,Andre Labonte. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-08.

Method and apparatus for controlling feature critical dimensions based on scatterometry derived profile

Номер патента: US20020177245A1. Автор: Michael Miller,Thomas Sonderman,Alexander Pasadyn,Christopher Bode,Anthony Toprac,Joyce Oey Hewett,Anastasia Peterson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-28.

Critical dimensions variance compensation

Номер патента: US10269663B2. Автор: Tristan MA,Motoya Okazaki,Morgan D. Evans,Kevin Anglin,Johannes M. van Meer. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2019-04-23.

Controlling critical dimensions in track lithography tools

Номер патента: WO2008019362A2. Автор: Nikolaos Bekiaris,Tim Michaelson. Владелец: SOKUDO CO., LTD.. Дата публикации: 2008-02-14.

Controlling critical dimensions in track lithography tools

Номер патента: WO2008019362A3. Автор: Nikolaos Bekiaris,Tim Michaelson. Владелец: Tim Michaelson. Дата публикации: 2008-10-16.

Finfet formation using double patterning memorization

Номер патента: US20140141605A1. Автор: Jin Cho,Chang Seo Park,Linus Jang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2014-05-22.

Self-Aligned Structure For Semiconductor Devices

Номер патента: US20230386933A1. Автор: Chih-Hao Wang,Kuo-Cheng Chiang,Kuan-Lun Cheng,Shi Ning Ju,Kuan-Ting Pan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Self-aligned structure for semiconductor devices

Номер патента: US11837504B2. Автор: Chih-Hao Wang,Kuo-Cheng Chiang,Kuan-Lun Cheng,Shi Ning Ju,Kuan-Ting Pan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Method of manufacturing pattern using trench structure and pattern manufactured thereby, and method of manufacturing solar battery using the manufacturing method and solar battery manufactured thereby

Номер патента: US9601648B2. Автор: Joon-Hyung Kim,Yong-Sung Goo. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Techniques for device fabrication with self-aligned electrodes

Номер патента: EP2005499A2. Автор: Henning Sirringhaus,Paul A. Cain,Yong-Young Noh. Владелец: Plastic Logic Ltd. Дата публикации: 2008-12-24.

Mask assembly and organic light emitting display device manufactured using the same

Номер патента: US20190305222A1. Автор: Sungwoo Jung,Soonjung WANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Thermal transfer film, method for manufacturing same, and organic electroluminescent device manufacturing therefrom

Номер патента: US09620715B2. Автор: Kyoung Ku Kang,Si Kyun PARK,Jung Hyo Lee,Seong Heun CHO,Se Hyun Park,Eun Gon LEE,Hyoung Tae Im. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Organic layer deposition apparatus, method of manufacturing organic light-emitting display apparatus using the same, and organic light-emitting display apparatus manufactured using the method

Номер патента: US09496524B2. Автор: Un-Cheol Sung,Su-Hwan Lee,Young-Mook Choi,Chae-Woong Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Material for forming adhesive film, method for forming adhesive film using the same, and patterning process using material for forming adhesive film

Номер патента: US20230059089A1. Автор: Tsutomu Ogihara,Yuji Harada,Takayoshi Nakahara,Yusuke Biyajima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Charge accumulator, method of its manufacturing, method for manufacturing of electroconductive structure for charge accumulator, mobile electronic device using charge accumulator and microelectronic device containing charge accumulator

Номер патента: RU2553981C2. Автор: Дональд С. ГАРДНЕР,Эрик К. ХАННА,Джон Л. ГУСТАФСОН,Жун ЧЭН. Владелец: Интел Корпорейшн. Дата публикации: 2015-06-20.

Light emitting device manufacturing method and apparatus thereof

Номер патента: US20180294426A1. Автор: Cheng-Hsin Chen,Huei-Siou CHEN,Li-Chen Wei. Владелец: INT Tech Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-11.

Low capacitance floating diffusion structure for a solid state image sensor

Номер патента: US5621230A. Автор: Robert M. Guidash,Antonio S. Ciccarelli. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1997-04-15.

Methods for fabricating planar heater structures for ejection devices

Номер патента: US20130084662A1. Автор: Yimin Guan,II Burton Joyner,Zach Reitmeier. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-04-04.

Socket interface frames for devices with improved-performance substrates

Номер патента: US20240222288A1. Автор: David Shia,Steven Klein,Elah Bozorg-Grayeli,Aravindha Antoniswamy,Sergio Antonio Chan Arguedas,Timothy Gosselin,Johnny Cook, JR.,Rick Canham. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Semiconductor device measurement method using x-ray scattering and semiconductor device manufacturing method including the measurement method

Номер патента: US20230380783A1. Автор: Hidong Kwak,Jaeyong Lee,Minjung Shin,Chuhee LEE,Seungryeol Oh,Byunghyun HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Semiconductor device manufacture with in-line hotspot detection

Номер патента: US12057355B2. Автор: Michael Shifrin,Avron GER. Владелец: Nova Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Image-based overlay targets incorporating features for pattern recognition and moire fringe patterns for measurement

Номер патента: US11748869B1. Автор: Martin Weiss,Apratim Dhar,Aaron M. White. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Method for manufacturing OLED device and OLED device manufactured therewith

Номер патента: US09660210B2. Автор: Yifan Wang,Yawei Liu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Method for manufacturing OLED device and OLED device manufactured therewith

Номер патента: US09660209B2. Автор: Yifan Wang,Yawei Liu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Double patterning process

Номер патента: US8129099B2. Автор: Kazuhiro Katayama,Jun Hatakeyama,Tsunehiro Nishi,Toshinobu Ishihara,Katsuya Takemura. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-06.

Device and method of device manufacturing

Номер патента: RU2738440C1. Автор: Рико ВЕРХАГЕН,Мариус Иосиф БОАМФА,Франк Антон ВАН АБЕЛЕН,Джонатан Аламбра ПАЛЕРО,Францискус Антониус КНЕПКЕНС,Бастиан Вильгельмус Мария МУСКОПС. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2020-12-14.

Thin film sample X-ray inspection device comprising a pattern recognition system for controlling the postion of a sample table

Номер патента: GB2419795A. Автор: Asao Nakano,Takao Kinefuchi,Hiroshi Motono,Atsunori Kiku. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2006-05-03.

Pattern recognition apparatus and a pattern recognition method

Номер патента: US4651341A. Автор: Hiroyuki Tsukahara,Masato Nakashima,Tetsuo Koezuka,Takefumi Inagaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1987-03-17.

Composition for forming light-emitting device, method of manufacturing light-emitting device using the composition, and light-emitting device manufactured using the method

Номер патента: US20220195228A1. Автор: Jaekook HA,SeHun KIM,Wonjun PARK,Lokgam Jung. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Double patterning epitaxy fin

Номер патента: US20190214486A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Double patterning epitaxy Fin

Номер патента: US10593784B2. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-03-17.

Device manufacturing apparatus and manufacturing method of magnetic device using structure to pass ion beam

Номер патента: US9799482B2. Автор: Junichi Ito,Yuichi Ohsawa,Akio Ui,Chikayoshi Kamata,Saori Kashiwada,Megumi Yakabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20180101100A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-04-12.

Method for manufacturing pdms device and pdms device manufactured thereby

Номер патента: US20220063211A1. Автор: Sung Il Kim,Taek Dong Chung,Jeong-Yun Sun,Young-Chang Joo,Seok Hee Han,Hae-Ryung LEE,Seung-min LIM. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2022-03-03.

Method for manufacturing PDMS device and PDMS device manufactured thereby

Номер патента: US11850805B2. Автор: Sung Il Kim,Taek Dong Chung,Jeong-Yun Sun,Young-Chang Joo,Seok Hee Han,Hae-Ryung LEE,Seung-min LIM. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2023-12-26.

Method for forming extension by using double etch spacer

Номер патента: US20020102801A1. Автор: Tao-Cheng Lu,Hung-Sui Lin,Han-Chao Lai. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-01.

Method of designing electroluminescent device, electroluminescent device manufactured with the design method, and method of manufacturing electroluminescent device with the design method

Номер патента: US09893324B2. Автор: Koujirou Sekine,Mitsuru Yokoyama,Kou Osawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-13.

Methods for double-patterning-compliant standard cell design

Номер патента: US09747402B2. Автор: Gwan Sin Chang,Yi-Kan Cheng,Li-Chun Tien,Yuan-Te Hou,Lee-Chung Lu,Huang-Yu Chen,Wen-Ju Yang,Fung Song Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Display device substrate, display device substrate manufacturing method, display device, liquid crystal display device, liquid crystal display device manufacturing method and organic electroluminescent display device

Номер патента: US09461265B2. Автор: Hiroyuki Moriwaki. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Composites for resist removal and methods of electric devices manufacturing

Номер патента: RU2551841C2. Автор: Андреас КЛИПП. Владелец: БАСФ СЕ. Дата публикации: 2015-05-27.

Resist structure for forming bumps

Номер патента: US20210242164A1. Автор: Eiji Nakamura,Takashi Hisada,Toyohiro Aoki,Risa Miyazawa. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Method and structure for high q varactor

Номер патента: US20120139020A1. Автор: Zhen Chen,Yung Feng Lin. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2012-06-07.

Semiconductor light emitting device manufacture method

Номер патента: US20110027922A1. Автор: Hiroyuki Kato,Michihiro Sano,Naochika Horio. Владелец: Stanley Electric Co Ltd. Дата публикации: 2011-02-03.

Semiconductor light emitting device manufacture method

Номер патента: US8043879B2. Автор: Hiroyuki Kato,Michihiro Sano,Naochika Horio. Владелец: Stanley Electric Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-25.

Display device manufacturing apparatus and display device manufacturing method

Номер патента: US20240053806A1. Автор: Suk Won Jung,Junyoung Lee,Junwoo YOU,Youngdo Kim,Junehyoung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Semiconductor device manufacturing system, semiconductor device inspection device, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US12051629B2. Автор: Younghwan Kim,Youngsu Ryu,Seunghwa Hyun,Hwayoung Park,Yusang Cheon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-30.

Double patterned stacking technique

Номер патента: US20150287709A1. Автор: Son Le,Ohsang Kwon,HariKrishna Chintarlapalli Reddy,Vijayalakshmi Ranganna. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2015-10-08.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20150333070A1. Автор: Takeshi Nagai,Kanta Saino. Владелец: PS4 Luxco SARL. Дата публикации: 2015-11-19.

Organic light emitting device manufacturing method using shadow mask and organic light emitting device manufactured thereby

Номер патента: US09640776B2. Автор: Jong Ho Lee,Bum Ho Choi. Владелец: Korea Institute of Industrial Technology KITECH. Дата публикации: 2017-05-02.

Methods for Double-Patterning-Compliant Standard Cell Design

Номер патента: US20150095870A1. Автор: Gwan Sin Chang,Yi-Kan Cheng,Li-Chun Tien,Yuan-Te Hou,Lee-Chung Lu,Huang-Yu Chen,Wen-Ju Yang,Fung Song Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-04-02.

Method for forming and patterning color centers

Номер патента: WO2020096839A1. Автор: Nicholas Alexander Melosh,Matthew A. GEBBIE,Patrick MCQUADE,Andrew E. GONZALEZ. Владелец: THE BOARD OF TRUSTEES OF THE LELAND STANFORD JUNIOR UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-05-14.

Method for Forming and Patterning Color Centers

Номер патента: US20220002555A1. Автор: Nicholas Alexander Melosh,Matthew A. GEBBIE,Patrick MCQUADE,Andrew E. GONZALEZ. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2022-01-06.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2737722C1. Автор: Николай Александрович Брюхно,Василий Васильевич Афанаскин,Маргарита Юрьевна Котова,Александр Евгеньевич Яценко. Владелец: Акционерное общество "ГРУППА КРЕМНИЙ ЭЛ". Дата публикации: 2020-12-02.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2745586C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2021-03-29.

Method of determining an overlay error, manufacturing method and system for manufacturing of a multilayer semiconductor device, and semiconductor device manufactured thereby

Номер патента: EP3378092A1. Автор: Stefan Michael Bruno BÄUMER,Erwin John Van Zwet,Hamed Sadeghian Marnani,Stefan Kuiper. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-09-26.

Test structure for charged particle beam inspection and method for fabricating the same

Номер патента: US20100102316A1. Автор: HONG Xiao. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2010-04-29.

Display device manufacturing method

Номер патента: US20190378760A1. Автор: Sang Youl Lee,Ji Hyung Moon,Sun Woo Park,Chung Song Kim,Hyeon Min Cho. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-12.

Electronic device and electronic device manufacturing method

Номер патента: US20230269913A1. Автор: Kumiko YOSHINAGA. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20150380595A1. Автор: Hiroaki Sano,Takashi Usui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-31.

Apparatuses and methods for extracting defect depth information and methods of improving semiconductor device manufacturing processes using defect depth information

Номер патента: US20140307052A1. Автор: Byoung-Ho Lee,Jeong-Ho Ahn,Dong-ryul Lee,Jong-Cheon Sun,Dong-Chul Ihm,Soo-bok Chin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-10-16.

Oled device manufacture method and oled device

Номер патента: US20180342678A1. Автор: CHAO Xu. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-29.

Device manufacturing methods

Номер патента: US12078935B2. Автор: Cedric Desire Grouwstra,Hakki Ergün Cekli,Rizvi RAHMAN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-03.

Method of forming hole injection layer, hole injection layer ink composition, and light-emitting device manufactured by using hole injection layer ink composition

Номер патента: US20220162467A1. Автор: Jaekook HA,SeHun KIM,Hyojin KO,Junbo SIM,Heunggyu KIM,Juyon LEE,Wonjun PARK,Seungmook LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Plating defects estimating method and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20240282643A1. Автор: Toshihito Tabata,Reo Kobayashi,Kanya HAMADA. Владелец: Hitachi Power Seemiconductor Device Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Flexible display panel, display device, and display device manufacturing method

Номер патента: US20210249628A1. Автор: Chunmei He,Haochun LEE. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-12.

Solid state imaging device, solid state imaging device manufacturing method, and electronic apparatus

Номер патента: US12119366B2. Автор: Naoki Komai. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Lithography method using multi-scale simulation, semiconductor device manufacturing method and exposure equipment

Номер патента: US12072637B2. Автор: Byunggook Kim,Sungwoo Park,Byunghoon Lee,Changyoung Jeong,Maenghyo Cho,Muyoung Kim,Junghwan Moon,Hyungwoo Lee,Joonmyung Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-27.

Embedded cooling systems for device packages and methods of cooling packaged devices

Номер патента: US20240332128A1. Автор: Belgacem Haba,Cyprian Emeka Uzoh,Rajesh Katkar. Владелец: Adeia Semiconductor Bonding Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Solid-state imaging device, manufacturing method of solid-state imaging device, and electronic device

Номер патента: US09923010B2. Автор: Itaru Oshiyama,Shinichiro Izawa,Takayuki Enomoto,Kazunobu Ota,Harumi Ikeda,Takeshi Yanagita,Atsuhiko Yamamoto. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Imaging device manufacturing method

Номер патента: US09859329B2. Автор: Satoshi Ogawa,Nobutaka Ukigaya,Katsunori Hirota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Method for measuring critical dimension and image-processing apparatus for measuring critical dimension

Номер патента: US20190347781A1. Автор: Ching-Ya Huang,Tso-Hua HUNG. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Pattern critical dimension measurement equipment and method for measuring pattern critical dimension

Номер патента: US09520266B2. Автор: Makoto Sakakibara,Hajime Kawano,Hideyuki Kazumi,Yasunari Sohda,Daisuke Bizen,Kaori Shirahata. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Methods and apparatus for measurement of relative critical dimensions

Номер патента: WO2014085343A1. Автор: HONG Xiao. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

Pattern-searching condition determining method, and pattern-searching condition setting device

Номер патента: US20110194778A1. Автор: Fumihiro Sasajima,Kei Sakai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-11.

Vehicle mounting structure for device for noncontact power reception

Номер патента: RU2717610C1. Автор: Акихиро АСАИ. Владелец: Ниссан Мотор Ко., Лтд.. Дата публикации: 2020-03-24.

Charged beam drawing data creation method, charged beam drawing method, charged beam drawing apparatus and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US7368735B2. Автор: Ikuo Yoneda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-05-06.

Charged beam drawing data creation method, charged beam drawing method, charged beam drawing apparatus and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20060118734A1. Автор: Ikuo Yoneda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-08.

Polarized electrode for electric double-layer condenser, and electric double-layer condenser manufactured using the same, and process for manufacturing electrode sheet for electric double-layer condenser, and laminating apparatus

Номер патента: US20040165337A1. Автор: Kenichi Murakami,Manabu Iwaida,Shigeki Oyama,Kouki Ozaki,Masanori Tsutsui. Владелец: Daido Metal Co Ltd. Дата публикации: 2004-08-26.

Electron emitting device manufacture method and image display apparatus manufacture method

Номер патента: US20070059439A1. Автор: Yasuko Tomida,Taku Shimoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2007-03-15.

Electron emitting device manufacture method and image display apparatus manufacture method

Номер патента: US20040022933A1. Автор: Yasuko Tomida,Taku Shimoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2004-02-05.

Multimode oscillators for pattern recognition

Номер патента: US3822381A. Автор: A Scott. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 1974-07-02.

Sputtering target and method of manufacturing the same, and memory device manufacturing method

Номер патента: US20220162742A1. Автор: Kazuhiro Ohba,Katsuhisa Aratani,Shuichiro Yasuda,Hiroaki Sei. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-05-26.

Electrode assembly and related battery, device, manufacturing method, and manufacturing device

Номер патента: EP3968432A1. Автор: HU XU,Chengdu Liang,Haizu Jin,Yuqun Zeng. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-16.

Method of manufacturing flexible thin-film typer super-capacitor device using a hot-melt adhesive film, and super-capacitor device manufactured by the method

Номер патента: US09520243B2. Автор: Yong-Il Kim,Jung-Joon Yoo,Hana Yoon,Jong-Huy Kim,Jae-Kook YOON. Владелец: Korea Institute of Energy Research KIER. Дата публикации: 2016-12-13.

Radiation pattern recognition system and method for a mobile communications device

Номер патента: CA2818888A1. Автор: Shirook Ali,Huanhuan Gu,Houssam Kanj. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2012-05-31.

Electronic device manufacturing method and lithography control processor

Номер патента: US20240219846A1. Автор: Koichi Fujii. Владелец: GIGAPHOTON INC. Дата публикации: 2024-07-04.

Array device manufacturing method, manufacturing apparatus, and storage medium

Номер патента: US20220115833A1. Автор: Ryosuke Kubota. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Device manufacturing apparatus and manufacturing method of magnetic device

Номер патента: US20160196951A1. Автор: Junichi Ito,Yuichi Ohsawa,Akio Ui,Chikayoshi Kamata,Saori Kashiwada,Megumi Yakabe. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-07-07.

Array device manufacturing method, manufacturing apparatus, and storage medium

Номер патента: US12107382B2. Автор: Ryosuke Kubota. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Antenna for device of control and diagnostics in power supply line

Номер патента: RU2545058C1. Автор: Кванхэ НАМ,Уллок БЭ. Владелец: Кхватек Ко., Лтд.. Дата публикации: 2015-03-27.

Structure for antennae

Номер патента: NL2033771B1. Автор: Fennis Robert. Владелец: Thales Nederland BV. Дата публикации: 2024-06-27.

Structure for antennae

Номер патента: WO2024133791A1. Автор: Robert FENNIS. Владелец: Thales Nederland B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Semiconductor Device Manufacturing Apparatus Capable Of Reducing Particle Contamination

Номер патента: US20120003837A1. Автор: Kenji Maeda,Hiroyuki Kobayashi,Kenetsu Yokogawa,Masaru Izawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-01-05.

A method and system for generating electricity by degradation of pretreated latex wastewater using double chamber microbial fuel cell

Номер патента: AU2021103475A4. Автор: Gopalakrishnan Kumar,Rajeshbanu Jeyakumar,Devi Selvaraj,Adishkumar Somanathan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-03-24.

Method for manufacturing capacitive deionization electrode and capacitive deionization electrode manufactured using the same

Номер патента: US20190066936A1. Автор: Dong Ju Lee,Han Joo Kim,Jang Yong You,Hyun Sung Choi,Seok Ho Choi. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Current collector, electrode plate, cell, battery, device manufacturing method and apparatus

Номер патента: US20240204204A1. Автор: Chen Qi,YANG LU,Chao Jin,Xianwei Yang,Lianhua Li,Yonghuang YE,Miaomiao REN,Shaowei QI,Zirui WU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Electron-emitting device manufacturing apparatus, solution including metal micro-particles, electron-emitting device, and image displaying apparatus

Номер патента: US20060172651A1. Автор: Takuro Sekiya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-08-03.

Semiconductor laser device manufacturing method and semiconductor laser device

Номер патента: US20060121633A1. Автор: Tadashi Takeoka,Takuroh Ishikura. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2006-06-08.

Current collector, electrode plate, battery cell, battery, device, manufacturing method, and apparatus

Номер патента: EP4391119A1. Автор: Chen Qi,YANG LU,Chao Jin,Xianwei Yang,Lianhua Li,Yonghuang YE,Miaomiao REN,Shaowei QI,Zirui WU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Method for a tension proof closure of the end of an energy cable, and device manufactured by the method

Номер патента: US20150255899A1. Автор: Volker Aue,Eduard Schramm. Владелец: Nexans SA. Дата публикации: 2015-09-10.

Electronic device manufacturing system and method

Номер патента: US20240235141A1. Автор: Hsien-Te Chen. Владелец: Ultra Display Technology Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Electronic device manufacturing method, laser device, and wavelength sequence calculation system

Номер патента: US20240322521A1. Автор: Koichi Fujii,Osamu Wakabayashi,Takanobu Ishihara. Владелец: GIGAPHOTON INC. Дата публикации: 2024-09-26.

Method and system for measuring critical dimension and monitoring fabrication uniformity

Номер патента: US20120212601A1. Автор: Wei Fang,HONG Xiao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-08-23.

Method and system for measuring critical dimension and monitoring fabrication uniformity

Номер патента: US20130182939A1. Автор: Wei Fang,HONG Xiao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2013-07-18.

Method and system for measuring critical dimension and monitoring fabrication uniformity

Номер патента: US20130188037A1. Автор: Wei Fang,HONG Xiao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2013-07-25.

Low-power always-on image sensor and pattern recognizer

Номер патента: US20230412917A1. Автор: Alexander Hunt,Andreas KRISTENSSON,Magnus Olsson,Fredrik Dahlgren. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2023-12-21.

Low-power always-on image sensor and pattern recognizer

Номер патента: EP4248643A1. Автор: Alexander Hunt,Andreas KRISTENSSON,Magnus Olsson,Fredrik Dahlgren. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2023-09-27.

Apparatus using double focusing type fly-back transformer

Номер патента: MY120758A. Автор: Choi Sung Yoon. Владелец: Samsung Electro Mech. Дата публикации: 2005-11-30.

Combined spectroscopic reflectometry and pattern recognition based measurements of semiconductor structures

Номер патента: WO2024220227A1. Автор: David Y. Wang,Shankar Krishnan. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-10-24.

Combined Spectroscopic Reflectometry And Pattern Recognition Based Measurements Of Semiconductor Structures

Номер патента: US20240353321A1. Автор: David Y. Wang,Shankar Krishnan. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

System for electroencephalogram patterning recognition for authentication

Номер патента: US20190132733A1. Автор: Joseph Benjamin Castinado,Charles Russell Kendall. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2019-05-02.

Image insertion in video streams using a combination of physical sensors and pattern recognition

Номер патента: US6100925A. Автор: Roy J. Rosser,Yi Tan,Howard J. Kennedy, Jr.,James L. Jeffers,Darrell S. DiCicco,Ximin Gong. Владелец: Princeton Video Image Inc. Дата публикации: 2000-08-08.

Fast search method for vector quantizer communication and pattern recognition systems

Номер патента: US4907276A. Автор: Shabtai Aldersberg. Владелец: DSP Group Israel Ltd. Дата публикации: 1990-03-06.

Light-emitting organic nanoparticles, composition for color conversion film including the same, and color conversion film, display device, and light-emitting diode device manufactured using the same

Номер патента: US20240247186A1. Автор: Sung Ho Kim,Jang Hyuk Kwon,Young Hun Jung,Mi Young Chae,Gyeong Min Ki,Kang II Seo. Владелец: Nd Materials Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Pattern recognition system and method for digital printed circuit board assembly

Номер патента: WO2024115603A1. Автор: Filimon Zacharatos,Ioanna Zergioti,Christos Giordamlis,Marina Makrygianni,Ioannis Theodorakos. Владелец: Prisma Electronics S.A.. Дата публикации: 2024-06-06.

Multi-level hierarchical routing matrices for pattern-recognition processors

Номер патента: US11768798B2. Автор: Harold B Noyes,David R. Brown. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Pattern transfer sheet, method of monitoring pattern transfer printing, and pattern transfer printing system

Номер патента: US12103276B2. Автор: Eyal Cohen,Amir Noy,Benny Naveh,Valery SORIN,Dor DROR. Владелец: Wuhan Dr Laser Technology Corp ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Method and apparatus for automating threat model generation and pattern identification

Номер патента: US09742794B2. Автор: Luis Felipe Cabrera,M. Shannon Lietz,Javier Godinez. Владелец: Intuit Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

On-the-fly pattern recognition with configurable bounds

Номер патента: US20170249377A1. Автор: John Gmuender,Roman Yanovsky,Boris Yanovsky,Shunhui Zhu,Thomas E. Raffill. Владелец: SonicWall US Holdings Inc. Дата публикации: 2017-08-31.

Detection, characterization, and prediction of recurring events with missing occurrences using pattern recognition

Номер патента: EP4102802A1. Автор: Fabrice Pelloin. Владелец: EXFO Solutions SAS. Дата публикации: 2022-12-14.

Identity-based distributed computing for device resources

Номер патента: US09886309B2. Автор: David Alles,George M. Moore. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2018-02-06.

On-the fly pattern recognition with configurable bounds

Номер патента: US09654446B2. Автор: John Gmuender,Roman Yanovsky,Boris Yanovsky,Shunhui Zhu,Thomas E. Raffill. Владелец: SonicWall LLC. Дата публикации: 2017-05-16.

Method and apparatus for providing hierarchical pattern recognition of communication network data

Номер патента: US09491186B2. Автор: Paul T. Schultz,Martin W. MCKEE. Владелец: VERIZON PATENT AND LICENSING INC. Дата публикации: 2016-11-08.

Hopping structures for broadband pilot signals

Номер патента: CA2675694C. Автор: Durga Prasad Malladi. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2015-04-28.

Thin film deposition apparatus, method of manufacturing organic light-emitting display device by using the apparatus, and organic light-emitting display device manufactured by using the method

Номер патента: US20110186820A1. Автор: Un-Cheol Sung,Jung-Yeon Kim. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-04.

Display device manufacturing method and display device

Номер патента: US20230284509A1. Автор: Hiroshi Ogawa,Isao Suzumura,Fumiya Kimura. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Light-emitting device manufacturing method and light-emitting device

Номер патента: US20240172468A1. Автор: Takahiro Adachi,Yasushi Asaoka. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Pattern transfer sheet, method of monitoring pattern transfer printing, and pattern transfer printing system

Номер патента: US20230019668A1. Автор: Eyal Cohen,Amir Noy,Benny Naveh,Valery SORIN,Dor DROR. Владелец: Wuhan DR Llaser Technology Corp Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Support-retaining structure for interface card

Номер патента: US20140293567A1. Автор: Yu-Ching Kuo. Владелец: Lite On Technology Corp. Дата публикации: 2014-10-02.

Log complex color for visual pattern recognition of total sound

Номер патента: US20180152799A1. Автор: Wayne Garver,Philip Fraundorf,Stephen Wedekind. Владелец: University of Missouri System. Дата публикации: 2018-05-31.

Processing an event stream using pattern recognition

Номер патента: WO2020159686A1. Автор: Jarlath TRAINOR. Владелец: ORACLE INTERNATIONAL CORPORATION. Дата публикации: 2020-08-06.

Apparatus and method for measuring visual range using geometrical information of an image and an image pattern recognition technique

Номер патента: US09909859B2. Автор: Kyung Won Kim. Владелец: Gyeongju University Education and Industry Cooperation. Дата публикации: 2018-03-06.

Circuit breaker and earth fault circuit breaker using double adc

Номер патента: RU2701872C2. Автор: Исса Виньон ДРАМЕ,Бреннан Т. ЛЕНЦ,Джозеф Р. БАЙЕРШМИТТ,Рэндалл Джеймс ГЭСС. Владелец: ШНЕЙДЕР ЭЛЕКТРИК ЮЭсЭй, ИНК.. Дата публикации: 2019-10-02.

Location determination using sequential pattern recognition

Номер патента: SG146461A1. Автор: Goh Pong Chai. Владелец: Agis Pte Ltd. Дата публикации: 2008-10-30.

Service performance manager with obligation-bound service level agreements and patterns for mitigation and autoprotection

Номер патента: RU2526711C2. Автор: Тхиерри СЧАНГ,Арун Л. КАТКЕРЕ,Аскуит А. БАИЛЕИ. Владелец: Тибко Софтвеар Инк.. Дата публикации: 2014-08-27.

Multi-level hierarchical routing matrices for pattern-recognition processors

Номер патента: US20240012787A1. Автор: David R. Brown,Harold B. Noyes. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Method of extracting windows executable file using hardware based on session matching and pattern matching and appratus using the same

Номер патента: US20100146621A1. Автор: Hyun Sook Cho,Jong Soo Jang,Byoung Koo Kim,Jin Tae Oh,Ik Kyun Kim,Seung Yong Yoon. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2010-06-10.

Pattern recognition system and method for digital printed circuit board assembly

Номер патента: EP4380322A1. Автор: Ioanna Zergioti,Christos Giordamlis,Marina Makrygianni,Filimon Zaharatos,Ioannis Theodorakos. Владелец: Prisma Ilektronika AVEE With DT "prisma Electronics SA". Дата публикации: 2024-06-05.

Method for manufacturing graphene thermoelectric device and graphene thermoelectric device manufactured thereby

Номер патента: US20240099136A1. Автор: Byoung Hun Lee,Hyeon Jun HWANG. Владелец: POSTECH Research and Business Development Foundation. Дата публикации: 2024-03-21.

Imaging device manufacturing apparatus, method for manufacturing imaging device, and imaging device

Номер патента: US12028625B2. Автор: Hideki Oyaizu,Ilya Reshetouski. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Smart transfer switch devices, systems, and methods using double-base bipolar transistors

Номер патента: US09899868B2. Автор: William C. Alexander,John W. Merritt,Paul A. Bundschuh. Владелец: Ideal Power Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Methods and patterns of electric energy distribution in spd-loads

Номер патента: RU2384928C2. Автор: Алберт П. МАЛВИНО. Владелец: Ресерч Франтиерс Инк.. Дата публикации: 2010-03-20.

Communication pattern recognition

Номер патента: US20180211019A1. Автор: Andrew Johnson,Ben SASSON,Fenglian Xu,Peter J. Johnson,Timothy J. Baldwin. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-07-26.

Method and system for device monitoring and diagnostics

Номер патента: US20230419806A1. Автор: Elijah L. ROSENBERG,Frank DIMARTINO. Владелец: Serverli Inc. Дата публикации: 2023-12-28.

On-the fly pattern recognition with configurable bounds

Номер патента: US9075804B2. Автор: John Gmuender,Roman Yanovsky,Boris Yanovsky,Shunhui Zhu,Thomas E. Raffill. Владелец: Dell Software Inc. Дата публикации: 2015-07-07.

On-the-fly pattern recognition with configurable bounds

Номер патента: US20150074099A1. Автор: John Gmuender,Roman Yanovsky,Boris Yanovsky,Shunhui Zhu,Thomas E. Raffill. Владелец: SonicWall LLC. Дата публикации: 2015-03-12.

On-the-fly pattern recognition with configurable bounds

Номер патента: US7996415B1. Автор: John Gmuender,Roman Yanovsky,Boris Yanovsky,Shunhui Zhu,Thomas E. Raffill. Владелец: SonicWall LLC. Дата публикации: 2011-08-09.

Method and system for high performance real time pattern recognition

Номер патента: WO2017039781A3. Автор: Jamieson T. OLSEN,Tiehui Ted LIU,James R. HOFF. Владелец: Fermi Research Alliance, LLC. Дата публикации: 2017-05-11.

Enhanced authentication framework using EPROM grid pattern recognition

Номер патента: US11985134B2. Автор: Sandeep Kumar Chauhan,Shailendra Singh,Ramarao Gaddam,Santosh Kumar Miryala. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

On-the-fly pattern recognition with configurable bounds

Номер патента: US20130275423A1. Автор: John Gmuender,Roman Yanovsky,Boris Yanovsky,Shunhui Zhu,Thomas E. Raffill. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-10-17.

On-the-fly pattern recognition with configurable bounds

Номер патента: US8370374B1. Автор: John Gmuender,Roman Yanovsky,Boris Yanovsky,Shunhui Zhu,Thomas E. Raffill. Владелец: SonicWall LLC. Дата публикации: 2013-02-05.

Method, product, and system for automatically isolating malicious security alerts from benign alerts using an ensemble model of pattern recognition techniques

Номер патента: US20240195827A1. Автор: Hsin Chen,Himanshu MHATRE,Daniel Carlton Hannah,Irina Javed. Владелец: Vectra Ai Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Method and system for high performance real time pattern recognition

Номер патента: US20190012293A1. Автор: Jamieson T. OLSEN,Tiehui Ted LIU,James R. HOFF. Владелец: Fermi Research Alliance LLC. Дата публикации: 2019-01-10.

Method, product, and system for automatically isolating malicious security alerts from benign alerts using an ensemble model of pattern recognition techniques

Номер патента: WO2024124248A1. Автор: Hsin Chen,Himanshu MHATRE,Daniel Carlton Hannah,Irina Javed. Владелец: Vectra AI, Inc.. Дата публикации: 2024-06-13.

Display device manufacturing apparatus and display device manufacturing method using the same

Номер патента: US20210291507A1. Автор: Sang Won Lee,Young Su Kim,Jae Suk Yoo,Kyu Ho JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Zero-overhead method for sequence reversible and pattern independent orthogonal multiplexing

Номер патента: US20030086365A1. Автор: David Horne. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2003-05-08.

Method and device for device-device communication synchronization

Номер патента: RU2638030C1. Автор: Стефано СОРРЕНТИНО. Владелец: Телефонактиеболагет Лм Эрикссон (Пабл). Дата публикации: 2017-12-11.

Intercell roaming and web service authorisation for devices

Номер патента: RU2417418C2. Автор: Уилльям Р. УИЛЛЬЯМС,Шеннон Дж. ЧАНЬ. Владелец: МАЙКРОСОФТ КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2011-04-27.

Method, equipment, and system for device management

Номер патента: RU2630170C2. Автор: Юн Чэнь,Пэнфэй ЧЗАН,Идун ВАН,Бо ЮЙ,Юй Го,Вэйян ЧЭНЬ. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2017-09-05.

Configuration of parametres of network settings for devices of thin clients, using portable storage media

Номер патента: RU2357282C2. Автор: Бенджамин НИК,Дален АБРАХАМ,Скотт МАНЧЕСТЕР,Тревор В. ФРИМЭН. Владелец: МАЙКРОСОФТ КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2009-05-27.

Protocol for device to station association

Номер патента: RU2512118C2. Автор: Нараянан ГАНАПАТХИ. Владелец: МАЙКРОСОФТ КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2014-04-10.

Method and apparatus for device-specific communication between application programs

Номер патента: RU2676418C2. Автор: Йоунг-Сун РИУ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2018-12-28.

Methods, devices, and computer program products for device-to-device communication among wireless communication devices

Номер патента: RU2648586C2. Автор: Гуннар РЮДНЕЛЛЬ,Роланд ГУСТАФССОН,Стефан ТОТ. Владелец: Телефонактиеболагет Лм Эрикссон (Пабл). Дата публикации: 2018-03-26.

Method of producing gold-alloy layers and patterns on substrates, products thus produced and the solutions to be used therefore

Номер патента: CA1206818A. Автор: Arian Molenaar. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1986-07-02.

System and method for device label scan based zero touch device onboarding and device directory service

Номер патента: US11882117B1. Автор: Srinivas Kumar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-23.

A first communications device, a second communications device and methods therein for device-to-device communication

Номер патента: EP3446535A1. Автор: Yilmaz Osman Nuri Can,AMIN Parth,Filip MESTANOV. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2019-02-27.

Resource configuration and selection for device-to-device links

Номер патента: US12028834B2. Автор: Lin Chen,Wei Luo,Boyuan ZHANG,Mengzhen WANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Systems and methods for device selection and modified output upon receiving notifications

Номер патента: US20210377202A1. Автор: Benjamin Holms Maughan,Colleen Sullivan. Владелец: Rovi Guides Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

Methods and wireless devices for device to device communication

Номер патента: EP3881636A1. Автор: Gabor Fodor,Stefano Sorrentino,Wanlu Sun,Ricardo BLASCO SERRANO,Hieu Do. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2021-09-22.

Secure pairing for devices with near field communication tags equipped with authentication

Номер патента: EP3824656A1. Автор: Daniel Grobe Sachs. Владелец: Motorola Solutions Inc. Дата публикации: 2021-05-26.

Secure pairing for devices with near field communication tags equipped with authentication

Номер патента: AU2019329412A1. Автор: Daniel Grobe Sachs. Владелец: Motorola Solutions Inc. Дата публикации: 2021-03-11.

Secure pairing for devices with near field communication tags equipped with authentication

Номер патента: AU2019329412B2. Автор: Daniel Grobe Sachs. Владелец: Motorola Solutions Inc. Дата публикации: 2022-03-17.

Secure pairing for devices with near field communication tags equipped with authentication

Номер патента: WO2020046573A1. Автор: Daniel Grobe Sachs. Владелец: MOTOROLA SOLUTIONS, INC.. Дата публикации: 2020-03-05.

Revocation list update for devices

Номер патента: US20130185551A1. Автор: Alexander Medvinsky,Eric J. Sprunk,Tat Keung Chan. Владелец: General Instrument Corp. Дата публикации: 2013-07-18.

Revocation list update for devices

Номер патента: WO2013106530A1. Автор: Alexander Medvinsky,Eric J. Sprunk,Tat Keung Chan. Владелец: GENERAL INSTRUMENT CORPORATION. Дата публикации: 2013-07-18.

System for device-to-device media capturing

Номер патента: US12035216B2. Автор: Owen Benjamin PARRY. Владелец: SPOTIFY AB. Дата публикации: 2024-07-09.

Scaled-out transport as connection proxy for device-to-device communications

Номер патента: US20230224247A1. Автор: Wael Noureddine,Aibing Zhou,Felix A. Marti,Dmitriy Leonidovich Budko,Gaurav Gupte,Hoai Vu Thanh Tran,Aravind Vidhyasagar Lappasi,Leith Alan Leedom,Rajesh G. Nair. Владелец: Fungible Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Method and apparatus for device-to-device key management

Номер патента: EP2550789A1. Автор: Timo Koskela,Sami-Jukka Hakola,Henri Markus Koskinen. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2013-01-30.

Methods and apparatus for device applet management on smart cards

Номер патента: US20130337869A1. Автор: Nakul Duggal,Carl Qu,Bryan Chuck Gurganus. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-12-19.

Mobility Management for Device-to-Device Communications

Номер патента: US20160157283A1. Автор: Yang Liu,Ling Yu,Zexian Li,Haitao Li,Vinh Van Phan. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2016-06-02.

Systems and methods for device selection and modified output upon receiving notifications

Номер патента: EP3689011A1. Автор: Benjamin Holms Maughan,Colleen Sullivan. Владелец: Rovi Guides Inc. Дата публикации: 2020-08-05.

Systems and methods for device selection and modified output upon receiving notifications

Номер патента: US20230198930A1. Автор: Benjamin Holms Maughan,Colleen Sullivan. Владелец: Rovi Guides Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Verifying subscriber information for device-based authentication

Номер патента: US12052258B2. Автор: Stacy Lyn Stubblefield. Владелец: Telesign Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

System and method for simulating human manual input for devices using capacitive touchscreens

Номер патента: US11573669B2. Автор: Dan Kikinis. Владелец: Future Dial Inc. Дата публикации: 2023-02-07.

Methods and Apparatus For Device Applet Management on Smart Cards

Номер патента: US20110246547A1. Автор: Nakul Duggal,Carl Qu,Bryan Chuck Gurganus. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2011-10-06.

Systems and methods for device selection and modified output upon receiving notifications

Номер патента: US11558336B2. Автор: Benjamin Holms Maughan,Colleen Sullivan. Владелец: Rovi Guides Inc. Дата публикации: 2023-01-17.

Method, device and system for device trigger in iot

Номер патента: US20150312351A1. Автор: ZHI Wang,Yigang Cai. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2015-10-29.

Reuse of transmission resources for device to device communication

Номер патента: US12034471B2. Автор: Martin Hans,Andreas Schmidt,Maik Bienas. Владелец: Ipcom GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-09.

Systems, methods and devices for device fingerprinting and automatic deployment of software in a computing network using a peer-to-peer approach

Номер патента: US20240069881A1. Автор: Nir Montag,Ido Kotler,Matan Mates,Mike Vincent Petronaci,Gustavo Ringel,Caleb Joshua Fenton. Владелец: Sentinel Labs Israel Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Method and apparatus for providing backend support for device control in risk conditions

Номер патента: WO2013121084A1. Автор: Mikko Aleksi Uusitalo,Sergey BOLDYREV,Ian Justin Oliver,Jari-Jukka Harald Kaaja. Владелец: Nokia Corporation. Дата публикации: 2013-08-22.

Systems and methods to provide pre-deployment assessment for device integrity

Номер патента: US20240305632A1. Автор: Rama Rao Bisa,Dharma Bhushan Ramaiah,Shinose Abdul RAHIMAN,Vineeth Radhakrishnan,Mini Thottunkal Thankappan. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-09-12.

An access system and method for device control

Номер патента: WO2009044175A3. Автор: Kevin Taylor,Kevin Griffiths,Gary Aston. Владелец: Softgate Ltd. Дата публикации: 2009-05-28.

Millimeter wave access system for device to device communication

Номер патента: US12089234B2. Автор: Volkan Sevindik. Владелец: Charter Communications Operating LLC. Дата публикации: 2024-09-10.

Methods and systems for device-to-device positioning

Номер патента: EP4445673A1. Автор: Jie Chen,JUAN Liu,Chuangxin JIANG,Haigang HE,Junpeng LOU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Method, apparatus and system for device identification

Номер патента: US20180152293A1. Автор: Tao Wei,YU Ding,Yulong Zhang. Владелец: Baidu Online Network Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

Methods and systems for device-to-device positioning

Номер патента: US20240340925A1. Автор: Jie Chen,JUAN Liu,Chuangxin JIANG,Haigang HE,Junpeng LOU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Method and system for scheduling interference aware optimal uplink for device to-device communication underlying LTE networks

Номер патента: US09974094B2. Автор: Bighnaraj PANIGRAHI,Anantha Simha,Hemant Kumar Rath. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Method, apparatus and system for device discovery

Номер патента: US09961151B2. Автор: Wanqiang Zhang,Xiaobo Wu,Weihua Zhou,Yali Guo. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Systems and methods for device provisioning

Номер патента: US09955293B2. Автор: Mats AGERSTAM,Xintian E. Lin,Robert A. COLBY,David J. McCall. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Diagnostic service for devices that employ a device agent

Номер патента: US09935867B2. Автор: Shailesh Jain,Prashanth Devendrappa. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2018-04-03.

Synchronization signal design for device to device operation

Номер патента: US09930631B2. Автор: Zexian Li,Weidong Yang,Lars Lindh. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2018-03-27.

Timing synchronization for device-to-device discovery for asynchronous LTE deployments

Номер патента: US09854506B2. Автор: Kapil Gulati,Shailesh Patil,Libin Jiang. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

Method and device for device-to-device communication and device for controlling device-to-device communication

Номер патента: US09801199B2. Автор: Bo Dai,Yifei Yuan,Shuanshuan Wu,Youxiong Lu,Shuanghong Huang. Владелец: Xian Zhongxing New Software Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Mobility management for device-to-device communications

Номер патента: US09794974B2. Автор: Yang Liu,Ling Yu,Zexian Li,Vinh Van Phan,Hai Tao LI. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2017-10-17.

Management of radio resource control for device-to-device communication

Номер патента: US09775185B2. Автор: Yang Liu,Ling Yu,Zexian Li,Haitao Li,Vinh Van Phan. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2017-09-26.

Systems and methods for device communication handshaking

Номер патента: US09742997B1. Автор: Nicolas Dahlquist,Russell Douglas Patton,Alex BAMBERGER,Matthew Hanover,Peter BROOK,II Jonathan M Rodriguez. Владелец: Snap Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Managing network interaction for devices

Номер патента: US09742773B2. Автор: Dennis V. Pollutro,Guy Levy-Yurista,Daniel A. Madey. Владелец: Sysorex USA. Дата публикации: 2017-08-22.

System and method for device authentication

Номер патента: US09729522B2. Автор: Charles McCoy,True Xiong,Clay Fisher. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Method, apparatus and system for device discovery

Номер патента: US09692836B2. Автор: Wanqiang Zhang,Xiaobo Wu,Weihua Zhou,Yali Guo. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Method and apparatus for device-to-device communication in wireless communication system

Номер патента: US09635632B2. Автор: Hangyu Cho,Jinyoung Chun,Suhwook Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-04-25.

Apparatus and method ofscheduling resources for device-to-device communications

Номер патента: EP2384598A1. Автор: Tao Chen,Sami Hakola,Gilles Charbit,Timo Koskela. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2011-11-09.

Method for device to device communication and control node using the same

Номер патента: US09554406B2. Автор: Tzu-Ming Lin,Ting-Yu Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-01-24.

Method and apparatus for generating forwarding entries for devices in optical network

Номер патента: US09525625B2. Автор: Ruobin Zheng. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Mechanism for facilitating dynamic detection and communication of geo-locations for devices

Номер патента: US09473891B2. Автор: Mats AGERSTAM,Raguraman Barathalwar,Roy Ramon,Robert A. COLBY,Jaideep Moses. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Method for device to device communication and base station and user equipment using the same

Номер патента: US09450667B2. Автор: Tzu-Ming Lin,Ting-Yu Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-09-20.

Apparatus and method for dynamic communication resource allocation for device to-device communications in a wireless communication system

Номер патента: US09420564B2. Автор: Tao Chen,Gilles Charbit,Timo Koskela,Sami-Jukka Hakola. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2016-08-16.

Methods and apparatuses for facilitating use of carrier aggregation for device-to-device communications

Номер патента: US09408212B2. Автор: Mikko Aleksi Uusitalo,Carl Simon Wijting,Mika Petri Olavi Rinne. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2016-08-02.

Method for generation of signal for device control and device for implementation of this method

Номер патента: RU2048709C1. Автор: С.Браутон Роберт,С.Лаумейстер Вилльям. Владелец: Интерэктив системз, Инк.. Дата публикации: 1995-11-20.

Lighting device, led strip, lamp and lighting device manufacturing method

Номер патента: RU2691638C2. Автор: Йорис Хюбертус Антониус ХАГЕЛАР,Абрахам Ваматтахил СКАРИА. Владелец: Филипс Лайтинг Холдинг Б.В.. Дата публикации: 2019-06-17.

Transmission network for device data, particularly, for vehicle data

Номер патента: RU2668722C2. Автор: Райнер Фальк,Ральф БЕЙЕР. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2018-10-02.

Process and structure for embedded DRAM

Номер патента: US5998251A. Автор: Shih-Wei Sun,Tri-Rung Yew,Jacob Chen,H. J. Wu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 1999-12-07.

Manufacturing device, manufacturing system, and correction method

Номер патента: US20200282656A1. Автор: Takahisa Yoshigae. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

Enhanced error protection of payload using double crc

Номер патента: EP4030657A2. Автор: Sameer Kanhaiyalal Shah,Sundararajan Chidambara,Nishant Chadha. Владелец: Avago Technologies International Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2022-07-20.

Enhanced error protection of payload using double crc

Номер патента: EP4030657A3. Автор: Sameer Kanhaiyalal Shah,Sundararajan Chidambara,Nishant Chadha. Владелец: Avago Technologies International Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2022-07-27.

Extreme ultraviolet light generation apparatus and electronic device manufacturing method

Номер патента: NL2032043B1. Автор: Miyashita Koutaro. Владелец: GIGAPHOTON INC. Дата публикации: 2024-05-17.

Display device manufacturing method and display device

Номер патента: US20240081137A1. Автор: Joonhyung Kim,Heekyun Shin,Kiseok Choi,Sukbong LEE,Seungil Jang,Jin Hyun Jun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

A cyber security device manufactured by using artificial intelligence technology

Номер патента: WO2023244190A1. Автор: Yasin POYRAZ. Владелец: Teknodc Bi̇li̇şi̇m Teknoloji̇leri̇ Anoni̇m Şi̇rketi̇. Дата публикации: 2023-12-21.

Method and apparatus for device-to-device communication based on a threshold

Номер патента: US11777668B2. Автор: Jing HAN,Haipeng Lei,Zhennian SUN,Lianhai WU,Xiaodong Yu. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Saw device manufacturing method

Номер патента: US11894823B2. Автор: Kenya Kai. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Methods and apparatus for device authentication and authorisation

Номер патента: US12063508B2. Автор: Miguel Angel MUÑOZ DE LA TORRE ALONSO,Hans Mattsson,Alfonso De Jesus Perez Martinez,Linus ANDERSSON,Marcos CABALLERO DEL DEDO,David Del Peral Chico. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2024-08-13.

Communication method and apparatus for device-to-device (D2D)

Номер патента: US9572048B2. Автор: Kyung Hun Jang,Won Jong Noh,Won Jae SHIN,Jong Bu Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-14.

Method and device for device to device communication

Номер патента: US12075498B2. Автор: ANIL Agiwal,Young-Bin Chang,June Hwang,Hyun-Seok Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-27.

Display device manufacturing method

Номер патента: US20030176137A1. Автор: Toru Sasatani,Tetsuji Omura. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2003-09-18.

Dynamic Runtime Interface for Device Management

Номер патента: US20200228622A1. Автор: Shravan Shantharam,Kalyan Regula,Varun Murthy,Yogesh Govind Hande,Bhuvanesh Shanmuga Sundaram. Владелец: VMware LLC. Дата публикации: 2020-07-16.

Methods and Apparatus for Device Authentication and Authorisation

Номер патента: US20220248228A1. Автор: Miguel Angel MUÑOZ DE LA TORRE ALONSO,Hans Mattsson,Alfonso De Jesus Perez Martinez,Linus ANDERSSON,Marcos CABALLERO DEL DEDO,David Del Peral Chico. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2022-08-04.

Method, apparatus and computer program product for providing composite capability information for devices in distributed networks

Номер патента: EP2335392A1. Автор: Sailesh Kumar Sathish. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2011-06-22.

Methods and systems for timing synchronization for device-to-device positioning

Номер патента: US20240276409A1. Автор: QI Yang,JUAN Liu,Chuangxin JIANG,Mengzhen LI,Junpeng LOU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Methods and systems for device maintenance

Номер патента: US20240082890A1. Автор: Cody Small,Brendan Thomas Hunt. Владелец: McKesson Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Methods and systems for timing synchronization for device-to-device positioning

Номер патента: EP4413685A1. Автор: QI Yang,JUAN Liu,Chuangxin JIANG,Mengzhen LI,Junpeng LOU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Method and apparatus for device-to-device network coordination

Номер патента: EP2586267A1. Автор: Mika Rinne,Jarkko Kneckt,Klaus Doppler. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2013-05-01.

Method for device interaction and identification

Номер патента: US20180033293A1. Автор: Jan ROD,Rafael Ferrin,Tõnu SAMUEL. Владелец: 16Lab Inc. Дата публикации: 2018-02-01.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20240324170A1. Автор: Kazuhiro Matsuo,Kota Takahashi,Masaya Toda,Wakako Moriyama,Kenichiro TORATANI,Ha Hoang. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Method for device interaction and identification

Номер патента: US09978264B2. Автор: Jan ROD,Rafael Ferrin,Tõnu SAMUEL. Владелец: 16Lab Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Systems, methods, and devices for distributed scheduling for device-to-device interference mitigation

Номер патента: US09974048B2. Автор: Rongzhen Yang,Hujun Yin,Huaning Niu. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

User equipment, a network node and methods for device discovery in a device-to-device (D2D) communication in a wireless telecommunications network

Номер патента: US09883463B2. Автор: Stefan Parkvall,Erik Dahlman,Gabor Fodor,Göran N. Klang,Leif Wilhelmsson. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2018-01-30.

Substrate and patterning device for use in metrology, metrology method and device manufacturing method

Номер патента: US09915879B2. Автор: Willem Marie Julia Marcel Coene,Richard Quintanilha. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-03-13.

Detection device, movable body apparatus, pattern formation apparatus and pattern formation method, exposure apparatus and exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: US8098362B2. Автор: Yuho Kanaya. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2012-01-17.

Pattern forming method and pattern forming apparatus, exposure method and exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: JP5182558B2. Автор: 祐一 柴崎. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-04-17.

Pattern formation method and pattern formation apparatus, exposure method and exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: CN101326617A. Автор: 柴崎佑一. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2008-12-17.

Position measuring device and position measuring method, mobile body driving system and mobile body driving method, pattern forming device and pattern forming method, exposure device and exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: TW200736574A. Автор: Akihiro Watanabe,Toru Imai,Susumu Makinouchi. Владелец: Sendai Nikon Corp. Дата публикации: 2007-10-01.

Substrate and Patterning Device for Use in Metrology, Metrology Method and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20140233031A1. Автор: SMILDE Hendrik Jan Hidde,KUBIS Michael,BHATTACHARYYA Kaustuve,Van Der Schaar Maurits,Warnaar Patric. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2014-08-21.

Substrate and Patterning Device for Use in Metrology, Metrology Method and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20160179019A1. Автор: SMILDE Hendrik Jan Hidde,WARNAAR Patrick,KUBIS Michael,BHATTACHARYYA Kaustuve,Van Der Schaar Maurits. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2016-06-23.

Substrate and Patterning Device for Use in Metrology, Metrology Method and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20150331336A1. Автор: COENE Willem Marie Julia Marcel,QUINTANILHA Richard. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2015-11-19.

Apparatus and method for compensating critical dimension deviations across photomask

Номер патента: WO2002001294A1. Автор: David H. Ziger. Владелец: Philips Electronics North America Corporation. Дата публикации: 2002-01-03.

Apparatus and method for compensating critical dimension deviations across photomask

Номер патента: EP1204902A1. Автор: David H. Ziger. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2002-05-15.

Pattern recognition module and pattern recognition apparatus

Номер патента: US20240320999A1. Автор: Cheng Li,Yingzi WANG,Yue Geng,Zefei LI,Xinglong Wang,Yi DAI,Zhonghuan LI,Chaoyang QI,Yajie FENG,Congcong XI. Владелец: Beijing BOE Sensor Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

System For Improving Critical Dimension Uniformity

Номер патента: US20100201961A1. Автор: Chun-Kuang Chen,Shinn-Sheng Yu,Tsai-Sheng Gau,Chih-Ming Ke,Jacky Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2010-08-12.

System and method for shifting critical dimensions of patterned films

Номер патента: US09977339B2. Автор: Anton J. deVilliers,Daniel Fulford. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Pattern recognition system

Номер патента: EP3042342A1. Автор: Michael P. Kelley,Jeffrey Brian Adams,Tyson J. Thomas,Kristopher Robert Buschelman,Frank G. Evans,Karl P. Geiger,Eric C. Schneider,Timothy J. Carruthers. Владелец: Neural ID LLC. Дата публикации: 2016-07-13.

Method for forming a critical dimension test structure and its use

Номер патента: WO2000019270A1. Автор: Kazuo Ushida,Kyoichi Suwa,Ilya Grodnensky,Eric R. Johnson. Владелец: NIKON PRECISION INC.. Дата публикации: 2000-04-06.

Creating data shapes for pattern recognition systems

Номер патента: US20240265695A1. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Datashapes Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US12072627B2. Автор: Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi,Kenichi Oikawa,Tomohiro Kobayashi,Shinya Yamashita,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Method to selectively correct critical dimension errors in the semiconductor industry

Номер патента: US7294440B2. Автор: Jed H. Rankin,Andrew J. Watts. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2007-11-13.

Stamp treatment to guide solvent removal direction and maintain critical dimension

Номер патента: WO2023114496A1. Автор: Yingdong Luo,Ludovic Godet,Kang LUO,Yongan Xu. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-06-22.

Method for measuring critical dimension

Номер патента: US12117733B2. Автор: Chia-Chung LIN. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Method for measuring critical dimension

Номер патента: US12130559B2. Автор: Chia-Chung LIN. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Method for grouping region of interest of mask pattern and measuring critical dimension of mask pattern using the same

Номер патента: US09892500B2. Автор: Won-Joo Park,Dong-Hoon Chung,Byung-gook Kim,Hyung-Joo Lee,Seuk-Hwan CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-13.

Predicting pattern critical dimensions in a lithographic exposure process

Номер патента: US09529253B2. Автор: Jacek K. TYMINSKI,Raluca Popescu. Владелец: Nikon Precision Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Measurement method and measurement device of critical dimension of sub-pixel

Номер патента: US10204407B2. Автор: Zhiyi Sun,Huashan Pang. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-12.

Critical dimension control using full phase and trim masks

Номер патента: AU2003223189A1. Автор: Christophe Pierrat. Владелец: Numerical Technologies Inc. Дата публикации: 2003-09-09.

Metrology method and system for critical dimensions based on dispersion relation in momentum space

Номер патента: US20230213870A1. Автор: Lei Shi,Ang Chen,Tongyu Li,Guopeng Lu,Haiwei Yin,Jian Zi. Владелец: Shanghai Ideaoptics Corp Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

Pattern recognition apparatus and pattern recognition method

Номер патента: WO2015022761A1. Автор: Shinji Watanabe,Yuki Tachioka. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2015-02-19.

Device and method for improving quality in automated machine-based casting methods by identification of the cast parts by pattern recognition and structure recognition

Номер патента: US20240066592A1. Автор: Hans-Juergen Brenninger,Simon Werner GEIB. Владелец: Gienanth GmbH. Дата публикации: 2024-02-29.

Modeling defect probability from expected critical dimensions to improve accuracy of failure rate prediction

Номер патента: WO2024156485A2. Автор: Yu Cao,Jill Elizabeth FREEMAN,Fuming Wang. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-08-02.

Method for circuit design on a spherical semiconductor having critical dimensions

Номер патента: WO2001033439A1. Автор: Nobuo Takeda,Yasunaga Suzuki,Eiji Matsunaga. Владелец: Ball Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2001-05-10.

Modeling defect probability from expected critical dimensions to improve accuracy of failure rate prediction

Номер патента: WO2024156485A3. Автор: Yu Cao,Jill Elizabeth FREEMAN,Fuming Wang. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-09-06.

Electrical critical dimension measurements on photomasks

Номер патента: US20020102472A1. Автор: David Chan. Владелец: Photronics Inc. Дата публикации: 2002-08-01.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US20210141306A1. Автор: Takayuki Fujiwara,Masaki Ohashi,Shinya Yamashita,Teppei Adachi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Measuring local critical dimension uniformity of an array of two-dimensional structural elements

Номер патента: WO2021165941A1. Автор: Daniel Schmidt,Dexin Kong,Igor Turovets,Roy KORET,Aron J. CEPLER,Marjorie CHENG. Владелец: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.. Дата публикации: 2021-08-26.

Post Development Treatment Method and Material for Shrinking Critical Dimension of Photoresist Layer

Номер патента: US20180335700A1. Автор: Ching-Yu Chang,Siao-Shan Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-11-22.

Critical dimension control using full phase and trim masks

Номер патента: WO2003073166A1. Автор: Christophe Pierrat. Владелец: Numerical Technologies, Inc.. Дата публикации: 2003-09-04.

Method for measuring critical dimension

Номер патента: US20230236514A1. Автор: Chia-Chung LIN. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Method for measuring critical dimension

Номер патента: US20230236513A1. Автор: Chia-Chung LIN. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Critical dimension control using full phase and trim masks

Номер патента: EP1478976A4. Автор: Christophe Pierrat. Владелец: Numerical Technologies Inc. Дата публикации: 2007-06-06.

Critical dimension control using full phase and trim masks

Номер патента: EP1478976A1. Автор: Christophe Pierrat. Владелец: Numerical Technologies Inc. Дата публикации: 2004-11-24.

Pattern recognition apparatus and pattern recognition method

Номер патента: US20150051909A1. Автор: Shinji Watanabe,Yuki Tachioka. Владелец: Mitsubishi Electric Research Laboratories Inc. Дата публикации: 2015-02-19.

Resist material and patterning process

Номер патента: US20230022129A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Pattern recognition system

Номер патента: US20230097178A1. Автор: Michael P. Kelley,Jeffrey Brian Adams,Tyson J. Thomas,Kristopher Robert Buschelman,Frank G. Evans,Karl P. Geiger,Eric C. Schneider,Timothy J. Carruthers. Владелец: Datashapes Inc. Дата публикации: 2023-03-30.

Resist material and patterning process

Номер патента: US20230050585A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Method Of Ultra-Fine Critical Dimension Patterning For Magnetic Head Devices

Номер патента: US20230343362A1. Автор: Kunliang Zhang,Min Li,Ruhang DING,Tom Zhong,Hiroshi Omine,Jianing Zhou. Владелец: Headway Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-26.

Method of using critical dimension mapping to optimize speed performance of microprocessor produced using an integrated circuit manufacturing process

Номер патента: US6345211B1. Автор: Warren T. Yu. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2002-02-05.

Pattern recognition systems

Номер патента: US11967144B2. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Datashapes Inc. Дата публикации: 2024-04-23.

Creating data shapes for pattern recognition systems

Номер патента: US11967142B2. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Datashapes Inc. Дата публикации: 2024-04-23.

Data retrieval in pattern recognition systems

Номер патента: US11967143B2. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Datashapes Inc. Дата публикации: 2024-04-23.

Audit capabilities in pattern recognition systems

Номер патента: US20170323168A1. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-09.

Pattern recognition systems

Номер патента: US20220019827A1. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Datashapes Inc. Дата публикации: 2022-01-20.

Data retrieval in pattern recognition systems

Номер патента: US20210342615A1. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Datashapes Inc. Дата публикации: 2021-11-04.

Creating data shapes for pattern recognition systems

Номер патента: US20200372277A1. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Rokio Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

Diagnosing in-line critical dimension control adjustments using optical proximity correction verification

Номер патента: US20120191234A1. Автор: James A. Bruce,Kenneth T. Settlemyer, Jr.. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-07-26.

Pattern recognition systems

Номер патента: US20240233362A1. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Datashapes Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Data retrieval in pattern recognition systems

Номер патента: US20240233361A1. Автор: Jeffrey Brian Adams. Владелец: Datashapes Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Synergistic Object Tracking and Pattern Recognition for Event Representation

Номер патента: US20230252651A1. Автор: Kevin Prince,Keith Comito. Владелец: Disney Enterprises Inc. Дата публикации: 2023-08-10.

Synergistic Object Tracking and Pattern Recognition for Event Representation

Номер патента: US20220383519A1. Автор: Kevin Prince,Keith Comito. Владелец: Disney Enterprises Inc. Дата публикации: 2022-12-01.

Intelligent Data Ranking System Based on Multi-Facet Intra and Inter-Data Correlation and Data Pattern Recognition

Номер патента: US20230394115A1. Автор: Vidya Rajagopal,Marin Grace,Sunjeet Gupta,Amritendu Majumdar,Matthew D. LeClaire,Jeff Ivany. Владелец: Accenture Global Solutions Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Intelligent data ranking system based on multi-facet intra and inter-data correlation and data pattern recognition

Номер патента: EP4290444A1. Автор: Vidya Rajagopal,Marin Grace,Sunjeet Gupta,Amritendu Majumdar,Matthew D. LeClaire,Jeff Ivany. Владелец: Accenture Global Solutions Ltd. Дата публикации: 2023-12-13.

Synergistic object tracking and pattern recognition for event representation

Номер патента: US12125219B2. Автор: Kevin Prince,Keith Comito. Владелец: Disney Enterprises Inc. Дата публикации: 2024-10-22.

Methods and compositions for generating an immune response by inducing CD40 and pattern recognition receptor adapters

Номер патента: US09976122B2. Автор: David Spencer,Priyadharshini Narayanan. Владелец: Baylor College of Medicine. Дата публикации: 2018-05-22.

Methods and compositions for generating an immune response by inducing CD40 and pattern recognition receptor adapters

Номер патента: US09428569B2. Автор: David Spencer,Priyadharshini Narayanan. Владелец: Baylor College of Medicine. Дата публикации: 2016-08-30.

Onium Salt, Acid Diffusion Inhibitor, Resist Composition, And Patterning Process

Номер патента: US20240103367A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Image processor and pattern recognition apparatus using the image processor

Номер патента: EP1346321A1. Автор: Kazutaka Ikeda,Yoshihito Hashimoto. Владелец: Matsushita Electric Works Ltd. Дата публикации: 2003-09-24.

Management system using behavior pattern recognition

Номер патента: EP3869431A1. Автор: Bongseok JANG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-08-25.

Management system using behavior pattern recognition

Номер патента: CA3115961A1. Автор: Bongseok JANG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-04-23.

Management system using behavior pattern recognition

Номер патента: AU2019360680A1. Автор: Bongseok JANG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-06-03.

Critical dimension edge placement and slope enhancement with central pixel dose addition and modulated inner pixels

Номер патента: WO2004063814A3. Автор: Asher Klatchko,Peter Pirogovsky,Jerry Martyniuk,Richard E Crandall,Mattew J Jolley,H Christopher Hamaker. Владелец: H Christopher Hamaker. Дата публикации: 2004-09-23.

Method and device for critical dimension detection by molecular binding

Номер патента: US20070042390A1. Автор: Peter Borden. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2007-02-22.

Control of critical dimension (CD)

Номер патента: EP1416330B1. Автор: Joseph Pellegrini,David Crow. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-07-29.

Design-driven metal critical dimension (cd) biasing

Номер патента: US20100293514A1. Автор: Yao-Ching Ku,Lee-Chung Lu,Louis Chao-Chiuan Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2010-11-18.

Modeling critical-dimension (cd) scanning-electron-microscopy (cd-sem) cd extraction

Номер патента: WO2010126698A3. Автор: Qiaolin Zhang. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2011-01-13.

Stress analysis for plastic material lined tubular structures for boreholes

Номер патента: US11755792B2. Автор: Robello Samuel,Adolfo Gonzales,Zhengchun LIU,Yongfeng KANG. Владелец: Landmark Graphics Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Test pattern layout for test photomask and method for evaluating critical dimension changes

Номер патента: US20160224720A1. Автор: Yuki Fujita,Brian N. Caldwell,Raymond W. Jeffer,James P. Levin,Joseph L. Malenfant, Jr.,Steven C. Nash. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-04.

Interpretation of features for signal processing and pattern recognition

Номер патента: WO2002095730A1. Автор: JI Ming,Francis John Smith,Peter Jancovic. Владелец: Queen's University Of Belfast. Дата публикации: 2002-11-28.

Test pattern layout for test photomask and method for evaluating critical dimension changes

Номер патента: US20160223902A1. Автор: Yuki Fujita,Brian N. Caldwell,Raymond W. Jeffer,James P. Levin,Joseph L. Malenfant, Jr.,Steven C. Nash. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-04.

Test pattern layout for test photomask and method for evaluating critical dimension changes

Номер патента: US20150212405A1. Автор: Yuki Fujita,Brian N. Caldwell,Raymond W. Jeffer,James P. Levin,Joseph L. Malenfant, Jr.,Steven C. Nash. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-30.

Test pattern layout for test photomask and method for evaluating critical dimension changes

Номер патента: US09996000B2. Автор: Yuki Fujita,Brian N. Caldwell,Raymond W. Jeffer,James P. Levin,Joseph L. Malenfant, Jr.,Steven C. Nash. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Optical measurement system and method for measuring critical dimension of nanostructure

Номер патента: US09995648B2. Автор: Maksim RIABKO,Anton MEDVEDEV,Alexey SHCHEKIN,Sergey KOPTYAEV. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-06-12.

Test pattern layout for test photomask and method for evaluating critical dimension changes

Номер патента: US09989843B2. Автор: Yuki Fujita,Brian N. Caldwell,Raymond W. Jeffer,James P. Levin,Joseph L. Malenfant, Jr.,Steven C. Nash. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-05.

Critical dimension uniformity monitoring for extreme ultraviolet reticles

Номер патента: US09863761B2. Автор: Rui-Fang Shi,Abdurrahman Sezginer,Alex Pokrovskiy,Weston L. Sousa. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Critical dimension control in photo-sensitized chemically-amplified resist

Номер патента: US09645495B2. Автор: Anton J. deVilliers. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Accurate and fast neural network training for library-based critical dimension (CD) metrology

Номер патента: US09607265B2. Автор: WEN Jin,Leonid Poslavsky,Junwei Bao,Vi Vuong,Lie-Quan Lee. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Pattern recognition device, pattern recognition method, and pattern recognition program

Номер патента: US20110289028A1. Автор: Atsushi Sato. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2011-11-24.

Developer critical dimension control with pulse development

Номер патента: US20200089188A1. Автор: Yongan Xu,Hao Tang,Richard C. Johnson. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Systems and methods for application of statistical classification and pattern recognition for compartment design in horizontal oil wells

Номер патента: US20240026778A1. Автор: Raheel R. Baig. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-01-25.

Alarm maps to facilitate root cause analysis through spatial and pattern recognition

Номер патента: WO2007140133A3. Автор: Geoffrey Ho,Yong Ming Kow,Jakub Ja Andrzejewski,Janet Jzx Jin,Sinem C Gonknur. Владелец: Sinem C Gonknur. Дата публикации: 2008-03-13.

Alarm maps to facilitate root cause analysis through spatial and pattern recognition

Номер патента: WO2007140133A2. Автор: Geoffrey Ho,Yong Ming Kow,Jakub Ja Andrzejewski,Janet Jzx Jin,Sinem C. Gonknur. Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2007-12-06.

Detecting access disconnect by pattern recognition

Номер патента: EP2195045B1. Автор: Rodolfo G. Roger,Atif M. Yardimci. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 2011-02-23.

Method and structure for lithography processes with focus monitoring and control

Номер патента: US09383657B2. Автор: Wei-Liang Lin,Chun-Kuang Chen,Chi-Cheng Hung,Jhih-Yu Wang,Chien-Yu Li,Iu-Ren Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-07-05.

A method for fabricating a spm nanoneedle probe and a critical dimension spm nanoneedle probe using ion beam and a spm nanneedle probe and a cd-spm nanoneedle probe thereby

Номер патента: KR100679619B1. Автор: 오범환,정기영,박병천,안상정,홍재완,송원영. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2007-02-06.

Control of critical dimensions through measurement of absorbed radiation

Номер патента: US6063530A. Автор: Andreas Grassmann. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2000-05-16.

Photomask providing uniform critical dimension on semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20070065732A1. Автор: Seongwoon Choi,Donggun Lee,Byunggook Kim,Chanuk Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-03-22.

Critical dimension uniformity monitoring for extreme ultra-violet reticles

Номер патента: US10288415B2. Автор: Rui-Fang Shi,Abdurrahman Sezginer,Alex Pokrovskiy,Weston L. Sousa. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-05-14.

Mask alignment and measurement of critical dimensions in integrated circuits

Номер патента: US5109430A. Автор: H. Keith Nishihara,P. A. Crossley. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 1992-04-28.

Apparatus and methods for measurement of critical dimensions of features and detection of defects in uv, vuv, and euv lithography masks

Номер патента: WO2005108914A3. Автор: Henry Allen Hill. Владелец: Zetetic Inst. Дата публикации: 2006-12-14.

Computer for calculating the similarity between patterns and pattern recognition system comprising the similarity computer

Номер патента: US3816722A. Автор: H Sakoe,S Chiba. Владелец: Nippon Electric Co Ltd. Дата публикации: 1974-06-11.

Associative memory processing method for natural language parsing and pattern recognition

Номер патента: US5619718A. Автор: Nelson Correa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1997-04-08.

Method of reducing critical dimension bias of dense pattern and isolation pattern

Номер патента: US7097945B2. Автор: Ching-Yu Chang,Hsin-Huei Chen,Meng-Wei Chen. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-29.

Method for Correcting Critical Dimension of Mask Pattern

Номер патента: US20090226827A1. Автор: Soo Kyeong Jeong. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-09-10.

Method of managing critical dimension error of photomask and method of manufacturing photomask using the method

Номер патента: US20220197133A1. Автор: Taejoon KIM,JaeHyuk Chang,Hyunkyu Sun,Sikyung Lim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Method of managing critical dimension error of photomask and method of manufacturing photomask using the method

Номер патента: US11934095B2. Автор: Taejoon KIM,JaeHyuk Chang,Hyunkyu Sun,Sikyung Lim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Lithography improvement based on defect probability distributions and critical dimension variations

Номер патента: US20210088913A1. Автор: Lawrence S. Melvin, III,Qiliang Yan,Yudhishthir Prasad Kandel,Ulrich Karl Klostermann. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2021-03-25.

Methods and systems for devices with self-selecting bus decoder

Номер патента: US20230297529A1. Автор: Harold B Noyes,Steven P. King. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Neuronal diversity in spiking neural networks and pattern classification

Номер патента: WO2015088774A3. Автор: Jeffrey Alexander LEVIN,Vikram Gupta,Edward Hanyu LIAO. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2015-08-06.

Methods of generating circuit layouts using self-alligned double patterning (SADP) techniques

Номер патента: US09582629B2. Автор: LI YANG,Lei Yuan,Jongwook Kye. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Methods and compositions for generating an immune response by inducing cd40 and pattern recognition receptor adapters

Номер патента: CA2738031C. Автор: Narayanan Priyadharshini,David Spencer. Владелец: Baylor College of Medicine. Дата публикации: 2022-11-29.

Generating an immune response by inducing cd40 and pattern recognition receptors

Номер патента: CA2666667C. Автор: David Spencer,Natalia Lapteva. Владелец: Baylor College of Medicine. Дата публикации: 2023-06-20.

Methods and compositions for generating an immune response by inducing cd40 and pattern recognition receptors and adaptors thereof

Номер патента: US20240034771A1. Автор: David M. Spencer,Natalia Lapteva. Владелец: Baylor College of Medicine. Дата публикации: 2024-02-01.

Methods and compositions for generating an immune response by inducing cd40 and pattern recognition receptor adapters

Номер патента: US20240124552A1. Автор: David Michael Spencer,Priyadharshini Narayanan. Владелец: Baylor College of Medicine. Дата публикации: 2024-04-18.

Textile matching using color and pattern recognition and methods of use

Номер патента: US20200057912A1. Автор: Bin Jin,Terrence A. CARROLL,Peter Hussami,András KALECZ-SIMON. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-02-20.

Method for forming pattern, method for manufacturing ornament, method for manufacturing belt for wristwatch, method for manufacturing structure for mounting wiring, method for manufacturing semiconductor device, and method for manufacturing printed circuit board

Номер патента: US10604859B2. Автор: Takuya Miyakawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-03-31.

Pattern exposure apparatus, device manufacturing method, and exposure apparatus

Номер патента: US20240248409A1. Автор: Masaki Kato,Yasushi Mizuno,Toshiharu Nakashima,Satoshi KAWADO. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Method for forming pattern, method for manufacturing ornament, method for manufacturing belt for wristwatch, method for manufacturing structure for mounting wiring, method for manufacturing semiconductor device, and method for manufacturing printed circuit board

Номер патента: US20180087169A1. Автор: Takuya Miyakawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Well performance classification using artificial intelligence and pattern recognition

Номер патента: WO2018152147A1. Автор: Ali Al-Turki,Badr M. Al-Harbi,Amell Ali AL-GHAMDI. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2018-08-23.

Camera accessory device for a laryngoscope and an artificial intelligence and pattern recognition system using the collected images

Номер патента: US11925331B2. Автор: Charles T. Gonsowski. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-12.

Well performance classification using artificial intelligence and pattern recognition

Номер патента: EP3583292A1. Автор: Ali Al-Turki,Badr M. Al-Harbi,Amell Ali AL-GHAMDI. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2019-12-25.

Detecting access disconnect by pattern recognition

Номер патента: WO2009042259A4. Автор: Rodolfo G Roger,Atif M Yardimci. Владелец: Atif M Yardimci. Дата публикации: 2009-05-28.

Detecting access disconnect by pattern recognition

Номер патента: EP2195045A1. Автор: Rodolfo G. Roger,Atif M. Yardimci. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 2010-06-16.

Method and Structure for Fabricating Dark-Periphery Mask for the Manufacture of Semicondutor Wafers

Номер патента: US20090325080A1. Автор: Guang Yea (Simon) Tarng. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2009-12-31.

Pattern recognition method, and storage medium which stores pattern recognition program

Номер патента: EP2093700A3. Автор: Tomoyuki c/o Toshiba Corporation Hamamura,Bunpei c/o Toshiba Corporation Irie,Naotake c/o Toshiba Corporation Natori,Takuma c/o Toshiba Corporation Akagi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-11-09.

Identification film and pattern including photonic crystals and anticounterfeiting product including the same

Номер патента: US09753197B2. Автор: Seung Man Yang,Shin Hyun Kim,Hye Soo Lee,Tae Soup Shim. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2017-09-05.

Simplified collaborative searching through pattern recognition

Номер патента: US09552421B2. Автор: Xiaoyuan Cui,Avneesh Sud,Aidan C. Crook,Ohil K. MANYAM. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2017-01-24.

Firearms training method using protocol based upon threat pattern recognition

Номер патента: US09454909B1. Автор: Bruce K. Siddle,Jonathan Siddle. Владелец: Human Factor Research Group Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Pattern recognition device

Номер патента: RU2755377C2. Автор: Андрей Павлович Лось,Олег Игоревич Шнурков,Павел Андреевич Лось. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-Морского Флота "Военно-морская академия им. Адмирала Флота Советского Союза Н.Г. Кузнецова". Дата публикации: 2021-09-15.

Organic processing liquid for patterning chemical amplification resist film, container for organic processing liquid for patterning chemical amplification resist film, and pattern forming method, method of manufacturing electronic device, and electronic device using the same

Номер патента: US10705428B2. Автор: Tsukasa Yamanaka,Takashi Kawamoto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2020-07-07.

Integration structure for well sensor

Номер патента: RU2601347C2. Автор: Иван Алексеевич Лысков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственная фирма Завод "Измерон". Дата публикации: 2016-11-10.

Mask design and opc for device manufacture

Номер патента: US20110318672A1. Автор: Bin Hu,Shem Ogadhoh,Vivek Singh,Seongtae Jeong,Sungwon Kim,Bikram Baidya,Raguraman Venkatesan,Prasad Narendra Atkar,Kevin J. Hooker. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2011-12-29.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, resist film and pattern forming method using the same, manufacturing method of semiconductor device, and semiconductor device

Номер патента: WO2013180314A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Hiroo Takizawa,Takeshi Kawabata,Natsumi YOKOKAWA. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2013-12-05.

Apparatus and method for pattern recognition

Номер патента: US8077979B2. Автор: Osamu Yamaguchi,Tomokazu Kawahara. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-12-13.

Lithographic apparatus, aberration correction device and device manufacturing method

Номер патента: SG139650A1. Автор: Tammo Uitterdijk,Laurentius Catrinus Jorritsma. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2008-02-29.

Gis partial discharge pattern recognition method based on polar coordinate distribution entropy optimization

Номер патента: LU504543B1. Автор: Ze Li,Yadong Liu,Weihao SUN,Gehao SHENG,Xiuchen Jiang,Yingjie YAN,Yaocheng Li,Yongpeng Xu,Yiming Zang. Владелец: Univ Shanghai Jiaotong. Дата публикации: 2023-12-20.

Mask weak pattern recognition apparatus and mask weak pattern recognition method

Номер патента: US20200265573A1. Автор: Chun-Liang Hou,Pin-Yen TSAI,Hsu-Tang LIU,Yi-Jung Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2020-08-20.

Buses for pattern-recognition processors

Номер патента: US12067767B2. Автор: J. Thomas Pawlowski. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Micro pattern forming method and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20040157169A1. Автор: Hiroshi Morioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2004-08-12.

Pattern recognition method for partial discharge of three-phase cylinder type ultrahigh voltage gis

Номер патента: CA2918679C. Автор: Xiaofei Wang,Kai Zhang,Guanghui Mao,Weizhou Wang,Yaming SUN,Chunjiang HU,Guangdong Zhang,Dingjun WEN,Jingshun LV,Shicai ZHANG,Guangyan GUO,Yinli CAO. Владелец: Electric Power Research Institute of State Grid Gansu Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-18.

Pattern recognition apparatus with retrieval reference patterns

Номер патента: US5123049A. Автор: Motoaki Koyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1992-06-16.

Pattern recognition: recognition algorithms in a distributed data base

Номер патента: NZ282391A. Автор: Stefan Keh,Drachenfels Heiko Von. Владелец: Licentia Gmbh. Дата публикации: 1997-04-24.

Intelligent pattern recognition systems for wire bonding and other electronic component packaging equipment, and related methods

Номер патента: US12118726B2. Автор: Peter Julius KLAERNER. Владелец: Kulicke and Soffa Industries Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Ink for display device manufacturing and method for manufacturing of the same, method for manufacturing using the same

Номер патента: US09556323B2. Автор: Youngtae Son. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

Noise-Driven Coupled Dynamic Pattern Recognition Device for Low Power Applications

Номер патента: US20210256305A1. Автор: Paul R. de la Houssaye,Adi Ratan Bulsara,Benjamin J. Migliori,Chriswell Hutchens,Justin M. Mauger. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2021-08-19.

Method, system and apparatus for pattern recognition

Номер патента: EP3673410A1. Автор: Jiale CAO. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2020-07-01.

Passive infrared systems and methods that use pattern recognition to distinguish between human occupants and pets

Номер патента: WO2017116587A1. Автор: Aveek Ravishekhar Purohit,Kenneth Louis Herman. Владелец: GOOGLE INC.. Дата публикации: 2017-07-06.

System, method and apparatus for pattern recognition with application to symbol recognition and regeneration for a calligraphic display

Номер патента: US20040264779A1. Автор: Bruce Anderson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-30.

Pattern recognition device for performing classification using a candidate table and method thereof

Номер патента: US20010019628A1. Автор: Hiroshi Kamada,Katsuhito Fujimoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2001-09-06.

Method, system and apparatus for pattern recognition

Номер патента: US11755889B2. Автор: Jiale CAO. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2023-09-12.

Pattern recognition method and system

Номер патента: WO1995027954A1. Автор: Gabriel Ilan,Eran Aharonson. Владелец: Advanced Recognition Technologies, Inc.. Дата публикации: 1995-10-19.

System and Method for Use of Pattern Recognition in Assessing or Monitoring Vehicle Status or Operator Driving Behavior

Номер патента: US20240338417A1. Автор: Samuel Lavie,Gil Fuchs,Johann Van den Bergh,Friedl Jacobs. Владелец: SCOPE TECHNOLOGIES HOLDINGS Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Vehicle and operator guidance by pattern recognition

Номер патента: US09956966B2. Автор: Mark R. J. Versteyhe,Thibaut E. DUCHENE. Владелец: Dana Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

System and method for use of pattern recognition in assessing or monitoring vehicle status or operator driving behavior

Номер патента: US09824064B2. Автор: Samuel Lavie,Gil Fuchs,Johann Van den Bergh,Friedl Jacobs. Владелец: Scope Technologies Holdings Ltd Virgin Island. Дата публикации: 2017-11-21.

Semi-supervised method for training multiple pattern recognition and registration tool models

Номер патента: US09659236B2. Автор: David J. Michael,Simon Barker. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Systems and methods for estimating attitude using double differenced GPS carrier phase measurements

Номер патента: US09529093B2. Автор: Craig Lewin Robinson,Jonathan Nichols,Hamid Mokhtarzadeh,James Brian Roseborough. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2016-12-27.

Inspection apparatus and method using pattern recognition

Номер патента: US09446434B2. Автор: Gabriel Hamid,Charles Dean Mallah. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Associative pattern recognition device

Номер патента: RU2730179C1. Автор: Валерий Никонорович Кучуганов. Владелец: Валерий Никонорович Кучуганов. Дата публикации: 2020-08-19.

Method for generating intersection point pattern recognition model using sensor data of mobile robot and intersection point pattern recognition system

Номер патента: US11768499B2. Автор: Tae Hun KANG,Jung Hyun CHU,Sung Gil WEE,Dae Han HONG. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-09-26.

Pattern recognition system, pattern recognition method, and computer program product

Номер патента: US20150242754A1. Автор: Junichi Takami,Hiroaki Fukuda,Yohsuke MURAMOTO,Yasunobu Shirata. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-27.

Apparatus and method for pattern recognition

Номер патента: US20090232399A1. Автор: Osamu Yamaguchi,Tomokazu Kawahara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-09-17.

Accessing data storage provided using double-stranded nucleic acid molecules

Номер патента: GB2576304A. Автор: James Hayes Matthew,Maria Sanches-Kuiper Raquel. Владелец: Evonetix Ltd. Дата публикации: 2020-02-19.

A magnetic pattern recognition sensor

Номер патента: WO2022018442A1. Автор: Ian Gibb,Susana ISABEL PINHEIRO CARDOSO DE FREITAS,Sofia Alexandra Cruz ABRUNHOSA. Владелец: Institute of Systems and Computer Engineering for Microsystems and Nanotechnologies. Дата публикации: 2022-01-27.

Method, System And Apparatus For Pattern Recognition

Номер патента: US20200193213A1. Автор: Jiale CAO. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2020-06-18.

Microelectromechanical system and corresponding method for weather pattern recognition

Номер патента: US20210158190A1. Автор: Federico Rizzardini,Stefano Paolo Rivolta,Lorenzo Bracco,Roberto MURA. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2021-05-27.

Pattern Recognition for Face-Authentication Anti-Spoofing

Номер патента: US20240221429A1. Автор: Patrick M. Amihood,Octavio Ponce Madrigal. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-07-04.

Lip seal panel for air conditioning equipment and housing case manufactured using the same

Номер патента: EP4394277A1. Автор: Eun Suk Leem. Владелец: SNT Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Lip Seal Panel For Air Conditioning Equipment And Housing Case Manufactured Using The Same

Номер патента: US20240210070A1. Автор: Eun Suk Leem. Владелец: SNT Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

A system and method for manufacturing a product having an aesthetic, durable, cost effective and weather resistant coating in wider dimensions and capable of installation in different orientations

Номер патента: CA3216062A1. Автор: Hamid MORADI,Matthew ESMAEILI. Владелец: Synergy Prime LLC. Дата публикации: 2024-04-11.

System and method for use of pattern recognition in assessing or monitoring vehicle status or operator driving behavior

Номер патента: US10546042B2. Автор: Samuel Lavie,Gil Fuchs,Johann Van den Bergh,Friedl Jacobs. Владелец: Scope Technologies Holdings Ltd Virgin Island. Дата публикации: 2020-01-28.

Pattern recognition with n processors

Номер патента: AU1947295A. Автор: Stefan Keh,Heiko Von Drachenfels. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1995-09-11.

Semi-supervised method for training multiple pattern recognition and registration tool models

Номер патента: US20160155022A1. Автор: David J. Michael,Simon Barker. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2016-06-02.

Pattern recognition apparatus and method therefor

Номер патента: US20070258644A1. Автор: Kenichi Maeda,Osamu Yamaguchi,Tomokazu Kawahara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-08.

System and Method for Use of Pattern Recognition in Assessing or Monitoring Vehicle Status or Operator Driving Behavior

Номер патента: US20230281264A1. Автор: Samuel Lavie,Gil Fuchs,Johann Van den Bergh,Friedl Jacobs. Владелец: SCOPE TECHNOLOGIES HOLDINGS Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

X-ray exposure method and semiconductor device manufactured using this X-ray exposure method as well as X-ray mask, X-ray exposure unit and resist material

Номер патента: US20030174805A1. Автор: Hiroshi Watanabe,Kenji Itoga. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-09-18.

Method and apparatus for providing low cost programmable pattern recognition

Номер патента: WO2012042501A4. Автор: Mika Heino Laaksonen,Vesa Eelis Koivuaho. Владелец: Nokia Corporation. Дата публикации: 2012-05-31.

Semi-supervised method for training multiple pattern recognition and registration tool models

Номер патента: US09679224B2. Автор: David J. Michael,Simon Barker. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Method of patterning a lapping plate, and patterned lapping plates

Номер патента: US09522454B2. Автор: Raymond Leroy Moudry,Joel William Hoehn. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2016-12-20.

Method and apparatus for pattern recognition employing the Hidden Markov Model

Номер патента: US5638489A. Автор: Eiichi Tsuboka. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1997-06-10.

Sealing device manufacturing method (versions)

Номер патента: RU2256114C2. Автор: Джон В. КОСТИ,Джон М. ЛЕНЕР,Майкл А. МАКИСААК. Владелец: Сен Гобен Перформанс Плэстикс Корпорейшн. Дата публикации: 2005-07-10.

Dual level pattern recognition system

Номер патента: US4521909A. Автор: Patrick S. Wang. Владелец: Wang Laboratories Inc. Дата публикации: 1985-06-04.

Pattern recognition method, character recognition method, pattern recognition apparatus, and character recognition apparatus

Номер патента: EP2299385A1. Автор: Toshio Sato,Tomoyuki Hamamura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-23.

Dual level pattern recognition system

Номер патента: USRE33536E. Автор: Patrick S. Wang. Владелец: Wang Laboratories Inc. Дата публикации: 1991-02-12.

Pattern recognition alignment system

Номер патента: US5621813A. Автор: David A. Markle,Hwan J. Jeong,Robert L. Brown,Richard B. Ward,David S. Pan,Mark S. Wanta. Владелец: Ultratech Inc. Дата публикации: 1997-04-15.

Method for fabricating microelectromechanical structures for liquid emission devices

Номер патента: EP1380427A3. Автор: Christopher N. Eastman Kodak Company Delametter,Edward P. Eastman Kodak Company Furlani,Michael J. Eastman Kodak Company De Bar. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2004-06-16.

Planar heater structures for ejection devices

Номер патента: US20130083130A1. Автор: Yimin Guan,II Burton Joyner,Zach Reitmeier. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-04-04.

Exposure apparatus, exposure method and device manufacturing method

Номер патента: WO2009078489A1. Автор: Takahisa Kikuchi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2009-06-25.

System and method facilitating pattern recognition

Номер патента: EP1345161A3. Автор: John C. Platt,Patrice Y. Simard,David Willard Steinkraus. Владелец: Microsoft Corp. Дата публикации: 2011-01-19.

Image pattern recognition system and method

Номер патента: MY182556A. Автор: Gerardus Johannes Burghouts. Владелец: Tno. Дата публикации: 2021-01-25.

Method and system for selecting pattern recognition training vectors

Номер патента: WO1997035264A1. Автор: James H. Errico,Theodore Mazurkiewicz. Владелец: MOTOROLA, INC.. Дата публикации: 1997-09-25.

Image pattern recognition system and method

Номер патента: EP2936392A1. Автор: Gerardus Johannes Burghouts. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2015-10-28.

Structures for electrostatic v-bank air filters

Номер патента: WO2001045851A1. Автор: George Robert Summers,Forwood Cloud Wiser, III. Владелец: Engineering Dynamics Ltd.. Дата публикации: 2001-06-28.

Structures for electrostatic v-bank air filters

Номер патента: AU2138901A. Автор: George Robert Summers,Forwood Cloud Wiser Iii. Владелец: Engineering Dynamics Ltd. Дата публикации: 2001-07-03.

Feature pattern recognition system, method, and program

Номер патента: US8244474B2. Автор: Yasuo Matsuyama,Ryo Kawamura,Keita Shimoda. Владелец: WASEDA UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-08-14.

Composition for pattern recognition based targeting and activating an innate immune response

Номер патента: WO2024049790A3. Автор: Lawrence Chan,Kevin Lau. Владелец: Phyto42. Дата публикации: 2024-04-11.

Apparatus and method for displaying search results using cognitive pattern recognition in locating documents and information within

Номер патента: EP2771781A1. Автор: Basker S. Krishnan,Hanoz J. Kateli,Bryan Heesch. Владелец: IMAGESCAN Inc. Дата публикации: 2014-09-03.

Lithographic apparatus, a device manufacturing method, and a fastener for use in a lithographic apparatus

Номер патента: US20050286040A1. Автор: Lambertus VAN DEN WILDENBERG. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2005-12-29.

Root cause pattern recognition based model training

Номер патента: US12050509B2. Автор: Dong Yuan,Mo Zhou,Allison Mae Giddings. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2024-07-30.

Pattern recognition

Номер патента: EP2678790A1. Автор: Doron Shaked,Ruth Bergman,Ira Cohen,Michal Aharon. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2014-01-01.

Pattern recognition

Номер патента: WO2012115662A1. Автор: Doron Shaked,Ruth Bergman,Ira Cohen,Michal Aharon. Владелец: Hewlett-Packard Development Company, L.P.. Дата публикации: 2012-08-30.

Pattern recognition

Номер патента: US20120215736A1. Автор: Doron Shaked,Ruth Bergman,Ira Cohen,Michal Aharon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-08-23.

Robotic system for performing pattern recognition-based inspection of pharmaceutical containers

Номер патента: US11766700B2. Автор: Thomas C. Pearson,Erwin Freund,Dmitry Fradkin,Neelima CHAVALI. Владелец: AMGEN INC. Дата публикации: 2023-09-26.

Colored and patterned printing technique applied between coated layers forming artificial leather

Номер патента: WO2009110853A1. Автор: Rafet Tukek. Владелец: Flokser Tekstil Sanayi Ve Ticaret A.S.. Дата публикации: 2009-09-11.

Pattern recognition oriented cluster analysis

Номер патента: WO2000036489A3. Автор: Xiaofeng Yang,Jianpeng Shi,Molly B Schmid,Donald Beik. Владелец: Microcide Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2000-11-30.

Composition for pattern recognition based targeting and activating an innate immune response

Номер патента: US20240066097A1. Автор: Lawrence Chan,Kevin Lau. Владелец: Phyto42. Дата публикации: 2024-02-29.

Composition for pattern recognition based targeting and activating an innate immune response

Номер патента: WO2024049790A2. Автор: Lawrence Chan,Kevin Lau. Владелец: Phyto42. Дата публикации: 2024-03-07.

Pattern recognition apparatus, method, and program using domain adaptation

Номер патента: US10614343B2. Автор: Takafumi Koshinaka,Qiongqiong Wang. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2020-04-07.

Conductive-pattern recognition apparatus

Номер патента: US6188229B1. Автор: Satoshi Nakamura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-02-13.

Structures for electrostatic v-bank air filters

Номер патента: EP1239967A1. Автор: George Robert Summers,Forwood Cloud Wiser, III. Владелец: Engineering Dynamics Ltd. Дата публикации: 2002-09-18.

Automated pattern recognition and scoring method of histological images

Номер патента: AU2018351635A1. Автор: John BROZEK,Benoit Noel,Nathalie DEGALLAIX,Elton Rexhepaj. Владелец: Genfit SA. Дата публикации: 2020-05-07.

Root cause pattern recognition based model training

Номер патента: US20240320081A1. Автор: Dong Yuan,Mo Zhou,Allison Mae Giddings. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2024-09-26.

Behavioral pattern recognition to initiate a charging process

Номер патента: US20240308368A1. Автор: Matthias Schneider,Kerstin Baskakow. Владелец: Audi AG. Дата публикации: 2024-09-19.

Electromagnetic interference pattern recognition tomography

Номер патента: US20240310423A1. Автор: Serguei Y. Semenov. Владелец: EMTensor GmbH. Дата публикации: 2024-09-19.

Optical pattern recognition for locating objects in an environment

Номер патента: US12136064B1. Автор: Matthias BLOCH,Iciar Martinez,Nurie Jeong. Владелец: Scandit AG. Дата публикации: 2024-11-05.

Systems and methods for magnetic guidance and patterning of materials

Номер патента: US09909116B2. Автор: Daniel Joshua Stark,Renata Pasqualini,Wadih Arap,Glauco R Souza,Thomas Charles Killian,Robert M. Raphael. Владелец: William Marsh Rice University. Дата публикации: 2018-03-06.

Systems and methods for hierarchical pattern recognition for simultaneous control of multiple-degree of freedom movements for prosthetics

Номер патента: US09907489B2. Автор: Aaron Young,Levi Hargrove. Владелец: Rehabilitation Institute of Chicago. Дата публикации: 2018-03-06.

Methods and apparatuses for reducing power consumption in a pattern recognition processor

Номер патента: US09501705B2. Автор: Harold B Noyes,David R. Brown. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-22.

Method of making patterned floor covering and patterned floor covering

Номер патента: RU2705353C1. Автор: Марио КРЕГЕР,Дитер РИШЕР. Владелец: Нора Системз Гмбх. Дата публикации: 2019-11-06.

Automatic pattern recognition using category dependent feature selection

Номер патента: US20080147402A1. Автор: Woojay Jeon,Biing-Hwang Juang. Владелец: Georgia Tech Research Corp. Дата публикации: 2008-06-19.

Pattern recognition data processing device using an associative matching method

Номер патента: CA2036974C. Автор: Kenji Suzuki,Yutaka Katsuyama,Masayuki Kimura,Yoshiyuki Sakurai,Hirotomo Aso,Hisayoshi Hayasaka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1996-06-11.

Determining distortion measures in a pattern recognition process

Номер патента: US7912715B2. Автор: Marcel Vasilache. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2011-03-22.

Combined pattern holder and pattern position indicator

Номер патента: CA1147142A. Автор: Manny C. Hamburger. Владелец: Individual. Дата публикации: 1983-05-31.

Pattern recognition data processing device using an associative matching method

Номер патента: CA2036974A1. Автор: Kenji Suzuki,Yutaka Katsuyama,Masayuki Kimura,Yoshiyuki Sakurai,Hirotomo Aso,Hisayoshi Hayasaka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1991-08-27.

Methods and Devices for Saving and/or Restoring a State of a Pattern-Recognition Processor

Номер патента: US20100332809A1. Автор: David R. Brown,Harold B. Noyes. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2010-12-30.

Hierarchical optimization method and system for pattern recognition and edge detection

Номер патента: US20060002609A1. Автор: Stefano Casadei. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-05.

Pattern recognition apparatus and methods invariant to translation, scale change and rotation

Номер патента: US3614736A. Автор: John A Mclaughlin,Josef Raviv. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1971-10-19.

Mutual information derived tree structure in an adaptive pattern recognition system

Номер патента: US3588823A. Автор: Chao N Liu,Chao K Chow. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1971-06-28.

Automatic seismic pattern recognition method

Номер патента: CA2205457C. Автор: Naamen Keskes. Владелец: Societe Nationale Elf Aquitaine Production SA. Дата публикации: 2003-11-18.

Pattern recognition equipment

Номер патента: GB1082885A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1967-09-13.

Three-dimensional puzzle and pattern-pasting method

Номер патента: GB2432794A. Автор: Chih-Chung Fang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-06-06.

Programmable pattern recognition compositions

Номер патента: WO2024026465A1. Автор: Feng Zhang,Jonathan STRECKER,Max WILKINSON,Alex GAO. Владелец: THE BROAD INSTITUTE, INC.. Дата публикации: 2024-02-01.

A plant pattern recognition receptor and chimeras thereof for use against bacterial infections

Номер патента: EP2861058A1. Автор: Markus Albert,Georg Felix,Anna Kristina Jehle,Martin Lipschis. Владелец: EBERHARD KARLS UNIVERSITAET TUEBINGEN. Дата публикации: 2015-04-22.

Pattern recognition apparatus, pattern recognition method, and storage medium

Номер патента: US11817103B2. Автор: Takafumi Koshinaka,Qiongqiong Wang. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Pattern recognition apparatus, pattern recognition method, and storage medium

Номер патента: WO2019053898A1. Автор: Takafumi Koshinaka,Qiongqiong Wang. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2019-03-21.

Intelligent pattern recognition systems for wire bonding and other electronic component packaging equipment, and related methods

Номер патента: EP4278377A1. Автор: Peter Julius KLAERNER. Владелец: Kulicke and Soffa Industries Inc. Дата публикации: 2023-11-22.

Lithography methods, methods for forming patterning tools and patterning tools

Номер патента: US20140106280A1. Автор: Jianming Zhou,Scott L. Light,Anton Devilliers,David Kewley,Prasanna Srinivasan. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2014-04-17.

User interaction pattern extraction for device personalization

Номер патента: EP3245579A1. Автор: LIN Jiang,Susan Chory,Chan Chaiyochlarb,Shriram Nanjundaiah. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2017-11-22.

Resist material and patterning process

Номер патента: US20230296981A1. Автор: Tomohiro Kobayashi,Yutaro OTOMO,Gentaro Hida,Tomonari NOGUCHI. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Pattern recognition system and method

Номер патента: EP3077959A1. Автор: Hans Geiger. Владелец: ZINTERA CORP. Дата публикации: 2016-10-12.

Pattern recognition system

Номер патента: WO2003073366A1. Автор: Christopher Reginald Chatwin,Aristodimos Kouris. Владелец: The University of Sussex. Дата публикации: 2003-09-04.

Pattern recognition system

Номер патента: EP1479037A1. Автор: Christopher Reginald Chatwin,Aristodimos Kouris. Владелец: University of Sussex. Дата публикации: 2004-11-24.

Image pattern recognition system and method

Номер патента: WO2014098604A1. Автор: Gerardus Johannes Burghouts. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2014-06-26.

Pattern recognition apparatus, method, and program using domain adaptation

Номер патента: US20180253628A1. Автор: Takafumi Koshinaka,Qiongqiong Wang. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-09-06.

Pattern recognition oriented cluster analysis

Номер патента: WO2000036489A9. Автор: Xiaofeng Yang,Jianpeng Shi,Molly B Schmid,Donald Beik. Владелец: Microcide Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2001-05-10.

Pattern recognition processes and apparatus

Номер патента: US3601803A. Автор: Julian Richard Ullmann. Владелец: Post Office. Дата публикации: 1971-08-24.

Parallelized tree-based pattern recognition for tissue characterization

Номер патента: EP2967499A1. Автор: Anuja Nair,Russell J. Fedewa,Miklos Z. Kiss. Владелец: Volcano Corp. Дата публикации: 2016-01-20.

Routing analysis with double pattern lithography

Номер патента: US20120216157A1. Автор: Gang Chen,Jianfeng Luo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-08-23.

Exponential pattern recognition based cellular targeting, compositions, methods and anticancer applications

Номер патента: EP1409017A2. Автор: Arnold Glazier. Владелец: Drug Innovation and Design Inc. Дата публикации: 2004-04-21.

Pattern recognition oriented cluster analysis

Номер патента: WO2000036489A2. Автор: Xiaofeng Yang,Molly B. Schmid,Jianpeng Shi,Donald Beik. Владелец: Microcide Pharmaceuticals, Inc.. Дата публикации: 2000-06-22.

Pattern recognition receptor agonist prodrugs and methods of use thereof

Номер патента: US12065649B2. Автор: John T. Wilson,Christian Palmer. Владелец: VANDERBILT UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-20.

Automated pattern recognition and scoring method of histological images

Номер патента: WO2019077108A3. Автор: John BROZEK,Benoit Noel,Nathalie DEGALLAIX,Elton Rexhepaj. Владелец: GENFIT. Дата публикации: 2019-06-20.

Automated pattern recognition and scoring method of histological images

Номер патента: US20210192722A1. Автор: John BROZEK,Benoit Noel,Nathalie DEGALLAIX,Elton Rexhapaj. Владелец: Genfit SA. Дата публикации: 2021-06-24.

Multi-variable pattern recognition for predictive deep learning models

Номер патента: US20210374484A1. Автор: Arunava Majumdar,Sumit Patel,David Bacarella,Stephan Joseph Roorda. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-12-02.

Method of Pattern Recognition for Artificial Intelligence

Номер патента: US20130054504A1. Автор: Steven Howard Snyder. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-02-28.

Resist composition and patterning process

Номер патента: US09921479B2. Автор: Kenji Yamada,Satoshi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Apparatus and method for displaying multiple display panels with a progressive relationship using cognitive pattern recognition

Номер патента: US09772999B2. Автор: Basker S. Krishnan,Hanoz J. Kateli,Bryan Heesch. Владелец: IMAGESCAN Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Systems and methods for facilitating transactions using pattern recognition

Номер патента: US09734499B2. Автор: Puvanenthiran SUBBARAJ. Владелец: PayPal Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Dynamic fault model generation for diagnostics simulation and pattern generation

Номер патента: US09552449B1. Автор: Gary W. Maier,Franco Motika,Mary P. Kusko,Phong T. Tran. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Smart key system using movement pattern recognition of mobile device and operation method thereof

Номер патента: US09478088B2. Автор: Sang Gwon LEE. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Method for preparing printing solution and patterned cigarette wrappers

Номер патента: RU2592017C2. Автор: С. Шервуд Тимоти,Н. Смит Роберт,В. Роуз Мари. Владелец: Алтриа Клайент Сервисез Ллс. Дата публикации: 2016-07-20.

Parallel compression at lng units using double-stream compressor

Номер патента: RU2735753C2. Автор: Говри КРИШНАМУРТИ,Джозеф Джерард ВЕРМАН,Джулиан РОБЕРТС Марк. Владелец: Эр Продактс Энд Кемикалз, Инк.. Дата публикации: 2020-11-06.

Method for detecting intruder, recognizing type thereof and direction of movement using double-beam passive infrared detection means

Номер патента: RU2741828C1. Автор: . Владелец: Федеральное государственное казенное образовательное учреждение высшего образования "Калининградский пограничный институт Федеральной службы безопасности Российской Федерации". Дата публикации: 2021-01-28.

Device which contains cassettes with magnetic tape of two types and magnetic recorder which uses double- coil cassette with magnetic tape and has tape-feeding mechanism and mechanism for load of double-coil cassette

Номер патента: RU2067322C1. Автор: Вебер Георг,Шольц Томас,Кристиан Фолльманн Норберт. Владелец: Н.В.Филипс Глоэлампенфабрикен. Дата публикации: 1996-09-27.

Electrolyte material of electro-driven device, method of material production, electro-driven device containing electrolyte material and method of device manufacture

Номер патента: RU2453883C2. Автор: Фабьенн ПИРУ,Паскаль ПЕТИ,Аннабелль АНДРО. Владелец: СЭН-ГОБЭН ГЛАСС ФРАНС. Дата публикации: 2012-06-20.

Pattern recognition system providing automated techniques for training classifiers for non stationary elements

Номер патента: US5838816A. Автор: Bart A. Holmberg. Владелец: Hughes Electronics Corp. Дата публикации: 1998-11-17.

Pattern-recognition processor with results buffer

Номер патента: US9639493B2. Автор: Harold B Noyes. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Object detection by pattern recognition

Номер патента: US6154149A. Автор: Christos Kyrtsos,Pascal Bonduel,Francois Breynaert,Charles Hopson,Joseph Tyckowski,Timothy Davies. Владелец: Meritor Light Vehicle Systems Inc. Дата публикации: 2000-11-28.

System and method for parameter estimation for pattern recognition

Номер патента: US20030055640A1. Автор: David Burshtein,Assaf Ben-Yishai. Владелец: Ramot at Tel Aviv University Ltd. Дата публикации: 2003-03-20.

Apparatus for pattern recognition

Номер патента: CA1102451A. Автор: Percy E. Argyle. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 1981-06-02.

CPU with DSP function preprocessor having pattern recognition detector that uses table for translating instruction sequences intended to perform DSP function into DSP macros

Номер патента: US5754878A. Автор: John G. Bartkowiak,Saf Asghar,Mark Ireton. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 1998-05-19.

Lumber defect scanning including multi-dimensional pattern recognition

Номер патента: CA2146911C. Автор: Jon F. Soest. Владелец: USNR LLC. Дата публикации: 2006-08-29.

Barrier film material and pattern formation method using the same

Номер патента: EP1788440A2. Автор: Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-23.

Continuous cardiac output derived from arterial pressure waveform using pattern recognition

Номер патента: US5797395A. Автор: James F. Martin. Владелец: Eli Lilly and Co. Дата публикации: 1998-08-25.

Pattern recognition system utilizing self-replicating nodes

Номер патента: US20220035675A1. Автор: Enric GUINOVART. Владелец: Avatar Cognition Barcelona SL. Дата публикации: 2022-02-03.

System and Method for Use of Pattern Recognition in Assessing or Monitoring Vehicle Status or Operator Driving Behavior

Номер патента: US20210173891A1. Автор: Samuel Lavie,Gil Fuchs,Johann Van den Bergh,Friedl Jacobs. Владелец: SCOPE TECHNOLOGIES HOLDINGS Ltd. Дата публикации: 2021-06-10.

Apparatus and method for a vehicle recognizing an object using pattern recognition

Номер патента: US20240071032A1. Автор: Seung-Pyo Hong. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Pattern recognition proteins with lectin homology from several animal species and method to use them for measure or modulate innate resistance against bacteria and other pathogenic agents

Номер патента: WO1999066321A3. Автор: M Anthony Hayes,Wineeta Weebadda,Gordon J Hoover. Владелец: Gordon J Hoover. Дата публикации: 2000-06-29.

Structure for a quantum dot barrier rib and process for preparing the same

Номер патента: US20200371436A1. Автор: Seung-Keun Kim,Seung-Kyu Song,Kyung-Jae Park,Hyung-Tak Jeon,Kyu Cheol Lee. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials Korea Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Pattern recognition apparatus, pattern recognition method, and computer program product

Номер патента: US20180137410A1. Автор: Takashi Masuko. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-05-17.

Pattern recognition receptor expression as a measure of systemic health

Номер патента: EP2935616A1. Автор: Samer Al-Murrani,Dale S. Scherl. Владелец: Hills Pet Nutrition Inc. Дата публикации: 2015-10-28.

Pattern Recognition Receptor Expression As a Measure of Systemic Health

Номер патента: US20150329908A1. Автор: Samer Al-Murrani,Dale S. Scherl. Владелец: Hills Pet Nutrition Inc. Дата публикации: 2015-11-19.

Pattern Recognition Receptor Expression as a Measure of Systemic Health

Номер патента: US20210071254A1. Автор: Samer Al-Murrani,Dale S. Scherl. Владелец: Hills Pet Nutrition Inc. Дата публикации: 2021-03-11.

Pattern recognition receptor expression as a measure of systemic health

Номер патента: US11767561B2. Автор: Samer Al-Murrani,Dale S. Scherl. Владелец: Hills Pet Nutrition Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Plant Pattern Recognition Receptor And Chimeras Thereof For Use Against Bacterial Infections

Номер патента: US20170058292A1. Автор: Markus Albert,Georg Felix,Anna Kristina Jehle,Martin Lipschis. Владелец: EBERHARD KARLS UNIVERSITAET TUEBINGEN. Дата публикации: 2017-03-02.

A plant pattern recognition receptor and chimeras thereof for use against bacterial infections

Номер патента: WO2013186303A1. Автор: Markus Albert,Georg Felix,Anna Kristina Jehle,Martin Lipschis. Владелец: Eberhard Karls Universitat Tubingen. Дата публикации: 2013-12-19.

Inspection apparatus and method using pattern recognition

Номер патента: EP2454028A1. Автор: Gabriel Hamid,Charles Dean Mallah. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2012-05-23.

Ultrasonic pattern recognition assemblies, preparation methods thereof and display devices

Номер патента: US20220326793A1. Автор: Xiufeng Li,Yingming Liu,Yanling Han,Yaqian Ji,Peixiao LI,Yuzhen GUO,Yue Gou,Chenyang ZHANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-13.

Pattern recognition of serum proteins for the diagnosis or treatment of physiologic conditions

Номер патента: EP1711811A1. Автор: David B. Agus,Mark D. Kvamme. Владелец: Cedars Sinai Medical Center. Дата публикации: 2006-10-18.

Apparatus and method of detecting an input position with display pattern recognition

Номер патента: EP2579129A3. Автор: Jeong-seok Lee,Chul-Woo Lee,In-Kuk Yun,Po-Ra Kim,Chang-Su Kim,Se-Mi Park,Won-Dong Jang,Yeong-Jun Koh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-01-20.

Mutual-capacitance touch sensing pattern recognition device, fabricating method thereof, related display panel, and related display apparatus

Номер патента: US20170262683A1. Автор: Lei Wang,WEI Liu,Xue Dong,Xiaochuan Chen,Haisheng Wang,Yingming Liu,Changfeng LI,Shengji Yang,Weijie Zhao,Xiaoliang DING. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-14.

System and Method for Use of Pattern Recognition in Assessing or Monitoring Vehicle Status or Operator Driving Behavior

Номер патента: US20200125626A1. Автор: Samuel Lavie,Gil Fuchs,Johann Van den Bergh,Friedl Jacobs. Владелец: Scope Technologies Holdings Ltd Virgin Island. Дата публикации: 2020-04-23.

System and Method for Use of Pattern Recognition in Assessing or Monitoring Vehicle Status or Operator Driving Behavior

Номер патента: US20180089142A1. Автор: Samuel Lavie,Gil Fuchs,Johann Van den Bergh,Friedl Jacobs. Владелец: Scope Technologies Holdings Ltd Virgin Island. Дата публикации: 2018-03-29.

Method, system and apparatus for pattern recognition

Номер патента: EP3695347A1. Автор: Jiale CAO. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2020-08-19.

Patterning material and patterned film

Номер патента: US20230168583A1. Автор: Yu Zhang,Huihui Zhou,Zhixiong Zeng. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Ultrasonic pattern recognition assemblies, preparation methods thereof and display devices

Номер патента: US11762509B2. Автор: Xiufeng Li,Yingming Liu,Yanling Han,Yaqian Ji,Peixiao LI,Yuzhen GUO,Yue Gou,Chenyang ZHANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Model maintenance device, pattern recognition system, model maintenance method, and computer program product

Номер патента: US11526696B2. Автор: Ryohei Tanaka. Владелец: Toshiba Digital Solutions Corp. Дата публикации: 2022-12-13.

Model maintenance device, pattern recognition system, model maintenance method, and computer program product

Номер патента: US20190164014A1. Автор: Ryohei Tanaka. Владелец: Toshiba Digital Solutions Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Pattern recognition for face-authentication anti-spoofing

Номер патента: EP4281947A1. Автор: Patrick M. Amihood,Octavio Ponce Madrigal. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-11-29.

Pattern recognition for face-authentication anti-spoofing

Номер патента: WO2022245349A1. Автор: Patrick M. Amihood,Octavio Ponce Madrigal. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2022-11-24.

Pattern recognition using contextual correlation

Номер патента: WO1998055959A1. Автор: Dirk Ernest Maria Van Dyck. Владелец: Dirk Ernest Maria Van Dyck. Дата публикации: 1998-12-10.

Methods and apparatus for hand printing designs and patterns

Номер патента: US11993091B2. Автор: Darin A. Grassman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-05-28.

Microtransfer molding process and patterned substrate obtainable therefrom

Номер патента: US20200174363A1. Автор: David Grosso,Thomas BOTTEIN. Владелец: Aix Marseille Universite. Дата публикации: 2020-06-04.

System and method for use of pattern recognition in assessing or monitoring vehicle status or operator driving behavior

Номер патента: US12013916B2. Автор: Samuel Lavie,Gil Fuchs,Johann Van den Bergh,Friedl Jacobs. Владелец: SCOPE TECHNOLOGIES HOLDINGS Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

A method of syntactic pattern recognition of sequences

Номер патента: WO2006130947A8. Автор: John B Oommen,Ghada Badr. Владелец: 3618633 Canada Inc. Дата публикации: 2007-12-27.

Microtransfer molding process and patterned substrate obtainable therefrom

Номер патента: WO2019001934A1. Автор: David Grosso,Thomas BOTTEIN. Владелец: Université D'aix-Marseille. Дата публикации: 2019-01-03.

Electronic device manufacturing aqueous solution, method for manufacturing resist pattern and method for manufacturing device

Номер патента: WO2024141355A1. Автор: Kazuma Yamamoto,Hiroshi Yanagita,Maki Ishii. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and apparatus for setting semiconductor device manufacturing parameter

Номер патента: US20240094704A1. Автор: Choong Ki Kim,Rock Hyun Baek,Hyeok YUN,Hong Chul Byun. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2024-03-21.

Method for manufacturing stretchable electrochromic device, and stretchable electrochromic device manufactured thereby

Номер патента: US20240199823A1. Автор: Jin Woo Bae,Seung Ju Oh. Владелец: Industry University Cooperation Foundation of Korea University of Technology and Education. Дата публикации: 2024-06-20.

Printing Cone for Hand Printing Designs and Patterns

Номер патента: US20240217251A1. Автор: Darin A. Grassman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-04.

Exposure mask, method of designing and manufacturing the same, exposure method and apparatus, pattern forming method, and device manufacturing method

Номер патента: EP1642171A1. Автор: Takako Yamaguchi,Yasuhisa Inao. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2006-04-05.

Electronic device manufacturing aqueous solution, method for manufacturing resist pattern and method for manufacturing device

Номер патента: WO2024149777A1. Автор: Kazuma Yamamoto,Hiroshi Yanagita. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2024-07-18.

Mask correction method, mask correction device for double patterning and training method for layout machine learning model

Номер патента: US20220373877A1. Автор: Chung-Yi Chiu,Min-Cheng Yang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Semiconductor device manufacturing method, semiconductor device manufacturing equipment, and computer readable medium

Номер патента: US20090214964A1. Автор: Takashi Murakami. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-08-27.

Modulating gene expression in insects by using double-stranded rna (dsrna)

Номер патента: WO2002046432A3. Автор: Nikolas Gunkel. Владелец: Nikolas Gunkel. Дата публикации: 2002-10-17.

Process mapping for additive manufacturing using melt pool topological features

Номер патента: WO2024172874A2. Автор: David Saad Guirguis BADROUS,Jack BEUTH,Conrad TUCKER. Владелец: CARNEGIE MELLON UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-22.

Process mapping for additive manufacturing using melt pool topological features

Номер патента: WO2024172874A3. Автор: David Saad Guirguis BADROUS,Jack BEUTH,Conrad TUCKER. Владелец: CARNEGIE MELLON UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-09-26.

Mask correction method, mask correction device for double patterning and training method for layout machine learning model

Номер патента: US12147155B2. Автор: Chung-Yi Chiu,Min-Cheng Yang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Optical device using double-groove grating

Номер патента: US09500784B2. Автор: Hideo Iizuka,Nader Engheta. Владелец: University of Pennsylvania Penn. Дата публикации: 2016-11-22.

Optical identification and monitoring system using pattern recognition for use with vehicles

Номер патента: US5845000A. Автор: David S. Breed,Wendell C. Johnson,Wilbur E. DuVall. Владелец: Automotive Technologies International Inc. Дата публикации: 1998-12-01.

System and method for the detection of a circle image for pattern recognition

Номер патента: US6021222A. Автор: Hideaki Yamagata. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2000-02-01.

System, method and computer medium having computer program to determine presence of stress corrosion cracking in pipelines with pattern recognition

Номер патента: CA2828584C. Автор: Noel Duckworth. Владелец: Kinder Morgan Inc. Дата публикации: 2018-10-23.

Pattern recognition using multiple reference models

Номер патента: CA2304747C. Автор: Mark Pawlewski,Aladdin Mohammad Ariyaeeinia,Perasiriyan Sivakumaran. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 2007-08-14.

Method of determining an optimum threshold for obtaining binary image signal for use in a pattern recognition system

Номер патента: US4491962A. Автор: Seiji Kashioka,Hiroshi Sakou. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1985-01-01.

Pattern recognition system having electronically controllable aperture shape, scan shape, and scan position

Номер патента: US3593286A. Автор: Norman G Altman. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-07-13.

Pattern recognition system and method

Номер патента: CA1164551A. Автор: William I. Miller,Robert D. Reimiller. Владелец: MICRO AUTOMATION Inc. Дата публикации: 1984-03-27.

Pattern recognition system utilizing a plurality of partial standard patterns

Номер патента: US4014000A. Автор: Hirotada Ueda,Takeshi Uno,Sadahiro Ikeda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-03-22.

Digital information processing apparatus for pattern recognition

Номер патента: US3849762A. Автор: Y Fujimoto,T Hananoi,M Yasuda,M Ota,H Kokido,H Makihara,M Kuramizu,S Kadota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1974-11-19.

Machine for cleaning surfaces with closing device for device for collection of dirty liquid

Номер патента: RU2733363C1. Автор: Андреас МЮЛЛЕР,Марк МАЙЗЕНБАХЕР,Кристоф РУФЕНАХ,Матиас ФРИШ,Тобиас ПАЛЬМЕР. Владелец: Альфред Керхер Се Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2020-10-01.

Die casting process incorporating computerized pattern recognition techniques

Номер патента: US7958927B2. Автор: Yan Zhu,Arnie Fulton,Michael Bomar. Владелец: Pace Industries LLC. Дата публикации: 2011-06-14.

Road Surface Condition Identification Based on Statistical Pattern Recognition

Номер патента: US20100250086A1. Автор: Weiwen Deng,Qingrong Zhao. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2010-09-30.

Pattern recognition

Номер патента: US11442724B2. Автор: Jing Wu,Zhi Peng JIA,Xiang Yu Yang,Zhi CAO,De Shuo Kong,Rong Fu He. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-09-13.

Electronic article surveillance deactivator using visual pattern recognition system for triggering

Номер патента: CA2749128C. Автор: Stewart E. Hall. Владелец: Tyco Fire and Security GmbH. Дата публикации: 2017-07-04.

Pattern recognition systems

Номер патента: US4092631A. Автор: Chuji Suzuki,Yoshiki Nishioka,Syoichi Yasuda. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 1978-05-30.

Method and apparatus for automated pattern recognition

Номер патента: US5784485A. Автор: Chein-I Chang,Youguang Xu. Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-07-21.

Pattern recognition receptor agonist prodrugs and methods of use thereof

Номер патента: WO2019140001A1. Автор: John T. Wilson. Владелец: VANDERBILT UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-07-18.

Pattern-bearing sheet for use in simultaneous injection-molding and pattern-forming method

Номер патента: US5843555A. Автор: Kazuhisa Kobayashi,Hiroyuki Atake. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 1998-12-01.

Pattern recognition apparatus

Номер патента: US4672678A. Автор: Hiroyuki Tsukahara,Noriyuki Hiraoka,Masato Nakashima,Tetsuo Koezuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1987-06-09.

Systems and methods for magnetic guidance and patterning of cells and materials

Номер патента: WO2010036957A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Renata Pasqualini,Wadih Arap,Glauco R. Souza,Thomas Charles Killian,Robert M. Raphael. Владелец: William Marsh Rice University. Дата публикации: 2010-04-01.

Pattern recognition and learning apparatus

Номер патента: CA1261068A. Автор: Hiroshi Matsuura,Shoichi Hirai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1989-09-26.

Pattern recognition system

Номер патента: US3967241A. Автор: Ryuichi Kawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 1976-06-29.

Pattern recognition constraint network

Номер патента: US6122399A. Автор: Michael C. Moed. Владелец: NCR Corp. Дата публикации: 2000-09-19.

System and method for pattern recognition

Номер патента: CA1190977A. Автор: William Masaitis,Robert O. Canada. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1985-07-23.

A method and system for pattern recognition and processing

Номер патента: CA2315833C. Автор: Randell L. Mills. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-14.

Multispectral/spatial pattern recognition system

Номер патента: US4731859A. Автор: Marvin J. Holter,David Zuk,Vernon Larrowe,Robert J. Maxwell. Владелец: Environmental Research Institute of Michigan. Дата публикации: 1988-03-15.

Pattern recognition apparatus

Номер патента: CA1258710A. Автор: Hiroshi Shimizu,Masafumi Yano,Youko Yamaguchi,Ichiro Tsuda,Tokiko Okumura. Владелец: Research Development Corp of Japan. Дата публикации: 1989-08-22.

Sub-circuit pattern recognition in integrated circuit design

Номер патента: US20100131908A1. Автор: Sandeep Shylaja Krishnan. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-05-27.

Pattern recognition apparatus, method, and program

Номер патента: US20190347565A1. Автор: Takafumi Koshinaka,Qiongqiong Wang. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Dynamic pattern recognition in spreadsheets

Номер патента: WO2019103866A1. Автор: Nerya COHEN,Eyal GABER,Shani KABARITI. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2019-05-31.

Adaptive pattern recognition for psychosis risk modelling

Номер патента: US20160192889A1. Автор: Nikolaos KOUTSOULERIS,Eva MEISENZAHL-LECHNER. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-07-07.

Electromagnetic interference pattern recognition tomography

Номер патента: US11892491B2. Автор: Serguei Y. Semenov. Владелец: EMTensor GmbH. Дата публикации: 2024-02-06.

Robotic system for performing pattern recognition-based inspection of pharmaceutical containers

Номер патента: US20230398577A1. Автор: Thomas Clark PEARSON,Erwin Freund,Dmitry Fradkin,Neelima CHAVALI. Владелец: AMGEN INC. Дата публикации: 2023-12-14.

Adaptive pattern recognition for psychosis risk modelling

Номер патента: WO2015018517A8. Автор: Nikolaos KOUTSOULERIS,Eva MEISENZAHL-LECHNER. Владелец: MEISENZAHL-LECHNER Eva. Дата публикации: 2015-04-02.

Methods and systems for automatic document pattern recognition and analysis

Номер патента: EP4312178A1. Автор: Anh Hao Tran,Edilbert Neri ABILLAR,Daniel Mota Veiga,Hugo ARANHA,Joshua GIBERSON,Chee HONG,Brian Dunfee. Владелец: Highradius Corp. Дата публикации: 2024-01-31.

A digital back end, controlling and optimizing an analog front end to measure an array of nanomaterial-based gas sensors, supplying data to pattern recognition algorithms

Номер патента: EP3841376A1. Автор: Michael Frank,Albert Chen,Moazzem Hossain,Sundip R. DOSHI,Heng Chia SU,Herve LAMBERT,Pravin PILLAI,Alexey VARGANOV. Владелец: Aernos Inc. Дата публикации: 2021-06-30.

A digital back end, controlling and optimizing an analog front end to measure an array of nanomaterial-based gas sensors, supplying data to pattern recognition algorithms

Номер патента: WO2020041642A1. Автор: Michael Frank,Albert Chen,Moazzem Hossain,Sundip R. DOSHI,Heng Chia SU,Herve LAMBERT,Pravin PILLAI,Alexey VARGANOV. Владелец: AerNos, Inc.. Дата публикации: 2020-02-27.

A digital back end, controlling and optimizing an analog front end to measure an array of nanomaterial-based gas sensors, supplying data to pattern recognition algorithms

Номер патента: CA3110472A1. Автор: Michael Frank,Albert Chen,Moazzem Hossain,Sundip R. DOSHI,Heng Chia SU,Herve LAMBERT,Pravin PILLAI,Alexey VARGANOV. Владелец: Aernos Inc. Дата публикации: 2020-02-27.

A digital back end, controlling and optimizing an analog front end to measure an array of nanomaterial-based gas sensors, supplying data to pattern recognition algorithms

Номер патента: AU2019325607A1. Автор: Michael Frank,Albert Chen,Moazzem Hossain,Sundip R. DOSHI,Heng Chia SU,Herve LAMBERT,Pravin PILLAI,Alexey VARGANOV. Владелец: Aernos Inc. Дата публикации: 2021-04-15.

Digital back end, controlling and optimizing an analog front end to measure an array of nanomaterial-based gas sensors, supplying data to pattern recognition algorithms

Номер патента: US20200064290A1. Автор: Albert Chen,Sundip R. DOSHI,Pravin PILLAI. Владелец: Aernos Inc. Дата публикации: 2020-02-27.

Methods and apparatus for capturing, processing, training, and detecting patterns using pattern recognition classifiers

Номер патента: US20160026861A1. Автор: Kevin Michael Craft,William Bennett Cervin,Alexander Scott Leverington. Владелец: Tantrum Street LLC. Дата публикации: 2016-01-28.

Pattern recognition for proactive treatment of non-contiguous growing defects

Номер патента: US20210311814A1. Автор: K. Paul Muller,Uma Srinivasan,Kevin W. Kark,Pamela Antal. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-10-07.

Apparatus and method for displaying multiple display panels with a progressive relationship using cognitive pattern recognition

Номер патента: WO2013081923A2. Автор: Basker S. Krishnan,Hanoz J. Kateli,Bryan Heesch. Владелец: ImageScan, Inc.. Дата публикации: 2013-06-06.

Systems and methods providing pattern recognition and data analysis in welding and cutting

Номер патента: EP3696750A1. Автор: Joseph A. Daniel. Владелец: Lincoln Global Inc. Дата публикации: 2020-08-19.

Systems and methods for improved interface noise tolerance of myoelectric pattern recognition controllers using deep learning and data augmentation

Номер патента: US20220319689A1. Автор: Yuni TEH,Levi Hargrove. Владелец: Rehabilitation Institute of Chicago. Дата публикации: 2022-10-06.

Dynamic fault model generation for diagnostics simulation and pattern generation

Номер патента: US9852245B2. Автор: Gary W. Maier,Franco Motika,Mary P. Kusko,Phong T. Tran. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Root cause pattern recognition based model training

Номер патента: WO2022164549A1. Автор: Dong Yuan,Mo Zhou,Allison Mae Giddings. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2022-08-04.

Robotic system for performing pattern recognition-based inspection of pharmaceutical containers

Номер патента: EP3829980A1. Автор: Thomas Clark PEARSON,Erwin Freund,Dmitry Fradkin,Neelima CHAVALI. Владелец: AMGEN INC. Дата публикации: 2021-06-09.

Supervised reimaging of vulnerable computing devices with prioritization, auto healing, and pattern detection

Номер патента: WO2021096761A1. Автор: Mark R. GILBERT,Tanmoy Dasgupta,Muthukumaran ARUMUGAM,Tom W. TSENG,Lane A. SCHAFER. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2021-05-20.

Systems and methods for color and pattern analysis of images of wearable items

Номер патента: US10528814B1. Автор: Steven Sesshu SHIMOZAKI. Владелец: Caastle Inc. Дата публикации: 2020-01-07.

Methods and systems for automatic document pattern recognition and analysis

Номер патента: US20240037975A1. Автор: Mohit Bansal,Hashwanth Maripina,Harshita Srivastava,Aditya Ankur,Debanwesh BOSE. Владелец: Highradius Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Root cause pattern recognition based model training

Номер патента: EP4285272A1. Автор: Dong Yuan,Mo Zhou,Allison Mae Giddings. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2023-12-06.

Resist composition and patterning process

Номер патента: EP3088955A3. Автор: Kenji Yamada,Satoshi Watanabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-14.

Supervised reimaging of vulnerable computing devices with prioritization, auto healing, and pattern detection

Номер патента: EP4058918A1. Автор: Mark R. GILBERT,Tanmoy Dasgupta,Muthukumaran ARUMUGAM,Tom W. TSENG,Lane A. SCHAFER. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2022-09-21.

An embedded bayesian network for pattern recognition

Номер патента: WO2004034312A1. Автор: Ara Nefian. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2004-04-22.

Pattern recognition system for classifying the functional status of patients with pulmonary hypertension, including pulmonary arterial and pulmonary vascular hypertension

Номер патента: EP2480130A1. Автор: Stephen Anderson,Dean MacCarter. Владелец: Shape Medical Systems Inc. Дата публикации: 2012-08-01.

Sound-based roller fault detecting method by using double-projection neighborhoods preserving embedding

Номер патента: US20230348197A1. Автор: LIN Feng,Yingwei Zhang,Xin Sha. Владелец: NORTHEASTERN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-11-02.

Behavior pattern recognition method, system and computer application program thereof

Номер патента: US20120136890A1. Автор: Min-Siong LIANG,Yung-Chuan Wen. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2012-05-31.

Pattern recognition apparatus, method, and program

Номер патента: US11403545B2. Автор: Takafumi Koshinaka,Qiongqiong Wang. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-08-02.

Stitch and trim methods for double patterning compliant standard cell design

Номер патента: US20130339911A1. Автор: Chung-Hsing Wang,Huang-Yu Chen,Chin-Hsiung Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-12-19.

Image pattern recognition system and method

Номер патента: US9959485B2. Автор: Gerardus Johannes Burghouts. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2018-05-01.

Dynamic fault model generation for diagnostics simulation and pattern generation

Номер патента: US20170199946A1. Автор: Gary W. Maier,Franco Motika,Mary P. Kusko,Phong T. Tran. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-13.

Pattern recognition using active media

Номер патента: US8620843B2. Автор: Alexandre M. Bratkovski,Viatcheslav Osipov,Ekaterina V. Ponizovskaya Devine. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2013-12-31.

Method and device for pattern recognition in acoustic recordings

Номер патента: US20070044642A1. Автор: Rainer Schierle. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-01.

Gnss multipath mitigation via pattern recognition

Номер патента: US20190257953A1. Автор: Gary Lennen. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-08-22.

Predicting failures in electrical submersible pumps using pattern recognition

Номер патента: WO2019199433A1. Автор: Obiomalotaoso Leonard ISICHEI,Abdulmonam AL-MAGHLOUTH,Mohammad Fahad AL-QASIMI. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2019-10-17.

System and method for locating color and pattern match regions in a target image

Номер патента: EP1218851A2. Автор: Nicolas Vazquez,Dinesh Nair,Darren Schmidt,Siming Lin. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2002-07-03.

Masks for double patterning photolithography

Номер патента: US20140047398A1. Автор: Carlos R. Castro-Pareja,Allan Xiao Yu Gu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2014-02-13.

An embedded bayesian network for pattern recognition

Номер патента: EP1552467A1. Автор: Ara Nefian. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-07-13.

Pattern recognition system for classifying the functional status of patients with pulmonary hypertension, including pulmonary arterial and pulmonary vascular hypertension

Номер патента: WO2011046729A1. Автор: Stephen Anderson,Dean MacCarter. Владелец: Shape Medical Systems, Inc.. Дата публикации: 2011-04-21.

Incorporating dyslexia detection in handwriting pattern recognition

Номер патента: WO2003015014A1. Автор: Carmen Reitano. Владелец: Carmen Reitano. Дата публикации: 2003-02-20.

Method of designing an exposure mask, exposure method, pattern forming method and device manufacturing method

Номер патента: EP1642171B1. Автор: Takako Yamaguchi,Yasuhisa Inao. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-15.

Anti-vibration device manufacturing method

Номер патента: US20180178334A1. Автор: Kei Oyaizu. Владелец: Toyo Tire and Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Diffraction grating device manufacturing method, diffraction grating device manufacturing apparatus, and diffraction grating device

Номер патента: US20030165294A1. Автор: Akira Inoue,Kiyotaka Murashima,Ken Hashimoto,Toshikazu Shibata,Masakazu Shigehara,Masaki Ohmura. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2003-09-04.

Fender structure for an all terrain vehicle

Номер патента: US20020047257A1. Автор: Pierre Rondeau,Martin Aube,Martin Portelance. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-25.

System and method for harmonic modulation of standing wavefields for spatial focusing, manipulation and patterning

Номер патента: WO2016118533A8. Автор: Timothy E. Doyle,Blain JOHNSON,Brian C. PATCHETT,Natalie C. SULLIVAN. Владелец: Utah Valley University. Дата публикации: 2018-01-04.

Process for real time geological localization with stochastic clustering and pattern matching

Номер патента: US11401798B2. Автор: Neilkunal Panchal,Mingqi Wu,Sami Mohammed Khair SULTAN. Владелец: Shell USA Inc. Дата публикации: 2022-08-02.

Porous membrane patterning technique

Номер патента: EP3111278A1. Автор: Hongyi Zhou,Matthew Jeremiah Misner,Jason Michael Nichols. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-01-04.

Porous membrane patterning technique

Номер патента: WO2015128256A1. Автор: Hongyi Zhou,Matthew Jeremiah Misner,Jason Michael Nichols. Владелец: GE Healthcare UK Limited. Дата публикации: 2015-09-03.

The method the information is dynamically encoded, and a method of decoding the information, in particular using a combination with unique characteristics and patterns on the surface structure of the material

Номер патента: WO2024147032A1. Автор: Swapan CHAUDHURI,Andrzej Saja. Владелец: Deeplai Prosta Spółka Akcyjna. Дата публикации: 2024-07-11.

Contextual item discovery and pattern inculcated reminder mechanism

Номер патента: US20240304075A1. Автор: Shikhar KWATRA,Amitava Kundu,Pritesh Patel,Sujatha B. Perepa. Владелец: Kyndryl Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

System and method for creating dynamic, chord based, MIDI scale and pattern generator effects that fit over incoming chords from external sources

Номер патента: US12087260B1. Автор: Zachary Charles Kinter. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-10.

Curved display device manufacturing method

Номер патента: US12105368B2. Автор: Daehong Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Gutter debris preclusion device with multiple manipulations and patterns thereof

Номер патента: US09976309B2. Автор: Robert C. Lenney. Владелец: Gutterglove Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Fluid handling structure, a lithographic apparatus and a device manufacturing method

Номер патента: US09625829B2. Автор: David Bessems,Cornelius Maria Rops. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-04-18.

Fluid handling structure, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09625828B2. Автор: Michel Riepen,Takeshi Kaneko,Nicolaas Ten Kate,Nina Vladimirovna DZIOMKINA,Sandra Van Der Graaf,Rogier Hendrikus Magdalena Cortie,Fabrizio Evangelista,Erik Henricus Egidius Catharina EUMMELEN,David Bessems,Cornelius Maria Rops,Laurentius Johannes Adrianus Van Bokhoven,Adrianus Marinus Verdonck. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-04-18.

Fluid handling structure, a lithographic apparatus and a device manufacturing method

Номер патента: US09563132B2. Автор: Michel Riepen,Rogier Hendrikus Magdalena Cortie,Erik Henricus Egidius Catharina EUMMELEN,David Bessems,Cornelius Maria Rops,Adrianes Johannes Baeten. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-02-07.

Method of decomposing design layout for double patterning process

Номер патента: US09355204B2. Автор: Jeong-Hoon Lee,Sang-Wook Seo,Hye-Soo Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-05-31.

Sealing device for device for measurement of filling level in discharge reservoir of nuclear technical plant

Номер патента: RU2502964C2. Автор: Юйбо ЛЮ,Вилфрид ХАРФСТ,Заха КЕРХЕР,Вольфганг ФОГТ. Владелец: Арефа Гмбх. Дата публикации: 2013-12-27.

Mixing head for device for application of shotcrete and device for application of shotcrete, which contains such mixing nozzle, and method of application of shotcrete

Номер патента: RU2730720C1. Автор: Себастиан Бендер,Штефан Шеффлер,Бертрам Кесселхайм. Владелец: Рефратехник Холдинг Гмбх. Дата публикации: 2020-08-25.

Power supply for devices supported by aircraft engine rotor

Номер патента: RU2566590C2. Автор: Седрик ДЮВАЛЬ,ВЕРЖИФОСС Эрик ДЕ. Владелец: Испано-Сюиза. Дата публикации: 2015-10-27.

Crucible for device producing block of crystal substance and method for producing this substance

Номер патента: RU2344206C2. Автор: Роланд АЙНХАУС,Франсуа ЛИССАЛЬД,Паскаль РИВА. Владелец: Эфд Эндюксьон Са. Дата публикации: 2009-01-20.

Interface for device for automatic distribution of hygienic sheet paper

Номер патента: RU2665453C2. Автор: Роберт КЛИНГ,Хокан ТИМДАЛЬ,Бьерн ХЕНРИКССОН,Йохан РУБЕНСОН. Владелец: Ска Хайджин Продактс Аб. Дата публикации: 2018-08-29.

Package for device for oral care (versions)

Номер патента: RU2571249C1. Автор: Роберт МОСКОВИЧ,Марисела ЭРНАНДЕС,Пол Дональд КАРС,Мэттью Ли КОЛБ. Владелец: КОЛГЕЙТ-ПАЛМОЛИВ КОМПАНИ. Дата публикации: 2015-12-20.

Device and method for device coupling with signal device

Номер патента: RU2582442C2. Автор: Эндрю Марк ЛОНГ,Томас Майкл АЛЕС,Судханшу ГАКХАР,Дэвис-Дан Х. НХАН. Владелец: Кимберли-Кларк Ворлдвайд, Инк.. Дата публикации: 2016-04-27.

Method and system for device management and device control

Номер патента: RU2648564C1. Автор: Олег Викторович Муравьев,Константин Юрьевич Конохов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Новэлект". Дата публикации: 2018-03-26.

Piston for cartridge and piston rod for device for medication delivery

Номер патента: RU2552887C2. Автор: Михаэль ЮГЛЬ,Мартин ОТТЕН. Владелец: Санофи-Авентис Дойчланд Гмбх. Дата публикации: 2015-06-10.

Device to feed tapes of wiping materials designed for devices of such wiping materials dispensing

Номер патента: RU2419372C2. Автор: Морис ГРАНЖЕ. Владелец: Морис ГРАНЖЕ. Дата публикации: 2011-05-27.

Double-wire field device for industrial process providing maximisation of power available for device circuitry with minimum control loop current

Номер патента: RU2530352C2. Автор: Джон П. ШУЛЬТЕ. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2014-10-10.

Method of determining probe error for device based on induction or distribution with transverse or three-dimensional arrays

Номер патента: RU2401442C2. Автор: Томас Д. БАРБЕР,Ханминг ВАНГ. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Бв. Дата публикации: 2010-10-10.

Device for finding location of part inside body, measuring-warning device and measuring and representing module for device and method of generating signal on pressure in point of body

Номер патента: RU2297188C2. Автор: Тимотеус Йоан Мари ЛЕХНЕР,Тимотеус Йоан Мария ЛЕХНЕР. Владелец: МААС Андрианус Якобус Йоханнес. Дата публикации: 2007-04-20.

Method of cast-iron manufacture using oxygen and hydrogen-rich gas, and equipment for its implementation

Номер патента: RU2535103C2. Автор: Юаньхун ЦИ,Цинтао ВАН,Динлю ЯНЬ,Пэйминь ГО. Владелец: Шаньдун Коукин Груп Ко., Лтд.. Дата публикации: 2014-12-10.

Method for device of assembly-monolithic end crossbar and device for implementation thereof

Номер патента: RU2718889C1. Автор: Ксения Андреевна Зайкова,Никита Игоревич Фомин,Константин Викторович Бернгардт,Мария Алексеевна Протасова,Андрей Валерьевич Воробьев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина". Дата публикации: 2020-04-15.

Optical scanning apparatus for the acquisition and digitization of the peripheral shapes of eyeglass frames, lenses and pattern cams

Номер патента: CA1211845A. Автор: Dieter W. Blum,Andrew S. Duncan. Владелец: Individual. Дата публикации: 1986-09-23.

Double patterning method for fine patterning

Номер патента: KR20110008495A. Автор: 심연아. Владелец: 주식회사 동부하이텍. Дата публикации: 2011-01-27.

Static timing analysis method and system considering capacitive coupling and double patterning mask misalignment

Номер патента: US20140068537A1. Автор: Yi-Kan Cheng,Wen-Hao Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-03-06.

Static timing analysis method and system considering capacitive coupling and double patterning mask misalignment

Номер патента: US20140013292A1. Автор: Yi-Kan Cheng,Wen-Hao Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-01-09.

Managing engine firing patterns and patterns transitions during skip fire engine operation

Номер патента: WO2014151019A1. Автор: Mark A. Shost. Владелец: TULA TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2014-09-25.

System and method for behavioral pattern recognition

Номер патента: CA3095362A1. Автор: Kostya Belezko,Brechann MCGOEY. Владелец: ROYAL BANK OF CANADA. Дата публикации: 2021-04-03.

System and Method for Device Tracking in Magnetic Resonance Imaging Guided Inerventions

Номер патента: US20240206907A1. Автор: Holden H. Wu,Xinzhou LI,David S. Lu. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2024-06-27.

Methods and arrangements for devices to share a common address on a bus

Номер патента: WO2008005900A2. Автор: Robert A. Dunstan. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2008-01-10.

Facilitating power conservation for devices based on likelihood of power usage level

Номер патента: US12093112B2. Автор: Stephen Thomas Hardin,Brian Greaves,Erie Lai Har Lau,Robert Osterwise. Владелец: At&tmobility Ii LLC. Дата публикации: 2024-09-17.

Alignment-tolerant lens structures for acoustic force actuation of cantilevers

Номер патента: US7467542B2. Автор: Scott A. Elrod. Владелец: Palo Alto Research Center Inc. Дата публикации: 2008-12-23.

Maintenance prediction for devices of a fire system

Номер патента: US12131624B2. Автор: Mahadevan Somasundram Balakrishnan,Sundararaman Venkateswaran,Vijaya Kumar Karukuri,Nagaraj Rajappan,James Llewellyn van Brampton,Gaddigesh Nagappa Admani. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-10-29.

Method and apparatus for device activity mapping with device placement

Номер патента: US09696953B1. Автор: Kevin DODD. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Preparation of lactone polymers using double metal cyanide catalysts

Номер патента: US5032671A. Автор: Stephen D. Harper. Владелец: Arco Chemical Technology LP. Дата публикации: 1991-07-16.

Patient-supporting unit for device for supporting patient to be x-rayed during operation

Номер патента: RU2667869C2. Автор: Ульрих ВИСЛУХА,Штефан ПЕТЕР,Йохен КАЙЗЕР,Зигфрид ХУНД. Владелец: Маквет Гмбх. Дата публикации: 2018-09-24.

Sensor input device, vehicle comprising sensor input device, and method of sensor input device manufacturing

Номер патента: RU2732953C2. Автор: Ги Деок КВОН,Дзонг Бок ЛИ. Владелец: Хендэ Мотор Компани. Дата публикации: 2020-09-25.

Facing package for device used in household, in catering or retail trade

Номер патента: RU2553249C2. Автор: Харальд ПИНДЛЬ,Айке ШЕФЕР,Райнер ФОГТ,Педер МАДСЕН,Кеннет ТЕНДЕР. Владелец: Рэд Булл Гмбх. Дата публикации: 2015-06-10.

Magnetization device for devices for nondestructive inspection of long items

Номер патента: RU2702809C1. Автор: Анатолий Аркадиевич Марков,Андрей Геннадиевич Антипов. Владелец: Открытое акционерное общество "Радиоавионика". Дата публикации: 2019-10-11.

Dust catchers for device of mechanical processing

Номер патента: RU2455130C2. Автор: Тосиюки КАНИ,Кендзи АБЕ. Владелец: Макита Корпорейшн. Дата публикации: 2012-07-10.

Brewing device for portion capsule extraction, brewing device operation mode, brewing device manufacture method and brewing device application

Номер патента: RU2557491C2. Автор: Даниель ФИШЕР,Кристоф ЗЕГЕР,Марсель В. ХЮППИ. Владелец: Ойгстер/Фрисмаг Аг Электрохаусхальтгерете. Дата публикации: 2015-07-20.

Door structure for a thermal demand printer

Номер патента: US5790162A. Автор: Vincent C. Adams,Michael K. Platt,David L. Poole. Владелец: Zebra Technologies Corp. Дата публикации: 1998-08-04.

Device for shifting type machine, control gear drive for device and use of control gear drive

Номер патента: RU2730811C2. Автор: Хилберг И. КАРОЛИУССЕН. Владелец: Отешос Ас. Дата публикации: 2020-08-26.

Structure and method for simultaneously determining an overlay accuracy and pattern placement error

Номер патента: GB2446314A. Автор: Bernd Schulz. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2008-08-06.

Methods and compositions for high throughput sample preparation using double unique dual indexing

Номер патента: AU2020315955A1. Автор: Keith Brown. Владелец: iGenomx International Genomics Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Method and apparatus for determining mask layouts for a spacer-is-dielectric self-aligned double-patterning process

Номер патента: US20120137261A1. Автор: Kevin D. Lucas,Yonchan Ban. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2012-05-31.

Contextual item discovery and pattern inculcated reminder mechanism

Номер патента: US20230306837A1. Автор: Shikhar KWATRA,Amitava Kundu,Pritesh Patel,Sujatha B. Perepa. Владелец: Kyndryl Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Hierarchical trim management for self-aligned double patterning

Номер патента: US20190179994A1. Автор: David Wolpert,Laura R. Darden. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

System and methods for streaming string similarity and pattern matching

Номер патента: US20230401246A1. Автор: Anup Rao,Tung Mai,Ryan A. Rossi. Владелец: Adobe Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Method and system for double patterning technology (DPT) odd loop visualization for an integrated circuit layout

Номер патента: US9026958B1. Автор: Henry Yu,Sanjib Ghosh,Harindranath Parameswaran. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2015-05-05.

Accessing data storage provided using double-stranded nucleic acid molecules

Номер патента: US11854668B2. Автор: Matthew James Hayes,Raquel Maria SANCHES-KUIPER. Владелец: Evonetix Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Accessing data storage provided using double-stranded nucleic acid molecules

Номер патента: WO2020021221A1. Автор: Matthew James Hayes,Raquel Maria SANCHES-KUIPER. Владелец: Evonetix Ltd. Дата публикации: 2020-01-30.

Lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby

Номер патента: US20050035307A1. Автор: Martinus Verhagen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2005-02-17.

Process for real time geological localization with stochastic clustering and pattern matching

Номер патента: US20210293133A1. Автор: Neilkunal Panchal,Mingqi Wu,Sami Mohammed Khair SULTAN. Владелец: Shell Oil Co. Дата публикации: 2021-09-23.

Optical device using double-groove grating

Номер патента: US20120038987A1. Автор: Hideo Iizuka,Nader Engheta. Владелец: University of Pennsylvania Penn. Дата публикации: 2012-02-16.

Accessing data storage provided using double-stranded nucleic acid molecules

Номер патента: EP3827435A1. Автор: Matthew James Hayes,Raquel Maria SANCHES-KUIPER. Владелец: Evonetix Ltd. Дата публикации: 2021-06-02.

Accessing data storage provided using double-stranded nucleic acid molecules

Номер патента: CA3105954A1. Автор: Matthew James Hayes,Raquel Maria SANCHES-KUIPER. Владелец: Evonetix Ltd. Дата публикации: 2020-01-30.

Process for real time geological localization with stochastic clustering and pattern matching

Номер патента: WO2020028305A1. Автор: Neilkunal Panchal,Mingqi Wu,Sami Mohammed Khair SULTAN. Владелец: Shell Internationale Research Maatschappij B.V.. Дата публикации: 2020-02-06.

Contextual item discovery and pattern inculcated reminder mechanism

Номер патента: US12014617B2. Автор: Shikhar KWATRA,Amitava Kundu,Pritesh Patel,Sujatha B. Perepa. Владелец: Kyndryl Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

System and method for manufacturing a product having an aesthetic, durable, cost effective and weather resistant coating in wider dimensions and capable of installation in different orientations

Номер патента: US20240183171A1. Автор: Hamid MORADI,Matthew ESMAEILI. Владелец: Synergy Prime LLC. Дата публикации: 2024-06-06.

Fluid handling structure, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: SG172638A1. Автор: Koen Steffens,Daniel Jozef Maria Direcks,Danny Maria Hubertus Philips,Den Dungen Clemens Johannes Gerardus Van,Putten Arnold Jan Van. Владелец: Asml Netherlands B V Nl. Дата публикации: 2011-07-28.

Near-field exposure method and apparatus, near-field exposure mask, and device manufacturing method

Номер патента: WO2005015311A2. Автор: Natsuhiko Mizutani. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2005-02-17.

Liquid Crystal Device Manufacturing Method and Liquid Crystal Device

Номер патента: US20200257147A1. Автор: Naoki Mitsui. Владелец: JVCKenwood Corp. Дата публикации: 2020-08-13.

A method for device localization using magnetic resonance imaging

Номер патента: US20180292475A1. Автор: Sascha Krueger. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2018-10-11.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, and, resist film, pattern forming method, electronic device manufacturing method, and electronic device, each using the composition

Номер патента: US20140287363A1. Автор: Kaoru Iwato,Akinori Shibuya. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-09-25.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US7914958B2. Автор: Hirofumi Inoue,Ryoichi Inanami,Shinji Mikami. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-29.

Data storage device and method for device-initiated hibernation

Номер патента: US12045508B2. Автор: Judah Gamliel Hahn,Ariel Navon,Shay Benisty. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2024-07-23.

Anti-condensation control system for devices driven by compressed air

Номер патента: WO2004049085A3. Автор: William A Cline,Michael R Bonner. Владелец: Michael R Bonner. Дата публикации: 2004-12-09.

Systems and methods for device configuration using a configuration normalization platform

Номер патента: US20240289125A1. Автор: Feng Yue,Yi Zhao,Haipeng Li,Peter J. Kaufman,Shayak Lahiri,Daniel S. Dudugjian,Matthew Wayman REYNOLDS,Adrian F. Teran,Marius C. NICULESCU,Sanghamitra MUKHERJEE,Riki JUNE. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2024-08-29.

Natural oral cleanser composition, method of manufacturing natural oral cleanser using the same, and oral cleanser product manufactured using the same

Номер патента: WO2020022557A1. Автор: Seung Hyeon Noh,Hyeonjun OH,In Su Eun. Владелец: Onon Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-01-30.

Download service for device drivers

Номер патента: CA2633688A1. Автор: Esaias E. Greeff. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-08-09.

Anomaly detection in additive manufacturing using meltpool monitoring, and related devices and systems

Номер патента: US20240227019A9. Автор: Aaron Avagliano,Gunaranjan Chaudhry,Jayesh Rameshlal JAIN,Chad Yates,Thomas Dobrowolski. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for generating a control scheme and device manufacturing method

Номер патента: US12085913B2. Автор: Marc Hauptmann,Amir Bin ISMAIL,Rizvi RAHMAN,Jiapeng Li. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-10.

Systems and methods for device configuration using a configuration normalization platform

Номер патента: WO2024177872A1. Автор: Feng Yue,Yi Zhao,Haipeng Li,Peter J. Kaufman,Shayak Lahiri,Daniel S. Dudugjian,Matthew Wayman REYNOLDS,Adrian F. Teran,Marius C. NICULESCU,Sanghamitra MUKHERJEE,Riki JUNE. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2024-08-29.

Refill for devices for evaporating volatile substances

Номер патента: EP3565610A1. Автор: Cedric GOBBER,Jordi Maso Sabate,Moisés Caballero Tapia. Владелец: ZOBELE HOLDING SPA. Дата публикации: 2019-11-13.

Refill for devices for evaporating volatile substances

Номер патента: WO2018127402A1. Автор: Cedric GOBBER,Jordi Maso Sabate,Moisés Caballero Tapia. Владелец: Zobele Holding S.P.A.. Дата публикации: 2018-07-12.

Method and system for managing power consumption for devices

Номер патента: US20240353913A1. Автор: Parminder Singh Sethi,Lakshmi Saroja Nalam. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-10-24.

System and method for providing active refraction feedback for devices with variable index of refraction

Номер патента: US09971174B2. Автор: Gerald P. Uyeno,Sean D. Keller. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2018-05-15.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09939740B2. Автор: Jeroen Gerard Gosen,Koen Cuypers,Günes NAKIBOGLU,Laurentius Johannes Adrianus Van Bokhoven,Frank Johannes Jacobus Van Boxtel,Martijn Van Baren. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-04-10.

DETECTION DEVICE, MOVABLE BODY APPARATUS, PATTERN FORMATION APPARATUS AND PATTERN FORMATION METHOD, EXPOSURE APPARATUS AND EXPOSURE METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120086927A1. Автор: . Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2012-04-12.

Substrate and Patterning Device for Use in Metrology, Metrology Method and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20130059240A1. Автор: SMILDE Hendrik Jan Hidde,WARNAAR Patrick,KUBIS Michael,BHATTACHARYYA Kaustuve,Van Der Schaar Maurits. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2013-03-07.

Test Structure for Controlling the Incorporation of Semiconductor Alloys in Transistors Comprising High-K Metal Gate Electrode Structures

Номер патента: US20120001174A1. Автор: Kronholz Stephan,Wiatr Maciej,Giedigkeit Rainer. Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Precise and accurate critical dimension measurement by modeling local charging distortion

Номер патента: WO2024231002A1. Автор: Lingling Pu,Mosong Cheng,Kangsheng QIU,Hongquan ZUO. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-11-14.

GRAPHENE PROCESSING FOR DEVICE AND SENSOR APPLICATIONS

Номер патента: US20120003438A1. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE COMPOSITION

Номер патента: US20120003583A1. Автор: TSUBAKI Hideaki,Tsuchimura Tomotaka,TAKAHASHI Toshiya. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003590A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTORESIST AND PATTERNING PROCESS

Номер патента: US20120003582A1. Автор: Wang Chien-Wei,Huang Chun-Ching. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND STRUCTURE FOR NASAL DILATOR

Номер патента: US20120004683A1. Автор: Gray David,Litman Mark A.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of pattern recognition in digital image

Номер патента: RU2536677C2. Автор: Дмитрий Петрович Зегжда,Юрий Олегович Босов,Дмитрий Андреевич Москвин. Владелец: ООО "НеоБИТ". Дата публикации: 2014-12-27.

Pattern recognition method and system

Номер патента: WO1995027954B1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1995-11-02.

Method of thrashing grain crops using double-drum threshing-separating device and device to this end

Номер патента: RU2351115C1. Автор: Марат Исаакович Липовский,Александр Николаевич Перекопский,Михаил Михайлович Кузовников. Владелец: Государственное научное учреждение "Северо-Западный научно-исследовательский институт механизации и электрификации сельского хозяйства" (ГНУ СЗНИИМЭСХ Россельхозакадемии). Дата публикации: 2009-04-10.

Smart automated system and method for personality-based job matching using pattern recognition

Номер патента: MY190227A. Автор: Syakiera Mohammad Idrus Saidatul,Mardhiah Mazpar Anisah,Yon Haniza. Владелец: MIMOS BERHAD. Дата публикации: 2022-04-06.

INK FOR ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE, ORGANIC DISPLAY PANEL, ORGANIC DISPLAY APPARATUS, ORGANIC ELECTROLUMINESCENT APPARATUS, INK , FORMING METHOD OF FUNCTIONAL LAYER, AND ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE

Номер патента: US20120001124A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE MANUFACTURING METHOD, SOLID-STATE IMAGING DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20120001290A1. Автор: Sawada Ken. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120001304A1. Автор: . Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURE METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001344A1. Автор: IDANI Naoki,TAKESAKO Satoshi. Владелец: FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

模式辨別受體(pattern recognition receptor)促效劑的共軛物

Номер патента: TWI856997B. Автор: 尼可拉 畢謝,山謬 韋斯布羅德,托拜斯 佛吉特,肯尼特 斯普羅多,馬騰 楊 揚,托爾本 萊斯曼,賽巴斯蒂安 史塔克. Владелец: 丹麥商阿仙帝斯製藥公司. Дата публикации: 2024-10-01.

Method of forming wax pan for raising female bee and pattern for implementation of this method

Номер патента: RU2359450C2. Автор: Анатолий Николаевич Верещагин. Владелец: ФГОУ Пермский институт переподготовки и повышения квалификации кадров АПК. Дата публикации: 2009-06-27.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2734094C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Наталья Васильевна Черкесова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ). Дата публикации: 2020-10-12.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: RU2303316C1. Автор: Александр Васильевич Градобоев,Павел Владимирович Рубанов,Александр Васильевич Ащеулов,Валерий Семенович Матвеев. Владелец: Томский политехнический университет - государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования. Дата публикации: 2007-07-20.

Semiconductor device manufacturing process

Номер патента: RU2280915C1. Автор: Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев,Адиль Мухадинович Кумахов. Владелец: Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова. Дата публикации: 2006-07-27.

Semiconductor device manufacturing process

Номер патента: RU2256980C1. Автор: А.Г. Мустафаев,А.М. Кумахов. Владелец: Кабардино-Балкарский государственный университет. Дата публикации: 2005-07-20.

Semiconductor device manufacturing process

Номер патента: RU2303314C1. Автор: Александр Васильевич Градобоев,Павел Владимирович Рубанов,Александр Васильевич Ащеулов. Владелец: Томский политехнический университет. Дата публикации: 2007-07-20.

Device for identifying aerial targets using double-frequency technique

Номер патента: RU2407033C1. Автор: Олег Владимирович Васильченко,Василий Анатольевич Юдин,Лев Александрович Бондарев,Дмитрий Вячеславович Панов,Сергей Анатольевич Караваев. Владелец: Федеральное Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования Военная Академия Войсковой Противовоздушной Обороны Вооруженных Сил Российской Федерации. Дата публикации: 2010-12-20.

Pattern recognition apparatus and method for making same

Номер патента: CA1195779A. Автор: Kenichi Maeda,Tsuneo Nitta. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1985-10-22.

METHODS AND APPARATUSES FOR DEVICE COMMUNICATIONS

Номер патента: US20120002571A1. Автор: Saal Nathaniel Mark,Lovy Daniel,Arfin David M.,Lovy Elliot,Sesek Edward M.,Schwarzenbach Steven J.,Godin Seth. Владелец: CISCO TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for device evacuation and filling it with gas

Номер патента: RU2195041C1. Автор: А.С. Семенов,Г.В. Конюшков,А.Я. Зоркин. Владелец: Государственное научно-производственное предприятие "Контакт". Дата публикации: 2002-12-20.

Device for continuous pipe manufacturing from composite fiber material, and method of device manufacturing

Номер патента: RU2334617C2. Автор: Анатолий Цезаревич Рапопорт,Юрий Михайлович Сысков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Завод базальтовых труб". Дата публикации: 2008-09-27.

Method to protect information processing system against side electromagnet radiation, device to realise method and noise signal generator for device realisation

Номер патента: RU2421917C1. Автор: Юрий Пантелеевич Лепеха,Вячеслав Михайлович Дёмин,Леонид Анатольевич Поярков. Владелец: Леонид Анатольевич Поярков. Дата публикации: 2011-06-20.

Device for heat transfer increase and method for this device manufacturing

Номер патента: RU2447386C2. Автор: Рональд Скотт БАНКЕР,Уэйн Чарльз ХАСЦ. Владелец: Дженерал Электрик Компани. Дата публикации: 2012-04-10.

Method for power transformation, device for its functioning and method of device manufacturing

Номер патента: RU2504037C2. Автор: Геннадий Леонидович Багич. Владелец: Геннадий Леонидович Багич. Дата публикации: 2014-01-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.