Testing an integrated circuit device with multiple testing protocols
Номер патента: US20130218507A1
Опубликовано: 22-08-2013
Автор(ы): Tom Waayers
Принадлежит: NXP BV
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 22-08-2013
Автор(ы): Tom Waayers
Принадлежит: NXP BV
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for testing an integrated circuit
Номер патента: US20130076383A1. Автор: Thomas Wieja,Thomas Braun,Helmut Randoll,Stefan Doehren,Steffen Wirth,Peter Poinstingl,Ralf Kraemer,Christoph Knaupp. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-03-28.