Electrical component testing in stacked semiconductor arrangement
Номер патента: US09502315B2
Опубликовано: 22-11-2016
Автор(ы): Hao-chieh Chan, Shao-Yu Li
Принадлежит: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 22-11-2016
Автор(ы): Hao-chieh Chan, Shao-Yu Li
Принадлежит: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Plunger for holding and moving electrical components in particular ic's
Номер патента: MY147975A. Автор: Schaule Max,Bauer Alexander,Pichl Franz,Jeserer Guenther,Thiel Stefan,Wiesboeck Andreas. Владелец: Multitest Elektronische Syst. Дата публикации: 2013-02-28.