Semiconductor memory test apparatus and method of testing a semiconductor memory
Номер патента: KR100864633B1
Опубликовано: 22-10-2008
Автор(ы): 이종수, 장민석
Принадлежит: 주식회사 엑시콘
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 22-10-2008
Автор(ы): 이종수, 장민석
Принадлежит: 주식회사 엑시콘
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Test apparatus, test method, and manufacturing method of a device
Номер патента: TW200907385A. Автор: Nobusuke Seki. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-02-16.