Positive-working photoresist composition

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Photoresist composition

Номер патента: US5846688A. Автор: Nobuhito Fukui,Yuji Ueda,Shigeki Yamamoto,Takehiro Kusumoto,Naoki Takeyama,Yuko Yako. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1998-12-08.

Positive-working photoresist composition

Номер патента: US6225476B1. Автор: Hiroshi Komano,Kazufumi Sato,Hideo Hada. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2001-05-01.

Positive-working photoresist composition

Номер патента: EP0749044A2. Автор: Kazufumi Sato,Toshimasa Nakayama,Kazuyuki Nitta,Akiyoshi Yamazaki,Yoshika Sakai. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1996-12-18.

Positive-working photoresist composition

Номер патента: TW449674B. Автор: Kazufumi Sato,Toshimasa Nakayama,Kazuyuki Nitta,Akiyoshi Yamazaki,Yoshika Sakai. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-11.

Positive-working chemical-amplification photoresist composition

Номер патента: US20020028407A1. Автор: Kazufumi Sato,Katsumi Oomori,Hiroto Yukawa,Ryusuke Uchida. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-07.

Photoresist compositions

Номер патента: US20030180657A1. Автор: James Cameron,James Thackeray,Gary Teng. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2003-09-25.

Novel polymers and photoresist compositions for short wavelength imaging

Номер патента: US20020051938A1. Автор: Peter Trefonas,Gary Taylor,Charles Szmanda. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2002-05-02.

Polymers and photoresist compositions for short wavelength imaging

Номер патента: WO2002021211A3. Автор: Charles R Szmanda,Peter Trefonas,Gary N Taylor. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2002-06-20.

Polymer for photoresist, photoresist composition containing the same, and preparation method thereof

Номер патента: MY118218A. Автор: Sang-jun Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-09-30.

Photoresist compositions particularly suitable for short wavelength imaging

Номер патента: US20030157428A1. Автор: Gary N. Taylor,Peter Trefonas. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2003-08-21.

Photoresist composition for deep uv radiation

Номер патента: WO2001042853A3. Автор: Munirathna Padmanaban,Ralph R Dammel. Владелец: Clariant Int Ltd. Дата публикации: 2002-05-02.

Photoresist compositions comprising acetals and ketals as solvents

Номер патента: WO2003085455A3. Автор: Joseph E Oberlander,Douglas McKenzie,Stanley F Wanat,Robert R Plass. Владелец: Clariant Int Ltd. Дата публикации: 2004-05-21.

Nanocomposite photoresist composition for imaging thick films

Номер патента: WO2006109185A2. Автор: Mark Neisser,Ping-Hung Lu,Chunwei Chen,Hong Zhuang. Владелец: AZ ELECTRONIC MATERIALS USA CORP.. Дата публикации: 2006-10-19.

Nanocomposite photoresist composition for imaging thick films

Номер патента: WO2006109185A3. Автор: Mark Neisser,Ping-Hung Lu,Chunwei Chen,Hong Zhuang. Владелец: Az Electronic Materials Usa. Дата публикации: 2007-04-12.

Polymers for photoresist compositions for microlithography

Номер патента: US6951705B2. Автор: PERIYASAMY Mookkan,Michael Fryd,Frank Leonard Schadt, III. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2005-10-04.

Nanocomposite photoresist composition for imaging thick films

Номер патента: MY140476A. Автор: LU Ping-Hung,CHEN Chunwei,ZHUANG Hong,Mark Neisser. Владелец: Az Electronic Materials Usa. Дата публикации: 2009-12-31.

Chemical-sensitization photoresist composition

Номер патента: US5902713A. Автор: Hiroshi Komano,Hiroyuki Yamazaki,Hideo Hada,Yoshiki Sugeta,Kiyoshi Ishikawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1999-05-11.

Photoresist polymer and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20050026070A1. Автор: Sang Lee,Jae Kim,Jung Kim,Geun Lee,Ki Shin,Cheol Bok,Seung Moon,Jae Kang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-02-03.

Photoresist composition

Номер патента: WO2002077709A3. Автор: Charles R Szmanda. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2003-02-27.

Polymers blends and their use in photoresist compositions for microlithography

Номер патента: WO2002044811A3. Автор: Larry L Berger,Frank L Schadt Iii. Владелец: Frank L Schadt Iii. Дата публикации: 2004-09-23.

Negative-acting chemically amplified photoresist composition

Номер патента: EP1297386A1. Автор: Ping-Hung Lu,Ralph R. Dammel,Pingyong Xu. Владелец: Clariant Finance BVI Ltd. Дата публикации: 2003-04-02.

Positive working photoresist compositions

Номер патента: KR100710604B1. Автор: 야코유코,다케야마나오키. Владелец: 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤. Дата публикации: 2007-04-24.

Positive-working photoresist composition

Номер патента: KR19990078344A. Автор: 아오아이토시아키,후지모리토루,탄시로. Владелец: 무네유키 가코우. Дата публикации: 1999-10-25.

Positive working photoresist composition

Номер патента: US6506535B1. Автор: Kazuyoshi Mizutani,Kunihiko Kodama,Kenichiro Sato. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2003-01-14.

T-butyl cinnamate polymers and their use in photoresist compositions

Номер патента: TW548517B. Автор: Sanjay Malik,Lawrence Ferreira,Jeffrey Eisele,Whewell Allyn. Владелец: Arch Spec Chem Inc. Дата публикации: 2003-08-21.

Photoresist composition for imaging thick films

Номер патента: TW200712763A. Автор: Medhat A Toukhy,Ping-Hung Lu,Salem K Mullen. Владелец: Az Electronic Materials Usa. Дата публикации: 2007-04-01.

Photosensitive polymer, dissolution inhibitor and chemically amplified photoresist composition containing the same

Номер патента: MY120363A. Автор: Sang-jun Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-10-31.

Photosensitive polymer for chemically amplified photoresist and chemically amplified photoresist composition having thereof

Номер патента: KR100301053B1. Автор: 최상준. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2001-09-22.

3-component chemical amplification photoresist composition

Номер патента: KR0164963B1. Автор: 박주현,김성주,김기대,서동철. Владелец: 김흥기. Дата публикации: 1999-01-15.

photoresist compositions

Номер патента: KR100320773B1. Автор: 박재근,이상균,노창호,문봉석,문성윤. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2002-01-17.

Process for resist pattern formation using positive electrodeposition photoresist compositions

Номер патента: US5702872A. Автор: Naozumi Iwasawa,Genji Imai,Tsuguo Yamaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 1997-12-30.

Photoresist composition comprising a copolymer having a di-t-butyl fumarate

Номер патента: US5346803A. Автор: James V. Crivello,Sang-Yeon Shim. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1994-09-13.

Photoresist composition

Номер патента: US6861199B2. Автор: Geun Su Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-03-01.

Positive photoresist composition

Номер патента: US6004721A. Автор: Toru Fujimori,Shiro Tan,Toshiaki Aoai. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1999-12-21.

Polymers blends and their use in photoresist compositions for microlithography

Номер патента: TW565744B. Автор: Larry L Berger,Frank L Schadt Iii. Владелец: Du Pont. Дата публикации: 2003-12-11.

Photoresist compositions comprising acetals and ketals as solvents

Номер патента: TW200405127A. Автор: Joseph E Oberlander,Douglas McKenzie,Stanley F Wanat,Robert R Plass. Владелец: Clariant Int Ltd. Дата публикации: 2004-04-01.

Photoresist compositions comprising acetals and ketals as solvents

Номер патента: TWI318330B. Автор: MCKENZIE Douglas,ZHUANG Hong,F Wanat Stanley,E Oberlander Joseph,R Plass Robert. Владелец: Clariant Int Ltd. Дата публикации: 2009-12-11.

Positive photoresist composition with a polymer including a fluorosulfonamide group and process for its use

Номер патента: TW200530757A. Автор: Wen-Jie Li,Pushkara Rao Varanas. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2005-09-16.

Positive photoresist composition with a polymer including a fluorosulfonamide group and process for its use

Номер патента: TWI342984B. Автор: Wenjie Li,Pushkara Rao Varanas. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2011-06-01.

Polymers and photoresist compositions

Номер патента: US09983477B2. Автор: James W. Thackeray,Roger A. Nassar. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2018-05-29.

Photoresist compositions for short wavelength imaging

Номер патента: WO2002077710A3. Автор: Anthony Zampini,Charles R Szmanda,Gerhard Pohlers,James F Cameron,Gary N Taylor. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2003-02-20.

Chemical-sensitization photoresist composition

Номер патента: EP0780729A1. Автор: Hiroshi Komano,Hiroyuki Yamazaki,Hideo Hada,Yoshiki Sugeta,Kiyoshi Ishikawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1997-06-25.

Photoresist compositions

Номер патента: US5876899A. Автор: Charles R. Szmanda,Gary N. Taylor,Robert L. Brainard,Manuel DoCanto. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 1999-03-02.

Photoresist compositions comprising blends of ionic and non-ionic photoacid generators

Номер патента: US6280911B1. Автор: Peter Trefonas, III. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2001-08-28.

Photoresist compositions and use of same

Номер патента: KR100891941B1. Автор: 아담스티모시쥐.. Владелец: 롬 앤드 하스 일렉트로닉 머트어리얼즈, 엘.엘.씨. Дата публикации: 2009-04-08.

Water soluble positive-working photoresist composition

Номер патента: EP1117714A1. Автор: Iain Mcculloch,Hyun-Nam Yoon,Anthony J. East,Ming Kang,Richard Keosian. Владелец: CLARIANT INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2001-07-25.

Positive-working photoresist composition

Номер патента: US20020110750A1. Автор: Kazufumi Sato,Taku Nakao,Kazuyuki Nitta,Satoshi Maemori. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-15.

Water soluble positive-working photoresist composition

Номер патента: MY118957A. Автор: Iain Mcculloch,Hyun-Nam Yoon,Ming Kang,Anthony J East,Richard Keosian. Владелец: Az Electronic Materials Japan. Дата публикации: 2005-02-28.

Polymer mixture for a photoresist composition

Номер патента: GB2336591A. Автор: Sang-jun Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1999-10-27.

Alkylsulfonium salts and photoresist compositions containing the same

Номер патента: US5635332A. Автор: Shigeyuki Iwasa,Etsuo Hasegawa,Katsumi Maeda,Kaichiro Nakano. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1997-06-03.

Photosensitive compound and photoresist composition including the same

Номер патента: US20090081587A1. Автор: Jae-Woo Lee,Jae-Hyun Kim,Min-Ja Yoo,Young-Bae Lim,Jun-Gyeong Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-26.

Photoresist polymer and photoresist composition including the same

Номер патента: US20230194987A1. Автор: Hyunwoo Kim,Juhyeon Park,Hyunji SONG,Sumin KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Photoresist composition for EUV and method for forming photoresist pattern using the same

Номер патента: TWI245326B. Автор: Jae-Chang Jung. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-12-11.

Photoresist composition with androstane and process for its use

Номер патента: US5580694A. Автор: Robert D. Allen,Richard A. Dipietro,Gregory M. Wallraff. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1996-12-03.

Photoresist compositions

Номер патента: US20120214099A1. Автор: Ranee Wai-Ling Kwong,Pushkara R. Varanasi,Kuang-Jung Chen,Sen Liu,Wu-Song Huang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-08-23.

Photoresist composition

Номер патента: TWI294552B. Автор: Namba Katsuhiko. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 2008-03-11.

Photoresist composition

Номер патента: KR100620672B1. Автор: 이근수. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2006-09-13.

Crosslinked positive-working photoresist composition

Номер патента: EP1182506A1. Автор: Yohei Kinoshita,Tomotaka Yamada,Katsumi Oomori,Toshikazu Takayama. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2002-02-27.

Positive-working photoresist composition, pattern produced therefrom, and method for producing pattern

Номер патента: US11531268B2. Автор: Min Young Lim,Ji Hye Kim,Tae Seob LEE. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2022-12-20.

A composition for positive working photoresist

Номер патента: KR100299689B1. Автор: 박홍식,주진호,김기수,강성철,이유경,나윤정. Владелец: 한의섭. Дата публикации: 2001-09-13.

A composition for positive working photoresist

Номер патента: KR100299688B1. Автор: 박홍식,주진호,김기수,강성철,이유경,나윤정. Владелец: 한의섭. Дата публикации: 2001-09-13.

I-line photoresist compositions

Номер патента: US5910394A. Автор: James G. Shelnut. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 1999-06-08.

Eyeline type photoresist composition

Номер патента: JPH11133608A. Автор: ジェームズ・ジー・シェルナット,G Shelnatt James. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 1999-05-21.

Photoresist composition and use thereof

Номер патента: US20240280901A1. Автор: Dongxu Yang,XIAN Peng,Ping Gao,Xiangang Luo,Zeyu ZHAO,Changtao WANG,Kaixin SU. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2024-08-22.

Polymers and photoresist compositions comprising electronegative groups

Номер патента: WO2002021216A9. Автор: Anthony Zampini,Charles R Szmanda,Sungseo Cho,Gary N Taylor. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2003-04-03.

Photoacid generators in photoresist compositions for microlithography

Номер патента: WO2002039186A3. Автор: Viacheslav Alexandrovic Petrov,Iii Frank L Schadt. Владелец: Iii Frank L Schadt. Дата публикации: 2002-11-21.

Photoacid generators in photoresist compositions for microlithography

Номер патента: EP1332406A2. Автор: Viacheslav Alexandrovich Petrov,Iii Frank L. Schadt. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2003-08-06.

Photoresist composition

Номер патента: US09507259B2. Автор: Mingqi Li,Shintaro Yamada,Cong Liu,Cheng-Bai Xu,Emad Aqad,Ching-Lung Chen,Joseph Mattia. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2016-11-29.

Polymers for photoresist compositions for microlithography

Номер патента: WO2001086352A2. Автор: Michael Fryd,Frank Leonard Schadt, III,Mookkan Periyasamy. Владелец: E.I. Du Pont De Nemours and Company. Дата публикации: 2001-11-15.

Chemical-sensitization photoresist composition

Номер патента: US5908730A. Автор: Kazufumi Sato,Toshimasa Nakayama,Kazuyuki Nitta,Akiyoshi Yamazaki,Yoshika Sakai. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1999-06-01.

Chemically amplified photoresist composition and method for forming pattern

Номер патента: US20100203446A1. Автор: Koji Ichikawa,Masako Sugihara,Yusuke Fuji. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-08-12.

Photoresist composition

Номер патента: GB2314846A. Автор: Jae Chang Jung,Cha Won Koh. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-14.

Photoresist compositions

Номер патента: US6037107A. Автор: James W. Thackeray,Roger F. Sinta,James F. Cameron. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2000-03-14.

Negative tone developer compatible photoresist composition and methods of use

Номер патента: US09921478B2. Автор: Anton J. deVilliers. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Photoresist composition and photoresist film using the same

Номер патента: US20200033727A1. Автор: Min Young Lim,Yongsik AHN,Yongmi KIM. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2020-01-30.

Photoresist composition for deep ultraviolet lithography

Номер патента: US20070172762A1. Автор: Ralph Dammel,Raj Sakamuri,Francis Houlihan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-26.

Photoacid generator and photoresist composition including the same

Номер патента: US20230130998A1. Автор: Hyunwoo Kim,Yechan KIM,Jicheol PARK,Honggu IM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-27.

Novel polymers and photoresist compositions for short short wavelength imaging

Номер патента: US20020055061A1. Автор: Shintaro Yamada,Gary Taylor,Robert Brainard. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2002-05-09.

Photoresist composition and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US09740102B2. Автор: Koji Ichikawa,Shingo Fujita,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Photoresist composition, compound and process of producing photoresist pattern

Номер патента: US09563123B2. Автор: Koji Ichikawa,Shingo Fujita,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Photoresist composition, resist pattern-forming method, acid diffusion control agent, and compound

Номер патента: US09557641B2. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Positive photoresist composition and resist pattern formation

Номер патента: WO2005029184A2. Автор: Toshiki Okui,Yasuo Masuda. Владелец: TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD.. Дата публикации: 2005-03-31.

Photoresist composition

Номер патента: WO2002077712A3. Автор: Charles R Szmanda,Gary N Taylor. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2002-12-19.

Photoresist composition and process of producing photoresist pattern

Номер патента: US10168616B2. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-01.

Positive photoresist composition

Номер патента: US20020064727A1. Автор: Kenichiro Sato. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2002-05-30.

Multilayer elements containing photoresist compositions and their use in microlithography

Номер патента: WO2002044815A3. Автор: Larry L Berger,Frank L Schadt Iii. Владелец: Frank L Schadt Iii. Дата публикации: 2003-08-14.

193 NM wavelength positive-working photoresist composition

Номер патента: CN1305608A. Автор: I·麦克洛克,A·J·伊斯特,M·坎格,R·克斯安,H-N·尤恩. Владелец: CLARIANT INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2001-07-25.

193 nm positive-working photoresist composition

Номер патента: EP1090331A1. Автор: Iain Mcculloch,Hyun-Nam Yoon,Anthony J. East,Ming Kang,Richard Keosian. Владелец: CLARIANT INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2001-04-11.

Photoresist composition

Номер патента: US09726975B2. Автор: Xuelan WANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Chemically-amplified-type negative-type photoresist composition

Номер патента: US20190137871A1. Автор: Seung Hyun Lee,Su Jin Lee,Seung Hun Lee,Young Cheol Choi. Владелец: Youngchang Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Photoresist composition and method of manufacturing black matrix using the same

Номер патента: US09746767B2. Автор: Hyun-seok Kim,Jae Hyuk Chang,Ki Beom Lee,Hi Kuk Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Stabilized photoresist composition

Номер патента: US3776736A. Автор: E Davidson. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1973-12-04.

Negative photoresist composition

Номер патента: CA2100392A1. Автор: Yuko Nakano,Hiromi Ueki,Yuji Ueda,Takehiro Kusumoto,Naoki Takeyama. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 1994-02-21.

Photoresist composition comprising acrylate-based compounds

Номер патента: KR101356869B1. Автор: 이건우,곽상규,이창순,김혜현. Владелец: 주식회사 엘지화학. Дата публикации: 2014-01-28.

Photoresist composition having a high heat resistance

Номер патента: US20040253541A1. Автор: Jin-Ho Ju,Dong-Ki Lee,Sung-Chul Kang,You-Kyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-12-16.

Photoresist composition having a high heat resistance

Номер патента: US7144662B2. Автор: Jin-Ho Ju,Dong-Ki Lee,Sung-Chul Kang,You-Kyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-12-05.

Photoresist composition having a high heat resistance

Номер патента: WO2003034151A1. Автор: Jin-Ho Ju,Dong-Ki Lee,Sung-Chul Kang,You-Kyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2003-04-24.

Photoresist composition and method for forming a metal pattern

Номер патента: US20140183162A1. Автор: Hoon Kang,Jae-Sung Kim,Ki-hyun Cho,Dong-Min Kim,Eun Jeagal,Seung-Ki Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-03.

Photoresist composition for the formation of thick films

Номер патента: WO2004083962A3. Автор: Stephen Meyer,Ralph R Dammel,Mark A Spak. Владелец: Clariant Int Ltd. Дата публикации: 2004-12-02.

Low surface energy photoresist composition and process

Номер патента: US09746776B2. Автор: Hjalti Skulason,Raia Finc,Ines Wyrsta,Smita Dayal,Steven Donald Dascomb. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2017-08-29.

Photoresist composition

Номер патента: US20240255845A1. Автор: Tsunehiro Nishi,Jiyoung Park,Wonjoon SON,Seungyeol Baek,Chawon KOH. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Diazo-resin, photoresist composition and method of preparing same

Номер патента: US20160334704A1. Автор: Jianguo Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-17.

Polymerizable oligomer and photoresist composition comprising the same

Номер патента: US20160137758A1. Автор: LIN Li,Wenwen SUN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-19.

Salt compound, and quencher and photoresist composition comprising same

Номер патента: EP4450486A1. Автор: Jeong Sik Kim,Jaehyun Kim,Hyung Kun Lee,Myoung Hyun HUR,Min Ja Yoo. Владелец: Dongjin Semichem Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Photoresist composition and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US09575408B2. Автор: Koji Ichikawa,Mitsuyoshi OCHIAI. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Polymerizable oligomer and photoresist composition comprising the same

Номер патента: US09512242B2. Автор: LIN Li,Wenwen SUN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Photoresist composition, compound, and production method thereof

Номер патента: US09477149B2. Автор: Norihiko Ikeda,Hayato Namai,Takanori Kawakami. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Positive working photoresist composition

Номер патента: US5554481A. Автор: Yasumasa Kawabe,Toshiaki Aoai,Kenichiro Satoh. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1996-09-10.

Negative-working photoresist compositions for laser ablation and use thereof

Номер патента: SG10201908369VA. Автор: Weihong Liu,Chunwei Chen,PingHung Lu. Владелец: Az Electronic Mat Luxembourg Sarl. Дата публикации: 2019-10-30.

Photoresist compositions and pattern formation methods

Номер патента: US11940730B2. Автор: Mingqi Li,Mitsuru Haga. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2024-03-26.

Photoresist composition for multi-micro nozzle head coater

Номер патента: US20040144753A1. Автор: Jin-Ho Ju,Dong-Ki Lee,Sung-Chul Kang,Hyo-Youl Kim,You-Kyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-07-29.

Rubber photoresist composite and a method for producing a circuit board using thereof

Номер патента: US5783359A. Автор: Yasuhiro Yoneda,Masahiko Sugimura,Shigeru Tomisawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1998-07-21.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US11934101B2. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Photoresist compositions

Номер патента: US20210380612A1. Автор: Tsunehiro Nishi,Seung Han,Kunwoo BAEK,Jaehyun Kim,Moonil Jung,Mijeong Song,Chawon KOH. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20230393464A1. Автор: Ching-Yu Chang,Li-Po YANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20230384670A1. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Photoresist composition and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20170199456A1. Автор: Jin Park,Hyun Woo Kim,Jin Kyu Han. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-13.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US11971659B2. Автор: Ching-Yu Chang,Chin-Hsiang Lin,Chun-Chih Ho. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Photoresist composition

Номер патента: US20130316287A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-11-28.

Compound and photoresist composition containing the same

Номер патента: US8475999B2. Автор: Mitsuhiro Hata,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2013-07-02.

Photoresist composition and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US20160195809A1. Автор: Koji Ichikawa,Mitsuyoshi OCHIAI. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-07.

Photoresist composition

Номер патента: US20200218153A1. Автор: Tae Seob LEE,Hyun Min PARK,Minyoung Lim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2020-07-09.

Photoresist composition and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US20220197139A1. Автор: Ji Eun Kim,Jae Hee SIM,Chung Hyeon BAN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2022-06-23.

Polymer dye and method for preparing the same, photoresist composition and display device

Номер патента: US09581903B2. Автор: Wei Deng,Xiaoxiong TIAN,Zhuo Zhang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Method of forming plated product using negative photoresist composition

Номер патента: EP1761823B1. Автор: Koji Saito,Yasushi Washio,Yasuo Masuda. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-21.

Photoresist compositions and method of preparing the same

Номер патента: US9657123B2. Автор: JI Li,Yungjui LEE. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Semiconductor photoresist composition and method of forming patterns using the composition

Номер патента: US20240134273A1. Автор: Young Keun Kim,Dong Wan RYU,Kyungsoo MOON. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Salt and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20100304294A1. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA,Masako Sugihara. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-02.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20230324796A1. Автор: Ching-Yu Chang,Wei-Han Lai,Li-Po YANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Photoresist composition

Номер патента: WO2008096263A3. Автор: Munirathna Padmanaban,Srinivasan Chakrapani. Владелец: Az Electronic Materials Usa. Дата публикации: 2008-11-20.

Photoresist composition

Номер патента: WO2008096263A2. Автор: Munirathna Padmanaban,Srinivasan Chakrapani. Владелец: AZ ELECTRONIC MATERIALS USA CORP.. Дата публикации: 2008-08-14.

Photoresist composition

Номер патента: EP2111567A2. Автор: Munirathna Padmanaban,Srinivasan Chakrapani. Владелец: AZ Electronic Materials USA Corp. Дата публикации: 2009-10-28.

Positive type photoresist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: TW200407672A. Автор: Kazuhiko Nakayama,Kosuke Doi,Toshisato Tate. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-16.

Positive photoresist composition for far-ultraviolet light exposure

Номер патента: TW594408B. Автор: Kunihiko Kodama,Kenichiro Sato,Toshiaki Aoso,Yutaka Adegawa. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-06-21.

Photoresist compositions and patterning method

Номер патента: TW581938B. Автор: Satoshi Watanabe,Kenji Koizumi,Tatsushi Kaneko,Yoshitaka Yanagi. Владелец: Shinetsu Chemical Co. Дата публикации: 2004-04-01.

Chemically amplified photoresist composition and process for its use

Номер патента: GB201119373D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-12-21.

Chemically amplified photoresist composition and process for its use

Номер патента: TW201113297A. Автор: Robert D Allen,Richard A Dipietro,Hoa D Truong,Phillip J BROCK. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2011-04-16.

Solvents and photoresist compositions for 193 nm imaging

Номер патента: US20040029036A1. Автор: Robert Kavanagh,James Thackeray. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2004-02-12.

Chemically amplifying positive photoresist composition

Номер патента: TW200804983A. Автор: Kouji Toishi,Kazuhiko Hashimoto,Masumi Suetsugu. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 2008-01-16.

Photoacid generators in photoresist compositions for microlithography

Номер патента: TW581935B. Автор: Viacheslav Alexandrovic Petrov,Frank L Schadt Iii. Владелец: Du Pont. Дата публикации: 2004-04-01.

PHOTORESIST COMPOSITION FOR LINE DOUBLING

Номер патента: US20200012188A1. Автор: Vora Ankit,BENCHER Christopher Dennis. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-09.

PHOTORESIST COMPOSITION FOR THICK FILM AND METHOD OF FORMING THICK FILM PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20210018836A1. Автор: JO Eun-Sol,OHNO Yoshiaki,YU Dae-cheol. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

POSITIVE PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PATTERNED POLYIMIDE LAYER

Номер патента: US20200089114A1. Автор: CHANG TING-WEI,Chung Ming-Che. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

Novel polymers and photoresist compositions

Номер патента: EP0829766A2. Автор: Kumar Uday. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 1998-03-18.

Photoresist Composition for Top-surface Imaging Process by Silylation

Номер патента: KR100596873B1. Автор: 이근수,백기호,고차원. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2006-07-04.

Photoresist Polymer and Photoresist Composition Containing It

Номер патента: KR100557617B1. Автор: 김명수,손민석. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2006-03-10.

Positive photoresist composition

Номер патента: KR100642026B1. Автор: 모리오기미따까,가또데쯔야. Владелец: 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2006-11-02.

Positive photoresist composition

Номер патента: KR102012830B1. Автор: 김성현,이은상. Владелец: 동우 화인켐 주식회사. Дата публикации: 2019-11-05.

Aqueous developer solution having hydroxy-alkyl piperidine for positive-working photoresists

Номер патента: USRE35217E. Автор: Reinhold Schwalm,Horst Binder. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 1996-04-23.

Aqueous developer solution for positive-working photoresists

Номер патента: CA1335338C. Автор: Reinhold Schwalm,Horst Binder. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 1995-04-25.

Photoresist compositions comprising solvents for short wavelength imaging

Номер патента: WO2002084401A3. Автор: Anthony Zampini,Charles R Szmanda. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2003-05-15.

Photoresist compositions comprising solvents for short wavelength imaging

Номер патента: EP1377879A2. Автор: Charles R. Szmanda,Anthony Zampini. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2004-01-07.

Photoresist compositions comprising solvents for short wavelength imaging

Номер патента: WO2002084401A9. Автор: Anthony Zampini,Charles R Szmanda. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2004-02-19.

Positive photoresist composition and process for formation of photoresist pattern using the same

Номер патента: TW201028795A. Автор: Yasuo Masuda,Kaoru Ishikawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2010-08-01.

Solvents and photoresist compositions for short wavelength imaging

Номер патента: TWI308256B. Автор: ZAMPINI Anthony,R Szmanda Charles. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2009-04-01.

Positive-type photoresist composition

Номер патента: TW495645B. Автор: Toru Fujimori,Sjorp Tan. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2002-07-21.

Base soluble polymers for photoresist compositions

Номер патента: EP2004725A1. Автор: David Abdallah,Francis Houlihan. Владелец: AZ Electronic Materials USA Corp. Дата публикации: 2008-12-24.

Base soluble polymers for photoresist compositions

Номер патента: WO2007105082A1. Автор: David Abdallah,Francis Houlihan. Владелец: AZ ELECTRONIC MATERIALS USA CORP.. Дата публикации: 2007-09-20.

Photoresist composition for deep UV and process thereof

Номер патента: TW200916954A. Автор: Guanyang Lin,Munirathna Padmanaban,Srinivasan Chakrapani. Владелец: Az Electronic Materials Usa. Дата публикации: 2009-04-16.

Salt and photoresist composition comprising the same

Номер патента: US09612533B2. Автор: Satoshi Yamamoto,Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Process for preparing stable photoresist compositions

Номер патента: US20110082255A1. Автор: William Richard Russell,John Anthony Schultz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-07.

Photoresist composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20130280657A1. Автор: Norihiko Ikeda,Kazuki Kasahara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-10-24.

Photoresist composition, resist pattern-forming method, acid diffusion control agent, and compound

Номер патента: US20150004544A1. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-01-01.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND PATTERN FORMATION METHODS

Номер патента: US20220019143A1. Автор: Thackeray James W.,Cameron James F.,Lee Choong-Bong,Aqad Emad,YANG Ke,Wenning Brandon. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-20.

Negative Tone Developer Compatible Photoresist Composition and Methods of Use

Номер патента: US20160011516A1. Автор: Anton J. deVilliers. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-01-14.

Patterning Process and Chemical Amplified Photoresist Composition

Номер патента: US20140134538A1. Автор: Ching-Yu Chang,Chien-Wei Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-05-15.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20200218153A1. Автор: PARK Hyun Min,LEE Tae Seob,LIM Minyoung. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2020-07-09.

PHOTORESIST COMPOSITION, COMPOUND, AND PRODUCTION METHOD THEREOF

Номер патента: US20160370700A1. Автор: NAMAI Hayato,KAWAKAMI Takanori,IKEDA Norihiko. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2016-12-22.

Photoresist composition and process for producing photoresist pattern

Номер патента: US20180373149A1. Автор: Koji Ichikawa,Katsuhiro Komuro,Shingo Fujita. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Sulfonamide-containing photoresist compositions and methods of use

Номер патента: US9223209B2. Автор: Daniel Paul Sanders,Masaki Fujiwara,Yoshiharu Terui. Владелец: Central Glass Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-29.

Photoimageable electrodepositable photoresist composition for producing non-tacky films

Номер патента: US5268256A. Автор: Jonathan D. Goetz,II Charles F. Kahle. Владелец: PPG Industries Inc. Дата публикации: 1993-12-07.

Chemical amplified photoresist composition

Номер патента: US6316159B1. Автор: Yen-Cheng Li,Shang-Wern Chang,Shang-Ho Lin. Владелец: Everlight USA Inc. Дата публикации: 2001-11-13.

Photoresist compositions

Номер патента: US7122291B2. Автор: Guanyang Lin,Takanori Kudo,M. Dalil Rahman,Munirathna Padmanaban,Chi-Sun Hong. Владелец: AZ Electronic Materials USA Corp. Дата публикации: 2006-10-17.

Dissolution rate modifiers for photoresist compositions

Номер патента: WO2004074933A3. Автор: Larry F Rhodes,Brian L Goodall,Larry Seger,Lester H Mcintosh Iii,Robert J Duff. Владелец: Robert J Duff. Дата публикации: 2006-11-09.

Polymer for photoresist and photoresist composition including the same

Номер патента: KR101158024B1. Автор: 이재우,김재현,이정열. Владелец: 주식회사 동진쎄미켐. Дата публикации: 2012-06-26.

Photoresist Copolymer and Photoresist Composition Containing It

Номер патента: KR100636937B1. Автор: 정재창. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2006-10-19.

Salt and photoresist composition comprising the same

Номер патента: KR101809023B1. Автор: 고지 이치카와,이사오 요시다. Владелец: 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤. Дата публикации: 2017-12-14.

Photoresist composition

Номер патента: KR101841000B1. Автор: 고지 이치카와,미쓰히로 하타,다카히로 야스에. Владелец: 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤. Дата публикации: 2018-03-22.

Negative tone developer compatible photoresist compositions and methods of use

Номер патента: CN106662816B. Автор: 安东·J·德维利耶. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-10-23.

Polycarbomethylsilane derivatives and Photoresist Composition containing the same

Номер патента: KR100521809B1. Автор: 이진이,윤효진,김진백,권영길,송기용. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2005-10-14.

Norbornene polymer for photoresist and photoresist composition comprising same

Номер патента: KR101050619B1. Автор: 김도윤,이재준,정명섭. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2011-07-19.

Photoresist composition and method of exposing photoresist

Номер патента: KR100218768B1. Автор: 요이찌 오쓰까. Владелец: 이데이 노부유끼. Дата публикации: 1999-09-01.

Chemical-amplification positive-working photoresist composition

Номер патента: TWI308259B. Автор: Kazuyuki Nitta,Naoto Motoike. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2009-04-01.

POSITIVE-WORKING PHOTORESIST COMPOSITION, PATTERN PRODUCED THEREFROM, AND METHOD FOR PRODUCING PATTERN

Номер патента: US20210011379A1. Автор: KIM Ji Hye,LIM Min Young,LEE Tae Seob. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2021-01-14.

Positive-working photoresist composition

Номер патента: KR950007568B1. Автор: 카즈야 우에니시,야스마사 카와베,타다요시 코꾸보. Владелец: 후지샤싱필름 가부시끼가이샤. Дата публикации: 1995-07-12.

Chemical-amplification positive-working photoresist composition

Номер патента: TW200416488A. Автор: Kazuyuki Nitta,Naoto Motoike. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2004-09-01.

NEGATIVE PHOTORESIST COMPOSITION FOR KRF LASER, HAVING HIGH RESOLUTION AND HIGH ASPECT RATIO

Номер патента: US20190101827A1. Автор: LEE Seung Hyun,LEE Su Jin,Lee Seung Hun,Choi Young Cheol. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-04.

NEGATIVE PHOTORESIST COMPOSITION FOR KRF LASER FOR FORMING SEMICONDUCTOR PATTERNS

Номер патента: US20180203351A1. Автор: LEE Seung Hyun,LEE Su Jin,Lee Seung Hun,Choi Young Cheol,YOON Sang Woong. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-19.

Photoresist composition

Номер патента: US8703385B2. Автор: Zai-Ming Qiu,Douglas C. Fall. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2014-04-22.

Negative photoresist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP3228193B2. Автор: 勝美 前田,嘉一郎 中野,悦雄 長谷川,繁之 岩佐. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-11-12.

Photoresist compositions and processess of use

Номер патента: KR101175945B1. Автор: 나오 혼다,윌리암 웨버,사토시 모리. Владелец: 마이크로켐 코포레이션. Дата публикации: 2012-08-23.

Photoresist composition and method for preparing color-filtering sheet substrate using same

Номер патента: CN101101443A. Автор: 金炳住,权世雅,许澈,金镇奭. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-01-09.

Positive-working photoresist composition for thick film formation

Номер патента: US09436084B2. Автор: Toshiki Okui,Koichi Misumi. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Polymers useful in photoresist compositions and compositions thereof

Номер патента: TW200837085A. Автор: Munirathna Padmanaban,Srinivasan Chakrapani,Ralph R Dammel. Владелец: Az Electronic Materials Usa. Дата публикации: 2008-09-16.

Photoresist composition

Номер патента: US3690890A. Автор: Akio Iwaki,Hiroyoshi Yamaguchi,Hirosi Tokura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 1972-09-12.

Photoresist composition

Номер патента: EP1251399A2. Автор: Robert K. Barr,Randall W. Kautz,Stephen H. Wheeler. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2002-10-23.

Cross-linked polyalkenyl phenol based photoresist compositions

Номер патента: CA1218553A. Автор: Stephen E. Greco,Dennis C. Green. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1987-03-03.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20140023971A1. Автор: MASUYAMA Tatsuro,YAMAGUCHI Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-23.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20140030654A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro,YAMAGUCHI Satoshi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2014-01-30.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND PATTERN FORMATION METHODS

Номер патента: US20220137506A1. Автор: Thackeray James W.,Cameron James F.,Marangoni Tomas,Aqad Emad,Lee ChoongBong,Hou Xisen. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-05.

PHOTORESIST COMPOSITION, METHOD FOR PREPARING THE SAME, AND PATTERNING METHOD

Номер патента: US20210096463A1. Автор: Zhang Teng,LU Kejun,PARK Daeyoun,HU Fanhua. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-01.

Negative-type photoresist composition for thick film and use thereof

Номер патента: US20150118617A1. Автор: Yi Jing CHEN,Nai Tien CHOU,Hsin Yi HUANG. Владелец: Everlight Chemical Industrial Corp. Дата публикации: 2015-04-30.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHOD OF PREPARING THE SAME

Номер патента: US20160122456A1. Автор: Li Ji,Lee Yungjui. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-05.

Chemically-amplified-type negative-type photoresist composition

Номер патента: US20190137871A1. Автор: Seung Hyun Lee,Su Jin Lee,Seung Hun Lee,Young Cheol Choi. Владелец: Youngchang Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

METAL OXIDE NANOPARTICLES AND PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20150234272A1. Автор: Sarma Chandrasekhar,Chakrabarty Souvik,Giannelis Emmanuel P.,Ober Christopher K.. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

I-LINE NEGATIVE TYPE PHOTORESIST COMPOSITION HAVING EXCELLENT ETCHING RESISTANCE

Номер патента: US20180246404A1. Автор: LEE Seung Hyun,Lee Seung Hun,Choi Young Cheol,YOON Sang Woong. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-30.

Methods for Small Trench Patterning Using Chemical Amplified Photoresist Compositions

Номер патента: US20150331324A1. Автор: Liu Chia-Chu,Chang Ya Hui. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-19.

Patterning Methods and Methods of Making a Photoresist Composition Using a Photoresist Additive

Номер патента: US20150370164A1. Автор: Chen Chien-Chih. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20150370165A1. Автор: Wang Xuelan. Владелец: BOE Technology Group Co., Ltd.. Дата публикации: 2015-12-24.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20220365427A1. Автор: Chang Ching-Yu,ZI An-Ren. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-17.

Photoresist composition and its cured product

Номер патента: JP6852234B2. Автор: 柴田 大介,大介 柴田,瀟竹 韋,康昭 荒井,佐藤 和也,和也 佐藤. Владелец: Taiyo Ink Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-31.

Water and acid developable photoresist composition exhibiting improved adhesion

Номер патента: US5591562A. Автор: Nobuo Komatsu,Naozumi Iwasawa,Ikuyo Kai,Satoru Furusawa,Nami Konishi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1997-01-07.

Negative photoresist compositions and processes for preparing thermally stable, negative images using them

Номер патента: EP0232972A2. Автор: Wayne Edmund Feely. Владелец: Rohm and Haas Co. Дата публикации: 1987-08-19.

Negative-type photoresist composition for thick film and use thereof

Номер патента: US9170491B2. Автор: Yi Jing CHEN,Nai Tien CHOU,Hsin Yi HUANG,Yen-Cheng Li. Владелец: Everlight Chemical Industrial Corp. Дата публикации: 2015-10-27.

I-line negative-working photoresist composition for improving etching resistance

Номер патента: KR101598826B1. Автор: 이승훈,이승현,최영철,윤상웅. Владелец: 영창케미칼 주식회사. Дата публикации: 2016-03-03.

Negative photoresist composition for I-line with excellent etching resistance

Номер патента: CN107924124B. Автор: 李昇炫,李昇勋,尹相雄,崔映喆. Владелец: Youngchang Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-15.

Photoresist compositions and patterning method of using them

Номер патента: KR950004908B1. Автор: 한우성,박춘근,이중현. Владелец: 김광호. Дата публикации: 1995-05-15.

Polymer for chemical amplification negative photoresist and photoresist composition

Номер патента: KR100749494B1. Автор: 이범욱,유승준,임익철. Владелец: 삼성에스디아이 주식회사. Дата публикации: 2007-08-14.

Dissolution inhibitor and chemically amplified photoresist composition including the same

Номер патента: KR101517763B1. Автор: 김재현,김정우,김덕배. Владелец: 주식회사 동진쎄미켐. Дата публикации: 2015-05-07.

Stability-enhanced organotin photoresist compositions

Номер патента: EP4430053A1. Автор: Alan J. Telecky,Stephen T. Meyers,Kai Jiang. Владелец: Inpria Corp. Дата публикации: 2024-09-18.

Negative-working photoresist compositions for laser ablation and use thereof

Номер патента: US20170285475A1. Автор: Weihong Liu,Ping-Hung Lu,Chunwei Chen. Владелец: AZ Electronic Materials Luxembourg SARL. Дата публикации: 2017-10-05.

Negative-working photoresist compositions for laser ablation and use thereof

Номер патента: PH12018500813A1. Автор: Weihong Liu,Chunwei Chen,PingHung Lu. Владелец: Az Electronic Mat Luxembourg Sarl. Дата публикации: 2018-10-29.

Photoresist composition and method for manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US20230384668A1. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Photoresist polymers and photoresist compositions

Номер патента: US20170184966A1. Автор: Jin Park,Jin-Kyu Han,Hyun-Woo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-29.

Salt, photoresist composition and process for producing photoresist pattern

Номер патента: TW201240955A. Автор: Isao Yoshida,Yuki Suzuki,Koji Ichikawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 2012-10-16.

Photoresist composition for imaging thick films

Номер патента: TW200428139A. Автор: Stephen Meyer,Ralph R Dammel,Mark A Spak. Владелец: Clariant Int Ltd. Дата публикации: 2004-12-16.

Acrylic monomer, polymer, and chemically amplified photoresist composition

Номер патента: TW201113299A. Автор: Jin-Ho Kim,Ran-Ra Park,Chang-Su Lee,Dae-Hyeon Shin. Владелец: Korea Kumho Petrochem Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-16.

Photoresist composition having a high heat resistance

Номер патента: TW583507B. Автор: Jin-Ho Ju,Dong-Ki Lee,Sung-Chul Kang,You-Kyoung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-04-11.

Photoresist polymers and photoresist compositions

Номер патента: US09810982B2. Автор: Jin Park,Jin-Kyu Han,Hyun-Woo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-11-07.

Resin, photoresist composition, and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US09726974B2. Автор: Koji Ichikawa,Masafumi Yoshida,Mitsuyoshi OCHIAI. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Compound, resin and photoresist composition

Номер патента: US09671692B2. Автор: Satoshi Yamaguchi,Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Salt, acid generator, photoresist composition, and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US09645490B2. Автор: Koji Ichikawa,Yukako ANRYU. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Salt, acid generator, photoresist composition, and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US09580402B2. Автор: Hiromu Sakamoto,Koji Ichikawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Resin, photoresist composition, and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US09547240B2. Автор: Koji Ichikawa,Masahiko Shimada,Mitsuyoshi OCHIAI. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

PHOTORESIST TOPCOAT COMPOSITIONS AND METHODS OF PROCESSING PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20190203065A1. Автор: Wu Chunyi,LIU Cong,Li Mingqi,Kaur Irvinder,Hou Xisen,Kang Doris,Kaitz Joshua A.. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-04.

RESIN, PHOTORESIST COMPOSITION AND PROCESS FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: BE1026526A1. Автор: Koji Ichikawa,Mutsuko Higo,Shingo Fujita. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 2020-03-04.

Stability-enhanced organotin photoresist compositions

Номер патента: WO2023081442A9. Автор: Alan J. Telecky,Stephen T. Meyers,Kai Jiang. Владелец: Inpria Corporation. Дата публикации: 2023-07-06.

Photoresist composition

Номер патента: US20240168374A1. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Photoresist composition with novel solvent

Номер патента: US20230341773A1. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Photosensitive copolymer and photoresist composition

Номер патента: US20120129105A1. Автор: James W. Thackeray,Owendi Ongayi,Emad Aqad,Su Jin Kang. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2012-05-24.

Resin and photoresist composition comprising same

Номер патента: US20120270154A1. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-25.

CHEMICAL AMPLIFIED PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130101940A1. Автор: Nakanishi Junji,KAWAMURA Maki. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2013-04-25.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130137038A1. Автор: LIU Cong,Li Mingqi,Aqad Amad,Chen Ching-Lung,Yamada Shintaro,Xu Cheng-bai,Mattia Joseph. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-30.

Photoresist composition for forming a color filter and display substrate

Номер патента: US20130155536A1. Автор: Sang-Hun Lee,Chul Huh,Sun-Young Chang,Yui-Ku Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-20.

ACRYLIC ESTER DERIVATIVE, HIGH-MOLECULAR COMPOUND AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130164675A1. Автор: Nakayama Osamu,Yada Manabu. Владелец: KURARAY CO., LTD.. Дата публикации: 2013-06-27.

POSITIVE-TYPE PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130224655A1. Автор: Kage Takakazu,Imaizumi Norifumi. Владелец: DIC CORPORATION. Дата публикации: 2013-08-29.

ACRYLAMIDE DERIVATIVE, POLYMER COMPOUND AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130230802A1. Автор: Fukumoto Takashi,Aratani Ichihiro. Владелец: KURARAY CO., LTD.. Дата публикации: 2013-09-05.

POSITIVE-TYPE PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130244174A1. Автор: Imada Tomoyuki,Kage Takakazu,Imaizumi Norifumi. Владелец: DIC CORPORATION. Дата публикации: 2013-09-19.

MONOMERS, POLYMERS AND PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20130302735A1. Автор: BAE Young Cheol,Sun Jibin,LEE Seung-Hyun,PARK Jong Keun,ANDES Cecily. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-14.

ACRYLIC ACID ESTER DERIVATIVE, POLYMER COMPOUND AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130316286A1. Автор: Nakayama Osamu. Владелец: KURARAY CO., LTD.. Дата публикации: 2013-11-28.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130316287A1. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,FURUKAWA Taiichi,MIYATA Hiromu. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-11-28.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130330669A1. Автор: Nakanishi Junji,KAWAMURA Maki. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-12.

NEGATIVE PATTERN-FORMING METHOD AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130337385A1. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,FURUKAWA Taiichi,MIYATA Hiromu. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-12-19.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20140017611A1. Автор: KAWAMURA Maki,SUGIHARA Masako. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2014-01-16.

PHOTOACID GENERATOR AND PHOTORESIST COMPOSITION INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20180031967A1. Автор: Park Gun-Woo,Hong Suk-Koo,LEE Hyo-Sung,CHO Kyoung-yong,JEON Gum-hye,KANG Mi-yeong. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-01.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION CONTAINING THE SAME

Номер патента: US20180065924A1. Автор: ICHIKAWA Koji,YOSHIDA Isao. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2018-03-08.

Salt and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20180065925A1. Автор: Hiromu Sakamoto,Koji Ichikawa,Mutsuko Higo. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-08.

PHOTORESIST COMPOSITION AND COLOR FILTER USING THE SAME

Номер патента: US20180074401A1. Автор: KIM Youngmin,PARK HAEIL,Nam Minki,PARK Kyoungwon,LEE Baekhee. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-15.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION CONTAINING THE SAME

Номер патента: US20190107778A1. Автор: Takahashi Yuki,ICHIKAWA Koji,KOMURO Katsuhiro. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2019-04-11.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20200105522A1. Автор: Liu Chen-Yu,Lin Chin-Hsiang,Chang Ching-Yu. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-02.

Salt and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20190112265A1. Автор: Satoshi Yamamoto,Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-18.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION CONTAINING THE SAME

Номер патента: US20190112286A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro,OKADA Natsuki. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2019-04-18.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20210157233A1. Автор: Ching-Yu Chang,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-05-27.

Resin, photoresist composition, and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US20150147695A1. Автор: Koji Ichikawa,Masahiko Shimada,Mitsuyoshi OCHIAI. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-28.

Salt, acid generator, photoresist composition, and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US20160170298A1. Автор: Koji Ichikawa,Yukako ANRYU. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-16.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20170168393A1. Автор: Nishimura Takashi,SAKAMOTO Hiromu,SUGIHARA Masako. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2017-06-15.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20210198468A1. Автор: Chang Ching-Yu,Lai Wei-Han,CHEN Yen-Hao. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

PHOTORESIST POLYMERS AND PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20170184966A1. Автор: Park Jin,Han Jin-Kyu,KIM Hyun-woo. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-29.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20160195809A1. Автор: ICHIKAWA Koji,OCHIAI Mitsuyoshi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2016-07-07.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20170199456A1. Автор: Park Jin,HAN Jin Kyu,KIM Hyun Woo. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-13.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20150212407A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro,YOSHIDA Masafumi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2015-07-30.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20210278762A1. Автор: Lin Chin-Hsiang,Chang Ching-Yu,ZI An-Ren. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-09.

Salt and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20180259851A1. Автор: Satoshi Yamaguchi,Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20210364916A1. Автор: Chang Ching-Yu,YANG Li-Po. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-25.

NEGATIVE-WORKING PHOTORESIST COMPOSITIONS FOR LASER ABLATION AND USE THEREOF

Номер патента: US20170285475A1. Автор: LU Ping-Hung,CHEN Chunwei,LIU Weihong. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-05.

Photoresist composition

Номер патента: US20170329219A1. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-16.

Photoresist composition

Номер патента: US20170329223A1. Автор: Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-16.

PROCESS FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20170329224A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2017-11-16.

PHOTORESIST COMPOSITION AND PROCESS FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20180348632A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro,Shimada Masahiko. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2018-12-06.

CYCLODEXTRIN DERIVATIVES AND METHOD FOR PREPARING THE SAME, PHOTORESIST COMPOSITION AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20150378253A1. Автор: Wang Xuelan,CHANG SHAN,TANG Chen. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

Photoresist composition and method of forming photoresist pattern

Номер патента: US20190384170A1. Автор: Ching-Yu Chang,Chin-Hsiang Lin,An-Ren Zi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-12-19.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20190384171A1. Автор: Lin Chin-Hsiang,Chang Ching-Yu,ZI An-Ren. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-19.

Photoresist composition

Номер патента: JPS643648A. Автор: Maiyaa Kuruto,Rozeruto Ebaruto. Владелец: Ciba Geigy AG. Дата публикации: 1989-01-09.

Liquid photoresist composition

Номер патента: KR100571995B1. Автор: 정재훈,이상도,김용기,황병돈,민경수. Владелец: 주식회사 두산. Дата публикации: 2006-04-17.

Xanthene dye compounds and photoresist composition containing the same

Номер патента: KR101927875B1. Автор: 김성현,허윤희,김상하,김다은. Владелец: (주)켐이. Дата публикации: 2018-12-18.

Polymers of Novel Photoresist and Photoresist Compositions Using the Same

Номер патента: KR100362936B1. Автор: 노치형. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2003-09-26.

Heat-resistant photoresist composition with polyamide precursor

Номер патента: KR100361588B1. Автор: 최길영,진문영,원종찬,최상열. Владелец: 한국화학연구원. Дата публикации: 2002-11-22.

Photoresist composition

Номер патента: KR102446355B1. Автор: 정대성,김명길,황찬국,강여경. Владелец: 포항공과대학교 산학협력단. Дата публикации: 2022-09-22.

Positive photoresist composition

Номер патента: JP2836916B2. Автор: 初幸 田中,寿昌 中山,秀克 小原. Владелец: TOKYO OKA KOGYO KK. Дата публикации: 1998-12-14.

Novel Photoresist Polymers and Photoresist Compositions Using Them

Номер патента: KR100362935B1. Автор: 정재창,노치형. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2003-10-04.

Polymers containing oyxgen and sulfur alicylic units and photoresist compositions comprising same

Номер патента: CN1380993A. Автор: G·G·巴克雷,W·约. Владелец: SIPOREI CORP. Дата публикации: 2002-11-20.

Photoresist composition and stripping method thereof

Номер патента: CN109188864B. Автор: 王建刚. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-02.

Photoresist compositions

Номер патента: CA2010594A1. Автор: Reinhard Schulz,Ekkehard Bartmann,Horst MÜNZEL. Владелец: Ciba Geigy AG. Дата публикации: 1990-08-23.

Positive working photoresist composition

Номер патента: DE69130265T2. Автор: Fumiyuki Nishiyama,Yasumasa Kawabe,Shiro Tan,Reiko Kuboyama. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1999-05-12.

Positive working photoresist composition

Номер патента: DE69220612D1. Автор: Yasumasa Kawabe,Kazuya Uenishi,Tadayoshi Kokubo. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1997-08-07.

Positive working photoresist composition

Номер патента: DE69604623T2. Автор: Yasumasa Kawabe,Shiro Tan. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2000-01-27.

Photoresist compositions

Номер патента: GB1360217A. Автор: . Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1974-07-17.

Process of photopatterning a substrate with a positive photoresist composition containing a diazoquinone photosensitizer

Номер патента: US5399463A. Автор: Hans J. Merrem. Владелец: Ciba Geigy Corp. Дата публикации: 1995-03-21.

Polymers and photoresist compositions

Номер патента: WO2002069044A3. Автор: George G Barclay,Robert J Kavanagh. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2003-02-27.

Polynorbornene negative photoresist composition

Номер патента: CA1250174A. Автор: George M. Benedikt. Владелец: BF Goodrich Corp. Дата публикации: 1989-02-21.

Positive-acting photoresist composition

Номер патента: US4247616A. Автор: John P. Vikesland,Richard M. Presley. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1981-01-27.

PHOTORESIST COMPOSITION, OPTICAL FILM THEREOF, AND PREPARING METHOD OF THE OPTICAL FILM

Номер патента: US20220276556A1. Автор: Huang Hao Lun,Wu Yi Sheng. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-01.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF MANUFACTURING BLACK MATRIX USING THE SAME

Номер патента: US20160195806A1. Автор: CHANG Jae Hyuk,Kim Hyun-Seok,LEE Ki Beom,LEE Hi Kuk. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-07.

BLUE PHOTORESIST COMPOSITION, METHOD OF PREPARING THE SAME, COLOR FILTER, AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20160259101A1. Автор: BAI BING,Zhao Yiming,Bai Feng,YANG Jiuxia,SUN XIAO. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-08.

Photoresist compositions and method

Номер патента: US4610952A. Автор: James V. Crivello. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1986-09-09.

Photoresist composition for column spacer of liquid crystal display

Номер патента: KR100673296B1. Автор: 윤경근,박종민,채헌승,김진환,김경남,정옥영. Владелец: 주식회사 코오롱. Дата публикации: 2007-01-24.

Photoresist polymer and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20060022297A1. Автор: Min Son. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-02-02.

Low outgassing photoresist compositions

Номер патента: US20100062368A1. Автор: Ratnam Sooriyakumaran,Richard A. Dipietro,Sally A. Swanson,Hoa D. Truong. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-03-11.

Photosensitive polymer compound and photoresist composition containing the same

Номер патента: GB2316085A. Автор: Sang-jun Choi,Young-bum Koh,Chun-Geun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1998-02-18.

High refractive index photoresist composition

Номер патента: EP4416553A1. Автор: Peng-Fei Fu,John ELL,Wonbum JANG,Myunhwa CHUNG. Владелец: Dow Silicones Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

High refractive index photoresist composition

Номер патента: US20240337943A1. Автор: Peng-Fei Fu,John ELL,Wonbum JANG,Myunhwa CHUNG. Владелец: Dow Silicones Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Salt and photoresist composition containing the same

Номер патента: US20180065924A1. Автор: Isao Yoshida,Koji Ichikawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-08.

Positive photoresist composition for i ray

Номер патента: KR970009608B1. Автор: Sung-Joo Kim,Ki-Dae Kim,Dong-Chol Seo,Dae-Yeup Lee. Владелец: Korea Kumho Petrochemical Co. Дата публикации: 1997-06-14.

Resin and photoresist composition comprising the same

Номер патента: US20120115082A1. Автор: Koji Ichikawa,Takashi Nishimura,Masahiko Shimada. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-10.

Compound, resin and photoresist composition

Номер патента: US09644056B2. Автор: Yuki Suzuki,Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Resin and photoresist composition comprising the same

Номер патента: US09507258B2. Автор: Koji Ichikawa,Takashi Nishimura,Masahiko Shimada. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-29.

PHOTORESIST TOPCOAT COMPOSITIONS AND METHODS OF PROCESSING PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20180120703A1. Автор: Wang Deyan,LIU Cong,Li Mingqi,Xu Cheng-bai,Kaur Irvinder,KANG Doris H.. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20130302728A1. Автор: Kunimoto Kazuhiko,Kura Hisatoshi,Sameshima Kaori,Nesvadba Peter,Ohwa Masaki. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2013-11-14.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS

Номер патента: US20190204743A1. Автор: LIU Cong,Cardolaccia Thomas,Li Mingqi,Lee Choong-Bong,Marangoni Tomas,Aqad Emad,YANG Ke,Kwok Amy M.,Kaitz Joshua. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-04.

PHOTORESIST COMPOSITION AND COLOR FILTER MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20170227845A1. Автор: Zhang Yueyan. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-10.

Compound, resin and photoresist composition

Номер патента: US20160237190A1. Автор: Yuki Suzuki,Koji Ichikawa,Tatsuro MASUYAMA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-18.

RED PHOTORESIST COMPOSITION, METHOD OF PREPARING THE SAME, COLOR FILTER, AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20160238754A1. Автор: BAI BING,Zhao Yiming,Bai Feng,YANG Jiuxia,SUN XIAO. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-18.

GREEN PHOTORESIST COMPOSITION, METHOD OF PREPARING THE SAME, COLOR FILTER, AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20160252809A1. Автор: BAI BING,Zhao Yiming,Bai Feng,YANG Jiuxia,SUN XIAO. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-01.

BLACK PHOTORESIST COMPOSITION, METHOD OF PREPARING THE SAME, COLOR FILTER, AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20160259241A1. Автор: BAI BING,Zhao Yiming,Bai Feng,YANG Jiuxia,SUN XIAO. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-08.

A developer solution for positive-working photoresist compositions

Номер патента: GB2193335A. Автор: Hatsuyuki Tanaka,Yoshiyuki Sato,Toshimasa Nakayama,Hidekatsu Kohara. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1988-02-03.

Photoresist compositions

Номер патента: WO2004088424A3. Автор: J Neville Eilbeck. Владелец: Clariant Int Ltd. Дата публикации: 2004-12-23.

Photoresist composition comprising cyclohexyleneoxyalkyl acrylates

Номер патента: CA1330737C. Автор: Michel F. Molaire,Robert C. Mcconkey,Gerald W. Klein,John M. Noonan. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1994-07-19.

Positive photoresist composition and method of forming resist pattern

Номер патента: WO2005007719A2. Автор: Toshiki Okui,Yasuo Masuda. Владелец: TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD.. Дата публикации: 2005-01-27.

Positive photoresist composition

Номер патента: US6773858B2. Автор: Tomoyoshi Furihata,Kyoko Soga,Hideto Kato. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2004-08-10.

Thermal treatment process of positive photoresist composition

Номер патента: WO1997035231A3. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1997-11-13.

Photoresist composition and method of forming and using the same

Номер патента: US3615952A. Автор: Edmund Benjamin Davidson. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1971-10-26.

Photoresist composition with antibacterial agent

Номер патента: US7635552B2. Автор: John J. Konrad,Roy H. Magnuson,Ross W. Keesler,Robert A. Sinicki. Владелец: Endicott Interconnect Technologies Inc. Дата публикации: 2009-12-22.

Novel photoresist polymer and photoresist composition containing it

Номер патента: KR100682169B1. Автор: 정재창,이근수,김명수,고차원. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2007-02-12.

Salt and photoresist composition containing the same

Номер патента: KR101825342B1. Автор: 고지 이치카와,히로무 사카모토. Владелец: 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤. Дата публикации: 2018-02-05.

Positive photoresist composition

Номер патента: KR100707767B1. Автор: 미주타니카주요시,야수나미쇼오이치로. Владелец: 후지필름 가부시키가이샤. Дата публикации: 2007-04-17.

Immersion lithography polymer and photoresist composition containing the same

Номер патента: JP4907977B2. Автор: 載昌 鄭,▲ちょる▼圭 卜,昌文 林,承燦 文. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2012-04-04.

Two-step photoresist compositions and methods

Номер патента: WO2016086236A2. Автор: Andreas Frommhold,Alex Phillip Graham Robinson,Allen Brown,Tom Lada. Владелец: Tom Lada. Дата публикации: 2016-06-02.

Two-Step Photoresist Compositions and Methods

Номер патента: US20150241773A1. Автор: Alex Philip Graham Robinson,Andreas Frommhold,Thomas Lada,Alan G. Brown. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-08-27.

POSITIVE WORKING PHOTORESISTIC COMPOSITION FOR THE PRODUCTION OF THICKNESS LAYERS

Номер патента: DE602006018433D1. Автор: Toshiki Okui,Koichi Misumi. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-05.

Photoresist composition and color filter manufacturing method

Номер патента: US09880465B2. Автор: Yueyan Zhang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Process for coating a photoresist composition onto a substrate

Номер патента: WO1990011837A1. Автор: Ivan S. Daraktchiev. Владелец: Olin Hunt Specialty Products Inc.. Дата публикации: 1990-10-18.

Chemically amplified photoresist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20100330497A1. Автор: Takashi Hiraoka,Koji Ichikawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-30.

Negative-working photoresist composition for use on a polymethyl methacrylate surface

Номер патента: CA1217079A. Автор: Kenneth Speigel. Владелец: North American Philips Consumer Electronics Corp. Дата публикации: 1987-01-27.

Photoresist composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20130089817A1. Автор: Hiromitsu Nakashima,Masafumi Yoshida,Hiromu Miyata. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-04-11.

Photoresist compositions and methods

Номер патента: US20170090283A1. Автор: Eui-Hyun Ryu,Min-Kyung Jang,Dong-Yong Kim,Chang-Young Hong. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials Korea Ltd. Дата публикации: 2017-03-30.

Positive photoresist composition

Номер патента: US20030157424A1. Автор: Kenji Maruyama,Mitsuo Hagihara,Toshiaki Tachi. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2003-08-21.

Photoresist composition

Номер патента: EP2502116A2. Автор: Jon Andrew Preece,Richard Palmer,Alex Robinson. Владелец: UNIVERSITY OF BIRMINGHAM. Дата публикации: 2012-09-26.

Positive photoresist composition and substrate with photo-sensitive film using the same

Номер патента: TW200912532A. Автор: Yasuo Masuda,Kaoru Ishikawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-16.

Photoresist compositions

Номер патента: TW200914996A. Автор: Takanori Kudo,Munirathna Padmanaban,Muthiah Thiyagarajan,Srinivasan Chakrapani,David L Rentkiewicz. Владелец: Az Electronic Materials Usa. Дата публикации: 2009-04-01.

Photoresist composite and image forming method using the same

Номер патента: TW200527133A. Автор: Katsuya Tanitsu. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2005-08-16.

Antireflective coatings for photoresist compositions

Номер патента: WO1998007070A1. Автор: Iain Mcculloch,Ping-Hung Lu,Ralph R. Dammel. Владелец: Clariant International, Ltd.. Дата публикации: 1998-02-19.

Photoresist composition

Номер патента: TW200512541A. Автор: Jae-Chang Jung. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-04-01.

Positive photoresist composition and resist pattern formation method

Номер патента: TW200606587A. Автор: Kazufumi Sato,Sachiko Yoshizawa. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2006-02-16.

Positive photoresist composition

Номер патента: TW200301403A. Автор: Kenji Maruyama,Mitsuo Hagihara,Toshiaki Tachi. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-01.

Polymers and photoresist compositions comprising same

Номер патента: TW200540564A. Автор: George G Barclay,Dong-Won Chung. Владелец: Rohm & Haas Elect Mat. Дата публикации: 2005-12-16.

Compound, resin, photoresist composition, and method for producing photoresist pattern

Номер патента: US09513549B2. Автор: Isao Yoshida,Koji Ichikawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

PHOTORESISTANT COMPOSITION COUPLED BY ROTATION AND USE

Номер патента: FR2565585A1. Автор: Paul Richard West,Bruce Frederick Griffing. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1985-12-13.

POSITIVE PHOTORESIST COMPOSITION, COATING FILM THEREOF, AND NOVOLAC PHENOL RESIN

Номер патента: US20140023969A1. Автор: Imada Tomoyuki,Kage Takakazu,Imaizumi Norifumi. Владелец: DIC CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-23.

N-ACYL-B-LACTAM DERIVATIVE, MACROMOLECULAR COMPOUND, AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20140038106A1. Автор: Fukumoto Takashi,MATSUNAGA Shuji,Tsuruta Miki. Владелец: KURARAY CO., LTD.. Дата публикации: 2014-02-06.

Negative Tone Developer Compatible Photoresist Composition and Methods of Use

Номер патента: US20160011507A1. Автор: deVilliers Anton J.. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-14.

MONOMERS, POLYMERS AND PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20180059545A1. Автор: Kim Jung Woo,Jeon Hyun,Ryu Eui Hyun,Jang Min Kyung,Choi Kwang-Mo,Lee Woo-Hyung,Kim Myung-Yeol. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

LOW SURFACE ENERGY PHOTORESIST COMPOSITION AND PROCESS

Номер патента: US20160149136A1. Автор: Skulason Hjalti,FINC RAIA,WYRSTA INES,DAYAL SMITA,DASCOMB STEVEN DONALD. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

POLYMERS AND PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20210200084A1. Автор: Wu Chunyi,Song Yang,Li Mingqi,PARK Jong Keun,Aqad Emad,LIU Colin. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

ACID-LABILE HYPERBRANCHED COPOLYMER AND ASSOCIATED PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING AN ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20170174808A1. Автор: KRAMER John W.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

PHOTORESIST COMPOSITION AND PHOTORESIST FILM USING THE SAME

Номер патента: US20200209740A1. Автор: KIM Ji Hye,Park Eun Seok,LIM Min Young. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2020-07-02.

CHEMICALLY AMPLIFIED PHOTORESIST COMPOSITION AND PHOTORESIST FILM USING THE SAME

Номер патента: US20190384176A1. Автор: KIM Ji Hye,LIM Min Young,KIM Yongmi. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2019-12-19.

COLOR PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20200409267A1. Автор: ZHANG Yuehong. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-31.

Photoresist composition

Номер патента: JPS5735850A. Автор: Yoichi Kamoshita,Yoshiyuki Harita,Toko Harada,Toshiaki Yoshihara. Владелец: Japan Synthetic Rubber Co Ltd. Дата публикации: 1982-02-26.

Photoresist Polymers and Photoresist Compositions Using the Same

Номер патента: KR100403325B1. Автор: 정민호,정재창,이근수,백기호. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2004-03-24.

Photoresist composition

Номер патента: KR101596911B1. Автор: 김정원,신재호,김동민,이원영,제갈은,김승기,최기식,이기만,변철기,변자훈. Владелец: 주식회사 동진쎄미켐. Дата публикации: 2016-02-23.

Positive photoresist composition and method for forming resist pattern

Номер патента: JP4156400B2. Автор: 哲也 加藤,知三郎 青木,公隆 森尾,哲矢 中島. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2008-09-24.

Thermally stable photoresist composition

Номер патента: KR920005780B1. Автор: 김대진,김광태,신성호,김정락. Владелец: 이수환. Дата публикации: 1992-07-18.

Photoresist compositions

Номер патента: GB2049211A. Автор: . Владелец: Japan Synthetic Rubber Co Ltd. Дата публикации: 1980-12-17.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS OF FORMING PHOTOLITHOGRAPHIC PATTERNS

Номер патента: US20140038102A1. Автор: Wang Deyan,PARK Jong Keun,Lee Christopher Nam,ANDES Cecily. Владелец: . Дата публикации: 2014-02-06.

PHOTORESIST COMPOSITION, COMPOUND, AND PRODUCTION METHOD THEREOF

Номер патента: US20150004545A1. Автор: NAMAI Hayato,KAWAKAMI Takanori,IKEDA Norihiko. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2015-01-01.

PHOTORESIST COMPOSITION, COATED SUBSTRATE, AND METHOD OF FORMING ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20150021289A1. Автор: Jain Vipul,Ober Matthias S.,ETIENNE John B.. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

NEGATIVE PHOTORESIST COMPOSITION AND PATTERNING METHOD FOR DEVICE

Номер патента: US20150024327A1. Автор: PARK Chan-Hyo,KIM Kyung-Jun,KIM Yu-na. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2015-01-22.

COMPOUND, RESIN AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20180031969A1. Автор: ICHIKAWA Koji,SAKAMOTO Hiromu. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2018-02-01.

PHOTORESIST COMPOSITION AND PHOTORESIST FILM USING THE SAME

Номер патента: US20200033727A1. Автор: LIM Min Young,AHN Yongsik,KIM Yongmi. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2020-01-30.

POLYMER DYE AND METHOD FOR PREPARING THE SAME, PHOTORESIST COMPOSITION AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20160041466A1. Автор: Tian Xiaoxiong,Zhang Zhuo,DENG Wei. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-11.

COMPOUND, RESIN, PHOTORESIST COMPOSITION, AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20150064622A1. Автор: ICHIKAWA Koji,YOSHIDA Isao. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20150086927A1. Автор: KAWAMURA Maki,SUGIHARA Masako,GODA Maiko. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2015-03-26.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF MANUFACTURING CIRCUIT PATTERN USING THE SAME

Номер патента: US20160085150A1. Автор: JU Jin Ho,SHIM Seung Bo,PARK Kwang Woo,KIM Jeong Won,WOO Jun Hyuk. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-24.

PHOTOSENSITIVE POLYIMIDE AND NEGATIVE TYPE PHOTORESIST COMPOSITION CONTAINING THE SAME

Номер патента: US20140178823A1. Автор: CHIOU Kuo-Chan,LIN Chen-Lung,HSU Fu-Shun. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-26.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING A METAL PATTERN

Номер патента: US20140183162A1. Автор: KANG Hoon,KIM Jae-sung,Kim Seung-ki,KIM Dong-min,CHO Ki-Hyun,Jeagal Eun. Владелец: . Дата публикации: 2014-07-03.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS OF FORMING PHOTOLITHOGRAPHIC PATTERNS

Номер патента: US20160109800A1. Автор: Wang Deyan,BAE Young Cheol,Cardolaccia Thomas,BELL Rosemary,KANG Seokho. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-21.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20150118619A1. Автор: ICHIKAWA Koji,ANRYU Yukako,YASUE Takahiro. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2015-04-30.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20150118620A1. Автор: ICHIKAWA Koji,ANRYU Yukako,YOSHIDA Masafumi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2015-04-30.

ALKALINE SOLUBLE RESIN, PROCESS FOR PREPARING SAME, AND PHOTORESIST COMPOSITION CONTAINING SAME

Номер патента: US20150152210A1. Автор: Wang Xuelan,CHANG SHAN,TANG Chen. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-04.

I-LINE PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING FINE PATTERN USING SAME

Номер патента: US20140242520A1. Автор: Kim Jae-Hyun,Lee Jae-Woo,LEE Jung-Youl,Jang Eu-Jean. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-28.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20150168828A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro,ARAKI Kaoru. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2015-06-18.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20160170300A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro,FUJITA Shingo. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2016-06-16.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20150205204A1. Автор: Kim Ji-Hyun,JU Jin-Ho,KIM Byung-Uk,KIM Dong-Myung,PARK Jeong-Min,PARK Sung-Kyun,Chun Jun,Kim Jin-Sun,Youn Hyoc-Min,YEO Tai-Hoon. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20150212408A1. Автор: ICHIKAWA Koji,YAMAMOTO Satoshi,MASUYAMA Tatsuro. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2015-07-30.

MONOMERS, POLYMERS AND PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20180203352A1. Автор: Ryu Eui Hyun,Lee Woo-Hyung,Kim Myung-Yeol,Jeong Haemi,Im Kwang-Hwyi. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-19.

Two-Step Photoresist Compositions and Methods

Номер патента: US20150241773A1. Автор: Frommhold Andreas,Robinson Alex Philip Graham,Brown Alan G.,Lada Thomas. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-27.

PHOTORESIST COMPOSITION AND PROCESS OF PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20150286137A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2015-10-08.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20200272051A1. Автор: Lin Chin-Hsiang,Chang Ching-Yu,HO Chun-Chih. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

PHOTORESIST COMPOSITION, RESIST PATTERN-FORMING METHOD, ACID DIFFUSION CONTROL AGENT, AND COMPOUND

Номер патента: US20150309406A9. Автор: NAMAI Hayato. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2015-10-29.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS

Номер патента: US20160320702A1. Автор: Jeon Hyun,Kim Dong-Yong,Jang Min-Kyung,Ryu Eui-Hyun,Hong Chang-Young,LIM Hae-Jin,Kim Myung Yeol,Hong Dong-Je. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-03.

Photoresist compositions

Номер патента: US6139920A. Автор: Thomas W. Smith,David J. Luca,Kathleen M. McGrane. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2000-10-31.

Heat resistant photoresist composition and process for preparing the same

Номер патента: US4180404A. Автор: Ichiro Shibasaki,Kaoru Ohmura,Takeo Kimura,Muneaki Kimura. Владелец: Asahi Kasei Kogyo KK. Дата публикации: 1979-12-25.

Acrylate-based compounds and the photoresist composition comprising the same

Номер патента: KR101273140B1. Автор: 이건우,곽상규,이창순,김혜현. Владелец: 주식회사 엘지화학. Дата публикации: 2013-06-17.

Pigment dispersed photoresist composition for color filter of lcd

Номер патента: KR0140908B1. Автор: 노태환,김순식,이상운,임태우. Владелец: 박흥기. Дата публикации: 1998-06-15.

Multiple trigger photoresist compositions and method

Номер патента: WO2018156247A1. Автор: Dongxu Yang,Alexandra Mcclelland,John L. Roth,Alex P.G. ROBINSON,Andeas FROMMHOLD. Владелец: Roth John L. Дата публикации: 2018-08-30.

Photoresist composition and method of manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US20230408918A1. Автор: Chien-Chih Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Phenolic resin composition for photoresist and photoresist composition

Номер патента: KR102515382B1. Автор: 사다아키 쿠로이와. Владелец: 유비이 가부시키가이샤. Дата публикации: 2023-03-30.

Phenolic resin composition for photoresist and photoresist composition

Номер патента: CN111051374B. Автор: 黑岩贞昭. Владелец: Ube Corp. Дата публикации: 2023-02-28.

CALIXARENE COMPOUND AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING SAME

Номер патента: US20130157195A1. Автор: Jain Vipul,Green D. Patrick,Bailey Brad C.. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2013-06-20.

CARBAMOYLOXYADAMANTANE DERIVATIVE, POLYMER COMPOUND, AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130164676A1. Автор: Fukumoto Takashi,Yada Manabu. Владелец: KURARAY CO., LTD.. Дата публикации: 2013-06-27.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130177851A1. Автор: MASUYAMA Tatsuro,KAWAMURA Maki. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2013-07-11.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION CONTAINING THE SAME

Номер патента: US20190011837A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro,YAMAGUCHI Satoshi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2019-01-10.

POLYMERIZABLE OLIGOMER AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20160137758A1. Автор: Li Lin,SUN Wenwen. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-19.

POLYETHER COMPOUND, METHOD FOR PREPARING SAME AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20160154305A1. Автор: Wang Xuelan. Владелец: BOE Technology Group Co., Ltd.. Дата публикации: 2016-06-02.

DIAZO-RESIN, PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF PREPARING SAME

Номер патента: US20160334704A1. Автор: Wang Jianguo. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-17.

PHOTO-DESTROYABLE QUENCHER AND ASSOCIATED PHOTORESIST COMPOSITION, AND DEVICE-FORMING METHOD

Номер патента: US20150346599A1. Автор: LaBeaume Paul J.. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-03.

Photoresist composition

Номер патента: GB8619367D0. Автор: . Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1986-09-17.

Positive novolak photoresist compositions

Номер патента: US4377631A. Автор: Medhat A. Toukhy,Leo Klawansky. Владелец: Philip A Hunt Chemical Corp. Дата публикации: 1983-03-22.

Photoresist composition for liquid crystal display circuit board

Номер патента: KR100363273B1. Автор: 강훈,김동민,조준연. Владелец: 주식회사 동진쎄미켐. Дата публикации: 2002-12-05.

Positive photoresist composition

Номер патента: JPS6444439A. Автор: Shiyurutsu Rainharuto,Miyuntsueru Horusuto. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 1989-02-16.

Dnq-type photoresist composition including alkali-soluble acrylic resins

Номер патента: WO2021094423A1. Автор: Weihong Liu,Medhat A. Toukhy,Chunwei Chen,PingHung Lu. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2021-05-20.

DNQ-type photoresist composition including alkali-soluble acrylic resins

Номер патента: US11822242B2. Автор: Weihong Liu,Ping-Hung Lu,Medhat A. Toukhy,Chunwei Chen. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2023-11-21.

Method of manufacturing semiconductor device and photoresist composition

Номер патента: US20240288769A1. Автор: Ching-Yu Chang,Tzu-Yang Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

PHOTORESIST TOPCOAT COMPOSITIONS AND METHODS OF PROCESSING PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20200004152A1. Автор: Wu Chunyi,LIU Cong,Kaur Irvinder,Kang Doris. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

PHOTORESIST TOPCOAT COMPOSITIONS AND METHODS OF PROCESSING PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20190204741A1. Автор: Wu Chunyi,LIU Cong,Li Mingqi,Kaur Irvinder,Hou Xisen,Kang Doris,Kaitz Joshua A.. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-04.

PHOTORESIST TOPCOAT COMPOSITIONS AND METHODS OF PROCESSING PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20190235385A1. Автор: Wang Deyan,LIU Cong,Li Mingqi,Xu Cheng-bai,Kaur Irvinder,KANG Doris H.. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-01.

SEMICONDUCTOR PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PATTERNS USING THE COMPOSITION

Номер патента: US20200348591A1. Автор: KIM Jaehyun,HAN Seung,NAMGUNG Ran,MOON Kyung Soo,CHAE Seungyong. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

Photoresist composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20130089817A1. Автор: Hiromitsu Nakashima,Masafumi Yoshida,Hiromu Miyata. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-04-11.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING A BLACK MATRIX USING THE SAME

Номер патента: US20140065542A1. Автор: HUH Chul,Ryu Soo-Hye,Shim Yi-Seop,Jang Chang-Soon. Владелец: Samsung Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2014-03-06.

Resist pattern-forming method and photoresist composition

Номер патента: US20150010866A1. Автор: Hayato Namai,Shinya Minegishi,Hitoshi Osaki. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-01-08.

PHOTORESIST COMPOSITION TO REDUCE PHOTORESIST PATTERN COLLAPSE

Номер патента: US20160033863A1. Автор: Chen Tsung-Pao,CHUANG Sheng-Min,CHUANG Teng-Kuei. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS

Номер патента: US20170090283A1. Автор: Kim Dong-Yong,Jang Min-Kyung,Ryu Eui-Hyun,Hong Chang-Young. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-30.

PHOTOACID-GENERATING COMPOUND AND ASSOCIATED POLYMER, PHOTORESIST COMPOSITION, AND METHOD OF FORMING A PHOTORESIST RELIEF IMAGE

Номер патента: US20180095363A1. Автор: Aqad Emad. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

DENDRITIC COMPOUNDS, PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS OF MAKING ELECTRONIC DEVICES

Номер патента: US20140186770A1. Автор: Sun Jibin,Li Mingqi,Xu Cheng-bai,Aqad Emad,ANDES Cecily,Kaur Irvinder. Владелец: . Дата публикации: 2014-07-03.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20190146342A1. Автор: Lin Chin-Hsiang,Chang Ching-Yu,Cheng Joy,ZI An-Ren. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-16.

PHOTORESIST COMPOSITION AND A METHOD FOR FORMING A FINE PATTERN USING THE SAME

Номер патента: US20180164682A1. Автор: Park Jin,KIM Hyunwoo. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-14.

COMPOUND, RESIN AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20160244400A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro,YAMAGUCHI Satoshi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2016-08-25.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION CONTAINING THE SAME

Номер патента: US20170247323A1. Автор: ICHIKAWA Koji,MASUYAMA Tatsuro,OKADA Natsuki. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2017-08-31.

Diazonaphthoquinone (DNQ) type photoresist composition containing alkali-soluble acrylic resin

Номер патента: CN114730131A. Автор: 陈春伟,卢炳宏,刘卫宏,M·A·图奇. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2022-07-08.

Polyether compound, method for preparing same and photoresist composition

Номер патента: US09541833B2. Автор: Xuelan WANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Photoresist compositions and pattern formation methods

Номер патента: US11880135B2. Автор: Mitsuru Haga,Shugaku Kushida,Kunio Kainuma. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2024-01-23.

Photoresist compositions and pattern formation methods

Номер патента: US20210181629A1. Автор: Mitsuru Haga,Shugaku Kushida,Kunio Kainuma. Владелец: Rohm and Haas Electronic Materials LLC. Дата публикации: 2021-06-17.

Carbazole derivatives, photopolymerization initiator and photoresist composition containing the same

Номер патента: KR101768658B1. Автор: 김성현,허윤희,김상하. Владелец: (주)켐이. Дата публикации: 2017-08-17.

Photoresistive compositions

Номер патента: US4581315A. Автор: Anthony F. Garito. Владелец: University Patents Inc. Дата публикации: 1986-04-08.

Photoresist compositions

Номер патента: US6258507B1. Автор: Koshiro Ochiai,Nobuhito Fukui. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2001-07-10.

Photoresist composition for green color filter

Номер патента: US09678257B2. Автор: Hyunjin Kim,Sunwoo Kang,Daewon Lee,Chul Huh. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

PHOTORESIST COMPOSITION FOR GREEN COLOR FILTER

Номер патента: US20160327709A1. Автор: HUH Chul,Lee Daewon,Kim Hyunjin,Kang Sunwoo. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-10.

COLOR PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20200399475A1. Автор: ZHANG Yuehong. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

Photoresist composition for column spacer of liquid crystal display

Номер патента: KR100708311B1. Автор: 윤경근,박종민,채헌승,김경남,김명한,정옥영. Владелец: 주식회사 코오롱. Дата публикации: 2007-04-17.

Photoresist composition for column spacer of liquid crystal display

Номер патента: KR100708310B1. Автор: 윤경근,박종민,채헌승,김진환,김경남,정옥영. Владелец: 주식회사 코오롱. Дата публикации: 2007-04-17.

Positive acting photoresist composition and imageable element

Номер патента: WO2001009682A3. Автор: Moshe Levanon,Larisa Postel,Emmanuel Lurie,Sergei Malikov. Владелец: Creo Ltd. Дата публикации: 2001-06-07.

1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonate ester photosensitizer and photoresist composition

Номер патента: TW200424762A. Автор: Katsumi Tada,Tsuneaki Miyazaki,Suehiro Kaori. Владелец: Toyo Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2004-11-16.

SURFACE ACTIVE ADDITIVE AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING SAME

Номер патента: US20130137035A1. Автор: Wang Deyan,Wu Chunyi,LIU Cong,Xu Cheng-bai,Pohlers Gerhard,Barclay George G.. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-30.

Positive photoresist composition for liquid crystal device

Номер патента: KR100906795B1. Автор: 강훈,김동민,조준연,이승욱,박대연. Владелец: 주식회사 동진쎄미켐. Дата публикации: 2009-07-09.

Positive type photoresist composition

Номер патента: KR100600639B1. Автор: 박종원,김상태,양돈식,강승진. Владелец: 동우 화인켐 주식회사. Дата публикации: 2006-07-14.

Positive-working photoresist

Номер патента: CA916510A. Автор: V. Jones Viron. Владелец: Keuffel and Esser Co. Дата публикации: 1972-12-12.

Photoresist composition

Номер патента: AU3421468A. Автор: Douglas Graham Borden Donald Lee Fields Jerry Blair Miller Kenneth Royal Dunham. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1969-09-04.

Positive acting photoresist composition and imageable element

Номер патента: TW573208B. Автор: Moshe Levanon,Larisa Postel,Emmanuel Lurie. Владелец: Creo Il Ltd. Дата публикации: 2004-01-21.

Negative- or positive- photoresist composition

Номер патента: TW354836B. Автор: Yuko Nakano,Hiromi Ueki,Yuji Ueda,Takehiro Kusumoto,Naoki Takeyama. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 1999-03-21.

Photoresist composition

Номер патента: AU2002254231A1. Автор: Charles R. Szmanda,Gary N. Taylor. Владелец: Shipley Co LLC. Дата публикации: 2002-10-08.

Photoresist composition

Номер патента: TW201113641A. Автор: Akira Kamabuchi,Yuko Yamashita. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 2011-04-16.

COMPOUND, RESIN AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20120009519A1. Автор: KAMABUCHI Akira,MUKAI Yuichi,KIM Hyungjoo. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-01-12.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20120028188A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-02-02.

PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20120038996A1. Автор: Kunimoto Kazuhiko,Kura Hisatoshi,Sameshima Kaori,Nesvadba Peter,Ohwa Masaki. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2012-02-16.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PATTERN USING THE SAME

Номер патента: US20120052438A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-03-01.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120052440A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-03-01.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PATTERN USING THE SAME

Номер патента: US20120064455A1. Автор: KIM Ki-soo,YU Dong-Guk,LIM Hyun-Tae. Владелец: SAMSUNG TECHWIN CO., LTD.. Дата публикации: 2012-03-15.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS OF FORMING PHOTOLITHOGRAPHIC PATTERNS

Номер патента: US20120064456A1. Автор: BAE Young Cheol,Cardolaccia Thomas,Sun Jibin,Arriola Daniel J.,Frazier Kevin A.. Владелец: . Дата публикации: 2012-03-15.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120088190A1. Автор: ICHIKAWA Koji,HIRAOKA Takashi,OCHIAI Mitsuyoshi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-04-12.

RESIN AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120115082A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-05-10.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120122032A1. Автор: ICHIKAWA Koji,ANRYU Yukako. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-05-17.

RESIN AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120122034A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-05-17.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120135351A1. Автор: ICHIKAWA Koji,ANRYU Yukako,FUJITA Shingo. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-05-31.

N-ACYL-B-LACTAM DERIVATIVE, MACROMOLECULAR COMPOUND, AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20120148954A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-06-14.

TERTIARY ALCOHOL DERIVATIVE, POLYMER COMPOUND AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20120149921A1. Автор: Fukumoto Takashi,Aratani Ichihiro. Владелец: KURARAY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-06-14.

SALT, PHOTORESIST COMPOSITION AND PROCESS FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20120164579A1. Автор: ICHIKAWA Koji,YOSHIDA Isao,SUZUKI Yuki. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-06-28.

RESIN AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120178021A1. Автор: ICHIKAWA Koji,KAMABUCHI Akira,KIM Hyungjoo. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-07-12.

Hydrophilic Monomer, Hydrophilic Photoresist Composition Containing the same, and Resist Pattern Formation Method

Номер патента: US20120189960A1. Автор: . Владелец: Chunghwa Picture Tubes, LTD.. Дата публикации: 2012-07-26.

PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20120214099A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-23.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120225385A1. Автор: ICHIKAWA Koji,SAKAMOTO Hiromu,YASUE Takahiro. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-09-06.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20120251945A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-10-04.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20120251946A1. Автор: ICHIKAWA Koji,ANRYU Yukako,YAMAGUCHI Satoshi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-10-04.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20120251953A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-10-04.

PHOTORESIST COMPOSITION, RESIST-PATTERN FORMING METHOD, POLYMER, AND COMPOUND

Номер патента: US20120258402A1. Автор: . Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-10-11.

SALT AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME

Номер патента: US20120258403A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-10-11.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20120264055A1. Автор: ICHIKAWA Koji,SAKAMOTO Hiromu,MUKAI Yuichi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-10-18.

SALT, PHOTORESIST COMPOSITION, AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20120264060A1. Автор: ICHIKAWA Koji,YOSHIDA Isao,YAMASHITA Yuko. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-10-18.

PROCESS FOR PREPARING STABLE PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20120264857A1. Автор: RUSSELL WILLIAM RICHARD,Schultz John Anthony. Владелец: . Дата публикации: 2012-10-18.

PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20120270153A1. Автор: ICHIKAWA Koji,ANRYU Yukako,FUJITA Shingo. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-10-25.

POLYMERS, PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS OF FORMING PHOTOLITHOGRAPHIC PATTERNS

Номер патента: US20120288794A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-11-15.

PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS OF USE IN HIGH INDEX IMMERSION LITHOGRAPHY

Номер патента: US20120288797A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-11-15.

COMPOUND, RESIN, PHOTORESIST COMPOSITION, AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20120295201A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-11-22.

POLYMERS, PHOTORESIST COMPOSITIONS AND METHODS OF FORMING PHOTOLITHOGRAHIC PATTERNS

Номер патента: US20120308927A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-12-06.

SALT, PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20120315580A1. Автор: MASUYAMA Tatsuro,MUKAI Yuichi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-12-13.

SALT, PHOTORESIST COMPOSITION, AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20120328986A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-12-27.

SALT, PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20130040237A1. Автор: MASUYAMA Tatsuro,MUKAI Yuichi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2013-02-14.

SALT, PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20130040239A1. Автор: ICHIKAWA Koji,YOSHIDA Isao,MUKAI Yuichi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2013-02-14.

PHOTODECOMPOSABLE BASES AND PHOTORESIST COMPOSITIONS

Номер патента: US20130052585A1. Автор: Ayothi Ramakrishnan,Hinsberg William D.,Swanson Sally A.,Wallraff Gregory M.. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-28.

SALT, PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN

Номер патента: US20130052588A1. Автор: ICHIKAWA Koji,YOSHIDA Isao,MUKAI Yuichi. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2013-02-28.

PHOTORESIST COMPOSITION FOR COLOR FILTER AND METHOD FOR FORMING COLOR FILTER

Номер патента: US20130065167A1. Автор: HUH Chul,KANG Min-Jung,Lee Myung Jin,KWAK Chang-Hun. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-14.

CALIXARENE AND PHOTORESIST COMPOSITION COMPRISING SAME

Номер патента: US20130078569A1. Автор: Thackeray James W.,Jain Vipul,Green D. Patrick,Bailey Brad C.,Kang Su Jin. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-28.

COMPOUND, RESIN AND PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130095424A1. Автор: ICHIKAWA Koji,SAKAMOTO Hiromu,FUJITA Shingo. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2013-04-18.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130095425A1. Автор: ICHIKAWA Koji,YAMAGUCHI Satoshi,Shimada Masahiko. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2013-04-18.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130122424A1. Автор: Ando Nobuo,YAMASHITA Yuko. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2013-05-16.

PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130209921A1. Автор: Qiu Zai-Ming,Fall Douglas C.. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-15.

ORGANIC SOLVENT DEVELOPABLE PHOTORESIST COMPOSITION

Номер патента: US20130344441A1. Автор: Sooriyakumaran Ratnam,Vora Ankit,SUNDBERG LINDA K.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-12-26.

Positive photoresist composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP4903096B2. Автор: 浩 細田,宏次 菅野,雅昭 室井. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-21.

Positive photoresist composition for deep ultraviolet exposure

Номер патента: JP4046258B2. Автор: 邦彦 児玉,利明 青合,健一郎 佐藤. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-02-13.

Pigmented photoresist composition and cured matter thereof

Номер патента: CN1892425B. Автор: 宇敷滋,宫部英和,柴崎阳子. Владелец: Taiyo Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2011-09-14.

Crosslink-forming positive photoresist composition

Номер патента: JP4144726B2. Автор: 寿一 高山,洋平 木下,克実 大森,知孝 山田. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2008-09-03.

Positive photoresist composition

Номер патента: JP2734545B2. Автор: 敏博 庄司,和夫 村上. Владелец: Dainippon Ink and Chemicals Co Ltd. Дата публикации: 1998-03-30.