Polynucleotide primers and probes

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Looped primer and loop-de-loop method for detecting target nucleic acid

Номер патента: US20240011083A1. Автор: Cameron Scott Ball. Владелец: Uh-Oh Labs Inc.. Дата публикации: 2024-01-11.

Method for amplifying target nucleic acid sequence and probe used for the same

Номер патента: EP2224017A1. Автор: Mitsuharu Hirai,Satoshi Majima,Toshiya Hosomi. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2010-09-01.

Improved primers and methods for the detection and discrimination of nucleic acids

Номер патента: CA2377707A1. Автор: Ayoub Rashtchian,Irina Nazarenko. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-12-28.

Novel primers and uses thereof

Номер патента: EP4245863A2. Автор: Fei Lu,Bernhard Zimmerman,Ryan SWENERTON,Himanshu SETHI,Scott DASHNER. Владелец: Natera Inc. Дата публикации: 2023-09-20.

Novel primers and uses thereof

Номер патента: EP4245863A3. Автор: Fei Lu,Bernhard Zimmerman,Ryan SWENERTON,Himanshu SETHI,Scott DASHNER. Владелец: Natera Inc. Дата публикации: 2024-01-24.

A stem-loop primer and a method for short length rna detection

Номер патента: EP4365304A1. Автор: Aurora Sánchez Pacheco,Ana López López,Marina Camblor Murube. Владелец: Universidad Autonoma de Madrid. Дата публикации: 2024-05-08.

Primers and probes for detection and discrimination of Ebola virus

Номер патента: US09970067B2. Автор: Scott Rose,Kristin BELTZ. Владелец: Integrated DNA Technologies Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Primers and probes for amplification and detection of human inhibitor of dna-binding

Номер патента: WO2005001111A3. Автор: Robert Benezra. Владелец: Robert Benezra. Дата публикации: 2005-07-28.

Primers and probes for amplification and detection of human inhibitor of dna-binding

Номер патента: US20060134627A1. Автор: Robert Benezra. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-22.

Primers and probes for the detection of hiv

Номер патента: CA2169315C. Автор: Richard Arvis Respess. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2009-02-03.

Polynucleotide primers and probes

Номер патента: CA2826904A1. Автор: Vladimir Makarov,Sergey V. Chupreta. Владелец: Swift Biosciences Inc. Дата публикации: 2012-08-23.

Polynucleotide primers and probes

Номер патента: WO2012112582A2. Автор: Vladimir Makarov,Sergey A. CHUPRETA. Владелец: SWIFT BIOSCIENCES, INC.. Дата публикации: 2012-08-23.

Method and probes to detect nucleic acid differences

Номер патента: CA2770241C. Автор: Stephen Gordon Will. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2016-03-29.

Polynucleotide primers

Номер патента: WO2006106316A2. Автор: David Mark Whitcombe,Paul Francis Ravetto,Nicola Jo Thelwell. Владелец: Dxs Limited. Дата публикации: 2006-10-12.

Polymerase chain reaction primers and probes for mycobacterium tuberculosis

Номер патента: EP4446739A2. Автор: Soumitesh Chakravorty,David Alland. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 2024-10-16.

Primers and probes for detection of influenza type a viruses of subtype h1

Номер патента: CA2665650A1. Автор: Sylvie Van Der Werf,Vincent Enouf. Владелец: Institut Pasteur de Lille. Дата публикации: 2010-11-08.

Improved detection of genomic sequences and probe molecules therefor

Номер патента: US20240203528A1. Автор: Holger Klapproth,Sonja Bednar. Владелец: Safeguard Biosystems Holdings Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Primers and probes for detecting mycobacteria

Номер патента: WO2023187166A1. Автор: Clothilde FERNANDEZ,Marine MARIUS. Владелец: Sanofi Pasteur. Дата публикации: 2023-10-05.

Methods and probes for the detection of cancer

Номер патента: CA2438267C. Автор: Larry E. Morrison,Steven A. Seelig,Irina A. Sokolova,Kevin C. Halling. Владелец: Vysis Inc. Дата публикации: 2012-05-15.

Primers and probes for detecting Pneumocystis carinii

Номер патента: US5593836A. Автор: John T. Niemiec,Karen K. Y. Young. Владелец: Roche Molecular Systems Inc. Дата публикации: 1997-01-14.

PCR amplification primer pair and probe, and applications thereof

Номер патента: LU503460B1. Автор: Feng Zhang,Jing Wang,Qiang Wang,Xu Zhu,Qingping Zhang,Teng Qi. Владелец: Chongqing Tianyou Dairy Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Her3 and her4 primers and probes for detecting her3 and her4 mrna expression

Номер патента: WO2012097368A3. Автор: Craig Stephens. Владелец: RESPONSE GENETICS, INC.. Дата публикации: 2014-04-10.

Polymerase chain reaction primers and probes for Mycobacterium tuberculosis

Номер патента: AU2015330738B2. Автор: Soumitesh Chakravorty,David Alland. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 2021-10-14.

Improved detection of genomic sequences and probe molecules therefor

Номер патента: EP4298242A1. Автор: Holger Klapproth,Sonja Bednar. Владелец: Safeguard Biosystems Holdings Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Improved detection of genomic sequences and probe molecules therefor

Номер патента: CA3208476A1. Автор: Holger Klapproth,Sonja Bednar. Владелец: Safeguard Biosystems Holdings Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Biochip including sequencing primer and non-sequencing unit

Номер патента: RU2765075C2. Автор: Джеймс Цай,Юйсян ХУАН. Владелец: Иллюмина, Инк.. Дата публикации: 2022-01-25.

Primers and Methods for Nucleic Acid Amplification

Номер патента: US20170051005A1. Автор: Besik Kankia. Владелец: Ohio State Innovation Foundation. Дата публикации: 2017-02-23.

Primers and methods for nucleic acid amplification

Номер патента: US09499860B2. Автор: Besik Kankia. Владелец: Ohio State University. Дата публикации: 2016-11-22.

Probe for detection of polymorphism in EGFR gene, amplification primer, and use thereof

Номер патента: US09359647B2. Автор: Aki IGUCHI,Moeko Ijuin. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2016-06-07.

Set of Novel Oligonucleotide Primers and the Method for the Detection of Aspergillus Ochraceux Thereby

Номер патента: US20100012495A1. Автор: Anand Sreenivasan,Ratirao Eddiya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-01-21.

Methods and compositions related to cooperative primers and reverse transcription

Номер патента: WO2022256495A1. Автор: Kenneth K.C. BRAMWELL. Владелец: Co-Diagnostics, Inc.. Дата публикации: 2022-12-08.

Methods and compositions related to cooperative primers and reverse transcription

Номер патента: AU2022286406A9. Автор: Kenneth K.C. BRAMWELL. Владелец: Co Diagnostics Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Methods and compositions related to cooperative primers and reverse transcription

Номер патента: AU2022286406A1. Автор: Kenneth K.C. BRAMWELL. Владелец: Co Diagnostics Inc. Дата публикации: 2023-10-26.

Methods and compositions related to cooperative primers and reverse transcription

Номер патента: EP4347881A1. Автор: Kenneth K.C. BRAMWELL. Владелец: Co Diagnostics Inc. Дата публикации: 2024-04-10.

Methods and compositions related to cooperative primers and reverse transcription

Номер патента: CA3220607A1. Автор: Kenneth K.C. BRAMWELL. Владелец: Co Diagnostics Inc. Дата публикации: 2022-12-08.

A Universal Nested PCR Detection Primer and Method for Porcine Circovirus Type 3

Номер патента: LU504682B1. Автор: PAN Zeng,Liwei Guo,Guoping Liu,Liqun Hu,Chunqi LI,Botian Li. Владелец: Univ Yangtze. Дата публикации: 2024-01-11.

Methods and compositions related to cooperative primers and reverse transcription

Номер патента: US20240182992A1. Автор: Kenneth K.C. BRAMWELL. Владелец: Co Diagnostics Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

Array including sequencing primer and non-sequencing entity

Номер патента: ZA201903637B. Автор: Tsay James,Huang Yuxiang. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2024-01-31.

Polynucleotide Primers and Probes

Номер патента: US20140162263A1. Автор: Vladimir Makarov,Sergey V. Chupreta. Владелец: Swift Biosciences Inc. Дата публикации: 2014-06-12.

POLYNUCLEOTIDE PRIMERS AND PROBES

Номер патента: US20200318184A1. Автор: Makarov Vladimir,Chupreta Sergey V.. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-08.

Polynucleotide primers and probes

Номер патента: CA2778532A1. Автор: Vladimir Makarov,Sergey V. Chupreta. Владелец: Swift Biosciences Inc. Дата публикации: 2011-05-12.

Combination of dsdna binding dye and probes for characterization of ssdna sequences

Номер патента: EP2895627A2. Автор: Lawrence J. Wangh,John Rice,Yanwei Jia. Владелец: BRANDEIS UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-07-22.

PRIMER AND PROBE FOR DETECTION OF MYCOBACTERIUM AVIUM AND METHOD FOR DETECTION OF MYCOBACTERIUM AVIUM BY USING THE PRIMER OR PROBE

Номер патента: US20200181690A1. Автор: Ishikawa Tomokazu. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

Methods and compositions for analyte detection and probe resolution

Номер патента: EP4347877A1. Автор: Malte Kuhnemund,Xiaoyan Qian. Владелец: 10X Genomics Inc. Дата публикации: 2024-04-10.

Polynucleotide primers for detecting PIK3CA mutations

Номер патента: US09863003B2. Автор: David Whitcombe,Ruth Board,Paul Francis Ravetto,Nicola Jo Thelwell,Jennifer Haworth. Владелец: Qiagen Manchester Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Polynucleotide primers

Номер патента: CN103834724B. Автор: R·宝德,J·弗格逊,P·F·帕维托,N·J·德尔威尔,D·怀特科比. Владелец: DXS Ltd. Дата публикации: 2016-05-25.

Polynucleotide primers for detecting PIK3CA mutations

Номер патента: EP2239341A8. Автор: David Whitcombe,Ruth Board,Jennifer Ferguson,Paul Francis Ravetto,Nicola Jo Thelwell. Владелец: DXS Ltd. Дата публикации: 2010-12-01.

Polynucleotide primers for detecting pik3ca mutations

Номер патента: CA3010064A1. Автор: David Whitcombe,Ruth Board,Jennifer Ferguson,Paul Francis Ravetto,Nicola Jo Thelwell. Владелец: Qiagen Manchester Ltd. Дата публикации: 2009-04-02.

Polynucleotide primers

Номер патента: CN102119222A. Автор: R·宝德,J·弗格逊,P·F·帕维托,N·J·德尔威尔,D·怀特科比. Владелец: DXS Ltd. Дата публикации: 2011-07-06.

Polynucleotide primers for detecting PIK3CA mutations

Номер патента: EP2239341B1. Автор: David Whitcombe,Ruth Board,Jennifer Ferguson,Paul Francis Ravetto,Nicola Jo Thelwell. Владелец: Qiagen Manchester Ltd. Дата публикации: 2015-01-14.

Polynucleotide primers for detecting PIK3CA mutations

Номер патента: US10196692B2. Автор: David Whitcombe,Ruth Board,Paul Francis Ravetto,Nicola Jo Thelwell,Jennifer Haworth. Владелец: Qiagen Manchester Ltd. Дата публикации: 2019-02-05.

Polynucleotide primers for detecting pik3ca mutations

Номер патента: EP2508624B1. Автор: David Whitcombe,Ruth Board,Jennifer Ferguson,Paul Francis Ravetto,Nicola Thelwell. Владелец: Qiagen Manchester Ltd. Дата публикации: 2015-01-14.

Method and probes for the detection of chromosome aberrations

Номер патента: US20040043383A1. Автор: Karl-Johan Pluzek,Kim Adelhorst,Kirsten Nielsen,Jacobus Maria Van Dongen. Владелец: Dako AS. Дата публикации: 2004-03-04.

Hybridisation method and probes therefor

Номер патента: AU5599886A. Автор: Francis Joseph Carr,Michael Derek Edge. Владелец: Imperial Chemical Industries Ltd. Дата публикации: 1986-11-06.

POLYNUCLEOTIDE PRIMERS AND PROBES

Номер патента: US20140038185A1. Автор: Makarov Vladimir,Chupreta Sergey V.. Владелец: SWIFT BIOSCIENCES, INC.. Дата публикации: 2014-02-06.

Polynucleotide Primers and Probes

Номер патента: US20140162263A1. Автор: Makarov Vladimir,Chupreta Sergey V.. Владелец: SWIFT BIOSCIENCES, INC.. Дата публикации: 2014-06-12.

POLYNUCLEOTIDE PRIMERS AND PROBES

Номер патента: US20140186844A1. Автор: Makarov Vladimir,Kurihara Laurie,Mishra Anjali,Chupreta Sergey V.. Владелец: SWIFT BIOSCIENCES, INC.. Дата публикации: 2014-07-03.

Methods and probes for monitoring marine water

Номер патента: US20160201127A1. Автор: Stewart Johnson,Helen GURNEY-SMITH,Catherine Thomson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-07-14.

Methods and probes for monitoring marine water

Номер патента: US10208344B2. Автор: Stewart Johnson,Helen GURNEY-SMITH,Catherine Thomson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-02-19.

Methods and probes for monitoring marine water

Номер патента: WO2015015400A1. Автор: Stewart Johnson,Helen GURNEY-SMITH,Catherine Thomson. Владелец: Catherine Thomson. Дата публикации: 2015-02-05.

Methods and probes for monitoring marine water

Номер патента: CA2919321C. Автор: Stewart Johnson,Helen GURNEY-SMITH,Catherine Thomson. Владелец: Gurney Smith Helen. Дата публикации: 2020-07-21.

Junction-fragment DNA probes and probe clusters

Номер патента: US4710465A. Автор: Sherman M. Weissman,Francis Collins. Владелец: YALE UNIVERSITY. Дата публикации: 1987-12-01.

Method for expressed gene analysis and probe kit for expressed gene analysis

Номер патента: US20040209291A1. Автор: Kazunori Okano,Chihiro Uematsu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-10-21.

Method for breeding and genotyping chickens and probes therefor

Номер патента: US20020051989A1. Автор: Marcia Miller,Ronald Goto. Владелец: CITY OF HOPE. Дата публикации: 2002-05-02.

Method for breeding and genotyping chickens and probes therefor

Номер патента: WO2001094615A3. Автор: Marcia M Miller,Ronald M Goto. Владелец: Hope City. Дата публикации: 2003-10-02.

Polynucleotide primers and probes for rapid detection of group b streptococcus (gbs)

Номер патента: AU2003226208A1. Автор: Betty Wu,Purnima Kurnool. Владелец: Handylab. Дата публикации: 2003-10-08.

POLYNUCLEOTIDE PRIMERS

Номер патента: US20130323736A1. Автор: Ravetto Paul Francis,Thelwell Nicola Jo,WHITCOMBE David Mark. Владелец: QIAGEN MANCHESTER LIMITED. Дата публикации: 2013-12-05.

Polynucleotide Primers For Detecting PIK3CA Mutations

Номер патента: US20160032408A1. Автор: Board Ruth,Haworth Jennifer,Ravetto Paul Francis,Thelwell Nicola Jo,Whitcombe David. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

Polynucleotide Primers For Detecting PIK3CA Mutations

Номер патента: US20160040255A1. Автор: Board Ruth,Haworth Jennifer,Ravetto Paul Francis,Thelwell Nicola Jo,Whitcombe David. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-11.

POLYNUCLEOTIDE PRIMERS

Номер патента: US20150211076A1. Автор: Ravetto Paul Francis,Thelwell Nicola Jo,WHITCOMBE David Mark. Владелец: QIAGEN MANCHESTER LIMITED. Дата публикации: 2015-07-30.

Polynucleotide primers for the detection of mutations in EGFR

Номер патента: EP2314717A1. Автор: David Whitcombe,Paul Francis Ravetto,Nicola Jo Thelwell. Владелец: Qiagen Manchester Ltd. Дата публикации: 2011-04-27.

Method and probe set for detecting cancer

Номер патента: US09790558B2. Автор: Walter King,Robert B. Jenkins,Steven A. Seelig,Irina A. Sokolova,Kevin C. Halling. Владелец: Abbott Molecular Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Methods and probes for identifying gene alleles

Номер патента: AU2021203239B2. Автор: David Charles Sayer,Dianne DESANTIS. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Method for quick determination of cytokeratin 19 (ck19) and primers and probes therefore

Номер патента: HK1109173A1. Автор: Yuko Kitagawa,Yasuhiko Sakakura. Владелец: Hoffmann La Roche. Дата публикации: 2008-05-30.

Nucleic acid amplification oligonucleotides and probes to lyme disease associated borrelia

Номер патента: CA2209991A1. Автор: Nick Carter,James J. Hogan,Yeasing Yang. Владелец: Individual. Дата публикации: 1996-07-25.

Nucleic acid amplification oligonucleotides and probes to Lyme disease associated Borrelia

Номер патента: US6074826A. Автор: Nick Carter,James J. Hogan,Yeasing Yang. Владелец: Gen Probe Inc. Дата публикации: 2000-06-13.

Polymerase chain reaction primers and probes for mycobacterium tuberculosis

Номер патента: EP3957753B1. Автор: Soumitesh Chakravorty,David Alland. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 2024-08-21.

Compositions and methods for performing hybridizations with separate denaturation of the sample and probe

Номер патента: US09309562B2. Автор: Steen Hauge Matthiesen. Владелец: Dako Denmark ApS. Дата публикации: 2016-04-12.

Primers and probe for streptococcus iniae LAMP-LFD visual detection, and application of primers and probe

Номер патента: CN103952472A. Автор: 陈炯,周前进. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2014-07-30.

Probe, probe set and probe carrier for detecting Candida lusitaniae

Номер патента: US7863000B2. Автор: Nobuyoshi Shimizu,Atsushi Takayanagi,Nobuhiro Tomatsu,Toshifumi Fukui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-01-04.

Diagnostic method and probe

Номер патента: CA2195404A1. Автор: Yasuhiro Matsumura,David Tarin. Владелец: Individual. Дата публикации: 1996-02-08.

Use of exonuclease iii and probe for sensitive and specific lateral-flow-assay detection of amplification amplicons

Номер патента: WO2023205648A1. Автор: Xiao Jiang,Chang Hee Kim. Владелец: Godx, Inc.. Дата публикации: 2023-10-26.

Methods and probes for identifying gene alleles

Номер патента: AU2024200796A1. Автор: David Charles Sayer,Dianne DESANTIS. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

New primers and probes for the detection of parvovirus b19

Номер патента: CA2791798C. Автор: Stefan Schorling. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2016-08-16.

New primers and probes for the detection of parvovirus b19

Номер патента: CA2559949C. Автор: Stefan Schorling. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2014-04-08.

Primers and Probes for Plantago Asiatica Mosaic Virus Detection

Номер патента: LU101792B1. Автор: Pengjun Zhang,Xiaoping YU,Yipeng XU,Guangfu LIU,Xuping Shentu,Qianqian YANG,Xianshu Fu. Владелец: Univ Jiliang China. Дата публикации: 2020-09-21.

Methods, substrates and probes for assaying n-glycosidase activity

Номер патента: WO2007120298A3. Автор: William K Keener,Mark A Poli,Victor R Rivera. Владелец: Victor R Rivera. Дата публикации: 2008-06-05.

Primer set and probe for detection of human papillomavirus

Номер патента: US20100240553A1. Автор: Naoki Ogawa,Atsushi Morishita,Isao Miyagawa,Akiko Kawakami,Kazuhiko Kogoh. Владелец: Kurashiki Spinning Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-23.

Aqueous polyurethane-phenolic formaldehyde resin emulsions for use as adhesives, primers and surface coatings

Номер патента: CA1110797A. Автор: Dennis J. Damico. Владелец: Lord Corp. Дата публикации: 1981-10-13.

Primer and multilayer coated article

Номер патента: US5518818A. Автор: Takashi Taniguchi,Hiroko Fujimoto,Masayuki Kidai. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 1996-05-21.

Probe dispenser and probe extractor

Номер патента: RU2390023C2. Автор: Джон П. КРИВЕН. Владелец: БАЙЕР ХЕЛТКЭА ЭлЭлСи. Дата публикации: 2010-05-20.

Probe apparatus and probe control device

Номер патента: EP4455681A1. Автор: Ivo Rangelow,Xiangqian Zhou. Владелец: Parcan Nanotech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Effective and scalable building and probing of hash tables using multiple gpus

Номер патента: US20230214225A1. Автор: Tim Kaldewey,Jiri Johannes Kraus,Nikolay Sakharnykh. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Probe card, and supporting structure and probe structure thereof

Номер патента: US20240319230A1. Автор: Yuan-Ting Tai,Hung-Chan Huang. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Method, system and probe for measuring and visualizing values of an electromagnetic parameter of a pcb

Номер патента: EP4296691A1. Автор: Gerd Bresser. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-12-27.

Clamping and probing device

Номер патента: US20170045553A1. Автор: Ken-Chao Chang. Владелец: BESTEST INDUSTRIAL Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-16.

Hub and probe system and method

Номер патента: EP1433273A1. Автор: Robert W. Haight,James Milton Marshall. Владелец: Cocomo MB Communications Inc. Дата публикации: 2004-06-30.

Processing Basket and Probes Disposable Utility Lining System

Номер патента: US20170341116A1. Автор: Jones Ofori. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-30.

Battery formation system and probe supporting structure thereof

Номер патента: US20190123335A1. Автор: Kuan-Chen Chen,Chuan-Tse LIN,Hsu-Chang HSU,Kuo-Yen HSU. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2019-04-25.

Effective and scalable building and probing of hash tables using multiple GPUs

Номер патента: US11604654B2. Автор: Tim Kaldewey,Jiri Johannes Kraus,Nikolay Sakharnykh. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Device for cleaning pipette needles and probes

Номер патента: GB2606352A. Автор: Taibon Ulrich. Владелец: Stratec SE. Дата публикации: 2022-11-09.

Method, system and probe for measuring and visualizing values of an electromagnetic parameter of a pcb

Номер патента: US20230417821A1. Автор: Gerd Bresser. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-12-28.

Approaches and probes for excitation, detection, and sensing of devices under test

Номер патента: WO2024003871A1. Автор: David Judah LEWIS. Владелец: Inziv Ltd.. Дата публикации: 2024-01-04.

Testing device and probe elements thereof

Номер патента: US11768223B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Borehole survey apparatus utilizing accelerometers and probe joint measurements

Номер патента: CA1166844A. Автор: Rand H. Ii Hulsing,Rex B. Peters. Владелец: Sundstrand Data Control Inc. Дата публикации: 1984-05-08.

Method and probe arrangement for the electromagnetic detection of metal objects

Номер патента: CA2177320A1. Автор: Klaus Ebinger,Augustinus Gunnewig. Владелец: Firma Ing. Klaus Ebinger. Дата публикации: 1996-11-19.

Grain drill and probe mechanism

Номер патента: US4800765A. Автор: Eugene E. Nelson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-01-31.

Sample insertion vacuum lock and probe assembly for mass spectrometers

Номер патента: US3590243A. Автор: Richard E Perrin,Billy A Hopper. Владелец: Avco Corp. Дата публикации: 1971-06-29.

Trigger-based keep-alive and probing mechanism for multiaccess management services

Номер патента: US20240276301A1. Автор: Jing Zhu,Mustafa Akdeniz,Menglei Zhang. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Forward-imaging tunable lens systems and probes

Номер патента: US09606269B2. Автор: Nathaniel J. Kemp,Thomas E. Milner,Karthik Kumar,Xiaojing Zhang,Jonathan C. Condit. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2017-03-28.

Multiple-tuned circuit and probe for NMR spectrometer

Номер патента: US6686741B2. Автор: Kenichi Hasegawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2004-02-03.

Prime and probe attack mitigation

Номер патента: US11822652B1. Автор: Shubhendu Sekhar Mukherjee. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Pump and probe type second harmonic generation metrology

Номер патента: US11821911B2. Автор: Viktor Koldiaev,Marc KRYGER,John CHANGALA. Владелец: Femtometrics Inc. Дата публикации: 2023-11-21.

Fuel primer and enrichment system for an internal combustion engine

Номер патента: CA1151481A. Автор: Paul W. Breckenfeld,Gene F. Baltz. Владелец: Outboard Marine Corp. Дата публикации: 1983-08-09.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US20170082657A1. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-03-23.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US09841438B2. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Probe needle material, probe needle and probe card using the same, and inspection method

Номер патента: JPWO2009040986A1. Автор: 隆之 和蛇田. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-13.

Lectin complex and method and probe for making same

Номер патента: CA1338619C. Автор: John M. Lambert,Walter A. Blattler,Simon E. Moroney,Linda J. D'alarcao. Владелец: Dana Farber Cancer Institute Inc. Дата публикации: 1996-10-01.

Porous piezoelectric material molded body, method of manufacturing same, and probe using said molded body

Номер патента: EP3817077A1. Автор: Kiyoshi Nagai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-05-05.

Spring wire, contact probe, and probe unit

Номер патента: EP2418495A4. Автор: Toshio Kazama,Shigeki Ishikawa. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-26.

LAMINATED ANODIC ALUMINUM OXIDE STRUCTURE, GUIDE PLATE OF PROBE CARD USING SAME, AND PROBE CARD HAVING SAME

Номер патента: US20210331446A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2021-10-28.

GUIDE PLATE FOR A PROBE CARD AND PROBE CARD PROVIDED WITH SAME

Номер патента: US20150301083A1. Автор: KIMURA Teppei,FAN Liwen. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-22.

Solid phase substrate for probe array and probe array

Номер патента: JP4644914B2. Автор: 輝久 柴原. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-09.

Photolabile linkers and probes

Номер патента: US5767288A. Автор: Michael H. B. Stowell,Ronald S. Rock,Sunney I. Chan. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 1998-06-16.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US9535096B2. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Disc-shaped sample chamber and probe including the same

Номер патента: US11913858B2. Автор: Cheol-Jung Kim,Young-jin JUNG,Bong-Ki BAIK. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2024-02-27.

Disc-shaped sample chamber and probe including the same

Номер патента: AU2020412222B2. Автор: Cheol-Jung Kim,Young-jin JUNG,Bong-Ki BAIK. Владелец: Woojin Electro Nite Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Probe device, and probe control apparatus and method

Номер патента: EP4397980A1. Автор: Ivo Rangelow,Xiangqian Zhou. Владелец: Parcan Nanotech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Silicon wafer for probe bonding and probe bonding method using thereof

Номер патента: WO2005122240A1. Автор: Jung-Hoon Lee. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2005-12-22.

Measurement system and probe tip landing method

Номер патента: US20240280605A1. Автор: Hsueh-Cheng Liao. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Probe head and probe card

Номер патента: EP3715866A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2020-09-30.

Spring probe and probe card having spring probe

Номер патента: US20170082656A1. Автор: Yi-Lung Lee,Tsung-Yi Chen,Horng-Kuang Fan,Horng-Chuan Sun,Shih-Shin Chen,Ting-Hsin Kuo. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-03-23.

Probe head and probe card

Номер патента: US11733267B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Wireless ultrasonic diagnostic apparatus, wireless ultrasonic probe, and probe authentication method

Номер патента: US09622718B2. Автор: Yasuhito Watanabe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-04-18.

Probe needle and probe module using the same

Номер патента: US09618536B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Chien-Chou Wu,Ming-Chi Chen,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Probe assembly and probe base plate

Номер патента: US09442160B2. Автор: Yoshiro Nakata. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Probe head, probe coupler and probe arrangement

Номер патента: US20210148955A1. Автор: Andreas Ziegler,Martin Peschke,Roland Krimmer,Dirk Gehrke,Reiner Franke. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-05-20.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Catheter and probe for measuring analytes or other parameters

Номер патента: EP2197341A1. Автор: Todd Fjield,Michael J. Higgins. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2010-06-23.

Probe card cassette and probe card

Номер патента: US8040147B2. Автор: Takashi Ohtori,Shiro Nozaki,Kenichi Tsunogaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-10-18.

Method and apparatus for sub-micron imaging and probing on probe station

Номер патента: EP1436636A4. Автор: Douglas J Thomson,Greg E Bridges. Владелец: SUSS MicroTec Test Systems GmbH. Дата публикации: 2005-04-27.

Method of inspecting semiconductor device, semiconductor device, and probe card

Номер патента: US12078659B2. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Probing device for electronic device and probing method

Номер патента: US09983256B2. Автор: Yuichi Ozawa,Tetsuo Yoshida,Yasuhito Iguchi,Junzo Koshio. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: US09599663B2. Автор: Sang-Boo Kang,Ki-Sub LIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-21.

Catheter and probe for measuring analytes or other parameters

Номер патента: WO2009021172A1. Автор: Todd Fjield,Michael J. Higgins. Владелец: EDWARDS LIFESCIENCES CORPORATION. Дата публикации: 2009-02-12.

Electric signal connecting device and probe assembly using the same

Номер патента: EP1777529A3. Автор: Gunsei Kimoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-08-01.

Ultrasonic imaging apparatus and probe for the same

Номер патента: US20240295644A1. Автор: Xidong Chen. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2024-09-05.

Probe head and die set having horizontally fine adjustable die and probe head adjusting method

Номер патента: US20220214379A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Hsin-Cheng Hung,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-07-07.

Surgical suturing system and probe assembly

Номер патента: WO1990003762A1. Автор: William D. Richards. Владелец: Ophthalmic Ventures Limited Partnership. Дата публикации: 1990-04-19.

Pogo pin and probe card, and method of manufacturing a semiconductor device using the same

Номер патента: US09651577B2. Автор: Joon-Yeon Kim,Sung-ho Joo,Yu-Kyum KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-16.

Probe card assemblies and probe pins including carbon nanotubes

Номер патента: EP2649463A1. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2013-10-16.

Probe assembly and probe structure thereof

Номер патента: US10718791B2. Автор: Jian-Wei Li,Kai-Chieh Hsieh,Yuan-Chiang Teng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-21.

Magnetic field probe and probe head thereof

Номер патента: US20170269170A1. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-09-21.

Magnetic field probe and probe head thereof

Номер патента: US20140253112A1. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2014-09-11.

Probe assembly and probe structure thereof

Номер патента: US10509057B2. Автор: Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-17.

Probe substrate and probe card having the same

Номер патента: US20100283495A1. Автор: Won Hee Yoo,Byeung Gyu Chang. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-11.

Magnetic field probe and probe head thereof

Номер патента: US09817080B2. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-11-14.

Photoacoustic measurement device and probe for photoacoustic measurement device

Номер патента: US09730588B2. Автор: Takeya Abe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US09638716B2. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Probe Card Assemblies And Probe Pins Including Carbon Nanotubes

Номер патента: US20140028342A1. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-01-30.

Test socket and probe with stepped collar for semiconductor integrated circuits

Номер патента: EP4409303A1. Автор: Zhe Yang,Jiachun Zhou. Владелец: Antares Advanced Test Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Magnetic field probe and probe head thereof

Номер патента: US09684040B2. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-06-20.

Low tolerance probe card and probe ring systems

Номер патента: US5949244A. Автор: David M. Miley. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-09-07.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US20220317155A1. Автор: Kohei Hironaka,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Augmented reality headset and probe for medical imaging

Номер патента: US20240225776A1. Автор: Arnaud Legros,Cedric SPAAS,Arun ANNAIYAN,Laura PÉREZ-PACHÓN. Владелец: Arspectra Sarl. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for manufacturing probe supporting plate, computer storage medium and probe supporting plate

Номер патента: US20110006799A1. Автор: Jun Mochizuki,Shinichiro Takase. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-01-13.

Multilayer Substrate and Probe Card

Номер патента: US20080191720A1. Автор: Jun Mochizuki,Hisatomi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Heat dissipatable die unit and probe seat using the same

Номер патента: US12050235B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Keng-Min Su,Ko-Chun WU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Ultrasonic treatment device and probe

Номер патента: US09839796B2. Автор: Yukihiko Sawada. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Probe generator, optical transmission apparatus and probe generating method

Номер патента: US09831944B2. Автор: Futoshi Izumi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Surface read-out tester valve and probe

Номер патента: CA1307456C. Автор: Paul D. Ringgenberg,Burchus Q. Barrington. Владелец: Halliburton Co. Дата публикации: 1992-09-15.

Probe positioning and bonding device and probe bonding method

Номер патента: US20060169678A1. Автор: Jung-Hoon Lee,Oug-Ki Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2006-08-03.

Probe head and probe assembly

Номер патента: US20240036073A1. Автор: Zhou Yi Lin. Владелец: Azoth Studio Ltd Co. Дата публикации: 2024-02-01.

Cryotherapy, thermal therapy, temperature modulation therapy, and probe apparatus therefor

Номер патента: EP3277164A1. Автор: Brooke Ren,Mark Grant,Richard Tyc. Владелец: Monteris Medical Corp. Дата публикации: 2018-02-07.

Probe Needle and Probe Module Using the Same

Номер патента: US20140352460A1. Автор: Tsung-Yi Chen,Chien-Chou Wu,Ming-Chi Chen,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Position Correction Method, Inspection Apparatus, and Probe Card

Номер патента: US20190277884A1. Автор: Shingo Ishida,Kunihiro Furuya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Guide plate for probe card and manufacturing method thereof, and probe card having same

Номер патента: US20200132756A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-30.

Device for installation of a probe and probe accommodating arrangement

Номер патента: CA2669927A1. Автор: Nils Arne Braaten,Tommy Jakobsen. Владелец: Roxar Asa. Дата публикации: 2008-05-29.

Slidable assemblies and probe elements

Номер патента: CA2112072C. Автор: Michael F. Scarffe. Владелец: Aztec Developments Ltd. Дата публикации: 2005-01-11.

Probe assembly and probe base plate

Номер патента: US20140300383A1. Автор: Yoshiro Nakata. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-09.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11852656B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Tae Hwan Song. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Probe head and probe card comprising same

Номер патента: US20230152350A1. Автор: Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN,Dong Hyeok Seo. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-18.

Cryotherapy, thermal therapy, temperature modulation therapy, and probe apparatus therefor

Номер патента: WO2016160551A1. Автор: Brooke Ren,Mark Grant,Richard Tyc. Владелец: MONTERIS MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-06.

Probe array and probe structure

Номер патента: US20240053381A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-15.

Guide plate structure and probe array

Номер патента: US20240036106A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Semiconductor Inspection Device and Probe Unit

Номер патента: US20210263075A1. Автор: Masaaki Komori,Katsuo Oki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-08-26.

Photoacoustic measurement apparatus and probe

Номер патента: US20170360304A1. Автор: Atsushi Hashimoto,Kaku Irisawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Remote sensing and probing of high-speed electronic devices

Номер патента: US20180328982A1. Автор: Sana Rezgui. Владелец: Az LLC. Дата публикации: 2018-11-15.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US11422156B2. Автор: Kohei Hironaka,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-23.

Method of repairing probe board and probe board using the same

Номер патента: US20140318838A1. Автор: Ki Pyo Hong,Myung Whun Chang,Dae Hyeong Lee. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-30.

Device for installation of a probe and probe accommodating arrangement

Номер патента: CA2669927C. Автор: Nils Arne Braaten,Tommy Jakobsen. Владелец: Roxar AS. Дата публикации: 2016-08-02.

Probe, method of its manufacturing, and probe-type memory

Номер патента: EP1016868A4. Автор: Yasushi Ogimoto. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2001-04-18.

Probe, method of its manufacturing, and probe-type memory

Номер патента: EP1016868B1. Автор: Yasushi Ogimoto. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2011-04-27.

Probe holder and probe unit

Номер патента: US20200033380A1. Автор: Tsukasa Sakaguchi,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-30.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11860192B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Rebound tonometer docking station and probe dispenser

Номер патента: WO2020251691A1. Автор: David A. Taylor,James M. Schweitzer,Russell J. Bonaventura. Владелец: REICHERT, INC.. Дата публикации: 2020-12-17.

Probe card and probe module thereof

Номер патента: US20210311095A1. Автор: Chung-Yen Huang,Chih-Hao Ho,Fuh-Chyun Tang,Chih-Wei Wen,Sheng-Feng Xu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-10-07.

Method and apparatus for sub-micron imaging and probing on probe station

Номер патента: AU6207900A. Автор: Greg E. Bridges,Douglas J. Thomson. Владелец: Micron Force Instruments Inc. Дата публикации: 2001-01-30.

Method of inspecting semiconductor device, semiconductor device, and probe card

Номер патента: US20240142497A1. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Cantilever probe card and probe module thereof

Номер патента: US20230349953A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Rebound tonometer docking station and probe dispenser

Номер патента: US20200390331A1. Автор: David A. Taylor,James M. Schweitzer,Russell J. Bonaventura. Владелец: Reichert Inc. Дата публикации: 2020-12-17.

Rebound tonometer docking station and probe dispenser

Номер патента: CA3141825A1. Автор: David A. Taylor,James M. Schweitzer,Russell J. Bonaventura. Владелец: Reichert Inc. Дата публикации: 2020-12-17.

Rebound tonometer docking station and probe dispenser

Номер патента: EP3982820A1. Автор: David A. Taylor,James M. Schweitzer,Russell J. Bonaventura. Владелец: Reichert Inc. Дата публикации: 2022-04-20.

Rebound tonometer docking station and probe dispenser

Номер патента: CA3141825C. Автор: David A. Taylor,James M. Schweitzer,Russell J. Bonaventura. Владелец: Reichert Inc. Дата публикации: 2023-10-17.

Method and apparatus for sub-micron imaging and probing on probe station

Номер патента: WO2001004653A1. Автор: Greg E. Bridges,Douglas J. Thomson. Владелец: Mfi Technologies Corporation. Дата публикации: 2001-01-18.

Probe card cassette and probe card

Номер патента: US20110006798A1. Автор: Takashi Ohtori,Shiro Nozaki,Kenichi Tsunogaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-13.

Probe head for wafer-level burn-in test (WLBI) and probe card comprising said probe head

Номер патента: US20240183882A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microsoft SpA. Дата публикации: 2024-06-06.

Remote sensing and probing of high-speed electronic devices

Номер патента: WO2017161227A1. Автор: Sana Rezgui. Владелец: AZ, LLC. Дата публикации: 2017-09-21.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US20240264200A1. Автор: Hajime Arai,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Semiconductor device having pads for bonding and probing

Номер патента: US20080012046A1. Автор: Tsukasa Ojiro. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2008-01-17.

Probe grinding method, probe grinding program and probe device

Номер патента: TWI479555B. Автор: Hideaki Tanaka,Satoshi Sano. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-04-01.

Expansion member for probe for charging and discharging battery and probe including the same

Номер патента: US20230155405A1. Автор: Woosik HAN,Jeongmok LEE,Soojeong YOU. Владелец: Wonik PNE Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-18.

Probe element and probe unit

Номер патента: US12085586B2. Автор: Jun Toda,Kiyoto Araki. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Expansion member for probe for charging and discharging battery and probe including the same

Номер патента: EP4181269A1. Автор: Woosik HAN,Jeongmok LEE,Soojeong YOU. Владелец: Wonik PNE Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Expansion member for probe for charging and discharging battery and probe including the same

Номер патента: US12046939B2. Автор: Woosik HAN,Jeongmok LEE,Soojeong YOU. Владелец: Wonik PNE Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Signal path switch and probe card having the signal path switch

Номер патента: US09442134B2. Автор: Wei Chen,Chun-Chung Huang,Wei-Cheng Ku,Hsin-Hsiang Liu,Jun-Liang Lai,Kuang-Chung Chou. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Hyperthermia treatment and probe therefor

Номер патента: US09387042B2. Автор: Richard Tyc,Ken J. Mctaggart,John S. Pacak,Mark G. Torchia. Владелец: Monteris Medical Corp. Дата публикации: 2016-07-12.

Probe data collection method and probe data collection device

Номер патента: CA2997047C. Автор: Masahide Nakamura. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-13.

Nmr system and probe positioning method

Номер патента: US20070164745A1. Автор: Michiya Okada,Fumio Iida,Mitsuyoshi Tsuchiya,Hiromitsu Seino. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-07-19.

Vertical probe comprising slots and probe card for integrated circuit devices using the same

Номер патента: US7928749B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Probe data collection method and probe data collection device

Номер патента: EP3343532A1. Автор: Masahide Nakamura. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-04.

Automatic analyzer and probe washing method

Номер патента: US11366132B2. Автор: Isao Yamazaki,Takamichi Mori,Akihiro Nojima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-06-21.

Prober and probe card cleaning method

Номер патента: US20210063443A1. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-03-04.

Automatic analyzer and probe washing method

Номер патента: US20200348325A1. Автор: Isao Yamazaki,Takamichi Mori,Akihiro Nojima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-11-05.

Probe card device and probe head

Номер патента: US20190302147A1. Автор: Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Automated analyzer and probe cleaning method

Номер патента: EP3699600A1. Автор: Takamichi Mori,Akihiro Nojima,Isao YAMAZAKI.. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-08-26.

Probe structure and probe card device

Номер патента: US20220341969A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Probe for electrical test and probe assembly

Номер патента: US20070210813A1. Автор: Hideki Hirakawa,Shinji Kuniyoshi,Takayuki Hayashizaki,Akira Souma. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2007-09-13.

Multicore optical fiber for multipoint distributed sensing and probing

Номер патента: CA2971051C. Автор: Antoine Proulx,Claude Pare,Patrick Paradis,Chiara Meneghini. Владелец: Institut National dOptique. Дата публикации: 2019-12-03.

Method and probes for the detection of a tumor specific fusion protein

Номер патента: CA2505509C. Автор: Jacobus Johannes Maria Van Dongen. Владелец: Erasmus Universiteit Rotterdam. Дата публикации: 2013-08-20.

Method and Processing System for Processing Probe Data and Probe

Номер патента: US20240071217A1. Автор: Jean-Claude Mattelaer. Владелец: TomTom Global Content BV. Дата публикации: 2024-02-29.

Probe holder and probe unit

Номер патента: PH12019502218A1. Автор: Tsukasa Sakaguchi,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-06.

Method and processing system for processing probe data and probe

Номер патента: EP4328888A1. Автор: Jean-Claude Mattelaer. Владелец: TomTom Global Content BV. Дата публикации: 2024-02-28.

Probe installation circuit board and probe device for probe card

Номер патента: US20220349919A1. Автор: Yi-Lung Lee,Yu-Shan Hu,Shao-Lun WEI,Yu-Wen Chou. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Alignment chip for probe card, probe card and probe card repair method

Номер патента: US20240103071A1. Автор: Takashi Yoshida. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Probe-card multilayer wiring substrate and probe card

Номер патента: US20230408547A1. Автор: Satoshi Abe,Tetsuo Fujimoto,Yusuke Harada,Shinya Hori. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Jig for manufacturing probe card, probe alignment system comprising same, and probe card manufactured thereby

Номер патента: US20230176092A1. Автор: Oug Ki Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-08.

Air insulated medium voltage switchgear, and probe system for air insulated medium voltage switchgear

Номер патента: EP3010101A1. Автор: Tomas Kozel. Владелец: ABB TECHNOLOGY AG. Дата публикации: 2016-04-20.

Device for metering a gas content of liquid metal and probe used therefor

Номер патента: CA1330719C. Автор: Jacques Joseph Plessers,Rudi Maes. Владелец: Electro Nite International NV. Дата публикации: 1994-07-19.

Electromagnetic wave source probing device and probing method with the probing device

Номер патента: CA2269170C. Автор: Kouichi Uesaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-05-06.

Testing of liquid melts and probes for use in such testing

Номер патента: US4981045A. Автор: Norman D. G. Mountford. Владелец: Innovations Foundation of University of Toronto. Дата публикации: 1991-01-01.

Temperature sensitive bridge circuits and probes therefor

Номер патента: GB1222379A. Автор: Neville Ryland Davis. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-02-10.

Improved measurement port coupler and probe interface

Номер патента: CA2240326A1. Автор: Franklin D. Patton,Jan J. Divis. Владелец: Individual. Дата публикации: 1997-06-26.

Spring-loaded probe having folded portions and probe assembly

Номер патента: EP3555635A1. Автор: Valts Treibergs,James BRANDES,Travis Evans. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2019-10-23.

Probe holder and probe unit

Номер патента: US20240019460A1. Автор: Osamu Ito,Hajime Arai,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US20230143340A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Spring-loaded probe having folded portions and probe assembly

Номер патента: US20200064373A1. Автор: Valts Treibergs,James BRANDES,Travis Evans. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

Probe and probe card

Номер патента: US20130265074A1. Автор: Minoru Sato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-10.

Detection device and probe module thereof

Номер патента: US20240097216A1. Автор: Wen-Chuan Chang,Chuan-Tse LIN,Ying-Cheng Chen,Chen-Chou WEN,Shih-Chin Tan. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Probe head and probe card having same

Номер патента: WO2021215790A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: POINT ENGINEERING CO., LTD.. Дата публикации: 2021-10-28.

Substrate structure and probe card having the same

Номер патента: WO2008105608A1. Автор: Chang-Soo Lee. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2008-09-04.

Probe card management system and probe card management method

Номер патента: US20200191830A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-06-18.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US20150377926A1. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2015-12-31.

Accelerated building and probing of hash tables using symmetric vector processing

Номер патента: US11797539B2. Автор: Shasank Kisan Chavan,James Kearney,Weiwei Gong. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Physical property measurement method, physical property measurement device, and probe

Номер патента: US20230106219A1. Автор: Koji Miyata,Hiroyuki Noda,Daisuke Sawai,Tadashi Kajiya. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Spring-loaded probe having folded portions and probe assembly

Номер патента: PH12019501256A1. Автор: Valts Treibergs,James BRANDES,Travis Evans. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2020-01-20.

Chip test apparatus and probe card circuit

Номер патента: US20090224779A1. Автор: Chia-Chi Hsu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2009-09-10.

Probe assembly and probe structure thereof

Номер патента: US20190265275A1. Автор: Jian-Wei Li,Kai-Chieh Hsieh,Yuan-Chiang Teng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-29.

Microelectromechanical probe and probe head having the same

Номер патента: US20180267083A1. Автор: Chien-Yu Lin,Yu-Chen Hsu,Mao-Fa Shen,Shao-Lun WEI,Neng-Hsuan KUO,Ching-Kai CHU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: KR102066155B1. Автор: 임기섭,강상부. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2020-01-14.

Scanning magnetism detector and probe

Номер патента: US6750450B2. Автор: Eiichi Hirota,Kazuhisa Sueoka,Koichi Mukasa,Makoto Sawamura. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2004-06-15.

Vertical probe and its preparation method and the probe and probe card using vertical probe

Номер патента: CN107796966A. Автор: 许育祯,魏绍伦,范宏光. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Procedure and probe for detection of particulate matter in a liquid or gas stream

Номер патента: CA2053598C. Автор: Terje Sontvedt,John Petter Sargeant,Tom Solberg. Владелец: NORSK HYDRO ASA. Дата публикации: 2008-12-16.

Probe card probe and probe card probe testing method

Номер патента: CN115201654A. Автор: 梁建,罗雄科. Владелец: Shanghai Zenfocus Semi Tech Co ltd. Дата публикации: 2022-10-18.

Impedance tuner systems and probes

Номер патента: CA2558861C. Автор: Gary R. Simpson. Владелец: Maury Microwave Inc. Дата публикации: 2013-11-12.

Probe, probe assembly and probe card comprising it

Номер патента: KR20130047933A. Автор: 김세종,남인철. Владелец: 솔브레인이엔지 주식회사. Дата публикации: 2013-05-09.

Probe and probe card

Номер патента: EP4310892A1. Автор: Takayuki Hayashizaki,Mika Nasu,Misaki Toyoda,Mizuho Kon,Kenichi Suto. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-24.

Augmented reality headset and probe for medical imaging

Номер патента: EP4333763A1. Автор: Arnaud Legros,Cedric SPAAS,Arun ANNAIYAN,Laura PÉREZ-PACHÓN. Владелец: Arspectra Sarl. Дата публикации: 2024-03-13.

Probing apparatus, probing print-circuit board and probing system for high-voltage matrix-based probing

Номер патента: TW200720684A. Автор: Li-Jen Tang. Владелец: Ip Leader Technology Corp. Дата публикации: 2007-06-01.

Probe and probe card

Номер патента: US20240168056A1. Автор: Takayuki Hayashizaki,Mika Nasu,Misaki Toyoda,Mizuho Kon,Kenichi Suto. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Contact probe, probe holder and probe unit

Номер патента: US20230251286A1. Автор: Hajime Arai,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Probe and probe device

Номер патента: US20240125814A1. Автор: Yujin HAGA. Владелец: Hirose Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Methods and probes for determining the concentration of copper

Номер патента: US10705099B2. Автор: Nicola Antonio Colabufo. Владелец: Igea Research Corp. Дата публикации: 2020-07-07.

Probe polishing method, program therefor, and probe apparatus

Номер патента: TW201027607A. Автор: Hideaki Tanaka,Satoshi Sano. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-07-16.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: KR20140110440A. Автор: 임기섭,강상부. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2014-09-17.

Evaluation apparatus and probe position inspection method

Номер патента: US9804197B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Norihiro Takesako. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Probe block and probe and the probe unit with this probe block

Номер патента: CN103091520B. Автор: 小笠原崇,山口宪荣. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-25.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US20210223287A1. Автор: Tsukasa Sakaguchi,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Probing method and probing program

Номер патента: TW201027646A. Автор: Hideaki Tanaka,Yukihiko Fukasawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-07-16.

Arch type probe and probe card using same

Номер патента: TWI234660B. Автор: Atsushi Mine,Kazumichi Machida,Atsuo URATA,Teppei KIMURA,Toranosuke Furusho. Владелец: Nihon Denshizairyo KK. Дата публикации: 2005-06-21.

Probe card assembly and probes therein

Номер патента: TW201018918A. Автор: Cheng-Chin Ni,Kun-Chou Chen. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-05-16.

High-density microbump and probe pad arrangement for semiconductor components

Номер патента: US12033903B1. Автор: Nikhil Jayakumar. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

Probe and probe card

Номер патента: TW200912326A. Автор: Koichi Wada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-03-16.

Probing method and probe apparatus

Номер патента: TW200405013A. Автор: Yuichi Abe,Kenichi Kataoka,Tadatomo Suga,Shigekazu Komatsu,Toshihiro Itoh. Владелец: Toshihiro Itoh. Дата публикации: 2004-04-01.

Probing method and probe apparatus

Номер патента: TWI287090B. Автор: Katsuya Okumura,Kenichi Kataoka,Tadatomo Suga,Shigekazu Komatsu,Toshihiro Itoh. Владелец: Toshihiro Itoh. Дата публикации: 2007-09-21.

Probe apparatus and probe unit

Номер патента: TW201243342A. Автор: Yuki Saitoh,Yoshimi Nakayama,Toyokazu Saitoh,Megumi Akahira. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2012-11-01.

Heater substrate, probe card substrate, and probe card

Номер патента: US12013433B2. Автор: Hidenori Tanaka,Daisuke JINGU. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Silicon wafer for probe bonding and probe bonding method using thereof

Номер патента: TW200604532A. Автор: Jung-Hoon Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2006-02-01.

Silicon wafer for probe bonding and probe bonding method using thereof

Номер патента: TWI283301B. Автор: Jung-Hoon Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2007-07-01.

Probe and probe assembly

Номер патента: TW200804828A. Автор: Tomoaki Kuga,Harutada Dewa,Takao Yasuta,Juri Rokunohe. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2008-01-16.

Methods and probes for determining the concentration of copper

Номер патента: WO2017021759A1. Автор: Nicola Antonio Colabufo. Владелец: Canox4Drug S.P.A.. Дата публикации: 2017-02-09.

Contact probe and probe unit

Номер патента: TW201229519A. Автор: Toshio Kazama,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-16.

Probe structure and probe card having the same

Номер патента: TW200841021A. Автор: Ung-Gi Park,Young-Woo Shin. Владелец: Mico TN Ltd. Дата публикации: 2008-10-16.

Contact probe and probe unit

Номер патента: SG11202000654VA. Автор: Kohei Hironaka,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Probe holder and probe unit

Номер патента: TWI319484B. Автор: Koji Ishikawa,Jun Tominaga,Taiichi Rikimaru. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-11.

High speed probing apparatus for semiconductor devices and probe stage for the same

Номер патента: TW201212139A. Автор: Yong Yu Liu. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2012-03-16.

Display driving ic device and probe test method using the same

Номер патента: US20240177640A1. Автор: Sang Ho Lee,Yun Yeong Park,Hyoung Kyu Kim,Dae Young YOO. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Testing substrate and manufacturing method thereof and probe card

Номер патента: US12108543B2. Автор: Chiao-Pei Chen,Chun-Hsiung Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Optical acquisition system and probing method for object matching

Номер патента: US12061733B2. Автор: Ron Appel. Владелец: Microscopic Image Recognition Algorithms Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Method of manufacturing semiconductor device, and probe card

Номер патента: US09829507B2. Автор: Takashi Saito. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Printed circuit board and probe therewith

Номер патента: US09462996B2. Автор: Gil Ju Jin,Jae Yk Kim,Jung Lim Park. Владелец: Samsung Medison Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Semiconductor wafer evaluation method, semiconductor wafer evaluation device, and probe for semiconductor evaluation device

Номер патента: US09431307B2. Автор: Taichi Okano. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2016-08-30.

PROBES AND PROBE ASSEMBLIES FOR WAFER PROBING

Номер патента: US20160025776A1. Автор: Lee Chang-Ho,Song Young Kyu. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-28.

PROBE CARD HAVING REPLACEABLE PROBE MODULE AND ASSEMBLING METHOD AND PROBE MODULE REPLACING METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20170315149A1. Автор: Wu Cheng-En,CHEN Shih-Shin,YU CHIA-HSIANG. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-02.

ULTRASONIC PROBE AND PROBE HEAD FOR ULTRASONIC PROBE

Номер патента: US20190307422A1. Автор: MAKITA Yasuhisa,OKADA Kengo. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2019-10-10.

Manufacturing method of probe unit and probe and probe unit

Номер патента: KR101086006B1. Автор: 양희성. Владелец: 양희성. Дата публикации: 2011-11-23.

Jig for probe assembly and probe assembly method using jig for probe assembly

Номер патента: KR102254391B1. Автор: 박준호,조윤석,윤덕환. Владелец: 그린스펙(주). Дата публикации: 2021-05-21.

Catheter and probe-catheter assembly

Номер патента: US5333609A. Автор: William Bedingham,Joel R. Dufresne,David F. Wirt. Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1994-08-02.

Probe card characteristic measuring device, probe device, and probe method

Номер патента: JP4782953B2. Автор: 勝 鈴木. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-09-28.

Probe head and probe head assembly method capable of avoiding probe short circuit

Номер патента: TWI763506B. Автор: 林哲緯,林進億,蘇耿民. Владелец: 旺矽科技股份有限公司. Дата публикации: 2022-05-01.

Probe card and probe device using such probe card

Номер патента: DE19717369A1. Автор: Masakazu Nakabayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1998-04-09.

Method of manufacturing probe tip and probe for use in scanning probe microscope

Номер патента: KR100766407B1. Автор: 박영근,장희옥. Владелец: (주)엠투엔. Дата публикации: 2007-10-12.

Electromagnetic wave source probing device and probing method with the probing device

Номер патента: US20030018444A1. Автор: Kouichi Uesaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-01-23.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US11874300B2. Автор: Tsukasa Sakaguchi,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Probe pin, probe card, and probe device

Номер патента: TW200736617A. Автор: Kenichi Kataoka,Toshihiro Itoh,Ka Toh. Владелец: Univ Tokyo. Дата публикации: 2007-10-01.

SPRING PROBE AND PROBE CARD HAVING SPRING PROBE

Номер патента: US20170082656A1. Автор: LEE Yi-Lung,Chen Tsung-Yi,FAN Horng-Kuang,CHEN Shih-Shin,KUO Ting-Hsin,SUN Horng-Chuan. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

PROBE INFORMATION MANAGEMENT DEVICE, PROBE INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM, AND PROBE INFORMATION MANAGEMENT METHOD

Номер патента: US20150142485A1. Автор: Osafune Tatsuaki,KIYAMA NOBORU. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-21.

PROBE CARD, PROBING SYSTEM AND PROBING METHOD

Номер патента: US20210208182A1. Автор: LOU CHOON LEONG. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-08.

Probe head assemblies with constrained internal motion and probe systems including the probe head assemblies

Номер патента: US20170212166A1. Автор: Brandon Liew. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2017-07-27.

POSITIONER OF PROBE CARD AND PROBE HEAD OF PROBE CARD

Номер патента: US20150377926A1. Автор: Hsieh Shang-Jung,Lin Che-Wei,Chen Tsung-Yi,LEE CHUNG-TSE,LI TIEN-CHIA,KUO Chia-Yuan,CHEN Tzu-Yang. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

PROBE INSTALLATION CIRCUIT BOARD AND PROBE DEVICE FOR PROBE CARD

Номер патента: US20220349919A1. Автор: CHOU Yu-Wen,Hu Yu-Shan,LEE Yi-Lung,WEI Shao-Lun. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2022-11-03.

Probe card and probing test method for semiconductor integrated circuit using the probe card

Номер патента: JP3135825B2. Автор: 朋美 桃原. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-02-19.

Manufacturing method of probe pin having connection part and probe pin manufactured by the same and probe card having the same

Номер патента: KR101329546B1. Автор: 안용훈. Владелец: 권오경. Дата публикации: 2013-11-15.

Probe unit of micro pitch array and probe apparatus using the probe unit

Номер патента: KR100715492B1. Автор: 안재일. Владелец: (주)엠씨티코리아. Дата публикации: 2007-05-07.

Monitoring system and probe

Номер патента: US10307074B2. Автор: Leigh Cordwin Ward. Владелец: Impedimed Ltd. Дата публикации: 2019-06-04.

Prober and probe method

Номер патента: US6140828A. Автор: Shinji Iino,Haruhiko Yoshioka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2000-10-31.

Input circuit for a probe of a logic analyser and probe and logic analyser provided with such a circuit

Номер патента: US4803423A. Автор: Pierre-Henri Boutigny. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1989-02-07.

Vertical probe and method for fabricating the same, and probe head and probe card using the same

Номер патента: CN107796966B. Автор: 许育祯,魏绍伦,范宏光. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2020-11-03.

Fuel tank vent value and probe assembly

Номер патента: US5706857A. Автор: Edward J. Dowling, Jr.,Donald C. Esperson,Robert F. Staab. Владелец: Arizona Instrument LLC. Дата публикации: 1998-01-13.

Photothermal system with spectroscopic pump and probe

Номер патента: US7280215B2. Автор: Lena Nicolaides,Jon Opsal,Alex Salnik. Владелец: Therma Wave Inc. Дата публикации: 2007-10-09.

Probe card for electrical inspection, and probe head of probe card

Номер патента: WO2020050645A1. Автор: 정영배. Владелец: 주식회사 아이에스시. Дата публикации: 2020-03-12.

Diagnostic molecular fingerprinting and probe therefor

Номер патента: CA1167376A. Автор: Henry A. Erlich,Michael A. Lovett. Владелец: Cetus Corp. Дата публикации: 1984-05-15.

Ultrasonic freeze ablation catheters and probes

Номер патента: US5139496A. Автор: Aharon Z. Hed. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-08-18.

Align hole having probe pin and probe head assembly therof

Номер патента: KR20140003761A. Автор: 송원호,송지은. Владелец: 송지은. Дата публикации: 2014-01-10.

Ultrasonic probes and probe heads for ultrasonic probes

Номер патента: JP7223594B2. Автор: 裕久 牧田,健吾 岡田. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-02-16.

Induced magnetic field borehole surveying method and probe

Номер патента: GB2148012A. Автор: Robert Wesley Cobcroft. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-05-22.

Method for testing special pattern and probe card defect in wafer testing

Номер патента: US9435847B2. Автор: Yen Lin,Shih-Hsien Chang,Kai-Wen Tu,Ching-Ren Cheng. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Method for producing a probe, mask for producing the probe, and probe

Номер патента: TW200401110A. Автор: Chikaomi Mori. Владелец: Nihon Denshizairyo KK. Дата публикации: 2004-01-16.

Probe, probe card, and probe manufacturing method

Номер патента: JPWO2009004721A1. Автор: 晃一 和田,和田 晃一. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-08-26.

Battery cell formation device and probe supporting structure thereof

Номер патента: US20190067759A1. Автор: Kuan-Chen Chen,Chuan-Tse LIN,Hsu-Chang HSU,Kuo-Yen HSU. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

Battery cell formation device and probe supporting structure thereof

Номер патента: US10665906B2. Автор: Kuan-Chen Chen,Chuan-Tse LIN,Hsu-Chang HSU,Kuo-Yen HSU. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2020-05-26.

Conductive probe, method of manufacturing the same, and probe card device having the same

Номер патента: US20230333141A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Remote sensing and probing of high-speed electronic devices

Номер патента: US10585138B2. Автор: Sana Rezgui. Владелец: Az LLC. Дата публикации: 2020-03-10.

Probe head, its assembly method and probe card

Номер патента: US20040239351A1. Автор: Shuichi Sawada,Masaya Tsuchie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US20210156887A1. Автор: Kohei Hironaka,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-27.

BOARD FOR PROBE CARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PROBE CARD

Номер патента: US20150028912A1. Автор: Park Yun Hwi,Shin Ji Hwan,CHO Beom Joon,Oh Kwang Jae,CHOO Ho Sung,CHOI Jung Goo,NA Ji Sung. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-29.

MICROELECTROMECHANICAL PROBE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND PROBE SET

Номер патента: US20170176497A1. Автор: Hsu Chih-Hao,HSU Yu-Chen,WEI Shao-Lun,SHEN Mao-Fa. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

Probe and probe circuit for solid-state nuclear magnetic resonance

Номер патента: KR101038562B1. Автор: 박태준,김용애,엄승훈. Владелец: 한국외국어대학교 연구산학협력단. Дата публикации: 2011-06-02.

Probe and probe assembly for current test

Номер патента: JP4841620B2. Автор: 雄治 宮城,哲哉 岩渕. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-21.

Probing apparatus and probing method for electronic device

Номер патента: JP5706501B1. Автор: 小澤 裕一,裕一 小澤,靖仁 井口,徹夫 吉田,潤三 小塩. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-22.

AUXILIARY STIMULATION POLE FOR CARDIAC STIMULATION PROBE AND PROBE THUS EQUIPPED

Номер патента: FR2851169B1. Автор: Marc Bemurat,Diane Bemurat,Laurent Bemurat,Eliane Bemurat. Владелец: Eliane Bemurat. Дата публикации: 2005-05-20.

Composition and probe for detection of water

Номер патента: US4699885A. Автор: Frank W. Melpolder,James G. Victor. Владелец: Atlantic Richfield Co. Дата публикации: 1987-10-13.

CONTACT PROBE AND PROBE UNIT

Номер патента: US20130099814A1. Автор: MATSUI Akihiro,Kazama Toshio,Souma Kazuya. Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2013-04-25.

PROBE AND PROBE CARD

Номер патента: US20130265074A1. Автор: Sato Minoru. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-10.

Probe Card Assemblies And Probe Pins Including Carbon Nanotubes

Номер патента: US20140028342A1. Автор: Brandorff Alexander. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-30.

CONTACT PROBE AND PROBE CARD

Номер патента: US20140043055A1. Автор: Souma Akira,UEBAYASHI Masatomo. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2014-02-13.

APPARATUS FOR MEASURING POSITION OF PROBE FOR INCLINOMETER, AND PROBE

Номер патента: US20180003496A1. Автор: LEE Seung Heon,Lee Keun Ho,LEE Song Heon. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-04.

PROBE HOLDER AND PROBE UNIT

Номер патента: US20200033380A1. Автор: Souma Kazuya,Sakaguchi Tsukasa. Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2020-01-30.

Probe Module and Probe

Номер патента: US20210033642A1. Автор: Nara Yasuhiko,Mizuno Takayuki,Ohtaki Tomohisa,HIRANO Ryo,KAGEYAMA Akira,FUJIMURA Toru,KATO Shigehiko,OHKI Katsuo,KOMORI Masaaki. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-04.

SPRING-LOADED PROBE HAVING FOLDED PORTIONS AND PROBE ASSEMBLY

Номер патента: US20200064373A1. Автор: Treibergs Valts,Evans Travis,Brandes James. Владелец: XCERRA CORPORATION. Дата публикации: 2020-02-27.

PROBE ASSEMBLY AND PROBE STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20190072586A1. Автор: HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-07.

GUIDE PLATE FOR A PROBE CARD AND PROBE CARD PROVIDED WITH SAME

Номер патента: US20170082657A1. Автор: KIMURA Teppei,FAN Liwen. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

SPRING PROBE HAVING OUTER SLEEVE AND PROBE DEVICE HAVING THE SAME

Номер патента: US20170097376A1. Автор: LI TIEN-CHIA,KUO Ting-Hsin,CHOU Yi-Ching. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-06.

PROBING DEVICE FOR ELECTRONIC DEVICE AND PROBING METHOD

Номер патента: US20150109625A1. Автор: Yoshida Tetsuo,Ozawa Yuichi,Iguchi Yasuhito,Koshio Junzo. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

CURRENT-DIVERTING GUIDE PLATE FOR PROBE MODULE AND PROBE MODULE USING THE SAME

Номер патента: US20140197860A1. Автор: HSU Hsien-Ta,FAN Horng-Kuang. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2014-07-17.

PROBE HEAD RECEIVER AND PROBE CARD ASSEMBLY HAVING THE SAME

Номер патента: US20170122984A1. Автор: Hsu Ming-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

CONTACT PROBE AND PROBE UNIT

Номер патента: US20210156887A1. Автор: Soma Kazuya,Hironaka Kohei. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-27.

METHOD FOR COOLING AN ULTRASONIC PROBE AND PROBE INCLUDING SUCH COOLING

Номер патента: US20200121299A1. Автор: VINCENOT Jérémy,NALLET Olivier,BLANC Emmanuel. Владелец: EDAP TMS FRANCE. Дата публикации: 2020-04-23.

GUIDE PLATE FOR PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PROBE CARD HAVING SAME

Номер патента: US20200132756A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

PROBE GUIDE PLATE AND PROBE APPARATUS

Номер патента: US20170146569A1. Автор: SHIMIZU Yuichiro,Fujihara Kosuke,Yamasaki Tomoo,Mori Chikaomi. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-25.

PROBE CARD CASE AND PROBE CARD TRANSFER METHOD

Номер патента: US20170153272A1. Автор: Amemiya Takashi,Mori Chikaomi. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-01.

PROBE APPARATUS AND PROBE METHOD

Номер патента: US20160161553A1. Автор: SAIKI Kenta,AKAIKE Shinji,TAMURA Muneaki,KOSHIMIZU Kazuhiko,OKAZAKI Isao,KAWATSUKI Mitsuya,TSUDA Kiyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

MAGNETIC FIELD PROBE AND PROBE HEAD THEREOF

Номер патента: US20140253112A1. Автор: LU Hsin-Chia,CHOU Yien-Tien. Владелец: NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-09-11.

METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARD AND PROBE CARD MANUFACTURED USING SAME

Номер патента: US20210199696A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Song Tae Hwan. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

PROBE MANUFACTURING METHOD AND PROBE

Номер патента: US20190170651A1. Автор: Nakata Yasushi,HIRAO Kazuyuki,OKUNO Yoshito,Nishi Masayuki,Kashiwagi Shinsuke,TERANISHI Daisuke,ITASAKA Hiroki,NAKA Nobuyuki. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-06.

PROBE CARD DEVICE AND PROBE HEAD THEREOF

Номер патента: US20200166543A1. Автор: HSIEH KAI-CHIEH,LEE WEN-TSUNG,TSENG CHAO-HUI,WANG HSIEN-YU. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-28.

PROBE STRUCTURE AND PROBE DEVICE

Номер патента: US20170192036A1. Автор: LEE Yi-Lung,TSAI Yi-chien,FAN Horng-Kuang. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

CONTACT PROBE AND PROBE UNIT

Номер патента: US20210223287A1. Автор: Souma Kazuya,Sakaguchi Tsukasa. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-22.

PROBE CARD MANAGEMENT SYSTEM AND PROBE CARD MANAGEMENT METHOD

Номер патента: US20200191830A1. Автор: WATANABE Shinjiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-18.

PROBE GUIDE PLATE AND PROBE DEVICE

Номер патента: US20170205444A1. Автор: SHIMIZU Yuichiro,Fujihara Kosuke. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-20.

PROBE GUIDE PLATE AND PROBE DEVICE

Номер патента: US20170205445A1. Автор: SHIMIZU Yuichiro,Fujihara Kosuke,Nagai Koji,Yamagishi Katsunori. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-20.

Probe assembly and probe base plate

Номер патента: US20140300383A1. Автор: Yoshiro Nakata. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-09.

PROBE BONDING DEVICE AND PROBE BONDING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20180210011A1. Автор: LEE Kang San,NAM G Jung,LEE Dae Sub,YANG Min Su. Владелец: DAWON NEXVIEW CO.,LTD.. Дата публикации: 2018-07-26.

PROBE HEAD AND PROBE CARD HAVING SAME

Номер патента: US20210239735A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

Position adjustable probing device and probe card assembly using the same

Номер патента: US20140306729A1. Автор: Tsung-Yi Chen,Chung-Tse Lee,Shih-Shin Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-10-16.

METHOD FOR COMPENSATING PROBE MISPLACEMENT AND PROBE APPARATUS

Номер патента: US20170219650A1. Автор: Kanev Stojan,HSU Yu-Hsun,Chen Chen-Ching,Ting Po-Yi. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

METHOD OF REPAIRING PROBE BOARD AND PROBE BOARD USING THE SAME

Номер патента: US20140318838A1. Автор: Hong Ki Pyo,Lee Dae Hyeong,CHANG Myung Whun. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-30.

Probe data collection method and probe data collection device

Номер патента: US20180225962A1. Автор: Masahide Nakamura. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-09.

PROBE FITTING STRUCTURE AND PROBE

Номер патента: US20210278480A1. Автор: KENZAKI Shinichi. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2021-09-09.

Probe Needle and Probe Module Using the Same

Номер патента: US20140352460A1. Автор: Chen Ming-Chi,Wu Chien-Chou,Chen Tsung-Yi,LI TIEN-CHIA,KUO Chia-Yuan. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2014-12-04.

Optical Probe with Crash Protection and Probe Clips

Номер патента: US20170268867A1. Автор: Zheng Jie,Singh Gurpreet,Langlais John,Racine Paul. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

MAGNETIC FIELD PROBE AND PROBE HEAD THEREOF

Номер патента: US20170269170A1. Автор: LU Hsin-Chia,CHOU Yien-Tien. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

MICROELECTROMECHANICAL PROBE AND PROBE HEAD HAVING THE SAME

Номер патента: US20180267083A1. Автор: HSU Yu-Chen,WEI Shao-Lun,LIN CHIEN-YU,SHEN Mao-Fa,KUO Neng-Hsuan,CHU Ching-Kai. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-20.

PROBE CARD CASE AND PROBE CARD TRANSFER METHOD

Номер патента: US20150285838A1. Автор: Amemiya Takashi,Mori Chikaomi. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

Probe assembly and probe structure thereof

Номер патента: US20190265274A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wen-Tsung Lee,Yuan-Chiang Teng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-29.

PROBE ASSEMBLY AND PROBE STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20190265275A1. Автор: HSIEH KAI-CHIEH,TENG YUAN-CHIANG,LI JIAN-WEI. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-29.

GUIDE PLATE FOR PROBE CARD AND PROBE CARD HAVING SAME

Номер патента: US20200271693A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

PROBE AND PROBE CARD INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20180299490A1. Автор: KIM Jae-Won,KIM GYU-YEOL,KIM Yu-Kyum. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-18.

Probe generator, optical transmission apparatus and probe generating method

Номер патента: US20160315699A1. Автор: Futoshi Izumi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-10-27.

PROBE CARD DEVICE AND PROBE HEAD

Номер патента: US20190302147A1. Автор: HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

PROBE HEAD AND PROBE CARD

Номер патента: US20200309819A1. Автор: LIN Chin-Yi,Lin Che-Wei,WU Ting-Ju,Su Keng-Min. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2020-10-01.

PROBE HEAD ASSEMBLIES AND PROBE SYSTEMS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICES

Номер патента: US20170363681A1. Автор: Swart Roy E.,Liew Brandon,Salmon Jay. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-21.

MULTILAYER CIRCUIT BOARD USED FOR PROBE CARD AND PROBE CARD INCLUDING MULTILAYER CIRCUIT BOARD

Номер патента: US20180364280A1. Автор: TAKEMURA Tadaji,Kawakami Hiromichi. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-20.

FILMING METHOD OF PROBE BY FILLING WAY AND PROBE THEREOF

Номер патента: US20200375472A1. Автор: Han Zhen,Wu Aijiu,Yang Sijing,Kong Derun. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-03.

Method for manufacturing probe card and probe card manufactured thereby

Номер патента: KR100823312B1. Автор: 김영진,유재봉. Владелец: 세크론 주식회사. Дата публикации: 2008-04-18.

High frequency printed wiring boards, probe cards and probe devices

Номер патента: KR960018607A. Автор: 구니오 사노. Владелец: 도오교오 에레구토론 야마나시 가부시끼가이샤. Дата публикации: 1996-06-17.

Advanced probe pin and probe pin bar assembly

Номер патента: KR100799237B1. Автор: 한창석,송지은. Владелец: 송광석. Дата публикации: 2008-01-30.

Probe substrate and probe card having the same

Номер патента: KR100996924B1. Автор: 김홍찬. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2010-11-26.

Method for manufacturing probe card and probe card thereby

Номер патента: KR100823311B1. Автор: 김영진,유재봉. Владелец: 세크론 주식회사. Дата публикации: 2008-04-18.

Multi-pin Structured Probe and Probe Card

Номер патента: KR102241018B1. Автор: 쇼고 미즈타니. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2021-04-16.

Probe needle and probe card using the same

Номер патента: KR101209068B1. Автор: 김일. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2012-12-06.

Probe and probe card having the same

Номер патента: KR101010673B1. Автор: 유정희,주영훈,전병일. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2011-01-24.

Probe unit and probe apparatus having the same

Номер патента: KR100793637B1. Автор: 김석중,주영훈,신동원. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2008-01-10.

Probe assembly and probe

Номер патента: JPH10132853A. Автор: 智昭 久我,Satoshi Narita,聡 成田,Tomoaki Kuga. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-22.

Scanning probe microscope and probe scanning method thereof

Номер патента: CN113155080A. Автор: 繁野雅次,渡边和俊,山本浩令. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-07-23.

Probe and Probe Block Using the Same

Номер патента: KR102159672B1. Автор: 김오범. Владелец: 주식회사 케이에스디. Дата публикации: 2020-09-24.

Manufacturing method of probe pin and probe pin produced by thereby

Номер патента: KR100889613B1. Автор: 정영석. Владелец: 주식회사 아이에스시테크놀러지. Дата публикации: 2009-03-20.

Probe tester and probe test method

Номер патента: KR101575959B1. Автор: 이재성,김남형. Владелец: 고려대학교 산학협력단. Дата публикации: 2015-12-10.

Probe and probe bar assembly for semiconductor chip test

Номер патента: KR200419002Y1. Автор: 송광석. Владелец: 송광석. Дата публикации: 2006-06-15.

Manufacturing method of probe for testing flat panel display and probe thereby

Номер патента: KR100554180B1. Автор: 김기준,이정배,구철환,오성영,조용휘. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2006-02-22.

Probe unit and probe card having the same

Номер патента: KR101010666B1. Автор: 박종현,주영훈,전병일,최유권,권혁랑. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2011-01-24.

Probe pin and probe card having the same

Номер патента: KR101538937B1. Автор: 정희석,구황섭,정학섭,김현제,방호섭,백종율. Владелец: 주식회사 기가레인. Дата публикации: 2015-07-27.

Multi-probe card unit and probe inspection device having same

Номер патента: KR100909966B1. Автор: 조창현,강성모,김준연,유상규,강상구. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2009-07-29.

Contact Probe and Probe Card

Номер патента: KR101468390B1. Автор: 마사토모 우에바야시,아키라 소마. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2014-12-04.

Probe head and probe card having the same

Номер патента: KR102342806B1. Автор: 박승호,안범모,송태환. Владелец: (주)포인트엔지니어링. Дата публикации: 2021-12-23.

Probe method and probe system

Номер патента: JP4223640B2. Автор: 功 河野,勇 猪股. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-02-12.

Probing apparatus and probing method

Номер патента: KR100880462B1. Автор: 슈지 아키야마,히로키 호사카,다다시 오비카네. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2009-01-28.

Probe and Probe Manufacturing Method for Testing Flat Panel Display

Номер патента: KR100875092B1. Автор: 구철환. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2008-12-23.

Probing method and probing apparatus

Номер патента: KR100657105B1. Автор: 고바야시마사히토,이시이가즈나리. Владелец: 동경 엘렉트론 주식회사. Дата публикации: 2006-12-12.

Probe unit and probe apparatus having the same

Номер патента: KR100773732B1. Автор: 김석중,신동원,문광훈. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2007-11-09.

Guide plate for probe card and probe card comprising same

Номер патента: CN111610353A. Автор: 安范模,朴胜浩,边圣铉. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-01.

Probe test method and probe device

Номер патента: KR950004475A. Автор: 구니오 사노. Владелец: 도오교오 에레구토론 가부시끼가이샤. Дата публикации: 1995-02-18.

Probe pin and probe unit provided with the same

Номер патента: JP6531438B2. Автор: 宏真 寺西,貴浩 酒井,的場 正人,正人 的場. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-06-19.

Probe apparatus and probing method

Номер патента: KR101020396B1. Автор: 후미토 가가미,야스히토 야마모토,가즈히로 오자와. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-03-08.

Probe device and probe method

Номер патента: KR100562845B1. Автор: 혼마도루. Владелец: 동경 엘렉트론 주식회사. Дата публикации: 2006-03-24.

DEVICE FOR MONITORING A PRESSURE MEASURING PROBE OF A FLOW AND PROBE COMPRISING THE DEVICE

Номер патента: FR2959822B1. Автор: Philippe Guichard,Henri Leblond,Jean Philippe Pineau. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2013-04-12.

Vertical probe pin and probe card with the same

Номер патента: KR102145398B1. Автор: 주영훈,손석호. Владелец: 피엠피(주). Дата публикации: 2020-08-19.

DEVICE FOR MONITORING A PRESSURE MEASURING PROBE OF A FLOW AND PROBE COMPRISING THE DEVICE

Номер патента: FR2959822A1. Автор: Philippe Guichard,Henri Leblond,Jean Philippe Pineau. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2011-11-11.

METHOD FOR MEASURING THE HEIGHT OF A LIQUID USING A HIGH FREQUENCY LINE PROBE AND PROBE USED

Номер патента: FR2847340B1. Автор: Roger Simonny,Jacques Morineau. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-02-25.

Vertical probe pin and probe card with the same

Номер патента: TW202202851A. Автор: 孫錫豪,朱煐勛. Владелец: 南韓商Tse有限公司. Дата публикации: 2022-01-16.

Probe device and method for adjusting contact pressure between object to be inspected and probe

Номер патента: JP4684805B2. Автор: 俊裕 米沢,秀一 塚田. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-05-18.

Probe head assemblies and probe systems for testing integrated circuit devices

Номер патента: US10120020B2. Автор: Jay Salmon,Roy E. Swart,Brandon Liew. Владелец: FormFactor Beaverton Inc. Дата публикации: 2018-11-06.

Probe electrode pad and probe electrode pad storage box

Номер патента: CN102316793B. Автор: 丹尼尔·L·柯西. Владелец: Electromedical Products International Inc. Дата публикации: 2014-11-05.

Base member for probe unit, and probe unit

Номер патента: EP2360482A4. Автор: Mitsuhiro Kondo,Osamu Ito,Toshio Kazama,Kohei Hironaka. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-28.

Probe assembly and probe card having the same

Номер патента: KR101329812B1. Автор: 심영대. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2013-11-15.

Space transformer for probe card, method for manufacturing thereof and probe card

Номер патента: KR101935002B1. Автор: 안윤태,김석중. Владелец: (주) 루켄테크놀러지스. Дата публикации: 2019-01-03.

Probe polishing method and probe polishing member

Номер патента: US20070141956A1. Автор: Masahito Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-21.

Contact probe and probe unit

Номер патента: TW201213813A. Автор: Akihiro Matsui,Toshio Kazama,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-01.

Probe control method and probe control device

Номер патента: CN111657842B. Автор: 鲁岩,高越,胡翀. Владелец: Beijing Ditan Hospital. Дата публикации: 2021-08-31.

Probe shape detection apparatus and probe shape detection method

Номер патента: EP2581027B1. Автор: Hiroyuki Ushifusa. Владелец: OLYMPUS MEDICAL SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2014-11-26.

Detection probe and probe-type detection apparatus

Номер патента: KR101698910B1. Автор: 김현정,최성욱,이나리,장현주,옥경식. Владелец: 한국식품연구원. Дата публикации: 2017-02-02.

Proton sensor probe and probe coil winding method

Номер патента: CN112927883A. Автор: 李斌,白龙龙. Владелец: Xi'an Huashun Measuring Equipment Co ltd. Дата публикации: 2021-06-08.

Probe Device and Probe Method

Номер патента: KR19980086871A. Автор: 하루히코 요시오카,신지 이노. Владелец: 동경엘렉트론 주식회사. Дата публикации: 1998-12-05.

Vertical probe pin and probe pin assembly with the same

Номер патента: TWI668449B. Автор: 金京南,白炳善,金學駿. Владелец: 南韓商璽韓微技術股份有限公司. Дата публикации: 2019-08-11.

Method for manufacturing probe and probe card

Номер патента: KR100977207B1. Автор: 한정섭. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2010-08-20.

Probe card device and probe for use therein

Номер патента: EP1281973A4. Автор: Minoru Yoshida,Seiichi Ohashi. Владелец: Innotech Corp Japan. Дата публикации: 2004-11-24.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US9404941B2. Автор: Akihiro Matsui,Toshio Kazama,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Device for installation of a probe and probe accommodating arrangement

Номер патента: EP1923689A3. Автор: A Braaten Nils. Владелец: Roxar AS. Дата публикации: 2010-11-03.

Irrigation/aspiration valve and probe for laparoscopy

Номер патента: US5241990A. Автор: John D. Cook. Владелец: Inlet Medical Inc. Дата публикации: 1993-09-07.

Probe data collection method and probe data collection device

Номер патента: WO2017037784A1. Автор: 誠秀 中村. Владелец: 日産自動車株式会社. Дата публикации: 2017-03-09.

Probe guide plate and method of manufacturing the same and probe device

Номер патента: TW201734463A. Автор: 藤原洸輔,清水雄一郎. Владелец: 日本電子材料股份有限公司. Дата публикации: 2017-10-01.

Contact probe and probe unit

Номер патента: WO2010095520A1. Автор: 浩嗣 石川,才司 上津原. Владелец: 日本発條株式会社. Дата публикации: 2010-08-26.

Infrared thermometer and probe cover thereof

Номер патента: CA2584742C. Автор: Jeffrey E. Price. Владелец: Covidien AG. Дата публикации: 2012-06-19.

Probe sheet and probe sheet unit using same

Номер патента: US20050099195A1. Автор: Atsushi Mine,Kazumichi Machida,Teruhisa Sakata,Atsuo URATA,Teppei KIMURA. Владелец: Nihon Denshizairyo KK. Дата публикации: 2005-05-12.

Probe card device and probe for use therein

Номер патента: WO2001079865A1. Автор: Minoru Yoshida,Seiichi Ohashi. Владелец: Innotech Corporation. Дата публикации: 2001-10-25.

Probe electrode pad and probe electrode pad storage box

Номер патента: EP2173243A1. Автор: Daniel L. Kirsch. Владелец: Electromedical Products International Inc. Дата публикации: 2010-04-14.

Probe unit and probe apparatus having the same

Номер патента: TWI333071B. Автор: Dong-Won Shin,Suk-Joong Kim. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2010-11-11.

Probe data collection method and probe data collection device

Номер патента: EP3343532B1. Автор: Masahide Nakamura. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-28.

Input circuit for probe of logical analyzer and probe and logical analyzer

Номер патента: JPS633268A. Автор: ピエール−アンリ・ブティニィ. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1988-01-08.

Probe device and probe method

Номер патента: TW200935535A. Автор: Daisaku Amemiya,Hiroshi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-08-16.

Probe substrate and probe card with the same

Номер патента: KR100977165B1. Автор: 김형태,정석. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2010-08-20.

Probe area setting method and probe device

Номер патента: WO2003073493A1. Автор: Youzou Miura,Tomokazu Ozawa. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2003-09-04.

Probe card inspection wafer and probe card inspection system

Номер патента: CN110907788A. Автор: 池俊洙,金檀义,南汉直,郑晋宇. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-03-24.

Probe and probe card for integrated circiut devices using the same

Номер патента: TWI369498B. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2012-08-01.

Wireless ultrasonic diagnostic device, wireless ultrasonic probe, and probe certification method

Номер патента: CN102076264A. Автор: 渡边泰仁. Владелец: 松下电器产业株式会社. Дата публикации: 2011-05-25.

Method for producing probe card and probe card thereby

Номер патента: KR101301738B1. Автор: 김영진. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2013-08-29.

Vertical probe pin and probe card having same

Номер патента: WO2022010246A1. Автор: 주영훈,손석호. Владелец: 주식회사 티에스이. Дата публикации: 2022-01-13.

Probe antenna and probe thereof

Номер патента: CN115458938A. Автор: 蒋克勇,段程刚. Владелец: GUANGDONG MIKWAVE COMMUNICATION TECH Ltd. Дата публикации: 2022-12-09.

Method of Manufacturing Probe Needle and Probe

Номер патента: KR101273970B1. Автор: 최영환,전태운. Владелец: (주) 미코에스앤피. Дата публикации: 2013-06-12.

Mems film type probe contactor and probe block having thereof

Номер патента: KR100979478B1. Автор: 김영호,이상용,박종군. Владелец: (주)유비프리시젼. Дата публикации: 2010-09-02.

Method for detecting tips of probes, alignment method and storage medium storing the methods, and probe apparatus

Номер патента: US7800387B2. Автор: Yoshinao Kono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-09-21.

MEMS palladium alloy probe testing method and probe loading method thereof

Номер патента: CN111504767B. Автор: 周明,刘明星,于海超,赵梁玉. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-03.

Film probe card and probe head thereof

Номер патента: CN114200280B. Автор: 于海超,赵梁玉,王艾琳. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-15.

Method for manufacturing probe needle and probe needle manufactured therby

Номер патента: KR102267328B1. Автор: 이종한,금창민,구황섭,윤기상,방호섭,백종율,차재우. Владелец: (주)위드멤스. Дата публикации: 2021-06-22.

Probe card adjustment mechanism and probe device

Номер патента: JP4102884B2. Автор: 旨俊 長坂. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-06-18.

The manufacturing method of probe, gauging fixture, check device and probe

Номер патента: CN110501538A. Автор: 戒田理夫,游辉哲. Владелец: Nippon Fustec Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-26.

Replaceable probe set and probe card

Номер патента: CN113640558B. Автор: 谢国芳,兰欣,周卫金. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2022-06-14.

Probe card adjustment mechanism and probe device

Номер патента: TWI389229B. Автор: Munetoshi Nagasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2013-03-11.

Optical system for probing tester and probing method using the same

Номер патента: KR100807119B1. Автор: 이성훈,권덕성. Владелец: 리스광시스템(주). Дата публикации: 2008-02-28.

PUMPING DEVICE AND PROBE AND DEVICE WITH PROBE FOR COLLECTING SAMPLES FROM A LIQUID

Номер патента: DE2243619A1. Автор: John Reginald Tansony. Владелец: Markland Specialty Engineering. Дата публикации: 1973-06-28.

Multiple probe temperature measuring device and probe for said device

Номер патента: JPS5815133A. Автор: ヘンリ−・ピ−・ボズニツク. Владелец: Wahl Instruments Inc. Дата публикации: 1983-01-28.

Sheet-form probe and probe card and wafer inspection method

Номер патента: WO2006051880A1. Автор: Hitoshi Fujiyama,Mutsuhiko Yoshioka,Hisao Igarashi. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2006-05-18.

Base member for probe unit, and probe unit

Номер патента: EP2360482A1. Автор: Mitsuhiro Kondo,Osamu Ito,Toshio Kazama,Kohei Hironaka. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-24.

Conductive transparent probe and probe control apparatus

Номер патента: US6953930B2. Автор: Toru Murashita. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2005-10-11.

Probe and probe card including the same

Номер патента: KR102252595B1. Автор: 김재원,김규열,김유겸. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-05-17.

Probe card case and probe card transfer method

Номер патента: WO2014080850A1. Автор: 森 親臣,貴 雨宮. Владелец: 日本電子材料株式会社. Дата публикации: 2014-05-30.

Probe of ultrasonic flowmeter and probe rod type ultrasonic flowmeter

Номер патента: CN107014448A. Автор: 宋相敏,陈魏巍. Владелец: Shanghai Xinna Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-04.

Probe and probe card

Номер патента: JP2006242774A. Автор: 清 竹腰,Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-09-14.

Probe Structure and probe card having the same

Номер патента: KR101506624B1. Автор: 이호준,이소형. Владелец: (주) 미코에스앤피. Дата публикации: 2015-04-06.

Probe electrode pad and probe electrode pad storage box

Номер патента: ES2570761T3. Автор: Daniel L Kirsch. Владелец: Electromedical Products Int Inc. Дата публикации: 2016-05-20.

Probe control method and probe control device

Номер патента: CN111657842A. Автор: 鲁岩,高越,胡翀. Владелец: Beijing Ditan Hospital. Дата публикации: 2020-09-15.

Probe electrode pad and probe electrode pad storage box

Номер патента: US20090036963A1. Автор: Daniel L. Kirsch. Владелец: Electromedical Products International Inc. Дата публикации: 2009-02-05.

Probe holder and probe unit

Номер патента: JPWO2009028708A1. Автор: 重樹 石川,崇 仁平,正吾 藺牟田. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Probe device, processing device, and probe testing method

Номер патента: US20100148810A1. Автор: Yasutaka Arakawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-06-17.

Probe-card multilayer wiring substrate and probe card

Номер патента: WO2022107225A1. Автор: 智 阿部,真也 堀,哲生 藤本,勇介 原田. Владелец: 日本電子材料株式会社. Дата публикации: 2022-05-27.

Probing apparatus and probing method resulting therefrom

Номер патента: FR715285A. Автор: Ludwig Hammer. Владелец: . Дата публикации: 1931-11-28.

Probe installation structure and probe installation method of steam turbine generator

Номер патента: CN111520199B. Автор: 李刚,黄滔,徐锋,何静,邓兴宏,欧希桥. Владелец: CGN Power Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-18.

Probe card and probe card forming method

Номер патента: JP3123483B2. Автор: 直治 仙波,康志 副島. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-01-09.

Probe block and probe unit for display panel check

Номер патента: CN102236183A. Автор: 安圣权,金章铉. Владелец: DPRAUB Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-09.

Position adjustable probing device and probe card assembly using the same

Номер патента: US9435856B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Chung-Tse Lee,Shih-Shin Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Probes and probe cards

Номер патента: JPWO2015037741A1. Автор: 智一 庄司,基康 近藤,雅俊 大井,雅晴 大井. Владелец: TECHNOPROBE, CO., LTD.. Дата публикации: 2017-03-02.

Method for detecting tips of probes, alignment method and storage medium storing the methods, and probe apparatus

Номер патента: CN101082636A. Автор: 河野芳尚. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-12-05.

Probe module and probe card

Номер патента: CN108732393A. Автор: 顾伟正,何志浩,王裕文,魏豪,周嘉南,许育祯,郑仰宏. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2018-11-02.

Probe apparatus and probe needle polishing method

Номер патента: JP3144672B2. Автор: 清 竹腰. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2001-03-12.

Process for manufacturing probes intended to interact with a storage medium and probe obtained thereby

Номер патента: US20080145603A1. Автор: Agostino Pirovano. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2008-06-19.

Device for installation of a probe and probe accommodating arrangement

Номер патента: EP1923689B1. Автор: A Braaten Nils. Владелец: Roxar AS. Дата публикации: 2012-08-08.

Probe apparatus and probing method

Номер патента: KR101025389B1. Автор: 히로시 아메미야,다이사쿠 아메미야. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-03-29.

Probe tip position detection method, storage medium recording this method, and probe apparatus

Номер патента: JP4996119B2. Автор: 将人 小林,孝憲 百留. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-08-08.

Copper foil thickness measuring probe and probe head thereof

Номер патента: CN115507735A. Автор: 刘冬,李强,曾庆熙. Владелец: Shandong Tianhou New Material Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-23.

Contact probe and probe unit

Номер патента: CN102782507A. Автор: 石川浩嗣,茂木孝浩,松井晓洋. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-14.

Probe assembly and probe structure

Номер патента: TWI647454B. Автор: 謝開傑,李文聰,鄧元瑲. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2019-01-11.

Current-diverting guide plate for probe module and probe module using the same

Номер патента: US9423424B2. Автор: Horng-Kuang Fan,Hsien-Ta HSU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Probe substrate and probe device

Номер патента: CN115842030A. Автор: 徐帅,李成,张洁,王迎姿,车春城,蔡寿金,程锦,吴俊宇,丰亚洁,孔德玺. Владелец: Beijing BOE Sensor Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-24.

BARBED TIP MOLDING METHOD FOR DISTAL END OF CARDIAC STIMULATION PROBE AND PROBES OBTAINED THEREBY

Номер патента: FR2616101B1. Автор: Stephane Olivier. Владелец: Ela Medical SAS. Дата публикации: 1989-10-20.

Probe-shape detecting apparatus and probe-shape detecting method

Номер патента: CN102958416A. Автор: 织田朋彦,佐野大辅,秋叶博刚,牛房浩行,肥山恭子. Владелец: OLYMPUS MEDICAL SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2013-03-06.

Probe polishing method, program therefor, and probe apparatus

Номер патента: KR101208773B1. Автор: 히데아키 다나카,사토시 사노. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-12-05.

Probe head receiver and probe card assembly having the same

Номер патента: US10866266B2. Автор: Ming-Cheng Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-15.

Probe guide plate and probe apparatus

Номер патента: TW201740120A. Автор: 藤原洸輔,清水雄一郎,山崎智生,森親臣. Владелец: 日本電子材料股份有限公司. Дата публикации: 2017-11-16.

Probe and probe device

Номер патента: WO2010140184A1. Автор: 秋葉慎一郎. Владелец: 株式会社宮下スプリング製作所. Дата публикации: 2010-12-09.

Probe and probe manufacturing method

Номер патента: EP1724594A1. Автор: Katsuya Okumura,Toshihiro Tokyo Electron AT Limited YONEZAWA. Владелец: Octec Inc. Дата публикации: 2006-11-22.

Vertical probe and probe card

Номер патента: CN115308456B. Автор: 张威,刘志广. Владелец: Shenzhen Doctor Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-03-10.

Probe unit, base board checking device and probe unit manufacture method

Номер патента: CN104508498B. Автор: 小林昌史. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Probe holder and probe unit

Номер патента: TW200914839A. Автор: Shigeki Ishikawa,Shogo Imuta,Takashi Nidaira. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-04-01.

Method for manufacturing a sealed temperature probe and probe thus manufactured

Номер патента: EP1213572A1. Автор: Mario Noli. Владелец: Italcoppie Srl. Дата публикации: 2002-06-12.

Device for installation of a probe and probe accommodating arrangement

Номер патента: EP2089685A1. Автор: Nils Arne Braaten,Tommy Jakobsen. Владелец: Roxar AS. Дата публикации: 2009-08-19.

Vertical probe pin and probe card having same

Номер патента: US20230258691A1. Автор: Seok Ho Son,Young Hun JU. Владелец: TSE Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Mechanism for adjusting probe card, and probe device

Номер патента: TW200644144A. Автор: Munetoshi Nagasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-12-16.

Cantilever probe with dual plane fixutre and probe apparatus therewith

Номер патента: TW200602644A. Автор: January Kister. Владелец: MicroProbe Inc. Дата публикации: 2006-01-16.

Method and probe arrangement for the electromagnetic detection of metal objects

Номер патента: US5770944A. Автор: Klaus Ebinger,Augustinus Gunnewig. Владелец: Ing Klaus Ebinger Firma. Дата публикации: 1998-06-23.

Probe card case and probe card transfer method

Номер патента: TW201723505A. Автор: 森親臣,雨宮貴. Владелец: 日本電子材料股份有限公司. Дата публикации: 2017-07-01.

Probe block and probe assembly including the same

Номер патента: TW200732669A. Автор: Seok-jung Kim,Dong-Won Shin. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2007-09-01.

Terminal block probe and probe kit

Номер патента: US7135851B1. Автор: Eric A. Armstrong,Ken Rhodes. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-11-14.

Signal probe and probe assembly

Номер патента: TW200641359A. Автор: Joseph Groshong,Brock J Lameres,Brent A Holcombe. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-12-01.

Method, system and probe for obtaining images

Номер патента: US20040004906A1. Автор: Jean-Francois Gelly,Jean-Louis Vernet. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2004-01-08.

Probe pin and probe card using the same

Номер патента: TW201124732A. Автор: Been-long Chen,Shu-Mei Chang. Владелец: IPWorks Technology Corp. Дата публикации: 2011-07-16.

Method for manufacturing probe and probe card

Номер патента: KR100996926B1. Автор: 한정섭. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2010-12-01.

Probe mark reader and probe mark reading method

Номер патента: AU2003273025A1. Автор: Takahisa Hayashi,Shigekazu Komatsu,Hiromi Chaya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-05-13.

Method for setting probe area and probe apparatus

Номер патента: JP2003248035A. Автор: Tomokazu Ozawa,Yozo Miura,洋三 三浦,友和 小澤. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2003-09-05.

Volcano type probe, its manufacturing method and probe card having it

Номер патента: KR100446551B1. Автор: 이억기. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2004-09-01.

Probe substrate and probe card having the same

Номер патента: KR101600019B1. Автор: 김병기. Владелец: (주)엠투엔. Дата публикации: 2016-03-04.

Adjustment mechanism for probe card and probe device

Номер патента: KR100787400B1. Автор: 무네토시 나가사카. Владелец: 동경 엘렉트론 주식회사. Дата публикации: 2007-12-21.

Probe block for examining display panel and probe unit including thereor

Номер патента: KR101152181B1. Автор: 김장현,안성권. Владелец: 주식회사디아이. Дата публикации: 2012-06-15.

Optical acquisition system and probing method for object matching

Номер патента: WO2020264525A1. Автор: Ron Appel. Владелец: Microscopic Image Recognition Algorithms Inc.. Дата публикации: 2020-12-30.

Method and probe for predicting spontaneous preterm delivery

Номер патента: US20240122575A1. Автор: Vladimir Egorov. Владелец: ADVANCED TACTILE IMAGING Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Probe, electronic component testing device, and probe manufacturing method

Номер патента: TW201007170A. Автор: Yoshiharu Umemura,Yoshirou Nakata,Kensuke Kato,Naomi Miyake. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-02-16.

Individualized method, system, apparatus and probe for electroencephalography

Номер патента: EP3809963A1. Автор: Christopher James LÜSCHER. Владелец: Mindseed Ivs. Дата публикации: 2021-04-28.

Probe holder and probe unit

Номер патента: TW200734646A. Автор: Koji Ishikawa,Jun Tominaga,Taiichi Rikimaru. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2007-09-16.

Structures and methods for wafer packages, and probes

Номер патента: WO2010030962A3. Автор: Ananda H. Kumar,Ashish Asthana,Farooq Quadri. Владелец: Kumar Ananda H. Дата публикации: 2010-05-20.

Probe device and probe card using the same

Номер патента: TW200530597A. Автор: Sunin Hendra. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2005-09-16.

Method and probe for sensing intracardiac signals

Номер патента: CA1192263A. Автор: Bruce N. Goldreyer. Владелец: Applied Cardiac Electrophysiology. Дата публикации: 1985-08-20.

Probing appratus and probing method

Номер патента: MY170560A. Автор: Hung-I Lin,Chia-Tai Chang,Hsiu-Wei Lin,Shih-Shin Chen,Bo-Sian Lee,chun shao Huang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-08-19.

Probing method having alignment correcting mechanism and probe card

Номер патента: IE20200242A1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Probing method having alignment correcting mechanism and probe card

Номер патента: IE87416B1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Edge sensor and probing method using the same

Номер патента: IE87231B1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-06-09.

Edge sensor and probing method using the same

Номер патента: IE20200241A1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Probe data collection method and probe data collection device

Номер патента: MY169012A. Автор: Masahide Nakamura. Владелец: Nissan Motor. Дата публикации: 2019-01-29.

Single arm electrocautery probes and probes with upper and lower operating surfaces for use with a resectoscope

Номер патента: WO1998033445A9. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1998-12-30.

Pi3k assays and probe compounds therein

Номер патента: WO2024220380A2. Автор: John MacDougall. Владелец: Totus Medicines Inc.. Дата публикации: 2024-10-24.

PROBE BLOCK, PROBE CARD AND PROBE APPARATUS BOTH HAVING THE PROBE BLOCK

Номер патента: US20130113512A1. Автор: OGASAWARA Takashi,YAMAGUCHI Norie. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2013-05-09.

Rotatably movable probe and probing stick with the same

Номер патента: TWM436837U. Автор: Shao-Lin Liu. Владелец: Chung Instr Electronics Ind Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-01.

Method for reducing overall stress for vertical type probe and probe structure thereof

Номер патента: TW200639408A. Автор: Jinn-Tong Chiu,Chi-Liu Shen. Владелец: Micro Square Technology Co Ltd. Дата публикации: 2006-11-16.

Probe structure and probe head

Номер патента: TWM476927U. Автор: Chih-Hao Hsu,Sang-Yi LIN. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-04-21.

Probe card assembly and probe holder thereof

Номер патента: TW201037317A. Автор: Chi-Ming Yi. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2010-10-16.

Probe and probe card using the probe

Номер патента: JPH11142438A. Автор: Masao Okubo,Hiroshi Iwata,浩 岩田,昌男 大久保,Kazumasa Okubo,和正 大久保. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 1999-05-28.

Tee probe and probe card using the tee probe

Номер патента: JP3600584B2. Автор: 昌男 大久保,和正 大久保. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2004-12-15.

Probe system, probe height adjusting method, and probe position sensing method

Номер патента: TWI498565B. Автор: Pohan Peng,Tayumr Huang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2015-09-01.

Four-probe measurement coaxial probe and probe jig provided with the same

Номер патента: JP4667253B2. Автор: 宏和 田中,哲久 松尾. Владелец: 大西電子株式会社. Дата публикации: 2011-04-06.

Probe tip cleaning member, probe cleaning device, and probe tip cleaning method

Номер патента: JP3818108B2. Автор: 裕治 武市. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2006-09-06.

SPRING WIRE ROD, CONTACT PROBE, AND PROBE UNIT

Номер патента: US20120019277A1. Автор: . Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-26.

Probe apparatus and probing method

Номер патента: JP2764062B2. Автор: 清久 立山. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1998-06-11.

Probe adjusts device, wafer reliability test equipment and probe card configuration

Номер патента: CN208672753U. Автор: 汪海,叶定文,张鸣帆. Владелец: Huaian Imaging Device Manufacturer Corp. Дата публикации: 2019-03-29.

Probe card support device and probe card assembly

Номер патента: TWM551698U. Автор: 李君平,蕭博剛. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2017-11-11.

Method of repairing probe card and probe board using the same

Номер патента: US20120013360A1. Автор: Oh Kwang Jae,Kim Joo Yong,CHOI Yoon Hyuck,KIM Bong Gyun. Владелец: SAMSUNG ELECTRO-MECHANICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-19.

PROBE ELECTRODE PAD AND PROBE ELECTRODE PAD STORAGE BOX

Номер патента: US20120018346A1. Автор: Kirsch Daniel L.,Chan Sai Cheong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-26.

METHOD OF REPAIRING PROBE BOARD AND PROBE BOARD USING THE SAME

Номер патента: US20120037408A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-02-16.

ELECTRICAL TEST PROBE AND PROBE ASSEMBLY

Номер патента: US20120068726A1. Автор: HAYASHIZAKI Takayuki,SOMA Akira,HIRAKAWA Hideki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2012-03-22.

Device for Checking a Flow Pressure Measurement Probe, and Probe Comprising the Device

Номер патента: US20120118037A1. Автор: LEBLOND Henri,GUICHARD Philippe,PINEAU Jean-Philippe. Владелец: THALES. Дата публикации: 2012-05-17.

CONTACT PROBE AND PROBE UNIT

Номер патента: US20130002281A1. Автор: . Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2013-01-03.

PROBE SHAPE DETECTION APPARATUS AND PROBE SHAPE DETECTION METHOD

Номер патента: US20130054168A1. Автор: Ushifusa Hiroyuki. Владелец: OLYMPUS MEDICAL SYSTEMS CORP.. Дата публикации: 2013-02-28.

CIRCUIT-TEST PROBE CARD AND PROBE SUBSTRATE STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20130082728A1. Автор: WANG Ching-Dong. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-04.

PROBE OPTICAL ASSEMBLIES AND PROBES FOR OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY

Номер патента: US20130223787A1. Автор: Bhagavatula Venkata Adiseshaiah,Himmelreich John. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-29.

ROTATING MOBILE PROBE AND PROBING ROD USING THE SAME

Номер патента: US20130328549A1. Автор: LIU Shaw-Lin. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-12.

Probe structure and probe manufacturing method

Номер патента: CN102735888A. Автор: 陈文智,刘茂盛,王志贤,庄圣敬. Владелец: Chroma ATE Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-17.

High current test probe and probe assembly

Номер патента: CN210604724U. Автор: 刘丽贞. Владелец: Shenzhen Enmicro Precision Electronic Co ltd. Дата публикации: 2020-05-22.

Probing method and probe device

Номер патента: JP2984541B2. Автор: 明弘 寺田. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1999-11-29.

Probe method and probe device

Номер патента: JP3424011B2. Автор: 茂昭 高橋,幸彦 深澤. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2003-07-07.

Modular probe device and probe

Номер патента: CN2840048Y. Автор: 王宏杰,黄雅如,许明慧. Владелец: Premtek International Inc. Дата публикации: 2006-11-22.

Probe method and probe device

Номер патента: JP3248136B1. Автор: 良則 梅津. Владелец: 株式会社プラムファイブ. Дата публикации: 2002-01-21.

Ultrasonic array probe signal acquisition component and preparation method thereof, and probe

Номер патента: CN103300889B. Автор: 周丹,蔡文忠,罗华,欧阳波. Владелец: Edan Instruments Inc. Дата публикации: 2015-04-29.

Substrate for probe card, and probe card

Номер патента: JP2011075489A. Автор: Takashi Yoshida,吉田  敬,Tomohiro Ishida,友弘 石田. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2011-04-14.

Probe medium and probe fixing method on substrate

Номер патента: JP4217476B2. Автор: 誠 亀山,良克 岡田,尚志 岡本,研逸 岩田. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-02-04.

Probe card and probe pin

Номер патента: JPH11344509A. Автор: Hiroshi Katagawa,浩 片川. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-12-14.

Probe medium and probe fixing method on substrate

Номер патента: JP4410991B2. Автор: 誠 亀山,良克 岡田,研逸 岩田. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-02-10.

Probe, assembling method and probe board

Номер патента: CN2763812Y. Автор: 泽田修一,土江雅也. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2006-03-08.

Probe height method of adjustment and probe location monitoring method

Номер патента: CN104713463B. Автор: 彭柏翰,黄大猷. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2017-08-01.

Probe assembly, method for manufacturing the same, and probe card for IC measurement using the same

Номер патента: JP3240793B2. Автор: 重男 池田. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2001-12-25.

Circuit board for probe card and probe card having the same

Номер патента: JP6418918B2. Автор: 慶一郎 木下. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-11-07.

Probe needle structure and probe card using the same

Номер патента: JP2001330627A. Автор: Akio Kojima,昭夫 小嶋. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2001-11-30.

Probing apparatus and probe contact method

Номер патента: JP5904428B1. Автор: 義之 横山,桂 友瀧,秀明 長島,拓郎 田邨,横山 義之,智宏 吉用,正美 高取. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-13.

Probe card wiring board and probe card using the same

Номер патента: JP5084668B2. Автор: 浩司 山本,智英 長谷川,克仁 森,有哉 古久保. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2012-11-28.

Probe contact manufacturing method and probe contact

Номер патента: JP4584972B2. Автор: 道修 谷岡,裕康 大代. Владелец: Yamaichi Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-24.

Probe mark measuring method and probe mark measuring apparatus

Номер патента: JP4828741B2. Автор: 博美 茶谷. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-30.

Contact probe and probe device

Номер патента: JP4308371B2. Автор: 秀昭 吉田,利昇 石井,達雄 杉山,尚文 岩元,昭裕 増田. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-05.

high sensitivity nondestructive detection method of array type flexible vortex flow probe and probe apparatus thereof

Номер патента: CN101413922A. Автор: 林俊明,王琪. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-04-22.

Probe assembly and probe unit

Номер патента: JP7049157B2. Автор: 恵 赤平,洋二 清野,恒 山口. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-06.

Probe row adjusting device and probe testing device

Номер патента: CN216082871U. Автор: 王建,张巧,蔡凯. Владелец: Hengdian Group DMEGC Magnetics Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-18.

Probe card fixing mechanis and probe device

Номер патента: JPH1031035A. Автор: Hisashi Nakajima,Takeshi Shimura,久 中島,和人 横森,Kazuto Yokomori,剛 志村. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1998-02-03.

Probe unit and probe card using it

Номер патента: JPH1183900A. Автор: Noriyuki Nakamura,紀之 中村. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 1999-03-26.

Probe drive and probe unit

Номер патента: JP3588209B2. Автор: 弘高 石川. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2004-11-10.

Probe replacement method and probe card

Номер патента: JP5016420B2. Автор: 一道 町田. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2012-09-05.

The intermediate connector of paper tube and probe on temperature probe

Номер патента: CN204612810U. Автор: 叶达明. Владелец: Anhui Na Li Hawk Electronic Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-02.

Probe device and probing method

Номер патента: JPH07114226B2. Автор: 渉 唐沢. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1995-12-06.

Inspection probe and probe unit

Номер патента: JP2022188805A. Автор: Masatoshi Tsuchiya,昌俊 土屋. Владелец: Shin Etsu Polymer Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

High speed probing apparatus for semiconductor devices and probe stage for the same

Номер патента: TWM400658U. Автор: Yong-Yu Liu. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2011-03-21.

Method of setting contact speed of probe card and probe testing system

Номер патента: TWI271520B. Автор: LI Wang,Te-Hsing Chiang. Владелец: Powerchip Semiconductor Corp. Дата публикации: 2007-01-21.