Probe and probe bar assembly for semiconductor chip test
Номер патента: KR200419002Y1
Опубликовано: 15-06-2006
Автор(ы): 송광석
Принадлежит: 송광석
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 15-06-2006
Автор(ы): 송광석
Принадлежит: 송광석
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Testing head with an improved contact between contact probes and guide holes
Номер патента: US12105118B2. Автор: Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-10-01.