Semiconductor device testing apparatus and power supply unit for semiconductor device testing apparatus
Номер патента: US7852101B2
Опубликовано: 14-12-2010
Автор(ы): Michinobu Tanioka, Shigeki Hoshino, Toru Taura
Принадлежит: NEC Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 14-12-2010
Автор(ы): Michinobu Tanioka, Shigeki Hoshino, Toru Taura
Принадлежит: NEC Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Apparatus and method for identifying proper orientation and electrical conductivity between a semiconductor device and a socket or contactor
Номер патента: US20080218174A1. Автор: James Barnett,Carlos Cisneros,Charles Engle,Maria Evans. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-09-11.