• Главная
  • Microscope System, Method for Operating a Charged-Particle Microscope

Microscope System, Method for Operating a Charged-Particle Microscope

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Sample carrier for use in a charged particle instrument, method of using it and apparatus equipped to use such

Номер патента: EP1998206A3. Автор: Jacob Faber,Darell Bancarz. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-12-09.

Sample carrier for use in a charged particle instrument, method of using it and apparatus equipped to use such

Номер патента: EP1998206A2. Автор: Jacob Faber,Darell Bancarz. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2008-12-03.

Charged Particle Microscope System and Measurement Method Using Same

Номер патента: US20150235804A1. Автор: Katsuhiro Sasada,Chie Shishido,Mayuka Osaki,Maki Kimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-08-20.

Optical auto-focus unit and a method for auto-focus

Номер патента: US20240071715A1. Автор: Hagay Famini,Sissi Lachmi. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Beam manipulation of advanced charge controller module in a charged particle system

Номер патента: WO2021023752A1. Автор: Jian Zhang,Ning Ye,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-02-11.

Charged particle microscope scan masking for three-dimensional reconstruction

Номер патента: US11741730B2. Автор: Pavel Potocek,Bert Henning Freitag,Maurice PEEMEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-08-29.

Method for scanning a sample by a charged particle beam system

Номер патента: US20200211820A1. Автор: Thomas I. Wallow,Adam Lyons. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-07-02.

Charged particle microscope for examining a specimen, and method of determining an aberration of said charged particle microscope

Номер патента: US12080512B2. Автор: Lubomír Tuma. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-09-03.

Method of determining an energy width of a charged particle beam

Номер патента: US11948771B2. Автор: Peter Christiaan Tiemeijer. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-02.

Method of aligning a charged particle beam apparatus

Номер патента: US11901155B2. Автор: Remco Schoenmakers,Ondrej Machek,Oleksii KAPLENKO,Mykola KAPLENKO. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-02-13.

Method of aligning a charged particle beam apparatus

Номер патента: US20220037111A1. Автор: Remco Schoenmakers,Ondrej Machek,Oleksii KAPLENKO,Mykola KAPLENKO. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-02-03.

Split magnetic lens for controlling a charged particle beam

Номер патента: US20020070346A1. Автор: Allan Rubin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-13.

Method of examining a sample using a charged particle microscope

Номер патента: US20200057011A1. Автор: Tomas Tuma,Petr Hlavenka,Jan Hradil. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-02-20.

Method of examining a sample using a charged particle microscope

Номер патента: US20200355633A1. Автор: Tomas Tuma,Jan Klusacek,Jiri Petrek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-11-12.

Method of performing tomographic imaging of a sample in a charged-particle microscope

Номер патента: US09618460B2. Автор: Remco Schoenmakers,David Foord. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-04-11.

Method of examining a sample using a charged particle microscope

Номер патента: EP4310485A1. Автор: Petr Hlavenka,Jan Klusacek,Marek VANATKA,Ondrej VAVERKA. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-01-24.

Method of examining a sample using a charged particle microscope

Номер патента: US20240027377A1. Автор: Petr Hlavenka,Jan Klusacek,Marek VANATKA,Ondrej VAVERKA. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-01-25.

Method of examining a sample using a charged particle microscope

Номер патента: US20210033548A1. Автор: Tomas Tuma,Jan Klusacek,Jiri Petrek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-02-04.

Segmented detector for a charged particle beam device

Номер патента: EP3329507A1. Автор: Nicholas C. Barbi,Richard B. Mott,Owen HEALY. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-06-06.

METHOD FOR SCANNING A SAMPLE BY A CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM

Номер патента: US20220084784A1. Автор: Wallow Thomas I.,Lyons Adam. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-17.

METHOD FOR SCANNING A SAMPLE BY A CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM

Номер патента: US20200211820A1. Автор: Wallow Thomas I.,Lyons Adam. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-02.

Method and Scanning Transmission Charged-Particle Microscope

Номер патента: US20230352269A1. Автор: Ivan Lazic,Eric Bosch. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-11-02.

Method and scanning transmission charged-particle microscope

Номер патента: EP4270443A1. Автор: Ivan Lazic,Eric Gerardus Bosch. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-11-01.

Method of performing tomographic imaging of a sample in a charged-particle microscope

Номер патента: EP2738787B1. Автор: Uwe Luecken,Remco Schoenmakers,Erik Franken. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-12-17.

Method of performing tomographic imaging of a sample in a charged-particle microscope

Номер патента: EP2738786A1. Автор: Uwe Luecken,Remco Schoenmakers,Erik Franken. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-06-04.

Charged particle microscope device and image capturing method

Номер патента: US09460889B2. Автор: Kenji Nakahira,Atsushi Miyamoto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Charged particle microscope with vibration detection / correction

Номер патента: US09875879B2. Автор: Albert Visscher,Jeroen De Boeij,Johannes Antonius Maria van den Oetelaar. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Charged Particle Beam Device and Method for Controlling Same

Номер патента: US20240242928A1. Автор: Koichi Kuroda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Charged-particle microscope providing depth-resolved imagery

Номер патента: EP2648208A3. Автор: Pavel Potocek,Faysal Boughorbel,Xiaodong Zhuge,Eric Bosch,Ben Lich. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-03-23.

Method and device for correcting image errors when scanning a charged particle beam over a sample

Номер патента: WO2024028233A1. Автор: Michael Budach. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-02-08.

Method for calibrating a scanning charged particle microscope

Номер патента: US11972922B2. Автор: Wim Tjibbo Tel,Hermanus Adrianus Dillen,Willem Louis VAN MIERLO. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-30.

Scanning charged particle microscope

Номер патента: US20110254944A1. Автор: Tohru Ishitani,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-10-20.

Advanced charge controller configuration in a charged particle system

Номер патента: WO2024132806A1. Автор: Jian Zhang,Ning Ye,Xuerang Hu,Xiaoyu JI. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Apparatus for and method of local control of a charged particle beam

Номер патента: US20220199355A1. Автор: Maikel Robert GOOSEN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-06-23.

Investigation of high-temperature specimens in a charged particle microscope

Номер патента: US20170103868A1. Автор: Libor Novak,Marek Uncovský,Petr Hlavenka,Martin Cafourek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-04-13.

Apparatus for and method of local control of a charged particle beam

Номер патента: WO2021001115A1. Автор: Maikel Robert GOOSEN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-01-07.

Method for making specimen and apparatus thereof

Номер патента: US5656811A. Автор: Hiroshi Yamaguchi,Akira Shimase,Takashi Kamimura,Toshihiko Nakata,Fumikazu Itoh,Tohru Ishitani. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1997-08-12.

METHOD FOR COINCIDENT ALIGNMENT OF A LASER BEAM AND A CHARGED PARTICLE BEAM

Номер патента: US20150060660A1. Автор: Emerson Mark,Straw Marcus. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2015-03-05.

Method for coincident alignment of a laser beam and a charged particle beam

Номер патента: US9754764B2. Автор: Marcus Straw,Mark Emerson. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-09-05.

Method for coincident alignment of a laser beam and a charged particle beam

Номер патента: US9263235B2. Автор: Marcus Straw,Mark Emerson. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-02-16.

METHOD OF EXAMINING A SAMPLE USING A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20200355633A1. Автор: Tuma Tomás,Klusácek Jan,Petrek Jiri. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2020-11-12.

Thermal-aided inspection by advanced charge controller module in a charged particle system

Номер патента: US11728131B2. Автор: Jian Zhang,Jun Jiang,Ning Ye,Yixiang Wang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-08-15.

Thermal-aided inspection by advanced charge controller module in a charged particle system

Номер патента: US12125669B2. Автор: Jian Zhang,Jun Jiang,Ning Ye,Yixiang Wang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Thermal-aided inspection by advanced charge controller module in a charged particle system

Номер патента: US20220189733A1. Автор: Jian Zhang,Jun Jiang,Ning Ye,Yixiang Wang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-06-16.

Thermal-aided inspection by advanced charge controller module in a charged particle system

Номер патента: US20230395352A1. Автор: Jian Zhang,Jun Jiang,Ning Ye,Yixiang Wang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-12-07.

Thermal-aided inspection by advanced charge controller module in a charged particle system

Номер патента: EP4264653A1. Автор: Jian Zhang,Jun Jiang,Ning Ye,Yixiang Wang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-10-25.

Apparatus and method for calculating drawing speeds of a charged particle beam

Номер патента: US9589766B2. Автор: Hideyuki Tsurumaki. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Transmission charged particle microscope with an electron energy loss spectroscopy detector

Номер патента: US20240258067A1. Автор: Peter Christiaan Tiemeijer. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-08-01.

Reduction of power consumption for a charged particle system

Номер патента: US20240120171A1. Автор: Maarten Bischoff,Casper Smit,Corné VAN ROOIJ,Jamie Mc Cormack,Marcel Veerhoek,Joost Dierkse. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-11.

Reduction of power comsumption for a charged particle system

Номер патента: EP4354484A1. Автор: Maarten Bischoff,Casper Smit,Jamie McCormack,Corné VAN ROOIJ,Marcel Veerhoek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-17.

Method for examining a sample by using a charged particle beam

Номер патента: US20120273678A1. Автор: Wei Fang,YAN Zhao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-11-01.

Method for examining a sample by using a charged particle beam

Номер патента: US8937281B2. Автор: Wei Fang,YAN Zhao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2015-01-20.

System and method for high throughput defect inspection in a charged particle system

Номер патента: EP4118675A1. Автор: Long Ma,Zhonghua Dong,Te-Yu Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-18.

Application management for charged particle microscope devices

Номер патента: EP4333020A1. Автор: Pavel Potocek,Remco Schoenmakers,Maurice PEEMEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-03-06.

System and method for defect inspection using voltage contrast in a charged particle system

Номер патента: WO2021123075A1. Автор: Wei Fang,Lingling Pu,Zhengwei Zhou. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-06-24.

Charged-particle microscope with astigmatism compensation and energy-selection

Номер патента: US09741525B1. Автор: Alexander Henstra,Lubomír Tuma,Bohuslav Sed'a. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Method of operation of a charged particle beam device

Номер патента: WO2022028633A1. Автор: FILIP Vojtech. Владелец: Tescan Brno. Дата публикации: 2022-02-10.

Transresistance amplifier for a charged particle detector

Номер патента: EP1510002A1. Автор: Andrew Philip The Maltings ARMIT. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2005-03-02.

Transresistance amplifier for a charged particle detector

Номер патента: WO2003103138A1. Автор: Andrew Philip Armit. Владелец: Leo Electron Microscopy Limited. Дата публикации: 2003-12-11.

Magnetic field free sample plane for charged particle microscope

Номер патента: EP4020519A1. Автор: Alexander Henstra,Peter Tiemeijer,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-06-29.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: EP1751784A2. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2007-02-14.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: WO2005119361A3. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2006-03-23.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: WO2005119361A2. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Limited. Дата публикации: 2005-12-15.

Specimen holder for a charged particle microscope

Номер патента: US09741527B2. Автор: Michal Hrouzek,Lubomír Tuma,Tomás Vystavel,Martin Cafourek,Tomás Trnkócy,Josef Sesták,Pavel Poloucek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Application Management For Charged Particle Microscope Devices

Номер патента: US20240071717A1. Автор: Pavel Potocek,Remco Schoenmakers,Maurice PEEMEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-02-29.

Magnetic field free sample plane for charged particle microscope

Номер патента: US20220199353A1. Автор: Alexander Henstra,Peter Christiaan Tiemeijer,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-06-23.

Charged Particle Microscope and Stage

Номер патента: US20240120169A1. Автор: Michiko Suzuki,Kenichi Nishinaka,Kazuki ISHIZAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Vacuum system for a charged particle beam recording system

Номер патента: CA1253196A. Автор: Andrew A. Tarnowski. Владелец: Image Graphics Inc. Дата публикации: 1989-04-25.

Method for repairing lithography masks using a charged particle beam system

Номер патента: EP1261752B1. Автор: David C. Ferranti,Sharon M. Szelag,James David Casey, Jr.. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2007-05-30.

Apparatus and method for detecting one or more scanning charged particle beams

Номер патента: EP3977502A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Lenard Maarten VOORTMAN. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-04-06.

Charged particle beam apparatus and method for controlling charged beam apparatus

Номер патента: US20180182596A1. Автор: Hidekazu Suzuki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-06-28.

System and method for handling cryo-charged particle samples

Номер патента: US11802823B2. Автор: John MITCHELS,Vojt{hacek over (e)}ch Dole{hacek over (z)}al,Hans Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-10-31.

Charged Particle Beam Device, Method for Processing Sample, and Observation Method

Номер патента: US20210190703A1. Автор: Tsunenori Nomaguchi,Hiromi MISE. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Silicon Drift Detector for use in a charged particle apparatus

Номер патента: EP2544026B1. Автор: Cees Kooijman,Gerard van Veen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2013-12-11.

High-speed hotspot or defect imaging with a charged particle beam system

Номер патента: US20160351373A1. Автор: HONG Xiao,Christopher Maher. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-12-01.

High-speed hotspot or defect imaging with a charged particle beam system

Номер патента: IL255514A. Автор: . Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-01-31.

High-speed hotspot or defect imaging with a charged particle beam system

Номер патента: IL255514B. Автор: . Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

High-speed hotspot or defect imaging with a charged particle beam system

Номер патента: US09754761B2. Автор: HONG Xiao,Christopher Maher. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

System and method for determining local focus points during inspection in a charged particle system

Номер патента: IL306140A. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-11-01.

DETECTOR FOR USE IN A CHARGED PARTICLE APPARATUS

Номер патента: US20130099114A1. Автор: Kooijman Cornelis Sander,van Veen Gerardus Nicolaas Anne. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2013-04-25.

Drift control in a charged particle beam system

Номер патента: US20130200270A1. Автор: Casper Maria Smit,Johannes Antonius Maria van den Oetelaar. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2013-08-08.

METHOD OF ALIGNING A CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS

Номер патента: US20220037111A1. Автор: Schoenmakers Remco,Machek Ondrej,Kaplenko Oleksii,Kaplenko Mykola. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2022-02-03.

CRYOGENIC SPECIMEN PROCESSING IN A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20180114671A1. Автор: Vystavel Tomás,Mitchels John,Cafourek Martin. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2018-04-26.

CONTACTLESS TEMPERATURE MEASUREMENT IN A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20160133436A1. Автор: Tuma Lubomir,Novák Libor,Faber Jacob Simon,Burnett Timothy. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2016-05-12.

X-Ray Spectroscopy in a charged-particle microscope

Номер патента: US20190172681A1. Автор: Owen Michael James,Donaldson Ashley. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-06.

Drift control in a charged particle beam system

Номер патента: EP2610889A3. Автор: Johannes Van Den Oetelaar,Casper Smit. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2015-05-06.

Method and apparatus for detecting an error in an IC using a charged particle beam

Номер патента: DE19525536C2. Автор: Hiroshi Kawamoto,Hironobu Niijima,Soichi Shida. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-09-12.

Contactless temperature measurement in a charged particle microscope

Номер патента: EP3021350A1. Автор: Pybe Faber,Lubomír Tuma,Timothy Burnett,Libor Novak. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-05-18.

X-ray spectroscopy in a charged particle microscope

Номер патента: EP3477289A1. Автор: Mr. Michael James Owen,Mr. Ashley Donaldson. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2019-05-01.

Systems and methods for accurate layer detection and analysis in charged particle microscopes

Номер патента: US20240295473A1. Автор: Zoltan Oremus,Petra Binknerova,Hana Sandova. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Method for processing samples held by a nanomanipulator

Номер патента: WO2013022917A2. Автор: Brian Miller,Thomas Moore,Cheryl Hartfield. Владелец: Omniprobe, Inc.. Дата публикации: 2013-02-14.

Beam blanker and method for blanking a charged particle beam

Номер патента: US20180151327A1. Автор: Christof Baur,Michael Budach. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2018-05-31.

Charged particle assessment system and method of aligning a sample in a charged particle assessment system

Номер патента: US20240128045A1. Автор: Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-18.

Charged-particle irradiation unit for a charged-particle diffractometer

Номер патента: WO2024046987A1. Автор: Francesco Garbuglia. Владелец: Eldico Scientific AG. Дата публикации: 2024-03-07.

Charged particle microscope having vacuum in specimen chamber

Номер патента: US20240112878A1. Автор: Pleun Dona,Peter Tiemeijer,Johannes A.H.W.G. Persoon,Hugo Cornelis VAN LEEUWEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-04.

Studying dynamic specimen behavior in a charged-particle microscope

Номер патента: US20170243713A1. Автор: Erik Rene Kieft,Walter van Dijk. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-08-24.

Method of performing edx in a charged–particle microscope

Номер патента: WO2014028488A1. Автор: Michael James Owen,Matt Sullivan. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2014-02-20.

System and method for removing organic residue from a charged particle beam system

Номер патента: US20120080056A1. Автор: HONG Xiao. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-04-05.

METHOD FOR IMAGING A SAMPLE IN A CHARGED PARTICLE APPARATUS

Номер патента: US20140361165A1. Автор: Hlavenka Petr,Tuma Lubomir,Sytar Petr,"Seda Bohuslav". Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2014-12-11.

System and method for removing organic residue from a charged particle beam system

Номер патента: US8092641B1. Автор: HONG Xiao. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-01-10.

Method for STEM sample inspection in a charged particle beam instrument

Номер патента: US7834315B2. Автор: Thomas M. Moore,Gonzalo Amador,Lyudmila Zaykova-Feldman,Matthew Hammer. Владелец: Omniprobe Inc. Дата публикации: 2010-11-16.

Method for changing the direction of a charged particle beam

Номер патента: EP2620951A4. Автор: Muradin Abubekirovich Kumakhov. Владелец: Muradin Abubekirovich Kumakhov. Дата публикации: 2015-04-01.

Method for stem sample inspection in a charged particle beam instrument

Номер патента: USRE46350E1. Автор: Thomas M. Moore,Gonzalo Amador,Lyudmila Zaykova-Feldman,Matthew Hammer. Владелец: Omniprobe Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: US12123841B2. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Apparatus and method for inspecting a surface of a sample

Номер патента: US09449789B2. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2016-09-20.

Method for creating a smooth diagonal surface using a focused ion beam and an innovative scanning strategy

Номер патента: US20240234085A9. Автор: Yehuda Zur. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for creating a smooth diagonal surface using a focused ion beam and an innovative scanning strategy

Номер патента: WO2024091829A1. Автор: Yehuda Zur. Владелец: Applied Materials Israel Ltd.. Дата публикации: 2024-05-02.

System and method for simultaneous detection of secondary electrons and light in a charged particle beam system

Номер патента: US20140131573A1. Автор: N. William Parker,Mark W. Utlaut. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-05-15.

System and method for simultaneous detection of secondary electrons and light in a charged particle beam system

Номер патента: US09494516B2. Автор: N. William Parker,Mark W. Utlaut. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-11-15.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: WO2021144468A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic Ip B.V.. Дата публикации: 2021-07-22.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: EP4090955A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-11-23.

Method for detecting voids in interconnects and an inspection system

Номер патента: US09805909B1. Автор: Lei Zhong,Dror Shemesh. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Method for creating a smooth diagonal surface using a focused ion beam and an innovative scanning strategy

Номер патента: US20240136150A1. Автор: Yehuda Zur. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

STAGE FOR A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE SYSTEM

Номер патента: FR2798511B1. Автор: Chiwoei Wayne Lo,Daniel N Bui. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2009-09-11.

Charged particle beam writing apparatus and method for diagnosing failure of blanking circuit

Номер патента: US10460902B2. Автор: Takahito Nakayama. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-10-29.

DEVICE AND METHOD FOR OPERATING A CHARGED PARTICLE DEVICE WITH MULTIPLE BEAMLETS

Номер патента: US20200258714A1. Автор: Winkler Dieter,Schmid Ralf,Cook Benjamin John. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-13.

System and Method for Simultaneous Detection of Secondary Electrons and Light in a Charged Particle Beam System

Номер патента: US20150369737A1. Автор: Utlaut Mark W.,Parker William. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

Total release method for sample extraction from a charged particle instrument

Номер патента: WO2002071031A1. Автор: Thomas M. Moore. Владелец: Moore Thomas M. Дата публикации: 2002-09-12.

METHOD OF EXAMINING A SAMPLE USING A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20200057011A1. Автор: Tuma Tomás,Hradil Jan,Hlavenka Petr. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2020-02-20.

SEGMENTED DETECTOR FOR A CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE

Номер патента: US20180217059A1. Автор: Barbi Nicholas C.,Mott Richard B.,HEALY Owen. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-02.

METHOD OF EXAMINING A SAMPLE USING A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20200363349A1. Автор: Tuma Tomás,Klusácek Jan. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2020-11-19.

Method of performing tomographic imaging of a sample in a charged-particle microscope

Номер патента: EP2708875A1. Автор: Remco Schoenmakers,David Foord. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-03-19.

Method and system for focusing a charged particle beam

Номер патента: US7375326B2. Автор: Benzion Sender. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2008-05-20.

Method and system for focusing a charged particle beam

Номер патента: US7535001B2. Автор: Benzion Sender. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2009-05-19.

A charged particle beam system for scanning a sample

Номер патента: IL284445A. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-08-31.

Charged Particle Microscope System and Measurement Method Using Same

Номер патента: US20150235804A1. Автор: Shishido Chie,Sasada Katsuhiro,Osaki Mayuka,Kimura Maki. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

Method for analyzing an object and charged particle beam device for carrying out the method

Номер патента: US09620331B1. Автор: Edward Hill,Sreenivas Bhattiprolu. Владелец: Carl Zeiss Microscopy Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

System and method for scanning an object

Номер патента: US09490101B2. Автор: Yuval Gronau,Ishai Schwarzband,Benzion Sender,Dror Shemesh,Ofir Greenberg,Ran Schleyen. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Charged Particle Beam Device and Method for Controlling Sample Stage

Номер патента: US20220037110A1. Автор: Hitoshi Sakurai,Daichi Maekawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-02-03.

Charged particle beam device and method for controlling sample stage

Номер патента: EP3945540A1. Автор: Hitoshi Sakurai,Daichi Maekawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-02-02.

System and method for scanning an object

Номер патента: US20160276127A1. Автор: Yuval Gronau,Ishai Schwarzband,Benzion Sender,Dror Shemesh,Ofir Greenberg,Ran Schleyen. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-09-22.

CONFOCAL IMAGING TECHNIQUE IN A CHARGED PARTICLE MICROSCOP

Номер патента: US20200152420A1. Автор: Williamson Mark,Tang Dong,Barnum Andrew. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-14.

Focusing a charged particle system

Номер патента: US9530613B2. Автор: Steven R. Rogers,Stefan Schubert,Thomas Kemen,Rainer K. Knippelmeyer,Nissim Elmaliah. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Focusing a charged particle imaging system

Номер патента: EP2676285B1. Автор: Stefan Schubert,Thomas Kemen,Rainer K. Knippelmeyer,Nissim Elmaliah,Steven R. Rodgers. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2015-05-20.

Charged particle system and method for measuring deflection fields in a sample

Номер патента: US10332720B2. Автор: Kazuya Yamazaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-06-25.

Focus adjustment method for charged particle beam device and charged particle beam device

Номер патента: US11776786B2. Автор: Kazunori Tsukamoto,Yuki Chiba. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Method and device for aligning a charged particle beam column

Номер патента: US20050006598A1. Автор: Asher Pearl. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2005-01-13.

Method and apparatus for aligning a charged particle beam column

Номер патента: DE60237952D1. Автор: Dror Shemesh. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2010-11-25.

Method and apparatus for automatic imaging suitable for aligning a charged particle beam column

Номер патента: DE60234802D1. Автор: Asher Pearl. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2010-02-04.

An illumination control device for a charged particle analyser

Номер патента: WO2022177487A1. Автор: Mikael OLOFSSON. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2022-08-25.

An illumination control device for a charged particle analyser

Номер патента: EP4295142A1. Автор: Mikael OLOFSSON. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2023-12-27.

An illumination control device for a charged particle analyser

Номер патента: SE2150175A1. Автор: Mikael OLOFSSON. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2022-08-19.

METHOD OF PERFORMING TOMOGRAPHIC IMAGING IN A CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20160307729A1. Автор: Bosch Eric Gerardus Theodoor,Lazic Ivan. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2016-10-20.

METHOD OF PERFORMING TOMOGRAPHIC IMAGING IN A CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20190348254A1. Автор: Bosch Eric Gerardus Theodoor,Lazic Ivan. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2019-11-14.

Device and method for calibrating a charged-particle beam

Номер патента: EP4428896A1. Автор: Elmar Platzgummer. Владелец: IMS Nanofabrication GmbH. Дата публикации: 2024-09-11.

Device and Method for Calibrating a Charged-Particle Beam

Номер патента: US20240304407A1. Автор: Elmar Platzgummer. Владелец: IMS Nanofabrication GmbH. Дата публикации: 2024-09-12.

Beam optical component having a charged particle lens

Номер патента: WO2005071709A2. Автор: Juergen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH. Дата публикации: 2005-08-04.

Techniques for controlling a charged particle beam

Номер патента: WO2009036267A3. Автор: Anthony Renau,Joseph C Olson,Russell J Low,Piotr R Lubicki. Владелец: Piotr R Lubicki. Дата публикации: 2009-06-11.

Multi-beam charged particle microscope design with mirror for field curvature correction

Номер патента: NL2035277A. Автор: Singer Wolfgang,Schmid Thomas,Zeidler Dirk. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-01-23.

Apparatus for chopping a charged particle beam

Номер патента: US4626690A. Автор: Hideo Todokoro,Tsutomu Komoda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1986-12-02.

Electrode for a charged particle beam lens

Номер патента: WO2012176574A1. Автор: Kazushi Nomura. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-12-27.

Apparatus for magnetically scanning and/or switching a charged-particle beam

Номер патента: WO2002021565A9. Автор: Nicholas White,Philip Harvey,Edward Bell. Владелец: Diamond Semiconductor Group. Дата публикации: 2003-07-31.

Method of Investigating and Correcting Aberrations in a Charged-Particle Lens System

Номер патента: US20140061464A1. Автор: Peter Christiaan Tiemeijer,Ivan Lazic,Gijs van Duinen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-03-06.

Apparatus for magnetically scanning and/or switching a charged-particle beam

Номер патента: US20020109099A1. Автор: Nicholas White,Philip Harvey,Edward Bell. Владелец: Diamond Semiconductor Group LLC. Дата публикации: 2002-08-15.

Method for inspecting a specimen and charged particle multi-beam device

Номер патента: US09922796B1. Автор: Jürgen Frosien,Pieter Kruit. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: US20190096630A1. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2019-03-28.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: WO2016076718A2. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2016-05-19.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: EP3218920A2. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2017-09-20.

METHOD OF PERFORMING TOMOGRAPHIC IMAGING OF A SAMPLE IN A CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20140145077A1. Автор: Luecken Uwe,Schoenmakers Remco,Franken Erik Michiel. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2014-05-29.

APPARATUS FOR OBTAINING OPTICAL MEASUREMENTS IN A CHARGED PARTICLE APPARATUS

Номер патента: US20220084777A1. Автор: VAN DER TOORN Jan-Gerard Cornelis,CHEN Zhong-wei. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-17.

INVESTIGATION OF HIGH-TEMPERATURE SPECIMENS IN A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20170103868A1. Автор: Hlavenka Petr,Uncovský Marek,Novák Libor,Cafourek Martin. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2017-04-13.

FOCUSING A CHARGED PARTICLE SYSTEM

Номер патента: US20150287568A1. Автор: KEMEN Thomas,SCHUBERT Stefan,Elmaliah Nissim,Rodgers Steven R.,Knippelmeyer Rainer K.. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

Plate, transducer and methods for making and operating a transducer

Номер патента: US09876446B2. Автор: Alfons Dehe. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-01-23.

Plate, transducer and methods for making and operating a transducer

Номер патента: US10263542B2. Автор: Alfons Dehe. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2019-04-16.

Method for evaluating a region of an object

Номер патента: WO2020033170A1. Автор: Ron Naftali,Ofer Shneyour,Ronnie PORAT. Владелец: Applied Materials Israel Ltd.. Дата публикации: 2020-02-13.

Method for charging and imaging an object

Номер патента: US09666412B1. Автор: Yoram Uziel,Alon Litman,Benzion Sender. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Method for Alignment Free Ion Column

Номер патента: US20240222067A1. Автор: Radek Smolka,Branislav Straka,Lukas Zabransky,Marek Melichar. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-07-04.

System and method for fast discharging of an inspected object

Номер патента: US20130026362A1. Автор: Efim Kerner,Tuvia Biber. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2013-01-31.

Particle beam system and method for operating the same

Номер патента: US20140217303A1. Автор: Volker Wieczorek,Josef Biberger,Ralph Pulwey. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2014-08-07.

System and method for calibrating charge-regulating module

Номер патента: US09536697B2. Автор: Jian Zhang,YAN Zhao,yi-xiang Wang. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Charged particle beam apparatus and control method for charged particle beam apparatus

Номер патента: EP4246551A1. Автор: Takeo Sasaki,Kazuki Yagi,Kanako Noguchi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Charged Particle Beam Apparatus and Control Method for Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20230290607A1. Автор: Takeo Sasaki,Kazuki Yagi,Kanako Noguchi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Charged-particle-beam device and method for correcting aberration

Номер патента: US9484182B2. Автор: Takaho Yoshida,Hisanao Akima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Method for axial alignment of charged particle beam and charged particle beam system

Номер патента: US20140367585A1. Автор: Takeo Sasaki,Hidetaka Sawada. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-12-18.

Method for fabricating emitter

Номер патента: US20140246397A1. Автор: Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-09-04.

System and Method for Calibrating Charge-Regulating Module

Номер патента: US20160343534A1. Автор: Jian Zhang,YAN Zhao,yi-xiang Wang. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2016-11-24.

System and method for high throughput defect inspection in a charged particle system

Номер патента: IL295679A. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-10-01.

METHOD OF REDUCING COMA AND CHROMATIC ABBERATION IN A CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE

Номер патента: US20170018402A1. Автор: FROSIEN Jürgen. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-19.

Charged particle beam device and method applied in a charged particle beam device

Номер патента: EP2001038B9. Автор: Ulrike Zeile,Andreas Schertel. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2016-10-26.

Charged particle beam device and method applied in a charged particle beam device

Номер патента: EP2001038B1. Автор: Ulrike Zeile,Andreas Schertel. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2016-08-10.

Charged particle beam device and method applied in a charged particle beam device

Номер патента: EP2001038A3. Автор: Ulrike Zeile,Dr. Andreas Schertel. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2010-09-22.

Charged particle beam device and method applied in a charged particle beam device

Номер патента: EP2001038A2. Автор: Ulrike Zeile,Dr. Andreas Schertel. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2008-12-10.

Sequencer for combining automated and manual-assistance jobs in a charged particle beam device

Номер патента: EP2693457A3. Автор: Richard Young,Ryan Tanner,Reinier Warschauer. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2015-01-28.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: TW200603685A. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2006-01-16.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: EP1751784B1. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2010-01-06.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: IL179663A. Автор: . Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2010-06-30.

Transresistance amplifier for a charged particle detector

Номер патента: EP1510002B1. Автор: Andrew Philip The Maltings ARMIT. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2010-08-11.

Technique for manufacturing an electrostatic element for steering a charged particle beam

Номер патента: TW544725B. Автор: Michael R Busky. Владелец: Schlumberger Technolgies Inc. Дата публикации: 2003-08-01.

DEVICE FOR MODULATING THE INTENSITY OF A PARTICLE BEAM FROM A CHARGED PARTICLE SOURCE

Номер патента: US20190080880A1. Автор: Salou Pierre,Fink Daniel. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-14.

Device for modulating the intensity of a particle beam from a charged particle source

Номер патента: US10586675B2. Автор: Pierre Salou,Daniel Fink. Владелец: ADAM SA. Дата публикации: 2020-03-10.

Apparatus for adjusting the intensity of a particle beam from a charged particle source

Номер патента: CN109196616B. Автор: 皮埃尔·萨卢,丹尼尔·芬克. Владелец: ADAM SA. Дата публикации: 2021-02-02.

A charged particle beam device and method for adjusting its optical axis

Номер патента: DE112016005577T5. Автор: Shuhei Yabu. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Substrate cover, and apparatus and method for writing with a charged particle beam

Номер патента: DE102007041160B4. Автор: Yuichi Tachikawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2015-04-09.

Method for optimizing a charged particle beam formed by shaped holes

Номер патента: CN106683968B. Автор: R·斯温福德,M·马佐斯,D·W·塔格尔,W·M·施泰因哈德特. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-04-14.

System and method for defect inspection using voltage contrast in a charged particle system

Номер патента: US20230012946A1. Автор: Wei Fang,Lingling Pu,Zhengwei Zhou. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-19.

Substrate cover, and apparatus and method for writing with a charged particle beam

Номер патента: DE102007041160A1. Автор: Yuichi Numazu Tachikawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2008-03-13.

System and method for high throughput defect inspection in a charged particle system

Номер патента: WO2021180743A1. Автор: Long Ma,Zhonghua Dong,Te-Yu Chen. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-09-16.

Pattern writing system and parameters monitoring method for pattern writing apparatus

Номер патента: US20090237824A1. Автор: Yoshikuni GOSHIMA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-09-24.

Composite scan path in a charged particle microscope

Номер патента: US20160118219A1. Автор: Hendrik Nicolaas Slingerland,Pavel Potocek,Cornelis Sander Kooijman,Hendrik Jan de Vos. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-04-28.

FOCUSING A CHARGED PARTICLE IMAGING SYSTEM

Номер патента: US20140224985A1. Автор: KEMEN Thomas,SCHUBERT Stefan,Elmaliah Nissim,Rodgers Steven R.,Knippelmeyer Rainer K.. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-14.

ABERRATION MEASUREMENT IN A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20180254168A1. Автор: Henstra Alexander,Tiemeijer Peter Christiaan. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2018-09-06.

SAMPLE HOLDER FOR A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20200273659A1. Автор: van den Boogaard Mathijs Petrus Wilhelmus,LaGrange Martijn,Rodriguez Nestor Hernandez. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2020-08-27.

Method and apparatus for in-situ probe tip replacement inside a charged particle beam microscope

Номер патента: US7381971B2. Автор: Thomas M. Moore,Lyudmilla Zaykova-Feldman. Владелец: Omniprobe Inc. Дата публикации: 2008-06-03.

Grid holder for stem analysis in a charged particle instrument

Номер патента: US20100025580A1. Автор: Gonzalo Amador,Matthew Hammer. Владелец: Omniprobe Inc. Дата публикации: 2010-02-04.

Method and apparatus for identifying plug-to-plug short from a charged particle microscopic image

Номер патента: US20100314539A1. Автор: Wei Fang,HONG Xiao. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2010-12-16.

Method and apparatus for identifying plug-to-plug short from a charged particle microscopic image

Номер патента: US8759762B2. Автор: Wei Fang,HONG Xiao. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2014-06-24.

Method and apparatus for milling copper interconnects in a charged particle beam system

Номер патента: WO2001067502A3. Автор: Richard F Schuman,Kathryn Noll,J David Casey Jr. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2002-02-21.

Method and device for aligning a charged particle beam column

Номер патента: CN100341106C. Автор: 艾舍·珀尔. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2007-10-03.

IMPROVEMENT TO A TARGET SCANNING DEVICE BY A CHARGED PARTICLE BEAM

Номер патента: FR2341922A1. Автор: Guy Azam,Claude Perraudin,Azam Et Claude Perraudin Guy. Владелец: CGR MEV SA. Дата публикации: 1977-09-16.

Method of protecting a radiation detector in a charged particle instrument

Номер патента: EP2509098A1. Автор: Joeri Lof,Max Otten,Gerald Van Hoften. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2012-10-10.

Method of manufacturing a charged particle detector

Номер патента: EP3767663A1. Автор: Pleun Dona,Bart Jozef Janssen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-01-20.

Method and apparatus for milling copper interconnects in a charged particle beam system

Номер патента: WO2001067502A2. Автор: J. David Casey, Jr.,Richard F. Schuman,Kathryn Noll. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2001-09-13.

Grid holder for stem analysis in a charged particle instrument

Номер патента: WO2010014252A2. Автор: Gonzalo Amador,Matthew Hammer. Владелец: Omniprobe, Inc.. Дата публикации: 2010-02-04.

Method of examining a sample in a charged-particle microscope

Номер патента: US9312098B2. Автор: Eric Gerardus Theodoor Bosch,Faysal Boughorbel,Bart Buijsse,Ivan Lazic,Sorin Lazar,Kasim Sader. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-04-12.

Method and apparatus for milling copper interconnects in a charged particle beam system

Номер патента: EP1200988A2. Автор: J. David Casey, Jr.,Richard F. Schuman,Kathryn Noll. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2002-05-02.

Method and apparatus for identifying plug-to-plug short from a charged particle microscopic image

Номер патента: TW201100830A. Автор: Wei Fang,HONG Xiao. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2011-01-01.

Method of manufacturing a charged particle detector

Номер патента: US11417498B2. Автор: Pleun Dona,Bart Jozef Janssen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-08-16.

Magnetic methods and devices for manipulating a charged particle beam

Номер патента: FR1421596A. Автор: . Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1965-12-17.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: IL179663A0. Автор: . Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2007-05-15.

Sequencer for combining automated and manual-assistance jobs in a charged particle beam device

Номер патента: EP2693457B1. Автор: Richard Young,Ryan Tanner,Reinier Warschauer. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-03-23.

A charged particle beam rendering device, and a buffer memory

Номер патента: TWI503663B. Автор: Yasuo Kato,Jun Yashima. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2015-10-11.

Apparatus and method for isotope production based on a charged particle accelerator

Номер патента: US20190075645A1. Автор: Yong Jiang,Jay L. Hirshfield. Владелец: Omega-P R&d Inc. Дата публикации: 2019-03-07.

Magnetic Lens, Method for Focusing Charged Particles and Charged Particle Energy Analyzer

Номер патента: US20110012018A1. Автор: Bryan Barnard,Christopher Glenister. Владелец: VG Systems Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Magnetic lens, method for focusing charged particles and charged particle energy analyzer

Номер патента: US8164066B2. Автор: Bryan Barnard,Christopher Glenister. Владелец: VG Systems Ltd. Дата публикации: 2012-04-24.

Systems and methods for chromatic aberration mitigation

Номер патента: WO2021122862A1. Автор: Yan Ren. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-06-24.

Apparatus and method for directing charged particle beam towards a sample

Номер патента: US20230326706A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-10-12.

Method of processing a sample with a charged particle assessment system

Номер патента: EP4453991A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland,Jurgen VAN SOEST,Vincent Sylvester KUIPER. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-30.

Charged particle beam system and a method for inspecting a sample

Номер патента: US20080073531A1. Автор: Igor Petrov,Guy Eitan,Albert Karabekov. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2008-03-27.

Charged particle beam column and method for directing a charged particle beam

Номер патента: US20030218133A1. Автор: Igor Petrov,Zvika Rosenberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2003-11-27.

METHOD OF INFLUENCING A CHARGED PARTICLE BEAM, MULTIPOLE DEVICE, AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS

Номер патента: US20220277921A1. Автор: Winkler Dieter,Cook Benjamin John,Woellert Bernd. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-01.

Replaceable module for a charged particle apparatus

Номер патента: IL298348A. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-01.

High voltage feedthrough and connector for a charged particle apparatus

Номер патента: US20230238736A1. Автор: Jurgen VAN SOEST,Boudewijn Weijert Herman Jan VAN DER KROON. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-07-27.

Method of processing a sample with a charged particle assessment system

Номер патента: IL313301A. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland,Vincent Sylvester KUIPER,Soest Jurgen Van. Владелец: Soest Jurgen Van. Дата публикации: 2024-08-01.

METHOD OF OPERATING A CHARGED PARTICLE BEAM SPECIMEN INSPECTION SYSTEM

Номер патента: US20180330919A1. Автор: LANIO Stefan,Erel Gilad,Avinun-Kalish Michal. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-15.

Method of operating a charged particle beam specimen inspection system

Номер патента: US10522327B2. Автор: Stefan Lanio,Gilad Erel,Michal Avinun-Kalish. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2019-12-31.

SYSTEM AND METHODS FOR THERMALLY CONDITIONING A WAFER IN A CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS

Номер патента: US20220102106A1. Автор: Gosen Jeroen Gerard,VAN HEUMEN Martijn Petrus Christianus. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-31.

BEAM BLANKER AND METHOD FOR BLANKING A CHARGED PARTICLE BEAM

Номер патента: US20180151327A1. Автор: Budach Michael,Baur Christof. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

Apparatus and method for examining specimen with a charged particle beam

Номер патента: WO2001003145A1. Автор: Dieter Winkler,Hans-Peter Feuerbaum. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2001-01-11.

Method for measurement of beam emittance in a charged particle transport system

Номер патента: US6763316B2. Автор: Louis Edward Evans. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2004-07-13.

Method for measurement of beam emittance in a charged particle transport system

Номер патента: US20030191899A1. Автор: Louis Evans. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2003-10-09.

Apparatus and method for controlling the beam current of a charged particle beam

Номер патента: US20070023672A1. Автор: Josef Sellmair. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-02-01.

METHOD OF MANUFACTURING A CHARGED PARTICLE DETECTOR

Номер патента: US20210020400A1. Автор: Dona Pleun,Janssen Bart Jozef. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2021-01-21.

DEPTH RECONSTRUCTION FOR 3D IMAGES OF SAMPLES IN A CHARGED PARTICLE SYSTEM

Номер патента: US20220102121A1. Автор: Potocek Pavel,PEEMEN Maurice,HOVORKA Milos,HÜBNER Lukás. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2022-03-31.

METHOD OF DETERMINING AN ENERGY WIDTH OF A CHARGED PARTICLE BEAM

Номер патента: US20220148849A1. Автор: Tiemeijer Peter Christiaan. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2022-05-12.

STUDYING DYNAMIC SPECIMEN BEHAVIOR IN A CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20170243713A1. Автор: Kieft Erik René,van Dijk Walter. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2017-08-24.

BEAM SPLITTER FOR A CHARGED PARTICLE DEVICE

Номер патента: US20200303156A1. Автор: Winkler Dieter,Cook Benjamin John. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-24.

HIGH-SPEED HOTSPOT OR DEFECT IMAGING WITH A CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM

Номер патента: US20160351373A1. Автор: Xiao Hong,Maher Christopher. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-01.

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING AN ABERRATION OF A CHARGED PARTICLE BEAM

Номер патента: FR2276625A1. Автор: Merlyn H Perkins,Samuel Doran. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1976-01-23.

DC only tool cell with a charged particle beam system

Номер патента: US20070085029A1. Автор: Benyamin Buller,Bruce Baxter. Владелец: Baxter Bruce B. Дата публикации: 2007-04-19.

Magnetic lens for focusing a charged particle beam

Номер патента: US6362486B1. Автор: Stephen W. Into. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2002-03-26.

Sample receiver for a charged particle beam

Номер патента: DE112011103393T5. Автор: Katsuji Ito,Yasuhira Nagakubo,Toshiaki Tanigaki,Hideki Hirota,Takayuki Asakawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2013-08-14.

Methods and devices for evaluating imaging characteristics of a charged-particle-beam microlithography system

Номер патента: US6861187B2. Автор: Takehisa Yahiro. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2005-03-01.

Dark field detector for use in a charged-particle optical apparatus

Номер патента: EP2194565A1. Автор: Cornelis Kooijman,Gerard van Veen,Albertus Sluijterman. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2010-06-09.

Objective lens for a charged particle beam device

Номер патента: CN1222011C. Автор: 帕维尔·亚达梅克. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2005-10-05.

Objective lens arrangement for use in a charged particle beam column

Номер патента: US6897442B2. Автор: Igor Petrov. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2005-05-24.

Objective lens arrangement for use in a charged particle beam column

Номер патента: US20040211913A1. Автор: Igor Petrov. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2004-10-28.

High voltage feedthrough and connector for a charged particle apparatus

Номер патента: EP4214738A2. Автор: Jurgen VAN SOEST,Boudewijn Weijert Herman Jan VAN DER KROON. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-07-26.

Method of manipulating a sample in an evacuated chamber of a charged particle apparatus

Номер патента: EP3082149B1. Автор: Tomás Vystavel,Ellen Baken,Ernst Jan Vesseur,Pavel Poloucek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-09-26.

Charged particle spectrometer and method for calibration

Номер патента: SE545450C2. Автор: Takahiro Hashimoto,Tomas WIELL. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2023-09-12.

Apparatus and method for trapping charged particles and performing controlled interactions between them

Номер патента: US8426809B2. Автор: Muir KUMPH. Владелец: UNIVERSITAET INNSBRUCK. Дата публикации: 2013-04-23.

Charged particle spectrometer and method for calibration

Номер патента: WO2022203566A1. Автор: Takahiro Hashimoto,Tomas WIELL. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2022-09-29.

Charged particle spectrometer and method for calibration

Номер патента: EP4314902A1. Автор: Takahiro Hashimoto,Tomas WIELL. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2024-02-07.

An illumination control device for a charged particle analyser

Номер патента: US20240310309A1. Автор: Mikael OLOFSSON. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2024-09-19.

Rotatable targeting magnet apparatus and method of use thereof in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US09757594B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-12.

CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM AND METHOD OF OPERATING A CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM

Номер патента: US20150008334A1. Автор: McVey Shawn,Notte,IV John A.,Rahman FHM-Faridur,Huang Weijie. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

Method for Beam Interference Compensation Based on Computer Vision

Номер патента: US20230335371A1. Автор: Jan Klusacek,Lukas MALY,Jaroslav Pavliš,Lukáš Brínek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-10-19.

Fast magnet method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US20150273240A1. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2015-10-01.

Ion source method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US9155911B1. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2015-10-13.

Method of exposure to a charged particle beam.

Номер патента: DE68917557D1. Автор: Yasushi Takahashi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1994-09-22.

System for controlling and directing the flow of a charged particle through a device

Номер патента: US10318672B1. Автор: Kenichiro Saito,Hideya Koizumi. Владелец: ARKANSAS STATE UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-06-11.

Method and apparatus for working materials using a charged particle beam

Номер патента: FR1388356A. Автор: Helmut Spruck. Владелец: United Aircraft Corp. Дата публикации: 1965-02-05.

X-ray method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: CA2725315C. Автор: Vladimir Yegorovich Balakin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-06-30.

Apparatus for displaying the energy distribution of a charged particle beam

Номер патента: GB1442507A. Автор: . Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1976-07-14.

Devices, Systems, Methods, and Kits for Remotely Operating a Switch

Номер патента: US20150348717A1. Автор: Jereme Kent,John Everett,Chelsea Bumb. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-03.

Devices, systems, methods, and kits for remotely operating a switch

Номер патента: US09536682B2. Автор: Jereme Kent,John Everett,Chelsea Bumb. Владелец: One Energy Enterprises Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Methods for manufacturing and operating a semiconductor device

Номер патента: US09595835B2. Автор: Karl-Heinz Allers,Reiner Schwab. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-03-14.

Method for exposing a wafer

Номер патента: US09978562B2. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland,Teunis Van De Peut. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2018-05-22.

Microscope system and control method for same

Номер патента: US20090316257A1. Автор: Hideaki Endo,Toshiya Komuro. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2009-12-24.

Device for measuring mean free path, vacuum gauge, and method for measuring mean free path

Номер патента: US20120235034A1. Автор: Yoshiro Shiokawa,Megumi Nakamura,Qiang Peng. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2012-09-20.

Method for inspecting overlay shift defect during semiconductor manufacturing and apparatus thereof

Номер патента: US8050490B2. Автор: Wei Fang,HONG Xiao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2011-11-01.

Method for Inspecting Overlay Shift Defect during Semiconductor Manufacturing and Apparatus Thereof

Номер патента: US20100278416A1. Автор: Wei Fang,HONG Xiao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2010-11-04.

Method for preparing samples for imaging

Номер патента: EP2939260A2. Автор: Michael Schmidt,Sang Hoon Lee,Stacey Stone,Trevan Landin,Jeffrey Blackwood,Ronald Kelley. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2015-11-04.

Assembly for supporting a workpiece or specimen in a charged particle beam system

Номер патента: WO2005119363A3. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2006-02-02.

Method for estimating an accurate state of charge for initializing a battery management system

Номер патента: US09643508B2. Автор: Stefan Wickert,Andre Boehm. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Devices and methods for calibrating and operating a snapback clamp circuit

Номер патента: EP2973703A1. Автор: Ankit Srivastava,Eugene Robert Worley,Matthew David Sienko. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2016-01-20.

Devices and methods for calibrating and operating a snapback clamp circuit

Номер патента: WO2014164182A1. Автор: Ankit Srivastava,Eugene Robert Worley,Matthew David Sienko. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-10-09.

System and method for deploying and operating a nuclear reactor system

Номер патента: US20220208403A1. Автор: Doug Bernauer,Armand Eliassen. Владелец: Radiant Industries Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Method for correcting drift of charged particle beam, and charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US09536705B2. Автор: Osamu Iizuka. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Apparatus and method for irradiating a surface of a sample using charged particle beams

Номер патента: NL2016853B1. Автор: KRUIT Pieter,Wouter Hagen Cornelis,Scotuzzi Marijke. Владелец: Univ Delft Tech. Дата публикации: 2017-12-11.

Charged Particle Beam Drawing Apparatus and Control Method for Charged Particle Beam Drawing Apparatus

Номер патента: US20230075825A1. Автор: Yukinori Aida. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US9812289B2. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US9514915B2. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-06.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US20160365223A1. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-15.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US20160233052A1. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-08-11.

Enclosure and method for handling electron gun or ion gun

Номер патента: US09496673B2. Автор: Yoshinori Terui,Toshiyuki Morishita,Shimpei Hirokawa. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Apparatus and method for removal of selected particles from a charged particle beam

Номер патента: GB2446005A. Автор: Superion Limited. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-30.

A charged particle energy filter

Номер патента: WO1990000810A1. Автор: David Warren Turner. Владелец: Kratos Analytical Ltd.. Дата публикации: 1990-01-25.

Apparatus and Method for Fabrication of Shield Plate

Номер патента: US20240208762A1. Автор: Tsutomu Negishi,Munehiro Kozuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Method for generating writing data

Номер патента: US09984853B2. Автор: Kenichi Yasui,Yasuo Kato,Shigehiro Hara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

METHOD OF OPERATING A CHARGED PARTICLE GUN, CHARGED PARTICLE GUN, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE

Номер патента: US20210241990A1. Автор: Winkler Dieter. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

Apparatus and method for fabrication of shield plate

Номер патента: EP4394839A1. Автор: Tsutomu Negishi,Munehiro Kozuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Devices and methods for monitoring respective operating temperatures of components in a microlithography apparatus

Номер патента: US20020125447A1. Автор: Jin Udagawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2002-09-12.

Charged Particle Beam System and Method of Operating a Charged Particle Beam System

Номер патента: US20150008333A1. Автор: McVey Shawn,Notte,IV John A.,Rahman FHM-Faridur,Huang Weijie. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

Charged Particle Beam System and Method of Operating a Charged Particle Beam System

Номер патента: US20160104598A1. Автор: McVey Shawn,Notte,IV John A.,Rahman FHM-Faridur,Huang Weijie. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-14.

Charged Particle Beam System and Method of Operating a Charged Particle Beam System

Номер патента: US20160111243A1. Автор: McVey Shawn,Notte,IV John A.,Rahman FHM-Faridur,Huang Weijie. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-21.

Method for manufacturing semiconductor structure

Номер патента: US20200402806A1. Автор: Chi-Ming Yang,Nai-Han Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-24.

The charged particle beam device and a charged particle beam drawing method of drawing

Номер патента: TWI425549B. Автор: Noriaki Nakayamada,Seiji WAKE. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2014-02-01.

A charged particle energy filter

Номер патента: GB9028050D0. Автор: . Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 1991-02-27.

Techniques for controlling a charged particle beam

Номер патента: TW200912986A. Автор: Anthony Renau,Joseph C Olson,Russell J Low,Piotr R Lubicki. Владелец: Varian Semiconductor Equipment. Дата публикации: 2009-03-16.

Apparatus charged with a charged particle beam

Номер патента: DE112014003890B4. Автор: Hiroyuki Ito,Yuko Sasaki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Compensation of defective beamlets in a charged-particle multi-beam exposure tool

Номер патента: US9269543B2. Автор: Elmar Platzgummer,Rafael Reiter,Klaus Schiessel. Владелец: IMS Nanofabrication GmbH. Дата публикации: 2016-02-23.

METHOD FOR COINCIDENT ALIGNMENT OF A LASER BEAM AND A CHARGED PARTICLE BEAM

Номер патента: US20160126059A1. Автор: Emerson Mark,Straw Marcus. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2016-05-05.

METHOD FOR RAPID SWITCHING BETWEEN A HIGH CURRENT MODE AND A LOW CURRENT MODE IN A CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM

Номер патента: US20160233053A1. Автор: Miller Thomas G.. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2016-08-11.

Method for rapid switching between a high current mode and a low current mode in a charged particle beam system

Номер патента: EP2492950B1. Автор: Tom Miller. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-04-11.

Method of Investigating and Correcting Aberrations in a Charged-Particle Lens System

Номер патента: US20140061464A1. Автор: Lazic Ivan,Tiemeijer Peter Christiaan,van Duinen Gijs. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2014-03-06.

Electrode for a charged particle beam lens

Номер патента: US20140091229A1. Автор: Kazushi Nomura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-04-03.

SPECIMEN HOLDER FOR A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20160181059A1. Автор: Tuma Lubomir,Sesták Josef,Poloucek Pavel,Vystavel Tomás,Hrouzek Michal,Cafourek Martin,Trnkocy Tomas. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2016-06-23.

PROXIMITY EFFECT CORRECTION IN A CHARGED PARTICLE LITHOGRAPHY SYSTEM

Номер патента: US20150243481A1. Автор: WIELAND Marco Jan-Jaco. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-27.

COMPENSATION OF DEFECTIVE BEAMLETS IN A CHARGED-PARTICLE MULTI-BEAM EXPOSURE TOOL

Номер патента: US20150248993A1. Автор: Platzgummer Elmar,Reiter Rafael,Schiessel Klaus. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-03.

High voltage shielding and cooling in a charged particle beam generator

Номер патента: US20170250053A1. Автор: VAN VEEN Alexander Hendrik Vincent,URBANUS Willem Henk. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-31.

Electrostatic alignment of a charged particle beam

Номер патента: US6288401B1. Автор: Kim Y Lee,Tai-Hon P Chang,Marian Mankos,Lawrence P Muray,Ho-Seob Kim. Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2001-09-11.

METHOD TO VARY THE DIAMETER OF A CHARGED PARTICLE BEAM

Номер патента: FR2335919A1. Автор: Wen-Chuang Ko,Erich Sawatzky. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1977-07-15.

Vibration cancellation system for a charged particle beam apparatus

Номер патента: US6043490A. Автор: Katsuhiko Sakai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2000-03-28.

Device for controlling an apparatus generating a charged particle beam

Номер патента: CA2466936A1. Автор: Jacques Gierak,Peter Hawkes. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-30.

Electrostatic alignment of a charged particle beam

Номер патента: WO2001009922A1. Автор: Kim Y. Lee,Marian Mankos,Ho-Seob Kim,Lawrence Muray,Tai-Hon Philip Chang. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2001-02-08.

Method and apparatus for handling a charged particle beam

Номер патента: EP0100634A2. Автор: Tadao Suganuma. Владелец: Individual. Дата публикации: 1984-02-15.

High voltage shielding and cooling in a charged particle beam generator

Номер патента: US10037864B2. Автор: Alexander Hendrik Vincent van Veen,Willem Henk URBANUS. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2018-07-31.

Apparatus for magnetically scanning and/or switching a charged-particle beam

Номер патента: WO2002021565A3. Автор: Nicholas White,Philip Harvey,Edward Bell. Владелец: Diamond Semiconductor Group. Дата публикации: 2003-02-06.

Device and method for tuning a charged particle beam position

Номер патента: EP4309730A1. Автор: Rudi Labarbe,David Chris Hertlein,François Vander Stappen. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2024-01-24.

Device and method for tuning a charged particle beam position

Номер патента: US20240024702A1. Автор: Rudi Labarbe,David Chris Hertlein,François Vander Stappen. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus and method for isotope production based on a charged particle accelerator

Номер патента: US20190075645A1. Автор: Yong Jiang,Jay L. Hirshfield. Владелец: Omega-P R&d Inc. Дата публикации: 2019-03-07.

Methods for confirming charged-particle generation in an instrument, and related instruments

Номер патента: AU2023226786A1. Автор: James Arthur VANGORDON. Владелец: Biomerieux Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Apparatus for collecting charged particles on the focal plane of a charged particle dispersion apparatus

Номер патента: EP0509887A1. Автор: Daniel Colliaux,François Hillion. Владелец: Cameca SAS. Дата публикации: 1992-10-21.

Fluid transfer system in a charged particle system

Номер патента: IL295061A. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-09-01.

Appartus and Methods for Controlling a Charged Particle in a Magnetic Field

Номер патента: US20190088393A1. Автор: Hunter Kevin,Jurek Russell,Shanley Toby,STRESAU Richard,Benari Yair. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-21.

METHODS FOR TESTING OR ADJUSTING A CHARGED-PARTICLE DETECTOR, AND RELATED DETECTION SYSTEMS

Номер патента: US20190252167A1. Автор: VanGordon James Arthur. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-15.

METHODS FOR TESTING OR ADJUSTING A CHARGED-PARTICLE DETECTOR, AND RELATED DETECTION SYSTEMS

Номер патента: US20200357618A1. Автор: VanGordon James Arthur. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-12.

Methods for testing or adjusting a charged-particle detector, and related detection systems

Номер патента: WO2019160789A1. Автор: James Arthur VANGORDON. Владелец: bioMerieux, Inc.. Дата публикации: 2019-08-22.

Method for testing or adjusting a charged particle detector and related detection system

Номер патента: CN111742217A. Автор: 詹姆斯·亚瑟·凡高登. Владелец: Biomerieux Inc. Дата публикации: 2020-10-02.

METHOD AND APPARATUS FOR IMPROVING THE THROUGHPUT OF A CHARGED PARTICLE ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: US20130221216A1. Автор: Makarov Alexander,Giannakopulos Anastassios. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-29.

Method and Apparatus for Monitoring a Charged Particle Beam

Номер патента: US20140265823A1. Автор: Dart Andrew,Boisseau R. Paul,Gordon John S,Nett William P. Владелец: Pyramid Technical Consultants, Inc.. Дата публикации: 2014-09-18.

Tandem accelerator method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8198607B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2012-06-12.

Negative ion source method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US7943913B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2011-05-17.

X-ray tomography method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8144832B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2012-03-27.

Elongated lifetime X-ray method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US7940894B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2011-05-10.

Non-magnetic robotic manipulators for moving objects relative to a charged-particle-beam optical system

Номер патента: US20040007677A1. Автор: Hidekazu Takekoshi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2004-01-15.

Method and apparatus for forming a cavity in a semiconductor substrate using a charged particle beam

Номер патента: US6855622B2. Автор: Mark A. Thompson,Erwan Le Roy. Владелец: NPTest LLC. Дата публикации: 2005-02-15.

Delivery of a Charged Particle Beam

Номер патента: US20080116390A1. Автор: Raymond Paul Boisseau,John Stuart Gordon,William Philip Nett. Владелец: PYRAMID TECHNICAL CONSULTANTS Inc. Дата публикации: 2008-05-22.

Elongated lifetime x-ray method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US20100008469A1. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2010-01-14.

Patterning parameter determination using a charged particle inspection system

Номер патента: US20240212125A1. Автор: Haiyan Li,Junru Ruan. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-06-27.

Systems and methods for establishing and operating a resilient and low-latency outband overlay communication network

Номер патента: CA3167133A1. Автор: Eugene Paul Myers. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-08-19.

Systems and methods for establishing and operating a resilient and low-latency outband overlay communication network

Номер патента: EP4104636A1. Автор: Eugene Paul Myers. Владелец: Wyld Networks Ltd. Дата публикации: 2022-12-21.

Method for starting and operating a BLDC motor and BLDC motor

Номер патента: US11177744B2. Автор: Martin Greiner. Владелец: Nidec Drivexpert GmbH. Дата публикации: 2021-11-16.

Structure and method for determining a defect in integrated circuit manufacturing process

Номер патента: US9035674B2. Автор: HONG Xiao,Jack Y. Jau,CHANG CHUN YEH. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2015-05-19.

Test structure for charged particle beam inspection and method for fabricating the same

Номер патента: US20100102316A1. Автор: HONG Xiao. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2010-04-29.

Substrate handling device for a charged particle beam system

Номер патента: TW200605291A. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2006-02-01.

Substrate handling device for a charged particle beam system

Номер патента: IL180105A0. Автор: . Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2007-05-15.

Substrate handling device for a charged particle beam system

Номер патента: TWI312562B. Автор: Zhang Tao. Владелец: Nanobeam Limite. Дата публикации: 2009-07-21.

A charged particle beam rendering device and a drawing chamber

Номер патента: TWI534853B. Автор: Hiroyasu Saito,Yoshinori Nakagawa,Seiichi Nakazawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-05-21.

Multi-mode pointing device and method for operating a multi-mode pointing device

Номер патента: US09467119B2. Автор: Jae Kyung Lee,Kun Sik Lee,Gyu Seung Kim,Min Sup Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2016-10-11.

Circuit for direct energy extraction from a charged-particle beam

Номер патента: US09929667B2. Автор: In Wha Jeong,Keyue Smedley,Mingying Gu,Frank J. Wessel. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2018-03-27.

Systems, methods and devices for traversing elevation changes using electrically motorized vehicles

Номер патента: US09902252B2. Автор: Jon Stevens,Assaf Biderman. Владелец: Superpedestrian Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

Systems and methods for physical fitness using an electrically motorized vehicle

Номер патента: US09669700B2. Автор: Jon Stevens,Assaf Biderman. Владелец: Superpedestrian Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Ion beam focusing lens method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8093564B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2012-01-10.

Charged particle beam acceleration method and apparatus as part of a charged particle cancer therapy system

Номер патента: IL209409A0. Автор: . Владелец: Vladimir Yegorovich Balakin. Дата публикации: 2011-01-31.

A calorimeter and a charged particle irradiation system provided with the derrick

Номер патента: TWI480891B. Автор: Kenzo SASAI. Владелец: Sumitomo Heavy Industries. Дата публикации: 2015-04-11.

Circuit for direct energy extraction from a charged-particle beam

Номер патента: MY159421A. Автор: In Wha Jeong,Keyue Smedley,Frank Wessel,Mingying Gu. Владелец: Univ California. Дата публикации: 2017-01-13.

Systems, methods and devices for the physical rehabiliation using an electrically motorized vehicle

Номер патента: US09636993B2. Автор: Assaf Biderman. Владелец: Superpedestrian Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

X-ray method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8487278B2. Автор: Vladimir Yegorovich Balakin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-07-16.

Method and apparatus for intensity control of a charged particle beam extracted from a synchrotron

Номер патента: US8368038B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2013-02-05.

Circuit for direct energy extraction from a charged-particle beam

Номер патента: NZ590117A. Автор: In Wha Jeong,Keyue Smedley,Frank Wessel,Mingying Gu. Владелец: Univ California. Дата публикации: 2013-09-27.

Circuit for direct energy extraction from a charged-particle beam

Номер патента: IL210101A0. Автор: . Владелец: Wessel Frank. Дата публикации: 2011-02-28.

Circuit for direct energy extraction from a charged-particle beam

Номер патента: EP2297841B1. Автор: In Wha Jeong,Keyue Smedley,Frank Wessel,Mingying Gu. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2019-03-20.

Intensity control of a charged particle beam extracted from a synchrotron

Номер патента: US8421041B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2013-04-16.

Method and apparatus for intensity control of a charged particle beam extracted from a synchrotron

Номер патента: US20090314961A1. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Dr. Vladimir Balakin. Дата публикации: 2009-12-24.

Circuit for direct energy extraction from a charged-particle beam

Номер патента: CA2729118A1. Автор: In Wha Jeong,Keyue Smedley,Frank Wessel,Mingying Gu. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2009-12-30.

Security Device and Methods for End-to-End Verifiable Elections

Номер патента: US20230033986A1. Автор: Ryan Scott Cook,David Wallick. Владелец: Vidaloop Inc. Дата публикации: 2023-02-02.

System, method, and computer device for transistor-based neural networks

Номер патента: US20240242061A1. Автор: Roger Levinson,John Linden Gosson. Владелец: Blumind Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Systems and methods for providing and operating a secure communication network

Номер патента: US09419945B2. Автор: Volker Schmid,Kurt Kammerer. Владелец: regify SA. Дата публикации: 2016-08-16.

System, method and apparatus for operating mode configuration in a wireless sensor network

Номер патента: US09762979B1. Автор: Julien G. Stamatakis,Serene Al-Momen. Владелец: Senseware Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

System, method, and computer device for transistor-based neural networks

Номер патента: US20220374698A1. Автор: Roger Levinson,John Linden Gosson. Владелец: Blumind Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

System, method, and computer device for transistor-based neural networks

Номер патента: EP4334849A1. Автор: Roger Levinson,John Linden Gosson. Владелец: Blumind Inc. Дата публикации: 2024-03-13.

System, method, and computer device for transistor-based neural networks

Номер патента: CA3218300A1. Автор: Roger Levinson,John Linden Gosson. Владелец: Blumind Inc. Дата публикации: 2022-11-10.

SYSTEMS, METHODS AND DEVICES FOR OPERATOR CONTROL UNIT DISPLAY EXTENSION

Номер патента: US20190291759A1. Автор: Trang Chan-Dara,Jovenall Jeremy. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

Systems and methods of creating and operating a cloudless infrastructure of computing devices

Номер патента: EP4272378A1. Автор: Jose R. ROSAS BUSTOS,Joelle Berdugo-Adler. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-11-08.

Systems and methods of creating and operating a cloudless infrastructure of computing devices

Номер патента: CA3203827A1. Автор: Jose R. ROSAS BUSTOS,Joelle Berdugo-Adler. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-07-07.

Security device and methods for end-to-end verifiable elections

Номер патента: WO2023009230A1. Автор: Ryan Scott Cook,David Wallick. Владелец: Vidaloop, Inc.. Дата публикации: 2023-02-02.

Systems and methods for providing a digital credentials registry

Номер патента: WO2022140854A1. Автор: Nav Dhunay,Julie Kerr. Владелец: Atb Financial. Дата публикации: 2022-07-07.

Systems and methods for providing a digital credentials registry

Номер патента: US20240073194A1. Автор: Nav Dhunay,Julie Kerr. Владелец: Atb Financial. Дата публикации: 2024-02-29.

Systems and methods for providing a digital credentials registry

Номер патента: EP4272097A1. Автор: Nav Dhunay,Julie Kerr. Владелец: Atb Financial. Дата публикации: 2023-11-08.

Systems and methods for providing a digital credentials registry

Номер патента: CA3206996A1. Автор: Nav Dhunay,Julie Kerr. Владелец: Atb Financial. Дата публикации: 2022-07-07.

Method for providing or operating a framework for the realization of independently developed programs

Номер патента: US20100287212A1. Автор: Stefan Becker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-11-11.

Vehicle combination and method for forming and operating a vehicle combination

Номер патента: US09740213B2. Автор: Christoph Bick,Daniel Meyer-Delius,Jeremie Tardivon. Владелец: KUKA ROBOTER GMBH. Дата публикации: 2017-08-22.

Method for configuring and operating a medical apparatus with electronically readable component descriptions

Номер патента: US09501445B2. Автор: Bernd Kalnischkies,Wolf Lehle. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2016-11-22.

Augmentation of electron energy loss spectroscopy in charged particle microscopes

Номер патента: US20240337610A1. Автор: Wouter René J. van den Broek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-10-10.

Charged particle generator and functional fabric having a charged particle emission function

Номер патента: US20080319518A1. Автор: Masakazu Komuro. Владелец: Nac Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-25.

Device and a method for deflecting a laser beam

Номер патента: US20040109214A1. Автор: Marc Van Biesen. Владелец: NEWSON ENGINEERING NV. Дата публикации: 2004-06-10.

Beam transport system and method for linear accelerators

Номер патента: EP2158796A1. Автор: Scott Nelson,George J. Caporaso,Yu-Jiuan Chen. Владелец: Lawrence Livermore National Security LLC. Дата публикации: 2010-03-03.

Short range booster and methods for boosting with multiple antennas

Номер патента: EP2153543A2. Автор: Behzad B. Mohebbi. Владелец: Nextivity Inc. Дата публикации: 2010-02-17.

Method for sweeping charged particles out of an isochronous cyclotron, and device therefor

Номер патента: CA2227228C. Автор: Yves Jongen. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2006-09-19.

Device and method for tuning a charged particle beam position

Номер патента: EP4309730B1. Автор: Rudi Labarbe,David Chris Hertlein,François Vander Stappen. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Device and method for tuning a charged particle beam position

Номер патента: EP4309730C0. Автор: Rudi Labarbe,David Chris Hertlein,Stappen François Vander. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Method for extracting a charged particle beam using pulse voltage

Номер патента: EP2466997A4. Автор: Satoru Yamada,Kota Torikai. Владелец: Gunma University NUC. Дата публикации: 2015-05-27.

CIRCUIT FOR DIRECT ENERGY EXTRACTION FROM A CHARGED-PARTICLE BEAM

Номер патента: US20170025967A1. Автор: JEONG In Wha,Gu Mingying,SMEDLEY KEYUE,Wessel Frank J.. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-26.

RF accelerator method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8373146B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2013-02-12.

Magnetic field control method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8188688B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2012-05-29.

Magnetic field control method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US20090309520A1. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2009-12-17.

Magnetic field control method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8614554B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2013-12-24.

Fork-lift truck and a method for operating a fork-lift truck

Номер патента: SE541657C2. Автор: Johan Vestman. Владелец: Toyota Mat Handling Manufacturing Sweden Ab. Дата публикации: 2019-11-19.

Appartus and method for identifying and operating a digital device in a networked environment

Номер патента: WO2001033338A2. Автор: Jici Gao. Владелец: SUN MICROSYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2001-05-10.

Method for verifying sensitive operations, terminal device, server, and verification system

Номер патента: US09882916B2. Автор: Shuai Hu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

System, method, and apparatus for operating a power distribution system

Номер патента: CA2779972A1. Автор: James Joseph Schmid,Nathan Bowman Littrell. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2012-12-16.

Systems, Methods, and Apparatus for Operating a Power Converter

Номер патента: US20110013432A1. Автор: Robert Gregory Wagoner. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2011-01-20.

Appartus and method for identifying and operating a digital device in a networked environment

Номер патента: AU1357101A. Автор: Jici Gao. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2001-05-14.

Appartus and method for identifying and operating a digital device in a networked environment

Номер патента: GB2374246B. Автор: Jici Gao. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2004-05-05.

SYSTEMS, METHODS AND DEVICES FOR OPERATOR CONTROL UNIT BASED VOIP COMMUNICATION

Номер патента: US20190297127A1. Автор: Jovenall Jeremy. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

Method for retraining and operating a hearing aid

Номер патента: US20050105750A1. Автор: Matthias Fröhlich,Thomas Hies. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2005-05-19.

Method for placing power converters into operation

Номер патента: CA1175902A. Автор: Michael Hausler,Karl-Werner Kanngiesser. Владелец: BBC Brown Boveri AG Switzerland. Дата публикации: 1984-10-09.

Fork-lift truck, method of modifying and operating a fork-lift truck

Номер патента: SE1551231A1. Автор: Vestman Johan. Владелец: Toyota Mat Handling Mfg Sweden Ab. Дата публикации: 2017-03-25.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: WO2021205145A1. Автор: Jochen Wolf,Chris BALLANCE,Tom HARTY. Владелец: Oxford Ionics Limited. Дата публикации: 2021-10-14.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: US20230114436A1. Автор: Jochen Wolf,Chris BALLANCE,Tom HARTY. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Systems and methods for magnetic field localization of charged particle beam end point

Номер патента: US20200016431A1. Автор: Stuart Julian Swerdloff. Владелец: Elekta Pty Ltd. Дата публикации: 2020-01-16.

Systems and methods for magnetic field localization of charged particle beam end point

Номер патента: EP3600544A1. Автор: Stuart Julian Swerdloff. Владелец: Elekta Pty Ltd. Дата публикации: 2020-02-05.

Systems and methods for magnetic field localization of charged particle beam end point

Номер патента: WO2018182429A1. Автор: Stuart Julian Swerdloff. Владелец: Elekta Pty Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Systems and methods for magnetic field localization of charged particle beam end point

Номер патента: US20220134132A1. Автор: Stuart Julian Swerdloff. Владелец: Elekta Pty Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Systems and methods for magnetic field localization of charged particle beam end point

Номер патента: US11904183B2. Автор: Stuart Julian Swerdloff. Владелец: Elekta Pty Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: GB2593901A. Автор: Harty Tom,Ballance Chris,Wolf Jochen. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Systems and Methods for Operating and Validating a Compressor

Номер патента: US20140093349A1. Автор: Karl Dean Minto,Louis Veltre,Daniel Richard Waugh,Scott William Szepek. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-04-03.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: AU2021253210B2. Автор: Jochen Wolf,Chris BALLANCE,Tom HARTY. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: EP4133428A1. Автор: Jochen Wolf,Chris BALLANCE,Tom HARTY. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: AU2021253210A1. Автор: Jochen Wolf,Chris BALLANCE,Tom HARTY. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2022-10-20.

Method and apparatus for estimating a downhole fluid property using a charged particle densitometer

Номер патента: US20130119245A1. Автор: Rocco DiFoggio. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 2013-05-16.

Systems And Methods For Detecting Beam Displacement

Номер патента: US20240110881A1. Автор: James B. McGinn. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-04.

Apparatus and methods for inspecting extreme ultra violet reticles

Номер патента: US09679372B2. Автор: Stanley E. Stokowski,Mehdi Vaez-Iravani,Mehran Nasser-Ghodsi. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Apparatus and methods for monitoring self-aligned contact arrays

Номер патента: WO2003003375A3. Автор: Sanjay Tandon,Kurt H Weiner,Peter D Nunan. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-08-21.

Apparatus and methods for monitoring self-aligned contact arrays

Номер патента: WO2003003375A2. Автор: Kurt H. Weiner,Peter D. Nunan,Sanjay Tandon. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2003-01-09.

Apparatus and method for integrated circuit design for circuit edit

Номер патента: WO2009048979A1. Автор: Hitesh Suri,Theodore R. Lundquist,Tahir Malik. Владелец: DCG SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2009-04-16.

Remote memory bridge and method for operation

Номер патента: US20240264970A1. Автор: Ping Zhou,Kan Frankie Fan. Владелец: Lemon Inc USA. Дата публикации: 2024-08-08.

System, method and computer readable medium for detecting edges of a pattern

Номер патента: US20140270470A1. Автор: Roman Kris,Shimon Levi,Ishai Schwartzband. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2014-09-18.

Method of preparing a biological sample for study in a charged particle device

Номер патента: US20200132695A1. Автор: Albert Konijnenberg. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-04-30.

Ridge filter and method for designing same in a pbs treatment system

Номер патента: EP4183447A1. Автор: Rudi Labarbe,Lucian HOTOIU,Arnaud PIN. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2023-05-24.

Ridge filter and method for designing same in a pbs treatment system

Номер патента: US20240131361A1. Автор: Rudi Labarbe,Lucian HOTOIU,Arnaud PIN. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2024-04-25.

METHOD AND DATA ANALYSIS SYSTEM FOR SEMI-AUTOMATED PARTICLE ANALYSIS USING A CHARGED PARTICLE BEAM

Номер патента: US20150046097A1. Автор: Gohil Champ,Moralee Richard. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

Method for producing 225Ac

Номер патента: US11551826B2. Автор: Yoshio Honda,Shinya Yano. Владелец: Nihon Medi Physics Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-10.

Magnetic domain wall displacement type magneto-optical medium and method for manufacturing the same

Номер патента: US6805901B2. Автор: Kazuyoshi Ishii. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2004-10-19.

Automated Method for Coincident Alignment of a Laser Beam and a Charged Particle Beam

Номер патента: US20140070113A1. Автор: Emerson Mark,Straw Marcus. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2014-03-13.

Method and apparatus for estimating a downhole fluid property using a charged particle densitometer

Номер патента: US20130119245A1. Автор: Rocco DiFoggio. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 2013-05-16.

Method of Performing Tomographic Imaging of a Sample in a Charged-Particle Microscope

Номер патента: US20140070095A1. Автор: Schoenmakers Remco,Foord David. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2014-03-13.

METHOD OF EXAMINING A SAMPLE USING A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20210033548A1. Автор: Tuma Tomás,Klusácek Jan,Petrek Jiri. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2021-02-04.

METHOD OF PREPARING A BIOLOGICAL SAMPLE FOR STUDY IN A CHARGED PARTICLE DEVICE

Номер патента: US20200132695A1. Автор: Konijnenberg Albert. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2020-04-30.

Method and Apparatus for Calibrating a Charged Particle Pencil Beam Used for Therapeutic Purposes

Номер патента: US20150251021A1. Автор: Gordon John,Nett William P.,Boisseau R. Paul. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-10.

METHOD OF EXAMINING A SAMPLE USING A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20200393392A1. Автор: Tuma Tomás,Klusácek Jan,Petrek Jiri. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2020-12-17.

Dynamic energy control of a charged particle imaging/treatment apparatus and method of use thereof

Номер патента: US9937362B2. Автор: W. Davis Lee,Mark R. Amato,Scott Penfold. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-04-10.

Control system for a charged particle exposure apparatus

Номер патента: US6483120B1. Автор: Masato Muraki,Yoshikiyo Yui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2002-11-19.

Apparatus for displaying the density of current in a charged-particle beam

Номер патента: EP0011034A2. Автор: Pierre Legrand,Marc Berte. Владелец: Thomson CSF SA. Дата публикации: 1980-05-14.

Patterning parameter determination using a charged particle inspection system

Номер патента: WO2023036539A1. Автор: Haiyan Li,Junru Ruan. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-03-16.

Systems and methods for automatically managing image data

Номер патента: US20230230709A1. Автор: Savvas Damaskinos,Hamid Reza TIZHOOSH,Patrick MYLES. Владелец: Huron Technologies International Inc. Дата публикации: 2023-07-20.

System and method for implementing decision systems

Номер патента: US20060230010A1. Автор: Marc Pavese,Kareem Aggour. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2006-10-12.

System, method, and apparatus for operating a wealth management platform

Номер патента: US20240104662A1. Автор: Judy Lane,Daen Wombwell,Grace Barnard. Владелец: Niw Ap LLC. Дата публикации: 2024-03-28.

METHODS FOR MANUFACTURING AND OPERATING A MEMORY DEVICE AND A METHOD FOR OPERATING A SYSTEM HAVING THE SAME

Номер патента: US20160005454A1. Автор: Cho Young Jin,YOO Young Kwang,MUN Kui Yon. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-07.

Apparatus and method for configuring and operating a laser scanner apparatus

Номер патента: WO2022164743A1. Автор: Takeshi Shoji,Fred Schleifer. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2022-08-04.

System, method, and apparatus for operating a wealth management platform

Номер патента: US20230351515A1. Автор: Judy Lane,Daen Wombwell,Grace Barnard. Владелец: Niw Ap LLC. Дата публикации: 2023-11-02.

System, method, and apparatus for operating a wealth management platform

Номер патента: US20240212050A1. Автор: Judy Lane,Daen Wombwell,Grace Barnard. Владелец: Niw Ap LLC. Дата публикации: 2024-06-27.

Operating a resistive array

Номер патента: US09349448B2. Автор: Daniel R. Shepard. Владелец: HGST Inc. Дата публикации: 2016-05-24.

System, method, and apparatus for operating a wealth management platform

Номер патента: US20240185350A1. Автор: Judy Lane,Daen Wombwell,Grace Barnard. Владелец: Niw Ap LLC. Дата публикации: 2024-06-06.

System, method, and apparatus for operating a wealth management platform

Номер патента: US20240185351A1. Автор: Judy Lane,Daen Wombwell,Grace Barnard. Владелец: Niw Ap LLC. Дата публикации: 2024-06-06.

Systems, methods, and apparatus for operating computational devices

Номер патента: EP4372563A1. Автор: Rekha Pitchumani,Yang Seok KI,Marie Mai NGUYEN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-22.

Systems, methods, and apparatus for operating computational devices

Номер патента: US20240168819A1. Автор: Rekha Pitchumani,Yang Seok KI,Marie Mai NGUYEN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-23.

Systems and methods for automatically managing image data

Номер патента: US20220415522A1. Автор: Savvas Damaskinos,Hamid Reza TIZHOOSH,Patrick MYLES. Владелец: Huron Technologies International Inc. Дата публикации: 2022-12-29.

Systems and methods for automatically managing image data

Номер патента: US20220068498A1. Автор: Savvas Damaskinos,Hamid Reza TIZHOOSH,Patrick MYLES. Владелец: Huron Technologies International Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Systems and methods for autonomous vehicle operation

Номер патента: US11906980B2. Автор: James Barabas,Andra Adams. Владелец: 6 River Systems LLC. Дата публикации: 2024-02-20.

Systems and methods for autonomous vehicle operation

Номер патента: EP4002051A1. Автор: James Barabas,Andra Adams. Владелец: 6 River Systems LLC. Дата публикации: 2022-05-25.

Systems and methods for autonomous vehicle operation

Номер патента: CA3138417A1. Автор: James Barabas,Andra Adams. Владелец: 6 River Systems LLC. Дата публикации: 2022-05-19.

Apparatus and method for configuring and operating a laser scanner apparatus

Номер патента: EP4285579A1. Автор: Takeshi Shoji,Fred Schleifer. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2023-12-06.

System and method for projection image tracking of tumors during radiotherapy

Номер патента: US09545526B1. Автор: Larry D. Partain. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-17.

Systems and methods for pressurizing transmission charge oil

Номер патента: US11867285B2. Автор: Michael J. Cliff,Benjamin K. Dollins. Владелец: Deere and Co. Дата публикации: 2024-01-09.

Method For Controlling A Patient Support Apparatus

Номер патента: US20240269023A1. Автор: Anish Paul,Madhu Sandeep Thota. Владелец: Stryker Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Semi-vertical positioning method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8627822B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2014-01-14.

Method for controlling a patient support apparatus

Номер патента: CA3218904A1. Автор: Anish Paul,Madhu Sandeep Thota. Владелец: Stryker Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING A DOWNHOLE FLUID PROPERTY USING A CHARGED PARTICLE DENSITOMETER

Номер патента: US20130118248A1. Автор: DiFoggio Rocco. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-16.

DYNAMIC ENERGY CONTROL OF A CHARGED PARTICLE IMAGING/TREATMENT APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF

Номер патента: US20170043187A1. Автор: Penfold Scott,Lee W. Davis,Amato Mark R.. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-16.

Multi-Resolution Detectors for Measuring and Controlling a Charged Particle Pencil Beam

Номер патента: US20160250500A1. Автор: Gordon John,Dart Andrew,Boisseau R. Paul,Ota Kan. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-01.

ION SOURCE METHOD AND APPARATUS USED IN CONJUNCTION WITH A CHARGED PARTICLE CANCER THERAPY SYSTEM

Номер патента: US20150265854A1. Автор: Balakin Vladimir. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-24.

CO-ROTATABLE TARGETING APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF IN CONJUNCTION WITH A CHARGED PARTICLE CANCER THERAPY SYSTEM

Номер патента: US20150273242A1. Автор: Balakin Vladimir. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

ROTATABLE TARGETING MAGNET APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF IN CONJUNCTION WITH A CHARGED PARTICLE CANCER THERAPY SYSTEM

Номер патента: US20150283405A1. Автор: Balakin Vladimir. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

Patient positioning method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US20090314960A1. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-12-24.

X-ray tomography method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8718231B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2014-05-06.

Elongated lifetime X-ray method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8229072B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2012-07-24.

A method and apparatus for estimating a downhole fluid property using a charged particle densitometer

Номер патента: WO2012061843A1. Автор: Rocco DiFoggio. Владелец: BAKER HUGHES INCORPORATED. Дата публикации: 2012-05-10.

Needle Machine and Method for Equipping and Operating a Needle Machine

Номер патента: US20240191412A1. Автор: Johann Philipp Dilo,Niklas Kappes. Владелец: OSKAR DILO MASCHINENFABRIK KG. Дата публикации: 2024-06-13.

System, method and software for operating a driver assistance system

Номер патента: DE102021120391A1. Автор: Dirk Kaule,Mariano Cerdeiro,Moritz Heite. Владелец: Bayerische Motoren Werke AG. Дата публикации: 2023-02-09.

Control system, method and apparatus for operating the control system

Номер патента: DE102015202452A1. Автор: Frank Sader,Christian Heyer. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2016-08-11.

Thermal well heat carrier transport system and method for installation of the same

Номер патента: US11619117B2. Автор: Mikko OJANNE. Владелец: Rototec AB. Дата публикации: 2023-04-04.

METHOD FOR STARTING AND OPERATING A PLANT FOR THE LIQUEFACTION OF A GASEOUS PRODUCT

Номер патента: US20180216879A1. Автор: PELAGOTTI Antonio,LAZZARI Annunzio,ALFANI Andrea,ZUCCHI Oriano. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-02.

SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING ANGULAR LUMINESCENCE IN A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20140027632A1. Автор: Stowe David,Galloway Simon Andrew,Parsons James. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 2014-01-30.

Data path for a charged particle lithography apparatus

Номер патента: TW201118913A. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland,De Peut Teunis Van,Mark Hoving,Edwin Hakkennes,Nol Venema. Владелец: Mapper Lithography Ip Bv. Дата публикации: 2011-06-01.

Method for Rapid Switching between a High Current Mode and a Low Current Mode in a Charged Particle Beam System

Номер патента: US20120217152A1. Автор: Miller Tom. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2012-08-30.

METHOD FOR EXAMINING A SAMPLE BY USING A CHARGED PARTICLE BEAM

Номер патента: US20120273678A1. Автор: Zhao Yan,Jau Jack,Fang Wei. Владелец: . Дата публикации: 2012-11-01.

SYSTEM AND METHOD FOR TRAPPING AND MEASURING A CHARGED PARTICLE IN A LIQUID

Номер патента: US20130026387A1. Автор: Reed Mark A.,GUAN Weihua,Krstic Predrag S.,Zhao Xiongce. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

METHOD AND APPARATUS FOR INTENSITY CONTROL OF A CHARGED PARTICLE BEAM EXTRACTED FROM A SYNCHROTRON

Номер патента: US20120205551A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-08-16.

MAGNETIC FIELD CONTROL METHOD AND APPARATUS USED IN CONJUNCTION WITH A CHARGED PARTICLE CANCER THERAPY SYSTEM

Номер патента: US20120209052A1. Автор: Balakin Vladimir. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-16.

X-RAY TOMOGRAPHY METHOD AND APPARATUS USED IN CONJUNCTION WITH A CHARGED PARTICLE CANCER THERAPY SYSTEM

Номер патента: US20120209109A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-08-16.

MAGNETIC FIELD CONTROL METHOD AND APPARATUS USED IN CONJUNCTION WITH A CHARGED PARTICLE CANCER THERAPY SYSTEM

Номер патента: US20120242257A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-09-27.

Method of protecting a radiation detector in a charged particle instrument

Номер патента: US20120256085A1. Автор: LOF Joeri,Otten Maximus Theodorus,van Hoften Gerrit Cornelis. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2012-10-11.

SYSTEM, METHOD, AND APPARATUS FOR OPERATING A POWER DISTRIBUTION SYSTEM

Номер патента: US20120323388A1. Автор: Schmid James Joseph,Littrell Nathan Bowman. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-20.