Microscope System, Method for Operating a Charged-Particle Microscope
Номер патента: US20120104250A1
Опубликовано: 03-05-2012
Автор(ы): Roger Rowland, Simon Hees, Stewart Bean
Принадлежит: Carl Zeiss Microscopy Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 03-05-2012
Автор(ы): Roger Rowland, Simon Hees, Stewart Bean
Принадлежит: Carl Zeiss Microscopy Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for localizing a region of interest in a sample and micromachining the sample using a charged particle beam
Номер патента: NL2032640B1. Автор: Pieter Hoogenboom Jacob,Benjamin Boltje Daan,Benjamin Van Der Wee Ernest. Владелец: Univ Delft Tech. Дата публикации: 2024-02-06.