• Главная
  • Inspection device for ultrasonic flaw detecting probe

Inspection device for ultrasonic flaw detecting probe

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Improvements in or relating to ultrasonic flaw detection

Номер патента: GB1075080A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1967-07-12.

Ultrasonic flaw detecting apparatus for turbine rotors

Номер патента: US3952581A. Автор: Herbert R. Gottelt. Владелец: Ikon Office Solutions Inc. Дата публикации: 1976-04-27.

Ultrasonic flaw detection method and instrument therefor

Номер патента: US6474163B1. Автор: Hajime Takada,Akira Torao,Ikuo Yarita. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 2002-11-05.

Ultrasonic Inspective Device for Simultaneous Pulse Echo and Through Transmission Inspection

Номер патента: US20210063357A1. Автор: James C. Kennedy,Jeffry J. Garvey,Roy Martin Gagnon. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-03-04.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: EP4350342A1. Автор: Takao Koyama,Hideyuki Yamada,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Ultrasonic flaw detection method and apparatus

Номер патента: US20030200809A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Saburo Shibata,Takahiro Arakawa. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2003-10-30.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20160003783A1. Автор: Yukitoshi Suzuki,Hidemi Takahashi,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11726066B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Method and Device for Checking the Wall of a Pipeline for Flaws

Номер патента: US20240210358A1. Автор: Thomas Hennig,Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Method for the ultrasonic flaw detection of an electric welded pipe

Номер патента: CA1226933A. Автор: Shinichi Fukuda,Takeshi Ikemoto,Masaki Kajiyama. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 1987-09-15.

Method for the ultrasonic flaw detection of an electric welded pipe

Номер патента: US4627289A. Автор: Shinichi Fukuda,Takeshi Ikemoto,Masaki Kajiyama. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 1986-12-09.

Ultrasonic flaw-detection method for austenitic alloy steel longitudinally welded pipe and tubing

Номер патента: CA1169542A. Автор: Taro Maeda. Владелец: Nisshin Steel Co Ltd. Дата публикации: 1984-06-19.

Method and apparatus for ultrasonic testing using temporal sparse firing

Номер патента: US20240068993A1. Автор: Mike MATHESON,Jonathan LESAGE,Mohammad MARVASTI. Владелец: Eclipse Scientific Products Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US20230054123A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US11703479B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11898991B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220291173A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20240085380A1. Автор: Takao Koyama,Hideyuki Yamada,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190283995A1. Автор: Tomio Ono,Kazuhiro Itsumi,Yasuharu Hosono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US12117418B2. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Contact liquid for ultrasonic flaw detection

Номер патента: RU2694721C1. Автор: Михаил Семенович Гурович. Владелец: Михаил Семенович Гурович. Дата публикации: 2019-07-16.

Ultrasonic flaw detecting apparatus for pipes and tubes

Номер патента: GB1359187A. Автор: . Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 1974-07-10.

Method for ultrasonic flaw detection

Номер патента: RU2381497C2. Автор: Дэниел Т. МакЛОХЛЕН,Брэдли Е. КОХ. Владелец: Бвкс Текнолоджис, Инк.. Дата публикации: 2010-02-10.

Probes for use in ultrasonic flaw detection

Номер патента: GB1222355A. Автор: John Henry Beamand. Владелец: S T D SERVICES Ltd. Дата публикации: 1971-02-10.

Analyzer of ultrasonic flaw detection image

Номер патента: US20110311097A1. Автор: Hiroshi Takemoto,Tomoaki Kitagawa. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-12-22.

Analyzer of ultrasonic flaw detection image

Номер патента: US20140098987A1. Автор: Hiroshi Takemoto,Tomoaki Kitagawa. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-04-10.

Analyzer of ultrasonic flaw detection image

Номер патента: US20140093123A1. Автор: Hiroshi Takemoto,Tomoaki Kitagawa. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-04-03.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US20220236232A1. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Power Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Probe manipulators for ultrasonic flaw detection apparatus

Номер патента: US3614890A. Автор: Edward Arthur Benjamin Bates. Владелец: GLASS DEVELOPMENTS Ltd. Дата публикации: 1971-10-26.

Method and apparatus for ultrasonic inspection of welds

Номер патента: GB1118521A. Автор: . Владелец: Italsider SpA. Дата публикации: 1968-07-03.

Ultrasonic flaw-detection system and ultrasonic flaw-detection method

Номер патента: EP4296662A1. Автор: Jung Min Lee,Jun Woo Yoo,June Sung Seo. Владелец: Doosan Enerbility Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Ultrasonic flaw-detection system and ultrasonic flaw-detection method

Номер патента: US20230408451A1. Автор: Jung Min Lee,Jun Woo Yoo,June Sung Seo. Владелец: Doosan Enerbility Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Ultrasonic flaw detection device

Номер патента: US12025584B2. Автор: Toshiaki HAMANO. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Probe for ultrasonic flaw detectors

Номер патента: US4961347A. Автор: Kazuo Yoshikawa,Takahiro Arakawa,Yoshimichi Atsuta. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 1990-10-09.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Ultrasonic flaw detector and ultrasonic flaw detection method

Номер патента: EP2642283A3. Автор: Atsushi Baba,Naoyuki Kono,So Kitazawa. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2016-08-17.

Centralizer for Internal Pipe Inspection Device

Номер патента: CA2128619A1. Автор: Joseph R. Carapezza,Linda T. Ystueta. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-02-03.

In-line inspection devices

Номер патента: EP3874261A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

In-line inspection devices

Номер патента: US20210364479A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Laser ultrasonic flaw detection apparatus

Номер патента: CA2123493C. Автор: Kazuteru Naruo,Keisho Arai. Владелец: Japan Nuclear Cycle Development Institute. Дата публикации: 1999-09-21.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-05.

Ultrasonic flaw detection device and ultrasonic flaw detection method

Номер патента: CA3012111C. Автор: Shigeki Sakakura,Hiroaki Hatanaka,Yuto Asaumi. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Ultrasonic flaw detection of a pipe

Номер патента: US4467654A. Автор: Shinichi Murakami,Teruo Yoshimoto,Junichi Sugitani. Владелец: Osaka Gas Co Ltd. Дата публикации: 1984-08-28.

Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method

Номер патента: US20100307248A1. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Ultrasonic flaw detection device

Номер патента: US11875497B2. Автор: Toshiaki HAMANO. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Ultrasonic inspection device and method of ultrasonic inspection

Номер патента: US09714924B2. Автор: Naotada Okada,Tomoko MORIOKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Ultrasonic flaw detecting apparatus of electronically scanning type

Номер патента: CA1193355A. Автор: Yasuaki Sato,Hirotoshi Kino,Kazuo Sugai,Shuichi Hiruoka. Владелец: Hitachi Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1985-09-10.

Inspection device for tubular good with ultrasonic sensors

Номер патента: WO2024017753A1. Автор: Lucas Kling E Silva,Claudio CAMERINI. Владелец: VALLOUREC OIL AND GAS FRANCE. Дата публикации: 2024-01-25.

Ultrasonic phased array detection device for flaw detection of parallel tubes

Номер патента: US12085538B2. Автор: Kaoru Shinoda,Masamitsu ABE,Joichi Murakami. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Apparatus for ultrasonic inspection with solid contact element

Номер патента: RU2469312C2. Автор: Эндрю БОНД-ТОРЛИ. Владелец: Эйрбас Оперэйшнз Лимитед. Дата публикации: 2012-12-10.

Magnetic system of scanner-inspection device

Номер патента: RU2680103C2. Автор: Анатолий Аркадиевич Марков. Владелец: Анатолий Аркадиевич Марков. Дата публикации: 2019-02-15.

Apparatus for ultrasonic inspection of article having complex outline

Номер патента: RU2469311C2. Автор: Эндрю БОНД-ТОРЛИ. Владелец: Эйрбас Оперэйшнз Лимитед. Дата публикации: 2012-12-10.

Ultrasonic internal flaw detecting apparatus for hot metal

Номер патента: GB1057802A. Автор: . Владелец: Yawata Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 1967-02-08.

Inspection device for tubular good with ultrasonic sensors

Номер патента: EP4310493A1. Автор: Lucas Kling E Silva,Claudio CAMERINI. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2024-01-24.

Non-destructive inspection device and method of structural parts of an aircraft

Номер патента: EP4257969A1. Автор: Carlos Miguel Giraldo,Jose Luis SANCHO GUTIERREZ. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SL. Дата публикации: 2023-10-11.

Device for testing of oblong objects by means of ultrasonic waves

Номер патента: US5165280A. Автор: Michael Strauss,Walter Sternberg,Michael Schmeisser. Владелец: Nukem GmbH. Дата публикации: 1992-11-24.

Methods and devices for ultrasonic non-destructive testing devices

Номер патента: US20210302392A1. Автор: Daniel Werner,Andreas Franzen,Frank HENRIX. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2021-09-30.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US20200249206A1. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-06.

Methods and devices for ultrasonic non-destructive testing devices

Номер патента: WO2021202143A1. Автор: Daniel Werner,Andreas Franzen,Frank HENRIX. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2021-10-07.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A3. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-11-25.

Rolling search unit for ultrasonic railroad rail inspection

Номер патента: AU2020435919A1. Автор: Jan KOCUR,Anthony Iorfino,John James O'NEILL. Владелец: Sperry Rail Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

Rolling search unit for ultrasonic railroad rail inspection

Номер патента: CA3158469A1. Автор: Jan KOCUR,Anthony Iorfino,John James O'NEILL. Владелец: O'neill John James. Дата публикации: 2021-09-23.

Rolling search unit for ultrasonic railroad rail inspection

Номер патента: AU2020435919B2. Автор: Jan KOCUR,Anthony Iorfino,John James O'NEILL. Владелец: Sperry Rail Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Rolling search unit for ultrasonic railroad rail inspection

Номер патента: WO2021188167A1. Автор: Jan KOCUR,Anthony Iorfino,John James O'NEILL. Владелец: SPERRY RAIL, INC.. Дата публикации: 2021-09-23.

Rolling search unit for ultrasonic railroad rail inspection

Номер патента: EP4317962A3. Автор: Jan KOCUR,Anthony Iorfino,John James O'NEILL. Владелец: Sperry Rail Inc. Дата публикации: 2024-04-10.

System and method for machine axis coordination for ultrasonic inspection

Номер патента: US09816967B2. Автор: Matthew Ryan Schroeder. Владелец: Spirit AeroSystems Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Device for ultrasonic testing of a head screw inserted into a component

Номер патента: US5095753A. Автор: Jakob Russ,Staffan Orrgard,Filippo D'Annucci,Jan O. Gustafsson. Владелец: ABB Reaktor GmbH. Дата публикации: 1992-03-17.

Strength inspection method and strength inspection device

Номер патента: EP3929560A1. Автор: Hiraku Kawasaki. Владелец: IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-29.

Methods and devices for ultrasonic non-destructive testing devices

Номер патента: EP4127698A1. Автор: Daniel Werner,Andreas Franzen,Frank HENRIX. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2023-02-08.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection unit

Номер патента: US20240060938A1. Автор: Shinji Wada,Ikuo Ihara,Tomohiro Koyama. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2024-02-22.

Rolling search unit for ultrasonic railroad rail inspection

Номер патента: US20210293758A1. Автор: Jan KOCUR,Anthony Iorfino,John James O'NEILL. Владелец: Sperry Rail Inc. Дата публикации: 2021-09-23.

Rolling search unit for ultrasonic railroad rail inspection

Номер патента: EP4031432A1. Автор: Jan KOCUR,Anthony Iorfino,John James O'NEILL. Владелец: Sperry Rail Inc. Дата публикации: 2022-07-27.

Device for ultrasonic inspection of a multi-layer metal workpiece

Номер патента: US6070466A. Автор: Vladimir Taran,Kenneth Jassby,Stella Muchnik,Oz Vachtenberg. Владелец: Scanmaster Systems IRT Ltd. Дата публикации: 2000-06-06.

Inspection device for heterogeneous structures

Номер патента: GB2428477A. Автор: David Richard Andrews. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-31.

Device for inspecting surface of electrically conductive part

Номер патента: RU2655050C2. Автор: Люк Анри ШАТЕНЕ. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2018-05-23.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Inspection device for scanning and inspecting object being inspected

Номер патента: EP4414695A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Zhiqiang Chen,Ming Chang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Inspection device for a production machine

Номер патента: US09440758B2. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Inspection device and manufacturing method of film-type battery

Номер патента: US20220205939A1. Автор: Satoshi Nakashima. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection device for cylindrical bodies

Номер патента: US20210207953A1. Автор: André Witzmann,Robert Witkowski,Armin Eisner. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-07-08.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

Method and device for automatically identifying the deepest point on the surface of an anomaly

Номер патента: US09875574B2. Автор: Clark Alexander Bendall. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Robotic inspection device for tank and pipe inspections

Номер патента: US20210131604A1. Автор: Rashid D. Al Hajri,Amer D. Hajri,Fikri A. Suwailah,Kazem H. Al Musabbeh. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2021-05-06.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US20210358120A1. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Inspection device and inspection method for pillar-shaped honeycomb filter

Номер патента: US12117386B2. Автор: Yoshihiro Sato,Yuji Watanabe,Yuichi Tajima,Yohei KAJIURA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Method and device for manufacturing plated wire

Номер патента: EP3678143A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: Sumitomo Electric Toyama Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-08.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Six-sided inspection mechanism for part and part appearance packaging inspection device

Номер патента: US20240053276A1. Автор: Xingke Wang. Владелец: Dongguan Jiezhan Precision Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230137583A1. Автор: Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US09784676B2. Автор: HE Wang,XIANG Liu,Xin Fang,Peng Luo,Jiajia PENG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Sample inspection device for detecting fluorescence of sample

Номер патента: US20230213449A1. Автор: Neon Cheol JUNG,Alexey DAN CHIN YU,Keunchang Cho. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Calibrating inspection devices

Номер патента: WO2019135886A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2019-07-11.

Conveying system for inspection device

Номер патента: GB2626516A. Автор: Huang Qingping,HONG Mingzhi,ZHANG Liguo,Yang Jianxue,Li Guipei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Calibrating Inspection Devices

Номер патента: US20190204239A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Exterior inspection device

Номер патента: US20170269003A1. Автор: Yasuhiko Enami,Yo-o HAYASHIDA. Владелец: Purex Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection device, blister packing machine, and method of manufacturing blister pack

Номер патента: EP4194350A1. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-14.

Ultrasonic transmitting and receiving device for thickness and/or grammage measurement

Номер патента: US09561522B2. Автор: Helmut Knorr. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-02-07.

Medication container inspection device

Номер патента: WO2024054113A1. Автор: Joren Ide VAN DER HORST,Jim KIEFT,Joseph Roeland HENDRIKS. Владелец: Luo Automation B.V.. Дата публикации: 2024-03-14.

Printed matter inspecting device, printed matter inspecting method, program, and printing apparatus

Номер патента: EP4032706A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US12094102B2. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Device for inspecting lateral surface of cylindrical battery

Номер патента: US20240361252A1. Автор: Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Surface property inspection device and method

Номер патента: US09964520B2. Автор: Kazuhiro Ota,Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

Image inspection device

Номер патента: US20200072759A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

Image inspection device

Номер патента: EP3617809A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-04.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Inspection device

Номер патента: US20220198792A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317065A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

X-ray inspection device

Номер патента: US20200253032A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3691420A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

X-ray inspection device

Номер патента: US11147149B2. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-12.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US20220207684A1. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: EP4067884A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317064A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device

Номер патента: US20240337609A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda,Shiori IMAIZUMI. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Inspection device and molded-product processing system

Номер патента: US20230281780A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Eddy current flaw detecting probe

Номер патента: US20190353618A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2019-11-21.

Inspection device and molded product processing system

Номер патента: EP4253945A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-10-04.

Operator guided inspection device, system, and method

Номер патента: US20220178836A1. Автор: Thomas Alton Bartoshesky,Jonathan Douglas Williams,Robert Fuelep Biro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-09.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection device for display apparatus

Номер патента: US20240302258A1. Автор: Gabtae Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Control mechanism for transformer in-situ inspection device

Номер патента: US09926052B2. Автор: Gregory A. Cole,Gregory F. Rossano,William Eakins,George Zhang,Daniel T. Lasko. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2018-03-27.

Inspection device for painted surface of vehicle

Номер патента: US09546963B2. Автор: Jinho Seok,Sang Ki Hwang. Владелец: Digital Imaging Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

X-ray inspection device

Номер патента: EP4394457A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Fastener bulb inspection device

Номер патента: EP4382856A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Adhesive inspection device and adhesive inspection method

Номер патента: US20200326176A1. Автор: Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Inspection device, inspection facility and inspection device failure confirmation method

Номер патента: US20190120772A1. Автор: Yoshihiro Yamagata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Fastener Bulb Inspection Device

Номер патента: US20240185413A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-06.

Shutter system and inspection device

Номер патента: EP4224148A1. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2023-08-09.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: US20240314420A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Ray collimation device and radiation inspection device

Номер патента: GB2625957A. Автор: YIN Wei,Liu Yaohong,Chen Yumei,Guan Weiqiang,LI Weike. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Defect inspection device

Номер патента: US09683947B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Substrate inspection device and component mounting device

Номер патента: US09511455B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US20200033254A1. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US10712257B2. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Security inspection device

Номер патента: US11747510B2. Автор: Feng Wang,Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Kneader internal inspection device

Номер патента: US20170225359A1. Автор: Eiji Takahashi,Hodaka Miura,Toshihide Fukui,Chitaka Manabe. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: EP4431922A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection device

Номер патента: US20240346818A1. Автор: Shinichi Matsubara,Takafumi Miwa,Yuta Imai,Sayaka KURATA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-10-17.

Drug inspection device

Номер патента: US09870611B2. Автор: Koji Ito,Mei Zhang,Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

X-ray inspection device

Номер патента: US09752996B2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Visual inspection device and visual inspection method

Номер патента: US20200202512A1. Автор: Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-25.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Eddy current flaw detection probe

Номер патента: US20210010974A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-01-14.

Pallet inspection device

Номер патента: US12037203B2. Автор: Wataru Kiyokawa. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Self-Propelled Container and/or Vehicle Inspection Device

Номер патента: US20190250302A1. Автор: Jie Zhao,Haibo Qu. Владелец: Beijing Hualixing Sci Tech Development Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Optical inspection device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240281923A1. Автор: Hyung Jin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20240027361A1. Автор: Kazuhide Sato,Masami Makuuchi,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

X-ray inspection device

Номер патента: US20240219324A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Shutter system and inspection device

Номер патента: US12047665B2. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Image inspection device and program

Номер патента: US20200068081A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Side surface inspection device of cylindrical battery

Номер патента: US20240345000A1. Автор: Jiwon Kim,Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Non-Destructive Inspection Device

Номер патента: US20240295511A1. Автор: Yujiro Ikeda,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Massato TAKAMURA. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2024-09-05.

Guided inspection of an installed component using a handheld inspection device

Номер патента: US09852500B2. Автор: Robert J. Scheuerman,Rick F. Rourke. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2017-12-26.

Strain inspection device and attaching method thereof

Номер патента: US09841365B2. Автор: Injoong Kim,Joungwook PARK,Hanna NOH,Sungsuu KIM,Gayoung RYU,Youngho CHA. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-12.

Inspection device

Номер патента: US20240201104A1. Автор: SHINJI Ueyama,MITSUNORI Numata,Kenji Suzuki,Tomoki Onishi,Ingi KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240167964A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Inspection device

Номер патента: US11774374B2. Автор: Takashi Sugata,Ryoji Kodama. Владелец: Nanosystem Solutions Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20240118223A1. Автор: Katsuhiko Kimura,Masaya Yamamoto,Yoshihiro Satou,Ayumi TOMIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Drug Capsule Appearance Inspection Device

Номер патента: US20230236133A1. Автор: Ku Hyun Lee. Владелец: Sltg Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Defect inspection device

Номер патента: US20220092765A1. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Cognex Ireland Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Method and device for automatically identifying a point of interest on a viewed object

Номер патента: US09842430B2. Автор: Clark Alexander Bendall. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-12-12.

Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device

Номер патента: US09696266B2. Автор: Toshiyasu Suyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-04.

Nondestructive inspecting device

Номер патента: US20240183801A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240168045A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A3. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Automatic food inspection device

Номер патента: EP4406666A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-07-31.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Device for checking bottles or similar vessels

Номер патента: RU2414698C2. Автор: Фолькер ТИЛЬ,Пауль-Герхард КАЛИШ,Хорст БЁКЕР. Владелец: Кхс Аг. Дата публикации: 2011-03-20.

Defect and appearance inspection device for photovoltaic panels

Номер патента: AU2020101507A4. Автор: Yong Wu,Huachao LI. Владелец: Suzhou Ju Neng Image Inspection Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Visual inspection device

Номер патента: US20210381990A1. Автор: Claudio SEDAZZARI. Владелец: Opto Engineering SpA. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Inspection device

Номер патента: US20230288327A1. Автор: Yuichiro Kamino,Hiroaki Minamide,Syusaku Yamamoto,Keisuke Kajikawa,Koji Nawata. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-09-14.

Inspection Device

Номер патента: US20160103187A1. Автор: Kenji Tsubosaka,Tetsuo Noguchi,Hiroo Yoshikawa,Yusuke Itoh. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-04-14.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Substrate inspection device and substrate inspection method using the same

Номер патента: US20240201100A1. Автор: Dongwook Lee,Sung Hune Yoo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Laser light source device and inspection device

Номер патента: US09991670B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: US09838608B2. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US09541508B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Eddy current flaw detection probe and eddy current flaw inspection apparatus

Номер патента: US09453818B2. Автор: Hidehiko Suetsugu,Toyokazu Tada,Daigo KOSAKA. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20080297779A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-12-04.

Device for non-destructive testing of structures by gamma-ray flaw detection

Номер патента: RU2708092C2. Автор: Алексис БЛЕТТНЕР. Владелец: Институт Де Судур. Дата публикации: 2019-12-04.

Actuatable visual inspection device

Номер патента: US8836937B2. Автор: Christopher Edward Thompson,Thomas James Batzinger,Matthew Stephen Gutschow. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-16.

Surface state inspecting device for inspecting the state of parallel first and second surfaces

Номер патента: US4999511A. Автор: Michio Kohno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1991-03-12.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: US20240161287A1. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A2. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-05-02.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190283910A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A3. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection device

Номер патента: US09568437B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Marking inspection device and marking device for transparent edible objects

Номер патента: US20240053277A1. Автор: Junsuke Yasui,Kousuke OOKITA,Kazuaki MATSUTANI. Владелец: Qualicaps Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: US20230304947A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: EP4206665A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Surface-defect inspection device

Номер патента: US20120147363A1. Автор: Katsuya Suzuki,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Inspecting device

Номер патента: US11852470B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Linear defect inspection device

Номер патента: US20230252619A1. Автор: Jae Hyun Park,Myoung Gon YANG,Kyung Do LEE,Young Woo KO. Владелец: Coss Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: US12036622B2. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspecting device

Номер патента: US20220136816A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2022-05-05.

Surface inspection device

Номер патента: US20090079983A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-03-26.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20100182603A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-07-22.

Optical inspection device

Номер патента: US12092582B2. Автор: Hiroshi Ohno,Takashi Usui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Foreign matter inspecting device

Номер патента: EP4446730A1. Автор: Masahiro Yamaguchi,Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Spectrum-inspection device

Номер патента: US09972651B2. Автор: Wei-Ko Wang. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Container inspection device

Номер патента: US09823262B2. Автор: Osamu Yoshida,Chizuka Kai,Kunimitsu Toyoshima. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2017-11-21.

Ultrasonic flaw detector

Номер патента: RU2051382C1. Автор: В.К. Юллинен,Р.И. Шоков. Владелец: Всероссийский институт легких сплавов. Дата публикации: 1995-12-27.

Inspection device for loose objects, such as tablets

Номер патента: CA2514315C. Автор: Minne Jorritsma. Владелец: Dijkstra Vereenigde Bedrijven BV. Дата публикации: 2011-09-27.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US11900642B2. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Defect inspection device

Номер патента: US20070257695A1. Автор: Henry Huang,Yong Seng Tan. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2007-11-08.

Inspection device for determining insertion of connector, and robot device having inspection device

Номер патента: US20210003535A1. Автор: Yoshitake Furuya,Takahide MINE. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2021-01-07.

Positioning device, hole inspection device, positioning method and hole inspection method

Номер патента: US20200378749A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230358668A1. Автор: Chi-Yu Huang. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: EP4321445A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-14.

Inspection device for the inspection of two-dimensionally extending metal objects

Номер патента: US20230122236A1. Автор: Michael Schulte. Владелец: ROSEN SWISS AG. Дата публикации: 2023-04-20.

Device for remote inspection of steam generator tubes

Номер патента: US6877389B2. Автор: William J. Harris,Randall K. Lewis,Katherine J. Steinke. Владелец: R Brooks Associates Inc. Дата публикации: 2005-04-12.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9151669B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-06.

Mounting inspection device

Номер патента: EP3048439A1. Автор: Mikio Nakajima,Mitsutaka Inagaki. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-27.

Defect inspection device and method for inspecting defect

Номер патента: US20240060904A1. Автор: Dae Hong Kim,Jeong Moon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device for masks for semiconductor lithography and method

Номер патента: US11867642B2. Автор: Heiko Feldmann,Holger Seitz,Thomas Zeuner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-01-09.

Inspection area setting method for image inspecting device

Номер патента: US9269134B2. Автор: Yoshihisa Minato,Yukiko Yanagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2016-02-23.

Inspection position identification method, three-dimensional image generation method, and inspection device

Номер патента: US11835475B2. Автор: Yosuke Yamamoto,Takuma Hirayama. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: US20240040230A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Dark-field optical inspection device

Номер патента: US11965834B2. Автор: Mayeul DURAND DE GEVIGNEY. Владелец: Unity Semiconductor SAS. Дата публикации: 2024-04-23.

Inspection device for masks for semiconductor lithography and method

Номер патента: US20210156809A1. Автор: Heiko Feldmann,Holger Seitz,Thomas Zeuner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2021-05-27.

Inspection device

Номер патента: US11977036B2. Автор: Makoto Nakatani,Akihiro Maenaka,Yoshinori TARUMOTO,Hironori TSUTSUMI. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Underwater inspection device and filtering method of its attitude sensor

Номер патента: US20200393419A1. Автор: HUI Li,Pengxiang LI. Владелец: Hainan University. Дата публикации: 2020-12-17.

Inspection device, ptp packaging machine, and ptp sheet manufacturing method

Номер патента: EP3614127A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-02-26.

Inspection device

Номер патента: US20220198636A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Inspection Device with Integrated X-ray and Weighing Device

Номер патента: US20240027370A1. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec GmbH. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus and method for treating plastic preforms with inspection device

Номер патента: US11999093B2. Автор: Florian Geltinger. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-06-04.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US20240151654A1. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Method and system for steering an insertion tube of a video inspection device

Номер патента: US9404871B2. Автор: James Jonathan Delmonico. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-08-02.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US11428673B2. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-08-30.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: EP4249961A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: CA3199574A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-27.

Container inspection device

Номер патента: NL2032976B1. Автор: Roeland Hendriks Joseph,Ide Van Der Horst Joren,Kieft Jim. Владелец: Luo Automation B V. Дата публикации: 2024-03-21.

Core inspection device, core inspection system, and core inspection method

Номер патента: US11953425B2. Автор: Hiroki Matsuoka,Takashi Hanai. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: US20240011920A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11906440B2. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Drill hole inspection method, drill hole inspection system and inspection device

Номер патента: US11847774B2. Автор: Tai-Been Chen,Chen-Te Yu,Chia-Chien Pan. Владелец: Der Lih Fuh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190043181A1. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10769777B2. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

Inspection device

Номер патента: US20150355100A1. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-10.

Eddy-current flaw detection probe

Номер патента: EP3770596A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-01-27.

Methods and devices for preparing sample for cryogenic electron microscopy

Номер патента: EP4009347A2. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-06-08.

Methods and devices for preparing sample for cryogenic electron microscopy

Номер патента: EP4009347A3. Автор: Pleun Dona,Maarten Kuijper,Erum RAJA,Luigi Mele,Bas Hendriksen,Atieh Aminian. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-05-03.

Methods and devices for preparing sample for cryogenic electron microscopy

Номер патента: EP3790036A2. Автор: Pleun Dona,Maarten Kuijper,Erum RAJA,Luigi Mele,Bas Hendriksen,Atieh Aminian. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-03-10.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4297106A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Inspection device, PTP packaging machine and inspection method

Номер патента: US11981469B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

Radiation Inspection Device

Номер патента: GB2617981A. Автор: LIU Lei,HU YU,MA Yuan,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,Ji ZHENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Appearance inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11936985B2. Автор: Shingo Hayashi,Daisuke Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Radiation inspection device

Номер патента: US20240069240A1. Автор: Zheng Ji,LEI Liu,Yuan Ma,Yu Hu,Shangmin Sun,Chunguang ZONG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: EP4314927A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-07.

Inspection device for rotating electric machine and method of inspecting rotating electric machine

Номер патента: US11892510B2. Автор: Masao Akiyoshi,Norihiko HANA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Inspection method and inspection device and computer-readable medium

Номер патента: EP3699579A1. Автор: Tao Liu,QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240073348A1. Автор: Tatsuya Shirasaka. Владелец: Toyo Seikan Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Endoscope fluorescence inspection device

Номер патента: EP3876813A1. Автор: Mark Jackson,Tuan Nguyen,Nicholas G. BROMILEY,Huyen Bui,Joshua J. Korth,Mer Win CHEONG. Владелец: Medivators Inc. Дата публикации: 2021-09-15.

Battery inspection device and battery inspection method

Номер патента: EP3982450A1. Автор: Takahiro Murai. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2022-04-13.

Inspection device

Номер патента: EP4007480A1. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-06-01.

Visual inspections device, method of manufacturing and program the same

Номер патента: US20210341394A1. Автор: Hideki Wada. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Automotive fuel tank inspection device

Номер патента: US20050162643A1. Автор: Thomas Karpen. Владелец: Everest Vit Inc. Дата публикации: 2005-07-28.

Eddy current array inspection device

Номер патента: US5442286A. Автор: George H. Sutton, Jr.,Francis H. Little,Carl Granger, Jr.,Philip F. Stapf. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1995-08-15.

Pipe inspection device

Номер патента: CA2914772C. Автор: Jakob KESSELBERG. Владелец: VRETMASKIN EL & MEKANIK AB. Дата публикации: 2019-02-26.

Electronic label inspection device

Номер патента: US20220205927A1. Автор: LU LIU,Xiaobo Lin,Zhenhua Meng. Владелец: Guangzhou Pulisi Technology Co, Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20200292466A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: US20240027369A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection device and method for capturing inspection image

Номер патента: US11877063B2. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Inspection device

Номер патента: US10908095B2. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2021-02-02.

Biological tissue inspection device and method therefor[

Номер патента: EP3888533A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Min Young Hwangbo. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2021-10-06.

Inspection device

Номер патента: US20190219518A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Marking inspection device on transparent edible body and marking device

Номер патента: EP4293345A1. Автор: Junsuke Yasui,Kousuke OOKITA,Kazuaki MATSUTANI. Владелец: Qualicaps Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Device for inspecting lateral surface of cylindrical battery

Номер патента: EP4354123A1. Автор: Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US11462335B2. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-04.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190277772A1. Автор: Tomohiro Suzuki,Haruhiko Kusunose,Masayasu Nishizawa. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US7746464B2. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-29.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252620A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Inspection device, PTP packaging machine and calibration method of inspection device

Номер патента: US12007331B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230226646A1. Автор: Hyun Soo Kim,Seong-Gyu Hwang,Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO,Hyun Beom JEONG. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Coating Inspection Device

Номер патента: US20130057849A1. Автор: Shi-Hsien Yeh. Владелец: Nike Inc. Дата публикации: 2013-03-07.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US20210151209A1. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Inspection device

Номер патента: EP3800468A1. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Yoichi Yamamoto,Jun Ikeda,Daisuke Kudo,Futoshi Yurugi,Haruhiko Komori,Michihiko TODORI. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-07.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: US20010055415A1. Автор: Takeo Nozaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Security inspection device and transfer method therefor

Номер патента: US11933934B2. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Xuping Fan. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Electronic component lead inspection device

Номер патента: US6727713B1. Автор: Dong-Sik Jang,Jong-Ju Choi. Владелец: ViewWell Co Inc. Дата публикации: 2004-04-27.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US11373292B2. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-06-28.

Defect inspection device

Номер патента: US20220084176A1. Автор: Hironobu Tamura. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

X-ray inspection device

Номер патента: US20180122526A1. Автор: Koji Omori,Daiki Kataoka. Владелец: Anritsu Infivis Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-03.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: EP3734641A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Sheet inspection device

Номер патента: US11959863B2. Автор: Yuto Kawashima. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Appearance inspection device and blister packaging machine

Номер патента: US20200182799A1. Автор: Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US20200211169A1. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection computer program product

Номер патента: US20240020821A1. Автор: Akira Moriya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: US20200080949A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-03-12.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230036062A1. Автор: Tomohiro Matsuda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspecting device, inspecting method, and program

Номер патента: US20190285554A1. Автор: Yoshinori Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240175805A1. Автор: Tatsuya Hirose,Tadashi SUMII,Hidetsugu NOSAKA,Yusuke TSURUI. Владелец: Taikisha Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: US20230334649A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-10-19.

X-ray thin film inspection device

Номер патента: US20170299528A1. Автор: Hideaki Takahashi,Yoshiyasu Ito,Kiyoshi Ogata,Muneo Yoshida,Kazuhiko Omote,Hiroshi Motono. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-19.

Flaw detection device for steel bar

Номер патента: US20030178992A1. Автор: Keisuke Fujisaki,Kazuomi Tomita. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-09-25.

Device for inspecting a rectilinear cavity with eddy currents

Номер патента: US7659715B2. Автор: Patrick Gaisnon,Patrick Cabanis,Patrick Briffa,Luc Ravize. Владелец: SNECMA SAS. Дата публикации: 2010-02-09.

Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method

Номер патента: CA2807917C. Автор: Hisashi Endo,Akira Nishimizu,Noriyuki Sadaoka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-10-11.

Allophone inspection device and inspection method thereof

Номер патента: US11636717B2. Автор: Seong-Cheol Kim,Joo Hyun Park,Sung Wook Lee,Byeong-Ho Lee,Wanjei Cho. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Inspection device and method

Номер патента: US11852591B2. Автор: Yosuke NARUSE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Defect inspecting device, defect inspecting method, and storage medium

Номер патента: US11830174B2. Автор: Masashi Kurita,Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Foreign-matter inspection device

Номер патента: US20180321166A1. Автор: Takayuki Tanaka,Takuya Yaegashi. Владелец: Nissin Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11971367B2. Автор: Yasuyuki Nuriya. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Thermocycling inspection device and chip holder

Номер патента: US11958052B2. Автор: Hiroshi Mitsutake,Ryoko Aso,Ryuichi Sekizawa. Владелец: METABOSCREEN CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Briquette inspection device and briquette inspection method

Номер патента: US20140146310A1. Автор: Koji Tsukada,Fumio Yuasa. Владелец: Furukawa Industrial Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240118220A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Device for inspecting side surface of cylindrical battery

Номер патента: EP4354124A1. Автор: Jiwon Kim,Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Water quality inspection device

Номер патента: US20220365057A1. Автор: Doyeon PI. Владелец: Piquant Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Method and device for nondestructively, magnetically inspecting elongated objects for structural faults

Номер патента: CA2122516C. Автор: Herbert R. Weischedel. Владелец: NDT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2004-04-06.

Component inspection device

Номер патента: US20240070847A1. Автор: Shinji Sugita,Shimpei FUJII,Aoi Mochizuki. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Handheld fastener removal inspection device

Номер патента: WO2024026299A1. Автор: James Becker,Mervyn Rudgley,William Palleva,Dominick MAMMOLITO. Владелец: Perfect Point EDM. Дата публикации: 2024-02-01.

Handheld fastener removal inspection device

Номер патента: US20240027360A1. Автор: James Becker,Mervyn Rudgley,William Palleva,Dominick MAMMOLITO. Владелец: Perfect Point EDM. Дата публикации: 2024-01-25.

Member inspection device and member repairing method

Номер патента: US20190041199A1. Автор: Yoichiro Ara,Yoshihiro Koketsu,Yuuko Ujihara. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Image processing device, foreign object inspection device, and image processing method

Номер патента: US20190304126A1. Автор: Koji Kashu. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Inspection device

Номер патента: US20230274408A1. Автор: Naoto Kobayashi. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20220301136A1. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Can lid inspection device, camera position adjustment method, and camera positioning jig

Номер патента: US11898964B2. Автор: Toshio Kogure. Владелец: Showa Aluminum Can Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection device, packaging sheet manufacturing device, and inspection method

Номер патента: US11994477B2. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection device

Номер патента: US20190220999A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

X-ray inspection device

Номер патента: EP4224154A1. Автор: Osamu Hirose,Ken IWAKAWA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

X-ray inspection device

Номер патента: US20230243764A1. Автор: Osamu Hirose,Ken IWAKAWA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9546939B2. Автор: Koji Shiratsuchi,Zhengyong Liu,Rintaro Nagaoka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Blister strip inspection device

Номер патента: CA2984064C. Автор: Gijsbert Olivier Van Schelven. Владелец: Hmgeb Holding BV. Дата публикации: 2023-08-22.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US11874236B2. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Panel inspection device and inspection method of panel

Номер патента: US8023721B2. Автор: Chih-Chiang Lee,Ching-Chun Chien,Hsien-Chang Kao,Kuo-Chang Teng. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2011-09-20.

Surface inspection device

Номер патента: GB2348492A. Автор: Masao Watanabe,Akiko Okubo. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2000-10-04.

Imaging device, bump inspection device, and imaging method

Номер патента: US11953314B2. Автор: Takeya Tsukamoto,Takashi Miyasaka,Alexsandr JUK,Alain Ross,Shigeya KIKUTA. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Tape inspection device and secondary battery manufacturing system having the same

Номер патента: US20220172345A1. Автор: Sang Min Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Magnetic particle inspection device

Номер патента: US20210080521A1. Автор: Yuki Arai. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Inspection device, packaging machine, and package inspection method

Номер патента: US11933742B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Device for inspecting semiconductor equipment air valve for leaking

Номер патента: US20230128369A1. Автор: Sang Hyub Lee. Владелец: Spsglobal Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: CA2623370A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Inspection device for wiring of an integrated circuit

Номер патента: US6577151B1. Автор: Ming-Lang Tsai,Chia-Min Chuang,Chen-Ping Su,Chon-Tsai Yang. Владелец: Orient Semiconductor Electronics Ltd. Дата публикации: 2003-06-10.

Inspection device for vehicle and method for inspecting the vehicle

Номер патента: US20220301148A1. Автор: Jaesik Min,Minhoe Hur. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US12032013B2. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Inspection device for inspecting tft

Номер патента: US20080164902A1. Автор: Tomoyuki Taguchi,Kenichi Imura,Yoshitami Sakaguchi,Yoshinori Mekata,Daiju Nakanao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-10.

Inspection device for sub-element of reticle pod

Номер патента: US20240295461A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Device for the dimensional inspection of containers having contact optical detection

Номер патента: US09970790B2. Автор: Etienne Leprat. Владелец: MSC&SGCC SAS. Дата публикации: 2018-05-15.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: US20090151481A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: TS Tech Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Inspection device for glass substrate

Номер патента: US20130049785A1. Автор: Wen-Da Cheng. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Inspection device for manufacturing a part with addition of material

Номер патента: US20230278108A1. Автор: Bruno Fleury,Pascal Picart,Matthieu PINIARD,Béatrice SORRENTE. Владелец: Le Mans Universite. Дата публикации: 2023-09-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US20210271206A1. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2021-09-02.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20040004729A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20060082791A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

Conduction inspection device member and conduction inspection device

Номер патента: US20190212365A1. Автор: Masao SASADAIRA,Xiaoge Wang. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Inspection device for a machine

Номер патента: US09866090B2. Автор: Christoph Lehmann,Waldemar Kowalski. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-01-09.

Inspection device

Номер патента: US09599659B2. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Motor vehicle inspection device and method for identifying motor vehicles

Номер патента: US09460132B2. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: EP4056978A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-09-14.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: EP3771308A1. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2021-01-27.

Contact inspection device

Номер патента: US20240248117A1. Автор: Jung Min Lee,Suk Ju Kang,Eun Su Jun,Byungsu KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240353287A1. Автор: Takuya Iwamoto,Masao Akiyoshi,Kenji Amaya,Norihiko HANA,Masaki Umeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection device

Номер патента: US09863991B2. Автор: Shinji Matsumoto,Kazuya Yoshimura,Yuhji Yashiro. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Inspection device of vehicle driver assistance systems

Номер патента: US09545966B2. Автор: Sinkuk Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-01-17.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US20220349770A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US12085481B2. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20240302419A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device, method for producing multilayer electrode body and inspection method

Номер патента: US12117283B2. Автор: Haruhisa Yagi,Ryuta Abe,Tatsuya Masada. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: US12017861B2. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US09632110B2. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Control method and device for ultrasonic receiving device

Номер патента: US20210088654A1. Автор: Yiming Zhang. Владелец: Nolo Co ltd. Дата публикации: 2021-03-25.

Security inspection device and control method therefor

Номер патента: AU2019414849A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Wafer inspection device

Номер патента: US8638118B2. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-01-28.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351B1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2007-05-02.

Shape inspection device, processing device, height image processing device

Номер патента: US20240271925A1. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351A1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2005-11-02.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US20220206049A1. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Continuity inspection device

Номер патента: US09989577B2. Автор: Miyoshi MABUCHI. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Abnormal noise inspection device, abnormal noise inspection method, program, and workpiece manufacturing method

Номер патента: EP3733359A1. Автор: Yuji KOBORI,Makoto TONEGAWA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Inspection device and inspection method for speed variator

Номер патента: US11913853B2. Автор: Long-En Chiu. Владелец: Fulian Yuzhan Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US12135336B2. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Inspection device and method of head up display for vehicle

Номер патента: US09573524B2. Автор: Dong Myong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Eye Glasses Lens Inspection Device with Interchangeable Lenses

Номер патента: US20230037795A1. Автор: Daryl Squicciarini. Владелец: OptiSource International Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Inspection device

Номер патента: US20180203041A1. Автор: Toshiyuki Sawada,Satoshi Iwashima. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-19.

Method and device for measuring features on or near an object

Номер патента: US09984474B2. Автор: Clark Alexander Bendall. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Display panel inspection device and display panel inspection method using the same

Номер патента: US20240219424A1. Автор: Dong Hoon Lee,Haewook YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200141977A1. Автор: Yuji Ebiike,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Semiconductor inspection device

Номер патента: US20170336442A1. Автор: Yuya SAEKI,Misuzu NISHIMURA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-23.

Contact inspection device

Номер патента: US09759744B2. Автор: Kentaro Tanaka. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection device with vertically moveable assembly

Номер патента: US09535089B2. Автор: Greg Olmstead,Gary Mark Gunderson. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Device for dimensional inspection of containers having contact optical detection

Номер патента: RU2656002C2. Автор: Этьен ЛЕПРАТ. Владелец: Эм Эс Си Энд Эс Джи Си Си. Дата публикации: 2018-05-30.

Planetary gear carrier pack transmission error inspection device

Номер патента: US9664592B2. Автор: Hyun Ku Lee,Jong Gu Do,Tae Hwi Lee. Владелец: PSYLOGIC Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring head clamp-on device for ultrasonic flow-measuring heads

Номер патента: US09581477B2. Автор: Jan Frederik Scharnitzky. Владелец: FLEXIM FLEXIBLE INDUSTRIEMESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-02-28.

Rotatable inspection device for defect detection

Номер патента: WO2020234786A8. Автор: Gilles Santi,Marc Lany,Frederic Monnier,Bernard Revaz,Alain BERTHOUD,Julien HUBLEUR. Владелец: Sensima Inspection Sàrl. Дата публикации: 2021-06-24.

Inspection device and inspection method using the same

Номер патента: US20240061033A1. Автор: Taejoon KIM,Sangwook Yoo,Junseong Lee,Junghun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: EP4400873A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Surface profile inspection device

Номер патента: US20120147919A1. Автор: Toshihiko Yoshikawa,Masataka Toda,Masaru HISANAGA. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: US20240361487A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Optical axis angle inspection device

Номер патента: US09970751B2. Автор: Takayuki Ogawa,Tatsuya Sakai,Yoshitaka Hirai,Akira Sakamoto,Hirotaka Itoh. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Inspection device

Номер патента: US09683915B2. Автор: Yuuki Ogata. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Shape inspection device

Номер патента: US09625353B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Inspection device for inspecting the dimensions of an object

Номер патента: US5351410A. Автор: Lucien Hainneville. Владелец: Societe Industrielle de Liaisons Electriques SA. Дата публикации: 1994-10-04.

Method and device for ultrasonic leak location

Номер патента: RU2124721C1. Автор: Шульце Гюнтер,Кунце Ульрих,Кноблах Вальтер. Владелец: Сименс АГ. Дата публикации: 1999-01-10.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A3. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A2. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: SE2251043A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-09.

Leak inspection device and leak inspection method

Номер патента: US20210278308A1. Автор: Tetsuya Matsukawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Method and device for inspection of a geometry, the device comprising image capturing and shape scanning means

Номер патента: SE1951205A1. Автор: Martin ENGMAN. Владелец: Winteria Ab. Дата публикации: 2020-10-06.

Method and device for inspection of a geometry, the device comprising image capturing and shape scanning means

Номер патента: EP4048979A1. Автор: Martin ENGMAN. Владелец: Winteria Ab. Дата публикации: 2022-08-31.

Method and device for inspection of a geometry, the device comprising image capturing and shape scanning means

Номер патента: US20220364851A1. Автор: Martin ENGMAN. Владелец: Winteria Ab. Дата публикации: 2022-11-17.

Device for inspecting element substrates and method of inspection using this device

Номер патента: US20040180602A1. Автор: Masaaki Hiroki. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2004-09-16.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: WO2024052463A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-14.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: WO2017202535A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2017-11-30.

A wireless intelligent remote inspection device for pressurized systems

Номер патента: WO2024018380A1. Автор: Deepali Mittal. Владелец: Deepali Mittal. Дата публикации: 2024-01-25.

Skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: US20240000374A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Intelligent inspection devices

Номер патента: US20200090410A1. Автор: Junsoo Han,Yonghwan EOM,Cholok Han,Younghun YANG,Junseong JEONG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-03-19.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US20230341454A1. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: CA3205211A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Inspection system and inspection device

Номер патента: US20230196875A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Charging function inspection device

Номер патента: US20230173943A1. Автор: Hoo Taeg LEE. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Inspection device

Номер патента: US20240060762A1. Автор: Daisuke Fukuoka,Takafumi HARAGUCHI. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device for display apparatus and inspection method for display apparatus

Номер патента: US20240094246A1. Автор: Daewon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: AU2023204075A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Water cut-off inspection device for grommet

Номер патента: US6382016B1. Автор: Yoshitsugu Fujita,Yoshihiro Araki,Katsumi Furukawa. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-05-07.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US20150247901A1. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-09-03.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20240092353A1. Автор: Masao Nakagawa,Toshimichi Takahashi. Владелец: National Agency For Automobile and Land Transport Technology NALTEC. Дата публикации: 2024-03-21.

Minute structure inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP1930732A1. Автор: Naoki c/o TOKYO ELECTRON AT LIMITED IKEUCHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-06-11.

Miniature air gap inspection device

Номер патента: CA2264382C. Автор: Kenneth J. Hatley. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2007-10-09.

Inspection system, and inspection device

Номер патента: AU2023200444A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4298997A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Inspection device for cooling plate

Номер патента: US20240019236A1. Автор: Ki Young Kim,Sang Do Lee,Sung Joo Kim,Sung Gye Park,Tae Moon KWON. Владелец: Do Lim Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Obstacle sensor inspection device and method

Номер патента: US20230305162A1. Автор: Kenya Sumida. Владелец: Toyota Industries Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Focus ring inspection device and focus ring inspection method

Номер патента: US20240159590A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee,Dong Mok Lee,Jin Il SUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Electronic component carrying device and electronic component inspection device

Номер патента: US20180080982A1. Автор: Masami Maeda,Daisuke Kirihara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Hole inspection device

Номер патента: CA2970102C. Автор: Gerard LOUBET. Владелец: KUKA Systems Aerospace SAS. Дата публикации: 2019-08-27.

Protective relay inspection device

Номер патента: US11892509B2. Автор: Jae-Shik Yoon. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10698531B2. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2020-06-30.

Fracture surface inspection device and fracture surface inspection method for loss evaluation

Номер патента: US11821725B2. Автор: Ryosuke MURAKAMI. Владелец: Yasunaga Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20240077387A1. Автор: Toshimichi Takahashi,Keisuke Tada,Morio ONAI. Владелец: Meidensha Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Detection data storage device for detection probe

Номер патента: US10234481B2. Автор: Pei-Ming Chang. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2019-03-19.

Battery pack and inspection device therefor

Номер патента: US6639387B2. Автор: Katsunori Kitagawa,Tetsuo Nagahisa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2003-10-28.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: EP4306972A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-01-17.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20200096607A1. Автор: Yasuhiro Okuno,Kenichiro Kurai,Kazuyuki Fukamachi,Michiaki Okubo,Kazumori Sakai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US20140125373A1. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Inspection Device and Inspection Method Using Inspection Device

Номер патента: US20230288493A1. Автор: Atsushi Miyazaki,Keiji Nishimura. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Inspection device and method for inspecting an adhesive pattern on a substrate

Номер патента: US11801672B2. Автор: Eric Lingier,Alexander Wilhelm. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Adaptive transmitter cluster area for ultrasonic locationing system

Номер патента: WO2015061053A1. Автор: Russell E. Calvarese. Владелец: Symbol Technologies, Inc.. Дата публикации: 2015-04-30.

Scan conversion for ultrasonic imaging and apparatus using the same

Номер патента: US20090062649A1. Автор: YONG Li,Bin Yao. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

Determination of delay time for ultrasonic flow meters

Номер патента: RU2546855C1. Автор: Генри Ч. СТРАУБ. Владелец: ДЭНИЕЛ МЕЖЕМЕНТ энд КОНТРОЛ, ИНК.. Дата публикации: 2015-04-10.

System for ultrasonically detecting the relative position of a moveable device

Номер патента: CA1226661A. Автор: Kenneth O. Head,Arthur E. Bollinger. Владелец: Teknar Inc. Дата публикации: 1987-09-08.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US11913838B2. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US20210033463A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: GB2620182A. Автор: Murphy Christopher,CORLEY Gavin,KIERSEY Simon. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Optical inspection device

Номер патента: US20070070528A1. Автор: Chien-Fu Chen,Ming-Chich Chung,Ken Yen,Walong Sheu,Yan-Gu Lai,Ace Lin,Chiung-Hui Chen,Hsien-Chung Chiu. Владелец: Micro Digital Automation Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

Inspection device and inspection program

Номер патента: EP4220004A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-08-02.

Circuit board inspection device

Номер патента: US20050017743A1. Автор: Koji Adachi,Kaoru Yasukawa,Norikazu Yamada,Tetsuichi Satonaga,Koki Uwatoko,Eigo Nakagawa. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2005-01-27.

Wire disconnection inspecting device and method

Номер патента: CA2588855C. Автор: Katsumi Takeishi,Kazuyuki Fukamachi,Keita Sekine,John Cheek. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-29.

Secondary battery inspection method and secondary battery inspection device

Номер патента: CA3141786C. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-20.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US11960246B2. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2024-04-16.

Fluid visual inspection device

Номер патента: US20110100138A1. Автор: Yao-Sung HOU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-05-05.

Secondary cell inspection method and secondary cell inspection device

Номер патента: EP3951409A1. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Secondary cell inspection method and secondary cell inspection device

Номер патента: US20230034016A1. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Wafer inspection device

Номер патента: US20130147504A1. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-06-13.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US11906561B2. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Inspection device and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20230228646A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Manufacturing method of semiconductor device, inspection device of semiconductor device, and semiconductor device

Номер патента: US20180277449A1. Автор: Yu Muto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-09-27.

Device for flow rate meter malfunction diagnostics

Номер патента: RU2517197C1. Автор: Сатоси СЕКИНЕ. Владелец: Ниссан Мотор Ко., Лтд.. Дата публикации: 2014-05-27.

Wiring harness security inspection device

Номер патента: US5365176A. Автор: Doyle E. Miller. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-11-15.

Inspection device

Номер патента: US20230314471A1. Автор: Masaki Noguchi. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Medicine inspection device and medicine packaging system

Номер патента: US09994347B2. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Hiroyuki Yuyama,Dai SHIMIZUBE. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Utilization of visual auxiliary inspection devices for vehicle servicing system and method

Номер патента: US20060106630A1. Автор: Wang-Ying Lo. Владелец: DRACO PHOTOELECTRON Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-18.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

A device for exchanging gaming chips and cash currency

Номер патента: AU2024205551A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Defect inspection device for display panel and method for the same

Номер патента: US20150187064A1. Автор: Haibo Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4374217A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4373675A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240326405A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-10-03.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20240249400A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240300234A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Handheld inspection device

Номер патента: EP4281254A1. Автор: Kennet Andersson,Johan RYMAN. Владелец: Bill Andersson Fordonslyftar Ab. Дата публикации: 2023-11-29.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Inspecting device monitoring system

Номер патента: US09465385B2. Автор: Shingo Suzuki,Yosuke Kamioka,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Inspection device and method of inspection using the same

Номер патента: US20240233111A1. Автор: DooHyoung Lee,Dongha Lee,Juwon LEE,Sanghyung Lim,Kuhwan Chung,Joo Dong Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device, method, and computer program for inspection

Номер патента: US20230316490A1. Автор: Kazuhiro Arita,Akihito Ito,Yukiharu Tomita,Yasunori Nakamukai,Takahiko Naitou. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Image inspection device, console, and radiation imaging system

Номер патента: EP4029450A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-20.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Visual inspection device

Номер патента: US20200053259A1. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl,Benjamin Oliver Ryan Cabot. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Image inspection device

Номер патента: US20210385415A1. Автор: Ying-Nan Chen,Yi-Ning Lee. Владелец: Wen Chin Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspecting device, method for changing threshold, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09544447B2. Автор: Takako SHIJOH. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection Device for Inspecting a Building or Structure

Номер патента: US20230073689A1. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2023-03-09.

Inspection device for inspecting a building or structure

Номер патента: US12002193B2. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2024-06-04.

Smoking article packaging container inspection device, manufacturing device, and inspection method

Номер патента: EP3831729A1. Автор: Makoto Ueno. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2021-06-09.

Image inspection device and image forming apparatus using the same

Номер патента: US20240168422A1. Автор: Yu Saito,Masakazu Shirai. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-23.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240346740A1. Автор: Min Kyu Yeo,Sun Woong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Visual inspection device

Номер патента: US09736342B2. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Image sensor inspection device

Номер патента: EP2080061A2. Автор: Walter Parkola,Martin J. Wood. Владелец: Delkin Devices Inc. Дата публикации: 2009-07-22.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180197187A1. Автор: Wing Kin Hui,Hoi Ying Chung,Fong Man Hui. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-07-12.

Image sensor inspection device

Номер патента: US20110090491A1. Автор: Walter Parkola,Martin J. Martin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-21.

Feeder operation inspection device

Номер патента: EP4027762A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-07-13.

Feeder operation inspection device

Номер патента: US20220332514A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Image inspection device, console, and radiographic system

Номер патента: US20220198663A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Computer-Implemented Data Structure, Method, Inspection Device, and System for Transferring a Machine Learning Model

Номер патента: US20240273415A1. Автор: Daniel SCHALL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Solder print inspecting device

Номер патента: US09471972B2. Автор: Yosuke Kamioka. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Inspection method and inspection device

Номер патента: EP2772920A2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-09-03.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20220012867A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Printed material inspection device, printed material inspection method, program, and printing system

Номер патента: US20240161273A1. Автор: Takashi Matsuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Wafer containing cassette inspection device and method

Номер патента: US20100074514A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Hideki Mori,Takeki Kogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-03-25.

Inspection device, control method and control apparatus for the same

Номер патента: US20190295241A1. Автор: Yu Gu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Inspection device for inspecting quality of printed images

Номер патента: US11997234B2. Автор: Yosuke TASHIRO. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-28.

Light source device and camera inspection device using same

Номер патента: US20230231088A1. Автор: Ji Hyun Yun. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Image inspection device, printing device including the same, and image inspection method

Номер патента: US20230088442A1. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: EP4224261A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2023-08-09.

Image inspection device, image inspection method, and prelearned model generation device

Номер патента: US20230162343A1. Автор: Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Inspection device, inspection method, and medium

Номер патента: US20230297675A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Video photo recording device for the inspection of the interior of pipes

Номер патента: US3832724A. Автор: M Duval. Владелец: SANITANK Inc. Дата публикации: 1974-08-27.

Inspection device, image forming apparatus, and program for inspection device

Номер патента: US20230281798A1. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-09-07.

Implantable inspecting device, inspecting system, and inspecting method

Номер патента: US20220248991A1. Автор: Chi-Heng Chang,Mei-Ching WANG. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Image inspection device, image forming system, and storage medium

Номер патента: US20240012595A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-11.

Backdoor inspection device, user device, system, method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20220277083A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Inspection device

Номер патента: US20200204714A1. Автор: Yukio Ichikawa,Munehiro Takayama,Masataka Toda. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Backdoor inspection device, backdoor inspection method, and computer-readablemedium

Номер патента: US20230229766A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Ultrasonic device for body object treatment

Номер патента: RU2369416C2. Автор: Ларс ЛИДГРЕН,Кай ЛАРССОН. Владелец: Ультразоникс ДНТ АБ. Дата публикации: 2009-10-10.

Image inspection device, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20180089818A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Inspection device of winding appearance of tape and improvement processing method for the same

Номер патента: US20040021096A1. Автор: Nobuyuki Tada,Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-02-05.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A3. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-19.

Inspection device, method, and computer program for inspection

Номер патента: US20230316501A1. Автор: Kazuhiro Arita,Akihito Ito,Yukiharu Tomita,Yasunori Nakamukai,Takahiko Naitou. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection device of winding appearance of tape and improvement processing method for the same

Номер патента: US20050145742A1. Автор: Nobuyuki Tada,Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-07.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program

Номер патента: CA3115746C. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Inspection device, image forming apparatus, and program for inspection device

Номер патента: US20220005176A1. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-06.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220138983A1. Автор: Kentaro Hayashi,Hiromichi Godo. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Image inspection device and saving processing method for captured image

Номер патента: EP3886041A1. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

Inspection device

Номер патента: US6145583A. Автор: William J. Harris,John M. Gay,Terry M. Radigan,Gregory J. Yadzinski,Cedric G. Chang,Donald R. Lefebvre. Владелец: R Brooks Associates Inc. Дата публикации: 2000-11-14.

Image inspection device, image forming apparatus, and image inspection method

Номер патента: EP3787272A1. Автор: Hiroaki Kodaira,Makoto Oki,Yusuke Mimura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-03-03.

Driving device and inspection device

Номер патента: AU2022231255A1. Автор: WEI Ren,PENG Wang,Qian Huang,Shuai LIU,Zhen Fu,Minyong GU,Zaifeng LI. Владелец: Beijing Tianma Intelligent Control Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-19.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program product

Номер патента: US20210225112A1. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Mobile information and control terminal for ultrasonic diagnostic systems and methods of using the same

Номер патента: US11779314B2. Автор: Shijian Liu. Владелец: Shanghai Weiling Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Mobile information and control terminal for ultrasonic diagnostic systems and methods of using the same

Номер патента: US20220110610A1. Автор: Shijian Liu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-04-14.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Device for inspecting hollow-body cavity

Номер патента: EP1980199A3. Автор: Masato Tanaka,Tetsuya Nakanishi,Masaaki Hirano,Toshiaki Okuno. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2012-12-19.

Inspection device for oral tissues or deposits, and inspection auxiliary member

Номер патента: US20240285171A1. Автор: Michiya Fujiki,Ryutaro ASHIDA,Shota Somekawa,Sayaka MATSUZAWA. Владелец: Shinsei Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Automatic inspection device for corrugated paperboard machine, and corrugated paperboard machine

Номер патента: US09452585B2. Автор: Hiroshi Ota,Michio Suzuki. Владелец: Isowa KK. Дата публикации: 2016-09-27.

Semiconductor device for driving electric motor

Номер патента: US20120018725A1. Автор: Tomoya Noda,Shigeki Nagase. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2012-01-26.

Semiconductor device for driving electric motor

Номер патента: EP2410559A3. Автор: Tomoya Noda,Shigeki Ngase. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2014-04-30.

Inspection device for conveyor ducts for aeriform media

Номер патента: WO2004013543A1. Автор: Giuseppe Librizzi. Владелец: Al.P. S.R.L.. Дата публикации: 2004-02-12.

Inspection Device, Analysis/Display Device, Inspection Device

Номер патента: US20080191708A1. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Apparatus for ultrasonic treatment of open wounds

Номер патента: RU2703657C9. Автор: Йенс-Кристиан ФРОВИТТЕР. Владелец: Йенс-Кристиан ФРОВИТТЕР. Дата публикации: 2019-11-25.

Determining a load distribution for data units at a packet inspection device

Номер патента: US09935883B2. Автор: James M. Rolette,Damon E. Fleury. Владелец: Trend Micro Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Apparatus for ultrasonic treatment of open wounds

Номер патента: RU2703657C2. Автор: Йенс-Кристиан ФРОВИТТЕР. Владелец: Йенс-Кристиан ФРОВИТТЕР. Дата публикации: 2019-10-21.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Multi-caliber dimensional inspection device for an assembled cartridge

Номер патента: US20180164085A1. Автор: Paolo MANDELLI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-06-14.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Maneuverable pipeline inspection device

Номер патента: AU2021371453A9. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US09565086B2. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-02-07.

Method and apparatus for ultrasonic delivery of drugs and contrast agents

Номер патента: US11850096B1. Автор: Cetin Cetinkaya. Владелец: CLARKSON UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-12-26.

Portable inspection device

Номер патента: US20230262342A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Portable inspection device

Номер патента: WO2022079690A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Limited. Дата публикации: 2022-04-21.

Intraocular pressure inspection device

Номер патента: US20240130614A1. Автор: Chu-Ming Cheng,Chao-Ting Chen,Shao Hung Huang,Chi-Yuan Kang,Fong Hao Kuo,Yu-Chung TUNG. Владелец: Medimaging Integrated Solution Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Double-skin cryogenic tank equipped with at least one inspection device

Номер патента: US20240093838A1. Автор: Benoit Penven. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2024-03-21.

Method and device for ultrasonic cleaning

Номер патента: WO2017220420A1. Автор: Oscar GONZALO DE FRANCISCO,Jon Ander SARASUA MIRANDA,Manu GOIOGANA BENGOETXEA. Владелец: FUNDACION TEKNIKER. Дата публикации: 2017-12-28.

Inspection device

Номер патента: US10002740B2. Автор: Takeshi Murakami,Yasushi Toma,Kenji Watanabe,Kenji Terao,Masahiro Hatakeyama,Kenichi Suematsu,Ryo Tajima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-06-19.

Device for ultrasonic sealing unit

Номер патента: RU2175936C2. Автор: Робе Магнус. Владелец: ТЕТРА ЛАВАЛЬ ХОЛДИНГЗ ЭНД ФАЙНЭНС С.А.. Дата публикации: 2001-11-20.

Inspection device

Номер патента: US20200365364A1. Автор: Yasunari Sohda,Noritsugu Takahashi,Hikaru Koyama,Atsuko SHINTANI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-11-19.

Packet receiving method, deep packet inspection device and system

Номер патента: US09578040B2. Автор: Jiancheng GUO,Zhenggang You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Device for controlling an inspection device for a wind turbine

Номер патента: CA3055106C. Автор: Johannes Rosen. Владелец: Innogy SE. Дата публикации: 2021-01-19.

Pipeline inspection device

Номер патента: US12053807B2. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Endoscope with auxiliary device for inspection

Номер патента: RU2738993C1. Автор: Чин-Шунь ЦЗЭН. Владелец: Чин-Шунь ЦЗЭН. Дата публикации: 2020-12-21.

Optical device for checking a face of a blank

Номер патента: US20170320607A1. Автор: Sacha Bourgeois,Dimitri Favini. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2017-11-09.

Ultrasonic System for Ultrasonic Surgery and Methods for its Operation

Номер патента: US20240206904A1. Автор: Florian Neumann,Steffen BUSCHSCHLÜTER,Gesa MALTZEN. Владелец: SOERING GmbH. Дата публикации: 2024-06-27.

Method and device for changing the properties of at least one liquid medium

Номер патента: US09713803B2. Автор: Harald Hielscher,Holger Hielscher,Thomas Hielscher. Владелец: DR HIELSCHER GMBH. Дата публикации: 2017-07-25.

Inspection device arrangement for an elevator rope

Номер патента: EP1362001A1. Автор: Vlad Zaharia,Pedro S. Baranda. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2003-11-19.

Nozzle inspecting device in fluid discharge apparatus, fluid discharge apparatus, and nozzle inspection method

Номер патента: US8147028B2. Автор: Keigo ITO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-04-03.

Welding condition inspection device and method

Номер патента: EP4353401A1. Автор: Seok jin Kim,Jung Hoon Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Apparatus for ultrasonic joining of layers of laminate strip of material

Номер патента: RU2301742C2. Автор: Йозеф ГМАЙНЕР. Владелец: Йозеф ГМАЙНЕР. Дата публикации: 2007-06-27.

Print head inspection method, print head inspection device and a printing device

Номер патента: US20070139461A1. Автор: Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Visual inspection device for objects made of soft, flexible, flat material, especially textiles

Номер патента: AU4947893A. Автор: Klaus Mauder. Владелец: Klaus Mauder. Дата публикации: 1994-03-15.

Piezoelectric head inspection device and droplet jetting device

Номер патента: US20090244152A1. Автор: Sunao Ishizaki. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-01.

Method and apparatus for ultrasonic diagnosis

Номер патента: US09610094B2. Автор: Tetsuya Yoshida,Yoko Okamura. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Improvements in and relating to mount inspecting devices

Номер патента: GB755393A. Автор: . Владелец: British Thomson Houston Co Ltd. Дата публикации: 1956-08-22.

Inkjet head inspection device

Номер патента: US20060066683A1. Автор: Kohzo Hara. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2006-03-30.

Bridge inspecting device and method

Номер патента: US8830315B2. Автор: Ping-Hung Lin,Shih-Chung Kang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2014-09-09.

Component pre-inspection device for hybrid irregular component insertion robot

Номер патента: US20240075624A1. Автор: Jangseon Hwang,Harkdo Maeng. Владелец: Power Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Component pre-inspection device for hybrid irregular component insertion robot

Номер патента: EP4346347A1. Автор: Jangseon Hwang,Harkdo Maeng. Владелец: Power Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Inspection device for conveyor ducts for aeriform media

Номер патента: EP1558878A1. Автор: Giuseppe Librizzi. Владелец: ALP SRL. Дата публикации: 2005-08-03.

Improvements in inspection device for composite cigarette filter rods

Номер патента: GB1092969A. Автор: . Владелец: American Tobacco Co. Дата публикации: 1967-11-29.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US20140177453A1. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2014-06-26.

Method and device for inspecting surface

Номер патента: US20120081541A1. Автор: Shih-Chung Kang,Yung-Shuen Su. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2012-04-05.

Blood inspection device

Номер патента: CA2646721A1. Автор: Masaki Fujiwara,Toshihiro Akiyama,Toshiki Matsumoto,Keisuke Matsumura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-27.

Time base line fast correction auxiliary device for A-type ultrasonic flaw detector

Номер патента: CN216285086U. Автор: 吴学成. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-04-12.

Device for for ultrasonic testing

Номер патента: SU1483352A1. Автор: Ростислав Сергеевич Огрызков. Владелец: Предприятие П/Я Г-4152. Дата публикации: 1989-05-30.

A medium plate fixed position device for medium plate outward appearance flaw detects machine

Номер патента: CN216718344U. Автор: 陈钰裕. Владелец: Muzan Technology Suzhou Co ltd. Дата публикации: 2022-06-10.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE FOR COUNTING THE NUMBER OF MEDICINES IN MEDICINE PACKAGING ENVELOPE

Номер патента: US20120002042A1. Автор: . Владелец: Ookuma Electronic Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Uav-based concrete ultrasonic flaw detection device and method

Номер патента: IES87509Y1. Автор: CHEN Xiaohui,WANG Jipeng,Qiu Huanxiang,Zhai Hu. Владелец: Shandong Bowee Vision Information Tech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Uav-based concrete ultrasonic flaw detection device and method

Номер патента: IE20230471U1. Автор: CHEN Xiaohui,WANG Jipeng,Qiu Huanxiang,Zhai Hu. Владелец: Shandong Bowee Vision Information Tech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

ELECTROMAGNETIC ACTUATOR INSPECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001652A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of ultrasonic flaw detection of pipe

Номер патента: CA1211832A. Автор: Hirofumi Miyamoto,Junichi Sugitani,Tetsuo Kaji,Nobuaki Kaitatsu,Yasumaru Taniguchi. Владелец: Osaka Gas Co Ltd. Дата публикации: 1986-09-23.

Method and apparatus for ultrasonic testing using temporal sparse firing

Номер патента: CA3180248A1. Автор: Mike MATHESON,Jonathan LESAGE,Mohammad MARVASTI. Владелец: Eclipse Scientific Products Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Laser ultrasonic flaw detector

Номер патента: RU2381496C1. Автор: Александр Алексеевич Карабутов. Владелец: Александр Алексеевич Карабутов. Дата публикации: 2010-02-10.

Ultrasonic flaw detector ( variants )

Номер патента: RU2224247C1. Автор: А.В. Смирнов,В.Н. Елисеев. Владелец: ЗАО "Нефтегазкомплектсервис". Дата публикации: 2004-02-20.