Overerase cell detection method for nonvolatile semiconductor memory device
Номер патента: JP3984445B2
Опубликовано: 03-10-2007
Автор(ы): 恭章 平野
Принадлежит: Sharp Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 03-10-2007
Автор(ы): 恭章 平野
Принадлежит: Sharp Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for regulating reading voltage of NAND flash memory device
Номер патента: US09558816B2. Автор: Seung-Hyun Han,Sun-Mo Hwang. Владелец: THE-AIO Inc. Дата публикации: 2017-01-31.